JPH11253434A - 断層x線撮像方法及び装置 - Google Patents

断層x線撮像方法及び装置

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JPH11253434A
JPH11253434A JP11006509A JP650999A JPH11253434A JP H11253434 A JPH11253434 A JP H11253434A JP 11006509 A JP11006509 A JP 11006509A JP 650999 A JP650999 A JP 650999A JP H11253434 A JPH11253434 A JP H11253434A
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window
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ray imaging
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JP11006509A
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Per-Erik Danielsson
エリク ダニエルソン ペル
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Koninklijke Philips NV
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Koninklijke Philips Electronics NV
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    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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    • G06T11/003Reconstruction from projections, e.g. tomography

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、完全な螺旋状円錐形ビーム走査及
び非冗長データ取得が実現される任意の長さの対象物の
3次元断層X線撮像装置及び方法の提供を目的とする。 【解決手段】 最小サイズの2次元検出器ウィンドウは
2回の連続した螺旋の周回によって境界が定められる。
光線源は、点から見た場合に正確に180度の回転中に
全ての対象物点を照射する。1次元フィルタリングだけ
が再構成に利用される。回転軸に沿って見た場合の平行
ビームへの再割り当ては、事前重み付け又は倍率を必要
とすることなく、特に簡単な手続きを実現する。特殊な
ケースとして、本発明は1次元検出器アレイを用いた螺
旋状扇形ビーム走査に適用可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検査対象物が円
錐状ビーム光線源及び検出器と相対的に平行移動と回転
とを行う長い対象物の3次元断層X線撮像の装置及び方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】断層X線撮像方法及び装置は、[Dan97a]
(引用文献のリストを参照のこと)に記載されている。
2次元検出器11及び点状の放射線源(例えば、X線
源)Sは、図1に示された螺旋状軌道に沿って対象物の
周りを同期式に移動する。医用断層X線撮像の場合、螺
旋状の放射線源の移動は、回転する放射線源・検出器構
造物の中で患者を平行移動させることにより実現され
る。2次元投影は、軌道上の任意の短い間隔で取得(検
出)される。検出器は、平面、或いは、図1に示される
如く、螺旋状円柱体12の表面上に等間隔で配置された
多数のセンサ(検出器素子)を含む。回転軸14は、通
常、医用断層X線撮像に関して水平方向であり、図1に
示されるような垂直方向ではないが、本願明細書では次
の用法に従って説明する。以下、“垂直方向”とは、図
1に示された回転軸(z軸)14に平行な方向を表し、
“水平方向”とは、xy平面15に対し平行な方向を表
す。
【0003】投影は、一次的に検出器素子に入射する放
射線の強度測定値により構成される。この一次データの
対数は、光線方向の減衰の合計、すなわち、求めたい3
次元減衰関数fに関する線積分を表す。投影から関数f
を正確に再構成するためには、対象物の全ての点が完全
に露光され、投影データが均衡を保って利用される必要
がある。したがって、再構成のため背面投影が利用され
る場合、いわゆる厳密な再構成を実現すべく、全投影角
からの投影が利用可能であり、正確な重みを付けられる
べきである。また、投影データは、投影−背面投影処理
に本質的に備わる低域フィルタリングを補償するため正
確にフィルタ処理される必要がある。
【0004】上記引用文献[Dan97a]において、数通りの
数学的に厳密な方法が円錐状ビームからの再構成のため
提案されている。殆どの場合、提案された方法は、対象
物が有限の拡がりを有すること、すなわち、寸法が制限
され、対象物の全ての投影が利用可能な検出器の範囲内
に収まることを要求する。残念ながら、この要求は、殆
どのコンピュータ断層X線撮像の場合、例えば、全身、
若しくは、一般的に長い対象物を再構成すべき場合に現
実的ではない。従来、1次元検出器アレイは、対象物を
最大の幅の全体に亘って変換するために十分な長さ
(幅)が与えられる。しかし、幾つかの理由から、1次
元検出器を2次元検出器に拡張して、患者の頭からつま
先までの全てをカバーすることは問題外であるとされて
いる。その代わりとして、近い将来、利用可能な2次元
検出器が長い対象物の断面の投影をカバーし、記録する
ため使用される。
【0005】従来、3次元容積データはスライス単位で
再構成される。患者は少しずつ(典型的に毎秒2mm)
平行移動させられ、同時に、X線源及び1次元検出器ア
レイが毎秒約1回転の速さで同期的かつ連続的に回転さ
れる。移動しない患者に対し、X線源及び検出器は、非
常に短いピッチ、例えば、2mmの螺旋運動を行う。こ
の再構成法は、従来の単一スライスの環状走査用の2次
元的方法の改良版を利用する。しかし、数値を挙げる
と、200mm長の身体の断面に対するデータを獲得す
るために約100秒の時間を要する。この時間中、呼吸
並びにその他の身体機能に起因して、身体は完全には静
止していないので、再構成された対象物を不鮮明にす
る。第2の欠点は、X線管の陽極は、長い照射時間中に
厳しい負荷と高温に晒されることである。
【0006】1次元検出器システムの場合、発生された
光子の大部分は利用されずに視準から遠ざけられ、2次
元検出器システムは、光子を浪費することなく、光子の
実質的な部分を利用することができる。したがって、例
えば、上記例においてn本の平行1次元検出器による2
