JPH11281567A - ミクロ滴定板 - Google Patents
ミクロ滴定板Info
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- JPH11281567A JPH11281567A JP11035095A JP3509599A JPH11281567A JP H11281567 A JPH11281567 A JP H11281567A JP 11035095 A JP11035095 A JP 11035095A JP 3509599 A JP3509599 A JP 3509599A JP H11281567 A JPH11281567 A JP H11281567A
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- microtiter plate
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- cavity plate
- plate
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
- B01L3/00—Containers or dishes for laboratory use, e.g. laboratory glassware; Droppers
- B01L3/50—Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes
- B01L3/508—Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes rigid containers not provided for above
- B01L3/5085—Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes rigid containers not provided for above for multiple samples, e.g. microtitration plates
-
- G—PHYSICS
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- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
- G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 たやすく作られ、試料の高精度測定・分析を
可能にする、RifS法に従う分析用ミクロ滴定板 【解決手段】 ミクロ滴定板が、光について透明な基板
１と、マトリクス形に配列した空洞すなわち井戸形のく
ぼみ３をもつ、相対する２枚の表面で開放している空洞
板２とから作製されており、基板と空洞板とは液体漏れ
のないように結合しており、基板１は厚さ0.01mmないし
約5mmで、平坦であって構造のない表面を有し、くぼみ
３に向いた第１の表面に、異なる屈折率をもつ少なくと
も２枚の系から成る複合系４を有しており、くぼみ３の
反対に向いた第２の表面７には、この表面７の反射率を
極度に減少させる被覆加工５を備え、空洞板２の下の部
分に、空洞板２内にある支持面10を越えて突出しないよ
うにはめ込まれている
可能にする、RifS法に従う分析用ミクロ滴定板 【解決手段】 ミクロ滴定板が、光について透明な基板
１と、マトリクス形に配列した空洞すなわち井戸形のく
ぼみ３をもつ、相対する２枚の表面で開放している空洞
板２とから作製されており、基板と空洞板とは液体漏れ
のないように結合しており、基板１は厚さ0.01mmないし
約5mmで、平坦であって構造のない表面を有し、くぼみ
３に向いた第１の表面に、異なる屈折率をもつ少なくと
も２枚の系から成る複合系４を有しており、くぼみ３の
反対に向いた第２の表面７には、この表面７の反射率を
極度に減少させる被覆加工５を備え、空洞板２の下の部
分に、空洞板２内にある支持面10を越えて突出しないよ
うにはめ込まれている
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、物理学的、化学
的、生物学的または生化学的な反応、相互作用を立証す
るため、同時にまたは次々に検査される多数の試料を受
け入れるための、反射率干渉分光法(RifS)に従うふるい
分け法用ミクロ滴定板に関するものである。
的、生物学的または生化学的な反応、相互作用を立証す
