JPH11166830A - 測量用反射部材 - Google Patents
測量用反射部材Info
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- JPH11166830A JPH11166830A JP9335950A JP33595097A JPH11166830A JP H11166830 A JPH11166830 A JP H11166830A JP 9335950 A JP9335950 A JP 9335950A JP 33595097 A JP33595097 A JP 33595097A JP H11166830 A JPH11166830 A JP H11166830A
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- G02B5/12—Reflex reflectors
- G02B5/122—Reflex reflectors cube corner, trihedral or triple reflector type
Abstract
んだ光波測距儀とともに用いられる場合に、視準望遠鏡
用オートフォーカス機構が反射プリズムに写る光波測距
儀自身にピントを合わせてしまうことを防止できる反射
プリズムを提供する。 【解決手段】 コーナーキューブ21の入射面21aの
前面に、赤外光を透過し、可視光を遮断するフィルタ3
0を設けた。また、フィルタ30の外側面30aには、
その入射面21aの中心を示す十字線32を設けた。
Description
反射部材に関する。
る測量器機として、従来より光波測距儀などの測距儀が
一般的に用いられている。また、電子セオドライトのよ
うな測角器と一体に組み合わされたトータルステーショ
ンも広く使用されている。
以下に示す。まず、測定の基準点(以下、測点と表記す
る)となる位置に設置された光波測距儀からは、振幅変
調された赤外光が出射され、その赤外光(測距用変調
光)は、測定の目標点となる位置に設置された反射プリ
ズムによって反射し、再び光波測距儀に入射する。この
ときの出射光と入射光との位相差を求めることにより、
2点間の距離を求める。作業者は、測量を行う際に、光
波測距儀に備えられた視準望遠鏡を用いて測距目標であ
る反射プリズムを視準して出射光の方向と反射プリズム
の位置とを合致させる。このような視準望遠鏡として
は、一眼レフカメラ等に用いられる位相差検出方式のオ
ートフォーカス機構を用いて視準線上の物体にピント合
わせを行うものもある。
プリズムユニットの構造を示す。図8(a)は、従来の
反射プリズムユニットの正面図であり、図8(b)は、
図8(a)のEの方向から見た側面図(但し、支持部材
34から上の部分に関しては、V−V線に沿った断面を示
す)である。反射プリズム121は、外周部材22内に
埋め込まれるように納められており、支持部材34によ
って固定されている。反射プリズム121としては、コ
ーナーキューブが最も一般的に用いられる。コーナーキ
ューブは光を入射した方向と同一方向に反射するため、
入射面が入射光に対して垂直な方向からある程度傾いて
いても測距が可能であるという利点がある。
て保持されており、整準台40上に載置されている。そ
の整準台40上には、気泡管38も載置されている。ま
た、台37の側面には求心望遠鏡36が、その接眼部が
突出するように設けられている。
(赤外光)は、反射プリズム121の入射面121aに
入射し、反射面121bで反射してその変調光の入射方
向と平行に、光波測距儀に向けて進行する。この変調光
を光波測距儀が受光し、出射光と入射光との位相差を検
出することにより2点間の距離が測定される。
オートフォーカス機構を組み込んだ光波測距儀とともに
従来の反射プリズムを用いた場合、視準望遠鏡の視準線
が反射プリズムに合致した瞬間に視準望遠鏡用オートフ
ォーカス機構が、光波測距儀と反射プリズムとの間の距
離の2倍の距離だけ離れた位置に存在している(反射プ
リズムに写った)光波測距儀の虚像にピントを合わせて
しまって、反射プリズムが見えなくなってしまう問題が
あった。
ォーカス機構を組み込んだ光波測距儀とともに用いられ
る場合に、視準望遠鏡用オートフォーカス機構が視準望
遠鏡のピントを反射プリズムに正確に合わせることがで
きる反射プリズムを提供することを、課題とする。
決するために、以下の構成を採用した。すなわち、請求
項1の発明は、入射面から入射した光を、この光が入射
した方向と同一方向に反射する反射部材と、第1波長領
域の光を透過するとともに第2波長領域の光を遮断する
ために前記反射部材の前記入射面の前面に配置された波
長選択透過層と、を備えることを特徴とする。
長領域の光を測距用変調光とし、第2波長領域の光をオ
ートフォーカス検出用の光とする光波測距儀とともに用
いた場合、測距用変調光のみを反射部材に入射させ、オ
ートフォーカス検出用の光を遮断することができる。従
って、光波測距儀のオートフォーカス機構が、反射部材
に写った光波測距儀自身にピントを合わせてしまうこと
もない。また、光波測距儀のオートフォーカス機構が前
記波長選択透過層の外縁を検出することにより、オート
フォーカス機構が組み込まれた視準望遠鏡のピントを、
正確に反射部材に合わせることができる。
第2波長領域の光は可視光とすることができる。また、
波長選択透過層は、可視光帯域の全域又は一部帯域の光
の全部又は一部のエネルギーを吸収する層とすることが
