JPH1154475A - Wet etching device - Google Patents

Wet etching device

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JPH1154475A
JPH1154475A JP23761597A JP23761597A JPH1154475A JP H1154475 A JPH1154475 A JP H1154475A JP 23761597 A JP23761597 A JP 23761597A JP 23761597 A JP23761597 A JP 23761597A JP H1154475 A JPH1154475 A JP H1154475A
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JP
Japan
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chemical
etching
wet etching
chemical solution
recovery
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JP23761597A
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Japanese (ja)
Inventor
Koji Honma
孝治 本間
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KEMITORONIKUSU KK
Original Assignee
KEMITORONIKUSU KK
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a compact device which hardly breaks down by simplifying a mechanism of a multifunctional wet etching device on a single-wafer basis and reducing mixing in each chemical collection. SOLUTION: In a basic etching device, an etching chamber division mechanism part is constituted by opening and closing movable plates 7a, 7b, without vertically moving a rotary mechanism 4 of a sample and a chemical supply nozzle 5, and the chemical is exclusively collected corresponding thereto. In other basic etching devices, chemical after the etching treatment, is collected selectively by a special collection opening using gravity, and either depressurization and pressurization. Thereby, it is possible to constitute a multifunctional wet etching device through a simple mechanism and to realize compactness and low cost. Since the etching liquid collection method of a device is simple and etching liquid hardly mixes, troubles are reduced and maintenance of the chemical to be used by circulating and a device is facilitated.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【001】[0101]

【発明の属する技術分野】本発明は、枚葉式ウエットエ
ッチング装置に関する。
The present invention relates to a single wafer type wet etching apparatus.

【002】[0092]

【従来の技術】精密加工で微細な素子を形成する技術と
して、現在もウエットエッチング技術が製造工程の中で
沢山使われている。通常のウエットエッチングは試料を
薬液に浸けて、のちこれを取り出し洗浄、乾燥する、簡
単な方法でなされるが、試料全面を精度良く加工した
り、試料間を再現性良く加工するために専用に設計され
たウエットエッチング装置が必要になる。この装置を用
いることによってエッチング工程の省力化と生産性向上
の効果も期待される。SiLSI等の半導体素子の製造
工程では沢山、ウエットエッチング工程があり、一部で
ウエットエッチング装置が使われている。Siウエーハ
のように定形サイズの試料の場合には、1回のエッチン
グで複数枚を処理するバッチ式装置と1枚ずつ処理する
枚葉式装置が製造されている。枚葉式装置は(1)サイ
ズの大きい試料に対して面内の加工寸法精度がよい、
(2)エッチング液の循環方式が使えて経済的、(3)
同じ装置内で試料の水洗、乾燥ができ、自動化しやす
い、等の特徴がある。また、枚葉式エッチング装置では
2種類以上の薬液で試料表面を連続的に処理する工程の
構築が可能で、工程を多機能化できる特徴もある。図7
に示した従来のウエットエッチング装置は2種類の薬液
を使って一枚の試料72上で連続的に処理するために考
案された装置である。試料72を回転機構部74で保持
し、試料を回転しながら薬液がノズル75から供給さ
れ、ウエットエッチングが行われる。ノズル75と試料
72と回転機構部74は、一体となってエレベータ式に
上下にそれぞれ可動100、101し、各エッチング室
の仕切部77、78、79で試料72が止まる様になっ
ている。薬液の種類ごとに止まる位置が決められて、こ
の場合、2種類の薬液用と純水洗浄用の処理が行える。
各エッチング室専用の薬液廃液はそれぞれのドレイン7
7d、78d、79dから回収され、お互いに混合する
ことをさけている。
2. Description of the Related Art As a technique for forming a fine element by precision processing, a wet etching technique is still widely used in a manufacturing process. Normal wet etching is a simple method in which a sample is immersed in a chemical solution, then removed, washed, and dried.However, it is used exclusively for processing the entire sample with high accuracy and processing between samples with high reproducibility. A designed wet etching apparatus is required. The use of this apparatus is also expected to save labor in the etching step and improve productivity. There are many wet etching processes in the manufacturing process of a semiconductor device such as a Si LSI, and a wet etching apparatus is used in a part. For a sample of a fixed size such as a Si wafer, a batch type apparatus for processing a plurality of substrates by one etching and a single-wafer type apparatus for processing one substrate at a time are manufactured. The single-wafer apparatus has (1) good in-plane processing dimensional accuracy for a large sample,
(2) Economical use of etchant circulation system, (3)
The sample can be washed and dried in the same device, and it is easy to automate. In addition, the single-wafer etching apparatus has a feature that a process for continuously processing the sample surface with two or more types of chemicals can be constructed, and the process can be multifunctional. FIG.
Is a device devised for performing continuous processing on one sample 72 using two kinds of chemicals. The sample 72 is held by the rotation mechanism 74, and a chemical solution is supplied from the nozzle 75 while rotating the sample, and wet etching is performed. The nozzle 75, the sample 72, and the rotation mechanism 74 are integrally moved up and down 100 and 101, respectively, in an elevator manner, so that the sample 72 stops at the partitions 77, 78, and 79 of the respective etching chambers. The stop position is determined for each type of chemical solution, and in this case, two types of treatments for the chemical solution and pure water cleaning can be performed.
The chemical waste liquid dedicated to each etching chamber has its own drain 7
It is recovered from 7d, 78d, 79d and avoids mixing with each other.

