JPH11344378A - Method for correcting wavelength of spectroscopic analyzer - Google Patents
Method for correcting wavelength of spectroscopic analyzerInfo
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- JPH11344378A JPH11344378A JP37144798A JP37144798A JPH11344378A JP H11344378 A JPH11344378 A JP H11344378A JP 37144798 A JP37144798 A JP 37144798A JP 37144798 A JP37144798 A JP 37144798A JP H11344378 A JPH11344378 A JP H11344378A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、分光分析計の波
長補正方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wavelength correction method for a spectrometer.
【０００２】[0002]
【発明の背景】図８は、例えば水溶液中に含まれる複数
の成分の濃度を測定するための分光分析計の概要を示す
もので、この図において、１は光源、２はレンズ、３は
分光器である。この分光器３は、入射スリット４と出射
スリット５との間に、第１ミラー６、両矢印で示される
方向に適宜回転操作される回折格子７、第２ミラー８を
設けたものである。９は試料が供給されるとともに分光
器３から出力された光の照射を受けるフローセル、１０
はレンズ、１１は検出器である。BACKGROUND OF THE INVENTION FIG. 8 shows an outline of a spectrophotometer for measuring the concentration of a plurality of components contained in an aqueous solution, for example, wherein 1 is a light source, 2 is a lens, and 3 is a spectrometer. It is a vessel. The spectroscope 3 is provided with a first mirror 6, a diffraction grating 7 that is appropriately rotated and operated in a direction indicated by a double arrow, and a second mirror 8 between an entrance slit 4 and an exit slit 5. Reference numeral 9 denotes a flow cell to which a sample is supplied and which receives irradiation of light output from the spectroscope 3.
Is a lens, and 11 is a detector.
【０００３】そして、１２は増幅器、１３はＡＤ変換
器、１４はメモリを備え、演算・制御を行う演算・制御
部（例えばマイクロコンピュータ）、１５は表示部、１
６はインタフェースである。[0003] Reference numeral 12 denotes an amplifier, 13 denotes an AD converter, 14 denotes a memory, and an operation / control unit (for example, a microcomputer) for performing operation / control, 15 denotes a display unit,
6 is an interface.
【０００４】上記分光分析計においては、マイクロコン
ピュータ１４からの指令をインタフェース１６を介して
回折格子７の駆動部（図示していない）に送って回折格
子７を回動制御して、所定の波長間（例えば１４００ｎ
ｍ〜１８５０ｎｍ）を反復走査させた単色光を、フロー
セル８中に取り入れた標準液または被検液に対して透過
させる。そして、その透過光を検出器１１で受光し、そ
のときの光強度を検出し、その検出信号が増幅器１２お
よびＡＤ変換器１３を介してマイクロコンピュータ１４
に入力する。マイクロコンピュータ１４においては、前
記検出器出力を吸光度に変換した後、多変量解析法によ
り、被検液の多成分の濃度値を求め、これをメモリ内に
記憶したり、表示部１５に表示するのである。In the above-mentioned spectrometer, a command from the microcomputer 14 is sent to a driving unit (not shown) of the diffraction grating 7 via the interface 16 to control the rotation of the diffraction grating 7 to obtain a predetermined wavelength. (For example, 1400n
m-1850 nm) is transmitted through a standard solution or a test solution introduced into the flow cell 8. Then, the transmitted light is received by the detector 11, the light intensity at that time is detected, and the detection signal is transmitted to the microcomputer 14 via the amplifier 12 and the AD converter 13.
To enter. In the microcomputer 14, after converting the detector output into absorbance, the multivariate analysis method is used to obtain the concentration values of the multiple components of the test liquid, and this is stored in a memory or displayed on the display unit 15. It is.