できる。この場合、吸収されなかった部分については、
波長選択透過層は、反射させても良いし透過させても良
い。
域又は一部帯域の光の全部又は一部のエネルギーを反射
する層とすることもできる。但し、エネルギーの吸収を
起こさず、可視光帯域の全域を全反射する層は、本発明
の範囲から除かれる。
部材が、前記波長選択透過層は前記光が入射する側の面
上に指示模様を備えることで特定したものである。請求
項3の発明は、請求項2の測量用反射部材が、前記指示
模様は十字線状に描かれた目盛りであることで特定した
ものである。
3のいずれかの測量用反射部材が、前記波長選択透過層
は前記入射面に対して着脱自在に装着されていることで
特定したものである。
3のいずれかの測量用反射部材が、前記波長選択透過層
は前記反射部材の入射面上に直接形成されたものである
ことで特定したものである。
5のいずれかの測量用反射部材が、前記反射部材は互い
に直角に接する3つの反射面を有するコーナーキューブ
であることで特定したものである。
6のいずれかの測量用反射部材が、前記波長選択透過層
を前記反射部材の前記入射面の前面に配置するための固
定部材をさらに備え、前記固定部材は前記波長選択透過
層に対して明度が異なる色を有していることで特定した
ものである。
のうち、第1波長領域の光をその入射方向と同一方向に
反射するとともに第2波長領域の光を透過する波長選択
反射面と、前記波長選択反射面で透過された光を吸収す
る面と、を備えることを特徴とする。
長領域の光を測距用変調光とし、第2波長領域の光をオ
ートフォーカス検出用の光とする光波測距儀とともに用
いた場合、測距用変調光のみを波長選択反射面によって
反射させ、オートフォーカス検出用の光を、光を吸収す
る面によって吸収することができる。従って、光波測距
儀のオートフォーカス機構が、反射部材に写った光波測
距儀自身にピントを合わせてしまうこともない。また、
光波測距儀のオートフォーカス機構が反射部材を検出す
ることにより、光波測距儀のオートフォーカス機構が組
み込まれた視準望遠鏡のピントを、正確に反射部材に合
わせることができる。
部材が、前記波長選択反射面はその入射面上に指示模様
を備えることで特定したものである。請求項10の発明
は、請求項8の測量用反射部材が、前記光を吸収する面
はその入射面上に指示模様を備えることで特定したもの
である。
項10の測量用反射部材が、前記指示模様は十字線状に
描かれた目盛りであることで特定したものである。請求
項12の発明は、請求項8ないし請求項11のいずれか
の測量用反射部材が、前記波長選択反射面は互いに直角
に接する3つの面からなっていることで特定したもので
ある。
項12のいずれかの測量用反射部材が、前記光を吸収す
る面は黒色塗装により形成されることで特定したもので
ある。
項13のいずれかの測量用反射部材が、前記波長選択反
射面を有する光学素子と、前記光学素子を保持するため
の固定部材とをさらに備え、前記固定部材は前記波長選
択反射面に対して明度が異なる色を有していることで特
定したものである。
項14のいずれかに記載の測量用反射部材が、前記第1
波長領域の光は赤外光であり、前記第2波長領域の光は
可視光であることで特定したものである。
光を、この光が入射した方向と同一方向に反射する反射
部材と、前記反射部材の前記入射面の前面に設けられた
指示模様と、を備えることを特徴とする。
変調光は、反射部材によって正確に光波測距儀に向けて
反射される。また、光波測距儀と反射部材との間の距離
が短ければ、光波測距儀のオートフォーカス機構に組み
込まれた撮像素子上には、指示模様が強いコントラスト
にて投影される。従って、このオートフォーカス機構
は、指示模様の背景に見える光波測距儀の像ではなく
て、この指示模様自体を検出する。そのため、オートフ
ォーカス機構が組み込まれた視準望遠鏡のピントを、正
確に反射部材に合わせることができる。
面に設けられていれば良いので、入射面上に直接描かれ
ていても良いし、入射面上に配置された透光部材の表面
に描かれていても良い。また、指示模様は、入射面の位
置を示すものであればいかなる形状のものであってもよ
い。例えば十字線であってもよいし、十字線上に目盛り
が付されたものであってもよい。また、他の指示線や幾
何学模様であってもよい。
反射部材が、前記指示模様は十字線状に描かれた目盛り
であることで特定したものである。
実施の形態を説明する。 (i)光波測距儀 本発明の反射プリズムの実施形態を説明する前に、本発
明の反射プリズムとともに用いられる視準望遠鏡用オー
トフォーカス機構を組み込んだ光波測距儀(以下、「オ
ートフォーカス光波測距儀」という)を説明する。 〈オートフォーカス光波測距儀の全体構成〉図4は、オ
ートフォーカス光波測距儀の正面図であり、図5は、図
4の左側から見た状態を示す側面図である。このオート
フォーカス光波測距儀は、取手部11,支柱部2,基台
部3,及び整準ブロック4を、図面上上方から順に積載
して構成されている。また、支柱部2に形成された略U
字状凹部2a内には、視準望遠鏡部1が回転自在に保持
されている。以下、これら各構成部分の説明を行う。
れた反射プリズムを覗くための視準望遠鏡1aを内蔵し
ており、その接眼部1b及び対物部1cが、この視準望
遠鏡部1の前後の端面から露出している。この視準望遠
鏡1aは、光波測距のための変調光(以下、「測距用変
調光」という)の送光光学系,及び受光光学系を兼ねて
いる。
