JPH11326001A - 流量検出装置 - Google Patents
流量検出装置Info
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- JPH11326001A JPH11326001A JP10152010A JP15201098A JPH11326001A JP H11326001 A JPH11326001 A JP H11326001A JP 10152010 A JP10152010 A JP 10152010A JP 15201098 A JP15201098 A JP 15201098A JP H11326001 A JPH11326001 A JP H11326001A
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Abstract
設けることにより、感温抵抗体に設けた複数個の導通孔
を通して保護膜を絶縁膜に密着性を高めた状態で接続す
る。 【解決手段】 基板5表面には絶縁膜6が形成され、絶
縁膜6上には上流側抵抗体14、ヒータ抵抗体8、下流
側抵抗体20が並列に配設されている。抵抗体8,1
4,20の配線領域には、複数個の導通孔26が形成さ
れる。保護膜27を形成するとき、この保護膜27は各
導通孔26を通過して基板5側の絶縁膜6に接続され
る。
Description
ンジン等の吸入空気量を検出するのに用いて好適な流量
検出装置に関し、特にエッチング処理等の半導体製造技
術によって基板上に形成される流量検出装置に関する。
ジン本体の燃料室内に噴射すべき燃料の量を演算するた
めに、エンジンの吸気管内に設けた流量検出装置によっ
て吸入空気の流量または流速(以下、流量という)を検
出し、この検出結果に基づいてエンジンの吸入空気量を
算出するようにしている。
装置は、基板と、該基板上に設けられた絶縁膜と、該絶
縁膜上に設けられた感温抵抗体とから構成され、例えば
特開昭62−44627号公報等に記載されている。
により形成された基板上に、例えば白金等の感温抵抗材
料からなる感温抵抗体がエッチング処理により配線パタ
ーンとして形成されている。そして、該感温抵抗体は、
その抵抗値を検出するために外部に付設された検出回路
に接続されている。
た状態で取付けられているから、この状態で基板上の感
温抵抗体はエンジン本体側に向けて吸気管内を流れる吸
入空気に接触する。そして、エンジンの運転中には、外
部の検出回路から感温抵抗体に電流を供給して該感温抵
抗体を発熱させ、該感温抵抗体は基板に沿って流れる流
体の流量に応じて冷却される。
気の流量に応じて変化するから、前記検出回路では、こ
の抵抗値の変化を電圧信号として検出することにより、
この検出結果に基づいてエンジンの吸入空気量を算出す
るものである。
酸化シリコン、窒化シリコン等によって絶縁膜が形成さ
れ、感温抵抗体の表面には、同じく酸化シリコン、窒化
シリコン等によって保護膜が形成されている。そして、
感温抵抗体は絶縁膜と保護膜によって挟持された状態で
基板上に固定されている。
と保護膜との接合強度を高めるために、絶縁膜と感温抵
抗体との間、感温抵抗体と保護膜との間には、金属酸化
物からなる密着層がそれぞれ設けられている。
来技術による流量検出装置では、エッチング処理、CV
D法、RIE法等を用いて基板表面上に、絶縁膜、感温
抵抗体、保護膜の順に形成した後で、感温抵抗体の材料
となる白金等の温度係数を調整するため、不活性ガス
(例えば、アルゴン)、窒素ガス等の雰囲気中で800
〜1000℃程度で熱処理を行っていた。
の上,下に形成された密着層が、感温抵抗体中に溶け込
み、該感温抵抗体の組成が変化してしまうことがある。
このため、この感温抵抗体を用いて流量を検出するとき
には、温度係数の変化から、検出信号がばらついてしま
う。
変化してしまい、歩留リを悪化させ、生産性を悪化させ
ると共に信頼性を低下させてしまうという問題がある。
基板上に形成した後、CVD法等により形成され、これ
ら基板、感温抵抗体、保護膜等の温度は、400〜80
0℃程度に暖められている。そして、この高温度時では
白金による感温抵抗体と形成された保護膜との間には応
力が発生していない。しかし、基板、感温抵抗体、保護
膜等を室温に戻すと、白金と保護膜とではその熱膨張率
