JPH1172774A - Production of liquid crystal display substrate and wet treating device used for the same - Google Patents

Production of liquid crystal display substrate and wet treating device used for the same

Info

Publication number
JPH1172774A
JPH1172774A JP23558497A JP23558497A JPH1172774A JP H1172774 A JPH1172774 A JP H1172774A JP 23558497 A JP23558497 A JP 23558497A JP 23558497 A JP23558497 A JP 23558497A JP H1172774 A JPH1172774 A JP H1172774A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
processing
spin
liquid crystal
crystal display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23558497A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Kikuchi
廣 菊池
Yasushi Sano
靖 佐野
Seikichi Saito
誠吉 斉藤
Satoshi Amano
智 天野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP23558497A priority Critical patent/JPH1172774A/en
Publication of JPH1172774A publication Critical patent/JPH1172774A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make it possible to cost effectively executed a wet treatment of large-sized substrates by automatically and successively executing a series of treatments by transporting the substrates to a horizontal treating section where the substrates are subjected to a horizontal treatment, transporting the substrates to a spin washing section where the substrates are subjected to washing and drying and carrying the substrates into a cassette in an unloader section at the front of the apparatus. SOLUTION: The substrates receiving a descending lift are lowered in a horizontal held state and are transferred to a first spin treating section. The substrates are successively installed to two units of spin treating mechanisms by the double arm transporting robot of this spin treating section. While the substrates are rotated, a treating liquid is dropped from nozzles and the required wet treatment is executed for a specified time in the spin treatment. The number of revolutions is thereafter increased to shake off the treating liquid on the substrates. The substrates subjected to the treatment are recovered and are transferred to the horizontal treating section. While the substrates are horizontally transported by rollers in the horizontal treating section, both surfaces of the substrates are rinsed and washed by spraying using pure water and ultrasonic waves and, thereafter, the substrates are subjected to water draining and drying with air knives. The substrates are received by the double arm transporting robot and are installed onto a spin table.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置の製
造方法に係わり、特に、薄膜トランジスタを形成するア
クティブマトリクス回路基板の製造方法に係わり、さら
にその製造方法で製造した液晶表示装置に係わる。
The present invention relates to a method for manufacturing a liquid crystal display device, and more particularly to a method for manufacturing an active matrix circuit substrate on which a thin film transistor is formed, and further relates to a liquid crystal display device manufactured by the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】代表的な液晶表示デバイスであるTFT
−LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal
Display)の最も重要な部品であるアクテイブマトリク
ス回路基板(TFT基板とも称す)の製造の一例をトラ
ンジスタ部の断面を表す図1に従って説明すると次のよ
うになる。
2. Description of the Related Art TFT which is a typical liquid crystal display device
-LCD (Thin Film Transistor-Liquid Crystal)
An example of manufacturing an active matrix circuit substrate (also referred to as a TFT substrate), which is the most important component of the display, will be described below with reference to FIG.

【0003】ガラス基板1上にゲート電極2を形成し、
次いで、ゲート絶縁膜3とi層とn+層からなるa−S
i(Amorphous Silicon)膜4をCVD(Chemical V
aporDeposition)を用いて堆積し、次いで、a−Si膜
4をアイランド状に加工し、ゲート絶縁膜3を所定形状
に加工する。次いで、ソース電極5、ドレイン電極6を
形成し、次いで、不要なn+層を除去する。次いで、パ
シベーション膜7を形成し所定形状に加工する。次い
で、画素部にITO(Indium Tin Oxide)の透明電極
8を形成し、アクティブマトリクス回路基板を製造すれ
ばよい。
A gate electrode 2 is formed on a glass substrate 1,
Next, the gate insulating film 3, the i-layer, and the a-S
The i (Amorphous Silicon) film 4 is formed by CVD (Chemical V).
Then, the a-Si film 4 is processed into an island shape, and the gate insulating film 3 is processed into a predetermined shape. Next, a source electrode 5 and a drain electrode 6 are formed, and then, unnecessary n + layers are removed. Next, a passivation film 7 is formed and processed into a predetermined shape. Next, a transparent electrode 8 of ITO (Indium Tin Oxide) is formed in the pixel portion, and an active matrix circuit substrate may be manufactured.

【0004】かかるTFT基板を用いて液晶表示装置を
製造するにはTFT基板とカラーフィルタ基板を貼り合
わせ、ギャップ内に液晶を封入した後、偏光板、駆動回
路、バックライト、導光板等を実装するのである。かか
る一連の工程を経て、カラー液晶ディスプレイが製造さ
れる。
In order to manufacture a liquid crystal display device using such a TFT substrate, a TFT substrate and a color filter substrate are bonded together, a liquid crystal is sealed in a gap, and then a polarizing plate, a driving circuit, a backlight, a light guide plate and the like are mounted. You do it. Through such a series of steps, a color liquid crystal display is manufactured.

【0005】TFT基板の製造では生産性を向上するた
めにガラス基板サイズを大型化して、1枚のマザーガラ
ス基板から取得できる液晶パネルの数を増加することが
有利であり、かかる観点から大型のガラス基板を採用す
る傾向にある。従来はマザーガラス基板から取得する液
晶パネルの数は1枚乃至4枚程度であったものが6枚乃
至9枚あるいはそれ以上の数を取得することが必要にな
ってきている。
In the manufacture of a TFT substrate, it is advantageous to increase the size of the glass substrate in order to improve productivity and increase the number of liquid crystal panels that can be obtained from one mother glass substrate. There is a tendency to use glass substrates. Conventionally, the number of liquid crystal panels obtained from a mother glass substrate was about one to four, but now it is necessary to obtain six to nine or more.

【0006】かかる大型ガラス基板を用いるTFT基板
の製造では、TFT素子を基板上に形成する一連の工程
で、基板カセットから処理装置に基板を順次、投入し
て、処理を行ったのちカセットに充填して次の装置へ搬
送するといった一連の操作の組み合わせを1工程の単位
として、定まった多数の工程を異なる処理装置で順次処
理してTFT基板を製造することが行われている。かか
る工程の代表は洗浄、成膜、ホトレジストパターン形
成、エッチング、レジスト剥離、特性検査などであり、
各工程に専用の処理装置が配置されているのである。
In the manufacture of a TFT substrate using such a large glass substrate, in a series of steps for forming TFT elements on the substrate, the substrates are sequentially charged from a substrate cassette to a processing apparatus, processed, and then charged into the cassette. With a combination of a series of operations such as transfer to the next apparatus as a unit of one step, a predetermined number of steps are sequentially processed by different processing apparatuses to manufacture a TFT substrate. Representative of such processes are cleaning, film formation, photoresist pattern formation, etching, resist peeling, characteristic inspection, and the like.
A dedicated processing device is provided for each process.

【0007】かかる装置のなかで洗浄、エッチング、レ
ジスト剥離等に用いるウェット処理装置は、装置前部の
ローダ部で基板をカセットから受け取り、基板を水平に
ローラ搬送しながら各種のウェット処理を行い、リン
ス、洗浄、乾燥等の一連の処理を経た後に基板を装置後
部のアンローダ部でカセットに収納する、いわゆる水平
搬送式枚葉処理装置と称されるものであった。かかる装
置を用いてTFT基板を製造することは当該業者に周知
であった。かかる装置ではウェット処理に必要な処理時
間が不足する場合には縦型浸漬式枚葉処理装置と称され
る特開平7−176507号公報記載の装置を用いてウ
ェット処理を行い、TFT基板を製造していたのであ
る。
Among such apparatuses, a wet processing apparatus used for cleaning, etching, resist stripping, etc. receives a substrate from a cassette at a loader section at the front of the apparatus and performs various wet processing while transporting the substrate horizontally with rollers. After a series of processes such as rinsing, washing, and drying, the substrate is stored in a cassette by an unloader unit at the rear of the apparatus, which is a so-called horizontal transport type single-wafer processing apparatus. Manufacturing a TFT substrate using such an apparatus was well known to those skilled in the art. When the processing time required for the wet processing is insufficient with such an apparatus, the wet processing is performed using an apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-176507 called a vertical immersion type single wafer processing apparatus to manufacture a TFT substrate. I was doing it.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところがTFTを製造
するためのガラス基板が著しく大型化するのにともな
い、製造プロセスを実現するためのウェット装置も従来
にくらべて著しく大型化するようになってきており、ガ
ラス基板の大型化による生産性の向上効果を装置の大型
化が相殺してしまう傾向にあるのである。具体的にはウ
ェット処理装置の大型化が設備価格を著しく増加するた
め設備投資効率が減少することや、大型のガラス基板を
装置内で割らずに搬送、処理するための時間が必要にな
ることから処理タクトが上昇してしまい、装置のスルー
プットが低下するような問題が発生するようになったの
である。
However, as the size of a glass substrate for manufacturing a TFT is significantly increased, the size of a wet apparatus for realizing a manufacturing process is also significantly increased as compared with the related art. Therefore, the effect of improving the productivity due to the increase in the size of the glass substrate tends to be offset by the increase in the size of the apparatus. Specifically, the increase in the size of the wet processing equipment significantly increases the equipment price, resulting in a decrease in capital investment efficiency, and the need to transport and process large glass substrates without breaking them inside the equipment. As a result, the processing tact rises, and a problem such as a decrease in the throughput of the apparatus occurs.

