JPH1132051A - セル導通試験方法 - Google Patents
セル導通試験方法Info
- Publication number
- JPH1132051A JPH1132051A JP18477197A JP18477197A JPH1132051A JP H1132051 A JPH1132051 A JP H1132051A JP 18477197 A JP18477197 A JP 18477197A JP 18477197 A JP18477197 A JP 18477197A JP H1132051 A JPH1132051 A JP H1132051A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cell
- test
- qcp
- unit
- class
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 通話路系装置の導通試験を行うセル導通試験
方法に関し、サービス品質ＱＣＰの全クラスにわたるセ
ル導通試験を行う。 【解決手段】 診断部１０の試験セル発生部６から試験
セルを発生させ、その試験セルを被試験装置を含む経路
に送出してセル導通試験を行う方法に於いて、診断部１
０は、サービス品質ＱＣＰの高いクラスから順にサービ
ス品質ＱＣＰのクラスを設定した試験セルを所定数発生
させて被試験装置に入力し、被試験装置の入側セルカウ
ンタ１，１１による試験セルのカウント値と、出側セル
カウンタ２，１２による試験セルのカウント値とを、診
断部１０の判定部８に於いて比較判定し、比較一致の場
合は良好、比較不一致の場合は不良と判定する。又セル
導通試験時に、入側セルカウンタ１，１１のカウントが
０の場合、セル導通試験のリトライを行い、リトライ回
数が最大値を越えたときにグッドスキップとする。
方法に関し、サービス品質ＱＣＰの全クラスにわたるセ
ル導通試験を行う。 【解決手段】 診断部１０の試験セル発生部６から試験
セルを発生させ、その試験セルを被試験装置を含む経路
に送出してセル導通試験を行う方法に於いて、診断部１
０は、サービス品質ＱＣＰの高いクラスから順にサービ
ス品質ＱＣＰのクラスを設定した試験セルを所定数発生
させて被試験装置に入力し、被試験装置の入側セルカウ
ンタ１，１１による試験セルのカウント値と、出側セル
カウンタ２，１２による試験セルのカウント値とを、診
断部１０の判定部８に於いて比較判定し、比較一致の場
合は良好、比較不一致の場合は不良と判定する。又セル
導通試験時に、入側セルカウンタ１，１１のカウントが
０の場合、セル導通試験のリトライを行い、リトライ回
数が最大値を越えたときにグッドスキップとする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、サービス品質クラ
スに対応した試験セルを用いて通話路系装置の導通試験
を行うセル導通試験方法に関する。ＡＴＭ（Ａsynchron
ous Ｔransfer Ｍode ）交換機に於ける通話路系装置に
於いては正常性を確認する為の導通試験を行うものであ
る。又サービス品質について複数のクラスが定められて
おり、サービス品質が高い程、セル損失が生じないよう
に制御され、サービス品質が低い程、セル損失が生じる
可能性が高くなる。このようなサービス品質が低い場合
についても導通試験により正常性を確認できることが要
望されている。
スに対応した試験セルを用いて通話路系装置の導通試験
を行うセル導通試験方法に関する。ＡＴＭ（Ａsynchron
ous Ｔransfer Ｍode ）交換機に於ける通話路系装置に
於いては正常性を確認する為の導通試験を行うものであ
る。又サービス品質について複数のクラスが定められて
おり、サービス品質が高い程、セル損失が生じないよう
に制御され、サービス品質が低い程、セル損失が生じる
可能性が高くなる。このようなサービス品質が低い場合
についても導通試験により正常性を確認できることが要
望されている。
【０００２】
【従来の技術】図４は通話路系装置の説明図であり、２
１−０，２１−１は二重化構成のスイッチング装置（Ｔ
ＣＳＷ＃０，ＴＣＳＷ＃１）、２２−０，２２−１は二
重化構成の加入者インタフェース部（ＭＩＦＣＯＭ＃
０，ＭＩＦＣＯＭ＃１）、２３は加入者端末（図示せ
ず）を収容する一重構成の個別部、２４は診断部（ＢＴ
ＳＵ）、２５−０，２５−１は二重化構成の中央処理装
置（ＣＰ０，ＣＰ１）、２６−０，２６−１は二重化構
成のプロセッサアクセス制御装置（ＰＡＣ０，ＰＡＣ
１）、２７はシステムバスを示す。
１−０，２１−１は二重化構成のスイッチング装置（Ｔ
ＣＳＷ＃０，ＴＣＳＷ＃１）、２２−０，２２−１は二
重化構成の加入者インタフェース部（ＭＩＦＣＯＭ＃
０，ＭＩＦＣＯＭ＃１）、２３は加入者端末（図示せ
ず）を収容する一重構成の個別部、２４は診断部（ＢＴ
ＳＵ）、２５−０，２５−１は二重化構成の中央処理装
置（ＣＰ０，ＣＰ１）、２６−０，２６−１は二重化構
成のプロセッサアクセス制御装置（ＰＡＣ０，ＰＡＣ
１）、２７はシステムバスを示す。
【０００３】個別部２３と診断部２４とを除いて０系と
１系との二重化構成を有するＡＴＭ交換機に於ける通話
路系装置を示し、０系を現用系とすると、中央処理装置
２５−０からシステムバス２７とプロセッサアクセス制
御装置２６−０とを介してスイッチング装置２１−０を
制御し、加入者端末（図示せず）から個別部２３と加入
者インタフェース部２２−０とを介して入力されたセル
のヘッダ部のＶＰＩ（仮想パス識別子）とＶＣＩ（仮想
チャネル識別子）とに従ってスイッチングし、そのセル
を加入者インタフェース部２２−０を介して相手加入者
端末が収容された個別部２３に転送するものである。
１系との二重化構成を有するＡＴＭ交換機に於ける通話
路系装置を示し、０系を現用系とすると、中央処理装置
２５−０からシステムバス２７とプロセッサアクセス制
御装置２６−０とを介してスイッチング装置２１−０を
制御し、加入者端末（図示せず）から個別部２３と加入
者インタフェース部２２−０とを介して入力されたセル