凹部2a内に掛け渡された軸6によって軸支され、図4
の紙面の上下方向に沿って立てた垂直面内で回転(傾
動)可能となっている。視準望遠鏡部1と一体に回転す
る軸6の端部にはインクリメンタル方式の鉛直方向エン
コーダ7が構成されている。このエンコーダ7により、
軸6周りにおける視準望遠鏡部1と支柱部2との間の回
転角度が求められる。
ォーカス光波測距儀の使用時において鉛直方向に向けら
れる軸9によって、支柱部2の底面に軸支される。この
軸9は、軸6に直交するように配置されている。このよ
うな構成により、基台部3は、図4及び図5の紙面の左
右方向に沿って立てた面内で、支柱部2に対して回転可
能となっている。この基台部3と一体に回転する軸9の
端部にはインクリメンタル方式の水平方向エンコーダ1
0が構成されている。このエンコーダ10により、軸9
周りにおける視準望遠鏡部1と基台部3との間の回転角
度が求められる。
7及び水平方向エンコーダ10のほか、オートフォーカ
ス光波測距儀全体の制御を行うための回路を内蔵してい
る。そして、その前面及び後面には、この回路によって
出力される各種データや操作指示を表示する表示装置1
2a,12bがそれぞれ設けられている。これらの表示
装置12a,12bは共に液晶表示素子(LCD)であ
り、支柱部2の内部に設けられたバックライト14a,
14bによりそれぞれ照明される。これら各表示装置1
2a,12bの下側には、各種データや操作コマンドを
支柱部2の内部回路に入力するための入力操作部13が
設けられている。なお、支柱部2の後面に設けられた鉛
直方向微調整ネジ2bは、視準望遠鏡部1の支柱部2に
対する回転量を微調整するためのネジである。また、支
柱部2の下部近傍に設けられた水平方向微調整ネジ2c
は、支柱部2の基台部3に対する回転量を微調整するた
めのネジである。
を跨ぐように、取手部11が着脱自在に取り付けられて
いる。即ち、トータルステーションの上方に位置する地
点を測距する場合には、この取手11が測距光軸を遮っ
てしまうので、この取手11を取り外す。
4bから構成されて、下部板4bからの突出量が微調整
可能な3個の整準ネジ8をその周方向における等角度間
隔位置に有している。そして、これら整準ネジ8の突出
量を微調整することにより、上部板4aの下部板4bに
対する向き及び角度を任意に調整し、軸9を鉛直方向に
向けさせることができる。なお、基台部3と上部板4a
との間は相互に水平方向にシフト可能な求心軸受けとな
っており、軸9を所定の測点上に移動させる求心作業が
できるようになっている。図5に示すように支柱部2の
側面からその接眼部が突出するように設けられた求心望
遠鏡2dは、軸9と同軸の対物光軸を有し、上述の求心
作業を行うためのガイドとして機能する。また、上部板
4aに設けられた固定ネジ4cは、基台部3と上部板4
aとの間の動きを固定するためのネジである。
は、基台部3に対してあらゆる方向を向くことができ
る。そして、このときの視準望遠鏡1aの方向は、鉛直
方向エンコーダ7及び水平方向エンコーダ10によって
測角される。 〈視準望遠鏡の光学系〉次に、視準望遠鏡1a内の光学
構成を、図6を参照して説明する。
は、物体側から順番に、対物レンズ66,ダイクロイッ
クプリズム68,フォーカスレンズ70,AFセンサ用
ビームスプリッタ72,カバーガラス74及びピント板
76,接眼レンズ78が、同一光軸(視準線)l上に配
置されている。
(視準線)lに対して45度傾いた分離面68aが形成
されている。この分離面68aは、赤外光を100%反
射するとともに、可視光を100%透過する特性を有し
ている。
られた光軸l’上における対物レンズ66の焦点位置に
は、LEDからなる測距用光波発光素子60が配置され
ている。この測距用光波発光素子60からは、近赤外光
である750〜900nm付近の波長領域の測距用変調
光L1が、光軸l’に沿って出射される。
プリズム68との間には、光軸l’の片側において、測
距用光波発光素子60側からの光を遮光するとともにダ
イクロイックプリズム68側からの光を光軸l’に対し
て直角方向に反射するプリズム64が配置されている。
従って、測距用光波発光素子60から出射された測距用
変調光L1は、プリズム64によって一部遮断され、残
りがダイクロイックプリズム68の分離面68aによっ
て対物レンズ66側へ反射される。反射された変調光L
1は、対物レンズ66によって平行光とされ、測量目標
点に設置された反射プリズムによって、入射方向と同一
方向に反射される。反射プリズムにおいて反射された変
調光L1の反射光L2は、再度対物レンズ66を透過し、
ダイクロイックプリズム68の分離面68aによって、
光軸l’の方向へ反射される。プリズム64は、反射光
L2の一部を90度屈曲させて、対物レンズ66の焦点
位置に配置された測距用光波受光素子62に入射させ
る。測距用光波発光素子60から発光された変調光L1
と測距用光波受光素子62が受光した変調光L2との位
相差は、図示せぬ処理装置によって検出され、検出され
た位相差に基づいて2点間の距離が求められる。
70は、図示せぬレンズ駆動機構により、光軸(視準
線)l上において移動可能に設けられている。このフォ
ーカスレンズ70は、対物レンズ66とともに対物光学
系を構成し、ダイクロイックプリズム68の分離面68
aを透過した可視光L3による物体像(視準線上に存す
る物体の像)を、ピント板76近傍に形成する。
光軸(視準線)lに対して、45度傾いた分離面72a
