JPH1115379A

JPH1115379A - 識別マーク、マーク識別方法及びマーク識別装置

Info

Publication number: JPH1115379A
Application number: JP18033397A
Authority: JP
Inventors: Shigeru Yasuda; 成留安田; Hayami Hosokawa; 速美細川
Original assignee: Omron Corp; Omron Tateisi Electronics Co
Current assignee: Omron Corp
Priority date: 1997-06-20
Filing date: 1997-06-20
Publication date: 1999-01-22

Abstract

(57)【要約】【課題】偽造が困難な識別マークと、その識別マーク
を識別するためのマーク識別識別装置を提供する。【解決手段】識別マーク７の表面には複屈折フィルム
４６を設けている。偏光フィルタ３３を通過した直線偏
光の光を識別マーク７に照射すると、その光は識別マー
ク７で反射され、再び偏光フィルタ７を通過して観察者
の目に入る。表面に複屈折フィルムを有していない偽造
の識別マークの場合には、識別マークで反射されるとき
に直線偏光の偏光方向が変化しないので、偏光フィルタ
３３を通して見ても比較的明るく見えるが、複屈折フィ
ルム４６を有する真正の識別マーク７の場合には複屈折
フィルム４６を通るときに偏光方向が回転するので、偏
光フィルタ３３を通して見ると黒く見える。従って、容
易に真正の識別マークであるか否かを判別できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は識別マーク、マーク
識別方法及びマーク識別装置に関する。具体的にいう
と、本発明は、複数の対象物の区別や正規の対象物であ
ることの判別を行なうための識別マークに関する。さら
に、その識別マークを判別するためのマーク識別方法及
びマーク識別装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】最近では、クレジットカードのようなプ
ラスチックカードの表面にホログラムを記録した識別マ
ーク（ホログラムシール）を一体に埋め込んだり、商品
券やギフトカードのような有価証券の表面にホログラム
を記録した識別マークを織り込んだりしたものが広く用
いられるようになっている。

【０００３】このようなホログラムを記録した識別マー
クは、作製するのに高度の技術を要し、また多大なコス
トも掛かることから、識別マークを目で見ることによ
り、あるいはマーク識別装置で読み取ることにより、識
別マークを貼られたクレジットカードや有価証券等の真
贋を判断するのに有効であると考えられている。

【０００４】このような識別マークは、例えば特開平４
−３４０５８３号公報に開示されている。従来の識別マ
ーク１は、図１に示すように複数の回折格子３の配置を
工夫することによってホログラム（識別用パターン）２
を記録したものであって、適当な角度から見たときに、
所定のパターンや図形が浮び上がるか否かによって識別
マークの真贋を判定される。また、図２に示すようなマ
ーク識別装置４を用いて投光部５から識別マーク１にコ
リメート光を照射し、識別マーク１から所定方向へ回折
される回折光を受光部６で受光し、受光部６で受光した
光強度の大きさから識別マーク１の真贋を判定してい
る。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ホログ
ラムを用いた識別マークの普及と近年の微細加工技術の
向上により、識別マークの偽造に対する技術的障壁が低
くなってきており、見た目にも本物と区別がつかないよ
うなものが容易に作製可能となってきている。

【０００６】また、識別マークを機械的に判別するため
の上記マーク識別装置においては、回折格子の向きが少
々異なるものでも同一のホログラムを記録された識別マ
ークであると判断する恐れがあった。このような誤検知
をなくし、ホログラムを安定検出するためには受光部を
かなり大きくする必要があるが、偽造の精度が向上する
とそれだけ受光部を大きくしなければならず、誤検知の
可能性が大きくなる。

【０００７】本発明は叙上の従来例の欠点に鑑みてなさ
れたものであり、その目的とするところは、偽造が困難
な識別マークを提供することにある。また、類似や偽造
の識別マークも精度よく判別することができるマーク識
別方法及びマーク識別装置を提供することにある。

【０００８】

【発明の開示】本発明の識別マークは、反射面の表面側
に、識別のための複屈折特性を有する層が形成されてい
ることを特徴としている。

【０００９】従って、識別マークが複屈折特性を有する
層を有しているか否かを調べることによって、複屈折特
性を有しない識別マークと区別することができ、真正の
識別マークであるか否かを判定することができる。

