JPH11354431A - 投影露光装置及び半導体デバイスの製造方法 - Google Patents

投影露光装置及び半導体デバイスの製造方法

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JPH11354431A
JPH11354431A JP10179587A JP17958798A JPH11354431A JP H11354431 A JPH11354431 A JP H11354431A JP 10179587 A JP10179587 A JP 10179587A JP 17958798 A JP17958798 A JP 17958798A JP H11354431 A JPH11354431 A JP H11354431A
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temperature
exposure apparatus
projection
projection exposure
heat
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JP10179587A
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Masato Hatazawa
正人 畑沢
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Nikon Corp
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 露光装置本体の熱変動が投影レンズに伝わり
難いようにする。 【解決手段】 外側鏡筒部分と、該外側鏡筒部分を支持
する搭載接続部とを有する投影光学系と;被搭載接続部
を有する支持台であって、前記搭載接続部を前記被搭載
接続部に接続して前記投影光学系を支持する支持台と;
前記外側鏡筒部分と、前記搭載接続部と、前記支持台
と、の少なくとも一つに設けられた温度制御装置とを備
えることを特徴とする投影露光装置とする。温度制御装
置を設けたので、投影レンズの温度を安定化させること
ができ、温度安定性が増すため投影レンズの性能の安定
化を図ることができ、投影レンズの性能を向上させるこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レチクルに形成さ
れた微細なパターンを投影レンズを介して基板上に露
光、転写する投影露光装置、及び当該投影露光装置を用
いて半導体デバイスを製造する方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】最近、半導体デバイスは電子回路の高集
積化が進み、対象線幅も非常に小さくなっている。これ
に伴い投影レンズに要求される性能も非常に厳しく、投
影レンズの性能は温度環境の変動に対しても敏感になっ
ている。従来の投影露光装置においては、図7に一部断
面にて示されるように、投影レンズPL’(一部破線に
て表示)はそのフランジ部22を介して投影露光装置の
内部に取り付けられている。この場合に、投影レンズP
L’のフランジ部22はある所定の値の接触面積を持っ
て投影露光装置の支持台24の上面25に例えばボルト
23で締結される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、投影露光装置
本体は露光光源、アライメント用光源、電気回路用電源
等熱源を多く有しており、装置本体はある程度の温度上
昇を伴う。したがって、熱源から装置本体の投影レンズ
支持台、投影レンズのフランジ部を通じて、投影レンズ
へ熱が伝達されるおそれがある。これらの熱が投影レン
ズに伝わることにより、光学部材や機械部材の温度変動
が生じ、この温度変動に起因して、投影レンズの短期・
長期的な性能が変動してしまう。特に、投影レンズが高
性能化に伴い環境温度への敏感度を増してきており、例
えば0.01℃程度の僅かな温度変動によっても投影レ
ンズの性能が変動する場合もある。
【0004】さらに、KrFエキシマレーザ、ArFエ
キシマレーザ等の短波長光源を使用するような場合にお
いては、光学部材として蛍石を使用することがある。蛍
石は温度変動による光学特性の変動が非常に大きい光学
部材であるので、投影レンズの環境温度変化を常に一定
温度以下に安定させなければならない。したがって、投
影露光装置本体の温度変動が投影レンズを支持する支持
台を通じて投影レンズに伝わるのを遮断することが必要
である。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に係る発明による投影露光装置は、例えば
図1に示すように、鏡筒部分26a、26bと、鏡筒部
