JPH1164601A - Antireflection film and display device arranged therewith - Google Patents

Antireflection film and display device arranged therewith

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JPH1164601A
JPH1164601A JP9216833A JP21683397A JPH1164601A JP H1164601 A JPH1164601 A JP H1164601A JP 9216833 A JP9216833 A JP 9216833A JP 21683397 A JP21683397 A JP 21683397A JP H1164601 A JPH1164601 A JP H1164601A
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JP
Japan
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refractive index
film
layer
index layer
antireflection film
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JP9216833A
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Japanese (ja)
Inventor
Tomokazu Yasuda
知一 安田
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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  • Laminated Bodies (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a process having adaptability to mass production of large sized antireflection films which exhibit uniformly low reflectivity (reflectivity <=1%) in a wide wavelength region and are simultaneously excellent in film strength and heat resistance. SOLUTION: This antireflection film has at least one layer of a low-refractive index layer which has microvoids of <=200 nm in average diameter and consists of a fluorine-contained polymer. The fluorine-contained polymer is produced by the polymn. reaction of a monomer contg. at least one kind of the corresponding fluorine-contained monomer in a stage for production and is formed with the microvoids formed by the deposition and flocculation of the polymer formed in the polymn. process.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、量産性、対汚染性
に優れ、同時に、高い膜強度を実現する反射防止膜およ
びそれを配置した表示装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an anti-reflection film which is excellent in mass productivity and anti-contamination properties, and at the same time, realizes high film strength, and a display device having the anti-reflection film.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、液晶表示装置の普及、大型化や野
外使用化に伴い、その使用条件下でのタフネス化、例え
ば、反射光耐性(視認性確保)、防汚性や耐熱性の向上
が求められている。表示装置の視認性向上は該装置の主
機能に関わる課題であり、当然その重要性も高く、活発
に視認性向上のための施策が検討されている。一般に視
認性を低下させるのは外光の表面反射による景色の写り
込みであり、これらに対する対処として最表面に反射防
止膜を設ける方法が一般的に行われる。しかしながら、
この反射防止膜はその機能発現のために最表面に設けら
れるため、必然的に反射防止膜の性能に対してタフネス
化の観点から多くの高品質化の課題が集中してくる。例
えば、極限までの反射率低下(反射率1%以下)、指紋
や油脂等の付着防止や易除去性、炎天下や自動車室内の
ような高温環境下での諸性能の維持などである。
2. Description of the Related Art In recent years, with the spread of liquid crystal display devices, enlargement and outdoor use, toughness under use conditions, for example, improvement in resistance to reflected light (ensure visibility), antifouling property and heat resistance. Is required. Improving the visibility of a display device is an issue related to the main function of the device, and naturally has high importance, and measures for improving the visibility are being actively studied. Generally, visibility is reduced by the reflection of scenery due to surface reflection of external light, and as a countermeasure against this, a method of providing an antireflection film on the outermost surface is generally performed. However,
Since this antireflection film is provided on the outermost surface in order to exhibit its function, many issues of high quality are inevitably concentrated on the performance of the antireflection film from the viewpoint of toughness. For example, reduction of reflectance to the limit (reflectance of 1% or less), prevention of adhesion of fingerprints and fats and oils, easy removal, and maintenance of various performances in a high temperature environment such as under the sun or in a car interior.

【0003】従来、可視光の波長域を全てカバーできる
性能を有する広波長域/低反射率の反射防止膜として
は、金属酸化物等の透明薄膜を積層させた多層膜が用い
られてきた。単層膜では単色光に対しては有効であるも
のの、ある程度の波長域を有する光に対しては有効に反
射防止できないのに対し、このような多層膜においては
積層数が多いほど広い波長領域で有効な反射防止膜とな
るためである。そのため、従来の反射防止膜には、物理
または化学蒸着法等の手段によって金属酸化物等を3層
以上積層したものが用いられて来た。しかしながら、こ
の様な多層蒸着した反射防止膜は、予め最適に設計され
た各層の屈折率と膜厚との関係に従い、その膜厚を高精
度に制御した蒸着を何回も行う必要があり、非常に高コ
ストなものであり、かつ、広い面積の膜を得ることの非
常に困難な大量製造適性に乏しいものであった。また、
これらの多層蒸着型の反射防止膜では、表面の耐傷性あ
るいは指紋付着性等の対汚染性に乏しく、この改善のた
めには例えば新たに含フッ素樹脂からなる層を塗設する
などの反射防止を犠牲にしかねない加工が必須であっ
た。
Conventionally, as an antireflection film having a wide wavelength range and a low reflectance having a performance capable of covering the entire wavelength range of visible light, a multilayer film formed by laminating a transparent thin film such as a metal oxide has been used. Although a single-layer film is effective for monochromatic light, it cannot effectively prevent reflection of light having a certain wavelength range, whereas in such a multilayer film, the larger the number of layers, the wider the wavelength range. This is because it becomes an effective antireflection film. Therefore, a conventional antireflection film has been used in which three or more layers of metal oxides or the like are laminated by means such as physical or chemical vapor deposition. However, such multi-layer deposited anti-reflection film, according to the relationship between the refractive index and the film thickness of each layer designed optimally in advance, it is necessary to perform the deposition with its film thickness controlled with high precision many times, It is very expensive and poor in suitability for mass production, which makes it very difficult to obtain a large area film. Also,
These multilayer anti-reflection coatings are poor in anti-staining properties such as scratch resistance or fingerprint adhesion on the surface. To improve the anti-reflection coating, for example, a new layer made of a fluorine-containing resin is applied. Processing that could sacrifice was necessary.

【0004】一方、上述のような多層膜による方法の他
に、空気との界面において屈折率が徐々に変化する様な
膜によって有効な反射防止効果を得る方法が従来知られ
ている。例えば、特開平2−245702号公報には、
ガラス基板とMgF2 の中間の屈折率を持つSiO2
微粒子とMgF2 超微粒子を混合してガラス基板に塗布
し、ガラス基板面から塗布膜面に向かって徐々にSiO
2 の混合比を減少させてMgF2 の混合比を増加させる
事により、塗布面とガラス基板との界面における屈折率
変化が緩やかとなり、反射防止効果が得られる事が記載
されている。
On the other hand, in addition to the above-described method using a multilayer film, a method for obtaining an effective anti-reflection effect by a film whose refractive index gradually changes at the interface with air is conventionally known. For example, JP-A-2-245702 discloses that
The SiO 2 ultrafine particles and MgF 2 ultrafine particles having an intermediate refractive index of the glass substrate and the MgF 2 were mixed and applied to a glass substrate, gradually SiO toward the coating film surface from the glass substrate surface
It is described that when the mixing ratio of MgF 2 is increased by decreasing the mixing ratio of 2 , the change in the refractive index at the interface between the coating surface and the glass substrate becomes gentle, and an antireflection effect is obtained.

【0005】また、特開平5−13021号公報には、
エチルシリケート中に分散したMgF2 、SiO2 を有
する超微粒子を用いた二層からなる反射防止膜が開示さ
れている。例えば、第一層は、MgF2 /SiO2 が7
/3の層で、第二層は、MgF2 /SiO2 が1/1の
層で、第一層の屈折率が1.42そして第二層の屈折率
が1.44である。従って、屈折率変化は大きいとは言
えず、充分な反射防止効果は得られない。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-13021 discloses that
An antireflection film comprising two layers using ultrafine particles having MgF 2 and SiO 2 dispersed in ethyl silicate is disclosed. For example, the first layer is composed of 7 MgF 2 / SiO 2.
The second layer is a layer in which MgF 2 / SiO 2 is 1/1, the refractive index of the first layer is 1.42, and the refractive index of the second layer is 1.44. Therefore, the change in the refractive index cannot be said to be large, and a sufficient antireflection effect cannot be obtained.

【0006】また、特開平7−92305号公報には、
コア部とその周囲のシェル部からなる屈折率1.428
の超微粒子からなり、空気と微粒子とから形成された表
面が凹凸の上層部(低屈折率)と、微粒子のみから形成
された下層部とからなる反射防止膜が開示されている。
そして、上記超微粒子のコア部が、メタクリル酸メチ
ル、メタクリル酸、トリフルオロエチルアクリレート、
N−イソブトキシメチルアクリルアミドから形成され、
シェル部がスチレン、アクリル酸、アクリル酸ブチルか
ら形成されている。
[0006] Also, JP-A-7-92305 discloses that
Refractive index of 1.428 consisting of core and surrounding shell
An anti-reflection film is disclosed which comprises an upper layer portion (low refractive index) having irregularities on the surface formed of air and fine particles and a lower layer portion formed only of fine particles.
And the core of the ultrafine particles is methyl methacrylate, methacrylic acid, trifluoroethyl acrylate,
Formed from N-isobutoxymethylacrylamide,
The shell part is formed from styrene, acrylic acid, and butyl acrylate.

【0007】更に、特開平7−168006号公報に
は、空気と微粒子(例、MgF2 )とから形成された表
面が凹凸の上層部(低屈折率)、微粒子のみの中層部
(中屈折率)、及び微粒子とバインダーから形成された
下層部とからなる反射防止膜が開示されている。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-168006 discloses that the surface formed of air and fine particles (eg, MgF 2 ) has an irregular upper layer portion (low refractive index) and a fine particle only middle layer portion (medium refractive index). ), And an antireflection film comprising fine particles and a lower layer portion formed of a binder.

