JPH11330252A - 半導体集積回路の配置配線方法 - Google Patents

半導体集積回路の配置配線方法

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JPH11330252A
JPH11330252A JP10129260A JP12926098A JPH11330252A JP H11330252 A JPH11330252 A JP H11330252A JP 10129260 A JP10129260 A JP 10129260A JP 12926098 A JP12926098 A JP 12926098A JP H11330252 A JPH11330252 A JP H11330252A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体集積回路の低消費電力化および設計期
間短縮化を図り、かつ、配線性を向上させる半導体集積
回路の配置配線方法を提供する。 【解決手段】 本発明は、論理合成ツール1により論理
合成用予測配線長ライブラリ2と論理合成用ライブラリ
3とを用いてLSI用のネットリスト4を作成する工程
と、ネットリスト4をLSIに自動で配置する自動配置
工程5と、この工程で配置されたブロックにて配線が可
能かどうかを確認する概略配線工程6と、この工程の結
果を用いて過大遅延マージンおよび過大容量マージンを
含んだブロックを検出する変更可能ブロック検出工程7
と、この工程において検出されたブロックを変更または
削除するブロック変更削除工程8と、この工程によりブ
ロックを変更削除した結果を用いて最終的な配線を行う
詳細配線工程9と、この工程の後に実施されるES作成
工程10とを有することにより、半導体集積回路の低消
費電力化および設計期間短縮化を図り、かつ、配線性を
向上させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路の
配置配線方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体集積回路の自動配置配線方
法は、アルゴリズムに依存し集積度および配線性の向上
を目的としていた。図6に示すように、従来の半導体集
積回路の自動配置配線方法は、論理合成ツール101に
より論理合成用予測配線長ライブラリ102と論理合成
用ライブラリ103とを用いてLSI用のネットリスト
104を作成する工程と、ネットリスト104をLSI
に自動で配置する自動配置工程105と、概略配線工程
106と、詳細配線工程107とES作成工程108と
で構成されている。詳細配線工程107の後の結果と論
理合成用予測配線長ライブラリ102の結果に過大マー
ジンが発生しても特に対処はしていなかった。
【0003】従って、ES作成工程108の後に、過大
マージンを含むブロックが思わぬ過大消費電力を発生
し、また、過大遅延マージンを含んだディレイ(del
ay)ブロックや過大容量マージンを含んだファンアウ
ト調整用ブロックを使用することにより配線性を低下さ
せている。
【0004】そこで、近年は、ブロックの優先配置を行
い低消費電力の半導体集積回路を得る方法が特開平6−
302696号公報に記載されている。また、配置配線
後に実配線容量を用いたシミュレーションを行い再度設
計検証を行い高集積度および低消費電力の半導体集積回
路を得る方法が特開平4−137653号公報に記載さ
れている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
6−302696号公報に記載されている半導体集積回
路の配置配線方法においては、優先配置を行うことによ
り、配線性が低下し自動配置配線が完了しない場合が発
生するという問題がある。
【0006】また、特開平4−137653号公報に記
載されている半導体集積回路の配置配線方法において
は、実配線容量を用いたシミュレーションを行い再度設
計検証を行うことにより、再度自動配置配線を行う必要
が出てきて設計期間が延びるという問題がある。
【0007】本発明は、半導体集積回路の低消費電力化
および設計期間短縮化を図ることができ、かつ、配線性
を向上させることができる半導体集積回路の配置配線方
法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、請求項1記載の発明は、概略配線工程後に過大遅延
マージンおよび過大容量マージンを含んだブロックを検
出する工程と、過大遅延マージンおよび過大容量マージ
ンを含むブロックを変更または削除する工程とを有する
ことを特徴とする。
【0009】請求項2記載の発明は、論理合成ツールに
より論理合成用予測配線長ライブラリと各ブロックのフ
