JPH11312096A - Electric circuit card testing device and method therefor and storage medium for recording control program of its testing method - Google Patents
Electric circuit card testing device and method therefor and storage medium for recording control program of its testing methodInfo
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- JPH11312096A JPH11312096A JP10117667A JP11766798A JPH11312096A JP H11312096 A JPH11312096 A JP H11312096A JP 10117667 A JP10117667 A JP 10117667A JP 11766798 A JP11766798 A JP 11766798A JP H11312096 A JPH11312096 A JP H11312096A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は電気回路カード試験
装置及び試験方法並びに試験方法を実行させるためのプ
ログラムを記録した記録媒体に関し、特にコンピュータ
システムの本体系装置、周辺系装置の電気回路カード
(例えば制御カード)の故障を修理するため、及び修理
完了後の電気回路カードをシステムに組込むために、シ
ステムの電源がオンの状態で挿抜をおこなう活線挿抜電
気回路カードの試験装置及び試験方法並びに試験方法を
実行させるためのプログラムを記録した記録媒体に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electric circuit card test apparatus, a test method, and a recording medium on which a program for executing the test method is recorded. For example, in order to repair a failure of a control card) and to incorporate the electric circuit card into the system after the completion of the repair, a test apparatus and a test method of a hot-swap electric circuit card for performing insertion / extraction while the system power is on and The present invention relates to a recording medium on which a program for executing a test method is recorded.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、活線挿抜時における電気回路カー
ドの試験は、予め用意された試験プログラムを起動し、
その試験プログラムを実行した結果からその電気回路カ
ードの正常性を判断していた。2. Description of the Related Art Conventionally, a test of an electric circuit card at the time of hot-swap is performed by starting a test program prepared in advance,
The normality of the electric circuit card was determined from the result of executing the test program.
【0003】ところで、この種の試験装置の一例が
(1)特開平5−165669号公報、(2)特開平7
−244563号公報及び(3)特開平8−15304
8号公報(以下、夫々先行技術1,2,3という)に記
載されている。An example of this type of test apparatus is disclosed in (1) Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-165669, and (2) Japanese Patent Application Laid-Open
-244563 and (3) JP-A-8-15304
No. 8 (hereinafter referred to as prior arts 1, 2, and 3, respectively).
【0004】先行技術1は、活線挿抜パッケージが装置
に挿入されると、磁気ディスク内に格納された試験プロ
グラムがロードされ、活線挿抜パッケージがその試験プ
ログラムに従って試験される、というものである。In prior art 1, when a hot-swap package is inserted into an apparatus, a test program stored in a magnetic disk is loaded, and the hot-swap package is tested according to the test program. .
【0005】先行技術2は、ディスクアレイ装置内のデ
ィスクに故障が発生すると、活線挿抜装置がその故障し
たディスクをシステム外に排出し、さらに新たなディス
クが設定された場合はディスク確認装置が適切か否かを
検査する、というものである。In prior art 2, when a failure occurs in a disk in the disk array device, the hot-swap device ejects the failed disk out of the system, and when a new disk is set, the disk confirmation device is activated. It checks whether it is appropriate.
【0006】先行技術3は、交換用メモリカードの挿入
を挿入検出部が検出すると、活線挿抜制御部が交換用メ
モリカードにデータをコピーし、データ比較部がそのコ
ピー後のデータとコピー元のデータとを比較する、とい
うものである。In the prior art 3, when the insertion detection unit detects the insertion of the replacement memory card, the hot-swap controller copies the data to the replacement memory card, and the data comparison unit copies the copied data with the copy source. And compare the data.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかし、これら従来技
術1〜3では機能試験を十分に行うため故障の内容に拘
らずどの被試験対象物に対しても同様の多機能試験を行
っていたため、試験に多大な時間を要するという欠点が
あった。However, in these prior arts 1 to 3, the same multifunctional test was performed on any test object regardless of the type of failure in order to sufficiently perform the functional test. There was a drawback that the test required a lot of time.
【0008】そこで本発明の目的は、電気回路カードの
正常性の確認を従来よりも短時間で行うことが可能な電
気回路カード試験装置及び試験方法並びに試験方法を実
行させるためのプログラムを記録した記録媒体を提供す
ることにある。Accordingly, an object of the present invention is to record an electric circuit card test apparatus, a test method, and a program for executing the test method, which can confirm the normality of the electric circuit card in a shorter time than before. It is to provide a recording medium.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に第1の発明は、コンピュータシステムを構成する装置
に挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電気回路カー
ド試験装置であって、その電気回路カード試験装置は前
記電気回路カードの故障内容を分析する故障内容分析手
段と、前記電気回路カードの試験プログラムが格納され
た試験プログラム格納手段と、前記故障内容分析手段で
の分析結果に基づき前記試験プログラム格納手段に格納
された試験プログラムより必要な試験機能のみを選択し
て修理後の前記電気回路カードの試験を行う試験実行手
段とを含むことを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided an electric circuit card testing apparatus for testing an electric circuit card which can be inserted into and removed from a device constituting a computer system. The circuit card testing apparatus is configured to analyze a failure content of the electric circuit card, a failure content analysis unit, a test program storage unit in which a test program of the electrical circuit card is stored, and the failure content analysis unit. Test execution means for selecting only necessary test functions from the test program stored in the test program storage means and testing the electric circuit card after repair.
【0010】第2の発明は、コンピュータシステムを構
成する装置に挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電
気回路カード試験方法であって、その電気回路カード試
験方法は前記電気回路カードの故障内容を分析する第1
処理と、この第1処理での分析結果に基づき試験プログ
ラムより必要な試験機能のみを選択して修理後の前記電
気回路カードの試験を行う第2処理とを含むことを特徴
とする。A second aspect of the present invention is an electric circuit card test method for testing an electric circuit card which can be inserted into and removed from an apparatus constituting a computer system. First to analyze
And a second process of selecting only necessary test functions from a test program based on the analysis result of the first process and testing the electric circuit card after repair.
【0011】第3の発明は、コンピュータシステムを構
成する装置に挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電
気回路カード試験方法を実行させるための制御プログラ
ムを記録した記録媒体であって、その記録媒体に前記電
気回路カードの故障内容を分析する第1処理と、この第
1処理での分析結果に基づき試験プログラムより必要な
試験機能のみを選択して修理後の前記電気回路カードの
試験を行う第2処理とを実行させるための制御プログラ
ムが記録されたことを特徴とする。A third invention is a recording medium recording a control program for executing an electric circuit card test method for testing an electric circuit card which can be inserted into and removed from a device constituting a computer system, and the recording medium. A first process of analyzing the failure content of the electric circuit card, and a test of the electric circuit card after repair by selecting only necessary test functions from a test program based on an analysis result in the first process. A control program for executing the two processes is recorded.
