JPH11296863A - 情報記録再生方法および情報記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】再生信号に同期したクロックを発生するＰＬＬ
の、再生信号に対する同期状態をチェックすることによ
り、より安定な再生方法とそれを用いた情報記録装置を
提供すること。 【解決手段】情報記録媒体に光を照射し、該光の反射光
を検出して電気信号に変換し、該電気信号の振幅が所定
の値以上あるいは以下であることをもって二値化して情
報を再生する情報記録再生装置において、前記電気信号
の波形に基づいて前記所定の値を求める第１の検出回路
と、該電気信号から得られる同期信号に基づいて前記所
定の値を求める第２の検出回路とを有し、前記第１の検
出回路および前記第２の検出回路の使用を前記反射光の
検出状態において制御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクやＤＶ
Ｄ−ＲＡＭ等の光情報記録媒体に記録された記録データ
から得られる再生信号をスライスし、二値化した信号を
データ弁別することにより、記録データを再生する情報
記録再生方法および情報記録再生装置に関するものであ
り、より詳細には、光情報記録媒体への記録直後にその
記録状態をチェックするＲＡＷ（Read After Write）
処理を行なう情報記録再生方法に関し、再生信号と同期
したクロックと再生信号から記録状態の不良を検出し、
同一データを記録媒体の交替領域に記録する交替処理を
行なうことにより、高信頼データの記録再生が可能な情
報記録再生方法および情報記録再生装置に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク等の光情報記録媒体の記録膜
に光ビームを照射し、穴あけピットや磁化ドメイン等の
記録マークを記録膜に形成して情報を記録し、光情報記
録媒体からの反射光を用いて情報を再生する光ディスク
装置等の情報記録再生装置においては、複数の光ディス
クを入れ替えて使用できるので、情報を大量に記録再生
することができる反面、光ビームの熱により局所的な温
度上昇を利用して記録マークを形成するため、環境温度
等の変動により記録マークの形状が変動することと、光
ディスクを入れ替える際に塵埃が光ディスクに付着し、
正しく記録できない場合が少なくないので、可換性を考
慮して記録媒体に記録された記録マークの記録状態をチ
ェックする必要がある。

【０００３】そのため、光ディスク装置においては、情
報の記録直後にその記録状態をチェックするリードアフ
ターライト（Read After Write）処理を実施してい
る。このＲＡＷ処理は、情報の記録直後に記録情報を再
生し、その再生データと記録データとを比較し、ある規
定値以上の比較エラーが発生した場合、交替セクタに同
一のデータを記録する処理である。

【０００４】さらに、ＲＡＷ処理時に再生信号の二値化
回路とは異なるスライスレベルで二値化したデータと再
生同期信号から記録状態のチェックを行ない、不良なら
ば同様に交替セクタに同一データを記録する処理を行な
う方法が、特開平６−２２３５１０号公報に提案されて
いる。

【０００５】上記公開公報に記載された再生信号の二値
化回路は、異なるスライスレベルで二値化したデータと
再生同期信号から記録状態のチェックを行なう方法が開
示されており、その概略構成を図６に、図７に各部の動
作波形を示す。再生信号は、再生信号振幅を一定にする
自動利得制御回路（以下ＡＧＣと記す）、再生伝送系の
周波数特性を補正するイコライザ回路（以下ＥＱと記
す）および再生信号の帯域を制限する高域遮断フィルタ
（以下ＬＰＦと記す）等の再生信号処理回路６１を経
て、自動スライス制御回路６２（以下ＡＳＣと記す）と
共にスライス回路Ａ６３およびスライス回路Ｂ６４に入
力し、ＡＳＣ６２で適正なレベルでスライスされ、二値
化信号７０となる。

