JPH11135596A - Board treatment equipment and intermediate delivery equipment - Google Patents

Board treatment equipment and intermediate delivery equipment

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Publication number
JPH11135596A
JPH11135596A JP30026197A JP30026197A JPH11135596A JP H11135596 A JPH11135596 A JP H11135596A JP 30026197 A JP30026197 A JP 30026197A JP 30026197 A JP30026197 A JP 30026197A JP H11135596 A JPH11135596 A JP H11135596A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
unit
transfer
external device
processing apparatus
Prior art date
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Pending
Application number
JP30026197A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiro Nishimura
和浩 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP30026197A priority Critical patent/JPH11135596A/en
Publication of JPH11135596A publication Critical patent/JPH11135596A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a board treatment equipment where foot print is reduced and an intermediate delivery equipment. SOLUTION: A board treatment equipment 100 is provided with an indexer 1, a treatment unit 2 and an interface unit 3. An exposure unit 4 is arranged adjacently to the interface unit 3. The interface unit 3 is equipped with a board carrying robot 33, a board carrying-in table 34 and a board carrying-out table. The board carrying-in table 34 and the board carrying-out table are stacked in the vertical direction.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、外部装置との間で
基板の受け渡しを行う中間受け渡し装置およびそれを備
えた基板処理装置に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to an intermediate transfer device for transferring a substrate to and from an external device, and a substrate processing apparatus provided with the intermediate transfer device.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基
板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用ガラス基
板等の基板に種々の処理を行うために、基板処理装置が
用いられている。例えば、半導体デバイスの製造プロセ
スでは、生産効率を高めるために一連の処理の各々をユ
ニット化し、複数のユニットを統合した基板処理装置が
用いられている。
2. Description of the Related Art A substrate processing apparatus is used to perform various processes on substrates such as a semiconductor wafer, a glass substrate for a liquid crystal display, a glass substrate for a photomask, and a glass substrate for an optical disk. For example, in a semiconductor device manufacturing process, a substrate processing apparatus in which each of a series of processes is unitized and a plurality of units are integrated is used to increase production efficiency.

【0003】フォトリソグラフィ工程においては、露光
処理の前後の各種の基板処理が基板処理装置で行われ、
露光処理が露光ユニットで行われる。この場合、基板処
理装置には、フォトレジストの塗布処理を行うスピンコ
ータ(回転式塗布装置)、現像処理を行うスピンディベ
ロッパ(回転式現像装置)、加熱処理および冷却処理を
行うベークプレート(基板熱処理装置)等の各種処理装
置や、処理装置間で基板の搬送を行う基板搬送ユニット
が設けられている。
In a photolithography process, various types of substrate processing before and after exposure processing are performed in a substrate processing apparatus.
Exposure processing is performed in an exposure unit. In this case, the substrate processing apparatus includes a spin coater (rotary coating apparatus) that performs a coating process of a photoresist, a spin developer (a rotary developing device) that performs a developing process, and a bake plate (a substrate heat processing device) that performs a heating process and a cooling process. ), And a substrate transport unit that transports a substrate between the processing devices.

【0004】一方、露光ユニットは、露光を行うための
縮小投影露光機(ステッパ)等の露光機、露光機での露
光パターンの焼付けのための位置決めを行うアラインメ
ント機構、露光ユニット内で基板の搬送を行う基板搬送
ロボット等を備える。
On the other hand, an exposure unit includes an exposure machine such as a reduction projection exposure machine (stepper) for performing exposure, an alignment mechanism for performing positioning for printing an exposure pattern by the exposure machine, and a transfer of a substrate in the exposure unit. And a substrate transfer robot for performing the above.