【0008】しかしながら、前記の特開平2−2457
02号公報、特開平5−13021号公報、特開平7−
92305号公報及び特開平7−168006号公報に
記載の反射防止膜は、空気に対する屈折率が膜厚方向に
徐々に変化する原理を利用したものである。これらの反
射防止膜は、その作成に、煩雑な操作と、熟練した技術
が必要であること、また、製造工程上の制限(例えば焼
き付け温度、支持体の耐熱性等)も厳しく、得られる膜
も満足な反射防止効果が得られていないものであった。
However, the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 2-2457
02, JP-A-5-13021, JP-A-7-
The antireflection films described in JP-A-92305 and JP-A-7-168006 utilize the principle that the refractive index to air gradually changes in the thickness direction. These antireflection coatings require complicated operations and skilled techniques for their preparation, and are strictly limited in the manufacturing process (for example, baking temperature, heat resistance of the support, etc.), and are obtained. No satisfactory antireflection effect was obtained.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、広範
な波長領域において一様に低い反射率(反射率1%以
下)を示し、同時に膜強度、耐久性、対汚れ付着性、耐
熱性等の諸性能に優れた反射防止膜を低コストで、ま
た、大量かつ大面積製造の適性のある方法で提供するこ
とにある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to exhibit a uniformly low reflectance (reflectance of 1% or less) over a wide wavelength range, and at the same time, to obtain film strength, durability, adhesion to dirt, and heat resistance. It is an object of the present invention to provide an antireflection film excellent in various performances, such as low cost, by a method suitable for large-scale and large-area production.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上述の課題は下記の反射
防止膜により解決される。 (1)平均径200nm以下のミクロボイドを有し、含
フッ素ポリマーからなる屈折率1.45以下の低屈折率
層を少なくとも1層有する反射防止膜であり、該含フッ
素ポリマーは製造工程において、対応する含フッ素モノ
マーを少なくとも1種含むモノマー重合反応により形成
されたものであり、該ミクロボイドはこの重合過程で生
成するポリマーの析出凝集により形成されたものである
ことを特徴とする反射防止膜。 (2)該低屈折層が少なくとも0.1重量分率以上のフ
ッ素原子を含むことを特徴とする上記(1)に記載の反
射防止膜。 (3)該低屈折率層が少なくとも5体積%以上の空隙を
有することを特徴とする上記(1)または(2)に記載
の反射防止膜。 (4)該低屈折率層の形成過程において、用いるモノマ
ーが可溶で、かつ、生成するポリマーが不溶である溶媒
を用いることを特徴とする上記(1)ないし(3)に記
載の反射防止膜。 (5)該低屈折率層がそれよりも高い屈折率を有する層
の上に形成されたことのを特徴とする上記(1)ないし
(3)に記載の反射防止膜。 (6)表前記反射防止膜のヘイズ値が3ないし30%で
あることをを特徴とする上記(1)ないし(3)に記載
の反射防止膜。 (7)上記(1)ないし(3)の反射防止膜を配置した
表示装置。
The above-mentioned problems are solved by the following antireflection film. (1) An antireflection film having a microvoid having an average diameter of 200 nm or less and having at least one low-refractive-index layer made of a fluoropolymer and having a refractive index of 1.45 or less. An antireflection film, wherein the microvoids are formed by precipitation and agglomeration of a polymer generated in the polymerization process, wherein the microvoids are formed by a monomer polymerization reaction containing at least one fluorine-containing monomer. (2) The antireflection film according to (1), wherein the low refractive layer contains at least 0.1 weight fraction or more of fluorine atoms. (3) The antireflection film according to (1) or (2), wherein the low refractive index layer has a void of at least 5% by volume. (4) The antireflection method according to any one of (1) to (3), wherein in the process of forming the low refractive index layer, a solvent in which a monomer to be used is soluble and a generated polymer is insoluble is used. film. (5) The antireflection film according to any one of (1) to (3), wherein the low refractive index layer is formed on a layer having a higher refractive index. (6) The antireflection film according to any one of (1) to (3), wherein the haze value of the antireflection film is 3 to 30%. (7) A display device on which the antireflection film of (1) to (3) is arranged.

【0011】本発明の反射防止膜は、上記のミクロボイ
ドを含有する低屈折率層が、それよりも高い屈折率を有
する高屈折率層の上に形成された2層よりなることが好
ましい。またこれらの層が支持体(好ましくは透明フィ
ルム)上に設けられていることが好ましい。また、本発
明の反射防止膜は、上記のミクロボイドを含有する低屈
折率層が、それよりも高い屈折率を有する高屈折率層の
上に形成され、更に高屈折率層が、それよりも低く且つ
低屈折率層よりも高い屈折率を有する中屈折率層の上に
形成された3層よりなることが好ましい。またこれらの
層が支持体(好ましくは透明フィルム)上に設けられて
いることが好ましい。
In the antireflection film of the present invention, it is preferable that the low refractive index layer containing the microvoids is formed of two layers formed on a high refractive index layer having a higher refractive index. Further, it is preferable that these layers are provided on a support (preferably a transparent film). Further, the antireflection film of the present invention, the low refractive index layer containing the microvoids is formed on a high refractive index layer having a higher refractive index, further high refractive index layer, It is preferable to include three layers formed on a middle refractive index layer having a low refractive index and a higher refractive index than the low refractive index layer. Further, it is preferable that these layers are provided on a support (preferably a transparent film).

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】本発明の反射防止膜によって得ら
れる優れた反射防止膜について以下に説明する。以下の
説明では本発明の方法で製膜して得られる反射防止膜中
の空隙を「ミクロボイド」、反射防止膜中の連続相を形
成するポリマー凝集体構造体部を「フィブリル」、モノ
マーを重合してポリマーの析出凝集によりミクロボイド
含有膜を形成する方法を「析出法」と称する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The excellent antireflection film obtained by the antireflection film of the present invention will be described below. In the following description, the voids in the antireflection film obtained by forming the film by the method of the present invention are “microvoids”, the polymer aggregate structure part forming the continuous phase in the antireflection film is “fibrils”, and the monomer is polymerized. The method of forming a microvoided film by precipitation and aggregation of a polymer is referred to as a “deposition method”.

【0013】本発明の反射防止膜は、対応するモノマー
を製膜後、重合して生成するポリマーで形成された低屈
折率層からなる。この低屈折率層は、モノマーの製膜直
後は均一の液体膜状態にあるが、この液膜中でモノマー
の重合反応させると、生成したポリマーが不溶化して析
出凝集する過程を経て、非常に微細な多孔質構造を形成
する。この多孔質構造は膜中にミクロボイドをもたら
し、後に説明する原理に基づいて低屈折率の膜を与え
る。
The antireflection film of the present invention comprises a low refractive index layer formed of a polymer formed by forming a corresponding monomer and then polymerizing the same. This low-refractive-index layer is in a uniform liquid film state immediately after the formation of the monomer, but when the monomer undergoes a polymerization reaction in this liquid film, the produced polymer is insolubilized and precipitates and aggregates. Form a fine porous structure. This porous structure results in microvoids in the film, giving a film of low refractive index based on the principles described below.

【0014】上記ポリマーの析出は、一般に均一なモノ
マー膜状態から、重合の進行に伴っい高分子鎖が成長
し、分子鎖同士の凝集力や、網目構造の発達に伴い共存
するモノマーや溶媒から相分離してフィブリルが生じる
ため、フィブリルの間に形成されるミクロボイドは、通
常ボイドの大きさ、その間隔において均一になる。本発
明の低屈折率層はミクロでは不均一構造を有する膜であ
るが、光の波長オーダーで見たときには一つの均一な層
とみなすことができる。
[0014] The above-mentioned polymer is generally deposited from a uniform monomer film state, in which a polymer chain grows with the progress of polymerization, and a cohesive force between the molecular chains and a coexisting monomer or solvent with the development of a network structure. Since fibrils are generated by phase separation, the microvoids formed between the fibrils are generally uniform in the size of the voids and the intervals between the voids. Although the low refractive index layer of the present invention is a film having a non-uniform structure in a micro structure, it can be regarded as one uniform layer when viewed in the order of the wavelength of light.

【0015】本発明の低屈折率層の表面の空気の屈折率
は1であり、本発明のフィブリルを形成するポリマーの
屈折率は空気の屈折率1よりも高く、一般に1.25か
ら1.50の間にある。本発明の低屈折率層は、フィブ
リル相と空気相を光学的には均一とみなせる膜となるこ
とから、その屈折率は空気の屈折率とフィブリルの屈折
率の体積平均値として観測されることになる。従って、
本発明では、形成されるミクロボイドを可視光の波長に
対して充分に小さくすることによって、透明性を損なう
ことなく低屈折率層の屈折率を使用する素材の屈折率よ
りもミクロボイドの体積分率の分だけ低くすることがで
きる。ミクロボイドの平均径は、一般に5〜200nm
の範囲で、5〜50nmが好ましい。また低屈折率層の
層厚は、一般に5〜400nmの範囲にあり、50〜2
00nmであることが好ましい。ミクロボイドの径が増
大すると空気−膜界面での散乱が増加し、200nmを
超えると膜ヘイズが生じるため好ましくない。
The refractive index of air on the surface of the low refractive index layer of the present invention is 1, and the refractive index of the polymer forming the fibrils of the present invention is higher than the refractive index of air, generally 1.25 to 1. Between 50. Since the low refractive index layer of the present invention is a film in which the fibril phase and the air phase can be regarded as optically uniform, the refractive index is observed as a volume average value of the refractive index of air and the refractive index of fibril. become. Therefore,
In the present invention, the volume fraction of the microvoids is made smaller than the refractive index of the material using the low refractive index layer without impairing transparency by making the formed microvoids sufficiently small with respect to the wavelength of visible light. Can be lowered. The average diameter of the microvoids is generally 5 to 200 nm.
Is preferably 5 to 50 nm. The thickness of the low refractive index layer is generally in the range of 5 to 400 nm,
It is preferably 00 nm. If the diameter of the microvoids increases, scattering at the air-film interface increases, and if it exceeds 200 nm, film haze undesirably occurs.

【0016】本発明でいうミクロボイドの平均径とは膜
の断面を走査型電子顕微鏡で観察して観測される各ミク
ロボイドの開口面積に等しい円の直径で定義されるもの
であり、少なくとも100個以上のミクロボイドの開口
面積から算出した相当円直径の平均値を用いる。
The average diameter of the microvoids in the present invention is defined by a diameter of a circle equal to the opening area of each microvoid observed by observing a cross section of the film with a scanning electron microscope, and at least 100 or more. The average value of the equivalent circular diameter calculated from the opening area of the microvoid is used.

【0017】本発明の反射防止膜の別の代表例を図1に
示す。高屈折率層12が透明フィルム(支持体)13上
に形成され、さらに低屈折率層11が高屈折率層12上
に形成されている。反射防止膜を構成する層数の増加
は、通常反射防止膜が適用可能な光の波長範囲を拡大す
る。これは、金属化合物を用いる従来の多層膜の形成の
原理に基づくものである。
FIG. 1 shows another typical example of the antireflection film of the present invention. A high refractive index layer 12 is formed on a transparent film (support) 13, and a low refractive index layer 11 is formed on the high refractive index layer 12. The increase in the number of layers constituting the antireflection film generally expands the wavelength range of light to which the antireflection film can be applied. This is based on the principle of forming a conventional multilayer film using a metal compound.