【００１０】また、複屈折特性を有する層の複屈折特性
を調べることによって、識別のための規格によって形成
された複屈折特性を有しない識別マークや異なる規格の
複屈折特性を有する層を設けられている類似の識別マー
クと区別することができ、真正の識別マークであるか否
かを判定することができる。

【００１１】複屈折特性を有する層の有無は目視で判断
することはできず、また、複屈折特性を有する層の特性
の分析は困難であるから、本発明の識別マークによれ
ば、識別マークの偽造防止の効果が高い。また、他の識
別手段と組合わせることによって識別マークの識別性を
向上させることができる。

【００１２】この識別マークを識別するためのマーク識
別装置は、識別マークに直線偏光の光を照射する手段
と、識別マークで反射された光の偏光方向の変化に基づ
く物理量の変化を検出する手段と、前記物理量検出手段
によって検出された物理量の変化から複屈折特性を有す
る層の有無もしくは複屈折特性の違いを判断して真性の
識別マークであるか否かを判定する手段とを備えてい
る。

【００１３】識別マークに直線偏光の光を照射すると、
正規の識別マークの場合には、直線偏光の偏光方向は決
まった角度だけ回転して偏光方向が所定方向に向くか
ら、偏光方向の変化を物理量の変化として検出すること
により、偏光方向の変化の有無、あるいは偏光方向の変
化量を知ることができ、その識別マークの複屈折特性を
有する層の有無や複屈折特性から識別マークの真偽を判
別できる。

【００１４】

【発明の実施の形態】

（第１の実施形態）図３は本発明の一実施形態による識
別マーク７及びマーク識別装置８を示す斜視図である。
識別マーク７は、図４に示されているように、アルミシ
ート１３のミラー面に複屈折フィルム４６を貼ったもの
であって、例えばギフトカード２４等の表面に貼り付け
られている。複屈折フィルム４６としては、例えばＰＣ
（ポリカーボネイト樹脂）のようなプラスチック材料に
テンションを掛けてフィルム状に延した延伸フィルムが
用いられる。なお、アルミシート１３のミラー面には、
回折格子によるホログラムが形成されていてもよい。

【００１５】マーク識別装置８は、識別マーク７を貼ら
れたギフトカード２４等を置くための台座３１と、台座
３１に立てられた支柱３２と、支柱３２によって台座３
１の上方に支持された偏光フィルタ３３とから構成され
ている。

【００１６】しかして、複屈折フィルム４６を貼った識
別マーク７を台座３１の上に置き、偏光フィルタ３３を
通して識別マーク７を見ると識別マーク７は黒く見え
る。図４は識別マーク７が黒く見える理由を説明する図
である。太陽光や室内の照明光等の光が偏光フィルタ３
３を通過して識別マーク７に当るとき、偏光フィルタ３
３を通過した光は直線偏光となっている。この偏光方向
の光をＰ偏光と呼ぶ。このＰ偏光の光が識別マーク７の
ミラー面で反射するとき、Ｐ偏光の光は複屈折フィルム
４６内を往復するから、偏光方向が変化し、識別マーク
７で反射した光はＰ偏光とＳ偏光（Ｐ偏光と偏光面が直
交する直線偏光）を含んでいる。しかし、偏光フィルタ
３３を通過して目に入る光はＰ偏光のみであるから、偏
光フィルタ３３を通して識別マーク７を見るとき、識別
マーク７で反射して目に入る光は当初の約１／４とな
る。

【００１７】これに対し、複屈折特性を有しない透明フ
ィルムをアルミシートの表面に貼られた識別マークやア
ルミシートのみの識別マークの場合には、偏光フィルタ
３３を通過して識別マークに当るＰ偏光は、識別マーク
で反射してもやはりＰ偏光のままであるから、そのまま
偏光フィルタ３３を通過して目に入る。従って、複屈折
フィルムを貼っていない識別マークの場合には、目に入
る光は当初の約１／２となる。

