JPH113662A - Beam yaw measurement device for crt - Google Patents
Beam yaw measurement device for crtInfo
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- JPH113662A JPH113662A JP15317597A JP15317597A JPH113662A JP H113662 A JPH113662 A JP H113662A JP 15317597 A JP15317597 A JP 15317597A JP 15317597 A JP15317597 A JP 15317597A JP H113662 A JPH113662 A JP H113662A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＲＴの中心軸に
対する電子ビームの離軸量を測定するＣＲＴのビーム離
軸測定装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a CRT beam off-axis measuring device for measuring the amount of off-axis of an electron beam with respect to the center axis of a CRT.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図７は、従来のＣＲＴのビーム離軸測定
装置の概要を示す正面図である。この図７は、ＣＲＴの
前面パネル側からネック部側を視た図であり、ネック部
の正断面部分を示している。図７に示すビーム離軸測定
装置は、ネック部１０の外周に配置される治具ベース１
２に、Ｘ軸調整治具１４と、Ｙ軸調整治具１６と、４つ
のコイル１８Ａ〜１８Ｄを設けたものである。2. Description of the Related Art FIG. 7 is a front view showing an outline of a conventional beam offset measuring apparatus for a CRT. FIG. 7 is a view in which the neck portion side is viewed from the front panel side of the CRT, and shows a front section of the neck portion. The beam off-axis measuring device shown in FIG.
2, an X-axis adjustment jig 14, a Y-axis adjustment jig 16, and four coils 18A to 18D are provided.
【０００３】Ｘ軸調整治具１４は、ネック部１０の中心
軸に直交するＸ軸方向に前記ネック部１０の位置を調整
するものであり、ネジ軸状に形成されてネック部１０を
Ｘ軸の＋方向に押圧変位させる調整側治具１４Ａと、不
図示のバネ等によってネック部１０を調整側治具１４Ａ
側、すなわちＸ軸の−方向に付勢する受け側軸１４Ｂと
を有している。また、Ｘ軸調整治具１４の調整側治具１
４Ａの操作摘み部１４Ｃには、図８に示すように、軸回
り方向に０から９までの目盛りが設けられており、調整
量が認識できるようになっている。なお、調整側治具１
４Ａの１ピッチは１ｍｍであり、１目盛り０．１ｍｍの
分解能を有する。The X-axis adjustment jig 14 adjusts the position of the neck 10 in the X-axis direction orthogonal to the center axis of the neck 10, and is formed in a screw shaft shape to fix the neck 10 to the X-axis. And the adjusting jig 14A that presses and displaces the neck portion 10 with a spring or the like (not shown).
Side, that is, a receiving side shaft 14B that urges in the negative direction of the X axis. Also, the adjustment-side jig 1 of the X-axis adjustment jig 14
As shown in FIG. 8, the operation knob 14C of 4A is provided with scales from 0 to 9 in the direction around the axis so that the adjustment amount can be recognized. The adjustment jig 1
One pitch of 4A is 1 mm, and has a resolution of 0.1 mm per division.
【０００４】Ｙ軸調整治具１６は、ネック部１０の中心
軸およびＸ軸方向に直交するＹ軸方向に前記ネック部１
０の位置を調整するものであり、Ｘ軸調整治具１４と同
様に、ネジ軸状に形成されてネック部１０をＹ軸の＋方
向に押圧変位させる調整側治具１６Ａと、不図示のバネ
等によってネック部１０を調整側治具１６Ａ側、すなわ
ちＹ軸の−方向に付勢する受け側軸１６Ｂとを有してい
る。また、Ｙ軸調整治具１６の調整側治具１６Ａの操作
摘み部１６Ｃにも、図８に示すように、軸回り方向に０
から９までの目盛りが設けられており、調整量が認識で
きるようになっている。なお、調整側治具１６Ａの１ピ
ッチは１ｍｍであり、１目盛り０．１ｍｍの分解能を有
する。[0004] The Y-axis adjusting jig 16 is provided with the neck 1 in the Y-axis direction orthogonal to the center axis of the neck 10 and the X-axis.
An adjustment jig 16A, which is formed in a screw shaft shape and presses and displaces the neck portion 10 in the + direction of the Y axis, similarly to the X axis adjustment jig 14, It has a receiving-side shaft 16B that urges the neck portion 10 on the adjustment jig 16A side by a spring or the like, that is, in the negative direction of the Y-axis. Also, as shown in FIG. 8, the operation knob 16C of the adjustment-side jig 16A of the Y-axis adjustment jig 16 has zero
9 are provided, so that the adjustment amount can be recognized. Note that one pitch of the adjustment-side jig 16A is 1 mm, and has a resolution of 0.1 mm per scale.
【０００５】また、コイル１８Ａ〜１８Ｄは、Ｘ軸およ
びＹ軸より４５°ずれた角度位置に配置されるととも
に、所定の交流電流を供給されることにより、ネック部
１０に図７に示すような磁界２を付与するものである。The coils 18A to 18D are arranged at angular positions shifted from the X-axis and the Y-axis by 45 °, and are supplied with a predetermined alternating current so that the neck portion 10 has a structure as shown in FIG. A magnetic field 2 is applied.
【０００６】以上のような構成において、まず、電子ビ
ーム４が図７に示すように、ネック部１０の中心軸より
ズレているものとする。ここで、ＣＲＴの表示画面２０
には、図９に示すような電子ビーム４による線６が表示
される。この状態で、ＣＲＴの表示画面２０を見なが
ら、Ｘ軸調整治具１４とＹ軸調整治具１６を操作して、
図１０（Ａ）に示すように、ネック部１０を変位させ
て、図１０（Ｂ）に示すように、電子ビーム４が表示画
面２０で点８となるように調整する。この時、電子ビー
ム４は、治具ベース１２の中心に位置している。また、
この時のＸ軸、Ｙ軸の目盛り（Ａｘ、Ａｙ）を読み取
る。In the above configuration, first, it is assumed that the electron beam 4 is shifted from the center axis of the neck portion 10 as shown in FIG. Here, the display screen 20 of the CRT
Shows a line 6 by the electron beam 4 as shown in FIG. In this state, the X-axis adjustment jig 14 and the Y-axis adjustment jig 16 are operated while looking at the display screen 20 of the CRT.