のヘッダ部のＶＰＩ（仮想パス識別子）とＶＣＩ（仮想
チャネル識別子）とに従ってスイッチングし、そのセル
を加入者インタフェース部２２−０を介して相手加入者
端末が収容された個別部２３に転送するものである。
【０００４】この通話路系装置の診断制御は、中央処理
装置からプロセッサアクセス制御装置を介して行うもの
であり、診断部２４は試験セル発生部とチェック部とを
含み、この試験セル発生部で発生させた試験セルを、ス
イッチング装置のパスを通過させ、指定された個別部２
３に於いて折返してチェック部に入力させることによっ
て導通試験を行うものである。
装置からプロセッサアクセス制御装置を介して行うもの
であり、診断部２４は試験セル発生部とチェック部とを
含み、この試験セル発生部で発生させた試験セルを、ス
イッチング装置のパスを通過させ、指定された個別部２
３に於いて折返してチェック部に入力させることによっ
て導通試験を行うものである。
【０００５】図５はセル導通試験の説明図であり、加入
者インタフェース部２２−０，２２−１をスイッチング
装置２１−０，２１−１の両側に展開して２２−０ａ，
２２−０ｂ，２２−１ａ，２２−１ｂとして示し、又Ｉ
ＮＳはインサービス中、ＯＵＳはアウトオブサービス中
の状態を示す。又診断部（ＢＴＳＵ）２４は、特定のＶ
ＰＩ，ＶＣＩ、例えば、ＶＰＩ＝０，ＶＣＩ＝５とした
試験セルを発生する試験セル発生部及び被試験経路を通
過させた試験セルを回収してチェックするチェック部と
を含むものである。
者インタフェース部２２−０，２２−１をスイッチング
装置２１−０，２１−１の両側に展開して２２−０ａ，
２２−０ｂ，２２−１ａ，２２−１ｂとして示し、又Ｉ
ＮＳはインサービス中、ＯＵＳはアウトオブサービス中
の状態を示す。又診断部（ＢＴＳＵ）２４は、特定のＶ
ＰＩ，ＶＣＩ、例えば、ＶＰＩ＝０，ＶＣＩ＝５とした
試験セルを発生する試験セル発生部及び被試験経路を通
過させた試験セルを回収してチェックするチェック部と
を含むものである。
【０００６】例えば、１系の加入者インタフェース部２
２−１を被試験装置としてセル導通試験を行う場合、０
系は全てインサービス中ＩＮＳとし、加入者インタフェ
ース部２２−１ａ，２２−１ｂをアウトオブサービス中
ＯＵＳとする。又加入者インタフェース部の上位装置と
しての１系のスイッチング装置２１−１はインサービス
中ＩＮＳとし、診断部２４の試験セル発生部から導通試
験に必要な情報をセットした試験セルを発生させて、ア
ウトオブサービス中ＯＵＳの加入者インタフェース部２
２−１ａに試験セルを入力する。
２−１を被試験装置としてセル導通試験を行う場合、０
系は全てインサービス中ＩＮＳとし、加入者インタフェ
ース部２２−１ａ，２２−１ｂをアウトオブサービス中
ＯＵＳとする。又加入者インタフェース部の上位装置と
しての１系のスイッチング装置２１−１はインサービス
中ＩＮＳとし、診断部２４の試験セル発生部から導通試
験に必要な情報をセットした試験セルを発生させて、ア
ウトオブサービス中ＯＵＳの加入者インタフェース部２
２−１ａに試験セルを入力する。
【０００７】この加入者インタフェース部２２−１ａか
らインサービス中ＩＮＳのスイッチング装置２１−１に
入力された試験セルは、加入者インタフェース部２２−
１ｂに入力され、この加入者インタフェース部２２−１
ｂからインサービス中ＩＮＳの個別部２３に入力され
る。この個別部２３では導通試験の為の折返しのループ
が形成され、試験セルは折返されて加入者インタフェー
ス部２２−１ｂに入力され、この加入者インタフェース
部２２−１ｂからスイッチング装置２１−１に入力さ
れ、試験セルはこのスイッチング装置２１−１から加入
者インタフェース部２２−１ａに入力され、診断部２４
に転送されて、診断部２４のチェック部に於いて試験セ
ルをチェックする。従って、実線矢印の経路の被試験装
置の加入者インタフェース部のセル導通試験を行うこと
ができる。
らインサービス中ＩＮＳのスイッチング装置２１−１に
入力された試験セルは、加入者インタフェース部２２−
１ｂに入力され、この加入者インタフェース部２２−１
ｂからインサービス中ＩＮＳの個別部２３に入力され
る。この個別部２３では導通試験の為の折返しのループ
が形成され、試験セルは折返されて加入者インタフェー
ス部２２−１ｂに入力され、この加入者インタフェース
部２２−１ｂからスイッチング装置２１−１に入力さ
れ、試験セルはこのスイッチング装置２１−１から加入
者インタフェース部２２−１ａに入力され、診断部２４
に転送されて、診断部２４のチェック部に於いて試験セ
ルをチェックする。従って、実線矢印の経路の被試験装
置の加入者インタフェース部のセル導通試験を行うこと
ができる。
【０００８】このような導通試験は、加入者インタフェ
ース部に接続された個別部２３の個数に従って繰り返し
実行される。即ち、被試験装置としての加入者インタフ
ェース部には、個別部２３対応の経路が存在することに
より、全経路について導通試験を行うことになる。又ス
イッチング装置２１−０，２１−１を被試験装置とし
て、セルをスイッチングする為の全パスについての導通
試験を行うことも可能である。
ース部に接続された個別部２３の個数に従って繰り返し
実行される。即ち、被試験装置としての加入者インタフ
ェース部には、個別部２３対応の経路が存在することに
より、全経路について導通試験を行うことになる。又ス
イッチング装置２１−０，２１−１を被試験装置とし
て、セルをスイッチングする為の全パスについての導通
試験を行うことも可能である。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ＡＴＭ網に於いて提供
するサービスとして、(a) セル伝送遅延ＣＴＤ（Ｃell
Ｔransmission Ｄelay）と、(b) セル損失レートＣＬＲ
（Ｃell Ｌoss Ｒate ）とのパラメータにより定義され
るサービス品質ＱＯＳ（Ｑuality of Ｓervice）があ
り、セル伝送遅延ＣＴＤとセル損失レートＣＬＲとを保
証するサービスと、セル損失レートＣＬＲのみ保証し、
