JPH119259A - インキュベータおよびそれを備えた分析装置 - Google Patents

インキュベータおよびそれを備えた分析装置

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JPH119259A
JPH119259A JP9163724A JP16372497A JPH119259A JP H119259 A JPH119259 A JP H119259A JP 9163724 A JP9163724 A JP 9163724A JP 16372497 A JP16372497 A JP 16372497A JP H119259 A JPH119259 A JP H119259A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 温度上昇および温度下降の両者を高速化する
ことによって、任意の処理温度に対して高速に追従した
温調を行う。 【解決手段】 検体等の試料を収容したウェルラック１
４を任意の処理温度下で保温することによって、該処理
温度で試料を保温するインキュベータ部１２と、冷却温
度に設定された冷却部１３と、保温時に冷却部１３にお
いて冷却されるダミーラック１５と、ウェルラック１４
とダミーラック１５とを入れ替える第１および第２押出
部材１８ａ・１８ｂ、第１および第２キャリア部材１９
ａ・１９ｂとを有している。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料を任意の処理
温度で保温可能なインキュベータおよびそれを備えた分
析装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ＤＮＡプローブ分析装置や血液
分析装置は、血液や検体から採取されたＤＮＡ等の試料
を分析するまでに、試料に対して各種の処理を最適な処
理温度下で施すことが必要であるため、試料を任意の処
理温度で保温可能なインキュベータを備えている。
【０００３】従来のインキュベータは、試料が投入され
た反応容器を収容可能な収容ブロックに加熱冷却機能を
備えたサーモモジュールを取り付け、サーモモジュール
により収容ブロックを各処理温度に対応して加熱および
冷却する構成にされている。また、近年においては、上
記のような一つの収容ブロックに対する加熱冷却である
と、処理間に大きな温度差が存在したときに、収容ブロ
ックが次の処理温度に温調されるまでに長時間を要して
大きな待ち時間が発生することから、図９に示すよう
に、冷却ファン５１や放熱板５２により冷却される冷却
ブロック５３と、ヒータ５４により加熱される加熱ブロ
ック５５とを予め冷却温度および処理温度にそれぞれ設
定し、反応容器５６を両ブロック５５・５６間で移動さ
せることによって、温調の待ち時間を短縮化した構成も
提案されている（特開平６−２７７０３６号公報）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のように、冷却ブロック５３と加熱ブロック５５とを
備えた構成だけでは、加熱ブロック５５の温調がヒータ
５４による加熱と放熱とで行われるため、任意の処理温
度に高速に追従した温調を行うことが困難であるという
問題がある。
【０００５】即ち、加熱ブロック５５における温度上昇
の高速化は、ヒータ５４の大容量化や反応容器５６の小
容量化、大きな保温性等の措置を採ることにより実現す
ることができるが、インキュベータが搭載される分析装
置の仕様が限定されているため、反応容器５６の小容量
化やヒータ５４の大容量化の措置を採ることは困難であ
る。一方、大きな保温性は、インキュベータに要求され
る温度の安定性を確保する上で極めて重要である。従っ
て、加熱ブロック５５における温度上昇の高速化は、通
常、温度の安定化も可能にする保温性に着目した措置を
採ることにより行われることなる。
【０００６】ところが、加熱ブロック５５が大きな保温
性を有するように構成されると、ヒータ５４による加熱
を停止して温度下降させる際の放熱量が低下するため、
温度下降が緩慢なものになる。これにより、従来のイン
キュベータは、温度上昇および温度下降の少なくとも一
方を犠牲する必要があったため、任意の処理温度に高速
に追従した温調を行うことが困難になっている。
【０００７】従って、本発明は、温度上昇および温度下
降の両者を高速化することによって、任意の処理温度に
対して高速に追従した温調を行うことができるインキュ
ベータおよびそれを備えた分析装置を提供しようとする
ものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１の発明は、試料を収容したウェルラックを
任意の処理温度下で保温することによって、該処理温度
で前記試料を保温するインキュベータ手段と、冷却温度
に設定された冷却手段と、前記保温時に前記冷却手段に
おいて冷却されるダミーラックと、前記ウェルラックと
前記ダミーラックとを入れ替える入替手段とを有してい
ることを特徴としている。
