JPH11289106A - Led array, manufacture thereof, and led printer head - Google Patents

Led array, manufacture thereof, and led printer head

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JPH11289106A
JPH11289106A JP8969398A JP8969398A JPH11289106A JP H11289106 A JPH11289106 A JP H11289106A JP 8969398 A JP8969398 A JP 8969398A JP 8969398 A JP8969398 A JP 8969398A JP H11289106 A JPH11289106 A JP H11289106A
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led array
led
substrate
light emitting
groove
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Hiroshi Toyama
広 遠山
Susumu Ozawa
進 小澤
Toshimitsu Yamashita
俊光 山下
Yuuko Kitayama
憂子 北山
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To avoid the dark emission or no emission of light at a light emitter, due to the p-n short circuit caused by the crack or bonding wire contact. SOLUTION: This LED array 1 comprises an n-type semiconductor substrate 10 having a plurality of p-type light-emitting regions 11 and notches H1-H4 and individual electrodes 12 contacted separately to the emitting regions 11 with wires bonded thereto. Notches H1-H4 are formed at the surface periphery of the semiconductor substrate 10, the end sides h1-h4 of the notches H1-H4 at the substrate side faces S1-S4 are formed at positions deeper than the bottom of the emitting regions 11 in a plane involving the substrate surface to form the outermost shape of the LED array 1, as seen from the substrate surface. When the plurality of LED arrays 1 are mounted on LED print heads, the end sides h1, h2 provide contact parts, and the wires pass above the notch H4 to connect to pads outside the arrays.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板にLE
D(発光ダイオード)を複数形成したLEDアレイの構
造および製造方法、ならびに複数のLEDアレイを備え
た、電子写真プリンタ等において感光ドラムの露光光源
として用いられるLEDプリントヘッドに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention
The present invention relates to a structure and a manufacturing method of an LED array in which a plurality of D (light emitting diodes) are formed, and an LED print head provided with a plurality of LED arrays and used as an exposure light source of a photosensitive drum in an electrophotographic printer or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】図13は従来のLEDアレイの構造図で
あり、(a)は上面図、(b)は(a)におけるA−
A’間の断面図、(c)は(a)におけるB−B’間の
断面図である。図13のLEDアレイ101は、n型半
導体基板110と、複数の開口部が形成された図示しな
い絶縁膜と、複数のp型半導体領域(発光部)11と、
複数の個別電極12と、共通電極13とを有する。
2. Description of the Related Art FIGS. 13A and 13B are structural views of a conventional LED array, wherein FIG. 13A is a top view, and FIG.
FIG. 3C is a cross-sectional view taken along line A ′, and FIG. 3C is a cross-sectional view taken along line BB ′ in FIG. The LED array 101 in FIG. 13 includes an n-type semiconductor substrate 110, an insulating film (not shown) having a plurality of openings formed therein, a plurality of p-type semiconductor regions (light emitting portions) 11,
It has a plurality of individual electrodes 12 and a common electrode 13.

【0003】発光部11は、上記の開口部位置に対応す
る半導体基板110の部分領域に形成されている。個別
電極12は、その一部が発光部11の部分領域にコンタ
クトするように形成されている。共通電極13は、半導
体基板110の裏面に形成され、これにコンタクトして
いる。LEDアレイ101には、複数の発光部11およ
び複数の個別電極12がそれぞれ一列に形成されてい
る。1個の発光部11と、これにコンタクトする個別電
極12と、半導体基板10と、共通電極13とは、1個
のLEDを構成している。
The light emitting section 11 is formed in a partial region of the semiconductor substrate 110 corresponding to the position of the opening. The individual electrode 12 is formed so that a part thereof contacts a partial region of the light emitting unit 11. The common electrode 13 is formed on the back surface of the semiconductor substrate 110 and is in contact therewith. In the LED array 101, a plurality of light emitting units 11 and a plurality of individual electrodes 12 are formed in a line. One light emitting section 11, the individual electrode 12 that contacts the light emitting section 11, the semiconductor substrate 10, and the common electrode 13 constitute one LED.

【0004】LEDアレイの製造工程であるダイシング
工程において、半導体ウエハに複数形成されたLEDア
レイは、例えば特開平2−10879号公報に開示され
るように、半導体基板110の断面が逆台形となるよう
に、つまり発光部11が形成された半導体基板110の
表面が底辺となり、共通電極13が形成された半導体基
板110の裏面が頂辺となる台形になるように、ダイヤ
モンドブレードにより半導体ウエハから切り出される。
In a dicing process which is a manufacturing process of an LED array, a plurality of LED arrays formed on a semiconductor wafer have an inverted trapezoidal cross section of a semiconductor substrate 110 as disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-10879. In other words, the semiconductor substrate 110 on which the light emitting portion 11 is formed has a trapezoidal shape in which the front surface is the base and the back surface of the semiconductor substrate 110 on which the common electrode 13 is formed is a trapezoid. It is.

【0005】図13(a)に示すように、LEDアレイ
101(半導体基板110)の上面(表面)から見た最
外形は長方形である。ただし、上記のダイシング工程お
ける位置決め誤差により、長方形にならない場合もあ
る。なお、以下の説明において、発光部11の列に垂直
な短寸法側の半導体基板110の側面を短側面と称し、
また発光部11の列に沿った長寸法側の半導体基板11
0の側面を長側面と称する。
[0005] As shown in FIG. 13A, the outermost shape of the LED array 101 (semiconductor substrate 110) viewed from the upper surface (front surface) is a rectangle. However, the shape may not be rectangular due to the positioning error in the above dicing process. In the following description, the side surface of the semiconductor substrate 110 on the short dimension side perpendicular to the row of the light emitting units 11 is referred to as a short side surface,
In addition, the semiconductor substrate 11 on the long dimension side along the row of the light emitting units 11
The side of 0 is called the long side.

【0006】LEDアレイを用いる装置、例えばLED
プリントヘッドにおいては、LEDアレイ101の裏面
の共通電極13を配線基板上の共通電極パッドにダイボ
ンドすることにより、上記の短側面同士を向き合わせて
LEDアレイ同士を近接させ、複数のLEDアレイを配
線基板に一列にマウントし、個別電極12と配線基板上
の個別電極パッドとをワイヤボンドにより接続する。こ
のため、マウントし易いように、LEDアレイ101の
断面が逆台形になるように半導体ウエハから切り出すの
である。
A device using an LED array, for example, an LED
In the print head, the common electrodes 13 on the back surface of the LED array 101 are die-bonded to the common electrode pads on the wiring board, so that the short sides face each other, the LED arrays are brought close to each other, and a plurality of LED arrays are wired. The individual electrodes 12 and the individual electrode pads on the wiring board are mounted on the substrate in a line, and connected by wire bonding. For this reason, the LED array 101 is cut out from the semiconductor wafer so that the cross section of the LED array 101 becomes an inverted trapezoid so as to be easily mounted.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
のLEDアレイおよびLEDプリントヘッドにおいて
は、図14((b)は(a)におけるA−A’間の断面
図)に示すように、隣接するLEDアレイ同士が接触し
た場合には、発光部11が形成された表面と短側面との
端辺部同士が接触し、この端辺部を起点としてクラック
が発生し、発光部11にクラックが到達し易く、クラッ
クによる発光部11の暗発光(電極間に電圧を印加して
いないのに発光してしまう現象)および不点灯(電極間
に電圧を印加しても発光しない現象)を生じることがあ
るという問題があった。
However, in the above-mentioned conventional LED array and LED print head, as shown in FIG. 14 ((b) is a cross-sectional view taken along line AA 'in FIG. When the arrays come into contact with each other, the edges on the surface on which the light emitting portion 11 is formed and the short side come into contact with each other, cracks are generated starting from this edge, and the cracks reach the light emitting portion 11. It is easy to cause dark light emission (a phenomenon in which light is emitted without applying a voltage between the electrodes) and non-lighting (a phenomenon in which no light is emitted even when a voltage is applied between the electrodes) of the light emitting unit 11 due to cracks. There was a problem.

【0008】また、上記従来のLEDアレイおよびLE
Dプリントヘッドにおいては、図15((b)は(a)
におけるB−B’間の断面図)に示すように、配線基板
40の小型化等により、配線基板40のLEDアレイ1
01のマウント位置と個別電極パッド42の位置との距
離がとれない場合に、LEDアレイ101の個別電極1
2と個別電極パッド42を接続するワイヤ41の湾曲余
裕度が小さくなり、ワイヤ41が半導体基板110の表
面と長側面との端辺部に接触することにより、n型半導
体基板110とp型半導体領域(発光部)11とをショ
ートさせ、発光部11の暗発光および不点灯を生じるこ
とがあるという間題点があった。特に、図15(a)に
点線で示すように、最外形が長方形でないLEDアレイ
101を用いたり、LEDアレイ101が個別電極パッ
ド42の列に対し、傾斜してマウントされた場合に、上
記のショートが起こり易かった。
Further, the above-mentioned conventional LED array and LE
In the case of the D print head, FIG.
(A cross-sectional view taken along the line BB ′ in FIG. 1), the size of the
When the distance between the mounting position of the LED array 101 and the position of the individual electrode pad 42 cannot be kept,
The bending margin of the wire 41 connecting the second electrode 2 and the individual electrode pad 42 is reduced, and the wire 41 comes into contact with the surface of the semiconductor substrate 110 and the side edge of the long side surface, so that the n-type semiconductor substrate 110 and the p-type semiconductor There is a problem that the area (light emitting portion) 11 may be short-circuited to cause dark emission and non-lighting of the light emitting portion 11. In particular, as shown by the dotted line in FIG. 15A, when the LED array 101 whose outermost shape is not rectangular is used, or when the LED array 101 is mounted obliquely with respect to the row of the individual electrode pads 42, Shorts were easy to occur.

【0009】また、図16は従来のLEDプリントヘッ
ドの発光強度分布を示す図であるが、図16に示すよう
に、従来のLEDプリントヘッドにおいては、LEDア
レイ101の継ぎ目、つまりLEDアレイ101の表面
外周端辺部の発光部11に近い部分から光漏れが生じ、
プリンタの感光ドラムに対する光漏れ部分の光書き込み
分解能が低下してしまうことがあるという問題があっ
た。
FIG. 16 is a diagram showing the light emission intensity distribution of the conventional LED print head. As shown in FIG. 16, in the conventional LED print head, the joint of the LED array 101, that is, the LED array 101 Light leakage occurs from the portion near the light emitting portion 11 on the outer peripheral edge of the surface,
There has been a problem that the optical writing resolution of the light leaking portion to the photosensitive drum of the printer may be reduced.

【0010】本発明はこのような従来の問題を解決する
ためになされたものであり、クラックあるいはボンディ
ングワイヤの接触によるpnショートに起因する発光部
の暗発光および不点灯をなくすことができるLEDアレ
イおよびLEDプリントヘッドを提供することを目的と
するものである。また、光漏れをなくすことができるL
EDアレイおよびLEDプリントヘッドを提供すること
を目的とするものである。
The present invention has been made to solve such a conventional problem, and an LED array capable of eliminating dark light emission and non-lighting of a light emitting portion due to a pn short circuit due to a crack or contact of a bonding wire. And an LED print head. In addition, L which can eliminate light leakage
It is an object to provide an ED array and an LED print head.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明のLEDアレイは、第1導電型の半導体基板
の表面を含む領域に第2導電型の複数の発光部を一列に
形成したLEDアレイにおいて、前記基板の表面と側面
との端辺部に切り欠きを設けたことを特徴とするもので
ある。
In order to achieve the above object, an LED array according to the present invention has a plurality of light emitting portions of a second conductivity type formed in a line in a region including a surface of a semiconductor substrate of a first conductivity type. In the above-described LED array, a notch is provided at an edge portion between the surface and the side surface of the substrate.

