JPH117354A - 静電結合型タブレット装置 - Google Patents
静電結合型タブレット装置Info
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- JPH117354A JPH117354A JP15985897A JP15985897A JPH117354A JP H117354 A JPH117354 A JP H117354A JP 15985897 A JP15985897 A JP 15985897A JP 15985897 A JP15985897 A JP 15985897A JP H117354 A JPH117354 A JP H117354A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 タブレット入力板とその駆動回路との間の配
線数を減らす。 【解決手段】 タブレット入力板２の上面側（入力ペン
側）に左右一対の櫛型電極２１，２２が形成され、底面
側に上下一対の櫛型電極２３，２４が形成される。これ
ら一対の櫛型電極の歯電極は互いに噛み合うように延長
され、延長距離に応じて幅が狭くされている。入力ペン
側の櫛型電極２１，２２は網状に形成される。櫛型電極
２１，２２に交互に電圧を印加し、そのとき入力ペンが
静電結合によって検出した出力電圧の比または差を測定
して、入力ペンの左右方向の位置を検出し、櫛型電極２
３，２４に交互に電圧を印加し、そのとき入力ペンが静
電結合によって検出した出力電圧の比または差を測定し
て、入力ペンの上下方向の位置を検出する。
線数を減らす。 【解決手段】 タブレット入力板２の上面側（入力ペン
側）に左右一対の櫛型電極２１，２２が形成され、底面
側に上下一対の櫛型電極２３，２４が形成される。これ
ら一対の櫛型電極の歯電極は互いに噛み合うように延長
され、延長距離に応じて幅が狭くされている。入力ペン
側の櫛型電極２１，２２は網状に形成される。櫛型電極
２１，２２に交互に電圧を印加し、そのとき入力ペンが
静電結合によって検出した出力電圧の比または差を測定
して、入力ペンの左右方向の位置を検出し、櫛型電極２
３，２４に交互に電圧を印加し、そのとき入力ペンが静
電結合によって検出した出力電圧の比または差を測定し
て、入力ペンの上下方向の位置を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、コンピュータに
ペン入力するための、静電結合型タブレット装置に関す
るものである。
ペン入力するための、静電結合型タブレット装置に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】タブレット装置は、タブレット入力板上
で移動する入力ペン（ペン型検出センサ）の位置を逐次
検出し、その位置データをコンピュータ等に与えるもの
であり、この結果、コンピュータ等は入力ペンによって
描かれた図形や文字などを知ることができ、その図形や
文字を表示したり、画面上に表示されている図形を変更
するために使用したりする。
で移動する入力ペン（ペン型検出センサ）の位置を逐次
検出し、その位置データをコンピュータ等に与えるもの
であり、この結果、コンピュータ等は入力ペンによって
描かれた図形や文字などを知ることができ、その図形や
文字を表示したり、画面上に表示されている図形を変更
するために使用したりする。
【０００３】図５に示す従来の静電結合型タブレット装
置１は、タブレット入力板２、Ｘ電極駆動回路３、Ｙ電
極駆動回路４、ペン型検出センサ（以下入力ペンと言
う）５、波形整形回路６、Ｘ位置計算回路７、Ｙ位置計
算回路８等によって構成される。タブレット入力板２に
はＸ電極Ｘ１〜ＸＮがＸ方向に等間隔で平行に配置さ
れ、Ｙ電極Ｙ１〜ＹＭも同様に、Ｙ方向に等間隔で平行
に配置される。Ｘ電極Ｘｉ、Ｙ電極Ｙｊは図７に示すよ