【0012】第1〜第3の発明によれば、電気回路カー
ドの故障内容を分析し、分析結果に基づき試験プログラ
ムより必要な試験機能のみを選択して電気回路カードの
試験を行うため、無駄な試験を排除することができ、も
って電気回路カードの正常性の確認を従来よりも短時間
で行うことが可能となる。According to the first to third aspects of the present invention, the failure content of the electric circuit card is analyzed, and only the necessary test function is selected from the test program based on the analysis result to test the electric circuit card. This makes it possible to eliminate a complicated test, and to confirm the normality of the electric circuit card in a shorter time than before.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て添付図面を参照しながら説明する。まず、第1の実施
の形態から説明する。図1は本発明に係る電気回路カー
ド試験装置の第1の実施の形態の構成図である。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. First, the first embodiment will be described. FIG. 1 is a configuration diagram of a first embodiment of an electric circuit card test apparatus according to the present invention.
【0014】電気回路カード試験装置は、コンピュータ
システム内の電気回路カード、例えば制御カード10に
故障が発生した時の制御カード10の故障内容を記録す
る故障内容記録部1と、故障発生時にその制御カード1
0に対して試験プログラム20を実行させた時のエラー
内容を記録するエラー内容記録部2と、これらの記録内
容を基に修理後の制御カード10をシステムに組込み実
行する試験を選択する試験選択部3と、制御カード10
がシステムに組込まれたことを検出する組込検出部4
と、試験プログラム20が格納された試験プログラム格
納部5と、制御カード10がシステムに組込まれた時に
試験プログラム20を起動する試験起動部6と、組込ま
れた制御カード10が以前にシステム内に実装されてい
たか否かを識別する制御カード識別部7とからなる。An electric circuit card test apparatus includes a failure content recording unit 1 for recording the content of a failure of a control card 10 when a failure occurs in an electric circuit card, for example, a control card 10 in a computer system, Card 1
An error content recording unit 2 for recording the error content when the test program 20 is executed for 0, and a test selection for selecting a test for installing and executing the repaired control card 10 in the system based on the recorded content. Unit 3 and control card 10
Built-in detection unit 4 that detects that the system has been built into the system
A test program storage unit 5 in which a test program 20 is stored; a test start unit 6 for starting the test program 20 when the control card 10 is installed in the system; And a control card identification unit 7 for identifying whether or not it has been mounted.
【0015】次に、動作の詳細について説明する。図2
は電気回路カードに故障が発生した時の動作を示すフロ
ーチャート、図3及び図4は電気回路カードの修理完了
後の動作を示すフローチャートである。Next, the operation will be described in detail. FIG.
Is a flowchart showing the operation when a failure occurs in the electric circuit card, and FIGS. 3 and 4 are flowcharts showing the operation after the repair of the electric circuit card is completed.
【0016】なお、以下に説明する動作はコンピュータ
システムの不図示のCPU(中央処理装置)が予め用意
された電気回路カード試験装置制御用のプログラム30
に従って制御する。The operation described below is performed by an unillustrated CPU (Central Processing Unit) of the computer system, which is a program 30 for controlling an electric circuit card test apparatus prepared in advance.
Control according to
【0017】本発明の動作は故障発生時と修理完了後の
動作とに2分される。まず、故障発生時の動作から説明
する。The operation of the present invention is divided into two parts: the time when a failure occurs and the operation after the repair is completed. First, the operation when a failure occurs will be described.
【0018】図2を参照して、コンピュータシステム内
の制御カード10、例えば磁気ディスクの制御カード
や、コンピュータシステム間の通信制御カードが何らか
の原因で故障すると、CPU(不図示)は電気回路カー
ド試験装置制御用のプログラム30に従って制御カード
10の異常を検出する(S1)。Referring to FIG. 2, if a control card 10 in a computer system, for example, a control card for a magnetic disk, or a communication control card between computer systems fails for some reason, a CPU (not shown) tests the electric circuit card. An abnormality of the control card 10 is detected according to the device control program 30 (S1).
【0019】制御カード10の異常が検出されると、故
障内容記録部1により、その故障の内容が記録される
(S2)。通常、本故障内容は、オペレーティングシス
テムが管理するファイルの形式で固定ディスク等の記憶
装置上に記録される。When an abnormality of the control card 10 is detected, the content of the failure is recorded by the failure content recording unit 1 (S2). Normally, the details of the failure are recorded on a storage device such as a fixed disk in a file format managed by the operating system.
【0020】制御カード10に故障が検出されると、こ
の故障した制御カード10を修理する必要があるが、修
理する前に故障した制御カード10に対して試験プログ
ラム格納部5に格納された試験プログラム20を実行し
(S3)、その結果がエラー内容記録部2に記録され
る。本エラー記録は上記故障内容と同様に、固定ディス
ク等の記憶装置上にファイルの形式で保存される(S
4)。これで故障発生時の動作は終了となる。When a failure is detected in the control card 10, it is necessary to repair the failed control card 10. Before the repair, the test card stored in the test program storage 5 for the failed control card 10 is repaired. The program 20 is executed (S3), and the result is recorded in the error content recording unit 2. This error record is stored in the form of a file on a storage device such as a fixed disk in the same manner as the above-described failure content (S
4). The operation at the time of occurrence of a failure is thus completed.
【0021】なお、故障内容の記録(S2)の次に試験
プログラム20の実行(S3)及び結果をエラー内容記
録部に記録(S4)を行うよう構成したが、S3及びS
4の次にS2を行うよう構成してもよい。It should be noted that, after the recording of the failure contents (S2), the execution (S3) of the test program 20 and the recording of the result in the error contents recording section (S4) are performed.
After S4, S2 may be performed.
【0022】又、S3における試験プログラム20の実
行をオペレータが行うようにしてもよい。The test program 20 in S3 may be executed by an operator.
【0023】又、試験プログラム20は、制御カード1
0の故障箇所を識別するために、試験対象の制御カード
10の全機能を詳細に試験するように作成されており、
試験実行には比較的長い時間がかかるような構造になっ
ている。The test program 20 includes the control card 1
In order to identify the 0 fault location, all the functions of the control card 10 to be tested are created to be tested in detail.
The test is designed to take a relatively long time to execute.
【0024】又、オペレータ操作による試験プログラム
20の起動時にも、故障箇所がどこかを切り分けるため
に、試験プログラム20が有している全ての試験を実行
する。When the test program 20 is started by an operator's operation, all tests included in the test program 20 are executed in order to isolate the location of a failure.
【0025】しかし試験プログラム20は後述するよう
に、試験機能を選択実行できるような構成にしてあり、
試験を起動する際に部分的に試験を選択することが可能
である。However, as will be described later, the test program 20 is configured so that a test function can be selectively executed.
It is possible to select a test partially when launching the test.
