JPH11305267A - アクティブマトリクス基板およびその製造方法ならびに液晶パネルおよびそれを用いた電子機器 - Google Patents

アクティブマトリクス基板およびその製造方法ならびに液晶パネルおよびそれを用いた電子機器

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JPH11305267A
JPH11305267A JP11394398A JP11394398A JPH11305267A JP H11305267 A JPH11305267 A JP H11305267A JP 11394398 A JP11394398 A JP 11394398A JP 11394398 A JP11394398 A JP 11394398A JP H11305267 A JPH11305267 A JP H11305267A
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conductive film
insulating film
film
active matrix
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Hisatoshi Nakamura
久寿 中村
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構造のスイッチング素子を用いること
ができ、液晶基板におけるスイッチング素子の占める面
積の割合が小さく、流れる電流方向によってスイッチン
グ素子の特性が殆ど変化しないアクティブマトリクス基
板を提供する。 【解決手段】 基板22と、この基板22上に所定のパ
ターンで配設された信号線と、この信号線に接続された
TFD素子30と、このTFD素子30が接続された画
素電極と、を備えるアクティブマトリクス基板20であ
る。このアクティブマトリクス基板20に用いられるT
FD素子30は、所定の導電体からなる第1の導電膜3
2と、第1の導電膜32の表面を覆う素子絶縁膜38
と、素子絶縁膜38の表面を覆い第1の導電膜32の上
方に形成された貫通口35を有する非素子絶縁膜34
と、素子絶縁膜38に接触するとともに貫通口35を覆
い第1の導電膜32と同一の導電体からなる第2の導電
膜40とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アクティブマトリ
クス基板およびその製造方法ならびに反射型液晶パネル
およびそれを用いた電子機器に関する。
【0002】
【背景技術および発明が解決しようとする課題】単独の
2端子型非線形素子を各画素のスイッチング素子として
用いたアクティブマトリクス液晶パネルにおいては、2
端子型非線形素子の特性が流れる電流の方向によって変
化するため、表示品質に悪影響を及ぼすという問題があ
る。
【0003】そこで、ほぼ同一特性の2端子型非線形素
子を2つ用い、対応する端子同士を接続して直列接続し
た構造(いわゆるback-to-back構造)とすることによっ
て、直列接続された2つの2端子型非線形素子一体とし
ては、電流の向きによって殆ど特性が変化しないように
することが一般的に行われている。
【0004】ところが、このように2つの2端子型非線
形素子を用いると、構造が複雑になるとともに、スイッ
チング素子が素子基板上で占める面積が増して液晶パネ
ルの開口率を低下させることにもつながっていた。
【0005】本発明は、上記のような問題点に鑑みてな
されたものであって、その目的は、簡単な構造のスイッ
チング素子を用いることができ、液晶基板におけるスイ
ッチング素子の占める面積の割合が小さく、流れる電流
方向によってスイッチング素子の特性が殆ど変化しない
アクティブマトリクス基板およびその製造方法ならびに
反射型液晶パネルおよびそれを用いた電子機器を提供す
ることにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明に
係るアクティブマトリクス基板は、基板と、この基板上
に所定のパターンで配設された信号線と、この信号線に
接続された2端子型非線形素子と、この2端子型非線形
素子が接続された画素電極と、を備えるアクティブマト
リクス基板であって、前記2端子型非線形素子は、前記
基板上に形成され、所定の導電体からなる第1の導電膜
と、前記第1の導電膜の表面を覆う素子絶縁膜と、前記
素子絶縁膜の表面を覆い、前記第1の導電膜の上方に形
成された貫通口を有する非素子絶縁膜と、前記素子絶縁
膜に接触するとともに前記貫通口を覆う、前記導電体か
らなる第2の導電膜とを有することを特徴とする。
【0007】請求項1に記載の発明によれば、2端子型
非線形素子は、第1および第2の導電膜が同一の導電体
で形成される。したがって、流れる電流の方向によっ
て、ほとんど特性の変化しない2端子型非線形素子を形
成することができる。その結果、単独の2端子型非線形
素子からなるスイッチング素子によって、スイッチング
素子を流れる電流の向きに拘わらず、各画素を同様な特
性で制御可能なアクティブマトリックス基板が得られ
る。
【0008】また、各画素を単独の2端子型非線形素子
からなるスイッチング素子で制御するため、スイッチン
グ素子の構造が簡単になるとともに、液晶基板における
スイッチング素子の占める面積の割合が小さいアクティ
