JPH11174425A - Manufacturing method for semiconductor element array substrate - Google Patents

Manufacturing method for semiconductor element array substrate

Info

Publication number
JPH11174425A
JPH11174425A JP9343497A JP34349797A JPH11174425A JP H11174425 A JPH11174425 A JP H11174425A JP 9343497 A JP9343497 A JP 9343497A JP 34349797 A JP34349797 A JP 34349797A JP H11174425 A JPH11174425 A JP H11174425A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
semiconductor element
element array
manufacturing
single crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9343497A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Hirose
貴司 廣瀬
Tatsuhiko Tamura
達彦 田村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP9343497A priority Critical patent/JPH11174425A/en
Publication of JPH11174425A publication Critical patent/JPH11174425A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of a semiconductor element array substrate to be used for a liquid crystal display panel having the size for a large-sized monitor. SOLUTION: A roughly cylindrical or cylindrical single crystal ingot 1 is formed and an elliptic substrate 11 in which a prescribed crystal surface is made the surface is produced by cutting the single crystal ingot 1 with a plane which does not orthogonally cross with an axial center X of the ingot 1. Then, semiconductor elements to be constituted of an array part 3, a scanning circuit part 4 and a signal circuit part 5 are formed on the elliptic substrate 11.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置の反
射型液晶表示パネルに用いられる半導体素子アレイ基板
の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor element array substrate used for a reflection type liquid crystal display panel of a liquid crystal display device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、OA機器やテレビなどの情報
機器に薄型・低消費電力の画像表示装置として液晶表示
装置が広く用いられており、その液晶表示装置の表示画
面を構成する液晶表示パネルには、その内部に挟持され
た液晶を駆動する半導体素子アレイ基板を有している。
2. Description of the Related Art Conventionally, a liquid crystal display device has been widely used as a thin and low power consumption image display device for information equipment such as OA equipment and a television, and a liquid crystal display panel constituting a display screen of the liquid crystal display device has been widely used. Has a semiconductor element array substrate for driving the liquid crystal sandwiched therein.

【0003】このような液晶表示パネルのうち、反射型
液晶表示パネルは光源を必要としないことにより低消費
電力が可能な画像表示装置として、特に携帯用機器への
使用が検討されている。
[0003] Among such liquid crystal display panels, a reflection type liquid crystal display panel is being studied as an image display device capable of low power consumption because it does not require a light source, particularly for use in portable equipment.

【0004】反射型液晶表示パネルに用いる半導体素子
アレイ基板の製造方法としては、日本学術振興会第14
2委員会編、液晶デバイスハンドブック(日刊工業新聞
社発行、1989年)第228頁〜第232頁に記載さ
れたものが知られている。
As a method of manufacturing a semiconductor element array substrate used for a reflection type liquid crystal display panel, the Japan Society for the Promotion of Science No. 14
The liquid crystal device handbook (published by Nikkan Kogyo Shimbun, 1989), pages 228 to 232, edited by 2 committees, is known.

【0005】従来の半導体素子アレイ基板は、図4に示
すように製造されている。図4(a)に示すように、シ
リコンからなるほぼ円柱形の単結晶インゴット1を形成
する。その単結晶インゴット1から円形のウエハを切り
だし円形基板2を作製する。
A conventional semiconductor device array substrate is manufactured as shown in FIG. As shown in FIG. 4A, a substantially columnar single crystal ingot 1 made of silicon is formed. A circular wafer is cut out from the single crystal ingot 1 to produce a circular substrate 2.