As shown in FIG. 10A, the neck portion 10 is displaced so that the electron beam 4 is adjusted to a point 8 on the display screen 20 as shown in FIG. At this time, the electron beam 4 is located at the center of the jig base 12. Also,
At this time, the scales (Ax, Ay) of the X axis and the Y axis are read.
【０００７】次に、図１１に示すように、治具ベース１
２を１８０°回転させ、図１２に示すように、先と同様
にして、Ｘ軸調整治具１４とＹ軸調整治具１６を操作
し、図１２（Ａ）に示すように、ネック部１０を変位さ
せて、図１２（Ｂ）に示すように、電子ビーム４が表示
画面２０で点８となるように調整する。そして、この時
のＸ軸、Ｙ軸の目盛り（Ｂｘ、Ｂｙ）を読み取る。以上
のような測定の結果、電子ビームの離軸値（Ｘ0 、Ｙ
0 ）は、Ｘ0 ＝（Ｂｘ−Ａｘ）／２、Ｙ0 ＝（Ｂｙ−Ａ
ｙ）／２で与えられる。[0007] Next, as shown in FIG.
12 is rotated by 180 °, and as shown in FIG. 12, the X-axis adjustment jig 14 and the Y-axis adjustment jig 16 are operated in the same manner as described above, and as shown in FIG. Is adjusted so that the electron beam 4 becomes a point 8 on the display screen 20 as shown in FIG. Then, the scales (Bx, By) of the X axis and the Y axis at this time are read. As a result of the above measurement, the off-axis value (X 0 , Y
0 ) is X 0 = (Bx−Ax) / 2, Y 0 = (By−A)
y) / 2.
【０００８】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のビーム離軸測定装置においては、治具ベース１
２を１８０°回転させて、Ｘ軸調整治具１４やＹ軸調整
治具１６の位置をズラす作業を行うことから、Ｘ軸やＹ
軸の位置が正確に調整できず軸ズレが生じ易い。また、
測定の度に目盛りを読み取る必要があり、読み取り作業
が煩雑である。このため、測定の再現性が悪く、また測
定結果に個人差も生じるという欠点がある。また、Ｘ軸
調整治具１４とＹ軸調整治具１６をネック部１０の外周
面に接触させた状態で、各治具を回転させるため、ネッ
クガラスにキズがつき易く、最悪の場合には、ネックガ
ラスのクラックとなり、安全性の問題も生じる。However, in the above-described conventional beam off-axis measuring apparatus, the jig base 1 is not used.
2 is rotated by 180 ° to shift the positions of the X-axis adjustment jig 14 and the Y-axis adjustment jig 16.
The position of the shaft cannot be adjusted accurately, and the shaft is likely to be misaligned. Also,
It is necessary to read the scale every time the measurement is performed, and the reading operation is complicated. For this reason, there are drawbacks in that the reproducibility of the measurement is poor and that the measurement results vary from person to person. Further, since each jig is rotated while the X-axis adjustment jig 14 and the Y-axis adjustment jig 16 are in contact with the outer peripheral surface of the neck portion 10, the neck glass is easily scratched, and in the worst case, In addition, cracks occur in the neck glass, and a safety problem also occurs.
【０００９】そこで本発明の目的は、高精度で信頼性の
高いビーム離軸測定を行うことができ、かつネック部を
キズ付けることなくビーム離軸測定を行うことができる
ビーム離軸測定装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a beam off-axis measuring apparatus capable of performing highly accurate and highly reliable beam off-axis measurement and capable of performing beam off-axis measurement without scratching a neck portion. To provide.
【００１０】[0010]
【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するため、ＣＲＴのネック部の外周に配置され、ＣＲＴ
の中心軸に対する電子ビームの離軸量を測定するＣＲＴ
のビーム離軸測定装置において、前記ネック部の外周に
配置される治具ベースと、前記治具ベースに設けられ、
前記ネック部の位置を、ネック部の中心軸に直交するＸ
軸方向に調整する目盛り付きのＸ軸調整治具と、前記治
具ベースに設けられ、前記ネック部の位置を、ネック部
の中心軸および前記Ｘ軸に直交するＹ軸方向に調整する
目盛り付きＹ軸調整治具と、前記治具ベースに設けら
れ、前記Ｘ軸および前記Ｙ軸より４５°ずれた角度位置
に配置されるとともに、所定の交流電流を供給されるこ
とにより前記ネック部に一定の磁界を付与する４つの第
１コイルと、前記治具ベースよりＣＲＴの管軸方向に一
定の間隔だけ離間した位置に設けられるとともに、前記
Ｘ軸および前記Ｙ軸に沿った角度位置に配置され、所定
の可変直流電流を供給されることにより前記電子ビーム
の位置を調整する４つの第２コイルとを有し、前記第２
コイルに電子ビームの離軸量に応じた直流電流を供給
し、電子ビームをネック部の中心軸に一致させた場合の
電流値に基づいて、前記電子ビームの離軸量を測定する
ことを特徴とする。SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention is arranged on an outer periphery of a neck portion of a CRT,
CRT for measuring the amount of off-axis of the electron beam with respect to the central axis of the
In the beam off-axis measuring device, a jig base disposed on the outer periphery of the neck portion, provided on the jig base,
The position of the neck is defined by X perpendicular to the center axis of the neck.
An X-axis adjustment jig with a scale for adjusting in the axial direction, and a scale provided on the jig base for adjusting the position of the neck in the Y-axis direction orthogonal to the center axis of the neck and the X-axis A Y-axis adjustment jig, provided on the jig base, arranged at an angular position shifted by 45 ° from the X-axis and the Y-axis, and supplied with a predetermined alternating current to be fixed to the neck portion. And four first coils for applying a magnetic field of a predetermined distance in the tube axis direction of the CRT from the jig base, and at an angular position along the X axis and the Y axis. And four second coils for adjusting the position of the electron beam by being supplied with a predetermined variable DC current.
