JPH11243474A - 較正方法 - Google Patents

較正方法

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JPH11243474A
JPH11243474A JP10290894A JP29089498A JPH11243474A JP H11243474 A JPH11243474 A JP H11243474A JP 10290894 A JP10290894 A JP 10290894A JP 29089498 A JP29089498 A JP 29089498A JP H11243474 A JPH11243474 A JP H11243474A
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sensor array
linear
shadow
height
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JP10290894A
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English (en)
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Ned J Seachman
ジェイ．シーチマン ネッド
Joseph P Taillie
ピー．テイリー ジョセフ
Kevin M Carolan
エム．キャロラン ケビン
Leroy A Baldwin
エー．バルドウィン レロイ
Robert Brutovski
ブルトブスキー ロバート
Alain E Perregaux
イー．パーレゴ アレン
John D Hower Jr
ディー．ハワー，ジュニア ジョン
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Xerox Corp
Original Assignee
Xerox Corp
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    • B65H43/00—Use of control, checking, or safety devices, e.g. automatic devices comprising an element for sensing a variable
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 線形光源と線形センサアレイとの間の空間関
係を較正する方法を提供する。 【解決手段】 線形光源７００と線形センサアレイ７１
２との間に、２つのエッジを有するスロットを備える較
正ツール８００をセンサアレイから第１の高さに挿入す
る。線形光源の光セグメントを照灯し、較正ツールのス
ロットが照灯された光セグメントとセンサアレイとの間
の光路を横切ることによって生じる影の各エッジ位置を
測定し、その位置に基づいて較正ツールのスロットのエ
ッジの各位置を計算する。次に、較正ツールを第２の高
さに移動させ、第１の高さの場合と同様の処理を行う。
これら２つの高さにおいて計算されたエッジ位置に基づ
いて照灯された光セグメントの中心を計算し、この中心
に基づいてスロットのエッジ位置をセンサ位置によって
決定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複写（複製）シス
テムに関する。より詳細には、本発明は、デュプレック
ス（両面複写）モードにおいて特に有用な表面と裏面の
位置合わせ機能を提供できるようにコピー基体のエッジ
（角）を電子的に位置決めするためのシステムに関す
る。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来の
複写システムはオフィスコピー機である。従来では、オ
フィス機器の文脈のコピー機とは、オリジナル用紙が実
際に撮影される光レンズゼログラフィック（電子写真）
コピー機を指す。画像は受光体（例えば、感光体）の一
領域に焦点が合わされ、続いてトナーで現像される。次
に、受光体上の現像画像はコピーシートに転写され、続
いてこのシートはオリジナルの永久コピーを形成するの
に使用される。
【０００３】しかしながら、近年ではいわゆるデジタル
コピー機が利用可能になってきた。殆どの基本機能にお
いて、デジタルコピー機は光レンズコピーと同一の機能
を行うが、コピーされるオリジナル画像は受光体に直接
焦点が合わせられない。代わりに、デジタルコピー機で
は、オリジナル画像はラスタ入力スキャナー（ＲＩＳ）
として一般に既知のデバイスによって走査される。ＲＩ
Ｓは典型的に小さな光センサの線形アレイの形態をとっ
ている。
【０００４】オリジナル画像は、ＲＩＳの光センサにそ
の焦点が合わせられる。光センサはオリジナル画像の様
々な明暗領域を１セットのデジタル信号に変換する。こ
れらのデジタル信号はメモリに一時的に保持され、最終
的にはオリジナルのコピーのプリントが望まれる際にデ
ジタルプリント装置を作動させるのに使用される。ま
た、デジタル信号はメモリに記憶されずにプリントデバ
イスに直接送られてもよい。
【０００５】デジタルプリント装置は、受光体の画像幅
部分を放電する変調走査レーザ又はインクジェットプリ
ントヘッドなど、デジタルデータに応答するあらゆる既
知のタイプのプリントシステムが利用可能である。
【０００６】更に、オフィスコピー機のデジタル化に伴
い、デジタル多機能マシンも利用可能になってきた。デ
ジタル多機能マシンとは、１つよりも多くの機能をユー
ザに提供する単一のマシンである。典型的な多機能マシ
ンの一例としては、デジタルファクシミリ機能、デジタ
ルプリント機能、及びデジタルコピー機能が挙げられ
る。