【0018】上記二層を有する反射防止膜では、高屈折
率層12及び低屈折率層11がそれぞれ下記の条件
(1)及び(2)を一般に満足する。 mλ/4×0.7<n1 d1 <mλ/4×1.3 (1) nλ/4×0.7<n2 d2 <nλ/4×1.3 (2) 上記式に於て、mは正の整数(一般に、1、2又は3)
を表わし、n1 は高屈折率層の屈折率を表わし、d1 は
高屈折率層の層厚(nm)を表わし、nは正の奇数(一
般に、1)を表わし、n2 は低屈折率層の屈折率を表わ
し、そしてd2 は低屈折率層の層厚(nm)を表わす。
高屈折率層の屈折率n1 は、一般に透明フィルムより少
なくとも0.05高く、そして、低屈折率層の屈折率n
2 は、一般に高屈折率層の屈折率より少なくとも0.1
低くかつ透明フィルムより少なくとも0.05低い。更
に、高屈折率層の屈折率n1 は、一般に1.5〜1.7
の範囲にある。上記条件(1)及び(2)は、従来から
良く知られた条件であり、例えば、特開昭59−504
01号公報に記載されている。
In the antireflection film having two layers, the high refractive index layer 12 and the low refractive index layer 11 generally satisfy the following conditions (1) and (2), respectively. mλ / 4 × 0.7 <n1 d1 <mλ / 4 × 1.3 (1) nλ / 4 × 0.7 <n2 d2 <nλ / 4 × 1.3 (2) In the above equation, m is Positive integer (typically 1, 2, or 3)
Where n 1 represents the refractive index of the high refractive index layer, d 1 represents the layer thickness (nm) of the high refractive index layer, n represents a positive odd number (generally 1), and n 2 represents the low refractive index layer. Represents the refractive index, and d2 represents the layer thickness (nm) of the low refractive index layer.
The refractive index n1 of the high refractive index layer is generally at least 0.05 higher than the transparent film, and the refractive index n1 of the low refractive index layer is higher.
2 is generally at least 0.1% higher than the refractive index of the high refractive index layer.
Low and at least 0.05 lower than the transparent film. Further, the refractive index n1 of the high refractive index layer is generally 1.5 to 1.7.
In the range. The above conditions (1) and (2) are conventionally well-known conditions.
No. 01 publication.

【0019】本発明の反射防止膜の他の代表例を図2に
示す。中屈折率層22が透明フィルム(支持体)23上
に形成され、高屈折率層24が中屈折率層22上に形成
され、さらに低屈折率層21が高屈折率層24上に形成
されている。中屈折率層22の屈折率は、高屈折率層2
4と低屈折率層21との間の値を有する。図2の反射防
止膜は、図1の反射防止膜に比較して、更に適用可能な
光の波長領域が拡がっている。
FIG. 2 shows another typical example of the antireflection film of the present invention. A middle refractive index layer 22 is formed on a transparent film (support) 23, a high refractive index layer 24 is formed on the middle refractive index layer 22, and a low refractive index layer 21 is formed on the high refractive index layer 24. ing. The refractive index of the middle refractive index layer 22 is
4 and a value between the low refractive index layer 21. The antireflection film of FIG. 2 has a wider applicable wavelength range of light than the antireflection film of FIG.

【0020】上記三層を有する反射防止膜では、中、高
及び低屈折率層がそれぞれ下記の条件(3)〜(5)を
一般に満足する。 hλ/4×0.7<n3 d3 <hλ/4×1.3 (3) kλ/4×0.7<n4 d4 <kλ/4×1.3 (4) jλ/4×0.7<n5 d5 <jλ/4×1.3 (5) 上記式に於て、hは正の整数(一般に、1、2又は3)
を表わし、n3 は中屈折率層の屈折率を表わし、d3 は
中屈折率層の層厚(nm)を表わし、kは正の整数(一
般に、1、2又は3)を表わし、n4 は高屈折率層の屈
折率を表わし、d4 は高屈折率層の層厚(nm)を表わ
し、jは正の奇数(一般に、1)を表わし、n5 は低屈
折率層の屈折率を表わし、そしてd5 は低屈折率層の層
厚(nm)を表わす。中屈折率層の屈折率n3 は、一般
に1.5〜1.7の範囲にあり、高屈折率層の屈折率n
4 は、一般に1.7〜2.2の範囲にある。
In the above three-layer antireflection film, the medium, high and low refractive index layers generally satisfy the following conditions (3) to (5), respectively. hλ / 4 × 0.7 <n3 d3 <hλ / 4 × 1.3 (3) kλ / 4 × 0.7 <n4 d4 <kλ / 4 × 1.3 (4) jλ / 4 × 0.7 < n5 d5 <jλ / 4 × 1.3 (5) In the above formula, h is a positive integer (generally 1, 2, or 3)
, N3 represents the refractive index of the medium refractive index layer, d3 represents the layer thickness (nm) of the medium refractive index layer, k represents a positive integer (generally 1, 2 or 3), and n4 represents the high refractive index. Represents the refractive index of the refractive index layer, d4 represents the layer thickness (nm) of the high refractive index layer, j represents a positive odd number (generally 1), n5 represents the refractive index of the low refractive index layer, and d5 represents the thickness (nm) of the low refractive index layer. The refractive index n3 of the medium refractive index layer is generally in the range of 1.5 to 1.7, and the refractive index n3 of the high refractive index layer is
4 is generally in the range of 1.7 to 2.2.

【0021】本発明のミクロボイド含有低屈折率膜は、
重合過程で生成する含フッ素ポリマーが重合系から相分
離、析出するものであればその調製方法や使用するモノ
マーに特に制限は無い。この様な膜を与えるモノマーと
その重合方法について説明する。 (1)膜の形成方法(重合) 本発明の低屈折率層を形成する重合法はその過程で生成
するポリマーが反応系から析出し、非重合成分を除去し
た後に多孔質の膜を与えるものであれば特に制限はな
く、通常のバルク重合、分散重合、沈殿重合などの重合
形態を自由にとることができる。重合開始の形態も、通
常のラジカル重合法(熱開始、光開始)、アニオン重合
法(熱開始、光開始)、カチオン重合法(熱開始、光開
始)など特に制限はない。
The microvoid-containing low refractive index film of the present invention comprises:
There are no particular restrictions on the method of preparation and the monomers used as long as the fluoropolymer produced during the polymerization phase separates and precipitates from the polymerization system. A monomer for providing such a film and a polymerization method thereof will be described. (1) Method for Forming Film (Polymerization) In the polymerization method for forming the low refractive index layer of the present invention, a polymer formed in the process is precipitated from a reaction system, and a porous film is obtained after removing non-polymerized components. There is no particular limitation as long as it is normal polymerization mode such as bulk polymerization, dispersion polymerization and precipitation polymerization. The form of the polymerization initiation is not particularly limited, such as ordinary radical polymerization (thermal initiation, photo initiation), anionic polymerization (thermal initiation, photo initiation), and cationic polymerization (thermal initiation, photo initiation).

【0022】これらの中で、確実かつ好効率でミクロボ
イドを形成できる手法として、モノマーには良溶媒だが
ポリマーの貧溶媒となる溶媒を用い、重合に進行に伴っ
て生成するポリマーの凝集析出を促進する「貧溶媒法」
とモノマーとして多官能モノマーを併用し、重合の進行
に伴い、生成するポリマーの網目構造(ネットワーク)
を発達させて凝集させる「架橋法」が特に好ましく利用
される。貧溶媒法、架橋法に限らず、本発明の低屈折率
層を作成する際に好ましく用いられる溶媒の例として
は、アルカン類(ヘキサン、ヘプタン、ドデカン、石油
エーテル、流動パラフィン類など)、エーテル類(ジブ
チルエーテル、テトラヒドロフラン、ジヘキシルエーテ
ルなど)、ケトン類(アセトン、2−ブタノン、シクロ
ヘキサノンなど)、エステル類(酢酸エチル、酢酸ブチ
ル、フタル酸ジブチルなど)、アミド類(ジメチルホル
ムアミド、ジブチルアセトアミドなど)などであり、形
成するポリマーの溶解性や形成される膜の強度を制御す
る目的で、これらの混合溶媒系を用いることも好まし
い。これらの溶媒は、重合反応完了後、蒸発乾燥や洗浄
により除去することが好ましい。この場合、用いた溶媒
と良好に相互溶解し、生成したポリマーを溶解しない低
沸点の溶媒を用いることが好ましい。重合温度は特に制
限がない。通常は用いるモノマーや溶媒の沸点よりも低
く、用いる支持体の変形温度よりも低いことが好ましい
ため、−78℃から200℃、特に好ましくは室温から
180℃である。
Among these, as a method for forming microvoids reliably and efficiently, a solvent which is a good solvent for a monomer but is a poor solvent for a polymer is used to promote coagulation and precipitation of a polymer formed as the polymerization proceeds. `` Poor solvent method ''
And a polyfunctional monomer as a monomer, and as the polymerization proceeds, the network structure of the generated polymer (network)
The “crosslinking method” of developing and coagulating is particularly preferably used. Not limited to the poor solvent method and the crosslinking method, examples of the solvent preferably used for forming the low refractive index layer of the present invention include alkanes (hexane, heptane, dodecane, petroleum ether, liquid paraffins, etc.), ethers (E.g., dibutyl ether, tetrahydrofuran, dihexyl ether), ketones (e.g., acetone, 2-butanone, cyclohexanone), esters (e.g., ethyl acetate, butyl acetate, dibutyl phthalate), amides (e.g., dimethylformamide, dibutylacetamide) It is also preferable to use these mixed solvent systems for the purpose of controlling the solubility of the formed polymer and the strength of the formed film. After the completion of the polymerization reaction, these solvents are preferably removed by evaporative drying or washing. In this case, it is preferable to use a solvent having a low boiling point that is mutually soluble with the solvent used and does not dissolve the produced polymer. The polymerization temperature is not particularly limited. Usually, it is preferably lower than the boiling point of the monomer or solvent to be used and lower than the deformation temperature of the support to be used. Therefore, the temperature is preferably from -78 ° C to 200 ° C, particularly preferably from room temperature to 180 ° C.