【００１８】このように複屈折フィルム４６を貼った識
別マーク７の場合には、マーク識別装置８を通して見た
ときに光量が半減するので、複屈折フィルムを貼ってい
ない識別マークと比べると、黒く見え、これによって識
別マークの真偽を識別することができる。さらに、複屈
折フィルム４６は、見た目には通常の透明フィルムと区
別がつかないので、偽造者は複屈折フィルム４６が用い
られていると気づかず、偽造防止の効果が高い。また、
気付いても、その複屈折性を定量的に分析するのは困難
であるから、偽造は極めて困難である。

【００１９】なお、この実施形態では、太陽光や室内光
等を用いているが、偏光フィルタ３３の枠３４内に、直
線偏光の光を照射するような照明部を設けてもよい。

【００２０】（第２の実施形態）図５及び図６は本発明
の別な実施形態によるマーク識別装置１４を示す斜視図
である。このマーク識別装置１４は手に持って操作する
ハンディタイプとなっており、ケーシング１５内部に納
められた回路基板１６には半導体レーザー素子（ＬＤ）
４２、コリメートレンズ１８、２つのフォトダイオード
等の受光素子１９，２０、偏光板４３，４４が実装され
ている。ケーシング１５の先端部下面は開口しており、
半導体発光素子４２及び受光素子１９，２０は当該開口
２１に対向するように配置されている。また、ケーシン
グ１５の外面には、識別判定を行なった結果、正規の識
別マーク４５と一致した（以下、これを識別ＯＫとい
う）と判定した場合に点灯する表示部２２と、正規の識
別マーク４５と一致しない（以下、これを識別ＮＧとい
う）と判定した場合に点灯する表示部２３とを備えてい
る。しかして、ギフトカード２４等に貼り付けられた識
別マーク４５を判別する場合には、図５又は図６に示す
ように、下面の開口２１を識別マーク４５の上に被せる
ようにして使用する。

【００２１】図７は識別マーク４５の構造とマーク識別
装置１４の光学系の作用を説明する図である。識別マー
ク４５は、回折格子の複数パターン（図１参照）を組み
合わせて構成されたホログラム１２をアルミシート１３
の表面に形成し、ホログラム１２の表面を複屈折フィル
ム４６で被覆したものである。なお、この複屈折フィル
ム４６の膜厚は、回折格子のパターンが変化しない方向
（図７の紙面と垂直な方向）で均一となっている。この
ようなホログラム１２は、微細加工技術で作製されたス
タンパを用いてアルミシート１３の表面にプレス加工す
ることにより作成される。

【００２２】しかして、この識別マーク４５の表面に形
成されている識別用図形や文字等のホログラム１２は、
見る角度によって異なった図形や文字等が浮き上がった
り、スペクトル状に色づいて見えたりする。しかも、こ
の識別マーク４５では、ホログラム１２を構成する回折
格子が、非対称な断面形状の単位回折格子からなるブレ
ーズ形回折格子によって構成されている。従来より用い
られている左右対称なステップ形の回折格子では、−１
次回折光の光強度と＋１次回折光の光強度とは等しい
（図８に破線で示す）が、非対称なブレーズ形回折格子
では、その非対称性のため−１次回折光よりも＋１次回
折光の光強度が大きくなる（図８に実線で示す）。な
お、この明細書においては、＋１次回折光と−１次回折
光は、ブレーズ形回折格子に対して図７に示すような方
向へ反射されるものをいう。

【００２３】半導体レーザー素子４２から出射された直
線偏光（これをＰ偏光という）は、開口２１を通して識
別マーク４５に垂直投射するようになっており、識別マ
ーク４５に垂直に投射された光ビームの±１次回折光の
回折角θ₁の方向に２つの受光素子１９，２０が配置さ
れており、各受光素子１９，２０の前方にはＰ偏光と偏
光方向が９０度異なる向きの偏光（これをＳ偏光とい
う）を透過させる向きに向けて偏光板４３，４４が配置
されている。しかして、このマーク識別装置１４にあっ
ては、半導体レーザー素子４２からＰ偏光の光ビームが
識別マーク４５に投射されると、この光ビームは複屈折
フィルム４６を通過してホログラム１２に達し、ホログ
ラム１２で反射されるとともに回折される。±１次回折
光は再び複屈折フィルム４６を通過して偏光板４３，４
４を通り、各受光素子１９，２０に受光される。

