JPH11142336A - Icp分析装置 - Google Patents

Icp分析装置

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JPH11142336A
JPH11142336A JP9302399A JP30239997A JPH11142336A JP H11142336 A JPH11142336 A JP H11142336A JP 9302399 A JP9302399 A JP 9302399A JP 30239997 A JP30239997 A JP 30239997A JP H11142336 A JPH11142336 A JP H11142336A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waste liquid
spray chamber
waste soln
icp
liquid storage
Prior art date
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Pending
Application number
JP9302399A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuhiko Nishi
伸彦 西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 スプレーチェンバ内に大きな圧力変動が生じ
ても、廃液溜管内の廃液を流出させてしまわないICP
分析装置を提供する。 【解決手段】 二重管構造にした廃液溜容器3を設けた
ため、スプレーチェンバ1内に大きな圧力変動が生じた
ときでもスプレーチェンバ1内のアルゴンガスが廃液溜
容器3の廃液を通り、廃液溜容器3の空気抜き開口部よ
り管外へ抜けることができるため、廃液溜容器3内に貯
溜されていた廃液を押し出してドレインタンク5に流出
させてしまうことはない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ICP(高周波誘
導結合プラズマ)発光分光分析装置およびICP−質量
分析装置(MS)として使用されるICP分析装置に関
する。
【0002】
【従来技術】ICP(高周波誘導結合プラズマ)は元素
分析用の優れた励起発光源として、またイオン源として
多く利用される。
【0003】試料は液体で扱われるのがほとんどである
が、図2に示すようにスプレーチェンバ1内でネブライ
ザ6によって試料7を霧化させてエアロゾルとしてこれ
をプラズマトーチ8に導き、高周波コイル9で発生させ
る高周波磁界を用いてプラズマを生成させ、発光強度や
イオン量を測定して試料中の元素の定性・定量分析が行
われる。
【0004】このようなICP分析においては、スプレ
ーチェンバ1内で霧化された試料7の内、プラズマトー
チ8に導入されるエアロゾルはごく一部であってほとん
どはスプレーチェンバ1内で再び溶液となって排出され
る。
【0005】従来、その排出は図2に示すようにスプレ
ーチェンバ1のドレイン部に廃液溜管2を接続し、廃液
溜管2の他端にU字管4を接続してU字管4を介してド
レインタンク5に排出されるようになっている。
【0006】U字管4は所定の高さに設置してあるから
廃液溜管2に廃液が貯溜されることによって余剰液の排
出がU字管4からなされてもスプレーチェンバ1の廃液
面を一定に保つことができ、これによりスプレーチェン
バ1内の圧力が一定となるように工夫されている。ま
た、廃液溜管2での廃液の貯溜によって試料エアロゾル
導入に用いられるアルゴンガスが排出口を通して抜ける
のを防止する働きもしている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来のICP分析装置
は以上のように構成されているがICP分析を精度良く
行うにはプラズマの安定が必要であり、そのためにはス
プレーチェンバ1内の圧力を一定に保つことが重要であ
る。スプレーチェンバ1内の圧力を変動させる要因は一
つではないが上述したスプレーチェンバ1内の廃液の処
理も問題となる。即ち図2において、スプレーチェンバ
1、廃液溜管2、U字管4の材質は、取り扱われる試料
が有機溶媒や薬品類であることを考慮してガラスやテフ
ロン等の耐薬品性の材料が使用され一般的に親水性に乏
しい。そのためU字管4からの廃液排出は徐々には排出
されず廃液溜管2に在る貯溜量が有る値を越えたとき一
塊となって一気に流失してしまう。そうするとスプレー
チェンバ1内の液面を揺動させ、圧力を変動させてプラ
ズマを不安定にさせる。
【0008】このような問題を改善する策として通常取
られる方法は廃液溜管2を短くすることである。そうす
ると、液面の変動周期が短くなり(廃液溜管2の長さを
L、重力の加速度をgとしたとき、液面の振動の周期T
はT=[L/(2g)]1/2で与えられる。)測定系の
信号処理における積分時間内でみればこの振動に関する
影響は平均化されてデータ上には現れないことになる。
【0009】しかしながら、廃液溜管2を短くするとプ
ラズマトーチ点灯時にかかる大きな圧力のために貯溜さ
れている廃液も廃液溜管2から流出してしまうという問
題があった。
【0010】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、ICP分析において分析時にスプレー
チェンバ1内の液面が安定に保たれるようにして、常に
精度の良い分析が行えるICP分析装置を提供すること
を目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明のICP分析装置は、試料導入装置を構成す
るスプレーチェンバ1とこのスプレーチェンバ1に貯溜
する液面の高さを一定に保つために設けられたU字管4
を二重管構造の廃液溜容器3としたことを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明のICP分析装置の一実施
例を図1により説明する。符号1はスプレーチェンバ、
2は廃液溜管、3は廃液溜容器、5はドレインタンク、
6はネブライザ、7は試料、8はプラズマトーチ、9は
高周波コイルである。
【0013】廃液溜容器3は二重管構造になっており、
外側の管はその側面に廃液を貯蔵するドレインタンク5