ブマトリクス基板が得られる。
【0009】請求項2に記載の発明に係るアクティブマ
トリクス基板は、基板と、この基板上に所定のパターン
で配設された信号線と、この信号線に接続された2端子
型非線形素子と、この2端子型非線形素子が接続された
画素電極と、を備えるアクティブマトリクス基板であっ
て、前記2端子型非線形素子は、前記基板上に形成さ
れ、所定の導電体からなる第1の導電膜と、前記第1の
導電膜を覆い、前記第1の導電膜の上方に形成された貫
通口を有する非素子絶縁膜と、前記貫通口内に形成さ
れ、前記第1の導電膜に接触する素子絶縁膜と、前記素
子絶縁膜に接触するとともに前記貫通口を覆う、前記導
電体からなる第2の導電膜とを有することを特徴とす
る。
【0010】請求項2に記載の発明によれば、請求項1
に記載の発明に係るアクティブマトリクス基板について
上述したと同様な作用効果が得られる。
【0011】請求項3に記載の発明に係るアクティブマ
トリクス基板は、基板と、この基板上に所定のパターン
で配設された信号線と、この信号線に接続された2端子
型非線形素子と、この2端子型非線形素子が接続された
画素電極と、を備えるアクティブマトリクス基板であっ
て、前記2端子型非線形素子は、前記基板上に形成さ
れ、所定の導電体からなる第1の導電膜と、前記第1の
導電膜の上面を覆う非素子絶縁膜と、前記第1の導電膜
の側面に形成された素子絶縁膜と、前記素子絶縁膜に接
触し、前記導電体からなる第2の導電膜とを有すること
を特徴とする。
【0012】請求項3に記載の発明によれば、請求項1
に記載の発明に係るアクティブマトリクス基板について
上述したと同様な作用効果が得られる。
【0013】請求項4に記載の発明に係るアクティブマ
トリクス基板は、請求項1ないし請求項3のいずれかに
おいて、前記素子絶縁膜は、前記導電体の酸化膜である
ことを特徴とするアクティブマトリクス基板。
【0014】請求項4に記載の発明によれば、素子絶縁
膜が第1の導電膜を形成する導電体の酸化膜であるた
め、陽極酸化や熱酸化などによって素子絶縁膜を容易に
形成することができる。
【0015】また、2端子型非線形素子を1つの導電体
の成膜装置のみを用いて形成することが可能となる。
【0016】請求項5に記載の発明に係るアクティブマ
トリクス基板は、請求項1ないし請求項4のいずれかに
おいて、前記導電体は、タンタルまたはタンタルを主成
分とする導電体であることを特徴とする。
【0017】請求項5に記載の発明によれば、第1の導
電膜がタンタルで形成されるため、第1の導電膜の酸化
によって良質の素子絶縁膜を形成することができる。
【0018】請求項6に記載の発明に係る液晶表示パネ
ルは、請求項1ないし請求項5のいずれかに記載のアク
ティブマトリクス基板と、前記アクティブマトリクス基
板に対向して配置された対向基板と、前記アクティブマ
トリクス基板と前記対向基板との間に封入された液晶層
と、を有することを特徴とする。
【0019】請求項6に記載の発明によれば、請求項1
ないし請求項5に記載のアクティブマトリクス基板につ
いて上述した作用効果を有する。また、スイッチング素
子の占める面積の割合が小さく画素面積の割合を大きく
することができるアクティブマトリクス基板を用いてい
るため、開口率の高い液晶表示パネルを形成することが
できる。
【0020】請求項7に記載の発明に係る電子機器は、
請求項6に記載の液晶表示パネルを有することを特徴と
する。
【0021】請求項7に記載の発明によれば、請求項1
ないし請求項5に記載のアクティブマトリクス基板につ
いて上述した作用効果を有する電子機器が得られる。
【0022】請求項8に記載の発明に係るアクティブマ
トリクス基板の製造方法は、基板と、この基板上に所定
のパターンで配設された信号線と、この信号線に接続さ
れた2端子型非線形素子と、この2端子型非線形素子が
接続された画素電極と、を備えるアクティブマトリクス
基板の製造方法であって、(a)前記基板上に、前記2
端子型非線形素子の第1の導電膜を、所定の導電体で所
定のパターンに形成する工程と、(b)前記第1の導電
膜を素子絶縁膜で覆う工程と、(c)前記素子絶縁膜を
非素子絶縁膜で覆う工程と、(d)前記非素子絶縁膜を
貫通し、前記素子絶縁膜に到る貫通口を形成する工程
と、(e)前記2端子型非線形素子の第2の導電膜を、
前記貫通口を介して前記素子絶縁膜に接触させるととも
に前記貫通口を覆って前記導電体で形成する工程と、を
有することを特徴とする。
【0023】請求項8に記載の発明によれば、請求項1
に記載の作用効果を有するアクティブマトリクス基板を
製造することができる。
【0024】また、(a)および(b)工程によって形
成された、素子絶縁膜で覆われた第1の導電膜が、
(c)工程において非素子絶縁膜で覆われ、(d)工程
において形成された貫通口は(e)工程において第2の
導電膜によって覆われるため、第2の導電膜をパターニ
ングする際のエッチングによって、素子絶縁膜および第
1の導電膜に損傷を発生させることなくアクティブマト
リクス基板を製造することができる。
【0025】請求項9に記載の発明に係るアクティブマ
トリクス基板の製造方法は、基板と、この基板上に所定
のパターンで配設された信号線と、この信号線に接続さ
れた2端子型非線形素子と、この2端子型非線形素子が
接続された画素電極と、を備えるアクティブマトリクス
基板の製造方法であって、(a)前記基板上に、前記2