【００２４】図９はマーク識別装置１４の信号処理回路
２５を示すブロック図である。半導体レーザー素子４２
は発光素子駆動回路２６によって駆動され、識別マーク
４５に向けて光ビームを投射する。２つの受光素子１
９，２０から出力された受光信号は、増幅器２７，２８
で増幅された後、除算回路２９へ入力される。除算回路
２９は一方の受光素子１９からの受光信号Ｐ₁を他方の
受光素子２０からの受光信号Ｐ_-1で除算し、その結果Ｐ
₁／Ｐ_-1を比較器３０へ出力する。比較器３０は、受け
取った値Ｐ₁／Ｐ_-1を所定値α、βと比較し、 α≦Ｐ₁／Ｐ_-1≦β … であれば、識別ＯＫと判定して識別ＯＫの表示部２２を
点灯させ、Ｐ₁／Ｐ_-1≦α 又は β≦Ｐ₁／Ｐ_-1 … であれば、識別ＮＧと判定して識別ＮＧの表示部２３を
点灯させる。なお、除算回路２９及び比較器３０は、マ
イコンによって構成してもよい。

【００２５】ここで、ブレーズ形回折格子を用いたホロ
グラム１２の場合には、＋１次回折光の光強度は−１次
回折光の光強度よりも大きく、図８に示したように同じ
識別マーク４５では一定の比率となる。従って、上記
α、βで規定される範囲を、正規の識別マーク４５にお
ける（＋１次回折光の光強度）／（−１次回折光の光強
度）を中心として測定誤差を見込んだ範囲に設定してお
けば、正規の識別マーク４５の場合には、上記式を満
たし、比較器３０において識別ＯＫと判断されることに
なる。これに対し、識別マークが異なれば、（＋１次回
折光の光強度）／（−１次回折光の光強度）の値、ある
いは２つの受光素子１９，２０で検出される受光信号の
比Ｐ₁／Ｐ_-1は異なった値となるから、上記式を満た
さず、比較器３０により識別ＮＧと判定されることにな
る。例えば、対称なステップ形の回折格子からなるホロ
グラムの場合には、Ｐ₁／Ｐ_-1＝１となるので、式の
場合となる（α＞１である）。

【００２６】よって、このマーク識別装置１４によれ
ば、＋１次回折光の光強度と−１次回折光の光強度を比
較することによって、正規の識別マーク４５と類似の識
別マークや偽造の識別マークとを高精度で判別すること
ができる。特に、±１次回折光の比に基づいて判別して
いるので、一層高精度となるとともに、増幅器２７，２
８の変動や外乱光の影響を小さくできる。

【００２７】図１０はマーク識別装置１４の信号処理回
路２５における判別動作の手順を具体的に示すフロー図
である。このフロー図に従えば、信号処理回路２５は、
スイッチ等の操作によって半導体レーザー素子４２から
光ビームが出射され、識別マーク４５で反射した±１次
回折光を受光素子１９，２０が受光するまで待機してお
り（Ｓ１）、受光素子１９，２０に±１次回折光が入力
されたと判断すると除算回路２９によって受光信号の比
Ｐ₁／Ｐ_-1を演算し（Ｓ２）、比較器でα、βと比較す
ることによって識別マーク４５の真偽を判別する（Ｓ
３）。そして、式により真正の識別マーク４５である
と判断すると識別ＯＫの表示部２２を点灯させ（Ｓ
４）、式により異なる識別マーク４５であると判断す
ると識別ＮＧの表示部２３を点灯させる（Ｓ５）。