【０００７】より具体的には、ユーザはこのデジタル多
機能マシンを使用してオリジナル文書のファクシミリを
遠隔受取デバイスに送ったり、オリジナル画像を走査し
てそのコピーをプリントしたり、及び／又はネットワー
クソース、局所的に接続されたソース、あるいは多機能
マシンに挿入されたポータブルメモリデバイスからの文
書をプリントしたりすることができる。
【０００８】デジタル多機能マシンの基本的な構造の一
例が図２に示される。図２に示されるように、デジタル
多機能マシンの構造はスキャナー３を含む。スキャナー
３は、オリジナル画像を１セットのデジタル信号に変換
し、この信号は記憶されるか又は再生されうる。スキャ
ナー３は中央バスシステム１に接続されており、このバ
スシステム１は単一バスか、又は多機能デジタルマシン
の様々なモジュール及びデバイス間の相互接続及び相互
通信を提供する複数のバスであることが可能である。
【０００９】図２に示されるようなデジタル多機能マシ
ンはデジタルプリントデバイス２３を更に含み、これは
画像を表すデジタル信号を記録媒体上の画像に変換す
る。記録媒体は、普通紙、透明紙又は他のタイプのマー
キング可能媒体とすることができる。また、デジタル多
機能マシンはメモリ２１を含み、これはマシン故障情
報、マシン履歴情報、後に処理されるデジタル画像、マ
シンのための命令のセット、及びジョブ命令のセットな
ど、様々なタイプのデジタル情報を記憶する。
【００１０】典型的なデジタル多機能マシンは、メモリ
２１の他に電子事前照合メモリセクション７を含み、こ
れは、デジタルプリントデバイス２３によって目下像出
されている画像のデジタル表現を記憶することができ
る。電子事前照合メモリ７では、デジタル画像は既にペ
ージの形にレイアウトされているため、画像はデジタル
プリントデバイス２３によって容易に像出されることが
できる。
【００１１】図２に示されるようなデジタル多機能マシ
ンはユーザインターフェース５を更に含み、これによっ
てユーザは多機能マシンの様々な機能を選択したり、特
に選択された機能の様々なジョブ属性をプログラムした
り、多機能マシンに他の入力を提供したり、デジタル多
機能マシンからの情報データを表示したりすることがで
きる。
【００１２】デジタル多機能マシンがネットワークに接
続されている場合、デジタル多機能マシンはネットワー
クインターフェース１９及び電子サブシステム（ＥＳ
Ｓ）コントローラ９を含み、これらはデジタル多機能マ
シンの様々なモジュール又はデバイスとネットワークと
の間の相互関係を制御する。
【００１３】デジタル多機能マシンは典型的に、ファク
シミリ機能を行えるようにボイス／データモデム１１及
び電話回路ボード１３を含む。更に、デジタル多機能マ
シンは、フロッピーディスクドライブ、ＣＤ ＲＯＭド
ライブ、テープドライブ、又はポータブルメモリデバイ
スの受け入れが可能な他のタイプのドライブを含んでも
よい。
【００１４】いくつかのデジタル多機能マシンでは、マ
シンはフィニッシャ２９も含み、これはプリントデバイ
ス２３からのプリント出力に対していくつかの動作を行
うことができる。最後に、デジタル多機能マシンはコン
トローラ１５を含み、これは様々なモジュール及びデバ
イス間の全ての相互作用を統合できるように、多機能デ
バイス内の全ての機能を制御する。
【００１５】図１は、デジタル多機能マシンの全体的な
構造を示している。図１に示されるように、デジタル多
機能マシンは、走査ステーション３５、プリントステー
ション５５及びユーザインターフェース５０を含む。ま
た、デジタル多機能マシンはフィニッシャデバイス４５
を含むこともでき、これは、ソーター、タワーメールボ
ックス、ホチキスなどでありうる。プリントステーショ
ン５５は、プリント処理で使用される用紙を備える複数
の用紙トレイ４０を含むことができる。最後に、デジタ
ル多機能マシンは、マシンによって使用される大量の用
紙ストックを保持することができる大容量フィーダ３０
を含むことができる。
【００１６】典型的な走査機能において、オペレータ
は、走査ステーション３５を用いてオリジナル文書から
画像を走査する。この走査ステーション３５はプラテン
タイプでもよいし、又は固定走査デバイスを横切るよう
にオリジナル文書を移動させる定速搬送システムを含ん
でもよい。更に、走査ステーション３５は、走査用のガ
ラスのプラテン上にオリジナル文書を自動的に配置する
ことができる文書取扱システムを含むこともできる。
【００１７】プリント機能に関しては、プリントステー
ション５５は複数の用紙トレイのうちの１つか又は大容
量フィーダから適切な用紙を受け取り、受け取った用紙
上に所望の画像を像出し、更なる動作を行うためにプリ
ント画像をフィニッシャデバイス４５に出力する。
【００１８】ユーザインターフェース５０は、様々なタ
イプのスクリーンをユーザに提示することによってユー
ザがデジタル多機能マシンの様々な機能を制御できるよ
うにする。これにより、いくつかのジョブ特性又は機能
特性をプログラムする機会がユーザに提供される。
【００１９】システムがデジタル多機能マシンであろう
とデジタルコピー機であろうと、デジタル複写システム
の１つの重要な機能は、プリントされるコピー基体のト
ップエッジ即ち先端の位置を決めることである。これ
は、コピー基体に対して画像の適切な位置合わせを行う
際に重要である。デュプレックスモードでプリントする
場合、デュプレックス経路は通常シンプレックス（片面
複写）経路よりも長いため、コピー基体の表面と裏面の
位置合わせを適切に行えるように、プリントされるコピ
ー基体のトップエッジ即ち先端の位置決めは特に重要で
ある。しかしながら、コピー基体のトップエッジ即ち先
端の位置決めはシンプレックス経路においても同様に重
要である。何故なら、コピー出力トレイから画像転写ス
テーションまでのコピー基体の搬送には多くの事象が影