るため、同時にまたは次々に検査される多数の試料を受
け入れるための、反射率干渉分光法(RifS)に従うふるい
分け法用ミクロ滴定板に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】物理学的、化学的、生物学的または生化
学的な反応、相互作用のテストを反射率干渉分光法(Rif
S)に従って実施するための手順と装置は、DE 196 15 36
6 A1に記述されている。それによると、基板上に平面的
にまたはマトリクス形に配列された多数の試料が、同調
可能な光源、または多色光源の次に配列された走査型モ
ノクロメーターによるさまざまな波長の光で照射され
る。その後、各試料の界面で反射した光成分が、次に配
列されている結像素子によって位置解像度の高い検出ア
レーまたはビデオカメラ上へ結像される。これによっ
て、試料によって影響を受け反射する光強度、もしくは
結像された干渉の強度を波長別に検出し、各試料それぞ
れの特性となっている波長依存の干渉スペクトルを求
め、検査すべき反応と相互作用を特徴づけるパラメータ
ーを導き出すことも可能となる。あわせて物理学的、化
学的または生物学的特性に関して試料数を調査するた
め、いわゆるミクロ滴定板が使用される。検査すべき試
料はその際小さい空洞すなわち井戸形くぼみの中にマト
リクス形に配列される。
学的な反応、相互作用のテストを反射率干渉分光法(Rif
S)に従って実施するための手順と装置は、DE 196 15 36
6 A1に記述されている。それによると、基板上に平面的
にまたはマトリクス形に配列された多数の試料が、同調
可能な光源、または多色光源の次に配列された走査型モ
ノクロメーターによるさまざまな波長の光で照射され
る。その後、各試料の界面で反射した光成分が、次に配
列されている結像素子によって位置解像度の高い検出ア
レーまたはビデオカメラ上へ結像される。これによっ
て、試料によって影響を受け反射する光強度、もしくは
結像された干渉の強度を波長別に検出し、各試料それぞ
れの特性となっている波長依存の干渉スペクトルを求
め、検査すべき反応と相互作用を特徴づけるパラメータ
ーを導き出すことも可能となる。あわせて物理学的、化
学的または生物学的特性に関して試料数を調査するた
め、いわゆるミクロ滴定板が使用される。検査すべき試
料はその際小さい空洞すなわち井戸形くぼみの中にマト
リクス形に配列される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この種のミクロ滴定板
は、特にUS 5 457 527, WO 97/22754, WO 95/03538によ
って知られている。これは試料板、空洞板、基板からな
り、基板は、合成樹脂またはガラスから製造されてい
る。基板と空洞板は、基板が空洞板のくぼみを下方へ隔
離するように組み立てられている。基板は透明に作るこ
とができる。特別な光学立証法のためには、基板は特別
に作ることができる。すなわち文献WO 95/22754, WO 95
/03538は、各くぼみの場所ごとにプリズム構造、レンズ
構造または格子配列をもつようなミクロ滴定板を記述し
ている。基板上には、表面プラズマ共振(SPR)に適合す
るか、光の導波ダクトを作るように構成される２つの状
況について被覆加工が施されている。このミクロ滴定板
はこれによって、プラズマ共振法または共振鏡法のよう
な特別な光学検出法を利用できるように作られている。
RifS法に従って利用するためには、そのように費用のか
かる基板構造をもつミクロ滴定板は必要がない。
は、特にUS 5 457 527, WO 97/22754, WO 95/03538によ
って知られている。これは試料板、空洞板、基板からな
り、基板は、合成樹脂またはガラスから製造されてい
る。基板と空洞板は、基板が空洞板のくぼみを下方へ隔
離するように組み立てられている。基板は透明に作るこ
とができる。特別な光学立証法のためには、基板は特別
に作ることができる。すなわち文献WO 95/22754, WO 95
/03538は、各くぼみの場所ごとにプリズム構造、レンズ
構造または格子配列をもつようなミクロ滴定板を記述し
ている。基板上には、表面プラズマ共振(SPR)に適合す
るか、光の導波ダクトを作るように構成される２つの状
況について被覆加工が施されている。このミクロ滴定板
はこれによって、プラズマ共振法または共振鏡法のよう
な特別な光学検出法を利用できるように作られている。
RifS法に従って利用するためには、そのように費用のか
かる基板構造をもつミクロ滴定板は必要がない。
