JP3240997B2 - Method for forming thick film pattern electrode on plasma display substrate - Google Patents

Method for forming thick film pattern electrode on plasma display substrate

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、プラズマディスプレイ
パネルの製造工程において、プラズマディスプレイ基板
上に厚膜パターン電極を形成するプラズマディスプレイ
基板の厚膜パターン電極形成方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming a thick-film pattern electrode on a plasma display substrate, in which a thick-film pattern electrode is formed on the plasma display substrate in a process of manufacturing the plasma display panel.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、プラズマディスプレイ基板の厚膜
パターン形成方法としては、ガラスやセラミックの基板
上に導体或いは絶縁体用のペーストをスクリーン印刷に
よりパターン状に印刷を行った後にこのペーストを乾
燥、焼成する工程を繰り返して厚膜パターンを形成する
方法が知られている。また、最近では、ガラス等の基板
の上にセラミック材料で厚膜パターンを形成することが
種々の分野で行われてきているが、この場合にも、セラ
ミック材料をバインダー中に分散させてペースト状とし
たものを用い、前記したのと同様にして、スクリーン印
刷により重ね印刷を行った後に乾燥、焼成する工程を繰
り返すことにより厚膜パターンを形成するようにしてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a method of forming a thick film pattern on a plasma display substrate, a paste for a conductor or an insulator is printed in a pattern on a glass or ceramic substrate by screen printing, and then the paste is dried. There is known a method of forming a thick film pattern by repeating a firing step. Recently, forming a thick film pattern with a ceramic material on a substrate such as glass has been performed in various fields. In this case, too, the ceramic material is dispersed in a binder to form a paste. In the same manner as described above, a thick film pattern is formed by repeating the steps of performing overprinting by screen printing, followed by drying and firing.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来のスクリーン印刷
によりプラズマディスプレイ基板上に厚膜パターンを形
成する方法においては、上述のように複数回のスクリー
ン印刷により重ね刷りをして所定の厚さにする必要があ
るが、この方法では例えば50〜100μmの厚膜を得
るために5〜10回の重ね刷りを必要とし、そのたびご
とに乾燥工程が入ることとなり、その結果として極めて
生産性が悪く歩留りを低下させるという問題点があっ
た。さらに、ペーストの粘度、チクソトロピー等により
パターンの線幅精度が損なわれるという問題点もあっ
た。
In a conventional method of forming a thick film pattern on a plasma display substrate by screen printing, as described above, overprinting is performed by a plurality of times of screen printing to obtain a predetermined thickness. However, this method requires 5 to 10 overprints in order to obtain a thick film of, for example, 50 to 100 μm, each time requiring a drying step, and as a result, the productivity is extremely poor and the yield is low. There was a problem that it reduced. Further, there is a problem that the line width accuracy of the pattern is impaired due to the viscosity of the paste, thixotropy and the like.

【0004】本発明は、このような従来技術の問題点を
解消するために創案されたものであり、生産性を改善し
歩留りを向上させ、かつ良好な線幅精度を得ることので
きるプラズマディスプレイ基板の厚膜パターン電極形成
方法を提供することを目的としている。
The present invention has been made to solve such problems of the prior art, and is a plasma display capable of improving productivity, improving yield, and obtaining excellent line width accuracy. It is an object of the present invention to provide a method of forming a thick film pattern electrode on a substrate.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のプラズマディスプレイ基板の厚膜パターン
電極形成方法は、プラズマディスプレイの基板上に
膜パターン電極を形成するパターン形成材料である電極
ペーストを予め所定の膜厚で塗布し、その電極ペースト
中の有機バインダーに含まれる溶剤を除去するために乾
燥を行ってから、基板を加熱してパターン形成材料の上
部にドライフィルムをラミネートした後、該ドライフィ
ルムをフォトリソグラフィー法によりパターニングして
所望パターンに応じたサンドブラスト用マスクを形成
し、そのサンドブラスト用マスクを介してサンドブラス
ト処理を行ってから、最後に焼成を行うことにより、目
的とする厚膜パターン電極を得ることを特徴とするもの
である。
To achieve SUMMARY OF to the above objects, thick film pattern electrode forming method of a plasma display substrate of the present invention, on a substrate of a plasma display, a pattern forming material for forming a thick film pattern electrodes An electrode
The paste is applied in a predetermined thickness in advance and the electrode paste
Dry to remove the solvent contained in the organic binder
After drying , the substrate is heated and a dry film is laminated on the upper part of the pattern forming material. Then, the dry film is patterned by a photolithography method to form a sand blast mask according to a desired pattern, and the sand blast mask is formed. The present invention is characterized in that a target thick film pattern electrode is obtained by performing a sand blast treatment through a mask and finally performing a baking .