響を及ぼしうるからである。プリントされるコピー基体
のトップエッジ即ち先端の位置を決める手段を提供する
試みが行われてきた。しかし、これらの試みは、コピー
基体に画像を正確にプリントするのに必要である適切な
位置合わせ技術を提供できなかった。
【００２０】
【課題を解決するための手段】本発明の第１の態様は、
線形光源と線形センサアレイとの間の空間関係を較正す
る方法である。この方法は、線形光源と線形センサアレ
イとの間に、２つのエッジを有するスロットを備える較
正ツールを線形センサアレイから第１の高さに挿入し、
線形光源の光セグメントを照灯し、較正ツールのスロッ
トが照灯された光セグメントと線形センサアレイとの間
の光路を横切ることによって生じる影の各エッジ位置を
測定し、測定された影の位置に基づいて、較正ツールの
スロットのエッジの各位置を計算する。この方法は更
に、較正ツールを線形センサアレイから第２の高さに移
動させ、線形光源の光セグメントを照灯し、較正ツール
のスロットが照灯された光セグメントと線形センサアレ
イとの間の光路を横切ることによって生じる影の各エッ
ジ位置を測定し、測定された影の位置に基づいて、較正
ツールのスロットのエッジの各位置を計算する。これら
の測定結果から、照灯された光セグメントの中心を計算
し、スロットのエッジ位置をセンサ位置によって決定す
る。
【００２１】本発明の第２の態様は、線形光源と線形セ
ンサアレイとの間の空間関係を較正する方法である。こ
の方法は、線形光源と線形センサアレイとの間に、互い
から所定の距離で離間された２つのスリットを有する較
正ツールを線形センサアレイから第１の高さに挿入し、
線形光源の光セグメントを照灯し、較正ツールのスリッ
トが照灯された光セグメントと線形センサアレイとの間
の光路を横切ることによって生じる影の各エッジ位置を
測定し、測定された影の位置に基づいて、較正ツールの
スリットのエッジの各位置を計算するものである。この
方法は更に、較正ツールを線形センサアレイから第２の
高さに移動させ、線形光源の光セグメントを照灯し、較
正ツールのスリットが照灯された光セグメントと線形セ
ンサアレイとの間の光路を横切ることによって生じる影
の各エッジ位置を測定し、測定された影の位置に基づい
て、較正ツールのスリットのエッジの各位置を計算す
る。これらの測定結果から、照灯された光セグメントの
中心を計算し、（第１の）スリットのエッジ位置をセン
サ位置によって決定する。
【００２２】本発明の第３の態様は、第２の態様におい
て、照灯された光セグメントの中心を計算するステップ
が、式Ｘs ＝（Ｘa1（Ｘb2−Ｘa2）−Ｘa2（Ｘb1−
Ｘa1))／((Ｘb2−Ｘa2）−（Ｘb1−Ｘa1))を用いて照灯
された光セグメントの中心位置を計算し、式中Ｘa1は第
１の高さにおける第１のスリットの測定された影の位置
であり、Ｘa2は第２の高さにおける第１のスリットの測
定された影の位置であり、Ｘb1は第１の高さにおける第
２のスリットの測定された影の位置であり、Ｘb2は第２
の高さにおける第２のスリットの測定された影の位置で
ある。
【００２３】本発明の第４の態様は、第２の態様におい
て、第１のスリットのエッジ位置をセンサ位置によって
決定するステップが、式Ｘe ＝Ｘs ＋（Δｘ/(Ｘb1−Ｘ
a1))（Ｘa1−Ｘs ）を用いて第１のスリットのエッジ位
置Ｘe を計算し、式中Ｘa1は第１の高さにおける第１の
スリットの測定された影の位置であり、Ｘb1は第１の高
さにおける第２のスリットの測定された影の位置であ
り、Δｘはスリット間の距離であり、Ｘs は照灯された
光セグメントの計算された位置である。
【００２４】本発明の更なる目的及び利点は、本発明の
様々な特徴を示す下記の説明から明白になるであろう。
【００２５】
【発明の実施の形態】本発明を説明するために使用され
る各図面は単なる例示の目的で提供されており、本発明
の請求の範囲を制限するものではない。
【００２６】下記は、本発明を例示する図面の詳細な説
明である。本明細書及び図面における同様の参照番号
は、同様又は同等の回路などに対応する。
【００２７】下記の説明において、「コピー基体」とい
うフレーズは、プリント画像を受け取り、測定可能な影
を生じるあらゆる記録媒体を示すために用いられる。更
に、「先端」及び「トップエッジ」というフレーズは、
適切な位置合わせのために決定される必要のあるエッジ
を説明するために用いられる。対象となるこのエッジ
は、システムによって変わりうる。
【００２８】前述のように、デジタル複写システムの重
要な機能は、位置合わせのためにコピー基体の先端即ち
トップエッジを位置決めすることである。本発明は、コ
ピー基体の先端即ちトップエッジを位置決めするための
手段を提供し、これによって適切な位置合わせ、特にデ
ュプレックスプリントモードにおける表面と裏面の位置
合わせを実現することができる。
【００２９】この特徴の一例が図３に示される。図３に
示されるように、エッジ位置決めシステムは、ＬＥＤ
（発光ダイオード）のような周期的に離間された光源か
らなる線形光源７００を含む。このような周期的に離間
された光源即ちＬＥＤの１つは、素子７０１として示さ
れる。ＬＥＤは、線形センサアレイ７１２を照明して、
センサアレイ上への照明光を横切るコピー基体７１０の
シートのエッジ位置を決めるために使用される。これら
の２つのデバイスの実際の位置はプリントシステム内の
コピー基体トレイと画像転写ステーションとの間のコピ
ー基体経路に沿っており、これらのデバイスは、エッジ
位置の決定に及ぼす影響が最小に抑えられるように画像
転写ステーションに出来るだけ近いことが好ましい。
【００３０】コピー基体のエッジを電子的に決定するた
めに、本発明は、コピー基体７１０が線形光源アレイ７
００と線形センサアレイ７１２との間の光路（光）を横
切ることによって形成される影の位置を測定する。線形
