JPH11214428A - Bonding device - Google Patents

Bonding device

Info

Publication number
JPH11214428A
JPH11214428A JP10025122A JP2512298A JPH11214428A JP H11214428 A JPH11214428 A JP H11214428A JP 10025122 A JP10025122 A JP 10025122A JP 2512298 A JP2512298 A JP 2512298A JP H11214428 A JPH11214428 A JP H11214428A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bonding
lens
head
camera
bonding head
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10025122A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Iwao Ishii
岩男 石井
Kouji Nishimaki
公路 西巻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kaijo Corp
Original Assignee
Kaijo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kaijo Corp filed Critical Kaijo Corp
Priority to JP10025122A priority Critical patent/JPH11214428A/en
Publication of JPH11214428A publication Critical patent/JPH11214428A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7825Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78301Capillary
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/788Means for moving parts
    • H01L2224/78801Lower part of the bonding apparatus, e.g. XY table
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a bonding device where bonding work time can be shortened. SOLUTION: A strabismus lens 1c faces an object 11 and the lens 1c is supported so that an optical route passes through. The optical route passing through the lens 1c forms an image on the image pickup element of a camera head 1a. Adjusting is executed so that the focus Z of the optical route facing the object 11 matches the center Q of a bonding head 1. Even if the camera head 1a and the boding head 9 are separately arranged, a place where the camera 1 is recognized matches a place where the bonding head 9 is bonded and bonding is executed in the same position.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路
(IC)や大規模集積回路(LSI)の半導体部品のボ
ンディングを行うボンディング装置に関し、特に被ボン
ディング部品である半導体部品としてのチップ上のパッ
ド(電極)と該チップが貼着されているリードフレーム
に形成された外部リードとを導電性のワイヤを用いてボ
ンディングする場合に撮像手段としてのカメラで認識し
てボンディングを行うボンディング装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bonding apparatus for bonding semiconductor components of a semiconductor integrated circuit (IC) or a large-scale integrated circuit (LSI), and more particularly to a pad on a chip as a semiconductor component to be bonded. The present invention relates to a bonding apparatus that performs recognition and bonding by using a camera as an imaging unit when bonding (electrode) and an external lead formed on a lead frame to which the chip is attached using a conductive wire.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体集積回路(IC)や大規模集積回
路(LSI)を製造するボンディング装置は、図5に示
すようにカメラヘッド1a,レンズ1bなどからなる撮
像手段としてのカメラ1と、先端にツール(キャピラ
リ)が取り付けられ該ツールを揺動可能に支持するボン
ディングヘッド9と、XYテーブル上に搭載されたカメ
ラ1及びボンディングヘッド9をX方向及びY方向の二
次元方向に移動可能なXYテ−ブル駆動機構2と、リー
ドフレ−ム4及びチップ5からなるボンディング対象物
11の位置決めを行うボンディングステージ3と、カメラ
1で撮像した画像を入力して処理を行う画像処理装置6
と、ボンディングステージ3上にリードフレームを搬送
して位置決めする搬送機構(図示せず)及びXYテーブ
ル駆動機構2を制御するテ−ブル制御部8と、画像処理
装置6及びテ−ブル制御部8の演算制御を行う制御回路
10と、モニタ7等で構成されている。
2. Description of the Related Art As shown in FIG. 5, a bonding apparatus for manufacturing a semiconductor integrated circuit (IC) or a large-scale integrated circuit (LSI) includes a camera 1 as an image pickup means including a camera head 1a, a lens 1b, and the like. A bonding head 9 having a tool (capillary) attached thereto and swingably supporting the tool, and XY capable of moving the camera 1 and the bonding head 9 mounted on an XY table in two-dimensional directions of X and Y directions. Object to be bonded consisting of table drive mechanism 2, lead frame 4 and chip 5
A bonding stage 3 for positioning 11 and an image processing device 6 for inputting and processing an image captured by the camera 1
A transport mechanism (not shown) for transporting and positioning the lead frame on the bonding stage 3; a table controller 8 for controlling the XY table drive mechanism 2; an image processing device 6 and a table controller 8 Control circuit that performs arithmetic control of
10 and a monitor 7 and the like.