【０００４】US 5 313 436, US 5 457 527によれば、基
板と空洞板が互いに熱作用によって結合され、両方の板
が合成樹脂から成り、基板が透明で、空洞板が不透明で
あることが知られる。DE 196 15 366 A1からわかるよう
に、RifS法は、相応の複合系を担う正確なトランスデュ
ーサー表面の形を必要とする。この測定法を対比するに
は、くぼみに配列された試料のマトリクス形配列がその
ために適合している。液体試料または液体中に溶解され
た試料を上手に自動的に操作するには、その際ミクロ滴
定板の標準ラスターに対応するマトリクス配列が望まし
い。
板と空洞板が互いに熱作用によって結合され、両方の板
が合成樹脂から成り、基板が透明で、空洞板が不透明で
あることが知られる。DE 196 15 366 A1からわかるよう
に、RifS法は、相応の複合系を担う正確なトランスデュ
ーサー表面の形を必要とする。この測定法を対比するに
は、くぼみに配列された試料のマトリクス形配列がその
ために適合している。液体試料または液体中に溶解され
た試料を上手に自動的に操作するには、その際ミクロ滴
定板の標準ラスターに対応するマトリクス配列が望まし
い。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は、たやすく作
られ、試料の高精度測定・分析を可能にする、RifS法に
従う分析用ミクロ滴定板を作り出すという課題の根底を
なすものである。この発明に従えば、この課題は、請求
項１が特徴づけている部分を介して解決される。それに
続く請求項には、この発明の個別な詳細とさらに進んだ
構成が記述されている。
られ、試料の高精度測定・分析を可能にする、RifS法に
従う分析用ミクロ滴定板を作り出すという課題の根底を
なすものである。この発明に従えば、この課題は、請求
項１が特徴づけている部分を介して解決される。それに
続く請求項には、この発明の個別な詳細とさらに進んだ
構成が記述されている。
【０００６】RifSふるい分け法用ミクロ滴定板は、界面
が平らな表面でいかなる構造ももたない基板を有する。
この基板の上部表面上へトランスデューサー表面として
RifS複合系が配される。この複合系は基板の全上部表面
を覆ってもよいが、くぼみの範囲にのみ配されていても
よい。この複合系は導波ダクトを形成しない。DE 19615
366A1に記述されているような適合した光源が発する下
方からの入射光が妨げられずに進入でき、基板の上部表
面上に配され、分光学的に見た反射の様子が持ち込まれ
た試料によって影響を受ける複合系で、干渉を受けなが
ら反射するように基板が作られている。光源に向いた基
板の下部表面には、反射を減少させる被覆加工が施さ
れ、観測されている波長領域内で、使用されているRifS
測定装置の使用されている入射角と、使用されている偏
光のとき、これによって反射率を10%未満にさせ、ミク
ロ滴定板下面で妨げとなる反射を効果的に抑制するよう
にできる。RifS法について最適の状況を達成するには、
波長領域約400nmないし800nm, 入射角約50°, Ｓ-偏光
（入射光の入射面に垂直な）を配備するのが望ましい。
が平らな表面でいかなる構造ももたない基板を有する。
この基板の上部表面上へトランスデューサー表面として
RifS複合系が配される。この複合系は基板の全上部表面
を覆ってもよいが、くぼみの範囲にのみ配されていても
よい。この複合系は導波ダクトを形成しない。DE 19615
366A1に記述されているような適合した光源が発する下
方からの入射光が妨げられずに進入でき、基板の上部表
面上に配され、分光学的に見た反射の様子が持ち込まれ
た試料によって影響を受ける複合系で、干渉を受けなが
ら反射するように基板が作られている。光源に向いた基
板の下部表面には、反射を減少させる被覆加工が施さ
れ、観測されている波長領域内で、使用されているRifS
測定装置の使用されている入射角と、使用されている偏
光のとき、これによって反射率を10%未満にさせ、ミク
ロ滴定板下面で妨げとなる反射を効果的に抑制するよう
にできる。RifS法について最適の状況を達成するには、
波長領域約400nmないし800nm, 入射角約50°, Ｓ-偏光
（入射光の入射面に垂直な）を配備するのが望ましい。
【０００７】DE 196 15 366に記述されているように、R
ifS法についてはガラス基盤上に特別なRifS被覆加工が
必要である。この複合系は、大屈折率の系とそれに相対
的に小屈折率の系から成り、基板と、複合系の上にある