うにそれぞれ絶縁基板１３，１４上に印刷、蒸着等の方
法で形成され、互に接触しないように絶縁板１５を挟ん
で互の電極パターンが直交するように配置される。特に
ＬＣＤやＣＲＴ等の表示画面に重ねて画面入力タブレッ
トとする場合は、絶縁基板１３，１４としてガラスが、
また、絶縁板１５として透明な接着シートが使用され、
絶縁基板１３，１４はＩＴＯより成る透明膜を蒸着し電
極パターン部分を残すようにエッチングして形成され
る。
置１は、タブレット入力板２、Ｘ電極駆動回路３、Ｙ電
極駆動回路４、ペン型検出センサ（以下入力ペンと言
う）５、波形整形回路６、Ｘ位置計算回路７、Ｙ位置計
算回路８等によって構成される。タブレット入力板２に
はＸ電極Ｘ１〜ＸＮがＸ方向に等間隔で平行に配置さ
れ、Ｙ電極Ｙ１〜ＹＭも同様に、Ｙ方向に等間隔で平行
に配置される。Ｘ電極Ｘｉ、Ｙ電極Ｙｊは図７に示すよ
うにそれぞれ絶縁基板１３，１４上に印刷、蒸着等の方
法で形成され、互に接触しないように絶縁板１５を挟ん
で互の電極パターンが直交するように配置される。特に
ＬＣＤやＣＲＴ等の表示画面に重ねて画面入力タブレッ
トとする場合は、絶縁基板１３，１４としてガラスが、
また、絶縁板１５として透明な接着シートが使用され、
絶縁基板１３，１４はＩＴＯより成る透明膜を蒸着し電
極パターン部分を残すようにエッチングして形成され
る。
【０００４】入力ペン５のＸ方向の位置を測定するため
に、Ｘ電極Ｘ１〜ＸＮに一定時間間隔で順次電圧を印加
する。入力ペン５とＸ電極間には静電容量が形成されて
いるため、入力ペン５に近い電極に電圧が印加されたと
きに入力ペン５には電圧が現れる。この電圧は入力ペン
５に最も近い電極に電圧が印加されるときに最大値をと
る（図６）。入力ペン５で得られる電圧の時間的変化と
各電極への電圧印加時間との関係により、入力ペン５の
Ｘ方向の位置を検出する。Ｙ方向の位置検出についても
同様である。
に、Ｘ電極Ｘ１〜ＸＮに一定時間間隔で順次電圧を印加
する。入力ペン５とＸ電極間には静電容量が形成されて
いるため、入力ペン５に近い電極に電圧が印加されたと
きに入力ペン５には電圧が現れる。この電圧は入力ペン
５に最も近い電極に電圧が印加されるときに最大値をと
る（図６）。入力ペン５で得られる電圧の時間的変化と
各電極への電圧印加時間との関係により、入力ペン５の
Ｘ方向の位置を検出する。Ｙ方向の位置検出についても
同様である。
【０００５】波形整形回路６は入力ペン５によって検出
された電圧波形を位置の測定に適した波形に整形するた
めの回路である。発振回路９から周波数Ｆｘの同期信号
がＸ電極駆動回路３及びＸ位置計算回路７に供給され、
また発振回路１０から周波数Ｆｙの同期信号がＹ電極駆
動回路４及びＹ位置計算回路８に供給される。
された電圧波形を位置の測定に適した波形に整形するた
めの回路である。発振回路９から周波数Ｆｘの同期信号
がＸ電極駆動回路３及びＸ位置計算回路７に供給され、
また発振回路１０から周波数Ｆｙの同期信号がＹ電極駆
動回路４及びＹ位置計算回路８に供給される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来の静電結合型タブ
レット装置１では、上記のような検出方法であるためＸ
電極、Ｙ電極はそれぞれ数ｍｍ間隔で電気的に独立した
電極を設ける必要があり、検出しようとする精度にもよ
るが、タブレット入力板２がＸ方向２３ｃｍ程度、Ｙ方
向１８ｃｍ程度の場合、ＸとＹを合わせて８０を超える
電極数が必要であった。したがって、タブレット入力板
２とその駆動回路間は８０本以上の配線が必要となり、
配線に要する実装面積やコストを増大させる原因になっ
ていた。
レット装置１では、上記のような検出方法であるためＸ
電極、Ｙ電極はそれぞれ数ｍｍ間隔で電気的に独立した
電極を設ける必要があり、検出しようとする精度にもよ
るが、タブレット入力板２がＸ方向２３ｃｍ程度、Ｙ方