【0003】前記画像処理装置6は、クロック生成回路、水
平及び垂直同期信号発生回路、クロックパルス計数回路
及び多値化回路等で構成されており、また、制御回路10
はマイクロプロセッサなどで構成されている。
[0003] The image processing device 6 includes a clock generation circuit, a horizontal and vertical synchronizing signal generation circuit, a clock pulse counting circuit, a multi-level conversion circuit, and the like.
Is composed of a microprocessor or the like.

【0004】前記ボンディング装置では、カメラ1がボンデ
ィングヘッド9の直上に位置する場合であってもカメラ
1のレンズ1bの中心とボンディングヘッド9のツ−ル
の中心とは、約10mm程度離間配置されている。すな
わち、被ボンディング部品としてのチップ上のパッドを
カメラ1で撮像してボンディングヘッド9のツールでボ
ンディングを行うためには、カメラ1とボンディングヘ
ッド9とが共にXYテーブル上に搭載されており、カメ
ラ1の光軸が被ボンディング部品を撮像できるようにボ
ンディングヘッド9のツールを避けて配設する必要があ
るからである。
In the above bonding apparatus, even when the camera 1 is located directly above the bonding head 9, the center of the lens 1b of the camera 1 and the center of the tool of the bonding head 9 are spaced apart by about 10 mm. ing. That is, in order to image a pad on a chip as a part to be bonded with the camera 1 and perform bonding with the tool of the bonding head 9, both the camera 1 and the bonding head 9 are mounted on an XY table. This is because it is necessary to avoid the tool of the bonding head 9 so that one optical axis can image the component to be bonded.

【0005】そこで、前記ボンディング装置では、カメラ1
のレンズ1bとボンディングヘッド9のツールとの距離
をセルフティーチなどの条件設定を行う際に予め設定す
る。これをオフセット量と称する。
[0005] Therefore, in the bonding apparatus, the camera 1
The distance between the lens 1b and the tool of the bonding head 9 is set in advance when setting conditions such as self-teaching. This is called an offset amount.

【0006】このオフセット量の検出は、図6に示すよう
に、まずボンディングヘッド9のツ−ルを用いて例えば
第1ボンディング点としてのパッドや第2ボンディング
点としてのリードその他の試料上に仮のボンディングを
行う。
As shown in FIG. 6, the offset amount is first detected by using a tool of a bonding head 9 on a pad as a first bonding point, a lead as a second bonding point, or another sample. Bonding.

【0007】そして、カメラ1のレンズ1bの中心P1は、
XYテ−ブル上の座標として検出されているので、この
カメラ1をXYテ−ブル駆動機構2により移動して試料
上方位置まで移動させて前記試料の圧痕12を検出す
る。
[0007] The center P1 of the lens 1b of the camera 1 is
Since the camera 1 is detected as coordinates on the XY table, the camera 1 is moved by the XY table driving mechanism 2 to the position above the sample, and the indentation 12 of the sample is detected.

【0008】この検出した圧痕12の座標点、すなわちツ−
ルの中心P2とカメラ1が移動する前のレンズ1bの中
心P1との距離、すなわちオフセット量Pを算出して制
御回路10内の記憶手段としてのメモリ(RAM)に記
憶させる。
[0008] The coordinate point of the detected indentation 12, that is, the tree
Distance between the center P 1 of the lens before 1b to center P 2 and the camera 1 in Le moves, i.e. is stored in the memory (RAM) as storage means in the control circuit 10 calculates the offset amount P.