【003】[0093]

【発明が解決しようとする課題】従来装置であるエレベ
ータ式の装置は試料の回転機構部と薬液供給用ノズルを
上下に移動させる必要があるため機構が複雑である。ま
た、各エッチング室は薬液が漏れやすい構造である。こ
の結果、装置が大型になり、循環して使用する薬液が長
時間持たない難点があった。本発明は2種類以上のエッ
チング液を用いる多機能の枚葉式エッチング装置におい
て試料の回転機構と薬液供給用ノズルを固定したまま試
料をエッチング処理することを基本とし、これによって
装置を小型化し、長期間安定に稼働できる装置を提供す
ることを目的としている。また、個々の薬液を混ざりに
くい構成とし、循環して使用する薬液を長時間持たせる
装置を提供することを目的としている。
The conventional elevator-type device has a complicated mechanism because the rotating mechanism of the sample and the nozzle for supplying the chemical solution need to be moved up and down. Each etching chamber has a structure in which a chemical solution easily leaks. As a result, there is a problem that the apparatus becomes large and the chemical used for circulation does not have a long time. The present invention is based on etching a sample in a multifunctional single-wafer type etching apparatus using two or more types of etching solutions while fixing a sample rotation mechanism and a chemical solution supply nozzle, thereby miniaturizing the apparatus, An object is to provide a device that can operate stably for a long period of time. It is another object of the present invention to provide a device that has a configuration in which individual chemical solutions are hardly mixed and that has a long-term use of a chemical solution to be used in circulation.

【004】[0093]

【課題を解決するための手段】本発明の基本とするエッ
チング装置は図1に示すよう試料の回転機構4と薬液供
給用ノズル5を上下に移動させずにエッチング室分割機
構部を可動板7a,7bの開閉によって構成し、各エッ
チング処理毎に専用に薬液を回収する機構を有すること
を特徴としている。また、本発明による他の基本とする
エッチング装置はエッチング処理後の薬液を重力、およ
び減圧、加圧のいずれかを利用して選択的に専用の回収
口に導入する機構を有することを特徴としている。
As shown in FIG. 1, the etching apparatus on which the present invention is based does not move the sample rotation mechanism 4 and the chemical solution supply nozzle 5 up and down, but instead moves the etching chamber dividing mechanism to the movable plate 7a. , 7b, and has a mechanism for collecting a chemical solution exclusively for each etching process. Further, another basic etching apparatus according to the present invention is characterized in that it has a mechanism for selectively introducing a chemical solution after the etching process to a dedicated recovery port using one of gravity, reduced pressure, and increased pressure. I have.