【０００５】[0005]
【従来の技術】ところで、上記分光分析計においては、
分光器３において何らかの原因で波長ずれが生じたり、
分光器間において波長ずれ（機差）がある場合には、従
来は、ミラー６，８の角度を調整したり、回折格子７の
取付け角度を調節するなど、機械的調整を行うことによ
り、前記波長ずれや機差をなくすようにしていた。2. Description of the Related Art In the above-mentioned spectrometer,
The wavelength shift occurs for some reason in the spectroscope 3,
Conventionally, when there is a wavelength shift (instrument difference) between the spectroscopes, the above-described mechanical adjustment is performed by adjusting the angles of the mirrors 6 and 8 or adjusting the mounting angle of the diffraction grating 7. We tried to eliminate wavelength shifts and machine differences.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の機械的調整方法においては、調整精度を、回折格子
７などを駆動するモータなど分光分析計を構成する部品
の分解能（例えばモータのステップ数）以下にすること
は困難であり、また、調整結果が調整を行う技術者の技
術的な熟練度に大きく依存し、調整が確実に行われない
ことがある。そして、機械的調整を行うための治具や工
具が必要であったり、調整に多大の時間を要することも
ある。However, in the above-mentioned conventional mechanical adjustment method, the adjustment accuracy is determined by the resolution (for example, the number of steps of the motor) of the components constituting the spectrometer such as the motor for driving the diffraction grating 7 and the like. It is difficult to make the adjustment below, and the adjustment result depends largely on the technical skill of the engineer making the adjustment, and the adjustment may not be performed reliably. Then, a jig or a tool for performing the mechanical adjustment is required, or the adjustment may take a long time.
【０００７】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、その目的は、短時間でしかも確実に分光分析
計の波長補正を行うことができる分光分析計の波長補正
方法を提供することである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in consideration of the above-mentioned matters, and has as its object to provide a wavelength correction method for a spectrometer which can surely correct the wavelength of the spectrometer in a short time. That is.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明の分光分析計の波長補正方法（以下、単に
波長補正方法という）は、測定によって得られた吸光度
スペクトルと基準となる吸光度スペクトルとの波長のず
れ量を求め、この波長のずれ量だけシフトさせた曲線を
求め、この曲線における波長間をカーブフィッティング
法を用いて補間することにより波長補正を行うことを特
徴としている（請求項１）。Means for Solving the Problems To achieve the above object, a wavelength correction method of a spectrometer according to the present invention (hereinafter simply referred to as a wavelength correction method) comprises an absorbance spectrum obtained by measurement and a reference absorbance spectrum. And a wavelength shift is calculated by shifting the wavelength by the amount of shift of the wavelength, and interpolating between the wavelengths in the curve using a curve fitting method to perform wavelength correction. 1).
【０００９】そして、上記波長補正方法において、測定
によって得られた吸光度スペクトルを任意の区間に分割
し、各区間ごとに基準となる吸光度スペクトルとの波長
のずれ量を求めるようにしてもよい（請求項２）。In the above-described wavelength correction method, the absorbance spectrum obtained by the measurement may be divided into arbitrary sections, and a wavelength shift amount from a reference absorbance spectrum may be obtained for each section. Item 2).
【００１０】上記請求項１に記載の波長補正方法におい
ては、基準の吸光度スペクトルに対する波長ずれ量を設
定するだけで、任意の量の波長シフトを簡単に行うこと
ができ、分光分析計を構成する部品の分解能以下の精度
にまで調整が可能となる。そして、調整に際して技術的
熟練度は不要であるとともに、治具や工具も不要であ
る。また、調整に要する時間も少なくて済む。In the wavelength correcting method according to the first aspect of the present invention, an arbitrary amount of wavelength shift can be easily performed only by setting a wavelength shift amount with respect to a reference absorbance spectrum, thereby constituting a spectrometer. Adjustment can be performed to an accuracy lower than the component resolution. In addition, technical skill is not required for adjustment, and jigs and tools are not required. Also, the time required for the adjustment is reduced.
【００１１】そして、上記請求項２に記載の波長補正方
法においては、上記請求項１に記載の波長補正方法の作
用効果に加えて、次のような効果を奏する。すなわち、
測定によって得られた吸光度スペクトルを任意の区間に
分割し、各区間ごとに基準となる吸光度スペクトルとの
波長のずれ量を求めるようにしているので、補正対象の
吸光度スペクトルの波形が複雑であっても、短時間でし
かも精度よく補正を行うことができる。The wavelength correcting method according to the second aspect has the following effect in addition to the functions and effects of the wavelength correcting method according to the first aspect. That is,
Since the absorbance spectrum obtained by the measurement is divided into arbitrary sections and the shift amount of the wavelength from the reference absorbance spectrum is obtained for each section, the waveform of the absorbance spectrum to be corrected is complicated. However, the correction can be performed accurately in a short time.