【0009】上記のようにボンディングヘッド1のツールと
カメラ1のレンズ1bとの間には、オフセット量Pがあ
るために被ボンディング部品であるボンディング対象物
11をカメラ1で撮像して認識した後、ボンディングヘ
ッド1を前記ボンディング対象物11上に移動させてボ
ンディングを行う。
As described above, since there is an offset amount P between the tool of the bonding head 1 and the lens 1b of the camera 1, the object 1 to be bonded, which is a part to be bonded, is imaged and recognized by the camera 1. The bonding is performed by moving the bonding head 1 onto the bonding target 11.

【0010】上記のような動作を第1ボンディング点である
パッドと第2ボンディング点であるリードとで行い、こ
れらパッドとリードとの間にワイヤを接続する。そし
て、この一連の動作を繰り返し行う。
[0010] The above operation is performed between the pad as the first bonding point and the lead as the second bonding point, and a wire is connected between the pad and the lead. Then, this series of operations is repeatedly performed.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】前記ボンディング装置
に用いられるカメラ1のレンズ1bは、図2に示すよう
な直視レンズを用いているため、ボンディング作業を行
う場合にはボンディング対象物11を撮像して認識位置
決め補正を行った後、オフセット量Pだけボンディング
ヘッド1を移動させてボンディングを行う。
Since the lens 1b of the camera 1 used in the bonding apparatus uses a direct-view lens as shown in FIG. 2, when performing a bonding operation, the bonding object 11 is imaged. After performing the recognition and positioning correction, the bonding is performed by moving the bonding head 1 by the offset amount P.

【0012】この作業は、セルフティーチ時のみだけではな
く実際のボンディング作業を行う場合にも行われる動作
であるため、ボンディングの作業時間の短縮化を図るこ
とが難しいという問題がある。特に、近年のような多ピ
ン化された半導体部品にあっては、より高速化を図るこ
とが臨まれている。
[0012] Since this operation is performed not only during the self-teaching but also when performing the actual bonding operation, there is a problem that it is difficult to shorten the bonding operation time. In particular, in the case of a semiconductor component having a large number of pins as in recent years, it is expected to achieve higher speed.

【0013】本発明は、上記従来技術の欠点に鑑みてなされ
たものであって、その目的とするところは、ボンディン
グ作業時間の短縮化が可能なボンディング装置を提供す
ることである。
The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks of the related art, and an object of the present invention is to provide a bonding apparatus capable of shortening a bonding operation time.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明によるボンディン
グ装置は、XYテーブルをX方向及びY方向に移動可能
なXYテ−ブル駆動機構と、前記XYテーブル上に搭載
され先端部に取り付けられたツールを揺動可能に支持す
るボンディングヘッドと、前記ボンディングヘッドの上
方に配設され斜視レンズからの画像情報を結像する撮像
素子を有する撮像手段と、前記ボンディングヘッドの下
方に配設されボンディング対象物を位置決めしてボンデ
ィングを行うボンディングステージとを備え、前記斜視
レンズと前記ボンディング対象物との間の光経路の焦点
が前記ボンディングヘッドのボンディング位置と一致さ
せて構成してなるものである。
According to the present invention, there is provided a bonding apparatus comprising: an XY table driving mechanism capable of moving an XY table in X and Y directions; and a tool mounted on the XY table and attached to a tip end thereof. Head, which is swingably supported, image pickup means provided above the bonding head, and an image pickup device for forming image information from a perspective lens, and a bonding object provided below the bonding head And a bonding stage for positioning and bonding, and a focus of an optical path between the oblique lens and the object to be bonded is made coincident with a bonding position of the bonding head.

【0015】また、前記斜視レンズは、集光用レンズの一部
を用いて形成したレンズ片で構成したこものである。
[0015] Further, the oblique lens is constituted by a lens piece formed by using a part of a condensing lens.

【0016】また、前記斜視レンズは、光軸の角度を調整可
能な調整手段を備えてなるものである。
[0016] Further, the oblique lens is provided with adjusting means for adjusting the angle of the optical axis.