【0006】この厚膜パターン電極形成方法を図1によ
り具体的に説明する。まず、(a)に示すように、ガラ
ス基板1の上にパターン形成材料2を塗布し、基板を加
熱してパターン形成材料2の上部にドライフィルム3を
ラミネートした後、目的パターンに合った露光マスク4
を介して紫外線5により露光してから現像することによ
り、(b)に示すように、パターン形成材料2の上面に
ドライフィルム3からなるサンドブラスト用マスク6を
形成する。しかる後、(c)に示すように、サンドブラ
スト7により不要部分の除去を行うことによりパターン
を形成する。次いで、焼成或いは薬品処理を行うことに
より、(d)に示すように、サンドブラスト用マスク6
を除去して目的とする厚膜パターン電極を得る。
The method of forming the thick film pattern electrode will be described in detail with reference to FIG. First, as shown in (a), a pattern forming material 2 is applied on a glass substrate 1, the substrate is heated to laminate a dry film 3 on the pattern forming material 2, and then an exposure suitable for a target pattern is performed. Mask 4
By exposing with ultraviolet rays 5 through the substrate, and developing, a sand blast mask 6 made of the dry film 3 is formed on the upper surface of the pattern forming material 2 as shown in FIG. Thereafter, as shown in (c), an unnecessary portion is removed by sandblasting 7 to form a pattern. Next, by firing or performing chemical treatment, as shown in FIG.
To obtain a target thick film pattern electrode .

【0007】[0007]

【作用】上記構成の厚膜パターン電極形成方法によれ
ば、基板上に所定の厚さで厚膜パターン電極形成材料を
塗布した後、マスクを介してサンドブラストにより不要
部分を除去することにより、最終的に必要とする厚さの
厚膜パターン電極が1回の操作で形成される。
According to the method for forming a thick-film pattern electrode having the above-mentioned structure, after a material for forming a thick-film pattern electrode is applied on a substrate to a predetermined thickness, an unnecessary portion is removed by sandblasting through a mask. Of the required thickness
Thick film pattern electrodes are formed in one operation.

【0008】[0008]

【実施例】実施例について図面を参照して説明する。An embodiment will be described with reference to the drawings.

【0009】図2及び図3は本発明に係るプラズマディ
スプレイ基板の厚膜パターン形成方法の実施例を示す工
程図であり、図2は厚膜パターン電極を形成する工程
を、また、図3はその電極の間に障壁を形成する工程を
示している。
2 and 3 are process diagrams showing an embodiment of a method for forming a thick film pattern on a plasma display substrate according to the present invention. FIG. 2 shows a process for forming a thick film pattern electrode , and FIG. The step of forming a barrier between the electrodes is shown.

【0010】ここで、本実施例においては、サンドブラ
スト用マスクを構成するドライフィルムとして、光硬化
型ドライフィルム(東京応化工業製、OSBRフィル
ム)を用いた。しかしながら、この選択は本発明を限定
するものではなく、目的とするパターン寸法、パターン
形成材料の種類、サンドブラスト処理のマスクとしての
適性に応じて適切なドライフィルムを適宜選択すればよ
いものである。
In this embodiment, a photocurable dry film (OSBR film, manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) was used as a dry film constituting the sandblast mask. However, this selection does not limit the present invention, and an appropriate dry film may be appropriately selected according to the target pattern dimensions, the type of pattern forming material, and the suitability as a mask for sandblasting.

【0011】以下、図2に示す各工程を順を追って説明
する。
Hereinafter, each step shown in FIG. 2 will be described step by step.