高感度で干渉力のある光学系を作り、これの波長に依存
する反射・干渉の振る舞いが検出されて、高感度系の系
厚と屈折率に関する情報がもたらされる。RifS法を利用
するには、複合系が5nmないし1000nmの厚さの大屈折系
と、その上に配置された5nmないし1000nmの厚さの小屈
折系から成り、この複合系がくぼみに向いた基板の表面
上に配置されているのがよい。この複合系は、また、5n
mないし1000nmの厚さの小屈折系と、その上に配置され
た5nmないし1000nmの厚さの大屈折系から成り、この複
合系がくぼみに向いた基板の表面上に配置されるように
作ることもできる。
ifS法についてはガラス基盤上に特別なRifS被覆加工が
必要である。この複合系は、大屈折率の系とそれに相対
的に小屈折率の系から成り、基板と、複合系の上にある
高感度で干渉力のある光学系を作り、これの波長に依存
する反射・干渉の振る舞いが検出されて、高感度系の系
厚と屈折率に関する情報がもたらされる。RifS法を利用
するには、複合系が5nmないし1000nmの厚さの大屈折系
と、その上に配置された5nmないし1000nmの厚さの小屈
折系から成り、この複合系がくぼみに向いた基板の表面
上に配置されているのがよい。この複合系は、また、5n
mないし1000nmの厚さの小屈折系と、その上に配置され
た5nmないし1000nmの厚さの大屈折系から成り、この複
合系がくぼみに向いた基板の表面上に配置されるように
作ることもできる。
【０００８】本質的なことは、これらの系の間で屈折率
が大きく変化するのに伴う界面通過が高い反射率をもた
らし、このことが、試料を置いたことによる添加境界面
のところの反射とともに特徴的な干渉信号をもたらすと
いうことにある。RifS法用ミクロ滴定板が可視波長領域
内で最適に動作するには、大屈折率の下系が5nmないし5
0nmの厚さでTiO2またはTa2O5から成り、小屈折率でその
上にあり、くぼみに向いている系が200nmないし600nmの
厚さでSiO2からなるのが有利である。このミクロ滴定板
は、基板と空洞板とが互いに材質同士堅固に結合してい
るとき、製造技術上容易に製造可能である。このことは
たとえば、空洞板と基板とが互いに接着剤またはパテに
よって結合され、接着剤の層またはパテの層が、互いに
接着されまたはパテどめされた面で全起伏が完全に埋め
合わせされるような厚さを有することによって実現でき
る。
が大きく変化するのに伴う界面通過が高い反射率をもた
らし、このことが、試料を置いたことによる添加境界面
のところの反射とともに特徴的な干渉信号をもたらすと
いうことにある。RifS法用ミクロ滴定板が可視波長領域
内で最適に動作するには、大屈折率の下系が5nmないし5
0nmの厚さでTiO2またはTa2O5から成り、小屈折率でその
上にあり、くぼみに向いている系が200nmないし600nmの
厚さでSiO2からなるのが有利である。このミクロ滴定板
は、基板と空洞板とが互いに材質同士堅固に結合してい
るとき、製造技術上容易に製造可能である。このことは
たとえば、空洞板と基板とが互いに接着剤またはパテに
よって結合され、接着剤の層またはパテの層が、互いに
接着されまたはパテどめされた面で全起伏が完全に埋め
合わせされるような厚さを有することによって実現でき
る。
【０００９】テストすべき試料を結合させるためには、
基板の第１表面の外層上になじみやすいハイドロゲルを
化学的な共有結合または吸着によって配置し、このハイ
ドロゲルを公知の方法で生物学的分子または合成分子に
よって機能させる。このハイドロゲル、たとえばデキス
トラン、アガローゼ、澱粉のような多糖類、またはたと
えばポリエチレングリコール、ポリビニルアルコール、
ポリアクリルアミドのような合成重合体またはこれらの
重合体からの誘導体を機能させる。
基板の第１表面の外層上になじみやすいハイドロゲルを
化学的な共有結合または吸着によって配置し、このハイ
ドロゲルを公知の方法で生物学的分子または合成分子に
よって機能させる。このハイドロゲル、たとえばデキス
トラン、アガローゼ、澱粉のような多糖類、またはたと
えばポリエチレングリコール、ポリビニルアルコール、
ポリアクリルアミドのような合成重合体またはこれらの
重合体からの誘導体を機能させる。
【００１０】この発明に従う解決手段の長所はとりわ
け、製造技術的に容易であり、RifS法対比に必要なミク
ロ滴定板が作り出されるという点にある。それとともに
特に長所となるのは、このミクロ滴定板は平らであって
構造のない表面が備わったガラス製基板を含み、この中
には格子構造も、他のいかなる成型も、導波ダクトも配
