JPH1168546A - Semiconductor equipment - Google Patents

Semiconductor equipment

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JPH1168546A
JPH1168546A JP9226167A JP22616797A JPH1168546A JP H1168546 A JPH1168546 A JP H1168546A JP 9226167 A JP9226167 A JP 9226167A JP 22616797 A JP22616797 A JP 22616797A JP H1168546 A JPH1168546 A JP H1168546A
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insulated gate
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和寿 土岐
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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pull-up resistor circuit or a pull-down resistor circuit that can reduce occupancy area on a semiconductor substrate and can guarantee power source voltage of extensive operations. SOLUTION: A low-voltage PMOS transistor 1 and a high-voltage PMOS transistor 2 are serially connected to each other between a power source voltage VDD and an input/output terminal 5. Any one gate electrodes of the PMOS transistor 2 is supplied with an ENABLE signal, in which a logical level becomes high when a command to be active is executed with respect to a register for connecting a pull-up resistor to an input terminal through a software. Also, a drain electrode and a source electrode for each of the PMOS transistors 1 and 2 are connected by switches 3 and 4 that can connect or disconnect both of the electrodes. By selecting these switches 3 and 4, the pull-up resistor is made by using the PMOS transistor which is appropriate for the power source voltage.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路に係
わり、特に半導体基板上に構成されるマイクロコンピュ
ータに内蔵されるソフトウエアプルアップ抵抗回路又は
ソフトウエアプルダウン抵抗回路を有する半導体集積回
路に好適に用いられる半導体集積回路に関する。
The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and more particularly to a semiconductor integrated circuit having a software pull-up resistor circuit or a software pull-down resistor circuit built in a microcomputer formed on a semiconductor substrate. The present invention relates to a semiconductor integrated circuit used.

【0002】[0002]

【従来の技術】マイクロコンピュータ(以下マイコンと
称す)は、外部機器を容易に制御すべく入力、出力また
は入出力端子を備える。マイコンは、外部機器から与え
られる電圧レベルをCPU(中央処理装置)に取り込み
処理を行うため、入力端子(入力モード時の入出力端子
を含む)には、ハイレベルまたはロウレベルを与える必
要があるが、外部機器の制御等の理由によりどちらのレ
ベルも与えることができない時には、一般にプルアップ
抵抗と称する電源と入力端子との間に抵抗素子を挿入し
て入力端子をハイレベルとする。前記抵抗素子は、外部
機器制御基板の高集積化の要求によりマイコンに内蔵さ
れる場合もある。
2. Description of the Related Art A microcomputer (hereinafter, referred to as a microcomputer) has input, output, or input / output terminals for easily controlling external devices. Since a microcomputer takes in a voltage level given from an external device into a CPU (Central Processing Unit) and performs processing, it is necessary to give a high level or a low level to an input terminal (including an input / output terminal in an input mode). When neither level can be applied due to control of an external device or the like, a resistance element is inserted between a power supply generally called a pull-up resistor and an input terminal to set the input terminal to a high level. The resistance element may be built in the microcomputer according to a demand for high integration of the external device control board.