【0012】まず、(a)に示すように、ガラス基板1
1の上に厚膜パターン電極形成材料である電極ペースト
12をスクリーン印刷により塗布しその厚みを20μm
とした。そして、電極ペースト12中の有機バインダー
に含まれる溶剤を除去するために基板11ごと100〜
160℃で乾燥を行って次の工程へ供した。次いで、
(b)に示すように、基板11を50〜80℃に加熱
し、前記のサンドブラスト用マスクを構成するドライフ
ィルム13をラミネートした後、(c)に示すように、
超高圧水銀灯を光源とする平行光をプリンターを用い、
線幅60μm、ピッチ120μmのラインパターンマス
ク14を介して紫外線15によりパターン露光を行っ
た。露光条件は、365nmで測定した時に、強度20
0μw/cm2、照射量70mJ/cm2 である。続い
て、(d)に示す現像工程では、無水炭酸ナトリウム
0.2wt%水溶液により液温30〜50℃でスプレー
現像を行った。以上の工程により線幅60μm、ピッチ
120μmのサンドブラスト用マスク16が得られた。
その後、乾燥工程を経て(e)のサンドブラスト17に
よる不要部分の除去処理を行った。ここでは、研磨材と
して褐色溶融アルミナ#800を用い、噴出圧力1kg
/cm2 でサンドブラスト処理を行うことにより、線幅
60μm、ピッチ120μm、高さ20μmの電極18
のパターンを得た。
First, as shown in FIG.
An electrode paste 12 which is a material for forming a thick film pattern electrode is applied by screen printing onto
And Then, in order to remove the solvent contained in the organic binder in the electrode paste 12, 100 to 100
After drying at 160 ° C., it was subjected to the next step. Then
As shown in (b), after heating the substrate 11 to 50 to 80 ° C. and laminating the dry film 13 constituting the above-mentioned sandblast mask, as shown in (c),
Using a printer, collimated light with an ultra-high pressure mercury lamp as the light source,
Pattern exposure was performed by ultraviolet rays 15 through a line pattern mask 14 having a line width of 60 μm and a pitch of 120 μm. Exposure conditions are as follows: when measured at 365 nm, intensity 20
0 μw / cm 2 and irradiation amount 70 mJ / cm 2 . Subsequently, in the developing step shown in (d), spray development was performed at a liquid temperature of 30 to 50 ° C. using a 0.2 wt% aqueous solution of anhydrous sodium carbonate. Through the above steps, a sand blast mask 16 having a line width of 60 μm and a pitch of 120 μm was obtained.
After that, through a drying step, the unnecessary portion was removed by the sandblast 17 in (e). Here, brown fused alumina # 800 was used as the abrasive, and the ejection pressure was 1 kg.
/ Cm 2 , an electrode 18 having a line width of 60 μm, a pitch of 120 μm, and a height of 20 μm is obtained.
Pattern was obtained.

【0013】次に、図3に示す工程を順を追って説明す
る。
Next, the steps shown in FIG. 3 will be described step by step.

【0014】まず、(a)に示すように、障壁パターン
形成材料としてのセラミック材料19を図2の工程で得
られたパターンの上から基板11にブレードコート法に
より塗布し、厚みを200μmとした。そして、100
〜160℃で乾燥を行い、次の工程へ供した。次いで、
(b)に示すように、基板を50〜80℃に加熱し、前
記したのと同じドライフィルム20をラミネートした
後、(c)に示すように、線幅60μm、ピッチ120
μmのラインパターンマスク21を介して紫外線22に
よりパターン露光を行った。露光条件は、図2(c)の
場合と同様である。続いて、前記条件と同様の条件で現
像を行い、(d)に示すように、線幅60μm、ピッチ
120μmのサンドブラスト用マスク23を得た。その
後、(e)のサンドブラスト24による不要部分の除去
工程では、研磨材として褐色溶融アルミナ#400を用
い、噴出圧力3kg/cm2 でサンドブラスト処理を行
うことにより、線幅60μm、ピッチ120μm、高さ
200μmの前記セラミック材料による障壁25のパタ
ーンを得た。この際、電極18の上部には先のマスク1
6が残っており、これが電極18の表面を保護している
ため、電極18はダメージを受けない。そして、続く
(f)に示す工程では、ピーク温度585℃、保持時間
10〜20分の条件で焼成を行い、前記電極18及び障
壁25をガラス基板11上で結着させると同時にサンド
ブラスト用マスク16,23を焼失せしめた。以上の工
程により線幅60μm、ピッチ120μm、高さ18μ
mの電極18、及び線幅60μm、ピッチ120μm、
高さ180μmの障壁25の厚膜パターンが得られた
First, as shown in FIG. 2A, a ceramic material 19 as a barrier pattern forming material is applied to the substrate 11 from above the pattern obtained in the step of FIG. 2 by a blade coating method to a thickness of 200 μm. . And 100
Drying was performed at 〜160 ° C. and provided for the next step. Then
As shown in (b), after heating the substrate to 50 to 80 ° C. and laminating the same dry film 20 as described above, as shown in (c), the line width is 60 μm, and the pitch is 120.
Pattern exposure was performed by ultraviolet rays 22 through a μm line pattern mask 21. The exposure conditions are the same as in the case of FIG. Subsequently, development was performed under the same conditions as described above to obtain a sandblast mask 23 having a line width of 60 μm and a pitch of 120 μm as shown in FIG. Then, in the step (e) of removing unnecessary portions by sandblasting 24, brown fused alumina # 400 is used as an abrasive, and sandblasting is performed at an ejection pressure of 3 kg / cm 2 to obtain a line width of 60 μm, a pitch of 120 μm, and a height of 120 μm. A 200 μm barrier 25 pattern of the ceramic material was obtained. At this time, the mask 1 above the electrode 18
6 remains, which protects the surface of the electrode 18, so that the electrode 18 is not damaged. Then, in the subsequent step (f), baking is performed under the conditions of a peak temperature of 585 ° C. and a holding time of 10 to 20 minutes to bind the electrode 18 and the barrier 25 on the glass substrate 11 and at the same time, to form the sand blast mask 16. , 23 were burned. Through the above steps, the line width is 60 μm, the pitch is 120 μm, and the height is 18 μm.
m electrode 18, line width 60 μm, pitch 120 μm,
A thick film pattern of the barrier 25 having a height of 180 μm was obtained.