【０００９】これにより、冷却手段で冷却されたダミー
ラックがウェルラックと入れ替えられると、インキュベ
ータ手段がダミーラックにより強制的に冷却されるた
め、温度上昇を高速化するように放熱量を減少させた場
合でも、インキュベータ手段の温度低下が高速化したも
のになる。従って、温度上昇および温度下降の両者を高
速化させることができるため、任意の処理温度に対して
高速に追従した温調を行うことができる。また、ウェル
ラックの試料に対する保温と冷却とをインキュベータ手
段および冷却手段においてそれぞれ独立して行うことが
できるため、インキュベータ手段を保温用の構造とし、
冷却手段を冷却用の構造として設計することができる。
従って、保温および冷却を同時に実現する構造を設計す
る場合よりも設計が容易化したものになる。また、ウェ
ルラックをインキュベータ手段で保温している期間は、
ダミーラックを冷却手段で冷却し、インキュベータ手段
をダミーラックで冷却している期間は、ウェルラックを
冷却手段で冷却することになるため、ウェルラックやダ
ミーラックをインキュベータ手段および冷却手段以外の
場所に退避させるような無駄な動作がなく、効率良く保
温および冷却を行うことができる。
【００１０】請求項２の発明は、請求項１記載のインキ
ュベータであって、前記インキュベータ手段は、処理温
度を低下させるときに作動される空冷ファンを有してい
ることを特徴としている。これにより、インキュベータ
手段の温度下降を一層高速化することができる。
【００１１】請求項３の発明は、請求項１または２記載
のインキュベータであって、前記冷却手段は、冷却を促
進する冷却促進手段を有していることを特徴としてい
る。これにより、インキュベータ手段において加熱され
たダミーラックが冷却手段に戻されたときに、ダミーラ
ックを即座に冷却することができる。
【００１２】請求項４の発明は、請求項１記載のインキ
ュベータであって、前記ダミーラックには、表面積を拡
大して放熱を促進させるように溝部が形成されているこ
とを特徴としている。 これにより、表面積の拡大によ
る放熱の促進によって、ダミーラックを即座に冷却させ
ることができる。
【００１３】請求項５の発明は、請求項１ないし４のい
ずれか１項に記載のインキュベータであって、前記イン
キュベータ手段および冷却手段は、前記ウェルラックお
よびダミーラックを複数並列配置しながら一方向に移動
可能に保管すると共に、平行に配設されており、前記入
替手段は、前記インキュベータ手段の一端部に設けら
れ、該インキュベータ手段に保管されているウェルラッ
クやダミーラックを他端部に押し出し可能な第１押出部
材と、前記冷却手段の他端部に設けられ、該冷却手段に
保管されているウェルラックやダミーラックを一端部に
押し出し可能な第２押出部材と、前記インキュベータ手
段および冷却手段の両端部において両手段の配設方向に
移動可能にされ、前記第１押出部材および第２押出部材
で押し出されたウェルラックやダミーラックを保持可能
なキャリア部材とを有していることを特徴としている。
これにより、入替手段が第１押出部材や第２押出部材、
キャリア部材等の簡単な機構の部品で構成されているた
め、インキュベータの部品コストや組立時の製造コスト
を低減させることができる。
【００１４】請求項６の発明は、請求項１ないし５のい
ずれか１項に記載のインキュベータと、これらインキュ
ベータで保管されたウェルラックの試料を検査する検査
手段とを備えた分析装置であって、前記インキュベータ
を複数組有していると共に、これらインキュベータによ
り前記検査手段が共用されていることを特徴としてい
る。これにより、分析の高精度化に応じて飛躍的に高額
化する検査手段を複数組のインキュベータで共用するこ
とによって、インキュベータ毎に検査手段を備える場合
よりも部品コストを低減させることができる。
【００１５】請求項７の発明は、請求項６記載の分析装
置であって、前記ウェルラックに対して試料を搬入およ
び搬出するように、前記インキュベータ上の任意の位置
に移動可能な搬送手段を有し、該搬送手段に前記検査手
段が設けられていることを特徴としている。これによ
り、搬送手段により検査手段をインキュベータ上の任意
の位置に移動して位置決めすることができるため、イン
キュベータの配設方向や配設数に関係なく、常に検査手
段をインキュベータに共用させることができる。従っ
て、分析装置を設計する際のレイアウトや検査規模等の
仕様の自由度を拡大させることができる。また、検査手
段を移動させる搬送手段がウェルラックに対して試料を
搬入および搬出するものであるため、検査手段用の移動
機構を新たに設ける場合のような部品コストの増大を招
来することもない。
【００１６】請求項８の発明は、請求項５記載の２組の
インキュベータと、これらインキュベータで保管された
ウェルラックの試料を検査する検査手段とを備えた分析
装置であって、前記検査手段は、前記インキュベータ間
における前記キャリア部材の移動経路上に配置されてい
ることを特徴としている。これにより、入替手段により