向１８ｃｍ程度の場合、ＸとＹを合わせて８０を超える
電極数が必要であった。したがって、タブレット入力板
２とその駆動回路間は８０本以上の配線が必要となり、
配線に要する実装面積やコストを増大させる原因になっ
ていた。
【０００７】特にＬＣＤ等の表示画面と重ねて画面入力
用として使用されるタブレット装置では、実装面積や厚
みが制約されているため、図８に示すようにガラス基板
で構成されたタブレット入力板２とＸ，Ｙ電極駆動回路
基板３′，４′を接続するために、接続用のパターンを
印刷したフィルム状の接続体（ＦＰＣ）１８，１９をタ
ブレット入力板２および駆動回路基板３′，４′に熱圧
着する方法が一般的であった。
用として使用されるタブレット装置では、実装面積や厚
みが制約されているため、図８に示すようにガラス基板
で構成されたタブレット入力板２とＸ，Ｙ電極駆動回路
基板３′，４′を接続するために、接続用のパターンを
印刷したフィルム状の接続体（ＦＰＣ）１８，１９をタ
ブレット入力板２および駆動回路基板３′，４′に熱圧
着する方法が一般的であった。
【０００８】このＦＰＣ１８，１９は全部で８０本以上
の電極を接続するために、四角形のタブレット入力板２
の２つの辺をほとんど全てに渡って張り巡らす必要があ
った。
の電極を接続するために、四角形のタブレット入力板２
の２つの辺をほとんど全てに渡って張り巡らす必要があ
った。
【０００９】
（１）請求項１の静電結合型タブレット装置では、タブ
レット入力板の上面側（入力ペン側）及び底面側のいず
れか一方の左端及び右端に、一対の櫛型電極が対向して
配され、各々の櫛型電極の歯電極は互いに噛み合って左
右方向に延長され、上面側及び底面側の他方の上端及び
下端に、一対の櫛型電極が対向して配され、各々の櫛型
電極の歯電極は互いに噛み合って上下方向に延長され
る。櫛型電極の歯電極は延長距離に応じて幅が変化さ
れ、上面側（入力ペン側）の一対の櫛型電極は、網状に
形成される。入力ペンが各櫛型電極と静電結合されてい
る。
レット入力板の上面側（入力ペン側）及び底面側のいず
れか一方の左端及び右端に、一対の櫛型電極が対向して
配され、各々の櫛型電極の歯電極は互いに噛み合って左
右方向に延長され、上面側及び底面側の他方の上端及び
下端に、一対の櫛型電極が対向して配され、各々の櫛型
電極の歯電極は互いに噛み合って上下方向に延長され
る。櫛型電極の歯電極は延長距離に応じて幅が変化さ
れ、上面側（入力ペン側）の一対の櫛型電極は、網状に
形成される。入力ペンが各櫛型電極と静電結合されてい
る。
【００１０】（２）請求項２の発明では、前記（１）に
おいて、歯電極は延長距離に応じて電極の幅が狭くされ
ている。 （３）請求項３の発明では、前記（１）において、一対
の櫛型電極は互いに微小間隔をもって凹凸係合されてい
る。 （４）請求項４の発明では、前記（１）において所定の
期間に左右一対の櫛型電極に交互に電圧を印加すると共
に、他の所定の期間に上下一対の櫛型電極に交互に電圧
を印加する手段と、左右一対の櫛型電極の電圧に対する
入力ペンの検出出力の差または比を測定すると共に、上
下一対の櫛型電極の電圧に対する入力ペンの検出出力の
差または比を測定する手段と、その測定する手段により
測定された左右一対の櫛型電極に対する差または比より
入力ペンの左右方向の位置を検出すると共に、前記測定
する手段により測定された上下一対の櫛型電極に対する
前記差または比より入力ペンの上下方向の位置を検出す
る手段とが設けられる。
おいて、歯電極は延長距離に応じて電極の幅が狭くされ
ている。 （３）請求項３の発明では、前記（１）において、一対
の櫛型電極は互いに微小間隔をもって凹凸係合されてい
る。 （４）請求項４の発明では、前記（１）において所定の
期間に左右一対の櫛型電極に交互に電圧を印加すると共
に、他の所定の期間に上下一対の櫛型電極に交互に電圧
を印加する手段と、左右一対の櫛型電極の電圧に対する
