JPH1186723A - Thick-film pattern forming method for plasma display substrate - Google Patents

Thick-film pattern forming method for plasma display substrate

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JPH1186723A
JPH1186723A JP19522798A JP19522798A JPH1186723A JP H1186723 A JPH1186723 A JP H1186723A JP 19522798 A JP19522798 A JP 19522798A JP 19522798 A JP19522798 A JP 19522798A JP H1186723 A JPH1186723 A JP H1186723A
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plasma display
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英明 藤井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve productivity, increase yielding, and obtain good line width precision. SOLUTION: A pattern-forming material 2 for forming an electrode pattern on a substrate 1 is applied with a given film thickness, the substrate 1 is heated to laminate a dry film 3 at the top of the pattern-forming material 2, the dry film 3 is patterned by photolithographic method for forming a sandblast mask 6 according to a desired pattern, and an unnecessary part is removed by a sandblast 7 via that sandblast mask 6, thereby to form a target electrode pattern. A thick film pattern can be obtained with a one-time operation. In the sandblast mask 6, the dry film 3 is processed and formed by the photolithographic method, thus enabling coping with a high precision pattern.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、プラズマディスプレイ
パネルの製造工程において、プラズマディスプレイ基板
上に電極パターンを形成するプラズマディスプレイ基板
の厚膜パターン形成方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming an electrode pattern on a plasma display substrate in a process of manufacturing the plasma display panel.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、プラズマディスプレイ基板の厚膜
パターン形成方法としては、ガラスやセラミックの基板
上に導体或いは絶縁体用のペーストをスクリーン印刷に
よりパターン状に印刷を行った後にこのペーストを乾
燥、焼成する工程を繰り返して厚膜パターンを形成する
方法が知られている。また、最近では、ガラス等の基板
の上にセラミック材料で厚膜パターンを形成することが
種々の分野で行われてきているが、この場合にも、セラ
ミック材料をバインダー中に分散させてペースト状とし
たものを用い、前記したのと同様にして、スクリーン印
刷により重ね印刷を行った後に乾燥、焼成する工程を繰
り返すことにより厚膜パターンを形成するようにしてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a method of forming a thick film pattern on a plasma display substrate, a paste for a conductor or an insulator is printed in a pattern on a glass or ceramic substrate by screen printing, and then the paste is dried. There is known a method of forming a thick film pattern by repeating a firing step. Recently, forming a thick film pattern with a ceramic material on a substrate such as glass has been performed in various fields. In this case, too, the ceramic material is dispersed in a binder to form a paste. In the same manner as described above, a thick film pattern is formed by repeating the steps of performing overprinting by screen printing, followed by drying and firing.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来のスクリーン印刷
によりプラズマディスプレイ基板上に厚膜パターンを形
成する方法においては、上述のように複数回のスクリー
ン印刷により重ね刷りをして所定の厚さにする必要があ
るが、この方法では例えば50〜100μmの厚膜を得
るために5〜10回の重ね刷りを必要とし、そのたびご
とに乾燥工程が入ることとなり、その結果として極めて
生産性が悪く歩留りを低下させるという問題点があっ
た。さらに、ペーストの粘度、チクソトロピー等により
パターンの線幅精度が損なわれるという問題点もあっ
た。
In a conventional method of forming a thick film pattern on a plasma display substrate by screen printing, as described above, overprinting is performed by a plurality of times of screen printing to obtain a predetermined thickness. However, this method requires 5 to 10 overprints in order to obtain a thick film of, for example, 50 to 100 μm, each time requiring a drying step, and as a result, the productivity is extremely poor and the yield is low. There was a problem that it reduced. Further, there is a problem that the line width accuracy of the pattern is impaired due to the viscosity of the paste, thixotropy and the like.

【0004】本発明は、このような従来技術の問題点を
解消するために創案されたものであり、生産性を改善し
歩留りを向上させ、かつ良好な線幅精度を得ることので
きるプラズマディスプレイ基板の厚膜パターン形成方法
を提供することを目的としている。
The present invention has been made in order to solve such problems of the prior art, and a plasma display capable of improving productivity, improving yield, and obtaining good line width accuracy. It is an object of the present invention to provide a method for forming a thick film pattern on a substrate.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のプラズマディスプレイ基板の厚膜パターン
形成方法は、プラズマディスプレイの基板上に電極パタ
ーンを形成するパターン形成材料を予め所定の膜厚で塗
布し、基板を加熱してパターン形成材料の上部にドライ
フィルムをラミネートした後、該ドライフィルムをフォ
トリソグラフィー法によりパターニングして所望パター
ンに応じたサンドブラスト用マスクを形成し、そのサン
ドブラスト用マスクを介してサンドブラスト処理を行う
ことにより、目的とする電極パターンを得ることを特徴
とするものである。
In order to achieve the above object, a method for forming a thick film pattern on a plasma display substrate according to the present invention comprises the steps of: forming a pattern forming material for forming an electrode pattern on a plasma display substrate; After applying a thick film, heating the substrate and laminating a dry film on the pattern forming material, the dry film is patterned by photolithography to form a sand blast mask according to a desired pattern, and the sand blast mask A target electrode pattern is obtained by performing a sand blasting process through the substrate.