【0003】そこで、マイコンに内蔵されるプルアップ
抵抗について、特開昭62−259292号公報に開示
されたものを以下に説明する。図6において、Rpはプ
ルアップ抵抗、Tr3はVccからプルアップ抵抗Rpを
通して外部端子INに流れる電流を遮断することを目的
とするPチャネルMOSトランジスタ、14は外部回路
である。Tr1,Tr2はそれぞれPチャネルMOSト
ランジスタ,NチャネルMOSトランジスタでCMOS
インバータ回路を構成している。パワーセーブ信号PS
がロウレベルでPチャネルMOSトランジスタTr3が
オン状態のときは、CMOSインバータ回路の入力端子
がプルアップされ、外部回路14の出力がハイレベルあ
るいはハイインピーダンス状態時には、内部回路にロウ
レベルの信号を供給し、ロウレベルの時にはハイレベル
の信号を内部回路に供給する。一方、パワーセーブ信号
PSがハイレベルでPチャネルMOSトランジスタがオ
フ状態のときは、Vccからプルアップ抵抗Rpを通して
外部端子INに流れる電流は遮断される。上記プルアッ
プ抵抗は特に外部回路の出力がハイインピーダンス状態
時に内部回路に固定のレベルを与えるものである。
[0003] A pull-up resistor incorporated in a microcomputer will be described below with reference to the one disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-259292. In FIG. 6, Rp is a pull-up resistor, Tr3 is a P-channel MOS transistor for interrupting a current flowing from Vcc to the external terminal IN through the pull-up resistor Rp, and 14 is an external circuit. Tr1 and Tr2 are P-channel MOS transistors and N-channel MOS transistors, respectively.
Constructs an inverter circuit. Power save signal PS
Is low and the P-channel MOS transistor Tr3 is on, the input terminal of the CMOS inverter circuit is pulled up, and when the output of the external circuit 14 is high or in a high impedance state, a low-level signal is supplied to the internal circuit. At the time of low level, a high level signal is supplied to the internal circuit. On the other hand, when the power save signal PS is at the high level and the P-channel MOS transistor is off, the current flowing from Vcc to the external terminal IN through the pull-up resistor Rp is cut off. The pull-up resistor gives a fixed level to the internal circuit particularly when the output of the external circuit is in a high impedance state.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述した回路をマイコ
ンに内蔵するためには、いくつかの問題が存在する。通
常プルアップ抵抗の抵抗値は、数十Kオームである。し
かし、この抵抗を拡散抵抗等により半導体基板上に形成
した時の面積は、他の素子に比較して非常に大きくなる
ため半導体チップの面積を大きくしてしまう原因とな
る。また近年マイコンは低電圧動作の要求が多くなって
きたためマイコンに搭載する回路はすべて幅広い電圧で
の特性を保証することが求められる。
There are several problems in incorporating the above-mentioned circuit into a microcomputer. Usually, the resistance value of the pull-up resistor is several tens of K ohms. However, when this resistor is formed on a semiconductor substrate by a diffusion resistor or the like, the area becomes extremely large as compared with other elements, which causes an increase in the area of the semiconductor chip. In recent years, microcomputers have been increasingly required to operate at a low voltage, so that all circuits mounted on the microcomputer are required to guarantee characteristics at a wide range of voltages.

【0005】本発明の目的は、半導体基板上での占有面
積を低減し、かつ幅広い動作電源電圧を保証できるプル
アップ抵抗回路又はプルダウン抵抗回路を提供すること
にある。
An object of the present invention is to provide a pull-up resistor circuit or a pull-down resistor circuit which can reduce the area occupied on a semiconductor substrate and can guarantee a wide operating power supply voltage.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体集積回路
は、高圧側の電源と入力端子との間に設けられた、導通
時のドレイン電極とソース電極間の電圧−抵抗特性が異
なる複数の絶縁ゲート型トランジスタを有し、高圧側の
電源と入力端子との間の電圧に基づいて、前記複数の絶
縁ゲート型トランジスタを選択し、選択された絶縁ゲー
ト型トランジスタでプルアップ抵抗を構成してなるもの
である。
According to the present invention, there is provided a semiconductor integrated circuit comprising a plurality of circuits provided between a power supply on a high voltage side and an input terminal and having different voltage-resistance characteristics between a drain electrode and a source electrode during conduction. Having an insulated gate transistor, based on the voltage between the power supply on the high voltage side and the input terminal, select the plurality of insulated gate transistors, configure a pull-up resistor with the selected insulated gate transistor It becomes.

【0007】また、本発明の半導体集積回路は、低圧側
の電源と入力端子との間に設けられた、導通時のドレイ
ン電極とソース電極間の電圧−抵抗特性が異なる複数の
絶縁ゲート型トランジスタを有し、低圧側の電源と入力
端子との間の電圧に基づいて、前記複数の絶縁ゲート型
トランジスタを選択し、選択された絶縁ゲート型トラン
ジスタでプルダウン抵抗を構成してなるものである。
Further, the semiconductor integrated circuit of the present invention comprises a plurality of insulated gate transistors provided between a low-voltage side power supply and an input terminal and having different voltage-resistance characteristics between a drain electrode and a source electrode during conduction. Wherein the plurality of insulated gate transistors are selected based on a voltage between a low-voltage side power supply and an input terminal, and the selected insulated gate transistors constitute a pull-down resistor.