【0006】円形基板2を研磨洗浄後、MOS半導体技
術を用いて、図4(b)に示すように、液晶を駆動する
半導体素子としてのアクティブ素子(薄膜トランジスタ
など)を複数配列して液晶表示パネルの表示領域となる
アレイ部3と、前記アクティブ素子に電気的に接続され
ていて駆動信号を供給する駆動回路としての走査回路部
4ならびに信号回路部5とを円形基板2の上に形成し、
アクティブ素子アレイ基板が得られる。
After polishing and cleaning the circular substrate 2, using a MOS semiconductor technology, as shown in FIG. 4B, a plurality of active elements (such as thin film transistors) as semiconductor elements for driving liquid crystal are arranged to form a liquid crystal display panel. An array unit 3 serving as a display area, and a scanning circuit unit 4 and a signal circuit unit 5 electrically connected to the active elements and serving as a drive circuit for supplying a drive signal are formed on the circular substrate 2;
An active element array substrate is obtained.

【0007】以上のように、円形に切り出した円形基板
2を用いて通常のシリコン半導体プロセスであるMOS
半導体技術により駆動回路を有するアクティブ素子アレ
イを形成することにより、歩留まり良く容易にアクティ
ブ素子アレイ基板を得ることが可能となる。ここで基板
が円形であることは、レジスト塗布等の半導体プロセス
での取扱いの容易性やインゴットからの基板の取れ数の
優位性から、シリコン半導体の製造において専ら用いら
れているものである。
[0007] As described above, using the circular substrate 2 cut out in a circular shape, a MOS process which is a normal silicon semiconductor process is performed.
By forming an active element array having a drive circuit by semiconductor technology, an active element array substrate can be easily obtained with a high yield. Here, the circular shape of the substrate is exclusively used in the production of silicon semiconductors because of the ease of handling in a semiconductor process such as resist coating and the superiority of the number of substrates to be removed from an ingot.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の半
導体素子アレイ基板の製造方法では、図4(b)に示す
ように、半導体素子アレイ基板の大きさが円形基板2の
直径Dの大きさ以下に制限されるので、液晶表示パネル
のサイズは現状の円形シリコンウェハの直径である20
3mm(8インチ)程度以下となるという問題点があ
る。
However, according to the conventional method for manufacturing a semiconductor element array substrate, the size of the semiconductor element array substrate is reduced to a value smaller than the diameter D of the circular substrate 2 as shown in FIG. Due to the limitation, the size of the liquid crystal display panel is 20 mm, which is the diameter of the current circular silicon wafer.
There is a problem that the distance is about 3 mm (8 inches) or less.

【0009】さらに、最近話題になりつつある次世代の
シリコンウェハであってもその直径は300mmであ
り、モニタサイズの液晶表示パネルに最低必要な330
mm(13インチ)を得ることは不可能である。
Further, even a next-generation silicon wafer, which has recently become a hot topic, has a diameter of 300 mm, which is the minimum required for a monitor-sized liquid crystal display panel.
mm (13 inches) is not possible.

【0010】本発明は、大型モニタサイズの液晶表示パ
ネルに使用する半導体素子アレイ基板の製造方法を提供
することを目的とする。
An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a semiconductor element array substrate used for a large monitor size liquid crystal display panel.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体素子アレ
イ基板の製造方法は、所定方向に引き上げてほぼ円柱形
または円柱形の単結晶インゴットを形成し、前記単結晶
インゴットの引き上げ方向である軸心と直交しない面で
前記単結晶インゴットを切り出して所定の結晶面を表面
とする楕円形基板を作製し、前記楕円形基板の上に半導
体素子を形成するものである。
According to a method of manufacturing a semiconductor element array substrate of the present invention, a substantially single-crystal or cylindrical single-crystal ingot is formed by pulling in a predetermined direction, and an axis in the pull-up direction of the single-crystal ingot is formed. The single crystal ingot is cut out from a plane not orthogonal to the center to produce an elliptical substrate having a predetermined crystal plane as a surface, and a semiconductor element is formed on the elliptical substrate.