【0009】また、基板が大型化することによる装置間
のカセット搬送負荷の上昇も製品価格を増加する一因と
なっており、かかる問題を解決したTFT基板の製造プ
ロセスの構築が安価で品質の良い液晶ディスプレイ装置
の提供に必須の課題となっているのである。
Further, an increase in the load of transporting cassettes between apparatuses due to the increase in the size of the substrate also contributes to an increase in the product price. This is an essential issue for providing a good liquid crystal display device.

【0010】さらに、各種のウェット処理に適した処理
装置を独立に開発すると処理装置の開発費用が膨大なも
のとなり、製造装置価格を著しく増加してしまい、その
結果、その装置を用いて製造した液晶表示装置の価格も
著しく高価なものとなる問題があるのである。かかる問
題を解決するためにはウェット処理装置の共通化をはか
り、共通の装置で各種のウェット処理が可能になるよう
にする技術の開発が求められていたのである。
Further, independently developing a processing apparatus suitable for various types of wet processing requires enormous development costs for the processing apparatus, significantly increasing the price of the manufacturing apparatus, and as a result, manufacturing using the apparatus. There is a problem that the price of the liquid crystal display device becomes extremely expensive. In order to solve such a problem, there has been a demand for the development of a technique that enables common use of wet treatment apparatuses and enables various wet treatments with a common apparatus.

【0011】したがって、本発明の目的を要約すると、
大型ガラス基板を用いた液晶表示装置に必要なTFT基
板の製造方法を革新する高性能なウェット処理方法と装
置の提供にある。
Therefore, to summarize the object of the present invention,
An object of the present invention is to provide a high-performance wet processing method and apparatus that innovate a method of manufacturing a TFT substrate required for a liquid crystal display device using a large glass substrate.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明は上記の課題を解
決するためになされたもので、従来からの大型基板用の
ウェット処理プロセスの処理形態を大幅に変更し、図2
に示すような工程フローに従って基板のウェット処理を
行う。すなわち、本発明の液晶表示基板の製造方法で
は、本発明の対象とするウェット処理工程の一つ前の工
程を終了してカセットに収納された基板を、本発明のウ
ェット処理装置まで搬送し、ついで装置前面のローダ部
へカセットを搬入し、ついでカセットから基板を取り出
し、ついで上昇リフトで水平搬送部へ移載し、ついで装
置後部へ基板を水平搬送により移載し、ついで下降リフ
トで基板を受け渡し高さまで下降し、ついで基板に第1
のスピン処理を施し、ついで基板を水平搬送処理部で水
平処理を施し、ついで基板に第2のスピン処理を施し、
ついで基板を装置前面のアンローダ部でカセットに充填
し、ついで基板が充填されたカセットを搬出し、ついで
基板を次の工程へ搬送し、ついで次の工程をおこなうの
である。こうした一連の処理を自動的に順次、行うこと
により、大型基板のウェット処理を驚くほど経済的に遂
行することができるのである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and the processing form of a conventional wet processing process for a large substrate has been drastically changed.
The wet processing of the substrate is performed according to the process flow shown in FIG. That is, in the method for manufacturing a liquid crystal display substrate of the present invention, the substrate stored in the cassette after completing the step immediately before the wet processing step targeted by the present invention is transferred to the wet processing apparatus of the present invention, Next, the cassette is loaded into the loader section on the front of the apparatus, the substrate is taken out of the cassette, then transferred to the horizontal transfer section by an ascending lift, the substrate is transferred by horizontal transfer to the rear of the apparatus, and then the substrate is transferred by the descending lift. Descends to the transfer height,
Is performed, and then the substrate is subjected to horizontal processing in a horizontal transfer processing unit, and then the substrate is subjected to a second spin processing,
Then, the substrate is loaded into the cassette by the unloader unit on the front of the apparatus, the cassette filled with the substrate is unloaded, the substrate is transported to the next step, and the next step is performed. By automatically and sequentially performing such a series of processes, wet processing of a large substrate can be performed surprisingly economically.

【0013】また、本発明の工程では異なるウェット処
理に共通の処理手順が使えるようになり、処理の種類毎
に異なる装置を開発する無駄を大幅に省略することがで
きるのである。
Further, in the process of the present invention, a common processing procedure can be used for different wet processing, and the waste of developing a different apparatus for each type of processing can be largely reduced.

【0014】本発明で対象とするウェット処理工程の例
をあげると、購入したガラス基板をカセットに充填する
工程に引き続くガラス基板の受け入れ洗浄工程であり、
基板は洗浄後にゲート電極製造工程へと引き渡される。
また、ゲート電極形成に引き続き基板を洗浄し、次のC
VD工程へ送るところの洗浄工程も本発明に関わるもの
であり、このほかにもソース、ドレイン電極形成後の基
板洗浄、透明電極形成後の工程間基板洗浄、もしくはT
FT基板完成後に液晶セル形成工程へ引き渡す前の洗
浄、あるいは工程中に挿入される各種検査工程後の基板
洗浄にも本発明が有効である。
An example of the wet processing step which is an object of the present invention is a glass substrate receiving and cleaning step subsequent to a step of filling a purchased glass substrate into a cassette,
The substrate is transferred to a gate electrode manufacturing process after cleaning.
After the gate electrode is formed, the substrate is washed, and the next C is formed.
The cleaning process to be sent to the VD process is also related to the present invention. In addition, the substrate cleaning after forming the source and drain electrodes, the substrate cleaning between processes after forming the transparent electrode, or T
The present invention is also effective for cleaning before transferring to the liquid crystal cell forming step after the completion of the FT substrate, or for cleaning the substrate after various inspection steps inserted during the step.

【0015】さらに、各電極の形成工程中で、成膜がす
んだ基板上に所定形状のホトレジストパターンを形成し
た後、本発明のウェット処理装置で不要の部分をエッチ
ングして、次のホトレジストの剥離工程に送る一連の処
理も本発明の対象とすることができる。
Further, in the step of forming each electrode, after a photoresist pattern having a predetermined shape is formed on the substrate on which the film has been formed, unnecessary portions are etched by the wet processing apparatus of the present invention, and the next photoresist is etched. A series of treatments sent to the peeling step can also be an object of the present invention.

【0016】また、ホトレジスト塗布工程、露光工程を
経た基板を本発明のウェット処理装置で現像をおこな
い、次いでレジストを剥離する一連の処理も本発明の対
象とすることができる。
A series of processes in which the substrate after the photoresist coating process and the exposure process is developed by the wet processing apparatus of the present invention, and then the resist is peeled off can also be an object of the present invention.

【0017】さらには、エッチングがすんだ基板を本発
明の方法で基板上のレジストを剥離した後に次の検査や
成膜工程におくる一連の処理も本発明の対象とすること
ができる。
Further, a series of processes in the subsequent inspection and film forming process after the resist on the substrate after the etched substrate is removed by the method of the present invention can also be an object of the present invention.

【0018】かかる例からあきらかなように本発明の液
晶表示基板の製造方法では、TFT基板製造にかかわる
ほとんどのウェット処理を対象にすることができるので
ある。
As is apparent from this example, the method for manufacturing a liquid crystal display substrate of the present invention can cover almost all wet processes related to the manufacture of a TFT substrate.