【0012】クラックの発生をなくすためには、前記側
面切り欠き端辺部を、基板表面を含む平面に対し、発光
部の底部よりも深い位置に形成し、また前記切り欠き
を、基板表面の外周部、あるいは基板表面と、発光部列
に垂直な基板両側面との端辺部に形成する。また、pn
ショートをなくすためには、発光部に個別にコンタクト
する複数の個別電極を基板表面上に発光部列に沿って形
成したLEDアレイの前記切り欠きを、基板表面の外周
部、あるいは基板表面と発光部列に沿った基板両側面と
の端辺部に形成する。
In order to eliminate the occurrence of cracks, the side edge of the side notch is formed at a position deeper than the bottom of the light emitting portion with respect to a plane including the surface of the substrate, and the notch is formed on the surface of the substrate. It is formed on the outer peripheral portion, or on the edge of the substrate surface and both side surfaces of the substrate perpendicular to the light emitting portion row. Also, pn
In order to eliminate the short circuit, the notch of the LED array, in which a plurality of individual electrodes individually contacting the light emitting unit are formed on the substrate surface along the light emitting unit row, is formed on the outer peripheral portion of the substrate surface or the light emitting surface. It is formed on the side edge of both sides of the substrate along the row.

【0013】また、本発明のLEDアレイの製造方法
は、LEDアレイが複数形成された半導体ウエハの表面
のLEDアレイ境界領域にホトリソおよびエッチングに
より断面がほぼ円弧状の溝を形成する工程と、切削領域
の両端に前記溝を残し、また前記ウエハの裏面に対して
切削側面が鈍角をなすように、前記ウエハを前記溝に沿
って切り出し、LEDアレイを分離する工程とを含むこ
とを特徴とするものである。
The method of manufacturing an LED array according to the present invention further comprises a step of forming a groove having a substantially arc-shaped cross section by photolithography and etching in an LED array boundary region on a surface of a semiconductor wafer on which a plurality of LED arrays are formed; Leaving the groove at both ends of the region, and cutting the wafer along the groove so that the cutting side forms an obtuse angle with respect to the back surface of the wafer, and separating the LED array. Things.

【0014】また、本発明の他のLEDアレイの製造方
法は、LEDアレイが複数形成された半導体ウエハの表
面のLEDアレイ境界領域にホトリソおよびウエットエ
ッチングにより断面がほぼV字状の第1の溝を形成する
工程と、前記第1の溝に対向する前記ウエハの裏面領域
に、前記第1の溝に近接する深さの第2の溝を形成する
工程と、前記ウエハを前記第1の溝の谷底のラインであ
るスクライブラインに沿って前記第2の溝に至るように
劈開させ、LEDアレイを分離する工程とを含むことを
特徴とするものである。
According to another method of manufacturing an LED array of the present invention, a first groove having a substantially V-shaped cross section is formed by photolithography and wet etching in an LED array boundary region on a surface of a semiconductor wafer on which a plurality of LED arrays are formed. Forming a second groove having a depth close to the first groove in a rear surface region of the wafer facing the first groove; and forming the first groove in the wafer. Cleaving along the scribe line, which is the line at the bottom of the groove, to reach the second groove, and separating the LED array.

【0015】また、光漏れをなくすようにした本発明の
LEDプリントヘッドは、本発明の複数個のLEDアレ
イと、前記複数個のLEDアレイがマウントされた配線
基板とを備え、前記マウントされたLEDアレイの切り
欠き上に、空気よりも屈折率の高い透光性樹脂を充填し
たことを特徴とするものである。
Further, an LED print head according to the present invention in which light leakage is eliminated includes a plurality of LED arrays of the present invention, and a wiring board on which the plurality of LED arrays are mounted. The notch of the LED array is filled with a translucent resin having a higher refractive index than air.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】第1実施形態 図1は本発明の第1実施形態に係るLEDアレイの構造
図であり、(a)は上面図、(b)は(a)におけるA
−A’間の断面図、(c)は(a)におけるB−B’間
の断面図である。図1のLEDアレイ1は、n型半導体
基板10と、半導体基板10を露出させる複数の開口部
が形成された図示しない絶縁膜と、複数のp型半導体領
域(発光部)11と、複数の個別電極12と、共通電極
13と、切り欠きH1,H2,H3,H4とを有する。
なお、半導体基板10がp型半導体であり、発光部11
がn型半導体であっても良い。また、以下の説明におい
て、上面図(a)における半導体基板10の短寸法側の
側面(発光部11の列に垂直な側面)を短側面と称し、
半導体基板10の長寸法側の側面(発光部11の列に沿
った側面)を長側面と称する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First Embodiment FIG. 1 is a structural view of an LED array according to a first embodiment of the present invention, wherein (a) is a top view and (b) is A in (a).
FIG. 3C is a cross-sectional view taken along a line BB ′ in FIG. The LED array 1 of FIG. 1 includes an n-type semiconductor substrate 10, an insulating film (not shown) in which a plurality of openings exposing the semiconductor substrate 10 are formed, a plurality of p-type semiconductor regions (light emitting portions) 11, and a plurality of It has an individual electrode 12, a common electrode 13, and notches H1, H2, H3, and H4.
Note that the semiconductor substrate 10 is a p-type semiconductor and the light emitting unit 11
May be an n-type semiconductor. In the following description, the side surface on the short dimension side (the side surface perpendicular to the row of the light emitting units 11) of the semiconductor substrate 10 in the top view (a) is referred to as a short side surface,
The long side surface of the semiconductor substrate 10 (the side surface along the row of the light emitting units 11) is referred to as a long side surface.

【0017】半導体基板10には、例えばGaAsある
いはGaAsPの化合物半導体を用いる。また、p型半
導体領域11は、例えば気相拡散法あるいは固相拡散法
を用い、亜鉛等のp型不純物を絶縁膜の開口部を通して
半導体基板10に拡散することにより、半導体基板10
の開口部表面を含む部分領域に形成されている。また、
個別電極12は、その一部が発光部11の部分領域にオ
ーバーラップするように上記絶縁膜上に形成されてお
り、それぞれ発光部11に個別にオーミックコンタクト
している。個別電極12には、例えばアルミニウムある
いはアルミニウム合金を用いる。また、共通電極13
は、半導体基板10の裏面に形成され、半導体基板10
にオーミックコンタクトしている。共通電極13には、
例えば金合金等の金を含む金属を用いる。
As the semiconductor substrate 10, for example, a GaAs or GaAsP compound semiconductor is used. The p-type semiconductor region 11 is formed by diffusing a p-type impurity such as zinc into the semiconductor substrate 10 through the opening of the insulating film by using, for example, a vapor phase diffusion method or a solid phase diffusion method.
Is formed in a partial region including the surface of the opening. Also,
The individual electrodes 12 are formed on the insulating film so as to partially overlap the partial region of the light emitting unit 11, and are individually in ohmic contact with the light emitting unit 11. For the individual electrode 12, for example, aluminum or an aluminum alloy is used. Also, the common electrode 13
Are formed on the back surface of the semiconductor substrate 10 and
Ohmic contact. The common electrode 13 includes
For example, a metal containing gold such as a gold alloy is used.

【0018】LEDアレイ1には、複数のp型半導体領
域11および複数の個別電極12がそれぞれ一列に形成
されている。1個のp型半導体領域11と、これにコン
タクトする個別電極12と、半導体基板10と、共通電
極13とは、1個のLEDを構成している。個別電極1
2は、上記のLEDに個別に電流を供給するためのもの
である。
In the LED array 1, a plurality of p-type semiconductor regions 11 and a plurality of individual electrodes 12 are formed in a line. One p-type semiconductor region 11, the individual electrode 12 contacting the p-type semiconductor region 11, the semiconductor substrate 10, and the common electrode 13 constitute one LED. Individual electrode 1
Reference numeral 2 is for individually supplying current to the LEDs.

【0019】切り欠きH1〜H4は、半導体基板10の
表面外周部にそれぞれ形成されている。切り欠きH1〜
H4の断面は、半導体基板10の側に凸となる略円弧状
である。切り欠きH1,H2は、半導体基板10の表面
と短側面S1,S2との端辺部にそれぞれ設けられてお
り(図1(b))、また切り欠きH3,H4は、半導体
基板10の表面と長側面S3,S4との端辺部にそれぞ
れ設けられている(図1(c))。また、側面S1〜S
4が半導体基板10の裏面となす角はいずれも鈍角であ
る。
The notches H1 to H4 are formed on the outer peripheral portion of the surface of the semiconductor substrate 10, respectively. Notch H1
The cross section of H4 has a substantially arc shape that protrudes toward the semiconductor substrate 10 side. The notches H1 and H2 are provided at the edges of the surface of the semiconductor substrate 10 and the short side surfaces S1 and S2, respectively (FIG. 1B). And long side surfaces S3 and S4 are provided at the end sides thereof (FIG. 1 (c)). Also, the side surfaces S1 to S
Each of the angles 4 and the back surface of the semiconductor substrate 10 is an obtuse angle.

【0020】切り欠きH1,H2と短側面S1,S2と
の端辺部である短側面切り欠き端辺部h1,h2、およ
び切り欠きH3,H4と長側面S3,S4との端辺部で
ある長側面切り欠き端辺部h3,h4は、半導体基板1
0の表面を含む平面に対し、発光部11の底部よりも深
い位置に形成されている。短側面切り欠き端辺部h1,
h2から半導体基板10の裏面までの断面は逆台形であ
り(図1(b))、また長側面切り欠き端辺部h3,h
4から半導体基板10の裏面までの断面も逆台形である
(図1(c))。切り欠きH1〜H4および側面S1〜
S4は、ダイシング工程において形成される。
The short side notch ends h1, h2, which are the ends of the notches H1, H2 and the short sides S1, S2, and the ends of the notches H3, H4 and the long sides S3, S4. Certain long side cut end sides h3 and h4 are
It is formed at a position deeper than the bottom of the light emitting unit 11 with respect to a plane including the surface of the zero. Short side notch edge h1,
The cross section from h2 to the back surface of the semiconductor substrate 10 is an inverted trapezoid (FIG. 1 (b)), and long side cutout edges h3, h
4 to the back surface of the semiconductor substrate 10 are also inverted trapezoids (FIG. 1 (c)). Notch H1-H4 and side S1-
S4 is formed in a dicing step.

【0021】以下に、切り欠きH1〜H4および側面S
1〜S4の形成工程であるLEDアレイ1のダイシング
工程について説明する。図2は本発明の第1実施形態に
係るダイシング工程の説明図であり、(a)はLEDア
レイ1aが碁盤目に形成された半導体ウエハ21に切り
欠きHとなるエッチング溝22を形成する工程であり、
また(b)および(c)はLEDアレイ1aを分離し、
切り欠きHおよび側面Sを形成する工程である。なお、
図中のLEDアレイ1aおよび1bは、ダイシング工程
途中のLEDアレイ1であり、半導体基板10となるn
型半導体ウエハ21に、発光部11と個別電極12と共
通電極13と(それぞれ図1参照)を形成したものであ
る。
The notches H1 to H4 and the side surfaces S
The dicing process of the LED array 1 which is the process of forming 1 to S4 will be described. FIG. 2 is an explanatory view of a dicing step according to the first embodiment of the present invention. FIG. 2 (a) is a step of forming an etching groove 22 which becomes a notch H in a semiconductor wafer 21 in which an LED array 1a is formed in a grid. And
(B) and (c) separate the LED array 1a,
This is a step of forming the notch H and the side surface S. In addition,
The LED arrays 1a and 1b in the figure are the LED arrays 1 during the dicing process, and
A light emitting unit 11, an individual electrode 12, and a common electrode 13 (see FIG. 1) are formed on a mold semiconductor wafer 21.