【0015】[0015]

【発明の効果】本発明は、上述のとおり構成されている
ので、次に記載する効果を奏する。
Since the present invention is configured as described above, the following effects can be obtained.

【0016】1回の操作で厚膜のパターンが得られるた
め、これまでのスクリーン印刷法による厚膜パターン
形成の積層法に比べ、処理時間が短縮されると共に、
位置合わせ等の操作も1回でよいため、工程の簡略化を
図ることができる。
[0016] Since one operation in the thick film pattern is obtained, a thick film pattern conductive by screen printing so far
Processing time is shortened compared to the lamination method of pole formation,
Since only one operation such as alignment is required, the process can be simplified.

【0017】また、サンドブラスト用マスクの形成にフ
ォトリソグラフィー法を用いることにより、高精細パタ
ーン及び基板の大型化への対応が可能となる。
Further, by using a photolithography method for forming a sandblast mask, it is possible to cope with a high-definition pattern and an increase in the size of a substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のプラズマディスプレイ基板の厚膜パタ
ーン形成方法を説明するための工程図である。
FIG. 1 is a process diagram illustrating a method of forming a thick film pattern on a plasma display substrate according to the present invention.

【図2】電極パターン形成の工程図である。FIG. 2 is a process diagram of forming an electrode pattern.

【図3】障壁パターン形成の工程図である。FIG. 3 is a process chart of barrier pattern formation.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガラス基板 2 パターン形成材料 3 ドライフィルム 4 露光マスク 5 紫外線 6 サンドブラスト用マスク 7 サンドブラスト 11 ガラス基板 12 電極ペースト 13 ドライフィルム 14 ラインパターンマスク 15 紫外線 16 サンドブラスト用マスク 17 サンドブラスト 18 電極 19 セラミック材料 20 ドライフィルム 21 ラインパターンマスク 22 紫外線 23 サンドブラスト用マスク 24 サンドブラスト 25 障壁 Reference Signs List 1 glass substrate 2 pattern forming material 3 dry film 4 exposure mask 5 ultraviolet ray 6 sand blast mask 7 sand blast 11 glass substrate 12 electrode paste 13 dry film 14 line pattern mask 15 ultraviolet ray 16 sand blast mask 17 sand blast 18 electrode 19 ceramic material 20 dry film DESCRIPTION OF SYMBOLS 21 Line pattern mask 22 Ultraviolet ray 23 Sand blast mask 24 Sand blast 25 Barrier

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−127429(JP,A) 特開 昭51−142670(JP,A) 特開 昭64−67840(JP,A) 特開 昭60−34092(JP,A) (社)日本プリント回路工業会編, 「プリント回路技術便覧」,日刊工業新 聞社,昭和52年2月28日,p.480−485 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-3-127429 (JP, A) JP-A-51-142670 (JP, A) JP-A-64-67840 (JP, A) JP-A 60-67429 34092 (JP, A) Japan Printed Circuit Manufacturers Association, “Printed Circuit Technology Handbook”, Nikkan Kogyo Shinbunsha, February 28, 1977, p. 480−485

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 プラズマディスプレイの基板上に厚膜
パターン電極を形成するパターン形成材料である電極ペ
ーストを予め所定の膜厚で塗布し、その電極ペースト中
の有機バインダーに含まれる溶剤を除去するために乾燥
を行ってから、基板を加熱してパターン形成材料の上部
にドライフィルムをラミネートした後、該ドライフィル
ムをフォトリソグラフィー法によりパターニングして所
望パターンに応じたサンドブラスト用マスクを形成し、
そのサンドブラスト用マスクを介してサンドブラスト処
理を行ってから、最後に焼成を行うことにより、目的と
する厚膜パターン電極を得ることを特徴とするプラズマ
ディスプレイ基板の厚膜パターン電極形成方法。
To 1. A plasma display substrate, a pattern forming material for forming a thick film pattern electrode electrode pair
Is applied in a predetermined thickness in advance, and the paste
Dry to remove solvent contained in organic binder
After performing , after laminating a dry film on top of the pattern forming material by heating the substrate, patterning the dry film by photolithography to form a sandblasting mask according to the desired pattern,
A method for forming a thick film pattern electrode on a plasma display substrate, wherein a target thick film pattern electrode is obtained by performing a sand blasting process through the sand blast mask and finally performing a baking .
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