の差により、異なった収縮を起こす。このため、室温で
は、感温抵抗体と保護膜との間には応力が発生し、保護
膜にひび割れ(以下、クラックという)が生じることが
ある。
程によっても発生することがある。即ち、この熱処理工
程では、基板、感温抵抗体、保護膜等は保護膜を形成す
るときの成形温度よりも高い温度に暖められ、この高温
度時でも感温抵抗体と保護膜との間は応力が発生しない
ように緩和される。ところが、基板、感温抵抗体、保護
膜等をこの高温状態から室温に戻したときには、感温抵
抗体と保護膜との熱膨張率の差により、保護膜にクラッ
クが発生してしまう。
抗体側への水分等の浸入、機械的損傷、異物の侵入を発
生させ、保護膜が有する感温抵抗体の保護機能を低下さ
せてしまうという問題がある。
されたもので、本発明は感温抵抗体に絶縁膜等を接合す
るための密着層を廃止することにより、熱処理工程時に
感温抵抗体の組成変化をなくすと共に、保護膜のひび割
れを防止し、歩留を向上できるようにした流量検出装置
を提供することを目的としている。
ために、請求項1の発明では、基板と、該基板上に設け
られた絶縁膜と、該絶縁膜上に設けられた感温抵抗体
と、該感温抵抗体の表面を覆って設けられた保護膜とを
備えてなる流量検出装置において、前記感温抵抗体には
複数個の導通孔を設け、前記保護膜は該各導通孔を通過
して前記基板側の絶縁膜と接続する構成としたことを特
徴としている。
感温抵抗体に設けられた各導通孔を通過して絶縁膜まで
導かれ、感温抵抗体を挟んで絶縁膜と保護膜とを密着性
を高めた状態で接続でき、感温抵抗体を基板に固定する
ことができる。
して部分的に固定されているから、保護膜と感温抵抗体
との熱膨張率の違いによる応力を緩和して保護膜にクラ
ックの発生をなくすことができる。
上に設けられた正側配線領域と、該正側配線領域と隙間
をもって前記基板に対向して配設された負側配線領域
と、これら正側配線領域と負側配線領域との長さ方向一
端側に設けられた検出領域とによって構成し、前記各導
通孔は前記正側配線領域と負側配線領域とにそれぞれ設
けたことにある。
を、感温抵抗体のうち電気抵抗に影響しない正側配線領
域と負側配線領域とに形成し、保護膜は該各導通孔を通
して絶縁膜まで導かれ、正側配線領域と負側配線領域は
絶縁膜と保護膜との間で挟持し、該感温抵抗体を基板に
固定することができる。
出領域はこの流体によって冷やされて抵抗値が変化し、
この抵抗値の変化を検出信号として、各配線領域を用い
て外部に出力し、この検出信号によって流体の流量(流
速)を検出することができる。しかも、検出領域には導
通孔を形成していないから、検出領域を流れる流体の流
れが乱れるのを低減し、検出精度を高めることができ
る。
配線領域を、検出領域と基板との接触面積よりも広い接
触面積をもって形成したことにある。
体のうち基板に対して広い接触面積を有する正側配線領
域と負側配線領域とは、検出領域に比べて電気抵抗が小
さくなっているから、配線領域に導通孔を形成しても電
気抵抗に影響なく、各配線領域を通して検出領域と外部
とを電気的に接続することができる。しかも、接触面積
の広い各配線領域は、従来技術では感温抵抗体との密着
性が低く、保護膜にクラックが発生し易い部分となる。
そこで、この各配線領域に複数個の導通孔を形成し、該
各導通孔を通して保護膜を絶縁膜まで導くことにより、
正側配線領域と負側配線領域は絶縁膜と保護膜との間で
挟持し、感温抵抗体を基板に固定することができる。
線領域と負側配線領域の長さ方向に2個以上、幅方向に
2列以上配置して設ける構成としたことにある。
ら正側配線領域と負側配線領域とが剥離し易い部分を強
化して接続することができ、基板に対する感温抵抗体の
接合強度を高めることができる。
上に設けられた第1の感温抵抗体、ヒータ抵抗体、第2
の感温抵抗体からなり、ヒータ抵抗体を挟んで幅方向一
側に第1の感温抵抗体、幅方向他側に第2の感温抵抗体
を並列に配設する構成としたことにある。
各配線領域に設けられた各導通孔を通過して絶縁膜まで
導かれ、各配線領域を挟んで絶縁膜と保護膜とを密着性
を高めた状態で接続でき、基板に各抵抗体を固定するこ
とができる。
抗体と第2の感温抵抗体を幅方向に並列に配設すること
により、基板に沿って流体が幅方向一側から流れたと
き、第1の感温抵抗体が冷やされ、第2の感温抵抗体は