ァンアウト制約およびブロック遅延を持っている論理合
成用ライブラリとを用いてLSI用のネットリストを作
成する工程と、ネットリストをLSIに配置する配置工
程と、配置工程で配置されたブロックにて配線が可能か
どうかを確認する概略配線工程と、概略配線工程の結果
を用いることにより実配置配線結果に近い値を使用して
変更可能ブロックを検出する変更可能ブロック検出工程
と、変更可能ブロック検出工程において検出された変更
可能ブロックを変更または削除するブロック変更削除工
程と、ブロック変更削除工程により変更可能なブロック
を変更または削除した結果を用いて最終的な配線を行う
詳細配線工程と、詳細配線工程の後に実施されるES作
成工程とを有することを特徴とする。
【0010】請求項3記載の発明は、論理合成ツールに
より論理合成用予測配線長ライブラリと各ブロックのフ
ァンアウト制約およびブロック遅延を持っている論理合
成用ライブラリとを用いてLSI用のネットリストを作
成する工程と、ネットリストをLSIに配置する配置工
程と、配置工程で配置されたブロックにて配線が可能か
どうかを確認する概略配線工程と、論理合成用ライブラ
リおよび概略配線工程の結果を用いて過大遅延マージン
および過大容量マージンを含んだ変更可能ブロックを検
出する変更可能ブロック検出工程と、変更可能ブロック
検出工程において検出された変更可能ブロックを変更ま
たは削除するブロック変更削除工程と、ブロック変更削
除工程によりブロックを変更または削除した結果を用い
て最終的な配線を行う詳細配線工程と、詳細配線工程の
後に実施されるES作成工程とを有することを特徴とす
る。
【0011】請求項4記載の発明は、論理合成ツールに
より論理合成用予測配線長ライブラリと各ブロックのフ
ァンアウト制約およびブロック遅延を持っている論理合
成用ライブラリとを用いてLSI用のネットリストと論
理設計制約ファイルとを作成する工程と、ネットリスト
をLSIに配置する配置工程と、配置工程で配置された
ブロックにて配線が可能かどうかを確認する概略配線工
程と、論理合成用ライブラリと論理設計制約ファイルお
よび概略配線工程の結果を用いて過大遅延マージンおよ
び過大容量マージンを含んだ変更可能ブロックを検出す
る変更可能ブロック検出工程と、変更可能ブロック検出
工程において検出された変更可能ブロックを変更または
削除するブロック変更削除工程と、ブロック変更削除工
程により変更可能ブロックを変更または削除した結果を
用いて最終的な配線を行う詳細配線工程と、詳細配線工
程の後に実施されるES作成工程とを有することを特徴
とする。
【0012】請求項5記載の発明は、論理合成ツールに
より論理合成用予測配線長ライブラリと各ブロックのフ
ァンアウト制約およびブロック遅延を持っている論理合
成用ライブラリとを用いてLSI用のネットリストを作
成する工程と、ネットリストをLSIに配置する配置工
程と、配置工程で配置されたブロックにて配線が可能か
どうかを確認する概略配線工程と、ファンアウト制約を
持ったデザインルールチェックライブラリおよび概略配
線工程の結果を用いて過大遅延マージンおよび過大容量
マージンを含んだ変更可能ブロックを検出する変更可能
ブロック検出工程と、変更可能ブロック検出工程におい
て検出された変更可能ブロックを変更または削除するブ
ロック変更削除工程と、ブロック変更削除工程により変
更可能ブロックを変更または削除した結果を用いて最終
的な配線を行う詳細配線工程と、詳細配線工程の後に実
施されるES作成工程とを有することを特徴とする。
【0013】請求項6記載の発明は、論理合成ツールに
より論理合成用予測配線長ライブラリと各ブロックのフ
ァンアウト制約およびブロック遅延を持っている論理合
成用ライブラリとを用いてLSI用のネットリストと論
理設計制約ファイルとを作成する工程と、ネットリスト
をLSIに配置する配置工程と、配置工程で配置された
ブロックにて配線が可能かどうかを確認する概略配線工
程と、論理設計制約ファイルとファンアウト制約を持っ
たデザインルールチェックライブラリおよび概略配線工
程の結果を用いて過大遅延マージンおよび過大容量マー
ジンを含んだブロックを検出するブロック検出工程と、
ブロック検出工程において検出された変更可能ブロック
を変更または削除するブロック変更削除工程と、ブロッ
ク変更削除工程により変更可能ブロックを変更または削
除した結果を用いて最終的な配線を行う詳細配線工程
と、詳細配線工程の後に実施されるES作成工程とを有
することを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を図面に
基づいて詳細に説明する。本発明の第1の実施形態を図
1に基づいて説明する。まず、論理合成ツール1により