【００２８】しかして、識別マークが複屈折特性を有し
ないと、識別マークで反射した±１次回折光もＰ偏光と
なり、偏光板４３，４４を通過できないから受光素子１
９，２０では受光されない。受光素子１９，２０で受光
されないと、図１０のフロー図から分かるようにマーク
識別装置４１は識別動作しない。なお、半導体レーザー
素子４２を発光させても受光素子１９，２０が一定のし
きい値以上の強度の光を受光しなかった場合には、識別
ＮＧの表示部２３を点灯させるようにしてもよい。

【００２９】また、複屈折フィルム４６で覆われた識別
マーク４５の場合には、半導体レーザー素子４２から出
射されたＰ偏光の光ビームは複屈折フィルム４６を往復
することによって偏光面が回転するので、Ｐ偏光とＳ偏
光を含んだ光ビームとなり、そのうちＳ偏光だけが偏光
板４３，４４を透過して受光素子１９，２０で受光され
る。そして、前述のように、第１の実施形態と同様、＋
１次回折光のＳ偏光成分と−１次回折光のＳ偏光成分と
の光強度の比に基づいて識別マーク４５の真偽が判定さ
れ、表示部２２，２３に出力される。

【００３０】この識別マーク４５及びマーク識別装置４
１にあっては、ブレーズ形回折格子からなるホログラム
１２の上に複屈折フィルム４６を設け、±１次回折光の
光強度の比による判定に加え、複屈折フィルム４６を有
するか否かによる判定も加えているので、識別マーク４
５の判定精度をより高めることができる。

【００３１】なお、上記構成から分かるように、複屈折
フィルム４６は直線偏光が往復することによって偏光面
が９０度回転するような膜厚あるいは屈折率とするのが
好ましい。また、この実施形態では、識別マーク４５に
直線偏光を投射するために直線偏光の光を発生する半導
体レーザー素子４２を用いたが、発光ダイオード等の発
光素子と偏光板を用いても差し支えない。

【００３２】（第３の実施形態）図１１は本発明のさら
に別な実施形態によるマーク識別装置３５の構成を示す
概略図である。このマーク識別装置３５にあっては、発
光ダイオードのような発光素子１７から出射された光ビ
ームを偏光板５５に通過させることによって直線偏光
（Ｓ偏光）に変換し、このＳ偏光の光ビームを識別マー
ク７に斜め投射している。識別マーク７で反射する光ビ
ームは、複屈折フィルム４６を２度通過しているので、
偏光面が回転してＰ偏光とＳ偏光を含んだ光ビームとな
る。そして、識別マーク７で反射した光ビームを偏光ビ
ームスプリッタ５９に当ててＰ偏光とＳ偏光とに分離す
る。すなわち、偏光ビームスプリッタ５９で反射したＳ
偏光成分はフォトダイオード等からなる一方の受光素子
５７で受光され、偏光ビームスプリッタ５９を透過した
Ｐ偏光成分はフォトダイオード等からなる他方の受光素
子５８で受光される。ここで、受光素子５７，５８に入
射するＳ偏光成分とＰ偏光成分の光強度の比率は、複屈
折フィルム４６の膜厚や屈折率で決まるから、正規の識
別マーク７で複屈折フィルム４６の膜厚や屈折率を一定
に揃えてあれば、２つの受光素子５７，５８によるＳ偏
光成分の光強度とＰ偏光成分の光強度の比から正規の識
別マーク７であるか否かを高精度に判定することができ
る。

【００３３】（第４の実施形態）図１２は本発明のさら
に別な実施形態による識別マーク５１と当該識別マーク
５１の真偽を判別するためのマーク識別装置５２の構成
を示す斜視図である。まず、識別マーク５１について説
明すると、アルミシート１３の表面に所定格子ピッチの
ブレーズ形回折格子５３が形成されており、回折格子５
３の表面は複屈折フィルム４６によって覆われている。
しかも、複屈折フィルム４６は、回折格子５３のパター
ンが変化しない方向（図１２のＸ方向）に沿って厚みが
変化している。例えば、図１５では、複屈折フィルム４
６の膜厚がＸ方向で次第に厚くなっている。