次元検出器を使用することにより、速度を毎秒2nミリ
まで上昇させ、走査時間を100/n秒まで低下させる
ことができる。或いは、速度はX線源に対する要求と妥
協されるので、例えば、光子のフローが半分にされた場
合、速度は適度に毎秒nミリ秒まで上昇され、走査時間
は200/n秒に低減される。しかし、いずれにして
も、従来の2次元的手法の場合、投影光線は放射線源の
軌道の1周回中に近似的にも同一平面上に維持されない
ので、従来の2次元的手法を用いて再構成を行うことは
不可能になる。
【0007】・環状放射線軌道について 環状経路に沿って獲得された円錐状ビーム投影から厳密
ではない再構成を行う周知の方法は、引用文献[Feld84]
に記載されている。2次元検出器は、平面的な表面に設
置され、対象物の全幅をカバーするように水平方向に延
在する。対象物の全幅及び放射線源までの距離は、放射
線源・検出器系の最大の扇形角度γmaxを決める。垂直
方向に関し、平面的な検出器は2本の水平線によって制
限される。これらの水平線が放射線源に最も接近する垂
直軸に沿って、最大円錐角度が見つけられる。画像再構
成は、検出器の記録毎に行われる以下の段階を含む。絶
えず必要な対数計算を含む幾何学的並びに放射性の性質
の全ての補正は、説明を簡単にするためここでは除かれ
ている。
【0008】1. 記録された検出器データを、中心の
光線と検出された値を発生させた光線との間の角度の余
弦に比例する係数で事前重み付けをする。 2. 水平方向の検出器の行毎に従来のランプフィルタ
リング技術を用いてフィルタリング処理する。 3. 元の光線に沿って背面投影し、その処理中に、フ
ィルタ処理された検出器値は、元の光線からの寄与分を
受信するため放射線源と対象物の点との間の距離に依存
する倍率で乗算される。
【0009】この方法は、対象物の中央部分又はその付
近の画像スライスに対し完全な結果を与える。より大き
い円錐角の非常に傾いた光線が当てられたスライスの場
合、画質は劣化する。 ・螺旋状放射線軌道(厳密ではない方法)について 上記引用文献[Feld84]の螺旋状放射線源経路への拡張
は、引用文献[Wang93]において提案されている。この引
用文献によれば、平面的な2次元検出器は、360度の
放射線源の1回転中に各投影角毎に少なくとも1回ずつ
各点が放射線源からの照射を受けることができるよう十
分広く垂直方向に拡張される。この条件の効果として、
任意の投影角度に対し、対象物の点は、与えられた扇形
角度、コーン角度及び検出器サイズに依存して、少なく
とも1箇所、大抵は非常に多数箇所の種々の放射線源の
位置からの放射線源の放射を受ける。これは、背面投影
の場合に考慮される必要がある。かくして、引用文献[F
eld84]は[Wang]に利用されるが、以下の規則によって拡
張される。
【0010】3a. 背面投影中に、対象物の点を照射
するあらゆる実現可能な放射線源位置の中のある投影角
度に対し、z方向の実際の位置に最も接近した位置から
の寄与分だけが受け入れられる。対象物の点の非常に効
率的かつ均衡の取れた露光を実現する方法は、引用文献
[Scha96]に提案されている。[Scha96]では、検出器は放
射線源円柱体41の表面に配置される(巻き付けられ
る)。図4において、円柱体41の中心はSに置かれて
いる。円柱体の半径は放射線源・検出器の距離と一致
し、螺旋状円柱体12の半径Rとは異なる。螺旋状円柱
体は、図1の対象物円柱体13と同軸であり、対象物円
柱体13は最大の対象物半径rによって定義される。引
用文献[Scha96]において、検出器は、放射線源円柱体4
1の2本の水平方向の円(断面)によって垂直方向に制
限される。しかし、検出器に対し推奨されるべき最大若
しくは最適の高さは必ずしも明らかではない。水平方向
に関して、検出器は2本の垂直線によって制限され、対
象物円筒体をカバーするように設定される。以下の説明
では、図1は引用文献[Scha96]のようなある種の従来技
術を明確化するため使用されるが、本発明における検出
器配置は引用文献[Scha96]並びに[Scha97]における検出
器とは相違する。
【0011】[Scha96]における主要な新規性は、相補的
な投影の導入である。放射線源円筒体41で獲得される
投影データには、放射線源からの放射線が螺旋状円柱体
12に到達した場合に分類され、再サンプリング(再割
り当て(rebinning) )されるデータが存在する。対象物
及び螺旋状円柱体が固定されている間に、放射線源が螺
旋16に沿って移動する場合を想定する。同一周回中の
種々の放射線源位置から放射線の中で螺旋状円柱体の固
定点に達する全ての放射線は、相補的な扇形ビームであ
ると称され、この扇形ビームに対する投影データは再割
り当て中に作成される。螺旋状円柱体の垂直線上の点か
ら扇状に拡がる放射線に対し完全に水平ではなく、ま
た、完全に平面的でもない扇形ビームの組は、相補的な
投影を構成する。これらは、以下の再構成手続に利用さ
れる。
【0012】1. 記録された検出器データを、中心の
光線と検出された値を発生させた光線との間の角度の余
弦に比例する係数で事前重み付けをする。 2. 相補的な投影に再割り当てする。 3. 水平方向の検出器の行毎に従来のランプフィルタ
リング技術を用いて、元の投影及び相補的な投影をフィ
ルタリングする。非平面的な検出器であるため、このフ
ィルタは[Feld84]において使用されたフィルタとは僅か
に異なる。
【0013】4. 投影角毎に、フィルタ処理された投
影データは光線に沿って背面投影される。値は、点と放
射線源との間の距離に依存した倍率で乗算される。元の
位置並びに相補的な円錐ビーム源位置からの全ての値
は、対象物の点に関して累積される単一の寄与度に平均
化される。引用文献[Scha96]の検出器配置は、対象物の
点の完全に均衡が取れた露光を保証しないことが分か
る。背面投影中に、各回転角度毎に、対象物の点が1箇
所又は数箇所の放射線源位置から照射される[Wang93]の
場合と類似した状況が生じる。相違点は、[Scha96]の場
合に、元の投影並びに相補的な投影の両方からの全ての
投影データは、背面投影中に利用され、併せて平均化さ
れることである。
【0014】引用文献[Scha97]は、非常に計算上の効率
が優れていると言われる別の再構成技術を提案する。[S
cha97]の検出器システムは、放射線源円柱体41の表面
上に2個の水平方向の円錐を備えた[Scha96]の検出器シ
ステムと同一である。再構成は以下の段階を含む。 1. 斜行平行投影に再割り当てする。
【0015】2. 記録された検出器データを、中心の
光線と検出された値を発生させた光線との間の角度の余
弦に比例する係数で事前重み付けをする。 3. 一般化投影から1個の水平方向スライスを再構成
する。一般化投影は、水平方向スライス内を通過する仮
想的な投影光線の結果であるとみなすことができる。
【0016】3.1 全ての投影角で1個の一般化投影
に対し、このスライスへのフーリエ領域寄与度を計算す
る。 3.1.1 1個の一般化投影において各検出器位置毎