【0012】本発明によると、大型モニタサイズの液晶
表示パネルに使用する半導体素子アレイ基板を得ること
ができる。
According to the present invention, a semiconductor element array substrate used for a large monitor size liquid crystal display panel can be obtained.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、基板間に液晶を充填した液晶表示パネルに使用する
前記基板を製造するに際し、外形がほぼ円柱形または円
柱形の単結晶インゴットを形成し、前記単結晶インゴッ
トの軸心と直交しない面で前記単結晶インゴットを切り
出して所定の結晶面を表面とする楕円形基板を作製し、
前記楕円形基板の上に半導体素子を形成する半導体素子
アレイ基板の製造方法としたものであり、単結晶インゴ
ットの直径より大きいサイズの半導体素子アレイ基板を
得ることができる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claim 1 of the present invention is directed to a method of manufacturing the above-mentioned substrate used for a liquid crystal display panel in which liquid crystal is filled between the substrates. Form an ingot, cut out the single crystal ingot in a plane that is not orthogonal to the axis of the single crystal ingot to produce an elliptical substrate having a predetermined crystal plane as a surface,
This is a method for manufacturing a semiconductor element array substrate in which semiconductor elements are formed on the elliptical substrate, and a semiconductor element array substrate having a size larger than the diameter of a single crystal ingot can be obtained.

【0014】請求項2に記載の発明は、基板間に液晶を
充填した液晶表示パネルに使用する前記基板を製造する
に際し、外形がほぼ円柱形または円柱形の単結晶インゴ
ットを形成し、前記単結晶インゴットの軸心と直交しな
い面で前記単結晶インゴットを切り出して所定の結晶面
を表面とする楕円形基板を作製し、前記楕円形基板を目
的形状に裁断加工して加工基板を形成し、前記加工基板
の上に半導体素子を形成する半導体素子アレイ基板の製
造方法としたものであり、単結晶インゴットの直径より
大きいサイズの半導体素子アレイ基板が得られるととも
に、半導体プロセスでの取扱いを容易にすることができ
る。
According to a second aspect of the present invention, when manufacturing the substrate used for a liquid crystal display panel in which liquid crystal is filled between the substrates, a single crystal ingot having a substantially cylindrical or cylindrical outer shape is formed. Cut out the single crystal ingot on a surface that is not orthogonal to the axis of the crystal ingot to produce an elliptical substrate having a predetermined crystal surface as a surface, and cut the elliptical substrate into a target shape to form a processed substrate, A method of manufacturing a semiconductor element array substrate in which a semiconductor element is formed on the processing substrate, a semiconductor element array substrate having a size larger than the diameter of a single crystal ingot is obtained, and handling in a semiconductor process is facilitated. can do.

【0015】請求項3に記載の発明は、単結晶インゴッ
トをシリコンで形成する請求項1または請求項2に記載
の半導体素子アレイ基板の製造方法としたものである。
請求項4に記載の発明は、楕円形基板の表面を単結晶シ
リコンの結晶面( 100)とする請求項3に記載の半導体
素子アレイ基板の製造方法としたものであり、良好な特
性の半導体素子を形成することができる。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the method of manufacturing a semiconductor element array substrate according to the first or second aspect, wherein the single crystal ingot is formed of silicon.
According to a fourth aspect of the present invention, the surface of the elliptical substrate is made of a single crystal silicon crystal plane ( 100) The method according to claim 3, wherein a semiconductor element having good characteristics can be formed.

【0016】請求項5に記載の発明は、半導体素子を、
アレイ部と走査回路部と信号回路部とで構成される半導
体素子アレイとする請求項1から請求項4のいずれかに
記載の半導体素子アレイ基板の製造方法としたものであ
る。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device comprising:
A method of manufacturing a semiconductor element array substrate according to any one of claims 1 to 4, wherein the semiconductor element array is a semiconductor element array including an array section, a scanning circuit section, and a signal circuit section.

【0017】以下、本発明の半導体素子アレイ基板の製
造方法を具体的な実施の形態に基づいて説明する。 (実施の形態1)本発明の実施の形態1の半導体素子ア
レイ基板は、図1に示すような製造工程に従って製造さ
れる。
Hereinafter, a method for manufacturing a semiconductor element array substrate according to the present invention will be described based on specific embodiments. (Embodiment 1) A semiconductor element array substrate according to Embodiment 1 of the present invention is manufactured according to a manufacturing process as shown in FIG.