セル伝送遅延ＣＴＤは保証しないサービスとがある。
するサービスとして、(a) セル伝送遅延ＣＴＤ（Ｃell
Ｔransmission Ｄelay）と、(b) セル損失レートＣＬＲ
（Ｃell Ｌoss Ｒate ）とのパラメータにより定義され
るサービス品質ＱＯＳ（Ｑuality of Ｓervice）があ
り、セル伝送遅延ＣＴＤとセル損失レートＣＬＲとを保
証するサービスと、セル損失レートＣＬＲのみ保証し、
セル伝送遅延ＣＴＤは保証しないサービスとがある。
【００１０】又Ｂ−ＩＳＤＮ（Ｂroadband Ｉntegrate
d Ｓervices Ｄigital Ｎetwork）に於いて、固定ビッ
トレートＣＢＲ（Ｃontinuous Ｂit Ｒate ）と可変ビ
ットレートＶＢＲ（Ｖariable Ｂit Ｒate ）とに分け
ることができ、固定ビットレートＣＢＲのサービスを適
用するものとして、音声や動画等があり、セル伝送遅延
ＣＴＤとセル損失レートＣＬＲとの保証が必要となる。
又可変ビットレートＶＢＲのサービスを適用するものと
して、無音圧縮処理の音声や圧縮処理された動画等があ
り、セル伝送遅延ＣＴＤとセル損失レートＣＬＲとの保
証が要求され、又トランザクション処理等については、
セル損失レートＣＬＲの保証が要求される。
d Ｓervices Ｄigital Ｎetwork）に於いて、固定ビッ
トレートＣＢＲ（Ｃontinuous Ｂit Ｒate ）と可変ビ
ットレートＶＢＲ（Ｖariable Ｂit Ｒate ）とに分け
ることができ、固定ビットレートＣＢＲのサービスを適
用するものとして、音声や動画等があり、セル伝送遅延
ＣＴＤとセル損失レートＣＬＲとの保証が必要となる。
又可変ビットレートＶＢＲのサービスを適用するものと
して、無音圧縮処理の音声や圧縮処理された動画等があ
り、セル伝送遅延ＣＴＤとセル損失レートＣＬＲとの保
証が要求され、又トランザクション処理等については、
セル損失レートＣＬＲの保証が要求される。
【００１１】又ネットワークの資源を有効に利用する為
に、上位のフロー制御を用いて制御し、ＡＴＭ交換機
は、セル伝送遅延ＣＴＤとセル損失レートＣＬＲとを保
証しないベストエフォート型のＵＢＲと、ネットワーク
内でフィードバック制御を行い、輻輳を回避して通信を
行うサービスであって、ＡＴＭ交換機としてはセル損失
レートＣＬＲを保証するＡＢＲ（Ａvailavle Ｂit Ｒ
ate ）サービスとが知られている。
に、上位のフロー制御を用いて制御し、ＡＴＭ交換機
は、セル伝送遅延ＣＴＤとセル損失レートＣＬＲとを保
証しないベストエフォート型のＵＢＲと、ネットワーク
内でフィードバック制御を行い、輻輳を回避して通信を
行うサービスであって、ＡＴＭ交換機としてはセル損失
レートＣＬＲを保証するＡＢＲ（Ａvailavle Ｂit Ｒ
ate ）サービスとが知られている。
【００１２】前述のようなサービスをＱＣＰ（Ｑuality
Ｃontrol Ｐath ）として、仮想的に分割されたシス
テム内の帯域にマッピングすることによって、個々のサ
ービスに従った特性を意識して制御するものであり、サ
ービス品質ＱＣＰとしては、前述のＣＢＲ及びリアルタ
イムＶＢＲをマッピングしたクラス０、ノンリアルタイ
ムＶＢＲをマッピングしたクラス１、ＡＢＲをマッピン
グしたクラス２、ＵＢＲをマッピングしたクラス３の４
クラスが設けられている。なお、更に多数のクラスを設
ける傾向にある。そして、前述のサービス品質としての
ＱＣＰとＱＯＳとの関係は、ＱＣＰのクラス０は、ＱＯ
ＳのＣＴＤ＝保証あり、且つＣＬＲ＝保証あり、クラス
１は、ＣＴＤ＝保証なし、且つＣＬＲ＝保証あり、クラ
ス２は、ＣＴＤ＝保証なし、且つＣＬＲ＝保証あり、ク
ラス３は、ＣＴＤ＝保証なし、且つＣＬＲ＝保証なしと
なる。
Ｃontrol Ｐath ）として、仮想的に分割されたシス
テム内の帯域にマッピングすることによって、個々のサ
ービスに従った特性を意識して制御するものであり、サ
ービス品質ＱＣＰとしては、前述のＣＢＲ及びリアルタ
イムＶＢＲをマッピングしたクラス０、ノンリアルタイ
ムＶＢＲをマッピングしたクラス１、ＡＢＲをマッピン
グしたクラス２、ＵＢＲをマッピングしたクラス３の４
クラスが設けられている。なお、更に多数のクラスを設
ける傾向にある。そして、前述のサービス品質としての
ＱＣＰとＱＯＳとの関係は、ＱＣＰのクラス０は、ＱＯ
ＳのＣＴＤ＝保証あり、且つＣＬＲ＝保証あり、クラス
１は、ＣＴＤ＝保証なし、且つＣＬＲ＝保証あり、クラ
ス２は、ＣＴＤ＝保証なし、且つＣＬＲ＝保証あり、ク
ラス３は、ＣＴＤ＝保証なし、且つＣＬＲ＝保証なしと
なる。
【００１３】このようなサービス品質ＱＣＰのクラス０
〜３に対応したバッファメモリを備えて、セルの透過の
制御を行う構成が適用されており、セル導通試験に於い
てはクラス０については、セル損失が殆ど生じないもの
であるから、試験セルを透過させることが可能である
が、クラス３のようにサービス品質ＱＣＰが低い場合に
は、インサービス中ＩＮＳの装置に於いてセル損失が生
じることがあり、導通試験を確実に行うことができない
ものであった。従って、バッファメモリ等を含む被試験
装置に対して、クラス対応の導通試験を行っていないの
が実情である。その為に、サービス品質ＱＣＰのクラス
全部にわたって正常性の確認ができない問題があった。
本発明は、サービス品質のクラス対応の試験を可能とす
ることを目的とする。
〜３に対応したバッファメモリを備えて、セルの透過の
制御を行う構成が適用されており、セル導通試験に於い
てはクラス０については、セル損失が殆ど生じないもの
であるから、試験セルを透過させることが可能である
が、クラス３のようにサービス品質ＱＣＰが低い場合に
は、インサービス中ＩＮＳの装置に於いてセル損失が生
じることがあり、導通試験を確実に行うことができない
ものであった。従って、バッファメモリ等を含む被試験
装置に対して、クラス対応の導通試験を行っていないの
が実情である。その為に、サービス品質ＱＣＰのクラス
全部にわたって正常性の確認ができない問題があった。