分26a、26bを支持する搭載接続部2とを有する投
影光学系PLと;被搭載接続部を有する支持台4であっ
て、搭載接続部2を前記被搭載接続部に接続して投影光
学系PLを支持する支持台4と;鏡筒部分26a、26
bと、搭載接続部2と、支持台4と、の少なくとも一つ
に設けられた温度制御装置21、10、7、9、14と
を備えることを特徴とする。温度制御装置によって、鏡
筒部分と、搭載接続部と、支持台と、の少なくとも一つ
が温度制御されるので、投影露光装置の温度変動が投影
レンズに伝わるのを遮断することができる。
【0006】請求項2に係る発明による投影露光装置
は、請求項1に記載の投影露光装置において、前記温度
制御装置は、前記搭載接続部と前記被搭載接続部との接
続箇所近傍の前記鏡筒部分に設けられていることを特徴
とする。搭載接続部と被搭載接続部との接続箇所近傍の
鏡筒部分に設けられた温度制御装置によって、被搭載接
続部から搭載接続部を経て鏡筒部分に伝わる熱を効率よ
く吸収することができ、投影露光装置の温度変動が投影
レンズに伝わるのを遮断することができる。
【0007】請求項3に係る発明による投影露光装置
は、請求項1または請求項2に記載の投影露光装置にお
いて、前記温度制御装置が冷却媒体を介して、熱を吸収
するように構成されていることを特徴とする。温度制御
装置が、投影露光装置の発熱部から投影光学系の支持台
へ伝達された熱を、冷却媒体を介して吸収するので、こ
の熱が投影光学系に伝導されるのを遮断することがで
き、投影光学系の温度安定性能が向上する。
【0008】請求項4に係る発明による投影露光装置
は、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の投影
露光装置において、前記温度制御装置が、温度調整器を
含むことを特徴とする。投影露光装置の発熱部から投影
光学系の支持台へ伝達された熱を、温度制御装置が温度
調整器によって温度を調整することにより遮断すること
ができる。よって、この熱が投影光学系に伝導されるの
を防ぎ、投影光学系の温度安定性能が向上する。温度調
整器は、投影光学系の支持台の温度制御装置を設置する
設置部の温度を調整するようにするとよい。
【0009】請求項5に係る発明による投影露光装置
は、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の投影
露光装置において、前記温度制御装置は、前記鏡筒部分
と、前記搭載接続部と、前記支持台との少なくとも一つ
の設置部に接続される廃熱部を有し、該廃熱部と前記設
置部との間に、熱伝導部材を設けたことを特徴とする。
温度制御装置の廃熱部と温度制御装置の設置部は熱の伝
導部材を介して接続されているので、温度制御装置は設
置部から廃熱部に効率よく熱を廃棄することができる。
したがって、熱が投影光学系に伝導されるのを遮断する
ことができ、投影光学系の温度安定性能が向上する。廃
熱部が接続されるとは、廃熱部が接触し熱的に接続さ
れ、接触部から廃熱部へ熱が廃棄されうることをいう。
【0010】請求項6に係る発明による投影露光装置
は、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の投影
露光装置において、前記投影光学系は光学素子を有し、
該光学素子の温度を調整する光学素子温度制御部材をさ
らに有することを特徴とする。
【0011】上記目的を達成するために、請求項7に係
る発明による半導体デバイスの製造方法は、請求項1か
ら請求項6のいずれか1項に記載の投影露光装置内に、
パターンの形成されたレチクルを載置する工程と;前記
投影光学系に関して前記レチクルと共役な位置に、半導
体デバイス用の基板を載置する工程と;前記投影露光装
置を用いて前記パターンを前記基板に投影露光する工程
とを備えることを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して説明する。
【0013】図1は、本発明による第1の実施の形態で
ある投影露光装置1の主要な構成を模式的に表し、一部
断面にした図である。図中投影露光装置1において、エ
キシマレーザ(KrF:波長248nm、ArF:波長
193nm、F2:波長157nm)からのエキシマレ
ーザ光や、高圧水銀灯からの遠紫外線(i線:波長36
5nm)等の紫外線、あるいはX線、軟X線(波長数十
nm以下)等のエネルギー線を射出する露光光源LSか
らの光ILはミラーM1、照明光学系IUを通り、レチ
クルステージRSTG上に載置されたレチクルRを照射
する。
【0014】光ILで照明されたレチクルR上のパター
ンPAは、本発明の投影光学系の光学素子としての投影
レンズPLを介してウエハステージWSTG上に搭載さ
れたウエハW上に投影され、レチクルステージRSTG
