JP2011259227A - Wavelength calibration method, printing device, and computer program - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately and easily calibrate wavelength of light detected by a spectroscopic sensor for producing a color conversion LUT without using a special sensor.SOLUTION: A spectral reflectance 402 of a slave to be corrected and a spectral reflectance 401 of a master to be a reference are obtained. In a wavelength deviation search range 403 of the spectral reflectances 401 and 402, an intersection with a wavelength deviation detection line DL whose spectral reflectance is constant is obtained for each of the spectral reflectances 401 and 402. The wavelength detected by the spectral reflectance 401 is obtained from the intersection of the spectral reflectance 401 with the wavelength deviation detection line DL, and the pixel positions of light receiving elements of the spectral reflectance 402 from the intersection of the spectral reflectance 402 with the wavelength deviation detection line DL. Based on the relationship between the obtained pixel positions and the wavelength, a table showing the corresponding relationship between the pixel positions and wavelength of the slave is updated.

Description

本発明は、波長校正方法、印刷装置、及びコンピュータプログラムに関し、特に、印刷装置において、色変換ルックアップテーブルを生成・更新するための分光センサにより検出される光の波長を校正するために用いて好適なものである。   The present invention relates to a wavelength calibration method, a printing apparatus, and a computer program, and more particularly to use in a printing apparatus to calibrate the wavelength of light detected by a spectroscopic sensor for generating / updating a color conversion lookup table. Is preferred.

従来から、プリンタに代表される印刷装置では、所望の色を出力するために色変換ルックアップテーブル(以下「LUT」と称する)が用いられている。色変換LUTには、プリンタをある一定の状態に保つためのキャリブレーションに用いるLUTや、ICCプロファイルに代表されるカラーマッチングに用いるLUT等がある。
最近のプリンタには、プリンタエンジン内に分光カラーセンサを内蔵している機種がある。このようなプリンタは、印刷ジョブの実行前、或いは印刷ジョブの実行中に、例えばIT8 7/3等の色票(以下「パッチ」と称する)を印刷し、内蔵している分光カラーセンサでパッチを測色している。そして、その測色の結果を色変換LUTの生成のためにフィードバックしている。これにより外部の測色センサを用いることなく、プリンタの内部の処理でカラーマッチング及び印字色の安定化が可能になっている。
Conventionally, in a printing apparatus represented by a printer, a color conversion lookup table (hereinafter referred to as “LUT”) is used to output a desired color. The color conversion LUT includes an LUT used for calibration for keeping the printer in a certain state, an LUT used for color matching represented by an ICC profile, and the like.
Some recent printers have a spectral color sensor built into the printer engine. Such a printer prints color charts (hereinafter referred to as “patches”) such as IT87 / 3, for example, before execution of a print job or during execution of a print job, and patches it with a built-in spectral color sensor. The color is measured. Then, the result of the color measurement is fed back for generation of the color conversion LUT. As a result, color matching and printing color stabilization can be achieved by processing inside the printer without using an external colorimetric sensor.

カラーマッチング及び印字色の安定化を高精度に実現する上で、プリンタに内蔵される分光カラーセンサが、高精度に測色を行うことが求められる。そのため、センサ機種間の誤差や経時変化による誤差が無視できない。センサ機種間の誤差には、分光カラーセンサの製造時ばらつきによる「同機種のセンサ間の誤差(個体差)」や、センサ間の光学条件(ジオメトリー)の違い等による「異機種のセンサ間の誤差差」がある。これらのうち、同機種のセンサ間の誤差は、特に、分光カラーセンサを複数個搭載するプリンタで問題となる。すなわち、複数の分光カラーセンサで同じ色を測っても個体毎の出力値が異なるという問題点がある。また、経時変化による誤差では、センサボディの歪みや回折格子の熱膨張等でセンサ光学系が変化し、過去の出力状態とのズレが生じ問題となる。
以上の理由から、分光カラーセンサ機種間の誤差や経時変化による誤差を低減させる技術が求められている。また、センサ機種間の誤差は分光反射率でみると、大きく2種類に分けられる。一つが分光反射率の波長軸のズレ(横軸ズレ)であり、もう一つが分光反射率軸のズレ(縦軸ズレ)である。図9に、第1の分光反射率901と第2の分光反射率902との波長軸のズレδの一例を概念的に示す。
In order to achieve color matching and print color stabilization with high accuracy, a spectral color sensor built in the printer is required to perform color measurement with high accuracy. Therefore, errors between sensor models and errors due to changes over time cannot be ignored. The error between sensor models includes “error between sensors of the same model (individual difference)” due to variations in the manufacturing of spectral color sensors, and “difference between sensors of different models” due to differences in optical conditions (geometry) between sensors. There is an "error difference". Among these, an error between sensors of the same model becomes a problem particularly in a printer equipped with a plurality of spectral color sensors. That is, there is a problem that even if the same color is measured by a plurality of spectral color sensors, the output value of each individual is different. In addition, an error due to a change with time causes a problem in that the sensor optical system changes due to the distortion of the sensor body or the thermal expansion of the diffraction grating, resulting in deviation from the past output state.
For these reasons, there is a need for a technique for reducing errors between spectral color sensor models and errors due to changes over time. Further, the error between sensor models is roughly divided into two types in terms of spectral reflectance. One is the spectral axis deviation (horizontal axis deviation), and the other is the spectral reflectance axis deviation (vertical axis deviation). FIG. 9 conceptually shows an example of a shift δ between the wavelength axes of the first spectral reflectance 901 and the second spectral reflectance 902.

通常は、このような分光カラーセンサの波長軸を校正する場合、工場等で、校正用光源の輝線を用いてセンサ個体毎に、分光反射率の波長軸のズレ(以下、必要に応じて「波長ズレ」と称する)の調整を行う。しかし、工場での調整では取り除けない「同機種のセンサ間の誤差」が分光カラーセンサに残ってしまう。また、プリンタに分光カラーセンサを組み込んで製品を出荷してしまうと、経時変化の補正を行う場合には、分光カラーセンサを一度取り外し、工場で再度調整することが必要となり、非常に手間がかかってしまう。
そこで、特許文献1では、分光カラーセンサの内部に波長校正用のLED単色光源を持たせることで、分光カラーセンサ自身で波長を校正できるようにしている。波長校正用のLED単色光源が持つ輝線の絶対量をもとに、複数の分光カラーセンサの波長軸をあわせることで、分光カラーセンサの個体差と、経時変化とを補正する。
さらに、分光カラーセンサの波長校正用のアルゴリズムとして、以下の従来技術が挙げられる。
特許文献2では、2つの分光反射率(基準スペクトルと補正対象スペクトル)を比較し、最適化手法を使って、分光カラーセンサの波長のシフト量を算出している。また、特許文献3では、2つの分光反射率(基準スペクトルと補正対象スペクトル)の傾斜領域に着目し、その傾斜領域における傾きを利用して、各傾斜領域での補正係数を算出している。
Normally, when calibrating the wavelength axis of such a spectral color sensor, the wavelength axis shift of the spectral reflectance (hereinafter referred to as “ (Referred to as “wavelength shift”). However, “error between sensors of the same model” that cannot be removed by factory adjustment remains in the spectral color sensor. In addition, if a product is shipped with a spectral color sensor installed in the printer, it will be necessary to remove the spectral color sensor once and adjust it again at the factory when correcting for changes over time. End up.
Therefore, in Patent Document 1, the spectral color sensor itself can calibrate the wavelength by providing an LED monochromatic light source for wavelength calibration inside the spectral color sensor. Based on the absolute amount of the bright line of the LED single-color light source for wavelength calibration, the wavelength axis of the plurality of spectral color sensors is matched to correct individual differences and temporal changes of the spectral color sensors.
Further, as a wavelength calibration algorithm for a spectral color sensor, the following conventional techniques can be cited.
In Patent Document 2, two spectral reflectances (reference spectrum and correction target spectrum) are compared, and the shift amount of the wavelength of the spectral color sensor is calculated using an optimization method. In Patent Document 3, attention is paid to an inclined region of two spectral reflectances (a reference spectrum and a correction target spectrum), and a correction coefficient in each inclined region is calculated using the inclination in the inclined region.

特開2008−185565号公報JP 2008-185565 A 特開平8−15134号公報JP-A-8-15134 特開2006−214968号公報JP 2006-214968 A

しかしながら、特許文献1に記載の技術では、通常の光源とは別の光源を持つ必要があるため、分光カラーセンサの構成が複雑になると共に分光カラーセンサのコストアップに繋がっていた。
また、特許文献2に記載の技術では、2つの分光反射率に対し、全波長領域で最適化を行うため、分光反射率の軸ズレ(縦軸ズレ)がある場合、分光反射率の波長を高精度に補正することが難しい。さらに、特許文献2に記載の技術では計算が複雑であり簡便性に欠けていた。
また、特許文献3に記載の技術では、分光反射率の各傾斜領域でのノイズの影響を受けやすいという問題があった。
本発明は以上の問題に鑑みてなされたものであり、印刷装置で所望の色を出力するために使用される色変換LUTを生成するための分光センサにより検出される光の波長を、特別なセンサを用いることなく正確に且つ容易に校正することを目的とする。
However, in the technique described in Patent Document 1, since it is necessary to have a light source different from a normal light source, the configuration of the spectral color sensor is complicated and the cost of the spectral color sensor is increased.
Further, in the technique described in Patent Document 2, since the two spectral reflectances are optimized in the entire wavelength region, the spectral reflectance wavelength is changed when there is a spectral reflectance axial shift (vertical axis shift). It is difficult to correct with high accuracy. Furthermore, the technique described in Patent Document 2 is complicated in calculation and lacks simplicity.
Further, the technique described in Patent Document 3 has a problem that it is easily affected by noise in each inclined region of the spectral reflectance.
The present invention has been made in view of the above problems, and the wavelength of light detected by a spectroscopic sensor for generating a color conversion LUT used for outputting a desired color in a printing apparatus is specially determined. The object is to calibrate accurately and easily without using a sensor.