【0026】さて、故障した制御カード10の故障状態
が判明すると、コンピュータシステムからこの制御カー
ド10を引き抜いて、この制御カード10を修理する。When the failure state of the failed control card 10 is found, the control card 10 is pulled out of the computer system and the control card 10 is repaired.
【0027】次に、制御カード10の修理完了後の動作
について説明する。図3を参照して、まず修理が完了し
た制御カード10を元のコンピュータシステムに実装す
る(S11)。Next, the operation after the repair of the control card 10 is completed will be described. Referring to FIG. 3, first, control card 10 whose repair is completed is mounted on the original computer system (S11).
【0028】修理が完了した制御カード10がコンピュ
ータシステムに実装されると、割り込みが発生し(S1
2)、この割り込みを契機に組込検出部4によって制御
カード10の組込みが認識される(S13)。When the repaired control card 10 is mounted on a computer system, an interrupt occurs (S1).
2) In response to the interruption, the installation of the control card 10 is recognized by the installation detecting unit 4 (S13).
【0029】制御カード10の組込みが認識されると、
試験起動部6によって試験プログラム20が起動される
(S14)。When the installation of the control card 10 is recognized,
The test program 20 is started by the test starting unit 6 (S14).
【0030】「試験プログラム20の起動」とは、試験
プログラム20が実行可能となるようにその試験プログ
ラム20を例えば不図示のメモリに格納することをい
う。"Activation of the test program 20" means to store the test program 20 in, for example, a memory (not shown) so that the test program 20 can be executed.
【0031】次に、図4を参照して、組込検出部4は、
制御カード識別部7を起動する(S15)。Next, referring to FIG. 4, the built-in detecting section 4
The control card identification unit 7 is started (S15).
【0032】制御カード識別部7は、組込まれた制御カ
ード10のシリアル番号等を参照し、組込まれた制御カ
ード10が以前システム内に実装されていたカードと同
一かどうかを識別し試験選択部3に通知する(S1
6)。The control card identification section 7 refers to the serial number of the embedded control card 10 and identifies whether the embedded control card 10 is the same as the card previously mounted in the system, and tests and selects a test selection section. 3 (S1)
6).
【0033】試験選択部300は制御カード識別部7か
らの通知を参照し、以前システム内に実装されていた制
御カード10と同一の制御カード10が組み込まれた場
合には、試験プログラム20のうち、修理後の確認に必
要な試験のみを選択して実行する。The test selecting section 300 refers to the notification from the control card identifying section 7 and, when the same control card 10 as the control card 10 previously mounted in the system is installed, the test program 20 And select and execute only the tests necessary for confirmation after repair.
【0034】そして、その試験結果をディスプレイ等の
出力装置に表示する(S18)。Then, the test result is displayed on an output device such as a display (S18).
【0035】なお、試験内容の選択は、故障内容記録部
1と、エラー内容記録部2によって記録された内容を基
にして行う。The test contents are selected based on the contents recorded by the failure content recording unit 1 and the error content recording unit 2.
【0036】ここで選択される試験は、制御カード10
が故障時に実行された試験プログラム20の全試験(S
3参照)のうち、制御カード10が故障したために不合
格になった試験(エラー内容記録部2に記録されてい
る)と、故障内容記録部1に記録された内容を解析した
結果、故障していると判断された機能に関する試験であ
る。The test selected here is the control card 10
All the tests (S
3), the test which failed because the control card 10 failed (recorded in the error content recording unit 2) and the content recorded in the failure content recording unit 1 were analyzed. This is a test related to the function determined to be
【0037】一方、制御カード識別部7からの通知の結
果、以前システム内に実装されていたカード10と異な
るカード11が実装されたと判定された場合には、通常
の試験プログラム20(例えば、全機能試験)を実行す
る(S21)。On the other hand, as a result of the notification from the control card identification unit 7, if it is determined that the card 11 different from the card 10 previously mounted in the system is mounted, the normal test program 20 (for example, A function test is performed (S21).
【0038】そして、その試験結果をディスプレイ等の
出力装置に表示する(S22)。これで、修理完了後の
動作は終了となる。Then, the test result is displayed on an output device such as a display (S22). This completes the operation after the completion of the repair.
【0039】なお、試験プログラムの起動(S14)の
次に制御カード10の識別(S15)を行うよう構成し
たが、S15の次にS14を行うよう構成してもよい。Although the control card 10 is identified (S15) after the test program is started (S14), S14 may be executed after S15.
【0040】次に、第2の実施の形態について説明す
る。図5は第2の実施の形態の構成図である。なお、図
1と同様の構成部分には同一番号を付し、その説明を省
略する。Next, a second embodiment will be described. FIG. 5 is a configuration diagram of the second embodiment. The same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
【0041】第2の実施の形態は前述した電気回路カー
ド試験装置制御用のプログラム30が記録された記録媒
体に関するものである。The second embodiment relates to a recording medium in which a program 30 for controlling the electric circuit card test apparatus described above is recorded.
【0042】この記録媒体を含む記録媒体駆動装置は、
コンピュータシステムのCPU13と、メモリ14と、
入力装置15と、出力装置16と、記録媒体17と、前
述の故障内容記録部1と、エラー内容記録部2と、試験
プログラム格納部5と、制御カード10とからなる。A recording medium driving device including this recording medium includes:
A CPU 13 of the computer system, a memory 14,
It comprises an input device 15, an output device 16, a recording medium 17, the above-described failure content recording unit 1, an error content recording unit 2, a test program storage unit 5, and a control card 10.
【0043】記録媒体17には前述したS1〜S4(図
2参照)、S11〜S18及びS21,S22(図3,
4参照)の処理をコンピュータ(CPU13)に実行さ
せるためのプログラム30が記録されている。In the recording medium 17, S1 to S4 (see FIG. 2), S11 to S18 and S21 and S22 (see FIG.
4) is recorded on the computer 30 for causing the computer (CPU 13) to execute the process of FIG.
【0044】いま、この記録媒体17に記録されたプロ
グラム30がCPU13によって読込まれると、CPU
13はその読込んだプログラム30をメモリ14に書込
む。これでプログラム30のロードは終了となる。Now, when the program 30 recorded on the recording medium 17 is read by the CPU 13,
13 writes the read program 30 into the memory 14. This completes the loading of the program 30.
【0045】次に、入力装置15からの命令によりCP
U13はメモリ14よりプログラム30を読出し、その
プログラム30に従って前述の処理S1〜S4(図2参
照)、S11〜S18及びS21,S22(図3,4参
照)を実行する。なお、試験の結果は出力装置16に表
示される。Next, according to a command from the input device 15, the CP
The U13 reads the program 30 from the memory 14, and executes the above-described processes S1 to S4 (see FIG. 2), S11 to S18, and S21 and S22 (see FIGS. 3 and 4) according to the program 30. The results of the test are displayed on the output device 16.