とウエハステージWSTGとを投影レンズPLに対して
同期して移動させながらレチクルR上のパターンPAが
焼付け露光される。
【0015】レチクルステージRSTGのレチクルRを
載置する面に対して光軸が垂直になるように配置された
投影レンズPLは鏡筒部分としての外側鏡筒部分26
a、26bに保持され、その外側鏡筒部分26a、26
bの長手方向中央部に外周形状が六角形のフランジ部2
を有し、投影レンズPLはフランジ部2のボルト穴(図
示せず)に差し込まれたボルト3を締め付けることによ
って、投影露光装置1の支持台4の上面5aに固定され
る。支持台4の上面5aには開口6が形成されており、
この開口6に外側鏡筒部分26a、26bのフランジ部
2より下側の部分が差し込まれている。投影レンズPL
はレチクルに近い二つのみ図示し残りは省略している。
なお、フランジ部2が本発明でいう搭載接続部、支持台
4の上面5aが被搭載接続部に該当する。
【0016】支持台4の上面5aにフランジ部2を包囲
して環状の本発明の温度制御装置としての温度安定化シ
ステム7が取り付けられている。温度安定化システム7
はフランジ部2の近傍にフランジ部2を包囲して設置さ
れる。温度安定化システム7は、熱の伝達経路の近くに
取付けることが望ましいので、温度安定化システム7と
フランジ部2の間の間隔は所定の十分に小さい値とする
が、温度安定化システム7がフランジ部2に接触してい
てもよい。接触している場合は、温度制御の均一性のた
め、全ての対応している部分が同じように接触している
ことが望ましい。 温度安定化システム7の構成は後述
するが、一般に、その形状はフランジ部2の形状に対応
して形成されており、フランジ部2の外形が正方形の場
合は温度安定化システム7の形状は正方形の環状とし、
フランジ部2の外形が円形の場合は円形の環状とすると
よい。
【0017】温度安定化システム7は、投影露光装置1
を収納し、投影露光装置1回りの空間の環境を所定の温
度、湿度に保つためのチャンバCHの中に設けられた温
度調整器11に配管30aを介して接続され、温度安定
化システム7で吸収された熱は、温度調整器11に運ば
れ、この温度調整器11によってチャンバCHの外部に
廃熱される。配管30aは供給管と戻り管からなるが、
図中供給管は全部示したが、戻り管は温度調整器11に
接続される近傍部分のみ示し、残りは省略している(図
1において、温度調整器11に接続され冷却用液体が流
れる他の配管も同様)。
【0018】投影レンズPLの鏡筒(外側鏡筒)の上部
は、最外周の外側鏡筒部分26aとレンズを保持する外
側鏡筒部分26bとの2重構造となっており、二つの外
側鏡筒部分26a、26bに挟まれた空間57で冷却用
液体(例えば住友3M社製商品名フロリナート)を流す
配管29がコイル状に設置されている光学素子温度制御
部材としてのレンズ温度調節システム20が設けられて
いる。配管29の供給管は、外側鏡筒部分26a、26
bに挟まれた空間57のレチクルRに近い上部から該空
間57に入る。配管29の戻り管は、温度調整器11に
接続される近傍部分のみ示すが、空間57の下部に対応
する位置において外側鏡筒部分26aに加工された貫通
口(不図示)を通るように配置されている。配管29を
空間57内部で2パス構造とし、空間57のレチクルR
に近い上部から該空間57に出入りするよう配置しても
よい。
【0019】ここで、外側鏡筒部分26aと外側鏡筒部
分26bとは、一体構造の厚肉の筒として形成し、その
筒の厚肉部に冷却用液体を流す穴を明けて、その穴に配
管を接続してもよい。あるいは厚肉部の穴に熱交換チュ
ーブとしての配管を挿入貫通するようにしてもよい。
【0020】また、図1の投影露光装置には、送光系1
3aと受光系13bからなる焦点検出系13が設けられ
ている。送光系13a内の光源から射出された検出光
は、複数のスリット開口が設けられたスリット板(不図
示)を介して、斜めからウエハWに人射する。ウエハW
で反射された検出光は、受光系13b内の、振動ミラ
ー、スリット板に対応してスリット開口が設けられた受
光スリット(ともに不図示)を介しスリットに対応した
複数の受光素子(不図示)に人射し、受光信号を振動ミ
ラーの振動周波数で同期検波することで、各々のスリッ
トに対応したウエハW上での検出点における焦点位置を
計測する。この焦点検出系13は、支持台4の一部であ
る支持部12に設けられている。
【0021】図2は、図1の投影露光装置をA−A方向
から(上から下に向かって)、フランジ部2と温度安定
化システム7を見た図である(フランジ部2、温度安定
化システム7、上面5a、温度調整器11、配管30a
のみ示す。他は省略)。温度安定化システム7は本実施
の形態では、熱を吸収する直方体形状のヒートシンクで