【０００６】上記二値化信号７０は、Phase Locked L
oop回路６５（以下ＰＬＬと記す）に入力し、同期した
再生同期クロック７１が発生する。弁別回路６６は、上
記二値化信号７０を上記再生同期クロック７１でデータ
弁別する。また、スライス回路Ａ６３およびスライス回
路Ｂ６４は、ＡＳＣ６２の適正スライスレベルに対して
各々ΔＶ加算したスライスレベルＡ７２とΔＶ減算した
スライスレベルＢ７３で上記再生信号処理回路１１の出
力信号をスライスし、スライス回路Ａ出力信号７４とス
ライス回路Ｂ出力信号７５を得、各々弁別回路Ａ６７と
弁別回路Ｂ６８に入力し、上記再生同期クロック７１で
データ弁別して弁別回路Ａ出力７６と弁別回路Ｂ出力７
７をＥＯＲ６９へ入力する。ＥＯＲ６９は、弁別回路Ａ
出力７６と弁別回路Ｂ出力７７が異なる場合に“Ｈ”と
なるＲＡＷエラー検出信号７８を出力する。ＲＡＷエラ
ー検出信号７８は、上記ＡＳＣ６２の適正スライスレベ
ルに対してΔＶ加減算したスライスレベルも弁別窓幅
（再生同期クロックの周期）内であるなら上記弁別回路
Ａ出力７６と弁別回路Ｂ出力７７は同じであり、上記Ｅ
ＯＲ６９出力は“Ｌ”となり、ΔＶ加減算したスライス
レベルのどちらか一方または両方共に弁別窓幅外となれ
ばＥＯＲ６９出力は“Ｈ”となり、記録した信号の位相
マージンが少ないことを示すＲＡＷエラー信号７８とな
る。

【０００７】しかし、図６に示した方法では、以下に示
すように、高周波振幅特性によってＲＡＷエラー検出精
度が変化するという問題がある。図７を用いてより詳細
に説明すると、記録状態が同じでも再生信号の高周波振
幅特性が大きい場合と小さい場合とでは、再生信号処理
回路６１出力の再生信号の立ち上がりおよび立ち下がり
の傾きが異なり、高周波振幅特性が小さい程傾きが緩や
かになってくる。このため、高周波振幅特性の小さい方
が上記適正スライスレベルの位置に対し、ΔＶ加算した
スライスレベルＡ７２およびΔＶ減算したスライスレベ
ルＢ７３での位置ずれが大きくなるので、従来の方法で
は高周波振幅特性が大きい場合は、ＲＡＷエラー出力が
“Ｌ”となり、高周波振幅特性が小さい場合は、ＲＡＷ
エラー出力が“Ｈ”となり、記録した信号の位相マージ
ンが少ないことを示し、記録状態にかかわらず再生信号
の高周波振幅特性によって記録状態の判定にばらつきが
生じる。これは上記ΔＶが大きい程顕著であり、ＲＡＷ
チェックにおけるマージン確保のためΔＶを大きくする
ことは、記録状態チェックのばらつきを大きくする。な
お、再生信号の高周波振幅特性は、上記ＥＱの設定や光
ディスク装置における光ヘッドのアパーチャ特性などに
より変動する。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
課題を解決し、高周波振幅特性に依存しないＲＡＷエラ
ー検出方法を提供し、記録媒体の記録再生特性の互換性
を高めた情報記録再生装置を提供することにある。

【０００９】本発明のもう一つの目的は、再生信号に同
期したクロックを発生するＰＬＬの、再生信号に対する
同期状態をチェックすることにより、より安定な再生方
法とそれを用いた情報記録再生装置を提供することにあ
る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上述した各種問題点を解
決する手段の一つとして、本発明では、情報記録媒体に
光を照射し、該光の反射光を検出して電気信号に変換
し、該電気信号の振幅が所定の値以上あるいは以下であ
ることをもって二値化して情報を再生する情報記録再生
装置において、前記電気信号の波形に基づいて前記所定
の値を求める第１の検出回路と、該電気信号が得られる
同期信号に基づいて前記所定の値を求める第２の検出回
路とを有し、前記第１の検出回路および前記第２の検出
回路の使用を前記反射光の検出状態に応じて制御するこ
とを特徴とする情報記録再生装置とする。