【0023】(2)膜を形成するモノマー 本発明の含フッ素重合体を与えるモノマー単位はポリマ
ーがフッ素原子を含有する様に、含フッ素モノマーを必
ず含むこと以外は特に制限が無く、非フッ素含有モノマ
ーや架橋法による性能発現のために多官能モノマーを自
由な割合で併用しても良い。但し、屈折率の観点から、
生成するポリマーがフッ素原子を0.1重量分率以上含
むことが好ましく、特に好ましいのは、生成するポリマ
ーが0.3重量分率以上フッ素原子を含有する場合であ
る。本発明で好ましく用いられる含フッ素モノマーの具
体例としては、例えばフルオロオレフィン類(例えばフ
ルオロエチレン、ビニリデンフルオライド、テトラフル
オロエチレン、ヘキサフルオロプロピレン、パーフルオ
ロブタジエン、パーフルオロ―2,2―ジメチル―1,
3―ジオキソールなど)、アクリルまたはメタクリル酸
の部分及び完全フッ素化アルキル、アルケニル、アリー
ルエステル類(例えば下記一般式で表される化合物)、
完全または部分フッ素化ビニルエーテル類、完全または
部分フッ素化ビニルエステル類、完全または部分フッ素
化ビニルケトン類等であり、これらの任意のモノマーを
任意の比率で組み合わせて共重合により目的のポリマー
を得ることができる。
(2) Monomer for Forming Film The monomer unit for giving the fluorine-containing polymer of the present invention is not particularly limited except that it necessarily contains a fluorine-containing monomer so that the polymer contains a fluorine atom. A polyfunctional monomer may be used in a free ratio in order to express performance by a monomer or a crosslinking method. However, from the viewpoint of the refractive index,
It is preferred that the resulting polymer contains at least 0.1 weight fraction of fluorine atoms, and particularly preferred is the case where the resulting polymer contains at least 0.3 weight fraction of fluorine atoms. Specific examples of the fluorine-containing monomer preferably used in the present invention include, for example, fluoroolefins (for example, fluoroethylene, vinylidene fluoride, tetrafluoroethylene, hexafluoropropylene, perfluorobutadiene, perfluoro-2,2-dimethyl-1) ,
3-dioxole, etc.), acrylic or methacrylic acid moieties and fully fluorinated alkyl, alkenyl, aryl esters (for example, compounds represented by the following general formula),
Fully or partially fluorinated vinyl ethers, fully or partially fluorinated vinyl esters, fully or partially fluorinated vinyl ketones, and the like.The desired polymer can be obtained by copolymerizing any of these monomers in any ratio. it can.

【0024】[0024]

【化1】 Embedded image

【0025】式中、R1 は水素原子、炭素数1ないし3
のアルキル基またはハロゲン原子を表す。Rfは完全ま
たは部分フッ素化されたアルキル基、アルケニル基、ヘ
テロ環またはアリール基を表す。R2 およびR3 はそれ
ぞれ独立に水素原子、アルキル基、アルケニル基、ヘテ
ロ環、アリール基または上記Rfで定義される基を表
す。R1 、R2 、R3 およびRfはそれぞれフッ素原子
以外の置換基を有していても良い。また、R2 、R3
よびRfの任意の2つ以上の基が互いに結合して環構造
を形成しても良い。
In the formula, R 1 is a hydrogen atom, having 1 to 3 carbon atoms.
Represents an alkyl group or a halogen atom. Rf represents a completely or partially fluorinated alkyl group, alkenyl group, heterocycle or aryl group. R 2 and R 3 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group, an alkenyl group, a heterocyclic ring, an aryl group or a group defined by Rf. R 1 , R 2 , R 3 and Rf may each have a substituent other than a fluorine atom. Further, any two or more groups of R 2 , R 3 and Rf may be bonded to each other to form a ring structure.

【0026】[0026]

【化2】 Embedded image

【0027】式中、Aは完全または部分フッ素化された
n価の有機基を表す。R4 は水素原子、炭素数1ないし
3のアルキル基またはハロゲン原子を表す。R4 はフッ
素原子以外の置換基を有していても良い。nは2ないし
8の整数を表す。以下に本発明の低屈折率膜に好ましく
用いられる含フッ素モノマーの例を挙げるが、本発明は
これらの具体的構造に限定されるものではない。
In the formula, A represents a fully or partially fluorinated n-valent organic group. R 4 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms or a halogen atom. R 4 may have a substituent other than a fluorine atom. n represents an integer of 2 to 8. Examples of the fluorine-containing monomer preferably used for the low refractive index film of the present invention are shown below, but the present invention is not limited to these specific structures.

【0028】[0028]

【化3】 Embedded image

【0029】[0029]

【化4】 Embedded image

【0030】[0030]

【化5】 Embedded image

【0031】[0031]

【化6】 Embedded image

【0032】[0032]

【化7】 Embedded image

【0033】[0033]

【化8】 Embedded image

【0034】また、上記の含フッ素モノマーの他に生成
する膜の強度、ミクロボイドのサイズ、表面特性、表面
形状等を制御する目的でフッ素原子を含有しないモノマ
ーを併用しても良い。併用可能なモノマー単位には特に
制限はなく、通常のラジカル重合またはイオン重合法で
共重合可能なものであれば、好適に用いることができ
る。この様なモノマーの好ましい例として、例えば、オ
レフィン類(エチレン、プロピレン、イソプレン、ブタ
ジエン、塩化ビニル、塩化ビニリデン、6−ヒドロキシ
−1−ヘキセン、シクロペンタジエン、4−ペンテン
酸、8−ノネン酸メチル、ビニルスルホン酸、トリメチ
ルビニルシラン、トリメトキシビニルシランなど)、不
飽和カルボン酸およびその塩類(アクリル酸、メタクリ
ル酸、イタコン酸、マレイン酸、アクリル酸ナトリウ
ム、メタクリル酸アンモニウム、イタコン酸カリウムな
ど)、β−不飽和カルボン酸のエステル類(メチルアク
リレート、シクロヘキシルアクリレート、2−エチルヘ
キシルアクリレート、2−クロロエチルアクリレート、
ベンジルアクリレート、2−シアノエチルアクリレー
ト、メチルメタクリレート、ブチルメタクリレート、2
−ヒドロキシエチルメタクリレート、グリシジルメタク
リレート、グリセリンモノメタクリレート、2−アセト
キシエチルメタクリレート、フェニルメタクリレート、
テトラヒドロフルフリルメタクリレート、2−メトキシ
エチルメタクリレート、ω−メトキシポリエチレングリ
コールメタクリレート(付加モル数=2ないし100の
もの)、ω−ヒドロキシポリエチレングリコールメタク
リレート(付加モル数=2ないし100のもの)、ω−
ヒドロキシポリプロピレングリコールメタクリレート
(付加モル数=2ないし100のもの)、3−N,N−
ジメチルアミノプロピルメタクリレート、クロロ−3−
N,N,N−トリメチルアンモニオプロピルメタクリレ
ート、2−カルボキシエチルメタクリレート、3−スル
ホプロピルメタクリレート、4−オキシスルホブチルメ
タクリレート、マレイン酸モノブチル、マレイン酸ジメ
チル、イタコン酸モノメチル、イタコン酸ジブチル、3
−トリメトキシシリルプロピルメタクリレート、アリル
メタクリレート、2−イソシアナトエチルメタクリレー
トなど)、不飽和カルボン酸のアミド類(アクリルアミ
ド、メタクリルアミド、N−メチルアクリルアミド、
N,N−ジメチルアクリルアミド、N−メチル−N−ヒ
ドロキシエチルメタクリルアミド、N−tertブチル
アクリルアミド、N−tertオクチルメタクリルアミ
ド、N−シクロヘキシルアクリルアミド、N−フェニル
アクリルアミド、N−(2−アセトアセトキシエチル)
アクリルアミド、N−アクリロイルモルフォリン、ジア
セトンアクリルアミド、イタコン酸ジアミド、N−メチ
ルマレイミド、2−アクリルアミド−メチルプロパンス
ルホン酸など)、不飽和ニトリル類(アクリロニトリ
ル、メタクリロニトリルなど)、スチレン誘導体類(ス
チレン、ビニルトルエン、p−tertブチルスチレ
ン、ビニル安息香酸メチル、α−メチルスチレン、p−
クロロメチルスチレン、ビニルナフタレン、p−ヒドロ
キシメチルスチレン、p−スチレンスルホン酸ナトリウ
ム塩、p−スチレンスルフィン酸カリウム塩、p−アミ
ノメチルスチレンなど)、ビニルエーテル類(メチルビ
ニルエーテル、ブチルビニルエーテル、メトキシエチル
ビニルエーテルなど)、ビニルエステル類(酢酸ビニ
ル、プロピオン酸ビニル、安息香酸ビニル、サリチル酸
ビニルクロロ酢酸ビニルなど)、その他の重合性単量体
(N−ビニルイミダゾール、4−ビニルピリジン、N−
ビニルピロリドンなど)などを挙げることができる。但
し、これらのモノマーは膜の屈折率を上昇させない必要
最小量を共重合して用いることが望ましい。
Further, in addition to the above-mentioned fluorine-containing monomer, a monomer containing no fluorine atom may be used in combination for the purpose of controlling the strength of the film to be formed, the size of microvoids, the surface characteristics, the surface shape and the like. There are no particular restrictions on the monomer units that can be used in combination, and any monomer unit that can be copolymerized by ordinary radical polymerization or ionic polymerization can be suitably used. Preferred examples of such a monomer include, for example, olefins (ethylene, propylene, isoprene, butadiene, vinyl chloride, vinylidene chloride, 6-hydroxy-1-hexene, cyclopentadiene, 4-pentenoic acid, methyl 8-nonenoate, Vinylsulfonic acid, trimethylvinylsilane, trimethoxyvinylsilane, etc.), unsaturated carboxylic acids and salts thereof (acrylic acid, methacrylic acid, itaconic acid, maleic acid, sodium acrylate, ammonium methacrylate, potassium itaconate, etc.), β- Esters of saturated carboxylic acids (methyl acrylate, cyclohexyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, 2-chloroethyl acrylate,
Benzyl acrylate, 2-cyanoethyl acrylate, methyl methacrylate, butyl methacrylate, 2
-Hydroxyethyl methacrylate, glycidyl methacrylate, glycerin monomethacrylate, 2-acetoxyethyl methacrylate, phenyl methacrylate,
Tetrahydrofurfuryl methacrylate, 2-methoxyethyl methacrylate, ω-methoxy polyethylene glycol methacrylate (additional mole number = 2 to 100), ω-hydroxy polyethylene glycol methacrylate (additional mole number = 2 to 100), ω-
Hydroxypolypropylene glycol methacrylate (additional moles = 2 to 100), 3-N, N-
Dimethylaminopropyl methacrylate, chloro-3-
N, N, N-trimethylammoniopropyl methacrylate, 2-carboxyethyl methacrylate, 3-sulfopropyl methacrylate, 4-oxysulfobutyl methacrylate, monobutyl maleate, dimethyl maleate, monomethyl itaconate, dibutyl itaconate, 3
-Trimethoxysilylpropyl methacrylate, allyl methacrylate, 2-isocyanatoethyl methacrylate, etc., amides of unsaturated carboxylic acids (acrylamide, methacrylamide, N-methylacrylamide,
N, N-dimethylacrylamide, N-methyl-N-hydroxyethylmethacrylamide, N-tertbutylacrylamide, N-tertoctylmethacrylamide, N-cyclohexylacrylamide, N-phenylacrylamide, N- (2-acetoacetoxyethyl)
Acrylamide, N-acryloylmorpholine, diacetone acrylamide, itaconic acid diamide, N-methylmaleimide, 2-acrylamide-methylpropanesulfonic acid, etc., unsaturated nitriles (acrylonitrile, methacrylonitrile, etc.), styrene derivatives (styrene , Vinyltoluene, p-tertbutylstyrene, methyl vinylbenzoate, α-methylstyrene, p-
Chloromethylstyrene, vinylnaphthalene, p-hydroxymethylstyrene, sodium p-styrenesulfonate, potassium p-styrenesulfinate, p-aminomethylstyrene, etc., vinyl ethers (methyl vinyl ether, butyl vinyl ether, methoxyethyl vinyl ether, etc.) ), Vinyl esters (vinyl acetate, vinyl propionate, vinyl benzoate, vinyl salicylate vinyl chloroacetate, etc.), and other polymerizable monomers (N-vinylimidazole, 4-vinylpyridine, N-
And vinylpyrrolidone. However, it is desirable that these monomers are copolymerized and used in a necessary minimum amount which does not increase the refractive index of the film.