【0017】また、前記斜視レンズは、回析格子などの偏向
面を有する光学素子で形成されてなるものである。
Further, the oblique lens is formed of an optical element having a deflecting surface such as a diffraction grating.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して本発明に
よるボンディング装置を説明する。但し、本発明による
ボンディング装置は、以下に説明する部分以外は従来の
ボンディング装置と同様の構成であるため、同一の構成
及び動作の説明は省略し要部のみの説明に止める。ま
た、以下の説明及び図において、上記従来の構成と同一
又は対応する部分については、同じ参照符号を用いてい
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A bonding apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings. However, since the bonding apparatus according to the present invention has the same configuration as the conventional bonding apparatus except for the parts described below, the description of the same configuration and operation will be omitted and only the main part will be described. Further, in the following description and drawings, the same reference numerals are used for parts that are the same as or correspond to the above-described conventional configuration.

【0019】図1に示すように、ボンディング装置は、従来
のボンディング装置と同様に、撮像手段としてのカメラ
1、XYテーブル駆動機構2、ボンディングステージ
3、画像処理装置6、モニタ7、テーブル制御部8、ボ
ンディングヘッド9、制御回路10等で構成されている。
As shown in FIG. 1, the bonding apparatus includes a camera 1, an XY table driving mechanism 2, a bonding stage 3, an image processing apparatus 6, a monitor 7, a table control unit as in the conventional bonding apparatus. 8, a bonding head 9, a control circuit 10, and the like.

【0020】カメラ1は、カメラヘッド1aの他、従来の直
視レンズ1bに代えて斜視レンズ1cを備えている。こ
の斜視レンズ1cは、ボンディングヘッド9の上方に配
設されている。
The camera 1 includes a camera head 1a and a perspective lens 1c in place of the conventional direct-view lens 1b. The oblique lens 1c is disposed above the bonding head 9.

【0021】図2に示すように、従来の直視レンズ1bは、
レンズ1bの全面、すなわち光経路(a)、(b)及び
(c)にわたって対象物11の像を撮像素子13上に結
像させる。従って、図2からわかるように(b)の光経
路で結像している画像は、(a)及び(c)でも同一の
画像が結像している。
As shown in FIG. 2, the conventional direct-view lens 1b is
An image of the object 11 is formed on the image sensor 13 over the entire surface of the lens 1b, that is, over the optical paths (a), (b) and (c). Accordingly, as can be seen from FIG. 2, the same image is formed in the images formed in the optical path of FIG. 2B also in FIGS.

【0022】この原理を利用して図3に示す斜視レンズ1c
は、図2に示す直視レンズ1bと略同一の集光用レンズ
Lの一部のみを用いて形成したレンズ片であって、その
一方向からのみ対象物11の像を撮像するものである。
従って、斜視レンズ1cの光量は、直視レンズ1bと比
べて少なくなるが、図3に示すように撮像素子13と対
象物11との間に障害物14が介在しても、撮像素子1
3上に対象物11の像を結像させることができる。
Using this principle, the perspective lens 1c shown in FIG.
Is a lens piece formed by using only a part of the condensing lens L substantially the same as the direct-view lens 1b shown in FIG. 2, and captures an image of the object 11 only in one direction.
Therefore, although the light amount of the oblique lens 1c is smaller than that of the direct-view lens 1b, even if the obstacle 14 is interposed between the image sensor 13 and the object 11 as shown in FIG.
An image of the object 11 can be formed on the image 3.

【0023】図4は、第2の実施例を示すものである。FIG. 4 shows a second embodiment.