【0005】フォトリソグラフィ工程では、まず、基板
処理装置で露光処理前の基板処理が行われ、次に、露光
ユニットで露光処理が行われ、その後、再び基板処理装
置で露光処理後の基板処理が行われる。したがって、基
板処理装置と露光ユニットとの間で基板の受け渡しを行
う必要がある。そのため、基板処理装置には基板の受け
渡しを行うインタフェースユニット(中間受け渡し装
置;以下、IFユニットと略記する)が設けられてい
る。
[0005] In the photolithography process, first, the substrate processing before exposure processing is performed in the substrate processing apparatus, then the exposure processing is performed in the exposure unit, and then the substrate processing after the exposure processing is performed again in the substrate processing apparatus. Done. Therefore, it is necessary to transfer the substrate between the substrate processing apparatus and the exposure unit. Therefore, the substrate processing apparatus is provided with an interface unit (intermediate transfer device; hereinafter, abbreviated as an IF unit) for transferring the substrate.

【0006】図14は従来のIFユニットを備えた基板
処理装置の平面図、図15は図14の基板処理装置にお
けるIFユニットの正面図、図16は図14の基板処理
装置におけるIFユニットの側面図である。
FIG. 14 is a plan view of a conventional substrate processing apparatus having an IF unit, FIG. 15 is a front view of the IF unit in the substrate processing apparatus of FIG. 14, and FIG. 16 is a side view of the IF unit in the substrate processing apparatus of FIG. FIG.

【0007】図14において、基板処理装置200は、
複数のスピンコータ210a、複数のスピンディベロッ
パ210b、ホットプレートまたはクールプレートから
なる複数の熱処理ユニット210c、基板搬送ユニット
220およびIFユニット230を備える。基板処理装
置200の一端部側には、IFユニット230に隣接す
るように露光ユニット250が設置される。
[0007] In FIG. 14, a substrate processing apparatus 200 includes:
A plurality of spin coaters 210a, a plurality of spin developers 210b, a plurality of heat treatment units 210c including a hot plate or a cool plate, a substrate transfer unit 220, and an IF unit 230 are provided. An exposure unit 250 is provided at one end of the substrate processing apparatus 200 so as to be adjacent to the IF unit 230.

【0008】基板搬送ユニット220は、基板をX軸方
向(矢印Xの方向)に搬送する基板搬送ロボット221
を有する。IFユニット230は基板搬送ロボット23
1を有する。基板搬送ロボット231は、基板Wを保持
する基板保持部232、その基板保持部232をX軸方
向に移動させるX方向移動機構233、そのX方向移動
機構233を介して基板保持部232をZ軸方向(矢印
Zの方向)に移動させるZ方向移動機構234、および
Z方向移動機構234およびX方向移動機構233を介
して基板保持部232をY軸方向(矢印Yの方向)に移
動させるY方向移動機構235を含む。
The substrate transfer unit 220 is a substrate transfer robot 221 for transferring a substrate in the X-axis direction (the direction of arrow X).
Having. IF unit 230 is a substrate transfer robot 23
One. The substrate transfer robot 231 includes a substrate holding unit 232 that holds the substrate W, an X-direction moving mechanism 233 that moves the substrate holding unit 232 in the X-axis direction, and the substrate holding unit 232 via the X-axis moving mechanism 233. The Z direction moving mechanism 234 for moving in the direction (the direction of arrow Z), and the Y direction for moving the substrate holder 232 in the Y axis direction (the direction of arrow Y) via the Z direction moving mechanism 234 and the X direction moving mechanism 233. The moving mechanism 235 is included.

【0009】これにより、基板搬送ロボット231は、
基板保持部232に基板Wを保持してX軸方向、Y軸方
向およびZ軸方向に移動させて基板受け渡し台240、
基板搬入台241、基板搬出台242およびバッファ部
243との間で基板Wを受け渡しすることができる。
As a result, the substrate transfer robot 231
The substrate transfer unit 240 holds the substrate W in the substrate holding unit 232 and moves the substrate W in the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction.
The substrate W can be transferred between the substrate carry-in table 241, the substrate carry-out table 242, and the buffer unit 243.