本発明は、サービス品質のクラス対応の試験を可能とす
ることを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明のセル導通試験方
法は、（１）診断部１０から試験セルを発生させ、この
試験セルを被試験装置を含む経路を通過させて試験を行
うセル導通試験方法であって、診断部１０からサービス
品質の高いクラスの順にサービス品質のクラスを設定し
た試験セルを発生させ、この試験セルを被試験装置に入
力し、この被試験装置の入側セルカウンタ１，１１によ
るカウント値と、出側セルカウンタ２，１２によるカウ
ント値とを比較して、比較一致の時は、被試験装置のセ
ル導通試験は良好と判定し、比較不一致の時はセル導通
試験は不良と判定する過程を含むものである。
法は、（１）診断部１０から試験セルを発生させ、この
試験セルを被試験装置を含む経路を通過させて試験を行
うセル導通試験方法であって、診断部１０からサービス
品質の高いクラスの順にサービス品質のクラスを設定し
た試験セルを発生させ、この試験セルを被試験装置に入
力し、この被試験装置の入側セルカウンタ１，１１によ
るカウント値と、出側セルカウンタ２，１２によるカウ
ント値とを比較して、比較一致の時は、被試験装置のセ
ル導通試験は良好と判定し、比較不一致の時はセル導通
試験は不良と判定する過程を含むものである。
【００１５】又（２）診断部１０から試験セルを出力し
てセル導通試験を行った時に、被試験装置の入側セルカ
ウンタ１，１１のカウント値が０の場合は、セル導通試
験のリトライを行う過程を含むものであり、被試験装置
をアウトオブサービス中としても、試験セルの通過経路
にインサービス中の装置が含まれていると、セル損失に
より試験セルが被試験装置まで到着しない場合がある。
この場合は、入側セルカウンタ１，１１のカウント値と
出側セルカウンタ２，１２のカウント値とは等しい０と
なるが、入側セルカウンタ１，１１のカウント値が０で
ある条件でリトライを行う。
てセル導通試験を行った時に、被試験装置の入側セルカ
ウンタ１，１１のカウント値が０の場合は、セル導通試
験のリトライを行う過程を含むものであり、被試験装置
をアウトオブサービス中としても、試験セルの通過経路
にインサービス中の装置が含まれていると、セル損失に
より試験セルが被試験装置まで到着しない場合がある。
この場合は、入側セルカウンタ１，１１のカウント値と
出側セルカウンタ２，１２のカウント値とは等しい０と
なるが、入側セルカウンタ１，１１のカウント値が０で
ある条件でリトライを行う。
【００１６】又（３）セル導通試験のリトライ回数をカ
ウントし、このリトライ回数が予め設定した最大値を越
えた時に、グッドスキップと判定する過程を含むことが
できる。このグッドスキップは、一応良好と判定して処
理のスキップを行うことを示す。
ウントし、このリトライ回数が予め設定した最大値を越
えた時に、グッドスキップと判定する過程を含むことが
できる。このグッドスキップは、一応良好と判定して処
理のスキップを行うことを示す。
【００１７】
【発明の実施の形態】図１は本発明の実施の形態の要部
説明図であり、ＡＴＭ交換機のスイッチング装置と個別
部との間の加入者インタフェース部の要部を示し、１，
１１は入側のセルカウンタ、２，１２は出側のセルカウ
ンタ、３，１３はバッファ部、４−０，４−１，４−
２，４−３，・・・はＱＣＰクラス０，１，２，３，・
・・対応のバッファメモリ、５は多重処理部、６は試験
セル発生部、７はチェック部、８は判定部、９はリトラ
イカウンタ、１０は診断部である。
説明図であり、ＡＴＭ交換機のスイッチング装置と個別
部との間の加入者インタフェース部の要部を示し、１，
１１は入側のセルカウンタ、２，１２は出側のセルカウ
ンタ、３，１３はバッファ部、４−０，４−１，４−
２，４−３，・・・はＱＣＰクラス０，１，２，３，・
・・対応のバッファメモリ、５は多重処理部、６は試験
セル発生部、７はチェック部、８は判定部、９はリトラ
イカウンタ、１０は診断部である。
【００１８】サービス品質ＱＣＰのクラス情報は、セル
のヘッダ部に設定するものであり、例えば、ヘッダ部の
ヘッダ誤り制御ＨＥＣのフィールドに設定するか、或い
は、ＡＴＭ交換機内ではタグを付加し、そのタグに設定
することができる。従って、バッファ部３，１３に於け
るクラス対応のバッファメモリ４−０，４−１，４−
２，４−３，・・・にはサービス品質ＱＣＰのクラス対
応にセルを格納することになる。このバッファ部３，１
３に於いて、クラス対応のバッファメモリ及び多重処理
部に於いてサービス品質ＱＣＰの低いクラスについては
セル損失が生じる可能性が大きくなる。
のヘッダ部に設定するものであり、例えば、ヘッダ部の
ヘッダ誤り制御ＨＥＣのフィールドに設定するか、或い
は、ＡＴＭ交換機内ではタグを付加し、そのタグに設定
することができる。従って、バッファ部３，１３に於け
るクラス対応のバッファメモリ４−０，４−１，４−
２，４−３，・・・にはサービス品質ＱＣＰのクラス対
応にセルを格納することになる。このバッファ部３，１
３に於いて、クラス対応のバッファメモリ及び多重処理
部に於いてサービス品質ＱＣＰの低いクラスについては
セル損失が生じる可能性が大きくなる。
【００１９】又入側のセルカウンタ１は、スイッチング
装置から入力されるセルをカウントし、出側のセルカウ
ンタ２は、個別部へ出力されるセルをカウントする。又
入側のセルカウンタ１１は、個別部から入力されるセル
をカウントし、出側のセルカウンタ１２は、バッファ部
１３を介してスイッチング装置へ出力されるセルをカウ
ントする。そして、入側のセルカウンタ１，１１による
セルのカウント数が１以上の場合に、出側のセルカウン
タ２，１２によるセルのカウント数と比較することによ
り、クラス対応のバッファメモリ及び多重処理部５に於
けるセル損失の有無を判定し、セルが通過する経路の正
常性を確認することができる。
装置から入力されるセルをカウントし、出側のセルカウ
ンタ２は、個別部へ出力されるセルをカウントする。又
入側のセルカウンタ１１は、個別部から入力されるセル
