JPH11298107A - Printed board comprising test point - Google Patents

Printed board comprising test point

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JPH11298107A
JPH11298107A JP9728698A JP9728698A JPH11298107A JP H11298107 A JPH11298107 A JP H11298107A JP 9728698 A JP9728698 A JP 9728698A JP 9728698 A JP9728698 A JP 9728698A JP H11298107 A JPH11298107 A JP H11298107A
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JP
Japan
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test
test points
circuit board
printed circuit
circuit
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Application number
JP9728698A
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Japanese (ja)
Inventor
Suzumi Eguchi
鈴美 江口
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NEC Home Electronics Ltd
NEC Corp
Original Assignee
NEC Home Electronics Ltd
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP9728698A priority Critical patent/JPH11298107A/en
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  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a printed board comprising test point wherein the time required for assembly process of a printed board is shortened and costs for parts and manufacture are reduced, without requiring a test pin or special short jig in an adjustment/inspection process for a printed substrate generally used for electric apparatus. SOLUTION: First and second test points 103 are formed on a part insert surface of a printed board 101, with the first and second test points 103 provided, adjoining each other, with a specified distance. At the first and second test points 103, first and second jumper lines 104 are so allocated as to extend in parallel each other, respectively. By short-circuiting between the adjoining first and second jumper lines 104 with a tip of a blade driver 105, etc., the printed board 101 is adjusted/inspected.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電気製品一般に使
用されているプリント基板において、調整及び検査等の
工程で使用されるテストポイントを有するプリント基板
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed circuit board generally used for electrical products and has test points used in processes such as adjustment and inspection.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のテストポイントを有するプリント
基板は、図5に示すようにその部品挿入面に第1及び第
2のテストポイント503が形成されており、この第1
及び第2のテストポイント503はそれぞれプリント基
板上の任意の場所に配置されている。この第1及び第2
のテストポイント503にはそれぞれテストピン508
が部品挿入面から挿入され裏側のハンダ付け面でハンダ
付けされて固定されている。
2. Description of the Related Art As shown in FIG. 5, a conventional printed circuit board having test points has first and second test points 503 formed on its component insertion surface.
The second test point 503 is arranged at an arbitrary position on the printed circuit board. The first and second
Each test point 503 has a test pin 508
Are inserted from the component insertion surface and soldered and fixed on the soldering surface on the back side.

【0003】図4は、テストポイントを有するプリント
基板を用いて構成され、調整・検査の対象となる回路の
一例としてのX線プロテクタ回路の回路図である。本回
路は、テレビジョン受信機のCRTに印加されている高
電圧が周辺回路の異常等により異常上昇した場合に、C
RTから規定以上のX線が放射されるのを防止するため
のものである。
FIG. 4 is a circuit diagram of an X-ray protector circuit as an example of a circuit to be adjusted and inspected, which is configured using a printed board having test points. This circuit is used when the high voltage applied to the CRT of the television receiver rises abnormally due to an abnormality in peripheral circuits or the like.
This is to prevent X-rays exceeding a specified amount from being emitted from the RT.

【0004】まず、本回路例の動作の概要について説明
する。図4において、フライバックトランスT1より上
記高電圧に比例した水平周期のパルスが出力され、その
パルスが抵抗器R1を通してダイオードD1とコンデン
サC1とにより整流されてDC電圧V1となり、更に抵
抗器R2、R3で抵抗分割された電圧V2がツェナーダ
イオードZD1に加えられる。
First, an outline of the operation of this circuit example will be described. In FIG. 4, a pulse having a horizontal period proportional to the high voltage is output from a flyback transformer T1, and the pulse is rectified by a diode D1 and a capacitor C1 through a resistor R1 to become a DC voltage V1, and further a resistor R2, The voltage V2 divided by the resistor R3 is applied to the Zener diode ZD1.