センサアレイによって測定された光強度は電気信号に変
換され、これらは、後述の計算を行うコントローラ又は
他の処理デバイスに送られ、コピー基体のエッジが電子
的に決定される。
【００３１】次に、この情報はプリントシステムによっ
て使用され、これによって画像がコピー基体に適切に位
置合わせされる。エッジ位置決め処理をより良く理解す
るために、３種の異なる処理によって使用される測定及
び計算の簡単な説明を下記に述べる。
【００３２】下記の説明において、ｘ値は線形センサア
レイ７１２に沿った位置を示し、これは、予め設定され
た絶対的な参照値から長さの単位又はピクセル増分（典
型的に０．０５０インチ）単位で測定されうる。プリン
トされるコピー基体のエッジを決定するために、下記の
パラメータが使用される。 Ｘs −（センサ面に射影される）ＬＥＤセグメントの中
央の位置 Ｘp −コピー基体のエッジの位置 Ｘco−照明「カットオフ」点、即ち影のエッジの位置 ｄ−ＬＥＤ〜センサ間の離間距離 ｈ−センサから上方のコピー基体までの高さ
【００３３】第１の処理では、予測されるコピー基体の
位置に最も近い、線形光源７００からの単一のＬＥＤ７
０１が照灯される。図３に示されるように、影の位置Ｘ
coの測定は線形センサアレイ７１２によって行われ、コ
ピー基体エッジの推定値Ｘp′が、線形センサアレイに
接続されてデジタル計算を行うことができる制御ユニッ
ト又はプロセッサによって計算される。下記は、この測
定及び計算のより詳細な説明である。
【００３４】前述のように、予測されるコピー基体のエ
ッジ位置に最も近いと決定されるＸ s のＬＥＤセグメン
ト７０１が照灯される。この後、影の位置Ｘcoが線形セ
ンサアレイ７１２によって測定される。コピー基体が線
形光源７００のＬＥＤ７０１と線形センサアレイとの間
の光路を横切ると、コピー基体のエッジによって影が形
成される。この測定から、ならびに線形センサアレイ７
１２上方のコピー基体までの暫定的高さｈn 及び光源〜
センサ間の離間距離ｄを用いて、コピー基体のエッジの
推定値Ｘp ′が下記式を用いて計算される。
【００３５】
【数１】
【００３６】この第１の処理では、視差の補正において
仮定された暫定的高さｈn から未知の量Δｈだけ逸脱す
るコピー基体の高さから誤差が生じる。この簡素なアプ
ローチは、わずかなコピー基体の高さの変化Δｈを非常
に小さく維持することができる場合のみに有用である。
【００３７】第２の処理では、２つの異なるＬＥＤセグ
メントＸs1及びＸs2が連続的に照灯され、対応する影の
位置Ｘco1 及びＸco2 が測定される。視差補正式を同時
に解き、初期のコピー基体の高さｈo とは関係なくコピ
ー基体の位置の推定値Ｘp ′を提供することができる。
初期のコピー基体の高さｈo をこのアプローチのために
知る必要はないが、連続的な測定の間でコピー基体の高
さΔｈが変化しない場合にのみ、この計算は誤差を生じ
ない。具体的なステップは以下の通りである。
【００３８】予測されるコピー基体の位置に基づいて、
線形光源７００の２つのＬＥＤセグメントが照灯される
が、予測されるコピー基体のエッジ位置の両反対側Ｘs1
及びＸs2において照灯されることが好ましい。より具体
的には、Ｘs1のＬＥＤセグメントが照灯され、対応する
影の位置Ｘco1 が線形センサアレイ７１２によって測定
される。この後、Ｘs1のＬＥＤセグメントが消されてＸ
s2のＬＥＤセグメントが照灯され、対応する影の位置Ｘ
co2 が線形センサアレイ７１２によって測定される。次
に、これら２つのＬＥＤセグメントの位置及び２つの測
定された影の位置を用いて、コピー基体のエッジの位置
の推定値Ｘp ′が制御ユニットによって計算される。推
定位置を計算するために用いられる式は下記の通りであ
る。
【００３９】
【数２】 測定間にコピー基体の高さが変わっていなければ、上記
推定値は誤差を生じない。
【００４０】第３の処理は、説明した第１の処理の反復
である。この処理では、コピー基体の位置の第１の推定
値を使用して視差誤差が低減された新しいＬＥＤセグメ
ントを選択し、コピー基体の位置の第２の推定値を求め
る。第２の推定値を使用して第３のＬＥＤ位置を選択す
るなど、この処理を繰り返すことができる。反復は、線
形光源の個々のＬＥＤセグメントの位置の精度によって
のみ制限される。具体的なステップは下記に列挙され
る。
【００４１】予測されるコピー基体のエッジ位置に最も
近いＸs1にある線形光源７００のＬＥＤセグメントが照
灯され、対応するエッジの影の位置Ｘco1 が線形センサ
アレイ７１２によって測定される。測定された影の位置
Ｘco1 を使用して、下記式に従ってコピー基体の位置の
第１の推定値Ｘp1′を計算する。
【００４２】
【数３】 式中、ｈn は仮定されるコピー基体の暫定的高さであ
る。
【００４３】次に、制御ユニットは、Ｘs2＝Ｘs1＋ｐ
LED ＩＮＴ（((Ｘp1′−Ｘs1)/ｐLED) ＋０．５）とい
う式を用いて上記推定値に最も近いＬＥＤセグメントの
位置を決定する。上記式中、ｐLED はＬＥＤセグメント
の中心間の「ピッチ」であり、「ＩＮＴ」関数は、第１
のコピー基体の位置の推定値Ｘp1′と第１のＬＥＤの位
置Ｘs1との間にあるＬＥＤセグメントの最も近い整数番
を決定するためのあらゆる簡便な関数が可能である。次
のＬＥＤセグメントＸs2を決定する際、Ｘs2におけるＬ
ＥＤセグメントが照灯され、影の位置Ｘco2 が線形セン
サアレイ７１２によって測定される。この第２の測定値
から、コピー基体のエッジ位置の新しい推定値Ｘp2′
が、プロセッサによって下記式を用いて計算される。
【００４４】
【数４】
【００４５】第１の反復における誤差がＬＥＤのピッチ
ｐLED を越えていれば、追加の反復によって精度が向上
する見込みがある。第１の測定からの誤差が十分に小さ
