JPH1151999A - Inspection device for printed wiring board, plate-like inspection jig, and inspection method - Google Patents

Inspection device for printed wiring board, plate-like inspection jig, and inspection method

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Publication number
JPH1151999A
JPH1151999A JP9220786A JP22078697A JPH1151999A JP H1151999 A JPH1151999 A JP H1151999A JP 9220786 A JP9220786 A JP 9220786A JP 22078697 A JP22078697 A JP 22078697A JP H1151999 A JPH1151999 A JP H1151999A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
printed wiring
wiring board
plate
positioning
Prior art date
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Pending
Application number
JP9220786A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideo Okamoto
秀男 岡本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MOZU DENSHI KOGYO KK
Original Assignee
MOZU DENSHI KOGYO KK
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Filing date
Publication date
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Priority to JP9220786A priority Critical patent/JPH1151999A/en
Publication of JPH1151999A publication Critical patent/JPH1151999A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To conduct sure inspection by guiding an inspection probe to an inspecting contact point with high precision, and to extremely easily and inexpensively inspect a multi-preparation substrate. SOLUTION: This device is provided with a plate-like inspection jig 34 having a substrate holding region for holding integrally a printed wiring board 41 and a substrate positioning region arranged in a periphery of the holding region, and a positioning means 38 arranged in an inspection table or the positioning region to position the inspection jig 34 in a prescribed position on the inspection table, and is constituted to position the printed wiring board 41 in a prescribed inspecting position of the inspection table via the plate-like inspection jig 34.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、プリント配線基
板の検査装置、プレート状検査治具及び検査方法に関す
る。詳しくは、プリント配線基板を所定の検査位置に位
置決めするとともに、検査プローブをプリント配線基板
の検査接点に精度高く導いて、検査作業を精度高くかつ
迅速に行うことのできるプリント配線基板の検査装置、
プレート状検査治具及び検査方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board inspection apparatus, a plate-shaped inspection jig, and an inspection method. More specifically, a printed wiring board inspection apparatus capable of positioning a printed wiring board at a predetermined inspection position, guiding an inspection probe to an inspection contact of the printed wiring board with high accuracy, and performing inspection work with high accuracy and speed.
The present invention relates to a plate-shaped inspection jig and an inspection method.

【0002】[0002]

【従来の技術】種々の電子機器に採用されているプリン
ト配線基板は、絶縁基板の表面あるいは内部に回路パタ
ーンを形成して構成されており、表面に設けた接続端子
に半導体等の電子部品を搭載して電子装置を構成する。
2. Description of the Related Art A printed wiring board employed in various electronic devices is formed by forming a circuit pattern on or inside an insulating substrate, and electronic components such as semiconductors are connected to connection terminals provided on the surface. The electronic device is configured by mounting.

【0003】近年、製品の小型化の進展にともなって、
電子部品の高密度実装技術が製品開発に大きな影響を及
ぼすようになってきた。すなわち、ベアチップを多層配
線基板上に直接接続したMCM(マルチ・チップ・モジ
ュール)等の採用によって、プリント配線基板に搭載さ
れる電子部品の実装密度が高くなるとともに、各電子部
品の接続端子間隔が小さくなり、それに応じて基板上に
形成される導体パターンの間隔も小さくなっている。
In recent years, with the progress of miniaturization of products,
2. Description of the Related Art High-density packaging technology for electronic components has had a great influence on product development. That is, by using an MCM (multi-chip module) or the like in which bare chips are directly connected on a multilayer wiring board, the mounting density of electronic components mounted on the printed wiring board is increased, and the connection terminal interval of each electronic component is reduced. The distance between the conductor patterns formed on the substrate has been reduced accordingly.

【0004】このようなプリント配線基板における導電
パターン等の接続不良を検査するために、たとえば、特
開平4─95881号公報に記載されているような検査
装置が用いられる。この検査装置は、プリント配線基板
の接続端子やスルーホールにスプリング付の検査プロー
ブを接触させて、電気的に導電パターンの接続状態を検
出するように構成されており、検査接点に対応する多数
の検査プローブを精度高く配列した検査ヘッドを備えて
構成されている。
[0004] In order to inspect a connection failure of a conductive pattern or the like on such a printed wiring board, for example, an inspection apparatus as described in JP-A-4-95881 is used. This inspection device is configured so that the inspection probe with a spring is brought into contact with the connection terminal or through hole of the printed wiring board to electrically detect the connection state of the conductive pattern. It is provided with an inspection head in which inspection probes are arranged with high accuracy.

【0005】上記のようなプリント配線基板の検査装置
においては、検査プローブが基板上の検査接点に正確に
接触しなければならない。このため、上記公報に記載さ
れている検査装置においては、検査対象であるプリント
配線基板の位置決め精度及び検査ヘッドの位置決め精度
を高める種々の手法が採用されている。
In the above-described inspection apparatus for a printed wiring board, an inspection probe must accurately contact an inspection contact on the board. For this reason, in the inspection apparatus described in the above publication, various methods for improving the positioning accuracy of the printed wiring board to be inspected and the positioning accuracy of the inspection head are adopted.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】従来の検査装置におい
ては、プリント配線基板に直接位置決め孔を形成すると
ともに検査テーブル上の所定位置に位置決めピンを設
け、上記位置決め孔に上記位置決めピンを係入させるこ
とにより、プリント配線基板を検査テーブル上に位置決
めして検査を行っていた。
In a conventional inspection apparatus, a positioning hole is formed directly on a printed wiring board, a positioning pin is provided at a predetermined position on an inspection table, and the positioning pin is engaged with the positioning hole. As a result, the printed wiring board is positioned on the inspection table to perform the inspection.

【0007】ところが、導電パターンによっては、プリ
ント配線基板上に位置決めピンを係入させる位置決め孔
を設けることができない場合がある。特に、製造コスト
を低減させるには、基板の縁部にまで隙間なく導電パタ
ーンを形成して基板を有効利用する必要があり、検査用
の位置決め孔を基板上の都合のよい位置に設けることが
できない場合も多い。
However, depending on the conductive pattern, it may not be possible to provide a positioning hole for engaging a positioning pin on the printed wiring board. In particular, in order to reduce the manufacturing cost, it is necessary to form a conductive pattern without any gaps up to the edge of the substrate to effectively use the substrate, and to provide a positioning hole for inspection at a convenient position on the substrate. Often not.

【0008】このような場合、プリント配線基板のエッ
ジを利用してテーブル上に位置決めすることが多いが、
プリント配線基板の外形精度が高いとは限らない。ま
た、それぞれのプリント配線基板に対応した位置決め装
置を設ける必要が生じ、検査装置のコストが増加する。
In such a case, the edge of the printed wiring board is often used for positioning on the table.
The external accuracy of the printed wiring board is not always high. In addition, it becomes necessary to provide a positioning device corresponding to each printed wiring board, which increases the cost of the inspection device.

【0009】また、電子部品の実装密度が高まるととも
に、接触プローブを接触させる端子数も激増しており、
その分極めて小さな間隔で多数の接触プローブを設けな
ければならない。ところが、多数の接触プローブを検査
ヘッドに植設する精度にも限度がある。また、多数の接
触プローブのうちの一つの接触プローブが何らかの理由
で少しでも撓むと、検査を行なえなくなってしまう。
In addition, as the mounting density of electronic parts has increased, the number of terminals with which contact probes have come into contact has increased dramatically.
Accordingly, a large number of contact probes must be provided at extremely small intervals. However, the accuracy of implanting a large number of contact probes in the inspection head is also limited. Further, if one of the many contact probes is slightly bent for some reason, the inspection cannot be performed.

【0010】また、近年、プリント配線基板が組み込ま
れる製品のライフサイクルが短くなり、多品種少量生産
に対応しなければならなくなった。一方、上記公報に記
載されている検査装置は、多数のプリント配線基板を自
動的に検査装置に搬送して検査を行うことを目的として
おり、昇降装置等の検査装置自体の精度が確保されてい
ることを前提としている。このため、検査装置自体が高
価となり、上記のような検査装置で多品種少量のプリン
ト配線基板を検査するのはコスト的に見合わない。
In recent years, the life cycle of a product in which a printed wiring board is incorporated has been shortened, and it has been necessary to cope with high-mix low-volume production. On the other hand, the inspection device described in the above publication aims to automatically transport a large number of printed wiring boards to the inspection device and perform inspection, and the accuracy of the inspection device itself such as a lifting device is secured. It is assumed that For this reason, the inspection apparatus itself becomes expensive, and it is not cost-effective to inspect a small variety of printed wiring boards with the above-described inspection apparatus.

【0011】さらに、多品種少量生産に対応するととも
に製造効率を高めるため、複数の電子装置に対応する導
電パターンを一つの基板に形成した、いわゆる多数個取
りのプリント配線基板が制作されることが多くなった。
このような多数個取り基板には、数個から数十個の電子
装置に対応する導電パターンが形成されており、一度に
検査を行うには、検査装置の検査ヘッドにこれら導電パ
ターンに対応する極めて多数の接触プローブを植設しな
ければならない。このため、多数の接触プローブを高い
精度で配列しなければならなくなり、検査装置が極めて
高価になる。この結果、製造数量の少ないプリント配線
基板には対応することができない。
Further, in order to cope with high-mix low-volume production and to increase the production efficiency, a so-called multi-cavity printed wiring board, in which conductive patterns corresponding to a plurality of electronic devices are formed on one substrate, is sometimes manufactured. More.
On such a multi-cavity substrate, conductive patterns corresponding to several to several tens of electronic devices are formed. To perform inspection at a time, an inspection head of an inspection device corresponds to these conductive patterns. A very large number of contact probes must be implanted. For this reason, a large number of contact probes must be arranged with high accuracy, and the inspection apparatus becomes extremely expensive. As a result, it is not possible to cope with a printed wiring board whose production quantity is small.

【0012】本願発明は、上述の事情のもとで考え出さ
れたものであって、上記従来の問題を解決し、検査プロ
ーブを精度高く検査接点に導いて確実な検査を行えると
ともに、多数個取り基板の検査を極めて簡単にかつ低コ
ストでを行うことができるプリント配線基板の検査装
置、プレート状検査治具及び検査方法を提供することを
その課題とする。
The present invention has been conceived in view of the above-mentioned circumstances, and solves the above-mentioned conventional problems. The present invention can lead a test probe to a test contact with high accuracy to perform a reliable test. It is an object of the present invention to provide a printed wiring board inspection apparatus, a plate-shaped inspection jig, and an inspection method that can perform inspection of a take-out board extremely easily and at low cost.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本願発明では、次の技術的手段を講じている。
Means for Solving the Problems To solve the above problems, the present invention takes the following technical means.

【0014】本願の請求項1に記載した発明は、所定の
検査位置にプリント配線基板を位置決め保持できる検査
テーブルと、検査プローブを上記プリント配線基板に対
して接触離間可能に保持する検査ヘッドとを備えるプリ
ント配線基板の検査装置であって、上記プリント配線基
板を一体的に保持する基板保持領域とこの基板保持領域
の周囲に配置される基板位置決め領域とを備えるプレー
ト状検査治具と、上記検査テーブルないし上記基板位置
決め領域に設けられ、上記プレート状検査治具を検査テ
ーブルの所定位置に位置決めできる位置決め手段とを備
え、上記プリント配線基板を上記プレート状検査治具を
介して上記検査テーブルの所定の検査位置に位置決めす
るように構成したことを特徴とする。
The invention described in claim 1 of the present application comprises an inspection table capable of positioning and holding a printed wiring board at a predetermined inspection position, and an inspection head for holding an inspection probe so as to be able to contact and separate from the printed wiring board. An inspection device for a printed wiring board, comprising: a plate-shaped inspection jig including a substrate holding area for integrally holding the printed wiring board and a substrate positioning area disposed around the substrate holding area; A positioning means provided in the table or the substrate positioning area and capable of positioning the plate-shaped inspection jig at a predetermined position on the inspection table; and positioning the printed wiring board on the inspection table via the plate-shaped inspection jig. Is characterized in that it is positioned at the inspection position.