あり、ヒートシンク7aから7fの6つのヒートシンク
により温度安定化システム7が構成されていることを示
している。また図示するように、フランジ部2の外形が
六角形なので、温度安定化システム7の形状は六角形の
環状となるように、ヒートシンク7aから7fが配管3
0aにより接続されて直列に上面5a上に配置されてい
る。図中破線と網掛けにて示す中空部は図3にて説明す
る。
【0022】図3は、一例としてヒートシンク7cの側
面を図2に示すD方向から見た図である。図3に破線と
網掛けで示すように、これらのヒートシンクは、アルミ
等による軽石状の中空部材7ccを有する。温度調整器
11は、最初のヒートシンク7aの取り込み口INに温
度制御されたフロリナートまたは水等の冷却剤を供給
し、ヒートシンク7aから7fまで順番に、各々の中空
部の内部に温度制御されたフロリナートまたは水等の冷
却剤が流され、最後のヒートシンク7fの排出口OUT
から冷却剤が温度調整器11に戻る。したがって、熱は
ヒートシンク7a〜7fから冷却剤によって配管30a
を通じて温度調整器11に運ばれる。
【0023】さらに、本実施の形態では、熱伝達率を向
上させるために、ヒートシンク7aから7fの下面と支
待台4の上面5aとの間に、密着性が高く、また熱伝導
率の艮い材料8(例えば、熱伝導ゴムシートやサーマル
シリコンコンパウンド等)を挟み込み、支持台4からヒ
ートシンク7aから7f(温度安定化システム7)へ熱
が伝達される場合の熱抵抗を減らしている。
【0024】前述のヒートシンク7a〜7fが本発明の
廃熱部(支持台からの熱が、ヒートシンクに廃棄され
る。)として作用し、前述の熱伝導率の艮い材料8が本
発明の熱伝導部材である。
【0025】図2では、各ヒートシンクは離散的に設け
られていたが、連続したヒートシンクとしてもよいし、
一体に構成してもよい。連続したヒートシンクには分割
されたヒートシンクでありながら、その端部が互いに接
触し、上面5aとヒートシンクが接触する接触面が連続
して繋がっているものまたはヒートシンクが分割されず
一体構造となっているものがある。またヒートシンクの
形状は、図2のような直方体形状に限定されるものでは
なく、図4に示す変形例を採用することができる。図4
(A)は、図2に対応し、図1のA−A方向から見た上
面図であり、図4(B)は、図3に対応した断面図であ
る。
【0026】図4に示すごとく、ヒートシンク37aの
形状はコの字型であってもよい。コの字型とすることに
より、ヒートシンク(中空部材)37aのフランジ部の
上面35aと接触する全体の表面積を増やすことがで
き、熱容量が図2に比べて大きくなるという利点があ
る。ヒートシンク37aの下面とフランジ部の上面35
aとの間に、密着性が高く、また熱伝導率の艮い材料3
8が挟み込まれている。図4においても、中空部は破線
と網掛けにて示す。
【0027】また、支持台4の上面5aに接する部分に
おいて媒体が気化し、支持台4の上面5aから離れた部
分で媒体が凝縮するヒートパイプ(図4に図示せず)で
あってもよい。さらに、図示しないが温度安定化システ
ムを、空気入り口と、その内部に空気を案内する通路
と、フランジ部2の外側(チャンバ側)側面方向に空気
を放出する出口を形成し、温度制御された空気をフラン
ジ部2の外側側面に吹き付けるようにしてもよいし、ま
た、このような空冷系とヒートシンクとを組み合わせて
もよい。
【0028】次に図1に戻って、支特台4の上面5a以
外に設けられた、温度制御装置としての温度安定化シス
テムについて説明する。
【0029】本実施の形態では、温度安定化システムの
設置場所は、支持台4の上面5aに限らない。フランジ
部2の上面31に温度安定化システム10が、支持台4
の上面5aより一段下にあるもう一つの上面5bに温度
安定化システム9が、フランジ部2と支持台4との接続
部分近傍である鏡筒(外側鏡筒)部分の側面32に温度
安定化システム21が設置されている。
【0030】これらの温度安定化システム9、10、2
1は、支持台の上面5aに設置された温度安定化システ
ム7と同様に直列に配管によって接続されたヒートシン
クを含んで構成されている。また、それぞれの温度安定
化システム9、10、21は、配管30b、30c、3
0dを介して温度調整器11に接続されている。このと
きヒートシンクは、離散タイプでもよいし、連続タイプ
でもよい。離散タイプの場合は、ヒートシンクの数は、
支持体4の上面5aに配置されたものと同じ(6個)で
もよいし、異なっていてもよい。
【0031】さらに、図1、図5に示すように、本実施
の形態では、配管30eを介して温度安定化システム1
4を焦点検出系13が設けられている支持部12の内側
面33にも設けてある。図5は図1のE−E方向(下か
ら上)から、投影露光装置1を見、支持台4の外枠、外