【0005】通常状態では、電圧V2はツェナーダイオ
ードZD1のツェナー電圧より低く設定されており、水
平発振スイッチ413に電圧は印加されないが、周辺回
路の異常等によりCRTにかかる高電圧が上昇すると、
それに比例して電圧V1、V2も上昇し、電圧V2がツ
ェナーダイオードZD1のツェナー電圧以上となると、
水平発振スイッチ413に電圧が印加され、水平発振回
路414が停止する。
In a normal state, the voltage V2 is set lower than the Zener voltage of the Zener diode ZD1, and no voltage is applied to the horizontal oscillation switch 413. However, when the high voltage applied to the CRT increases due to an abnormality in a peripheral circuit or the like,
The voltages V1 and V2 also increase in proportion thereto, and when the voltage V2 exceeds the Zener voltage of the Zener diode ZD1,
A voltage is applied to the horizontal oscillation switch 413, and the horizontal oscillation circuit 414 stops.

【0006】この結果、水平出力回路415、フライバ
ックトランスT1も動作を停止し、CRT412からの
X線の放射を防ぐことができる。
As a result, the horizontal output circuit 415 and the flyback transformer T1 also stop operating, and X-ray emission from the CRT 412 can be prevented.

【0007】次に、従来のテストポイントを有するプリ
ント基板における調整・検査方法について説明する。従
来のテストポイントを有するプリント基板における調整
・検査方法では、図5に示すように、鰐口クリップと線
材で構成されるショート治具509を用いて第1及び第
2のテストピン508間をショートする。
Next, a conventional method for adjusting and inspecting a printed circuit board having test points will be described. In a conventional adjustment / inspection method for a printed circuit board having test points, as shown in FIG. 5, a short circuit is made between the first and second test pins 508 using a short jig 509 composed of a crocodile clip and a wire. .

【0008】このテストピン508は、図4の回路例で
はテストポイント410、411に相当し、このように
ショートすると、テストポイント410、411間の抵
抗器R2がショートされテストポイント411の電圧V
2は電圧V1まで上昇し、等価的にCRTにかかる高電
圧の異常上昇と同じ状態がシミュレーションされるた
め、このX線プロテクタ回路が正常に動作するか否かを
検査することができる。
The test pin 508 corresponds to the test points 410 and 411 in the circuit example of FIG. 4. When the test pin 508 is short-circuited, the resistor R2 between the test points 410 and 411 is short-circuited and the voltage V of the test point 411 is reduced.
2 rises to the voltage V1, equivalently simulating the same state as the abnormal rise of the high voltage applied to the CRT. Therefore, it can be checked whether or not this X-ray protector circuit operates normally.

【0009】このように従来のテストポイントを有する
プリント基板は、ショート治具を用いてテストピンをシ
ョートすることにより調整・検査を行っていた。
As described above, the conventional printed circuit board having test points has been adjusted and inspected by short-circuiting test pins using a short jig.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
テストポイントを有するプリント基板は、次に列挙する
ような課題があった。
However, the conventional printed circuit board having test points has the following problems.

【0011】第1点として、任意の場所に配置された第
1及び第2のテストピン間を専用のショート治具でショ
ートさせて当該回路の調整・検査を行うため、上記専用
のショート治具が必要になるという課題があった。
The first point is that the dedicated short jig is used for adjusting and inspecting the circuit by short-circuiting the first and second test pins arranged at arbitrary locations with a dedicated short jig. Was required.

【0012】第2点として、調整・検査に使用するテス
トポイントに自動挿入機による自動挿入が不可能なテス
トピンを用いていたため、手挿入工数が増加し、プリン
ト基板の組立にも時間がかかるという課題があった。
Second, since test pins which cannot be automatically inserted by an automatic insertion machine are used for test points used for adjustment and inspection, the number of manual insertion steps increases, and it takes time to assemble a printed circuit board. There was a problem that.

【0013】そこで、本発明の目的は、調整・検査の工
程においてテストピン及び専用のショート治具を必要せ
ず、プリント基板の組立工程における時間短縮に加えて
部品及び製造にかかるコストの削減を実現するテストポ
イントを有するプリント基板を提供することにある。
Accordingly, an object of the present invention is to eliminate the need for test pins and dedicated short jigs in the adjustment / inspection process, and to reduce the time required for parts and manufacturing in addition to shortening the time in the assembly process of a printed circuit board. An object of the present invention is to provide a printed circuit board having test points to be realized.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに、第1発明のテストポイントを有するプリント基板
は、部品挿入面にマイナスドライバーの先端などでショ
ートが可能な距離に隣接して形成された導電性の第1及
び第2のテストポイントを有することを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, a printed circuit board having a test point according to the first invention is formed on a component insertion surface adjacent to a distance at which short-circuiting is possible with a tip of a flathead screwdriver or the like. And a first conductive test point and a second test point.