本発明の波長校正方法は、基準となる第1の分光センサによる波長校正試料の測色の結果に基づいて、第1の分光反射率を導出する第1の分光反射率導出工程と、校正の対象となる第2の分光センサによる前記波長校正試料の測色の結果に基づいて、第2の分光反射率を導出する第2の分光反射率導出工程と、前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率の、傾斜している所定の領域における、前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率との波長のずれを検出する波長ずれ検出工程と、前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率との波長のずれに基づいて、前記第2の分光反射率の前記第1の分光反射率に対する波長のずれを補正する波長ずれ補正工程と、を有することを特徴とする。   The wavelength calibration method of the present invention includes a first spectral reflectance derivation step for deriving a first spectral reflectance based on a result of color measurement of a wavelength calibration sample by a first spectral sensor serving as a reference, A second spectral reflectance derivation step for deriving a second spectral reflectance based on a result of color measurement of the wavelength calibration sample by the target second spectral sensor; the first spectral reflectance; A wavelength shift detection step for detecting a shift in wavelength between the first spectral reflectance and the second spectral reflectance in a predetermined inclined region of the second spectral reflectance; A wavelength shift correction step of correcting a wavelength shift of the second spectral reflectivity with respect to the first spectral reflectivity based on a wavelength shift between the first spectral reflectivity and the second spectral reflectivity; It is characterized by having.

本発明によれば、基準となる第1の分光センサによる測色の結果に基づく第1の分光反射率と、校正の対象となる第2の分光センサによる測色の結果に基づく第2の分光反射率の、傾斜している所定の領域における波長のずれを検出する。その波長のずれに基づいて、第2の分光反射率の第1の分光反射率に対する波長のずれを補正するようにした。したがって、印刷装置で所望の色を出力するために使用される色変換ルックアップテーブルを生成・更新するための分光センサにより検出される光の波長を、特別なセンサを用いることなく正確に且つ容易に校正することができる。   According to the present invention, the first spectral reflectance based on the result of colorimetry by the first spectroscopic sensor serving as a reference, and the second spectrum based on the result of colorimetry by the second spectroscopic sensor to be calibrated. A wavelength shift in a predetermined region where the reflectance is inclined is detected. Based on the wavelength shift, the wavelength shift of the second spectral reflectance with respect to the first spectral reflectance is corrected. Therefore, the wavelength of light detected by the spectroscopic sensor for generating and updating the color conversion lookup table used for outputting a desired color in the printing apparatus can be accurately and easily without using a special sensor. Can be calibrated.

プリンタ装置の構成を示す図である。2 is a diagram illustrating a configuration of a printer apparatus. FIG. 第2の実施形態の波長校正シーケンスを説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the wavelength calibration sequence of 2nd Embodiment. 分光カラーセンサがパッチを測色する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that a spectral color sensor measures a color of a patch. 分光反射率を示す図である。It is a figure which shows a spectral reflectance. 波長校正処理(波長校正アルゴリズム)を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining a wavelength calibration process (wavelength calibration algorithm). 分光反射率の波長ズレを検出する方法を説明する図である。It is a figure explaining the method to detect the wavelength shift of a spectral reflectance. 多項式近似曲線を示す図である。It is a figure which shows a polynomial approximation curve. 第2の実施形態の波長校正シーケンスを説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the wavelength calibration sequence of 2nd Embodiment. 2つの分光反射率との波長軸のズレを示す図である。It is a figure which shows the shift | offset | difference of the wavelength axis with two spectral reflectances.

以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。
(第1の実施形態)
まず、本発明の第1の実施形態について説明する。
「概要」
本実施形態では、電子写真方式プリンタに内蔵された2つの分光カラーセンサの個体差、特に、波長軸のズレを補正する場合について説明する。本実施形態では、2つの分光カラーセンサのうち、片方をマスター、もう片方をスレイブとし、スレイブの分光反射率(補正対象)をマスターの分光反射率(基準)に合わせ込む処理を行う。以下、プリンタの構成、分光カラーセンサの波長校正シーケンス、波長校正アルゴリズムの詳細の順に説明する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
(First embodiment)
First, a first embodiment of the present invention will be described.
"Overview"
In the present embodiment, a case will be described in which individual differences between two spectral color sensors built in an electrophotographic printer, particularly a shift in wavelength axis, are corrected. In the present embodiment, one of the two spectral color sensors is a master and the other is a slave, and processing for adjusting the spectral reflectance (correction target) of the slave to the spectral reflectance (reference) of the master is performed. Hereinafter, the configuration of the printer, the wavelength calibration sequence of the spectral color sensor, and the details of the wavelength calibration algorithm will be described in this order.

「プリンタの構成」
図1は、本実施形態におけるプリンタ装置の構成の一例を示すブロック図である。
プリンタ装置1の機能部位は、大きく分けてコントローラ部11とエンジン部12とに分けられる。
コントローラ部11には、カラーマッチング部111と、キャリブレーション部112と、キャリブレーション用LUT生成部113と、カラーマッチング用LUT生成部114とがある。尚、コントローラ部11には、その他、画像処理に関する様々な機能部位が存在するが、ここでは、本実施形態に直接関係しないものについての説明を省略する。
"Printer Configuration"
FIG. 1 is a block diagram illustrating an example of the configuration of a printer apparatus according to the present embodiment.
The functional parts of the printer apparatus 1 are roughly divided into a controller unit 11 and an engine unit 12.
The controller unit 11 includes a color matching unit 111, a calibration unit 112, a calibration LUT generation unit 113, and a color matching LUT generation unit 114. The controller unit 11 has various other functional parts related to image processing. Here, description of components not directly related to the present embodiment is omitted.

カラーマッチング部111は、ICCプロファイルに代表されるようなカラーマッチング用LUT1111を使用した色調整を行う。カラーマッチング用LUT生成部114では、測色値1232を用いて、カラーマッチング用LUT1111を生成する。キャリブレーション部112は、CMYKそれぞれ一次元のLUTに代表されるようなキャリブレーション用LUT1121を使用して、印刷状態を一定に保つための画像補正(キャリブレーション)を行う。キャリブレーション用LUT生成部113は、測色値1232を用いて、キャリブレーション用LUT1121を生成する。本実施形態では、カラーマッチング用LUT1111と、キャリブレーション用LUT1121とが色変換ルックアップテーブルとなる。   The color matching unit 111 performs color adjustment using a color matching LUT 1111 typified by an ICC profile. The color matching LUT generation unit 114 generates a color matching LUT 1111 using the colorimetric value 1232. The calibration unit 112 performs image correction (calibration) for keeping the printing state constant by using a calibration LUT 1121 typified by a one-dimensional LUT for each CMYK. The calibration LUT generation unit 113 generates a calibration LUT 1121 using the colorimetric values 1232. In this embodiment, the color matching LUT 1111 and the calibration LUT 1121 are color conversion lookup tables.

一方、エンジン部12には、定着部121と、分光カラーセンサ122a、122bと、センサ信号処理部123とがある。尚、エンジン部12には、その他、紙等のメディアに画像を形成するための様々な機能部位が存在するが、ここでは、本実施形態に直接関係しないものについての説明を省略する。
定着部121は、ローラと、ベルトと、ハロゲンヒータ等の熱源とを内蔵し、熱と圧力とによって、トナーを溶解し、メディアへ定着させる。2つの分光カラーセンサ122a、122bは、定着部121から排紙口への搬送経路に設置されており、搬送されたメディア上のパッチを測色する。本実施形態では、2つの分光カラーセンサ122a、122bは、メディア(紙)の搬送方向に対して直角な水平方向(紙面に沿った方向)に間隔を有して並んで設置されているとする。それぞれの分光カラーセンサ122a、122bでの測色データは、センサ信号処理部123に送られる。センサ信号処理部123は、測色データを測色値1232(例えばCIE L*a*b*)に変換する。また、センサ信号処理部123では、波長校正部1231において、後述する波長校正アルゴリズムに基づき波長校正処理が行われる。この波長校正処理により、波長ズレが補正された測色値1232は、キャリブレーション用LUT生成部113、カラーマッチング用LUT生成部114に送信される。
On the other hand, the engine unit 12 includes a fixing unit 121, spectral color sensors 122 a and 122 b, and a sensor signal processing unit 123. In addition, the engine unit 12 includes various functional parts for forming an image on a medium such as paper. Here, description of components that are not directly related to the present embodiment is omitted.
The fixing unit 121 includes a roller, a belt, and a heat source such as a halogen heater, and melts and fixes the toner to the medium by heat and pressure. The two spectral color sensors 122a and 122b are installed in the transport path from the fixing unit 121 to the paper discharge port, and measure the color of the patch on the transported medium. In the present embodiment, it is assumed that the two spectral color sensors 122a and 122b are arranged side by side in the horizontal direction (direction along the paper surface) perpendicular to the conveyance direction of the medium (paper). . Colorimetric data from each of the spectral color sensors 122 a and 122 b is sent to the sensor signal processing unit 123. The sensor signal processing unit 123 converts the color measurement data into a color measurement value 1232 (for example, CIE L * a * b *). In the sensor signal processing unit 123, the wavelength calibration unit 1231 performs wavelength calibration processing based on a wavelength calibration algorithm described later. The colorimetric value 1232 in which the wavelength shift is corrected by this wavelength calibration processing is transmitted to the calibration LUT generation unit 113 and the color matching LUT generation unit 114.