ウェルラックを検査手段まで移動して検査させることが
できるため、部品コストを一層低減させることができ
る。
【００１７】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図１ないし
図８に基づいて以下に説明する。本実施形態に係るイン
キュベータは、図３に示すように、核酸や血液を分析す
る分析装置に搭載されている。この分析装置は、分析処
理部２と保管部３と搬送部４とに区分されたテーブル１
を有しており、保管部３には、チップや検体、標準液、
マイクロプレート等を集合して保管するラック類、洗浄
液等の各種の溶液を保管するボトル類、および各種の試
薬を保管する保管庫等が設けられている。また、搬送部
４には、３次元方向に移動可能な搬送アーム５が設けら
れており、搬送アーム５は、保管部３および分析処理部
２間における試薬や検体等の移送を行うようになってい
る。
【００１８】上記の分析処理部２には、測光部９と２組
のインキュベータ１０・１０とが設けられている。測光
部９は、図７に示すように、入射光の光量に応じた出力
信号を出力する光電子増倍管本体３０と、光電子増倍管
本体３０に光を誘導する誘導管３１と、誘導管３１の管
路中に設けられ、光の入射と遮断とを切り換えるように
管路を開閉可能なシャッター部材３２と、後述のマイク
ロプレート１６の周囲を覆って暗室環境を得るように、
誘導管３１の下端部に昇降可能に設けられた遮光筒３３
とを有している。
【００１９】一方、図１に示すように、２組のインキュ
ベータ１０・１０は、平板状の支持基体１１に設けられ
ている。各インキュベータ１０は、放熱量が減少するよ
うに構成され、高温状態に設定されるインキュベータ部
１２と、低温状態に設定される冷却部１３とを備えてお
り、これらのインキュベータ部１２および冷却部１３
は、測光部９を中心として対称に設けられている。イン
キュベータ部１２には、左右方向や前後方向に揺動可能
な振盪テーブル２５が備えられており、振盪テーブル２
５は、検体や試薬等を保温する際に、後述のウェルラッ
ク１４単位で振盪させることによって、検体等を揺動さ
せて撹拌させるようになっている。
【００２０】また、インキュベータ部１２および冷却部
１３には、複数のウェルラック１４およびダミーラック
１５が移動自在に設けられている。ウェルラック１４
は、図４に示すように、検体や試薬等を収容可能な複数
のマイクロプレート１６を着脱自在に保持している。一
方、ダミーラック１５は、図５に示すように、表面積の
拡大により単位時間当たりの放熱量を増大させるよう
に、ラック幅方向に形成された複数の溝部１５ａを上面
に有している。
【００２１】上記のウェルラック１４およびダミーラッ
ク１５は、同一サイズの長方体形状に形成されており、
図１に示すように、側面同士が当接されることにより並
列配置されている。これらのラック１４・１５が設けら
れたインキュベータ部１２および冷却部１３は、ラック
１４・１５の配列方向に平行配置されたガイド部材１７
により区分されている。ガイド部材１７・１７は、ガイ
ド間隔を拡縮可能にされており、ラック１４・１５を移
動させるときにはガイド間隔を拡大してラック１４・１
５を移動自在にする一方、ラック１４・１５を振盪させ
るときにはガイド間隔を縮小してラック１４・１５を固
定するようになっている。
【００２２】また、インキュベータ部１２および冷却部
１３の両端部には、レール部材２０・２０が各部１２・
１３を縦断するように配設されている。これらの各レー
ル部材２０には、ラック１４・１５を保持する第１およ
び第２キャリア部材１９ａ・１９ｂが移動可能に設けら
れており、第１および第２キャリア部材１９ａ・１９ｂ
は、ラック１４・１５を保持しながら移動することによ
って、インキュベータ部１２および冷却部１３間におけ
るラック１４・１５の搬送を行うようになっている。ま
た、インキュベータ１０・１０間における第２キャリア
部材１９ｂの移動経路上には、上述の測光部９が配設さ
れており、測光部９は、第２キャリア部材１９ｂにより
移送されてきたウェルラック１４の各マイクロプレート
１６に対して検査を行うようになっている。
【００２３】さらに、インキュベータ部１２の一端部お
よび冷却部１３の他端部には、第１および第２キャリア
部材１９ａ・１９ｂに当接しないように第１押出部材１
８ａおよび第２押出部材１８ｂがそれぞれ設けられてい
る。そして、これらの第１および第２押出部材１８ａ・
１８ｂは、第１および第２キャリア部材１９ａ・１９ｂ
により搬送されてきたラック１４・１５をガイド部材１
７・１７間に押し出して移動させるようになっている。
【００２４】上記のガイド部材１７の下方には、図６に
示すように、断熱仕切板２４が設けられている。断熱仕
切板２４は、インキュベータ部１２および冷却部１３を
熱的に独立させるようになっており、冷却部１３におけ
る断熱仕切板２４の側方には、ラック１４・１５を支持
しながら冷却する冷却板２３が配置されている。冷却板
２３は、アルミ板や銅板等の高い熱伝導性を有した材質
で形成されており、放熱により室温程度の冷却温度に設