【0015】第2発明のテストポイントを有するプリン
ト基板は、上記第1及び第2のテストポイントにはそれ
ぞれジャンパー線が挿入されており上記ジャンパー線は
上記部品挿入面上をお互いに平行に延びるように配置さ
れていることを特徴とする。
In a printed circuit board having test points according to a second aspect of the present invention, jumper wires are inserted into the first and second test points, respectively, and the jumper wires extend on the component insertion surface in parallel with each other. Characterized by being arranged in

【0016】第3発明のテストポイントを有するプリン
ト基板は、上記第1及び第2のテストポイントにはそれ
ぞれリードを有する回路部品の上記リードが挿入されて
おり上記回路部品は上記部品挿入面上をお互いに平行に
延びるように配置されていることを特徴とする。
In the printed circuit board having test points according to a third aspect of the present invention, the first and second test points have the leads of a circuit component having leads inserted therein, and the circuit component is disposed on the component insertion surface. It is characterized by being arranged so as to extend in parallel with each other.

【0017】第4発明のテストポイントを有するプリン
ト基板は、上記第1及び第2のテストポイントにはそれ
ぞれハトメが挿入されていることを特徴とする。
A printed circuit board having test points according to a fourth aspect of the present invention is characterized in that eyelets are inserted into the first and second test points, respectively.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】次に本発明の発明の実施の形態に
ついて、図面を参照しながら詳細に説明する。はじめ
に、本発明の第1の実施の形態について説明する。図1
は本発明の第1の実施の形態のテストポイントを有する
プリント基板の平面図である。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. First, a first embodiment of the present invention will be described. FIG.
FIG. 2 is a plan view of a printed circuit board having test points according to the first embodiment of the present invention.

【0019】本実施の形態のテストポイントを有するプ
リント基板101は、その部品挿入面に第1及び第2の
テストポイント103が形成されており、この第1及び
第2のテストポイント103は所定の距離だけ隔てて互
いに隣接して配置されて構成されている。ここでは、第
1及び第2のテストポイント103にはそれぞれジャン
パー線104が部品挿入面から挿入され裏側のハンダ付
け面でハンダ付けされて固定されている。この第1及び
第2のジャンパー線104は互いに平行に延びるように
配置されている。ジャンパー線104は、図4のX線プ
ロテクタ回路では、テストポイント410と第一の回路
節点416との間の配線、テストポイント411と第二
の回路節点417との間の配線に、相当する。例えば、
第1及び第2のテストポイント103間の距離を2.5
mmとすれば、平行に延びる第1及び第2のジャンパー
線104間の距離も2.5mmとなる。
The printed circuit board 101 having test points according to the present embodiment has first and second test points 103 formed on the component insertion surface, and the first and second test points 103 are provided at predetermined positions. They are arranged adjacent to each other at a distance. Here, a jumper wire 104 is inserted into each of the first and second test points 103 from the component insertion surface, and is fixed by soldering on the soldering surface on the back side. The first and second jumper wires 104 are arranged to extend in parallel with each other. The jumper wire 104 corresponds to the wiring between the test point 410 and the first circuit node 416 and the wiring between the test point 411 and the second circuit node 417 in the X-ray protector circuit of FIG. For example,
The distance between the first and second test points 103 is 2.5
mm, the distance between the first and second jumper wires 104 extending in parallel is also 2.5 mm.

【0020】次に、本実施の形態のテストポイントを用
いた調整・検査方法について説明する。例えば、マイナ
スドライバー105を用意して、マイナスドライバー1
05の先端で隣接したジャンパー線104間をショート
する。
Next, an adjustment / inspection method using test points according to the present embodiment will be described. For example, a minus driver 105 is prepared, and a minus driver 1
At the end of 05, the adjacent jumper wires 104 are short-circuited.