が形成されている。この分離面72aは、入射光の一部
を反射し、残りを接眼レンズ78側に透過する特性を有
している。
した可視光L4は、焦点板74を通過し、接眼レンズ7
8に入射する。焦点板74の、対物レンズ66側の面
は、視準用の十字線が描かれたピント面74aであり、
埃等が付着しないようにカバーガラス76により保護さ
れている。ピント面74a上に結ばれた像を、作業者は
接眼レンズ78により観測する。
により反射された可視光L5は、ピント面74aと等価
な面(以下、「ピント等価面80」という)を通過し、
視路マスク82を通してAFセンサユニット81に入射
する。このAFセンサユニット81は、位相差検出方式
により、対物レンズ66およびフォーカスレンズ70に
よる物体像のピント面74a(ピント等価面80)に対
するデフォーカス量の検出を行う。すなわち、AFセン
サユニット81内では、光L5は、コンデンサレンズ8
4、絞りマスク86、セパレータレンズ88を通過する
ことにより、対物レンズ66の中心近傍の対称位置をそ
れぞれ通過した2つの光束に分割され、CCD90上の
2つの領域に物体像をそれぞれ再結像する。このCCD
90上に再結像された2つの像は、電気的な画像情報デ
ータに変換され、それらの像間隔の違いを利用してデフ
ォーカス量の演算を行う図示せぬ処理装置に入力され
る。そして、この図示せぬ処理装置によって算出された
デフォーカス量を打ち消すように、図示せぬレンズ駆動
装置がフォーカスレンズ70を光軸方向に移動させ、物
体像をピント面74aの上に結像させる。なお、各実施
形態においては、第1波長領域の光を赤外光とし、第2
波長領域の光を可視光としている。
に用いられる本発明の実施の形態である反射プリズムユ
ニットについて、説明する。 〈第1実施形態〉図1(a)は、第1実施形態による反
射プリズムユニット15の構造を示す正面図であり、図
1(b)は、図1(a)のAの方向から見た側面図(但
し、支持部材34から上の部分に関してはI−I線に沿っ
た断面を示す)である。この反射プリズムユニット15
は、反射プリズム部18,支持部材34,及び整準ブロ
ック14を、図面上上方から順に積載して構成されてい
る。以下、これら各構成部分の説明を行う。
21,このコーナーキューブ21を収容する外周部材2
2,コーナーキューブ21の入射面に重ねられて配置さ
れたフィルタ30,及び、このフィルタ30を外周部材
22に固定するための固定環26から構成されている。
記載の反射部材に該当する)の外周面は、その入射面2
1aの形状が円形となるように、円柱面状に面取りされ
ている。そして、コーナーキューブの入射面21aは、
コーナーキューブ21の背面側に形成された反射面21
bの頂点(互いに直角に接する3つの反射面の交点)を
通る中心軸o1に対して、その中心において直交してい
る。
明部材からなり、その内部にコーナーキューブ21が埋
め込まれている。より具体的に述べると、コーナーキュ
ーブ21の中心軸o1は、外周部材22の中心軸に対し
て同軸となっており、コーナーキューブ21の入射面2
1aは、外周部材22の一端面に形成された(外周部材
22全体と同軸な)円形凹部22bの底に、露出してい
る。また、外周部材22における円形凹部22bが形成
されている端面の縁には、外周部材22の中心軸o1に
直交する方向を向いた回転軸33が固着されている。
凹部22bよりも若干小径の円盤形状を有し、円形凹部
22bの深さと同一の厚さを有している。また、このフ
ィルタ30は、赤外光を透過するとともに、可視光を吸
収する性質を有している。さらに、このフィルタ30の
外表面30aには、その中心点を示す目盛付きの十字線
32(指示模様)が、白色塗料によって描かれている。
部材)26は、図1(a)に示すように、正面から見
て、左右両脇が互いに平行且つ直線状に切り欠かれた環
状形状を有している。この固定環26の外縁は、外周部
材22の外径よりも若干大径であり、その裏面26a
(外周部材22に接する面)側には、外周部材22の外
径とほぼ同じ内径を有する嵌合筒部26bが、一体に突
出形成されている(但し、固定環26両脇が直線状に切
り欠かれた部分においては、この嵌合筒部26bも欠落
している。)。この嵌合筒部26bにおける両欠落部分
の中間には、内外面を貫通するネジ孔が切られており、
このネジ孔には固定ネジ28が螺合している。
の外径とほぼ同径であり、その裏面26a側には、円形
凹部22bの内径と略同じ外径を有するフィルタ保持筒
部26cが、一体に突出形成されている。このフィルタ
保持筒部26cの幅(突出量)は、フィルタ30の厚
さ,即ち円形凹部22bの深さと略同じである。そし
て、このフィルタ保持筒部26cには、フィルタ30が
はめ込まれている。
儀のオートフォーカス機構によるフィルタ30の検出を
行いやすくするために、固定環26は、フィルタ30に
対する明度(コントラスト)が比較的大きく異なる色に
塗装されている。
26bの両欠落部分に夫々回転軸33を通しつつ、この
嵌合筒部26bを外周部材22の縁22aに嵌合させる
と、フィルタ保持筒部26cが円形凹部22b内にはま
り込み、フィルタ30がコーナーキューブ21の入射面
21aに接合される。そして、固定環26が固定ネジ2
8によって外周部材22に固定されることにより、フィ
ルタ30は、コーナーキューブ21の入射面21aに接
した状態で固定される。このようにして、フィルタ30
は、コーナーキューブ21に対して、着脱自在に装着さ
