JPH11168110A - ボンディングヘッドユニット - Google Patents

ボンディングヘッドユニット

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JPH11168110A
JPH11168110A JP34725597A JP34725597A JPH11168110A JP H11168110 A JPH11168110 A JP H11168110A JP 34725597 A JP34725597 A JP 34725597A JP 34725597 A JP34725597 A JP 34725597A JP H11168110 A JPH11168110 A JP H11168110A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ボンディングヘッドの回動を許容した状態
で、ボンディングヘッドの下端部を効率よく加熱するこ
とができるボンディングヘッドユニットを提供すること
を目的とする。 【解決手段】 半導体チップAを吸着すると共にこれを
ヒートシンクBにボンディングするボンディングヘッド
21と、ボンディングヘッド21を回転自在に支持する
ヘッドホルダ22と、ボンディングヘッド21の下端部
を囲繞するようにヘッドホルダ22に設けられ、ボンデ
ィングヘッド21の下端部41aを加熱するヘッドヒー
タ44と、ヘッドヒータ44とボンディングヘッド21
の下端部41aとの間に構成された間隙46に、対流ガ
スを吹き込む対流ガス導入手段47,48,49とを備
えたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、チップ実装装置
(ダイボンダ)において、ピックアップした半導体チッ
プを加熱した状態で、ハンダを塗着した基板やヒートシ
ンクなどにボンディングするボンディングヘッドユニッ
トに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のボンディングヘッドユニ
ットとして、特開平5−218114号公報に記載のも
のが知られている。このボンディングヘッドユニット
は、半導体チップを基板などにボンディングするボンデ
ィングヘッドと、ボンディングヘッドを回転自在に支持
するヘッドホルダと、ヘッドホルダに取り付けられ、ボ
ンディングヘッドの下端部を加熱するヘッドヒータとを
備えている。ヘッドヒータはコイル状に巻回され、ボン
ディングヘッドの下端部を、所定の間隙を存して囲繞す
るように配設されている。また、この間隙は、上端およ
び下端が端板により閉塞されていて、加熱室を構成して
いる。このように、ヘッドヒータが、これを回動自在に
支持するヘッドホルダに設けられることにより、ボンデ
ィングヘッドの頻繁な回転動作を許容した状態で、ボン
ディングヘッドを介して、これに吸着した半導体チップ
の加熱できるようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このように従来のボン
ディングヘッドユニットでは、ボンディングヘッド下端
部の外周面と、ヘッドヒータの内周面とが、間隙を存し
て対峙しているため、ヘッドヒータの放射により、ボン
ディングヘッドの下端部を加熱することができるもの
の、ヘッドヒータの対流による加熱は、加熱室内の自然
対流に委ねられるため、全体として加熱効率が低下する
問題があった。
【0004】本発明は、ボンディングヘッドの回動を許
容した状態で、ボンディングヘッドの下端部を効率よく
加熱することができるボンディングヘッドユニットを提
供することをその目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明のボンディングヘ
ッドユニットは、半導体チップを吸着すると共にこれを
被ボンディング対象物にボンディングするボンディング
ヘッドと、ボンディングヘッドを回転自在に支持するヘ
ッドホルダと、ボンディングヘッドの下端部を囲繞する
ようにヘッドホルダに設けられ、ボンディングヘッドの
下端部を加熱するヘッドヒータと、ヘッドヒータとボン
ディングヘッドの下端部との間に構成された間隙に、対
流ガスを吹き込む対流ガス導入手段とを備えたことを特
徴とする。
【0006】この構成によれば、対流ガス導入手段によ