【0046】次に、本発明の第1の実施の形態の実施例
について説明する。Next, an example of the first embodiment of the present invention will be described.
【0047】[0047]
【実施例】図6は制御カード10が組込まれるコンピュ
ータシステムの全体構成図である。FIG. 6 is an overall block diagram of a computer system in which a control card 10 is incorporated.
【0048】同図を参照して、コンピュータシステム
は、システムバス41に接続されたCPU42及び制御
カード10と、制御カード10に接続されたディスク装
置45とからなる。Referring to FIG. 2, the computer system includes a CPU 42 and a control card 10 connected to a system bus 41, and a disk device 45 connected to the control card 10.
【0049】又、制御カード10はシステムバス41に
存在するシステムポート1133のインタフェースレジ
スタ46と、内部に設けられた不図示のRAM(Ran
dom Access Memory)の読書き(リー
ド/ライト)を行うリード/ライト部47と、ディスク
装置45に対しデータのリード/ライトを行うデータリ
ード/ライト部48とからなる。The control card 10 includes an interface register 46 of a system port 1133 present on the system bus 41 and a RAM (Ran
It comprises a read / write unit 47 for reading / writing (read / write) of a dom access memory, and a data read / write unit 48 for reading / writing data to / from the disk device 45.
【0050】図7は試験プログラム20の構成図であ
る。試験プログラム20は試験対象の制御カード10に
対応させて構成されている。FIG. 7 is a configuration diagram of the test program 20. The test program 20 is configured to correspond to the control card 10 to be tested.
【0051】即ち、同図を参照して試験プログラム20
はインタフェースレジスタ46をテストするためのイン
タフェースレジスタ・テスト51と、RAMをテストす
るためのRAMリード/ライト・テスト52と、データ
リード/ライト部48をテストするためのデータリード
/ライト・テスト53とからなる。That is, referring to FIG.
Are an interface register test 51 for testing the interface register 46, a RAM read / write test 52 for testing the RAM, a data read / write test 53 for testing the data read / write unit 48, Consists of
【0052】次に、故障内容記録部1に記録されるメッ
セージの一例について説明する。図8〜図11は故障内
容記録部1に記録されるメッセージの一例を示す図であ
る。Next, an example of a message recorded in the failure content recording unit 1 will be described. 8 to 11 are diagrams showing an example of a message recorded in the failure content recording unit 1.
【0053】図8はシステムポート1133番でタイム
アウトになったことを示すメッセージ61の一例を示す
図である。FIG. 8 is a diagram showing an example of a message 61 indicating that a timeout has occurred at the system port 1133.
【0054】図9はインタフェースレジスタ46の読出
しに失敗したことを示すメッセージ62の一例を示す図
である。FIG. 9 shows an example of a message 62 indicating that reading of the interface register 46 has failed.
【0055】図10は内部RAMのアクセスでパリティ
エラーが発生したことを示すメッセージ63の一例を示
す図である。FIG. 10 is a view showing an example of a message 63 indicating that a parity error has occurred in accessing the internal RAM.
【0056】図11はディスク装置45のアクセスでパ
リティエラーが発生したことを示すメッセージ64の一
例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing an example of a message 64 indicating that a parity error has occurred by accessing the disk device 45.
【0057】次に、エラー内容記録部2に記録されるメ
ッセージの一例について説明する。図12〜図14はエ
ラー内容記録部2に記録されるメッセージの一例を示す
図である。Next, an example of a message recorded in the error content recording section 2 will be described. 12 to 14 are diagrams showing an example of a message recorded in the error content recording unit 2.
【0058】図12はテスト1(インタフェースレジス
タ・テスト51)のテスト結果を示すメッセージ71の
一例を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing an example of a message 71 indicating the test result of test 1 (interface register test 51).
【0059】これは、エラーアドレスがC1で期待値が
FFであるが、テスト結果はFEであり期待値と異なる
ことを示している。This indicates that the error address is C1 and the expected value is FF, but the test result is FE and different from the expected value.
【0060】図13はテスト2(RAMリード/ライト
・テスト52)のテスト結果を示すメッセージ72の一
例を示す図である。FIG. 13 shows an example of a message 72 indicating the test result of test 2 (RAM read / write test 52).
【0061】これは、エラーアドレスがD2で期待値が
F2であるが、テスト結果はF1であり期待値と異なる
ことを示している。This indicates that although the error address is D2 and the expected value is F2, the test result is F1 and is different from the expected value.
【0062】図14はテスト3(データリード/ライト
・テスト53)のテスト結果を示すメッセージ73の一
例を示す図である。FIG. 14 shows an example of a message 73 indicating the test result of test 3 (data read / write test 53).
【0063】これは、エラーアドレスがE1で期待値が
F5であるが、テスト結果はF6であり期待値と異なる
ことを示している。This indicates that the error address is E1 and the expected value is F5, but the test result is F6, which is different from the expected value.
【0064】次に、この制御カード10の試験の具体的
内容について説明する。Next, the specific contents of the test of the control card 10 will be described.
【0065】まず、故障発生時のフローチャート(図
2)に従って説明する。図2を参照して、制御カード1
0の異常が検出されると(S1)、故障内容記録部1に
内容が記録される(S2)。First, a description will be given with reference to a flowchart (FIG. 2) when a failure occurs. Referring to FIG. 2, control card 1
When an abnormality of 0 is detected (S1), the content is recorded in the failure content recording unit 1 (S2).
【0066】このとき、故障内容記録部1には図8〜図
11に示すメッセージ61〜64のいずれかが記録され
る。At this time, any one of the messages 61 to 64 shown in FIGS. 8 to 11 is recorded in the failure content recording unit 1.
【0067】次に、試験プログラム20が試験選択部3
により実行される(S3)。この段階では試験プログラ
ム20の全て(テスト1〜3の全て)が実行される。Next, the test program 20 sets the test selection unit 3
(S3). At this stage, all of the test programs 20 (all of the tests 1 to 3) are executed.
【0068】そして、試験の結果がエラー内容記録部2
に記録される。このとき、エラー内容記録部2にはメッ
セージ71〜73のいずれかが記録される。ここで、注
目すべきことはエラー内容記録部2に記録されるメッセ
ージ71〜73の方が故障内容記録部1に記録されるメ
ッセージ61〜64よりも情報が具体的であることであ
る。The result of the test is stored in the error content recording unit 2
Will be recorded. At this time, any of the messages 71 to 73 is recorded in the error content recording unit 2. Here, it should be noted that the information of the messages 71 to 73 recorded in the error content recording unit 2 is more specific than the messages 61 to 64 recorded in the failure content recording unit 1.