置されていないという点である。この基板は片側にRifS
法を実施するのに適合する複合系を有し、他の側に反射
防止層を有する。ミクロ滴定板全体は、その測定から本
質的に、試料、液体を自動的に取り扱うことを可能にす
るようなミクロ滴定板の標準測定を満足するように構成
され、寸法決めしてある。こうした標準測定は、たとえ
ば"Journal of biomolecularScreening"第１巻第４号19
96年163ページから168ページまでに記述されている。
け、製造技術的に容易であり、RifS法対比に必要なミク
ロ滴定板が作り出されるという点にある。それとともに
特に長所となるのは、このミクロ滴定板は平らであって
構造のない表面が備わったガラス製基板を含み、この中
には格子構造も、他のいかなる成型も、導波ダクトも配
置されていないという点である。この基板は片側にRifS
法を実施するのに適合する複合系を有し、他の側に反射
防止層を有する。ミクロ滴定板全体は、その測定から本
質的に、試料、液体を自動的に取り扱うことを可能にす
るようなミクロ滴定板の標準測定を満足するように構成
され、寸法決めしてある。こうした標準測定は、たとえ
ば"Journal of biomolecularScreening"第１巻第４号19
96年163ページから168ページまでに記述されている。
【００１１】ミクロ滴定板を上手に積み重ねることを可
能にするため、また同時に基板の下部表面の被覆加工を
汚れと損傷から守るために、基板は、"Journal of biom
olecularScreening"に記述されているような基準に対応
して空洞板に埋め込むように配置し、ミクロ滴定板を平
らな保管場所に置くとき、またはミクロ滴定板を積み重
ねるときには、空洞板またはその一部が立脚面または積
み重ね面（支持面）として役立つようにできる。基板の
下にはその際、平らな保管場所または隣接するミクロ滴
定板の積み重ね面または支持面までに、十分な距離また
は十分な遊びが残してある。
能にするため、また同時に基板の下部表面の被覆加工を
汚れと損傷から守るために、基板は、"Journal of biom
olecularScreening"に記述されているような基準に対応
して空洞板に埋め込むように配置し、ミクロ滴定板を平
らな保管場所に置くとき、またはミクロ滴定板を積み重
ねるときには、空洞板またはその一部が立脚面または積
み重ね面（支持面）として役立つようにできる。基板の
下にはその際、平らな保管場所または隣接するミクロ滴
定板の積み重ね面または支持面までに、十分な距離また
は十分な遊びが残してある。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明を実施例に従いより詳しく
説明する。図１の(a),(b),(c)に、縦横の断面図と平面
図で示したミクロ滴定板は、平らであって構造のない基
板１と、マトリクス形に配列した貫通空洞、すなわち井
戸形のくぼみ３を有する空洞板２とから成る。基板１と
空洞板２は堅固に結合し、たとえばパテまたは接着剤に
よって、またはパッキングの粘着によって液体漏れのな
いように結合し、くぼみ３は小容器を形成するので、そ
の中に検査すべき試料が配置される。
説明する。図１の(a),(b),(c)に、縦横の断面図と平面
図で示したミクロ滴定板は、平らであって構造のない基
板１と、マトリクス形に配列した貫通空洞、すなわち井
戸形のくぼみ３を有する空洞板２とから成る。基板１と
空洞板２は堅固に結合し、たとえばパテまたは接着剤に
よって、またはパッキングの粘着によって液体漏れのな
いように結合し、くぼみ３は小容器を形成するので、そ
の中に検査すべき試料が配置される。
【００１３】基板１は、図２から明らかなように、くぼ
み３に向いた面上に少なくとも２つの系から成る複合系
４を備えている。この複合系４は、空洞板２に面する基
板１の表面６の上に、異なる屈折率をもつ複数の系４.
１、４.２を有している。直接表面６の上に配置された
系４.１は、その上にある系４.２より大きい屈折率を有
するようにすることができる。また逆の場合も考えら
れ、表面６の上にある系４.１がその上にある系４.２よ
り小屈折率を有するようにしてもよい。基板１自身は、
厚さ約０.０１mmないし約５mmを有し、透光性の工業材
料、たとえば合成樹脂またはガラスから製造されてい
る。
み３に向いた面上に少なくとも２つの系から成る複合系
４を備えている。この複合系４は、空洞板２に面する基
板１の表面６の上に、異なる屈折率をもつ複数の系４.