【0021】このジャンパー線104は、このようにシ
ョートすると、テストポイント410、411間の抵抗
器R2がショートされテストポイント411の電圧V2
は電圧V1まで上昇し、等価的にCRTにかかる高電圧
の異常上昇と同じ状態がシミュレーションされるため、
このX線プロテクタ回路が正常に動作するか否かを検査
することができる。
When the jumper wire 104 is short-circuited in this way, the resistor R2 between the test points 410 and 411 is short-circuited, and the voltage V2 at the test point 411 is shorted.
Rises to the voltage V1, equivalently simulating the same state as the abnormal rise of the high voltage applied to the CRT,
It can be checked whether this X-ray protector circuit operates normally.

【0022】本実施の形態によれば、従来のテストピン
同士をショート治具でショートさせて調整・検査を行っ
ていたものと比較して、図5に示すテストピン508が
不要となり、部品コストを削減することができる。さら
に、図5に示す専用のショート治具509を不要にする
ことができる。加えて部品の自動挿入化が可能となり、
手挿入工数の削減及びプリント基板の組立時間の短縮が
可能となる。
According to the present embodiment, the test pins 508 shown in FIG. 5 become unnecessary compared with the conventional test pins in which adjustment and inspection are performed by shorting the test pins with a short jig. Can be reduced. Further, the dedicated short jig 509 shown in FIG. 5 can be eliminated. In addition, automatic insertion of parts becomes possible,
It is possible to reduce the number of manual insertion steps and the time required for assembling the printed circuit board.

【0023】次に、本発明の第2の実施の形態について
図面を参照しながら説明する。図2は、第2の実施の形
態のテストポイントを有するプリント基板の平面図であ
る。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 2 is a plan view of a printed circuit board having test points according to the second embodiment.

【0024】本実施の形態のテストポイントを有するプ
リント基板201は、その部品挿入面に第1及び第2の
テストポイント203が形成されており、この第1及び
第2のテストポイント203は所定の距離だけ隔てて互
いに隣接して配置されて構成されている。ここでは、第
1及び第2のテストポイント203にはそれぞれリード
を有する回路部品206−1及び回路部品206−2の
上記リードが挿入され、裏側のハンダ付け面でハンダ付
けされて固定されている。この第1及び第2の回路部品
206−1、206−2は互いに平行に延びるように配
置されている。
The printed circuit board 201 having test points according to the present embodiment has first and second test points 203 formed on the component insertion surface, and the first and second test points 203 are provided at predetermined positions. They are arranged adjacent to each other at a distance. Here, the leads of the circuit components 206-1 and 206-2 having leads are inserted into the first and second test points 203, respectively, and are fixed by soldering on the soldering surface on the back side. . The first and second circuit components 206-1 and 206-2 are arranged so as to extend in parallel with each other.

【0025】図2の平面図でのテストポイント203
は、図4ではX線プロテクタ回路のテストポイント41
0及び411に対応する。図2では、図4のテストポイ
ント410と第一の回路節点416との間に回路部品2
06−1が、図4のテストポイント411と第二の回路
節点417との間に回路部品206−2が、それぞれ挿
入された形態となっている。リードを有する回路部品の
一例として、ここでは抵抗を使って示されている。
The test point 203 in the plan view of FIG.
Is the test point 41 of the X-ray protector circuit in FIG.
0 and 411. In FIG. 2, the circuit component 2 is placed between the test point 410 and the first circuit node 416 of FIG.
06-1 is a form in which the circuit component 206-2 is inserted between the test point 411 and the second circuit node 417 in FIG. As an example of a circuit component having a lead, it is shown here using a resistor.

【0026】本実施の形態では、テストポイント203
同士をマイナスドライバーの先端などでショートさせる
と、回路部品206−1及び回路部品206−2を介し
て、図4の第一の回路節点416と第二の回路節点41
7とが電気的に接続されることになり、X線プロテクタ
回路が正常に動作するか否かを検査することができる。
In this embodiment, the test point 203
When the two are short-circuited by the tip of a flathead screwdriver or the like, the first circuit node 416 and the second circuit node 41 in FIG.
7 is electrically connected, and it can be checked whether the X-ray protector circuit operates normally.

【0027】このような、本実施の形態のテストポイン
ト203を有するプリント基板201によれば、第1の
実施の形態による効果に加えて、X線プロテクタ回路を
構成する回路部品を使うことによりジャンパー線のよう
な専用の線材も不要となり、更に部品コストを削減する
ことができる。
According to the printed circuit board 201 having the test points 203 of the present embodiment, in addition to the effects of the first embodiment, the jumper can be achieved by using the circuit components constituting the X-ray protector circuit. A special wire such as a wire is not required, and the parts cost can be further reduced.