本実施形態のプリンタ装置1は、印刷ジョブの実行前や印刷ジョブの実行中に、キャリブレーション用のパッチをメディア(紙)に出力し、内蔵の分光カラーセンサ122a、122bで測色する。そして、プリンタ装置1は、測色した値に基づいてキャリブレーション用LUT1121を作成・更新する。これにより色再現性を一定に保っている。また、本実施形態のプリンタ装置1は、印刷ジョブの実行前に、カラーマッチング用のパッチをメディア(紙)に出力し、内蔵の分光カラーセンサ122a、122bで測色する。そして、プリンタ装置1は、測色した値に基づいて、カラーマッチング用LUT1111を作成・更新する。これによりプリンタ装置間の色味の違いを吸収している。
尚、プリンタ装置1に、分光カラーセンサ122を2つ搭載している理由は、分光カラーセンサ122による測色時間の短縮と、プリンタ装置1から出力される用紙の数の削減とを図るためである。ただし、プリンタ装置1に搭載する分光カラーセンサ122の数は2つに限定されず、1つであっても、3つ以上であってもよい。
また、キャリブレーション用LUT1121とカラーマッチング用LUT1111の更新のタイミングは、予め設定された内容に基づいて決定することができる。例えば、印刷ジョブを受信する度に、キャリブレーション用LUT1121と、カラーマッチング用LUT1111とを更新することができる。
The printer apparatus 1 according to the present embodiment outputs a calibration patch to a medium (paper) before execution of a print job or during execution of a print job, and performs colorimetry using built-in spectral color sensors 122a and 122b. Then, the printer apparatus 1 creates / updates the calibration LUT 1121 based on the measured color value. This keeps the color reproducibility constant. In addition, the printer device 1 according to the present embodiment outputs a color matching patch to a medium (paper) before executing a print job, and performs colorimetry using the built-in spectral color sensors 122a and 122b. Then, the printer apparatus 1 creates and updates the color matching LUT 1111 based on the colorimetric values. This absorbs the color difference between the printer devices.
The reason why two spectral color sensors 122 are installed in the printer apparatus 1 is to reduce the color measurement time by the spectral color sensor 122 and to reduce the number of sheets output from the printer apparatus 1. is there. However, the number of spectral color sensors 122 mounted on the printer apparatus 1 is not limited to two, and may be one or three or more.
Further, the update timing of the calibration LUT 1121 and the color matching LUT 1111 can be determined based on preset contents. For example, each time a print job is received, the calibration LUT 1121 and the color matching LUT 1111 can be updated.

後述する波長ズレ補正処理は、キャリブレーションと、カラーマッチングの実施前に行われる処理であり、分光カラーセンサ122a、122bの測色精度を高める目的で行われる。本実施形態の波長ズレ補正処理では、前述したLUT作成用パッチ(キャリブレーション用のパッチ、カラーマッチング用のパッチ)とは別に、波長校正用パッチを印刷し、その測色の結果に基づいて、分光反射率の波長ズレを検出して補正する。
尚、波長校正用にパッチを用意せずに、LUT作成用パッチの測色結果を用いて、波長校正処理を行う構成であってもよい。
A wavelength shift correction process described later is a process performed before calibration and color matching, and is performed for the purpose of improving the colorimetric accuracy of the spectral color sensors 122a and 122b. In the wavelength shift correction process of the present embodiment, a wavelength calibration patch is printed separately from the above-described LUT creation patch (calibration patch, color matching patch), and based on the result of the color measurement, It detects and corrects the wavelength shift of the spectral reflectance.
Note that the wavelength calibration processing may be performed using the color measurement result of the LUT creation patch without preparing a patch for wavelength calibration.

「波長校正シーケンス」
本実施形態における分光カラーセンサ122a、122bの波長校正シーケンスについて説明する。本実施形態では、波長校正処理で分光カラーセンサ122a、122bの個体間に残る微小な誤差を低減する。
図2は、本実施形態における波長校正シーケンスの一例を説明するフローチャートである。
まず、ステップS201において、プリンタ装置1は、波長校正用パッチを印刷する。後述するアルゴリズムで、分光反射率の傾斜領域を使用するため、それぞれの分光カラーセンサ122a、122bで測色された波長校正用パッチの分光反射率が急峻な傾斜を持つ必要がある。したがって、例えば、高彩度なパッチ(高彩度色のパッチ)を波長校正用パッチとして用いるのが好ましい。
"Wavelength calibration sequence"
A wavelength calibration sequence of the spectral color sensors 122a and 122b in the present embodiment will be described. In the present embodiment, minute errors remaining between the individual spectral color sensors 122a and 122b in the wavelength calibration process are reduced.
FIG. 2 is a flowchart for explaining an example of a wavelength calibration sequence in the present embodiment.
First, in step S201, the printer apparatus 1 prints a wavelength calibration patch. Since the spectral reflectance gradient region is used in the algorithm described later, the spectral reflectance of the wavelength calibration patch measured by the spectral color sensors 122a and 122b needs to have a steep gradient. Therefore, for example, it is preferable to use a high saturation patch (a high saturation color patch) as the wavelength calibration patch.

また、本実施形態では、波長校正用パッチを複数個、同一のメディア(紙)に印刷し、各波長校正用パッチの分光反射率の傾斜領域(立ち上がり領域又は立ち下がり領域)の波長ズレから、任意の波長領域での波長の補正量を算出する。そのため、波長ズレの補正を高精度に行うには、広い波長範囲で波長ズレを検出する必要がある。したがって、各傾斜領域が、プリンタ装置1で対応している全波長にわたって分散している必要がある。
図3は、分光カラーセンサ122a、122bが、波長校正用パッチ301a〜301dを測色する様子の一例を概念的に示す図である。また、図4は、分光カラーセンサ122a、122bによる波長校正用パッチ301a〜301dの測色の結果から得られる分光反射率401、402の一例を示す図である。
Further, in the present embodiment, a plurality of wavelength calibration patches are printed on the same medium (paper), and from the wavelength shift of the slope region (rising region or falling region) of the spectral reflectance of each wavelength calibration patch, A wavelength correction amount in an arbitrary wavelength region is calculated. Therefore, in order to correct the wavelength deviation with high accuracy, it is necessary to detect the wavelength deviation in a wide wavelength range. Therefore, each inclined area needs to be dispersed over all wavelengths supported by the printer apparatus 1.
FIG. 3 is a diagram conceptually illustrating an example of a state in which the spectral color sensors 122a and 122b perform color measurement on the wavelength calibration patches 301a to 301d. FIG. 4 is a diagram illustrating an example of spectral reflectances 401 and 402 obtained from color measurement results of the wavelength calibration patches 301a to 301d by the spectral color sensors 122a and 122b.

ここでは、図3及び図4に示すように、分光反射率401、402の急峻な箇所が、それぞれ、400nm付近、500nm付近、550nm付近、600nm付近にある波長校正用パッチ301a、301b、301c、301dを用いる。そして、搬送方向Tに搬送される紙302に印刷された4つの波長校正用パッチ301a〜301dを、測色ライン303a、303bに沿って測色する。そして、その測色の結果から得られる分光反射率401、402の傾斜領域のうち所定の領域を波長ズレ探索範囲403a〜403dとして利用する。このようにすることによって、400nm〜600nmの広い波長範囲で波長ズレを検出することができる。また、トナーパッチを測色する場合、CMYK各色の配合割合により図4に示すような波長領域(400nm、500nm、550nm、600nm)で、分光反射率に傾斜領域が得られる。このため、ここでは、これらの傾斜領域が得られる4つの波長校正用パッチ301a〜301dを用いることにした。   Here, as shown in FIGS. 3 and 4, wavelength calibration patches 301 a, 301 b, 301 c, where the spectral reflectances 401 and 402 are steep, are near 400 nm, 500 nm, 550 nm, and 600 nm, respectively. 301d is used. Then, the four wavelength calibration patches 301a to 301d printed on the paper 302 conveyed in the conveyance direction T are measured along the color measurement lines 303a and 303b. Then, a predetermined region of the inclined regions of the spectral reflectances 401 and 402 obtained from the color measurement result is used as the wavelength shift search range 403a to 403d. By doing so, it is possible to detect a wavelength shift in a wide wavelength range of 400 nm to 600 nm. Further, when the color of the toner patch is measured, an inclined region is obtained in the spectral reflectance in the wavelength regions (400 nm, 500 nm, 550 nm, and 600 nm) as shown in FIG. 4 depending on the mixing ratio of each color of CMYK. For this reason, the four wavelength calibration patches 301a to 301d from which these inclined regions are obtained are used here.