【００１１】

【発明の実施の形態】（実施例１）図１に、第１の目的
を達成する情報記録再生装置の一例を示す。情報の記録
再生を行なう記録媒体１は、スピンドルモーター２に保
持されて回転しており、記録媒体１を形成する記録膜と
しては、光磁気形記録膜（ＴｂＦｅＣｏ）や相変化形記
録膜（ＧｅＳｂＴｅ）がある。情報の記録・再生を行な
うレーザ光を発光する半導体レーザーと、半導体レーザ
ーからの光を記録媒体１上に１ミクロン以下の光スポッ
トとして形成する光学系と、記録媒体１からの反射光を
用いて情報の再生および自動焦点、トラック追跡などの
光点制御を行なうための光検出器を有する光ヘッド３に
よって記録媒体１上に情報の記録・再生を行なう。ま
た、光ヘッド３は、光ヘッド３自体をディスク半径方向
へ高速に駆動し、位置付けるリニアモータ（図示せず）
を構成している。

【００１２】通常、光ディスク装置はパーソナルコンピ
ュータ、ワークステーション等のホストコンピュータ４
(以下ホストと略す)と例えばＳＣＳＩ（Small Computer
System Interface)やＡＴＡＰＩ(AT Attached Packet
Interface)の規格に則ったインターフェースケーブルで
接続されており、ホスト４からの命令や情報データを含
むコマンドを光ディスク装置内のインターフェース制御
回路５で解読し、マイコン等から構成される制御回路６
を通して情報の記録、再生およびシーク動作を実行す
る。

【００１３】まず最初に記録動作について説明する。記
録データはホスト４から記録媒体１上の記録位置情報
（アドレス情報）を付加された状態で記録コマンドが発
行され、制御回路６内のバッファメモリ（図示せず）内
に蓄積された後、時系列的に変調回路７に送られる。変
調回路７において、記録データはランレングスリミティ
ッド（ＲＬＬ）コード、例えば（１、７）ＲＬＬコー
ド、（２、７）ＲＬＬコード、あるいは（２、１０）Ｒ
ＬＬコードに対応する符号列に変換され、さらに記録膜
上に形成するマーク形状に対応したパルス列、例えばマ
ークポジション記録時はコード”１”に対応したパルス
列、マークエッジ記録時はコード”１”がパルスエッジ
に対応したパルス列に変換される。これらのパルス列は
レーザ駆動回路８に導かれて光ヘッド３上の半導体レー
ザをＯＮ，ＯＦＦして高出力パルス発光させ、光ヘッド
３で収束した、微小スポットによって記録媒体１に記録
マークが形成される。

【００１４】次に再生動作について説明する。再生時は
ホスト４からの再生コマンドにより指定された、記録媒
体１上のトラックに光ヘッド３からの光スポットを位置
付け、当該トラックから信号を再生する。まず、光ヘッ
ド３上の半導体レーザを低出力のＤＣ発光させて記録媒
体１上の記録膜に照射すると、記録マークに対応した反
射光が得られ、光ヘッド３内の光検出器で受光して光電
変換され、電気信号となって再生回路９に入力された
後、データが再生されることになる。通常、再生回路９
は信号振幅を一定に保持するための自動利得制御回路
（ＡＧＣ）、光学的な空間周波数劣化を補正する波形等
化回路（ＥＱ）、低域制限フィルタ（ＬＰＦ）、二値化
回路、ＰＬＬ(Phase Locked Loop)回路、弁別回路から
構成されており、合成データ信号を二値化した後、弁別
されたデータに変換する。弁別された二値化データは復
調回路１０に入力され、（１、７）ＲＬＬコード、
（２、７）ＲＬＬコードあるいは（２，１０）ＲＬＬコ
ードの復調を行って元のデータを復調する。復調された
データは制御回路６に導かれてホスト４からの再生コマ
ンドに対応してインターフェース制御回路５からホスト
４に転送される。

【００１５】光ヘッド３内の光検出器ではデータ再生信
号のほかに光スポットを記録膜上に焦点制御を行う自動
焦点信号と任意のトラックに位置付けるトラック追跡制
御を行うトラック追跡信号を検出することができ、これ
ら光点制御を行う自動焦点信号、トラック追跡信号はサ
ーボ制御回路１１に導かれる。サーボ制御回路１１は誤
差信号生成回路、位相補償回路、および駆動回路から構
成されており、光ヘッド３を任意のトラックに位置付け
ることにより情報の記録、再生を実行する。