【0028】さらに、このような第2の実施の形態によ
れば、図4で示すところのテストポイント410と第一
の回路節点416との間の回路部品206−1、テスト
ポイント411と第二の回路節点417との間の回路部
品206−2の定数を自由に設定することにより、X線
プロテクタ回路が正常に動作するか否かの検査を所望の
レベルで設定し行うことができ、図4に示されるような
X線プロテクタ回路の回路設計の自由度を上げることが
できる。
Further, according to the second embodiment, the circuit component 206-1 between the test point 410 and the first circuit node 416 as shown in FIG. By freely setting the constant of the circuit component 206-2 between the circuit node 417 and the circuit node 417, it is possible to set and inspect at a desired level whether or not the X-ray protector circuit operates normally. 4, the degree of freedom in circuit design of the X-ray protector circuit can be increased.

【0029】以上第2の実施の形態について説明した
が、この第1及び第2の回路部品206−1、206−
2の一方を、第1の実施の形態のようなジャンパー線1
04に置き換えることも可能である。このようにすれ
ば、さらにX線プロテクタ回路のテストのための回路設
計の自由度を向上できる。
Although the second embodiment has been described above, the first and second circuit components 206-1, 206-
2 is connected to the jumper wire 1 as in the first embodiment.
04 can also be substituted. By doing so, the degree of freedom in circuit design for testing the X-ray protector circuit can be further improved.

【0030】次に、本発明の第3の実施の形態について
図面を参照しながら説明する。図3は、第3の実施の形
態のテストポイントを有するプリント基板の平面図であ
る。
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 3 is a plan view of a printed circuit board having test points according to the third embodiment.

【0031】本実施の形態のテストポイントを有するプ
リント基板301は、その部品挿入面に第1及び第2の
テストポイント303が形成されており、この第1及び
第2のテストポイント303は所定の距離だけ隔てて互
いに隣接して配置されて構成されている。ここでは、第
1及び第2のテストポイント303にはそれぞれハトメ
307が挿入され裏側のハンダ付け面でハンダ付けされ
て固定されている。
The printed circuit board 301 having test points according to the present embodiment has first and second test points 303 formed on the component insertion surface, and the first and second test points 303 are provided at predetermined positions. They are arranged adjacent to each other at a distance. Here, eyelets 307 are inserted into the first and second test points 303, respectively, and are fixed by soldering on the soldering surface on the back side.

【0032】このような、本実施の形態のテストポイン
ト303を有するプリント基板301によれば、第1及
び第2の実施の形態による効果とは別に、部品の占有面
積を削減することができ、プリント基板上の部品配置が
容易となる。
According to the printed circuit board 301 having the test points 303 according to the present embodiment, the area occupied by the components can be reduced separately from the effects of the first and second embodiments. Parts arrangement on the printed circuit board is facilitated.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明のテストポイ
ントを有するプリント基板によれば、第1点として、調
整・検査に使用するテストポイントにジャンパー線、又
はリードを有する回路部品、又はハトメを用いることに
より、従来テストポイントとして使用していたテストピ
ンが不要となり、部品コストを削減できる効果がある。
As described above, according to the printed circuit board having the test points of the present invention, as the first point, a circuit component having jumpers or leads at test points used for adjustment and inspection, or an eyelet is provided. The use of the test pins eliminates the need for test pins conventionally used as test points, and has the effect of reducing component costs.

【0034】第2点として、隣接して配置された第1及
び第2のジャンパー線、又はリードを有する回路部品、
又はハトメ間を、マイナスドライバーの先端等でショー
トさせて当該回路の調整・検査を行うことができるた
め、専用のショート治具が不要となり、製造コストを削
減できる効果がある。
As a second point, a circuit component having first and second jumper wires or leads arranged adjacent to each other,
Alternatively, since adjustment and inspection of the circuit can be performed by short-circuiting between the eyelets with the tip of a flathead screwdriver or the like, a dedicated short jig is not required, and the manufacturing cost can be reduced.