ヒータ抵抗体の熱を受けて暖められる。そして、第1,
第2の感温抵抗体の抵抗値の変化から、流体の流れ方向
と流量(流速)を検出することができる。
化シリコン、酸化シリコンまたは窒化シリコンと酸化シ
リコンとの多層膜により形成し、感温抵抗体を白金膜に
より形成したことにある。
縁膜と保護膜とを同じ窒化シリコンによって形成した場
合には、保護膜は感温抵抗体に設けられた各導通孔を通
過して絶縁膜まで導かれ、感温抵抗体を挟んで絶縁膜と
保護膜とを密着性を高めた状態で接続することができ
る。
の実施の形態を、図1ないし図11を参照しつつ詳細に
説明する。
による第1の実施の形態を述べる。1は被測流体が流れ
る流路となる筒体で、該筒体1はエンジンの吸気管(図
示せず)の途中に接続されている。そして、エンジンの
運転時には、前記吸気管を通して外部からエンジン本体
の燃焼室内に吸入される吸入空気が筒体1内を矢示A方
向に流通する。
シングで、該回路ケーシング2内には後述する流量検出
装置4から出力される検出信号から筒体1内を流れる吸
入空気の流量を検出するための検出回路(図示せず)等
が収容されている。
に設けられた支持体で、該支持体3は基端側が回路ケー
シング2に取付けられ、先端側が筒体1内に突出すると
共に、この先端側には後述の基板5が取付けられてい
る。また、支持体3には、基板5側と回路ケーシング2
内の前記検出回路とを接続するための配線部(図示せ
ず)等が設けられている。
の基台をなす基板で、該基板5は、シリコン板により例
えば10×2.5×0.5〔mm〕の板状に形成されて
いる。また、該基板5の表面には後述する絶縁膜6が形
成されている。
該絶縁膜6はシリコン板からなる基板5の表面に熱酸化
法、CVD法等の手段により、酸化シリコン(SiO
2 )、窒化シリコン(Si3 O4 )によって1〔μm〕
程度の膜厚をもって形成されている。
を施すことにより形成された凹窪部で、該凹窪部7は裏
面側から絶縁膜6の位置まで達し、該凹窪部6の底部に
対応した基板5の表面側には、後述するヒータ抵抗体8
のヒータ領域12、上流側抵抗体14の検出領域18、
下流側抵抗体20の検出領域24がそれぞれ配設され、
この部分の大きさは、例えば1〜2×0.5〔mm〕程
度となっている。
られたヒータ抵抗体で、該ヒータ抵抗体8は、白金等の
感温抵抗材料によって0.5〔μm〕程度の膜厚をもっ
て形成されている。また、ヒータ抵抗体8は、図4に示
すように、基板5上に設けられた台形状の正側配線領域
9と、該正側配線領域9と隙間10をもって前記基板5
に対向して配設された台形状の負側配線領域11と、こ
れら正側配線領域9と負側配線領域11との長さ方向一
端側に設けられた検出領域としてのヒータ領域12と、
前記正側配線領域9,負側配線領域11の長さ方向他端
側に設けられた端子領域13,13とによって構成され
ている。また、正側配線領域9と負側配線領域11は、
検出領域12と基板5との接触面積よりも広い接触面積
をもって形成されている。
示すように、後述する保護膜27を正方形状に開口する
ことにより形成された電極パッドとして形成されてい
る。そして、各端子領域13には、ボンディングワイヤ
が接続され、該ボンディングワイヤを用いて外部の検出
回路(いずれも図示せず)に接続されている。
られた第1の感温抵抗体としての上流側抵抗体で、該上
流側抵抗体14は、ヒータ抵抗体8と同じ白金材料によ
って形成され、該上流側抵抗体14は、略台形状の正側
配線領域15と、該正側配線領域15と隙間16をもっ
て前記基板5に対向して配設された略台形状の負側配線
領域17と、配線領域15,17の長さ方向一端側に設
けられた略U字状の検出領域18と、前記配線領域1
5,17の長さ方向他端側に設けられた端子領域19,
19とによって構成されている。そして、配線領域1
5,17は、検出領域18と基板5との接触面積よりも
広い接触面積をもって形成されている。
られた第2の感温抵抗体としての下流側抵抗体で、該下
流側抵抗体20は、ヒータ抵抗体8、上流側抵抗体14
と同じ白金材料によって形成され、該下流側抵抗体20
は、略台形状の正側配線領域21と、該正側配線領域2
1と隙間22をもって前記基板5に対向して配設された
略台形状の負側配線領域23と、配線領域21,23の
長さ方向一端側に設けられた略U字状の検出領域24