【００１２】そして、上記カーブフィッティング法とし
てはスプライン関数を用いるのが好適である。これは、
吸光度スペクトルは形状が簡単であり、計算の簡単なス
プライン関数で十分間に合うからである。Preferably, a spline function is used as the curve fitting method. this is,
This is because the absorbance spectrum has a simple shape, and a spline function that can be easily calculated is sufficient.
【００１３】[0013]
【発明の実施の形態】まず、第１の発明（請求項１に記
載の発明）について説明する。この発明の波長補正方法
は、測定によって得られた吸光度スペクトルと基準とな
る吸光度スペクトルとの波長のずれ量を求め、この波長
のずれ量だけシフトさせた曲線を求め、この曲線におけ
る波長間をカーブフィッティング法を用いて補間するこ
とにより波長補正を行うことを特徴としたもので、以
下、これについて、図１〜図４を参照しながら説明す
る。なお、図２〜図４は吸光度曲線を示す図で、いずれ
においても、横軸は波長（ｎｍ）を、縦軸は吸光度を示
している。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, the first invention (the invention described in claim 1) will be described. The wavelength correction method of the present invention obtains a wavelength shift amount between an absorbance spectrum obtained by measurement and a reference absorbance spectrum, obtains a curve shifted by this wavelength shift amount, and curves between wavelengths in this curve. The wavelength correction is performed by interpolation using a fitting method. This will be described below with reference to FIGS. 2 to 4 show absorbance curves. In each case, the horizontal axis represents wavelength (nm), and the vertical axis represents absorbance.
【００１４】図１は、この発明の波長補正方法を実施す
るための装置の構成を概略的に示すもので、この図にお
いて、２１は補正対象の分光分析計、２２は基準とみな
すことができる分光分析計、２３はマイクロコンピュー
タである。FIG. 1 schematically shows the structure of an apparatus for carrying out the wavelength correction method of the present invention. In this figure, reference numeral 21 denotes a spectroscopic analyzer to be corrected, and reference numeral 22 denotes a reference. A spectrometer 23 is a microcomputer.
【００１５】そして、今、ある試料について、補正対象
の分光分析計２１および基準分光分析計２２を用いて測
定を行い、図２において仮想線Ａおよび実線Ｓで示すよ
うなスペクトルが得られたとする。仮想線で示すスペク
トルＡは、補正対象の分光分析計２１によって得られた
スペクトルで、このスペクトルＡは分光器３の経時変化
または分光器間の機差によって、実線で示す基準スペク
トルＳからΔλ（ｎｍ）だけ波長がプラス（＋）方向に
ずれた仮想線で示すようなスペクトルとなっている。こ
れらのスペクトルＡ，Ｓはマイクロコンピュータ２３に
入力される。なお、基準スペクトルＳとは、複数の分光
分析計の内から仮に基準機であると設定した分光分析計
２２によって採取されたスペクトルのことであって、必
ずしも絶対的な基準を意味するものではない。Now, it is assumed that a certain sample is measured using the spectrometer 21 to be corrected and the reference spectrometer 22 to obtain a spectrum as shown by a virtual line A and a solid line S in FIG. . The spectrum A indicated by the imaginary line is a spectrum obtained by the spectrometer 21 to be corrected, and the spectrum A is changed from the reference spectrum S indicated by the solid line to Δλ ( (nm) in the plus (+) direction. These spectra A and S are input to the microcomputer 23. Note that the reference spectrum S is a spectrum collected by the spectrometer 22 temporarily set as the reference device from among the plurality of spectrometers, and does not necessarily mean an absolute reference. .
【００１６】前記図２において、スペクトルＡを基準ス
ペクトルＳと一致させるには、マイクロコンピュータ２
３内において、各吸光度に対応する波長をΔλだけマイ
ナス（−）方向にシフトすればよい。しかしながら、分
光分析計２１，２２において実際に得られるデータは、
図３に示すように、吸光度のずれとして表される。つま
り、同じ波長で測定しているのに、両スペクトルＡとＳ
とにおいて吸光度が異なり、各波長においてわずかな吸
光度のずれΔＡｂｓがそれぞれ生じている。In FIG. 2, a microcomputer 2 is used to make the spectrum A coincide with the reference spectrum S.