【0035】第3点として、調整・検査に使用するテス
トポイントに自動挿入機による自動挿入が可能なジャン
パー線、又はリードを有する回路部品、又はハトメを用
いることにより、手挿入工数の削減ができ、プリント基
板の組立時間を短縮できる効果がある。
Third, by using a jumper wire or a circuit component having a lead or an eyelet which can be automatically inserted by an automatic insertion machine into a test point used for adjustment and inspection, the number of manual insertion steps can be reduced. This has the effect of reducing the assembly time of the printed circuit board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態によるテストポイン
トを説明するための平面図である。
FIG. 1 is a plan view for explaining test points according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施の形態によるテストポイン
トを有するプリント基板の平面図である。
FIG. 2 is a plan view of a printed circuit board having test points according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3の実施の形態によるテストポイン
トを有するプリント基板の平面図である。
FIG. 3 is a plan view of a printed circuit board having test points according to a third embodiment of the present invention.

【図4】本発明による調整・検査の対象となる回路例と
してのX線プロテクタ回路の回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram of an X-ray protector circuit as an example of a circuit to be adjusted and inspected according to the present invention.

【図5】従来のテストポイントを有するプリント基板の
斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view of a conventional printed circuit board having test points.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101、201、301、501 プリント基板 102、202、302 部品挿入穴 103、203、303、503、410、411 テ
ストポイント 104 ジャンパー線 105 マイナスドライバー 206−1、206−2 リードを有する回路部品(抵
抗器) 307 ハトメ 508 テストピン 509 ショート治具 412 CRT 413 水平発振回路のON/OFFスイッチ 414 水平発振回路 415 水平出力回路 416 第一の回路節点 417 第二の回路節点 V1 テストポイント410の電圧 V2 テストポイント411の電圧
101, 201, 301, 501 Printed circuit board 102, 202, 302 Component insertion hole 103, 203, 303, 503, 410, 411 Test point 104 Jumper wire 105 Slotted driver 206-1, 206-2 Circuit component having a lead (resistance 307 Eyelet 508 Test pin 509 Short jig 412 CRT 413 ON / OFF switch of horizontal oscillation circuit 414 Horizontal oscillation circuit 415 Horizontal output circuit 416 First circuit node 417 Second circuit node V1 Voltage of test point 410 V2 test Voltage at point 411

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 部品挿入面にお互いに隣接した第1及び
第2のテストポイントを形成したことを特徴とするテス
トポイントを有するプリント基板。
1. A printed circuit board having test points, wherein first and second test points adjacent to each other are formed on a component insertion surface.
【請求項2】 前記第1及び第2のテストポイントには
それぞれジャンパー線が挿入されており前記ジャンパー
線は前記部品挿入面上をお互いに平行に延びるように配
置されていることを特徴とする請求項1記載のテストポ
イントを有するプリント基板。
2. A jumper wire is inserted into each of the first and second test points, and the jumper wires are arranged to extend in parallel with each other on the component insertion surface. A printed circuit board having the test point according to claim 1.
【請求項3】 前記第1及び第2のテストポイントには
それぞれリードを有する回路部品の前記リードが挿入さ
れており前記回路部品は前記部品挿入面上をお互いに平
行に延びるように配置されていることを特徴とする請求
項1記載のテストポイントを有するプリント基板。
3. The lead of a circuit component having a lead is inserted into each of the first and second test points, and the circuit component is arranged so as to extend in parallel with each other on the component insertion surface. The printed circuit board having a test point according to claim 1, wherein
【請求項4】 前記第1及び第2のテストポイントには
それぞれハトメが挿入されていることを特徴とする請求
項1記載のテストポイントを有するプリント基板。
4. The printed circuit board having test points according to claim 1, wherein an eyelet is inserted into each of the first and second test points.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6365557B1 (en) 1999-10-20 2002-04-02 R.T. Vanderbilt Company, Inc. Thiadiazole additives and lubricating compositions containing the same
US6620771B2 (en) 1999-10-20 2003-09-16 R. T. Vanderbilt Company, Inc. Thiadiazole dimer additives and lubricating compositions containing the same
KR101280435B1 (en) * 2006-11-20 2013-06-28 엘지전자 주식회사 Pcb having test point in side plane and mobile terminerl having the same
JP2016092057A (en) * 2014-10-30 2016-05-23 多摩川精機株式会社 Jumper jig for electronic substrate

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