【0008】なお、上記入力端子には上述したように、
入力モード時の入出力端子も含まれる。
[0008] As described above, the input terminal
Input / output terminals in input mode are also included.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】まず、本発明にいたる経緯につい
て説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, the background to the present invention will be described.

【0010】プルアップ抵抗は抵抗値が高すぎると十分
な電流を供給できずに、入力端子の電位を“H”レベル
にできない場合がある。一方、抵抗値が低すぎた場合に
は供給電流が増大して電圧を十分低減させることができ
なくなり、入力端子の電位を“L”レベルにできない場
合がある。したがって、プルアップ抵抗としては抵抗値
が所定の範囲内であることが求められる(プルダウン抵
抗の場合も同様である)。
If the resistance value of the pull-up resistor is too high, a sufficient current cannot be supplied, and the potential of the input terminal cannot be set to the "H" level in some cases. On the other hand, if the resistance value is too low, the supply current increases and the voltage cannot be sufficiently reduced, and the potential of the input terminal may not be able to be set to the “L” level. Therefore, the pull-up resistor is required to have a resistance value within a predetermined range (the same applies to a pull-down resistor).

【0011】本発明者は、プルアップ(又はプルダウ
ン)抵抗を半導体基板に形成した時の占有面積を低減す
るための方法として、プルアップ(又はプルダウン)抵
抗として絶縁ゲート型トランジスタであるMOSトラン
ジスタを用いることを検討した。しかしながら、MOS
トランジスタは図3(a)に示すようなVDS−IDS特性
を示し、動作電源電圧が低電圧でソース電極とドレイン
電極間の電圧VDSが低い場合には抵抗(VDS/IDS)が
高くなるために、例えばユーザーがマイコンチップに加
える電源電圧について低電圧動作を行なおうとした場合
は、抵抗値が望まれる所定の範囲を超えてしまう場合が
あった。
As a method for reducing the occupied area when a pull-up (or pull-down) resistor is formed on a semiconductor substrate, the present inventor has proposed a MOS transistor which is an insulated gate transistor as a pull-up (or pull-down) resistor. We considered using it. However, MOS
The transistor exhibits VDS-IDS characteristics as shown in FIG. 3A. When the operating power supply voltage is low and the voltage VDS between the source electrode and the drain electrode is low, the resistance (VDS / IDS) increases. For example, when a user attempts to perform a low-voltage operation on a power supply voltage applied to a microcomputer chip, the resistance value may exceed a desired predetermined range.

【0012】本発明の半導体集積回路は、複数のMOS
トランジスタの中からユーザの動作電源電圧で最適なソ
ース電極とドレイン電極間の電圧−抵抗特性のMOSト
ランジスタを選択し、プルアップ(又はプルダウン)抵
抗としたものである。すなわち、例えば、図3(b)の
A,Bに示すようなVDS−IDS特性を示す二つのMOS
トランジスタを形成し、ユーザーが低電圧動作を行なお
うとした場合は、低電圧領域でより抵抗値が小さい特性
BのMOSトランジスタを選択し、ユーザーが高電圧動
作を行なおうとした場合は、高電圧領域でより抵抗値が
大きい特性AのMOSトランジスタを選択する。このよ
うにすることで、図3(c)に示すようにユーザの動作
電源電圧で抵抗値の変動が少ない(VDS−IDS特性が直
線に近い)好適な抵抗値を有するプルアップ(又はプル
ダウン)抵抗を構成することができる。
A semiconductor integrated circuit according to the present invention comprises a plurality of MOS transistors.
A MOS transistor having an optimum voltage-resistance characteristic between a source electrode and a drain electrode based on the operating power supply voltage of the user is selected from the transistors, and is used as a pull-up (or pull-down) resistor. That is, for example, two MOS transistors exhibiting VDS-IDS characteristics as shown in A and B of FIG.
When a transistor is formed and a user intends to perform a low-voltage operation, a MOS transistor having a characteristic B having a smaller resistance value in a low-voltage region is selected. A MOS transistor having a characteristic A having a larger resistance value in a voltage region is selected. In this way, as shown in FIG. 3C, pull-up (or pull-down) having a suitable resistance value with a small variation in the resistance value (the VDS-IDS characteristic is close to a straight line) at the user's operating power supply voltage. A resistor can be configured.