【0019】本発明で用いるウェット処理装置の例を平
面配置ブロック図の図3にしたがって説明する。本発明
では前の工程が終了した基板を充填したカセット10を
該ウェット処理装置に搬入し、ついでカセット10から
基板を取り出すための装置前面のローダ部11と、取り
出した基板を装置後部へ移載するための水平搬送部12
と、第1のスピン処理を施すためのスピン処理機構13
を備えたスピン処理部14と、基板を水平搬送しながら
処理するための水平処理部15と、第2のスピン処理を
施すためのスピン処理機構13を備えたスピン処理部1
6と、ついで一連の処理を終了した基板をカセットに充
填して次工程へ搬出するためのアンローダ部17と、こ
れらの各部分間で基板を受け渡すための複数の搬送ロボ
ット18と、これらの一連の動作を定められた手順に従
って遂行させるための制御部(図示しない)からなるも
のである。ここで装置の前面とは本発明ではカセットを
装置間で搬送する通路に面した部位をさす。
An example of a wet processing apparatus used in the present invention will be described with reference to FIG. In the present invention, the cassette 10 filled with the substrate after the previous process is carried into the wet processing apparatus, and then the loader unit 11 on the front of the apparatus for removing the substrate from the cassette 10 and the removed substrate are transferred to the rear of the apparatus. Horizontal transport section 12
And a spin processing mechanism 13 for performing the first spin processing
, A horizontal processing unit 15 for processing while horizontally transporting a substrate, and a spin processing unit 1 including a spin processing mechanism 13 for performing a second spin processing.
6, an unloader unit 17 for filling a cassette with a substrate after a series of processes and carrying it out to the next process, a plurality of transfer robots 18 for transferring the substrate between these units, It comprises a control unit (not shown) for performing a series of operations according to a predetermined procedure. Here, the front surface of the apparatus refers to a portion facing a passage for conveying a cassette between the apparatuses in the present invention.

【0020】特に好ましい本発明の形態としては装置前
面のローダ部、アンローダ部が同一部で機能し、かつ未
処理の基板を収納してあるカセットから順次取り出した
基板に一連の処理を施した後に、同一のカセット内に処
理し終わった基板を順次収納する機能を備えてなるもの
である。
In a particularly preferred embodiment of the present invention, the loader section and the unloader section on the front of the apparatus function in the same section, and after a series of processing is performed on substrates sequentially taken out of a cassette containing unprocessed substrates. And a function of sequentially storing the processed substrates in the same cassette.

【0021】本発明の水平搬送部はカセットから取り出
した未処理基板の受け取りと、該基板を水平に保持した
まま上昇して水平搬送面まで持ち上げるための上昇リフ
ト19と、該基板を装置後部まで水平搬送する機能と、
装置後部で基板を水平に保持したまま基板を受け渡し高
さまで下降するための下降リフト20から構成される。
かかる水平搬送部を設けることにより基板は装置前面の
ローダ部から装置後部へ移動できるのである。こうした
機能はウェット装置で一連の処理を順次基板に施すのに
一連の異なる部位を使用するために必要になるのであ
る。さらに本発明では装置の床面積を縮小するために、
該水平搬送部を後述する水平処理部の上方に配置するの
が好ましいし、より推奨される。
The horizontal transfer unit of the present invention receives an unprocessed substrate taken out of the cassette, lifts the substrate while holding it horizontally, and lifts the substrate to a horizontal transfer surface, and lifts the substrate to the rear of the apparatus. Horizontal transport function,
The apparatus comprises a lowering lift 20 for lowering the substrate to a transfer height while holding the substrate horizontally at the rear of the apparatus.
By providing such a horizontal transfer section, the substrate can be moved from the loader section at the front of the apparatus to the rear of the apparatus. Such a function is necessary to use a series of different parts to sequentially apply a series of processes to a substrate in a wet apparatus. Further, in the present invention, in order to reduce the floor area of the device,
It is preferable and more recommended to dispose the horizontal transport section above a horizontal processing section described later.

【0022】本発明の第1のスピン処理部14のスピン
処理機構13は基板をスピンテーブル上に機械的もしく
は真空吸着により保持し、基板に処理液を滴下してウェ
ット処理を行うものであり、処理液の供給、滴下の方法
については固定、可動の単数、複数のノズルからの供給
方法を選ぶことができる。これらの供給方法については
目的とする処理プロセスに従って最適化されるべきであ
る。また、処理中もしくは処理終了後の基板のスピン回
転数の制御についても目的とする処理プロセスに従って
最適化されるべきである。こうした最適化については目
的とするプロセスでの必要性能と処理液に使用量の経済
性あるいは処理液の回収、再使用での経済性などの複数
の観点から定められる必要がある。ただ本発明の特長の
一つとしてはスピンテーブル上で処理し終わった基板を
高速回転することで基板上に付着した処理液の量を驚く
ほど少なくした状態で、次のリンス工程に送ることがで
きることがあげられる。
The spin processing mechanism 13 of the first spin processing section 14 of the present invention holds a substrate on a spin table mechanically or by vacuum suction, and performs wet processing by dropping a processing liquid onto the substrate. As for the method of supplying and dropping the processing liquid, a method of supplying from a fixed or movable single or plural nozzles can be selected. These supply methods should be optimized according to the intended processing process. Also, the control of the spin rotation speed of the substrate during or after the processing should be optimized according to the target processing process. Such optimization needs to be determined from a plurality of viewpoints, such as the required performance in the target process and the economics of the amount used for the processing solution or the economics of recovery and reuse of the processing solution. However, one of the features of the present invention is that the substrate that has been processed on the spin table is rotated at a high speed so that the amount of the processing liquid attached on the substrate is surprisingly reduced, and is sent to the next rinsing step. What you can do.

【0023】また該スピン処理部では、処理し終わった
基板に目的とする処理液とは異なる種類のリンス液をか
け、処理液をスピン回転しながらリンス液に置換するこ
とも可能である。さらにはリンス後のスピン乾燥までお
こなうことも可能である。かかるプロセスの設計につい
ても基板の処理速度と処理液、リンス液使用量などの経
済性の観点から最適化されるべきである。
In the spin processing section, it is also possible to apply a rinsing liquid of a type different from the target processing liquid to the substrate after the processing, and replace the processing liquid with the rinsing liquid while spin-rotating the processing liquid. Further, it is also possible to carry out up to spin drying after rinsing. The design of such a process should also be optimized from the viewpoint of economics such as the processing speed of the substrate and the amount of the processing solution and rinsing solution used.

【0024】さらに該スピン処理部のスピン台数はウェ
ット処理装置全体の処理性能とプロセスから要求される
処理時間に兼ね合いから定まるものであり、1台に限ら
れることなく必要に応じて増設すればよい。
Further, the number of spins of the spin processing unit is determined in consideration of the processing performance of the entire wet processing apparatus and the processing time required from the process, and is not limited to one and may be increased as necessary. .

【0025】本発明の水平処理部15は基板を水平搬送
しながらスプレや超音波などの流体処理で基板に付着し
た処理液をリンスまたは洗浄する部分であり、当該業者
に周知の連動ローラ搬送とスプレ処理の組み合わせが一
般的である。該水平処理部ではスピンで処理した基板の
表面(上面)だけでなく裏面(下面)も同時にリンス、
洗浄できるのである。本発明で水平処理部を設けること
の特長の一つはスピンでは洗浄しにくい基板裏面の汚
れ、異物等も水平処理部で強力に洗浄することができる
のである。かかる水平処理部で使用する液は主として純
水もしくは脱イオン水が使用されるのが、その他の薬液
が使用できないわけではない。かかる液の選定も目的と
する処理に応じて適切に選択されるべきである。
The horizontal processing section 15 of the present invention is a section for rinsing or cleaning the processing liquid attached to the substrate by fluid processing such as spraying or ultrasonic waves while horizontally transporting the substrate. A combination of spray processing is common. In the horizontal processing section, not only the front surface (upper surface) but also the back surface (lower surface) of the substrate processed by spin are simultaneously rinsed,
It can be washed. One of the features of the present invention in which a horizontal processing unit is provided is that the horizontal processing unit can strongly clean dirt, foreign matter, and the like on the back surface of the substrate, which are difficult to clean by spinning. The liquid used in the horizontal processing unit is mainly pure water or deionized water, but this does not mean that other chemicals cannot be used. The selection of such a liquid should be appropriately selected according to the intended processing.