にフーリエ領域寄与度を計算する。 3.1.1.1 (当該スライスを通る斜行光線を送出
する全ての放射線源位置からの)投影データを、採用さ
れた補間関数から導出されたフーリエ級数成分である事
前計算された重みの組みで乗算する。
【0017】3.1.1.2 一般化平行投影の検出器
位置における光線毎の丸められたフーリエ変換である単
一の組を得るため各フーリエ級数毎の寄与度を加算す
る。 3.1.2 一般化平行投影毎に1種類の丸められた2
次元フーリエ変換寄与度を獲得するため、全ての丸めら
れたフーリエ成分に沿ってフーリエ変換(FFTを計算
する。
【0018】3.1.3 一般化投影のフーリエ変換を
ランプフィルタで乗算する。 3.2 水平方向スライスの2次元フーリエ変換の全て
の投影角度からのフィルタ処理されたデータを併合し、
空間不変性補間フィルタで再サンプリングする。 3.3 逆2次元フーリエ変換(FFT)を適用する。
【0019】3.4 周知のグリッディング技術に従っ
て、結果を逆補間関数で事後重み付けをすることにより
フーリエ領域内の不完全な補間を補償する。最初の再割
り当て段階は、放射線源、検出器及び対象物17が上か
ら描写される場合に最も良く理解される。上方から見る
と、円錐状ビームは扇状ビームとして観察される。段階
1における再割り当ては、投影データを、その視点から
のデータが扇状ビームだけではなく、平行ビームによっ
て生成される組に分類することと等価である。用語“斜
行平行投影”は、光線が上方から見た場合には平行であ
るが、一般的に平行ではなく、水平面に対し傾斜すると
いう事実に由来する。後続の段階を理解するため、図1
2と同様に対象物の中央で回転軸上に垂直向きに設けら
れた平面的な仮想検出器122を想定することが望まし
い。この投影のための光線を生成する放射線源位置は数
個存在する。放射線源円柱体41上の実際の検出器は水
平方向に切り取られ、放射線源位置は螺旋16に沿って
配置されるので、この仮想検出器の有効領域は左右対称
の形状ではない。上方境界131及び下方境界132
は、図13に示される如く、湾曲し上下に振られる。こ
れは、本発明のための図10における対応した仮想検出
器72の完全に矩形の形状に対する重要な相違点であ
る。正味の影響は、[Scha97]の場合に、可変個の放射線
源位置は、種々の傾斜角で所与のスライスを貫通する扇
状ビームを生成することである。これらの全てが上記の
巧妙かつ複雑な計算段階3.1.1.1及び3.1.
1.2の結果に寄与する。本発明において、ただ一つの
扇状ビームが見つけられる。
【0020】・螺旋状放射線軌道(厳密な方法)につい
て 制限された区画、すなわち、長い対象物の着目領域(R
OI)を再構成する厳密な方法は、引用文献[Tam95] 及
び[Eber95]に記載されている。螺旋状走査は、着目領域
の垂直方向の拡がりの全体を覆うが、上部及び下部の二
つの円形状走査によって補う必要がある。検出器は、[F
eld83]及び[Wang93]の場合と全く同様に平面的な表面に
配置されるが、検出器ウィンドウは、図1に示されるよ
うな放射線源軌道16の2回の連続的な周回の間の領域
に制限される。検出器平面上の上方及び下方の切り取り
線は、水平ではなく、直線ではなく、また、左右対称で
もない。検出器の具体的な拡張の論拠は、以下の再構成
技術に引き継がれるラドン平面のための周知の完備条件
から得られる。本質的な局面において、この方法は引用
文献[Gra87] からの所産である。
【0021】1. 2次元投影毎に、ラドン変換値の微
分への部分的寄与度が平面的検出器の多数のラインに沿
った線積分を用いて計算される。このため、3次元座標
系の原点として特定の対象物の点を選択することが要求
される。 2. 走査が終了したとき、すなわち、螺旋状軌道が意
図された目標の着目領域(ROI)をカバーしたとき、
上記の全ての部分的寄与度が分類され、同一平面上の部
分的寄与度が加算される。
【0022】3. 加算結果は、目的関数の着目領域の
ラドン変換空間内の規則的なグリッドに再サンプリング
される。 4. 微分フィルタでフィルタリング処理をする。 5. 二つの連続的な2次元背面投影段階として3次元
背面投影を行う。 一般的に、このような再構成は、前述の方法よりも複雑
であり、かつ、コスト高である。また、再構成手続のリ
ズムは、選択された着目領域のサイズによる影響をうけ
る。この再構成手続は、対象物の長さとは無関係に新し
い投影毎に繰り返し行われる同一の手続の均一なフロー
ではない。2回の余分な円形状走査は、螺旋状部分の滑
らかな連続的な平行移動・回転運動を阻害するので、非
常に望ましくない。しかし、この方法はある点に関して
最適である。所与の螺旋のピッチに対し、この方法は最
小のサイズの検出器を利用する。
【0023】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、完全な螺旋
状円錐形ビーム走査及び非冗長データ取得が実現される
任意の長さの対象物の3次元断層X線撮像装置及び方法
の提供を目的とする。
【0024】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、最小サ
イズの2次元検出器ウィンドウは2回の連続した螺旋の
周回によって境界が定められる。光線源は、点から見た
場合に正確に180度の回転中に全ての対象物点を照射
する。1次元フィルタリングだけが再構成に利用され
る。回転軸に沿って見た場合の平行ビームへの再割り当
ては、事前重み付け又は倍率を必要とすることなく、特
に簡単な手続きを実現する。特殊なケースとして、本発
明は、1次元検出器アレイを用いた螺旋状扇形ビーム走
査に適用可能である。
【0025】本発明は、被検査対象物が円錐状ビーム光
線源及び検出器と相対的に平行移動と回転とを行う長い
対象物の3次元断層X線撮像の装置及び方法であって、
2次元検出器は上記光線源に対向するウィンドウに制限
され、上記ウィンドウは、回転軸に中心が置かれ上記光
線源を通過する円柱体に取り付けられた平行四辺形とし
て成形された表面領域と一致するように拘束され、上記
円柱体の長手方向に測定された上記ウィンドウの高さは
螺旋のピッチと一致し、上記ウィンドウの幅は再構成さ
れるべき上記対象物の最大の幅を覆うように決められ、
上記ウィンドウの上部境界及び下部境界は、固定した対
象物に対する上記光線源経路の二つの連続した周回と一
致し、再構成手続きは、特定の検出器値を生ずる光線の
角度に依存する係数で事前重み付けを行う段階と、上記
検出器の全域で水平方向又は略水平方向にランプフィル
タタイプのフィルタでフィルタリングを行う段階と、元
の検出器値を生じた上記光線の方向に沿ってある倍率で
背面投影を行う段階とを含み、実際の事前重み付けと実
際のフィルタ設計と実際の倍率は、上記検出器の物理的
な実施例と、検出されたデータに利用された再割り当て
とに依存することを特徴とする。
【0026】また、本発明は、被検査対象物が円錐状ビ
ーム光線源及び検出器と相対的に平行移動と回転とを行