端子型非線形素子の第1の導電膜を、所定の導電体で所
定のパターンに形成する工程と、(b)前記第1の導電
膜を非素子絶縁膜で覆う工程と、(c)前記非素子絶縁
膜を貫通し、前記第1の導電膜に到る貫通口を形成する
工程と、(d)前記貫通口内に、前記2端子型非線形素
子の素子絶縁膜を、前記第1の導電膜に接触させて形成
する工程と、(e)前記2端子型非線形素子の第2の導
電膜を、前記素子絶縁膜に接触するとともに前記貫通口
を覆って前記導電体で形成する工程と、を有することを
特徴とする。
【0026】請求項9に記載の発明によれば、請求項2
に記載の作用効果を有するアクティブマトリクス基板を
製造することができる。
【0027】また、(b)および(c)工程によって貫
通口の部分を除き第1の導電膜が非素子絶縁膜で覆わ
れ、(e)工程において貫通口は第2の導電膜によって
覆われるため、第2の導電膜をパターニングする際のエ
ッチングによって、第1の導電膜、および、(d)工程
において貫通口内に形成された素子絶縁膜に損傷を発生
させることなくアクティブマトリクス基板を製造するこ
とができる。
【0028】請求項10に記載の発明に係るアクティブ
マトリクス基板の製造方法は、基板と、この基板上に所
定のパターンで配設された信号線と、この信号線に接続
された2端子型非線形素子と、この2端子型非線形素子
が接続された画素電極と、を備えるアクティブマトリク
ス基板の製造方法であって、(a)基板上に、所定の導
電体からなる、2端子型非線形素子の第1の導電膜と、
この第1の導電膜の上面を覆う非素子絶縁膜とを形成す
る工程と、(b)前記第1の導電膜の側面に、前記2端
子型非線形素子の素子絶縁膜を形成する工程と、(c)
前記2端子型非線形素子の第2の導電膜を、前記素子絶
縁膜に接触させて前記導電体で形成する工程と、を有す
ることを特徴とする。
【0029】請求項10に記載の発明によれば、請求項
3に記載の作用効果を有するアクティブマトリクス基板
を製造することができる。
【0030】また、(a)工程において第1の導電膜の
上面が非素子絶縁膜で覆われるため、(c)工程におい
て第2の導電膜をパターニングするために行うエッチン
グによって第1の導電膜が損傷を受けることがない。
【0031】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態に
ついて、図面を参照しながら、さらに具体的に説明す
る。
【0032】〔第1実施形態〕 <アクティブマトリクス基板および液晶表示パネル>図
1は、本実施形態の液晶表示パネル10の模式的な部分
切欠き斜視図である。この図に示すように、本実施形態
の液晶表示パネル10は、アクティブマトリクス基板2
0と、アクティブマトリクス基板20に対向して配置さ
れた対向基板12と、アクティブマトリクス基板20お
よび対向基板12のそれぞれの外面側に貼付された一対
の偏光板18,18を備え、さらにこれらの基板12,
20の間に液晶(図示せず)が封入されて形成される。
対向基板12の内面側には、短冊状に信号線14が形成
されている。
【0033】図2は、本実施形態に係るアクティブマト
リクス基板20の模式的な平面図である。アクティブマ
トリクス基板20は、図2および図1に示すように、基
板22と、この基板22上に所定のパターンで配設され
た信号線24と、この信号線24に接続された2端子型
非線形素子としてのTFD(Thin Film Diode)素子3
0と、TFD素子30が接続された透明電極膜からなる
画素電極26とを備えている。このように、アクティブ
マトリクス基板20においては、それぞれの画素電極2
6が、1つのTFD素子30によって制御されている。
なお、TFD素子30は、後述するように第1の導電膜
と第2の導電膜とが絶縁膜を介して対向して形成されて
おり、MIM素子とも呼ばれる。
【0034】図3は、本実施形態の液晶表示パネル10
を便宜的に4×4画素として形成した場合の等価回路を
示している。この図に示すように、液晶表示パネル10
は、一方の駆動回路である走査信号駆動回路70と、他
方の駆動回路であるデータ信号駆動回路72とを含んで
構成される。走査信号駆動回路70は、複数の走査信号
線である信号線24を駆動し、データ信号駆動回路は、
複数のデータ信号線である信号線14を駆動している。
信号線24と信号線14の各交差部には、TFD素子3
0および液晶表示要素74(互いに対応する画素電極2
6と対向基板12の信号線14との間に位置する液晶)
が、それら信号線24,14の間で直列接続されてい
る。なお、各画素は、画素電極26と対向基板12の信
号線14との間に加わる電圧によって制御される液晶表
示要素74に対応して形成される。
【0035】図4は、図2に示した線A−Bに沿った位
置における断面図であり、TFD素子30の断面構造を
示している。この図に示すように、2端子型非線形素子
としてのTFD素子30は、第1の導電膜32、非素子
絶縁膜34、素子絶縁膜38、および第2の導電膜40
を含んで構成される。
【0036】第1の導電膜32は、所定の導電体、例え
ば、150nm程度の膜厚のタンタルあるいはタンタル
を主成分とする金属からなり、信号線24から連続して
基板22上に形成されている。
【0037】素子絶縁膜38は、例えば、第1の導電膜
32の陽極酸化膜としての酸化タンタルからなり、50
nm程度の膜厚で、第1の導電膜32の表面を覆ってい