【0026】さらに本発明の水平処理部には流体処理を
終了した基板に付着した液切り用もしくは乾燥用にエア
ナイフを備えてなるのが好ましいし、より推奨される。
Further, the horizontal processing section of the present invention is preferably and more preferably provided with an air knife for draining or drying the liquid attached to the substrate after the fluid processing.

【0027】本発明の第2のスピン処理部16は第1の
スピン処理部と同様に基板をスピンテーブル上に機械的
もしくは真空吸着により保持し、基板に純水もしくは脱
イオン水を用いてスプレや超音波などの流体処理で基板
を洗浄し、ついで洗浄し終わった基板をスピン乾燥する
ものである。かかるスピンでの流体処理の方法について
は固定、可動の単数、複数のノズルを用いた処理方法を
選ぶことができる。これらの処理方法については目的と
する基板の清浄度に従って最適化されるべきである。ま
た、洗浄中もしくは洗浄終了後の基板のスピン回転数の
制御についても目的とする洗浄プロセスに従って最適化
されるべきである。
The second spin processing section 16 of the present invention holds the substrate on the spin table mechanically or by vacuum suction similarly to the first spin processing section, and sprays the substrate using pure water or deionized water. The substrate is washed by a fluid treatment such as microwave or ultrasonic waves, and then the washed substrate is spin-dried. As a method of fluid treatment by such spin, a treatment method using a fixed or movable single or plural nozzles can be selected. These treatment methods should be optimized according to the target substrate cleanliness. Also, the control of the spin speed of the substrate during or after the cleaning should be optimized according to the intended cleaning process.

【0028】さらに本発明の第2のスピン処理部では乾
燥を促進するための空気または窒素ガスのブローも併用
することができるし、乾燥時間を短縮するためには好ま
しい。かかるブローノズルは乾燥時に基板中心に固定す
ることも可能であるし、中心から基板周辺に移動させる
方法をとることも可能である。乾燥時間の短縮にはノズ
ルを移動するのが好ましい、より推奨される。
Further, in the second spin processing section of the present invention, air or nitrogen gas blow for promoting drying can be used together, and it is preferable to shorten the drying time. Such a blow nozzle can be fixed at the center of the substrate at the time of drying, or can be moved from the center to the periphery of the substrate. Moving the nozzle is preferred and more recommended for shortening the drying time.

【0029】かかる本発明では第1のスピン処理部と第
2のスピン処理部を水平処理部を介して分離することに
より、第1のスピン処理部で使用した処理液が第2のス
ピン処理部を汚染することを完全に防止できるのであ
り、かかる効果は本発明の特長として強調されるべきで
ある。
In the present invention, the first spin processing section and the second spin processing section are separated via the horizontal processing section, so that the processing liquid used in the first spin processing section is separated from the second spin processing section. Therefore, such effects should be emphasized as a feature of the present invention.

【0030】さらに該スピン処理部のスピン台数もウェ
ット処理装置全体の処理性能とプロセスから要求される
処理時間に兼ね合いから定まるものであり、1台に限ら
れることなく必要に応じて増設すればよいことは第1の
スピン処理部の場合と同様である。
Further, the number of spins of the spin processing unit is determined depending on the processing performance of the entire wet processing apparatus and the processing time required from the process, and is not limited to one, and may be increased as necessary. This is the same as in the case of the first spin processing unit.

【0031】さらに、本発明では第2のスピン処理部で
乾燥を終了した基板を加熱、冷却するためのベークポジ
ションを付加的に設けることも可能である。かかるベー
クの必然性は目的とする処理プロセスによって異なるた
め、必要性が高い場合には使用が推奨される。またベー
クだけではなく紫外光による照射のごとき処理も必要に
応じて付加すればよい。
Further, in the present invention, it is possible to additionally provide a bake position for heating and cooling the substrate which has been dried in the second spin processing section. Since the necessity of such baking depends on the intended treatment process, its use is recommended when the necessity is high. In addition, processing such as irradiation with ultraviolet light as well as baking may be added as necessary.

【0032】また、本発明では装置内の各部分間で基板
を受け渡すための搬送ロボット18は2つの部分間の受
け渡しに機能を限定されるものに限られるものではな
く、3つ以上の部分間の基板の受け渡しが可能なように
機能を設定することも可能である。むしろ、装置の処理
能力と装置費用の適正化のためにはこのような機能はよ
り好ましい場合がある。
Further, in the present invention, the transfer robot 18 for transferring a substrate between each part in the apparatus is not limited to the transfer function between two parts, but is limited to three or more parts. It is also possible to set the function so that the substrate can be transferred between them. Rather, such features may be more favorable for the optimization of equipment throughput and equipment costs.

【0033】さらに、本発明では目的とする処理プロセ
スによっては第1のスピン処理部を省略したウェット処
理装置を使用することもできる場合がある。かかる場合
の例として純水を用いた洗浄工程があげられる。かかる
場合も本発明に含まれることは特記されるべきである
し、第1のスピン処理部を備えたウェット処理装置で第
1のスピン処理を省略して基板を処理すれば純水による
洗浄が実現できることも強調されるべきである。このよ
うに本発明はTFT基板の製造で実に柔軟な処理が可能
となる特長をもつのである。
Further, in the present invention, a wet processing apparatus in which the first spin processing section is omitted may be used depending on a target processing process. An example of such a case is a washing step using pure water. It should be particularly noted that such a case is also included in the present invention. If the substrate is processed by omitting the first spin processing in the wet processing apparatus having the first spin processing unit, the cleaning with pure water can be performed. What can be achieved should be emphasized. As described above, the present invention has a feature that a very flexible processing can be performed in the manufacture of the TFT substrate.

【0034】さらに本発明では前工程を終了したカセッ
トをウェット装置に搬入し、ついでカセットから基板を
取り出し、ついで第2のスピン処理部で基板を処理し、
ついで水平処理部で基板を水平搬送しながら処理し、つ
いで第1のスピン処理部で基板を洗浄、乾燥し、ついで
水平搬送部で基板を装置後部から装置前部に搬送し、最
後に一連の処理を終了した基板をカセットに充填して次
工程へ搬出するといった前述した動作とは逆の動作でも
同様の処理が可能である。かかる構成も可能になるのは
ひとえに本発明がいかに柔軟にウェットプロセスに対応
できるかの証左でもある。
Further, according to the present invention, the cassette after the previous step is carried into a wet apparatus, the substrate is taken out of the cassette, and then the substrate is processed in the second spin processing unit.
Next, the substrate is processed while horizontally transporting the substrate in the horizontal processing section, the substrate is washed and dried in the first spin processing section, and then the substrate is transported from the rear of the apparatus to the front of the apparatus in the horizontal transport section. The same processing can be performed by an operation reverse to the above-described operation of filling the cassette with the processed substrate into a cassette and carrying it out to the next step. The fact that such a configuration becomes possible is merely a proof that the present invention can flexibly cope with a wet process.

【0035】本発明に適したガラス基板のサイズは0.
5乃至5mm厚さのガラス基板で0.03乃至3平方m
の大きさであり、サイズの下限はかかる装置を必要とし
ない経済性から定まり、サイズの上限は大型のガラス基
板を割らずに処理できる限界から規定される。
The size of the glass substrate suitable for the present invention is 0.3.
0.03 to 3 m 2 on a glass substrate 5 to 5 mm thick
The lower limit of the size is determined by the economics that do not require such an apparatus, and the upper limit of the size is determined by the limit that can be processed without breaking a large glass substrate.

【0036】本発明のウェット処理ではTFT基板の生
産性を高めることが可能であり、その生産タクトは0.
5乃至5分/基板の驚くべき短時間の処理が可能とな
る。そのタクトの下限はウェット処理、洗浄、乾燥、基
板搬送に必要な時間と装置コストの兼ね合いから定ま
り、その上限は製造コストを上昇させない限界から制限
されるのである。
In the wet processing of the present invention, the productivity of the TFT substrate can be increased, and the production tact is 0.1.
Surprisingly short processing of 5 to 5 minutes / substrate is possible. The lower limit of the tact is determined by the balance between the time required for wet processing, cleaning, drying, and substrate transfer and the cost of the apparatus, and the upper limit is limited by the limit that does not increase the manufacturing cost.