【００１６】光ディスク装置においては情報の記録直後
にその記録状態チェックするリードアフターライト（Re
ad After Write）処理を実施して記録データの信頼性
を向上させている。このＲＡＷ処理は情報の記録直後に
記録情報を再生し、その再生データと記録データとを比
較し、ある規定値以上の比較エラーが発生した場合に、
交替セクタに同一のデータを記録する処理である。記録
直後に、記録媒体１から光ヘッド３によって得られた再
生信号は、再生回路９を構成する、前記ＡＧＣ、ＥＱ、
ＬＰＦ及び二値化回路によって二値化された後、ＰＬＬ
によって生成された再生同期クロックと一緒にＲＡＷエ
ラー検出回路１２に入力される。該ＲＡＷエラー検出回
路１２は記録状態が不良であるか否かの判定したＲＡＷ
エラー検出信号を制御回路６に送り、制御回路６は不良
の領域に関する情報を記憶すると共に再度、変調回路
７、レーザ駆動回路８、光ヘッド３内のレーザを制御し
て、不良と判断された記録信号に対応する記録データと
同じデータを上記記録媒体１上に設けられた交替領域に
記録する。記録状態のチェックは該記録媒体１の最小デ
ータ領域（セクタ）単位（例えば２０４８バイト）、あ
るいは１６セクタからなるブロック単位で実行し、１セ
クタ不良とみなされた場合、１ブロック全てを再度記録
し直し、さらに不良と判定された場合には、交替領域に
記録するかもしくは不良のセクタのみを交替領域に記録
するようにする。本発明の情報記録再生装置を用いれ
ば、ＲＡＷエラー検出にデータ弁別で用いる二値化信号
とそれに同期するＰＬＬの出力信号を用いて行うことか
ら再生信号の高域振幅特性に依存せず安定なＲＡＷエラ
ー検出を実現できる。

【００１７】上記ＲＡＷエラー検出回路１２の具体例を
図２に示し、該具体例の各部動作波形を図３に示して説
明する。例えば記録マークのエッジに情報を持たせるマ
ーク長記録によって記録データに応じた記録マークを記
録媒体１に記録する場合を例にすると、記録直後に当該
トラックを再生し、再生回路９に入力された再生信号は
再生信号振幅を一定にするＡＧＣ３１、再生伝送系の周
波数特性を補正するＥＱ３２及び再生信号の帯域を制限
するＬＰＦ３３を経て、ＡＳＣ３４に入力され、二値化
信号３５を得る。該二値化信号３５はエッジに情報を有
するのでエッジ検出回路３６によって二値化信号３５の
エッジ部で所定のパルス幅の図３に示すようなエッジ信
号３７を発生し、前記ＰＬＬ３８に入力する。該ＰＬＬ
３８は再生同期クロックを発生するが、一般にＰＬＬ３
８は入力信号（本例ではエッジ信号３７）と出力信号で
ある再生同期クロック３９の位相比較回路と該位相比較
回路の出力信号で、再生同期クロックよりエッジ信号の
方が時間的に先の場合に発生する位相進み誤差４０と逆
に再生同期クロックよりエッジ信号の方が時間的に後の
場合に発生する位相遅れ誤差４１を積分するフィルタ及
びフィルタで高周波成分が抑圧された信号で出力信号を
発生する電圧制御発振回路（以下ＶＣＯと記す）から成
る。本実施例では二値化信号３５と再生同期クロックの
比較してＲＡＷエラー検出を行う特別な手段を用いずに
上記ＰＬＬ３８の内部信号である上記位相進み誤差４０
と上記位相遅れ誤差４１を用いる。これは回路を簡略化
するためとデータ弁別で用いる二値化信号に同期するＰ
ＬＬ３８の信号で行うことから再生信号の高域振幅特性
に依存せず最も正確に弁別の位相マージンを表している
からである。図３に示すように二値化信号３５と再生同
期クロック３９のエッジが一致していない場合、該位相
進み誤差４０と該位相遅れ誤差４１は図３に示すように
発生し、ＯＲ４２で位相誤差信号４３となり、積分器Ａ
４４に入力する。該積分器Ａ４４は図３に示すように該
位相誤差信号４３の“Ｈ”の期間容量に充電し、“Ｌ”
の期間は充電に比べ十分高速に放電する。このため二値
化信号３５と再生同期クロック３９の位相差が大きいほ
ど積分器Ａ４４の出力信号４５の波高値は大きくなり、
スライス回路４６で所定のスライスレベルでスライスす
ることで、二値化信号と再生同期クロックの位相差が所
定のものより大きい場合“Ｈ”となる。該スライスレベ
ルは記録媒体の可換性を考慮して決める。スライス回路
４６の出力信号４７をカウンタ４８で所定の時間、例え
ば前記１６セクタを１ブロックとする場合では１セクタ
の間カウントし、所定のカウント数以上となったならＲ
ＡＷエラー検出信号４９を発生し、記録状態が不良であ
ったことを前記制御回路６に知らせる。該カウンタ４８
は該所定の時間毎に制御回路６からのカウンタ制御信号
５０によりクリアされる。尚、カウンタ４８の規模を小
さくするため、上記具体例において１セクタを複数の領
域に細分化して不良判定し、不良となる領域の割合で１
セクタの不良判定してもかまわない。なお、図２の実施
例では該位相誤差信号４３の幅を検出するのに積分器Ａ
４４とスライス回路４６を用いたが、高速クロックで位
相誤差信号４３の“Ｈ”の期間をカウントする方法やモ
ノマルチプレクサを用いたものなど幅を検出する方法は
問わない。