い、即ち（Ｘp1′−Ｘs1）＜０．５ｐLED である場合、
第２の測定を取り除くことができる。
【００４６】更に、第１のコピー基体のエッジ計算から
の情報を用いて第２の測定に使用されるＬＥＤを選択す
る、というように、前述の第２及び第３の処理を適応さ
せることもできる。これにより、第２の測定に選択され
るＬＥＤが実際のコピー基体のエッジにより近いものに
なり、より高いＳ／Ｎ比が生じ、コピー基体を十分な範
囲で照らすに足りないＬＥＤを用いて第２の測定が試行
される見込みが小さくなる。２度の連続的な測定からの
「カットオフ」即ち影の値を使用して、実際のコピー基
体のエッジ位置を計算することができる。以下は、適応
処理の説明である。
【００４７】以下に述べる適応処理は、前述の第２及び
第３の処理の変形物である。これらの適応処理におい
て、Ｘs1及びＸs2における２つのＬＥＤセグメントが連
続的に照灯されるが、Ｘs1のＬＥＤからの情報を用い、
２つの方法のうちの１つによって第２のＬＥＤ位置を選
択する。具体的なステップは以下の通りである。
【００４８】Ｘs1における第１のＬＥＤが、予測される
コピー基体のエッジ位置に最も近い素子として選択され
る。コピー基体の位置の全範囲がこの第１のＬＥＤの照
らしうる範囲内であることが重要である。次に、コピー
基体のエッジによって生じる影の位置Ｘco1 が記録され
る。第２のＬＥＤの位置は、下記の２つの方法のうちの
１つによって選択される。
【００４９】方法１は、第１のＬＥＤからのコピー基体
のエッジと同一方向の定数Ｎ番目の素子となるように第
２のＬＥＤを選択する。即ち、Ｘco1 ≧Ｘs1である場合
はＸ s2＝Ｘs1＋ＮｐLED 、Ｘco1 ＜Ｘs1である場合はＸ
s2＝Ｘs1−ＮｐLED であり、式中Ｎは一般的に１〜４の
範囲内の正の（ゼロではない）整数であり、ｐLED はＬ
ＥＤの素子間のピッチである。これにより、第２のＬＥ
Ｄがコピー基体のエッジの暫定的位置と同じ側にあり、
影の位置付近の測定のＳ／Ｎ比が改善されることが確実
になる。
【００５０】あるいは、方法２は、Ｘs1からのコピー基
体のエッジの距離を推定し、コピー基体のエッジに最も
近いＬＥＤの位置を第２の測定のために選択する。推定
されるコピー基体のエッジ位置と第１のＬＥＤの位置と
の間の距離、即ちＸp1′−Ｘ s1は、第１の測定から見出
すことができる。この距離をＬＥＤのピッチで割って最
も近い整数に丸めることにより、第２のＬＥＤを選択す
べき位置の最良の推定値が与えられる。従って、第２の
ＬＥＤの位置は、上記の処理２にあるようにＸ s2＝Ｘs1
＋ｐLED ＩＮＴ、即ち数学的に同等の形であるＸs2＝Ｘ
s1＋ｐLED ＩＮＴ((((Ｘp1′−Ｘs1)(１−(h/d)))/ｐ
LED ) ＋０．５）から計算されるべきである（後者の式
では、ｈ及びｄの暫定値を使用することができる）。Ｉ
ＮＴ関数は、その引数において整数部分を分数に提供す
るあらゆる関数である。ＩＮＴ関数がゼロを生じる（即
ち、コピー基体のエッジはＸs1の０．５ｐLED 内であ
る）場合、Ｘs2は代わりの方法によって選択されなけれ
ばならない。１つのアプローチは、Ｎ＝１又は２として
前述の第１の方法を使用することである。さらにもう１
つのアプローチは、第１の測定からＸp を直接計算し、
第２の測定を無視することである。
【００５１】第２のＬＥＤセグメントが前述の方法のう
ちの１つから決定されると、第２のＬＥＤセグメントＸ
s2が照灯され、影の位置Ｘco2 が記録される。この後、
２つの光源位置Ｘs1、Ｘs2及び２つの影の位置Ｘco1 、
Ｘco2 を用いて、コピー基体のエッジ位置の推定値
Ｘp ′がプロセッサ又は制御ユニットによって下記のよ
うに計算される。
【００５２】
【数５】
【００５３】上記推定値は、下記式の測定間のコピー基
体の高さの動きによって生じる誤差を有する。
【００５４】
【数６】
【００５５】下記の値を仮定すると、前述の適応アプロ
ーチは図４に示されるような誤差の結果を生成する。 Ｘs1＝１０．０ｍｍ（予測されるコピー基体の位置及び
第１のＬＥＤの中心） ｈ＝４．７ｍｍ（センサから上方のコピー基体までの高
さ） Δｈ＝１．５ｍｍ（測定間のセンサ〜コピー基体間の高
さの変化） ｐLED ＝２．５４ｍｍ（ＬＥＤアレイのピッチ）
【００５６】図４は、計算されたコピー基体のエッジ位
置の誤差を実際のコピー基体のエッジ位置の関数として
示している。（方法１の）１、２及び３の不変ΔＮの結
果が、（方法２の）「適応ΔＮ」の場合の結果と共に示
されている。適応ΔＮの場合、適応アルゴリズムが第２
のＬＥＤ位置を第１の位置と同一であると予測したとき
は、このアルゴリズムは不変ΔＮ＝±２に戻る。
【００５７】これらの結果は、適応ΔＮアルゴリズム又
はΔＮ＝±２アルゴリズムが好適であることを示唆して
いる。不変ΔＮ＞２ではより小さな誤差が生じるが、予
測位置（図４では１０ｍｍ）付近のコピー基体のエッジ
は、第２の測定の間、エッジからＬＥＤピッチ２つ分よ
りも離れたＬＥＤセグメントによって照明されるであろ
うことに注意する。これは、第２の測定では範囲外であ
ろう。
【００５８】前述の処理において正確な計算を確実に行
えるように、システムの線形光源と線形センサアレイと
の間の空間を較正しなければならない。好適な実施の形
態では、ＬＥＤとセンサアレイとの間の空間較正のこの
必要性は、コピー基体のエッジ計算における視差の補正
にはセンサ上の影の位置と影を生じる光源の位置の双方
の情報が必要であるために生じる。これらの位置は、双
方が共通の原点からピクセルで測定されうる共通軸、好
ましくはセンサ軸上で表現されなければならない。あら
ゆるＬＥＤ源の位置がセンサ座標においてわかり、誤差
が１．０ｍｍ未満になるように、２つのアレイを保持す
る別個のアセンブリを設計し、組立後の調節が要らない
信頼性のある機械的調整を可能にすることが理想的であ