定されている。
【００２５】一方、インキュベータ部１２における断熱
仕切板２４の側方には、ラック１４・１５を支持しなが
ら加熱する加熱板２１が設けられている。加熱板２１の
上方には、加熱板２１に支持されたラック１４・１５に
空気を吹き付けるように配置された空冷ファン２２が設
けられており、空冷ファン２２は、インキュベータ部１
２の処理温度を低下させるときに作動されるようになっ
ている。上記の加熱板２１には、図示しないヒータおよ
び温度センサが設けられており、ヒータは、加熱板２１
を加熱して所定温度に維持するようになっている。ま
た、温度センサは、加熱板２１の温度を検出し、検出信
号を図示しない制御装置に出力するようになっている。
そして、制御装置は、図８の分析処理ルーチンを実行す
ることによって、検体等の試料を保温してインキュベー
ション処理を行う際に、上述の第１および第２押出部材
１８ａ・１８ｂおよび第１および第２キャリア部材１９
ａ・１９ｂによりラック１４・１５をインキュベータ部
１２および冷却部１３間において移動させ、インキュベ
ータ部１２の処理温度を迅速に変更させるようになって
いる。
【００２６】上記の構成において、インキュベータ１０
の動作について説明する。先ず、図示しない制御装置に
電源が投入されることによって、制御装置が図８の分析
処理ルーチンを実行すると、制御装置は、分注量や分注
数、インキュベーション処理時の処理温度等の各種の処
理条件を受け付け可能な状態となる（Ｓ１）。そして、
オペレータが処理条件を入力することによって、これら
処理条件の記憶部への格納が完了すると、記憶部から処
理条件を読み出し（Ｓ２）、インキュベータ部１２にお
ける空冷ファン２２をＯＦＦ状態および加熱板２１のヒ
ータをＯＮ状態に設定することによって、インキュベー
タ部１２を処理条件に対応した処理温度に昇温させる
（Ｓ３）。
【００２７】次に、ウェルラック１４が冷却部１３に存
在し、ダミーラック１５がインキュベータ部１２に存在
していることを確認した後、図１に示すように、冷却部
１３の第２押出部材１８ｂを第１キャリア部材１９ａ方
向に進出させることによって、最端部に存在するウェル
ラック１４を第１キャリア部材１９ａに押し出して保持
させる。この後、インキュベータ部１２の第１押出部材
１８ａを後退させた後、第１キャリア部材１９ａをイン
キュベータ部１２方向にマイクロプレート１６の配設ピ
ッチ単位で移動させながら各マイクロプレート１６を分
注位置Ａに移動させると共に、搬送アーム５により保管
部３から検体等を分注位置Ａに搬送することによって、
分注位置Ａにおいて各マイクロプレート１６に検体等を
投入する。
【００２８】ウェルラック１４がインキュベータ部１２
に到達すると、第２キャリア部材１９ｂをインキュベー
タ部１２に移動させた後、第１押出部材１８ａを進出さ
せることによって、インキュベータ部１２の最端部に存
在するダミーラック１５を第２キャリア部材１９ｂに押
し出して保持させる。そして、第２押出部材１８ｂを後
退させた後、第２キャリア部材１９ｂを冷却部１３方向
に移動させることによって、ダミーラック１５を冷却部
１３に搬送し、一つのウェルラック１４に対する分注処
理を完了する（Ｓ４）。
【００２９】上記のようにして分注処理が全ウェルラッ
ク１４に対して行われると、全ウェルラック１４がイン
キュベータ部１２に存在し、全ダミーラック１５が冷却
部１３に存在した状態となる。そして、Ｓ３において昇
温された処理温度下で保温されることによりインキュベ
ーション処理が行われる（Ｓ５）。次に、所定時間が経
過してインキュベーション処理が終了すると、次の処理
温度で保温してインキュベーション処理を行うか否かを
判定する（Ｓ６）。インキュベーション処理を行わない
のであれば（Ｓ６，ＮＯ）、上述の分注処理により各ウ
ェルラック１４のマイクロプレート１６に試薬等を投入
した後、検査処理を行う。
【００３０】即ち、図２に示すように、一方のインキュ
ベータ部１２に存在するウェルラック１４を第１押出部
材１８ａにより第２キャリア部材１９ｂに押し出して保
持させた後、第２キャリア部材１９ｂをウェルラック１
４と共に測光部９方向に移動させる。そして、移動方向
とは反対方向の端部に存在するマイクロプレート１６が
測光部９の下方位置に到達すると、移動を停止し、図７
に示すように、このマイクロプレート１６を暗室環境下
に存在させるように、遮光筒３３を下降させてマイクロ
プレート１６を覆う。この後、シャッター部材３２によ
り遮蔽されていた誘導管３１を閉状態から開状態に切り
換えることによって、マイクロプレート１６内における
検体と試薬等との反応による放射光を誘導管３１を介し
て光電子増倍管本体３０内に入射させる。そして、光電
子増倍管本体３０で検出された入射光による出力信号を
基にして検体の状態を検査する。
【００３１】上記のようにして検査が完了すると、シャ
ッター部材３２により誘導管３１を閉状態に切り換えた
後、遮光筒３３を上昇させる。続いて、隣接するマイク
ロプレート１６内の検体を検査するように、第２キャリ