図2の説明に戻り、ステップS202において、分光カラーセンサ122a、122bは、ステップS201で印刷され、分光カラーセンサ122a、122bの測色位置に搬送された波長校正用パッチ301a〜301dを測色する。このとき、図3に示すように、2つの分光カラーセンサ122a、122bで同じ波長校正用パッチ301を同時に測色する。波長ズレの検出に使用する傾斜領域の数だけパッチを測色する。図3及び図4に示す例では、パッチの数は4つである。
次に、ステップS203において、波長校正部1231は、ステップS202で得られた測色値(分光反射率)をもとに、分光カラーセンサ122bの波長の校正(波長校正処理)を行う。ここでは、2つの分光カラーセンサ122a、122bのうち、片方の分光カラーセンサ122aをマスター、もう片方の分光カラーセンサ122bをスレイブとする。そして、スレイブの測色結果から得られる分光反射率402(補正対象)を、マスターの測色結果から得られる分光反射率401(基準スペクトル)に合わせ込む処理を行う。本実施形態では、この処理に、以下の波長校正アルゴリズムを使用することにする。
Returning to the description of FIG. 2, in step S202, the spectral color sensors 122a and 122b measure the color of the wavelength calibration patches 301a to 301d printed in step S201 and conveyed to the colorimetric positions of the spectral color sensors 122a and 122b. . At this time, as shown in FIG. 3, two spectral color sensors 122a and 122b measure the same wavelength calibration patch 301 simultaneously. The color of the patch is measured by the number of inclined regions used for detecting the wavelength shift. In the example shown in FIGS. 3 and 4, the number of patches is four.
Next, in step S203, the wavelength calibration unit 1231 calibrates the wavelength of the spectral color sensor 122b (wavelength calibration process) based on the colorimetric value (spectral reflectance) obtained in step S202. Here, of the two spectral color sensors 122a and 122b, one spectral color sensor 122a is a master, and the other spectral color sensor 122b is a slave. Then, processing is performed to match the spectral reflectance 402 (correction target) obtained from the slave colorimetric result with the spectral reflectance 401 (reference spectrum) obtained from the master colorimetric result. In this embodiment, the following wavelength calibration algorithm is used for this processing.

「波長校正アルゴリズム」
図5は、ステップS203の波長校正処理(波長校正アルゴリズム)の一例を説明するフローチャートである。
まず、ステップS501において、波長校正部1231は、パラメータの初期設定を行う。ここでは、検出する分光反射率401、402の傾斜領域の合計数Nを4に、傾斜カウントnを1にそれぞれ設定する。傾斜カウントnは、検出した傾斜領域の数を表す。
"Wavelength calibration algorithm"
FIG. 5 is a flowchart for explaining an example of the wavelength calibration process (wavelength calibration algorithm) in step S203.
First, in step S501, the wavelength calibration unit 1231 performs initial parameter settings. Here, the total number N of the slope regions of the spectral reflectances 401 and 402 to be detected is set to 4, and the slope count n is set to 1. The inclination count n represents the number of detected inclination areas.

次に、ステップS502において、波長校正部1231は、ステップS202で得た測色の結果に基づく分光反射率401、402の傾斜領域での波長ズレを検出する。
ここで、分光カラーセンサ122の受光素子の画素位置と、受光素子で検出される光の波長との関係について説明する。一般に、分光カラーセンサでは、測定対象物からの反射光を、回折格子で波長毎に分解したうえで、受光素子(ラインセンサ)で検出する。受光素子が検出する光の波長は、受光素子の画素毎に異なるため、画素位置(画素番号)と、検出した波長との対応関係を表すテーブルが必要となる。このテーブルは、分光反射率の波長軸(横軸)を定義するものである。よって、このテーブルを変更することで波長軸のズレ(波長ズレ)を補正することが可能になる。したがって、本実施形態の波長校正アルゴリズムでは、スレイブとなる分光カラーセンサ122bの前記テーブルを作成し直し、更新することで波長ズレを補正する。
Next, in step S502, the wavelength calibration unit 1231 detects a wavelength shift in the inclined region of the spectral reflectances 401 and 402 based on the color measurement result obtained in step S202.
Here, the relationship between the pixel position of the light receiving element of the spectral color sensor 122 and the wavelength of light detected by the light receiving element will be described. In general, in a spectral color sensor, reflected light from a measurement object is decomposed for each wavelength by a diffraction grating and then detected by a light receiving element (line sensor). Since the wavelength of the light detected by the light receiving element is different for each pixel of the light receiving element, a table indicating the correspondence between the pixel position (pixel number) and the detected wavelength is required. This table defines the wavelength axis (horizontal axis) of spectral reflectance. Therefore, it is possible to correct the wavelength axis shift (wavelength shift) by changing this table. Therefore, in the wavelength calibration algorithm of the present embodiment, the wavelength shift is corrected by re-creating and updating the table of the spectral color sensor 122b serving as a slave.

図6は、分光カラーセンサ122bの分光反射率402の波長ズレを検出する方法の一例を説明する図である。図6では、図6(a)に示すように、分光反射率402cの波長ズレを検出する場合を例に挙げて説明する。ここで、図6(b)は、スレイブとなる分光カラーセンサ122bの分光反射率402cと、波長ズレ検出ラインDL1〜DL5との交点を示す図である。一方、図6(c)は、マスターとなる分光カラーセンサ122aの分光反射率401cと、波長ズレ検出ラインDL1〜DL5との交点を示す図である。
図6(a)に示すように、使用する傾斜領域(波長ズレ探索範囲403c)は、波形のなまりが少ない傾斜領域の中央付近の領域とすればよい。
FIG. 6 is a diagram for explaining an example of a method for detecting the wavelength shift of the spectral reflectance 402 of the spectral color sensor 122b. In FIG. 6, as illustrated in FIG. 6A, a case where a wavelength shift of the spectral reflectance 402 c is detected will be described as an example. Here, FIG. 6B is a diagram illustrating intersections between the spectral reflectance 402c of the spectral color sensor 122b serving as a slave and the wavelength shift detection lines DL1 to DL5. On the other hand, FIG. 6C is a diagram illustrating intersections between the spectral reflectance 401c of the spectral color sensor 122a serving as a master and the wavelength shift detection lines DL1 to DL5.
As shown in FIG. 6A, the slope region (wavelength shift search range 403c) to be used may be a region near the center of the slope region with less waveform rounding.

ステップS502において、波長校正部1231は、傾斜領域内を通過するように、分光反射率が一定の波長ズレ検出ラインDL(Detect Line)を定め、その波長ズレ検出ラインDL上での波長ズレを検出する。まず、波長校正部1231は、図6に示すように、波長ズレ検出ラインDLを設定する。図6に示す例では、波長校正部1231は、5つの波長ズレ検出ラインDL1〜DL5を、分光反射率401c、402cに対して設定する。次に、波長校正部1231は、マスターとスレイブの分光反射率401、402と波長ズレ検出ラインDLとの交点を算出する。尚、分光反射率401、402は、実際には離散的である。このため、波長校正部1231は、得られた分光反射率401、402のデータを使って必要なデータの補間処理等を行って、分光反射率401、402と波長ズレ検出ラインDLとの交点を求める。   In step S502, the wavelength calibration unit 1231 determines a wavelength shift detection line DL (Detect Line) having a constant spectral reflectance so as to pass through the inclined region, and detects the wavelength shift on the wavelength shift detection line DL. To do. First, the wavelength calibration unit 1231 sets the wavelength shift detection line DL as shown in FIG. In the example shown in FIG. 6, the wavelength calibration unit 1231 sets five wavelength shift detection lines DL1 to DL5 for the spectral reflectances 401c and 402c. Next, the wavelength calibration unit 1231 calculates the intersection between the master and slave spectral reflectances 401 and 402 and the wavelength shift detection line DL. Note that the spectral reflectances 401 and 402 are actually discrete. For this reason, the wavelength calibration unit 1231 performs necessary data interpolation processing using the obtained spectral reflectances 401 and 402 data, and determines the intersection between the spectral reflectances 401 and 402 and the wavelength shift detection line DL. Ask.

次に、波長校正部1231は、図6(b)に示すように、スレイブの分光反射率402と波長ズレ検出ラインDLとの交点から、画素位置を算出する。また、波長校正部1231は、図6(c)に示すように、マスターの分光反射率401と波長ズレ検出ラインDLとの交点から、受光素子で検出された波長を算出する。そして、波長校正部1231は、算出した画素位置と波長とを、1対1で対応付ける。このような処理を全ての波長ズレ検出ラインDL1〜DL5について繰り返し行う。以上の操作は、波長ズレ検出ラインDL上で、マスターの波長ズレがないと仮定したときの画素位置と波長との対応関係を算出するものである。ここでは、ステップS502の処理を行うことによって、傾斜領域でのスレイブの波長ズレを検出する。   Next, as shown in FIG. 6B, the wavelength calibration unit 1231 calculates the pixel position from the intersection of the slave spectral reflectance 402 and the wavelength shift detection line DL. Further, as shown in FIG. 6C, the wavelength calibration unit 1231 calculates the wavelength detected by the light receiving element from the intersection of the master spectral reflectance 401 and the wavelength shift detection line DL. Then, the wavelength calibration unit 1231 associates the calculated pixel position with the wavelength on a one-to-one basis. Such processing is repeated for all the wavelength shift detection lines DL1 to DL5. The above operation calculates the correspondence between the pixel position and the wavelength when it is assumed that there is no master wavelength deviation on the wavelength deviation detection line DL. Here, the wavelength shift of the slave in the inclined region is detected by performing the process of step S502.