In 3, the wavelength corresponding to each absorbance may be shifted in the minus (−) direction by Δλ. However, the data actually obtained by the spectrometers 21 and 22 are:
As shown in FIG. 3, it is represented as a shift in absorbance. In other words, both spectra A and S are measured at the same wavelength.
And the absorbances are different from each other, and a slight absorbance shift ΔAbs occurs at each wavelength.
【００１７】この場合、上記図２および図３から、デー
タ上においては、補正前スペクトルＡの基準スペクトル
Ｓにおける波長（以下、基準波長という）に対する吸光
度のずれは、見かけ上、波長のずれとして見えると解釈
することができる。In this case, from FIG. 2 and FIG. 3, the shift in absorbance of the spectrum A before correction with respect to the wavelength in the reference spectrum S (hereinafter referred to as the reference wavelength) is apparently seen as a shift in the wavelength. Can be interpreted as
【００１８】上記観点から、スペクトルＡをシフトさせ
るには、各基準波長の値からΔλを差し引いた値をシフ
ト後の波長とし、各シフト後の波長に吸光度を対応させ
るようにプロットし、シフト後の曲線（スペクトル）に
おける波長間をカーブフィッティング法を用いて滑らか
に補間するのである。この実施の形態においては、例え
ば、ａｘ3 ＋ｂｘ2 ＋ｃｘ＋ｄというようなスプライン
関数を用いて滑らかに補間する。From the above viewpoint, to shift the spectrum A, a value obtained by subtracting Δλ from the value of each reference wavelength is set as a shifted wavelength, and plotted so that the absorbance corresponds to each shifted wavelength. Is smoothly interpolated between the wavelengths in the curve (spectrum) by using the curve fitting method. In this embodiment, for example, smooth interpolation is performed using a spline function such as ax 3 + bx 2 + cx + d.
【００１９】図４は、基準スペクトルＳ（図中、●で示
す）と、上記スプライン関数を用いて補間した波長シフ
ト後の曲線（スペクトル）Ａ’（図中、□で示す）とを
示すもので、この図から、波長シフト後のスペクトル
Ａ’の吸光度は、基準スペクトルＳのそれと非常によく
一致していることがわかる。FIG. 4 shows a reference spectrum S (indicated by ● in the figure) and a curve (spectrum) A ′ (indicated by □ in the figure) after wavelength shift interpolated using the spline function. From this figure, it can be seen that the absorbance of the spectrum A ′ after the wavelength shift matches very well with that of the reference spectrum S.
【００２０】したがって、前記得られた波長シフト後の
スペクトルＡ’をマイクロコンピュータ２３において、
基準波長での吸光度を求めることにより波長シフト後の
吸光度を得ることができる。Therefore, the obtained spectrum A ′ after the wavelength shift is obtained by the microcomputer 23.
By obtaining the absorbance at the reference wavelength, the absorbance after the wavelength shift can be obtained.
【００２１】上述の実施の形態においては、補正対象の
分光分析計２１や基準分光分析計２２のほかにマイクロ
コンピュータ２３を設けて、このマイクロコンピュータ
２３において所定の波長シフトを行うようにしていた
が、これに代えて、分光分析計２１内のマイクロコンピ
ュータ１４に、波長シフト量を設定し、測定された吸光
度に対して上述の補正を行うプログラムを備えさせるこ
とにより、上記補正機能を分光分析計２１自身に備えさ
せてあってもよいことはいうまでもない。In the above embodiment, the microcomputer 23 is provided in addition to the spectrometer 21 and the reference spectrometer 22 to be corrected, and the microcomputer 23 performs a predetermined wavelength shift. Instead of this, the microcomputer 14 in the spectrometer 21 is provided with a program for setting the wavelength shift amount and performing the above-mentioned correction on the measured absorbance, so that the above-mentioned correction function is provided by the spectrometer. Needless to say, it may be prepared for itself.