【0018】外形がほぼ円柱形または円柱形のシリコン
で形成される単結晶インゴット1を結晶面方向(11
1)にして引き上げて形成する。単結晶インゴット1の
引き上げ方向である軸心Xと直交しない面で単結晶イン
ゴット1を切り出して、図1(a)に示すように、所定
の結晶面としての結晶面(100)を表面とする楕円形
基板11を作製する。
The single crystal ingot 1 made of substantially cylindrical or cylindrical silicon is placed in the crystal plane direction (11
1) and formed by pulling up. The single crystal ingot 1 is cut out on a plane that is not orthogonal to the axis X that is the pulling direction of the single crystal ingot 1, and as shown in FIG. 1A, a crystal plane (100) as a predetermined crystal plane is used as a surface. An elliptical substrate 11 is manufactured.

【0019】楕円形基板11を研磨洗浄後、図1(b)
に示すように、MOS半導体技術を用いて、楕円形基板
11の上に形成し得る最大画面サイズとなるように、液
晶を駆動する半導体素子としてのアクティブ素子を複数
配列したアレイ部3と、前記アクティブ素子にそれぞれ
電気的に接続した走査回路部4ならびに信号回路部5と
を楕円形基板11の上に形成してアクティブ素子アレイ
基板が得られる。
After polishing and cleaning the elliptical substrate 11, FIG. 1 (b)
As shown in FIG. 1, an array section 3 in which a plurality of active elements as semiconductor elements for driving liquid crystal are arranged so as to have a maximum screen size that can be formed on an elliptical substrate 11 using MOS semiconductor technology, The scanning circuit section 4 and the signal circuit section 5 electrically connected to the active elements, respectively, are formed on the elliptical substrate 11 to obtain an active element array substrate.

【0020】以上のことより、単結晶インゴットの直径
より大きいサイズの半導体素子アレイ基板を得ることが
できる。具体的には、表示画面の縦横比が3対4である
通常の液晶表示パネルの場合では、単結晶インゴット1
の直径に対して約1.2倍大きいサイズのアクティブ素
子アレイ基板を得ることができる。また、縦横比が9対
16のワイド画面の場合では、単結晶インゴットの直径
に対して約1.3倍大きいサイズのアクティブ素子アレ
イ基板を得ることができる。
As described above, a semiconductor element array substrate having a size larger than the diameter of the single crystal ingot can be obtained. Specifically, in the case of a normal liquid crystal display panel in which the aspect ratio of the display screen is 3 to 4, the single crystal ingot 1
An active element array substrate having a size about 1.2 times larger than the diameter of the active element array can be obtained. In the case of a wide screen having an aspect ratio of 9 to 16, an active element array substrate having a size about 1.3 times larger than the diameter of a single crystal ingot can be obtained.

【0021】(実施の形態2)本発明の実施の形態2の
半導体素子アレイ基板は、図2に示すように、楕円形基
板11の上に複数の半導体素子アレイが形成されたもの
である。
(Embodiment 2) A semiconductor element array substrate according to Embodiment 2 of the present invention has a plurality of semiconductor element arrays formed on an elliptical substrate 11, as shown in FIG.

【0022】具体的には、実施の形態1の半導体素子ア
レイ基板の長軸方向の余剰部分に第2のアレイ部3aと
第2の走査回路部4aと第2の信号回路部5aとを形成
して、実施の形態1の半導体素子アレイより小型の半導
体素子アレイを形成したものである。
More specifically, a second array section 3a, a second scanning circuit section 4a, and a second signal circuit section 5a are formed in a surplus portion in the major axis direction of the semiconductor element array substrate of the first embodiment. Thus, a semiconductor element array smaller than the semiconductor element array of the first embodiment is formed.