【0024】図4に示すように、回折格子1dは、偏向面を
有する光学素子で形成される。この回折格子1dは、そ
の光軸を折りまげて対象物11の像を撮像素子13上に
形成する。これによって対象物11の垂直線上に直視レ
ンズ1b、撮像素子13を配置する必要がなくなると共
に、対象物11の直上の空間に障害物が存在しても撮像
素子13上に対象物11の像を結像することができる。
この回折格子1dも前記斜視レンズ1cと同様の作用を
し、この回折格子1dなどの偏向面を有する光学素子も
広義の斜視レンズに含まれるものとする。
As shown in FIG. 4, the diffraction grating 1d is formed by an optical element having a deflecting surface. The diffraction grating 1 d forms an image of the object 11 on the image sensor 13 by folding the optical axis. This eliminates the need to dispose the direct-view lens 1b and the image sensor 13 on the vertical line of the object 11, and allows the image of the object 11 to be displayed on the image sensor 13 even if an obstacle exists in the space immediately above the object 11. An image can be formed.
The diffraction grating 1d operates in the same manner as the oblique lens 1c, and an optical element having a deflecting surface such as the diffraction grating 1d is also included in the oblique lens in a broad sense.

【0025】次に、図3に示す前記斜視レンズ1cを用いて
ボンディング装置に適用した実施例について説明する。
なお、図4に示す回析格子1dなどの光学素子を用いた
場合も同様に適用することができる。
Next, an embodiment applied to a bonding apparatus using the oblique lens 1c shown in FIG. 3 will be described.
Note that the same can be applied to the case where an optical element such as the diffraction grating 1d shown in FIG. 4 is used.

【0026】図1に示すように、斜視レンズ1cを備えたカ
メラヘッド1aは、ボンディングヘッド9の直上(図1
では、ボンディングヘッド9と位置をずらして図示して
いる。)に位置するように取り付けられ、前記斜視レン
ズ1cは該レンズ1cの鏡筒及びレンズがボンディング
ステージ3のステージ3a上に向くように位置決めして
支持されている。すなわち、図3に示すようにリードフ
レーム4及びチップ5からなる対象物11にレンズ1c
が向き、該レンズ1cを光経路(a)が通過するように
位置決めして支持し、レンズ1cを通過した光経路
(a)がカメラヘッド1aの撮像素子に結像するように
する。このとき、対象物11に向けられた光経路(a)
の焦点Z(図1に図示)とボンディングヘッド1の中心
Qとが略一致するように調整を行う。つまり、カメラ1
及びボンディングヘッド9は、共にXYテ−ブル上に搭
載され、ボンディングヘッド9は支軸を中心として図1
に示す上下方向に揺動運動を行うものであるため、斜視
レンズ1cの光軸(中心軸)P3は、ステージ3a上の
ボンディング対象物11を通り、且つこの時、ボンディ
ングヘッド9のツ−ルの中心Qもボンディング対象物1
1を通るように設定する。
As shown in FIG. 1, a camera head 1a having a perspective lens 1c is located directly above a bonding head 9 (FIG. 1).
In the figure, the position is shifted from the bonding head 9. ), And the oblique lens 1c is positioned and supported so that the lens barrel and lens of the lens 1c face the stage 3a of the bonding stage 3. That is, as shown in FIG. 3, a lens 1c is attached to an object 11 composed of a lead frame 4 and a chip 5.
And the lens 1c is positioned and supported so that the optical path (a) passes therethrough, so that the optical path (a) passing through the lens 1c forms an image on the image sensor of the camera head 1a. At this time, the optical path (a) directed to the object 11
Is adjusted so that the focal point Z (shown in FIG. 1) and the center Q of the bonding head 1 substantially match. That is, camera 1
The bonding head 9 and the bonding head 9 are both mounted on an XY table.
Because performs a swinging movement in the vertical direction shown in the optical axis of oblique lens 1c (central axis) P 3 passes through the bonding object 11 on the stage 3a, and at this time, tool of the bonding head 9 - The object Q is also the bonding object 1
Set to pass 1