１、４.２を有している。直接表面６の上に配置された
系４.１は、その上にある系４.２より大きい屈折率を有
するようにすることができる。また逆の場合も考えら
れ、表面６の上にある系４.１がその上にある系４.２よ
り小屈折率を有するようにしてもよい。基板１自身は、
厚さ約０.０１mmないし約５mmを有し、透光性の工業材
料、たとえば合成樹脂またはガラスから製造されてい
る。
【００１４】基板の表面６上の系４.１,４.２の厚さは
約５nmないし1000nmの値である。RifS法を可視光波長領
域で利用するのに特に好適な実施例によると、系４.１
は厚さ５nmと５０nmの間の大屈折系である。この系はそ
の際理想的にはTiO2またはTa2O5から成る。この好適な
実施例では、その上にある系４.２は小屈折系である。
これはSiO2から成り、200nmと600nmの間の厚さである。
約５nmないし1000nmの値である。RifS法を可視光波長領
域で利用するのに特に好適な実施例によると、系４.１
は厚さ５nmと５０nmの間の大屈折系である。この系はそ
の際理想的にはTiO2またはTa2O5から成る。この好適な
実施例では、その上にある系４.２は小屈折系である。
これはSiO2から成り、200nmと600nmの間の厚さである。
【００１５】表面６の反対側の表面７に入射する光の光
損失と妨害反射、および上部複合系４に由来する反射光
部分への干渉をできるだけ少なくするように、この表面
７上に反射抑制層５を配置し、反射によって起こる観測
波長領域内の光損失を、観測入射角と観測Ｓ−偏光のと
きに１０％未満に減少させる。有利な形に対応して、反
射抑制層が反射によって起こる光損失を、波長領域約40
0nmないし約800nm, 光入射角約50°, Ｓ-偏光のとき１
０％未満に減少させる。
損失と妨害反射、および上部複合系４に由来する反射光
部分への干渉をできるだけ少なくするように、この表面
７上に反射抑制層５を配置し、反射によって起こる観測
波長領域内の光損失を、観測入射角と観測Ｓ−偏光のと
きに１０％未満に減少させる。有利な形に対応して、反
射抑制層が反射によって起こる光損失を、波長領域約40
0nmないし約800nm, 光入射角約50°, Ｓ-偏光のとき１
０％未満に減少させる。
【００１６】接着剤層またはパテ層を使用する場合、製
造技術上有利にするには、基板１と空洞板２を結合する
ために使用されるパテ層または接着剤層（図中には示さ
れていない）の厚さを、基板１と空洞板２を結合すべき
面内の起伏をすべての範囲で埋め合わせできるようにす
るのがよい。系４.１,４.２は、表面６全体を覆ってい
てよいが、くぼみ３の底面が表出する場所のみに配備さ
れるようにしてもよい。系４.２の上には高感度のハイ
ドロゲル８が配置されている。
造技術上有利にするには、基板１と空洞板２を結合する
ために使用されるパテ層または接着剤層（図中には示さ
れていない）の厚さを、基板１と空洞板２を結合すべき
面内の起伏をすべての範囲で埋め合わせできるようにす
るのがよい。系４.１,４.２は、表面６全体を覆ってい
てよいが、くぼみ３の底面が表出する場所のみに配備さ
れるようにしてもよい。系４.２の上には高感度のハイ
ドロゲル８が配置されている。
【００１７】くぼみ３は空洞板２の中にマトリクス形に
はっきりしたラスター形に配列されていて、たとえば8
×12,16×24,24×36,32×48,48×72,64×96等のラスタ
ーに配列されている。ミクロ滴定板の大きさは、試料を
操作するために慣用される自動化装置、対応するピペッ
ト装置、分析装置、測定装置に適合するようなものであ
る。
はっきりしたラスター形に配列されていて、たとえば8
×12,16×24,24×36,32×48,48×72,64×96等のラスタ
ーに配列されている。ミクロ滴定板の大きさは、試料を
操作するために慣用される自動化装置、対応するピペッ
ト装置、分析装置、測定装置に適合するようなものであ
る。
【００１８】図３は、図１に従うミクロ滴定板の拡大断
面図であり、ここでは基板１が空洞板２の下側の縁９よ
り突出していないことが示されている。空洞板２の下部
領域内には支持面１０をもつ段が配備され、基板１の層
５をもつ下面７とこの支持面10との間には間隔ｅが存し
ている。
面図であり、ここでは基板１が空洞板２の下側の縁９よ
り突出していないことが示されている。空洞板２の下部