A DC current is supplied to the coil in accordance with the amount of off-axis of the electron beam, and the off-axis amount of the electron beam is measured based on a current value when the electron beam is aligned with the center axis of the neck portion. And
【００１１】本発明のビーム離軸測定装置において、予
めネック部のＸ軸方向およびＹ軸方向の単位変位量に対
する第２コイルの感度を測定する。まず、第２コイルの
Ｘ軸方向の感度測定は、第２コイルに供給する可変直流
電流によって電子ビームをＣＲＴの中心軸に一致させた
状態で、Ｘ軸調整治具によって治具ベースをネック部に
対してＸ軸の一方向に単位量ｎだけ変位させた後、第２
コイルの可変直流電流を変化させて前記電子ビームをＣ
ＲＴの中心軸に一致させ、その電流値Ａを読み取る。次
に、Ｘ軸調整治具によって治具ベースをネック部に対し
てＸ軸の他方向に単位量ｎだけ変位させた後、前記第２
コイルの可変直流電流を変化させて前記電子ビームをＣ
ＲＴの中心軸に一致させ、その電流値Ｂを読み取る。そ
して、電流値Ａ、Ｂに基づいて、Ｘ軸方向の測定感度を
２ｎ／（Ｂ−Ａ）により求める。In the beam off-axis measuring device of the present invention, the sensitivity of the second coil to the unit displacement in the X-axis direction and the Y-axis direction of the neck is measured in advance. First, the sensitivity measurement of the second coil in the X-axis direction is performed by adjusting the jig base by the X-axis adjustment jig while the electron beam is aligned with the center axis of the CRT by the variable DC current supplied to the second coil. Is displaced by a unit amount n in one direction of the X axis with respect to
The electron beam is changed to C by changing the variable DC current of the coil.
The current value A is read by making it coincide with the central axis of RT. Next, after the jig base is displaced by a unit amount n in the other direction of the X-axis with respect to the neck portion by the X-axis adjustment jig,
The electron beam is changed to C by changing the variable DC current of the coil.
The current value B is read by making it coincide with the central axis of RT. Then, based on the current values A and B, the measurement sensitivity in the X-axis direction is determined by 2n / (BA).
【００１２】また、第２コイルのＹ軸方向の感度測定
は、第２コイルに供給する可変直流電流によって電子ビ
ームをＣＲＴの中心軸に一致させた状態で、Ｙ軸調整治
具によって治具ベースをネック部に対してＹ軸の一方向
に単位量ｎだけ変位させた後、第２コイルの可変直流電
流を変化させて電子ビームをＣＲＴの中心軸に一致さ
せ、その電流値Ｃを読み取る。次に、Ｙ軸調整治具によ
って治具ベースをネック部に対してＹ軸の他方向に単位
量ｎだけ変位させた後、第２コイルの可変直流電流を変
化させて電子ビームをＣＲＴの中心軸に一致させ、その
電流値Ｄを読み取る。そして、電流値Ｃ、Ｄに基づい
て、Ｙ軸方向の測定感度を２ｎ／（Ｄ−Ｃ）により求め
る。The sensitivity measurement of the second coil in the Y-axis direction is performed by using a jig base with a Y-axis adjusting jig in a state where the electron beam is aligned with the center axis of the CRT by a variable DC current supplied to the second coil. Is displaced by a unit amount n in one direction of the Y-axis with respect to the neck portion, the variable DC current of the second coil is changed to make the electron beam coincide with the central axis of the CRT, and the current value C is read. Next, the jig base is displaced by a unit amount n in the other direction of the Y-axis with respect to the neck portion by the Y-axis adjustment jig, and then the variable DC current of the second coil is changed to change the electron beam to the center of the CRT. The current value D is read by making it coincide with the axis. Then, based on the current values C and D, the measurement sensitivity in the Y-axis direction is determined by 2n / (DC).
【００１３】次に、実際の測定を行う。これは電子ビー
ムをネック部の中心軸にＸ軸方向およびＹ軸方向に一致
させた際の前記第２コイルの電流変化量を測定する。そ
して、このように測定したＸ軸方向の電流変化量と、上
述したＸ軸方向の測定感度との積により、Ｘ軸方向の電
子ビームの離軸量を算出する。また、Ｙ軸方向の電流変
化量と、上述したＹ軸方向の測定感度との積により、Ｙ
軸方向の電子ビームの離軸量を算出する。Next, actual measurement is performed. This measures the amount of change in the current of the second coil when the electron beam is made to coincide with the central axis of the neck in the X-axis direction and the Y-axis direction. Then, the decentering amount of the electron beam in the X-axis direction is calculated from the product of the thus measured current change amount in the X-axis direction and the above-described measurement sensitivity in the X-axis direction. The product of the amount of change in current in the Y-axis direction and the above-described measurement sensitivity in the Y-axis direction gives Y
The amount of off-axis of the electron beam in the axial direction is calculated.
【００１４】以上のようにして、治具ベースやＸ軸、Ｙ
軸の各調整治具をネック部の回りに回転させることな
く、電子ビームの離軸量を測定できるので、高精度で信
頼性の高いビーム離軸測定を行うことができる。また、
ネック部をキズ付けることなく測定を行うことができ、
ネックガラスのクラック等の恐れもなく、製品の信頼性
を向上できる。As described above, the jig base, X axis, Y axis
Since the amount of off-axis of the electron beam can be measured without rotating each adjusting jig of the shaft around the neck portion, highly accurate and highly reliable beam off-axis measurement can be performed. Also,
Measurement can be performed without scratching the neck,
The reliability of the product can be improved without fear of cracking of the neck glass.