り、対流ガスをヘッドヒータとボンディングヘッドの下
端部との間に構成された間隙に吹き込むことで、間隙内
に対流ガスを強制対流させることができる。このため、
ヘッドヒータからボンディングヘッドの下端部への熱の
伝搬が促進される。なお、対流を促進させるため、間隙
に吹き込まれる対流ガスの流速は十分に遅いものとなる
ことは、いうまでもない。
【0007】この場合、対流ガスが窒素ガスであること
が、好ましい。
【0008】この構成によれば、間隙内において強制対
流を為し間隙の下側から流出する窒素ガスは、半導体チ
ップをボンディングする際に、半導体チップおよび被ボ
ンディング対象物を覆うように流出する。したがって、
酸化を嫌うボンディングにおいては、この窒素ガスが酸
化防止の機能を奏することになる。
【0009】これらの場合、対流ガス導入手段は、間隙
の上部から対流ガスをほぼ水平方向に吹込み可能なガス
導入口を有することが、好ましい。
【0010】この構成によれば、入口となる間隙の上部
から出口となる間隙の下部に向かって、対流ガスが螺旋
状に流れることになり、間隙内における対流ガスの滞留
時間が長くなると共に、対流ガスと、ヘッドヒータおよ
びボンディングヘッドの下端部の接触が促進され、熱の
伝搬が促進される。
【0011】これらの場合、ボンディングヘッドの下端
部の外周面には、凹凸状の熱吸収部が形成されているこ
とが、好ましい。
【0012】この構成によれば、熱吸収部により、ボン
ディングヘッド下端部の外周面の表面積(接触面積)が
大きくなり、熱吸収が促進される。
【0013】この場合、熱吸収部は、外周面に螺刻した
ねじ山であることが好ましい。
【0014】この構成によれば、ボンディングヘッドの
下端部の外周面に熱吸収部を簡単に形成することができ
る。また、対流ガスは、ねじ山に沿って渦流を構成しな
がら流れるため、より一層、熱吸収が促進される。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明の一実施形態に係るボンディングヘッドユニットを搭
載したチップ実装装置について説明する。図1はチップ
実装装置の正面図であり、同図に示すように、このチッ
プ実装装置1は、ヒートシンク供給装置2とボンディン
グ装置3とマウント装置4とで構成されている。ヒート
シンク供給装置2は、いわゆるパーツフィーダであり、
被ボンディング対象物であるヒートシンクを、整列させ
1つずつボンディング装置3に送り込む。ボンディング
装置3は、外部から供給された半導体チップを、ヒート
シンク供給装置2から供給されたヒートシンク上に、ハ
ンダを介してボンディングし、続くマウント装置4に送
り込む。
【0016】図1の正面図および図2の側面図に示すよ
うに、ボンディング装置3は、キャビネット5内に、ヒ
ートシンク供給装置2からマウント装置4に向かってほ
ぼ水平に延びるヒートシンク用の搬送路6を備えると共
に、この搬送路6に臨むように2組のダイボンダ3a,
3aを備えている。搬送路6は、搬送路ユニット7の上
部に組み込まれ、ヒートシンクを加熱すべく、常に加熱
されている。また、ヒートシンクは、ヒートシンク搬送
装置8により、搬送路6上を連続的に間欠送りされ、そ
れぞれのダイボンダ3a,3aに1個ずつほぼ同時に供
給される。
【0017】各ダイボンダ3aは、ハンダ供給部11と
ダイ供給部12とプリアライメント部13とボンディン
グ部14とを有している。ハンダ供給部11は、シリン
ジを用いたディスペンサ形式のものであり、搬送路6を
介して加熱されたヒートシンクの上面にハンダを塗布す
る。搬送路6は閉蓋されており、その内部は窒素ガスや
水素ガスの雰囲気で満たされ、ハンダの酸化が防止され
るようになっている。
【0018】半導体チップは、半導体ウェーハをダイシ
ングした状態で供給される場合と、ダイシング後分離し
て専用トレイに収容た状態で供給される場合とがある
が、ダイ供給部12は、半導体チップを1つずつピック
アップして、プリアライメント部13に送る。プリアラ
イメント部13では、半導体チップの欠け等に基づく不
良品の選別などが行われる。このようにして供給された
半導体チップはボンディング部14のボンディングヘッ
ドユニット9に受け渡され、搬送路6上をヒートシンク
搬送装置8により搬送されてきたヒートシンクにボンデ
ィングされる。