【0023】実施の形態1と同様に楕円形基板11を作
製し、研磨洗浄する。MOS半導体技術を用いて、楕円
形基板11の上に形成し得る最大画面サイズのアレイ部
3と走査回路部4ならびに信号回路部5で構成されるア
クティブ素子アレイを楕円形基板11の中央部分に形成
するとともに、第2のアレイ部3aおよび第2の走査回
路部4aおよび第2の信号回路部5aで構成される小型
のアクティブ素子アレイを楕円形基板11の長軸方向の
余剰部分の2箇所に形成する。
An elliptical substrate 11 is manufactured and polished and cleaned in the same manner as in the first embodiment. Using the MOS semiconductor technology, an active element array composed of an array unit 3, a scanning circuit unit 4, and a signal circuit unit 5 having the maximum screen size that can be formed on the elliptical substrate 11 is placed at the center of the elliptical substrate 11. In addition, a small-sized active element array composed of the second array section 3a, the second scanning circuit section 4a, and the second signal circuit section 5a is formed in two places in a surplus portion in the major axis direction of the elliptical substrate 11. Formed.

【0024】以上のことより、楕円形基板11の余剰部
分にその余剰部分に相当する半導体素子アレイを形成す
ることで、楕円形基板11の全面を有効に利用すること
ができる。
As described above, the entire surface of the elliptical substrate 11 can be effectively used by forming the semiconductor element array corresponding to the surplus portion on the extra portion of the elliptical substrate 11.

【0025】また、この実施の形態2では、楕円形基板
11の上で最大画面サイズの半導体素子アレイの1面と
その両側に小型の半導体素子アレイの2面の合計3面形
成しているが、楕円形基板11の全面を有効に利用でき
る面取りであればどのような組み合わせでもよく、小型
の半導体素子アレイのみを多数形成する面取り構成とし
てもよい。
Further, in the second embodiment, a total of three surfaces are formed on the elliptical substrate 11, one surface of the semiconductor element array having the maximum screen size and two surfaces of the small semiconductor element array on both sides thereof. Any combination of chamfers that can effectively use the entire surface of the elliptical substrate 11 may be used, and a chamfer configuration in which only a small number of semiconductor element arrays are formed may be used.

【0026】(実施の形態3)本発明の実施の形態3の
半導体素子アレイ基板は、図3に示すように、実施の形
態1の楕円形基板11の長軸方向の端部を除去した加工
基板11aにアレイ部3と走査回路部4ならびに信号回
路部5とで構成される半導体素子アレイを形成したもの
である。
(Embodiment 3) As shown in FIG. 3, a semiconductor element array substrate according to Embodiment 3 of the present invention is formed by removing an end of the elliptical substrate 11 of Embodiment 1 in the major axis direction. A semiconductor element array including an array section 3, a scanning circuit section 4, and a signal circuit section 5 is formed on a substrate 11a.

【0027】図3(a)に示すように、実施の形態1と
同様に単結晶インゴット1から楕円形基板11を作製す
る。図3(b)に示すように、楕円形基板11の長軸方
向の液晶表示パネルを形成しない部分である端部11b
を削除し、加工基板11aを作製する。次に、加工基板
11aを研磨洗浄後、加工基板11aの上にMOS半導
体技術を用いて、図3(c)に示すように、半導体素子
としてのアクティブ素子を液晶駆動用に複数配列したア
レイ部3と走査回路部4ならびに信号回路部5を形成し
アクティブ素子アレイ基板を製造する。
As shown in FIG. 3A, an elliptical substrate 11 is manufactured from a single crystal ingot 1 as in the first embodiment. As shown in FIG. 3B, an end portion 11b which is a portion where the liquid crystal display panel in the major axis direction of the elliptical substrate 11 is not formed.
Is deleted, and the processed substrate 11a is manufactured. Next, after the processing substrate 11a is polished and cleaned, as shown in FIG. 3C, an array section in which a plurality of active elements as semiconductor elements are arranged for driving a liquid crystal using the MOS semiconductor technology on the processing substrate 11a. 3 and the scanning circuit section 4 and the signal circuit section 5 are formed to manufacture an active element array substrate.