【0035】上記例中の親水基を有するモノマーを必要
量用いて膜の表面エネルギーを調節することができる。
親水基の種類は特に限定はなく、例えばカルボン酸およ
びその塩、スルホン酸およびその塩、硫酸半エステルお
よび塩、水酸基、ポリオキシエチレン基などの構造を有
するモノマーが好ましい。
The surface energy of the film can be adjusted by using a necessary amount of the monomer having a hydrophilic group in the above examples.
The type of the hydrophilic group is not particularly limited, and for example, a monomer having a structure such as a carboxylic acid and a salt thereof, a sulfonic acid and a salt thereof, a sulfuric acid half ester and a salt, a hydroxyl group, and a polyoxyethylene group are preferable.

【0036】また、上記の単官能モノマーに加え、任意
の多官能モノマーを共重合することで膜の析出速度、硬
度、溶剤に対する膨潤を制御することができる。用いる
多官能モノマーには特に制限はなく市販、または合成の
一分子中に複数個の重合性不飽和基を有するものであれ
ばこれを好適に使用できる。形成される低屈折層の屈折
率低下の観点から、この多官能モノマーを先に例示した
フッ素原子を含有する多官能モノマーから選択しても良
い。該多官能モノマーの具体例としては、例えばオレフ
ィン類(ブタジエン、ペンタジエン、1,4−ジビニル
シクロヘキサン、1,2,5−トリビニルシクロヘキサ
ンなど)、アクリル酸およびメタクリル酸のエステル類
(エチレングリコールジアクリレート、エチレングリコ
ールジメタクリレート、1,4−シクロヘキサンジアク
リレート、ペンタエリスリトールテトラメタクリレー
ト、ペンタエリスリトールトリアクリレート、トリメチ
ロールプロパントリアクリレート、トリメチロールエタ
ントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトール
ペンタメタクリレート、ペンタエリスリトールヘキサア
クリレート、1,2,4−シクロヘキサンテトラメタク
リレートなど)、スチレン誘導体(1,4−ジビニルベ
ンゼン、4−ビニル安息香酸−2−アクリロイルエチル
エステルなど)、ビニルスルホン類(ジビニルスルホン
など)、アクリルアミド類(メチレンビスアクリルアミ
ド、ジアクリロイルピペラジンなど)、メタクリルアミ
ド類(メチレンビスメタクリルアミド、ジメタクリロイ
ルピペラジンなど)などを挙げることができる。
Further, by copolymerizing an arbitrary polyfunctional monomer in addition to the above monofunctional monomer, the deposition rate, hardness and swelling of the film with respect to the solvent can be controlled. The polyfunctional monomer to be used is not particularly limited and may be suitably used as long as it is commercially available or has a plurality of polymerizable unsaturated groups in one molecule of the synthesis. From the viewpoint of lowering the refractive index of the low refractive layer to be formed, the polyfunctional monomer may be selected from the fluorine-containing polyfunctional monomers exemplified above. Specific examples of the polyfunctional monomer include, for example, olefins (butadiene, pentadiene, 1,4-divinylcyclohexane, 1,2,5-trivinylcyclohexane and the like), esters of acrylic acid and methacrylic acid (ethylene glycol diacrylate) Ethylene glycol dimethacrylate, 1,4-cyclohexane diacrylate, pentaerythritol tetramethacrylate, pentaerythritol triacrylate, trimethylolpropane triacrylate, trimethylolethanetri (meth) acrylate, dipentaerythritol pentamethacrylate, pentaerythritol hexaacrylate, 1,2,4-cyclohexanetetramethacrylate), styrene derivatives (1,4-divinylbenzene, 4-vinylbenzoate) Acid-2-acryloylethyl ester, etc.), vinyl sulfones (divinyl sulfone, etc.), acrylamides (methylenebisacrylamide, diacryloylpiperazine, etc.), methacrylamides (methylenebismethacrylamide, dimethacryloylpiperazine, etc.) and the like. Can be.

【0037】本発明の低屈折率膜を構成する含フッ素ポ
リマー自身の屈折率は、フッ素原子の含有量に比例して
ほぼ直線的に低下する。さらに、低屈折率層の屈折率は
膜を形成するポリマーの屈折率だけでは決まらず、膜中
のミクロボイド含有量の増加と共にさらに低下する。こ
の様にフッ素含率とミクロボイド含量の両方の両方を増
加させることにより、低屈折率層の屈折率を充分に低く
することができる。従って、フッ素ポリマーは、一般に
0.10重量分率以上(好ましくは、0.30〜0.7
5重量分率、特に好ましくは0.35〜0.75重量分
率)のフッ素原子を含み、低屈折率層が、一般に0.0
5〜0.50体積分率のミクロボイドを(好ましくは
0.10〜0.50体積分率、特に好ましくは0.10
〜0.28体積分率)を含有することが好ましい。
The refractive index of the fluoropolymer constituting the low refractive index film of the present invention decreases almost linearly in proportion to the fluorine atom content. Furthermore, the refractive index of the low refractive index layer is not determined only by the refractive index of the polymer forming the film, but further decreases as the microvoid content in the film increases. As described above, by increasing both the fluorine content and the microvoid content, the refractive index of the low refractive index layer can be sufficiently reduced. Therefore, the fluoropolymer is generally 0.10 weight fraction or more (preferably, 0.30 to 0.7
5% by weight, particularly preferably 0.35 to 0.75% by weight) of the fluorine atom, and the low refractive index layer generally has a thickness of 0.05%.
A microvoid having a volume fraction of 5 to 0.50 (preferably 0.10 to 0.50 volume fraction, particularly preferably 0.10 to 0.50 volume fraction)
~ 0.28 volume fraction).

【0038】本発明の反射防止膜は、一般に、支持体と
その上に設けられた低屈折率層からなる。支持体は通
常、透明フィルムである。透明フィルムを形成する材料
としては、セルロース誘導体(例、ジアセチルセルロー
ス、トリアセチルセルロース(TAC)、プロピオニル
セルロース、ブリルセルロース、アセチルプロピオニル
セルロース及びニトロセルロース)、ポリアミド、ポリ
カーボネート(例、米国特許番号3023101号に記
載のもの)、ポリエステル(ポリエチレンテレフタレー
ト、ポリエチレンナフタレート、ポリブチレンテレフタ
レート、ポリ−1,4−シクロヘキサンジメチレンテレ
フタレート、ポリエチレン−1,2−ジフェノキシエタ
ン−4,4’−ジカルボキシレート及び特公昭48−4
0414号公報に記載のポリエステル)、ポリスチレ
ン、ポリオレフィン(例、ポリエチレン、ポリプロピレ
ン及びポリメチルペンテン)、ポリメチルメタクリレー
ト、シンジオタクチックポリスチレン、ポリスルホン、
ポリエーテルスルホン、ポリエーテルケトン、ポリエー
テルイミド及びポリオキシエチレンを挙げることができ
る。トリアセチルセルロース、ポリカーボネート及びポ
リエチレンテレフタレートが好ましい。透明フィルムの
屈折率は1.40〜1.60が好ましい。
The antireflection film of the present invention generally comprises a support and a low refractive index layer provided thereon. The support is usually a transparent film. Materials for forming the transparent film include cellulose derivatives (eg, diacetylcellulose, triacetylcellulose (TAC), propionylcellulose, brylcellulose, acetylpropionylcellulose, and nitrocellulose), polyamides, polycarbonates (eg, US Pat. No. 3,023,101). Described), polyesters (polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polybutylene terephthalate, poly-1,4-cyclohexane dimethylene terephthalate, polyethylene-1,2-diphenoxyethane-4,4'-dicarboxylate, and Tokubyosho) 48-4
0414), polystyrene, polyolefins (eg, polyethylene, polypropylene and polymethylpentene), polymethyl methacrylate, syndiotactic polystyrene, polysulfone,
Polyethersulfone, polyetherketone, polyetherimide and polyoxyethylene can be mentioned. Triacetyl cellulose, polycarbonate and polyethylene terephthalate are preferred. The refractive index of the transparent film is preferably from 1.40 to 1.60.