【0069】エラー内容記録部2に記録されるメッセー
ジ71〜73にはテスト結果の具体的数値が示されてい
るからである。This is because the messages 71 to 73 recorded in the error content recording unit 2 indicate specific numerical values of the test results.
【0070】次に、修理完了時のフローチャート(図3
及び図4)に従って説明する。まず、制御カード10が
修理完了した制御カードである場合から説明する。Next, a flowchart at the time of repair completion (FIG. 3)
And FIG. 4). First, the case where the control card 10 is a repaired control card will be described.
【0071】まず、その修理完了した制御カード10を
システムに実装する(S11)。すると、割込みが発生
し(S12)、組込み検出部4にて制御カード10の組
込みが検出されると(S13)、組込み検出部4は試験
プログラム20を起動する(S14)。First, the repaired control card 10 is mounted on the system (S11). Then, an interrupt occurs (S12), and when the installation of the control card 10 is detected by the installation detection unit 4 (S13), the installation detection unit 4 starts the test program 20 (S14).
【0072】次に、組込み検出部4は制御カード10を
識別する。この制御カード10は修理完了後の制御カー
ド、即ち、以前実装されていた制御カードであるから
(S16)、試験選択部3は試験プログラム20を選択
する(S17)。Next, the built-in detector 4 identifies the control card 10. Since the control card 10 is the control card after the repair is completed, that is, the control card that has been previously mounted (S16), the test selecting unit 3 selects the test program 20 (S17).
【0073】次に、試験選択部3にてどのような試験プ
ログラム20が選択されるかについて説明する。Next, what test program 20 is selected by the test selecting section 3 will be described.
【0074】まず、故障内容記録部1にメッセージ61
が記録され、エラー内容記録部2にメッセージ71が記
録された場合について説明する。First, the message 61 is stored in the failure content recording unit 1.
Will be described, and the message 71 is recorded in the error content recording unit 2.
【0075】故障内容記録部1にメッセージ61が記録
される場合は制御カード10のインタフェースレジスタ
46、RAMリード/ライト部47及びデータリード/
ライト部48のいずれかが故障しているがこれらのうち
のどれが故障しているのかまでは判断できないことを示
している。When the message 61 is recorded in the failure content recording section 1, the interface register 46 of the control card 10, the RAM read / write section 47 and the data read / write
This indicates that any one of the light units 48 has failed, but it is not possible to determine which of them has failed.
【0076】一方、エラー内容記録部2にメッセージ7
1が記録されている場合はインタフェースレジスタ46
にエラーがあることを示している。On the other hand, the message 7 is stored in the error content recording unit 2.
If 1 is recorded, the interface register 46
Has an error.
【0077】この時、試験選択部3はインタフェースレ
ジスタ46にエラーがある可能性が高いものの、故障内
容記録部1にメッセージ61が記録されていることから
試験プログラム20の全てのテスト(テスト1〜3の全
て)を選択しテストする(S17)。At this time, although there is a high possibility that the interface register 46 has an error, the test selecting section 3 records all the tests (test 1 to test 1) of the test program 20 because the message 61 is recorded in the failure content recording section 1. 3) is selected and tested (S17).
【0078】そして、そのテスト結果を出力装置16に
表示する(S18)。Then, the test result is displayed on the output device 16 (S18).
【0079】一方、故障内容記録部1にメッセージ61
が記録され、エラー内容記録部2にメッセージ72又は
73が記録されている場合もこれと同様の処理を行う。On the other hand, the message 61
Is recorded, and the same processing is performed when the message 72 or 73 is recorded in the error content recording unit 2.
【0080】即ち、メッセージ72が記録されている場
合はリード/ライト部47にエラーがあることを示して
おり、メッセージ73が記録されている場合はデータリ
ード/ライト部48にエラーがあることを示している
が、念のため試験プログラム20の全てのテストを実行
するのである。That is, when the message 72 is recorded, it indicates that there is an error in the read / write unit 47. When the message 73 is recorded, it is indicated that there is an error in the data read / write unit 48. As shown, all the tests of the test program 20 are executed just in case.
【0081】次に、故障内容記録部1にメッセージ62
が記録され、エラー内容記録部2にメッセージ71が記
録された場合について説明する。Next, the message 62 is stored in the failure content recording unit 1.
Will be described, and the message 71 is recorded in the error content recording unit 2.
【0082】この場合、試験選択部3はインタフェース
レジスタ46が故障と判断し、インタフェースレジスタ
・テスト51を選択しテストする。In this case, the test selecting section 3 determines that the interface register 46 has failed, and selects and tests the interface register test 51.
【0083】そして、そのテスト結果を出力装置16に
表示する(S18)。Then, the test result is displayed on the output device 16 (S18).
【0084】次に、故障内容記録部1にメッセージ63
が記録され、エラー内容記録部2にメッセージ72が記
録された場合について説明する。Next, the message 63 is stored in the failure content recording unit 1.
Will be described, and the message 72 is recorded in the error content recording unit 2.
【0085】この場合、試験選択部3はRAMリード/
ライト部47が故障と判断し、RAMリード/ライト・
テスト52を選択しテストする。In this case, the test selecting unit 3 sets the RAM read /
The write unit 47 determines that a failure has occurred, and the RAM read / write
Test 52 is selected and tested.
【0086】そして、そのテスト結果を出力装置16に
表示する(S18)。Then, the test result is displayed on the output device 16 (S18).
【0087】次に、故障内容記録部1にメッセージ64
が記録され、エラー内容記録部2にメッセージ73が記
録された場合について説明する。Next, a message 64 is stored in the failure content recording unit 1.
Is recorded, and the message 73 is recorded in the error content recording unit 2.
【0088】この場合、試験選択部3はデータリード/
ライト部48が故障と判断し、データリード/ライト・
テスト53を選択しテストする。In this case, the test selecting unit 3 sets the data read /
The write unit 48 determines that a failure has occurred, and the data read / write
Test 53 is selected and tested.
【0089】そして、そのテスト結果を出力装置16に
表示する(S18)。Then, the test result is displayed on the output device 16 (S18).
【0090】一方、メッセージ62〜64とメッセージ
71〜73の他の組合わせも考えられるが、このような
場合は殆ど発生しないと考えられるため説明を省略す
る。On the other hand, other combinations of the messages 62 to 64 and the messages 71 to 73 are also conceivable.
【0091】仮にこのような組合わせが発生した場合
は、その組合わせの内容からどのテストを実行すべきか
をオペレータが判断するか、又は試験プログラム20の
テスト1〜3の全てを実行すべきと考えられる。If such a combination occurs, it is necessary for the operator to determine which test should be executed from the contents of the combination, or to execute all of the tests 1 to 3 of the test program 20. Conceivable.
【0092】次に、処理S16(図4参照)に戻り、制
御カード10が修理完了した制御カードではない場合に
ついて説明する。Next, returning to step S16 (see FIG. 4), a case where the control card 10 is not a repaired control card will be described.