う長い対象物の3次元断層X線撮像の装置及び方法であ
って、2次元検出器は上記光線源に対向するウィンドウ
に制限され、上記ウィンドウは、回転軸に中心が置かれ
上記光線源を通過する円柱体に取り付けられた平行四辺
形として成形された表面領域と一致するように拘束さ
れ、上記円柱体の長手方向に測定された上記ウィンドウ
の高さは螺旋のピッチと一致し、上記ウィンドウの幅は
再構成されるべき上記対象物の最大の幅を覆うように決
められ、上記ウィンドウの上部境界及び下部境界は、固
定した対象物に対する上記光線源経路の二つの連続した
周回と一致し、再構成手続きは、入ってくる円錐状ビー
ム投影毎に、上記回転軸に沿って見えるような平行投影
に再割り当てする段階と、上記再割り当てされたデータ
を上記回転軸上の仮想検出器平面に配置し、再サンプリ
ングする段階と、上記検出器平面内の全ての水平方向行
に沿ってランプフィルタリングを行う段階と、一定の倍
率を用いて元の光線の方向に背面投影する段階とを含む
ことを特徴とする。
【0027】また、本発明は、被検査対象物が円錐状ビ
ーム光線源及び検出器と相対的に平行移動と回転とを行
う長い対象物の3次元断層X線撮像の装置及び方法であ
って、2次元検出器は上記光線源に対向するウィンドウ
に制限され、上記ウィンドウは、回転軸に中心が置かれ
上記光線源を通過する円柱体に取り付けられた平行四辺
形として成形された表面領域と一致するように拘束さ
れ、上記円柱体の長手方向に測定された上記ウィンドウ
の高さは螺旋のピッチと一致し、上記ウィンドウの幅は
再構成されるべき上記対象物の最大の幅を覆うように決
められ、上記ウィンドウの上部境界及び下部境界は、固
定した対象物に対する上記光線源経路の二つの連続した
周回と一致し、再構成手続きは、入ってくる円錐状ビー
ム投影毎に、上記回転軸に沿って見えるような平行投影
に再割り当てする段階と、上記再割り当てされたデータ
を上記回転軸上の仮想検出器平面に配置し、再サンプリ
ングする段階と、一般化投影及びフーリエ変換技術を用
いて同時に一つの水平方向スライスを再構成する段階と
を含むことを特徴とする。
【0028】
【発明の実施の形態】本発明は、引用文献[Tam95] に提
案されているものと同様に、螺旋状放射線軌道の2回の
最も接近した周回により垂直方向に制限された露光ウィ
ンドウによって特徴付けられる最適、最小コストの2次
元検出器を利用する。しかし、この検出器ウィンドウを
利用する動機及び作用は、[Tam95] 及び[Eber95]に記載
された動機及び作用とは著しく異なる。この露光ウィン
ドウの特有の意義を説明するため、再度図1を参照す
る。図1には、放射線源Sと、螺旋状円柱体12の周り
に巻かれた検出器11と、内側の対象物円柱体13とが
示されている。以下、特に断らない限り、対象物円柱体
は、z軸に関して反時計回りに回転し、右側の螺旋を上
方に平行移動し、一方、放射線源S及び検出器11は空
間(x,y,z)に固定されている場合を想定する。
【0029】図2には配置の平面図が示されている。図
3には、平面上に広げられ伸ばされた検出器ウィンドウ
が示されている。図1及び3は、図3の光線が放射線源
から紙面の上方に向かって入射すると理解される場合に
限り矛盾しないことに注意する必要がある。図4には、
Sに中心が置かれ、螺旋状円柱体12の半径の2倍の半
径を有する放射線源円柱体41上に配置された検出器が
示されている。図1、2、3及び4は、細部には相違が
あるとしても、原則として引用文献[Dan97a]に記載され
た図1乃至4と同一である。
【0030】上記の通り、図1に示された2次元検出器
11は、螺旋状円柱体12に巻き付けられる。図1にお
いて紙面に広げられ伸ばされた同一の検出器11の表面
は、2本の垂直線31及び32と2本の傾斜した線33
及び34の4本の直線によって境界を定められている。
この境界内の領域で、対象物17は投影され、すなわ
ち、円錐状ビーム源からの光線がアクティブ検出器素子
に到達する。水平方向に関し、この領域は対象物円柱体
13を覆うように拡張されるべきであり、ビーム源から
見た場合、ある幅、若しくは、扇形角度γmax に変化す
る。一例として、対象物円柱体が、 半径r=R/√2 を有する場合を考える。但し、Rは螺旋状円柱体12の
半径である。すなわち、螺旋状円柱体12上で水平方向
に、検出器は360度の中の180度の回転角をカバー
し、放射線源側から見た場合、検出器11は、−45度
から+45度までの扇形角度をカバーする。原則とし
て、検出器は、1回転まで拡張してもよく、その場合、
−90度から+90度までの扇形角度を有し、対象物円
柱体が全ての方向で螺旋まで延びることが許容される。
傾斜した線33及び34は、 tanε=ν/(ωR)=h/(2πR) (1) の勾配で円柱体12の表面と交差する。但し、νは垂直
方向平行移動速度であり、ωは回転の角速度であり、h
は螺旋のピッチである。
【0031】本発明の核心部には、以下の検出器・露光
ウィンドウの特性がある。円柱状の長い対象物の各点
は、検出器ウィンドウの境界の内側と合う半径を有する
場合、対象物の実際の点から見たときに正確に180度
の回転角の間に露光(投影)される。この特性の形式的
な論証は[Dan97b]に記載されているが、ここではこれ以
上説明しない。この新しい十分条件は、ある点若しくは
点の組(すなわち、長い対象物の一部)が上記の意味で
完全に露光されると即座に、この一部の再構成を行うこ
とができるというように解釈される。これは、実際の再
構成を開始する前にラドン空間を完全に作成するため着
目領域全体が露光される必要がある[Tam95] 及び[Eber9
5]の状況とは異なる。
【0032】180度の露光の一例は図1の線18に示
されている。この例では、3個の対象物の点Q1 −Q−
2 が含まれ、露光の開始及び終了の二つの位置で示さ
れている。この線の端点は移動し、外側の円柱体に接触
するので、回転中に両端は放射線源Sと一致する。この
ような線は、以下E線と呼ぶ。この線は図2においても
同一の2点に示されている。
【0033】上記の通り、対象物は上方に移動し、上か
ら見た場合に反時計回りに回転していると想定する。図
3の検出器ウィンドウにおいて、線Q1 −Q−Q2 は、
下方の境界34と、単一の点Qinで交差する。軸14の
周りに角度π+2γだけ回転した後、この線は、検出器
から離れる放射線源から再び境界33上の単一の点Q
out のように見える。明らかに、入口と出口との間で、
放射線源は、この線上の任意の点から見えるように正確
に180度回転する。この線は全く任意に選択されてい
るので、同じことが、完全に露光されたE線に属する対
象物の全ての点に対し成り立つ。図1以外の図2及び3
において、別のE線である線P1 −P−P 2 が挿入され
る。図2の固定した放射線源・検出器システムの場合、
この線Pの入口と出口の位置は、線Qの対応した位置に
対し正確に反転する。したがって、この線Pは、露光軸
121周りの回転角π−2γの間に線Qよりも放射線源
に接近する。線P上の点は、図3に示される如く、異な