【0027】図1では、ボンディング対象物11で設定する
ようにしているが、その他任意の目安となる場所で行っ
てもよい。また、カメラ1の視野は、例えばパッドやリ
ードを複数同一視野内に撮り込むことができるので該視
野内にツールの中心が入るようにすればよい。また、前
記焦点Zの調整は、カメラ1が備えているので前記光経
路(a)とボンディングヘッド9のツール中心とが略一
致するようにすれば、焦点Zは自動的若しくは手動によ
り調整することができる。
In FIG. 1, the setting is made with the bonding object 11, but the setting may be made at any other suitable place. In addition, since the field of view of the camera 1 can capture, for example, a plurality of pads and leads in the same field of view, the center of the tool may be set in the field of view. Since the focus Z is adjusted by the camera 1, if the optical path (a) and the tool center of the bonding head 9 are made to substantially coincide with each other, the focus Z can be adjusted automatically or manually. Can be.

【0028】また、前記光軸の調整は、レンズ1cの鏡筒が
光ファイバなどであればファイバを動かして調整を行
い、その他の構成であれば公知の調整機構等の調整手段
を用いて光軸の角度調整を行えばよい。
The adjustment of the optical axis is performed by moving the fiber if the lens barrel of the lens 1c is an optical fiber or the like. The angle of the shaft may be adjusted.

【0029】このようにすることによってカメラヘッド1a
とボンディングヘッド9とが離間配置されている場合で
あってもカメラ1の認識とボンディングヘッド9のツー
ルでボンディングを行う位置とが略一致しているから同
じ位置でボンディングを行うことができる。
By doing so, the camera head 1a
Even when the bonding head 9 and the bonding head 9 are spaced apart, bonding can be performed at the same position because the recognition of the camera 1 and the bonding position of the bonding head 9 with the tool are substantially the same.

【0030】次に、ボンディング装置により行うボンディン
グ作業について説明する。
Next, the bonding operation performed by the bonding apparatus will be described.

【0031】まず、ボンディング工程の前のセルフティーチ
の条件設定の1つであるボンディングヘッド9とカメラ
1とのオフセット量の検出については、斜視レンズ1c
の光軸P3 及びボンディングヘッド9のツールの中心Q
の調整を行えば不要である。従って、ボンディングヘッ
ド9のツールのボンディング動作時の位置(ステージ3
aのXY平面に垂直な直線上)は直接カメラ1にて撮像
されているため、リ−ド又はパッドの位置決めを行った
後は、カメラ1を移動させることなくボンディングヘッ
ド9のツールによりボンディングを行えばよい。
First, the detection of the offset amount between the bonding head 9 and the camera 1, which is one of the conditions for the self-teaching before the bonding step, is described with reference to the perspective lens 1c.
Optical axis P 3 and the center Q of the tool of the bonding head 9
It is unnecessary if the adjustment is made. Therefore, the position of the tool of the bonding head 9 during the bonding operation (stage 3)
a) on a straight line perpendicular to the XY plane) is directly imaged by the camera 1, and after positioning the leads or pads, bonding is performed by the tool of the bonding head 9 without moving the camera 1. Just do it.

【0032】本発明によるボンディング作業は、第1ボンデ
ィング点であるパッドと第2ボンディング点であるリー
ドとの間をボンディングヘッド9の移動位置決めと同時
にカメラ1による認識も行うことができるのでカメラ1
のオフセット量分の移動工程が不要となり、ボンディン
グ作業の短縮化を図ることができる。
In the bonding operation according to the present invention, the camera 1 can recognize the position of the bonding head 9 between the pad as the first bonding point and the lead as the second bonding point at the same time as the movement of the bonding head 9 can be performed.
This eliminates the need for a moving step corresponding to the offset amount, and can reduce the bonding work.

【0033】なお、本発明よりなるボンディング装置では、
ボンディングヘッド9とカメラ1とのオフセット量の検
出並びにボンディング時のオフセット量の移動位置決め
が不要となるが、オフセット量の調整も従来のように併
せて行うことによって高精度なものとすることもでき
る。
In the bonding apparatus according to the present invention,
It is not necessary to detect the offset amount between the bonding head 9 and the camera 1 and to move and position the offset amount at the time of bonding. However, the adjustment of the offset amount can be performed with high accuracy by performing the adjustment together with the conventional method. .