ア部材１９ｂによりウェルラック１４を元のインキュベ
ータ部１２方向にマイクロプレート１６の配設ピッチ分
移動させ、上述と同様の動作で検体の状態を検査する。
そして、このような一連の動作を各マイクロプレート１
６に対して行った後、図２に示すように、検査済みのウ
ェルラック１４を冷却部１３に進出させる一方、次の未
検査のウェルラック１４をインキュベータ部１２から取
り出して測光部９に移動させる。尚、ウェルラック１４
を元のインキュベータ部１２方向に移動させながら測光
部９において検査した理由は、分注位置Ａでの分注処理
時と同一方向とすることによって、分注処理から検査ま
でに要した時間を全マイクロプレート１６において一定
にするためである（Ｓ７）。この後、検体等の廃棄処理
を行った後（Ｓ８）、上述のＳ１を再実行し、次の処理
条件の入力待ち状態となる。
【００３２】一方、次の処理温度で保温してインキュベ
ーション処理を行うのであれば（Ｓ６，ＹＥＳ）、次の
処理温度が現在の処理温度よりも低温か否かを判定する
（Ｓ９）。次の処理温度が現在の処理温度よりも低温で
あれば（Ｓ９，ＹＥＳ）、図６に示すように、空冷ファ
ン２２をＯＮ状態、ヒータをＯＦＦ状態に切り換える
（Ｓ１０）。そして、第１キャリア部材１９ａにより冷
却部１３のダミーラック１５をインキュベータ部１２に
移動させると共に、第２キャリア部材１９ｂによりイン
キュベータ部１２のウェルラック１４を冷却部１３に移
動させるという一連のラック入替え処理を繰り返すこと
によって、全ダミーラック１５をインキュベータ部１２
に移動させると共に、全ウェルラック１４を冷却部１３
に移動させる。これにより、冷却部１３で冷却されてい
たダミーラック１５がインキュベータ部１２の加熱板２
１を冷却すると共に、空冷ファン２２が空気の吹き付け
により熱の放散を促進するため、加熱板２１が急激に温
度低下することになる（Ｓ１１）。
【００３３】加熱板２１が処理温度付近に低下すると、
空冷ファン２２をＯＦＦ状態、ヒータをＯＮ状態に切り
換えて次の処理温度となるように調節し（Ｓ１２）、洗
浄処理により不要な薬品等を除去する（Ｓ１３）。そし
て、Ｓ４の分注処理により全ウェルラック１４をインキ
ュベータ部１２、全ダミーラック１５を冷却部１３に入
れ替えた後、インキュベーション処理を再度行うことに
なる。これにより、たとえ次の処理温度が現在の処理温
度に対して大きな温度差で設定されていても、次の処理
温度に即座に到達し、短い待ち時間で次のインキュベー
ション処理を開始することができる。
【００３４】一方、次の処理温度が現在の処理温度より
も低温でなければ（Ｓ９，ＮＯ）、ラック入替え処理を
繰り返すことによって、全ダミーラック１５をインキュ
ベータ部１２に移動させると共に、全ウェルラック１４
を冷却部１３に移動させる（Ｓ１１）。そして、ヒータ
によるインキュベータ部１２の加熱を行うことによっ
て、次の処理温度に調節した後（Ｓ１２）、洗浄処理に
より不要な薬品等を除去し（Ｓ１３）、Ｓ４の分注処理
を行った後、インキュベーション処理を再度行うことに
なる。この際、インキュベータ部１２は、放熱量が減少
するように構成されているため、ダミーラック１５が冷
却部１３から移動されてきても、ヒータの加熱により急
激に昇温する。従って、次の処理温度が現在の処理温度
に対して大きな温度差で設定されていても、次の処理温
度に即座に到達し、短い待ち時間で次のインキュベーシ
ョン処理を開始することができる。
【００３５】以上のように、本実施形態のインキュベー
タ１０は、図１に示すように、検体等の試料を収容した
ウェルラック１４を任意の処理温度下で保温することに
よって、該処理温度で試料を保温してインキュベーショ
ン処理するインキュベータ部１２（インキュベータ手
段）と、冷却温度に設定された冷却部１３（冷却手段）
と、保温時に冷却部１３において冷却されるダミーラッ
ク１５と、ウェルラック１４とダミーラック１５とを入
れ替える第１および第２押出部材１８ａ・１８ｂ、第１
および第２キャリア部材１９ａ・１９ｂ（入替手段）と
を有した構成にされている。
【００３６】これにより、冷却部１３で冷却されたダミ
ーラック１５がウェルラック１４と入れ替えられると、
インキュベータ部１２がダミーラック１５により強制的
に冷却されるため、温度上昇を高速化するように放熱量
を減少させた場合でも、インキュベータ部１２の温度下
降が高速化したものになる。従って、温度上昇および温
度下降の両者を高速化させることができるため、任意の
処理温度に対して高速に追従した温調を行うことができ
る。
【００３７】また、ウェルラック１４の試料に対する保
温と冷却とをインキュベータ部１２および冷却部１３に
おいてそれぞれ独立して行うことができるため、インキ
ュベータ部１２を保温用の構造とし、冷却部１３を冷却
用の構造として設計することができる。従って、保温お
よび冷却を同時に実現する構造を設計する場合よりも設
計が容易化したものになる。
【００３８】また、ウェルラック１４をインキュベータ
部１２で保温している期間は、ダミーラック１５を冷却