【0039】本発明の反射防止膜が、多層膜である場
合、一般に、低屈折率層は、低屈折率層より高い屈折率
を有する少なくとも一層の層(即ち、前記の高屈折率
層、中屈折率層)と共に用いられる。上記より高い屈折
率を有する層を形成するための有機材料としては、熱可
塑性樹脂(例、ポリスチレン、ポリスチレン共重合体、
ポリカーボネート、ポリスチレン以外の芳香環、複素
環、脂環式環状基を有するポリマー、またはフッ素以外
のハロゲン基を有するポリマー);熱硬化性樹脂組成物
(例、メラミン樹脂、フェノール樹脂、ないしエポキシ
樹脂などを硬化剤とする樹脂組成物);ウレタン形成性
組成物(例、脂環式ないしは芳香族イソシアネートおよ
びポリオールの組み合わせ);およびラジカル重合性組
成物(上記の化合物(ポリマー等)に二重結合を導入す
ることにより、ラジカル硬化を可能にした変性樹脂また
はプレポリマーを含む組成物)などを挙げることができ
る。高い皮膜形成性を有する材料が好ましい。上記より
高い屈折率を有する層は、有機材料中に分散した無機系
微粒子も使用することができる。上記に使用される有機
材料としては、一般に無機系微粒子が高屈折率を有する
ため有機材料単独で用いられる場合よりも低屈折率もの
を用いることができる。そのような材料例として、上記
に述べた有機材料の他、アクリル系を含むビニル系共重
合体、ポリエステル、アルキド樹脂、繊維素系重合体、
ウレタン樹脂およびこれらを硬化せしめる各種の硬化
剤、硬化性官能基を有する組成物など、透明性があり無
機系微粒子を安定に分散せしめる各種の有機材料を挙げ
ることができる。特に皮膜強度の観点から、上記硬化性
官能基を有する組成物として好ましく用いられるものと
して、下記の具体例を挙げる事ができる。
When the antireflection film of the present invention is a multilayer film, the low refractive index layer generally has at least one layer having a higher refractive index than the low refractive index layer (ie, the high refractive index layer, (Refractive index layer). As an organic material for forming a layer having a higher refractive index than the above, a thermoplastic resin (eg, polystyrene, polystyrene copolymer,
A polymer having an aromatic ring, a heterocyclic ring, an alicyclic group other than polycarbonate or polystyrene, or a polymer having a halogen group other than fluorine); a thermosetting resin composition (eg, a melamine resin, a phenol resin, or an epoxy resin) A curing agent); a urethane-forming composition (eg, a combination of an alicyclic or aromatic isocyanate and a polyol); and a radically polymerizable composition (a double bond is formed in the above compound (polymer or the like). A composition containing a modified resin or a prepolymer which is capable of radical curing by being introduced). Materials having high film forming properties are preferred. For the layer having a higher refractive index than the above, inorganic fine particles dispersed in an organic material can also be used. As the organic material used in the above, an inorganic fine particle generally has a high refractive index, so that a material having a lower refractive index than that of a case where the organic material is used alone can be used. Examples of such materials, in addition to the organic materials described above, vinyl copolymers including acrylics, polyesters, alkyd resins, cellulose polymers,
Examples thereof include various organic materials which are transparent and stably disperse inorganic fine particles, such as urethane resins, various curing agents for curing these, and compositions having a curable functional group. Particularly, from the viewpoint of film strength, the following specific examples can be given as those preferably used as the composition having the curable functional group.

【0040】さらに有機置換されたケイ素系化合物をこ
れに含めることができる。これらのケイ素系化合物は一
般式: R11 a 12 b SiX4-(a+b) (式中、R11及びR12は、それぞれアルキル基、アルケ
ニル基、アリル基、またはハロゲン、エポキシ、アミ
ノ、メルカプト、メタクリロイルないしシアノで置換さ
れた炭化水素基を表わし、Xは、アルコキシル基、アル
コキシアルコキシル基、ハロゲン原子ないしアシルオキ
シ基から選ばれた加水分解可能な基を表わし、a+bが
1または2である条件下で、a及びbはそれぞれ0、1
または2である。)で表わされる化合物ないしはその加
水分解生成物である。
Further, an organic-substituted silicon-based compound can be included therein. These silicon-based compounds have the general formula: R 11 a R 12 b SiX 4- (a + b) ( wherein, R 11 and R 12 are each an alkyl group, an alkenyl group, an allyl group or a halogen, epoxy, amino X represents a hydrolyzable group selected from an alkoxyl group, an alkoxyalkoxyl group, a halogen atom and an acyloxy group, and a + b is 1 or 2. Under the conditions, a and b are 0, 1, respectively.
Or 2. ) Or a hydrolysis product thereof.

【0041】これらに分散される無機系微粒子の好まし
い無機化合物としては、アルミニウム、チタニウム、ジ
ルコニウム、アンチモン、錫などの金属元素の酸化物を
挙げることができる。これらの化合物は、微粒子状で、
即ち粉末ないしは水および/またはその他の溶媒中への
コロイド状分散体として、市販されている。これらをさ
らに上記の有機材料または有機ケイ素化合物中に混合分
散して使用する。
Preferred inorganic compounds of the inorganic fine particles dispersed therein include oxides of metal elements such as aluminum, titanium, zirconium, antimony and tin. These compounds are in the form of fine particles,
That is, it is commercially available as a powder or a colloidal dispersion in water and / or other solvents. These are further mixed and dispersed in the above organic material or organosilicon compound for use.

【0042】上記より高い屈折率を有する層を形成する
材料として、被膜形成性で溶剤に分散し得るか、それ自
身が液状である無機系材料(例、各種元素のアルコキシ
ド、有機酸の塩、配位性化合物と結合した配位化合物
(例、キレート化合物)、活性無機ポリマー)を挙げる
ことができる。これらの好適な例としては、チタンテト
ラエトキシド、チタンテトラ−i−プロポキシド、チタ
ンテトラ−n−プロポキシド、チタンテトラ−n−ブト
キシド、チタンテトラ−sec −ブトキシド、チタンテト
ラ−tert−ブトキシド、アルミニウムトリエトキシド、
アルミニウムトリ−i−プロポキシド、アルミニウムト
リブトキシド、アンチモントリエトキシド、アンチモン
トリブトキシド、ジルコニウムテトラエトキシド、ジル
コニウムテトラ−i−プロポキシド、ジルコニウムテト
ラ−n−プロポキシド、ジルコニウムテトラ−n−ブト
キシド、ジルコニウムテトラ−sec −ブトキシド及びジ
ルコニウムテトラ−tert−ブトキシドなどの金属アルコ
レート化合物;ジイソプロポキシチタニウムビス(アセ
チルアセトネート)、ジブトキシチタニウムビス(アセ
チルアセトネート)、ジエトキシチタニウムビス(アセ
チルアセトネート)、ビス(アセチルアセトンジルコニ
ウム)、アルミニウムアセチルアセトネート、アルミニ
ウムジ−n−ブトキシドモノエチルアセトアセテート、
アルミニウムジ−i−プロポキシドモノメチルアセトア
セテート及びトリ−n−ブトキシドジルコニウムモノエ
チルアセトアセテートなどのキレート化合物;さらには
炭酸ジルコニールアンモニウムあるいはジルコニウムを
主成分とする活性無機ポリマーなどを挙げることができ
る。上記に述べた他に、屈折率が比較的低いが上記の化
合物と併用できるものとしてとくに各種のアルキルシリ
ケート類もしくはその加水分解物、微粒子状シリカとく
にコロイド状に分散したシリカゲルも使用することがで
きる。
As the material for forming the layer having a higher refractive index, inorganic materials which are film-forming and can be dispersed in a solvent or are themselves liquid (eg, alkoxides of various elements, salts of organic acids, A coordination compound (eg, a chelate compound) bonded to a coordination compound, an active inorganic polymer) can be exemplified. Preferred examples thereof include titanium tetraethoxide, titanium tetra-i-propoxide, titanium tetra-n-propoxide, titanium tetra-n-butoxide, titanium tetra-sec-butoxide, titanium tetra-tert-butoxide, Aluminum triethoxide,
Aluminum tri-i-propoxide, aluminum tributoxide, antimony triethoxide, antimony tributoxide, zirconium tetraethoxide, zirconium tetra-i-propoxide, zirconium tetra-n-propoxide, zirconium tetra-n-butoxide, zirconium Metal alcoholate compounds such as tetra-sec-butoxide and zirconium tetra-tert-butoxide; diisopropoxytitanium bis (acetylacetonate), dibutoxytitanium bis (acetylacetonate), diethoxytitanium bis (acetylacetonate), Bis (acetylacetone zirconium), aluminum acetylacetonate, aluminum di-n-butoxide monoethylacetoacetate,
Chelating compounds such as aluminum di-i-propoxide monomethyl acetoacetate and tri-n-butoxide zirconium monoethyl acetoacetate; and active inorganic polymers mainly containing zirconium ammonium zirconate or zirconium. In addition to those described above, various alkyl silicates or hydrolysates thereof, particularly fine particles of silica, particularly silica gel dispersed in a colloidal form can be used as those having a relatively low refractive index but which can be used in combination with the above compounds. .