領域内には支持面１０をもつ段が配備され、基板１の層
５をもつ下面７とこの支持面10との間には間隔ｅが存し
ている。
【００１９】図４は上下に積み重ねられた２枚のミクロ
滴定板の関係を簡略に示している。図３に拡大図示され
ているミクロ滴定板の形態によってわかるとおり、数枚
のミクロ滴定板を積み重ねる際、上の板の支持面１０が
下の板の上部表面１１の上に乗り、基板１の反射抑制層
５をもつ下面が傷つくのを回避している。この図示から
明瞭にわかるとおり、上のミクロ滴定板の基板１と下の
ミクロ滴定板の上部表面１１との間には十分な間隔ｅが
存し、反射抑制層７をもつ基板１が接触し、場合により
損傷するのを安全に回避できる。
滴定板の関係を簡略に示している。図３に拡大図示され
ているミクロ滴定板の形態によってわかるとおり、数枚
のミクロ滴定板を積み重ねる際、上の板の支持面１０が
下の板の上部表面１１の上に乗り、基板１の反射抑制層
５をもつ下面が傷つくのを回避している。この図示から
明瞭にわかるとおり、上のミクロ滴定板の基板１と下の
ミクロ滴定板の上部表面１１との間には十分な間隔ｅが
存し、反射抑制層７をもつ基板１が接触し、場合により
損傷するのを安全に回避できる。
【図１】(ａ)はミクロ滴定板の断面、(ｂ)は空洞板の平
面、(ｃ)はミクロ滴定板の幅の狭いほうの断面を簡略化
したものである。
面、(ｃ)はミクロ滴定板の幅の狭いほうの断面を簡略化
したものである。
【図２】基板とそれに配した系の断面図である。
【図３】基板と空洞板から成るミクロ滴定板の一部分断
面の拡大図である。
面の拡大図である。
【図４】上下に積み重ねられた２枚のミクロ滴定板であ
る。
る。
１ 基板 ２ 空洞板 ３ くぼみ ４ 光学系 ５ 反射抑制層 ６、７ 基板の表面 ８ ハイドロゲル ９ 空洞板の下側の縁 １０ 支持面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ベルント ナブラカラ （氏名原語表記) Ｂｅｒｎｄ Ｎａｗｒａｃａｌａ ドイツ国Ｄ−76199 カールスルーヘ バ ウムガルテン 16 (72)発明者 マンフリート ベルンツ （氏名原語表 記） Ｍａｎｆｒｅｄ Ｂｅｒｎｄｔ ドイツ国Ｄ−7676337 ヴァルドブロン ヘレンストラッセ 55 (72)発明者 ギュンター ガイグリッツ （氏名原語表 記） Ｇｕｅｎｔｈｅｒ Ｇａｕｇｌｉｔ ｚ ドイツ国Ｄ−72070 チュビンゲン パノ ラマストラッセ 54 (72)発明者 グンテル エレンダー （氏名原語表記) Ｇｕｎｔｈｅｒ Ｅｌｅｎｄｅｒ ドイツ国Ｄ−94081 フュルステンツェル オーベルジムバッハ 66 (72)発明者 ディーター グレッフェ （氏名原語表 記） Ｄｉｅｔｅｒ Ｇｒａｅｆｅ ドイツ国Ｄ−07745 イエナ ハンス・ア イスラー・ストラッセ 32 (72)発明者 ギュンター ベルテル （氏名原語表記) Ｇｕｅｎｔｅｒ Ｂｅｒｔｈｅｌ ドイツ国Ｄ−07743 イエナ フライリグ ラス ストラッセ 24
Claims (9)
- 【請求項１】 透光性の工業材料から作られた基板と、
マトリクス形に配列した空洞すなわち井戸形くぼみをも
ち、相対する２枚の表面で開放している空洞板とを含
む、添加ふるい分け用ミクロ滴定板であり、基板と空洞
板とが分離できず液体漏れのないように互いに結合し、
基板がそのくぼみに向いた表面に少なくとも１つの光学
系を備えているミクロ滴定板であって、基板が0.01mmな
いし約5mmの厚さで、平坦であって構造のない表面を有
し、くぼみに向いた基板の第１表面に、異なる屈折率を
もつ少なくとも２つの光学系からなる複合系を有し、く
ぼみと反対側に向いた基板の第２表面に、この表面での
反射率を極度に減少させる被覆加工層を備えていること
とを特徴とするミクロ滴定板。 - 【請求項２】 複合系が5nmないし1000nmの厚さの大屈
折系と、その上に配置された5nmないし1000nmの厚さの
小屈折系とから成り、大屈折系がくぼみに向いた基板の
第１表面上に配置されていることを特徴とする請求項１
に記載のミクロ滴定板。 - 【請求項３】 複合系が5nmないし1000nmの厚さの小屈
折系と、その上に配置された5nmないし1000nmの厚さの
大屈折系とから成り、小屈折系がくぼみに向いた基板の
第１表面上に配置されていることを特徴とする請求項１