【0037】さらに、本発明の直接の対象は液晶表示基
板の製造であるが、本発明の優れた機能は同じガラス基
板を用いるプラズマディスプレイ装置の製造や、シリコ
ンウェハを用いる半導体装置の製造にも使えるし、同様
に磁気ヘッドの製造やマルチチップモジュール用の実装
基板の製造にも使うことができる。かかる製品を製造す
る場合も本発明に含まれることは強調されるべきであ
る。かかる場合には使用できる基本サイズは基板の機械
特性を考慮して適正な範囲を選択する必要があることは
当然である。
Further, the direct object of the present invention is the manufacture of a liquid crystal display substrate. The excellent functions of the present invention are also applicable to the manufacture of a plasma display device using the same glass substrate and the manufacture of a semiconductor device using a silicon wafer. It can be used, and it can also be used to manufacture magnetic heads and mounting boards for multi-chip modules. It should be emphasized that the manufacture of such products is also included in the present invention. In such a case, it is naturally necessary to select an appropriate range for the usable basic size in consideration of the mechanical characteristics of the substrate.

【0038】[0038]

【発明の実施の形態】本発明を具体的に実施した結果を
以下に示す。本発明の実施にはそのパース図を図4に示
すようなウェット処理装置を用いた。かかる本発明のウ
ェット処理装置はTFT基板の製造で650mm×83
0mm、厚さ0.7mmの角形ガラス基板をタクトおよ
そ1分で処理するために開発したもので、TFT基板の
製造に関わる洗浄、エッチング、現像、レジスト剥離等
の広範な用途に同一の装置が使用できるものである。以
下の実施例は共通してかかるウェット処理装置を用いて
なされたものであるため、最初にこの装置の動作を詳細
に述べる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The results of the concrete implementation of the present invention are shown below. In the practice of the present invention, a wet processing apparatus whose perspective view is shown in FIG. 4 was used. Such a wet processing apparatus according to the present invention is used for manufacturing a TFT substrate and is 650 mm × 83
It was developed to process a rectangular glass substrate of 0 mm and thickness of 0.7 mm in about one minute in tact time. The same equipment is used for a wide range of applications such as cleaning, etching, development, and resist stripping related to the manufacture of TFT substrates. It can be used. Since the following embodiments are commonly performed using such a wet processing apparatus, the operation of this apparatus will first be described in detail.

【0039】前の工程を終了した基板はカセットに収納
したまま自動搬送車で本装置まで運び、装置前面に配置
したローダ部で本装置にセットする。ローダ部のダブル
アーム搬送ロボットがカセット内の基板を1枚ずつ取り
出し、上昇リフト部に装填する。上昇リフトは基板を水
平に保持したまま上昇し、水平搬送機構に受け渡す。こ
れをローラコンベアで装置後部の下降リフト部へ移動す
る。下降リフトは受け取った基板を水平に保持したまま
下降し第1のスピン処理部に受け渡す。スピン処理部の
ダブルアーム搬送ロボットが基板を2台のスピン処理機
構に順次、基板を設置する。
The substrate having undergone the previous process is transported to the apparatus by an automatic carrier while being stored in a cassette, and is set in the apparatus by a loader disposed on the front of the apparatus. The double-arm transfer robot of the loader unit takes out the substrates in the cassette one by one and loads them into the lift unit. The lift lifts the substrate while holding it horizontally, and transfers the substrate to a horizontal transfer mechanism. This is moved to a descending lift section at the rear of the apparatus by a roller conveyor. The descending lift descends while holding the received substrate horizontally, and transfers it to the first spin processing unit. The double-arm transfer robot of the spin processing unit sequentially sets the substrates on the two spin processing mechanisms.

【0040】スピン処理では基板を回転しながら処理液
をノズルかた滴下し、所用のウェット処理を一定時間遂
行し、その後、回転数を上げて基板上の処理液を振り切
る。処理し終わった基板を回収して水平処理部に受け渡
す。水平処理部では基板を水平にローラ搬送しながら純
水を用いてスプレおよび超音波で基板の両面をリンス、
洗浄した後、エアナイフで水切り、乾燥を行う。この基
板をスピン洗浄部のダブルアーム搬送ロボットが受け取
り、2台のスピン洗浄用のスピンテーブルに順次、設置
する。
In the spin processing, the processing liquid is dropped from a nozzle while rotating the substrate, and the required wet processing is performed for a certain period of time. Thereafter, the processing liquid on the substrate is shaken off by increasing the number of rotations. The processed substrate is collected and delivered to the horizontal processing unit. In the horizontal processing unit, both sides of the substrate are rinsed with spray and ultrasonic waves using pure water while transporting the substrate horizontally with rollers,
After washing, drain with an air knife and dry. The substrate is received by the double arm transfer robot of the spin cleaning unit, and is sequentially set on two spin cleaning spin tables.

【0041】スピン洗浄では基板を回転しながら基板上
方に設置した超音波およびスプレノズルから純水を供給
しながらノズルアームを往復操作して基板前面を精密に
洗浄する。洗浄終了後に基板を高速に回転して乾燥す
る。このとき、基板中心から周辺に向かって窒素ブロー
を併用して乾燥時間を短縮する。乾燥を終了した基板を
ロボットが受け取り、ベーク炉で水分を完全に除去した
後、ベーク炉下部のクーリングプレートに移動し冷却す
る。この動作もスピン洗浄部のダブルアーム搬送ロボッ
トが搬送を分担する。最後にローダ部のダブルアーム搬
送ロボットが冷却した基板を受け取り、処理前の基板が
収納されていた同一カセットに基板を収納する。カセッ
ト内の基板がすべて処理を終了すると、自動搬送車がカ
セットを搬送し、次の工程に移るのである。
In the spin cleaning, the nozzle arm is reciprocated while supplying pure water from an ultrasonic wave and a spray nozzle installed above the substrate while rotating the substrate to precisely clean the front surface of the substrate. After the cleaning is completed, the substrate is rotated at a high speed and dried. At this time, the drying time is reduced by simultaneously using nitrogen blowing from the center of the substrate toward the periphery. The robot receives the dried substrate, completely removes the moisture in a baking oven, moves to a cooling plate below the baking oven, and cools it. This operation is also performed by the double arm transfer robot of the spin cleaning unit. Finally, the double-arm transfer robot of the loader receives the cooled substrate, and stores the substrate in the same cassette in which the substrate before processing is stored. When all the substrates in the cassette have been processed, the automatic transporter transports the cassette and moves to the next step.

【0042】(実施例1)購入した650mm×830
mm、厚さ0.7mmのガラス基板を上述した本発明の
ウェット処理装置で洗浄した後、次のゲート配線工程に
投入し、その後の一連の工程を経て、TFT基板を製造
した。第1のスピン処理部ではpH13のアルカリ洗浄
剤を60℃に加温して60秒間基板全面に滴下した。こ
のとき基板は50rpmで回転させた。その後、アルカ
リ洗浄剤の滴下を止め、基板を500rpmで回転し、
基板に付着した洗浄液を振り切った。ついで、水平処理
部でリンス、洗浄後、エアナイフで基板に付着した水を
除去した。ついで、スピン洗浄部で基板を200rpm
で回転しながら60秒間、4ヶの超音波ノズルと2ヶの
スプレを揺動して基板表面を洗浄した。その後窒素ブロ
ーを併用しながら基板を2000rpmで高速回転して
乾燥した。
Example 1 Purchased 650 mm × 830
After the glass substrate having a thickness of 0.7 mm and a thickness of 0.7 mm was washed by the above-described wet processing apparatus of the present invention, the substrate was put into the next gate wiring step, and a TFT substrate was manufactured through a series of subsequent steps. In the first spin processing unit, an alkaline cleaning agent having a pH of 13 was heated to 60 ° C. and dropped on the entire surface of the substrate for 60 seconds. At this time, the substrate was rotated at 50 rpm. After that, the dripping of the alkaline cleaning agent was stopped, and the substrate was rotated at 500 rpm.
The cleaning liquid adhering to the substrate was shaken off. Then, after rinsing and washing in the horizontal processing section, water adhering to the substrate was removed with an air knife. Then, the substrate was rotated at 200 rpm in the spin cleaning section.
The substrate surface was washed by swinging four ultrasonic nozzles and two sprays for 60 seconds while rotating with. Thereafter, the substrate was rotated at a high speed of 2000 rpm and dried while using nitrogen blowing.