【0015】本願発明は、プレート状検査治具を介して
プリント配線基板を検査テーブルに位置決めして検査を
行うことを特徴とするものである。
The present invention is characterized in that the printed wiring board is positioned on an inspection table via a plate-shaped inspection jig for inspection.

【0016】プレート状検査治具は、ポリカーボネート
等の樹脂製プレートあるいは金属製プレートを利用して
形成できるため、極めて安価に製作できる。
Since the plate-shaped inspection jig can be formed by using a resin plate or a metal plate made of polycarbonate or the like, it can be manufactured at extremely low cost.

【0017】しかも、本願発明に係るプレート状検査治
具は、プリント配線基板を一体的に保持するとともに、
プリント配線基板を検査テーブル上の所定位置に位置決
めするための位置決め手段を備えている。
Further, the plate-shaped inspection jig according to the present invention holds the printed wiring board integrally,
Positioning means for positioning the printed wiring board at a predetermined position on the inspection table is provided.

【0018】すなわち、プリント配線基板が上記基板保
持領域に一体的に保持された状態で検査テーブルに載置
され、上記基板位置決め領域に設けた位置決め手段によ
って上記プレート状検査治具と一体的に所定位置に位置
決めされる。
That is, the printed wiring board is placed on the inspection table while being held integrally with the board holding area, and is fixed to the plate-shaped inspection jig by the positioning means provided in the board positioning area. Positioned in position.

【0019】上記位置決め手段として種々のものを採用
することができる。たとえば、請求項5に記載した発明
のように、従来から採用されている構成の位置決めピン
を検査テーブル上に設けるとともに、基板位置決め領域
に上記位置決めピンに係合する位置決め孔を設けること
もできる。
Various means can be employed as the positioning means. For example, as in the invention described in claim 5, it is also possible to provide a positioning pin having a conventionally employed configuration on an inspection table and to provide a positioning hole for engaging with the positioning pin in a substrate positioning area.

【0020】また、光学的位置決めマークを基板位置決
め領域に形成するとともに、X−Yテーブル等を用いて
この位置決めマークを基準にプリント配線基板を自動的
に位置決めすることもできる。さらに、プレート状検査
治具に位置決め用の突起を設ける一方、検査テーブルに
この位置決め突起が係入する位置決め孔を設けることも
できる。
In addition, an optical positioning mark can be formed in the substrate positioning area, and the printed wiring board can be automatically positioned based on the positioning mark using an XY table or the like. Further, while positioning projections are provided on the plate-shaped inspection jig, positioning holes into which the positioning projections engage can be provided on the inspection table.

【0021】上記基板位置決め領域を設けることによ
り、検査しようとするプリント配線基板の大きさ、形
状、導電パターン等に左右されることなく、検査を行う
のに最も都合のよい位置に、位置決め孔等の位置決め手
段を設けることができる。しかも、位置決め手段の大き
さ、形状的な制限がほとんどない。このため、プリント
配線基板を、所定の検査位置に精度高く位置決めするこ
とが可能となる。
By providing the above-mentioned substrate positioning area, positioning holes and the like are provided at the most convenient positions for inspection without being affected by the size, shape, conductive pattern, etc. of the printed wiring board to be inspected. Can be provided. In addition, there are almost no restrictions on the size and shape of the positioning means. For this reason, it is possible to accurately position the printed wiring board at a predetermined inspection position.

【0022】プリント配線基板をプレート状検査治具に
一体的に保持させる手段として種々のものを採用でき
る。たとえば、上記プリント配線基板に積層貼着するこ
とにより、プリント配線基板を保持するように構成する
ことができる。この場合、粘着テープを用いてプリント
配線基板を保持させることができる。また、両面粘着テ
ープを利用することもできる。さらに、基板保持領域に
あらかじめ粘着材を塗着しておいてもよい。
Various means can be employed as means for integrally holding the printed wiring board on the plate-shaped inspection jig. For example, the printed wiring board can be configured to be held by laminating the printed wiring board. In this case, the printed wiring board can be held using the adhesive tape. Also, a double-sided adhesive tape can be used. Further, an adhesive may be applied to the substrate holding region in advance.

【0023】また、請求項2に記載した発明のように、
上記プレート状検査治具に、上記プリント配線基板を挟
むようにして配置されるとともに配線パターン及び/又
は搭載された電子部品を保護する補助プレートを設ける
ことができる。すなわち、プリント配線基板をプレート
状検査治具と補助プレートとの間に挟み込むようにして
保持するように構成するのである。
Also, as in the invention described in claim 2,
The plate-shaped inspection jig may be provided with an auxiliary plate that is arranged so as to sandwich the printed wiring board and that protects a wiring pattern and / or mounted electronic components. That is, the printed wiring board is configured to be held between the plate-like inspection jig and the auxiliary plate so as to be sandwiched therebetween.

【0024】上記補助プレートは、上記プレート状検査
治具と同様の方法でプリント配線基板に貼着等すること
ができる。また、補助プレートとプレート状検査治具と
を一体的に形成することもできる。
The auxiliary plate can be attached to a printed wiring board in the same manner as the plate-like inspection jig. Further, the auxiliary plate and the plate-shaped inspection jig can be formed integrally.

【0025】本願発明に係る検査装置においては、プレ
ート状検査治具及び/又は補助プレートと、プリント配
線基板とが検査前にあらかじめ一体的に接合される。こ
れらは、プリント配線基板上の導電パターン等を利用す
るとともに顕微鏡等を用いて、迅速にかつ精度高く接合
することができる。また、検査テーブルから離れた場所
でこれらの接合作業を行うことができるため、プレート
状検査治具を複数用意することにより、多数のプリント
配線基板を連続的に検査することもできる。
In the inspection apparatus according to the present invention, the plate-like inspection jig and / or the auxiliary plate and the printed wiring board are integrally joined in advance before the inspection. These can be quickly and accurately joined using a conductive pattern or the like on a printed wiring board and using a microscope or the like. Further, since these joining operations can be performed at a place away from the inspection table, a large number of printed wiring boards can be inspected continuously by preparing a plurality of plate-shaped inspection jigs.

【0026】また、プレート状検査治具は、プリント配
線基板の少なくとも片面に積層貼着されてプリント配線
基板を保持するように構成できる。上記プレート状検査
治具は上記プリント配線基板と一体化され、プリント配
線基板とともに搬送され、検査テーブル上の所定の検査
位置に位置決めされる。
Further, the plate-shaped inspection jig can be configured to be laminated and attached to at least one surface of the printed wiring board to hold the printed wiring board. The plate-shaped inspection jig is integrated with the printed wiring board, transported together with the printed wiring board, and positioned at a predetermined inspection position on an inspection table.

【0027】プレート状検査治具及び補助プレートをプ
リント配線基板に積層貼着することにより、基板を取り
扱う場合に、プリント配線基板及び表面の導電パターン
を保護する効果を期待できる。また、基板の表面全域に
導電パターンが形成されていても、導電パターンに手指
が触れることもなくなる。このため、基板の取り扱いが
容易になる。特に、柔軟性のあるフレキシブルプリント
配線基板や損傷しやすいセラミック基板においては高い
効果を期待できる。
By laminating and attaching the plate-like inspection jig and the auxiliary plate to the printed wiring board, an effect of protecting the printed wiring board and the conductive pattern on the surface can be expected when handling the board. Further, even when the conductive pattern is formed on the entire surface of the substrate, the finger does not touch the conductive pattern. Therefore, handling of the substrate becomes easy. In particular, a high effect can be expected on a flexible printed wiring board having flexibility and a ceramic substrate which is easily damaged.

【0028】プレート状検査治具は、プリント配線基板
の少なくとも片面に設ければよい。位置決め領域に設け
た位置決め手段によってプリント配線基板を精度高く位
置決めできればよいからである。なお、プレート状検査
治具の強度等を補う必要等があれば、プリント配線基板
の両面にプレート状検査治具を設けることができる。
The plate-like inspection jig may be provided on at least one side of the printed wiring board. This is because the printed circuit board may be positioned with high accuracy by the positioning means provided in the positioning area. If it is necessary to supplement the strength or the like of the plate-shaped inspection jig, plate-shaped inspection jigs can be provided on both sides of the printed wiring board.

【0029】また、請求項3に記載した発明のように、
基板保持領域に各検査プローブをプリント配線基板の検
査接点に誘導案内するプローブ案内孔を形成することが
できる。このプローブ案内孔は、プリント配線基板の検
査接点に応じて基板保持領域に設けられ、各接触プロー
ブを通挿案内できる形状寸法に形成される。たとえば、
検査プローブの外形より若干大きな直径の円孔を形成す
ることができる。上記円孔の寸法精度及び配列精度を確
保することにより、検査プローブを検査接点に精度高く
確実に誘導案内することができる。
Also, as in the invention described in claim 3,
A probe guide hole for guiding each test probe to a test contact of the printed wiring board can be formed in the board holding area. The probe guide hole is provided in the substrate holding area in accordance with the inspection contact of the printed wiring board, and is formed to have a shape and a size that allows each contact probe to be inserted and guided. For example,
A circular hole having a diameter slightly larger than the outer shape of the inspection probe can be formed. By ensuring the dimensional accuracy and the arrangement accuracy of the circular holes, the inspection probe can be accurately guided and guided to the inspection contact with high accuracy.

【0030】しかも、検査中にプリント配線基板等から
検査プローブに不用意な力が作用するのを防止し、検査
プローブの撓み等を防止して確実な検査を行うことがで
きる。また、検査プローブを損傷等から保護できるた
め、検査装置の寿命延長にもつながる。
In addition, it is possible to prevent an inadvertent force from being applied to the inspection probe from the printed wiring board or the like during the inspection, and prevent the inspection probe from being bent, thereby performing a reliable inspection. Further, since the inspection probe can be protected from damage or the like, the life of the inspection device can be extended.

【0031】さらに、上記プローブ案内孔によって、プ
リント配線基板の所定の検査接点まで検査プローブの先
端を確実に導くことができるため、上記検査プローブの
配列精度あるいは検査ヘッドの案内精度が多少低下して
も検査を行うことが可能となる。このため、検査装置に
高い精度が要求されることがなくなり、検査装置の製造
コストを低減させることも可能となる。
Further, since the tip of the inspection probe can be reliably guided to a predetermined inspection contact point of the printed wiring board by the probe guide hole, the arrangement accuracy of the inspection probe or the guidance accuracy of the inspection head is slightly reduced. Can also be inspected. Therefore, high accuracy is not required for the inspection device, and the manufacturing cost of the inspection device can be reduced.

【0032】請求項4に記載した発明は、上記プレート
状検査治具及び/又は補助プレートに、プリント配線基
板に搭載された電子部品との干渉を避ける切欠き部を形
成したものである。プリント配線基板に一部の電子部品
を搭載した半完成品、あるいは全ての電子部品を搭載し
た完成品の検査に対応したものである。上記切欠き部を
形成することにより、検査中に電子部品が損傷を受ける
ことがなくなり、基板の取り扱いが容易になるととも
に、製品の歩留りが向上する。上記切欠き部の形状は特
に限定されることはなく、搭載部品を収容できる凹部
や、穴部を形成すればよい。
According to a fourth aspect of the present invention, the plate-shaped inspection jig and / or the auxiliary plate are formed with a notch for preventing interference with an electronic component mounted on a printed wiring board. It corresponds to inspection of a semi-finished product in which some electronic components are mounted on a printed wiring board, or a finished product in which all electronic components are mounted. By forming the notch, the electronic component is not damaged during the inspection, the handling of the substrate is facilitated, and the yield of the product is improved. The shape of the notch is not particularly limited, and a recess or a hole that can accommodate a mounted component may be formed.

【0033】本願の請求項5に記載した発明は、上記位
置決め手段が、上記検査テーブルに設けた位置決めピン
と、上記基板位置決め領域に形成されて上記位置決めピ
ンが係入させられる位置決め孔とを備えて構成されるも
のである。
According to a fifth aspect of the present invention, the positioning means includes a positioning pin provided on the inspection table, and a positioning hole formed in the substrate positioning area and into which the positioning pin is engaged. It is composed.