る短い曲線に沿って検出器表面上を移るが、これらの点
から見た場合、放射線源は点の周りを正確に180度回
転する。
【0034】引用文献[Dan97b]には、各対象物の点が全
く同一の線に属することが示されている。したがって、
図1の検出器システムは、各点毎に、すなわち、対象物
全体に対し完全、かつ、充分に均衡が取られたデータ取
得を実現する。また、上記の論証から、対象物は、長い
対象物の増加部分(E線の新しい組毎に)が完全に露光
されるペースと同じペースで再構築できることが必要で
ある。
【0035】検出器の物理的な実現及び配置は、図4に
示されるように種々の方法で行うことが可能である。例
えば、検出器は、螺旋状円柱体12自体、放射線源円柱
体41又は平面42の上に配置してもよい。何れの場合
も、検出され利用されるデータは図3によって定義され
るウィンドウに拘束される必要がある。本発明におい
て、同一の検出器データを使用して、[Tam95] 及び[Ebe
r95]の複雑な再構成は、非常に簡単な手続に置き換えら
れる。この手続を説明するため、進行中の走査及び再構
成を所定の着目領域に制限する必要がなく、この処理の
ための3次元原点を指定する必要もない。その代わり、
走査及び再構成は、一定に進行するフローと同じであ
り、原則として始まりも終わりも無く、新しい投影は、
先行の結果に境目無く吸収され、組み込まれる。この目
的のため、新しい投影毎の以下の一般的な再構成手続が
[Dan97a]に提案されている。
【0036】1. 再割り当てをする。 2. (再割り当て及び検出器タイプに依存して)事前
重み付けを行う。 3. (フィルタ設計が再割り当て及び検出器タイプに
依存して場合に)検出器全体にランプフィルタによる1
次元フィルタ処理を行う。 4. 再割り当てのタイプと、平面、円柱などの検出器
タイプに依存して、倍率を用いて入射する光線方向に沿
った背面投影を行う。
【0037】この手続の特殊なケースは、以下に詳細に
説明する平行投影への再割り当てである。図5は図1の
正面図であり、同図において6本の光線51、52、5
3、54、55及び56はx軸に置かれた放射線源Sか
ら入射する。図6には上方から見た平面図が示され、同
図において、対象物は固定され、放射線源及び検出器が
回転する。放射線源が位置Sαにあるとき、(この視点
では線条に見える)3本の扇形ビーム61、62及び6
3が観察され、このビームは図5における6本の光線に
より構成され、3個の投影の組t(α、γ1 ),t
(α,0),t(α,−γ1 )を生成する。2本の外側
の光線は、投影t(α+γ1 ,0)及びt(α−γ1
0)を夫々に生成する他の2個の放射線位置から入射す
る他の2本の光線64及び65と平行である。明らか
に、(光線のように見える)平行な扇形ビームからのデ
ータがまとめられるように投影データが再サンプリング
される。これは、以下の二つの等価的な割り当てのいず
れかを用いて行われ得る。 [p(α+γ,γ)<=t(α,γ)]≡[p(β,γ)<=t(β−γ,γ)] (2) 図7に示される如く、組pは、−方向の平行なビームに
よって発生されたとみなすことができる。一般性を失う
ことなく、この方向は、図7において水平方向である。
これらの光線と垂直に仮想検出器72が垂直平面上に設
置される。
【0038】図7における平行投影用の検出器ウィンド
ウ71は、図9の紙面に広げられ、伸ばされる。平行投
影用の完全な検出器位置は、異なる円錐状ビーム検出器
位置から生じた垂直線83、84及び85から集められ
る。得られた平行ビーム検出器領域は、円錐状ビーム検
出器と同等に傾斜しているが、−方向で2分の1に短縮
される。図9の検出器の最上部81及び最下部82は、
本例において比較のためだけに設けられた他の検出器ウ
ィンドウの外形をなす。最もよく理解できるように、こ
のウィンドウは、螺旋状円柱体12に写像されたとき、
[Scha96]及び[Scha97]の最小サイズ検出器に対応する。
所与のピッチ=h並びに所与の最小扇形角度γmax に対
し、この検出器ウィンドウの高さは、
【0039】
【数1】
【0040】である。この式は、[Scha96]及び[Scha97]
の検出器冗長性が扇形角度の増加に対しかなり素早く変
化することを意味する。平行投影の光線は、螺旋の特定
の区画に設けられた垂直方向の扇形ビームを備えた放射
線源の組から発射する。紙面に広げられた場合、この放
射線源螺旋の部分73は、図8の検出器71に重ね合わ
される。部分73は、検出器と同じ傾斜の線の形をなす
が、符号が反転している。このため、本発明において、
垂直中間平面内の仮想検出器72は、対象物円柱形の直
径に一致する幅と、ピッチの半分=h/2に正確に一致
する高さとを有する完全な矩形によって境界を定められ
る。これは、放射線源経路73の上方へのチルト運動が
検出器の下方へのチルト運動によって厳密に補償される
図9に示されている。また、仮想検出器72から放射線
源までの距離は、実際の検出器までの距離と常に一致す
るので、実際の検出器の高さhは、常に仮想検出器で厳
密にh/2に縮小される。図10は、再割り当て−再サ
ンプリング手続の2番目の部分、すなわち、R内の等距
離グリッド点から、y=Rsinγ内の等距離グリッド
点までを示す図である(尚、x及びyは、再割り当てさ
れた平行投影座標系の座標として使用される場合もあ
る)。
【0041】上記の完全な矩形である仮想検出器領域の
特性は図11に示されている。同図の(A)、(B)及
び(C)は、平行投影系の直交した3方向から見え方を
表す。7個の放射線源位置が示されている。同図の
(A)及び(B)において、放射線源位置sの中の一つ
の位置からの投影が線d−eとして示されている。明ら
かに、同図の(B)において、3点s、d及びeは螺旋
上にある。また、仮想検出器の平面は、上方の光線11
1で点sと点dのちょうど真ん中にある点と、下方の光
線112で点sと点eの間にある点の2点で螺旋と交差
する。したがって、仮想検出器の高さは、h/2であ
り、中間点は任意のsに対しx軸上に存在する。これ
は、仮想検出器が水平方向の境界線を有する矩形である
ことを明らかにする。
【0042】かくして、十分かつ冗長ではないデータを
送出する特殊な検出器ウィンドウが存在するという見識
を用いる場合、この検出器で円錐状ビームデータが取得
され、実際の再構成のために有利な状況を作るため円錐
状ビームデータが平行投影データに再割り当てされる。
完全な手続は、以下の3段階を含む。 1. 図6、7、8、9、10及び11に記載されるよ
うに平行投影に再割り当てをする。
【0043】2. 仮想検出器平面内の水平方向行に沿
って従来のランプフィルタでフィルタ処理をする。 3. 一定の倍率を用いて元の光線の方向に背面投影す
る。 本発明において、平行な再割り当ての後、1次元フィル
タリングが図10の仮想検出器72の水平方向行に沿っ
て行われる。[Scha96]及び[Scha97]において、フィルタ
リングは、図4に弧41として示されるような放射線源
円柱体に配置された検出器の水平方向行に沿って行われ