【００２２】上述の実施の形態における波長補正方法
は、スペクトルＡが基準スペクトルＳに対するずれ方向
およびずれ量がスペクトルＡの全ての波長領域において
同じであるという前提の下に行う方法であったが、現実
には、前記波長領域の全てにおいてずれ方向やずれ量が
同一であることは少なく、むしろ、ずれ方向が異なった
り、また、ずれ方向が同じであってもずれ量が異なる場
合が多い。このような場合、上記手法をそのまま採用し
ても精度よく補正できないことがあり、また、補正のた
めのシフト量を決定する場合にも試行錯誤を繰り返す必
要があり、補正に時間を要するとともに、複雑な場合に
は誤差が大きくなることもある。The wavelength correction method in the above-described embodiment is a method performed on the assumption that the shift direction and the shift amount of the spectrum A with respect to the reference spectrum S are the same in all the wavelength regions of the spectrum A. In reality, it is rare that the shift direction and the shift amount are the same in all of the wavelength regions. Rather, the shift directions are different, and the shift amounts are often different even if the shift directions are the same. In such a case, it may not be possible to accurately correct even if the above method is employed as it is, and it is necessary to repeat trial and error when determining the shift amount for correction, and it takes time for correction, In a complicated case, the error may be large.
【００２３】そこで、上述のように、スペクトルにおけ
るずれ方向やずれ量が波長領域において異なるような場
合に有効な波長補正方法を、第２の実施の形態として説
明する。Therefore, as described above, a wavelength correction method that is effective when the shift direction and shift amount in the spectrum are different in the wavelength region will be described as a second embodiment.
【００２４】今、ある試料について、補正対象の分光分
析計２１および基準分光分析計２２を用いて測定を行
い、図５において仮想線Ｂおよび実線Ｓで示すようなス
ペクトルが得られたとする。仮想線で示すスペクトルＢ
は、補正対象の分光分析計２１によって得られたスペク
トルで、実線で示す基準スペクトルＳに対して、区間１
および区間２で示す波長領域では短波長側にずれている
とともに、ずれ量が互いに異なっており、区間３で示す
波長領域では逆に長波長側にずれている。Now, it is assumed that a certain sample is measured by using the spectrometer 21 to be corrected and the reference spectrometer 22 to obtain a spectrum as shown by a virtual line B and a solid line S in FIG. Spectrum B indicated by a virtual line
Is a spectrum obtained by the spectrometer 21 to be corrected, and is compared with the reference spectrum S shown by a solid line in the section 1
In the wavelength region shown in section 2, the wavelengths are shifted to the short wavelength side, and the shift amounts are different from each other.
【００２５】今仮に、上記形状のスペクトルＢを、上記
第１の実施の形態において説明した波長補正方法を用い
て、例えば短波長側を基準にして補正を行うと、図６に
おいて符号Ｂ1 で示すようになり、長波長側において基
準スペクトルＳとのずれ量がより大きくなる。また、長
波長側を基準にして補正を行うと、図示は省略するが、
短波長側においてずれ量が大きくなる。したがって、こ
れらのずれ量を可及的に少なくしようとして中間的にシ
フト量を少なくすると、いずれの波長領域においても正
確な補正を行えなくなってしまう。Now, if the spectrum B having the above shape is corrected using the wavelength correction method described in the first embodiment, for example, on the basis of the shorter wavelength side, the reference B 1 in FIG. As a result, the shift amount from the reference spectrum S on the long wavelength side becomes larger. Also, if the correction is performed based on the long wavelength side, the illustration is omitted,
The shift amount increases on the short wavelength side. Therefore, if the shift amount is reduced intermediately in order to minimize these shift amounts, accurate correction cannot be performed in any wavelength region.
【００２６】そこで、前記ずれの生じているスペクトル
Ｂを３つの区間１，２，３に分割し、短波長側にずれて
いる区間１と区間２においては、既に説明したように、
区間１と区間２とにおけるずれ量が互いに異なっている
ので、長波長側へのシフト量Δλを、区間１では０．８
ｎｍ、区間２では０．４ｎｍと設定する。一方、長波長
側にずれている区間３においては、短波長側へのシフト
量Δλを、−１．０ｎｍと設定する。Therefore, the shifted spectrum B is divided into three sections 1, 2 and 3, and in sections 1 and 2 shifted to the shorter wavelength side, as described above,
Since the shift amounts in the sections 1 and 2 are different from each other, the shift amount Δλ toward the long wavelength side is set to 0.8 in the section 1.
nm and 0.4 nm in section 2. On the other hand, in the section 3 shifted to the long wavelength side, the shift amount Δλ toward the short wavelength side is set to −1.0 nm.