【005】[0056]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

実施例1 図1は本発明によるウエットエッチング装置1の一実施
例である。被ウエットエッチング材である半導体結晶ウ
エーハ2を回転ホルダ3に固定する。この固定法は機械
的、真空式等により行われる。回転ホルダ3は回転機構
部4によって低速から高速までの範囲を任意の回転数で
可変が可能である。この回転数は一般にウエットエッチ
ング中は低速で、また、試料の乾燥中は高速で運転され
る。試料の加工において薬液供給用ノズル5から半導体
結晶ウエーハ2上に任意の薬液が供給される。ここでは
各薬液毎の専用ノズルを束ねて薬液供給用ノズル5とし
てある。また、洗浄用の純水のノズルや乾燥用の窒素ガ
スのノズルもほぼ同じ位置に配置されているがこの図で
は省略した。図1の例は3種類の薬液に対応したエッチ
ング液回収室7、8、9がそれぞれ可動板7a−7b、
8a−8b、9a−9bと回転軸つば7c、8c、9c
によって構成されることを示している。このエッチング
液回収機構は使用薬液#1に対応して所定の可動板7a
−7bが回転機構部4の回転軸つば7cの近傍に向かっ
てせりだすことで構成される。薬液#2、#3の使用の
場合も同様である。使用したエッチング液は各薬液毎に
回収口7d、8d、9dから各薬液の循環系にもどされ
る。また、洗浄用の純水は排水口10dに流れる。回収
される薬液間と洗浄用の純水との混合を避けるためにシ
ャッタ板7s、8s、9sと7s’、8s’、9s’が
ある。試料のエッチングは所定のシーケンスに従って、
例えば薬液#1、薬液#2、薬液#3の順番に処理され
各薬液処理の後には純水洗浄と乾燥工程が行われる。本
発明の可動板の構成例を図3と図4に示す。図3は2枚
の可動板31,32のスライドによって回転軸39の近
傍に連結したエッチング液回収板の構成を上面(a)と
断面(b)で示す。連結板の孔38は回転軸39との接
触をさけるためにである。図4は6枚の回転板41’、
42’、43’、44’、45’、46’を用いて試料
回転軸49の近傍にエッチング液回収板を構成した例で
ある。エッチング液回収時には各回転板が軸zを中心に
試料回転軸49に向かって回転し隙間の無いエッチング
液回収板41、42、43、44、45、46を構成す
る。回転板を使った回収板の場合は、装置の小型化に効
果的であり、この数や形状が図4の例に限定されるもの
ではないことを付言する。
Embodiment 1 FIG. 1 shows an embodiment of a wet etching apparatus 1 according to the present invention. A semiconductor crystal wafer 2 which is a material to be wet-etched is fixed to a rotary holder 3. This fixing method is performed by a mechanical method, a vacuum method, or the like. The rotation mechanism 4 can change the range of the rotation holder 3 from low speed to high speed at an arbitrary rotation speed. The rotation speed is generally low during wet etching and high during drying of the sample. In processing the sample, an arbitrary chemical is supplied from the chemical supply nozzle 5 onto the semiconductor crystal wafer 2. Here, a dedicated nozzle for each chemical is bundled to form a chemical supply nozzle 5. Further, a nozzle for pure water for cleaning and a nozzle for nitrogen gas for drying are also arranged at substantially the same positions, but are omitted in this figure. In the example of FIG. 1, the etching liquid recovery chambers 7, 8, and 9 corresponding to three types of chemicals are movable plates 7a-7b, respectively.
8a-8b, 9a-9b and rotating shaft collars 7c, 8c, 9c
It is shown that it is constituted by. This etching liquid recovery mechanism is provided with a predetermined movable plate 7a corresponding to the used chemical liquid # 1.
-7b is protruded toward the vicinity of the rotating shaft collar 7c of the rotating mechanism 4. The same applies to the case of using the chemicals # 2 and # 3. The used etchant is returned to the circulation system of each chemical from the recovery ports 7d, 8d, and 9d for each chemical. The pure water for washing flows to the drain 10d. There are shutter plates 7s, 8s, 9s and 7s', 8s', 9s' in order to avoid mixing between the collected chemicals and pure water for cleaning. Sample etching is performed according to a predetermined sequence.
For example, the treatment is performed in the order of the chemical solution # 1, the chemical solution # 2, and the chemical solution # 3, and after each chemical solution treatment, a pure water washing and drying process is performed. 3 and 4 show configuration examples of the movable plate of the present invention. FIG. 3 shows the configuration of the etching liquid collecting plate connected to the vicinity of the rotating shaft 39 by sliding the two movable plates 31 and 32 by an upper surface (a) and a cross section (b). The hole 38 of the connecting plate is provided to avoid contact with the rotating shaft 39. FIG. 4 shows six rotating plates 41 ′,
This is an example in which an etchant recovery plate is formed in the vicinity of the sample rotation shaft 49 using 42 ′, 43 ′, 44 ′, 45 ′, and 46 ′. At the time of etching solution recovery, each rotating plate rotates around the axis z toward the sample rotation axis 49 to form the etching solution recovery plates 41, 42, 43, 44, 45, and 46 without gaps. In the case of a recovery plate using a rotating plate, it is effective to reduce the size of the apparatus, and the number and shape are not limited to the example of FIG.