【００１８】上記ＲＡＷエラー検出回路１２のもう一つ
の具体例を図４に示し、該具体例の各部動作波形を図５
に示して説明する。図２及び図３と同じところは説明を
省略する。前記位相誤差信号４３は積分器Ｂ５１に入力
し、図５に示すように該位相誤差信号４３の“Ｈ”の期
間容量に充電し、“Ｌ”の期間は充電に比べ十分低速に
放電する。このため二値化信号と再生同期クロックの位
相差が発生するほど積分器Ｂ５１の出力信号５２の波高
値は大きくなり、特に記録不良部では位相誤差量が大き
いから波高値はいっそう大きくなる。これをスライス回
路５３で所定のスライスレベルでスライスし、記録状態
の不良があったなら“Ｈ”となるＲＡＷエラー信号５４
を得る。前記積分器Ｂ５１はＲＡＷエラー検出を行う領
域単位で制御回路６からの放電制御信号５５により容量
を強制放電し、検出領域単位の位相誤差量の積算を行
う。

【００１９】（実施例２）本発明の他の実施例を図２〜
図５を用いて説明する。記録状態が異常となったデータ
を再生する場合には再生同期クロックに対してデータエ
ッジが一致しないのでＰＬＬが暴走することがあり、場
合によっては当該セクタだけでなく、次のセクタのデー
タ再生にも影響を与えることがある。この問題を解決す
るために、ＲＡＷエラー検出回路１２を利用する。図２
におけるＲＡＷエラーを判定するカウンタ４８におい
て、ＲＡＷエラー判定用カンウンタ値のほかにＰＬＬ暴
走判定用のカウンタ値を設定しておき、ＰＬＬ暴走判定
用カウンタ値を越えた時に発生する異常検出信号はＰＬ
Ｌ暴走信号５６とし、この信号を制御回路６に送る。も
し、ＰＬＬ暴走と判定したならば、ＰＬＬ３８の同期す
る信号を前記エッジ検出回路３６の出力信号３７でなく
安定した、水晶発振器等で発振する固定周波数の信号に
切替えることにより、より安定な再生方法を実現する。
また、図４におけるＲＡＷエラー判定用のスライスレベ
ルを有するスライス回路５３とは別のスライス回路Ｐ５
６を設置し、ＰＬＬ暴走判定用のスライスレベルを設定
し、ＰＬＬ暴走時にＰＬＬ暴走信号５７として制御回路
６に送る。図２の場合と同様にもし、ＰＬＬ暴走と判定
したならば、ＰＬＬ３８の同期する信号を前記エッジ検
出回路３６の出力信号３７でなく安定した、水晶発振器
等で発振する固定周波数の信号に切替えることにより、
より安定な再生方法を実現する。