る。なお、素子絶縁膜38として、第1の導電膜32を
熱酸化した酸化タンタルを用いることもできるし、酸化
シリコンを用いることもできる。
【0038】非素子絶縁膜34は、第1の導電膜32の
上方に設けられた貫通口35を備え、貫通口35の部分
を除いて、150nm以上の膜厚で、素子絶縁膜38の
表面を覆って形成されている。非素子絶縁膜34は、例
えば、酸化タンタル、酸化シリコン、窒化シリコン、酸
化クロム、あるいは有機系絶縁膜で形成される。酸化ク
ロムあるいは有機系絶縁膜を用いる場合は、ウエットエ
ッチングを行うと第1の導電膜との選択比を確実にとる
ことができ、第1導電膜への影響も少ない。
【0039】第2の導電膜40は、第1の導電膜32と
同一の導電体からなり、素子絶縁膜38に接触するとと
もに貫通口35を覆い、非素子絶縁膜34の少なくとも
一部を覆い、100nm程度の膜厚で形成されている。
【0040】このように形成されたTFD素子30は、
第1および第2の導電膜32,40が同一の導電体で形
成されているため、流れる電流の方向によって、ほとん
ど特性の変化しない2端子型非線形素子となる。その結
果、単独のTFD素子30からなるスイッチング素子に
よって、スイッチング素子を流れる電流の向きに拘わら
ず、各画素を同様な特性で制御可能なアクティブマトリ
ックス基板20を形成することができる。したがって、
各画素の表示が、その画素に対する電流の向きによっ
て、殆ど影響されることのない液晶表示パネル10が得
られる。
【0041】また、各画素を単独の2端子型非線形素子
からなるスイッチング素子で制御するため、スイッチン
グ素子の構造が簡単になるとともに、スイッチング素子
の占める面積の割合が小さいアクティブマトリクス基板
20が得られる。したがって、画素面積の割合が大きい
アクティブマトリクス基板20を形成することが可能と
なり、それによって開口率の高い液晶表示パネル10を
形成することができる。
【0042】なお、上記においては、第1および第2の
導電膜32,40と信号線24とがタンタルあるいはタ
ンタルを主成分とする金属からなる例を示したが、第1
および第2の導電膜32,40と信号線24との少なく
とも一方を、比抵抗の小さい導電体であるアルミニウ
ム、マグネシウム、銅、クロムなどの金属、あるいはそ
れらを主成分とする金属で形成しても良い。この場合、
素子絶縁膜38としては、用いられた金属の酸化膜を用
いてもよいし、他の絶縁膜、例えば酸化シリコンを用い
ても良い。このような場合でも上述の作用効果を奏する
ことができる。
【0043】また、上記においては、走査信号線として
の信号線24にTFD素子30が接続され、データ信号
線としての信号線14に液晶表示要素78が接続された
例を示したが、これとは逆に、データ信号線としての信
号線24にTFD素子30を接続し、走査信号線として
の信号線14に液晶表示要素78を接続する構成として
も良い。また、走査信号駆動回路70およびデータ信号
駆動回路72は、必ずしも液晶表示パネルに含まれてな
くともよく、液晶表示パネルとは別に形成して接続ケー
ブル等で液晶表示パネルに接続されるようにしてもよ
い。
【0044】<電子機器>図5は、本実施形態の液晶表
示パネル10を、上部筐体91と下部筐体92とを有す
る電子機器である携帯電話90に組み込んだ状態を分解
斜視図として示している。なお、図5においては、液晶
表示パネル10以外の部品を大幅に省略して描いてあ
る。携帯電話90は、回路基板93上等に、表示情報出
力源、表示情報処理回路、クロック発生回路などの様々
な回路や、それらの回路に電力を供給する電源回路等を
含んで構成される。
【0045】なお、本実施形態の液晶表示パネル10が
組み込まれる電子機器としては、携帯電話90に限ら
ず、ノート型パソコン、電子手帳、時計、ページャ、電
卓、POS端末、ICカード、ミニディスクプレーヤな
ど様々な電子機器が考えられる。
【0046】<アクティブマトリクス基板の製造方法>
ここで、本実施形態のアクティブマトリクス基板20の
製造方法の一例を、図1、図2、および図4を参照しな
がら説明する。
【0047】まず、2端子型非線形素子であるTFD素
子30の第1の導電膜32と、信号線24とを、いずれ
もタンタルあるいはタンタルを主成分とする金属の膜と
して、所定のパターンに形成する。このタンタル膜の成
膜は、例えば、タンタルを100〜300nmの厚さの
膜厚でスパッタリングし、6フッ化イオウ(SF6)ま
たは4フッ化炭素(CF4)を用いてドライエッチング
して行われる。なお、タンタル膜の代わりに、タングス
テンを添加したタンタル合金の膜としてもよい。
【0048】次に、第1の導電膜32を素子絶縁膜38
で覆う。これは、例えば、陽極酸化によって行われ、化
成液としてはクエン酸0.01〜0.05重量%水溶
液、化成電圧15〜20V、電流密度0.01〜0.1
mA/cmの条件で、厚さ50nm程度の酸化タンタ
ル膜が形成される。
【0049】次いで、第1の導電膜32の表面を非素子
絶縁膜34で覆う。これは、例えば、酸化タンタルや酸
化シリコン膜を150nm以上の厚さで形成することに
よって行われる。
【0050】そして、画素電極26を、ITO(Indium
Tin Oxide)などの透明な導電膜として形成する。この
成膜は、例えばまず50〜150nmの厚さでITOを