【006】実施例2 図2は本発明によるウエットエッチング装置21の他の
実施例である。3種類のエッチング液に対応したエッチ
ング液の回収方式は実施例1で述べた基本構成と同一で
あるが、エッチング液回収室27、28、29のそれぞ
れの可動板27a−27b,28a−28b,29a−
29bの構造が異なる例を示す。本発明による可動板は
例えば図4に示した回転板で構成してある。各エッチン
グ液を回収する場合には、回転板が内側に向かって回転
し、組合わさって受け板を構成する。この受け板は水平
よりも図2の様に傾けてに置おくとエッチング液の回収
が完全になる。
Embodiment 2 FIG. 2 shows another embodiment of the wet etching apparatus 21 according to the present invention. The etching liquid collecting method corresponding to the three kinds of etching liquids is the same as the basic structure described in the first embodiment, but the movable plates 27a-27b, 28a-28b, 29a-
An example in which the structure of 29b is different will be described. The movable plate according to the present invention is constituted by, for example, the rotating plate shown in FIG. When collecting the respective etching liquids, the rotating plates rotate inward and combine to form a receiving plate. If the receiving plate is placed at an angle from the horizontal as shown in FIG. 2, the recovery of the etching solution is completed.

【007】実施例3 本発明によるウエットエッチング装置51の他の実施例
を述べる。図5は側面からみた装置の概念図であり、傾
斜した試料の配置が特徴である。半導体結晶ウエーハ5
2を回転ホルダ53に固定し、傾斜した回転機構部54
によって任意の回転をする。半導体結晶ウエーハ52表
面に装置の上部に設置して薬液供給用ノズル55から所
定の薬液を供給し、試料を回転させながらエッチング
し、エッチング液は所定の回収口で回収する。使用しな
い回収口はシャッタで閉じておく。この実施例ではエッ
チング液が重力、および減圧、加圧のいずれかの力を利
用して選択的に専用の回収口に導入している。洗浄用の
純水の排水口は図では省略したがエッチング液の回収口
の扱いと同様である。この構成によれば、回収のために
可動させる部分が少ないので故障しにくく、また装置の
小型化がより容易である。
Embodiment 3 Another embodiment of the wet etching apparatus 51 according to the present invention will be described. FIG. 5 is a conceptual diagram of the apparatus as viewed from the side, which is characterized by the arrangement of the inclined sample. Semiconductor crystal wafer 5
2 is fixed to the rotation holder 53, and the inclined rotation mechanism 54
Make any rotation by. A predetermined chemical solution is supplied from the chemical solution supply nozzle 55 to the surface of the semiconductor crystal wafer 52, and is etched while rotating the sample. The etchant is collected at a predetermined recovery port. Unused collection ports are closed with shutters. In this embodiment, the etchant is selectively introduced into a dedicated recovery port by using gravity and any one of pressure reduction and pressure. Although the drain port for pure water for cleaning is omitted in the figure, it is the same as the treatment of the recovery port for the etching solution. According to this configuration, there are few movable parts for recovery, so that it is hard to break down, and it is easier to reduce the size of the apparatus.