次に、ステップS503において、波長校正部1231は、傾斜カウントnが、検出する分光反射率401、402の傾斜領域の合計数N未満であるか否かを判定する。この判定の結果、傾斜カウントnが、傾斜領域の合計数N未満である場合には、ステップS504に進み、波長校正部1231は、傾斜カウントnに1を加算してステップS502に戻る。そして、傾斜カウントnに対応する傾斜領域(波長ズレ探索範囲403)でのスレイブの波長ズレを検出する。図3及び図4に示した例では、ステップS502の処理を4回行うことになる。   In step S503, the wavelength calibration unit 1231 determines whether the tilt count n is less than the total number N of tilt regions of the spectral reflectances 401 and 402 to be detected. As a result of this determination, if the tilt count n is less than the total number N of tilt regions, the process proceeds to step S504, and the wavelength calibration unit 1231 adds 1 to the tilt count n and returns to step S502. Then, the wavelength shift of the slave in the tilt region (wavelength shift search range 403) corresponding to the tilt count n is detected. In the example shown in FIGS. 3 and 4, the process of step S502 is performed four times.

一方、傾斜カウントnが、傾斜領域の合計数Nに達した場合には、全ての傾斜領域(波長ズレ探索範囲403)でのスレイブの波長ズレを検出し終えたので、次のステップS505に進む。
ステップS505に進むと、波長校正部1231は、ステップS501〜S604の処理で検出した波長ズレに基づいて、任意画素での波長を算出する。具体的に、波長校正部1231は、ステップS502で得られた「画素位置と波長との対応関係」から、任意の画素位置と波長との関係を算出する。図3、図4、及び図6に示した例では、画素位置と波長との対応関係を示すプロットが、1つの傾斜領域(波長ズレ探索範囲403)につき5個、すなわち20個(=4×5)得られる。そこで、本実施形態では、波長校正部1231は、この20個のプロットから、最小二乗法等の手法を用いて、多項式近似曲線を算出する。図7は、画素位置と波長との対応関係を示すプロットから算出される多項式近似曲線701の一例を示す図である。これにより、波長ズレ誤差が最小となる任意の画素位置と波長の関係が得られる。このようにすることによって、マスターの分光反射率401で波長ズレがないと仮定した場合の、スレイブの受光素子の任意の画素位置と波長との関係が得られる。以上のようなステップ605の処理を行うことによって、任意の波長でのスレイブの波長ズレを補正する。
On the other hand, when the tilt count n has reached the total number N of tilted regions, since the detection of slave wavelength shifts in all tilted regions (wavelength shift search range 403) has been completed, the process proceeds to the next step S505. .
In step S505, the wavelength calibration unit 1231 calculates the wavelength at an arbitrary pixel based on the wavelength shift detected in the processing in steps S501 to S604. Specifically, the wavelength calibration unit 1231 calculates the relationship between an arbitrary pixel position and wavelength from the “correspondence relationship between pixel position and wavelength” obtained in step S502. In the example shown in FIGS. 3, 4, and 6, the number of plots indicating the correspondence between the pixel position and the wavelength is 5 for one inclined region (wavelength shift search range 403), that is, 20 (= 4 × 5) Obtained. Therefore, in this embodiment, the wavelength calibration unit 1231 calculates a polynomial approximate curve from the 20 plots using a method such as a least square method. FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a polynomial approximation curve 701 calculated from a plot indicating the correspondence between the pixel position and the wavelength. As a result, a relationship between an arbitrary pixel position and a wavelength at which the wavelength shift error is minimized can be obtained. By doing so, the relationship between the arbitrary pixel position of the slave light receiving element and the wavelength when it is assumed that there is no wavelength deviation in the spectral reflectance 401 of the master is obtained. By performing the processing in step 605 as described above, the wavelength shift of the slave at an arbitrary wavelength is corrected.

次に、ステップS506において、波長校正部1231は、ステップS505で求めた画素位置と波長との対応関係を示すテーブルを、既存のテーブルと置き換えることで、スレイブの波長ズレを補正することができる。   In step S506, the wavelength calibration unit 1231 can correct the slave wavelength shift by replacing the table indicating the correspondence between the pixel position and the wavelength obtained in step S505 with an existing table.

以上のように本実施形態では、分光反射率の波長軸の補正の対象となるスレイブ(分光カラーセンサ122b)の分光反射率402と、基準となるマスター(分光カラーセンサ122a)の分光反射率401とを取得する。そして、分光反射率401、402の傾斜領域(波長ズレ探索範囲403)において、分光反射率が一定の波長ズレ検出ラインDL1〜DL5との交点を、分光反射率401、402の夫々について求める。そして、分光反射率401と波長ズレ検出ラインDL1〜DL5との交点から、分光反射率401で検出された波長を求める。また、分光反射率402と波長ズレ検出ラインDL1〜DL5との交点から、分光反射率402の受光素子の画素位置を求める。そして、求めた画素位置と波長とから、分光カラーセンサ122bにおける画素位置と波長との関係を示す多項式近似曲線701を求め、スレイブの画素位置と波長との対応関係を示すテーブルの内容を更新(又は生成)する。よって、マスターに対するスレイブの波長ズレを、特別なセンサを用いたり、複雑な処理を行ったりすることなく正確に補正することができ、同機種の分光カラーセンサ間の測定誤差を低減することができる。また、分光反射率401、402の分光反射率軸(縦軸)ズレの影響を受けにくく、且つ、個々の分光反射率401、402の傾斜領域でのノイズの影響を受けにくいため、高い補正精度で波長の校正を行える。
尚、以上の波長校正処理は、分光カラーセンサ122の内部での信号処理モジュールで行われるものとするが、その他の演算モジュールで行うようにしてもよい。また、以上の波長校正処理のアルゴリズムは、一例を示すものであり、本発明を逸脱しない範囲であれば他の手法であっても構わない。
As described above, in this embodiment, the spectral reflectance 402 of the slave (spectral color sensor 122b) to be corrected for the wavelength axis of the spectral reflectance and the spectral reflectance 401 of the master (spectral color sensor 122a) serving as a reference. And get. Then, in the inclined region (wavelength deviation search range 403) of the spectral reflectances 401 and 402, the intersections with the wavelength deviation detection lines DL1 to DL5 having a constant spectral reflectance are obtained for the spectral reflectances 401 and 402, respectively. And the wavelength detected by the spectral reflectance 401 is calculated | required from the intersection of the spectral reflectance 401 and the wavelength shift detection lines DL1-DL5. Further, the pixel position of the light receiving element having the spectral reflectance 402 is obtained from the intersection between the spectral reflectance 402 and the wavelength shift detection lines DL1 to DL5. Then, from the obtained pixel position and wavelength, a polynomial approximate curve 701 indicating the relationship between the pixel position and wavelength in the spectral color sensor 122b is obtained, and the contents of the table indicating the correspondence between the slave pixel position and wavelength are updated ( Or generation). Therefore, the wavelength shift of the slave relative to the master can be accurately corrected without using a special sensor or performing complicated processing, and measurement errors between spectral color sensors of the same model can be reduced. . In addition, it is difficult to be affected by the deviation of the spectral reflectance axis (vertical axis) of the spectral reflectances 401 and 402, and it is difficult to be affected by noise in the inclined regions of the individual spectral reflectances 401 and 402, so that high correction accuracy is achieved. The wavelength can be calibrated with.
The above wavelength calibration processing is performed by the signal processing module inside the spectral color sensor 122, but may be performed by other arithmetic modules. The above wavelength calibration processing algorithm shows an example, and other methods may be used as long as they do not depart from the present invention.

尚、本実施形態では、例えば、波長校正部1231(ステップS502)によって第1の分光反射率導出手段、第2の分光反射率導出手段、波長ずれ検出手段の一例が実現される。また、例えば、波長校正部1231(ステップS505、S506)によって波長ずれ補正手段の一例が実現される。また、キャリブレーション用LUT生成部113と、カラーマッチング用LUT生成部114とによって、色変換ルックアップテーブル生成更新手段の一例が実現される。また、例えば、波長校正用パッチ301によって波長校正試料の一例が実現される。また、例えば、分光反射率401によって第1の分光反射率の一例が実現され、分光反射率402によって第2の分光反射率の一例が実現される。また、例えば、分光カラーセンサ122aによって基準となる第1の分光センサの一例が実現され、分光カラーセンサ122bによって校正の対象となる第2の分光センサの一例が実現される。   In the present embodiment, for example, the wavelength calibration unit 1231 (step S502) realizes an example of a first spectral reflectance derivation unit, a second spectral reflectance derivation unit, and a wavelength shift detection unit. Further, for example, an example of a wavelength shift correction unit is realized by the wavelength calibration unit 1231 (steps S505 and S506). The calibration LUT generation unit 113 and the color matching LUT generation unit 114 realize an example of a color conversion lookup table generation / update unit. Further, for example, an example of a wavelength calibration sample is realized by the wavelength calibration patch 301. For example, the spectral reflectance 401 realizes an example of the first spectral reflectance, and the spectral reflectance 402 realizes an example of the second spectral reflectance. Further, for example, the spectral color sensor 122a realizes an example of a first spectral sensor serving as a reference, and the spectral color sensor 122b realizes an example of a second spectral sensor to be calibrated.