【００１５】[0015]
【発明の実施の形態】以下、本発明によるＣＲＴのビー
ム離軸測定装置の実施の形態例について説明する。図１
は、本発明によるＣＲＴのビーム離軸測定装置の概要を
示す正面図、図２は、図１に示すＣＲＴのビーム離軸測
定装置の側面図である。なお、図１は、ＣＲＴの前面パ
ネル側からネック部側を視た図であり、ネック部の正断
面部分を示している。また、図２は、ネック部の側断面
部分を示している。本例のビーム離軸測定装置は、ネッ
ク部１１０の外周に配置される治具ベース１１２に、Ｘ
軸調整治具１１４と、Ｙ軸調整治具１１６と、４つの第
１コイル１１８Ａ〜１１８Ｄとを設けたものである。ま
た、治具ベース１１２に対してネック部１１０のカソー
ド側に、４つの第２コイル１２０Ａ〜１２０Ｄを設けた
ものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an embodiment of a beam offset measuring apparatus for a CRT according to the present invention will be described. FIG.
1 is a front view showing an outline of a CRT beam off-axis measuring device according to the present invention, and FIG. 2 is a side view of the CRT beam off-axis measuring device shown in FIG. FIG. 1 is a view in which the neck portion side is viewed from the front panel side of the CRT, and shows a front section of the neck portion. FIG. 2 shows a side cross section of the neck portion. The beam off-axis measuring apparatus of this example includes a jig base 112 arranged on the outer periphery of
A shaft adjustment jig 114, a Y-axis adjustment jig 116, and four first coils 118A to 118D are provided. Further, four second coils 120A to 120D are provided on the cathode side of the neck portion 110 with respect to the jig base 112.
【００１６】Ｘ軸調整治具１１４は、ネック部１１０の
中心軸に直交するＸ軸方向に前記ネック部１１０の位置
を調整するものであり、ネジ軸状に形成されてネック部
１１０をＸ軸の＋方向に押圧変位させる調整側治具１１
４Ａと、不図示のバネ等によってネック部１１０を調整
側治具１１４Ａ側、すなわちＸ軸の−方向に付勢する受
け側軸１１４Ｂとを有している。また、Ｘ軸調整治具１
１４の調整側治具１１４Ａの操作摘み部１１４Ｃには、
図８に示したものと同様の軸回り方向に０から９までの
目盛りが設けられており、調整量が認識できるようにな
っている。なお、調整側治具１１４Ａの１ピッチは１ｍ
ｍであり、１目盛り０．１ｍｍの分解能を有する。The X-axis adjusting jig 114 adjusts the position of the neck 110 in the X-axis direction orthogonal to the center axis of the neck 110, and is formed in a screw shaft shape to fix the neck 110 to the X-axis. Adjustment jig 11 for pressing and displacing in the + direction of
4A, and a receiving shaft 114B that urges the neck portion 110 in the adjustment jig 114A side by a spring or the like (not shown), that is, in the − direction of the X axis. Also, the X-axis adjustment jig 1
The operation knob 114C of the 14 adjustment-side jig 114A has
A scale from 0 to 9 is provided in the same direction around the axis as that shown in FIG. 8 so that the adjustment amount can be recognized. The pitch of the adjustment-side jig 114A is 1 m.
m, and has a resolution of 0.1 mm per division.
【００１７】Ｙ軸調整治具１１６は、ネック部１１０の
中心軸およびＸ軸方向に直交するＹ軸方向に前記ネック
部１１０の位置を調整するものであり、Ｘ軸調整治具１
１４と同様に、ネジ軸状に形成されてネック部１１０を
Ｙ軸の＋方向に押圧変位させる調整側治具１１６Ａと、
不図示のバネ等によってネック部１１０を調整側治具１
１６Ａ側、すなわちＹ軸の−方向に付勢する受け側軸１
１６Ｂとを有している。また、Ｙ軸調整治具１１６の調
整側治具１１６Ａの操作摘み部１１６Ｃにも、図８に示
したものと同様に、軸回り方向に０から９までの目盛り
が設けられており、調整量が認識できるようになってい
る。なお、調整側治具１１６Ａの１ピッチは１ｍｍであ
り、１目盛り０．１ｍｍの分解能を有する。The Y-axis adjustment jig 116 adjusts the position of the neck portion 110 in the Y-axis direction orthogonal to the center axis of the neck portion 110 and the X-axis direction.
Similarly to 14, an adjustment-side jig 116A formed in a screw shaft shape and pressing and displacing the neck portion 110 in the + direction of the Y-axis;
The neck part 110 is adjusted by a spring or the like (not shown).
16A side, that is, the receiving side shaft 1 biasing in the minus direction of the Y axis
16B. The operation knob 116C of the adjustment-side jig 116A of the Y-axis adjustment jig 116 is also provided with scales from 0 to 9 in the direction around the axis, similarly to the one shown in FIG. Can be recognized. Note that one pitch of the adjustment-side jig 116A is 1 mm, and has a resolution of 0.1 mm per scale.
【００１８】また、第１コイル１１８Ａ〜１１８Ｄは、
Ｘ軸およびＹ軸より４５°ずれた角度位置に配置される
とともに、所定の交流電流を供給されることにより、ネ
ック部１１０に上述した図７に示すような磁界２を付与
するものである。以上のＸ軸調整治具１１４、Ｙ軸調整
治具１１６、および第１コイル１１８Ａ〜１１８Ｄは、
治具ベース１１２に設けられており、一体に変位する。The first coils 118A to 118D are
The magnetic field 2 as shown in FIG. 7 described above is applied to the neck portion 110 by being arranged at an angular position shifted by 45 ° from the X axis and the Y axis and being supplied with a predetermined alternating current. The above X-axis adjustment jig 114, Y-axis adjustment jig 116, and first coils 118A to 118D
It is provided on the jig base 112 and is displaced integrally.