【0043】かかるアルカリ洗浄処理をした基板には有
害な汚染や異物が認められず、次のゲート配線工程を経
て完成したTFT基板の歩留りは著しく高いことがわか
った。
No harmful contamination or foreign matter was found on the substrate subjected to the alkali cleaning treatment, and it was found that the yield of the TFT substrate completed through the next gate wiring step was extremely high.

【0044】さらに、本発明の方法ではスピン処理、ス
ピン洗浄にそれぞれ2台の処理機構を平行動作すること
で、処理タクト1分の高速処理が可能であることもわか
った。
Furthermore, it was also found that the method of the present invention can perform high-speed processing for one tact of processing by operating two processing mechanisms in parallel for spin processing and spin cleaning.

【0045】(実施例2)ゲート電極用のクロム合金を
200nmの厚さに基板全面にスパッタした後、所定の
ホトレジストパターンを形成した基板を本発明のウェッ
ト処理装置でエッチングを行い、ついでレジスト剥離工
程に投入し、その後の一連の工程を経て、TFT基板を
製造した。第1のスピン処理部ではエッチング液として
酸性セリウムエッチング液を30℃に加温して60秒間
基板全面に滴下した。このとき基板は50rpmで回転
させた。その後、エッチング液の滴下を止め、純水を基
板中心に滴下しながら基板を500rpmで回転し、基
板に付着したエッチング液を振り切った。ついで、水平
処理部でリンス、洗浄後、エアナイフで基板に付着した
水を除去した。ついで、スピン洗浄部で基板を200r
pmで回転しながら60秒間、4ヶの超音波ノズルと2
ヶのスプレを揺動して基板表面を洗浄した。その後窒素
ブローを併用しながら基板を2000rpmで高速回転
して乾燥した。
Example 2 After a chromium alloy for a gate electrode was sputtered to a thickness of 200 nm over the entire surface of a substrate, the substrate on which a predetermined photoresist pattern was formed was etched by the wet processing apparatus of the present invention, and then the resist was peeled off. The TFT substrate was manufactured through the following steps and a series of subsequent steps. In the first spin processing section, an acidic cerium etching solution as an etching solution was heated to 30 ° C. and dropped on the entire surface of the substrate for 60 seconds. At this time, the substrate was rotated at 50 rpm. Thereafter, the dropping of the etching solution was stopped, and the substrate was rotated at 500 rpm while pure water was dropped at the center of the substrate to shake off the etching solution attached to the substrate. Then, after rinsing and washing in the horizontal processing section, water adhering to the substrate was removed with an air knife. Then, the substrate was washed for 200 r in the spin cleaning section.
60 rpm for 4 seconds, 4 ultrasonic nozzles and 2
The surfaces of the substrates were washed by swinging the sprays. Thereafter, the substrate was rotated at a high speed of 2000 rpm and dried while using nitrogen blowing.

【0046】かかるエッチング処理をした基板には有害
な汚染や異物が認められず、次のレジスト剥離工程を経
て完成したTFT基板の歩留りは著しく高いことがわか
った。
No harmful contamination or foreign matter was observed on the substrate subjected to the etching treatment, and it was found that the yield of the TFT substrate completed through the subsequent resist removing step was extremely high.

【0047】さらに、本発明の方法ではスピン処理、ス
ピン洗浄にそれぞれ2台の処理機構を平行動作すること
で、処理タクト1分の高速処理が可能であることもわか
った。
Further, it was also found that in the method of the present invention, high-speed processing for one tact of processing is possible by operating two processing mechanisms in parallel for spin processing and spin cleaning, respectively.

【0048】(実施例3)ゲート電極のエッチングを終
了した基板を本発明のウェット処理装置でレジスト剥離
を行い、ついでCVD工程に投入し、その後の一連の工
程を経て、TFT基板を製造した。第1のスピン処理部
ではレジスト剥離液としてモノエタノールアミンを60
℃に加温して60秒間基板全面に滴下した。このとき基
板は50rpmで回転させた。その後、レジスト剥離液
の滴下を止め、基板を500rpmで回転し、基板に付
着した剥離液を振り切った。ついで、水平処理部でリン
ス、洗浄後、エアナイフで基板に付着した水を除去し
た。ついで、スピン洗浄部で基板を200rpmで回転
しながら60秒間、4ヶの超音波ノズルと2ヶのスプレ
を揺動して基板表面を洗浄した。その後窒素ブローを併
用しながら基板を2000rpmで高速回転して乾燥し
た。
(Example 3) The substrate after the gate electrode etching was completed was subjected to resist stripping by the wet processing apparatus of the present invention, and then was subjected to a CVD process. After a series of processes, a TFT substrate was manufactured. In the first spin processing section, monoethanolamine is used as a resist stripper for 60 minutes.
The solution was heated to ℃ and dropped on the entire surface of the substrate for 60 seconds. At this time, the substrate was rotated at 50 rpm. Thereafter, the dropping of the resist stripping solution was stopped, and the substrate was rotated at 500 rpm to shake off the stripping solution attached to the substrate. Then, after rinsing and washing in the horizontal processing section, water adhering to the substrate was removed with an air knife. Next, while rotating the substrate at 200 rpm in the spin cleaning unit, four ultrasonic nozzles and two sprays were swung for 60 seconds to wash the substrate surface. Thereafter, the substrate was rotated at a high speed of 2000 rpm and dried while using nitrogen blowing.

【0049】かかるレジスト剥離処理をした基板には有
害な汚染や未剥離レジストや異物が認められず、次のC
VD工程を経て完成したTFT基板の歩留りは著しく高
いことがわかった。
No harmful contamination, no unstripped resist or foreign matter was observed on the substrate subjected to the resist stripping process, and the following C
The yield of the TFT substrate completed through the VD process was found to be extremely high.

【0050】さらに、本発明の方法ではスピン処理、ス
ピン洗浄にそれぞれ2台の処理機構を平行動作すること
で、処理タクト1分の高速処理が可能であることもわか
った。
Further, it was also found that the method of the present invention enables high-speed processing of one processing tact by operating two processing mechanisms in parallel for spin processing and spin cleaning, respectively.

【0051】(実施例4)実施例1乃至3と同様のウェ
ット処理をゲート配線工程以外のCVD成膜工程、a−
Siアイランド形成工程、ソースドレイン配線工程、パ
シベーション形成工程、透明電極形成工程の純水洗浄と
レジスト剥離処理に適用したが、処理し終わった基板に
は有害な汚染や異物が認められず、一連の工程を経て完
成したTFT基板の歩留りは著しく高いことがわかっ
た。かかるTFT基板を用いて液晶を封止した後に完成
した対角12インチの液晶表示装置の性能は申し分な
く、高い歩留りと高い生産性を兼ね備えて高性能の液晶
表示装置が安価に提供できることもわかった。かかる結
果から本発明が優れた製造方法であることが確認でき
た。
(Embodiment 4) The same wet processing as in Embodiments 1 to 3 is performed by a CVD film forming step other than the gate wiring step.
Although applied to pure water washing and resist stripping in the Si island formation process, source drain wiring process, passivation formation process, and transparent electrode formation process, no harmful contamination or foreign matter was observed on the finished substrate, and a series of The yield of the TFT substrate completed through the process was found to be extremely high. The performance of the 12-inch diagonal liquid crystal display device completed after sealing the liquid crystal using such a TFT substrate is satisfactory, and it is also found that a high-performance liquid crystal display device having both high yield and high productivity can be provided at low cost. Was. From these results, it was confirmed that the present invention was an excellent production method.