部１３で冷却し、インキュベータ部１２をダミーラック
１５で冷却している期間は、ウェルラック１４を冷却部
１３で冷却することになるため、ウェルラック１４やダ
ミーラック１５をインキュベータ部１２および冷却部１
３以外の場所に退避させるような無駄な動作がなく、効
率良く保温および冷却することができる。
【００３９】また、本実施形態において、インキュベー
タ部１２は、処理温度を低下させるときに作動される空
冷ファン２２を有した構成にされている。これにより、
インキュベータ部１２の温度下降を一層高速化すること
ができる。
【００４０】尚、本実施形態における冷却部１３は、冷
却板２３が高い熱伝導性を有した材料で形成され、室温
程度の冷却温度に設定されているが、これに限定される
ことはなく、ペルチェ素子等の冷却素子や空冷ファン、
放熱器等の冷却促進手段を冷却板２３に取り付けること
によって、高い冷却効率で冷却されながら、室温以下の
冷却温度に設定されていても良い。そして、この場合に
は、インキュベータ部１２において加熱されたダミーラ
ック１５が冷却部１３に戻されたときに、ダミーラック
１５を即座に冷却することができることから、一層処理
温度の追従を高速化することができる。
【００４１】また、本実施形態においては、表面積を拡
大して放熱を促進させるように、ウェルラック１４に溝
部１５ａが形成された構成にされている。これにより、
表面積の拡大による放熱の促進によって、ウェルラック
１４を即座に冷却させることができる。尚、本実施形態
においては、溝部１５ａがラック幅方向に形成されてい
るが、ラック長手方向に形成されていても良いし、ラッ
ク長手方向およびラック幅方向の両方向に形成されてい
ても良い。
【００４２】また、本実施形態において、インキュベー
タ部１２および冷却部１３は、ウェルラック１４および
ダミーラック１５を複数並列配置しながら一方向に移動
可能に保管すると共に、平行に配設されており、ウェル
ラック１４とダミーラック１５とを入れ替える入替手段
が下記の構成にされている。即ち、入替手段は、インキ
ュベータ部１２の一端部に設けられ、インキュベータ部
１２に保管されているラック１４・１５を他端部に押し
出し可能な第１押出部材１８ａと、冷却部１３の他端部
に設けられ、冷却部１３に保管されているラック１４・
１５を一端部に押し出し可能な第２押出部材１８ｂと、
インキュベータ部１２および冷却部１３の両端部におい
て両部１２・１３の配設方向に移動可能にされ、第１お
よび第２押出部材１８ａ・１８ｂで押し出されたラック
１４・１５を保持可能な第１および第２キャリア部材１
９ａ・１９ｂとを有した構成にされている。
【００４３】これにより、第１押出部材１８ａや第２押
出部材１８ｂ、第１および第２キャリア部材１９ａ・１
９ｂ等の簡単な機構の部品で入替手段が構成されている
ため、インキュベータ１０の部品コストや組立時の製造
コストを低減させることができる。
【００４４】また、本実施形態においては、測光部９
（検査手段）が２組のインキュベータ１０・１０により
共用された構成にされている。これにより、分析の高精
度化に応じて飛躍的に高額化する測光部９を２組のイン
キュベータ１０で共用することによって、部品コストを
低減させることができる。尚、インキュベータ１０は、
２組以上であっても良い。
【００４５】また、本実施形態において、上記の測光部
９（検査手段）は、インキュベータ１０・１０における
第２キャリア部材１９ｂ・１９ｂの移動経路上に配置さ
れた構成にされている。これにより、第２キャリア部材
１９ｂ・１９ｂによりウェルラックを測光部９まで移動
して検査させることができるため、部品コストを一層低
減させることができる。
【００４６】尚、本実施形態においては、測光部９がイ
ンキュベータ１０・１０間に固定された状態について説
明したが、これに限定されることはない。即ち、インキ
ュベータ１０のウェルラック１４に対して試料を搬入お
よび搬出するように、インキュベータ１０上の任意の位
置に移動可能な搬送アーム５に測光部９（検査手段）が
設けられた構成にされていても良い。
【００４７】そして、この構成によれば、搬送アーム５
により測光部９をインキュベータ１０上の任意の位置に
移動して位置決めすることができるため、インキュベー
タ１０の配設方向や配設数に関係なく、常に測光部９を
インキュベータ１０に共用させることができる。従っ
て、分析装置を設計する際のレイアウトや検査規模等の
仕様の自由度を拡大させることができる。また、測光部
９を移動させる搬送アーム５がウェルラック１４に対し
て試料を搬入および搬出するものであるため、測光部９
用の移動機構を新たに設ける場合のような部品コストの
増大を招来することもない。
【００４８】
【発明の効果】請求項１の発明は、試料を収容したウェ
ルラックを任意の処理温度下で保温することによって、
該処理温度で前記試料を保温するインキュベータ手段
と、冷却温度に設定された冷却手段と、前記保温時に前
記冷却手段において冷却されるダミーラックと、前記ウ