【008】実施例4 図6は本発明によるウエットエッチング装置61の他の
実施例である。実施例3に示したように傾斜した回転機
構部64により半導体結晶ウエーハ62表面を他種類の
薬液でエッチングする。薬液供給用ノズル65は図のよ
うに帯状の口も使われる。これで層流のエッチング液が
供給され加工の面内均一性が向上する。所定の薬液に対
して所定の回収口67dは装置の下部に配置する。これ
はエッチング液を重力で回収するためである。図の様に
回収口68dや回収口69dを使用する場合はこれらを
それぞれr1とr2に回転して、所定の位置に配置す
る。洗浄後の純水の排水口も同様である。この構成によ
れば、回収による液の混ざりがまったない。
Embodiment 4 FIG. 6 shows another embodiment of the wet etching apparatus 61 according to the present invention. As shown in the third embodiment, the surface of the semiconductor crystal wafer 62 is etched by another kind of chemical by the inclined rotating mechanism 64. As the chemical solution supply nozzle 65, a band-shaped mouth is used as shown in the figure. As a result, a laminar etching solution is supplied, and the in-plane uniformity of processing is improved. A predetermined recovery port 67d for a predetermined chemical solution is arranged at the lower part of the apparatus. This is to collect the etching solution by gravity. When using the recovery port 68d and the recovery port 69d as shown in the figure, these are rotated to r1 and r2, respectively, and arranged at predetermined positions. The same applies to the drain port of pure water after washing. According to this configuration, mixing of the liquids due to the collection does not occur.

【009】[0099]

【発明の効果】【The invention's effect】

(1)多機能のウエットエッチング装置が小型化できる
ようになった。 (2)本装置では回転機構部を上下に動かす必要が無い
ので低価格化できるようになった。 (3)本装置のエッチング液回収方式は構造が簡単なの
で故障が少なく保守が容易になった。 (4)本装置のエッチング液回収方式ではエッチング液
が混ざりにくくなった。
(1) The multifunctional wet etching apparatus can be reduced in size. (2) In this apparatus, it is not necessary to move the rotating mechanism up and down, so that the cost can be reduced. (3) Since the etching liquid recovery system of the present apparatus has a simple structure, it has few failures and is easy to maintain. (4) The etching liquid is not easily mixed with the etching liquid recovery system of the present apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例1の多機能のウエットエッチン
グ装置の主要構成図。
FIG. 1 is a main configuration diagram of a multifunctional wet etching apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施例2の多機能のウエットエッチン
グ装置の主要構成図。
FIG. 2 is a main configuration diagram of a multifunctional wet etching apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施例1と2に用いる可動板により連
結したエッチング液回収板の構成図。
FIG. 3 is a configuration diagram of an etching solution collecting plate connected by a movable plate used in Examples 1 and 2 of the present invention.

【図4】本発明の実施例1と2に用いる回転板により構
成したエッチング液回収板の構成図。
FIG. 4 is a configuration diagram of an etching solution recovery plate constituted by a rotating plate used in Embodiments 1 and 2 of the present invention.

【図5】本発明の実施例3の多機能のウエットエッチン
グ装置の主要構成図。
FIG. 5 is a main configuration diagram of a multifunctional wet etching apparatus according to a third embodiment of the present invention.

【図6】本発明の実施例4の多機能のウエットエッチン
グ装置の主要構成図。
FIG. 6 is a main configuration diagram of a multifunctional wet etching apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.