【0019】ここで図2を参照して、ボンディングヘッ
ドユニット9について詳細に説明する。同図に示すよう
に、ボンディングヘッドユニット9は、半導体チップA
を吸着すると共にこれをヒートシンクBにボンディング
するボンディングヘッド21と、ボンディングヘッド2
1を上下方向に摺動自在に且つ回動自在に保持するヘッ
ドホルダ22と、ボンディングヘッド21を正逆回転さ
せるモータ23とを備えている。この場合、ヘッドホル
ダ22は、XYテーブルに取り付けた昇降機構(いずれ
も図示せず)の下端部に固定されており、ボンディング
ヘッドユニット9は、全体としてX方向、Y方向および
Z方向に移動可能に構成されている。
【0020】ヘッドホルダ22には、これを貫通するよ
うにボールブシュ24が固定されており、ボールブシュ
24には、ボンディングヘッド21が上下方向に摺動自
在に且つ回転自在に支持されている。ボールブシュ24
の上端部には、上下2個の軸受25,25を介して第1
マグネットホルダ26が回転自在に取り付けられてい
る。第1マグネットホルダ26の上側には第2マグネッ
トホルダ27が配設され、第2マグネットホルダ27は
ボンディングヘッド21に固定されている。
【0021】この場合、第1マグネットホルダ26には
第1マグネット28が埋め込まれ、第2マグネットホル
ダ27には第2マグネット29が埋め込まれていて、両
マグネット28,29は同極同士を対面させるように配
設されている。これにより、両マグネット28,29間
に反発力が生じ、第2マグネット29を介してボンディ
ングヘッド21が浮いた状態となって、ボンディングヘ
ッド21の自重を考慮することなく、ボンディング圧を
付与できるようになっている。
【0022】また、第2マグネットホルダ27の上側に
は、第3マグネット30を埋め込んだ第3マグネットホ
ルダ31が配設されている。第3マグネットホルダ31
は、中間部でホルダ支持アーム32に回動自在に取り付
けられており、ホルダ支持アーム32はヘッドホルダ2
2に立設した支持部材33に取り付けられている。この
場合も、第2マグネット29と第3マグネット30は、
同極同士を対面させるように配設されている。また、支
持部材33の上面には、ロードセル34が上向きに取り
付けられており、ロードセル34には、第3マグネット
ホルダ31の延設片31aの下面が当接している。
【0023】図外の昇降装置により、ボンディングヘッ
ドユニット9全体が下降して、半導体チップAがヒート
シンクBに接触(当接)すると、ヘッドホルダ22に対
しボンディングヘッド21が相対的に上昇する。する
と、ボンディングヘッド21に固定されている第2マグ
ネット29が、第3マグネット30に接近して反発力を
受ける。この反発力は、ボンディング圧として、第3マ
グネットホルダ31を介してロードセル34で検出され
る。すなわち、ボンディングヘッドユニット9の下降が
進んで、ロードセル34が所定のボンディング圧を検出
したところで、昇降装置が停止し、ヒートシンクBに対
する半導体チップAの適切なボンディングが行われる。
【0024】一方、第1マグネットホルダ26の下部に
は、下側から従動プーリ36が嵌着されており、またこ
れに対応する主動プーリ37が、モータ23の主軸23
aに固定されている。主動プーリ37と従動プーリ36
との間には、ベルト38が掛け渡されており、モータ2
3の回転により、ベルト38を介して第1マグネットホ
ルダ26がボールブシュ24廻りに回転する。また、第
1マグネットホルダ26と第2マグネットホルダ27と
の間には、図示しないが係合部材が介設されており、こ
の係合部材により、第2マグネットホルダ27が第1マ
グネットホルダ26と連れ廻りすると共に、独自に上下
するようになっている。
【0025】すなわち、ボンディングの際には、第2マ
グネットホルダ27を介して、ボンディングヘッド21
が独自に上下し、第1マグネットホルダ26が回転する
ときには、第2マグネットホルダ27を介して、ボンデ
ィングヘッド21が回転する。したがって、モータ23
の正逆回転により、第1マグネットホルダ26および第
2マグネットホルダ27を介して、ボンディングヘッド
21が回転し、半導体チップAの水平面内におけるボン
ディング角度が補正および調整できるようになってい
る。
【0026】ボンディングヘッド21は、半導体チップ