る。
【００５９】これが実用的でなければ、センサアレイ上
の分布の測定から既知のＬＥＤセグメントを位置決めす
ることができる。例えば、ＬＥＤの光分布限度が４つの
異なるしきい値において測定される場合、これらの限度
の平均値を使用して分布のピーク、従ってＬＥＤの中心
を計算することができる。この方法は、ＬＥＤの照灯分
布の左右対称と、センサアレイの光応答の不均一性とに
依存する。
【００６０】上記方法が十分に正確でない場合、図５に
示されるように、較正ツール８００を用いた第３の方法
を使用して、センサ軸上の光源の位置を決めることがで
きる。ツール８００は、位置が決定されるべきＬＥＤセ
グメントの付近に位置する幅Δｘのスロット（又はΔｘ
によって分離される２つのスリット）を有すると仮定さ
れる。ＬＥＤアレイの素子間の周期的離間に関する先の
情報を用いた１つのＬＥＤセグメントの位置決めによ
り、光源アレイの全ての素子を位置決めすることができ
る。双方のスロットエッジ（又はスリット）が同時にＬ
ＥＤセグメントの照灯範囲内に入っていなければならな
いことは明らかである。
【００６１】この第３の較正方法は２つの別個の影測定
を必要とし、各測定はスロットの異なる高さにおいて行
われる。センサ軸に平行なスロットの変位による２つの
測定は同様の結果を生じず、この変位はセンサ軸に垂直
な構成要素をもたなければならないことに注意する。
【００６２】仮定される構成要素の位置は図５に示され
る。左のエッジＸe 及びその影Ｘa1は、((Ｘe −Ｘa1)/
（Ｘs −Ｘa1))＝ｈ1/ｄにより、光源の位置Ｘs 、エッ
ジの高さｈ1 及びセンサ−ＬＥＤ間の距離ｄに関連して
いる。この関係から、Ｘe ＝Ｘa1（１−（ｈ1/ｄ))＋
（ｈ1 Ｘs )/ｄである。同様に、エッジ（又はスリッ
ト）がＸe ＋Δｘにあり、影がＸb1にある場合、Ｘe ＋
Δｘ＝Ｘb1（１−（ｈ1/ｄ))＋（ｈ1 Ｘs )/ｄである。
【００６３】先の２つの式を減算することによって、第
３の有用なｈ／ｄ比の関係、即ち（ｈ1/ｄ）＝１−（Δ
ｘ/(Ｘb1−Ｘa1))が生じる。調整ツール８００が、同一
のエッジ座標を維持しながらセンサアレイ上方の新しい
高さ、即ちｈ2 ＝ｈ1 ＋Δｈに移動される場合、第２の
影のセットＸa2、Ｘb2がセンサに生じる。３つの同様の
式が新しい高さにおいて生じる。即ち、Ｘe ＝Ｘa2（１
−ｈ2/ｄ))＋（ｈ2 Ｘ s )/ｄ、Ｘe ＋Δｘ＝Ｘb2（１−
ｈ2/ｄ))＋（ｈ2 Ｘs )/ｄ、及び（ｈ2/ｄ）＝１−（Δ
ｘ／Ｘb2−Ｘa2))である。
【００６４】Ｘe 及び２つのｈ／ｄ比を取り除き、下記
式によって上記式を同時に解くことができる。
【００６５】
【数７】
【００６６】従って、各高さにおいて２つである４つの
影測定から、センサ軸上の光源の中心位置を決定するこ
とができる。
【００６７】デュプレックス用紙搬送機構などの外部マ
シン特徴に、センサアレイ上のいくつかの特徴を配置す
ることも有用でありうる。較正ツール８００がスロット
のエッジをある外部デュプレックス搬送特徴部に既知の
距離で配置する場合、エッジの位置Ｘe を求める上記式
を解決することにより、この既知の距離をセンサ軸上に
正確に位置決めすることができる。
【００６８】従って、先に解かれたＸs の値を用いる
と、センサ座標内のエッジ位置は下記式の通りである。
【００６９】
【数８】
【００７０】いくつかの機械的アプローチを使用して較
正ツール８００を構成し、上記条件を達成することがで
きる。デュプレックス用紙搬送部にアレイを取り付けた
後、長尺状の平らな部材からなり既知の幅のスロットを
含むツールを、ＬＥＤとセンサアレイとの間に挿入する
ことができる。その際スロット幅は、１つのＬＥＤの照
灯範囲内に十分に入るべきである。このツールを新しい
高さまで直接上げて第２の２つの影を形成してもよい
し、又はツールを取り除いて新しい高さにおいて再び挿
入してもよい。エッジの位置Ｘe が正確に維持されるこ
とのみが必要である。
【００７１】異なる高さに２つのスロットを有する単一
の較正ツールを使用することも可能である。これらのス
ロットは、各々が異なるＬＥＤの下に位置するようにｘ
方向に離間されている。これらのスロットがΔＸe だけ
互いから離間され（例えば、左エッジ〜左エッジ間）、
ＬＥＤがΔＸs だけ互いから離間され、双方の離間距離
が予め決められている場合、Ｘe をＸe ＋ΔＸe に置き
換え、Ｘs をＸs ＋ΔＸs に置き換えることによって第
２セットの測定の式を変更することができる。次に、２
組の式の連立解はＸs 及びＸe に対するものと同様の結
果を生じるが、選択されるΔＸs 及びΔＸe に関連する
補正項がある。ΔＸs ＝ΔＸe を任意に選択すること
で、補正項が大幅に簡潔になる。
【００７２】Ｘs が計算されうる精度は主に、センサに
おける影測定の精度によって制限される。個々のセンサ
位置は、ΔＸ、Δｈなどの選択によってある程度の誤差
を取り入れる。下記の適度なツールパラメータの値のサ
ンプル結果が図６に示されている。 ｈ1 ＝２．０ｍｍ（第１の測定における高さ） ｈ2 ＝６．０ｍｍ（第２の測定における高さ） Δｘ＝９．０ｍｍ（スロット幅） ｄ＝２５．０ｍｍ（センサ〜ＬＥＤ間の距離） Ｘe ＝３０．０ｍｍ（センサ座標内のスロットエッジの
位置であり、最初はわかっていない）
【００７３】この具体例において、ＬＥＤのピッチは
２．５４ｍｍ（０．１インチ）であり、センサのピッチ
は０．１２７ｍｍ（１／２００インチ）であると仮定さ
れる。図６のプロットは、計算された光源位置対実際の
光源位置を示している。スロット（Ｘs から３０ｍｍ以
内）のエッジ付近の光源に関しては、Ｘs の精度は±
０．５ｍｍ以内であることに注意する。対応するエッジ
位置Ｘe は、±０．１ｍｍよりも高い精度で計算され
る。