【0028】以上のことより、表示画面の縦横比が3対
4である通常の液晶表示パネルの場合では、単結晶イン
ゴットの直径に対して約1.2倍大きいサイズ(縦横比
が9対16のワイド画面の場合では、単結晶インゴット
の直径に対して約1.3倍大きいサイズ)のアクティブ
素子アレイ基板を得ることができるとともに、加工基板
11aの中心を通る任意の軸に対する対称性が楕円形基
板11に比べて増すことから、レジストの回転塗布に代
表される半導体プロセスの多くの工程での取扱いを容易
にすることができる。
As described above, in the case of a normal liquid crystal display panel in which the aspect ratio of the display screen is 3 to 4, the size is about 1.2 times larger than the diameter of the single crystal ingot (the aspect ratio is 9:16). In the case of the wide screen, an active element array substrate having a size about 1.3 times larger than the diameter of the single crystal ingot can be obtained, and the symmetry with respect to an arbitrary axis passing through the center of the processing substrate 11a is elliptical. Since the number is increased as compared with the shaped substrate 11, handling in many steps of a semiconductor process represented by spin coating of a resist can be facilitated.

【0029】また、この実施の形態3では、加工基板を
楕円形基板の上に形成し得る最大画面サイズの1面取り
としたが、その他の面取りとした場合であっても、半導
体プロセスでの取扱いの観点から不必要な端部を削除し
たものであれば、半導体プロセス工程での取扱いを容易
にすることができる。
Further, in the third embodiment, the processing substrate is one chamfer having the maximum screen size that can be formed on the elliptical substrate. If unnecessary end portions are removed from the viewpoint of the above, handling in a semiconductor process can be facilitated.

【0030】各実施の形態では、単結晶インゴットの引
き上げ方向を(111)方向とし、結晶面(100)を
有する楕円形基板を切り出したが、楕円形基板は所望の
液晶表示パネルに必要とされる半導体素子の特性が得ら
れればよく、結晶面(100)以外の面方位で切り出し
た任意の楕円形のものとしてもよい。
In each of the embodiments, the pulling direction of the single crystal ingot is set to the (111) direction, and an elliptical substrate having a crystal plane (100) is cut out. The elliptical substrate is required for a desired liquid crystal display panel. Any elliptical shape may be used as long as the characteristics of the semiconductor element can be obtained.

【0031】なお、各実施の形態では、MOS半導体技
術を用いて半導体素子を形成しているが、バイポーラ半
導体技術やこれらを混合したシリコン半導体技術を用い
た場合であっても、大型モニタサイズの半導体素子アレ
イ基板を得ることができる。
In each of the embodiments, the semiconductor element is formed by using the MOS semiconductor technology. However, even in the case of using the bipolar semiconductor technology or the silicon semiconductor technology in which these are mixed, a large monitor size is required. A semiconductor element array substrate can be obtained.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上のように本発明の半導体素子アレイ
基板の製造方法によれば、所定方向に引き上げてほぼ円
柱形または円柱形の単結晶インゴットを形成し、前記単
結晶インゴットの引き上げ方向である軸心と直交しない
面で前記単結晶インゴットを切り出して所定の結晶面を
表面とする楕円形基板を作製し、前記楕円形基板の上に
半導体素子を形成することにより、従来のように単結晶
インゴットの直径サイズ以下の大きさの半導体素子アレ
イ基板しか製造できないという制限を受けることなく、
前記単結晶インゴットの直径より大きいサイズの半導体
素子アレイ基板を得ることができ、この半導体素子アレ
イ基板を使用することで大型モニタサイズの液晶表示パ
ネルを実現することができる。
As described above, according to the method of manufacturing a semiconductor element array substrate of the present invention, a substantially cylindrical or columnar single crystal ingot is formed by pulling in a predetermined direction, and the single crystal ingot is pulled in the pulling direction of the single crystal ingot. The single crystal ingot is cut out on a plane that is not perpendicular to a certain axis to produce an elliptical substrate having a predetermined crystal plane as a surface, and a semiconductor element is formed on the elliptical substrate to obtain a single crystal as in the conventional case. Without being restricted to being able to manufacture only semiconductor element array substrates of a size less than the diameter size of the crystal ingot,
A semiconductor element array substrate having a size larger than the diameter of the single crystal ingot can be obtained, and a large monitor size liquid crystal display panel can be realized by using the semiconductor element array substrate.