【0034】上記位置決め孔は、基板保持領域の周囲に
設けられた位置決め領域に形成される。このため、プリ
ント配線基板の大きさ、形状、導電パターン等に左右さ
れることなく、位置決め孔を最適な位置に精度高く形成
することができる。
The positioning hole is formed in a positioning area provided around the substrate holding area. For this reason, the positioning holes can be accurately formed at the optimum positions without being affected by the size, shape, conductive pattern, and the like of the printed wiring board.

【0035】また、位置決め孔を形成するためのスペー
スを充分に確保できるため、複数の位置決めピン及び位
置決め孔を形成して、プリント配線基板を精度高く位置
決めすることもできる。
In addition, since a sufficient space for forming the positioning holes can be secured, a plurality of positioning pins and positioning holes can be formed to accurately position the printed wiring board.

【0036】本願の請求項6に記載した発明は、複数の
電子装置に対応する複数の検査領域を備えるプリント配
線基板の検査を行うプリント配線基板の検査装置であっ
て、上記検査ヘッドが、一つの検査領域に対応する検査
プローブを備える一方、上記位置決め手段は、上記プリ
ント配線基板を、上記各検査領域が上記検査プローブに
対向する複数の検査位置に、順次位置決めして検査を行
うように構成されているものである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a printed wiring board inspection apparatus for inspecting a printed wiring board having a plurality of inspection areas corresponding to a plurality of electronic devices, wherein the inspection head comprises one The inspection device includes an inspection probe corresponding to one inspection region, and the positioning unit is configured to perform the inspection by sequentially positioning the printed wiring board at a plurality of inspection positions where each of the inspection regions faces the inspection probe. Is what is being done.

【0037】本願発明は、一つのプリント配線基板に複
数の電子装置に対応した導電パターンを形成した、いわ
ゆる多数個取りのプリント配線基板に対応したものであ
る。
The present invention corresponds to a so-called multi-cavity printed wiring board in which conductive patterns corresponding to a plurality of electronic devices are formed on one printed wiring board.

【0038】従来は、複数の導電パターンの全てに対応
する検査プローブを備える検査ヘッドを用いて、上記複
数の電子装置に対応する多数個取り基板の検査を一度に
行っていた。このため、検査ヘッドに極めて多数の検査
プローブを設ける必要があった。また、各検査領域の良
否を判断するため回路等も、各検査領域の数だけ必要で
あった。この結果、検査ヘッドや案内装置に高い精度が
要求されて検査装置が極めて高価になり、少量生産され
る電子装置用のプリント配線基板には対応することがで
きなかった。
Conventionally, a multi-chip substrate corresponding to the plurality of electronic devices has been inspected at once by using an inspection head provided with inspection probes corresponding to all of the plurality of conductive patterns. For this reason, it was necessary to provide an extremely large number of inspection probes in the inspection head. Also, circuits and the like for judging pass / fail of each inspection area are required by the number of each inspection area. As a result, a high precision is required for the inspection head and the guide device, and the inspection device becomes extremely expensive, and cannot be applied to a printed wiring board for an electronic device which is manufactured in a small quantity.

【0039】本願発明は、プレート状検査治具を用いる
ことにより、各電子装置に対応する検査領域を検査位置
に順次位置決めすることにより、一つの電子装置に対応
する検査ヘッドを備える検査装置によって、多数個取り
基板を検査できるように構成したものである。
According to the present invention, by using a plate-shaped inspection jig, an inspection area corresponding to each electronic device is sequentially positioned at an inspection position. It is configured so that a multi-piece substrate can be inspected.

【0040】本願発明に係る検査装置においては、プレ
ート状検査治具の位置決め領域に、上記複数の電子装置
に対応する検査領域を検査テーブルの所定の検査位置に
順次位置決めできる位置決め手段が設けられる。すなわ
ち、この位置決め手段によって、プリント配線基板を、
検査テーブル上で複数の位置に位置決めして検査を行う
のである。
In the inspection apparatus according to the present invention, positioning means for sequentially positioning the inspection areas corresponding to the plurality of electronic devices at predetermined inspection positions on the inspection table are provided in the positioning area of the plate-shaped inspection jig. That is, by this positioning means, the printed wiring board is
The inspection is performed at a plurality of positions on the inspection table.

【0041】上記プレート状検査治具の位置決め作業
は、作業者が手を用いて直接行うこともできるし、ステ
ッピングモータ等を用いて自動的に行うこともできる。
The work of positioning the plate-shaped inspection jig can be performed directly by an operator using hands, or can be automatically performed using a stepping motor or the like.

【0042】上記構成によって、検査装置のコストを大
幅に低減させることができるとともに、検査精度を確保
することが可能となる。また、プレート状検査治具を変
更するだけで種々のプリント配線基板の検査を行うこと
が可能となり、多品種少量生産されるプリント配線基板
の検査に対応することも可能となる。
With the above configuration, the cost of the inspection apparatus can be significantly reduced, and the inspection accuracy can be ensured. In addition, various printed wiring boards can be inspected only by changing the plate-shaped inspection jig, so that it is possible to cope with the inspection of printed wiring boards that are produced in various types and in small quantities.

【0043】上記多数個取りプリント配線基板を位置決
めする位置決め手段として、請求項7に記載した発明の
ように、上記位置決め手段を、上記検査テーブルに設け
た位置決めピンと、プリント配線基板の上記各検査領域
に対応して上記基板位置決め領域に設けた複数組の位置
決め孔とを備えて構成し、上記位置決めピンを上記位置
決め孔に順次係入させることにより、プレート状検査治
具を介してプリント配線基板の各検査領域を所定の検査
位置に順次位置決めできるように構成することができ
る。
As the positioning means for positioning the multi-cavity printed wiring board, the positioning means may include a positioning pin provided on the inspection table and the inspection area of the printed wiring board. And a plurality of sets of positioning holes provided in the substrate positioning area corresponding to the above, and by sequentially engaging the positioning pins with the positioning holes, the printed wiring board is connected via a plate-shaped inspection jig. Each inspection area can be configured to be sequentially positioned at a predetermined inspection position.

【0044】本願発明に係るプレート状検査治具におい
ては、位置決め孔を形成するための領域に制限がほとん
どないため、複数の検査領域に対応する多数の位置決め
孔を形成しても問題が生じることはない。
In the plate-shaped inspection jig according to the present invention, since there is almost no restriction on the area for forming the positioning holes, a problem may occur even if a large number of positioning holes corresponding to a plurality of inspection areas are formed. There is no.

【0045】本願の請求項8に記載した発明は、両面に
検査領域を備えるプリント配線基板の検査を行うプリン
ト配線基板の検査装置であって、検査テーブルに位置決
め保持されるプリント配線基板を挟むようにして配置さ
れる一対の検査ヘッドを設けたものである。
The invention described in claim 8 of the present application is a printed wiring board inspection apparatus for inspecting a printed wiring board having inspection areas on both sides, wherein the printed wiring board positioned and held on an inspection table is sandwiched. It is provided with a pair of inspection heads to be arranged.

【0046】両面に検査接点を備えるプリント配線基板
に対応したものであり、基板の両側に電子部品を装着す
るプリント配線基板等の検査を容易に行うことができ
る。
The present invention is compatible with a printed wiring board having inspection contacts on both sides, and can easily inspect a printed wiring board having electronic components mounted on both sides of the board.

【0047】本願の請求項9に記載した発明は、検査位
置に位置決めされたプリント配線基板の検査領域を識別
する検査領域識別手段を設けたものである。
According to a ninth aspect of the present invention, an inspection area identifying means for identifying an inspection area of a printed wiring board positioned at an inspection position is provided.

【0048】多数個取りのプリント配線基板を検査する
場合、電子装置に対応する導電パターンの数が多くなる
と、どの検査領域を検査しているかを識別するのが困難
になる場合がある。
When inspecting a multi-piece printed wiring board, if the number of conductive patterns corresponding to the electronic device increases, it may be difficult to identify which inspection area is being inspected.

【0049】本願発明は、このような場合に対応したも
のであり、検査している導電パターンを容易に認識し
て、不良な導電パターンを容易に識別できるように構成
したものである。
The present invention is adapted to such a case, and is configured so that a conductive pattern to be inspected can be easily recognized and a defective conductive pattern can be easily identified.

【0050】上記検査領域識別手段として、たとえば、
基板保持領域の周囲に設けられる位置決め領域の一部に
上記各検査領域に対応する識別孔を形成し、対応する検
査領域が検査テーブルの検査位置に位置決めされたと
き、上記識別孔の下方に設けた光源から光を照射するよ
うに構成することができる。
As the inspection area identification means, for example,
An identification hole corresponding to each of the inspection areas is formed in a part of a positioning area provided around the substrate holding area, and provided below the identification hole when the corresponding inspection area is positioned at the inspection position of the inspection table. The light source can emit light from the light source.

【0051】また、各検査領域に対応する識別標識を位
置決め領域等に設けておき、この識別標識を光学的認識
装置によって識別させてどの検査領域の検査を行ってい
るかを表示するシステムを構成することもできる。
Also, an identification mark corresponding to each inspection area is provided in a positioning area or the like, and the identification mark is identified by an optical recognition device so as to constitute a system for displaying which inspection area is being inspected. You can also.

【0052】本願の請求項10に記載した発明は、検査
テーブル上でプリント配線基板を所定の検査位置に位置
決めするためのプレート状検査治具に係る発明であっ
て、上記プリント配線基板を一体的に保持する基板保持
領域と、上記基板保持領域の周囲に配置された基板位置
決め領域とを備え、上記基板位置決め領域に、上記検査
テーブルに設けた位置決め手段と共働して、プリント配
線基板を所定の検査位置に位置決めする位置決め手段を
設けたことを特徴とする。
The invention according to claim 10 of the present application relates to a plate-like inspection jig for positioning a printed wiring board at a predetermined inspection position on an inspection table, wherein the printed wiring board is integrated. And a substrate positioning area disposed around the substrate holding area. The printed circuit board is positioned in the substrate positioning area in cooperation with positioning means provided on the inspection table. And a positioning means for positioning at the inspection position.

【0053】本願の請求項11に記載した発明は、上記
プレート状検査治具に、プリント配線基板を挟むように
して配置されるとともに配線パターン及び/又は搭載さ
れた電子部品を保護する補助プレートを設けたものであ
る。
According to the invention described in claim 11 of the present application, the plate-shaped inspection jig is provided with an auxiliary plate which is arranged so as to sandwich the printed wiring board and protects the wiring pattern and / or the mounted electronic components. Things.

【0054】上記補助プレートは、上記プレート状検査
治具と別体に形成して、プリント配線基板に積層して一
体化されるように構成することができる。また、プレー
ト状検査治具と補助プレートの縁部を互いに回動可能に
接合して一体的に形成し、プリント配線基板を挟み込む
ようにして保持させることもできる。
The auxiliary plate can be formed separately from the plate-shaped inspection jig, and can be configured to be laminated and integrated on a printed wiring board. Alternatively, the edge of the plate-shaped inspection jig and the edge of the auxiliary plate may be integrally formed by being rotatably joined to each other, and may be held so as to sandwich the printed wiring board.

【0055】本願の請求項12に記載した発明は、上記
プレート状検査治具の基板保持領域及び/又は補助プレ
ートに、プリント配線基板に搭載された電子部品との干
渉を回避する切欠き部を設けたものである。上記切欠き
部を設けることにより、プリント配線基板に、一部又は
全部の電子部品を搭載した状態で検査を行うことが可能
となる。このため、半完成品あるいは完成品の電子装置
の検査を行うことができる。
According to a twelfth aspect of the present invention, a notch for avoiding interference with an electronic component mounted on a printed wiring board is provided in the substrate holding area and / or the auxiliary plate of the plate-like inspection jig. It is provided. By providing the above-mentioned notch, it is possible to perform an inspection in a state where some or all of the electronic components are mounted on the printed wiring board. Therefore, it is possible to inspect a semi-finished product or a completed electronic device.