れている。 支持部材34は、正面から見てU字状に折
曲された板状部材からなり、その両端近傍に形成された
保持孔34aにて外周部材22に固定された回転軸33
を軸支することにより、反射プリズム部18を、図1
(a)の紙面の上下方向に沿って立てた垂直面内で回転
(傾動)可能に支持している。また、支持部材34の中
心には、整準ブロック14の台37の上面中心に固定さ
れた軸35が貫通している。従って、支持部材34は、
この軸35によって軸支され、図1(a)の紙面の左右
方向に沿って立てた垂直面内で回転(傾動)可能となっ
ている。なお、軸35は鉛直方向を向いており、軸33
とは互いに直交するように配置されている。このような
構成により、反射プリズム部18を、あらゆる方向に向
けることができる。
この台37を支える整準台40と、底板44とから、構
成されている。この底板44上面には、突出量が微調整
可能な3個の整準ネジ42が、その周方向における等角
度間隔位置に設けられている。従って、これら整準ネジ
42の突出量を微調整することにより、整準台40を底
板44に対して任意の角度に向けることができる。これ
により、整準台40を水平に、すなわち軸35を正確に
鉛直方向に向けることができる。なお、整準台40上に
設置された気泡管38は、この整準作業を行うためのガ
イドとして機能する。また、台37の側面からその接眼
部が突出するように設けられた求心望遠鏡36は、軸3
5と同軸の対物光軸を有している。この求心望遠鏡36
は、コーナーキューブ21を測量目標点上に正確に配置
させるための求心作業のガイドとして、機能する。
ユニット15を用いた測量の手順を、説明する。図7
は、本第1実施形態による反射プリズムユニット15と
ともにオートフォーカス光波測距儀10を用いて測量を
行っている状態を、示す。
カス光波測距儀10及び反射プリズムユニット15を、
三脚S1,S2上にそれぞれ固定する。そして、これら測
量機10を載置した三脚S1を測点P1に、反射プリズム
ユニット15を載置した三脚S2を測量目標点P2に、そ
れぞれ設置し、整準,求心作業を行う。
aがオートフォーカス光波測距儀10の方に向くよう
に、反射プリズムユニット15の反射プリズム部18を
水平、高度方向に回転させる。
に備えられた視準望遠鏡1aの向きを、反射プリズムユ
ニット15の方へ向けて、オートフォーカス光波測距儀
10のAFセンサユニット81を作動させる。すると、
フォーカスレンズ70が適宜移動され、その時点で視準
望遠鏡1aの視準線(対物レンズ66の光軸l)上に位
置する物体にピントが合わせられ、この物体がピント面
74aの十字線と重なって明瞭に見えるようになる。従
って、作業者が視準望遠鏡1aの向きを変えても、常
に、この視準望遠鏡1aの視準線上に位置する物体が明
瞭に見えるのである。
て見える像を頼りに、視準望遠鏡1aの向きを調整し
て、その視野内に反射プリズムユニット15を入れ、更
に、視野の中心(ピント面74aにおける十字線)にフ
ィルタ30の外表面30aを重ねる。
0と反射プリズムユニット15との間の距離が短けれ
ば、フィルタ30の外表面30aに形成された十字線3
2は、AFセンサユニット81内のCCD90上に、高
コントラストで太く写り込む。従って、(コーナーキュ
ーブ21に何が写っているかどうかに拘わらず、)AF
センサユニット81は、この十字線32を検出する。
10と反射プリズムユニット15との間の距離が長かっ
たとしても、反射プリズム15に入射する光のうち可視
光はフィルタ30によって遮断されるため、AFセンサ
ユニット81からはコーナーキューブ21が見えない。
よって、コーナーキューブ21の反射面21bに光波測
距儀10が写って見えることはない。これに対して、フ
ィルタ30の外表面30aに形成された十字線32及び
フィルタ30の外縁は、常にAFセンサユニット81か
ら見えている。従って、他にコントラストが強い物体は
AFセンサユニット81からは見えないので、このAF
センサユニット81は、従来のように反射プリズムユニ
ット15に写ったオートフォーカス光波測距儀10自身
を検出すること無く、フィルタ30の外表面30aを正
確に検出する。従って、正確にフィルタ30の外表面3
0aにピントが合わせられ続けるので、フィルタ30の
外表面30aに形成された十字線32がボケることなく
明瞭に見え続ける。
ト面74aに形成された十字線の中心をフィルタ30の
外表面30aに形成された十字線32の中心に合致させ
ることにより、視準望遠鏡1aの視準線(対物レンズ6
6の光軸,即ち、測距用変調光L1のビーム軸)を正確
にコーナーキューブ21の中心軸o1に合わせる。
1の視準望遠鏡1aの反射プリズム15への視準を取っ
た後に、作業者は、測距を行う。このとき、オートフォ
ーカス光波測距儀10から出射された測距用変調光は、
フィルタ30を透過してコーナキューブ21に入射し、
3つの反射面21bで順次反射された後に、再度フィル
タ30を透過してオートフォーカス光波測距儀10に戻
る。このときの測距用変調光の出射時における位相と、
オートフォーカス光波測距儀10に戻った時点における
位相との位相差に基づいて、P1−P2間の距離が算出さ
れる。なお、この際には、フィルタ30の厚さ分のプリ
ズム定数の補正を行う必要がある。
ーナーキューブ21の入射面21aに、測距用変調光を
透過するが可視光を遮断するフィルタ30を設けること
により、コーナーキューブ21を視準する際に、コーナ