への配管接続口がある。この接続口の廃液溜容器3にお
ける取り付け高さは廃液が廃液溜容器3に十分な量の貯
溜ができる高さに設けられており、廃液は常にこの取付
口高さの面まで貯溜されるようになっている。さらに外
側の管の上部には空気抜きのための開口が設けられてい
る。
【0014】内側の管は外側の管の貯溜廃液の中にその
開口部があるような構造になっている。そして内側の管
の他端はスプレーチェンバ1のドレイン口に廃液溜管2
によって接続されており、前述の理由により廃液溜管2
は十分短く作られている。
【0015】分析に先立ち、廃液溜管2ならびに廃液溜
容器3には前もって溶媒が貯溜される。スプレーチェン
バ1、廃液溜容器3の高さの液面相対位置は図1に示す
ように置かれる。ネブライザ6からのアルゴンガスが供
給されている時は各々の液面高さはスプレーチェンバ1
でA、廃液溜容器3でBの高さにある。
【0016】分析の際には、試料7がネブライザ6で霧
化されてスプレーチェンバ1内に噴霧される。そして霧
化された試料はこのスプレーチェンバ1で粒子の均一化
と気流の安定化が図られた後、プラズマトーチ8に導か
れる。実際には粒経の細かいミストのみがプラズマトー
チ8に導入され、大きな霧滴など大部分はスプレーチェ
ンバ1の内壁に付着し、また自重で沈降し溶液となって
スプレーチェンバ1の底部にあるドレイン口に溜まる。
【0017】この新しい廃液の増加は廃液溜容器3の液
面を上昇させることになるが、その分廃液溜容器3のド
レイン口より廃液は流出して廃液溜容器3の液面は常に
面Bに保たれる。
【0018】しかし、プラズマトーチ8の点灯の際には
スプレーチェンバ1の空気をアルゴンガスに置き換える
ため大量のアルゴンガスを導入する。このためスプレー
チェンバ1内が一時的に大きな圧力変動を受け、この
時、従来法によれば廃液溜の容器が小さいため(大きく
できない理由は前述した)、廃液溜に貯溜されていた廃
液がドレインタンク5へ殆ど排出されてしまい、分析の
中止もしくは圧力安定まで測定の中断を余儀なくされて
いた。
【0019】本発明では、二重管構造にした廃液溜容器
3を設けたため、スプレーチェンバ1内に大きな圧力変
動が生じたときでもスプレーチェンバ1内のアルゴンガ
スが廃液溜容器3の廃液を通り、廃液溜容器3の空気抜
き開口部より管外へ抜けてしまうため、廃液溜容器3内
に貯溜されていた廃液を押し出してドレインタンク5に
流出させてしまうことはない。
【0020】なお本実施例では廃液溜容器3の上部に空
気抜き開口部を設けたが、廃液溜容器3からドレインタ
ンク5に通じる側配管部に設けても良い。
【0021】
【発明の効果】本発明のICP分析装置は上記のように
構成されており、U字管を二重管構造の廃液溜容器とし
たため、スプレーチェンバ内に大きな圧力変動が生じて
も分析を中断することなく、短時間にプラズマは安定
し、従って分析におけるスループットを改善することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のICP分析装置の一実施例を示す図で
ある。
【図2】従来例のICP分析装置を示す図である。
【符号の説明】
1…スプレーチェンバ 2…廃液溜管 3…廃液溜容器 4…U字管 5…ドレインタンク 6…ネブライザ 7…試料 8…プラズマトーチ 9…高周波コイル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ネブライザで霧化された試料をスプレー
    チェンバを経てプラズマトーチに導入して励起発光・イ
    オン化させることにより分析を行うICP分析装置にお
    いて、前記スプレーチェンバに貯溜する液面の高さを一
    定に保つために設けられたU字管を二重管構造の廃液溜
    容器としたことを特徴とするICP分析装置。
JP9302399A 1997-11-05 1997-11-05 Icp分析装置 Pending JPH11142336A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9302399A JPH11142336A (ja) 1997-11-05 1997-11-05 Icp分析装置

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JP9302399A JPH11142336A (ja) 1997-11-05 1997-11-05 Icp分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11142336A true JPH11142336A (ja) 1999-05-28

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ID=17908454

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9302399A Pending JPH11142336A (ja) 1997-11-05 1997-11-05 Icp分析装置

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JP (1) JPH11142336A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019176136A1 (ja) * 2018-03-14 2019-09-19 株式会社島津製作所 廃液監視装置
CN116840010A (zh) * 2023-07-03 2023-10-03 暨南大学 一种雾化室进气装置

Cited By (4)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019176136A1 (ja) * 2018-03-14 2019-09-19 株式会社島津製作所 廃液監視装置
JPWO2019176136A1 (ja) * 2018-03-14 2021-01-14 株式会社島津製作所 廃液監視装置
CN116840010A (zh) * 2023-07-03 2023-10-03 暨南大学 一种雾化室进气装置
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