Aを吸着するコレット40と、コレット40を保持する
コレットホルダ41とで構成されている。コレット40
およびコレットホルダ41の軸心には吸引通路42がそ
れぞれ形成されており、吸引通路42はコレットホルダ
41の上端部に接続した吸引パイプ43に連通してい
る。コレットホルダ41の下端部には、これを囲繞する
ようにヒータ44が配設されている。ヒータ44は、ヘ
ッドホルダ22の下端に垂設したヒーターハウジング4
5の内周面に装着されている。この場合、コレット40
に吸着された半導体チップAは、このヒータ44により
加熱され、またヒートシンクBは搬送路Cに添設した図
外のヒータにより加熱されていて、ボンディングの際
に、ヒートシンクB上に塗着したハンダを介して、半導
体チップAがヒートシンクBに良好にボンディングされ
るようになっている。
【0027】ヒータ44は、右巻きにコイル状に巻回し
たシーズヒータで構成されており、わずかな間隙46を
存してコレットホルダ41の下端部に対峙している。こ
れに対応して、コレットホルダ41の下端部41aの外
周面には、吸熱効率を高めるべく右ねじのねじ山41b
が螺刻されていている。一方、ヒーターハウジング45
には、上記の間隙46に、窒素ガスを導入するガス導入
口47が形成されている。ガス導入口47は水平に延び
ており、間隙46の上部に連通している。ガス導入口4
7にはガスパイプ48が接続され、ガスパイプ48はガ
ス供給装置49に接続されている。ガス供給装置49か
らガスパイプ48を介して供給された窒素ガスは、間隙
46の上部から流入し、間隙46内をゆっくり流れて、
ヒーターハウジング45の下端から下方に向かって流下
する。すなわち、ガス導入口47、ガスパイプ48およ
びガス供給装置49により、対流ガス導入手段が構成さ
れている。
【0028】この場合、水平面内において、ガス導入口
47を上記間隙46の接線方向(右巻き)から接続する
ことがより好ましい。このようにすれば、窒素ガスは、
右巻きのヒータ44および右ねじのねじ山41bが螺刻
されたコレットホルダ41の外周面に沿って、間隙46
内を螺旋を描きながらてゆっくり流れる。これにより、
窒素ガスを熱媒体として、ヒータ44とコレットホルダ
41の下端部41aとの間で、効率良く熱交換が行われ
る。なお、窒素ガスに代えて水素ガスを用いてもよい。
また、コレットホルダ41の下端部41aの外周面に、
ねじに代えてフィン状の突部を形成してもよい。いずれ
にしても、コレットホルダ41の外周面に凹凸を設ける
ことで、窒素ガスとの接触面積を大きくすることができ
る。
【0029】このように、間隙46に流入した窒素ガス
は、強制対流となって、ヒータ44の熱をコレットホル
ダ41に効率良く伝搬する。また、コレットホルダ41
に吸収されたヒータ44の熱は、コレット40を介して
半導体チップAを加熱する。さらに、間隙46に流入し
た窒素ガスは、ヒートシンクB側に流下し、ハンダの酸
化を抑制する。なお、図中の符号Dは、搬送路Cを覆う
カバーである。
【0030】以上のように本実施形態によれば、ヒータ
44の熱を、間隙46を隔てて対峙するコレットホルダ
41に伝搬させるのに、窒素ガスによる強制対流を積極
的に利用するようにしているため、半導体チップAを短
時間で効率良く加熱することができる。また、コレット
ホルダの下端部に、ヒータを直接設ける従来のもののよ
うに、ボンディングヘッドの回転によるヒータケーブル
の損傷などの支障を生ずることがない。
【0031】なお、本実施形態では、強制対流を発生さ
せるために、間隙に窒素ガスを吹き込むようにしている
が、単に空気を吹き込むようにしてもよい。また、ヒー
タをコレットの部分まで下側に延長するようにしてもよ
い。
【0032】
【発明の効果】以上のように本発明のボンディングヘッ
ドユニットによれば、間隙内に対流ガスを強制対流させ
ることができため、ヘッドヒータからボンディングヘッ
ド、ひいてはこれに吸着される半導体チップへの熱の伝
搬が促進され、ボンディングヘッドの回動を許容した状
態で、半導体チップを効率よく加熱することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係るボンディングヘッド
ユニットが搭載されたチップ実装装置の正面図である。
【図2】実施形態に係るボンディングヘッドユニットの
一部裁断側面図である。