(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。第1の実施形態では、プリンタ装置1に内蔵される2つの分光カラーセンサ122a、122bの個体差の補正(分光反射率の波長軸のズレの補正)を、分光カラーセンサ122aの分光反射率401を基準として行う場合を例に挙げて説明した。これに対し、本実施形態では、プリンタ装置に内蔵される各分光カラーセンサの測色値から得られる分光反射率を、プリンタ装置の外部の基準測色機の測色値から得られる分光反射率に合わせ込んで、分光反射率の波長軸のズレを補正する。このように本実施形態と第1の実施形態とは、基準となる分光反射率に係る部分が主として異なる。したがって、本実施形態の説明において、第1の実施形態と同一の部分については、図1〜図6に付した符号と同一の符号を付す等して詳細な説明を省略する。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In the first embodiment, correction of individual differences between the two spectral color sensors 122a and 122b built in the printer apparatus 1 (correction of the shift of the wavelength axis of the spectral reflectance) is performed, and the spectral reflectance 401 of the spectral color sensor 122a is corrected. As an example, the case where the above process is performed is described. On the other hand, in the present embodiment, the spectral reflectance obtained from the colorimetric values of each spectral color sensor built in the printer device is changed to the spectral reflectance obtained from the colorimetric values of the reference colorimeter outside the printer device. In accordance with the above, the shift of the spectral reflectance wavelength axis is corrected. As described above, the present embodiment and the first embodiment are mainly different in the portion relating to the reference spectral reflectance. Therefore, in the description of the present embodiment, the same portions as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals as those in FIGS.

図8は、本実施形態における波長校正シーケンスの一例を説明するフローチャートである。
まず、ステップS901において、プリンタ装置は、波長校正用パッチ301a〜301dを印刷する。
次に、ステップS902において、分光カラーセンサ122a、122bは、ステップS201で印刷され、分光カラーセンサ122a、122bの測色位置に搬送された波長校正用パッチ301a〜301dを測色する。ステップS801、S902の処理は、図2のステップS201、302と同じである。
FIG. 8 is a flowchart for explaining an example of a wavelength calibration sequence in the present embodiment.
First, in step S901, the printer apparatus prints wavelength calibration patches 301a to 301d.
In step S902, the spectral color sensors 122a and 122b measure the color of the wavelength calibration patches 301a to 301d printed in step S201 and conveyed to the colorimetric positions of the spectral color sensors 122a and 122b. The processes in steps S801 and S902 are the same as those in steps S201 and 302 in FIG.

次に、ステップS903において、プリンタ装置から出力された波長校正用パッチ301a〜301dを、プリンタ装置とは別体の基準測色機(が備える分光カラーセンサ)で測定する。この波長校正用パッチ301a〜301dは、ステップS902で使用したものと同じものである。
ここで、プリンタ装置に内蔵された分光カラーセンサ122の場合には、センサ信号処理部123において、分光カラーセンサ122からの生データを加工することにより、分光反射率を得る。これに対し、外部の基準測色機の場合には、付属のPCアプリケーションソフトウェア等を用いることにより分光反射率が直接得られる。
Next, in step S903, the wavelength calibration patches 301a to 301d output from the printer apparatus are measured by a reference colorimeter (a spectral color sensor included in the printer apparatus) separate from the printer apparatus. The wavelength calibration patches 301a to 301d are the same as those used in step S902.
Here, in the case of the spectral color sensor 122 built in the printer apparatus, the spectral reflectance is obtained by processing the raw data from the spectral color sensor 122 in the sensor signal processing unit 123. On the other hand, in the case of an external reference colorimeter, the spectral reflectance can be directly obtained by using attached PC application software or the like.

次に、ステップS904において、波長校正部は、ステップS902、S903の処理で得られた測色値(分光反射率)をもとに、分光カラーセンサ122a、122bの波長ズレの補正を行う。本実施形態では、外部の基準測色機をマスターとし、分光カラーセンサ122a、122bをスレイブとする。そして、外部の基準測色機での測色値から得られた分光反射率を基準のスペクトルとし、分光カラーセンサ122a、122bの測色値から得られた分光反射率を補正対象とする。そして、分光カラーセンサ122a、122bの測色値から得られた分光反射率のそれぞれについて、外部の基準測色機での測色値から得られた分光反射率に合わせ込む波長校正処理を行う。波長校正処理の詳細は、第1の実施形態の波長校正処理と同じである(図5を参照)。ただし、分光カラーセンサ122a、122bの測色値から得られた分光反射率のそれぞれについて、図5のフローチャートの処理を行う。   Next, in step S904, the wavelength calibration unit corrects the wavelength shift of the spectral color sensors 122a and 122b based on the colorimetric values (spectral reflectance) obtained by the processing in steps S902 and S903. In this embodiment, an external reference colorimeter is used as a master, and spectral color sensors 122a and 122b are used as slaves. The spectral reflectance obtained from the colorimetric values obtained from the external reference colorimeter is used as a reference spectrum, and the spectral reflectance obtained from the colorimetric values obtained from the spectral color sensors 122a and 122b is used as a correction target. Then, for each of the spectral reflectances obtained from the colorimetric values of the spectral color sensors 122a and 122b, wavelength calibration processing is performed to match the spectral reflectances obtained from the colorimetric values obtained from the external reference colorimeter. The details of the wavelength calibration process are the same as the wavelength calibration process of the first embodiment (see FIG. 5). However, the processing of the flowchart of FIG. 5 is performed for each of the spectral reflectances obtained from the colorimetric values of the spectral color sensors 122a and 122b.

波長校正処理の結果、分光カラーセンサ122a、122bの分光反射率401、402と、外部の基準測色機の分光反射率との波長ズレが補正される。したがって、分光カラーセンサ122a、122bの分光反射率401、402の波長軸のそれぞれを基準測色機の分光反射率の波長軸に合わせることができる。これにより、第1の実施形態で説明した効果に加え、次の効果が得られる。すなわち、外部の基準測色機の分光反射率を基準にすることができる。分光カラーセンサ122a、122bの経時変化による波長ズレも補正できる。また、波長軸の絶対値を合わせることができるため、異機種のプリンタ装置間で統一的な波長ズレの補正が可能になる。また、プリンタ装置に内蔵される2つの分光カラーセンサ122a、122bの分光反射率401、402の何れもが波長ズレを起こしている場合であっても、波長ズレを補正することができる。
尚、本実施形態においても、第1の実施形態で説明した種々の変形例を採用することができる。
また、本実施形態では、例えば、基準測色機(が備える分光カラーセンサ)によって基準となる分光カラーセンサの一例が実現され、分光カラーセンサ122a、122bによって校正の対象となる分光カラーセンサの一例が実現される。
As a result of the wavelength calibration process, the wavelength shift between the spectral reflectances 401 and 402 of the spectral color sensors 122a and 122b and the spectral reflectance of the external reference colorimeter is corrected. Therefore, the wavelength axes of the spectral reflectances 401 and 402 of the spectral color sensors 122a and 122b can be matched with the wavelength axis of the spectral reflectance of the reference colorimeter. Thereby, in addition to the effect demonstrated by 1st Embodiment, the following effect is acquired. That is, the spectral reflectance of an external reference colorimeter can be used as a reference. It is also possible to correct the wavelength shift due to the temporal change of the spectral color sensors 122a and 122b. In addition, since the absolute value of the wavelength axis can be adjusted, it is possible to correct the wavelength shift uniformly among different types of printer apparatuses. Further, even when both of the spectral reflectances 401 and 402 of the two spectral color sensors 122a and 122b built in the printer device cause a wavelength shift, the wavelength shift can be corrected.
Also in this embodiment, various modifications described in the first embodiment can be employed.
In this embodiment, for example, an example of a spectral color sensor that is a reference is realized by a reference colorimeter (a spectral color sensor included in the reference colorimeter), and an example of a spectral color sensor that is a calibration target by the spectral color sensors 122a and 122b. Is realized.

(第3の実施形態)
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。第1、第2の実施形態では、プリンタ装置から出力された波長校正用パッチ301を、プリンタ装置に内蔵の分光カラーセンサ122や外部の測色基準機で測色し、補正対象の分光反射率の波長軸を基準となる分光反射率に合わせ込んで波長ズレを補正した。しかしながら、分光カラーセンサ122や外部の測色基準機で測色されるパッチは、面内でのムラ等に起因する誤差をもつ。そこで、本実施形態では、波長校正用パッチ301を印刷する代わりに、色安定が補償された波長校正用標準チャート(波長校正用チャート)をプリンタ装置内に搬送し、それを測色する。このように、本実施形態と第1、第2の実施形態とでは、使用するパッチに係る部分が異なる。したがって、本実施形態の説明において、第1、第2の実施形態と同一の部分については、図1〜図8に付した符号と同一の符号を付す等して詳細な説明を省略する。
(Third embodiment)
Next, a third embodiment of the present invention will be described. In the first and second embodiments, the wavelength calibration patch 301 output from the printer device is measured by the spectral color sensor 122 built in the printer device or an external colorimetric reference machine, and the spectral reflectance to be corrected is measured. The wavelength shift was corrected by aligning the wavelength axis with the reference spectral reflectance. However, patches measured by the spectral color sensor 122 or an external color measurement reference machine have errors due to in-plane unevenness. Therefore, in this embodiment, instead of printing the wavelength calibration patch 301, a wavelength calibration standard chart (wavelength calibration chart) compensated for color stability is transported into the printer apparatus and the color is measured. As described above, the present embodiment is different from the first and second embodiments in the portion related to the patch to be used. Therefore, in the description of the present embodiment, the same parts as those in the first and second embodiments are denoted by the same reference numerals as those in FIGS.