【0056】なお、上記切欠き部を設ける場合、少なく
とも搭載される電子部品の高さ以上の厚さを備えるプレ
ート状材料から、上記プレート状検査治具及び補助プレ
ートを形成するのが望ましい。
When the notch is provided, it is desirable to form the plate-shaped inspection jig and the auxiliary plate from a plate-shaped material having a thickness at least equal to the height of the electronic component to be mounted.

【0057】本願の請求項13に記載した発明は、各検
査プローブを案内してプリント配線基板の検査接点に誘
導するプローブ案内孔を備えるプレート状検査治具に係
るものである。
The invention according to claim 13 of the present application relates to a plate-shaped inspection jig provided with a probe guide hole for guiding each inspection probe to guide it to an inspection contact of a printed wiring board.

【0058】本願の請求項14に記載した発明は、基板
位置決め領域に形成される位置決め手段として、検査テ
ーブルに設けた位置決めピンに係合する位置決め孔を形
成したものである。
According to a fourteenth aspect of the present invention, a positioning hole is formed as a positioning means formed in a substrate positioning area, the positioning hole engaging with a positioning pin provided on an inspection table.

【0059】本願の請求項15に記載した発明は、複数
の電子装置に対応した複数の検査領域を備えるプリント
配線基板の位置決めを行うプレート状検査治具であっ
て、位置決め領域に形成された位置決め手段が、上記プ
リント配線基板を、上記各検査領域が上記検査プローブ
に対向する複数の検査位置に、検査テーブルに設けた位
置決め手段と共働して順次位置決めして検査を行うよう
に構成されているものである。
According to a fifteenth aspect of the present invention, there is provided a plate-like inspection jig for positioning a printed wiring board having a plurality of inspection areas corresponding to a plurality of electronic devices, the positioning jig being formed in the positioning area. The means is configured to perform an inspection by sequentially positioning the printed wiring board at a plurality of inspection positions where each of the inspection areas faces the inspection probe in cooperation with positioning means provided on an inspection table. Is what it is.

【0060】本願の請求項16に記載した発明は、所定
の検査位置にプリント配線基板を位置決め保持できる検
査テーブルと、検査プローブを上記プリント配線基板に
対して接触離間可能に保持する検査ヘッドとを備えるプ
リント配線基板の検査装置における検査方法であって、
上記検査テーブルに設けた位置決め手段と共働して位置
決めを行う位置決め手段を備えるプレート状検査治具に
上記プリント配線基板を貼着保持させ、上記プレート状
検査治具を介して、上記プリント配線基板を所定の検査
位置に位置決めして検査を行うことを特徴としている。
According to a sixteenth aspect of the present invention, there is provided an inspection table for positioning and holding a printed wiring board at a predetermined inspection position, and an inspection head for holding an inspection probe so as to be able to contact and separate from the printed wiring board. An inspection method in an inspection device for a printed wiring board, comprising:
The printed wiring board is adhered to and held by a plate-shaped inspection jig provided with positioning means for performing positioning in cooperation with the positioning means provided on the inspection table, and the printed wiring board is passed through the plate-shaped inspection jig. Is positioned at a predetermined inspection position and the inspection is performed.

【0061】本願の請求項17に記載した発明は、一の
電子装置に対応する検査プローブを設けた検査装置を用
いて、複数の電子装置に対応した複数の検査領域を備え
るプリント配線基板の検査を行うプリント配線基板の検
査方法であって、複数の検査位置に位置決めできる位置
決め手段を設けたプレート状検査治具に上記プリント配
線基板を貼着保持させ、上記プレート状検査治具を介し
て、上記プリント配線基板の各検査領域を、上記検査プ
ローブに対向する所定の検査位置に順次位置決めして検
査を行うことを特徴とする。
According to a seventeenth aspect of the present invention, a printed circuit board having a plurality of inspection regions corresponding to a plurality of electronic devices is inspected using an inspection device provided with an inspection probe corresponding to one electronic device. In the method of inspecting a printed wiring board, the printed wiring board is attached and held on a plate-shaped inspection jig provided with positioning means capable of positioning at a plurality of inspection positions, and via the plate-shaped inspection jig, The inspection is performed by sequentially positioning each inspection area of the printed wiring board at a predetermined inspection position facing the inspection probe.

【0062】本願の請求項18に記載した発明は、検査
プローブを、各検査領域に対応して上記プレート状検査
治具に形成された案内孔を介して、上記プリント配線基
板の接触ポインイトに誘導接触させるプリント配線基板
の検査方法に係るものである
The invention according to claim 18 of the present application guides an inspection probe to a contact point of the printed wiring board through a guide hole formed in the plate-shaped inspection jig corresponding to each inspection area. The present invention relates to a method of inspecting a printed wiring board to be brought into contact with the printed circuit board.

【0063】本願の請求項19に記載した発明は、搭載
されるべき一部又は全部の電子部品を搭載したプリント
配線基板の検査方法であって、プレート状検査治具の基
板保持領域及び/又は補助プレートに形成した切欠き部
に、プリント配線基板に搭載された電子部品を収容して
検査を行うことを特徴とするものである。
The invention described in claim 19 of the present application is a method for inspecting a printed wiring board on which some or all of the electronic components to be mounted are mounted, wherein the board holding area and / or The inspection is performed by accommodating an electronic component mounted on a printed wiring board in a notch formed in the auxiliary plate.

【0064】プリント配線基板を検査する場合、一部の
電子部品をプリント配線基板に搭載した状態で中間検査
を行う場合がある。特に、高価な演算装置等を装着する
前にプリント配線基板の不良を発見できれば、製品の歩
留りが向上する。また、全ての電子部品を搭載して完成
した電子装置の検査を行う必要もある。本願発明はこの
ような場合に対応したものである。
When inspecting a printed wiring board, an intermediate inspection may be performed with some electronic components mounted on the printed wiring board. In particular, if a defect in a printed wiring board can be found before mounting an expensive arithmetic unit or the like, the yield of products will be improved. In addition, it is necessary to inspect an electronic device completed by mounting all electronic components. The present invention corresponds to such a case.

【0065】本願の請求項20に記載した発明は、プリ
ント配線基板に電子部品を搭載したのと同様の条件で検
査を行うものである。すなわち、上記プリント配線基板
に搭載されていない電子部品を、上記電子部品の接続部
位に接触する検査プローブの基端部に接続して検査を行
うことを特徴とするものである。
The invention described in claim 20 of the present application performs an inspection under the same conditions as when an electronic component is mounted on a printed wiring board. That is, an electronic component not mounted on the printed wiring board is connected to a base end of an inspection probe that contacts a connection portion of the electronic component, and an inspection is performed.

【0066】上記請求項16に記載した発明において、
プリント配線基板自体あるいはこれに搭載された一部の
電子部品の作動を、搭載していない電子部品との関係で
検査する場合が考えられる。本願発明はこのような場合
に対応したものであり、一定の性能が担保された標準的
な電子部品を検査プローブの基端部に接続した状態で検
査を行うことができる。この方法によって、電子装置の
製造行程の中間段階において、完成品としての機能を発
揮できるか否かの検査を行うことが可能となる。また、
上記検査方法によって、電子部品を搭載した状態におけ
るプリント配線基板の特性を検査することが可能とな
り、プリント配線基板の多面的な検査を行うことも可能
となる。
In the invention according to claim 16,
There is a case where the operation of the printed wiring board itself or some of the electronic components mounted thereon is inspected in relation to the electronic components not mounted. The invention of the present application corresponds to such a case, and the inspection can be performed in a state where a standard electronic component having a certain performance is connected to the base end of the inspection probe. According to this method, it is possible to inspect whether or not the function as a finished product can be exhibited at an intermediate stage of the manufacturing process of the electronic device. Also,
According to the above-described inspection method, it is possible to inspect the characteristics of the printed wiring board in a state where the electronic component is mounted, and it is also possible to perform a multifaceted inspection of the printed wiring board.

【0067】[0067]

【発明の実施の形態】以下、本願発明の実施の形態を図
に基づいて具体的に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be specifically described below with reference to the drawings.

【0068】図1に本願発明に係るプリント配線基板の
検査装置の正面図を、図2に側面図を示す。これらの図
に示すように、本実施の形態に係る検査装置1は、机上
に載置される台板2と、この台板2の上面後部に固定さ
れて垂直に立ち上がるスタンド3と、このスタンド3に
沿って昇降可能に保持されるとともに上部検査ヘッド4
を保持する昇降ブロック5と、上記昇降ブロック5に対
向するように上記台板2の前部に設けられるとともに下
部検査ヘッド6を保持する検査テーブル装置7と、上記
昇降ブロック5をスタンド3に沿って昇降させる昇降手
段8とを備える。
FIG. 1 is a front view of a printed wiring board inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a side view thereof. As shown in these drawings, an inspection apparatus 1 according to the present embodiment includes a base plate 2 placed on a desk, a stand 3 fixed to the rear of the upper surface of the base plate 2 and standing upright, 3 and an upper inspection head 4
Lifting table 5 that holds the lower inspection head 6 and a test table device 7 that is provided at the front of the base plate 2 so as to face the lifting block 5 and that holds the lower inspection head 6. Lifting means 8 for lifting and lowering.

【0069】昇降ブロック5は、上記スタンド3の前面
に設けた案内面9に沿って上記検査テーブル装置7に対
して近接離間させられる。上記昇降手段8は、スタンド
3の側面に回動可能に設けられた操作アーム10と、上
記スタンド3の内部に設けられた図示しない駆動機構と
を備えて構成されており、上記操作アーム10の回転操
作を上記昇降ブロック5の上下動に変換するように構成
される。上記駆動機構は、周知の歯車機構等を用いて構
成することができ、操作アーム10を手前に回動させる
ことにより、上記昇降ブロック5が案内面9に沿って下
降するように構成されている。
The elevating block 5 is moved toward and away from the inspection table device 7 along a guide surface 9 provided on the front surface of the stand 3. The elevating means 8 includes an operation arm 10 rotatably provided on a side surface of the stand 3 and a drive mechanism (not shown) provided inside the stand 3. The rotation operation is configured to be converted into a vertical movement of the lifting block 5. The drive mechanism can be configured using a well-known gear mechanism or the like, and is configured such that the elevation block 5 is lowered along the guide surface 9 by rotating the operation arm 10 toward the user. .

【0070】上記検査テーブル装置7は、X−Y位置決
め装置11を介して台板2に保持されており、つまみ1
2、13を回動させることにより検査テーブル装置に保
持される下部検査ヘッド6を移動させ、上部検査ヘッド
4に対向する位置に位置決めできるように構成されてい
る。
The inspection table device 7 is held on the base plate 2 via an XY positioning device 11, and a knob 1
The lower inspection head 6 held by the inspection table device is moved by rotating the second and the second inspection table 13 so that the lower inspection head 6 can be positioned at a position facing the upper inspection head 4.

【0071】図3に、上部検査ヘッド4及び検査テーブ
ル装置7の断面を示す。
FIG. 3 shows a cross section of the upper inspection head 4 and the inspection table device 7.

【0072】この図に示すように、上部検査ヘッド4
は、上記昇降ブロック5に設けた固定装置14に固定さ
れる円柱状の取付けブロック15と、この取付けブロッ
ク15の下面に一体的に接合されるとともに昇降ブロッ
ク5の下面に対接させられる取付けプレート16と、上
記検査テーブル装置7に対向するヘッドプレート18
と、上記取付けプレート16と上記ヘッドプレート18
とを所定間隔をあけて接続する複数の支柱19とを備え
る。さらに、上記ヘッドプレート18には、複数の支柱
20を介してプローブ保持プレート21が設けられてお
り、このプローブ保持プレート21に植設される検査プ
ローブ17の先端部がヘッドプレート18に設けた通挿
孔を介してヘッドプレート18の下面から下方に向けて
突出させられている。
As shown in this figure, the upper inspection head 4
Is a cylindrical mounting block 15 fixed to a fixing device 14 provided on the lifting block 5, and a mounting plate integrally joined to the lower surface of the mounting block 15 and brought into contact with the lower surface of the lifting block 5. 16 and a head plate 18 facing the inspection table device 7
And the mounting plate 16 and the head plate 18
And a plurality of columns 19 for connecting them at a predetermined interval. Further, a probe holding plate 21 is provided on the head plate 18 via a plurality of columns 20, and the tip of the inspection probe 17 implanted on the probe holding plate 21 is provided on the head plate 18. It protrudes downward from the lower surface of the head plate 18 through the insertion hole.