ーキューブ21に写ったオートフォーカス光波測距儀1
0自身の像にピントが合ってしまうことが防止され、正
確に視準することが可能となる。
を着脱自在なアダプタタイプとしているので、従来の測
距用反射プリズムにも、このフィルタ30を装着するこ
とが可能となる。このようにしてフィルタ30が装着さ
れた従来の測距用反射プリズムも、オートフォーカスの
測量機に用いることが可能となる。 〈第2実施形態〉図2(a)は、第2実施形態による反
射プリズムユニット16の構造を示す正面図であり、図
2(b)は、図2(a)のBの方向から見た側面図(但
し、支持部材34から上の部分に関しては、II−II線に
沿った断面を示す)である。本第2実施形態における反
射プリズムは、可視光を吸収するフィルタ30’を予め
外周部材22に固定したことを特徴とし、他の部分を第
1実施形態と同一とする。
21(反射部材),このコーナーキューブ21を収容す
る外周部材22(固定部材),及びコーナーキューブ2
1の入射面に重ねられて固定されたフィルタ30’から
構成されている。
射プリズム21の入射面21aと同じ径の円板形状を有
しており、フィルタ30’の内表面30’bと反射プリ
ズム21の入射面21aとが一体に固着されている。そ
して、フィルタ30’は、コーナーキューブ21ととも
に、不透明部材からなる略円柱形状の外周部材22に埋
め込まれており、フィルタ30’の外表面30’aが露
出されている。このフィルタ30’は、第1実施形態と
同様、赤外光を透過するとともに、可視光を吸収する性
質を有している。さらに、このフィルタ30の外表面3
0aには、その中心点を示す目盛り付きの十字線32
(指示模様)が、白色塗料によって描かれている。ま
た、本実施形態においては、オートフォーカス光波側距
儀のオートフォーカス機構によるフィルタ30’の検出
を行いやすくするために、外周部材22は、このフィル
タ30’に対する明度が比較的大きく異なる色に塗装さ
れている。
実施形態と同様に測量を行うことができる。従って、第
2実施形態によれば、第1実施形態と同様に、コーナー
キューブ21を視準する際に、コーナーキューブ21に
写ったオートフォーカス光波測距儀10自身の像にピン
トが合ってしまうことが防止され、正確に視準すること
が可能となる。 〈第3実施形態〉図3(a)は第3実施形態による反射
プリズムの構造を示す正面図であり、図3(b)は図3
(a)のCの方向から見た側面図(但し、支持部材34
から上の部分に関しては、III−III線に沿った断面を示
す)である。また、図3(c)は、図3(b)のIV−IV
線に沿った断面図である。本第3実施形態による反射プ
リズムは、入射された赤外光を、その入射方向と同一の
方向に反射させるとともに反射プリズムに入射された可
視光線を透過させる反射面を有するビームスプリッタ型
コーナーキューブを用いることを特徴とし、他の部分を
第1実施形態と同一とする。
は、入射面46aを底面とする円柱形状を有している。
このビームスプリッタ型コーナーキューブ46内部に
は、互いに直角に接する3つの平面からなり、ビームス
プリッタ型コーナーキューブ46の光軸上に交点(立方
体の頂角にあたる部分)を持つ分離面46b(波長選択
反射面)が、形成されている。分離面46bはダイクロ
イックミラーとして構成されており、赤外光を100%
反射し、可視光を100%透過する性質を有している。
従って、赤外光は分離面46bの3つの面で順次反射さ
れて、再度入射面に向かって進み、可視光は、分離面4
6bを透過して、無反射面46cに向かって進む。入射
面46aとは異なる底面に形成された無反射面46cに
は黒色塗装が施されているため、この無反射面46cに
入射した光は全く反射されない。さらに、コーナーキュ
ーブ46の入射面46aには、その中心を示す目盛り付
き十字線32(指示模様)が、白色塗料によって描かれ
ている。このビームスプリッタ型コーナーキューブ46
を収容する外周部材22’(固定部材)は、有底筒状の
形状を有している。また、本第3実施形態においても第
2実施形態と同様に、オートフォーカス光波側距儀のオ
ートフォーカス機構によるビームスプリッタ型コーナー
キューブ46の検出を行いやすくするために、外周部材
22’は、入射面46aに対する明度が比較的大きく異
なる色に塗装されている。
ユニット17を用いた測量の手順を、図7を用いて説明
する。測量の準備段階では、第1実施形態と同様に、測
量機10及び反射プリズム17を、三脚S1,S2上にそ
れぞれ固定する。そして、測量機10を載置した三脚S
1を測点P1に、反射プリズムユニット17を載置した三
脚S2を測量目標点P2に、それぞれ設置し、整準,求心
作業を行う。
ブ46の入射面46aが測量機10の方に向くように、
反射プリズムユニット17の反射プリズム部20を水
平、高度方向に回転させる。
鏡1aの向きを、反射プリズムユニット17の方へ向け
て、オートフォーカス光波測距儀10のAFセンサユニ
ット81を作動させる。すると、フォーカスレンズ70
が適宜移動され、その時点で視準望遠鏡1aの視準線上
に位置する物体にピントが合わせられる。従って、作業
者が視準望遠鏡1aの向きを変えても、常に、この視準
望遠鏡の1aの視準線上に位置する物体が明瞭に見え
る。そして、作業者は、視準望遠鏡1aによって見える
像を頼りに、視準望遠鏡1aの方向を調整して、その視
野内に反射プリズムユニット17を入れ、さらに、視野
の中心にビームスプリッタ型コーナーキューブ46の入