る。図13には、仮想検出器平面121に写像された検
出器が示されている。実際の検出器の水平方向行は、水
平方向でも直線でもない仮想検出器平面121上の曲線
に写像される。明らかに、本発明の様な真っ直ぐな水平
方向行ではなく、仮想検出器平面内のかかる曲線に沿っ
たフィルタリングを行う場合、再構成の結果はかなり異
なる。
【0044】上記の如くであるとしても、上記手続きの
段階3.は、[Scha97]の対応した段階3の簡単化された
変形バージョン、すなわち、一般化投影からの一つの水
平方向スライスの再構成で置き換えても全く構わない。
簡単化は、本発明による完全に均衡が取れたデータ獲得
に起因する。先験的に、図9に示される如く一般化投影
内の核検出器位置に寄与する全く同一の放射線源位置が
存在することが分かっている。そのため、全ての投影に
おいて失われたデータ又は冗長なデータが存在しないの
で、多数の露光の寄与度を記憶する必要がない。この状
況は、平行走査システムの垂直区画を表す図12に示さ
れた[Scha97]の場合とは異なる。実際の検出器125
は、図9において非常に高い位置にあるので、仮想検出
器121、122及び123は、隣り合う半周回ずつ垂
直方向に重なる。したがって、(紙面のような)垂直平
面において、対象物の水平方向スライスは、軌道上の1
個ではなく3個の放射線源位置から部分的に照射され
る。このように不規則に分布した露光の冗長性は、最小
サイズの検出器のための[Scha97]の仮想検出器ウィンド
ウを表す図13においても反映される。上方境界131
及び下方境界132は、夫々、図8の境界81及び82
と同一であり、仮想平面的検出器に写像されている。
【0045】本発明により提案された2次元検出器配置
の殆どの実施例において、検出器素子は放射線源円柱体
41に設けられる。図4を参照のこと。適切な円錐形角
度が与えられた場合、検出器素子は、入射光線に対し垂
直以外の向きで対向する。大きい円錐形角度をカバーす
るように作られた検出器の場合、検出器素子は、点Sに
中心がある球の内側に取り付けるのが適当である。これ
により、全ての検出器が入射する光線に正確に対向する
ことが保証されるか、若しくは、少なくとも簡単に保証
できるようになる。
【0046】図14には、紙面に広げられた螺旋状円柱
体上の検出器ウィンドウ11を示す図である。同図にお
いて、検出器ウィンドウは、放射線源円柱体41の弧に
写像された同じ検出器ウィンドウの上に重なる。紙面上
に広げられた場合、放射線源円柱体41の弧に写像され
た検出器ウィンドウは、図14において符号141で示
されている。図4の幾何図形的配置を考慮すると、対象
物円柱体13に接近する最小の実現可能な半径を有する
放射線源円柱体の弧43に検出器を配置する方が最適で
ある。しかし、かかる検出器の幾何図形的配置は、検出
器ウィンドウ141と厳密に適合するので、一般性を失
うことなく、ウィンドウ141の幾何図形的配置が議論
される。
【0047】検出器141は、中央で検出器ウィンドウ
11と一致するが、γと共に変化するので、検出器の最
上部の点及び最下部の点は、夫々、 ztop =(ν/ωR)・(π+2γ/cosγ) 及び (4) zbottom =(ν/ωR)・(π−2γ/cosγ) であることが分かる。高さHは、 H(γ)=ztop +zbottom =(ν/ωR)・(2π/cosγ)=h/cosγ (5) のように変化し、式中、hは従前通りのピッチである。
かくして、放射線源円柱体上で獲得されたデータは、図
14の不均一に傾斜した検出器領域から、菱形の検出器
素子を備え垂直線及び均一に傾斜した線とによって画成
された図3(並びに図14)の検出器のグリッドまで再
サンプリングされるべきである。投影データが、図10
の平面的仮想検出器上の平行投影にもう一度再サンプリ
ングされるとき、最終的なグリッドパターンは完全に矩
形になる。
【0048】本発明の重要な特殊なケースは、図14の
検出器141(並びにピッチ)の高さが、図15に示さ
れている検出器素子151の単一行150まで削減され
るときである。この特殊なケースでも、検出器素子の高
さは、上記の式(5)から予測されるように、扇形角度
が増加すると共に増加することに注意する必要がある。
一般的に、図15の検出器アレイは、2次元検出器では
なく、1次元検出器アレイとしてみなされる。1次元ア
レイ検出器は、[King93]によって表されるような従来の
螺旋状ビームX線断層撮像に使用される。検出器は、一
般的に放射線源円柱体41の表面に配置される。但し、
図15の検出器はそのように設計された検出器ではな
い。その代わりに、検出器素は一定の高さであり、放射
線源円柱体表面上に傾斜した形ではなく、水平方向に一
直線で配置される。
【0049】その結果として、十分なデータを保証する
ため、検出器素子の高さがz方向の分解能が減少する式
(3)のように増加されるか、或いは、螺旋のピッチが
同じ倍率で減少されるべきであり、本発明よりも走査効
率を低減し、照射量を増加させる。また、走査は、非常
に冗長なデータを獲得するので、これに伴う再構成手続
きは、多重露光を補償するため複雑な重み付け係数を利
用する必要がある。本質的に、[King93]は、[Scha96]に
対する先行技術であり、扇形ビームによる方式である。
したがって、螺旋状扇形走査の場合、本発明は、[Scha9
6]及び[Scha97]に対する有利さと同じ有利さを[Kkng93]
に対してもつ。例えば、図15に従って設計され、配置
された検出器と共に本発明を使用する場合、データ取得
は、完璧であり、かつ、冗長性が無く、再構成手続き
は、再割り当て、1次元ランプフィルタリング、及び、
一定の倍率による背面投影の3段階を含むように簡単化
され得る。 −引用文献のリスト [Dan97a] P.E.Danielsson, "Forfarande och for tomo
grafering", スウェーデン特許出願No.9700072-3, 19
97年1月14日出願 [Dan97b] P.E.Danielsson, Paul Edholm, Jan Eriksso
n, Maria Magnusson Seger, "Towards Exact 3D-Recons
truction for Helical Scanning of Long Objects", co
nf. Recoed from 1997 Int Meeting on Fully Three-Di
mensional ImageReconstruction, Nemacollin, PA, Jun
e 25-28, 1997 [Feld84] L.A.FeldKamp, L.C.Davis, J.W.Kress, "Prac
tical Cone Beam Algorithims", Jounrnal of Optical
Soc. Am. vol.A6, pp.612-619, 1984 [Wang93] G.Wang, T.H.Lin, P.C.Cheng, D.M.Shinozak