【００３４】マーク識別装置５２の投光部は、識別マー
ク５１に垂直に光ビームを投射するように配置された発
光素子１７と、発光素子１７から出射された光ビームを
ライン状に変化させるためのシリンドリカルレンズのよ
うなレンズ５４と、ライン状の光ビームを直線偏光（Ｓ
偏光）にするための偏光板５５から構成されている。ま
た、受光部は、−１次回折光の回折方向に配置された受
光素子（ＣＣＤラインセンサ）５６と、＋１次回折光の
回折方向に配置された偏光ビームスプリッタ５９と、偏
光ビームスプリッタ５９による光ビームの反射方向に配
置された受光素子（ＣＣＤラインセンサ）５７と、偏光
ビームスプリッタ５９による光ビームの透過方向に配置
された受光素子（ＣＣＤラインセンサ）５８とから構成
されている。

【００３５】しかして、発光素子１７から出射されレン
ズ５４によってライン状に整形された光ビームは偏光板
５５によってＳ偏光に変換され、識別マーク５１に投射
される。この光ビームは識別マーク５１で反射されると
同時に回折され、−１次回折光は受光素子５６に受光さ
れる。受光素子５６で受光される−１次回折光は複屈折
フィルム４６を透過することによってＰ偏光とＳ偏光を
含んだ光ビームとなっている。また、＋１次回折光も複
屈折フィルム４６を透過することによってＰ偏光とＳ偏
光を含んだ光ビームとなっている。この＋１次回折光は
偏光ビームスプリッタ５９によってＰ偏光とＳ偏光に分
離され、Ｓ偏光は偏光ビームスプリッタ５９で反射され
て受光素子５７に入射し、Ｐ偏光は偏光ビームスプリッ
タ５９を透過して受光素子５８に入射する。

【００３６】図１３は上記マーク識別装置５２の信号処
理回路６０を示す回路図である。＋１次回折光のうちＳ
偏光を受光した受光素子５７からの受光信号とＰ偏光を
受光した受光素子５８からの受光信号は増幅器６２，６
３で増幅された後、加算器６４で和を求められ、加算器
６４から除算回路２９へは＋１次回折光の受光信号Ｐ1
が出力される。また、−１次回折光を受光した受光素子
５６からの受光信号Ｐ_-1も増幅器６１で増幅された後、
除算回路２９へ出力されている。そして、除算回路２９
では、＋１次回折光の光強度と−１次回折光の光強度の
比を求め、それを所定値α、βと比較することにより、
正規の識別マーク５１であるか否かを判定する。これは
ブレーズ形回折格子５３で回折された±１次回折光の光
強度を比較することによって識別マーク５１を判定する
ものであって、第２の実施形態と同じ原理である。

【００３７】また、＋１次回折光のうちのＳ偏光の強度
を示す受光素子５７からの出力とＰ偏光の強度を示す受
光素子５８からの出力とは、比較器６５に送られる。比
較器６５は、Ｐ偏光の光強度とＳ偏光の光強度を比較す
ることにより、所定の比となっているか否かによって正
規の識別マーク５１であるか否かを判定する。複屈折フ
ィルム４６の膜厚や屈折率が一定に管理された正規の識
別マーク５１では、Ｐ偏光の強度とＳ偏光の強度の比は
一定になるが、複屈折フィルムの膜厚や屈折率が異なる
と、複屈折フィルムを透過するときの＋１次回折光の偏
光面の回転具合が変わるので、膜厚や屈折率を管理され
ていない偽造の識別マークや異なる膜厚や屈折率に管理
されている類似の識別マークでは、この比は所定の値と
一致しない。従って、比較器６５はＰ偏光の強度とＳ偏
光の強度を比較することによって複屈折フィルムが所定
の特性を有しているか否かを判断しており、それによっ
て識別マークの真偽を判別する。