入力ペンの検出出力の差または比を測定すると共に、上
下一対の櫛型電極の電圧に対する入力ペンの検出出力の
差または比を測定する手段と、その測定する手段により
測定された左右一対の櫛型電極に対する差または比より
入力ペンの左右方向の位置を検出すると共に、前記測定
する手段により測定された上下一対の櫛型電極に対する
前記差または比より入力ペンの上下方向の位置を検出す
る手段とが設けられる。
【００１１】（５）請求項５の発明では、前記（４）に
おいて、前記電圧を印加する手段または前記位置を検出
する手段としてマイクロプロセッサが用いられる。
おいて、前記電圧を印加する手段または前記位置を検出
する手段としてマイクロプロセッサが用いられる。
【００１２】
【発明の実施の形態】この発明では、図１に示すように
タブレット入力板２の一方の面に一対の櫛型電極２１
（ＸL ）と２２（ＸU ）を、他方の面に一対の櫛型電極
２３（ＹU ）と２４（ＹL ）を構成する。櫛型電極２１
は左電極２１ａと歯電極２１ｂとより成る。他も同様で
ある。各々の歯電極は、それぞれの基部から先端になる
にしたがって幅が狭くなるような形状とされ、タブレッ
ト入力板２の二つの面の内、入力ペン５が位置する側の
面に構成される櫛型電極の形状を、図１Ｃに示すように
網状にしている。
タブレット入力板２の一方の面に一対の櫛型電極２１
（ＸL ）と２２（ＸU ）を、他方の面に一対の櫛型電極
２３（ＹU ）と２４（ＹL ）を構成する。櫛型電極２１
は左電極２１ａと歯電極２１ｂとより成る。他も同様で
ある。各々の歯電極は、それぞれの基部から先端になる
にしたがって幅が狭くなるような形状とされ、タブレッ
ト入力板２の二つの面の内、入力ペン５が位置する側の
面に構成される櫛型電極の形状を、図１Ｃに示すように
網状にしている。
【００１３】上記のタブレット入力板２において櫛型電
極２３（ＹU ），２４（ＹL ）に交互に電圧を印加し、
入力ペン５が静電結合によって検出する電圧の比または
差を測定することによって入力ペン５のＹ方向の位置を
検出する。いま、端子Ｃ３に電圧を印加し、この時に入
力ペン５から得られる電圧をＶＹU とする。このＶＹ U
は、入力ペン５の有効感度範囲に占める櫛型電極２３の
面積ＳＹU の関数であり、ＶＹU ＝ｆ1 （ＳＹU ）とし
て表わされる。また面積ＳＹU は、タブレット入力板２
上における入力ペン５のＹ方向の座標位置ｙの関数とし
てＳＹU ＝ｆ2（ｙ）で表わされる。従って、ＶＹU ＝
ｆ3 （ｙ）となる。
極２３（ＹU ），２４（ＹL ）に交互に電圧を印加し、
入力ペン５が静電結合によって検出する電圧の比または
差を測定することによって入力ペン５のＹ方向の位置を
検出する。いま、端子Ｃ３に電圧を印加し、この時に入
力ペン５から得られる電圧をＶＹU とする。このＶＹ U
は、入力ペン５の有効感度範囲に占める櫛型電極２３の
面積ＳＹU の関数であり、ＶＹU ＝ｆ1 （ＳＹU ）とし
て表わされる。また面積ＳＹU は、タブレット入力板２
上における入力ペン５のＹ方向の座標位置ｙの関数とし
てＳＹU ＝ｆ2（ｙ）で表わされる。従って、ＶＹU ＝
ｆ3 （ｙ）となる。
【００１４】次に端子Ｃ４に電圧を印加し、この時入力
ペン５から得られる電圧をＶＹL とする。電圧ＶＹ
L は、入力ペン５の有効感度範囲に占める櫛型電極２４
の面積ＳＹL の関数としてＶＹL ＝ｆ4 （ＳＹL ）とし
て表わされる。また面積ＳＹL は、タブレット入力板２
上における入力ペン５のＹ方向の位置ｙの関数としてＳ
Ｙ L ＝ｆ5 （ｙ）で表わされる。従って、ＶＹL ＝ｆ6
（ｙ）となる。
ペン５から得られる電圧をＶＹL とする。電圧ＶＹ
L は、入力ペン５の有効感度範囲に占める櫛型電極２４
の面積ＳＹL の関数としてＶＹL ＝ｆ4 （ＳＹL ）とし
て表わされる。また面積ＳＹL は、タブレット入力板２