【0073】上記検査プローブ17は周知の構造を備え
ており、図示はしないが、上記プローブ保持プレート2
1に基端部が保持される円筒管と、この円筒管内に所定
範囲摺動可能に保持されるプローブ針と、このプローブ
針を開口端に向けて弾力付勢するバネとを備えて構成さ
れている。上記プローブ針の先端部がプリント配線基板
の検査接点に圧接される一方、上記検査プローブの基端
部に接続されたリード線22を介して検査信号を取り出
せるように構成されている。
The inspection probe 17 has a known structure, and although not shown, the probe holding plate 2
1 includes a cylindrical tube having a base end held therein, a probe needle slidably held within the cylindrical tube in a predetermined range, and a spring for elastically biasing the probe needle toward an open end. ing. The distal end of the probe needle is pressed against the inspection contact of the printed wiring board, and an inspection signal can be taken out via a lead wire 22 connected to the base end of the inspection probe.

【0074】検査テーブル装置7は、位置決め装置11
上に固定されるべースプレート23と、このベースプレ
ート23上に複数の支柱24を介して支持されるテーブ
ル板25と、このテーブル板25の上面に、自然状態で
所定高に弾性的に浮き上がった状態で保持される浮き上
がりプレート26とを備える。なお、図3に示す浮き上
がりプレート26は、図を判りやすくするために、テー
ブル板25に密着させた状態を表している。
The inspection table device 7 includes a positioning device 11
A base plate 23 fixed thereon, a table plate 25 supported on the base plate 23 via a plurality of columns 24, and a state in which the table plate 25 is elastically raised to a predetermined height on the upper surface of the table plate 25 in a natural state. And a lifting plate 26 that is held by the above. The lifting plate 26 shown in FIG. 3 shows a state in which the lifting plate 26 is in close contact with the table plate 25 for easy understanding of the drawing.

【0075】上記テーブル板25の中央部下部には、下
部検査ヘッド6が設けられている。この下部検査ヘッド
6は、上記テーブル板25の下面に取付けられる取付け
プレート27と、この取付けプレート27に複数の支柱
28を介して支持されるプローブ保持プレート29とを
備えており、このプローブ保持プレート28に検査プロ
ーブ30の基端部が植設されているとともに、検査プロ
ーブ30の先端部がテーブル板25から上方に向けて突
出させられている。なお、上記検査プローブ30の構造
及び取付け構造は、上記上部検査ヘッド4に設けたもの
と同様であるのでその説明は省略する。
A lower inspection head 6 is provided below the center of the table plate 25. The lower inspection head 6 includes a mounting plate 27 mounted on the lower surface of the table plate 25, and a probe holding plate 29 supported on the mounting plate 27 via a plurality of columns 28. A base end portion of the inspection probe 30 is implanted in 28, and a tip end portion of the inspection probe 30 is projected upward from the table plate 25. Note that the structure and mounting structure of the inspection probe 30 are the same as those provided in the upper inspection head 4, and therefore description thereof is omitted.

【0076】上記浮き上がりプレート26は、上記テー
ブル板25から弾力付勢されつつ突出させられる浮き子
31によって、所定高さに持ち上げられるように構成さ
れている。
The lift plate 26 is configured to be lifted to a predetermined height by a float 31 that is projected while being elastically urged from the table plate 25.

【0077】上記浮き子31は、図3、図7及び図8に
示すように、上記テーブル板25に形成された保持孔3
2に、バネ33によって弾力付勢されつつ上記テーブル
板25の表面から退避可能に突出して保持されており、
検査プローブ30の先端部が浮き上がりプレート26の
上面から相対的に沈み込む位置まで、上記浮き上がりプ
レート26を持ち上げるように構成されている。
As shown in FIGS. 3, 7, and 8, the float 31 is provided with a holding hole 3 formed in the table plate 25.
2, while being elastically urged by a spring 33, it is held so as to be retractable from the surface of the table plate 25,
The lifting plate 26 is configured to lift up to a position where the tip of the inspection probe 30 relatively sinks from the upper surface of the lifting plate 26.

【0078】本願発明に係る検査装置1においては、上
記検査テーブル装置27上に、検査対象たるプリント配
線基板41を、プレート状検査治具34と一体的に位置
決め載置し、上記上部検査ヘッド4に保持された検査プ
ローブ17と上記テーブル板25に保持される検査プロ
ーブ30を上下方向から接触させて検査を行う。
In the inspection apparatus 1 according to the present invention, the printed circuit board 41 to be inspected is positioned and mounted integrally with the plate-shaped inspection jig 34 on the inspection table apparatus 27, and the upper inspection head 4 The inspection is carried out by bringing the inspection probe 17 held by the sensor into contact with the inspection probe 30 held by the table plate 25 from above and below.

【0079】本実施の形態に係る上記プレート状検査治
具34は、厚さ約0.5mmのポリカーボネート製の薄
板矩形状の透明プレートから形成されている。図4及び
図5に示すように、このプレート状検査治具34には、
プリント配線基板41を保持する基板保持領域35が中
央部に設けられているとともに、この基板保持領域35
の両側部に複数の位置決め孔36a〜36iを形成した
位置決め領域37が設けられている。
The plate-shaped inspection jig 34 according to the present embodiment is formed from a thin rectangular transparent plate made of polycarbonate having a thickness of about 0.5 mm. As shown in FIGS. 4 and 5, this plate-shaped inspection jig 34 includes:
A board holding area 35 for holding the printed wiring board 41 is provided at the center, and the board holding area 35
A positioning area 37 having a plurality of positioning holes 36a to 36i is provided on both side portions.

【0080】一方、図3、図7及び図8に示すように、
上記テーブル板25には、上記位置決め孔36a〜36
iに係入する4本の位置決めピン38が突設されてい
る。
On the other hand, as shown in FIGS. 3, 7 and 8,
In the table plate 25, the positioning holes 36a to 36
Four positioning pins 38 that engage with i are protruded.

【0081】上記位置決めピン38は、上記テーブル板
25に形成された保持孔39に、バネ40によって弾力
付勢されつつ上記テーブル板25及び浮き上がりプレー
ト26の表面から先端部を突出させて保持されている。
上記プレート状検査治具34の位置決め孔36a〜36
iに、上記位置決めピン38が係入することにより、プ
レート状検査治具34及びこれに保持されるプリント配
線基板41を上記テーブル板25上の所定位置に位置決
めする。
The positioning pin 38 is held in a holding hole 39 formed in the table plate 25 with its tip protruding from the surfaces of the table plate 25 and the lifting plate 26 while being elastically urged by a spring 40. I have.
Positioning holes 36a-36 of the plate-shaped inspection jig 34
When the positioning pins 38 are engaged with the i, the plate-shaped inspection jig 34 and the printed wiring board 41 held by the jig 34 are positioned at predetermined positions on the table 25.

【0082】上記位置決めピン38の突出高さは、図8
に示すプリント配線基板41の検査状態においては、上
記位置決め孔36a〜36iに深く係入してプレート状
検査治具34を移動不可能に固定できるように設定され
る。一方、図7に示す位置決め状態においては、位置決
めピン38の頭部が位置決め孔36a〜36iに係合し
てこれを位置決めできるとともに、上記係合をバネ39
の弾力に抗して容易に解除できるように設定されてい
る。上記プレート状検査治具34を浮き上がりプレート
26の上面を摺動させることにより、位置決めピン38
を上記位置決め孔36a〜36iに順次係入させて、上
記プレート状検査治具34を所定の検査位置に順次位置
決めできるように構成している。
The protrusion height of the positioning pin 38 is shown in FIG.
In the inspection state of the printed wiring board 41 shown in (1), the plate-like inspection jig 34 is set so as to be engaged with the positioning holes 36a to 36i deeply and immovably. On the other hand, in the positioning state shown in FIG. 7, the head of the positioning pin 38 engages with the positioning holes 36 a to 36 i so that the positioning holes can be positioned.
It is set so that it can be easily released against the elasticity of the vehicle. By lifting the plate-like inspection jig 34 and sliding the upper surface of the plate 26, the positioning pins 38 are moved.
Are sequentially engaged with the positioning holes 36a to 36i so that the plate-shaped inspection jig 34 can be sequentially positioned at a predetermined inspection position.

【0083】本実施の形態においては、上記位置決めピ
ン38とプレート状検査治具34を用いて、9箇所の検
査領域41a〜41iを備えるプリント配線基板41、
換言すれば、9個取りのプリント配線基板の各検査領域
を、一つの検査領域に対応する検査プローブを備える上
下の検査ヘッド4,6によって検査できるように構成し
ている。
In this embodiment, using the positioning pins 38 and the plate-like inspection jig 34, the printed wiring board 41 having nine inspection areas 41a to 41i,
In other words, each of the inspection areas of the nine-cavity printed wiring board can be inspected by the upper and lower inspection heads 4 and 6 each having an inspection probe corresponding to one inspection area.

【0084】すなわち、図4に示すように、本実施の形
態に係るプレート状検査治具34には、上記各検査領域
41a〜41iに対応するピッチで、位置決め孔36a
〜36iが両側部にそれぞれ形成されており、これら位
置決め孔36a〜36iに左右の2箇所にそれぞれ設け
た位置決めピン38を順次係入させることにより、上記
位置決め孔36a〜36iに対応する各検査領域41a
〜41iを、上下の検査ヘッド4,6に対向する検査位
置に順次位置決めすることができる。
That is, as shown in FIG. 4, the plate-shaped inspection jig 34 according to the present embodiment is provided with positioning holes 36a at pitches corresponding to the above-described inspection areas 41a to 41i.
36i are formed on both sides, respectively, and positioning pins 38 provided at two positions on the left and right are sequentially engaged with the positioning holes 36a to 36i, respectively, so that each inspection area corresponding to the positioning holes 36a to 36i is formed. 41a
To 41i can be sequentially positioned at inspection positions facing the upper and lower inspection heads 4 and 6.

【0085】たとえば、図7に示す上部検査ヘッド4を
上昇させた状態で、下部検査ヘッド6の前後左右に設け
た4本の位置決めピン38を、図4に示す左右の36e
で示す位置決め孔に係入させることにより、中央部の検
査領域41eを検査ヘッド4,6に対向する検査位置に
位置決めできる。
For example, with the upper inspection head 4 shown in FIG. 7 raised, four positioning pins 38 provided on the front, rear, left and right of the lower inspection head 6 are moved to the right and left 36e shown in FIG.
By engaging with the positioning holes indicated by, the inspection area 41e at the center can be positioned at the inspection position facing the inspection heads 4 and 6.

【0086】上記位置決め状態で、操作アーム10を回
動させて上部検査ヘッド4を下降させていくと、図8及
び図9に示すように、ヘッドプレート18から突出する
各検査プローブ17の先端部が、上記プレート状検査治
具34の各プローブ案内孔42に突入してプリント配線
基板41の上面の検査接点に接触させられるとともに、
ヘッドプレート18の下面がプレート状検査治具34及
びプリント配線基板41を下方に押圧する。これによ
り、浮き子31に支持された浮き上がりプレート26が
下方に変位し、下側検査プローブ30が浮き上がりプレ
ート26の上面から上方に突出してプリント配線基板4
1の下面の検査接点に接触させられる。この状態で、各
検査プローブ17,30に通電して、プリント配線基板
41の検査が行われる。
When the upper inspection head 4 is lowered by rotating the operation arm 10 in the above-mentioned positioning state, the tip of each inspection probe 17 projecting from the head plate 18 as shown in FIGS. Are inserted into the probe guide holes 42 of the plate-shaped inspection jig 34 and are brought into contact with the inspection contacts on the upper surface of the printed wiring board 41,
The lower surface of the head plate 18 presses the plate-shaped inspection jig 34 and the printed wiring board 41 downward. As a result, the lift plate 26 supported by the float 31 is displaced downward, and the lower inspection probe 30 projects upward from the upper surface of the lift plate 26 and
1 is brought into contact with the inspection contact on the lower surface. In this state, the inspection probes 17 and 30 are energized, and the printed wiring board 41 is inspected.