【0022】図2(a)に示すように、ホトリソおよび
エッチング法により、半導体ウエハ21におけるLED
アレイ1aの境界領域(図中の斜線領域)をエッチング
し、断面が略円弧状(略U字状)のエッチング溝22を
形成する。このエッチング溝22は、その底部が発光部
11(図1参照)の底部よりも深くなるように形成され
る。なお、ダイシング領域23(図中の点線で囲まれた
領域)は、このあと切り出される領域である。ダイシン
グ領域23はエッチング溝22の内部に設定され、ダイ
シング領域23の幅はエッチング溝22の幅よりも狭
い。
As shown in FIG. 2A, the LED on the semiconductor wafer 21 is formed by photolithography and etching.
The boundary region (hatched region in the figure) of the array 1a is etched to form an etching groove 22 having a substantially arc-shaped (substantially U-shaped) cross section. The etching groove 22 is formed so that the bottom is deeper than the bottom of the light emitting section 11 (see FIG. 1). Note that the dicing region 23 (region surrounded by a dotted line in the figure) is a region cut out thereafter. The dicing region 23 is set inside the etching groove 22, and the width of the dicing region 23 is smaller than the width of the etching groove 22.

【0023】次に図2(b)に示すように、エッチング
溝22の幅よりも刃厚の薄いダイヤモンドブレード31
を用い、このダイヤモンドブレード31を半導体ウエハ
21の裏面に対して垂直方向から数度傾けて配置し、切
削領域の両端にエッチング溝22を残すように、ダイシ
ング領域23(図2(a)参照)に沿って半導体ウエハ
21を切り出し、LEDアレイ1aを分離する。これに
より、半導体ウエハ21に形成されたLEDアレイ1a
は、その表面と側面との端辺部に切り欠きHが設けられ
たLEDアレイ1bに分離される。LEDアレイ1bの
断面は略平行四辺形となる。
Next, as shown in FIG. 2B, a diamond blade 31 having a smaller blade thickness than the width of the etching groove 22 is used.
The dicing region 23 (see FIG. 2 (a)) is arranged such that the diamond blade 31 is inclined by several degrees from the vertical direction with respect to the back surface of the semiconductor wafer 21 so that the etching grooves 22 are left at both ends of the cutting region. The semiconductor wafer 21 is cut out along the line to separate the LED array 1a. As a result, the LED array 1a formed on the semiconductor wafer 21
Are separated into an LED array 1b provided with a notch H at the edge of the surface and the side. The cross section of the LED array 1b is substantially a parallelogram.

【0024】さらに図2(c)に示すように、ダイヤモ
ンドブレード31を図2(b)と反対の方向に数度傾け
て配置し、LEDアレイ1の裏面に対して切削側面が全
て鈍角をなすように、LEDアレイ1bの裏面に対して
鋭角をなしている側面(図2(b)参照)を削る。
Further, as shown in FIG. 2 (c), the diamond blade 31 is arranged at an angle of several degrees in the direction opposite to that of FIG. 2 (b), and all of the cutting side surfaces form an obtuse angle with respect to the back surface of the LED array 1. Thus, the side surface (see FIG. 2B) that forms an acute angle with the back surface of the LED array 1b is cut.

【0025】以上のダイシング工程により、表面と各側
面S1〜S4との端辺部に切り欠きH1〜H4が設けら
れ、各側面S1〜S4が裏面に対して鈍角をなすLED
アレイ1が完成する。側面切り欠き端辺部h1〜h4
(図1参照)は、発光部11の底部よりも深い位置に形
成され、また表面から見たときのLEDアレイ1の最外
形となっている。
By the above dicing process, notches H1 to H4 are provided at the edges of the front surface and the side surfaces S1 to S4, and the LED is formed such that each of the side surfaces S1 to S4 forms an obtuse angle with respect to the back surface.
Array 1 is completed. Side notch edge h1 to h4
(See FIG. 1) is formed at a position deeper than the bottom of the light emitting unit 11 and is the outermost shape of the LED array 1 when viewed from the surface.

【0026】図3は本発明の第1実施形態に係るLED
プリントヘッドの概略構造図であり、(a)は上面図、
(b)は(a)におけるA−A’間の断面図、(c)は
(a)におけるB−B’間の断面図である。図3のLE
Dプリントヘッドは、複数のLEDアレイ1(図1参
照)と、配線基板40と、複数の個別電極パッド42
と、複数のワイヤ41と、LEDアレイ1を駆動するた
めの図示しない駆動ICとを備えている。
FIG. 3 shows an LED according to the first embodiment of the present invention.
It is a schematic structure diagram of a print head, (a) is a top view,
(B) is a cross-sectional view between AA ′ in (a), and (c) is a cross-sectional view between BB ′ in (a). LE in FIG.
The D print head includes a plurality of LED arrays 1 (see FIG. 1), a wiring board 40, and a plurality of individual electrode pads 42.
And a plurality of wires 41 and a drive IC (not shown) for driving the LED array 1.

【0027】配線基板40には、LEDアレイ1−k
(kは任意の整数)の短側面S2とLEDアレイ1−
(k+1)の短側面S1とが向き合い、各LEDアレイ
1の発光部列が一列になるように、複数のLEDアレイ
1が近接配置され、マウントされている。LEDアレイ
1の裏面の共通電極13は、配線基板40のLEDアレ
イマウント位置に形成された図示しない共通電極パッド
にダイボンドされている。また、複数の個別電極パッド
42は、配線基板40にマウントされたLEDアレイ1
の個別電極12にそれぞれ対応し、配線基板40上にL
EDアレイ1の長側面S4に沿って一列に形成されてい
る。また、ワイヤ41は、LEDアレイ1の切り欠きH
4の上空を通過して、対応する個別電極12と個別電極
パッド42とを接続している。
The wiring board 40 includes an LED array 1-k
(K is an arbitrary integer) short side S2 and LED array 1-
The plurality of LED arrays 1 are arranged close to each other and mounted such that the short side surfaces S1 of (k + 1) face each other, and the light emitting unit rows of each LED array 1 are aligned. The common electrode 13 on the back surface of the LED array 1 is die-bonded to a common electrode pad (not shown) formed at the LED array mounting position on the wiring board 40. Further, the plurality of individual electrode pads 42 are provided on the LED array 1 mounted on the wiring board 40.
Corresponding to the individual electrodes 12 of FIG.
They are formed in a line along the long side surface S4 of the ED array 1. In addition, the wire 41 is provided with the notch H of the LED array 1.
4, the corresponding individual electrode 12 and the individual electrode pad 42 are connected.

【0028】図3のLEDプリントヘッドにおけるLE
Dアレイ1の表面と個別電極パッド42側の長側面S4
の端辺部には、切り欠きH4が設けられているので、従
来のLEDアレイよりもワイヤ41の湾曲余裕度が大き
くなり、ワイヤ41がn型半導体基板10に接触するこ
とによる発光部11と半導体基板10のpnショートが
発生しにくい。従って、pnショートに起因する暗発光
および不点灯がほとんど発生しない。
LE in the LED print head of FIG.
Surface of D array 1 and long side surface S4 on individual electrode pad 42 side
Since the notch H4 is provided at the end of the LED array, the wire 41 has a greater bending allowance than the conventional LED array, and the wire 41 contacts the n-type semiconductor substrate 10 with the light emitting unit 11. The pn short circuit of the semiconductor substrate 10 hardly occurs. Therefore, dark light emission and non-lighting due to the pn short circuit hardly occur.

【0029】図4はLEDアレイ1が接触してマウント
された場合の説明図であり、(a)は上面図、(b)は
(a)におけるA−A’間の断面図である。LEDアレ
イ1の最外形は、切り欠きH1〜H4の側面切り欠き端
辺部h1〜h1であり(図3(a)参照)、LEDアレ
イ1−kとLEDアレイ1−(k+1)を接近させ過ぎ
た場合に接触するのは、LEDアレイ1−kの短側面切
り欠き端辺部h2とLEDアレイ1−(k+1)の短側
面切り欠き端辺部h1なので、接触によるクラックは短
側面切り欠き端辺部h1,h2を起点として発生する。
しかし、短側面切り欠き端辺部h1、h2は、発光部1
1よりも深い位置に形成されているので、そこを起点と
してクラックが発生しても、発光部11にクラックが到
達しにくい。従って、接触によりクラックが発生しても
暗発光および不点灯がほとんど発生しない。
FIGS. 4A and 4B are explanatory diagrams when the LED array 1 is mounted in contact with the LED array 1. FIG. 4A is a top view, and FIG. 4B is a sectional view taken along line AA 'in FIG. The outermost shape of the LED array 1 is the side cutout edge portions h1 to h1 of the cutouts H1 to H4 (see FIG. 3A), and the LED array 1-k and the LED array 1- (k + 1) are brought close to each other. In case of passing, the short side notch edge h2 of the LED array 1-k and the short side notch edge h1 of the LED array 1- (k + 1) contact each other. It occurs with the end portions h1 and h2 as starting points.
However, the short side cutout end sides h1 and h2 are the light emitting units 1
Since it is formed at a position deeper than 1, even if a crack occurs starting there, it is difficult for the crack to reach the light emitting unit 11. Therefore, even if a crack occurs due to contact, dark light emission and non-lighting hardly occur.

【0030】このように本発明の第1実施形態によれ
ば、LEDアレイ1の表面外周部に切り欠きH1〜H4
を設けたことにより、LEDアレイ1の個別電極12を
LEDプリントヘッドの個別電極パッド42に接続する
ワイヤ41の湾曲余裕度が大きくなるので、ワイヤ41
の接触による半導体基板10と発光部11のpnショー
トが発生しにくくなり、pnショートに起因する暗発光
および不点灯をなくすことができる。なお、ワイヤの湾
曲余裕度を大きくするだけであれば、図3のLEDプリ
ントヘッドでは、ワイヤ41が上空を通過する切り欠き
H4が設けられていれば良く、切り欠きH1〜H3なく
ても良い。また、側面切り欠き端辺部h1〜h4は、半
導体基板10の表面を含む平面と半導体基板の裏面を含
む平面の間に位置していれば良い。
As described above, according to the first embodiment of the present invention, the notches H1 to H4
Is provided, the wire 41 that connects the individual electrodes 12 of the LED array 1 to the individual electrode pads 42 of the LED print head has a large bending allowance.
Pn short-circuit between the semiconductor substrate 10 and the light-emitting portion 11 due to the contact of the semiconductor substrate 10 is less likely to occur, and dark light emission and non-lighting caused by the pn short-circuit can be eliminated. Note that if only the wire bending margin is to be increased, the LED print head of FIG. 3 only needs to be provided with the notch H4 through which the wire 41 passes over the sky, and may not have the notches H1 to H3. . Further, the side notch edge portions h1 to h4 may be located between a plane including the front surface of the semiconductor substrate 10 and a plane including the back surface of the semiconductor substrate.