【0033】また、楕円形基板の半導体素子アレイを形
成していない不必要な端部を削除して加工基板を作製す
ることにより、前記と同様の効果を有するとともに、半
導体プロセス工程での取扱いを容易にすることができ
る。
Further, by removing unnecessary ends of the elliptical substrate on which the semiconductor element array is not formed to produce a processed substrate, the same effect as described above can be obtained and the handling in the semiconductor process can be improved. Can be easier.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態1の半導体素子アレイ基板
の製造工程図
FIG. 1 is a manufacturing process diagram of a semiconductor element array substrate according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態2の半導体素子アレイ基板
の平面図
FIG. 2 is a plan view of a semiconductor element array substrate according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態3の半導体素子アレイ基板
の製造工程図
FIG. 3 is a manufacturing process diagram of a semiconductor element array substrate according to a third embodiment of the present invention.

【図4】従来のアクティブ素子アレイ基板の製造工程図FIG. 4 is a manufacturing process diagram of a conventional active element array substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 単結晶インゴット 3 アレイ部 3a 第2のアレイ部 4 走査回路部 4a 第2の走査回路部 5 信号回路部 5a 第2の信号回路部 11 楕円形基板 11a 加工基板 11b 端部 X 単結晶インゴットの軸心 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Single crystal ingot 3 Array part 3a Second array part 4 Scanning circuit part 4a Second scanning circuit part 5 Signal circuit part 5a Second signal circuit part 11 Elliptical substrate 11a Processing substrate 11b End part X Single crystal ingot Shaft center

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板間に液晶を充填した液晶表示パネルに
使用する前記基板を製造するに際し、 外形がほぼ円柱形または円柱形の単結晶インゴットを形
成し、 前記単結晶インゴットの軸心と直交しない面で前記単結
晶インゴットを切り出して所定の結晶面を表面とする楕
円形基板を作製し、 前記楕円形基板の上に半導体素子を形成する半導体素子
アレイ基板の製造方法。
In manufacturing a substrate used for a liquid crystal display panel in which liquid crystal is filled between substrates, a single crystal ingot having a substantially cylindrical or cylindrical outer shape is formed, and the axis is orthogonal to the axis of the single crystal ingot. A method for manufacturing a semiconductor element array substrate, wherein the single crystal ingot is cut out on a surface not to be formed, an elliptical substrate having a predetermined crystal plane as a surface is produced, and a semiconductor element is formed on the elliptical substrate.
【請求項2】基板間に液晶を充填した液晶表示パネルに
使用する前記基板を製造するに際し、 外形がほぼ円柱形または円柱形の単結晶インゴットを形
成し、 前記単結晶インゴットの軸心と直交しない面で前記単結
晶インゴットを切り出して所定の結晶面を表面とする楕
円形基板を作製し、 前記楕円形基板を目的形状に裁断加工して加工基板を形
成し、 前記加工基板の上に半導体素子を形成する半導体素子ア
レイ基板の製造方法。
2. A method for manufacturing a substrate for use in a liquid crystal display panel in which liquid crystal is filled between substrates, the method comprising forming a substantially single-crystal or cylindrical single-crystal ingot having an outer shape perpendicular to an axis of the single-crystal ingot. Cutting out the single crystal ingot on a surface not to be formed to produce an elliptical substrate having a predetermined crystal surface as a surface, cutting the elliptical substrate into a target shape to form a processed substrate, and forming a semiconductor on the processed substrate A method for manufacturing a semiconductor element array substrate for forming an element.
【請求項3】 単結晶インゴットをシリコンで形成する
請求項1または請求項2に記載の半導体素子アレイ基板
の製造方法。
3. The method for manufacturing a semiconductor element array substrate according to claim 1, wherein the single crystal ingot is formed of silicon.
【請求項4】 楕円形基板の表面を単結晶シリコンの結
晶面( 100)とする請求項3に記載の半導体素子アレイ
基板の製造方法。
4. The method according to claim 1, wherein the surface of the elliptical substrate is formed by a single crystal silicon The method for manufacturing a semiconductor element array substrate according to claim 3, wherein 100).
【請求項5】 半導体素子を、アレイ部と走査回路部と
信号回路部とで構成される半導体素子アレイとする請求
項1から請求項4のいずれかに記載の半導体素子アレイ
基板の製造方法。
5. The method for manufacturing a semiconductor element array substrate according to claim 1, wherein the semiconductor element is a semiconductor element array including an array section, a scanning circuit section, and a signal circuit section.
JP9343497A 1997-12-15 1997-12-15 Manufacturing method for semiconductor element array substrate Pending JPH11174425A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9343497A JPH11174425A (en) 1997-12-15 1997-12-15 Manufacturing method for semiconductor element array substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9343497A JPH11174425A (en) 1997-12-15 1997-12-15 Manufacturing method for semiconductor element array substrate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11174425A true JPH11174425A (en) 1999-07-02