スパッタリングし、次に王水系のエッチング液または臭
化水素酸によるウエットエッチングにてパターニングが
行われる。なお、エッチングはメタン系のエッチングガ
スを用いたドライエッチングとしてもよい。
【0051】次に、前述のように素子絶縁膜38を覆っ
て形成された非素子絶縁膜34を貫通し、素子絶縁膜3
8に到る貫通口35をエッチングによって形成する。
【0052】次いで、TFD素子30の第2の導電膜4
0を、貫通口35を介して素子絶縁膜38に接触させる
とともに貫通口35を覆い、画素電極26の一部に重な
るように形成する。第2の導電膜40には、第1の導電
膜32と同一の導電体が用いられ、前述した第1の導電
膜32の形成と同様な工程で行われる。
【0053】上述のような工程を含んで、図1〜図4に
示したように、各画素において、信号線24と画素電極
26とが、1つのTFD素子30を介して互いに接続さ
れた構造を有するアクティブマトリクス基板20が形成
される。
【0054】本実施形態のアクティブマトリクス基板2
0の製造方法によれば、素子絶縁膜38で覆われた第1
の導電膜32が、貫通口35の部分を除き非素子絶縁膜
34で覆われた状態で、第2の導電膜40が形成され
る。しかも貫通口35は、第2の導電膜40によって覆
われるため、第2の導電膜40をパターニングする際の
エッチングによって、素子絶縁膜38および第1の導電
膜32に損傷を発生させることがない。したがって、第
1および第2の導電膜32,40として同一の導電体を
用いたために、第2の導電膜40のパターニングの際の
エッチングにおける第1の導電膜32との選択エッチン
グが困難であるという課題を解決することができる。
【0055】〔第2実施形態〕本実施形態は、2端子型
非線形素子の構造および製造方法が第1実施形態の場合
とは幾分異なる。それ以外については、第1実施形態と
同様であるので、その説明を省略する。また、図面にお
いて、対応する部分については第1実施形態と同一の符
号を付す。
【0056】<TFD素子>図6は、第1実施形態の図
2に示した線A−Aに沿った位置に対応する断面図であ
り、本実施形態の2端子型非線形素子であるTFD素子
52の断面構造を示している。この図に示すように、T
FD素子52は、第1の導電膜32、非素子絶縁膜3
4、素子絶縁膜38、および第2の導電膜40を含んで
構成される。
【0057】第1の導電膜32は、所定の導電体、例え
ばタンタルあるいはタンタルを主成分とする金属からな
り、150nm程度の膜厚で、信号線24から連続して
基板22上に形成されている。
【0058】非素子絶縁膜34は、第1の導電膜32の
上方に設けられた貫通口35を備え、貫通口35の部分
を除き、150nm以上の膜厚で、第1の導電膜32の
表面を覆って形成されている。非素子絶縁膜34は、例
えば、酸化タンタル、酸化シリコン、あるいは窒化シリ
コンで形成される。
【0059】素子絶縁膜38は、非素子絶縁膜34の貫
通口35内に形成されており、第1の導電膜32に接触
している。素子絶縁膜38は、例えば第1の導電膜32
の陽極酸化膜としての酸化タンタルによって、50nm
程度の膜厚で形成される。
【0060】第2の導電膜40は、第1の導電膜32と
同一の導電体からなり、素子絶縁膜38に接触するとと
もに貫通口35を覆い、非素子絶縁膜34の少なくとも
一部を覆って、100nm程度の膜厚で形成されてい
る。
【0061】このように形成されたTFD素子52は、
第1実施形態の場合と同様に、第1および第2の導電膜
32,40が同一の導電体で形成されているため、流れ
る電流の方向によって、ほとんど特性の変化しない2端
子型非線形素子となる。その結果、単独のTFD素子5
2からなるスイッチング素子によって、スイッチング素
子を流れる電流の向きに拘わらず、各画素を同様な特性
で制御可能なアクティブマトリックス基板50が得られ
る。
【0062】また、各画素を単独のTFD素子52から
なるスイッチング素子で制御するため、スイッチング素
子の構造が簡単になるとともに、スイッチング素子の占
める面積の割合が小さいアクティブマトリクス基板50
が得られる。したがって、画素面積の割合が大きいアク
ティブマトリクス基板50を形成することが可能とな
り、それによって開口率の高い液晶表示パネルを形成す
ることができる。
【0063】<アクティブマトリクス基板の製造方法>
ここで、本実施形態のアクティブマトリクス基板50の
製造方法を、本実施形態のTFD素子52を示す断面図
である図6を参照しながら説明する。なお、本実施形態
のアクティブマトリクス基板50の外観は、第1実施形
態の場合と同様であり、例えば、図1および図2に示し
た形状となる。
【0064】まず、2端子型非線形素子であるTFD素
子52の第1の導電膜32と、信号線24とを、いずれ
もタンタルあるいはタンタルを主成分とする金属の膜と
して所定のパターンに形成する。このタンタル膜の成膜
は、例えば、タンタルを100〜300nmの厚さの膜
厚でスパッタリングし、6フッ化イオウ(SF6)また
は4フッ化炭素(CF4)を用いてドライエッチングし
て行われる。なお、タンタル膜の代わりに、タングステ
ンを添加したタンタル合金の膜としてもよい。
【0065】次に、第1の導電膜32の表面を非素子絶
縁膜34で覆う。これは、例えば、酸化タンタルや酸化
シリコン膜を150nm以上の厚さで形成することによ
って行われる。