【0031】また、側面切り欠き端辺部h1〜h4が、
発光部11の底部よりも深い位置にあり、LEDアレイ
1の最外形となる構造にしたことにより、LEDアレイ
1をLEDプリントヘッドにマウントするときに、LE
Dアレイ1同士が接触したとしても、接触箇所は短側面
切り欠き端辺部h1とh2なので、短側面切り欠き端辺
部h1,h2を起点としてクラックが発生しても、発光
部11にクラックが到達しにくく、クラックの発生に起
因する暗発光および不点灯をなくすことができる。な
お、発光部11にクラックが到達しにくくするだけであ
れば、接触箇所となる短側面切り欠き端辺部h1,h2
に対応する切り欠きH1,H2が設けられていれば良
く、切り欠きH3,H4はなくても良い。
Further, the side cutout edges h1 to h4 are
When the LED array 1 is mounted on the LED print head, it is located at a position deeper than the bottom of the light emitting unit 11 and has the outermost shape of the LED array 1.
Even if the D arrays 1 are in contact with each other, the contact points are the short side cutout end sides h1 and h2. Therefore, even if a crack starts from the short side cutout end sides h1 and h2, the light emitting unit 11 is cracked. Is difficult to reach, and dark light emission and non-lighting caused by the occurrence of cracks can be eliminated. In addition, if it is only difficult for the crack to reach the light emitting portion 11, the short side cutout edge portions h1 and h2 serving as contact portions are provided.
Notches H1 and H2 may be provided, and notches H3 and H4 may not be provided.

【0032】第2実施形態 図5は本発明の第2の実施形態に係るLEDアレイの構
造図であり、(a)は上面図、(b)は(a)における
A−A’間の断面図、(c)は(a)におけるB−B’
間の断面図である。なお、図5において、図1と同じも
のには同じ符号が付してある。
Second Embodiment FIGS. 5A and 5B are structural views of an LED array according to a second embodiment of the present invention, wherein FIG. 5A is a top view, and FIG. 5B is a cross section taken along line AA ′ in FIG. FIG. 3C shows BB ′ in FIG.
It is sectional drawing between. In FIG. 5, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.

【0033】図5のLEDアレイ51は、n型半導体基
板50と、半導体基板50を露出させる複数の開口部が
形成された図示しない絶縁膜と、複数のp型半導体領域
(発光部)11と、複数の個別電極52と、共通電極1
3と、切り欠きI1,I2,I3,I4とを有する。つ
まり、LED51は、半導体基板50と、個別電極52
と、切り欠きI1,I2,I3,I4以外は、図1のL
EDアレイ1と同じである。半導体基板50は、切り欠
きI1〜I4および側面T1,T2,T3,T4の形状
以外は、図1の半導体基板10と同じである。また、複
数の個別電極52は、複数の発光部11が微細なピッチ
で配置されているため、千鳥状(ジグザグ)に二列配置
されている。
The LED array 51 shown in FIG. 5 includes an n-type semiconductor substrate 50, an insulating film (not shown) having a plurality of openings for exposing the semiconductor substrate 50, and a plurality of p-type semiconductor regions (light emitting portions) 11. , The plurality of individual electrodes 52 and the common electrode 1
3 and notches I1, I2, I3 and I4. That is, the LED 51 includes the semiconductor substrate 50 and the individual electrodes 52.
1 except for the notches I1, I2, I3 and I4.
It is the same as the ED array 1. The semiconductor substrate 50 is the same as the semiconductor substrate 10 of FIG. 1 except for the shapes of the notches I1 to I4 and the side surfaces T1, T2, T3, and T4. In addition, the plurality of individual electrodes 52 are arranged in two rows in a zigzag pattern because the plurality of light emitting units 11 are arranged at a fine pitch.

【0034】切り欠きI1〜I4は、半導体基板50の
表面外周部にそれぞれ形成されている。切り欠きI1〜
I4の断面は、外側に向けて下るように傾斜した略直線
状である。切り欠きI1,I2は、半導体基板50の表
面と短側面T1,T2との端辺部にそれぞれ設けられて
おり(図5(b))、また切り欠きI3,I4は、半導
体基板10の表面と長側面T3,T4との端辺部にそれ
ぞれ設けられている(図5(c))。また、側面T1〜
T4が半導体基板50の裏面となす角はいずれも略直角
である。
The notches I1 to I4 are formed in the outer peripheral portion of the surface of the semiconductor substrate 50, respectively. Notch I1
The cross section of I4 is a substantially straight line that is inclined so as to descend outward. The notches I1 and I2 are provided at the edges of the surface of the semiconductor substrate 50 and the short sides T1 and T2, respectively (FIG. 5B), and the notches I3 and I4 are formed on the surface of the semiconductor substrate 10. And long side surfaces T3, T4 (FIG. 5 (c)). Also, the side surface T1
The angle between T4 and the back surface of the semiconductor substrate 50 is substantially a right angle.

【0035】切り欠きI1,I2と短側面T1,T2と
の端辺部である短側面切り欠き端辺部i1,i2、およ
び切り欠きI3,I4と長側面T3,T4との端辺部で
ある長側面切り欠き端辺部i3,i4は、半導体基板5
0の表面を含む平面に対し、発光部11の底部よりも深
い位置に形成されている。また、側面切り欠き端辺部i
1〜i4は、対応する側面T1〜T4に対し庇状に突出
している。
The short side notch edges i1 and i2, which are the edges of the notches I1 and I2 and the short sides T1 and T2, and the edges of the notches I3 and I4 and the long sides T3 and T4. One long side cutout edge part i3, i4 is formed by the semiconductor substrate 5
It is formed at a position deeper than the bottom of the light emitting unit 11 with respect to a plane including the surface of the zero. Also, the side notch edge i
1 to i4 protrude like eaves from the corresponding side surfaces T1 to T4.

【0036】以下に、切り欠きI1〜I4および側面T
1〜T4の形成工程であるLEDアレイ51のダイシン
グ工程について説明する。図6は本発明の第2実施形態
に係るダイシング工程の説明図であり、(a)および
(b)は、LEDアレイ51aが碁盤目に形成された半
導体ウエハ61の表面に切り欠きIとなる第1の溝62
を形成し、また半導体ウエハ61の裏面に側面Tとなる
第2の溝63を形成する工程であり、また(b)あるい
は(c)は、LEDアレイ51aを分離する工程であ
る。なお、図中のLEDアレイ51aは、ダイシング工
程途中のLEDアレイ51であり、半導体基板50とな
るn型半導体ウエハ61に、発光部11と個別電極52
と共通電極13と(それぞれ図5参照)を形成したもの
である。
The notches I1 to I4 and the side surface T
The dicing process of the LED array 51, which is the process of forming the T1 to T4, will be described. FIGS. 6A and 6B are explanatory views of a dicing step according to the second embodiment of the present invention. FIGS. 6A and 6B show a cutout I on the surface of a semiconductor wafer 61 on which an LED array 51a is formed in a grid. First groove 62
Is formed, and a second groove 63 serving as the side surface T is formed on the back surface of the semiconductor wafer 61. (b) or (c) is a step of separating the LED array 51a. The LED array 51a in the figure is the LED array 51 in the middle of the dicing process, and the light emitting unit 11 and the individual electrodes 52 are placed on the n-type semiconductor wafer 61 serving as the semiconductor substrate 50.
And a common electrode 13 (see FIG. 5).

【0037】図6(a)および(b)に示すように、ホ
トリソおよびウエットエッチング法により、半導体ウエ
ハ61におけるLEDアレイ51aの境界領域(図6
(a)中の斜線領域)をウエットエッチングし、断面が
略V字状の第1の溝62を形成する。この第1の溝62
は、中央の谷底が発光部11(図5参照)の底部よりも
深くなるように形成される。上記のウエットエッチング
には、半導体ウエハ61の面方位に沿ってエッチングを
進行させることが可能なエッチャントを用いる。なお、
第2の溝63を形成したあとに、中央の谷底ラインであ
るスクライブライン62aに沿って半導体ウエハ61を
劈開させる。
As shown in FIGS. 6A and 6B, the boundary region (FIG. 6) of the LED array 51a on the semiconductor wafer 61 is formed by photolithography and wet etching.
The hatched area in (a) is wet-etched to form a first groove 62 having a substantially V-shaped cross section. This first groove 62
Are formed such that the bottom of the center is deeper than the bottom of the light emitting section 11 (see FIG. 5). For the above wet etching, an etchant capable of causing the etching to proceed along the plane orientation of the semiconductor wafer 61 is used. In addition,
After the formation of the second groove 63, the semiconductor wafer 61 is cleaved along a scribe line 62a that is a central valley bottom line.

【0038】また、適当な刃厚のダイヤモンドブレード
71を用い、このダイヤモンドブレード71を半導体ウ
エハ61の裏面に対して垂直に配置し、表面に形成され
た第1の溝62の下の半導体ウエハ61の裏面領域に、
断面が長方形である第2の溝63を第1の溝62に近接
する深さまで形成する。なお、第2の溝63の断面形状
は任意であり、例えば台形でも良い。
Further, a diamond blade 71 having an appropriate blade thickness is used, and the diamond blade 71 is arranged perpendicular to the back surface of the semiconductor wafer 61, and the semiconductor wafer 61 below the first groove 62 formed on the surface is formed. In the back area of
A second groove 63 having a rectangular cross section is formed to a depth close to the first groove 62. The cross-sectional shape of the second groove 63 is arbitrary, and may be, for example, a trapezoid.

【0039】次に、図6(c)に示すように、第1の溝
62が形成された表面を上にして半導体ウエハ61をス
テージ72に載せ、断熱部材73裏面の第1の溝62に
対応する位置に、断面形状が逆半円形の縦長のヒータ突
起74を設けた劈開ツールを用い、ヒータ突起74を第
1の溝62に接触させ、第1の溝62の壁面を形成する
半導体領域を局所的に加熱し、第1の溝62の谷底ライ
ンであるスクライブライン62a周辺の半導体領域に熱
歪みを生じさせることにより、半導体ウエハ61をスク
ライブライン62aに沿って第2の溝63に至るように
劈開させ、LEDアレイ51aを分離する。なお、ヒー
タ突起74は、スクライブライン62aを含む第1の溝
62の壁面周辺の半導体領域を局所的に加熱できるもの
であれば良く、その断面形状は任意であり、例えばV字
状でも良い。また、断熱部材73はヒータ突起74が発
生する熱を逃がさないものであれば良い。
Next, as shown in FIG. 6C, the semiconductor wafer 61 is placed on the stage 72 with the surface on which the first groove 62 is formed facing upward, and is placed in the first groove 62 on the back surface of the heat insulating member 73. Using a cleavage tool provided with a vertically long heater protrusion 74 having a reverse semicircular cross section at a corresponding position, the heater protrusion 74 is brought into contact with the first groove 62 to form a semiconductor region forming a wall surface of the first groove 62. Is locally heated to cause thermal distortion in the semiconductor region around the scribe line 62a, which is the valley bottom line of the first groove 62, so that the semiconductor wafer 61 reaches the second groove 63 along the scribe line 62a. And the LED array 51a is separated. The heater protrusion 74 may be any as long as it can locally heat the semiconductor region around the wall surface of the first groove 62 including the scribe line 62a, and its cross-sectional shape is arbitrary, and may be, for example, V-shaped. Further, the heat insulating member 73 may be any material as long as the heat generated by the heater protrusion 74 is not released.