上における入力ペン５のＹ方向の位置ｙの関数としてＳ
Ｙ L ＝ｆ5 （ｙ）で表わされる。従って、ＶＹL ＝ｆ6
（ｙ）となる。
【００１５】ここで、入力ペン５とタブレット入力板２
の厚さ方向（Ｚ方向）の距離による影響等を除去するた
めにＶＹU とＶＹL の差または比の値から座標位置ｙを
求める。即ち、 ＶＹU −ＶＹL ＝ｆ3 （ｙ）−ｆ6 （ｙ）＝ｆ7 （ｙ） ＶＹU ／ＶＹL ＝ｆ3 （ｙ）／ｆ6 （ｙ）＝ｆ8 （ｙ） 入力ペンの位置ｘ（又はｙ）と両電圧の比又は差との関
係を図２に示す。
の厚さ方向（Ｚ方向）の距離による影響等を除去するた
めにＶＹU とＶＹL の差または比の値から座標位置ｙを
求める。即ち、 ＶＹU −ＶＹL ＝ｆ3 （ｙ）−ｆ6 （ｙ）＝ｆ7 （ｙ） ＶＹU ／ＶＹL ＝ｆ3 （ｙ）／ｆ6 （ｙ）＝ｆ8 （ｙ） 入力ペンの位置ｘ（又はｙ）と両電圧の比又は差との関
係を図２に示す。
【００１６】なお位置ｙの検出精度が位置ｘに影響され
ないために、歯電極２３ｂ，２４ｂのピッチは、入力ペ
ン５の有効感度範囲に比べて十分小さくする必要があ
る。次に前記のタブレット入力板２において他方の面に
構成されている櫛型電極２１（ＸL ），２２（ＸR ）に
交互に電圧を印加し、入力ペン５が静電結合によって検
出する電圧の比または差を測定することによって入力ペ
ン５のＸ方向の座標位置ｘを検出する。
ないために、歯電極２３ｂ，２４ｂのピッチは、入力ペ
ン５の有効感度範囲に比べて十分小さくする必要があ
る。次に前記のタブレット入力板２において他方の面に
構成されている櫛型電極２１（ＸL ），２２（ＸR ）に
交互に電圧を印加し、入力ペン５が静電結合によって検
出する電圧の比または差を測定することによって入力ペ
ン５のＸ方向の座標位置ｘを検出する。
【００１７】以上の動作により、タブレット入力板２上
の入力ペン５の位置をＸおよびＹの直交座標において検
出できる。なお、タブレット入力板２の二つの面の内、
入力ペン５が位置する側の面に構成される櫛型電極は他
方の面に構成されている櫛型電極と入力ペン５の間に位
置する事になるが、この形状を網状にしたため、他方の
面に構成されている櫛型電極と入力ペン５の静電容量結
合を妨げずに上記の動作が可能となる。
の入力ペン５の位置をＸおよびＹの直交座標において検
出できる。なお、タブレット入力板２の二つの面の内、
入力ペン５が位置する側の面に構成される櫛型電極は他
方の面に構成されている櫛型電極と入力ペン５の間に位
置する事になるが、この形状を網状にしたため、他方の
面に構成されている櫛型電極と入力ペン５の静電容量結
合を妨げずに上記の動作が可能となる。
【００１８】実施例の全体を図３に示す。図１、図３で
は便宜上、タブレット入力板２の上面側には櫛型電極２
１（ＸR ）と２２（ＸL ）が構成されており、底面側に
は櫛型電極２３（ＹU ）と２４（ＹL ）が構成されてい
る。しかし、上面側と底面側との電極構成を逆にしても
よい。各電極はＬＳＩチップより成るマイクロプロセッ
サ２７より電圧を印加される。
は便宜上、タブレット入力板２の上面側には櫛型電極２
１（ＸR ）と２２（ＸL ）が構成されており、底面側に
は櫛型電極２３（ＹU ）と２４（ＹL ）が構成されてい
る。しかし、上面側と底面側との電極構成を逆にしても
よい。各電極はＬＳＩチップより成るマイクロプロセッ
サ２７より電圧を印加される。
【００１９】まずマイクロプロセッサ２７は電極２２
（ＸR ）に接続されている端子Ｃ２の電圧をＨＩＧＨに
し、同時にその他の櫛型電極に接続されている端子Ｃ
１，Ｃ３，Ｃ４の電圧をＬＯＷ（グランドレベル）にす
る。これは図４のＴ1 期間である。この時の入力ペン５
の出力は波形整形回路６に接続され、ノイズが除去され
る。波形整形回路６の出力は、サンプル・ホールド回路
３１，３２に入力される。マイクロプロセッサ２７は期
間Ｔ2 に移行する前にサンプル・ホールド回路３１にホ