【0034】また、本発明における斜視レンズは、上述した
構成に限定されるものではなく、種々の光学デバイス、
光学素子その他の手段を組合せて構成したものも適用す
ることができる。
Further, the oblique lens according to the present invention is not limited to the above-described configuration, and various optical devices,
An optical element configured by combining optical elements and other means can also be applied.

【0035】なお、本発明よりなるボンディング装置は、ワ
イヤボンディング装置のみならず、テープボンディング
装置並びに他のボンディング装置にも適用することがで
きる。
The bonding apparatus according to the present invention can be applied not only to a wire bonding apparatus but also to a tape bonding apparatus and other bonding apparatuses.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明したように、本発明よりなるボ
ンディング装置においては、カメラに備えた斜視レンズ
によって、ボンディングヘッドのツールによりボンディ
ングを行う位置を同時に撮像する。従って、ボンディン
グヘッドとカメラとのオフセット量の検出工程並びにオ
フセット量のカメラの移動位置決めを行う必要がないの
で作業工程を短縮化することができ、総合的なボンディ
ング作業時間の短縮化を図ることができる。
As described above, in the bonding apparatus according to the present invention, the position at which bonding is performed by the tool of the bonding head is simultaneously imaged by the oblique lens provided in the camera. Therefore, there is no need to perform the step of detecting the offset amount between the bonding head and the camera and the movement and positioning of the camera by the offset amount, so that the work process can be shortened, and the overall bonding work time can be shortened. it can.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、本発明のボンディング装置の概略を示
す構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram schematically showing a bonding apparatus of the present invention.

【図2】図2は、直視レンズの原理を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating the principle of a direct-view lens.

【図3】図3は、本発明の斜視レンズの原理を示す図で
ある。
FIG. 3 is a diagram illustrating the principle of a perspective lens according to the present invention.

【図4】図4は、本発明の第2の実施例の斜視レンズを
示す図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a perspective lens according to a second embodiment of the present invention.

【図5】図5は、従来のボンディング装置の概略を示す
構成図である。
FIG. 5 is a configuration diagram schematically showing a conventional bonding apparatus.

【図6】図6は、従来のオフセット量の検出を説明する
図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating detection of a conventional offset amount.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 カメラ 1a カメラヘッド 1c 斜視レンズ 2 XYテーブル駆動機構 3 ボンディングステージ 3a ステージ 7 モニタ 9 ボンディングヘッド 11 ボンディング対象物 Reference Signs List 1 camera 1a camera head 1c perspective lens 2 XY table drive mechanism 3 bonding stage 3a stage 7 monitor 9 bonding head 11 bonding target

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 XYテーブルをX方向及びY方向に移動
可能なXYテ−ブル駆動機構と、 前記XYテーブル上に搭載され先端部に取り付けられた
ツールを揺動可能に支持するボンディングヘッドと、 前記ボンディングヘッドの上方に配設され斜視レンズか
らの画像情報を結像する撮像素子を有する撮像手段と、 前記ボンディングヘッドの下方に配設されボンディング
対象物を位置決めしてボンディングを行うボンディング
ステージとを備え、 前記斜視レンズと前記ボンディング対象物との間の光経
路の焦点を前記ボンディングヘッドのボンディング位置
と略一致させて構成してなることを特徴とするボンディ
ング装置。
An XY table driving mechanism capable of moving an XY table in X and Y directions, a bonding head mounted on the XY table and swingably supporting a tool attached to a tip end thereof; Imaging means having an imaging element disposed above the bonding head and imaging image information from a perspective lens; and a bonding stage disposed below the bonding head for positioning a bonding object and performing bonding. A bonding apparatus, wherein a focus of an optical path between the oblique lens and the object to be bonded is substantially coincident with a bonding position of the bonding head.
【請求項2】 前記斜視レンズは、集光用レンズの一部
を用いて形成したレンズ片で構成したことを特徴とする
請求項1記載のボンディング装置。
2. The bonding apparatus according to claim 1, wherein the oblique lens is configured by a lens piece formed by using a part of a condenser lens.
【請求項3】 前記斜視レンズは、光軸の角度を調整可
能な調整手段を備えてなることを特徴とする請求項1又
は請求項2に記載のボンディング装置。
3. The bonding apparatus according to claim 1, wherein the oblique lens includes an adjustment unit that can adjust an angle of an optical axis.
【請求項4】 前記斜視レンズは、回析格子などの偏向
面を有する光学素子で形成されたことを特徴とする請求
項1又は請求項3に記載のボンディング装置。
4. The bonding apparatus according to claim 1, wherein the oblique lens is formed of an optical element having a deflection surface such as a diffraction grating.
JP10025122A 1998-01-22 1998-01-22 Bonding device Pending JPH11214428A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10025122A JPH11214428A (en) 1998-01-22 1998-01-22 Bonding device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10025122A JPH11214428A (en) 1998-01-22 1998-01-22 Bonding device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11214428A true JPH11214428A (en) 1999-08-06