【0066】次いで、画素電極26を、ITO(Indium
Tin Oxide)などの透明な導電膜として形成する。この
成膜は、例えば、まず50〜150nmの厚さでITO
をスパッタリングし、次に王水系のエッチング液または
臭化水素酸によるウエットエッチングにてパターニング
が行われる。なお、エッチングはメタン系のエッチング
ガスを用いたドライエッチングとしてもよい。
【0067】そして、前述のように素子絶縁膜38を覆
って形成された非素子絶縁膜34を貫通し、第1の導電
膜32に到る貫通口35をエッチングによって形成す
る。
【0068】次に、TFD素子52の素子絶縁膜38
を、第1の導電膜32に接触させて、貫通口35内に形
成する。これは、例えば、第1の導電膜32、例えばタ
ンタル膜の陽極酸化により、厚さ50nm程度の酸化タ
ンタル膜を形成することによって行われる。
【0069】最後に、TFD素子52の第2の導電膜4
0を、貫通口35を介して素子絶縁膜38に接触させる
とともに貫通口35を覆い、画素電極26の一部に重な
るパターンとして形成する。第2の導電膜40には、第
1の導電膜32と同一の導電体が用いられ、前述した第
1の導電膜の形成と同様な工程で行われる。
【0070】上述のような工程を含んで、図1、図2、
および、図6に示したように、各画素において、信号線
24と画素電極26とが、1つのTFD素子52を介し
て互いに接続された構造を有するアクティブマトリクス
基板50が形成される。
【0071】本実施形態のアクティブマトリクス基板5
0の製造方法によれば、貫通口35の部分を除き、第1
の導電膜32が非素子絶縁膜34で覆われた状態で、第
2の導電膜40が形成される。しかも貫通口35は、第
2の導電膜40によって覆われるため、第2の導電膜4
0をパターニングする際のエッチングによって、素子絶
縁膜38および第1の導電膜32に損傷を発生させるこ
とがない。したがって、第1および第2の導電膜32,
40として同一の導電体を用いたために、第2の導電膜
40のパターニングの際のエッチングにおける第1の導
電膜32との選択エッチングが困難であるという課題を
解決することができる。
【0072】〔第3実施形態〕本実施形態は、2端子型
非線形素子の構造および製造方法が第1実施形態の場合
とは幾分異なる。それ以外については、第1実施形態と
同様であるので、その説明を省略する。また、図面にお
いて、対応する部分については第1実施形態と同一の符
号を付す。
【0073】<TFD素子>図7は、第1実施形態の図
2に示した線A−Aに沿った位置に対応する断面図であ
り、本実施形態の2端子型非線形素子であるTFD素子
62の断面構造を示している。この図に示すように、T
FD素子62は、第1の導電膜32、非素子絶縁膜3
4、素子絶縁膜38、および第2の導電膜40を含んで
構成される。
【0074】第1の導電膜32は、所定の導電体、例え
ばタンタルあるいはタンタルを主成分とする金属からな
り、300nm以上の膜厚で、信号線24から連続して
基板22上に形成されている。
【0075】非素子絶縁膜34は、第1の導電膜32の
上面を覆って、例えば、酸化タンタル、酸化シリコン、
あるいは窒化シリコンで、150nm程度の膜厚で形成
されている。
【0076】素子絶縁膜38は、例えば陽極酸化により
形成された酸化タンタルからなり、第1の導電膜32の
側面に、50nm程度の膜厚で、形成されている。
【0077】第2の導電膜40は、第1の導電膜32と
同一の導電体からなり、素子絶縁膜38に接触するとと
もに非素子絶縁膜34の少なくとも一部を覆って、10
0nm程度の膜厚で形成されている。
【0078】このように形成されたTFD素子62は、
第1実施形態の場合と同様に、第1および第2の導電膜
32,40が同一の導電体で形成されているため、流れ
る電流の方向によって、ほとんど特性の変化しない2端
子型非線形素子となる。その結果、単独のTFD素子6
2からなるスイッチング素子によって、スイッチング素
子を流れる電流の向きに拘わらず、各画素を同様な特性
で制御可能なアクティブマトリックス基板60が得られ
る。
【0079】また、各画素を単独のTFD素子62から
なるスイッチング素子で制御するため、スイッチング素
子の構造が簡単になるとともに、スイッチング素子の占
める面積の割合が小さいアクティブマトリクス基板60
が得られる。したがって、画素面積の割合が大きいアク
ティブマトリクス基板60を形成することが可能とな
り、それによって開口率の高い液晶表示パネルを形成す
ることができる。
【0080】<アクティブマトリクス基板の製造方法>
ここで、本実施形態のアクティブマトリクス基板60の
製造方法を、本実施形態のTFD素子62を示す断面図
である図7を参照しながら説明する。なお、本実施形態
のアクティブマトリクス基板60の外観は、第1実施形
態の場合と同様であり、例えば、図1に示した形状とな
る。
【0081】まず、基板22上に、所定の導電体、例え
ばタンタルあるいはタンタルを主成分とする合金からな
る、TFD素子62の第1の導電膜32および信号線2
4と、これらの上面を覆う非素子絶縁膜34とを形成す
る。これは、例えば、タンタル膜をスパッタリングによ
って300nm以上の厚さで成膜し、その上層として酸
化タンタル、酸化シリコン、あるいは、窒化シリコンか
らなる絶縁膜をCVD、スパッタリング、陽極酸化など
によって150nm程度の厚さで形成し、タンタル膜お