と、前記配線領域21,23の長さ方向他端側に設けら
れた端子領域25,25とによって構成されている。そ
して、配線領域21,23は、検出領域24と基板5と
の接触面積よりも広い接触面積をもって形成されてい
る。
て広い接触面積を有する正側配線領域9と負側配線領域
11は、ヒータ領域12に比べて電気抵抗は小さくなっ
ているから、該配線領域9,11はヒータ領域12と外
部とを接続するための接続部材として構成されている。
さらに、上流側抵抗体14の配線領域15,17、下流
側抵抗体20の配線領域21,23も、検出領域18,
24に比べて電気抵抗が小さくなっているから、これら
配線領域15,17,21,23は検出領域18,24
と外部とを接続するための接続部材として構成されてい
る。
厚さ方向に穿設された長方形状、楕円形状等の導通孔
で、該各導通孔26は、図4に示すように、ヒータ抵抗
体8の配線領域9,11、上流側抵抗体14の配線領域
15,17、下流側抵抗体20の配線領域21,23に
位置して穿設されている。また、該各導通孔26は、配
線領域9,11,15,17,21,23に対してそれ
ぞれ例えば長さ方向に4個、幅方向に3列配置して設け
られている。
表面を覆うように設けられた保護膜で、該保護膜27
は、絶縁膜6と同様にCVD法等により酸化シリコン
(SiO2 )、窒化シリコン(Si3 O4 )から形成さ
れ、該保護膜27は抵抗体8,14,20の保護を図る
ものである。なお、ヒータ抵抗体8の配線領域9,1
1、上流側抵抗体14の配線領域15,17、下流側抵
抗体20の配線領域21,23の表面に形成された保護
膜27には、各導通孔26に対応する部分が凹陥部27
A,27A,…となっている。
によって、保護膜27を形成するとき、該保護膜27は
各導通孔26を通過して基板5側の絶縁膜6に導かれ、
保護膜27にはこの部分が凹陥部27Aとなる。また、
各導通孔26を通して保護膜27を絶縁膜6に接続する
ことにより、抵抗体8,14,20は保護膜27と絶縁
膜6との間に密着性を高めて固定されている。
述の如き構成を有するもので、次に吸入空気の流量検出
動作について説明する。
4、ヒータ抵抗体8、下流側抵抗体20を並列に配設し
ているから、図1,図2に示すように、吸入空気が基板
5に沿って矢示A方向から流通する場合には、基板5上
の上流側に位置した上流側抵抗体14の検出領域18が
この空気によって冷やされ、下流側に位置した下流側抵
抗体20の検出領域24はヒータ領域12からの熱を受
ける。この結果、上流側抵抗体14と下流側抵抗体20
から出力される検出信号に差が発生し、この差を回路ケ
ーシング2内の検出回路に出力し、該検出回路では、吸
入空気の流れ方向と流速を算出することができる。しか
も、ヒータ領域12、検出領域18,24には導通孔2
6が形成されていないから、ヒータ領域12、検出領域
18,24を流れる空気の流れが乱れるのを低減し、検
出領域18,24での検出精度を高めることができる。
施の形態による流量検出装置4を製造する製造工程につ
いて説明する。なお、図7ないし図9は、図6と同様の
要部を拡大した断面を示しているから、下流側抵抗体2
0等は図示されていないが、他の上流側抵抗体14、ヒ
ータ抵抗体8と同時に製造されているものとする。
め用意したシリコン材料からなる基板5上に熱酸化法、
CVD法等の手段により、酸化シリコン、窒化シリコン
等の絶縁膜6を形成する。
は、CVD法、スパッタリング法等を用いて絶縁膜6上
にヒータ抵抗体8、上流側抵抗体14、下流側抵抗体2
0を製造する。このとき、ヒータ抵抗体8の配線領域
9,11、上流側抵抗体14の配線領域15,17、下
流側抵抗体20の配線領域21,23には、それぞれ複
数個の導通孔26が形成される。
前記感温抵抗体形成工程で形成されえた抵抗体8,1
4,20の表面に、CVD法等によって酸化シリコン、
窒化シリコン等の保護膜27を形成する。このとき、保
護膜27のうち各導通孔26に対応した部分は、該導通
孔26を通して絶縁膜6に接続され、配線領域9,1
1,15,17,21,23は保護膜27と絶縁膜6と
の間に密着性を高めた状態で接合される。この後、基板
5を不活性ガス(例えば、アルゴン)、窒素ガス等の雰
囲気中で800〜1000℃程度で熱処理を施す。
置4では、抵抗体8,14,20の正側配線領域9,1