【0087】上記検査終了後、操作アーム10を回動さ
せて上部検査ヘッド4を上昇させると、上側検査プロー
ブ17がプローブ案内孔42から抜け出るとともに、バ
ネ33によって弾力付勢された浮き子31に押圧された
浮き上がりプレート26がテーブル板25から浮き上が
り、下側検査プローブ30の先端部がプリント配線基板
41から離間して、図7に示す状態に復帰する。
After the above inspection is completed, when the upper inspection head 4 is raised by rotating the operation arm 10, the upper inspection probe 17 comes out of the probe guide hole 42, and the floating member 31 urged elastically by the spring 33. The pressed lifting plate 26 rises from the table plate 25, the tip of the lower inspection probe 30 separates from the printed wiring board 41, and returns to the state shown in FIG.

【0088】図7に示す状態においては、プレート状検
査治具34及びプリント配線基板41が、位置決めピン
38と位置決め孔36eとの係合によって仮止めされた
状態となる。このため、上記位置決めピン38と位置決
め孔36eとの係合を、位置決めピン38の弾力に抗し
て解除する等して、プレート状検査治具34を図4の矢
印で示す方向に想像線で示す位置まで移動させ、次の検
査領域を検査位置に位置決めすることができる。しか
も、上記位置決めピン38の弾力によって、所望の位置
に段階的に係止することができるため、プレート状検査
治具34の位置決め作業を容易に行うことができる。
In the state shown in FIG. 7, the plate-shaped inspection jig 34 and the printed wiring board 41 are temporarily fixed by the engagement between the positioning pins 38 and the positioning holes 36e. For this reason, the engagement between the positioning pin 38 and the positioning hole 36e is released against the elasticity of the positioning pin 38 or the like, so that the plate-like inspection jig 34 is imaginary in the direction indicated by the arrow in FIG. By moving to the position shown, the next inspection area can be positioned at the inspection position. In addition, the elasticity of the positioning pin 38 allows the plate to be locked at a desired position in a stepwise manner, so that the work of positioning the plate-shaped inspection jig 34 can be easily performed.

【0089】本実施の形態においては、プレート状検査
治具34の下面にプリント配線基板41を貼着保持して
検査を行う。上記プレート状検査治具34の基板保持領
域35には、図4に示すように、プリント配線基板41
を貼着固定するための一対の矩形開口部43が形成され
ており、図6に示すように、この開口部43を介して粘
着テープ44をプレート状検査治具34とプリント配線
基板41とに掛け渡し状に貼りつけることにより、上記
プリント配線基板41をプレート状検査治具34に貼着
保持させる。これにより、図5に示すように、上記プリ
ント配線基板41とプレート状検査治具34とが一体的
に貼着接合される。
In the present embodiment, the inspection is performed by attaching and holding the printed wiring board 41 to the lower surface of the plate-shaped inspection jig 34. As shown in FIG. 4, the printed circuit board 41
A pair of rectangular openings 43 are formed for attaching and fixing the adhesive tape 44 to the plate-shaped inspection jig 34 and the printed wiring board 41 through the openings 43 as shown in FIG. The printed wiring board 41 is attached and held on the plate-shaped inspection jig 34 by being attached in a bridging manner. Thereby, as shown in FIG. 5, the printed wiring board 41 and the plate-shaped inspection jig 34 are integrally attached and bonded.

【0090】粘着テープ44を用いることにより、プレ
ート状検査治具34に対するプリント配線基板41の貼
着作業を容易に行うことができる。
By using the adhesive tape 44, the work of attaching the printed wiring board 41 to the plate-shaped inspection jig 34 can be easily performed.

【0091】さらに、図7ないし図9に示すように、上
記プレート状検査治具34には、プリント配線基板41
の検査接点に対応したプローブ案内孔42が、それぞれ
の検査領域41a〜41iに対接する部分に形成されて
いる。このプローブ案内孔42は、図9に示すように、
検査プローブ17の外径より若干大きな内径で形成され
ており、検査プローブの配列精度が多少低下しても、各
検査プローブ17を所定の検査接点まで確実に案内する
ことができる。したがって、検査を精度高く、また確実
に行うことができる。
Further, as shown in FIGS. 7 to 9, the plate-shaped inspection jig 34 includes a printed wiring board 41.
The probe guide holes 42 corresponding to the test contacts are formed in portions that are in contact with the respective test areas 41a to 41i. This probe guide hole 42 is, as shown in FIG.
The test probe 17 is formed to have an inner diameter slightly larger than the outer diameter of the test probe 17, and even if the arrangement accuracy of the test probes is slightly reduced, each test probe 17 can be reliably guided to a predetermined test contact. Therefore, the inspection can be performed accurately and reliably.

【0092】また、プローブ案内孔によって検査中の検
査プローブ17を保護できるため、検査中に検査プロー
ブ17が曲折したり、損傷を受けたりするのを防止でき
る。
Further, since the inspection probe 17 during the inspection can be protected by the probe guide hole, it is possible to prevent the inspection probe 17 from being bent or damaged during the inspection.

【0093】さらに、上記プローブ案内孔42とプリン
ト配線基板41上の検査接点とを重ね合わせることによ
り、プリント配線基板41をプレート状検査治具34に
精度高く位置決めして保持させることができる。
Further, by overlapping the probe guide hole 42 with the inspection contact on the printed wiring board 41, the printed wiring board 41 can be positioned and held with high precision on the plate-shaped inspection jig 34.

【0094】さらに、本実施の形態においては、特にプ
リント配線基板41の上面に、プローブ案内孔42を形
成したプレート状検査治具34を貼着している。これに
よって、上記昇降手段8の精度を補うことが可能とな
り、廉価な検査装置を提供することができる。
Further, in the present embodiment, a plate-shaped inspection jig 34 having a probe guide hole 42 is attached to the upper surface of the printed wiring board 41 in particular. This makes it possible to supplement the accuracy of the elevating means 8 and to provide an inexpensive inspection device.

【0095】図10及び図11に、多数個取りプリント
配線基板の検査を行う場合に、検査位置に位置決めされ
たプリント配線基板41の各検査領域41a〜41iを
識別するための検査領域識別手段の一例を示す。
FIGS. 10 and 11 show the inspection area identification means for identifying the inspection areas 41a to 41i of the printed wiring board 41 positioned at the inspection position when inspecting a multi-piece printed wiring board. An example is shown.

【0096】図10に示すように、プレート状検査治具
45の手前側に、プリント配線基板41の各検査領域4
1a〜41iに対応した配列及びピッチA,Bで、識別
孔46a〜46iが形成されている。一方、図11に示
すように、検査テーブル装置7の手前下面には、光源装
置47が設けられており、テーブル装置7に形成した照
射孔48を介して上方に向けて光を照射できるように構
成されている。
As shown in FIG. 10, each inspection area 4 of the printed wiring board 41 is
Identification holes 46a to 46i are formed in an arrangement and pitches A and B corresponding to 1a to 41i. On the other hand, as shown in FIG. 11, a light source device 47 is provided on the front lower surface of the inspection table device 7 so that light can be emitted upward through an irradiation hole 48 formed in the table device 7. It is configured.

【0097】上記照射孔48は、プリント配線基板41
の所定の検査領域が検査位置に位置したとき、この検査
領域に対応して形成された識別孔と重なるように形成さ
れている。たとえば、検査領域41eが検査位置に位置
決めされたとき、識別孔46eが上記照射孔48に対応
するように構成されている。したがって、検査位置に位
置決めされた検査領域に対応する識別孔から光が照射さ
れ、検査されている検査領域がプレート状検査治具34
上に表示される。
The irradiation hole 48 is provided in the printed circuit board 41.
When the predetermined inspection area is located at the inspection position, it is formed so as to overlap with the identification hole formed corresponding to the inspection area. For example, when the inspection area 41e is positioned at the inspection position, the identification hole 46e is configured to correspond to the irradiation hole 48. Therefore, light is emitted from the identification hole corresponding to the inspection area positioned at the inspection position, and the inspection area to be inspected is a plate-shaped inspection jig 34.
Displayed above.

【0098】上記構成によって、多数個取り基板の検査
作業を迅速に行うことができるとともに、再検査を行う
場合でも、プリント配線基板41の所望の検査領域を容
易に位置決めすることができる。
With the above configuration, the inspection work of the multi-piece board can be performed quickly, and the desired inspection area of the printed wiring board 41 can be easily positioned even when re-inspection is performed.

【0099】図12に、電子部品を搭載した状態でプリ
ント配線基板41の検査を行うことのできる検査装置に
係る実施の形態を示す。
FIG. 12 shows an embodiment relating to an inspection apparatus capable of inspecting the printed wiring board 41 with electronic components mounted thereon.

【0100】図12は、電子部品50,51,52を上
面に、電子部品53,54,55,56を下面に搭載し
たプリント配線基板41を検査する検査装置の要部の断
面を表している。
FIG. 12 shows a cross section of a main part of an inspection apparatus for inspecting a printed wiring board 41 having electronic components 50, 51, 52 mounted on an upper surface and electronic components 53, 54, 55, 56 mounted on a lower surface. .

【0101】この図に示すように、本実施の形態におい
ては、プリント配線基板41の上側に補助プレート57
が積層貼着されている一方、下側にプレート状検査治具
58が積層貼着されている。
As shown in this figure, in the present embodiment, the auxiliary plate 57 is provided above the printed circuit board 41.
Are laminated and attached, while a plate-like inspection jig 58 is laminated and attached below.

【0102】上側に貼着される補助プレート57には、
プリント配線基板41の上面に搭載された電子部品5
0,51,52を各々収容して、ヘッドプレート18と
プリント配線基板との干渉を回避する切欠き穴部59,
60,61が形成されている。また、検査プローブ17
をプリント配線基板41の検査接点に誘導案内するプロ
ーブ案内孔62が形成されている。
The auxiliary plate 57 stuck on the upper side has
Electronic component 5 mounted on upper surface of printed wiring board 41
0, 51, and 52, respectively, to prevent interference between the head plate 18 and the printed wiring board.
60 and 61 are formed. In addition, the inspection probe 17
A probe guide hole 62 is formed to guide and guide the probe to the inspection contact of the printed wiring board 41.

【0103】一方、下側に貼着されるプレート状検査治
具58には、電子部品53,54,55,56を一括し
て収容する一つの切欠き穴部63が形成されている。ま
た、基板保持領域64の両側に、位置決めピン38に係
合する位置決め孔36を形成した基板位置決め領域65
が設けられているのは、上述した実施の形態と同様であ
る。
On the other hand, the plate-shaped inspection jig 58 stuck on the lower side is formed with one notch hole 63 for accommodating the electronic components 53, 54, 55, 56 in a lump. In addition, a substrate positioning area 65 in which positioning holes 36 for engaging with the positioning pins 38 are formed on both sides of the substrate holding area 64.
Is provided in the same manner as in the above-described embodiment.