よび絶縁膜をエッチングによって所定のパターンに形成
することによって行われる。
【0082】次に、第1の導電膜32の側面に、TFD
素子62の素子絶縁膜38を形成する。これは、例え
ば、第1の導電膜を陽極酸化して、50nm程度の厚さ
の酸化タンタル膜を形成することによって行われる。
【0083】次いで、画素電極26を、ITO(Indium
Tin Oxide)などの透明な導電膜として形成する。この
成膜は、例えばまず50〜150nmの厚さでITOを
スパッタリングし、次に王水系のエッチング液または臭
化水素酸によるウエットエッチングにてパターニングが
行われる。なお、エッチングはメタン系のエッチングガ
スを用いたドライエッチングとしてもよい。
【0084】そして、TFD素子62の第2の導電膜4
0を、素子絶縁膜38に接触させて、第1の導電膜32
と同一の導電体で、第1の導電膜32と同様のプロセス
で、100nm程度の膜厚に形成する。
【0085】上述のような工程を含んで、図1および図
7に示したように、各画素において、信号線24と画素
電極26とが、1つのTFD素子62を介して互いに接
続された構造を有するアクティブマトリクス基板60が
形成される。
【0086】本実施形態のアクティブマトリクス基板6
0の製造方法によれば、第1の導電膜32の上面が非素
子絶縁膜34で覆われ、第1の導電膜32の側面が素子
絶縁膜38で覆われた後、第2の導電膜40が形成され
るため、第2の導電膜40をパターニングするために行
うエッチングによって、第1の導電膜32が損傷を受け
ることがない。したがって、第1および第2の導電膜3
2,40として同一の導電体を用いたために、第2の導
電膜40のパターニングの際のエッチングにおける第1
の導電膜32との選択エッチングが難しいという課題を
解決することができる。
【0087】以上、本発明の実施形態を説明したが、本
発明は前述した各実施形態に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内または特許請求の範囲の均等範囲
内で各種の変形実施が可能である。
【0088】例えば、上記各実施形態では、アクティブ
マトリクス基板および対向基板に用いられる基板が透明
なガラス基板である例を示したが、透明なプラスチック
基板を用いてもよい。また、反射型の液晶表示パネルと
して形成する場合は、不透明なガラス基板やプラスチッ
ク基板、さらにはシリコンウエハーやセラミック基板等
を、アクティブマトリクス基板または対向基板に用いら
れる基板として用いてもよい。その場合、画素電極とし
て不透明な導電膜、例えばアルミニウム膜を用いること
もできる。
【0089】また、上記各実施形態では、2端子型非線
形素子の素子絶縁膜を第1の導電膜の陽極酸化膜として
形成する例を示したが、素子絶縁膜を他の種類の膜、例
えば酸化シリコン膜として形成しても良い。
【0090】さらに、上記各実施形態においては、第1
および第2の導電膜と信号線とがタンタルあるいはタン
タルを主成分とする金属からなる例を示したが、第1お
よび第2の導電膜と信号線との少なくとも一方を、比抵
抗の小さい金属であるアルミニウム、マグネシウム、
銅、クロムなどの金属、あるいはそれらを主成分とする
金属で形成しても良い。この場合、素子絶縁膜として
は、用いられた金属の酸化膜を用いてもよいし、他の絶
縁膜を用いても良い。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態の液晶表示パネルを模式的に示
す、一部を切り欠いた部分斜視図である。
【図2】第1実施形態のアクティブマトリクス基板を示
す模式的な部分平面図である。
【図3】第1実施形態の液晶表示パネルの等価回路であ
る。
【図4】図2のA−B線に沿った位置におけるアクティ
ブマトリクス基板の部分断面図であり、TFD素子の部
分を示している。
【図5】第1実施形態の携帯電話を示す分解斜視図であ
る。
【図6】第2実施形態のTFD素子の断面図であり、第
1実施形態における図2のA−B線に沿った位置に対応
している。
【図7】第3実施形態のTFD素子の断面図であり、第
1実施形態における図2のA−B線に沿った位置に対応
している。
【符号の説明】
10 液晶表示パネル 12 対向基板 14,24 信号線 20,50,60 アクティブマトリクス基板 22 基板 26 画素電極 30,52,62 TFD素子(2端子型非線形素子) 32 第1の導電膜 34 非素子絶縁膜 35 貫通口 38 素子絶縁膜 40 第2の導電膜 90 携帯電話(電子機器)

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板と、この基板上に所定のパターンで
    配設された信号線と、この信号線に接続された2端子型
    非線形素子と、この2端子型非線形素子が接続された画
    素電極と、を備えるアクティブマトリクス基板であっ
    て、 前記2端子型非線形素子は、 前記基板上に形成され、所定の導電体からなる第1の導
    電膜と、 前記第1の導電膜の表面を覆う素子絶縁膜と、 前記素子絶縁膜の表面を覆い、前記第1の導電膜の上方
    に形成された貫通口を有する非素子絶縁膜と、 前記素子絶縁膜に接触するとともに前記貫通口を覆う、
    前記導電体からなる第2の導電膜とを有することを特徴