5,21と負側配線領域11,17,23に、それぞれ
複数個の導通孔26を設け、保護膜27を該各導通孔2
6を通過させて基板5側の絶縁膜6に接続する構成とし
たから、従来、抵抗体と絶縁膜、抵抗体と保護膜とを接
合するために必要であった金属酸化層からなる密着層を
廃止することができる。これにより、熱処理工程時に密
着層が感温抵抗体内に溶け込んで、感温抵抗体の組成を
変えてしまう等の不具合をなくすことができる。この結
果、ヒータ抵抗体8、上流側抵抗体14、下流側抵抗体
20は、その温度係数によるばらつきをなくすことがで
き、流量検出装置4の検出感度を高めることができる。
体8,14,20の表面に形成するとき、保護膜27を
各導通孔26を通過させて絶縁膜6に接続するようにし
たから、密着層を廃止しても、抵抗体8,14,20を
基板5に対して固定することができる。そして、密着層
を廃止することにより、製品毎に感温抵抗体の温度係数
がばらつくのを規制し、流量検出装置の歩留りを高め、
生産性を向上させることができる。
4,20のうち、基板5との接触面積の広い配線領域
9,11,15,17,21,23に複数個の導通孔2
6を形成しているから、該配線領域9,11,15,1
7,21,23を絶縁膜6と保護膜27との間に固定す
ることにより、ヒータ領域12、検出領域18,24等
も基板5に固定することができる。
て絶縁膜6に部分的に固定されているから、保護膜27
と抵抗体8,14,20との熱膨張率の違いによる応力
を緩和することができ、従来、保護膜に発生していたク
ラックの発生を防止し、保護膜27による各抵抗体8,
14,20の保護を確実に行うことができる。これによ
り、流量検出装置4は、その寿命を延ばし、信頼性を高
めることができる。
10に基づいて説明するに、本実施の形態では、基板上
に形成した感温抵抗体を1個とし、正側配線領域と負側
配線領域に形成される導通孔は、正側配線領域と負側配
線領域のうち外周側に形成したことにある。なお、本実
施の形態では前述した第1の実施の形態と同一の構成要
素に同一の符号を付し、その説明を省略するものとす
る。
装置、32は該流量検出装置31の基台をなすシリコン
板により形成された基板で、該基板32の表面には絶縁
膜33が酸化膜、窒化膜等よって形成されている。ま
た、基板32の裏面側にはエッチング処理等によって凹
窪部34が形成されている。
で、該感温抵抗体35は、白金等の感温抵抗材料によっ
て膜状に形成され、略台形状の正側配線領域36と、該
正側配線領域36と隙間37をもって前記基板32に対
向して配設された略台形状の負側配線領域38と、配線
領域36,38の長さ方向一端側に設けられた略U字状
の検出領域39と、前記配線領域36,38の長さ方向
他端側に設けられた端子領域40,40とによって構成
されている。そして、配線領域36,38は、検出領域
39と基板32との接触面積よりも広い接触面積で形成
されている。
線領域36と負側配線領域38に形成された長方形状、
楕円形状等の導通孔で、該各導通孔41は配線領域3
6,38のうち、幅方向に2列にして形成されている。
設けられた保護膜で、該保護膜42は、絶縁膜33と同
様にCVD法等によって酸化膜、窒化膜等よって形成さ
れ、感温抵抗体35の保護を図るものである。ここで、
保護膜42は該各導通孔41を通過して基板32側の絶
縁膜33に導かれるところが、保護膜42の表面には凹
陥部42Aとして形成されている。
前述した第1の実施の形態と同様に、感温抵抗体35を
挟んで絶縁膜33と保護膜42とを接続することによ
り、該感温抵抗体35を基板32に固定することができ
る。
域9,15,21,36を吸入空気の流れに対して上流
側に配設し、負側配線領域11,17,23,38を下
流側に配設する構成としたが、本発明はこれに限らず、
負側配線領域11,17,23,38を上流側に配設
し、正側配線領域9,15,21,36を下流側に配設
する構成としてもよい。
1を正側配線領域36と負側配線領域38の幅方向に2
列にして形成した場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、図11の変形例に示すように、配線領域3
6,38の幅方向中間にも導通孔41′を形成してもよ
いことは勿論である。
動車用エンジン等の吸入空気量の計測に用いる場合を例