i, "A General Cone-Beam Reconstruction Algorithm",
IEEE Trans. on Medical Imaging, Vol.12, pp.486-49
6, 1993 [Scha96] S.Schaller, T.Flohr, P.Steffen, "A New A
pproximate Algorithm for Image Reconstruction in C
one-Beam Spiral CT at Small Cone Angles", Conferen
ce Record, IEEE Medical Imaging Conference, pp.170
3-1709, Nov.1996, Anaheim, CA [Scha97] S.Schaller, T.Flohr, P.Steffen, "New Eff
icient Fourier-Reconstruction Method for Approxima
te Image Reconstruction in Spiral Cone-BeamCT at
Small Cone Angles", Proc. SPIE Med. Imaging Con
f., Newport Beach, CA, Feb.22-28, 1997 [Tam95] K.C.Tam, "Three-Dim. Computerized Tomograp
hy Scanning Method andSystem for Large Objects wit
h Smaller Area Detectors", 米国特許No.5,390,112,
1995年2月14日 [Eber95] J.W.Eberhard, K.C.tam, "Helical and Circ
le Scan Region of Interest Computerized Tomograph
y", 米国特許No.5,463,666, 1995年10月31日 [Gra87] G.T.Hermann, A.K.Luis, F.Natterer編, Lect
ure Notes in Mathematics, Springer, 1991に収められ
た "Mathematical Methods in Tomography"の中の P.
Grangeat, "Mathematical Framework of Cone-Beam 3D
Reconstruction via the First Derivative of the Rad
on Transform" [King93] K.F.King, A.H.Lonn, C.R.Crawford, "Comput
er Tomographic Image Reconstruction Method for Hel
ical Scanning Using Interpolation of PartialScans
for Image Construction", 米国特許No.5,270,923,
1993年12月14日
【図面の簡単な説明】
【図1】2次元検出器システムの構成図である。
【図2】2次元検出器システムの平面図である。
【図3】平面に展開された検出器ウィンドウを示す図で
ある。
【図4】放射線源円柱体に配置された検出器を示す図で
ある。
【図5】図1に対応した正面図である。
【図6】図1に対応した平面図である。
【図7】平行投影用の検出器ウィンドウの説明図であ
る。
【図8】従来技術による検出器の説明図である。
【図9】展開された平行投影用の検出器ウィンドウの説
明図である。
【図10】再割り当て−再サンプリング手続の2番目の
部分の説明図である。
【図11】(A)、(B)及び(C)は、完全な矩形で
ある仮想検出器領域の特性を示す図である。
【図12】従来技術による平面的な仮想検出器を示す図
である。
【図13】従来技術による仮想検出器平面に写像された
検出器を示す図である。
【図14】展開された螺旋状円柱体上の検出器ウィンド
ウを示す図である。
【図15】検出器素子の単一行を示す図である。
【符号の説明】
11 検出器 12 螺旋状円柱体 13 対象物円柱体 14 回転軸 15 xy平面 16 螺旋 17 対象物 18 対象物の点を通る線 S 放射線源 Q1 ,Q,Q2 対象物の点
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 590000248 Groenewoudseweg 1, 5621 BA Eindhoven, Th e Netherlands

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査対象物が円錐状ビーム光線源及び
    検出器と相対的に平行移動と回転とを行う長い対象物の
    3次元断層X線撮像の装置及び方法であって、 2次元検出器は上記光線源に対向するウィンドウに制限
    され、 上記ウィンドウは、回転軸に中心が置かれ上記光線源を
    通過する円柱体に取り付けられた平行四辺形として成形
    された表面領域と一致するように拘束され、 上記円柱体の長手方向に測定された上記ウィンドウの高
    さは螺旋のピッチと一致し、 上記ウィンドウの幅は再構成されるべき上記対象物の最
    大の幅を覆うように決められ、 上記ウィンドウの上部境界及び下部境界は、固定した対
    象物に対する上記光線源経路の二つの連続した周回と一
    致し、 再構成手続きは、 特定の検出器値を生ずる光線の角度に依存する係数で事
    前重み付けを行う段階と、 上記検出器の全域で水平方向又は略水平方向にランプフ
    ィルタタイプのフィルタでフィルタリングを行う段階
    と、 元の検出器値を生じた上記光線の方向に沿ってある倍率
    で背面投影を行う段階とを含み、 実際の事前重み付けと実際のフィルタ設計と実際の倍率
    は、上記検出器の物理的な実施例と、検出されたデータ
    に利用された再割り当てとに依存することを特徴とする
    長い対象物の3次元断層X線撮像の装置及び方法。
  2. 【請求項2】 被検査対象物が円錐状ビーム光線源及び
    検出器と相対的に平行移動と回転とを行う長い対象物の
    3次元断層X線撮像の装置及び方法であって、 2次元検出器は上記光線源に対向するウィンドウに制限
    され、 上記ウィンドウは、回転軸に中心が置かれ上記光線源を
    通過する円柱体に取り付けられた平行四辺形として成形
    された表面領域と一致するように拘束され、 上記円柱体の長手方向に測定された上記ウィンドウの高
    さは螺旋のピッチと一致し、 上記ウィンドウの幅は再構成されるべき上記対象物の最
    大の幅を覆うように決められ、 上記ウィンドウの上部境界及び下部境界は、固定した対
    象物に対する上記光線源経路の二つの連続した周回と一
    致し、 再構成手続きは、入ってくる円錐状ビーム投影毎に、 上記回転軸に沿って見えるような平行投影に再割り当て
    する段階と、 上記再割り当てされたデータを上記回転軸上の仮想検出