【0043】本発明の反射防止膜は、表面にアンチグレ
ア機能(即ち、入射光を表面で散乱させて膜周囲の景色
が膜表面に移るのを防止する機能)を有するように処理
することができる。例えば、このような機能を有する反
射防止膜は、透明フィルムの表面に微細な凹凸を形成
し、そしてその表面に反射防止膜(例、低屈折率層等)
を形成することにより得られる。上記微細な凹凸の形成
は、例えば、無機又は有機の微粒子を含む層を透明フィ
ルム表面に形成することにより行なわれる。あるいは、
弗素樹脂微粒子とは異なる、50nm〜5μmの粒径を
有する微粒子を低屈折率層形成用塗布液に、弗素樹脂微
粒子の0.1〜50重量%の量で導入し、反射防止膜の
最上層に凹凸を形成しても良い。アンチグレア機能を有
する(即ち、アンチグレア処理された)反射防止膜は、
一般に、3〜30%のヘイズを有する。
The anti-reflection film of the present invention can be treated so that the surface has an anti-glare function (ie, a function of scattering incident light on the surface to prevent a scene around the film from shifting to the film surface). . For example, an antireflection film having such a function forms fine irregularities on the surface of a transparent film, and forms an antireflection film (eg, a low refractive index layer, etc.) on the surface.
Is obtained. The formation of the fine irregularities is performed, for example, by forming a layer containing inorganic or organic fine particles on the surface of the transparent film. Or,
Fine particles having a particle diameter of 50 nm to 5 μm, which are different from the fluororesin fine particles, are introduced into the coating solution for forming the low refractive index layer in an amount of 0.1 to 50% by weight of the fluororesin fine particles. Unevenness may be formed on the surface. An anti-reflection film having an anti-glare function (ie, an anti-glare treatment)
Generally, it has a haze of 3 to 30%.

【0044】本発明の反射防止膜(アンチグレア機能を
有する反射防止膜が好ましい)は、液晶表示装置(LC
D)、プラズマディスプレイ(PDP)、エレクトロル
ミネッセンスディスプレイ(ELD)、陰極管表示装置
(CRT)等の画像表示装置に組み込むことができる。
このような反射防止膜を有する画像表示装置は、入射光
の反射が防止され、視認性が格段に向上する。本発明の
反射防止膜を備えた液晶表示装置(LCD)は、たとえ
ば、下記の構成を有する。透明電極を有する一対の基板
とその間に封入されたネマチック液晶からなる液晶セ
ル、及び液晶セルの両側に配置された偏光板からなる液
晶表示装置であって、少なくとも一方の偏光板が表面に
本発明の反射防止膜を備えている液晶表示装置。
The antireflection film of the present invention (preferably an antireflection film having an antiglare function) is used for a liquid crystal display (LC).
D), an image display device such as a plasma display (PDP), an electroluminescence display (ELD), and a cathode ray tube display (CRT).
In the image display device having such an antireflection film, reflection of incident light is prevented, and visibility is remarkably improved. A liquid crystal display (LCD) provided with the antireflection film of the present invention has, for example, the following configuration. A liquid crystal display comprising a pair of substrates having transparent electrodes, a nematic liquid crystal sealed between the substrates, and a polarizing plate disposed on both sides of the liquid crystal cell, wherein at least one of the polarizing plates has a surface on which the present invention is applied. Liquid crystal display device having an anti-reflection film.

【0045】本発明の反射防止膜の低屈折率層は、たと
えば、この層を形成するための塗布液(水及び/又は有
機溶剤中に分散したフッ素樹脂微粒子)を、カーテンフ
ローコート、ディップコート、スピンコート、ロールコ
ート等の塗布法によって、透明フィルムあるい高又は中
屈折率層等に塗布し、乾燥することにより形成される。
The low-refractive-index layer of the antireflection film of the present invention is prepared, for example, by applying a coating solution (fluorine resin fine particles dispersed in water and / or an organic solvent) for forming this layer to a curtain flow coat or a dip coat. It is formed by applying to a transparent film or a high or middle refractive index layer or the like by an application method such as spin coating, roll coating or the like, and drying.

【0046】本発明においては、中間層としてハードコ
ート層、防湿防止層、帯電防止層等を、透明フィルム上
に設けることもできる。ハードコート層としては、アク
リル系、ウレタン系、エポキシ系のポリマー及び/又は
オリゴマー及びモノマーの他に、シリカ系の材料も使用
することができる。
In the present invention, a hard coat layer, an anti-moisture layer, an anti-static layer and the like may be provided on the transparent film as an intermediate layer. As the hard coat layer, in addition to acrylic-based, urethane-based, and epoxy-based polymers and / or oligomers and monomers, silica-based materials can also be used.

【0047】[0047]

【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明
するが、本発明はこれに限定されるものではない。 実施例1(反射防止層の塗設と性能評価) 下記表1記載の低屈折率層塗布液(C1〜C5)を用い
てトリアセチルセルロース(以下TACと称す)フィル
ム上にバーコータを用いて塗布、同表に記載の条件で重
合させて100nmの低屈折率層を形成した。得られた
膜(X1〜X5)について屈折率、視感反射率(光波長
400nm〜700nmの平均反射率値)の測定および
膜強度評価を実施した。低屈折率層の空隙率は層の屈折
率をアッベ屈折率系で測定し、用いた層構成成分の組成
から得られる層の屈折率の計算値との差から空気の体積
分率を逆算した。膜強度は、指先、ティッシュ、消しゴ
ム、指爪先で擦り、目視観察し、指先で傷付くものを
0、ティッシュで傷付くもの1、消しゴムで傷付くもの
を2、指爪先で傷付くものを3、どの方法でも傷付かな
いものを4とした。結果は表2に示した。
The present invention will be described below in detail with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. Example 1 (Coating of antireflection layer and evaluation of performance) Using a low refractive index layer coating solution (C1 to C5) shown in Table 1 below, a triacetyl cellulose (hereinafter referred to as TAC) film was coated using a bar coater. Polymerization was performed under the conditions described in the same table to form a low refractive index layer having a thickness of 100 nm. The obtained films (X1 to X5) were measured for refractive index and luminous reflectance (average reflectance value at a light wavelength of 400 nm to 700 nm) and evaluated for film strength. The porosity of the low-refractive-index layer was obtained by measuring the refractive index of the layer with an Abbe refractive index system and calculating the volume fraction of air from the difference from the calculated value of the refractive index of the layer obtained from the composition of the layer components used. . The film strength was rubbed with a fingertip, a tissue, an eraser, and a fingertip, and visually observed. 0 was found to be damaged by the fingertip, 1 was damaged by the tissue, 2 was damaged by the eraser, and 3 was damaged by the fingertip. The sample which was not damaged by any method was designated as 4. The results are shown in Table 2.

【0048】[0048]

【表1】 [Table 1]

【0049】[0049]

【表2】 [Table 2]

【0050】上記低屈折率層塗布液を表1に示す本発明
外の構成の塗布液(D1〜D2)に置き換えた以外は実
施例1と同じにして比較サンプル(Y1〜Y2)を得
た。得られた膜を上記実施例1と同じ方法で膜の屈折
率、視感反射率の測定および膜強度測定を実施した。結
果を表2に示した。本実施例から明らかなように、本発
明の反射防止膜は非常に低い反射率と広い波長領域を有
する優れた反射防止性能を有するだけでなく、十分に強
靱な膜強度を有していることがわかる。
Comparative samples (Y1 to Y2) were obtained in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid for the low refractive index layer was replaced with a coating liquid (D1 to D2) having a constitution outside the present invention shown in Table 1. . The refractive index, luminous reflectance, and film strength of the obtained film were measured in the same manner as in Example 1 above. The results are shown in Table 2. As is clear from this example, the antireflection film of the present invention not only has excellent antireflection performance having a very low reflectance and a wide wavelength range, but also has a sufficiently strong film strength. I understand.

【0051】実施例2(重層型反射防止フイルムの作
成) (1)第1層(ハードコート層)の塗設 90μmの厚みを有するTACフィルムに5重量%のジ
ペンタエリスルトールヘキサアクリレートと光重合開始
剤(商品名:イルガキュア907、チバガイギー社製)
0.5重量%、光増感剤(商品名:カヤキュアーDET
X、日本化薬社製)0.2重量%を含むトルエン溶液を
ワイヤーバーを用いて8μmの厚さに塗布し、これを乾
燥後、100℃に加熱して12W/cmの高圧水銀灯を
用いて1分間紫外線照射し架橋した。その後室温まで放
冷した。得られた層の膜厚は5μmであり、屈折率は
1.535であった。
Example 2 (Preparation of multilayer antireflection film) (1) Coating of first layer (hard coat layer) A TAC film having a thickness of 90 μm was coated with 5% by weight of dipentaerythritol hexaacrylate and light. Polymerization initiator (trade name: Irgacure 907, manufactured by Ciba Geigy)
0.5% by weight, photosensitizer (trade name: Kaya Cure DET)
X, manufactured by Nippon Kayaku Co.) A toluene solution containing 0.2% by weight was applied to a thickness of 8 μm using a wire bar, dried, heated to 100 ° C., and a high-pressure mercury lamp of 12 W / cm was used. For 1 minute to crosslink. Then, it was allowed to cool to room temperature. The thickness of the obtained layer was 5 μm, and the refractive index was 1.535.

【0052】(2)第2層(高屈折率層)の塗設 別途合成したポリ(n−ブチルメタクリレート−コ−メ
タクリル酸)ラテックス(共重合組成重量比80:2
0、平均粒子径63nm、固形分濃度12.5重量%:
HP1)100g、酸化錫微粒子(石原産業(株)より
入手の物)25gを混合し、さらに、ジペンタエリスル
トールヘキサアクリレート6g、光重合開始剤(商品
名:イルガキュア907、チバガイギー社製)0.5
g、光増感剤(商品名:カヤキュアーDETX、日本化
薬社製)0.2g酢酸エチル20gをドデシルベンゼン
スルホン酸ナトリウム1gを用いて水100gに乳化分
散した乳化物液を混合、攪拌して塗布溶液を調製した。
この液を上記で作成した第1層の上にワイヤーバーを用
いて塗布し、これを乾燥後、100℃に加熱して12W
/cmの高圧水銀灯を用いて1分間紫外線照射し架橋、
その後室温まで放冷した。得られた層の膜厚は0.16
μmであり、屈折率は1.68であった。
(2) Coating of Second Layer (High Refractive Index Layer) Separately synthesized poly (n-butyl methacrylate-co-methacrylic acid) latex (copolymer composition weight ratio: 80: 2)
0, average particle diameter 63 nm, solid content concentration 12.5% by weight:
HP1) 100 g and tin oxide fine particles (obtained from Ishihara Sangyo Co., Ltd.) 25 g were mixed, further, dipentaerythritol hexaacrylate 6 g, and a photopolymerization initiator (trade name: Irgacure 907, manufactured by Ciba Geigy) 0 .5
g, 0.2 g of a photosensitizer (trade name: Kayacure DETX, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) An emulsion liquid obtained by emulsifying and dispersing 20 g of ethyl acetate in 100 g of water using 1 g of sodium dodecylbenzenesulfonate was mixed and stirred. A coating solution was prepared.
This solution was applied on the first layer prepared above using a wire bar, and after drying, heated to 100 ° C. and 12 W
UV irradiation for 1 minute using a high pressure mercury lamp of
Then, it was allowed to cool to room temperature. The thickness of the obtained layer is 0.16
μm, and the refractive index was 1.68.