ールド信号Ｓ１を出力する。これにより電極２２
（ＸR ）に電圧が印加された時の入力ペン５が検出した
電圧ＶＸR がサンプル・ホールド回路３１に保持され
る。
（ＸR ）に接続されている端子Ｃ２の電圧をＨＩＧＨに
し、同時にその他の櫛型電極に接続されている端子Ｃ
１，Ｃ３，Ｃ４の電圧をＬＯＷ（グランドレベル）にす
る。これは図４のＴ1 期間である。この時の入力ペン５
の出力は波形整形回路６に接続され、ノイズが除去され
る。波形整形回路６の出力は、サンプル・ホールド回路
３１，３２に入力される。マイクロプロセッサ２７は期
間Ｔ2 に移行する前にサンプル・ホールド回路３１にホ
ールド信号Ｓ１を出力する。これにより電極２２
（ＸR ）に電圧が印加された時の入力ペン５が検出した
電圧ＶＸR がサンプル・ホールド回路３１に保持され
る。
【００２０】次にマイクロプロセッサ２７は櫛型電極２
１（ＸL ）に接続されている端子Ｃ１の電圧をＨＩＧＨ
にし、同時に他の櫛型電極に接続されている端子Ｃ２，
Ｃ３，Ｃ４の電圧をＬＯＷ（グランドレベル）にする。
これは図４のＴ2 の期間である。波形整形回路６の出力
は、サンプル・ホールド回路３１，３２に入力される。
マイクロプロセッサ２７は期間Ｔ3 に移行する前にサン
プル・ホールド回路３２にホールド信号Ｓ２を出力す
る。これにより電極２１（ＸL ）に電圧が印加された時
の入力ペン５が検出した電圧ＶＸL がサンプル・ホール
ド回路３２に保持される。
１（ＸL ）に接続されている端子Ｃ１の電圧をＨＩＧＨ
にし、同時に他の櫛型電極に接続されている端子Ｃ２，
Ｃ３，Ｃ４の電圧をＬＯＷ（グランドレベル）にする。
これは図４のＴ2 の期間である。波形整形回路６の出力
は、サンプル・ホールド回路３１，３２に入力される。
マイクロプロセッサ２７は期間Ｔ3 に移行する前にサン
プル・ホールド回路３２にホールド信号Ｓ２を出力す
る。これにより電極２１（ＸL ）に電圧が印加された時
の入力ペン５が検出した電圧ＶＸL がサンプル・ホール
ド回路３２に保持される。
【００２１】サンプル・ホールド回路３１，３２に保持
された電圧ＶＸR ，ＶＸL は差動アンプ３３によって位
置差分信号ΔＶｘとなり、Ａ／Ｄ変換器３４に入力され
る。マイクロプロセッサ２７はＡ／Ｄ変換器３４によっ
てデジタルデータに変換された位置差分信号ΔＶｘから
入力ペン５のＸ座標（ｘ）を計算する。次にマイクロプ
ロセッサ２７は櫛型電極ＹU に接続されている端子Ｃ３
の電圧をＨＩＧＨにし、同時にその他の櫛型電極に接続
されている端子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ４の電圧をＬＯＷ（グラ
ンドレベル）にする。これは図４のＴ3 の期間である。
期間Ｔ1 の時と同様の方法でサンプル・ホールド回路３
１に入力ペン５が検出した電圧ＶＹU を保持する。
された電圧ＶＸR ，ＶＸL は差動アンプ３３によって位
置差分信号ΔＶｘとなり、Ａ／Ｄ変換器３４に入力され
る。マイクロプロセッサ２７はＡ／Ｄ変換器３４によっ
てデジタルデータに変換された位置差分信号ΔＶｘから
入力ペン５のＸ座標（ｘ）を計算する。次にマイクロプ
ロセッサ２７は櫛型電極ＹU に接続されている端子Ｃ３
の電圧をＨＩＧＨにし、同時にその他の櫛型電極に接続
されている端子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ４の電圧をＬＯＷ（グラ
ンドレベル）にする。これは図４のＴ3 の期間である。
期間Ｔ1 の時と同様の方法でサンプル・ホールド回路３
１に入力ペン５が検出した電圧ＶＹU を保持する。
【００２２】期間Ｔ4 に移行し、マイクロプロセッサ２
７は電極ＹL に接続されている端子Ｃ４の電圧をＨＩＧ
Ｈにし、同時にその他の櫛型電極に接続されている端子
Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３の電圧をＬＯＷ（グランドレベル）に