    器平面に配置し、再サンプリングする段階と、 上記検出器平面内の全ての水平方向行に沿ってランプフ
    ィルタリングを行う段階と、 一定の倍率を用いて元の光線の方向に背面投影する段階
    とを含むことを特徴とする長い対象物の3次元断層X線
    撮像の装置及び方法。
  3. 【請求項3】 被検査対象物が円錐状ビーム光線源及び
    検出器と相対的に平行移動と回転とを行う長い対象物の
    3次元断層X線撮像の装置及び方法であって、 2次元検出器は上記光線源に対向するウィンドウに制限
    され、 上記ウィンドウは、回転軸に中心が置かれ上記光線源を
    通過する円柱体に取り付けられた平行四辺形として成形
    された表面領域と一致するように拘束され、 上記円柱体の長手方向に測定された上記ウィンドウの高
    さは螺旋のピッチと一致し、 上記ウィンドウの幅は再構成されるべき上記対象物の最
    大の幅を覆うように決められ、 上記ウィンドウの上部境界及び下部境界は、固定した対
    象物に対する上記光線源経路の二つの連続した周回と一
    致し、 再構成手続きは、入ってくる円錐状ビーム投影毎に、 上記回転軸に沿って見えるような平行投影に再割り当て
    する段階と、 上記再割り当てされたデータを上記回転軸上の仮想検出
    器平面に配置し、再サンプリングする段階と、 一般化投影及びフーリエ変換技術を用いて同時に一つの
    水平方向スライスを再構成する段階とを含むことを特徴
    とする長い対象物の3次元断層X線撮像の装置及び方
    法。
  4. 【請求項4】 有効検出器領域は、上記ウィンドウを通
    して露光された領域に対応した拡張部を有し、物理的に
    異なる形状に形成され、異なる位置に配置されているこ
    とを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか一項記載
    の長い対象物の3次元断層X線撮像の装置及び方法。
  5. 【請求項5】 検出器は、垂直平面に配置されているこ
    とを特徴とする請求項4記載の長い対象物の3次元断層
    X線撮像の装置及び方法。
  6. 【請求項6】 検出器は、上記光線源Sを通る垂直軸を
    備えた円柱体の表面に配置されていることを特徴とする
    請求項4記載の長い対象物の3次元断層X線撮像の装置
    及び方法。
  7. 【請求項7】 検出器は、上記光線源Sに中心がある球
    の表面に配置されていることを特徴とする請求項4記載
    の長い対象物の3次元断層X線撮像の装置及び方法。
  8. 【請求項8】 検出器は、上記光線源を通り螺旋状円柱
    体に接する円柱体の表面に配置されていることを特徴と
    する請求項4記載の長い対象物の3次元断層X線撮像の
    装置及び方法。
  9. 【請求項9】 検出器は、単一行の検出器素子により構
    成されていることを特徴とする請求項4乃至8のうちい
    ずれか一項記載の長い対象物の3次元断層X線撮像の装
    置及び方法。
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IL (1) IL131868A0 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004034908A1 (ja) * 2002-10-18 2004-04-29 Hitachi Medical Corporation X線断層撮影装置
JP2012250034A (ja) * 2011-05-31 2012-12-20 General Electric Co <Ge> 断層写真法画像の再構成の方法及びシステム

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4977007B2 (ja) * 2004-03-17 2012-07-18 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 複数の焦点取得方法及び装置
US7583777B2 (en) 2004-07-21 2009-09-01 General Electric Company Method and apparatus for 3D reconstruction of images
CN101753770B (zh) * 2008-12-10 2012-08-29 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 影像扫描单元及影像扫描模组
JP2011136027A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Nihon Univ X線ct撮影装置、再構成処理方法
CN109008909B (zh) * 2018-07-13 2024-01-26 宜宾学院 一种低功耗胶囊内窥镜图像采集及三维重建系统
CN111476860B (zh) * 2020-04-22 2023-10-24 上海联影医疗科技股份有限公司 图像重建方法、装置、计算机设备和存储介质

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5257183A (en) * 1990-12-21 1993-10-26 General Electric Company Method and apparatus for converting cone beam X-ray projection data to planar integral and reconstructing a three-dimensional computerized tomography (CT) image of an object
US5390112A (en) * 1993-10-04 1995-02-14 General Electric Company Three-dimensional computerized tomography scanning method and system for imaging large objects with smaller area detectors

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004034908A1 (ja) * 2002-10-18 2004-04-29 Hitachi Medical Corporation X線断層撮影装置
US7684539B2 (en) 2002-10-18 2010-03-23 Hitachi Medical Corporation X-ray tomograph
JP2012250034A (ja) * 2011-05-31 2012-12-20 General Electric Co <Ge> 断層写真法画像の再構成の方法及びシステム

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