をカウントし、出側のセルカウンタ１２は、バッファ部
１３を介してスイッチング装置へ出力されるセルをカウ
ントする。そして、入側のセルカウンタ１，１１による
セルのカウント数が１以上の場合に、出側のセルカウン
タ２，１２によるセルのカウント数と比較することによ
り、クラス対応のバッファメモリ及び多重処理部５に於
けるセル損失の有無を判定し、セルが通過する経路の正
常性を確認することができる。
【００２０】診断部１０は、試験セル発生部６と、チェ
ック部７と、判定部８と、リトライカウンタ９とを含む
構成であり、各部の機能はプロセッサによって実現する
ことができる。この診断部１０の試験セル発生部６か
ら、サービス品質ＱＣＰのクラスを設定した試験セルを
発生させて、図示を省略した被試験経路に送出する。そ
の場合、図５に示すように、被試験経路に含まれる加入
者インタフェース部を被試験装置とすると、その被試験
装置をアウトオブサービス中ＯＵＳとし、スイッチング
装置等はインサービス中ＩＮＳとする。
ック部７と、判定部８と、リトライカウンタ９とを含む
構成であり、各部の機能はプロセッサによって実現する
ことができる。この診断部１０の試験セル発生部６か
ら、サービス品質ＱＣＰのクラスを設定した試験セルを
発生させて、図示を省略した被試験経路に送出する。そ
の場合、図５に示すように、被試験経路に含まれる加入
者インタフェース部を被試験装置とすると、その被試験
装置をアウトオブサービス中ＯＵＳとし、スイッチング
装置等はインサービス中ＩＮＳとする。
【００２１】又チェック部７は、試験セル発生部６から
発生させた所定数の試験セルが被試験経路を通過して入
力され、発生セル数と受信入力セル数とを比較する。又
判定部８は、前述の入側セルカウンタ１，１１のカウン
ト値と、出側セルカウンタ２，１２のカウント値とを比
較して、セル導通試験の結果の判定処理を行うのであ
る。又リトライカウンタ９は、試験セル発生部６から所
定数の試験セルを発生してセル導通試験を行った時に、
入側セルカウンタ１，１１のカウント値が０の場合にリ
トライを行い、そのリトライ回数をカウントするもので
ある。
発生させた所定数の試験セルが被試験経路を通過して入
力され、発生セル数と受信入力セル数とを比較する。又
判定部８は、前述の入側セルカウンタ１，１１のカウン
ト値と、出側セルカウンタ２，１２のカウント値とを比
較して、セル導通試験の結果の判定処理を行うのであ
る。又リトライカウンタ９は、試験セル発生部６から所
定数の試験セルを発生してセル導通試験を行った時に、
入側セルカウンタ１，１１のカウント値が０の場合にリ
トライを行い、そのリトライ回数をカウントするもので
ある。
【００２２】図２及び図３は本発明の実施の形態のフロ
ーチャートであり、先ず、前述の診断部１０のリトライ
カウンタＲＥＴＲＹ ＣＮＴに０を設定する（ａ）。即
ち、リトライカウンタ９をリセットする。次に、サービ
ス品質ＱＣＰのクラスを設定する（ｂ）。最初は、ＱＣ
Ｐ＝０、即ち、最も高いサービス品質ＱＣＰのクラス０
を最初に設定する。
ーチャートであり、先ず、前述の診断部１０のリトライ
カウンタＲＥＴＲＹ ＣＮＴに０を設定する（ａ）。即
ち、リトライカウンタ９をリセットする。次に、サービ
ス品質ＱＣＰのクラスを設定する（ｂ）。最初は、ＱＣ
Ｐ＝０、即ち、最も高いサービス品質ＱＣＰのクラス０
を最初に設定する。
【００２３】そして、ＱＣＰ≧４か否かを判定する
（ｃ）。即ち、サービス品質ＱＣＰのクラスを０〜３と
すると、クラス４以上は処理しないことを示す。従っ
て、このサービス品質ＱＣＰのクラスを例えば０〜１５
の１６段階とすると、ステップ（ｃ）に於いては、ＱＣ
Ｐ≧１６の判定を行うことになる。
（ｃ）。即ち、サービス品質ＱＣＰのクラスを０〜３と
すると、クラス４以上は処理しないことを示す。従っ
て、このサービス品質ＱＣＰのクラスを例えば０〜１５
の１６段階とすると、ステップ（ｃ）に於いては、ＱＣ
Ｐ≧１６の判定を行うことになる。
【００２４】このステップ（ｃ）に於いて、ＱＣＰ≧４
の場合は、サービス品質ＱＣＰのクラス０〜３を順次設
定した試験セルによる被試験装置のセル導通試験が終了
したことを示すから、導通試験は良好（ＧＯＯＤ）と判
定し（ｄ）、セル導通試験は終了（ＥＮＤ）とする
（ｅ）。
の場合は、サービス品質ＱＣＰのクラス０〜３を順次設
定した試験セルによる被試験装置のセル導通試験が終了
したことを示すから、導通試験は良好（ＧＯＯＤ）と判
定し（ｄ）、セル導通試験は終了（ＥＮＤ）とする
（ｅ）。
【００２５】又ＱＣＰ≧４でない場合、即ち、サービス
品質ＱＣＰの全クラスについてのセル導通試験が終了し
ていない場合、試験セルに、セル導通ルート情報，発生
セル数等のセル導通に必要な情報を試験セルのセルフォ
ーマットに設定する（ｆ）。そして、診断部１０（ＢＴ
ＳＵ）の試験セル発生部６から予め設定された所定数の
試験セルを発生させる（ｇ）。この試験セルは、例え
ば、図５について説明した導通試験経路を通過して、診
断部１０のチェック部７に入力されてチェックされるも
のであり、図１に於いて、例えば、導通試験経路のイン
サービス中ＩＮＳのスイッチング装置を通過した試験セ
ルが、アウトオブサービス中ＯＵＳの被試験装置として
の加入者インタフェース部に入力されるセル導通試験時
に、入側セルカウンタ１により試験セルがカウントさ
れ、又個別部から折返して入力された時は、入側セルカ
ウンタ１１により試験セルがカウントされる。
品質ＱＣＰの全クラスについてのセル導通試験が終了し
ていない場合、試験セルに、セル導通ルート情報，発生
セル数等のセル導通に必要な情報を試験セルのセルフォ
ーマットに設定する（ｆ）。そして、診断部１０（ＢＴ
ＳＵ）の試験セル発生部６から予め設定された所定数の
試験セルを発生させる（ｇ）。この試験セルは、例え
ば、図５について説明した導通試験経路を通過して、診
断部１０のチェック部７に入力されてチェックされるも
のであり、図１に於いて、例えば、導通試験経路のイン
サービス中ＩＮＳのスイッチング装置を通過した試験セ
ルが、アウトオブサービス中ＯＵＳの被試験装置として