【００２７】そして、基準波長に前記設定されたΔλを
加えた値（＝基準波長＋Δλ）をＸ軸（横軸）とし、吸
光度をＹ軸（縦軸）として、前記区間１，２，３ごとに
スプライン補完を行う。それぞれの区間１，２，３で得
られたスプライン関数に、基準波長を代入することによ
り、シフト後の吸光度を求めることができる。Then, the value obtained by adding the set Δλ to the reference wavelength (= reference wavelength + Δλ) is defined as the X axis (horizontal axis), and the absorbance is defined as the Y axis (vertical axis). To perform spline interpolation. By substituting the reference wavelength into the spline function obtained in each of the sections 1, 2, and 3, the absorbance after the shift can be obtained.
【００２８】図７は、上記ずれの生じているスペクトル
Ｂを区間ごとにシフトさせて得られたスペクトルＢ
2 （仮想線で示す）と基準スペクトルＳ（実線で示す）
とを示すもので、両者Ｂ2 ，Ｓが非常によく一致してい
ることがわかる。FIG. 7 shows a spectrum B obtained by shifting the shifted spectrum B for each section.
2 (indicated by a virtual line) and reference spectrum S (indicated by a solid line)
It can be seen that both B 2 and S agree very well.
【００２９】この第２の実施の形態によれば、補正対象
の吸光度スペクトルＢの波形が複雑であっても、短時間
でしかも精度よく補正を行うことができる。According to the second embodiment, even if the waveform of the absorbance spectrum B to be corrected is complicated, the correction can be performed accurately in a short time.
【００３０】上述のような波長補正方法を行うために
は、補正対象の分光分析計２１や基準分光分析計２２の
ほかにマイクロコンピュータ２３を設けて、このマイク
ロコンピュータ２３において分割する区間数や各分割区
間におけるシフト量を設定し、これらを補正対象の分光
分析計２１に送り込んで所定の波長シフトを行うように
してもよいが、分光分析計２１内のマイクロコンピュー
タ１４に、分割する区間数および各分割区間におけるシ
フト量を設定する機能（プログラム）を持たせ、これら
が設定されると、測定された吸光度に対して上述の補正
を行うようにしてもよい。In order to perform the above-described wavelength correction method, a microcomputer 23 is provided in addition to the spectrometer 21 and the reference spectrometer 22 to be corrected, and the microcomputer 23 determines the number of sections to be divided and The shift amounts in the divided sections may be set, and these may be sent to the spectrometer 21 to be corrected so as to perform a predetermined wavelength shift. A function (program) for setting the shift amount in each divided section may be provided, and when these are set, the above-described correction may be performed on the measured absorbance.
【００３１】[0031]
【発明の効果】請求項１および２に記載の発明によれ
ば、波長ずれ量を設定するだけで任意の波長シフトを簡
単に行うことができ、分光分析計の構成部品の分解能以
下の調整が可能となり、分光器の経時変化や分光器間の
機差の補正を確実に行うことができる。そして、上記波
長補正方法においては、治具や工具が不要であるととも
に、技術的熟練度が不要であり、誰にでも簡単に行え、
調整時間も大いに短縮できる。According to the first and second aspects of the present invention, it is possible to easily perform an arbitrary wavelength shift only by setting the wavelength shift amount, and to adjust the resolution of the components of the spectrometer below the resolution. This makes it possible to reliably correct a change with time of the spectroscope and a machine difference between the spectroscopes. And, in the above-described wavelength correction method, jigs and tools are not required, and technical skill is not required.
The adjustment time can be greatly reduced.
【００３２】特に、請求項２に記載の発明によれば、補
正対象の吸光度スペクトルの波形が複雑であっても、短
時間でしかも精度よく補正を行うことができる。In particular, according to the second aspect of the present invention, even when the waveform of the absorbance spectrum to be corrected is complicated, the correction can be performed in a short time and with high accuracy.