【００２０】（実施例３）本発明の第３の実施例につい
て、図８を用いて説明する。

【００２１】図８は、スライスレベルのコントロールを
行なうＡＳＣ６２の構成を示す図である。

【００２２】図８で示すようにＡＳＣ６２は、再生信号
の波形を検出するDuty検出回路８００と、ＰＬＬのロッ
ク点を検出するJitterエラー検出回路８１０とを備えて
いる。このDuty検出回路８００とJitterエラー検出回路
８１０とを制御しながら最適なスライスレベルを設定す
る。

【００２３】本実施例の特徴は、Duty検出回路８００と
Jitterエラー検出回路８１０とを状況に応じてそれぞれ
独立して制御することができることであり、以下この点
について説明する。

【００２４】Duty検出回路８００とJitterエラー検出回
路８１０とを用いてスライスレベルを設定するにあた
り、Duty検出回路８００とJitterエラー検出回路８１０
により、光情報記録媒体の再生信号を検出し、検出した
再生信号をコンパレータ８２０で二値化し、ＰＬＬ８３
０に入力し、再生クロックを発生する。しかし、再生信
号の検出中に、すれが生じることが有り、このずれを補
正するためにこの再生信号のずれを検出し、再生信号の
同期を取り、再生信号のずれを補正するために光情報記
録媒体に形成されたsync（シンク）と呼ばれる特定のパ
ターンをsync検出８４０およびsync判定８５０により検
出している。

【００２５】再生信号の検出中にsyncが見えなくなった
場合、ＰＬＬのロック点が正規の位置からずれたと判断
され、いくつかのsyncが見えなくなった場合、ドライブ
が誤動作し、記録されたデータが正しく読めなってしま
う。

【００２６】このため、本実施例では、いくつかのsync
が見えなくなった場合、Jitterエラー検出回路８１０を
ＯＦＦし、Duty検出回路のみで再生信号の検出を行な
う。Duty検出回路８００のみで再生信号の検出を行なう
場合、Duty検出用フィルタ定数の切り換え等を行ない、
Duty検出回路８００の応答性を向上させることにより、
syncの検出をすばやく行なえるようにする。そして、sy
ncの検出が可能となったら、Jitterエラー検出回路８１
０を再度ＯＮし、Duty検出回路８００とJitterエラー検
出回路８１０とを用いて再生信号の検出を行なう。

【００２７】Duty検出回路８００のみでもsyncが検出で
きない場合、Duty検出回路８００もＯＦＦした状態で再
生信号の検出を行なう。Duty検出回路８００およびJitt
erエラー検出回路８１０をＯＦＦしてもsyncが検出でき
ない場合、中心スライスレベルに設定する。

【００２８】（実施例４）次に、図９を用いて本発明の
第４の実施例について説明する。

【００２９】図９は、ＡＳＣ６２の前に配置された微分
器９００によるＤＣ変動を抑制するための構成を示した
ブロック図である。

【００３０】通常、ＡＳＣ６２の前には、微分器９００
が配置されている。この微分器９００を配置することに
よりＤＣ変動が生じるが、このＤＣ変動はJitterエラー
検出回路８１０のスライスレベルで補うことができる。
しかし、Jitterエラー検出回路８１０の負担が増えた
り、ダイナミックレンジが広くなってしまうため、本実
施例では、図９（ａ）に示すように、微分器９００によ
るＤＣ変動を抑制するために微分器９００とＡＳＣ６２
の間に量子化帰還回路（ＤＣ補正回路）９１０を配置し
たことを特徴としている。

【００３１】量子化帰還回路（ＤＣ補正回路）９１０
は、図９（ｂ）で示すように、コンパレータ９２０と積
分器９３０で構成されており、微分の特性を積分の特性
で補正することで、ＨＰＦで捉えたＤＣ成分を補間して
ＡＳＣ６２に入れることにより、Jitterエラー検出回路
８１０の負担を減らすとともに、ダイナミックレンジを
小さくすることが可能となる。