【0104】上記補助プレート57とプレート状検査治
具58は、基板保持領域64の縁部に設けた位置決めス
ペーサ66によって連結されている。この位置決めスペ
ーサ66は、補助プレート57及びプレート状検査治具
58に形成した係合孔67,68に係合して、補助プレ
ート57及びプレート状検査治具58を互いに連結する
連結凸部69,70を備えるとともに、補助プレート5
7及びプレート状検査治具58をプリント配線基板41
の厚さに対応して保持するスペーサ部71とを備えて構
成されている。
The auxiliary plate 57 and the plate-shaped inspection jig 58 are connected by a positioning spacer 66 provided at the edge of the substrate holding area 64. The positioning spacer 66 engages with engagement holes 67 and 68 formed in the auxiliary plate 57 and the plate-shaped inspection jig 58 to connect the auxiliary plate 57 and the plate-shaped inspection jig 58 to each other. 70 and the auxiliary plate 5
7 and the plate-shaped inspection jig 58
And a spacer portion 71 for holding in accordance with the thickness of the spacer.

【0105】上記補助プレート57及びプレート状検査
治具58は、上記位置決めスペーサ66を介して精度高
く接合されるとともに、中間部に電子部品を搭載したプ
リント配線基板41を保持する。
The auxiliary plate 57 and the plate-like inspection jig 58 are joined with high precision via the positioning spacer 66, and hold the printed wiring board 41 on which electronic components are mounted in the middle.

【0106】上記補助プレート57及びプレート状検査
治具58の厚さは、対接する面に搭載される電子部品の
高さに対応した厚さに設定されているため、各電子部品
を補助プレート57あるいはプレート状検査治具58の
表面から突出することなく保持することができる。この
ため、プレート状検査治具とともにプリント配線基板を
摺動させて、各検査領域を順次検査位置に位置決めして
検査を行うことができる。これにより、電子部品を搭載
したプリント配線基板を効率よく検査することができ
る。
The thickness of the auxiliary plate 57 and the plate-shaped inspection jig 58 is set to a thickness corresponding to the height of the electronic component mounted on the surface to be in contact with. Alternatively, it can be held without protruding from the surface of the plate-shaped inspection jig 58. For this reason, the printed wiring board is slid together with the plate-shaped inspection jig, and the inspection can be performed by sequentially positioning each inspection region at the inspection position. Thereby, the printed wiring board on which the electronic component is mounted can be inspected efficiently.

【0107】なお、検査装置の他の構成は、図7に示す
ものと同様であるので説明は省略する。
The other configuration of the inspection apparatus is the same as that shown in FIG. 7, and the description is omitted.

【0108】図13は、プリント配線基板に搭載されて
いない電子部品を、上記電子部品の接続部位に接触する
検査プローブの基端部に接続して検査を行う検査装置の
要部断面図である。
FIG. 13 is a sectional view of a main part of an inspection apparatus for performing an inspection by connecting an electronic component not mounted on a printed wiring board to a base end of an inspection probe that comes into contact with a connection portion of the electronic component. .

【0109】この図に示すように、プリント配線基板4
1の下面には、電子部品72,73,74が搭載されて
いるとともに、補助プレート80が積層貼着されてい
る。一方、プリント配線基板41の上面には電子部品は
装着されておらず、プレート状検査治具81が積層貼着
されている。そして、上記プリント配線基板41に搭載
されるべき電子部品75は、上部検査ヘッド4の上面に
突出する検査プローブ76の基端部に接続されている。
As shown in FIG.
Electronic components 72, 73, 74 are mounted on the lower surface of 1, and an auxiliary plate 80 is laminated and attached. On the other hand, no electronic components are mounted on the upper surface of the printed wiring board 41, and a plate-like inspection jig 81 is laminated and attached. The electronic component 75 to be mounted on the printed wiring board 41 is connected to the base end of a test probe 76 projecting from the upper surface of the upper test head 4.

【0110】上記電子部品75は、あらかじめ性能が確
認された標準電子部品であり、この装置によってプリン
ト配線基板41の検査を行うことにより、中間工程にお
いて、全ての電子部品を搭載したものとしてプリント配
線基板41の検査を行うことができる。
The electronic component 75 is a standard electronic component whose performance has been confirmed in advance. By inspecting the printed wiring board 41 with this device, it is assumed that all the electronic components are mounted in an intermediate step. The inspection of the substrate 41 can be performed.

【0111】上記検査を行うことにより、片面に電子装
置72,73,74を搭載したプリント配線基板41を
検査して、基板等の不良を確認することが可能となり、
基板あるいは電子部品の修理交換を容易に行うことがで
きる。また、演算装置等の高価な電子部品を組み付ける
前にプリント回路基板あるいは他の電子部品の良否をチ
ェックできるため、製品の歩留りが向上しコストの削減
に寄与することもできる。
By performing the above inspection, it is possible to inspect the printed wiring board 41 on which the electronic devices 72, 73, 74 are mounted on one side, and to confirm the defect of the board and the like.
Repair or replacement of the board or the electronic component can be easily performed. In addition, since the quality of a printed circuit board or other electronic components can be checked before assembling expensive electronic components such as an arithmetic unit, the yield of products can be improved and the cost can be reduced.

【0112】本願発明の範囲は、上述の実施の形態に限
定されることはない。
The scope of the present invention is not limited to the above embodiment.

【0113】実施の形態においては、9個取りのプリン
ト配線基板に本願発明を適用したが、1個取りのプリン
ト配線基板、あるいは10個以上の電子装置に対応した
多数個取りのプリント配線基板に適用することができ
る。
In the embodiment, the present invention is applied to a nine-piece printed circuit board. However, the present invention is applied to a single-piece printed circuit board or a multi-piece printed circuit board corresponding to ten or more electronic devices. Can be applied.

【0114】また、プリント配線基板とプレート状検査
治具との接合方法も実施の形態に限定されることはな
く、たとえば、プリント配線基板に形成した位置決め穴
等を利用して接合することができる。
Further, the method of joining the printed wiring board and the plate-shaped inspection jig is not limited to the above-described embodiment. For example, the joining can be performed using a positioning hole or the like formed in the printed wiring board. .

【0115】また、実施の形態においては、透明な樹脂
材料から形成されたプレート状検査治具を採用したが、
金属材料等他のプレート状材料を採用することもでき
る。
In the embodiment, a plate-like inspection jig made of a transparent resin material is used.
Other plate-like materials such as a metal material can also be adopted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本願発明に係る検査装置の正面図である。FIG. 1 is a front view of an inspection device according to the present invention.

【図2】本願発明に係る検査装置の側面図である。FIG. 2 is a side view of the inspection device according to the present invention.

【図3】検査装置の要部を示す拡大断面図である。FIG. 3 is an enlarged sectional view showing a main part of the inspection device.

【図4】プレート状検査治具にプリント配線基板を保持
させた平面図である。
FIG. 4 is a plan view in which a printed wiring board is held by a plate-shaped inspection jig.

【図5】図4に示すプレート状検査治具の側面図であ
る。
FIG. 5 is a side view of the plate-shaped inspection jig shown in FIG.

【図6】図4におけるVI−VI線に沿う断面図である。FIG. 6 is a sectional view taken along the line VI-VI in FIG.

【図7】検査装置の要部の断面図であり、上部検査ヘッ
ドが離間した状態を示す図である。
FIG. 7 is a sectional view of a main part of the inspection apparatus, showing a state where an upper inspection head is separated.

【図8】検査装置の要部の断面図であり、プリント配線
基板の検査を行っている状態を示す図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view of a main part of the inspection apparatus, showing a state where the printed wiring board is being inspected.

【図9】図8の要部の拡大断面図である。FIG. 9 is an enlarged sectional view of a main part of FIG.

【図10】検査領域識別手段の一例を示す平面図であ
る。
FIG. 10 is a plan view showing an example of an inspection area identification unit.

【図11】図10のXI−XI線に沿う断面図である。FIG. 11 is a sectional view taken along the line XI-XI in FIG. 10;

【図12】電子部品を搭載したプリント配線基板の検査
を行う検査装置の要部断面図である。
FIG. 12 is a sectional view of a main part of an inspection apparatus for inspecting a printed wiring board on which electronic components are mounted.

【図13】一部の電子部品を検査プローブに接続して検
査を行う検査装置の要部断面図である。
FIG. 13 is a cross-sectional view of a main part of an inspection apparatus that performs inspection by connecting some electronic components to an inspection probe.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 検査装置 4 上部検査ヘッド 6 下部検査ヘッド 7 検査テーブル 17 検査プローブ 30 検査プローブ 34 プレート状検査治具 35 基板保持領域 36 位置決め孔 37 基板位置決め領域 38 位置決めピン 41 プリント配線基板 42 プローブ案内孔 57 補助プレート Reference Signs List 1 inspection apparatus 4 upper inspection head 6 lower inspection head 7 inspection table 17 inspection probe 30 inspection probe 34 plate-shaped inspection jig 35 substrate holding area 36 positioning hole 37 substrate positioning area 38 positioning pin 41 printed wiring board 42 probe guide hole 57 auxiliary plate