側鏡筒部分26a、26bを省略した図であり、支持部
12の内側面33(投影レンズPL側)に、連続的に直
列に配置された7つのヒートシンク14a〜14gが設
置されている。本図においても、温度安定化システム1
4を、ヒートパイプや空冷としたり、ヒートシンク(ヒ
ートパイプ)と空冷とを組み合わせてもよいことは、言
うまでもない。
【0032】本実施の形態の投影露光装置1には、露光
光源LS、アライメント用光源(不図示)、他の電気回
路用電源(不図示)等の熱源から発せられる熱が、投影
露光装置1の支持台4の温度を上昇させるが、この熱を
温度安定化システム7、9、10、14、21によって
吸収し、この熱がフランジ部2、外側鏡筒部分を通じて
技影レンズPLに伝達されるのを防ぐことができる。温
度安定化システム7、10は支持台4の上面5a、5b
において、フランジ部2の近傍にフランジ部2を囲んで
設置されているので、効率的に熱を吸収することができ
る。また、投影露光装置1の焦点検出系13を含むアラ
イメント系の近傍に、温度安定化システム14を設置し
ているので、アライメント系からの熱が、投影レンズP
Lに伝達されるのも防ぐことができる。
【0033】本実施の形態の投影露光装置1によれば、
温度安定化システム7、9、10、14、21さらにレ
ンズ温度調節シムテム20により投影レンズPLの温度
変動を抑えることができるので、光学部材としての、温
度変動による光学特性変動の大きい蛍石を使用する短波
長領域の投影レンズを用いた場合に、特に有効である。
さらに、投影レンズPLが、石英レンズの他に複数の蛍
石を有する投影レンズを使用する場合には、レンズ温度
調節シムテム20と温度安定化システム7、9、10、
14、21と併用したことが、特にその効果を有効なも
のとしている。
【0034】また、図6に本発明の第2の実施の形態の
投影露光装置51を部分的に示す。本図に示すように、
投影レンズが複数の鏡筒に分割されている場合には、各
鏡筒が支持台の上に支持されるので、各分割鏡筒ごと
に、フランジ及び支持台を対象にした温度安定化システ
ムを設ければよい。本実施の形態において、投影光学系
は、投影レンズPL1、PL3、ミラー群PL2に分割
されており、それぞれの鏡筒27、28は、それぞれフ
ランジ部52a、52bを介して支持台54で支持され
ている。
【0035】そして、各々の投影光学系の近傍には、第
1の実施の形態の温度安定化システムと同様に、温度安
定化システム15が支持台54の鏡筒27側の上面39
に、温度安定化システム17が支持台54の鏡筒28側
の上面41に、温度安定化システム16がミラー群PL
2を支持台上に支持する支持壁55の側面40に、温度
安定化システム18がフランジ部52aの上面42に、
温度安定化システム19がフランジ部52bの上面43
に設けられている。本図において、温度調整器、各温度
安定化システムと温度調整器とを繋ぐ配管は図示してい
ない。
【0036】特に、ArFエキシマレーザのような20
0nm以下の波長の光を露光光として用いる場合は、図
6に示すような反射屈折系が色収差補正等の観点から有
利であり、このような反射屈折系では、鏡筒が複数に分
割され、各鏡筒27、28ごとに、温度安定化システム
を設けることは特に効果的である。本実施の形態におい
ても各鏡筒27、28ごとにレンズ温度調節システム
(不図示)を設置することができる。図6に示す投影レ
ンズは、石英と蛍石との少なくとも一つで構成され、前
述のごとく、石英レンズの他に複数の蛍石を有する投影
レンズを使用する場合には、前述のレンズ温度調節シス
テムと温度安定化システム(フランジ部、支持台上面)
との併用が、特に有効である。
【0037】
【発明の効果】以上のように本発明の投影露光装置によ
れば、温度制御装置を設けたので、温度変動が投影光学
系の支持台を通じて投影光学系に伝わるのが遮断され、
投影光学系の温度を安定化させることができる。このた
め温度安定性が増すので、投影光学系の特性の安定化を
図ることができるようになり、投影光学系の性能を向上
させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の投影露光装置全体
の構成を一部断面として模式的に表したものである。
【図2】図1の投影露光装置のA−A方向(上から下)
の矢視図である。
【図3】図2の投影露光装置の側面をD方向から見た場
合の側面図である。
【図4】(A)はコの字型の形状のヒートシンクの平面
図である。(B)は同ヒートシンクの側面図である。
【図5】図1の投影露光装置のE−E方向(下から上)
の矢視図である。
【図6】投影レンズが複数の鏡筒に分割されている場合
の第2の実施の形態の投影露光装置の部分正面図であ
る。
【図7】従来の投影露光装置の投影レンズの支持台への