【0013】そして、半導体基板上に占有する面積は、
複数のMOSトランジスタと、これらのMOSトランジ
スタを選択する手段(例えば、接続配線やトランジスタ
等で構成される論理回路)のみであるので、従来の拡散
抵抗等の抵抗素子を用いた方法よりも占有面積を小さく
することが可能である。また、複数のMOSトランジス
タを選択できることにより幅広い動作電源電圧を保証す
ることを可能にする。
The area occupied on the semiconductor substrate is
Since there are only a plurality of MOS transistors and means for selecting these MOS transistors (for example, a logic circuit composed of connection wirings and transistors), the occupied area is smaller than the conventional method using a resistance element such as a diffusion resistor. Can be reduced. Further, since a plurality of MOS transistors can be selected, a wide operating power supply voltage can be guaranteed.

【0014】次に、本発明の第1の実施形態について図
面を参照しながら説明する。
Next, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0015】図1は、本発明によるプルアップ抵抗回路
の実施の形態を示す回路図である。図1を参照すると、
PチャネルMOSトランジスタ1および2が電源電圧
(高圧側の電源電圧)VDDと入力端子5に直列接続で挿
入され、いずれのゲート電極にも、ソフトウエアにより
ハイレベルでイネーブルになるENABLE信号が供給
されている。また、PチャネルMOSトランジスタ1お
よび2の接続点Aには、電源電圧との間を接続または非
接続とするためのスイッチ3と、入力端子5との間を接
続または非接続とするためのスイッチ4とが接続され
る。ここでは、スイッチ3,4がMOSトランジスタの
選択を行う。PチャネルMOSトランジスタ1が低電圧
(例えば2V)時に使用するMOSトランジスタ、Pチ
ャネルMOSトランジスタ2が高電圧(例えば5V)時
に使用するMOSトランジスタである。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a pull-up resistor circuit according to the present invention. Referring to FIG.
P-channel MOS transistors 1 and 2 are inserted in series with power supply voltage (high-voltage side power supply voltage) V DD and input terminal 5, and an ENABLE signal that is enabled at a high level by software is supplied to any of the gate electrodes. Have been. A connection point A between P-channel MOS transistors 1 and 2 has a switch 3 for connecting or disconnecting with a power supply voltage and a switch for connecting or disconnecting with input terminal 5. 4 is connected. Here, the switches 3 and 4 select a MOS transistor. The P-channel MOS transistor 1 is a MOS transistor used at a low voltage (for example, 2 V), and the P-channel MOS transistor 2 is a MOS transistor used at a high voltage (for example, 5 V).

【0016】スイッチの接続および非接続は、ユーザの
動作電源電圧範囲により決定できるので半導体製造工程
における配線工程にて行い、スイッチ3,4のいずれか
を選択する。例えばユーザが低電圧を選択すれば、Pチ
ャネルMOSトランジスタ2のソース・ドレイン間をア
ルミ配線で短絡し(スイッチ4が接続状態)、ユーザが
高電圧を選択すれば、PチャネルMOSトランジスタ1
のソース・ドレイン間をアルミ配線で短絡する(スイッ
チ3が接続状態)。
The connection and disconnection of the switch can be determined by the operating power supply voltage range of the user, so that it is performed in the wiring process in the semiconductor manufacturing process, and one of the switches 3 and 4 is selected. For example, if the user selects a low voltage, the source and the drain of the P-channel MOS transistor 2 are short-circuited by an aluminum wiring (switch 4 is connected), and if the user selects a high voltage, the P-channel MOS transistor 1
Is short-circuited with an aluminum wiring (switch 3 is connected).

【0017】したがって、半導体製造工程が終了した時
点で既に使用するPチャネル型MOSトランジスタが決
定されているので、ユーザは、ソフトウエアにより入力
端子にプルアップ抵抗を接続するためのレジスタに対し
てアクティブになる命令を行うだけでプルアップ抵抗を
接続することが可能となる。
Therefore, since the P-channel MOS transistor to be used has already been determined at the end of the semiconductor manufacturing process, the user activates the register for connecting the pull-up resistor to the input terminal by software. It becomes possible to connect the pull-up resistor only by executing the instruction that