に挙げて述べたが、これに限らず、任意の気体の流量ま
たは流速を検出する場合に適用していもよい。
3)、保護膜27(42)を酸化シリコン、窒化シリコ
ンによって形成した場合について述べたが、これに限ら
ず、絶縁膜と保護膜に窒化シリコンと酸化シリコンとを
交互に多層に形成した多層膜に代えて用いてもよい。
よれば、感温抵抗体に複数個の導通孔を設け、保護膜を
該各導通孔を通過させて基板側の絶縁膜と接続する構成
としたから、感温抵抗体を挟んで絶縁膜と保護膜とを密
着性を高めた状態で接続でき、感温抵抗体を基板に固定
することができる。そして、従来必要であった密着層を
廃止でき、熱処理工程時に感温抵抗体の組成変化をなく
し、流量検出装置の検出感度を高めることができる。さ
らに、製品毎に感温抵抗体の温度係数がばらつくのを規
制でき、製品の歩留りを高め、生産性を向上させること
ができる。
て部分的に固定されているから、熱膨張率の違いによ
り、保護膜と感温抵抗体との間に発生する応力を緩和
し、保護膜にクラックが発生するのを防止し、保護膜の
信頼性を高め、流量検出装置の寿命を延ばすことができ
る。
配線領域と、該正側配線領域に隙間をもって対向した負
側配線領域と、これら正側配線領域と負側配線領域との
長さ方向一端側に設けられた検出領域とによって構成
し、各導通孔を感温抵抗体のうち電気抵抗に影響しない
正側配線領域と負側配線領域とに形成したから、保護膜
は該各導通孔を通して絶縁膜まで導かれ、正側配線領域
と負側配線領域は絶縁膜と保護膜との間に挟持され、該
感温抵抗体を基板に固定することができる。
出領域はこの流体によって冷やされて抵抗値が変化し、
この抵抗値の変化を検出信号として、各配線領域を用い
て外部に出力し、この検出信号によって流体の流量(流
速)を検出することができる。
配線領域を、検出領域と基板との接触面積よりも広い接
触面積をもって形成し、接触面積の広い各配線領域は、
従来技術では感温抵抗体との密着性が低く、保護膜にク
ラックが発生し易い部分となるから、この各配線領域に
複数個の導通孔を形成し、該各導通孔を通して保護膜を
絶縁膜に部分的に固定することができる。これにより、
保護膜と絶縁膜との間に感温抵抗体を固定し、保護膜は
絶縁膜に各導通孔を通して部分的に固定されているか
ら、熱膨張率の違いにより、保護膜と感温抵抗体との間
に発生する応力を緩和し、クラックの発生を防止し、保
護膜の信頼性を高め、流量検出装置の寿命を延ばすこと
ができる。
線領域と負側配線領域の長さ方向に2個以上、幅方向に
2列以上配置して設ける構成としたから、基板から正側
配線領域と負側配線領域とが剥離し易い部分を強化して
接続することができ、基板に対する感温抵抗体の接合強
度を高めることができる。
上に設けられた第1の感温抵抗体、ヒータ抵抗体、第2
の感温抵抗体からなり、ヒータ抵抗体を挟んで幅方向一
側に第1の感温抵抗体、幅方向他側に第2の感温抵抗体
を並列に配設する構成としたから、基板に沿って流体が
幅方向一側から流れたとき、第1の感温抵抗体が冷やさ
れ、第2の感温抵抗体はヒータ抵抗体の熱を受けて暖め
られる。そして、第1,第2の感温抵抗体の抵抗値の変
化から、流体の流れ方向と流量(流速)を検出すること
ができる。
化シリコン、酸化シリコンまたは窒化シリコンと酸化シ
リコンとの多層膜により形成し、感温抵抗体を白金によ
り形成したから、例えば絶縁膜と保護膜とを同じ窒化シ
リコンによって形成した場合には、保護膜は白金によっ
て形成された感温抵抗体に設けられた各導通孔を通過し
て絶縁膜まで導かれ、感温抵抗体を挟んで絶縁膜と保護
膜とを密着性を高めた状態で接続することができる。し
かも、感温抵抗体を白金により形成しているから、流体
によって感温抵抗体が冷やされたときに抵抗値が変化す
る。
内に配設した状態を示す縦断面図である。
視図である。
面図である。
る。
部拡大断面図である。
膜、保護膜の接続状態を示す要部拡大断面図である。
を示す断面図である。
体を形成する感温抵抗体形成工程を示す断面図である。
保護膜を形成する保護膜形成工程を示す断面図である。
平面図である。
例を示す平面図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 基板と、該基板上に設けられた絶縁膜
と、該絶縁膜上に設けられた感温抵抗体と、該感温抵抗