【0053】(3)第3層(低屈折率層)の作成 上記で作成した第2層の上に第3層として実施例1に示
したX1〜X5、Y1、Y2の低屈折率層を塗布、重合
して多層サンプルARF1〜ARF5(本発明)、CF
1〜CF2(比較例)を作製した。表3にこれらのサン
プルの表面反射率、膜強度の評価結果を併せて示す。評
価方法は実施例1に示した方法に同じである。
(3) Preparation of Third Layer (Low Refractive Index Layer) On the second layer prepared above, the low refractive index layers of X1 to X5, Y1, and Y2 shown in Example 1 were used as third layers. Coating and polymerization, multilayer samples ARF1 to ARF5 (the present invention), CF
1 to CF2 (Comparative Example) were produced. Table 3 also shows the evaluation results of the surface reflectance and the film strength of these samples. The evaluation method is the same as the method shown in the first embodiment.

【0054】[0054]

【表3】 [Table 3]

【0055】本実施例から明らかなように、本発明の反
射防止膜は非常に低い反射率と広い波長領域を有する優
れた反射防止性能を有するだけでなく、十分に強靱な膜
強度を有していることがわかる。
As is clear from this example, the antireflection film of the present invention not only has excellent antireflection performance having a very low reflectance and a wide wavelength range, but also has a sufficiently strong film strength. You can see that it is.

【0056】実施例3(反射防止フイルムを設置した表
示装置の作成) 上記実施例2で作成した反射防止フイルムX2を日本電
気株式会社より購入したパーソナルコンピューターPC
9821NS/340Wの液晶ディスプレイ表面に貼り
付け、表示装置サンプルを作成し、その表面反射による
風景の映り込み程度を目視にて評価した。同様に表記方
法で用いる反射防止フイルムを上記実施例2で作成した
フイルムX3、X5、Y2として表示装置サンプルを作
成した。本発明の反射防止フイルムX2、X3、X5を
設置した表示装置は周囲の風景映り込みが殆どなく、快
適な視認性を示したのに対し、比較用フイルムY2を設
置した表示装置は周囲の映り込みが多く、視認性が劣る
ものであった。
Example 3 (Preparation of display device provided with anti-reflection film) A personal computer PC purchased from NEC Corporation with anti-reflection film X2 prepared in Example 2 above.
The sample was attached to the surface of a 9821NS / 340W liquid crystal display to prepare a display device sample, and the degree of reflection of the scenery due to the surface reflection was visually evaluated. Similarly, display device samples were prepared as anti-reflection films used in the notation method as films X3, X5, and Y2 prepared in Example 2 above. The display device provided with the anti-reflection films X2, X3, and X5 of the present invention hardly reflected the surrounding scenery and exhibited comfortable visibility, whereas the display device provided with the comparative film Y2 provided the surrounding image. And the visibility was poor.

【0057】[0057]

【発明の効果】本発明では低屈折率まくの製造過程で重
合により凝集析出するポリマーを用いることで空隙を有
する膜の製膜工程上、空隙を損なうことなく、粒子間の
付着性を改良することができる。これによって反射防止
膜として非常に良好な光学特性を発現し、膜強度、耐傷
性等の膜物性に優れた、安価で大面積な反射防止膜を製
造適性を有した形で提供することができる。
According to the present invention, the adhesion between particles can be improved without impairing the voids in the step of forming a film having voids by using a polymer which is coagulated and precipitated by polymerization in the process of producing a low refractive index. be able to. As a result, very good optical properties are exhibited as an anti-reflection film, and a low-cost, large-area anti-reflection film having excellent film properties such as film strength and scratch resistance can be provided in a form having suitability for production. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の反射防止膜の代表的な一例の断面図を
示す。
FIG. 1 shows a cross-sectional view of a typical example of an antireflection film of the present invention.

【図2】本発明の反射防止膜の代表的な一例の断面図を
示す。
FIG. 2 is a cross-sectional view of a typical example of the antireflection film of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11、21:低屈折率層 12、24:高屈折率層 22 :中屈折率層 13、23:透明フイルム 11, 21: low refractive index layer 12, 24: high refractive index layer 22: medium refractive index layer 13, 23: transparent film

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 平均径200nm以下のミクロボイドを
有し、含フッ素ポリマーからなる屈折率1.45以下の
低屈折率層を少なくとも1層有する反射防止膜であり、
該含フッ素ポリマーは製造工程において、対応する含フ
ッ素モノマーを少なくとも1種含むモノマーの重合反応
により形成されたものであり、該ミクロボイドはこの重
合過程で生成するポリマーの析出凝集により形成された
ものであることを特徴とする反射防止膜。
1. An antireflection film having at least one low refractive index layer having a microvoid having an average diameter of 200 nm or less and a refractive index of 1.45 or less and made of a fluoropolymer,
In the production process, the fluoropolymer is formed by a polymerization reaction of a monomer containing at least one corresponding fluoromonomer, and the microvoids are formed by precipitation and aggregation of the polymer generated in the polymerization process. An anti-reflection film characterized by the following.
【請求項2】 該低屈折層が少なくとも0.1重量分率
以上のフッ素原子を含むことを特徴とする請求項1に記
載の反射防止膜。
2. The anti-reflection film according to claim 1, wherein the low refractive layer contains at least 0.1 weight fraction or more of fluorine atoms.
【請求項3】 該低屈折率層が少なくとも5体積%以上
の空隙を有することを特徴とする請求項1または2に記
載の反射防止膜。
3. The anti-reflection film according to claim 1, wherein the low refractive index layer has a void of at least 5% by volume.
【請求項4】 該低屈折率層の形成過程において、用い
るモノマーが可溶でかつ、生成するポリマーが不溶であ
る溶媒を用いることを特徴とする請求項1ないし3に記
載の反射防止膜。
4. The antireflection film according to claim 1, wherein a solvent in which a monomer to be used is soluble and a generated polymer is insoluble is used in the process of forming the low refractive index layer.
【請求項5】 該低屈折率層がそれよりも高い屈折率を
有する層の上に形成されたことのを特徴とする請求項1
ないし3に記載の反射防止膜。
5. The method according to claim 1, wherein the low refractive index layer is formed on a layer having a higher refractive index.
4. The anti-reflection film according to any one of items 3 to 3.
【請求項6】 前記反射防止膜のヘイズ値が3ないし3
0%であることをを特徴とする請求項1ないし3に記載
の反射防止膜。
6. The haze value of the antireflection film is 3 to 3
4. The anti-reflection film according to claim 1, wherein said anti-reflection film is 0%.
【請求項7】 平均径200nm以下のミクロボイドを
有し、含フッ素ポリマーからなる屈折率1.45以下の
低屈折率層を少なくとも1層有する反射防止膜であり、
該含フッ素ポリマーは製造工程において、対応する含フ
ッ素モノマーを少なくとも1種含むモノマーの重合反応
により形成されたものであり、該ミクロボイドはこの重
合過程で生成するポリマーの析出凝集により形成された
ものである反射防止膜を配置したことを特徴とする表示
装置。
7. An antireflection film having at least one low refractive index layer having a microvoid having an average diameter of 200 nm or less and having a refractive index of 1.45 or less made of a fluoropolymer,
In the production process, the fluoropolymer is formed by a polymerization reaction of a monomer containing at least one corresponding fluoromonomer, and the microvoids are formed by precipitation and aggregation of the polymer generated in the polymerization process. A display device comprising a certain anti-reflection film.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000258606A (en) * 1999-03-09 2000-09-22 Fuji Photo Film Co Ltd Antidazzle and antireflection film and image display device
JP2001048943A (en) * 1999-06-03 2001-02-20 Ausimont Spa Composition for film with low refractive index
JP2001350001A (en) * 2000-06-07 2001-12-21 Bridgestone Corp Antireflection film
WO2005001525A1 (en) * 2003-06-26 2005-01-06 Zeon Corporation Optical multilayer film, polarizing plate and optical product
JP2005037927A (en) * 2003-06-26 2005-02-10 Nippon Zeon Co Ltd Optical multilayer film
JP2007121391A (en) * 2005-10-25 2007-05-17 Sony Corp Wavelength selective reflecting film and hologram recording medium
EP1798593A1 (en) * 2004-09-27 2007-06-20 Zeon Corporation Liquid crystal display
US7371786B2 (en) 2001-09-04 2008-05-13 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Coating composition, coating formed therefrom, anti-reflection coating, anti-reflection film, and image display device
CN100420961C (en) * 2003-06-26 2008-09-24 日本瑞翁株式会社 Optical multilayer film, polarizing plate and optical product

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000258606A (en) * 1999-03-09 2000-09-22 Fuji Photo Film Co Ltd Antidazzle and antireflection film and image display device
JP2001048943A (en) * 1999-06-03 2001-02-20 Ausimont Spa Composition for film with low refractive index
JP2001350001A (en) * 2000-06-07 2001-12-21 Bridgestone Corp Antireflection film
US7371786B2 (en) 2001-09-04 2008-05-13 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Coating composition, coating formed therefrom, anti-reflection coating, anti-reflection film, and image display device
WO2005001525A1 (en) * 2003-06-26 2005-01-06 Zeon Corporation Optical multilayer film, polarizing plate and optical product
JP2005037927A (en) * 2003-06-26 2005-02-10 Nippon Zeon Co Ltd Optical multilayer film
US7285323B2 (en) 2003-06-26 2007-10-23 Zeon Corporation Optical multilayer film, polarizing plate and optical product
CN100420961C (en) * 2003-06-26 2008-09-24 日本瑞翁株式会社 Optical multilayer film, polarizing plate and optical product
EP1798593A1 (en) * 2004-09-27 2007-06-20 Zeon Corporation Liquid crystal display
EP1798593A4 (en) * 2004-09-27 2008-04-02 Zeon Corp Liquid crystal display
JP2007121391A (en) * 2005-10-25 2007-05-17 Sony Corp Wavelength selective reflecting film and hologram recording medium

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