Family

ID=18361979

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9343497A Pending JPH11174425A (en) 1997-12-15 1997-12-15 Manufacturing method for semiconductor element array substrate

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11174425A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009283677A (en) * 2008-05-22 2009-12-03 Sumco Corp Semiconductor wafer and method of manufacturing the same
JP2014112671A (en) * 2012-11-09 2014-06-19 Citizen Finetech Miyota Co Ltd Processing method for substrate, and manufacturing method for liquid crystal display panel using the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009283677A (en) * 2008-05-22 2009-12-03 Sumco Corp Semiconductor wafer and method of manufacturing the same
JP2014112671A (en) * 2012-11-09 2014-06-19 Citizen Finetech Miyota Co Ltd Processing method for substrate, and manufacturing method for liquid crystal display panel using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3682296B2 (en) Integrated micromechanical sensor element
US9923040B2 (en) Array substrate and display device
JPH10214974A (en) Semiconductor device and its fabrication
US6413838B2 (en) Manufacturing method of display device
CN103135276A (en) Method of fabricating lightweight and thin liquid crystal display
JP4437337B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device
JPH11174425A (en) Manufacturing method for semiconductor element array substrate
CN1215358C (en) Electro-optical panel, electronic apparatus and method for mfg. electro-optical panel
JP2561735B2 (en) Liquid crystal display manufacturing method
US6558988B1 (en) Method for manufacturing crystalline semiconductor thin film and thin film transistor
JP2000029061A (en) Liquid crystal display device and its production
JP2005173539A (en) In-plane switching liquid crystal display device and method of fabricating the same
JPH07218883A (en) Production of liquid crystal display device
JP2003015111A (en) Manufacturing method for planar display device
JPS63225229A (en) Thin-film transistor array
JPH05249496A (en) Substrate for liquid crystal display and its production
JPH05165413A (en) Display device
KR20060078699A (en) Substrate having locally integrated single crystalline silicon layer and fabrication method thereof
JPS6088985A (en) Matrix type liquid crystal display panel
JP2000010111A (en) Production of electrode substrate
JPH09223667A (en) Laminated substrate and its manufacturing method
JP2001298345A (en) Ultrathin plate crystal element and production method therefor
JPH07254355A (en) Field emission cold-cathode array
JPH05249497A (en) Substrate for liquid crystal display and its production
JPH03249625A (en) Repairing method for defect of active matrix substrate

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040525