体の表面を覆って設けられた保護膜とを備えてなる流量
検出装置において、 前記感温抵抗体には複数個の導通孔を設け、前記保護膜
は該各導通孔を通過して前記基板側の絶縁膜と接続する
構成としたことを特徴とする流量検出装置。 - 【請求項2】 前記感温抵抗体は、前記基板上に設けら
れた正側配線領域と、該正側配線領域と隙間をもって前
記基板に対向して配設された負側配線領域と、これら正
側配線領域と負側配線領域との長さ方向一端側に設けら
れた検出領域とによって構成し、前記各導通孔は前記正
側配線領域と負側配線領域とにそれぞれ設けてなる請求
項1記載の流量検出装置。 - 【請求項3】 前記正側配線領域と負側配線領域は、検
出領域と基板との接触面積よりも広い接触面積をもって
形成してなる請求項2記載の流量検出装置。 - 【請求項4】 前記各導通孔は、正側配線領域と負側配
線領域の長さ方向に2個以上、幅方向に2列以上配置し
て設ける構成としてなる請求項2または3記載の流量検
出装置。 - 【請求項5】 前記感温抵抗体は、基板上に設けられた
第1の感温抵抗体、ヒータ抵抗体、第2の感温抵抗体か
らなり、ヒータ抵抗体を挟んで幅方向一側に第1の感温
抵抗体を配設し、幅方向他側に第2の感温抵抗体を配設
する構成としてなる請求項2,3または4記載の流量検
出装置。 - 【請求項6】 前記絶縁膜と保護膜は、窒化シリコン、
酸化シリコンまたは窒化シリコンと酸化シリコンとの多
層膜により形成し、前記感温抵抗体は、白金により形成
してなる請求項1,2,3,4または5記載の流量検出
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15201098A JP3569129B2 (ja) | 1998-05-15 | 1998-05-15 | 流量検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15201098A JP3569129B2 (ja) | 1998-05-15 | 1998-05-15 | 流量検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11326001A true JPH11326001A (ja) | 1999-11-26 |
JP3569129B2 JP3569129B2 (ja) | 2004-09-22 |
Family
ID=15531099
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15201098A Expired - Lifetime JP3569129B2 (ja) | 1998-05-15 | 1998-05-15 | 流量検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3569129B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005050142A3 (en) * | 2003-11-15 | 2005-08-04 | Honeywell Int Inc | Liquid flow sensor thermal interface methods and systems |
JP2010197322A (ja) * | 2009-02-27 | 2010-09-09 | Denso Corp | 空気流量測定装置 |
-
1998
- 1998-05-15 JP JP15201098A patent/JP3569129B2/ja not_active Expired - Lifetime
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WO2005050142A3 (en) * | 2003-11-15 | 2005-08-04 | Honeywell Int Inc | Liquid flow sensor thermal interface methods and systems |
JP2010197322A (ja) * | 2009-02-27 | 2010-09-09 | Denso Corp | 空気流量測定装置 |
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