ェルラックと前記ダミーラックとを入れ替える入替手段
とを有している構成である。
【００４９】これにより、冷却手段で冷却されたダミー
ラックがウェルラックと入れ替えられると、インキュベ
ータ手段がダミーラックにより強制的に冷却されるた
め、温度上昇を高速化するように放熱量を減少させた場
合でも、インキュベータ手段の温度下降が高速化したも
のになる。従って、温度上昇および温度下降の両者を高
速化させることができるため、任意の処理温度に対して
高速に追従した温調を行うことができる。また、ウェル
ラックの試料に対する保温と冷却とをインキュベータ手
段および冷却手段においてそれぞれ独立して行うことが
できるため、インキュベータ手段を保温用の構造とし、
冷却手段を冷却用の構造として設計することができる。
従って、保温および冷却を同時に実現する構造を設計す
る場合よりも設計が容易化したものになる。また、ウェ
ルラックをインキュベータ手段で保温している期間は、
ダミーラックを冷却手段で冷却し、インキュベータ手段
をダミーラックで冷却している期間は、ウェルラックを
冷却手段で冷却することになるため、ウェルラックやダ
ミーラックをインキュベータ手段および冷却手段以外の
場所に退避させるような無駄な動作がなく、効率良く保
温および冷却することができるという効果を奏する。
【００５０】請求項２の発明は、請求項１記載のインキ
ュベータであって、前記インキュベータ手段は、処理温
度を低下させるときに作動される空冷ファンを有した構
成である。これにより、インキュベータ手段の温度下降
を一層高速化することができるという効果を奏する。
【００５１】請求項３の発明は、請求項１または２記載
のインキュベータであって、前記冷却手段は、冷却を促
進する冷却促進手段を有した構成である。これにより、
インキュベータ手段において加熱されたダミーラックが
冷却手段に戻されたときに、ダミーラックを即座に冷却
することができるという効果を奏する。
【００５２】請求項４の発明は、請求項１記載のインキ
ュベータであって、前記ダミーラックには、表面積を拡
大して放熱を促進させるように溝部が形成されている構
成である。これにより、表面性の拡大による放熱の促進
によって、ダミーラックを即座に冷却させることができ
る。
【００５３】請求項５の発明は、請求項１ないし４のい
ずれか１項に記載のインキュベータであって、前記イン
キュベータ手段および冷却手段は、前記ウェルラックお
よびダミーラックを複数並列配置しながら一方向に移動
可能に保管すると共に、平行に配設されており、前記入
替手段は、前記インキュベータ手段の一端部に設けら
れ、該インキュベータ手段に保管されているウェルラッ
クやダミーラックを他端部に押し出し可能な第１押出部
材と、前記冷却手段の他端部に設けられ、該冷却手段に
保管されているウェルラックやダミーラックを一端部に
押し出し可能な第２押出部材と、前記インキュベータ手
段および冷却手段の両端部において両手段の配設方向に
移動可能にされ、前記第１押出部材および第２押出部材
で押し出されたウェルラックやダミーラックを保持可能
なキャリア部材とを有している構成である。これによ
り、入替手段が第１押出部材や第２押出部材、キャリア
部材等の簡単な機構の部品で構成されているため、イン
キュベータの部品コストや組立時の製造コストを低減さ
せることができるという効果を奏する。
【００５４】請求項６の発明は、請求項１ないし５のい
ずれか１項に記載のインキュベータと、これらインキュ
ベータで保管されたウェルラックの試料を検査する検査
手段とを備えた分析装置であって、前記インキュベータ
を複数組有していると共に、これらインキュベータによ
り前記検査手段が共用されている構成である。これによ
り、分析の高精度化に応じて飛躍的に高額化する検査手
段を複数組のインキュベータで共用することによって、
インキュベータ毎に検査手段を備える場合よりも部品コ
ストを低減させることができるという効果を奏する。
【００５５】請求項７の発明は、請求項６記載の分析装
置であって、前記ウェルラックに対して試料を搬入およ
び搬出するように、前記インキュベータ上の任意の位置
に移動可能な搬送手段を有し、該搬送手段に前記検査手
段が設けられている構成である。これにより、搬送手段
により検査手段をインキュベータ上の任意の位置に移動
して位置決めすることができるため、インキュベータの
配設方向や配設数に関係なく、常に検査手段をインキュ
ベータに共用させることができる。従って、分析装置を
設計する際のレイアウトや検査規模等の仕様の自由度を
拡大させることができる。また、検査手段を移動させる
搬送手段がウェルラックに対して試料を搬入および搬出
するものであるため、検査手段用の移動機構を新たに設
ける場合のような部品コストの増大を招来することもな
いという効果を奏する。
【００５６】請求項８の発明は、請求項５記載の２組の
インキュベータと、これらインキュベータで保管された
ウェルラックの試料を検査する検査手段とを備えた分析
装置であって、前記検査手段は、前記インキュベータ間