論理合成用予測配線長ライブラリ2と論理合成用ライブ
ラリ3とを用いてネットリスト4を作成する。このネッ
トリスト4を用いてLSIに自動で配置する自動配置工
程5が実施され、この自動配置工程5で配置されたブロ
ックにて配線が可能かどうかを確認する概略配線工程6
が実施される。次に、この概略配線工程6の結果を用い
て過大遅延マージンおよび過大容量マージンを含んだブ
ロックを検出する変更可能ブロック検出工程7が実施さ
れる。
【0015】その後に、この変更可能ブロック検出工程
7において検出されたブロックを変更または削除するブ
ロック変更削除工程8が実施される。このブロック変更
削除工程8においては、過大容量マージンによるパワー
ブロックから低パワーブロックへの変更可能ブロックの
置き換え、または、過大遅延マージンによる不要ディレ
イブロックの削除および不要となるファンアウト調整用
ブロックの削除を自動で行う。次に、ブロック変更削除
工程8によりブロックを変更削除した結果を用いて最終
的な配線を行う詳細配線工程9が実施され、さらにES
作成工程10が実施される。
【0016】本発明の第2の実施形態を図2に基づいて
説明する。まず、論理合成ツール1により論理合成用予
測配線長ライブラリ2と論理合成用ライブラリ3とを用
いてネットリスト4を作成する。このネットリスト4を
用いてLSIに自動で配置する自動配置工程5が実施さ
れ、この自動配置工程5で配置されたブロックにて配線
が可能かどうかを確認する概略配線工程6が実施され
る。次に、論理合成用ライブラリ3および概略配線工程
6の結果を用いて過大遅延マージンおよび過大容量マー
ジンを含んだ変更可能ブロックを検出する変更可能ブロ
ック検出工程7が実施される。
【0017】その後に、この変更可能ブロック検出工程
7において検出された変更可能ブロックを変更または削
除するブロック変更削除工程8が実施される。このブロ
ック変更削除工程8においては、過大容量マージンによ
るパワーブロックから低パワーブロックへの変更可能ブ
ロックの置き換え、または、過大遅延マージンによる不
要ディレイブロックの削除および不要となるファンアウ
ト調整用ブロックの削除を自動で行う。次に、ブロック
変更削除工程8によりブロックを変更または削除した結
果を用いて最終的な配線を行う詳細配線工程9が実施さ
れ、さらにES作成工程10が実施される。
【0018】本発明の第3の実施形態を図3に基づいて
説明する。まず、論理合成ツール1により論理合成用予
測配線長ライブラリ2と論理合成用ライブラリ3とを用
いてネットリスト4および論理設計制約ファイル11を
作成する。ネットリスト4を用いてLSIに自動で配置
する自動配置工程5が実施され、この自動配置工程5で
配置されたブロックにて配線が可能かどうかを確認する
概略配線工程6が実施される。次に、論理合成用ライブ
ラリ3と論理設計制約ファイル11および概略配線工程
6の結果を用いて過大遅延マージンおよび過大容量マー
ジンを含んだ変更可能ブロックを検出する変更可能ブロ
ック検出工程7が実施される。
【0019】その後に、この変更可能ブロック検出工程
7において検出された変更可能ブロックを変更または削
除するブロック変更削除工程8が実施される。このブロ
ック変更削除工程8においては、過大容量マージンによ
るパワーブロックから低パワーブロックへの変更可能ブ
ロックの置き換え、または、過大遅延マージンによる不
要ディレイブロックの削除および不要となるファンアウ
ト調整用ブロックの削除を自動で行う。次に、ブロック
変更削除工程8によりブロックを変更削除した結果を用
いて最終的な配線を行う詳細配線工程9が実施され、さ
らにES作成工程10が実施される。
【0020】本発明の第4の実施形態を図4に基づいて
説明する。まず、論理合成ツール1により論理合成用予
測配線長ライブラリ2と論理合成用ライブラリ3とを用
いてネットリスト4を作成する。このネットリスト4を
用いてLSIに自動で配置する自動配置工程5が実施さ
れ、この自動配置工程5で配置されたブロックにて配線
が可能かどうかを確認する概略配線工程6が実施され
る。次に、ファンアウト制約を持ったデザインルールチ
ェックライブラリ12と概略配線工程6の結果を用いて
過大遅延マージンおよび過大容量マージンを含んだ変更
可能ブロックを検出する変更可能ブロック検出工程7が
実施される。
【0021】その後、この変更可能ブロック検出工程7
において検出された変更可能ブロックを変更または削除
するブロック変更削除工程8が実施される。このブロッ
ク変更削除工程8においては、過大容量マージンによる
パワーブロックから低パワーブロックへの変更可能ブロ
ックの置き換え、または、過大遅延マージンによる不要
ディレイブロックの削除および不要となるファンアウト