【図１】この発明の波長補正方法を実施するための構成
の一例を概略的に示す図である。FIG. 1 is a diagram schematically showing an example of a configuration for implementing a wavelength correction method of the present invention.
【図２】第１の実施の形態における波長補正方法を説明
するための図で、波長ずれの生じているスペクトルと基
準スペクトルとを表す図である。FIG. 2 is a diagram for explaining a wavelength correction method according to the first embodiment, and is a diagram illustrating a spectrum having a wavelength shift and a reference spectrum.
【図３】上記実施の形態における波長補正方法を説明す
るための図で、吸光度のずれの生じているスペクトルと
基準スペクトルとを表す図である。FIG. 3 is a diagram for explaining a wavelength correction method in the embodiment, and is a diagram illustrating a spectrum in which a shift in absorbance occurs and a reference spectrum.
【図４】上記実施の形態における波長補正方法を説明す
るための図で、スプライン関数を用いて補間したスペク
トルと基準スペクトルとを表す図である。FIG. 4 is a diagram for describing a wavelength correction method in the embodiment, and is a diagram illustrating a spectrum interpolated using a spline function and a reference spectrum.
【図５】第２の実施の形態における波長補正方法を説明
するための図で、波長ずれの生じているスペクトルと基
準スペクトルとを表す図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a wavelength correction method according to the second embodiment, and is a diagram illustrating a spectrum having a wavelength shift and a reference spectrum.
【図６】上記実施の形態における波長補正方法を説明す
るための図で、第１の実施の形態における波長補正方法
を用いて補正したときの吸光度のずれの生じているスペ
クトルと基準スペクトルとを表す図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a wavelength correction method according to the embodiment; FIG. 6 is a diagram illustrating a spectrum having a shift in absorbance and a reference spectrum when corrected using the wavelength correction method according to the first embodiment; FIG.
【図７】上記実施の形態における波長補正方法を説明す
るための図で、スプライン関数を用いて補間したスペク
トルと基準スペクトルとを表す図である。FIG. 7 is a diagram for explaining a wavelength correction method in the embodiment, and is a diagram illustrating a spectrum interpolated using a spline function and a reference spectrum.
【図８】上記波長補正方法が適用される分光分析計の一
例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an example of a spectrometer to which the wavelength correction method is applied.
Ａ，Ｂ…測定によって得られた吸光度スペクトル、
Ａ’，Ｂ2 …波長シフト後の曲線（スペクトル）、Ｓ…
基準となる吸光度スペクトル、Δλ…波長ずれ量。A, B: Absorbance spectrum obtained by measurement,
A ′, B 2 … curve (spectrum) after wavelength shift, S…
Reference absorbance spectrum, Δλ: wavelength shift amount.
Claims (3)
と基準となる吸光度スペクトルとの波長のずれ量を求
め、この波長のずれ量だけシフトさせた曲線を求め、こ
の曲線における波長間をカーブフィッティング法を用い
て補間することにより波長補正を行うことを特徴とする
分光分析計の波長補正方法。1. A wavelength shift amount between an absorbance spectrum obtained by measurement and a reference absorbance spectrum is determined, a curve shifted by the wavelength shift amount is determined, and a wavelength fitting in the curve is performed by a curve fitting method. A wavelength correction method for a spectrometer, wherein the wavelength correction is performed by using and interpolating.
を任意の区間に分割し、各区間ごとに基準となる吸光度
スペクトルとの波長のずれ量を求め、この波長のずれ量
だけシフトさせた曲線を求め、この曲線における波長間
をカーブフィッティング法を用いて補間することにより
波長補正を行うことを特徴とする分光分析計の波長補正
方法。2. An absorbance spectrum obtained by the measurement is divided into arbitrary sections, a wavelength shift amount from a reference absorbance spectrum is obtained for each section, and a curve shifted by this wavelength shift amount is obtained. A wavelength correction method for a spectral analyzer, wherein wavelength correction is performed by interpolating between wavelengths in the curve using a curve fitting method.
ン関数を用いて行うようにした請求項１または２に記載
の分光分析計の波長補正方法。3. The method according to claim 1, wherein the curve fitting method is performed using a spline function.
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