【0018】本実施形態はMOSトランジスタを2個設
けて本発明に係わるプルアップ抵抗を構成できるので、
図6のように、拡散抵抗の抵抗素子とMOSトランジス
タとを設けた場合に比べ20%以上占有面積の低減を図
ることができた。なお、拡散抵抗は占有面積の低減が困
難である一方、MOSトランジスタは半導体製造技術の
進展により占有面積のさらなる低減が可能であり、本発
明により占有面積のさらなる低減も可能となる。
In this embodiment, two MOS transistors are provided to constitute a pull-up resistor according to the present invention.
As shown in FIG. 6, the occupied area can be reduced by 20% or more as compared with the case where the resistance element of the diffusion resistance and the MOS transistor are provided. While it is difficult to reduce the occupied area of the diffusion resistor, the occupied area of the MOS transistor can be further reduced due to the progress of the semiconductor manufacturing technology, and the occupied area can be further reduced by the present invention.

【0019】次に、本発明の第2の実施形態について図
面を参照しながら説明する。図2は本発明によるプルア
ップ抵抗回路の実施の形態を示す回路図である。図2を
参照すると、電源電圧VDDおよび入力端子8の間に低電
圧用のPチャネル型MOSトランジスタ6と高電圧用の
Pチャネル型MOSトランジスタ7とをそれぞれ挿入す
る。制御信号としては、前記ENABLE信号とソフト
ウエアにより低電圧用か高電圧用かを選択するレジスタ
に対して低電圧用Pチャネル型MOSトランジスタを使
用するならば論理レベルをロウレベルに、高電圧用Pチ
ャネル型MOSトランジスタを使用するならば論理レベ
ルがハイレベルになるHIGH信号が接続される。ここ
ではMOSトランジスタの選択をおこなうのはインバー
タ、NAND回路からなる論理回路となる。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of the pull-up resistor circuit according to the present invention. Referring to FIG. 2, a low-voltage P-channel MOS transistor 6 and a high-voltage P-channel MOS transistor 7 are inserted between power supply voltage V DD and input terminal 8. As a control signal, if a low-voltage P-channel MOS transistor is used for a register for selecting low voltage or high voltage by software with the ENABLE signal and software, the logic level is set to low level, If a channel MOS transistor is used, a HIGH signal whose logic level becomes high is connected. Here, the selection of the MOS transistor is performed by a logic circuit including an inverter and a NAND circuit.

【0020】したがって、ユーザは2つのレジスタに対
して命令を行うことでプルアップ抵抗を接続できる。
Therefore, the user can connect the pull-up resistor by instructing the two registers.

【0021】本実施形態はMOSトランジスタを2個、
NAND回路2個、インバータ1個設けることで本発明
に係わるプルアップ抵抗とMOSトランジスタ選択のた
めの手段を構成できるので、図6のように、拡散抵抗の
抵抗素子とMOSトランジスタを設けた場合に比べ、7
%以上占有面積の低減を図ることができた。なお、拡散
抵抗は占有面積の低減が困難である一方、MOSトラン
ジスタやインバータ等の回路は半導体製造技術の進展に
より占有面積のさらなる低減が可能であり、本発明によ
り占有面積のさらなる低減も可能となる。
This embodiment has two MOS transistors,
By providing two NAND circuits and one inverter, it is possible to constitute a means for selecting a pull-up resistor and a MOS transistor according to the present invention. Therefore, as shown in FIG. Compare 7
% Or more of the occupied area could be reduced. While it is difficult to reduce the occupied area of the diffused resistor, the occupied area of a circuit such as a MOS transistor or an inverter can be further reduced due to the progress of semiconductor manufacturing technology. Become.