射面46aを重ねる。
ューブ46に入射する光のうち、可視光は分離層46b
を透過して無反射面46cに入射する。そして、入射し
た可視光は無反射面46cによって吸収されてしまうた
め、視準望遠鏡1aからはビームスプリッタ型コーナー
キューブ46が写って見えることはない。これに対し
て、ビームスプリッタ型コーナーキューブ46の入射面
46aに形成された十字線32は、常に視準望遠鏡1a
から見えている。これにより、AFユニット81は、従
来のように、反射プリズムユニット17に写ったオート
フォーカス光波測距儀10自身を検出することもなく、
ビームスプリッタ型コーナーキューブ46の入射面46
aを正確に検出する。従って、正確にビームスプリッタ
型コーナーキューブ46の入射面46aに視準望遠鏡1
aのピントが合わせ続けられるので、ビームスプリッタ
型コーナーキューブ46の入射面46aに形成された十
字線32がぼけることなく明瞭に見え続ける。
ト面74aに形成された十字線の中心をビームスプリッ
タ型コーナーキューブ46の入射面46aに形成された
十字線32の中心に合致させることにより、視準望遠鏡
1aの視準線を正確にビームスプリッタ型コーナーキュ
ーブ46の入射面46aの中心軸o3に合わせる。
1の視準望遠鏡1aの反射プリズムユニット17への視
準を取った後に、測距を行う。このとき、オートフォー
カス光波測距儀10から出射された測距用変調光は、ビ
ームスプリッタ型コーナキューブ46に入射して、分離
面46bに向かって進行する。前述したように、この分
離面46bは赤外光を100%反射するので、測距用変
調光は3つの反射面46bで順次反射された後に、測量
機10に戻る。このときの測距用変調光の出射時におけ
る位相と、オートフォーカス光波測距儀10に戻った時
点における位相との位相差に基づいて、P1−P2間の距
離が算出される。
ーナーキューブとして、赤外光を反射して可視光を吸収
するビームスプリッタ型コーナーキューブ46を用いる
ことにより、ビームスプリッタ型コーナーキューブ46
を視準する際に、ビームスプリッタ型コーナーキューブ
46に写ったオートフォーカス光波測距儀10自身の像
にピントが合ってしまうことが防止され、正確に視準す
ることが可能となる。
態については、各種の変形が可能である。例えば、フィ
ルタ30,30’の外表面30a,30’a、またはビ
ームスプリッタ型コーナーキューブ46の入射面46a
に形成された目盛り付き十字線32は、図示した形状の
ものに限らず、コーナーキューブの入射面の中心を示す
ものであれば、他の図形や模様,指示線などであっても
よい。
は、赤外光を透過し、可視光を吸収するフィルタ30,
30’と、目盛り付き十字線32の両方を備えるもので
ある。しかし、反射プリズムの使用距離が近距離に限ら
れる場合には、フィルタ30,30’の代わりに透明な
ガラス等に目盛り付き十字線32が描かれたものを用い
てもよい。すなわち、反射プリズムの使用距離が短い場
合は、波長選択透過層であるフィルタを用いずに、目盛
り付き十字線32のみを有する構造であっても、オート
フォーカス機構による目盛り付き十字線32の検出は可
能である。
は、目盛り付き十字線32を有しない構造であっても、
オートフォーカス機構による反射プリズムの検出は可能
である。すなわち、目盛り付き十字線32がなくとも、
フィルタ30,30’,あるいはビームスプリッタ型コ
ーナーキューブ46によって可視光は吸収されるので、
反射プリズムに写った側距儀自身にピントが合うことを
防ぐことができる。そして、オートフォーカス機構は、
コントラストの違いにより、固定環26あるいは外周部
材22,22’を検出するため、視準望遠鏡の反射プリ
ズムへの合焦状態を維持することができる。
き十字線32は、ビームスプリッタ型コーナーキューブ
46の無反射面46c上に形成された後に黒色塗装が施
されることにより、形成されたものであってもよい。ま
た、第3実施形態において、無反射面46cが用いられ
ているが、完全な無反射面でなくても、可視光の反射が
極めて少ないものであれば、実用上問題なく用いること
ができる。
が近赤外光である場合について説明したが、測距光が可
視光以外の他の波長領域の光である場合でも同様に適用
することができる。
視準望遠鏡用オートフォーカス機構を組み込んだ光波測
距儀とともに用いられる場合に、視準望遠鏡用オートフ
ォーカス機構が視準望遠鏡のピントを反射プリズムに正
確に合わせることができる。
造を示す正面図(a),及び側面図(b)
造を示す正面図(a),及び側面図(b)
造を示す正面図(a),及び側面図(b)
測量機としてのトータルステーションの外観を示す正面
図
視準望遠鏡の光学構成図
を示す図
(a),及び側面図(b)
Claims (17)
- 【請求項1】入射面から入射した光を、この光が入射し
た方向と同一方向に反射する反射部材と、 第1波長領域の光を透過するとともに第2波長領域の光
を遮断するために前記反射部材の前記入射面の前面に配
置された波長選択透過層と、を備えることを特徴とする
測量用反射部材。 - 【請求項2】前記波長選択透過層は前記光が入射する側
の面上に指示模様を備えることを特徴とする請求項1記
載の測量用反射部材。 - 【請求項3】前記指示模様は十字線状に描かれた目盛り
であることを特徴とする請求項2記載の測量用反射部
材。 - 【請求項4】前記波長選択透過層は前記入射面に対して
着脱自在に装着されていることを特徴とする請求項1な