Family

ID=12157145

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10025122A Pending JPH11214428A (en) 1998-01-22 1998-01-22 Bonding device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11214428A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190112641A (en) * 2018-03-26 2019-10-07 파스포드 테크놀로지 주식회사 Die bonding apparatus and manufacturing method of semiconductor device
CN111752314A (en) * 2019-03-29 2020-10-09 上海微电子装备(集团)股份有限公司 Bonding head pressure control device and control method and bonding equipment

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190112641A (en) * 2018-03-26 2019-10-07 파스포드 테크놀로지 주식회사 Die bonding apparatus and manufacturing method of semiconductor device
KR20200135260A (en) * 2018-03-26 2020-12-02 파스포드 테크놀로지 주식회사 Die bonding apparatus and manufacturing method of semiconductor device
CN111752314A (en) * 2019-03-29 2020-10-09 上海微电子装备(集团)股份有限公司 Bonding head pressure control device and control method and bonding equipment
CN111752314B (en) * 2019-03-29 2021-10-01 上海微电子装备(集团)股份有限公司 Bonding head pressure control device and control method and bonding equipment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3178567B2 (en) Wire bonding apparatus and method
JPH07161759A (en) Wire bonding device
JP4618691B2 (en) Mark image processing method, program, and apparatus
JP6461311B2 (en) Wire bonding apparatus and wire bonding method
JP6240866B2 (en) Method for estimating landing point position of bonding apparatus and bonding tool
JP2914850B2 (en) Wire bonding apparatus and method
JP4105926B2 (en) Offset measuring mechanism in bonding apparatus and offset measuring method in bonding apparatus
US8091762B1 (en) Wedge bonding method incorporating remote pattern recognition system
JP3813088B2 (en) Bonding equipment
JPH11214428A (en) Bonding device
JP4713287B2 (en) Electronic component mounting apparatus and mounting method
JP3610771B2 (en) Work position recognition method
JP2018041913A (en) Substrate work device
JP3836479B2 (en) Wire bonding equipment
JPH09312808A (en) Ccd camera and method for positioning its ccd chip and lens
JP3272640B2 (en) Bonding equipment
JP2006114841A (en) Bonding apparatus
JP3008745B2 (en) Wire bonding inspection method and wire bonding inspection device
JP6182248B2 (en) Die bonder
JP3686064B2 (en) Bonding method and bonding apparatus
JPH06174441A (en) Shape inspection method and device
JPH08306732A (en) Wire bonder and bonding method
JPH10335752A (en) Optic axis gradient detecting method and device as well bonding method and device
JP6047723B2 (en) Method of detecting relative position between die bonder and bonding tool and semiconductor die
JPH08111430A (en) Method and apparatus for correcting bonding position of wire bonder