    とするアクティブマトリクス基板。
  2. 【請求項2】 基板と、この基板上に所定のパターンで
    配設された信号線と、この信号線に接続された2端子型
    非線形素子と、この2端子型非線形素子が接続された画
    素電極と、を備えるアクティブマトリクス基板であっ
    て、 前記2端子型非線形素子は、 前記基板上に形成され、所定の導電体からなる第1の導
    電膜と、 前記第1の導電膜を覆い、前記第1の導電膜の上方に形
    成された貫通口を有する非素子絶縁膜と、 前記貫通口内に形成され、前記第1の導電膜に接触する
    素子絶縁膜と、 前記素子絶縁膜に接触するとともに前記貫通口を覆う、
    前記導電体からなる第2の導電膜とを有することを特徴
    とするアクティブマトリクス基板。
  3. 【請求項3】 基板と、この基板上に所定のパターンで
    配設された信号線と、この信号線に接続された2端子型
    非線形素子と、この2端子型非線形素子が接続された画
    素電極と、を備えるアクティブマトリクス基板であっ
    て、 前記2端子型非線形素子は、 前記基板上に形成され、所定の導電体からなる第1の導
    電膜と、 前記第1の導電膜の上面を覆う非素子絶縁膜と、 前記第1の導電膜の側面に形成された素子絶縁膜と、 前記素子絶縁膜に接触し、前記導電体からなる第2の導
    電膜とを有することを特徴とするアクティブマトリクス
    基板。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし請求項3のいずれかにお
    いて、 前記素子絶縁膜は、前記導電体の酸化膜であることを特
    徴とするアクティブマトリクス基板。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし請求項4のいずれかにお
    いて、 前記導電体は、タンタルまたはタンタルを主成分とする
    導電体であることを特徴とするアクティブマトリクス基
    板。
  6. 【請求項6】 請求項1ないし請求項5のいずれかに記
    載のアクティブマトリクス基板と、 前記アクティブマトリクス基板に対向して配置された対
    向基板と、 前記アクティブマトリクス基板と前記対向基板との間に
    封入された液晶層と、 を有することを特徴とする液晶表示パネル。
  7. 【請求項7】 請求項6に記載の液晶表示パネルを有す
    ることを特徴とする電子機器。
  8. 【請求項8】 基板と、この基板上に所定のパターンで
    配設された信号線と、この信号線に接続された2端子型
    非線形素子と、この2端子型非線形素子が接続された画
    素電極と、を備えるアクティブマトリクス基板の製造方
    法であって、(a)前記基板上に、前記2端子型非線形
    素子の第1の導電膜を、所定の導電体で所定のパターン
    に形成する工程と、(b)前記第1の導電膜を素子絶縁
    膜で覆う工程と、(c)前記素子絶縁膜を非素子絶縁膜
    で覆う工程と、(d)前記非素子絶縁膜を貫通し、前記
    素子絶縁膜に到る貫通口を形成する工程と、(e)前記
    2端子型非線形素子の第2の導電膜を、前記貫通口を介
    して前記素子絶縁膜に接触させるとともに前記貫通口を
    覆って前記導電体で形成する工程と、 を有することを特徴とするアクティブマトリクス基板の
    製造方法。
  9. 【請求項9】 基板と、この基板上に所定のパターンで
    配設された信号線と、この信号線に接続された2端子型
    非線形素子と、この2端子型非線形素子が接続された画
    素電極と、を備えるアクティブマトリクス基板の製造方
    法であって、(a)前記基板上に、前記2端子型非線形
    素子の第1の導電膜を、所定の導電体で所定のパターン
    に形成する工程と、(b)前記第1の導電膜を非素子絶
    縁膜で覆う工程と、(c)前記非素子絶縁膜を貫通し、
    前記第1の導電膜に到る貫通口を形成する工程と、
    (d)前記貫通口内に、前記2端子型非線形素子の素子
    絶縁膜を、前記第1の導電膜に接触させて形成する工程
    と、(e)前記2端子型非線形素子の第2の導電膜を、
    前記素子絶縁膜に接触するとともに前記貫通口を覆って
    前記導電体で形成する工程と、 を有することを特徴とするアクティブマトリクス基板の
    製造方法。
  10. 【請求項10】 基板と、この基板上に所定のパターン
    で配設された信号線と、この信号線に接続された2端子
    型非線形素子と、この2端子型非線形素子が接続された
    画素電極と、を備えるアクティブマトリクス基板の製造
    方法であって、(a)基板上に、所定の導電体からな
    る、2端子型非線形素子の第1の導電膜と、この第1の
    導電膜の上面を覆う非素子絶縁膜とを形成する工程と、
    (b)前記第1の導電膜の側面に、前記2端子型非線形
    素子の素子絶縁膜を形成する工程と、(c)前記2端子
    型非線形素子の第2の導電膜を、前記素子絶縁膜に接触
    させて前記導電体で形成する工程と、 を有することを特徴とするアクティブマトリクス基板の
    製造方法。
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