に記載のミクロ滴定板。 - 【請求項４】 大屈折系が5nmないし50nmの厚さでTiO2
またはTa2O5から成り、小屈折系が200nmないし600nmの
厚さでSiO2から成ることを特徴とする前記請求項の少な
くとも１つに記載のミクロ滴定板。 - 【請求項５】 くぼみに向いた第２表面が１枚の反射防
止層で覆われ、これが波長領域400nmないし800nm, 光の
入射角約50°, Ｓ−偏光の入射光のとき10%より少ない
反射率を有することを特徴とする前記請求項の１つに記
載のミクロ滴定板。 - 【請求項６】 空洞板と基板との材質が互いに堅固に」
結合していることを特徴とする前記請求項の１つに記載
のミクロ滴定板。 - 【請求項７】 空洞板と基板とが互いに接着剤またはパ
テによって結合しており、接着剤層またはパテ層が、互
いに接着された面またはパテでとめられた面の起伏が埋
め合わせされるような厚さを有することを特徴とする前
記請求項の１つに記載のミクロ滴定板。 - 【請求項８】 基板の第１表面の外部層上になじみやす
いハイドロゲルが化学的な共有結合または吸着によって
配されていることと、このハイドロゲルがなじみやすい
仕方で生物学的分子または合成分子によって機能されて
いることとを特徴とする前記請求項の１つに記載のミク
ロ滴定板。 - 【請求項９】 ハイドロゲルがデキストラン、アガロー
ゼまたは澱粉のような多糖類、またはポリエチレングリ
コール、ポリビニルアルコール、ポリアクリルアミドの
ような合成重合体またはここに挙げた重合体の誘導体で
あることを特徴とする前記請求項の１つに記載のミクロ
滴定板。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19806681A DE19806681B4 (de) | 1998-02-18 | 1998-02-18 | Mikrotiterplatte |
| DE19806691.3 | 1998-02-18 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11281567A true JPH11281567A (ja) | 1999-10-15 |
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|---|---|---|---|
| JP11035095A Pending JPH11281567A (ja) | 1998-02-18 | 1999-02-15 | ミクロ滴定板 |
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| JP (1) | JPH11281567A (ja) |
| CH (1) | CH694323A5 (ja) |
| DE (1) | DE19806681B4 (ja) |
| GB (1) | GB2334581B (ja) |
Cited By (1)
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| JP2013118852A (ja) * | 2011-12-08 | 2013-06-17 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 脂質二分子膜基板、脂質二分子膜基板の製造方法、及びハイドロゲル基板 |
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| US6297018B1 (en) | 1998-04-17 | 2001-10-02 | Ljl Biosystems, Inc. | Methods and apparatus for detecting nucleic acid polymorphisms |
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1999
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- 1999-02-18 US US09/252,311 patent/US6018388A/en not_active Expired - Fee Related
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