【0006】この厚膜パターン形成方法を図1により具
体的に説明する。まず、(a)に示すように、ガラス基
板1の上にパターン形成材料2を塗布し、基板を加熱し
てパターン形成材料2の上部にドライフィルム3をラミ
ネートした後、目的パターンに合った露光マスク4を介
して紫外線5により露光してから現像することにより、
(b)に示すように、パターン形成材料2の上面にドラ
イフィルム3からなるサンドブラスト用マスク6を形成
する。しかる後、(c)に示すように、サンドブラスト
7により不要部分の除去を行うことによりパターンを形
成する。次いで、焼成或いは薬品処理を行うことによ
り、(d)に示すように、サンドブラスト用マスク6を
除去して目的とする厚膜パターンを得る。
This method of forming a thick film pattern will be specifically described with reference to FIG. First, as shown in (a), a pattern forming material 2 is applied on a glass substrate 1, the substrate is heated to laminate a dry film 3 on the pattern forming material 2, and then an exposure suitable for a target pattern is performed. By exposing with ultraviolet rays 5 through the mask 4 and then developing,
As shown in (b), a sand blast mask 6 made of the dry film 3 is formed on the upper surface of the pattern forming material 2. Thereafter, as shown in (c), an unnecessary portion is removed by sandblasting 7 to form a pattern. Next, by performing firing or chemical treatment, as shown in (d), the sandblast mask 6 is removed to obtain a target thick film pattern.

【0007】[0007]

【作用】上記構成の厚膜パターン形成方法によれば、基
板上に所定の厚さで電極パターン形成材料を塗布した
後、マスクを介してサンドブラストにより不要部分を除
去することにより、最終的に必要とする厚さの電極パタ
ーンが1回の操作で形成される。
According to the method for forming a thick film pattern having the above-mentioned structure, after an electrode pattern forming material is applied on a substrate to a predetermined thickness, an unnecessary portion is removed by sandblasting through a mask, so that an ultimately necessary material is removed. Is formed in a single operation.

【0008】[0008]

【実施例】実施例について図面を参照して説明する。An embodiment will be described with reference to the drawings.

【0009】図2及び図3は本発明に係るプラズマディ
スプレイ基板の厚膜パターン形成方法の実施例を示す工
程図であり、図2は電極パターンを形成する工程を、ま
た、図3はその電極の間に障壁を形成する工程を示して
いる。
FIGS. 2 and 3 are process diagrams showing an embodiment of a method for forming a thick film pattern on a plasma display substrate according to the present invention. FIG. 2 shows a process for forming an electrode pattern, and FIG. 3 shows a step of forming a barrier between them.

【0010】ここで、本実施例においては、サンドブラ
スト用マスクを構成するドライフィルムとして、光硬化
型ドライフィルム(東京応化工業製、OSBRフィル
ム)を用いた。しかしながら、この選択は本発明を限定
するものではなく、目的とするパターン寸法、パターン
形成材料の種類、サンドブラスト処理のマスクとしての
適性に応じて適切なドライフィルムを適宜選択すればよ
いものである。
In this embodiment, a photocurable dry film (OSBR film, manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) was used as a dry film constituting the sandblast mask. However, this selection does not limit the present invention, and an appropriate dry film may be appropriately selected according to the target pattern dimensions, the type of the pattern forming material, and the suitability as a mask for sandblasting.

【0011】以下、図2に示す各工程を順を追って説明
する。
Hereinafter, each step shown in FIG. 2 will be described step by step.