【0052】[0052]

【発明の効果】本発明では大型基板用のウェット処理プ
ロセスの処理形態を大幅に変更し、前の工程が終わった
基板を装置前面のローダ部で基板をカセットから搬出
し、基板をスピン処理部に搬送してスピン処理を行い、
基板を水平処理部へ搬送し水平処理を行い、基板をスピ
ン洗浄部に搬送して洗浄、乾燥を行い、装置前面のアン
ローダ部で基板をカセットに搬入し、次の工程に進むま
での一連の動作を同一装置でなすことを特徴とする液晶
表示基板の製造方法を提供するものである。本発明によ
り、こうした一連の処理を自動的に順次、行うことで大
型基板のウェット処理を驚くほど経済的に遂行すること
ができるのである。
According to the present invention, the processing mode of the wet processing process for a large substrate is drastically changed. The substrate after the previous process is unloaded from the cassette by the loader unit on the front of the apparatus, and the substrate is processed by the spin processing unit. Transported to
The substrate is transported to the horizontal processing unit to perform horizontal processing, the substrate is transported to the spin cleaning unit, washed and dried, the substrate is loaded into the cassette by the unloader unit on the front of the apparatus, and a series of processes until proceeding to the next step An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a liquid crystal display substrate, wherein the operations are performed by the same device. According to the present invention, the wet processing of a large substrate can be performed surprisingly economically by automatically and sequentially performing such a series of processing.

【0053】さらに、各種のウェット処理に共通して本
発明が適用できるので、処理ごとに異なる仕様の装置を
開発、製造する無駄が大幅に省略できるのである。大型
基板のTFT製造では処理装置の価格も膨大なものにな
り、その価格の大きな部分を装置の開発費用が占めるた
め、共通の装置で各種の異なる処理を遂行できる本発明
では装置価格を大幅に低減し、ひいては液晶表示基板の
製造コストを低減するのである。
Further, since the present invention can be applied commonly to various types of wet processing, the waste of developing and manufacturing apparatuses having different specifications for each processing can be greatly reduced. In the manufacture of TFTs for large substrates, the price of the processing equipment becomes enormous, and the development cost of the equipment occupies a large part of the price. Therefore, the present invention, which can perform various kinds of different processing with a common equipment, greatly increases the equipment price. Therefore, the manufacturing cost of the liquid crystal display substrate is reduced.

【0054】加えて、本発明では信頼性の高い装置を提
供できるので液晶表示装置の製造歩留りを向上でき、さ
らにはスピン処理の適用によりウェット処理にともなう
膨大な処理液、純水の使用量を低減できることや、2つ
のスピン処理部を水平処理部で隔離できることにともな
う汚染の低減や、水平搬送部の下部に水平処理部を設け
ることによる装置設置面積の縮小等、各種の効果を総合
すると本発明の経済的、技術的な効果には測り知れない
ものがある。
In addition, according to the present invention, a highly reliable device can be provided, so that the production yield of the liquid crystal display device can be improved. Various effects such as reduction of pollution due to reduction of the number of units, isolation of the two spin processing units by the horizontal processing unit, and reduction of the equipment installation area by providing the horizontal processing unit at the bottom of the horizontal transport unit are considered to be comprehensive. Some of the economic and technical effects of the invention are immeasurable.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例であるTFT基板のトランジス
タ部の断面を示す図。
FIG. 1 is a diagram showing a cross section of a transistor portion of a TFT substrate according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の工程フローに従って本発明のウェット処
理を示す図。
FIG. 2 is a diagram showing a wet process of the present invention according to the process flow of FIG. 1;

【図3】本発明のウェット処理装置の配置ブロックを示
す平面図。
FIG. 3 is a plan view showing an arrangement block of the wet processing apparatus of the present invention.

【図4】本発明のウェット処理装置を示す視斜図。FIG. 4 is a perspective view showing a wet processing apparatus of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ガラス基板、 2…ゲート電極、 3…
ゲート絶縁膜、4…a−Si膜、 5…ソース
電極、 6…ドレイン電極、7…パシベーション膜、
8…透明電極、 10…カセット、11…ローダ
部、 12…水平搬送部、 13…スピン処理
機構、14…第1のスピン処理部、15…水平処理部、
16…第2のスピン処理部、17…アンローダ部、
18…搬送ロボット、19…上昇リフト、20…下
降リフト。
1: glass substrate, 2: gate electrode, 3:
Gate insulating film, 4 ... a-Si film, 5 ... source electrode, 6 ... drain electrode, 7 ... passivation film,
8 transparent electrode, 10 cassette, 11 loader section, 12 horizontal transport section, 13 spin processing mechanism, 14 first spin processing section, 15 horizontal processing section,
16: second spin processing section, 17: unloader section,
18: transfer robot, 19: lift, 20: lift.

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/336 H01L 29/78 626C 627Z (72)発明者 天野 智 千葉県茂原市早野3300番地株式会社日立製 作所電子デバイス事業部内Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI H01L 21/336 H01L 29/78 626C 627Z (72) Inventor Satoshi Amano 3300 Hayano, Mobara-shi, Chiba Pref. Electronic Device Division, Hitachi, Ltd.