【００３８】さらに、複屈折フィルム４６はＸ方向に膜
厚が変化しており、受光素子５７，５８としてはＸ方向
に画素が配列したＣＣＤラインセンサが用いられてい
る。複屈折フィルム４６はＸ方向に膜厚が変化している
から、複屈折フィルム４６を透過した＋１次回折光の偏
光面の回転具合もＸ方向に沿って変化し、そのＰ偏光と
Ｓ偏光の光強度の比も変化する。例えば、複屈折フィル
ム４６の膜厚が変化するＸ方向に沿ってＰ偏光の光強度
が増加していれば、Ｓ偏光の光強度は減少する。Ｘ方向
に沿って変化するＰ偏光とＳ偏光の光強度の比の変化は
ＣＣＤラインセンサＳを用いた受光素子５７，５８によ
って検出することができるから、このＰ偏光とＳ偏光の
光強度の比の変化の様子が予め決められたように変化し
ているか否かによっても識別マークの真偽を判別するこ
とができる。

【００３９】判定部６６は、比較器３０における±１次
回折光の光強度の比較に基づく判定結果と、比較器６５
における＋１次回折光のＰ偏光とＳ偏光の光強度の比較
に基づく判定結果と、そのＸ方向での変化の様子に基づ
く判定結果とにより、総合的に識別マークの真偽を判定
し、真正の識別マークであると判断すると識別ＯＫの表
示部２２を点灯させ、異なる識別マークであると判断す
ると、識別ＮＧの表示部２３を点灯する。よって、この
マーク識別装置によれば、極めて高精度に識別マークの
真贋を判定することが可能になる。

【００４０】（第５の実施形態）図１４に示すものは、
第４の実施形態のマーク識別装置５２によって識別され
る別な識別マーク６７である。この識別マーク６７で
は、回折格子の表面を覆う複屈折フィルムの膜厚を変化
させる代わりに、屈折率の異なる複屈折フィルム４６
ａ，４６ｂ，…を区分的に配列している。このような複
屈折フィルム４６ａ，４６ｂ，…でも、受光素子５７，
５８には、Ｐ偏光の光強度の分布やＳ偏光の光強度の分
布が生じるので、高い識別精度で識別マークを識別する
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】識別マークの概略図である。

【図２】従来例のマーク識別装置を示す一部破断した断
面図である。

【図３】本発明の一実施形態によるマーク識別装置の斜
視図である。

【図４】同上のマーク識別装置の作用説明図である。

【図５】本発明の別な実施形態によるマーク識別装置の
斜視図である。

【図６】同上のマーク識別装置の断面図である。

【図７】同上のマーク識別装置の作用と識別マークの構
造を説明する図である。

【図８】同上の識別マークにより回折された回折光の光
強度の分布を示す図である。

【図９】同上のマーク識別装置の信号処理回路である。

【図１０】同上の信号処理回路の動作を示すフロー図で
ある。

【図１１】本発明のさらに別な実施形態によるマーク識
別装置の概略構成図である。

【図１２】本発明のさらに別な実施形態によるマーク識
別装置を示す概略斜視図である。

【図１３】同上のマーク識別回路の信号処理回路を示す
図である。

【図１４】本発明のさらに別な実施形態による識別マー
クを示す概略斜視図である。

【符号の説明】

７識別マーク１２ホログラム１３アルミシート１７発光素子１９，２０受光素子４２半導体レーザー素子４３，４４偏光板４５識別マーク４６，４６ａ，４６ｂ，… 複屈折フィルム５７，５８受光素子５９偏光ビームスプリッタ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】反射面の表面側に、識別のための複屈折
特性を有する層が形成されていることを特徴とする識別
マーク。
【請求項２】請求項１に記載の識別マークを判別する
ための方法であって、前記複屈折特性を有する層の有無によって真正の識別マ
ークであるか否かを判定することを特徴とするマーク識
別方法。
【請求項３】請求項１に記載の識別マークを判別する
ための方法であって、前記複屈折特性を有する層の複屈折特性の違いによって
真正の識別マークであるか否かを判定することを特徴と
するマーク識別方法。
【請求項４】請求項１に記載の識別マークを判別する
ための装置であって、識別マークに直線偏光の光を照射する手段と、識別マークで反射された光の偏光方向の変化に基づく物
理量の変化を検出する手段と、前記物理量検出手段によって検出された物理量の変化か
ら前記複屈折特性を有する層の有無もしくは複屈折特性
の違いを判断して真性の識別マークであるか否かを判定
する手段と、を備えたマーク識別装置。