【0012】まず、(a)に示すように、ガラス基板1
1の上に電極パターン形成材料である電極ペースト12
をスクリーン印刷により塗布しその厚みを20μmとし
た。そして、電極ペースト12中の有機バインダーに含
まれる溶剤を除去するために基板11ごと100〜16
0℃で乾燥を行って次の工程へ供した。次いで、(b)
に示すように、基板11を50〜80℃に加熱し、前記
のサンドブラスト用マスクを構成するドライフィルム1
3をラミネートした後、(c)に示すように、超高圧水
銀灯を光源とする平行光をプリンターを用い、線幅60
μm、ピッチ120μmのラインパターンマスク14を
介して紫外線15によりパターン露光を行った。露光条
件は、365nmで測定した時に、強度200μw/c
2 、照射量70mJ/cm2 である。続いて、(d)
に示す現像工程では、無水炭酸ナトリウム0.2wt%
水溶液により液温30〜50℃でスプレー現像を行っ
た。以上の工程により線幅60μm、ピッチ120μm
のサンドブラスト用マスク16が得られた。その後、乾
燥工程を経て(e)のサンドブラスト17による不要部
分の除去処理を行った。ここでは、研磨材として褐色溶
融アルミナ#800を用い、噴出圧力1kg/cm2
サンドブラスト処理を行うことにより、線幅60μm、
ピッチ120μm、高さ20μmの電極18のパターン
を得た。
First, as shown in FIG.
Electrode paste 12 which is an electrode pattern forming material
Was applied by screen printing to have a thickness of 20 μm. Then, in order to remove the solvent contained in the organic binder in the electrode paste 12, 100 to 16
After drying at 0 ° C., it was subjected to the next step. Then, (b)
As shown in FIG. 1, the substrate 11 is heated to 50 to 80 ° C., and the dry film 1 constituting the above-mentioned sandblast mask is formed.
After laminating No.3, as shown in (c), a parallel light having a line width of 60
Pattern exposure was performed using ultraviolet rays 15 through a line pattern mask 14 having a pitch of 120 μm and a pitch of 120 μm. The exposure conditions are as follows: when measured at 365 nm, the intensity is 200 μw / c.
m 2 , and the irradiation amount is 70 mJ / cm 2 . Then, (d)
In the developing step shown in the above, 0.2% by weight of anhydrous sodium carbonate
Spray development was performed with an aqueous solution at a liquid temperature of 30 to 50 ° C. The line width is 60 μm and the pitch is 120 μm by the above steps.
Was obtained. After that, through a drying step, the unnecessary portion was removed by the sandblast 17 in (e). Here, by using brown fused alumina # 800 as an abrasive and performing sandblasting at an ejection pressure of 1 kg / cm 2 , a line width of 60 μm was obtained.
A pattern of the electrode 18 having a pitch of 120 μm and a height of 20 μm was obtained.

【0013】次に、図3に示す工程を順を追って説明す
る。
Next, the steps shown in FIG. 3 will be described step by step.

【0014】まず、(a)に示すように、障壁パターン
形成材料としてのセラミック材料19を図2の工程で得
られたパターンの上から基板11にブレードコート法に
より塗布し、厚みを200μmとした。そして、100
〜160℃で乾燥を行い、次の工程へ供した。次いで、
(b)に示すように、基板を50〜80℃に加熱し、前
記したのと同じドライフィルム20をラミネートした
後、(c)に示すように、線幅60μm、ピッチ120
μmのラインパターンマスク21を介して紫外線22に
よりパターン露光を行った。露光条件は、図2(c)の
場合と同様である。続いて、前記条件と同様の条件で現
像を行い、(d)に示すように、線幅60μm、ピッチ
120μmのサンドブラスト用マスク23を得た。その
後、(e)のサンドブラスト24による不要部分の除去
工程では、研磨材として褐色溶融アルミナ#400を用
い、噴出圧力3kg/cm2 でサンドブラスト処理を行
うことにより、線幅60μm、ピッチ120μm、高さ
200μmの前記セラミック材料による障壁25のパタ
ーンを得た。この際、電極18の上部には先のマスク1
6が残っており、これが電極18の表面を保護している
ため、電極18はダメージを受けない。そして、続く
(f)に示す工程では、ピーク温度585℃、保持時間
10〜20分の条件で焼成を行い、前記電極18及び障
壁25をガラス基板11上で結着させると同時にサンド
ブラスト用マスク16,23を焼失せしめた。以上の工
程により線幅60μm、ピッチ120μm、高さ18μ
mの電極18、及び線幅60μm、ピッチ120μm、
高さ180μmの障壁25の厚膜パターンが得られた
First, as shown in FIG. 2A, a ceramic material 19 as a barrier pattern forming material is applied to the substrate 11 from above the pattern obtained in the step of FIG. 2 by a blade coating method to have a thickness of 200 μm. . And 100
Drying was performed at 〜160 ° C. and provided for the next step. Then
As shown in (b), after heating the substrate to 50 to 80 ° C. and laminating the same dry film 20 as described above, as shown in (c), the line width is 60 μm, and the pitch is 120 μm.
Pattern exposure was performed by ultraviolet rays 22 through a μm line pattern mask 21. The exposure conditions are the same as in the case of FIG. Subsequently, development was performed under the same conditions as described above to obtain a sandblast mask 23 having a line width of 60 μm and a pitch of 120 μm as shown in FIG. Then, in the step (e) of removing unnecessary portions by sandblasting 24, brown fused alumina # 400 is used as an abrasive, and sandblasting is performed at an ejection pressure of 3 kg / cm 2 to obtain a line width of 60 μm, a pitch of 120 μm, and a height of 120 μm. A 200 μm barrier 25 pattern of the ceramic material was obtained. At this time, the mask 1 above the electrode 18
6 remains, which protects the surface of the electrode 18, so that the electrode 18 is not damaged. Then, in the subsequent step (f), baking is performed under the conditions of a peak temperature of 585 ° C. and a holding time of 10 to 20 minutes to bind the electrode 18 and the barrier 25 on the glass substrate 11 and at the same time, simultaneously with the sandblast , 23 were burned. Through the above steps, the line width is 60 μm, the pitch is 120 μm, and the height is 18 μm.
m electrode 18, line width 60 μm, pitch 120 μm,
A thick film pattern of the barrier 25 having a height of 180 μm was obtained.