の加入者インタフェース部に入力されるセル導通試験時
に、入側セルカウンタ１により試験セルがカウントさ
れ、又個別部から折返して入力された時は、入側セルカ
ウンタ１１により試験セルがカウントされる。
【００２６】又試験セルは、前述のようにサービス品質
ＱＣＰのクラスが設定されるから、バッファ部３，１３
のクラス対応のバッファメモリに試験セルが格納され
る。又バッファ部３の多重処理部５を介して個別部に送
出される試験セルは、出側セルカウンタ２によりカウン
トされ、バッファ部１３からスイッチング装置へ送出さ
れる試験セルは、出側セルカウンタ１２によりカウント
される。
ＱＣＰのクラスが設定されるから、バッファ部３，１３
のクラス対応のバッファメモリに試験セルが格納され
る。又バッファ部３の多重処理部５を介して個別部に送
出される試験セルは、出側セルカウンタ２によりカウン
トされ、バッファ部１３からスイッチング装置へ送出さ
れる試験セルは、出側セルカウンタ１２によりカウント
される。
【００２７】そして、診断部１０は入側セルカウンタＣ
ＥＬ ＣＮＴ Ａの値を読出す（ｈ）。その時の試験セ
ルに設定したサービス品質ＱＣＰのクラスが０か否か
を、診断部１０の判定部８に於いて判定し（ｉ）、クラ
ス０の場合は、入側セルカウンタＣＥＬ ＣＮＴ Ａの
値と、診断部（ＢＴＳＵ）１０の試験セル発生部６から
発生したセル数とが等しいか否かを判定部８に於いて判
定し（ｎ）、等しくない場合は、サービス品質ＱＣＰが
最高のクラス０に於いてもセル損失が発生していること
を示すから、セル導通試験の結果は不良（ＮＧ）と判定
し（ｏ）、セル導通試験は終了（ＥＮＤ）とする
（ｐ）。
ＥＬ ＣＮＴ Ａの値を読出す（ｈ）。その時の試験セ
ルに設定したサービス品質ＱＣＰのクラスが０か否か
を、診断部１０の判定部８に於いて判定し（ｉ）、クラ
ス０の場合は、入側セルカウンタＣＥＬ ＣＮＴ Ａの
値と、診断部（ＢＴＳＵ）１０の試験セル発生部６から
発生したセル数とが等しいか否かを判定部８に於いて判
定し（ｎ）、等しくない場合は、サービス品質ＱＣＰが
最高のクラス０に於いてもセル損失が発生していること
を示すから、セル導通試験の結果は不良（ＮＧ）と判定
し（ｏ）、セル導通試験は終了（ＥＮＤ）とする
（ｐ）。
【００２８】又ステップ（ｎ）に於いて、入側セルカウ
ンタＣＥＬ ＣＮＴ Ａの値と、診断部（ＢＴＳＵ）１
０の試験セル発生部６から発生したセル数とが等しい場
合、出側セルカウンタＣＥＬ ＣＮＴ Ｂの値を読出し
（ｒ）、入側セルカウンタＣＥＬ ＣＮＴ Ａの値と、
出側セルカウンタＣＥＬ ＣＮＴ Ｂの値とを比較して
一致するか否かを判定部８に於いて判定する（ｓ）。こ
の時、例えば、図１の入側セルカウンタ１と出側セルカ
ウンタ２とのカウント値が不一致であると、バッファ部
３に於いてセル損失が生じたことを示すことになる。従
って、セル導通試験の結果は不良（ＮＧ）と判定し
（ｏ）、セル導通試験は終了（ＥＮＤ）とする（ｐ）。
ンタＣＥＬ ＣＮＴ Ａの値と、診断部（ＢＴＳＵ）１
０の試験セル発生部６から発生したセル数とが等しい場
合、出側セルカウンタＣＥＬ ＣＮＴ Ｂの値を読出し
（ｒ）、入側セルカウンタＣＥＬ ＣＮＴ Ａの値と、
出側セルカウンタＣＥＬ ＣＮＴ Ｂの値とを比較して
一致するか否かを判定部８に於いて判定する（ｓ）。こ
の時、例えば、図１の入側セルカウンタ１と出側セルカ
ウンタ２とのカウント値が不一致であると、バッファ部
３に於いてセル損失が生じたことを示すことになる。従
って、セル導通試験の結果は不良（ＮＧ）と判定し
（ｏ）、セル導通試験は終了（ＥＮＤ）とする（ｐ）。
【００２９】又ステップ（ｉ）に於いて、サービス品質
ＱＣＰのクラスが０でない場合、入側セルカウンタＣＥ
Ｌ ＣＮＴ Ａの値が０か否かを判定部８に於いて判定
し（ｑ）、０の場合は前述の診断部１０のリトライカウ
ンタ（ＲＥＴＲＹ ＣＮＴ）９によるリトライ回数が予
め設定した最大値を越えているか否かを判定し（ｋ）、
越えていない場合は、ＲＥＴＲＹ ＣＮＴ＝ＲＥＴＲＹ
ＣＮＴ＋１として示すように、リトライ回数をカウン
トアップして（ｊ）、ステップ（ｇ）に移行する。
ＱＣＰのクラスが０でない場合、入側セルカウンタＣＥ
Ｌ ＣＮＴ Ａの値が０か否かを判定部８に於いて判定
し（ｑ）、０の場合は前述の診断部１０のリトライカウ
ンタ（ＲＥＴＲＹ ＣＮＴ）９によるリトライ回数が予
め設定した最大値を越えているか否かを判定し（ｋ）、
越えていない場合は、ＲＥＴＲＹ ＣＮＴ＝ＲＥＴＲＹ
ＣＮＴ＋１として示すように、リトライ回数をカウン
トアップして（ｊ）、ステップ（ｇ）に移行する。
【００３０】又リトライ回数が最大値を越えた場合は、
セル導通試験をグッドスキップ（ＧＯＯＤ−ＳＫＩＰ）
とし（ｌ）、セル導通試験を終了（ＥＮＤ）とする
（ｍ）。この場合のグッドスキップ（ＧＯＯＤ−ＳＫＩ
Ｐ）は、導通試験経路の中のインサービス中ＩＮＳの他
の装置に於いてセル損失が発生した可能性があり、例え
ば、入側セルカウンタ１のカウント値が０の場合、図１
のバッファ部３に試験セルが入力されないことにより、
バッファ部３のセル導通試験を行うことができないもの
であるから、被試験装置としてのバッファ部３は一応良
好と判定して、次の処理に移行することを示すものであ
る。
セル導通試験をグッドスキップ（ＧＯＯＤ−ＳＫＩＰ）
とし（ｌ）、セル導通試験を終了（ＥＮＤ）とする
（ｍ）。この場合のグッドスキップ（ＧＯＯＤ−ＳＫＩ
Ｐ）は、導通試験経路の中のインサービス中ＩＮＳの他
の装置に於いてセル損失が発生した可能性があり、例え
ば、入側セルカウンタ１のカウント値が０の場合、図１
のバッファ部３に試験セルが入力されないことにより、
バッファ部３のセル導通試験を行うことができないもの
であるから、被試験装置としてのバッファ部３は一応良
好と判定して、次の処理に移行することを示すものであ
る。
【００３１】又ステップ（ｓ）に於いて、入側セルカウ
ンタＣＥＬ ＣＮＴ Ａの値と、出側セルカウンタＣＥ
Ｌ ＣＮＴ Ｂの値とが等しい場合、例えば、被試験装
置としてのバッファ部３に於けるセル損失が発生しない