する。期間Ｔ2 の時と同様に、マイクロプロセッサ２７
は再度期間Ｔ1 に移行する前にサンプル・ホールド回路
３２にホールド信号Ｓ２を出力する。これにより電極Ｙ
L に電圧が印加された時の入力ペン５が検出した電圧Ｖ
ＹL がサンプル・ホールド回路３２に保持される。
７は電極ＹL に接続されている端子Ｃ４の電圧をＨＩＧ
Ｈにし、同時にその他の櫛型電極に接続されている端子
Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３の電圧をＬＯＷ（グランドレベル）に
する。期間Ｔ2 の時と同様に、マイクロプロセッサ２７
は再度期間Ｔ1 に移行する前にサンプル・ホールド回路
３２にホールド信号Ｓ２を出力する。これにより電極Ｙ
L に電圧が印加された時の入力ペン５が検出した電圧Ｖ
ＹL がサンプル・ホールド回路３２に保持される。
【００２３】サンプル・ホールド回路３１，３２に保持
された電ＶＹU ，ＶＹL は差動アンプ３３によって位置
差分信号ΔＶｙとなり、Ａ／Ｄ変換器３４に入力され
る。マイクロプロセッサ２７はＡ／Ｄ変換器３４によっ
てデジタルデータに変換された位置差分信号ΔＶｙから
入力ペン５のＹ座標（ｙ）を計算する。
された電ＶＹU ，ＶＹL は差動アンプ３３によって位置
差分信号ΔＶｙとなり、Ａ／Ｄ変換器３４に入力され
る。マイクロプロセッサ２７はＡ／Ｄ変換器３４によっ
てデジタルデータに変換された位置差分信号ΔＶｙから
入力ペン５のＹ座標（ｙ）を計算する。
【００２４】
【発明の効果】この発明によれば、従来のタブレット入
力板２では８０以上の電極で構成していたのを、僅か４
つの電極で構成できる。したがって、タブレット入力板
２とその駆動回路の間の配線数と配線に要する実装面積
を大幅に削減でき、機器に組み込む際の実装上の制約が
少なく、安価なタブレット装置を提供出来る。
力板２では８０以上の電極で構成していたのを、僅か４
つの電極で構成できる。したがって、タブレット入力板
２とその駆動回路の間の配線数と配線に要する実装面積
を大幅に削減でき、機器に組み込む際の実装上の制約が
少なく、安価なタブレット装置を提供出来る。
【図１】Ａ及びＢはこの発明のタブレット装置に使用さ
れるタブレット入力板の一例を示す平面図で、それぞれ
タブレット入力板の上面側（入力ペン側）又は底面側に
形成された櫛型電極の形状を示す。ＣはＡの上面側（入
力ペン側）の櫛型電極の一部を拡大して示した平面図。
れるタブレット入力板の一例を示す平面図で、それぞれ
タブレット入力板の上面側（入力ペン側）又は底面側に
形成された櫛型電極の形状を示す。ＣはＡの上面側（入
力ペン側）の櫛型電極の一部を拡大して示した平面図。
【図２】Ａは図１の櫛型電極ＸR とＸL （またはＹU と
ＹL ）の電圧を入力ペンで検出したときの検出出力電圧
の比とペンの位置ｘ（またはｙ）との関係を示すグラ
フ、Ｂは上記検出出力電圧の差とペンの位置ｘ（または
ｙ）との関係を示すグラフ。
ＹL ）の電圧を入力ペンで検出したときの検出出力電圧
の比とペンの位置ｘ（またはｙ）との関係を示すグラ
フ、Ｂは上記検出出力電圧の差とペンの位置ｘ（または
ｙ）との関係を示すグラフ。
【図３】この発明のタブレット装置のブロック図。
【図４】図３の動作波形図。
【図５】従来の静電結合型タブレット装置のブロック
図。
図。
【図６】図５の動作波形図。
【図７】図５のタブレット入力板２の構成を示す分解斜
視図。
視図。
【図８】図５のタブレット入力板２とＸ，Ｙ電極駆動回
路とのＦＰＣによる接続状態を示す平面図。
路とのＦＰＣによる接続状態を示す平面図。
Claims (5)
- 【請求項１】 タブレット入力板の上面側（入力ペン
側）及び底面側のいずれか一方の左端及び右端に、一対
の櫛型電極が対向して配され、各々の櫛型電極の歯電極