【0010】基板受け渡し台240は、基板搬送ロボッ
ト231と基板搬送ロボット221との間で基板Wの受
け渡しを行うために用いられる。基板搬入台241およ
び基板搬出台242は、基板搬送ロボット231が露光
ユニット250内の基板搬送ロボット(図示せず)との
間で基板Wの受け渡しを行うために用いられる。図15
に示すように、IFユニット230の側面には、露光ユ
ニット250との間で基板Wを受け渡すための開口部2
36が設けられている。バッファ部243は、基板処理
装置200内での処理時間と露光ユニット250内での
処理時間とに差が生じた場合に基板Wを一時的に収納す
るために用いられる。
[0010] The substrate transfer table 240 is used for transferring the substrate W between the substrate transfer robot 231 and the substrate transfer robot 221. The substrate carry-in table 241 and the substrate carry-out table 242 are used by the substrate transfer robot 231 to transfer the substrate W to and from a substrate transfer robot (not shown) in the exposure unit 250. FIG.
As shown in the figure, an opening 2 for transferring the substrate W between the IF unit 230 and the exposure unit 250 is provided on the side surface of the IF unit 230.
36 are provided. The buffer unit 243 is used to temporarily store the substrate W when there is a difference between the processing time in the substrate processing apparatus 200 and the processing time in the exposure unit 250.

【0011】この基板処理装置200においては、ま
ず、基板搬送ユニット220の基板搬送ロボット221
が、スピンコータ210aおよび熱処理ユニット210
cで処理された基板Wを基板受け渡し台240に載置す
る。IFユニット230の基板搬送ロボット231は、
基板受け渡し台240に載置された基板Wを基板保持部
232に受け取って保持し、その基板Wを基板搬入台2
41に載置する。基板搬入台241に載置された基板W
は、露光ユニット250内の基板搬送ロボットにより露
光ユニット250内に取り込まれる。
In the substrate processing apparatus 200, first, the substrate transport robot 221 of the substrate transport unit 220
However, the spin coater 210a and the heat treatment unit 210
The substrate W processed in step c is placed on the substrate delivery table 240. The substrate transfer robot 231 of the IF unit 230
The substrate W placed on the substrate transfer table 240 is received and held by the substrate holding unit 232, and the substrate W is transferred to the substrate transfer table 2.
Place on 41. Substrate W placed on substrate carry-in table 241
Is taken into the exposure unit 250 by the substrate transfer robot in the exposure unit 250.

【0012】露光ユニット250において、露光処理が
行われた基板Wは、露光ユニット250内の基板搬送ロ
ボットにより露光ユニット250から搬出され、基板搬
出台242に載置される。IFユニット230の基板搬
送ロボット231は、基板搬出台242に載置された基
板Wを基板保持部232に受け取って保持し、その基板
Wを基板受け渡し台240に載置する。基板受け渡し台
240に載置された基板Wは、基板搬送ユニット220
の基板搬送ロボット221により熱処理ユニット210
cおよびスピンディベロッパ210bに搬送される。
In the exposure unit 250, the substrate W subjected to the exposure processing is carried out of the exposure unit 250 by the substrate transfer robot in the exposure unit 250, and is placed on the substrate carrying table 242. The substrate transfer robot 231 of the IF unit 230 receives and holds the substrate W placed on the substrate unloading table 242 by the substrate holding unit 232, and places the substrate W on the substrate transfer table 240. The substrate W placed on the substrate delivery table 240 is
Heat treatment unit 210 by the substrate transfer robot 221
c and the spin developer 210b.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】近年、基板の大径化に
伴って各処理装置や基板搬送ユニットも大型化しつつあ
る。上記の従来の基板処理装置200では、IFユニッ
ト230内に基板搬送ロボット231に加えて露光ユニ
ット250との間で基板Wの受け渡しを行うための基板
搬入台241および基板搬出台242が並設されている
ため、占有面積が大きくなる。しかしながら、工場内の
スペースは限られているため、基板処理装置の全体のフ
ットプリント(設置面積)を可能な限り低減することが
望まれている。
In recent years, each processing apparatus and substrate transport unit have been increasing in size as the diameter of the substrate has increased. In the above-described conventional substrate processing apparatus 200, a substrate carry-in table 241 and a substrate carry-out table 242 for transferring a substrate W to and from the exposure unit 250 are provided in the IF unit 230 in addition to the substrate transfer robot 231. Therefore, the occupied area increases. However, since the space in the factory is limited, it is desired to reduce the overall footprint (installation area) of the substrate processing apparatus as much as possible.