【0040】あるいは、図6(d)に示すように、第1
の溝62が形成された表面を上にして半導体ウエハ61
をステージ72に載せ、加圧部材75裏面の第1の溝6
2に対応する位置に、断面形状が逆半円形の縦長の加圧
突起76を設けた劈開ツールを用い、加圧突起76を第
1の溝62の側壁に接触させ、第1の溝62の側壁を押
し広げるように圧力を加え、スクライブライン62a周
辺の半導体領域に圧力歪みを生じさせることにより、半
導体ウエハ61をスクライブライン62aに沿って第2
の溝63に至るように劈開させ、LEDアレイ51aを
分離する。なお、加圧突起76は、第1の溝62の側壁
に第1の溝62を押し広げるような圧力を加えることが
できるものであれば良く、その断面形状はヒータ突起7
4と同様に任意である。
Alternatively, as shown in FIG.
Semiconductor wafer 61 with the surface having grooves 62 formed thereon facing upward.
Is placed on the stage 72, and the first groove 6 on the back surface of the pressing member 75 is
2, using a cleavage tool provided with a vertically long pressing protrusion 76 having an inverted semicircular cross section at the position corresponding to 2, bringing the pressing protrusion 76 into contact with the side wall of the first groove 62, By applying pressure so as to spread the side wall and causing pressure distortion in the semiconductor region around the scribe line 62a, the semiconductor wafer 61 is moved along the scribe line 62a in the second direction.
And the LED array 51a is separated. The pressing protrusion 76 may be any as long as it can apply a pressure on the side wall of the first groove 62 so as to push the first groove 62.
It is optional similarly to 4.

【0041】以上のダイシング工程により、表面と各側
面T1〜T4との端辺部に切り欠きI1〜I4が設けら
れ、側面切り欠き端辺部i1〜i4(図5参照)が側面
T1〜T4に対して庇状に突出したLEDアレイ51が
完成する。側面切り欠き端辺部i1〜i4は、発光部1
1の底部よりも深い位置に形成され、また表面から見た
ときのLEDアレイ51の最外形となっている。さら
に、第1の溝62によるスクライブライン62aは、位
置決め精度の高いホトリソおよびウエットエッチングに
より形成され、LEDアレイ51aはスクライブライン
62aに沿って分離されるので、LEDアレイ51の最
外形は精度の良い長方形となる。
By the above dicing process, notches I1 to I4 are provided at the edges of the surface and the side surfaces T1 to T4, and the side notches edge portions i1 to i4 (see FIG. 5) are formed at the side surfaces T1 to T4. The LED array 51 projecting like an eave is completed. The side notch edge portions i1 to i4 are the light emitting portion 1
1 is formed at a position deeper than the bottom, and is the outermost shape of the LED array 51 when viewed from the surface. Further, the scribe line 62a formed by the first groove 62 is formed by photolithography and wet etching with high positioning accuracy, and the LED array 51a is separated along the scribe line 62a, so that the outermost shape of the LED array 51 is accurate. It becomes a rectangle.

【0042】図7は本発明の第2実施形態に係るLED
プリントヘッドの概略構造図である。図7において、
(a)は上面図、(b)は(a)におけるA−A’間の
断面図、(c)は(a)におけるB−B’間の断面図で
ある。なお、図7において、図3と同じものには同じ符
号を付してある。図7のLEDプリントヘッドは、複数
のLEDアレイ51(図5参照)と、配線基板40と、
複数の個別電極パッド42と、複数のワイヤ41と、L
EDアレイ51を駆動するための図示しない駆動ICと
を備えている。
FIG. 7 shows an LED according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic structural diagram of a print head. In FIG.
(A) is a top view, (b) is a cross-sectional view between AA ′ in (a), and (c) is a cross-sectional view between BB ′ in (a). In FIG. 7, the same components as those in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals. The LED print head of FIG. 7 includes a plurality of LED arrays 51 (see FIG. 5), a wiring board 40,
A plurality of individual electrode pads 42, a plurality of wires 41, L
A drive IC (not shown) for driving the ED array 51 is provided.

【0043】配線基板40には、LEDアレイ51−k
の短側面T2とLEDアレイ1−(k+1)の短側面T
1とが向き合い、各LEDアレイ51の発光部列が一列
になるように、複数のLEDアレイ51が近接配置さ
れ、マウントされている。また、複数の個別電極パッド
42は、配線基板40にマウントされたLEDアレイ5
1の個別電極52にそれぞれ対応し、配線基板40上に
LEDアレイ51の長側面T4に沿って一列に形成され
ている。また、ワイヤ41は、LEDアレイ51の切り
欠きI4の上空を通過して、対応する個別電極52と個
別電極パッド42とを接続している。
The wiring board 40 includes an LED array 51-k
Short side T2 of the LED array 1- (k + 1)
A plurality of LED arrays 51 are arranged close to each other and mounted such that the LED arrays 51 face each other and the light emitting unit rows of each LED array 51 are aligned. Further, the plurality of individual electrode pads 42 are provided on the LED array 5 mounted on the wiring board 40.
The LED array 51 is formed in a row on the wiring board 40 along the long side surface T4 corresponding to one individual electrode 52. Further, the wire 41 passes over the notch I4 of the LED array 51 and connects the corresponding individual electrode 52 and the individual electrode pad 42.

【0044】図7のLEDプリントヘッドにおけるLE
Dアレイ51の表面と個別電極パッド42側の長側面T
4の端辺部には、切り欠きI4が設けられているので、
従来のLEDアレイよりもワイヤ41の湾曲余裕度が大
きくなり、ワイヤ41がn型半導体基板50に接触する
ことによる発光部11と半導体基板50のpnショート
が発生しにくい。従って、pnショートに起因する暗発
光および不点灯がほとんど発生しない。
LE in the LED print head of FIG.
The long side surface T of the surface of the D array 51 and the individual electrode pad 42 side
Since the notch I4 is provided at the end of 4,
The bending margin of the wire 41 is larger than that of the conventional LED array, and a pn short circuit between the light emitting unit 11 and the semiconductor substrate 50 due to the contact of the wire 41 with the n-type semiconductor substrate 50 is less likely to occur. Therefore, dark light emission and non-lighting due to the pn short circuit hardly occur.

【0045】また、LEDアレイ51の最外形は、切り
欠きI1〜I4の側面切り欠き端面部i1〜i4であ
り、LEDアレイ51−kとLEDアレイ51−(k+
1)を接近させ過ぎた場合に接触するのは、LEDアレ
イ51−kの短側面切り欠き端辺部i2とLEDアレイ
1−(k+1)の短側面切り欠き端辺部i1なので、接
触によるクラックは短側面切り欠き端辺部i1,i2を
起点として発生する。しかし、短側面切り欠き端辺部i
1、i2は、発光部11よりも深い位置に形成されてい
るので、そこを起点としてクラックが発生しても、発光
部11にクラックが到達しにくい。従って、クラックが
発生しても暗発光および不点灯がほとんど発生しない。
The outermost shape of the LED array 51 is the cutout end faces i1 to i4 of the cutouts I1 to I4, and the LED array 51-k and the LED array 51- (k +
If 1) is too close, the short side cutout edge i2 of the LED array 51-k and the short side cutout edge i1 of the LED array 1- (k + 1) come into contact with each other. Is generated starting from the short side cutout end sides i1 and i2. However, the short side cutout edge i
Since 1 and i2 are formed at positions deeper than the light emitting section 11, even if a crack occurs starting there, it is difficult for the crack to reach the light emitting section 11. Therefore, even if a crack occurs, dark emission and non-lighting hardly occur.

【0046】ところで、上記第1実施形態のダイシング
工程では、半導体ウエハをダイヤモンドブレードで切り
出すことによりLEDアレイを分離しているが、半導体
ウエハに対するダイヤモンドブレードの位置決め精度
は、ホトリソ法における露光装置ほど良くないので、L
EDアレイの最外形の上面形状が、図8および図9のよ
うに、長方形にならない場合がある。図8は最外形が長
方形でないLEDアレイ1をワイヤボンドした場合の説
明図であり、(a)は上面図、(b)は(a)における
左端のC−C’間の断面図、(c)は(a)における右
端のD−D’間の断面図である。また、図9は最外形が
長方形でないLEDアレイ1をマウントした場合の説明
図である。
In the dicing process of the first embodiment, the LED array is separated by cutting the semiconductor wafer with a diamond blade. However, the positioning accuracy of the diamond blade with respect to the semiconductor wafer is as good as that of an exposure apparatus using the photolithography method. L
The top surface of the outermost shape of the ED array may not be rectangular as shown in FIGS. 8A and 8B are explanatory diagrams in the case where the LED array 1 whose outermost shape is not rectangular is wire-bonded. FIG. 8A is a top view, FIG. 8B is a cross-sectional view taken along the line CC ′ at the left end in FIG. () Is a cross-sectional view taken along the line DD ′ at the right end in (a). FIG. 9 is an explanatory diagram in the case where the LED array 1 whose outermost shape is not rectangular is mounted.

【0047】LEDアレイ1の最外形が長方形でない場
合でも、図8に示すように、従来のLEDアレイよりも
ワイヤの湾曲に対する余裕度が大きくなることは、最外
形が長方形である場合と変わらない。また、接触した場
合に、発光部11の底部よりも深い位置にある側面切り
欠き端辺部h1,h2を基点としてクラックが生じ、発
光部11にクラックが到達しにくいことも最外形が長方
形である場合と変わらない。ただし、LEDアレイは、
通常、端側面同士を互いに近接させてマウントされるの
で、LEDアレイの最外形の寸法が不揃いであること
は、マウント精度の低下を招き、好ましいことではな
い。また、最外形の形状によっては、図9のように、L
EDアレイ1−kの側面切り欠き端辺部h2とLEDア
レイ1−(k+1)の側面切り欠き端辺部h1とが点接
触に近い形で接触する場合がある。この場合、半導体基
板10(図1参照)は局所的に強いダメージを受け、ク
ラックの規模が大きくなってしまうことがある。
Even when the outermost shape of the LED array 1 is not rectangular, as shown in FIG. 8, that the margin for wire bending is larger than that of the conventional LED array is the same as the case where the outermost shape is rectangular. . Further, when the contact is made, a crack is generated from the side notch end sides h1 and h2 located at a position deeper than the bottom of the light emitting unit 11, and it is difficult for the crack to reach the light emitting unit 11. It is not different from the case. However, the LED array
Normally, since the end side surfaces are mounted close to each other, unevenness of the outermost dimensions of the LED array is not preferable because it causes a decrease in mounting accuracy. Further, depending on the shape of the outermost shape, as shown in FIG.
There is a case where the side cutout edge h2 of the ED array 1-k and the side cutout edge h1 of the LED array 1- (k + 1) come into contact with each other in a manner similar to a point contact. In this case, the semiconductor substrate 10 (see FIG. 1) may be locally strongly damaged, and the size of the crack may be increased.

【0048】しかし、本発明の第2実施形態のダイシン
グ工程では、半導体ウエハ61に対する位置決め精度が
高いホトリソおよびウエットエッチングにより、半導体
ウエハ61の表面に、略V字状の断面を有し、その谷底
ラインがスクライブライン62aとなる第1の溝62を
形成するとともに、第1の溝62に対向する半導体ウエ
ハ61の裏面領域に第1の溝62に近接する深さの第2
の溝63を形成し、半導体ウエハ61をスクライブライ
ン62aに沿って劈開させることにより、最外形が精度
の良い長方形であり、最外形寸法がそろったLEDアレ
イ51を半導体ウエハ61から分離することができる。
従って、LEDプリントヘッドの配線基板等に高精度に
マウントすることができ、大規模なクラックの発生をな
くすことができる。
However, in the dicing step according to the second embodiment of the present invention, the surface of the semiconductor wafer 61 has a substantially V-shaped cross-section by photolithography and wet etching, which have high positioning accuracy with respect to the semiconductor wafer 61, and has a valley bottom. The line forms a first groove 62 that becomes a scribe line 62 a, and a second groove of a depth close to the first groove 62 is formed in a back surface region of the semiconductor wafer 61 facing the first groove 62.
By forming the groove 63 and cleaving the semiconductor wafer 61 along the scribe line 62a, it is possible to separate the LED array 51 having a rectangular shape with the highest outer shape and uniform outermost size from the semiconductor wafer 61. it can.
Therefore, it can be mounted on the wiring substrate of the LED print head with high accuracy, and the occurrence of large-scale cracks can be eliminated.