【0022】本発明はプルアップ抵抗を用いた半導体集
積回路だけでなく、プルダウン抵抗を用いた半導体集積
回路に用いることができる。図4、図5はそれぞれ図
1、2に対応するものであり、図4において11,12
はNチャネル型MOSトランジスタであり、図5におい
て16,17はNチャネル型MOSトランジスタであ
る。図4に示すように、Nチャネル型MOSトランジス
タ11,12はGND(低圧側の電源電圧)と入力端子
5との間に直列接続で挿入されている。また図5に示す
ように、Nチャネル型MOSトランジスタ16,17は
GNDと入力端子5との間に並列接続で挿入されてい
る。図4、図5の半導体集積回路の構成及び動作は図
1、図2と略同様なのでここでは説明を略する。
The present invention can be used not only for a semiconductor integrated circuit using a pull-up resistor but also for a semiconductor integrated circuit using a pull-down resistor. FIGS. 4 and 5 correspond to FIGS. 1 and 2, respectively.
Is an N-channel MOS transistor. In FIG. 5, reference numerals 16 and 17 are N-channel MOS transistors. As shown in FIG. 4, the N-channel MOS transistors 11 and 12 are inserted in series between GND (low-voltage side power supply voltage) and the input terminal 5. As shown in FIG. 5, the N-channel MOS transistors 16 and 17 are inserted between GND and the input terminal 5 in parallel connection. Since the configuration and operation of the semiconductor integrated circuits of FIGS. 4 and 5 are substantially the same as those of FIGS. 1 and 2, description thereof is omitted here.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように本発明の半導体集積
回路は、複数の絶縁ゲート型トランジスタと、動作電源
電圧により使用するトランジスタを選択する手段とを有
するので、従来拡散抵抗等の抵抗素子でプルアップ(又
はプルダウン)抵抗を実現していた場合より実装面積を
小さくすることができ、また幅広い動作電源電圧を保証
することが可能となる。
As described above, the semiconductor integrated circuit of the present invention has a plurality of insulated gate transistors and means for selecting a transistor to be used according to the operating power supply voltage. The mounting area can be made smaller than in the case where a pull-up (or pull-down) resistor is realized, and a wide operating power supply voltage can be guaranteed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態1の回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施形態2の回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明を説明するための特性図である。FIG. 3 is a characteristic diagram for explaining the present invention.

【図4】本発明の他の実施形態の回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram of another embodiment of the present invention.

【図5】本発明の他の実施形態の回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram of another embodiment of the present invention.

【図6】従来例のプルアップ抵抗を用いた半導体集積回
路の回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram of a conventional semiconductor integrated circuit using a pull-up resistor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,2,6,7 Pチャネル型MOSトランジスタ 11,12,16,17 Nチャネル型MOSトラン
ジスタ 3,4 スイッチ素子 Rp 抵抗素子 5,8 入力端子 14 外部回路
1, 2, 6, 7 P-channel type MOS transistors 11, 12, 16, 17 N-channel type MOS transistors 3, 4 Switch element Rp Resistance element 5, 8 Input terminal 14 External circuit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 高圧側の電源と入力端子との間に設けら
れた、導通時のドレイン電極とソース電極間の電圧−抵
抗特性が異なる複数の絶縁ゲート型トランジスタを有
し、 高圧側の電源と入力端子との間の電圧に基づいて、前記
複数の絶縁ゲート型トランジスタを選択し、選択された
絶縁ゲート型トランジスタでプルアップ抵抗を構成して
なる半導体集積回路。
1. A high-voltage side power supply comprising a plurality of insulated gate transistors provided between a high-voltage side power supply and an input terminal and having different voltage-resistance characteristics between a drain electrode and a source electrode during conduction. A semiconductor integrated circuit, wherein the plurality of insulated gate transistors are selected based on a voltage between the insulated gate transistors and a pull-up resistor is formed by the selected insulated gate transistors.
【請求項2】 低圧側の電源と入力端子との間に設けら
れた、導通時のドレイン電極とソース電極間の電圧−抵
抗特性が異なる複数の絶縁ゲート型トランジスタを有
し、 低圧側の電源と入力端子との間の電圧に基づいて、前記
複数の絶縁ゲート型トランジスタを選択し、選択された
絶縁ゲート型トランジスタでプルダウン抵抗を構成して
なる半導体集積回路。
2. A low-voltage power supply comprising a plurality of insulated gate transistors provided between a low-voltage power supply and an input terminal and having different voltage-resistance characteristics between a drain electrode and a source electrode during conduction. A semiconductor integrated circuit, wherein the plurality of insulated gate transistors are selected based on a voltage between the insulated gate transistors and a pull-down resistor is formed by the selected insulated gate transistors.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100875729B1 (en) 2007-01-16 2008-12-26 삼성전자주식회사 CMOS amplifier employing a MOSF circuit structure and the MOSF circuit structure

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100875729B1 (en) 2007-01-16 2008-12-26 삼성전자주식회사 CMOS amplifier employing a MOSF circuit structure and the MOSF circuit structure

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