本発明の波長校正シーケンスは、図2及び図8のステップS201、S901の代わりに、次の処理を行う。すなわち、プリンタ装置は、波長校正用標準チャートを取り込む。この際、プリンタ装置は、波長校正用標準チャートが定着器(定着部121)の熱を受けないように、波長校正用標準チャートが搬送されているときには定着器の動作を止めたり、波長校正用標準チャートが定着器を通らないパスを通るようにしたりする。
以上のように本実施形態では、波長校正標準チャートを使用することにより、第1、第2の実施形態よりも高精度に波長ズレの補正を行うことが可能になる。
尚、本実施形態では、例えば、波長校正用標準チャートによって波長校正試料の一例が実現される。
The wavelength calibration sequence of the present invention performs the following processing instead of steps S201 and S901 in FIGS. That is, the printer device captures the wavelength calibration standard chart. At this time, the printer apparatus stops the operation of the fixing device when the wavelength calibration standard chart is being conveyed so that the wavelength calibration standard chart is not subjected to the heat of the fixing device (fixing unit 121), or for wavelength calibration. For example, the standard chart may pass through a path that does not pass through the fixing unit.
As described above, in this embodiment, it is possible to correct the wavelength shift with higher accuracy than in the first and second embodiments by using the wavelength calibration standard chart.
In the present embodiment, for example, an example of a wavelength calibration sample is realized by a wavelength calibration standard chart.

尚、前述した実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。   The above-described embodiments are merely examples of implementation in carrying out the present invention, and the technical scope of the present invention should not be construed in a limited manner. That is, the present invention can be implemented in various forms without departing from the technical idea or the main features thereof.

(その他の実施例)
本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、まず、以上の実施形態の機能を実現するソフトウェア(コンピュータプログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給する。そして、そのシステム或いは装置のコンピュータ(又はCPUやMPU等)が当該コンピュータプログラムを読み出して実行する。
(Other examples)
The present invention is also realized by executing the following processing. That is, first, software (computer program) for realizing the functions of the above embodiments is supplied to a system or apparatus via a network or various storage media. Then, the computer (or CPU, MPU, etc.) of the system or apparatus reads and executes the computer program.

1 プリンタ装置、122 分光カラーセンサ、1231 波長校正部   1 Printer device, 122 spectral color sensor, 1231 wavelength calibration unit

本発明の波長校正方法は、基準となる第1の分光センサによる、媒体上に形成されている複数の波長校正試料の測色の結果に基づいて、前記複数の波長校正試料それぞれについて第1の分光反射率を導出する第1の分光反射率導出工程と、校正の対象となる第2の分光センサによる、前記媒体上に形成されている複数の波長校正試料の測色の結果に基づいて、前記複数の波長校正試料それぞれについて第2の分光反射率を導出する第2の分光反射率導出工程と、前記複数の波長校正試料それぞれについて、前記第1の分光反射率と前記第2の分光反射率との傾斜している傾斜領域を特定する特定工程と、前記複数の波長校正試料それぞれについて、前記特定工程により特定された傾斜領域内を通過する、前記第1の分光反射率と前記第2の分光反射率との波長ずれを検出するための複数の検出ラインを定める定義工程と、前記複数の波長校正試料それぞれについて、前記定義工程で定められた複数の検出ラインに沿って、前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率との波長のずれを検出する波長ずれ検出工程と、前記波長ずれ検出工程により検出された複数の波長のずれに基づいて、前記第2の分光センサにより測色される分光反射率の、前記第1の分光センサにより測色される分光反射率に対する波長のずれを補正する波長ずれ補正工程と、を有し、前記波長ずれ検出工程は、前記第1の分光反射率と、前記複数の検出ラインとの交点から前記第1の分光センサの受光素子で検出された波長を求めると共に、前記第2の分光反射率と、前記複数の検出ラインとの交点から、前記第2の分光センサの受光素子の画素の位置を求め、求めた波長と画素の位置との関係を前記複数の波長校正試料それぞれについて導出し、前記波長ずれ検出工程は、前記波長ずれ検出工程により導出された、前記複数の波長校正試料それぞれについての波長と画素の位置との関係に基づいて、前記第2の分光センサにより測色される分光反射率の、前記第1の分光センサにより測色される分光反射率に対する波長のずれを補正することを特徴とする。 The wavelength calibration method of the present invention is based on the result of color measurement of a plurality of wavelength calibration samples formed on a medium by a first spectroscopic sensor serving as a reference . Based on a result of color measurement of a plurality of wavelength calibration samples formed on the medium by a first spectral reflectance derivation step for deriving a spectral reflectance and a second spectral sensor to be calibrated, A second spectral reflectance derivation step for deriving a second spectral reflectance for each of the plurality of wavelength calibration samples, and the first spectral reflectance and the second spectral reflectance for each of the plurality of wavelength calibration samples. A specifying step of specifying an inclined region inclined with a rate, and the first spectral reflectance and the second passing through the inclined region specified by the specifying step for each of the plurality of wavelength calibration samples. Minutes A definition step of defining a plurality of detection lines for detecting the wavelength shift of the reflectance, for each of the plurality of wavelength calibration sample, along the plurality of detection lines defined by said definition step, the first spectral A wavelength shift detection step for detecting a shift in wavelength between the reflectance and the second spectral reflectance, and a second spectral sensor based on a plurality of wavelength shifts detected in the wavelength shift detection step. spectral reflectances colorimetry, have a, a wavelength shift correction step of correcting the deviation of the wavelength for the spectral reflectances colorimetry by the first spectral sensor, the wavelength deviation detecting step, the first The wavelength detected by the light receiving element of the first spectroscopic sensor is obtained from the intersection between the spectral reflectance of the first spectral sensor and the plurality of detection lines, and the intersection between the second spectral reflectance and the plurality of detection lines. From The position of the pixel of the light receiving element of the second spectroscopic sensor is obtained, the relationship between the obtained wavelength and the position of the pixel is derived for each of the plurality of wavelength calibration samples, and the wavelength deviation detection step includes the wavelength deviation detection step. The spectral reflectance measured by the second spectroscopic sensor is measured by the first spectroscopic sensor based on the relationship between the wavelength and the pixel position for each of the plurality of wavelength calibration samples. It is characterized by correcting a shift in wavelength with respect to the spectral reflectance to be colored .

本発明によれば、印刷装置で所望の色を出力するために使用される色変換ルックアップテーブルを生成・更新するための分光センサにより検出される光の波長を、特別なセンサを用いることなく正確に且つ容易に校正することができる。 According to the present invention, the wavelength of light detected by the spectral sensor for generating and updating a color conversion lookup table used for outputting a desired color printing apparatus, using a special sensor Can be calibrated accurately and easily.

Claims (18)