Claims (20)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定の検査位置にプリント配線基板を位
置決め保持できる検査テーブルと、検査プローブを上記
プリント配線基板に対して接触離間可能に保持する検査
ヘッドとを備えるプリント配線基板の検査装置であっ
て、 上記プリント配線基板を一体的に保持する基板保持領域
と、この基板保持領域の周囲に配置される基板位置決め
領域とを設けたプレート状検査治具と、 上記検査テーブルないし上記基板位置決め領域に設けら
れ、上記プレート状検査治具を検査テーブルの所定位置
に位置決めする位置決め手段とを備え、 上記プリント配線基板を上記プレート状検査治具を介し
て上記検査テーブルの所定の検査位置に位置決めするよ
うに構成したことを特徴とする、プリント配線基板の検
査装置。
An inspection apparatus for a printed wiring board, comprising: an inspection table capable of positioning and holding a printed wiring board at a predetermined inspection position; and an inspection head for holding an inspection probe so as to be able to contact and separate from the printed wiring board. A plate holding jig provided with a board holding area for integrally holding the printed wiring board, and a board positioning area disposed around the board holding area; and an inspection table or the board positioning area. Positioning means for positioning the plate-shaped inspection jig at a predetermined position on an inspection table, wherein the printed wiring board is positioned at a predetermined inspection position on the inspection table via the plate-shaped inspection jig. A printed wiring board inspection device, characterized in that:
【請求項2】 上記プレート状検査治具は、上記プリン
ト配線基板を挟むようにして配置されるとともに配線パ
ターン及び/又は搭載された電子部品を保護する補助プ
レートを備える、請求項1に記載のプリント基板の検査
装置。
2. The printed circuit board according to claim 1, wherein the plate-shaped inspection jig includes an auxiliary plate disposed so as to sandwich the printed circuit board and protecting a wiring pattern and / or a mounted electronic component. Inspection equipment.
【請求項3】 上記プレート状検査治具及び/又は補助
プレートに、各検査プローブをプリント配線基板の検査
接点に誘導案内するプローブ案内孔を設けた、請求項1
又は請求項2のいずれかに記載のプリント配線基板の検
査装置。
3. The plate-shaped inspection jig and / or the auxiliary plate are provided with a probe guide hole for guiding each inspection probe to an inspection contact of a printed wiring board.
An inspection device for a printed wiring board according to claim 2.
【請求項4】 上記プリント配線基板及び/又は補助プ
レートに、プリント配線基板に搭載された電子部品との
干渉を避ける切欠き部が形成されている、請求項1から
請求項3のいずれかに記載のプリント配線基板の検査装
置。
4. The printed circuit board and / or the auxiliary plate according to claim 1, wherein a cutout portion is formed on the printed circuit board and / or the auxiliary plate to avoid interference with an electronic component mounted on the printed circuit board. A printed circuit board inspection apparatus as described in the above.
【請求項5】 上記位置決め手段は、上記検査テーブル
に設けた位置決めピンと、上記基板位置決め領域に形成
されて上記位置決めピンが係入させられる位置決め孔と
を備えて構成される、請求項1から請求項4のいずれか
に記載のプリント配線基板の検査装置。
5. The positioning device according to claim 1, wherein the positioning means includes a positioning pin provided on the inspection table, and a positioning hole formed in the substrate positioning area and into which the positioning pin is engaged. Item 5. An inspection device for a printed wiring board according to any one of Items 4.
【請求項6】 複数の電子装置に対応する複数の検査領
域を備えるプリント配線基板の検査を行うプリント配線
基板の検査装置であって、 上記検査ヘッドが、一つの検査領域に対応する検査プロ
ーブを備える一方、 上記位置決め手段は、上記プリント配線基板を、上記各
検査領域が上記検査プローブに対向する複数の検査位置
に、順次位置決めして検査を行うように構成されてい
る、請求項1から請求項5のいずれかに記載のプリント
配線基板の検査装置。
6. A printed wiring board inspection apparatus for inspecting a printed wiring board provided with a plurality of inspection areas corresponding to a plurality of electronic devices, wherein the inspection head includes an inspection probe corresponding to one inspection area. The positioning means is configured to perform an inspection by sequentially positioning the printed wiring board at a plurality of inspection positions where each of the inspection regions faces the inspection probe. Item 6. An apparatus for inspecting a printed wiring board according to any one of Items 5.
【請求項7】 上記位置決め手段は、上記検査テーブル
に設けた位置決めピンと、プリント配線基板の上記各検
査領域に対応して上記基板位置決め領域に設けた複数組
の位置決め孔とを備えて構成されており、 上記位置決めピンを上記位置決め孔に順次係入させるこ
とにより、プレート状検査治具を介してプリント配線基
板の各検査領域を所定の検査位置に順次位置決めできる
ように構成した、請求項6に記載のプリント配線基板の
検査装置。
7. The positioning means includes: a positioning pin provided on the inspection table; and a plurality of sets of positioning holes provided in the board positioning area corresponding to the inspection areas of the printed wiring board. 7. The method according to claim 6, wherein each of the inspection areas of the printed wiring board can be sequentially positioned at a predetermined inspection position via a plate-like inspection jig by sequentially engaging the positioning pins with the positioning holes. A printed circuit board inspection apparatus as described in the above.
【請求項8】 両面に検査領域を備えるプリント配線基
板の検査を行うプリント配線基板の検査装置であって、 検査テーブルに位置決め保持されるプリント配線基板を
挟むようにして配置される一対の検査ヘッドを設けた、
請求項1から請求項7のいずれかに記載のプリント配線
基板の検査装置。
8. A printed wiring board inspection apparatus for inspecting a printed wiring board having an inspection area on both sides, comprising a pair of inspection heads arranged so as to sandwich a printed wiring board positioned and held on an inspection table. Was
An inspection apparatus for a printed wiring board according to claim 1.
【請求項9】 検査位置に位置決めされたプリント配線
基板の検査領域を識別する検査領域識別手段を設けた、
請求項6から請求項8のいずれかに記載のプリント配線
基板の検査装置。
9. An inspection area identification means for identifying an inspection area of a printed wiring board positioned at an inspection position,
An apparatus for inspecting a printed wiring board according to claim 6.
【請求項10】 所定の検査位置にプリント配線基板を
位置決め保持できる検査テーブルと、検査プローブを上
記プリント配線基板に対して接触離間可能に保持する検
査ヘッドとを備えるプリント配線基板の検査装置におけ
る上記検査テーブル上で、プリント配線基板を所定の検
査位置に位置決めするためのプレート状検査治具であっ
て、 上記プリント配線基板を一体的に保持する基板保持領域
と、上記基板保持領域の周囲に配置された基板位置決め
領域とを備え、 上記基板位置決め領域に、上記検査テーブルに設けた位
置決め手段と共働して、プリント配線基板を所定の検査
位置に位置決めする位置決め手段を設けたことを特徴と
する、プレート状検査治具。
10. A printed wiring board inspection apparatus, comprising: an inspection table capable of positioning and holding a printed wiring board at a predetermined inspection position; and an inspection head for holding an inspection probe so as to be able to contact and separate from the printed wiring board. A plate-shaped inspection jig for positioning a printed wiring board at a predetermined inspection position on an inspection table, wherein the board holding area integrally holds the printed wiring board, and is disposed around the board holding area. And a positioning means for positioning the printed wiring board at a predetermined inspection position in cooperation with the positioning means provided on the inspection table in the substrate positioning area. , Plate inspection jig.
【請求項11】 上記プレート状検査治具は、プリント
配線基板を挟むようにして配置されるとともに配線パタ
ーン及び/又は搭載された電子部品を保護する補助プレ
ートを備える、請求項10に記載のプレート状検査治
具。
11. The plate-shaped inspection jig according to claim 10, wherein the plate-shaped inspection jig is provided so as to sandwich the printed wiring board and includes an auxiliary plate for protecting a wiring pattern and / or mounted electronic components. jig.
【請求項12】 上記プレート状検査治具の基板保持領
域及び/又は補助プレートに、プリント配線基板に搭載
された電子部品との干渉を回避する切欠き部を設けたこ
とを特徴とする、請求項10又は請求項11のいずれか
に記載のプレート状検査治具。
12. A notch for avoiding interference with an electronic component mounted on a printed wiring board is provided in a substrate holding area and / or an auxiliary plate of the plate-shaped inspection jig. The plate-shaped inspection jig according to claim 10 or 11.
【請求項13】 上記プレート状検査治具の基板保持領
域及び/又は補助プレートに、各検査プローブを案内し
てプリント配線基板の検査接点に誘導するプローブ案内
孔を設けた、請求項10から請求項12のいずれかに記
載のプレート状検査治具。
13. The substrate holding area and / or the auxiliary plate of the plate-shaped inspection jig is provided with a probe guide hole for guiding each inspection probe and guiding the inspection probe to an inspection contact of a printed wiring board. Item 13. A plate-shaped inspection jig according to any one of Items 12.
【請求項14】 基板位置決め領域に形成された位置決
め手段が、検査テーブルに設けた位置決めピンに係合す
る位置決め孔である、請求項10から請求項13のいず
れかに記載のプレート状検査治具。
14. The plate-like inspection jig according to claim 10, wherein the positioning means formed in the substrate positioning area is a positioning hole which engages with a positioning pin provided on the inspection table. .
【請求項15】 複数の電子装置に対応した複数の検査
領域を備えるプリント配線基板の位置決めを行うプレー
ト状検査治具であって、 基板位置決め領域に形成された位置決め手段は、上記プ
リント配線基板を、上記各検査領域が上記検査プローブ
に対向する複数の検査位置に、検査テーブルに設けた位
置決め手段と共働して順次位置決めして検査を行うよう
に構成されている、請求項10から請求項14のいずれ
かに記載のプレート状検査治具。
15. A plate-like inspection jig for positioning a printed wiring board provided with a plurality of inspection areas corresponding to a plurality of electronic devices, wherein a positioning means formed in the board positioning area includes: 11. The inspection apparatus according to claim 10, wherein each of the inspection areas is sequentially positioned at a plurality of inspection positions facing the inspection probe in cooperation with a positioning means provided on an inspection table to perform the inspection. 15. The plate-shaped inspection jig according to any one of 14.
【請求項16】 所定の検査位置にプリント配線基板を
位置決めする検査テーブルと、検査プローブを上記プリ
ント配線基板に対して接触離間可能に保持する検査ヘッ
ドとを備えるプリント配線基板の検査装置における検査
方法であって、 上記検査テーブルに設けた位置決め手段と共働して位置
決めを行う位置決め手段を備えるプレート状検査治具に
上記プリント配線基板を貼着保持させ、 上記プレート状検査治具を介して、上記プリント配線基
板を所定の検査位置に位置決めして検査を行う、プリン
ト配線基板の検査方法。
16. An inspection method for an inspection apparatus for a printed wiring board, comprising: an inspection table for positioning the printed wiring board at a predetermined inspection position; and an inspection head for holding an inspection probe so as to be able to contact and separate from the printed wiring board. The printed wiring board is stuck and held on a plate-shaped inspection jig provided with positioning means for performing positioning in cooperation with the positioning means provided on the inspection table, via the plate-shaped inspection jig, An inspection method for a printed wiring board, wherein the inspection is performed by positioning the printed wiring board at a predetermined inspection position.
【請求項17】 一つの電子装置に対応する検査プロー
ブを設けた検査装置を用いて、複数の電子装置に対応す
る複数の検査領域を備えるプリント配線基板の検査を行
うプリント配線基板の検査方法であって、 複数の検査位置に位置決めできる位置決め手段を設けた
プレート状検査治具に上記プリント配線基板を貼着保持
させ、 上記プレート状検査治具を介して、上記プリント配線基
板の各検査領域を、上記検査プローブに対向する所定の
検査位置に順次位置決めして検査を行う、プリント配線
基板の検査方法。
17. A printed wiring board inspection method for inspecting a printed wiring board having a plurality of inspection regions corresponding to a plurality of electronic devices using an inspection device provided with an inspection probe corresponding to one electronic device. Attaching and holding the printed wiring board to a plate-shaped inspection jig provided with positioning means capable of positioning at a plurality of inspection positions, and using the plate-shaped inspection jig to inspect each inspection area of the printed wiring board And a method for inspecting a printed wiring board, wherein the inspection is performed by sequentially positioning the inspection circuit at a predetermined inspection position facing the inspection probe.
【請求項18】 検査プローブが、各検査領域に対応し
て上記プレート状検査治具に形成されたプローブ案内孔
を介して、上記プリント配線基板の検査接点に誘導接触
させられる、請求項16又は請求項17のいずれかに記
載のプリント配線基板の検査方法。
18. The inspection probe is brought into inductive contact with an inspection contact of the printed wiring board via a probe guide hole formed in the plate-shaped inspection jig corresponding to each inspection area. A method for inspecting a printed wiring board according to claim 17.
【請求項19】 搭載されるべき一部又は全部の電子部
品を搭載したプリント配線基板の検査方法であって、プ
レート状検査治具の基板保持領域及び/又は補助プレー
トに形成した切欠き部に、プリント配線基板に搭載され
た電子部品を収容して検査を行うことを特徴とする、請
求項16から請求項18のいずれかに記載のプリント配
線基板の検査方法。
19. A method for inspecting a printed wiring board on which a part or all of electronic components to be mounted are mounted, wherein a notch formed in a substrate holding area of a plate-shaped inspection jig and / or an auxiliary plate. 19. The method for inspecting a printed wiring board according to claim 16, wherein the inspection is performed by housing an electronic component mounted on the printed wiring board.
【請求項20】 一部の電子部品を搭載したプリント配
線基板の検査を行うプリント配線基板の検査方法であっ
て、 上記プリント配線基板に搭載されていない電子部品を、
上記電子部品の接続部位に接触する検査プローブの基端
部に接続して検査を行う、請求項16から請求項19の
いずれかに記載のプリント配線基板の検査方法。
20. A method of inspecting a printed wiring board for inspecting a printed wiring board on which some electronic components are mounted, wherein the electronic component not mounted on the printed wiring board is
The printed circuit board inspection method according to any one of claims 16 to 19, wherein the inspection is performed by connecting to a base end of an inspection probe that comes into contact with a connection portion of the electronic component.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001133491A (en) * 1999-08-23 2001-05-18 Onishi Denshi Kk Probing device for measuring impedance of printed-circuit board
CN102680752A (en) * 2012-06-04 2012-09-19 昆山迈致治具科技有限公司 Electric testing jig for flexible circuit board
CN109884512A (en) * 2019-04-15 2019-06-14 山东科技大学 Connecting line positioning device on a kind of test fixture circuit board
JP2020204529A (en) * 2019-06-17 2020-12-24 日本電産リード株式会社 Inspection device

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001133491A (en) * 1999-08-23 2001-05-18 Onishi Denshi Kk Probing device for measuring impedance of printed-circuit board
CN102680752A (en) * 2012-06-04 2012-09-19 昆山迈致治具科技有限公司 Electric testing jig for flexible circuit board
CN109884512A (en) * 2019-04-15 2019-06-14 山东科技大学 Connecting line positioning device on a kind of test fixture circuit board
CN109884512B (en) * 2019-04-15 2020-04-28 山东科技大学 Connecting wire positioner on test fixture circuit board
JP2020204529A (en) * 2019-06-17 2020-12-24 日本電産リード株式会社 Inspection device

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