【符号の説明】
1 チップ実装装置 3 ボンディング装置 9 ボンディングヘッドユニット 21 ボンディングヘッド 22 ヘッドホルダ 40 コレット 41 コレットホルダ 41a 下端部 41b ねじ山 44 ヒータ 45 ヒータハウジング 46 間隙 47 ガス導入口 48 ガスパイプ 49 ガス供給装置 A 半導体チップ B ヒートシンク

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップを吸着すると共にこれを被
    ボンディング対象物にボンディングするボンディングヘ
    ッドと、 前記ボンディングヘッドを回転自在に支持するヘッドホ
    ルダと、 前記ボンディングヘッドの下端部を囲繞するように前記
    ヘッドホルダに設けられ、当該ボンディングヘッドの下
    端部を加熱するヘッドヒータと、 前記ヘッドヒータと前記ボンディングヘッドの下端部と
    の間に構成された間隙に、対流ガスを吹き込む対流ガス
    導入手段とを備えたことを特徴とするボンディングヘッ
    ドユニット。
  2. 【請求項2】 前記対流ガスが窒素ガスであることを特
    徴とする請求項1に記載のボンディングヘッドユニッ
    ト。
  3. 【請求項3】 前記対流ガス導入手段は、前記間隙の上
    部から前記対流ガスをほぼ水平方向に吹込み可能なガス
    導入口を有することを特徴とする請求項1または2に記
    載のボンディングヘッドユニット。
  4. 【請求項4】 前記ボンディングヘッドの下端部の外周
    面には、凹凸形状の熱吸収部が形成されていることを特
    徴とする請求項1、2または3に記載のボンディングヘ
    ッドユニット。
  5. 【請求項5】 前記熱吸収部は、前記外周面に螺刻した
    ねじ山であることを特徴とする請求項4に記載のボンデ
    ィングヘッドユニット。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006303060A (ja) * 2005-04-19 2006-11-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd ボンディング装置およびボンディングヘッドならびに電子部品のボンディング方法
JP2010050465A (ja) * 2009-09-11 2010-03-04 Tdk Corp 超音波振動を用いて実装部品を被実装部品に実装する実装装置
CN106229277A (zh) * 2016-08-05 2016-12-14 深圳清华大学研究院 一种贴片机及贴片方法
CN106229275A (zh) * 2016-08-05 2016-12-14 深圳清华大学研究院 一种贴片机及贴片方法
WO2018023962A1 (zh) * 2016-08-05 2018-02-08 深圳瑞波光电子有限公司 一种贴片机及贴片方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006303060A (ja) * 2005-04-19 2006-11-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd ボンディング装置およびボンディングヘッドならびに電子部品のボンディング方法
JP4525439B2 (ja) * 2005-04-19 2010-08-18 パナソニック株式会社 ボンディング装置およびボンディングヘッドならびに電子部品のボンディング方法
JP2010050465A (ja) * 2009-09-11 2010-03-04 Tdk Corp 超音波振動を用いて実装部品を被実装部品に実装する実装装置
CN106229277A (zh) * 2016-08-05 2016-12-14 深圳清华大学研究院 一种贴片机及贴片方法
CN106229275A (zh) * 2016-08-05 2016-12-14 深圳清华大学研究院 一种贴片机及贴片方法
WO2018023962A1 (zh) * 2016-08-05 2018-02-08 深圳瑞波光电子有限公司 一种贴片机及贴片方法

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