【００１９】また、４つの第２コイル１２０Ａ〜１２０
Ｄは、不図示の支持部材によって治具ベース１１２と独
立してネック部１１０の外周に配置されている。各第２
コイル１２０Ａ〜１２０Ｄは、治具ベース１１２よりカ
ソード側に距離Ｌだけ離れた位置に配置されている。第
２コイル１２０Ａ〜１２０Ｄは、Ｘ軸またはＹ軸に沿っ
た角度位置に設けられている。これら第２コイル１２０
Ａ〜１２０Ｄに所定の直流電流を供給することにより、
電子ビームをＸ軸ないしＹ軸に移動させるものである。Further, the four second coils 120A-120
D is arranged on the outer periphery of the neck 110 independently of the jig base 112 by a support member (not shown). Each second
The coils 120A to 120D are arranged at positions away from the jig base 112 on the cathode side by a distance L. The second coils 120A to 120D are provided at angular positions along the X axis or the Y axis. These second coils 120
By supplying a predetermined direct current to A to 120D,
The electron beam is moved in the X-axis or the Y-axis.
【００２０】次に、以上のような構成のビーム離軸測定
装置によるビーム離軸測定作業について説明する。本例
のビーム離軸測定装置では、予めネック部１１０のＸ軸
方向およびＹ軸方向の単位変位量（１ｍｍ）に対する第
２コイル１２０Ａ〜１２０Ｄの感度を測定する。まず、
図３（Ａ）（Ｂ）に示すように、第２コイル１２０Ａ〜
１２０Ｄに供給する可変直流電流によって電子ビームを
ＣＲＴの中心軸に一致させる。Next, a description will be given of a beam off-axis measurement operation using the beam off-axis measurement apparatus having the above-described configuration. In the beam off-axis measurement device of this example, the sensitivity of the second coils 120A to 120D to the unit displacement (1 mm) in the X-axis direction and the Y-axis direction of the neck portion 110 is measured in advance. First,
As shown in FIGS. 3A and 3B, the second coils 120 </ b> A to 120 </ b> A
The electron beam is made to coincide with the central axis of the CRT by the variable direct current supplied to 120D.
【００２１】この状態で、第２コイル１２０Ａ〜１２０
ＤのＸ軸方向の感度測定を行う。まず、図４に示すよう
に、Ｘ軸調整治具１１４によって治具ベース１１２をネ
ック部１１０に対してＸ軸の一方向（図中左方向）に１
ｍｍだけ変位させた後、図３に示すように、第２コイル
１２０Ａ〜１２０Ｄの可変直流電流を変化させて電子ビ
ームをＣＲＴの中心軸に一致させ、その電流値Ａを読み
取る。次に、図５に示すように、Ｘ軸調整治具１１４に
よって治具ベース１１２をネック部１１０に対してＸ軸
の他方向（図中右方向）に１ｍｍだけ変位させた後、図
３に示すように、第２コイル１２０Ａ〜１２０Ｄの可変
直流電流を変化させて電子ビームをＣＲＴの中心軸に一
致させ、その電流値Ｂを読み取る。そして、電流値Ａ、
Ｂに基づいて、Ｘ軸方向の測定感度を２／（Ｂ−Ａ）
［ｍｍ／Ａ］により求める。In this state, the second coils 120A-120
The sensitivity of D in the X-axis direction is measured. First, as shown in FIG. 4, the jig base 112 is moved in one direction (left direction in the drawing) of the X-axis with respect to the neck portion 110 by the X-axis adjustment jig 114.
After being displaced by mm, as shown in FIG. 3, the variable DC current of the second coils 120A to 120D is changed so that the electron beam coincides with the central axis of the CRT, and the current value A is read. Next, as shown in FIG. 5, after the jig base 112 is displaced by 1 mm in the other direction of the X-axis (rightward in the figure) with respect to the neck portion 110 by the X-axis adjustment jig 114, FIG. As shown, the variable direct current of the second coils 120A to 120D is changed so that the electron beam coincides with the center axis of the CRT, and the current value B is read. And the current value A,
Based on B, the measurement sensitivity in the X-axis direction is 2 / (BA)
It is determined by [mm / A].
【００２２】次に、第２コイル１２０Ａ〜１２０ＤのＹ
軸方向の測定感度は、Ｘ軸方向と同様に行う。まず、第
２コイル１２０Ａ〜１２０Ｄに供給する可変直流電流に
よって電子ビームをＣＲＴの中心軸に一致させた状態
で、Ｙ軸調整治具１１６によって治具ベース１１２をネ
ック部１１０に対してＹ軸の一方向（図中下方向）に１
ｍｍだけ変位させた後、第２コイル１２０Ａ〜１２０Ｄ
の可変直流電流を変化させて電子ビームをＣＲＴの中心
軸に一致させ、その電流値Ｃを読み取る。Next, the Y of the second coils 120A to 120D
The measurement sensitivity in the axial direction is performed in the same manner as in the X-axis direction. First, in a state where the electron beam is made to coincide with the central axis of the CRT by the variable direct current supplied to the second coils 120A to 120D, the jig base 112 is moved by the Y-axis adjusting jig 116 with respect to the neck 110 in the Y-axis direction. 1 in one direction (downward in the figure)
mm, the second coils 120A to 120D
Is changed to make the electron beam coincide with the central axis of the CRT, and the current value C is read.
【００２３】次に、Ｙ軸調整治具１１６によって治具ベ
ース１１２をネック部１１０に対してＹ軸の他方向（図
中上方向）に１ｍｍだけ変位させた後、第２コイル１２
０Ａ〜１２０Ｄの可変直流電流を変化させて電子ビーム
をＣＲＴの中心軸に一致させ、その電流値Ｄを読み取
る。そして、電流値Ｃ、Ｄに基づいて、Ｙ軸方向の測定
感度を２／（Ｄ−Ｃ）［ｍｍ／Ａ］により求める。Next, the jig base 112 is displaced by 1 mm in the other Y-axis direction (upward in the drawing) with respect to the neck portion 110 by the Y-axis adjustment jig 116, and then the second coil 12 is moved.