【００３２】（実施例５）次に、ＲＡＷ条件の調整につ
いて説明する。

【００３３】ＲＡＷ条件の調整は、記録の後に余裕を持
って再生できるようにするために行なわれる。上述した
従来のＲＡＷ条件は、スライスレベルを±ΔＶだけずら
し、３個の弁別器を用いてＲＡＷ条件を調整している。
しかし、ΔＶは、回路を構成する素子により決まるもの
であり、回路を構成する素子が多い程、ΔＶは大きくな
ってしまう。このため従来のように３個の弁別器を用い
ている回路では、回路規模が大きくなり、ΔＶが大きく
なってしまうので、再生信号のばらつきが大きく、スラ
イスレベルの調整が難しくなり、許容されているばらつ
きの範囲を越えてしまうという問題がある。

【００３４】そこで本発明では、１個の弁別器と、エラ
ーパルスのゼロクロス点のずれを検出するジッタ検出器
によりＲＡＷ条件を調整することで、回路規模を小さく
し、ＲＡＷ条件のばらつきを小さくするようにした。以
下、具体的な構成について説明する。

【００３５】図１０は、本発明におけるＲＡＷ条件を調
整を行なうためのブロック図である。図１０において、
まずＰＬＬクロックとデータエッジを位相比較器１００
０に入力し、クロックとデータエッジの二値化位置のず
れを検出し、積分器１１００で三角波に変換する。三角
波に変換後、レベル比較器１１１０によりしきい値電圧
を入力し、しきい値電圧よりも大きい三角波を検出した
場合にはパルスを１個入力する。なお、しきい値電圧
は、１６段階で変えることが可能である。

【００３６】入力したパルスの数（エラーの数）を、エ
ラーエッジカウンタ１１２０でカウントする。また、デ
ータエッジ自体のデータ数を全エッジカウンタ１１３０
で数える。そして、全データ数に対するエラーの数を比
率ででるようにしておき、この比率をＣＰＵ１１４０に
取り込む。

【００３７】図１１は、ＲＡＷ条件の調整方法を示す図
である。図１１において、横軸はスライスレベルを設定
するレジスタの値、縦軸は検出窓幅としている。また図
の点線は、設計値を示し、プロット点は実際の測定値を
示している。実際の測定値は、ＩＣ等の特性により若干
のずれが生じるため、このずれを所望の範囲で押さえる
ように設計しなければならない。

【００３８】本発明では、このずれを押さえるために、
しきい値電圧と検出窓幅との関係を直線補間で計算（最
小２乗法）し、フィッティングさせるようにした。例え
ば、検出窓幅を８０％に設定したい場合、設計値ではレ
ジスタの値は１０であるが、実際に測定したデータでは
１１〜１２となる。

【００３９】次に、本発明のよるＲＡＷ条件の調整の流
れについて説明する。

【００４０】図１２は、本発明によるＲＡＷ条件の調整
の動作を示すフローチャートである。まず、ステップ１
２００において未記録トラックにアクセスする。次に、
ステップ１２１０でトラックの状態をチェックし、欠陥
の有無をチェックする（ステップ１２２０）。欠陥があ
れば、ステップ１２１０に戻り、別のトラックへ移動す
る。欠陥がなければ、トラックの信号記録状態をチェッ
クし（ステップ１２３０）、信号がなければステップ１
２４０に進む。信号が記録されている場合は、信号を消
去し（ステップ１２３５）、ステップ１２３０に戻る。

【００４１】ステップ１２４０においては、トラックに
“１”を入力した後、しきい値電圧を設定し、しきい値
電圧を変えながら１セクタ再生し、エラーをカウントし
読み込む。カウントを読み込んだ後、セクタ内を平均化
し、サンプルから最大、最小を除きサンプルを平均化す
る。

【００４２】サンプルの平均化後、ステップ１２５０へ
進み、しきい値電圧と検出窓幅の関係を最小２乗法によ
り計算し、しきい値電圧を決定し、ＥＥＰＲＯＭに格納
することで、ＲＡＷ条件の調整が行なわれる。