【図7】従来の多機能のウエットエッチング装置の主要
構成図。
FIG. 7 is a main configuration diagram of a conventional multifunctional wet etching apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、21、51、61、71…ウエットエッチング装置 2、22、52、62、72…試料 3、23、53、63、73…回転ホルダ 4、24、54、64、74…回転機構部 5、25、55、65、75…薬液供給用ノズル 7a−7b、8a−8b、9a−9b、27a−27
b、28a−28b、29a−29b、31、32…可
動板 41、41’、42、42’、43、43’、44、4
4’、45、45’、46、46’…回転板 7d、8d、9d、27d、28d、29d、57d、
58d、59d、67d、68d、69d…回収口。
1, 21, 51, 61, 71: wet etching apparatus 2, 22, 52, 62, 72: sample 3, 23, 53, 63, 73: rotation holder 4, 24, 54, 64, 74: rotation mechanism section 5 , 25, 55, 65, 75... Chemical solution supply nozzles 7a-7b, 8a-8b, 9a-9b, 27a-27
b, 28a-28b, 29a-29b, 31, 32 ... movable plate 41, 41 ', 42, 42', 43, 43 ', 44, 4
4 ', 45, 45', 46, 46 '... Rotating plate 7d, 8d, 9d, 27d, 28d, 29d, 57d,
58d, 59d, 67d, 68d, 69d ... collection ports.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 試料表面を薬液によって加工するウエッ
トエッチング装置において、2種類以上の薬液および薬
液と洗浄水が各々の薬液の回収において混合しないよう
に可動板によって回収用区分け領域部を構成したことを
特徴としたウエットエッチング装置。
In a wet etching apparatus for processing a sample surface with a chemical solution, a collection partition region is formed by a movable plate so that two or more types of chemical solutions and a chemical solution and cleaning water are not mixed in the recovery of each of the chemical solutions. Wet etching equipment characterized by the following.
【請求項2】 上記可動板は多数枚からなる回転板であ
り、これらの回転により回収用区分け領域部を構成した
ことを特徴とした請求項1記載のウエットエッチング装
置。
2. The wet etching apparatus according to claim 1, wherein the movable plate is a rotating plate composed of a large number of rotating plates, and the rotation of the movable plate constitutes a collecting section area.
【請求項3】 試料表面を薬液によって加工するウエッ
トエッチング装置において、2種類以上の薬液および薬
液と洗浄水が各々の薬液の回収において混合しないよう
に傾斜した回転機構部をもち、エッチング液を重力、お
よび減圧または加圧のいずれかの力を利用して選択的に
専用の回収口に導入する構成にしたことを特徴としたウ
エットエッチング装置。
3. A wet etching apparatus for processing a sample surface with a chemical solution, comprising a rotating mechanism portion inclined so that two or more types of chemical solutions and the chemical solution and the washing water are not mixed in the recovery of each of the chemical solutions. And a wet etching apparatus characterized in that it is selectively introduced into a dedicated recovery port by using any one of pressure reduction and pressure.
【請求項4】 試料表面を薬液によって加工するウエッ
トエッチング装置において、2種類以上の薬液および薬
液と洗浄水が各々の薬液の回収において混合しないよう
に傾斜した回転機構部をもち、エッチング液を重力の力
を利用して選択的に専用の回収口に導入するため、上記
専用の回収口が薬液の種類に対応して装置の下部に回転
して配置された構成をもつことを特徴としたウエットエ
ッチング装置。
4. A wet etching apparatus for processing a sample surface with a chemical solution, comprising a rotary mechanism that is inclined so that two or more types of chemical solutions and a chemical solution and cleaning water do not mix in the recovery of each of the chemical solutions. Wet characterized by having a configuration in which the dedicated collection port is rotated and arranged at the lower part of the device in accordance with the type of the chemical solution to selectively introduce it into the dedicated collection port using the force of Etching equipment.
JP23761597A 1997-07-30 1997-07-30 Wet etching device Pending JPH1154475A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002329705A (en) * 2001-04-26 2002-11-15 Shibaura Mechatronics Corp Spin treatment unit
JP2003297801A (en) * 2002-03-28 2003-10-17 Shibaura Mechatronics Corp Spinning device
KR101495248B1 (en) * 2007-08-30 2015-02-24 주식회사 케이씨텍 Wet processing apparatus

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