The electron beam is made to coincide with the central axis of the CRT by changing the variable direct current of 0A to 120D, and the current value D is read. Then, based on the current values C and D, the measurement sensitivity in the Y-axis direction is obtained by 2 / (DC) [mm / A].
【００２４】次に、実際のビーム離軸測定を行う。ま
ず、第２コイル１２０Ａ〜１２０Ｄに電流を供給しない
状態で、例えば図６（Ａ）（Ｂ）に示すように、電子ビ
ームがネック部１１０の中心軸よりズレているものとす
る。この状態で、第２コイル１２０Ａ〜１２０Ｄに電流
を供給し、図６（Ａ）（Ｂ）に示す状態から、図６
（Ｃ）に示すように、電子ビームをネック部１１０の中
心軸に一致させる。そして、この場合の各軸方向の第２
コイル１２０Ａ〜１２０Ｄの電流値を測定する。Next, an actual beam off-axis measurement is performed. First, it is assumed that the electron beam is displaced from the central axis of the neck portion 110 in a state where no current is supplied to the second coils 120A to 120D, for example, as shown in FIGS. In this state, a current is supplied to the second coils 120A to 120D, and the state shown in FIGS.
As shown in (C), the electron beam is made to coincide with the central axis of the neck 110. And the second in each axial direction in this case
The current values of the coils 120A to 120D are measured.
【００２５】そして、このように測定したＸ軸方向の電
流値Ｉｘと、上述したＸ軸方向の測定感度との積によ
り、Ｘ軸方向の電子ビームの離軸量２Ｉｘ／（Ｂ−Ａ）
［ｍｍ］を算出する。また、Ｙ軸方向の電流値Ｉｙと、
上述したＹ軸方向の測定感度との積により、Ｙ軸方向の
電子ビームの離軸量２Ｉｙ／（Ｄ−Ｃ）［ｍｍ］を算出
する。The product of the thus measured current value Ix in the X-axis direction and the above-described measurement sensitivity in the X-axis direction gives the amount of off-axis of the electron beam in the X-axis direction 2Ix / (BA).
[Mm] is calculated. Further, a current value Iy in the Y-axis direction,
Based on the product of the measurement sensitivity in the Y-axis direction described above, the amount of off-axis of the electron beam in the Y-axis direction 2Iy / (DC) [mm] is calculated.
【００２６】以上のようにして、治具ベース１１２やＸ
軸、Ｙ軸の各調整治具１１４、１１６をネック部１１０
の回りに回転させることなく、電子ビームの離軸量を測
定できるので、高精度で信頼性の高いビーム離軸測定を
行うことができる。また、ネック部１１０をキズ付ける
ことなく測定を行うことができ、ネックガラスのクラッ
ク等の恐れもなく、製品の信頼性を向上できる。As described above, the jig base 112 and the X
The adjustment jigs 114 and 116 for the axis and the Y axis are
Since the amount of off-axis of the electron beam can be measured without rotating the beam, the highly accurate and highly reliable beam off-axis measurement can be performed. Further, the measurement can be performed without scratching the neck portion 110, and the reliability of the product can be improved without fear of cracking of the neck glass.
【００２７】また、以上のようなビーム離軸測定におい
て、同種類のＣＲＴで、しかも同じ部位での測定を行う
場合には、第２コイル１２０Ａ〜１２０Ｄの感度を同じ
ものとしてビーム離軸を測定することができ、各ＣＲＴ
毎に感度測定を行う必要がない。一方、異なる種類のＣ
ＲＴの測定や同種類のＣＲＴの異なる部位の測定では、
それぞれ第２コイル１２０Ａ〜１２０Ｄの感度測定を行
うことにより、精度のよいビーム離軸の測定を行うこと
ができる。In the above-described beam off-axis measurement, when the same type of CRT is used for measurement at the same site, the beam off-axis is measured with the same sensitivity of the second coils 120A to 120D. Each CRT can
There is no need to perform sensitivity measurement every time. On the other hand, different types of C
In the measurement of RT and the measurement of different parts of the same type of CRT,
By measuring the sensitivity of each of the second coils 120A to 120D, it is possible to accurately measure the beam off-axis.
【００２８】[0028]
【発明の効果】以上説明したように本発明のＣＲＴのビ
ーム離軸測定装置では、ＣＲＴのネック部の外周に配置
される治具ベースに、ネック部の位置を調整するＸ軸調
整治具とＹ軸調整治具とネック部に一定の磁界を付与す
る第１コイルとを設けるとともに、治具ベースより分離
した位置で電子ビームの位置を調整する４つの第２コイ
ルを設け、第２コイルに電子ビームの離軸量に応じた直
流電流を供給し、電子ビームをネック部の中心軸に一致
させた場合の電流値に基づいて、電子ビームの離軸量を
測定するようにした。したがって、第２コイルの電流値
に基づいてビーム離軸量を測定できるので、治具ベース
やＸ軸、Ｙ軸の各調整治具をネック部の回りに回転させ
ることなく、ビーム離軸量の測定作業を行うことがで
き、高精度で信頼性の高い測定を行うことができる。ま
た、調整治具によってネック部をキズ付けることなく測
定を行うことができ、ネックガラスのクラック等の恐れ
もなく、製品の信頼性を向上できる。As described above, in the beam offset measuring apparatus for a CRT according to the present invention, an X-axis adjusting jig for adjusting the position of the neck portion is provided on a jig base arranged on the outer periphery of the neck portion of the CRT. A Y-axis adjustment jig and a first coil for applying a constant magnetic field to the neck are provided, and four second coils for adjusting the position of the electron beam at a position separated from the jig base are provided. A direct current corresponding to the amount of off-axis of the electron beam is supplied, and the amount of off-axis of the electron beam is measured based on the current value when the electron beam is aligned with the center axis of the neck. Therefore, since the beam decentering amount can be measured based on the current value of the second coil, the beam decentering amount can be measured without rotating the jig base and each of the X-axis and Y-axis adjustment jigs around the neck portion. Measurement work can be performed, and highly accurate and highly reliable measurement can be performed. Further, the measurement can be performed without damaging the neck portion by the adjustment jig, and the reliability of the product can be improved without fear of cracking of the neck glass.