【００４３】この調整の結果、図１３で示すように、例
えば標準記録を７０％、ＲＡＷ条件を８５％にすると、
８５〜１００％の再生余裕が確保でき、かつ再生信号の
エッジが常に再生余裕の内側に入っているので、再生時
のスポット歪みや装置の個体差によるずれを吸収するこ
とが可能となる。

【００４４】

【発明の効果】本発明ではデータ弁別で用いる二値化信
号とそれに同期するＰＬＬの出力信号を用いてＲＡＷエ
ラー検出を行うことから、再生のデータ弁別と同等の位
相マージン検出が可能なので再生信号の高域振幅特性等
の振幅特性変動に依存せず安定なＲＡＷエラー検出を実
現できる。

【００４５】また、データ弁別で用いる二値化信号とそ
れに同期するＰＬＬの出力信号を用いてＰＬＬの異常検
出行い、ＰＬＬの同期する信号を安定な固定周波数の信
号に切替えることにより、より安定な再生方法を実現で
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を説明するためのブロック図

【図２】ＲＡＷエラー検出回路の第１の具体例を説明す
るためのブロック図

【図３】ＲＡＷエラー検出回路の第１の具体例の波形を
説明するための図

【図４】ＲＡＷエラー検出回路の第２の具体例を説明す
るためのブロック図

【図５】ＲＡＷエラー検出回路の第２の具体例の波形を
説明するための図

【図６】従来のＲＡＷエラー検出方法を説明するブロッ
ク図

【図７】従来のＲＡＷエラー検出方法の波形を説明する
ための補足図

【図８】スライスレベルのコントロールを行なうＡＳＣ
の構成を示す図

【図９】微分器によるＤＣ変動を抑制するための構成を
示す図

【図１０】ＲＡＷ調整を行なうためのブロック図

【図１１】ＲＡＷ条件の調整方法を示す図

【図１２】ＲＡＷ条件の調整の流れを示す図

【図１３】本発明によるＲＡＷ条件の結果を示す図

【符号の説明】

１・・・記録媒体、２・・・スピンドルモータ、３・・・光ヘッ
ド、４・・・ホストコンピュータ、５・・・インターフェース
制御回路、６・・・制御回路、７・・・変調回路、８・・・レー
ザ駆動回路、９・・・再生回路、１０・・・復調回路、１１・・
・サーボ制御回路、１２・・・ＲＡＷエラー検出回路、３１
・・・ＡＧＣ、３２・・・ＥＱ、３３・・・ＬＰＦ、３４・・・ＡＳ
Ｃ、３６・・・エッジ検出回路、３８・・・ＰＬＬ、４２・・・
ＯＲ回路、４４・・・積分器Ａ、４６・・・スライス回路、４
８・・・カウンタ、５１・・・積分器Ｂ、５３・・・スライス回
路、５６・・・スライスＰ回路、６２・・・ＡＳＣ、８００・・
・Duty検出器、８１０・・・Jitter検出器、８２０・・・コン
パレータ、８３０・・・ＰＬＬ、８４０・・・sync検出、８５
０・・・sync判定、９００・・・微分器、９１０・・・量子化帰
還回路、１０００・・・位相比較器、１１００・・・積分器、
１１１０・・・レベル比較器、１１２０・・・エラーエッジカ
ウンタ、１１３０・・・全エッジカウンタ、１１４０・・・Ｃ
ＰＵ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５２０ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５２０Ｃ ５７２ ５７２Ｃ (72)発明者 賀来 敏光 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所映像情報メディア事業部内 (72)発明者 川嶋 徹 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立画像情報システム内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】情報記録媒体に光を照射し、該光の反射光
   を検出して電気信号に変換し、該電気信号の振幅が所定
   の値以上あるいは以下であることをもって二値化して情
   報を再生する情報記録再生装置において、 前記電気信号の波形に基づいて前記所定の値を求める第
   １の検出回路と、該電気信号が得られる同期信号に基づ
   いて前記所定の値を求める第２の検出回路とを有し、 前記第１の検出回路および前記第２の検出回路の使用を
   前記反射光の検出状態に応じて制御することを特徴とす
   る情報記録再生装置。