ことを示すことになる。従って、試験セルに設定したサ
ービス品質ＱＣＰのクラスについてのセル導通試験は良
好（ＧＯＯＤ）とし（ｔ）、サービス品質ＱＣＰのクラ
スを＋１し（ｕ）、ステップ（ｃ）に移行する。
ンタＣＥＬ ＣＮＴ Ａの値と、出側セルカウンタＣＥ
Ｌ ＣＮＴ Ｂの値とが等しい場合、例えば、被試験装
置としてのバッファ部３に於けるセル損失が発生しない
ことを示すことになる。従って、試験セルに設定したサ
ービス品質ＱＣＰのクラスについてのセル導通試験は良
好（ＧＯＯＤ）とし（ｔ）、サービス品質ＱＣＰのクラ
スを＋１し（ｕ）、ステップ（ｃ）に移行する。
【００３２】従って、サービス品質ＱＣＰのクラス０か
らクラス３まで、サービス品質ＱＣＰの高いクラスから
低いクラスの順にセル導通試験を行うことができる。即
ち、セル損失が生じない確率が高いサービス品質ＱＣＰ
のクラスから順に全クラスにわたって被試験装置のセル
導通試験を行うことができる。
らクラス３まで、サービス品質ＱＣＰの高いクラスから
低いクラスの順にセル導通試験を行うことができる。即
ち、セル損失が生じない確率が高いサービス品質ＱＣＰ
のクラスから順に全クラスにわたって被試験装置のセル
導通試験を行うことができる。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、サービ
ス品質ＱＣＰの高いクラスから順にサービス品質ＱＣＰ
のクラスを設定した試験セルを、診断部１０の試験セル
発生部６から発生させ、その試験セルをバッファ部３，
１３等の被試験装置を含む経路に送出し、被試験装置の
入側セルカウンタ１，１１と、出側セルカウンタ２，１
２とによる試験セルのカウント値を判定部１０で比較
し、比較一致の場合はセル導通試験は良好、比較不一致
の場合はセル導通試験は不良と判定する過程を含むもの
であり、ＡＴＭ交換機の通話路系装置のセル導通試験時
に、加入者インタフェース部等の被試験装置をアウトオ
ブサービス中ＯＵＳとし、スイッチング装置等をインサ
ービス中ＩＮＳとした時に、インサービス中ＩＮＳの装
置に於けるセル損失が発生したとしても、被試験装置に
於けるセル損失の有無の判定を確実に行うことが可能と
なる利点がある。
ス品質ＱＣＰの高いクラスから順にサービス品質ＱＣＰ
のクラスを設定した試験セルを、診断部１０の試験セル
発生部６から発生させ、その試験セルをバッファ部３，
１３等の被試験装置を含む経路に送出し、被試験装置の
入側セルカウンタ１，１１と、出側セルカウンタ２，１
２とによる試験セルのカウント値を判定部１０で比較
し、比較一致の場合はセル導通試験は良好、比較不一致
の場合はセル導通試験は不良と判定する過程を含むもの
であり、ＡＴＭ交換機の通話路系装置のセル導通試験時
に、加入者インタフェース部等の被試験装置をアウトオ
ブサービス中ＯＵＳとし、スイッチング装置等をインサ
ービス中ＩＮＳとした時に、インサービス中ＩＮＳの装
置に於けるセル損失が発生したとしても、被試験装置に
於けるセル損失の有無の判定を確実に行うことが可能と
なる利点がある。
【００３４】又サービス品質ＱＣＰの高いクラスから順
に、即ち、セル導通試験の結果が良好となる可能性の高
い順から全クラスにわたって導通試験を行うことによ
り、サービス品質ＱＣＰの全クラスにわたる導通試験が
容易となり、その試験結果が不良のクラスの判別が容易
となる。
に、即ち、セル導通試験の結果が良好となる可能性の高
い順から全クラスにわたって導通試験を行うことによ
り、サービス品質ＱＣＰの全クラスにわたる導通試験が
容易となり、その試験結果が不良のクラスの判別が容易
となる。
【００３５】又所定数の試験セルを発生させるセル導通
試験時に、被試験装置の入側セルカウンタ１，１１のカ
ウント値が０の場合は、導通試験経路の途中のインサー
ビス中ＩＮＳ等の他の装置に於いてセル損失が発生して
いる場合であり、セル導通試験のリトライを行う。その
リトライ回数をカウントアップし、予め設定した最大値
を越えるリトライ回数となる場合、グッドスキップとす
る。即ち、被試験装置は一応良好として次の処理に移行
することができる。
試験時に、被試験装置の入側セルカウンタ１，１１のカ
ウント値が０の場合は、導通試験経路の途中のインサー
ビス中ＩＮＳ等の他の装置に於いてセル損失が発生して
いる場合であり、セル導通試験のリトライを行う。その
リトライ回数をカウントアップし、予め設定した最大値
を越えるリトライ回数となる場合、グッドスキップとす
る。即ち、被試験装置は一応良好として次の処理に移行
することができる。
【図１】本発明の実施の形態の要部説明図である。
【図２】本発明の実施の形態のフローチャートである。
【図３】本発明の実施の形態のフローチャートである。
【図４】通話路系装置の説明図である。
【図５】セル導通試験の説明図である。
１，１１ 入側セルカウンタ ２，１２ 出側セルカウンタ ３，１３ バッファ部 ４−０，４−１，４−２，４−３ バッファメモリ ５ 多重処理部 ６ 試験セル発生部 ７ チェック部 ８ 判定部 ９ リトライカウンタ １０ 診断部
Claims (3)
- 【請求項１】 診断部から試験セルを発生させ、該試験
セルを被試験装置を含む経路を通過させて試験を行うセ
ル導通試験方法に於いて、 前記診断部は、サービス品質の高いクラスの順にサービ
ス品質のクラスを設定した試験セルを発生させ、該試験
セルを前記被試験装置に入力し、該被試験装置の入側セ
ルカウンタによるカウント値と、出側セルカウンタによ
るカウント値とを比較して、比較一致の時は該被試験装
置のセル導通試験は良好と判定し、比較不一致の時はセ
ル導通試験は不良と判定する過程を含むことを特徴とす
るセル導通試験方法。 - 【請求項２】 前記診断部から前記試験セルを出力して
セル導通試験を行った時に、前記被試験装置の入側セル
カウンタのカウント値が０の場合は、該セル導通試験の
リトライを行う過程を含むことを特徴とする請求項１記
載のセル導通試験方法。 - 【請求項３】 前記セル導通試験のリトライ回数をカウ
ントし、該リトライ回数が予め設定した最大値を越えた
時に、前記診断部はグッドスキップと判定する過程を含