【図１】本発明によるＣＲＴのビーム離軸測定装置の概
要を示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing an outline of a beam offset measuring apparatus for a CRT according to the present invention.
【図２】図１に示すＣＲＴのビーム離軸測定装置の側面
図である。FIG. 2 is a side view of the CRT beam off-axis measuring device shown in FIG.
【図３】図１に示すＣＲＴのビーム離軸測定装置におい
て電子ビームの位置を調整した状態を示す正面図であ
る。FIG. 3 is a front view showing a state in which the position of an electron beam is adjusted in the beam off-axis measuring device of the CRT shown in FIG.
【図４】図１に示すＣＲＴのビーム離軸測定装置におい
て治具を左側に移動した状態を示す正面図である。FIG. 4 is a front view showing a state in which the jig is moved to the left side in the beam off-axis measuring device of the CRT shown in FIG.
【図５】図１に示すＣＲＴのビーム離軸測定装置におい
て治具を右側に移動した状態を示す正面図である。5 is a front view showing a state in which the jig is moved to the right side in the beam off-axis measuring device of the CRT shown in FIG.
【図６】図１に示すＣＲＴのビーム離軸測定装置によっ
てビーム離軸を測定する様子を示す正面図である。FIG. 6 is a front view showing how the beam off-axis is measured by the CRT beam off-axis measuring device shown in FIG. 1;
【図７】従来例によるＣＲＴのビーム離軸測定装置の概
要を示す正面図である。FIG. 7 is a front view showing an outline of a conventional CRT beam off-axis measuring device.
【図８】図７に示すビーム離軸測定装置における治具の
目盛りを示す拡大図である。8 is an enlarged view showing a scale of a jig in the beam off-axis measuring device shown in FIG.
【図９】図７に示すビーム離軸測定装置における調整時
のＣＲＴ表示画面を示す正面図である。9 is a front view showing a CRT display screen at the time of adjustment in the beam off-axis measuring device shown in FIG. 7;
【図１０】図７に示すビーム離軸測定装置におけるビー
ム離軸測定作業を示す正面図である。FIG. 10 is a front view showing a beam off-axis measurement operation in the beam off-axis measurement device shown in FIG. 7;
【図１１】図７に示すビーム離軸測定装置におけるビー
ム離軸測定作業を示す正面図である。11 is a front view showing a beam off-axis measurement operation in the beam off-axis measurement device shown in FIG. 7;
【図１２】図７に示すビーム離軸測定装置におけるビー
ム離軸測定作業を示す正面図である。FIG. 12 is a front view showing a beam off-axis measurement operation in the beam off-axis measurement device shown in FIG. 7;
１１０……ネック部、１１２……治具ベース、１１４…
…Ｘ軸調整治具、１１６……Ｙ軸調整治具、１１８Ａ〜
１１８Ｄ……第１コイル、１２０Ａ〜１２０Ｄ……第２
コイル１２０Ａ〜１２０Ｄ。110 ... neck part, 112 ... jig base, 114 ...
... X-axis adjustment jig, 116 ... Y-axis adjustment jig, 118A-
118D: first coil, 120A to 120D: second
Coil 120A-120D.
Claims (6)
ＲＴの中心軸に対する電子ビームの離軸量を測定するＣ
ＲＴのビーム離軸測定装置において、 前記ネック部の外周に配置される治具ベースと、 前記治具ベースに設けられ、前記ネック部の位置を、ネ
ック部の中心軸に直交するＸ軸方向に調整する目盛り付
きのＸ軸調整治具と、 前記治具ベースに設けられ、前記ネック部の位置を、ネ
ック部の中心軸および前記Ｘ軸に直交するＹ軸方向に調
整する目盛り付きＹ軸調整治具と、 前記治具ベースに設けられ、前記Ｘ軸および前記Ｙ軸よ
り４５°ずれた角度位置に配置されるとともに、所定の
交流電流を供給されることにより前記ネック部に一定の
磁界を付与する４つの第１コイルと、 前記治具ベースよりＣＲＴの管軸方向に一定の間隔だけ
離間した位置に設けられるとともに、前記Ｘ軸および前
記Ｙ軸に沿った角度位置に配置され、所定の可変直流電
流を供給されることにより前記電子ビームの位置を調整
する４つの第２コイルとを有し、 前記第２コイルに電子ビームの離軸量に応じた直流電流
を供給し、電子ビームをネック部の中心軸に一致させた
場合の電流値に基づいて、前記電子ビームの離軸量を測
定する、 ことを特徴とするＣＲＴのビーム離軸測定装置。1. A CRT which is arranged on the outer periphery of a neck portion of a CRT,
C for measuring the amount of off-axis of the electron beam with respect to the central axis of RT
In the beam off-axis measuring device of RT, a jig base disposed on an outer periphery of the neck portion, and a jig base provided on the jig base, wherein a position of the neck portion is set in an X-axis direction orthogonal to a central axis of the neck portion. An X-axis adjustment jig having a scale to be adjusted; and a Y-axis adjustment with a scale provided on the jig base, the position of the neck portion being adjusted in a Y-axis direction orthogonal to a center axis of the neck portion and the X-axis. A jig, provided on the jig base, arranged at an angular position shifted by 45 ° from the X axis and the Y axis, and supplied with a predetermined alternating current to apply a constant magnetic field to the neck portion. Four first coils to be provided are provided at positions spaced apart from the jig base by a predetermined distance in the tube axis direction of the CRT, and are arranged at angular positions along the X axis and the Y axis, and Variable DC power And a second coil that adjusts the position of the electron beam by being supplied with a current, supplies a DC current corresponding to the amount of off-axis of the electron beam to the second coil, and causes the electron beam to neck. A decentering amount of the electron beam is measured based on a current value when the center axis coincides with the center axis of the CRT.