【0014】本発明の目的は、フットプリントが低減さ
れた基板処理装置および中間受け渡し装置を提供するこ
とである。
[0014] It is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus and an intermediate transfer apparatus having a reduced footprint.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段および発明の効果】Means for Solving the Problems and Effects of the Invention

(1)第1の発明 第1の発明に係る基板処理装置は、基板に所定の処理を
行う処理部と、外部装置に基板を渡すための第1の受け
渡し部と、外部装置から基板を受け取るための第2の受
け渡し部と、処理部との基板受け渡し位置と第1および
第2の受け渡し部との間で基板を搬送する搬送手段とを
備え、第1の受け渡し部および第2の受け渡し部が上下
方向に積層されたものである。
(1) First Invention A substrate processing apparatus according to a first invention is a processing unit that performs a predetermined process on a substrate, a first transfer unit that transfers a substrate to an external device, and receives a substrate from an external device. And a transfer means for transferring a substrate between a substrate transfer position with the processing unit and the first and second transfer units, the first transfer unit and the second transfer unit Are stacked vertically.

【0016】本発明に係る基板処理装置においては、処
理部により処理された基板が搬送手段により第1の受け
渡し部に搬送され、第1の受け渡し部から外部装置に搬
入される。また、外部装置から搬出された基板が第2の
受け渡し部により受け取られ、搬送手段により処理部と
の基板受け渡し位置に搬送され、処理部でその基板に処
理が行われる。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, the substrate processed by the processing unit is transported to the first transfer unit by the transfer unit, and is loaded into the external device from the first transfer unit. Further, the substrate carried out from the external device is received by the second transfer unit, transported to a substrate transfer position with the processing unit by the transport unit, and the processing unit performs processing on the substrate.

【0017】特に、第1の受け渡し部および第2の受け
渡し部が上下方向に積層されているので、外部装置との
間での基板の受け渡しのために必要なスペースが小さく
なり、基板処理装置の全体のフットプリントが低減され
る。
In particular, since the first transfer portion and the second transfer portion are vertically stacked, the space required for transferring the substrate to and from an external device is reduced, and the space required for the substrate processing apparatus is reduced. The overall footprint is reduced.

【0018】(2)第2の発明 第2の発明に係る基板処理装置は、第1の発明に係る基
板処理装置の構成において、第1の受け渡し部が、外部
装置に搬入される基板が載置される第1の基板載置部で
あり、第2の受け渡し部が、外部装置から搬出された基
板が載置される第2の基板載置部であるものである。
(2) Second Invention In a substrate processing apparatus according to a second invention, in the configuration of the substrate processing apparatus according to the first invention, the first transfer unit mounts a substrate carried into an external device. The first substrate placing section on which the substrate is placed, and the second transfer section is a second substrate placing section on which a substrate carried out from an external device is placed.