【0093】このとき、試験選択部3は試験プログラム
20の全て(テスト1〜3の全て)を実行する(S2
1)。At this time, the test selecting section 3 executes all of the test programs 20 (all of the tests 1 to 3) (S2
1).
【0094】そして、そのテスト結果を出力装置16に
表示する(S22)。Then, the test result is displayed on the output device 16 (S22).
【0095】[0095]
【発明の効果】第1の発明によれば、コンピュータシス
テムを構成する装置に挿抜自在な電気回路カードの試験
を行う電気回路カード試験装置であって、その電気回路
カード試験装置を前記電気回路カードの故障内容を分析
する故障内容分析手段と、前記電気回路カードの試験プ
ログラムが格納された試験プログラム格納手段と、前記
故障内容分析手段での分析結果に基づき前記試験プログ
ラム格納手段に格納された試験プログラムより必要な試
験機能のみを選択して修理後の前記電気回路カードの試
験を行う試験実行手段とを含んで構成したため、電気回
路カードの故障内容を分析し、分析結果に基づき試験プ
ログラムより必要な試験機能のみを選択して電気回路カ
ードの試験を行うため、無駄な試験を排除することがで
き、もって電気回路カードの正常性の確認を比較的短時
間で行うことが可能な電気回路カード試験装置が得られ
る。According to the first aspect of the present invention, there is provided an electric circuit card tester for testing an electric circuit card which can be inserted into and removed from a device constituting a computer system, and the electric circuit card tester is connected to the electric circuit card Failure content analysis means for analyzing the details of the failure, a test program storage means for storing a test program for the electric circuit card, and a test stored in the test program storage means based on the analysis result of the failure content analysis means. A test execution means for selecting only a necessary test function from the program and testing the electric circuit card after repair; analyzing the failure content of the electric circuit card; The test of the electric circuit card is performed by selecting only the necessary test functions, so that unnecessary tests can be eliminated. Relatively short time can perform electrical circuit card testing device to confirm the normality of the card is obtained.
【0096】第2の発明によれば、コンピュータシステ
ムを構成する装置に挿抜自在な電気回路カードの試験を
行う電気回路カード試験方法であって、その電気回路カ
ード試験方法を前記電気回路カードの故障内容を分析す
る第1処理と、この第1処理での分析結果に基づき試験
プログラムより必要な試験機能のみを選択して修理後の
前記電気回路カードの試験を行う第2処理とを含んで構
成したため、第1の発明と同様の効果を奏する電気回路
カード試験方法が得られる。According to a second aspect of the present invention, there is provided an electric circuit card test method for testing an electric circuit card which can be inserted into and removed from a device constituting a computer system. A first process for analyzing the contents, and a second process for selecting only necessary test functions from a test program based on the analysis result of the first process and testing the electric circuit card after repair. Therefore, an electric circuit card test method having the same effects as the first invention can be obtained.
【0097】第3の発明によれば、コンピュータシステ
ムを構成する装置に挿抜自在な電気回路カードの試験を
行う電気回路カード試験方法を実行させるための制御プ
ログラムを記録した記録媒体であって、その記録媒体を
前記電気回路カードの故障内容を分析する第1処理と、
この第1処理での分析結果に基づき試験プログラムより
必要な試験機能のみを選択して修理後の前記電気回路カ
ードの試験を行う第2処理とを実行させるためのプログ
ラムを記録した記録媒体で構成したため、第1の発明と
同様の効果を奏する記録媒体が得られる。According to the third aspect of the present invention, there is provided a recording medium storing a control program for causing an apparatus constituting a computer system to execute an electric circuit card test method for testing an electric circuit card which can be inserted and removed. A first process of analyzing a recording medium for a failure content of the electric circuit card;
It is composed of a recording medium storing a program for executing only a necessary test function from a test program based on an analysis result in the first process and performing a second process for testing the electric circuit card after repair. Therefore, a recording medium having the same effects as the first invention can be obtained.
【図1】本発明に係る電気回路カード試験装置の第1の
実施の形態の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of a first embodiment of an electric circuit card test apparatus according to the present invention.
【図2】電気回路カードに故障が発生した時の動作を示
すフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart illustrating an operation when a failure occurs in an electric circuit card.
【図3】電気回路カードの修理完了後の動作を示すフロ
ーチャートである。FIG. 3 is a flowchart showing an operation after repair of the electric circuit card is completed.
【図4】電気回路カードの修理完了後の動作を示すフロ
ーチャートである。FIG. 4 is a flowchart showing an operation after repair of the electric circuit card is completed.
【図5】第2の実施の形態の構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram of a second embodiment.
【図6】制御カードが組込まれるコンピュータシステム
の全体構成図である。FIG. 6 is an overall configuration diagram of a computer system into which a control card is incorporated.
【図7】試験プログラムの構成図である。FIG. 7 is a configuration diagram of a test program.
【図8】システムポート1133番でタイムアウトにな
ったことを示すメッセージ61の一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an example of a message 61 indicating that a timeout has occurred at system port 1133;
【図9】インタフェースレジスタ46の読出しに失敗し
たことを示すメッセージ62の一例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing an example of a message 62 indicating that reading of the interface register 46 has failed.
【図10】内部RAMのアクセスでパリティエラーが発
生したことを示すメッセージ63の一例を示す図であ
る。FIG. 10 is a diagram showing an example of a message 63 indicating that a parity error has occurred in accessing the internal RAM.
【図11】ディスク装置45のアクセスでパリティエラ
ーが発生したことを示すメッセージ64の一例を示す図
である。FIG. 11 is a diagram showing an example of a message 64 indicating that a parity error has occurred during access to the disk device 45.
【図12】テスト1(インタフェースレジスタ・テスト
51)のテスト結果を示すメッセージ71の一例を示す
図である。FIG. 12 is a diagram showing an example of a message 71 indicating a test result of test 1 (interface register test 51).
【図13】テスト2(RAMリード/ライト・テスト5
2)のテスト結果を示すメッセージ72の一例を示す図
である。FIG. 13 shows test 2 (RAM read / write test 5).
It is a figure showing an example of message 72 showing the test result of 2).
【図14】テスト3(データリード/ライト・テスト5
3)のテスト結果を示すメッセージ73の一例を示す図
である。FIG. 14 shows test 3 (data read / write test 5).
It is a figure showing an example of message 73 showing the test result of 3).