の単位変位量に対する前記第２コイルの測定感度を測定
するとともに、前記電子ビームをネック部の中心軸にＸ
軸方向およびＹ軸方向に一致させた際の前記第２コイル
の電流変化量を測定し、前記測定感度に基づいて電子ビ
ームの離軸量を算出することを特徴とする請求項１記載
のＣＲＴのビーム離軸測定装置。2. The method according to claim 1, further comprising measuring a measurement sensitivity of the second coil with respect to a unit displacement amount of the neck in the X-axis direction and the Y-axis direction.
2. The CRT according to claim 1, wherein the amount of change in current of the second coil at the time of matching in the axial direction and the Y-axis direction is measured, and the off-axis amount of the electron beam is calculated based on the measurement sensitivity. Beam off-axis measuring device.
より、電子ビームの離軸量を算出することを特徴とする
請求項２記載のＣＲＴのビーム離軸測定装置。3. The CRT beam off-axis measurement device according to claim 2, wherein the off-axis amount of the electron beam is calculated based on a product of the current change amount and the measurement sensitivity.
は、前記第２コイルに供給する可変直流電流によって前
記電子ビームをＣＲＴの中心軸に一致させた状態で、前
記Ｘ軸調整治具によって治具ベースをネック部に対して
Ｘ軸の一方向に単位量ｎだけ変位させた後、前記第２コ
イルの可変直流電流を変化させて前記電子ビームをＣＲ
Ｔの中心軸に一致させ、その電流値Ａを読み取るととも
に、前記電子ビームをＣＲＴの中心軸に一致させた状態
で、前記Ｘ軸調整治具によって治具ベースをネック部に
対してＸ軸の他方向に単位量ｎだけ変位させた後、前記
第２コイルの可変直流電流を変化させて前記電子ビーム
をＣＲＴの中心軸に一致させ、その電流値Ｂを読み取
り、前記電流値Ａ、Ｂに基づいて、Ｘ軸方向の測定感度
を２ｎ／（Ｂ−Ａ）により求めることを特徴とする請求
項２記載のＣＲＴのビーム離軸測定装置。4. The measuring sensitivity of the second coil in the X-axis direction is determined by adjusting the X-axis adjusting jig in a state where the electron beam is aligned with a central axis of a CRT by a variable DC current supplied to the second coil. After the jig base is displaced by a unit amount n in one direction of the X-axis with respect to the neck portion, the variable DC current of the second coil is changed to change the electron beam to CR.
While the electron beam is aligned with the central axis of the CRT while the electron beam is aligned with the central axis of the CRT, the jig base is moved in the X-axis direction with respect to the neck by the X-axis adjusting jig. After being displaced in the other direction by a unit amount n, the variable direct current of the second coil is changed so that the electron beam coincides with the central axis of the CRT, and the current value B is read, and the current values A and B are read. 3. An apparatus according to claim 2, wherein the measurement sensitivity in the X-axis direction is determined based on 2n / (BA).
は、前記第２コイルに供給する可変直流電流によって前
記電子ビームをＣＲＴの中心軸に一致させた状態で、前
記Ｙ軸調整治具によって治具ベースをネック部に対して
Ｙ軸の一方向に単位量ｎだけ変位させた後、前記第２コ
イルの可変直流電流を変化させて前記電子ビームをＣＲ
Ｔの中心軸に一致させ、その電流値Ｃを読み取るととも
に、 前記電子ビームをＣＲＴの中心軸に一致させた状態で、
前記Ｙ軸調整治具によって治具ベースをネック部に対し
てＹ軸の他方向に単位量ｎだけ変位させた後、前記第２
コイルの可変直流電流を変化させて前記電子ビームをＣ
ＲＴの中心軸に一致させ、その電流値Ｄを読み取り、前
記電流値Ｃ、Ｄに基づいて、Ｙ軸方向の測定感度を２ｎ
／（Ｄ−Ｃ）により求めることを特徴とする請求項２記
載のＣＲＴのビーム離軸測定装置。5. The measuring sensitivity of the second coil in the Y-axis direction is determined by adjusting the Y-axis adjusting jig in a state where the electron beam is aligned with a central axis of a CRT by a variable DC current supplied to the second coil. After the jig base is displaced by a unit amount n in one direction of the Y-axis with respect to the neck portion, the variable DC current of the second coil is changed to change the electron beam to CR.
With the electron beam aligned with the central axis of the CRT, the current value C is read, and the electron beam is aligned with the central axis of the CRT.
After displacing the jig base by the unit amount n in the other direction of the Y-axis with respect to the neck portion by the Y-axis adjusting jig,
The electron beam is changed to C by changing the variable DC current of the coil.
The current value D is read in accordance with the central axis of the RT, and the measurement sensitivity in the Y-axis direction is set to 2n based on the current values C and D.
3. The CRT beam off-axis measuring device according to claim 2, wherein the value is obtained by: / (D−C).
してネック部のカソード側に設けられていることを特徴
とする請求項１記載のＣＲＴのビーム離軸測定装置。6. An apparatus according to claim 1, wherein said second coil is provided on a cathode side of a neck portion with respect to said jig base.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15317597A JPH113662A (en) | 1997-06-11 | 1997-06-11 | Beam yaw measurement device for crt |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15317597A JPH113662A (en) | 1997-06-11 | 1997-06-11 | Beam yaw measurement device for crt |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH113662A true JPH113662A (en) | 1999-01-06 |
Family
ID=15556700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15317597A Pending JPH113662A (en) | 1997-06-11 | 1997-06-11 | Beam yaw measurement device for crt |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH113662A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1045783C (en) * | 1993-08-05 | 1999-10-20 | 三井化学株式会社 | Polyamide resin composition |
-
1997
- 1997-06-11 JP JP15317597A patent/JPH113662A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1045783C (en) * | 1993-08-05 | 1999-10-20 | 三井化学株式会社 | Polyamide resin composition |
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