むことを特徴とする請求項１又は２記載のセル導通試験
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18477197A JPH1132051A (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | セル導通試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18477197A JPH1132051A (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | セル導通試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1132051A true JPH1132051A (ja) | 1999-02-02 |
Family
ID=16159036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18477197A Withdrawn JPH1132051A (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | セル導通試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1132051A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0450581A2 (en) * | 1990-04-04 | 1991-10-09 | Sony Corporation | Polymerization method |
-
1997
- 1997-07-10 JP JP18477197A patent/JPH1132051A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0450581A2 (en) * | 1990-04-04 | 1991-10-09 | Sony Corporation | Polymerization method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6147998A (en) | Method and apparatus for performing in-service quality of service testing | |
| EP0700229B1 (en) | Connectionless communications system, test method, and intra-station control system | |
| US5680390A (en) | Broadband telecommunications network and method of having operations systems support | |
| EP0673138B1 (en) | Connection admission control method for ATM network | |
| US6041038A (en) | Packet switching device and cell transfer control method | |
| US7133367B2 (en) | Embedded cell loopback method and system for testing in ATM networks | |
| US5737338A (en) | ATM exchange and method of testing same | |
| JPH1013416A (ja) | マルチクラスａｔｍ呼受付制御方法及び装置 | |
| US6198726B1 (en) | Plural-line terminating apparatus and OAM processing method thereof | |
| JPH08505987A (ja) | データパケットの識別 | |
| US6888849B2 (en) | Method for evaluating capacity utilization of a terminus in a communication system | |
| JPH1132051A (ja) | セル導通試験方法 | |
| JP3139994B2 (ja) | Ａｔｍ交換機及びａｔｍコネクションの品質制御方法 | |
| JP3615317B2 (ja) | 非同期転送モードを用いたデータ伝送方法 | |
| JP2690808B2 (ja) | Ａｔｍ通話路の試験方式 | |
| JP2864068B2 (ja) | セル監視装置 | |
| JP3175571B2 (ja) | Ａｔｍ交換機のセル導通試験方式 | |
| Pavan et al. | Experimental evaluation of real-time support on the Mercuri wide area ATM testbed | |
| KR100255800B1 (ko) | Atm 교환기의 셀 경로 시험방법 | |
| JP3333122B2 (ja) | Ａｔｍ品質推定方法、ａｔｍマルチクラス呼受付制御方法及び装置 | |
| KR100255799B1 (ko) | Atm 교환기의 셀 경로 시험방법 | |
| EP0982967A2 (en) | Device and method of multiplexing atm cells | |
| KR0164123B1 (ko) | 에이티엠 교환시스템에서 연결식별자의 할당 및 해제 방법 | |
| JP2820067B2 (ja) | Ａｔｍ装置 | |
| JPH06216927A (ja) | Ａｔｍ網におけるバースト情報通信制御方式 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20041005 |