取付構造を表した部分断面図である。
【符号の説明】
1 投影露光装置 2 フランジ部 3 ボルト 4 支持台 5a 上面 5b 上面 6 開口 7 温度安定化システム 7a、7b、7c、7d、7e、7f ヒートシンク 7cc 中空部材 8 熱伝導率のよい材料 9 温度安定化システム 10 温度安定化システム 11 温度調整器 12 支持部 13 焦点検出系 13a 送光系 13b 受光系 14 温度安定化システム 14a、14b、14c、14d、14e、14f、1
4g ヒートシンク 15、16、17、18、19 温度安定化システム 20 レンズ温度調節システム 21 ヒートシンク 26a 外側鏡筒部分 26b 外側鏡筒部分 27、28 鏡筒 29 配管 30a、30b、30c、30d、30e 配管 31 上面 32 側面 33 内側面 35a 上面 37a ヒートシンク 38 熱伝導率のよい材料 39 上面 40 側面 41、42、43 上面 51 投影露光装置 52a フランジ部 52b フランジ部 54 支持台 55 支持壁 57 空間 CH チャンバ IL 光 IN 取り込み口 IU 照明光学系 LS 露光光源 M1 ミラー OUT 排出口 PA パターン PL 投影レンズ PL1 投影レンズ PL2 投影レンズ PL3 ミラー群 R レチクル RSTG レチクルステージ W ウエハ WSTG ウエハステージ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 鏡筒部分と、該鏡筒部分を支持する搭載
    接続部とを有する投影光学系と;被搭載接続部を有する
    支持台であって、前記搭載接続部を前記被搭載接続部に
    接続して前記投影光学系を支持する支持台と;前記鏡筒
    部分と、前記搭載接続部と、前記支持台と、の少なくと
    も一つに設けられた温度制御装置とを備えることを特徴
    とする;投影露光装置。
  2. 【請求項2】 前記温度制御装置は、前記搭載接続部と
    前記被搭載接続部との接続箇所近傍の前記鏡筒部分に設
    けられていることを特徴とする請求項1に記載の投影露
    光装置。
  3. 【請求項3】 前記温度制御装置が冷却媒体を介して、
    熱を吸収するように構成されていることを特徴とする請
    求項1または請求項2に記載の投影露光装置。
  4. 【請求項4】 前記温度制御装置が、温度調整器を含む
    ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項
    に記載の投影露光装置。
  5. 【請求項5】 前記温度制御装置は、前記鏡筒部分と、
    前記搭載接続部と、前記支持台との少なくとも一つの設
    置部に接続される廃熱部を有し、該廃熱部と前記設置部
    との間に、熱伝導部材を設けたことを特徴とする請求項
    1から請求項4のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  6. 【請求項6】 前記投影光学系は光学素子を有し、該光
    学素子の温度を調整する光学素子温度制御部材をさらに
    有することを特徴とする請求項1から請求項5のいずれ
    か1項に記載の投影露光装置。
  7. 【請求項7】 請求項1から請求項6のいずれか1項に
    記載の投影露光装置内に、パターンの形成されたレチク
    ルを載置する工程と;前記投影光学系に関して前記レチ
    クルと共役な位置に、半導体デバイス用の基板を載置す
    る工程と;前記投影露光装置を用いて前記パターンを前
    記基板に投影露光する工程とを備えることを特徴とす
    る;半導体デバイスの製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006156632A (ja) * 2004-11-29 2006-06-15 Nikon Corp ガス温度調整装置、鏡筒、露光装置並びにデバイスの製造方法、ガス温度調整方法
US7545478B2 (en) 2004-05-05 2009-06-09 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, thermal conditioning system, and method for manufacturing a device
JP2012028797A (ja) * 2003-11-13 2012-02-09 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置およびデバイス製造方法

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