Claims (21)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】前の工程を終了してカセットに収納された
基板を、ウェット処理装置まで搬送し、ついで装置前面
のローダ部へカセットを搬入し、ついでカセットから基
板を取り出し、ついで上昇リフトで水平搬送部へ移載
し、ついで装置後部へ基板を水平搬送により移載し、つ
いで下降リフトで基板を受け渡し高さまで下降し、つい
で基板に第1のスピン処理を施し、ついで基板を水平搬
送処理部で水平処理を施し、ついで基板に第2のスピン
処理を施し、ついで基板を装置前面のアンローダ部でカ
セットに充填し、ついで基板が充填されたカセットを搬
出し、ついで基板を次の工程へ搬送し、ついで次の工程
をおこなうことを含んでなることを特徴とする液晶表示
基板の製造方法。
1. A substrate stored in a cassette after the previous step is conveyed to a wet processing apparatus, the cassette is loaded into a loader section on the front of the apparatus, the substrate is taken out of the cassette, and then lifted by a lift. The substrate is transferred to the horizontal transfer unit, then the substrate is transferred to the rear part of the apparatus by horizontal transfer, the substrate is lowered to the transfer height by the downward lift, the substrate is subjected to the first spin process, and the substrate is then horizontally transferred. Section, a second spin process is performed on the substrate, then the substrate is loaded into a cassette by an unloader section on the front of the apparatus, the cassette filled with the substrate is unloaded, and the substrate is then transferred to the next step. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate, comprising transporting and then performing the following steps.
【請求項2】請求項1に示す該ウェット処理が洗浄、エ
ッチング、ホトレジスト現像、ホトレジスト剥離工程の
いずれかもしくは複数の工程であることを特徴とする液
晶表示基板の製造方法。
2. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate according to claim 1, wherein said wet treatment shown in claim 1 is at least one of washing, etching, photoresist development, and photoresist stripping steps.
【請求項3】請求項2に示す該洗浄工程をおこなった後
に、ゲート配線工程、CVD成膜工程、a−Siアイラ
ンド形成工程、ソースドレイン配線工程、パシベーショ
ン形成工程、透明電極形成工程のいずれかもしくは複数
の工程を経てTFT基板を製造することを特徴とする液
晶表示基板の製造方法。
3. After performing the cleaning step according to claim 2, any one of a gate wiring step, a CVD film forming step, an a-Si island forming step, a source / drain wiring step, a passivation forming step, and a transparent electrode forming step. Alternatively, a method of manufacturing a liquid crystal display substrate, comprising manufacturing a TFT substrate through a plurality of steps.
【請求項4】ホトレジスト塗布工程、露光工程を経た基
板を請求項2に示す現像をおこない、次いでレジストを
剥離する処理を含むことを特徴とする液晶表示基板の製
造方法。
4. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate, comprising a step of subjecting a substrate having undergone a photoresist coating step and an exposure step to the development described in claim 2, and then removing the resist.
【請求項5】成膜工程、ホトレジスト形成工程を経た基
板を請求項2に示すエッチングをおこない、次いでレジ
ストを剥離する処理を含むことを特徴とする液晶表示基
板の製造方法。
5. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate, comprising the steps of: etching a substrate having undergone a film forming step and a photoresist forming step; and removing the resist.
【請求項6】ホトレジスト形成工程、エッチング工程を
経た基板を請求項2に示すレジスト剥離をおこない、つ
いで検査もしくは成膜処理を含むことを特徴とする液晶
表示基板の製造方法。
6. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate, comprising: subjecting a substrate which has undergone a photoresist forming step and an etching step to peeling of the resist as set forth in claim 2;
【請求項7】基板を請求項1乃至5記載の処理を複数回
含むことを特徴とする液晶表示基板の製造方法。
7. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate, comprising: performing the process according to claim 1 on the substrate a plurality of times.
【請求項8】基板を請求項1乃至5記載の処理が厚さ
0.5乃至5mmかつ0.03乃至3平方mの大きさの
ガラス基板のウェット処理であることを特徴とする液晶
表示基板の製造方法。
8. A liquid crystal display substrate according to claim 1, wherein the treatment according to claim 1 is a wet treatment of a glass substrate having a thickness of 0.5 to 5 mm and a size of 0.03 to 3 square m. Manufacturing method.
【請求項9】請求項1記載の該ローダ部、アンローダ部
が同一部で機能し、かつ未処理の基板を収納してあるカ
セットから順次取り出した基板に一連の処理を施した後
に、同一のカセット内に処理し終わった基板を順次収納
する機能を備えたことを特徴とする液晶表示基板の製造
方法。
9. The loader unit and the unloader unit according to claim 1 function as the same unit, and after performing a series of processing on the substrates sequentially taken out of the cassette storing the unprocessed substrates, A method for manufacturing a liquid crystal display substrate, comprising a function of sequentially storing processed substrates in a cassette.
【請求項10】請求項1記載の該水平搬送部が該水平処
理部の上方に配置することを特徴とする液晶表示基板の
製造方法。
10. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate according to claim 1, wherein said horizontal transport section is disposed above said horizontal processing section.
【請求項11】請求項1記載の該スピン処理部が基板を
スピンテーブル上に機械的もしくは真空吸着により保持
し、基板に処理液を滴下してウェット処理を行うスピン
処理機構をそなえることを特徴とする液晶表示基板の製
造方法。
11. The spin processing unit according to claim 1, further comprising a spin processing mechanism for holding the substrate on a spin table by mechanical or vacuum suction, and dropping a processing liquid onto the substrate to perform wet processing. Of manufacturing a liquid crystal display substrate.
【請求項12】請求項1記載の該スピン処理部が複数台
のスピン処理機構をそなえることを特徴とする液晶表示
基板の製造方法。
12. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate according to claim 1, wherein said spin processing section has a plurality of spin processing mechanisms.
【請求項13】請求項1記載の該第1のスピン処理部で
処理液を用いたウェット処理を行い、該水平処理部で純
水リンス、純水洗浄を行い、該第2のスピン処理部で純
水洗浄、乾燥をおこなうことを特徴とする液晶表示基板
の製造方法。
13. The second spin processing unit according to claim 1, wherein the first spin processing unit performs a wet process using a processing liquid, and the horizontal processing unit performs pure water rinsing and pure water cleaning. Washing with pure water and drying in a liquid crystal display substrate.
【請求項14】請求項1記載の該第2のスピン処理部で
スプレもしくは超音波を用いて純水洗浄することを特徴
とする液晶表示基板の製造方法。
14. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate, wherein said second spin processing section according to claim 1 is cleaned with pure water using spray or ultrasonic waves.
【請求項15】請求項1記載の該第2のスピン処理部で
純水洗浄後に基板を乾燥するときに空気または窒素ガス
のブローを併用することを特徴とする液晶表示基板の製
造方法。
15. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate according to claim 1, further comprising blowing air or nitrogen gas when drying the substrate after washing with pure water in said second spin processing section.
【請求項16】請求項1記載の該第2のスピン処理部で
純水洗浄後に基板を乾燥するときに空気または窒素ガス
のブローを可動して乾燥を促進することを特徴とする液
晶表示基板の製造方法。
16. A liquid crystal display substrate according to claim 1, wherein when the substrate is dried after washing with pure water in the second spin processing section, drying is promoted by moving a blow of air or nitrogen gas. Manufacturing method.
【請求項17】請求項1記載の該水平処理部でスプレも
しくは超音波を用いて純水洗浄することを特徴とする液
晶表示基板の製造方法。
17. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate according to claim 1, wherein said horizontal processing section is cleaned with pure water using spray or ultrasonic waves.
【請求項18】請求項1記載の該水平処理部には流体処
理を終了した基板をエアナイフで液切りもしくは乾燥す
ることを特徴とする液晶表示基板の製造方法。
18. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate according to claim 1, wherein the substrate subjected to the fluid processing is drained or dried with an air knife in the horizontal processing section.
【請求項19】請求項1記載の該ウェット処理をタクト
0.5乃至5分/基板で処理することを特徴とする液晶
表示基板の製造方法。
19. A method for manufacturing a liquid crystal display substrate, wherein the wet processing according to claim 1 is performed at a cycle time of 0.5 to 5 minutes / substrate.
【請求項20】請求項1記載のウェット処理を用いるプ
ラズマディスプレイ装置もしくは半導体装置もしくは磁
気ヘッドもしくは実装基板の製造方法。
20. A method for manufacturing a plasma display device, a semiconductor device, a magnetic head, or a mounting substrate using the wet processing according to claim 1.
【請求項21】装置前面のローダ部と、取り出した基板
を装置後部へ移載するための水平搬送部と、第1のスピ
ン処理を施すためのスピン処理機構を備えたスピン処理
部と、基板を水平搬送しながら処理するための水平処理
部と、第2のスピン処理を施すためのスピン処理機構を
備えたスピン処理部と、一連の処理を終了した基板をカ
セットに充填して次工程へ搬出するためのアンローダ部
と、これらの各部分間で基板を受け渡すための複数の搬
送ロボットと、これらの一連の動作を定められた手順に
従って遂行させるため制御部とからなることを特徴とす
るウェット処理装置。
21. A loader section on the front of the apparatus, a horizontal transport section for transferring the taken-out substrate to the rear section of the apparatus, a spin processing section having a spin processing mechanism for performing a first spin processing, Horizontal processing unit for processing while horizontally transporting the substrate, a spin processing unit having a spin processing mechanism for performing the second spin processing, and filling the cassette with the substrate after the series of processing to the next process An unloader unit for unloading, a plurality of transfer robots for transferring substrates between these units, and a control unit for performing a series of these operations in accordance with a predetermined procedure. Wet processing equipment.
JP23558497A 1997-09-01 1997-09-01 Production of liquid crystal display substrate and wet treating device used for the same Pending JPH1172774A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23558497A JPH1172774A (en) 1997-09-01 1997-09-01 Production of liquid crystal display substrate and wet treating device used for the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23558497A JPH1172774A (en) 1997-09-01 1997-09-01 Production of liquid crystal display substrate and wet treating device used for the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1172774A true JPH1172774A (en) 1999-03-16

Family

ID=16988171

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23558497A Pending JPH1172774A (en) 1997-09-01 1997-09-01 Production of liquid crystal display substrate and wet treating device used for the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1172774A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6027262A (en) Resist process method and system
KR100292935B1 (en) Substrate processing equipment
KR20080058227A (en) Substrate processing apparatus
JP3236742B2 (en) Coating device
US20090139548A1 (en) Apparatus and method of rinsing and drying semiconductor wafers
JPH10335298A (en) Treatment device and method
JPH11163082A (en) Method and device for substrate transportation
JP3948930B2 (en) Thin film forming apparatus and thin film forming method
JP2002318545A (en) Manufacturing method and manufacturing apparatus for display panel
JPH1172774A (en) Production of liquid crystal display substrate and wet treating device used for the same
JP4674904B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2001005191A (en) Development processing method and development processing device
US7332440B2 (en) Wet etching apparatus and method
US6709532B2 (en) Apparatus and method for photoresist stripping
JP2978806B2 (en) Substrate processing method
JPH10321575A (en) Substrate treating device and substrate cleaning device
JP3340701B2 (en) Single wafer cleaning apparatus and single wafer cleaning method
JP3677201B2 (en) Cleaning processing equipment
JP2000340632A (en) Chemical processing device for substrate and chemical processing method for the substrate
JP3346823B2 (en) Substrate wet processing equipment
KR20040103935A (en) Integrated system for processing semiconductor wafers
JP4044994B2 (en) Substrate processing equipment
JP2000164671A (en) Substrate processing apparatus
TWI840262B (en) One-station plasma processing system and processing method thereof
JP3686241B2 (en) Processing method and processing apparatus