【００７４】要約すると、本発明は、コピー基体が線形
光源アレイと線形センサアレイとの間の光路を横切って
形成される１つ又はそれより多くの影の測定によってコ
ピー基体のエッジを電子的に見出すシステム又は方法で
ある。また、本発明は、線形センサアレイ内の個々のセ
ンサ位置に対する線形光源アレイ内の個々の光源の位置
を較正する較正ツール及び方法を使用する。
【００７５】本発明は上記に詳しく説明されたが、本発
明の趣意から逸れずに様々な変更を行うことができる。
例えば、本発明の好適な実施の形態が一般のプリントシ
ステムに関連して説明されたが、これらの方法はアナロ
グ即ち「光レンズ」コピーシステム又はデジタルプリン
トもしくはコピーシステムにおいて容易に実施可能であ
る。
【００７６】更に、本発明の電子的エッジ決定システム
は、汎用コンピュータ、パーソナルコンピュータ又はワ
ークステーションにおいて容易に実施可能である。ま
た、本発明の電子的エッジ決定システムは、ＡＳＩＣ又
はソフトウェアにおいて容易に実施することができる。
【００７７】最後に、本発明は線形光源としてのＬＥＤ
のアレイに関連して説明してきたが、本発明はセグメン
ト化されうるあらゆる線形光源と共に実施でき、照灯は
個々に制御可能である。
【００７８】本発明は上記に開示された様々な実施の形
態を参照して説明されたが、前述の詳細に制限されず、
請求の範囲内に係る変更物を含むものと意図されてい
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】デジタル多機能マシンの全体的な構造を示して
いる。
【図２】デジタル多機能マシンの基本的な構造を示して
いる。
【図３】本発明の概念に従ったエッジ検出システムを示
している。
【図４】本発明の概念に従った適応検出方法を用いた誤
差結果のグラフ図である。
【図５】本発明の概念に従った較正方法を示している。
【図６】補正方法の、計算された光源位置対実際の光源
位置の誤差の結果を示している。
【符号の説明】
７００ 線形光源 ７０１ ＬＥＤセグメント ７１０ コピー基体 ７１２ 線形センサアレイ ｄ 光源〜センサ間の離間距離 ｈ センサから上方のコピー基体までの高さ Ｘs （センサ面に射影される）ＬＥＤセグメントの
中央の位置 Ｘp コピー基体のエッジの位置 Ｘco 照明カットオフ点（影のエッジの位置）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジョセフ ピー．テイリー アメリカ合衆国 14534 ニューヨーク州 ピッツフォード ソーネル ロード 148 (72)発明者 ケビン エム．キャロラン アメリカ合衆国 14580 ニューヨーク州 ウェブスター ガルブロ サークル 639 (72)発明者 レロイ エー．バルドウィン アメリカ合衆国 14607 ニューヨーク州 ロチェスター アーノルド パーク 19 (72)発明者 ロバート ブルトブスキー アメリカ合衆国 14526 ニューヨーク州 ペンフィールド ビーコン ヒルズ ド ライブ ノース 95 (72)発明者 アレン イー．パーレゴ アメリカ合衆国 14609 ニューヨーク州 ロチェスター オーチャード パーク ブルバード 184 (72)発明者 ジョン ディー．ハワー，ジュニア アメリカ合衆国 14450 ニューヨーク州 フェアポート プリンストン レーン 46

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 線形光源と線形センサアレイとの間の空
    間関係を電子的に較正する方法であって、 （ａ）線形光源と線形センサアレイとの間に、２つのエ
    ッジを有するスロットを備える較正ツールを前記線形セ
    ンサアレイから第１の高さに挿入するステップと、 （ｂ）前記線形光源の光セグメントを照灯するステップ
    と、 （ｃ）前記較正ツールのスロットが照灯された前記光セ
    グメントと前記線形センサアレイとの間の光路を横切る
    ことによって生じる影の各エッジ位置を測定するステッ
    プと、 （ｄ）前記測定された影の位置に基づいて、前記較正ツ
    ールのスロットのエッジの各位置を計算するステップ
    と、 （ｅ）前記較正ツールを前記線形センサアレイから第２
    の高さに移動させるステップと、 （ｆ）前記線形光源の前記光セグメントを照灯するステ
    ップと、 （ｇ）前記較正ツールのスロットが照灯された前記光セ
    グメントと前記線形セ ンサアレイとの間の光路を横切ることによって生じる影
    の各エッジ位置を測定するステップと、 （ｈ）前記測定された影の位置に基づいて、前記較正ツ
    ールのスロットのエッジの各位置を計算するステップ
    と、 （ｉ）前記ステップ（ｄ）及び（ｈ）で計算されたエッ
    ジ位置に基づいて前記照灯された光セグメントの中心を
    計算するステップと、 （ｊ）前記照灯された光セグメントの前記計算された中
    心に基づいて、前記スロットのエッジ位置をセンサ位置
    によって決定するステップと、 を含む、較正方法。
  2. 【請求項２】 線形光源と線形センサアレイとの間の空
    間関係を電子的に較正する方法であって、 （ａ）線形光源と線形センサアレイとの間に、互いから
    所定の距離で離間された２つのスリットを有する較正ツ
    ールを前記線形センサアレイから第１の高さに挿入する
    ステップと、 （ｂ）前記線形光源の光セグメントを照灯するステップ
    と、 （ｃ）前記較正ツールのスリットが照灯された前記光セ
    グメントと前記線形センサアレイとの間の光路を横切る
    ことによって生じる影の各エッジ位置を測定するステッ
    プと、 （ｄ）前記測定された影の位置に基づいて、前記較正ツ
    ールのスリットのエッジの各位置を計算するステップ