【0049】このように本発明の第2実施形態によれ
ば、上記第1実施形態と同様に、LEDアレイ51の表
面外周部に切り欠きI1〜I4を設けたことにより、L
EDアレイ51の個別電極52をLEDプリントヘッド
の個別電極パッド42に接続するワイヤ41の湾曲余裕
度が大きくなるので、ワイヤ41の接触による半導体基
板50と発光部11のpnショートが発生しにくくな
り、pnショートに起因する暗発光および不点灯をなく
すことができる。
As described above, according to the second embodiment of the present invention, the notches I1 to I4 are provided in the outer peripheral portion of the surface of the LED array 51 in the same manner as in the first embodiment, so that L
Since the bending margin of the wire 41 connecting the individual electrode 52 of the ED array 51 to the individual electrode pad 42 of the LED print head is increased, a pn short circuit between the semiconductor substrate 50 and the light emitting unit 11 due to the contact of the wire 41 is less likely to occur. , Pn short-circuit, and dark emission and non-lighting can be eliminated.

【0050】また、上記第1実施形態と同様に、側面切
り欠き端辺部i1〜i4が、発光部11の底部よりも深
い位置にあり、LEDアレイ51の最外形となる構造に
したことにより、LEDアレイ51をLEDプリントヘ
ッドにマウントするときに、LEDアレイ51同士が接
触したとしても、接触箇所は短側面切り欠き端辺部i1
とi2なので、短側面切り欠き端辺部i1,i2を起点
としてクラックが発生しても、発光部11にクラックが
到達しにくく、クラックの発生に起因する暗発光および
不点灯をなくすことができる。
Further, similar to the first embodiment, the side notch edges i1 to i4 are located at positions deeper than the bottom of the light emitting portion 11 so as to be the outermost shape of the LED array 51. When the LED array 51 is mounted on the LED print head, even if the LED arrays 51 come into contact with each other, the contact point is the short side cutout edge i1.
And i2, even if cracks occur starting from the short side cutout edge portions i1 and i2, the cracks are unlikely to reach the light emitting portion 11, and dark light emission and non-lighting caused by the cracks can be eliminated. .

【0051】さらに、ホトリソおよびウエットエッチン
グにより、断面が略V字状であり、その最も深い谷底ラ
インがスクライブライン62aとなる第1の溝62を半
導体ウエハ61の表面に形成するとともに、第1の溝6
2に対向する半導体ウエハ61の裏面領域に第1の溝6
2に近接する深さの第2の溝63を形成し、第1の溝6
2周辺の半導体領域に熱歪みあるいは圧力歪みを生じさ
せ、半導体ウエハ61をスクライブライン62aに沿っ
て劈開させることにより、ダイヤモンドブレードで切り
出す上記第1実施形態よりも高い精度でLEDアレイ5
1の最外形寸法をそろえることができる。
Further, a first groove 62 having a substantially V-shaped cross section and a deepest valley bottom line serving as a scribe line 62a is formed on the surface of the semiconductor wafer 61 by photolithography and wet etching. Groove 6
The first groove 6 is formed in the back surface area of the semiconductor wafer 61 facing the second groove 6.
A second groove 63 having a depth close to that of the first groove 6;
2 causes thermal distortion or pressure distortion in the peripheral semiconductor region, and cleaves the semiconductor wafer 61 along the scribe line 62a, so that the LED array 5 can be cut with a diamond blade with higher accuracy than in the first embodiment.
1 can have the same outermost dimensions.

【0052】第3実施形態 図10は本発明の第3実施形態に係るLEDプリントヘ
ッドの概略構造図であり、(a)は上面図、(b)は
(a)におけるA−A’間の断面図、(c)は(a)に
おけるB−B’間の断面図である。なお、図10におい
て、図3と同じものには同じ符号を付してある。図10
のLEDプリントヘッドは、図1のLEDプリントヘッ
ドにおいて、LEDアレイ1の表面および切り欠きH1
〜H4上に、透光性樹脂ソース(液体または半固体)を
塗布し、硬化させることにより、切り欠きH1〜H4を
空気よりも屈折率が高い透光性樹脂81で充填したもの
である。
Third Embodiment FIGS. 10A and 10B are schematic structural views of an LED print head according to a third embodiment of the present invention, wherein FIG. 10A is a top view, and FIG. 10B is a view between AA ′ in FIG. FIG. 3C is a cross-sectional view taken along line BB ′ in FIG. In FIG. 10, the same components as those in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals. FIG.
The LED print head of FIG. 1 is the same as the LED print head of FIG.
The cutouts H1 to H4 are filled with a translucent resin 81 having a refractive index higher than that of air by applying and curing a translucent resin source (liquid or semi-solid) on H4 to H4.

【0053】透光性樹脂81は、LEDアレイ1−kの
切り欠きH2とLEDアレイ1−(k+1)の切り欠き
H1が近接して互いに向き合っている継ぎ目において、
切り欠きH1,H2における半導体基板10の切り欠き
面に対して樹脂表面82が非平行になるように(切り欠
きH1,H2上の膜厚が不均一になるように)形成され
ている。また、透光性樹脂81は、発光部11上の膜厚
が均一になるように形成されている。ここでは、樹脂表
面82が平坦になるように透光性樹脂81を形成するこ
とにより、切り欠きH1,H2の切り欠き面に対して樹
脂表面82が非平行になり、発光部11上の膜厚が均一
になるようにしてある。また、透光性樹脂81は、LE
Dアレイ1の表面にも形成されるため、絶縁性樹脂であ
ることは言うまでもない。透光性樹脂81としては、例
えばシリコン樹脂を用いる。
The translucent resin 81 is provided at the joint where the notch H2 of the LED array 1-k and the notch H1 of the LED array 1- (k + 1) are close to each other and face each other.
The resin surface 82 is formed so as to be non-parallel to the cutout surfaces of the semiconductor substrate 10 in the cutouts H1 and H2 (so that the film thickness on the cutouts H1 and H2 is not uniform). Further, the translucent resin 81 is formed so that the film thickness on the light emitting unit 11 is uniform. Here, by forming the translucent resin 81 so that the resin surface 82 becomes flat, the resin surface 82 becomes non-parallel to the cutout surfaces of the cutouts H1 and H2, and the film on the light emitting unit 11 is formed. The thickness is made uniform. Further, the translucent resin 81 is made of LE
Since it is also formed on the surface of the D array 1, it goes without saying that it is an insulating resin. As the translucent resin 81, for example, a silicon resin is used.

【0054】図11は本発明の第3実施形態に係る樹脂
塗布工程を示す図であり、(a)は塗布する透光性樹脂
ソースの粘性が高い場合の工程例、(b)は塗布する透
光性樹脂ソースの粘性が低い場合の工程例である。図1
1(a)においては、透光性樹脂ソース81aを充填し
たシリンダ容器91のノズルを、配線基板40(図10
参照)にマウントされたLEDアレイ1の表面に近接さ
せて配置し、シリンダ容器91に一定の圧力を加えて一
定量の透光性樹脂ソース81aをノズルからアレイ表面
に供給しながら、シリンダ容器91をLEDアレイ1の
長寸法方向に一定速度で移動させ、透光性樹脂ソース8
1aを塗布する。また、図11(b)においては、透光
性樹脂ソース81aを充填した噴霧器92のノズルをL
EDアレイ1の表面上空に配置し、一定量の透光性樹脂
ソース81aをノズルからアレイ表面に噴霧しながら、
噴霧器92をLEDアレイ1の長寸法方向に一定速度で
移動させ、透光性樹脂ソース81aを塗布する。なお、
このとき、既にワイヤ41がボンディングされているの
で、ワイヤ41がLEDアレイ1の半導体基板に接触し
ないようにして、透光性樹脂ソース81aを塗布する。
FIG. 11 is a view showing a resin coating process according to a third embodiment of the present invention. FIG. 11 (a) is a process example when the viscosity of a light transmitting resin source to be coated is high, and FIG. 11 (b) is a coating process. It is a process example in the case where the viscosity of the translucent resin source is low. FIG.
1A, the nozzle of the cylinder container 91 filled with the translucent resin source 81a is connected to the wiring board 40 (FIG. 10).
(See FIG. 2), the LED array 1 is mounted in close proximity to the surface of the LED array 1, and a certain amount of light-transmitting resin source 81a is supplied to the array surface from the nozzles by applying a certain pressure to the cylinder container 91. Is moved at a constant speed in the longitudinal direction of the LED array 1, and the light transmitting resin source 8 is moved.
1a is applied. Also, in FIG. 11B, the nozzle of the sprayer 92 filled with the translucent resin source 81a is set to L
While being arranged above the surface of the ED array 1 and spraying a fixed amount of the translucent resin source 81a from the nozzle onto the array surface,
The sprayer 92 is moved at a constant speed in the longitudinal direction of the LED array 1 to apply the translucent resin source 81a. In addition,
At this time, since the wire 41 has already been bonded, the translucent resin source 81a is applied so that the wire 41 does not contact the semiconductor substrate of the LED array 1.

【0055】図11(a)または(b)の樹脂塗布工程
により、透光性樹脂ソース81aをLEDアレイ1の表
面に均一な厚みで塗布するとともに、切り欠きH1とH
2を透光性樹脂ソース81aで充填する。そして、乾燥
または加熱等の硬化処理により透明樹脂ソース81aを
硬化させる。これにより、LEDアレイ1の表面上、切
り欠きH1,H2を含む継ぎ目上、および切り欠きH
3,H4上に、LED1の表面上および継ぎ目上の樹脂
表面82が平坦な透光性樹脂81が形成され、切り欠き
H1〜H4は透光性樹脂81で充填される。
In the resin application step shown in FIG. 11A or 11B, the light transmitting resin source 81a is applied to the surface of the LED array 1 with a uniform thickness, and the notches H1 and H
2 is filled with the translucent resin source 81a. Then, the transparent resin source 81a is cured by a curing treatment such as drying or heating. Thereby, on the surface of the LED array 1, on the joint including the notches H1 and H2, and on the notch H
3, a light-transmitting resin 81 having a flat resin surface 82 on the surface of the LED 1 and on the joint is formed on H4, and the notches H1 to H4 are filled with the light-transmitting resin 81.

【0056】上空をワイヤ41が通過する切り欠きH4
上に形成されている透光性樹脂81は絶縁性樹脂なの
で、もしもワイヤ41が切り欠きH4上の透光性樹脂8
1に接触しても、半導体基板10と発光部11のpnシ
ョートが発生することはない。従って、pnショートに
起因する発光部11の暗発光および不点灯をなくすこと
ができる。
Notch H4 through which wire 41 passes over the sky
Since the light-transmitting resin 81 formed thereon is an insulating resin, if the wire 41 is notched, the light-transmitting resin 8
1 does not cause a pn short circuit between the semiconductor substrate 10 and the light emitting unit 11. Therefore, it is possible to eliminate dark light emission and non-lighting of the light emitting unit 11 caused by the pn short circuit.