は互いに噛み合って左右方向に延長され、 前記上面側及び底面側の他方の上端及び下端に、一対の
櫛型電極が対向して配され、各々の櫛型電極の歯電極は
互いに噛み合って上下方向に延長され、 前記櫛型電極の歯電極は延長距離に応じて幅が変化さ
れ、 上面側（入力ペン側）の一対の櫛型電極は、網状に形成
され、 入力ペンが前記各櫛型電極と静電結合されていることを
特徴とする静電結合型タブレット装置。 - 【請求項２】 請求項１において、前記歯電極は延長距
離に応じて電極の幅が狭くされていることを特徴とする
静電結合型タブレット装置。 - 【請求項３】 請求項１において、前記一対の櫛型電極
は互いに微小間隔をもって凹凸係合されていることを特
徴とする静電結合型タブレット装置。 - 【請求項４】 請求項１において、所定の期間に前記左
右一対の櫛型電極に交互に電圧を印加し、他の所定の期
間に前記上下一対の櫛型電極に交互に電圧を印加する手
段と、 前記左右一対の櫛型電極の電圧に対する前記入力ペンの
検出出力の差または比を測定すると共に、前記上下一対
の櫛型電極の電圧に対する前記入力ペンの検出出力の差
または比を測定する手段と、 その測定する手段により測定された前記左右一対の櫛型
電極に対する前記差または比より前記入力ペンの左右方
向の位置を検出すると共に、前記測定する手段により測
定された前記上下一対の櫛型電極に対する前記差または
比より前記入力ペンの上下方向の位置を検出する手段と
を具備することを特徴とする静電結合型タブレット装
置。 - 【請求項５】 請求項４において、前記電圧を印加する
手段または前記位置を検出する手段としてマイクロプロ
セッサを用いることを特徴とする静電結合型タブレット
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15985897A JPH117354A (ja) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | 静電結合型タブレット装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15985897A JPH117354A (ja) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | 静電結合型タブレット装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH117354A true JPH117354A (ja) | 1999-01-12 |
Family
ID=15702774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15985897A Withdrawn JPH117354A (ja) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | 静電結合型タブレット装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH117354A (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100887510B1 (ko) * | 2007-08-16 | 2009-03-10 | 대성전기공업 주식회사 | 터치 센서 일체형 액정표시장치와 그 제조방법 |
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-
1997
- 1997-06-17 JP JP15985897A patent/JPH117354A/ja not_active Withdrawn
Cited By (14)
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040907 |