調整用ブロックの削除を自動で行う。次に、ブロック変
更削除工程8によりブロックを変更削除した結果を用い
て最終的な配線を行う詳細配線工程9が実施され、さら
にES作成工程10が実施される。
【0022】本発明の第5の実施形態を図5に基づいて
説明する。まず、論理合成ツール1により論理合成用予
測配線長ライブラリ2と論理合成用ライブラリ3とを用
いてネットリスト4および論理設計制約ファイル11を
作成する。ネットリスト4を用いてLSIに自動で配置
する自動配置工程5が実施され、この自動配置工程5で
配置されたブロックにて配線が可能かどうかを確認する
概略配線工程6が実施される。次に、論理設計制約ファ
イル11とファンアウト制約を持ったデザインルールチ
ェックライブラリ12および概略配線工程6の結果を用
いて過大遅延マージンおよび過大容量マージンを含んだ
変更可能ブロックを検出する変更可能ブロック検出工程
7が実施される。
【0023】その後、この変更可能ブロック検出工程7
において検出されたブロックを変更または削除するブロ
ック変更削除工程8が実施される。このブロック変更削
除工程8においては、過大容量マージンによるパワーブ
ロックから低パワーブロックへの変更可能ブロックの置
き換え、または、過大遅延マージンによる不要ディレイ
ブロックの削除および不要となるファンアウト調整用ブ
ロックの削除を自動で行う。次に、ブロック変更削除工
程8によりブロックを変更削除した結果を用いて最終的
な配線を行う詳細配線工程9が実施され、さらにES作
成工程10が実施される。
【0024】
【発明の効果】本発明は、不要なブロックの変更または
削除することができることにより、半導体集積回路の低
消費電力化および設計期間短縮化を図ることができ、か
つ、配線性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態を説明するための図で
ある。
【図2】本発明の第2の実施形態を説明するための図で
ある。
【図3】本発明の第3の実施形態を説明するための図で
ある。
【図4】本発明の第4の実施形態を説明するための図で
ある。
【図5】本発明の第5の実施形態を説明するための図で
ある。
【図6】従来の半導体集積回路の配置配線方法を説明す
るための図である。
【符号の説明】
1 論理合成ツール 2 論理合成用予測配線長ライブラリ 3 論理合成用ライブラリ 4 ネットリスト 5 自動配置工程 6 概略配線工程 7 変更可能ブロック検出工程 8 ブロック変更削除工程 9 詳細配線工程 10 ES作成工程 11 論理設計制約ファイル 12 デザインルールチェックライブラリ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 概略配線工程後に過大遅延マージンおよ
    び過大容量マージンを含んだブロックを検出する工程
    と、 前記過大遅延マージンおよび過大容量マージンを含むブ
    ロックを変更または削除する工程とを有することを特徴
    とする半導体集積回路の配置配線方法。
  2. 【請求項2】 論理合成ツールにより論理合成用予測配
    線長ライブラリと各ブロックのファンアウト制約および
    ブロック遅延を持っている論理合成用ライブラリとを用
    いてLSI用のネットリストを作成する工程と、 前記ネットリストをLSIに配置する配置工程と、 該配置工程で配置されたブロックにて配線が可能かどう
    かを確認する概略配線工程と、 該概略配線工程の結果を用いることにより実配置配線結
    果に近い値を使用して変更可能ブロックを検出する変更
    可能ブロック検出工程と、 該変更可能ブロック検出工程において検出された前記変
    更可能ブロックを変更または削除するブロック変更削除
    工程と、 該ブロック変更削除工程により前記変更可能なブロック
    を変更または削除した結果を用いて最終的な配線を行う
    詳細配線工程と、 該詳細配線工程の後に実施されるES作成工程とを有す
    ることを特徴とする半導体集積回路の配置配線方法。
  3. 【請求項3】 論理合成ツールにより論理合成用予測配
    線長ライブラリと各ブロックのファンアウト制約および
    ブロック遅延を持っている論理合成用ライブラリとを用
    いてLSI用のネットリストを作成する工程と、 前記ネットリストをLSIに配置する配置工程と、 該配置工程で配置されたブロックにて配線が可能かどう
    かを確認する概略配線工程と、 前記論理合成用ライブラリおよび前記概略配線工程の結
    果を用いて過大遅延マージンおよび過大容量マージンを
    含んだ変更可能ブロックを検出する変更可能ブロック検
    出工程と、 該変更可能ブロック検出工程において検出された前記変