いし請求項3のいずれかに記載の測量用反射部材。 - 【請求項5】前記波長選択透過層は前記反射部材の入射
面上に直接形成されたものであることを特徴とする請求
項1ないし請求項3のいずれかに記載の測量用反射部
材。 - 【請求項6】前記反射部材は互いに直角に接する3つの
反射面を有するコーナーキューブであることを特徴とす
る請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の測量用反
射部材。 - 【請求項7】前記波長選択透過層を前記反射部材の前記
入射面の前面に配置するための固定部材をさらに備え、 前記固定部材は前記波長選択透過層に対して明度が異な
る色を有していることを特徴とする請求項1ないし請求
項6のいずれかに記載の測量用反射部材。 - 【請求項8】入射面から入射した光のうち、第1波長領
域の光をその入射方向と同一方向に反射するとともに第
2波長領域の光を透過する波長選択反射面と、 前記波長選択反射面で透過された光を吸収する面と、を
備えることを特徴とする測量用反射部材。 - 【請求項9】前記波長選択反射面はその入射面上に指示
模様を備えることを特徴とする請求項8記載の測量用反
射部材。 - 【請求項10】前記光を吸収する面はその入射面上に指
示模様を備えることを特徴とする請求項8記載の測量用
反射部材。 - 【請求項11】前記指示模様は十字線状に描かれた目盛
りであることを特徴とする請求項9または請求項10に
記載の測量用反射部材。 - 【請求項12】前記波長選択反射面は互いに直角に接す
る3つの面からなっていることを特徴とする請求項8な
いし請求項11のいずれかに記載の測量用反射部材。 - 【請求項13】前記光を吸収する面は黒色塗装により形
成されることを特徴とする請求項8ないし請求項12の
いずれかに記載の測量用反射部材。 - 【請求項14】前記波長選択反射面を有する光学素子
と、 前記光学素子を保持するための固定部材とをさらに備
え、 前記固定部材は前記波長選択反射面に対して明度が異な
る色を有していることを特徴とする請求項8ないし請求
項13のいずれかに記載の測量用反射部材。 - 【請求項15】前記第1波長領域の光は赤外光であり、 前記第2波長領域の光は可視光であることを特徴とする
請求項1ないし請求項14のいずれかに記載の測量用反
射部材。 - 【請求項16】入射面から入射した光を、この光が入射
した方向と同一方向に反射する反射部材と、 前記反射部材の前記入射面の前面に設けられた指示模様
と、を備えることを特徴とする測量用反射部材。 - 【請求項17】前記指示模様は十字線状に描かれた目盛
りであることを特徴とする請求項16記載の測量用反射
部材。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33595097A JP3569426B2 (ja) | 1997-12-05 | 1997-12-05 | 測量用反射部材 |
DE19856106A DE19856106B4 (de) | 1997-12-05 | 1998-12-04 | Elektrisches Entfernungsmeßsystem |
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JP33595097A JP3569426B2 (ja) | 1997-12-05 | 1997-12-05 | 測量用反射部材 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11166830A true JPH11166830A (ja) | 1999-06-22 |
JP3569426B2 JP3569426B2 (ja) | 2004-09-22 |
Family
ID=18294157
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33595097A Expired - Lifetime JP3569426B2 (ja) | 1997-12-05 | 1997-12-05 | 測量用反射部材 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
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JP3569426B2 (ja) | 2004-09-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040302 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040427 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040601 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040618 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080625 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090625 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100625 Year of fee payment: 6 |