1 故障内容記録部 2 エラー内容記録部 3 試験選択部 4 組込検出部 5 試験プログラム格納部 6 試験起動部 7 制御カード識別部 10 制御カード 13 CPU 14 メモリ 15 入力装置 16 出力装置 17 記録媒体 20 試験プログラム 30 装置制御用プログラム 46 インタフェースレジスタ 47 リード/ライト部 48 データリード/ライト部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Failure content recording part 2 Error content recording part 3 Test selection part 4 Built-in detection part 5 Test program storage part 6 Test starting part 7 Control card identification part 10 Control card 13 CPU 14 Memory 15 Input device 16 Output device 17 Recording medium 20 Test program 30 Device control program 46 Interface register 47 Read / write unit 48 Data read / write unit
Claims (27)
挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電気回路カード
試験装置であって、 前記電気回路カードの故障内容を分析する故障内容分析
手段と、前記電気回路カードの試験プログラムが格納さ
れた試験プログラム格納手段と、前記故障内容分析手段
での分析結果に基づき前記試験プログラム格納手段に格
納された試験プログラムより必要な試験機能のみを選択
して修理後の前記電気回路カードの試験を行う試験実行
手段とを含むことを特徴とする電気回路カード試験装
置。1. An electric circuit card test apparatus for testing an electric circuit card which can be inserted into and removed from an apparatus constituting a computer system, comprising: a failure content analyzing means for analyzing a failure content of the electric circuit card; A test program storing means storing a test program of the card, and selecting only necessary test functions from a test program stored in the test program storing means based on an analysis result by the failure content analyzing means, and performing the repair after the repair. An electric circuit card test apparatus, comprising: a test execution unit for testing an electric circuit card.
ータシステムに組込まれた電気回路カードを識別する識
別手段を含み、この識別手段により電気回路カードが前
記修理後の電気回路カードであることが判明した場合、
前記試験プログラムより必要な試験機能のみを選択して
前記電気回路カードの試験を行うことを特徴とする請求
項1記載の電気回路カード試験装置。2. The test execution means further includes identification means for identifying an electric circuit card incorporated in the computer system, and the identification means has revealed that the electric circuit card is the repaired electric circuit card. If
2. The electric circuit card test apparatus according to claim 1, wherein the electric circuit card is tested by selecting only necessary test functions from the test program.
ータシステムに組込まれた電気回路カードを識別する識
別手段を含み、この識別手段により電気回路カードが前
記修理後の電気回路カードと異なるカードであることが
判明した場合、前記試験プログラムの全試験機能の試験
を行うことを特徴とする請求項1記載の電気回路カード
試験装置。3. The test execution means further includes identification means for identifying an electric circuit card incorporated in the computer system, and the identification means makes the electric circuit card different from the repaired electric circuit card. 2. The electric circuit card test apparatus according to claim 1, wherein when the test is determined, all test functions of the test program are tested.
録されたシリアル番号により前記電気回路カードを識別
することを特徴とする請求項2又は3記載の電気回路カ
ード試験装置。4. The electric circuit card test apparatus according to claim 2, wherein said identification means identifies said electric circuit card by a serial number recorded on said electric circuit card.
録する故障内容記録部と、前記電気回路カードを前記試
験プログラムにより試験した結果を記録するエラー内容
記録部とからなることを特徴とする請求項1〜4いずれ
かに記載の電気回路カード試験装置。5. The failure content analysis means comprises a failure content recording unit for recording the content of a failure, and an error content recording unit for recording a result of testing the electric circuit card by the test program. An electric circuit card test apparatus according to claim 1.
グラムの全試験機能を試験した結果が記録されることを
特徴とする請求項5記載の電気回路カード試験装置。6. The electric circuit card test apparatus according to claim 5, wherein a result of testing all test functions of the test program is recorded in the error content recording section.
信を仲介するインタフェース部と、内部メモリの読書き
を行うリード/ライト部と、外部端末とのデータ送受信
を行うデータ送受信部とを含むことを特徴とする請求項
1〜6いずれかに記載の電気回路カード試験装置。7. The electric circuit card includes an interface unit for mediating transmission and reception of input data, a read / write unit for reading / writing an internal memory, and a data transmission / reception unit for transmitting / receiving data to / from an external terminal. The electric circuit card test apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein:
前記インタフェース部の試験を行う第1テストと、前記
リード/ライト部の試験を行う第2テストと、前記デー
タ送受信部の試験を行う第3テストとを含むことを特徴
とする請求項7記載の電気回路カード試験装置。8. The test program for the electric circuit card includes a first test for testing the interface unit, a second test for testing the read / write unit, and a third test for testing the data transmission / reception unit. The electric circuit card test apparatus according to claim 7, comprising:
システムの電源がオンの状態で挿抜が可能な活性挿抜カ
ードであることを特徴とする請求項1〜8いずれかに記
載の電気回路カード試験装置。9. The electric circuit card test apparatus according to claim 1, wherein the electric circuit card is an active insertion / extraction card that can be inserted / extracted while a power supply of the computer system is turned on.
に挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電気回路カー
ド試験方法であって、 前記電気回路カードの故障内容を分析する第1処理と、
この第1処理での分析結果に基づき試験プログラムより
必要な試験機能のみを選択して修理後の前記電気回路カ
ードの試験を行う第2処理とを含むことを特徴とする電
気回路カード試験方法。10. An electric circuit card test method for testing an electric circuit card that can be inserted into and removed from a device constituting a computer system, comprising: a first process for analyzing a failure content of the electric circuit card;
A second process of selecting only necessary test functions from a test program based on the analysis result of the first process and testing the repaired electric circuit card.
テムに組込まれた電気回路カードを識別する第3処理
と、この第3処理により電気回路カードが前記修理後の
電気回路カードであることが判明した場合、前記試験プ
ログラムより必要な試験機能のみを選択して前記電気回
路カードの試験を行う第4処理とからなることを特徴と
する請求項10記載の電気回路カード試験方法。11. The second processing is a third processing for identifying an electric circuit card incorporated in the computer system, and the third processing has revealed that the electric circuit card is the electric circuit card after the repair. 11. The electric circuit card test method according to claim 10, further comprising: a fourth process of selecting only necessary test functions from the test program and testing the electric circuit card.
テムに組込まれた電気回路カードを識別する第3処理
と、この第3処理により電気回路カードが前記修理後の
電気回路カードと異なるカードであることが判明した場
合、前記試験プログラムの全試験機能の試験を行う第5
処理とからなることを特徴とする請求項10記載の電気
回路カード試験方法。12. The second processing is a third processing for identifying an electric circuit card incorporated in the computer system, and the electric circuit card is different from the repaired electric circuit card by the third processing. If the test is found, a fifth test for testing all test functions of the test program is performed.
11. The method for testing an electric circuit card according to claim 10, comprising a process.
記録されたシリアル番号により前記電気回路カードを識
別することを特徴とする請求項11又は12記載の電気
回路カード試験方法。13. The electric circuit card test method according to claim 11, wherein the third processing identifies the electric circuit card by a serial number recorded on the electric circuit card.