基準となる第1の分光センサによる波長校正試料の測色の結果に基づいて、第1の分光反射率を導出する第1の分光反射率導出工程と、
校正の対象となる第2の分光センサによる前記波長校正試料の測色の結果に基づいて、第2の分光反射率を導出する第2の分光反射率導出工程と、
前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率の、傾斜している所定の領域における、前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率との波長のずれを検出する波長ずれ検出工程と、
前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率との波長のずれに基づいて、前記第2の分光反射率の前記第1の分光反射率に対する波長のずれを補正する波長ずれ補正工程と、を有することを特徴とする波長校正方法。
A first spectral reflectance derivation step for deriving the first spectral reflectance based on the result of color measurement of the wavelength calibration sample by the first spectral sensor serving as a reference;
A second spectral reflectance derivation step for deriving a second spectral reflectance based on a result of color measurement of the wavelength calibration sample by the second spectral sensor to be calibrated;
Detection of a shift in wavelength between the first spectral reflectance and the second spectral reflectance in a predetermined inclined region of the first spectral reflectance and the second spectral reflectance. A wavelength shift detecting step,
Wavelength shift correction for correcting a wavelength shift of the second spectral reflectance with respect to the first spectral reflectance based on a wavelength shift between the first spectral reflectance and the second spectral reflectance. A wavelength calibration method comprising the steps of:
前記波長ずれ補正工程は、前記第1の分光反射率から、複数の分光反射率に対応する波長を取得すると共に、前記第2の分光反射率から、当該複数の分光反射率に対応する前記第2の分光センサの受光素子の画素の位置を取得し、取得した波長と画素の位置との関係に基づいて、前記第2の分光センサの受光素子の画素の位置と、波長との関係を導出することによって、前記第2の分光反射率の前記第1の分光反射率に対する波長のずれを補正することを特徴とする請求項1に記載の波長校正方法。   The wavelength shift correction step acquires the wavelengths corresponding to a plurality of spectral reflectances from the first spectral reflectance, and the first corresponding to the plurality of spectral reflectances from the second spectral reflectance. The position of the pixel of the light receiving element of the second spectroscopic sensor is acquired, and the relationship between the position of the pixel of the light receiving element of the second spectroscopic sensor and the wavelength is derived based on the relationship between the acquired wavelength and the position of the pixel. The wavelength calibration method according to claim 1, wherein a wavelength shift of the second spectral reflectance with respect to the first spectral reflectance is corrected. 前記波長ずれ補正工程は、前記取得した波長と画素の位置とに基づいて、前記第2の分光センサの受光素子の画素の位置と、波長との関係を示す多項式近似曲線を導出することを特徴とする請求項2に記載の波長校正方法。   The wavelength shift correction step derives a polynomial approximation curve indicating a relationship between the wavelength of the light receiving element of the second spectroscopic sensor and the wavelength based on the acquired wavelength and the position of the pixel. The wavelength calibration method according to claim 2. 前記第1の分光反射率導出工程は、基準となる第1の分光センサによる複数の波長校正試料の測色の結果に基づいて、第1の分光反射率を導出し、
前記第2の分光反射率導出工程は、校正の対象となる第2の分光センサによる前記複数の波長校正試料の測色の結果に基づいて、第2の分光反射率を導出することを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の波長校正方法。
The first spectral reflectance derivation step derives a first spectral reflectance based on a result of color measurement of a plurality of wavelength calibration samples by a first spectral sensor as a reference,
The second spectral reflectance derivation step derives a second spectral reflectance based on a result of colorimetry of the plurality of wavelength calibration samples by the second spectral sensor to be calibrated. The wavelength calibration method according to any one of claims 1 to 3.
前記基準となる第1の分光センサと、前記校正の対象となる第2の分光センサは、共に印刷装置に搭載された同機種の分光センサであることを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載の波長校正方法。   The first spectroscopic sensor serving as the reference and the second spectroscopic sensor serving as the calibration target are both spectroscopic sensors of the same model mounted on a printing apparatus. The wavelength calibration method according to claim 1. 前記基準となる第1の分光センサは、印刷装置とは別の基準測色機が備える分光センサであり、
前記校正の対象となる第2の分光センサは、印刷装置に搭載された分光センサであることを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載の波長校正方法。
The first spectroscopic sensor serving as the reference is a spectroscopic sensor provided in a reference colorimeter different from the printing apparatus,
The wavelength calibration method according to claim 1, wherein the second spectral sensor to be calibrated is a spectral sensor mounted on a printing apparatus.
前記波長校正試料は、印刷装置で印刷したパッチ、又は波長校正用チャートであることを特徴とする請求項1〜6の何れか1項に記載の波長校正方法。   The wavelength calibration method according to claim 1, wherein the wavelength calibration sample is a patch printed by a printing apparatus or a wavelength calibration chart. 前記パッチは、分光反射率の傾斜している領域の傾きが急峻である高彩度色であることを特徴とする請求項7に記載の波長校正方法。   The wavelength calibration method according to claim 7, wherein the patch is a high-saturation color in which the slope of the region where the spectral reflectance is inclined is steep. 基準となる第1の分光センサによる波長校正試料の測色の結果に基づいて、第1の分光反射率を導出する第1の分光反射率導出手段と、
校正の対象となる第2の分光センサによる前記波長校正試料の測色の結果に基づいて、第2の分光反射率を導出する第2の分光反射率導出手段と、
前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率の、傾斜している所定の領域における、前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率との波長のずれを検出する波長ずれ検出手段と、
前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率との波長のずれに基づいて、前記第2の分光反射率の前記第1の分光反射率に対する波長のずれを補正する波長ずれ補正手段と、
前記波長のずれが補正された前記第2の分光反射率に基づいて、色変換ルックアップテーブルを生成又は更新する色変換ルックアップテーブル生成更新手段と、を有することを特徴とする印刷装置。
First spectral reflectance deriving means for deriving the first spectral reflectance based on the result of color measurement of the wavelength calibration sample by the first spectral sensor serving as a reference;
Second spectral reflectance derivation means for deriving a second spectral reflectance based on the result of color measurement of the wavelength calibration sample by the second spectral sensor to be calibrated;
Detection of a shift in wavelength between the first spectral reflectance and the second spectral reflectance in a predetermined inclined region of the first spectral reflectance and the second spectral reflectance. A wavelength shift detecting means,
Wavelength shift correction for correcting a wavelength shift of the second spectral reflectance with respect to the first spectral reflectance based on a wavelength shift between the first spectral reflectance and the second spectral reflectance. Means,
And a color conversion lookup table generation / updating unit that generates or updates a color conversion lookup table based on the second spectral reflectance corrected for the wavelength shift.
前記波長ずれ補正工程は、前記第1の分光反射率から、複数の分光反射率に対応する波長を取得すると共に、前記第2の分光反射率から、当該複数の分光反射率に対応する前記第2の分光センサの受光素子の画素の位置を取得し、取得した波長と画素の位置との関係に基づいて、前記第2の分光センサの受光素子の画素の位置と、波長との関係を導出することによって、前記第2の分光反射率の前記第1の分光反射率に対する波長のずれを補正することを特徴とする請求項9に記載の印刷装置。   The wavelength shift correction step acquires the wavelengths corresponding to a plurality of spectral reflectances from the first spectral reflectance, and the first corresponding to the plurality of spectral reflectances from the second spectral reflectance. The position of the pixel of the light receiving element of the second spectroscopic sensor is acquired, and the relationship between the position of the pixel of the light receiving element of the second spectroscopic sensor and the wavelength is derived based on the relationship between the acquired wavelength and the position of the pixel. The printing apparatus according to claim 9, wherein a wavelength shift of the second spectral reflectance with respect to the first spectral reflectance is corrected. 前記波長ずれ補正工程は、前記取得した波長と画素の位置とに基づいて、前記第2の分光センサの受光素子の画素の位置と、波長との関係を示す多項式近似曲線を導出することを特徴とする請求項10に記載の印刷装置。   The wavelength shift correction step derives a polynomial approximation curve indicating a relationship between the wavelength of the light receiving element of the second spectroscopic sensor and the wavelength based on the acquired wavelength and the position of the pixel. The printing apparatus according to claim 10. 前記第1の分光反射率導出工程は、基準となる第1の分光センサによる複数の波長校正試料の測色の結果に基づいて、第1の分光反射率を導出し、
前記第2の分光反射率導出工程は、校正の対象となる第2の分光センサによる前記複数の波長校正試料の測色の結果に基づいて、第2の分光反射率を導出することを特徴とする請求項9〜11の何れか1項に記載の印刷装置。
The first spectral reflectance derivation step derives a first spectral reflectance based on a result of color measurement of a plurality of wavelength calibration samples by a first spectral sensor as a reference,
The second spectral reflectance derivation step derives a second spectral reflectance based on a result of colorimetry of the plurality of wavelength calibration samples by the second spectral sensor to be calibrated. The printing apparatus according to any one of claims 9 to 11.
前記基準となる第1の分光センサと、前記校正の対象となる第2の分光センサとを共に備えることを特徴とする請求項9〜12の何れか1項に記載の印刷装置。   The printing apparatus according to claim 9, comprising both the first spectroscopic sensor serving as the reference and the second spectroscopic sensor serving as the calibration target. 前記校正の対象となる第2の分光センサを備え、
前記基準となる第1の分光センサは、外部の基準測色機が備える分光センサであることを特徴とする請求項9〜12の何れか1項に記載の印刷装置。
A second spectroscopic sensor to be calibrated,
The printing apparatus according to claim 9, wherein the first spectroscopic sensor serving as a reference is a spectroscopic sensor provided in an external reference colorimeter.
前記波長校正試料は、前記印刷装置で印刷したパッチ、又は波長校正用標準チャートであることを特徴とする請求項9〜14の何れか1項に記載の印刷装置。   The printing apparatus according to claim 9, wherein the wavelength calibration sample is a patch printed by the printing apparatus or a standard chart for wavelength calibration. 前記パッチは、分光反射率の傾斜している領域の傾きが急峻である高彩度色であることを特徴とする請求項15に記載の印刷装置。   The printing apparatus according to claim 15, wherein the patch is a high-saturation color in which a slope of a region where the spectral reflectance is inclined is steep. 前記波長校正試料は、波長校正用標準チャートであり、
前記分光反射率による測色を行うために、前記波長校正用標準チャートを、定着器の動作を止めた状態で搬送する手段と、前記分光反射率による測色を行うために、前記波長校正用標準チャートを、定着器を通さずに搬送する手段と、の何れかを有することを特徴とする請求項15に記載の印刷装置。
The wavelength calibration sample is a standard chart for wavelength calibration,
In order to perform color measurement by the spectral reflectance, the wavelength calibration standard chart is transported in a state where the operation of the fixing device is stopped, and the wavelength calibration is performed in order to perform color measurement by the spectral reflectance. 16. The printing apparatus according to claim 15, further comprising: a means for conveying the standard chart without passing through the fixing device.
基準となる第1の分光センサによる波長校正試料の測色の結果に基づいて、第1の分光反射率を導出する第1の分光反射率導出工程と、
校正の対象となる第2の分光センサによる前記波長校正試料の測色の結果に基づいて、第2の分光反射率を導出する第2の分光反射率導出工程と、
前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率の、傾斜している所定の領域における、前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率との波長のずれを検出する波長ずれ検出工程と、
前記第1の分光反射率と、前記第2の分光反射率との波長のずれに基づいて、前記第2の分光反射率の前記第1の分光反射率に対する波長のずれを補正する波長ずれ補正工程と、をコンピュータに実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。
A first spectral reflectance derivation step for deriving the first spectral reflectance based on the result of color measurement of the wavelength calibration sample by the first spectral sensor serving as a reference;
A second spectral reflectance derivation step for deriving a second spectral reflectance based on a result of color measurement of the wavelength calibration sample by the second spectral sensor to be calibrated;
Detection of a shift in wavelength between the first spectral reflectance and the second spectral reflectance in a predetermined inclined region of the first spectral reflectance and the second spectral reflectance. A wavelength shift detecting step,
Wavelength shift correction for correcting a wavelength shift of the second spectral reflectance with respect to the first spectral reflectance based on a wavelength shift between the first spectral reflectance and the second spectral reflectance. A computer program that causes a computer to execute the process.
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