    と、 （ｅ）前記較正ツールを前記線形センサアレイから第２
    の高さに移動させるステップと、 （ｆ）前記線形光源の前記光セグメントを照灯するステ
    ップと、 （ｇ）前記較正ツールのスリットが照灯された前記光セ
    グメントと前記線形センサアレイとの間の光路を横切る
    ことによって生じる影の各エッジ位置を測定するステッ
    プと、 （ｈ）前記測定された影の位置に基づいて、前記較正ツ
    ールのスリットのエッジの各位置を計算するステップ
    と、 （ｉ）前記ステップ（ｄ）及び（ｈ）で計算されたエッ
    ジ位置に基づいて前記照灯された光セグメントの中心を
    計算するステップと、 （ｊ）前記照灯された光セグメントの前記計算された中
    心に基づいて、第１のスリットのエッジ位置をセンサ位
    置によって決定するステップと、 を含む、較正方法。
  3. 【請求項３】 前記ステップ（ｉ）が、式Ｘs ＝（Ｘa1
    （Ｘb2−Ｘa2）−Ｘ a2（Ｘb1−Ｘa1))／((Ｘb2−Ｘa2）
    −（Ｘb1−Ｘa1))を用いて前記照灯された光セグメント
    の中心位置を計算し、式中Ｘa1は前記第１の高さにおけ
    る第１のスリットの測定された影の位置であり、Ｘa2は
    前記第２の高さにおける前記第１のスリットの測定され
    た影の位置であり、Ｘb1は前記第１の高さにおける第２
    のスリットの測定された影の位置であり、Ｘb2は前記第
    ２の高さにおける前記第２のスリットの測定された影の
    位置である、請求項２に記載の方法。
  4. 【請求項４】 前記ステップ（ｊ）が、式Ｘe ＝Ｘs ＋
    （Δｘ/(Ｘb1−Ｘa1))（Ｘa1−Ｘs ）を用いて前記第１
    のスリットのエッジ位置Ｘe を計算し、式中Ｘa1は前記
    第１の高さにおける第１のスリットの測定された影の位
    置であり、Ｘ b1は前記第１の高さにおける第２のスリッ
    トの測定された影の位置であり、Δｘは前記スリット間
    の距離であり、Ｘs は前記照灯された光セグメントの計
    算された位置である、請求項２に記載の方法。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6760473B1 (en) 2000-07-12 2004-07-06 Kla-Tencor Technologies Corporation Optical proximity correction serif measurement technique
US6539331B1 (en) * 2000-09-08 2003-03-25 Peter J. Fiekowsky Microscopic feature dimension measurement system
US7147222B2 (en) * 2002-12-19 2006-12-12 Eastman Kodak Company Method and apparatus for registering sheet of arbitrary size
US6836627B2 (en) * 2003-01-15 2004-12-28 Xerox Corporation Mode switch and adjustable averaging scheme for tandem top edge electronic registration
DE102009012997A1 (de) * 2009-03-13 2010-09-16 Bst International Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Lage der Kante einer Materialbahn

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4827436A (en) * 1987-04-22 1989-05-02 Micro Component Technology, Inc. Non-contact high resolution displacement measurement technique
US5537494A (en) * 1990-05-29 1996-07-16 Axiom Innovation Limited Video image data encoding and compression system using edge detection and luminance profile matching
US5185673A (en) * 1991-06-12 1993-02-09 Hewlett-Packard Company Automated image calibration
JPH05286611A (ja) 1992-04-14 1993-11-02 Eastman Kodak Japan Kk 用紙搬送装置
JPH07291497A (ja) 1994-04-22 1995-11-07 Hitachi Koki Co Ltd 画像記録装置
US5725211A (en) 1995-08-28 1998-03-10 Xerox Corporation Method and apparatus for registering images on the front and the back of a single sheet of paper
US6005683A (en) * 1997-12-05 1999-12-21 Hewlett-Packard Company Document edge detection by linear image sensor

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