【0057】図12は本発明の第3実施形態に係るLE
Dプリントヘッドの発光強度分布を模式的に示す図であ
る。LEDアレイ1の継ぎ目の切り欠きH1,H2を透
光性樹脂81で充填することにより、切り欠きH1,H
2から出射する漏れ光が、この漏れ光の出射面である切
り欠き面に対して樹脂表面82が非平行になるように形
成された、空気および半導体基板10と屈折率が異なる
透光性樹脂81内に閉じこめられるので、図12に示す
ように、光漏れをなくすことができる。従って、光漏れ
に起因するLEDアレイ1の継ぎ目部分における光書き
込み分解能の低下をなくすことができる。
FIG. 12 shows an LE according to the third embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a diagram schematically illustrating a light emission intensity distribution of a D print head. By filling the notches H1 and H2 at the joints of the LED array 1 with the translucent resin 81, the notches H1 and H2 are formed.
2. A light-transmitting resin having a refractive index different from that of air and the semiconductor substrate 10 formed such that the resin surface 82 is non-parallel to the cutout surface which is the light-emitting surface of the leak light. Since it is confined within 81, light leakage can be eliminated as shown in FIG. Therefore, it is possible to prevent a decrease in optical writing resolution at a joint portion of the LED array 1 due to light leakage.

【0058】発光部11で発生した光の内、透光性樹脂
81と半導体基板10との屈折率差で決まる第1の臨界
角以内の入射角で切り欠き面に入射した光のみが透光性
樹脂81中に出射する。一方、空気と透光性樹脂81と
の屈折率差で決まる第2の臨界角以内の入射角で樹脂表
面82に入射した光は空気中に放射されるが、第2の臨
界角以上の入射角で樹脂表面82に入射した光は樹脂表
面82で反射され、透光性樹脂81内に閉じ込められ
る。切り欠きH1,H2の切り欠き面に対して樹脂表面
82が非平行になるように透光性樹脂81を形成するこ
とにより、切り欠き面から出射した漏れ光を透光性樹脂
81内に閉じ込めることができる。
Of the light generated by the light emitting portion 11, only light incident on the cutout surface at an incident angle within a first critical angle determined by the refractive index difference between the light transmitting resin 81 and the semiconductor substrate 10 is transmitted. Out into the conductive resin 81. On the other hand, light incident on the resin surface 82 at an incident angle within the second critical angle determined by the refractive index difference between the air and the translucent resin 81 is radiated into the air. Light incident on the resin surface 82 at an angle is reflected by the resin surface 82 and confined in the translucent resin 81. By forming the translucent resin 81 such that the resin surface 82 is non-parallel to the notch surfaces of the notches H1 and H2, leaked light emitted from the notch surfaces is confined in the translucent resin 81. be able to.

【0059】従来のLEDアレイにおいては、発光部1
1で発生した光の内、半導体基板110(図13参照)
の側面端辺部で反射され、空気と半導体基板10との屈
折率差で決まる臨界角以内の入射角で表面端辺部に入射
した光が出射し、漏れ光となる。従来のLEDアレイの
表面端辺部上に、この表面端辺部つまりアレイ表面に対
して樹脂表面が非平行となる透光性樹脂81を形成する
ことは難しいが、LEDアレイ1の切り欠き面は、LE
Dアレイ1の表面を含む水平面に対して傾斜を有する面
なので、切り欠き面に対して樹脂表面82が非平行にな
るように透光性樹脂81を形成することは容易である。
In the conventional LED array, the light emitting section 1
1 of the light generated in the semiconductor substrate 110 (see FIG. 13)
Is reflected at the side edge of the surface, and is incident on the surface edge at an incident angle within a critical angle determined by the refractive index difference between the air and the semiconductor substrate 10, and becomes light leakage. It is difficult to form a translucent resin 81 on the surface edge of the conventional LED array, the resin surface of which is not parallel to the surface edge, that is, the array surface. Is LE
Since the surface has a slope with respect to the horizontal plane including the surface of the D array 1, it is easy to form the translucent resin 81 such that the resin surface 82 is not parallel to the cutout surface.

【0060】このように本発明の第3実施形態によれ
ば、マウントされた複数のLEDアレイ1の切り欠きH
1,H2に透光性樹脂81を充填し、切り欠き面から出
射する漏れ光を透光性樹脂81内に閉じ込めるようにし
たことにより、光漏れをなくすことができるので、漏れ
光に起因するLEDプリントヘッドの光書き込み分解能
の低下をなくすことができる。
As described above, according to the third embodiment of the present invention, the notch H of the plurality of mounted LED arrays 1 is provided.
1, H2 is filled with the translucent resin 81, and the leakage light emitted from the cutout surface is confined in the translucent resin 81, so that light leakage can be eliminated. It is possible to prevent a decrease in the optical writing resolution of the LED print head.

【0061】また、上空をワイヤ41が通過する切り欠
きH4に絶縁性の透光性樹脂81を充填し、ワイヤ41
が半導体基板10に接触しないようにしたことにより、
pnショートに起因する発光部11の暗発光および不点
灯をなくすことができる。
The notch H4 through which the wire 41 passes over the sky is filled with an insulating translucent resin 81,
Is prevented from contacting the semiconductor substrate 10,
It is possible to eliminate dark light emission and non-lighting of the light emitting unit 11 due to the pn short circuit.

【0062】なお、上記第3実施形態においては、上記
第1実施形態のLEDアレイ1上に透光性樹脂81を形
成したが、上記第2実施形態の切り欠きI1〜I4を設
けたLEDアレイ51上に透光性樹脂81を形成するよ
うにしても良い。
In the third embodiment, the translucent resin 81 is formed on the LED array 1 of the first embodiment. However, the LED array having the cutouts I1 to I4 of the second embodiment is provided. A translucent resin 81 may be formed on 51.

【0063】また、上記第3実施形態においては、LE
Dアレイ1の表面にも透光性樹脂81を形成したが、可
能であれば切り欠きH1〜H4上のみに透光性樹脂81
を形成するようにしても良い。ただし、切り欠きH1,
H2上のみに透光性樹脂81を形成しようとすると、切
り欠きH1,H2に近接するアレイ端の発光部11上に
も透光性樹脂81が形成されてしまい、透光性樹脂81
が形成されている発光部11と透光性樹脂81が形成さ
れていない発光部11の発光特性がばらつくことがある
ので、上記第3実施形態では、発光特性をそろえるため
に、LEDアレイ1の表面にも透光性樹脂81を形成す
るようにしている。
In the third embodiment, the LE
The translucent resin 81 was also formed on the surface of the D array 1, but if possible, the translucent resin 81 was formed only on the notches H1 to H4.
May be formed. However, notch H1,
If the light-transmitting resin 81 is to be formed only on the H2, the light-transmitting resin 81 is also formed on the light emitting portion 11 at the array end close to the notches H1 and H2.
Since the light-emitting characteristics of the light-emitting portion 11 in which the light-transmitting resin 81 is not formed and the light-emitting portion 11 in which the light-transmitting resin 81 is not formed may vary, in the third embodiment, in order to make the light-emitting characteristics uniform, The translucent resin 81 is also formed on the surface.

【0064】[0064]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、L
EDアレイの表面と発光部列に沿った側面との端辺部に
切り欠きを設けたことにより、LEDアレイの個別電極
をLEDプリントヘッドの個別電極パッドに接続するワ
イヤの湾曲余裕度が大きくなるので、ワイヤの接触によ
る半導体基板と発光部のpnショートが発生しにくくな
り、pnショートに起因する暗発光および不点灯をなく
すことができるという効果がある。
As described above, according to the present invention, L
By providing notches at the edges of the surface of the ED array and the side surface along the light emitting unit row, the degree of bending margin of the wire connecting the individual electrodes of the LED array to the individual electrode pads of the LED print head is increased. Therefore, a pn short circuit between the semiconductor substrate and the light emitting section due to the contact of the wire is less likely to occur, and there is an effect that dark light emission and no lighting caused by the pn short circuit can be eliminated.

【0065】また、LEDアレイの表面と発光部列に垂
直な両側面との端辺部に切り欠きを設け、この切り欠き
と発光部列に垂直な側面との端辺部である側面切り欠き
端辺部が、発光部の底部よりも深い位置にあり、LED
アレイの最外形となる構造にしたことにより、LEDア
レイをLEDプリントヘッドにマウントするときに、L
EDアレイ同士が接触したとしても、接触箇所は側面切
り欠き端辺部になるので、側面切り欠き端辺部を起点と
してクラックが発生しても、発光部にクラックが到達し
にくく、クラックの発生に起因する暗発光および不点灯
をなくすことができるという効果がある。
A notch is provided at an edge between the surface of the LED array and both side surfaces perpendicular to the light emitting unit row, and a side notch which is an edge between the notch and a side surface perpendicular to the light emitting unit row. The edge is deeper than the bottom of the light emitting part,
When the LED array is mounted on the LED print head, the LED array has an outermost shape.
Even if the ED arrays come into contact with each other, the point of contact is the side notch edge, so even if a crack starts from the side notch edge, it is difficult for the crack to reach the light emitting part, and the crack is generated. There is an effect that dark light emission and non-lighting caused by the above can be eliminated.

【0066】また、表面と発光部列に沿った側面との端
辺部に切り欠きを設けた上記本発明のLEDアレイを複
数マウントしたLEDプリントヘッドにおいて、上記L
EDアレイの上記切り欠きに透光性樹脂を充填し、ワイ
ヤが半導体基板に接触しないようにしたことにより、p
nショートに起因する発光部の暗発光および不点灯をな
くすことができるという効果がある。
Further, in the LED print head mounted with a plurality of the LED arrays of the present invention, wherein notches are provided at the edges of the front surface and the side surfaces along the light emitting portion row.
By filling the notch of the ED array with a translucent resin to prevent the wire from contacting the semiconductor substrate, p
There is an effect that it is possible to eliminate dark light emission and non-lighting of the light emitting unit due to n short circuit.

【0067】また、表面と発光部列に垂直な両側面との
端辺部に切り欠きを設けた上記本発明のLEDアレイを
複数マウントしたLEDプリントヘッドにおいて、上記
LEDアレイの上記切り欠きに透光性樹脂を充填し、切
り欠き面から出射する漏れ光を透光性樹脂内に閉じ込め
るようにしたことにより、光漏れをなくすことができる
ので、漏れ光に起因するLEDプリントヘッドの光書き
込み分解能の低下をなくすことができるという効果があ
る。
Further, in the LED print head in which a plurality of the LED arrays of the present invention are provided with cutouts at the side edges of the front surface and both side surfaces perpendicular to the light emitting unit row, the cutouts of the LED array are transparent. Light leakage can be eliminated by filling the light-sensitive resin and confining the leaked light emitted from the cutout surface in the light-transmitting resin, so that the light writing resolution of the LED print head caused by the leaked light can be reduced. There is an effect that the decrease in the number can be eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態に係るLEDアレイの構
造図である。
FIG. 1 is a structural diagram of an LED array according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施形態に係るLEDアレイのダ
イシング工程の説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a dicing step of the LED array according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1実施形態に係るLEDプリントヘ
ッドの概略構造図である。
FIG. 3 is a schematic structural view of the LED print head according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1実施形態に係るLEDプリントヘ
ッドにおいてLEDアレイが接触してマウントされた場
合の説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram when the LED array is contacted and mounted in the LED print head according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第2の実施形態に係るLEDアレイの
構造図である。
FIG. 5 is a structural diagram of an LED array according to a second embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第2実施形態に係るLEDアレイのダ
イシング工程の説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of a dicing step of an LED array according to a second embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第2実施形態に係るLEDプリントヘ
ッドの概略構造図である。
FIG. 7 is a schematic structural diagram of an LED print head according to a second embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第1実施形態に係るLEDプリントヘ
ッドにおいて最外形が長方形でないLEDアレイをワイ
ヤボンドした場合の説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram in a case where an LED array whose outermost shape is not rectangular is wire-bonded in the LED print head according to the first embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第1実施形態に係るLEDプリントヘ
ッドにおいて最外形が長方形でないLEDアレイをマウ
ントした場合の説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram when an LED array whose outermost shape is not rectangular is mounted in the LED print head according to the first embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第3実施形態に係るLEDプリント
ヘッドの概略構造図である。
FIG. 10 is a schematic structural diagram of an LED print head according to a third embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第3実施形態に係るLEDプリント
ヘッドの樹脂塗布工程を示す図である
FIG. 11 is a view showing a resin application process of an LED print head according to a third embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第3実施形態に係るLEDプリント
ヘッドの発光強度分布を模式的に示す図である。
FIG. 12 is a diagram schematically showing a light emission intensity distribution of an LED print head according to a third embodiment of the present invention.