第6処理と、前記電気回路カードを前記試験プログラム
により試験した結果を記録する第7処理とからなること
を特徴とする請求項10〜13いずれかに記載の電気回
路カード試験方法。14. The method according to claim 10, wherein the first processing includes a sixth processing for recording a failure content and a seventh processing for recording a result of testing the electric circuit card by the test program. 14. The method for testing an electric circuit card according to any one of claims 13 to 13.
の全試験機能を試験した結果が記録されることを特徴と
する請求項14記載の電気回路カード試験方法。15. The electric circuit card test method according to claim 14, wherein a result of testing all test functions of the test program is recorded in the seventh processing.
受信を仲介するインタフェース部と、内部メモリの読書
きを行うリード/ライト部と、外部端末とのデータ送受
信を行うデータ送受信部とを含むことを特徴とする請求
項10〜15いずれかに記載の電気回路カード試験方
法。16. The electric circuit card according to claim 1, further comprising: an interface unit for mediating transmission / reception of input data, a read / write unit for reading / writing an internal memory, and a data transmission / reception unit for transmitting / receiving data to / from an external terminal. The electric circuit card test method according to any one of claims 10 to 15, wherein:
は前記インタフェース部の試験を行う第1テストと、前
記リード/ライト部の試験を行う第2テストと、前記デ
ータ送受信部の試験を行う第3テストとを含むことを特
徴とする請求項16記載の電気回路カード試験方法。17. The test program for the electric circuit card, wherein a first test for testing the interface unit, a second test for testing the read / write unit, and a third test for testing the data transmission / reception unit. 17. The electric circuit card test method according to claim 16, comprising:
タシステムの電源がオンの状態で挿抜が可能な活性挿抜
カードであることを特徴とする請求項10〜17いずれ
かに記載の電気回路カード試験方法。18. The electric circuit card test method according to claim 10, wherein the electric circuit card is an active insertion / removal card that can be inserted / extracted while the power of the computer system is on.
に挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電気回路カー
ド試験方法を実行させるための制御プログラムを記録し
た記録媒体であって、 前記電気回路カードの故障内容を分析する第1処理と、
この第1処理での分析結果に基づき試験プログラムより
必要な試験機能のみを選択して修理後の前記電気回路カ
ードの試験を行う第2処理とを実行させるための制御プ
ログラムを記録したことを特徴とする記録媒体。19. A recording medium storing a control program for executing an electric circuit card test method for testing an electric circuit card which can be inserted into and removed from a device constituting a computer system, wherein a failure content of the electric circuit card is recorded. A first process for analyzing
A control program for executing only a necessary test function from a test program based on an analysis result in the first process and performing a second process for testing the electric circuit card after repair is recorded. Recording medium.
テムに組込まれた電気回路カードを識別する第3処理
と、この第3処理により電気回路カードが前記修理後の
電気回路カードであることが判明した場合、前記試験プ
ログラムより必要な試験機能のみを選択して前記電気回
路カードの試験を行う第4処理とからなることを特徴と
する請求項19記載の記録媒体。20. The second processing for identifying an electric circuit card incorporated in the computer system, and the third processing has revealed that the electric circuit card is the electric circuit card after the repair. 20. The recording medium according to claim 19, further comprising: a fourth process of selecting only necessary test functions from the test program and testing the electric circuit card.
テムに組込まれた電気回路カードを識別する第3処理
と、この第3処理により電気回路カードが前記修理後の
電気回路カードと異なるカードであることが判明した場
合、前記試験プログラムの全試験機能の試験を行う第5
処理とからなることを特徴とする請求項19記載の記録
媒体。21. The second process for identifying an electric circuit card incorporated in the computer system, and the electric circuit card is different from the repaired electric circuit card by the third process. If the test is found, a fifth test for testing all test functions of the test program is performed.
20. The recording medium according to claim 19, comprising processing.
記録されたシリアル番号により前記電気回路カードを識
別することを特徴とする請求項20又は21記載の記録
媒体。22. The recording medium according to claim 20, wherein the third processing identifies the electric circuit card by a serial number recorded on the electric circuit card.
第6処理と、前記電気回路カードを前記試験プログラム
により試験した結果を記録する第7処理とからなること
を特徴とする請求項19〜22いずれかに記載の記録媒
体。23. The apparatus according to claim 19, wherein the first processing includes a sixth processing for recording a failure content and a seventh processing for recording a result of testing the electric circuit card by the test program. 23. The recording medium according to any one of to 22.
の全試験機能を試験した結果が記録されることを特徴と
する請求項23記載の記録媒体。24. The recording medium according to claim 23, wherein a result of testing all test functions of said test program is recorded in said seventh processing.
受信を仲介するインタフェース部と、内部メモリの読書
きを行うリード/ライト部と、外部端末とのデータ送受
信を行うデータ送受信部とを含むことを特徴とする請求
項19〜24いずれかに記載の記録媒体。25. The electric circuit card, comprising: an interface unit for mediating transmission / reception of input data; a read / write unit for reading / writing an internal memory; and a data transmission / reception unit for transmitting / receiving data to / from an external terminal. The recording medium according to any one of claims 19 to 24, wherein:
は前記インタフェース部の試験を行う第1テストと、前
記リード/ライト部の試験を行う第2テストと、前記デ
ータ送受信部の試験を行う第3テストとを含むことを特
徴とする請求項25記載の記録媒体。26. A test program for testing the electric circuit card, wherein a first test for testing the interface unit, a second test for testing the read / write unit, and a third test for testing the data transmitting / receiving unit. 26. The recording medium according to claim 25, comprising:
タシステムの電源がオンの状態で挿抜が可能な活性挿抜
カードであることを特徴とする請求項19〜26いずれ
かに記載の記録媒体。27. The recording medium according to claim 19, wherein the electric circuit card is an active insertion / extraction card that can be inserted / extracted while the power of the computer system is on.
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---|---|---|---|
JP11766798A JP3201342B2 (en) | 1998-04-28 | 1998-04-28 | Electric circuit card test apparatus and test method, and recording medium recording control program for the test method |
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JPH11312096A true JPH11312096A (en) | 1999-11-09 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011034229A1 (en) * | 2009-09-18 | 2011-03-24 | 한국건설교통기술평가원 | System and method for assessing the suitability of a compatible transportation card terminal |
WO2011081243A1 (en) * | 2009-12-29 | 2011-07-07 | 한국건설교통기술평가원 | System for evaluating the reading performance of a transportation card reader |
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1998
- 1998-04-28 JP JP11766798A patent/JP3201342B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2011034229A1 (en) * | 2009-09-18 | 2011-03-24 | 한국건설교통기술평가원 | System and method for assessing the suitability of a compatible transportation card terminal |
WO2011081243A1 (en) * | 2009-12-29 | 2011-07-07 | 한국건설교통기술평가원 | System for evaluating the reading performance of a transportation card reader |
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