    更可能ブロックを変更または削除するブロック変更削除
    工程と、 該ブロック変更削除工程により前記ブロックを変更また
    は削除した結果を用いて最終的な配線を行う詳細配線工
    程と、 該詳細配線工程の後に実施されるES作成工程とを有す
    ることを特徴とする半導体集積回路の配置配線方法。
  4. 【請求項4】 論理合成ツールにより論理合成用予測配
    線長ライブラリと各ブロックのファンアウト制約および
    ブロック遅延を持っている論理合成用ライブラリとを用
    いてLSI用のネットリストと論理設計制約ファイルと
    を作成する工程と、 前記ネットリストをLSIに配置する配置工程と、 該配置工程で配置されたブロックにて配線が可能かどう
    かを確認する概略配線工程と、 前記論理合成用ライブラリと前記論理設計制約ファイル
    および前記概略配線工程の結果を用いて過大遅延マージ
    ンおよび過大容量マージンを含んだ変更可能ブロックを
    検出する変更可能ブロック検出工程と、 該変更可能ブロック検出工程において検出された前記変
    更可能ブロックを変更または削除するブロック変更削除
    工程と、 該ブロック変更削除工程により前記変更可能ブロックを
    変更または削除した結果を用いて最終的な配線を行う詳
    細配線工程と、 該詳細配線工程の後に実施されるES作成工程とを有す
    ることを特徴とする半導体集積回路の配置配線方法。
  5. 【請求項5】 論理合成ツールにより論理合成用予測配
    線長ライブラリと各ブロックのファンアウト制約および
    ブロック遅延を持っている論理合成用ライブラリとを用
    いてLSI用のネットリストを作成する工程と、 前記ネットリストをLSIに配置する配置工程と、 該配置工程で配置されたブロックにて配線が可能かどう
    かを確認する概略配線工程と、 ファンアウト制約を持ったデザインルールチェックライ
    ブラリおよび前記概略配線工程の結果を用いて過大遅延
    マージンおよび過大容量マージンを含んだ変更可能ブロ
    ックを検出する変更可能ブロック検出工程と、 該変更可能ブロック検出工程において検出された前記変
    更可能ブロックを変更または削除するブロック変更削除
    工程と、 該ブロック変更削除工程により前記変更可能ブロックを
    変更または削除した結果を用いて最終的な配線を行う詳
    細配線工程と、 該詳細配線工程の後に実施されるES作成工程とを有す
    ることを特徴とする半導体集積回路の配置配線方法。
  6. 【請求項6】 論理合成ツールにより論理合成用予測配
    線長ライブラリと各ブロックのファンアウト制約および
    ブロック遅延を持っている論理合成用ライブラリとを用
    いてLSI用のネットリストと論理設計制約ファイルと
    を作成する工程と、 前記ネットリストをLSIに配置する配置工程と、 該配置工程で配置されたブロックにて配線が可能かどう
    かを確認する概略配線工程と、 前記論理設計制約ファイルとファンアウト制約を持った
    デザインルールチェックライブラリおよび前記概略配線
    工程の結果を用いて過大遅延マージンおよび過大容量マ
    ージンを含んだブロックを検出するブロック検出工程
    と、 該ブロック検出工程において検出された前記変更可能ブ
    ロックを変更または削除するブロック変更削除工程と、 該ブロック変更削除工程により前記変更可能ブロックを
    変更または削除した結果を用いて最終的な配線を行う詳
    細配線工程と、 該詳細配線工程の後に実施されるES作成工程とを有す
    ることを特徴とする半導体集積回路の配置配線方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7148135B2 (en) 2003-04-25 2006-12-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of designing low-power semiconductor integrated circuit

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US7148135B2 (en) 2003-04-25 2006-12-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of designing low-power semiconductor integrated circuit

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