【図13】従来のLEDアレイの構造図である。FIG. 13 is a structural diagram of a conventional LED array.

【図14】従来のLEDプリントヘッドにおいてLED
アレイが接触してマウントされた場合の説明図である。
FIG. 14 shows an LED in a conventional LED print head.
FIG. 4 is an explanatory diagram when an array is mounted in contact with the array.

【図15】従来のLEDプリントヘッドにおいてLED
アレイをワイヤボンドした場合の説明図である。
FIG. 15 shows an LED in a conventional LED print head.
It is explanatory drawing in the case of wire bonding an array.

【図16】従来のLEDプリントヘッドの発光強度分布
を模式的に示す図である。
FIG. 16 is a diagram schematically showing a light emission intensity distribution of a conventional LED print head.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,51 LEDアレイ、 10,50 n型半導体基
板、 11 p型半導体領域(発光部)、 12,52
個別電極、 21,61 半導体ウエハ、22 エッ
チング溝、 40 配線基板、 41 ボンディングワ
イヤ、 42個別電極パッド、 62 第1の溝、 6
2a スクライブライン、 63第2の溝、 81 透
光性樹脂、 H,I 切り欠き、 h,i 側面切り欠
き端辺部、 S,T 半導体基板側面。
1,51 LED array, 10,50 n-type semiconductor substrate, 11 p-type semiconductor region (light emitting portion), 12,52
Individual electrode, 21, 61 semiconductor wafer, 22 etching groove, 40 wiring board, 41 bonding wire, 42 individual electrode pad, 62 first groove, 6
2a scribe line, 63 second groove, 81 translucent resin, H, I notch, h, i side notch edge, S, T side of semiconductor substrate.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北山 憂子 東京都港区虎ノ門1丁目7番12号 沖電気 工業株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing from the front page (72) Inventor Yuko Kitayama 1-7-12 Toranomon, Minato-ku, Tokyo Oki Electric Industry Co., Ltd.

Claims (18)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1導電型の半導体基板の表面を含む領
域に第2導電型の複数の発光部を一列に形成したLED
アレイにおいて、 前記基板の表面と側面との端辺部に切り欠きを設けたこ
とを特徴とするLEDアレイ。
1. An LED in which a plurality of light emitting units of a second conductivity type are formed in a line in a region including a surface of a semiconductor substrate of a first conductivity type.
In the array, a notch is provided at an end portion between a surface and a side surface of the substrate.
【請求項2】 前記切り欠きと基板側面との端辺部であ
る側面切り欠き端辺部が、基板表面の側から見たときの
最外形となっていることを特徴とする請求項1記載のL
EDアレイ。
2. A side edge of a notch, which is an edge between the notch and a side surface of the substrate, has an outermost shape when viewed from a substrate surface side. L
ED array.
【請求項3】 前記側面切り欠き端辺部が、基板表面を
含む平面に対し、発光部の底部よりも深い位置に形成さ
れていることを特徴とする請求項2記載のLEDアレ
イ。
3. The LED array according to claim 2, wherein the side notch edge is formed at a position deeper than a bottom of the light emitting portion with respect to a plane including the substrate surface.
【請求項4】 前記側面切り欠き端辺部が、基板表面を
含む平面と基板裏面を含む平面の間に位置し、 前記切り欠きの断面が、基板の側に凸となる略円弧状、
あるいは傾斜した略直線状であることを特徴とする請求
項2記載のLEDアレイ。
4. The side notch edge portion is located between a plane including a substrate front surface and a plane including a substrate back surface, and the cross section of the notch has a substantially circular arc shape protruding toward the substrate.
3. The LED array according to claim 2, wherein the LED array is inclined and substantially linear.
【請求項5】 前記基板側面が、基板の裏面に対して鈍
角あるいは略直角をなしていることを特徴とする請求項
2記載のLEDアレイ。
5. The LED array according to claim 2, wherein the side surface of the substrate forms an obtuse angle or a substantially right angle with the back surface of the substrate.
【請求項6】 前記側面切り欠き端辺部が、基板側面に
対して庇状に突出していることを特徴とする請求項5記
載のLEDアレイ。
6. The LED array according to claim 5, wherein the side edge of the side cutout protrudes like an eaves with respect to the side surface of the substrate.
【請求項7】 前記切り欠きが、基板表面の外周部、あ
るいは基板表面と、発光部列に垂直な基板両側面との端
辺部に形成されていることを特徴とする請求項1記載の
LEDアレイ。
7. The method according to claim 1, wherein the notch is formed in an outer peripheral portion of the substrate surface or in an edge portion between the substrate surface and both side surfaces of the substrate perpendicular to the light emitting portion row. LED array.
【請求項8】 前記LEDアレイは、発光部に個別にコ
ンタクトする複数の個別電極を基板表面上に発光部列に
沿って形成したものであり、 前記切り欠きが、基板表面の外周部、あるいは基板表面
と発光部列に沿った基板両側面との端辺部に形成されて
いることを特徴とする請求項1記載のLEDアレイ。
8. The LED array according to claim 1, wherein a plurality of individual electrodes individually contacting the light emitting unit are formed on the substrate surface along the light emitting unit row, and the notch is formed on an outer peripheral portion of the substrate surface, or 2. The LED array according to claim 1, wherein the LED array is formed at an end portion between a surface of the substrate and both side surfaces of the substrate along the light emitting unit row.
【請求項9】 LEDアレイが複数形成された半導体ウ
エハの表面のLEDアレイ境界領域にホトリソおよびエ
ッチングにより断面が略円弧状の溝を形成する工程と、 切削領域の両端に前記溝を残し、また前記ウエハの裏面
に対して切削側面が鈍角をなすように、前記ウエハを前
記溝に沿って切り出し、LEDアレイを分離する工程と
を含むことを特徴とするLEDアレイの製造方法。
9. A step of forming grooves having a substantially arc-shaped cross section by photolithography and etching in an LED array boundary region on a surface of a semiconductor wafer on which a plurality of LED arrays are formed, leaving said grooves at both ends of a cutting region; Cutting the wafer along the groove so that the cut side surface forms an obtuse angle with respect to the back surface of the wafer, and separating the LED array.
【請求項10】 LEDアレイが複数形成された半導体
ウエハの表面のLEDアレイ境界領域にホトリソおよび
ウエットエッチングにより断面が略V字状の第1の溝を
形成する工程と、 前記第1の溝に対向する前記ウエハの裏面領域に、前記
第1の溝に近接する深さの第2の溝を形成する工程と、 前記ウエハを前記第1の溝の谷底のラインであるスクラ
イブラインに沿って前記第2の溝に至るように劈開さ
せ、LEDアレイを分離する工程とを含むことを特徴と
するLEDアレイの製造方法。
10. A step of forming a first groove having a substantially V-shaped cross section by photolithography and wet etching in an LED array boundary region on a surface of a semiconductor wafer on which a plurality of LED arrays are formed; Forming a second groove having a depth close to the first groove in a rear surface region of the opposed wafer; and forming the wafer along a scribe line that is a line at the bottom of the first groove. Cleaving to reach the second groove and separating the LED array.
【請求項11】 前記LEDアレイを分離する工程は、
前記第1の溝の側壁に前記第1の溝を押し広げるように
圧力を加えることにより、ウエハを劈開させるものであ
ることを特徴とする請求項10記載のLEDアレイの製
造方法。
11. The step of separating the LED array comprises:
The method of manufacturing an LED array according to claim 10, wherein the wafer is cleaved by applying a pressure on the side wall of the first groove so as to push the first groove.
【請求項12】 前記LEDアレイを分離する工程は、
前記第1の溝の壁面周辺の半導体領域を局所的に加熱す
ることにより、ウエハを劈開させるものであることを特
徴とする請求項10記載のLEDアレイの製造方法。
12. The step of separating the LED array,
11. The method according to claim 10, wherein the wafer is cleaved by locally heating a semiconductor region around a wall surface of the first groove.
【請求項13】 前記LEDアレイは、第1導電型の前
記ウエハの表面を含む領域に第2導電型の複数の発光部
を一列に形成したものであり、 前記ウエハの表面に溝を形成する工程は、ウエハ表面を
含む平面に対し、前記溝の底部が発光部の底部よりも深
い位置になるように、前記溝を形成するものであること
を特徴とする請求項9または10に記載のLEDアレイ
の製造方法。
13. The LED array in which a plurality of light emitting units of the second conductivity type are formed in a row in a region including the surface of the wafer of the first conductivity type, and grooves are formed on the surface of the wafer. The method according to claim 9, wherein the step includes forming the groove such that a bottom of the groove is at a position deeper than a bottom of the light emitting unit with respect to a plane including a wafer surface. A method for manufacturing an LED array.
【請求項14】 請求項7記載の複数個のLEDアレイ
と、 前記発光部列に垂直な基板側面同士が向き合い、各発光
部列が一列になるように、前記複数個のLEDアレイが
マウントされた配線基板とを備えたことを特徴とするL
EDプリントヘッド。
14. The plurality of LED arrays according to claim 7, wherein the plurality of LED arrays are mounted so that side surfaces of a substrate perpendicular to the light emitting unit rows face each other and each light emitting unit row is aligned. L provided with a wiring board
ED print head.
【請求項15】 請求項8記載の複数個のLEDアレイ
と、 前記複数個のLEDアレイがマウントされた配線基板
と、 前記マウントされたLEDアレイの前記個別電極にそれ
ぞれ対応して前記配線基板上に形成された複数の個別電
極パッドと、 前記発光部列に沿った切り欠きの上空を通過して、対応
する個別電極と個別電極パッドとを接続するワイヤとを
備えたことを特徴とするLEDプリントヘッド。
15. The plurality of LED arrays according to claim 8, a wiring board on which the plurality of LED arrays are mounted, and a wiring board corresponding to the individual electrodes of the mounted LED arrays, respectively. A plurality of individual electrode pads formed in the LED, and a wire that passes over the notch along the light emitting unit row and connects the corresponding individual electrode and the individual electrode pad. Print head.
【請求項16】 前記マウントされたLEDアレイの切
り欠き上に、空気よりも屈折率の高い透光性樹脂を充填
したことを特徴とする請求項14または15に記載のL
EDプリントヘッド。
16. The L according to claim 14, wherein a light-transmitting resin having a higher refractive index than air is filled in the notch of the mounted LED array.
ED print head.
【請求項17】 前記透光性樹脂は、切り欠き面に対し
て樹脂表面が非平行になるように形成されていることを
特徴とする請求項16記載のLEDプリントヘッド。
17. The LED print head according to claim 16, wherein the translucent resin is formed so that the resin surface is not parallel to the cutout surface.
【請求項18】 前記透光性樹脂が、絶縁性樹脂である
ことを特徴とする請求項16記載のLEDプリントヘッ
ド。
18. The LED print head according to claim 16, wherein said translucent resin is an insulating resin.
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