における前記キャリア部材の移動経路上に配置されてい
る構成である。これにより、入替手段によりウェルラッ
クを検査手段まで移動して検査させることができるた
め、部品コストを一層低減させることができるという効
果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】インキュベータの平面図である。
【図２】インキュベータの平面図である。
【図３】分析装置の概略平面図である。
【図４】ウェルラックの斜視図である。
【図５】ダミーラックの斜視図である。
【図６】ウェルラックとダミーラックとを入れ替える状
態を示す説明図である。
【図７】測光部の正面図である。
【図８】分析処理ルーチンのフローチャートである。
【図９】従来のインキュベータの概略構成図である。
【符号の説明】
１ テーブル ２ 分析処理部 ３ 保管部 ４ 搬送部 ５ 搬送アーム ９ 測光部 １０ インキュベータ １１ 支持基体 １２ インキュベータ部 １３ 冷却部 １４ ウェルラック １５ ダミーラック １６ マイクロプレート １７ ガイド部材 １８ａ 第１押出部材 １８ｂ 第２押出部材 １９ａ 第１キャリア部材 １９ｂ 第２キャリア部材 ２０ レール部材 ２１ 加熱板 ２２ 空冷ファン ２３ 冷却板 ２４ 断熱仕切板 ３０ 光電子増倍管本体 ３１ 誘導管 ３２ シャッター部材 ３３ 遮光筒
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ０１Ｎ 35/00 Ｇ０１Ｎ 35/00 Ｂ (72)発明者 新井 竜雄 兵庫県西宮市芦原町９番52号 古野電気株 式会社内 (72)発明者 奥本 恵次 兵庫県西宮市芦原町９番52号 古野電気株 式会社内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 試料を収容したウェルラックを任意の処
    理温度下で保管することによって、該処理温度で前記試
    料を保温するインキュベータ手段と、 冷却温度に設定された冷却手段と、 前記保温時に前記冷却手段において冷却されるダミーラ
    ックと、 前記ウェルラックと前記ダミーラックとを入れ替える入
    替手段とを有していることを特徴とするインキュベー
    タ。
  2. 【請求項２】 前記インキュベータ手段は、処理温度を
    低下させるときに作動される空冷ファンを有しているこ
    とを特徴とする請求項１記載のインキュベータ。
  3. 【請求項３】 前記冷却手段は、冷却を促進する冷却促
    進手段を有していることを特徴とする請求項１または２
    記載のインキュベータ。
  4. 【請求項４】 前記ダミーラックには、表面積を拡大し
    て放熱を促進させるように溝部が形成されていることを
    特徴とする請求項１記載のインキュベータ。
  5. 【請求項５】 前記インキュベータ手段および冷却手段
    は、前記ウェルラックおよびダミーラックを複数並列配
    置しながら一方向に移動可能に保管すると共に、平行に
    配設されており、 前記入替手段は、 前記インキュベータ手段の一端部に設けられ、該インキ
    ュベータ手段に保管されているウェルラックやダミーラ
    ックを他端部に押し出し可能な第１押出部材と、 前記冷却手段の他端部に設けられ、該冷却手段に保管さ
    れているウェルラックやダミーラックを一端部に押し出
    し可能な第２押出部材と、 前記インキュベータ手段および冷却手段の両端部におい
    て両手段の配設方向に移動可能にされ、前記第１押出部
    材および第２押出部材で押し出されたウェルラックやダ
    ミーラックを保持可能なキャリア部材とを有しているこ
    とを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載
    のインキュベータ。
  6. 【請求項６】 請求項１ないし５のいずれか１項に記載
    のインキュベータと、これらインキュベータで保管され
    たウェルラックの試料を検査する検査手段とを備えた分
    析装置であって、 前記インキュベータを複数組有していると共に、これら
    インキュベータにより前記検査手段が共用されているこ
    とを特徴とする分析装置。
  7. 【請求項７】 前記ウェルラックに対して試料を搬入お
    よび搬出するように、前記インキュベータ上の任意の位
    置に移動可能な搬送手段を有し、該搬送手段に前記検査
    手段が設けられていることを特徴とする請求項６記載の
    分析装置。
  8. 【請求項８】 請求項５記載の２組のインキュベータ
    と、これらインキュベータで保管されたウェルラックの
    試料を検査する検査手段とを備えた分析装置であって、 前記検査手段は、前記インキュベータ間における前記キ
    ャリア部材の移動経路上に配置されていることを特徴と
    する分析装置。
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