【0015】[0015]

【発明の効果】本発明は、上述のとおり構成されている
ので、次に記載する効果を奏する。
Since the present invention is configured as described above, the following effects can be obtained.

【0016】1回の操作で厚膜のパターンが得られるた
め、これまでのスクリーン印刷法による厚膜パターン形
成の積層法に比べ、処理時間が短縮されると共に、位置
合わせ等の操作も1回でよいため、工程の簡略化を図る
ことができる。
Since a thick film pattern can be obtained by one operation, the processing time is shortened and an operation such as positioning is performed one time as compared with the conventional lamination method of forming a thick film pattern by screen printing. Therefore, the process can be simplified.

【0017】また、サンドブラスト用マスクの形成にフ
ォトリソグラフィー法を用いることにより、高精細パタ
ーン及び基板の大型化への対応が可能となる。
Further, by using a photolithography method for forming a sandblast mask, it is possible to cope with a high-definition pattern and an increase in the size of a substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のプラズマディスプレイ基板の厚膜パタ
ーン形成方法を説明するための工程図である。
FIG. 1 is a process diagram illustrating a method of forming a thick film pattern on a plasma display substrate according to the present invention.

【図2】電極パターン形成の工程図である。FIG. 2 is a process diagram of forming an electrode pattern.

【図3】障壁パターン形成の工程図である。FIG. 3 is a process diagram of forming a barrier pattern.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガラス基板 2 パターン形成材料 3 ドライフィルム 4 露光マスク 5 紫外線 6 サンドブラスト用マスク 7 サンドブラスト 11 ガラス基板 12 電極ペースト 13 ドライフィルム 14 ラインパターンマスク 15 紫外線 16 サンドブラスト用マスク 17 サンドブラスト 18 電極 19 セラミック材料 20 ドライフィルム 21 ラインパターンマスク 22 紫外線 23 サンドブラスト用マスク 24 サンドブラスト 25 障壁 Reference Signs List 1 glass substrate 2 pattern forming material 3 dry film 4 exposure mask 5 ultraviolet ray 6 sand blast mask 7 sand blast 11 glass substrate 12 electrode paste 13 dry film 14 line pattern mask 15 ultraviolet ray 16 sand blast mask 17 sand blast 18 electrode 19 ceramic material 20 dry film DESCRIPTION OF SYMBOLS 21 Line pattern mask 22 Ultraviolet ray 23 Sand blast mask 24 Sand blast 25 Barrier

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プラズマディスプレイの基板上に電極パ
ターンを形成するパターン形成材料を予め所定の膜厚で
塗布し、基板を加熱してパターン形成材料の上部にドラ
イフィルムをラミネートした後、該ドライフィルムをフ
ォトリソグラフィー法によりパターニングして所望パタ
ーンに応じたサンドブラスト用マスクを形成し、そのサ
ンドブラスト用マスクを介してサンドブラスト処理を行
うことにより、目的とする電極パターンを得ることを特
徴とするプラズマディスプレイ基板の厚膜パターン形成
方法。
1. A pattern forming material for forming an electrode pattern is applied on a substrate of a plasma display in a predetermined thickness in advance, and the substrate is heated to laminate a dry film on the pattern forming material. Forming a mask for sandblasting according to a desired pattern by patterning by a photolithography method, and performing a sandblasting process through the mask for sandblasting, thereby obtaining an intended electrode pattern. A method for forming a thick film pattern.
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