【0019】本発明に係る基板処理装置においては、処
理部により処理された基板が搬送手段により搬送され、
第1の基板載置部に載置される。第1の基板載置部に載
置された基板は、外部装置の基板搬入手段により外部装
置内に搬入される。また、外部装置の基板搬出手段によ
り外部装置から搬出された基板は、第2の基板載置部に
載置される。第2の基板載置部に載置された基板は、搬
送手段により処理部との基板受け渡し位置に搬送され、
処理部でその基板に処理が行われる。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, the substrate processed by the processing section is transported by the transport means,
It is mounted on the first substrate mounting part. The substrate placed on the first substrate placing portion is carried into the external device by the substrate carrying means of the external device. The substrate carried out of the external device by the substrate carrying means of the external device is placed on the second substrate placing portion. The substrate placed on the second substrate placement unit is transported to a substrate transfer position with the processing unit by the transport unit,
The processing unit performs processing on the substrate.

【0020】この場合にも、第1の基板載置部および第
2の基板載置部が上下方向に積層されているので、外部
装置との間での基板の受け渡しのために必要なスペース
が小さくなり、基板処理装置の全体のフットプリントが
低減される。
Also in this case, since the first substrate mounting portion and the second substrate mounting portion are vertically stacked, a space necessary for transferring the substrate to and from an external device is reduced. It reduces the overall footprint of the substrate processing apparatus.

【0021】(3)第3の発明 第3の発明に係る基板処理装置は、第1の発明に係る基
板処理装置の構成において、第1の受け渡し部が、外部
装置内に基板を搬入する基板搬入手段であり、第2の受
け渡し部が、外部装置内から基板を搬出する基板搬出手
段であるものである。
(3) Third Invention In a substrate processing apparatus according to a third aspect of the present invention, in the configuration of the substrate processing apparatus according to the first aspect of the present invention, the first transfer section includes a substrate transferring the substrate into an external device. The second transfer unit is a carry-out unit that carries out the substrate from the external device.

【0022】本発明に係る基板処理装置においては、処
理部により処理された基板が搬送手段により搬送され、
基板搬入手段に渡される。そして、その基板は基板搬入
手段により外部装置内に搬入される。また、基板搬出手
段により外部装置内から基板が搬出されて基板処理装置
内に取り込まれ、搬送手段に渡される。その基板は搬送
手段により処理部との基板受け渡し位置に搬送され、処
理部でその基板に処理が行われる。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, the substrate processed by the processing section is transported by the transport means,
It is passed to the substrate loading means. Then, the substrate is carried into the external device by the substrate carrying means. The substrate is unloaded from the external device by the substrate unloading means, taken into the substrate processing apparatus, and transferred to the transfer means. The substrate is transported to a substrate transfer position with the processing unit by the transport unit, and the processing unit processes the substrate.

【0023】この場合にも、基板搬入手段および基板搬
出手段が上下方向に積層されているので、外部装置との
間で基板の受け渡しのために必要なスペースが小さくな
り、基板処理装置の全体のフットプリントが低減され
る。
Also in this case, since the substrate carrying means and the substrate carrying means are vertically stacked, the space required for transferring the substrate to and from an external device is reduced, and the whole of the substrate processing apparatus is reduced. Footprint is reduced.

【0024】(4)第4の発明 第4の発明に係る基板処理装置は、基板に所定の処理を
行う処理部と、外部装置に基板を渡しかつ外部装置から
基板を受け取るための共通の受け渡し部と、共通の受け
渡し部を上下に昇降させる昇降手段と、処理部との基板
受け渡し位置と共通の受け渡し部との間で基板を搬送す
る搬送手段とを備えたものである。
(4) Fourth Invention A substrate processing apparatus according to a fourth invention is a processing unit for performing predetermined processing on a substrate, and a common delivery for delivering the substrate to an external device and receiving the substrate from the external device. And a transport unit for transporting a substrate between a common delivery unit and a substrate delivery position with respect to a processing unit.

【0025】本発明に係る基板処理装置においては、処
理部により処理された基板が搬送手段により搬送され、
共通の受け渡し部に渡される。そして、昇降手段により
共通の受け渡し部が外部装置との基板の受け渡し位置ま
で昇降され、共通の受け渡し部から外部装置に基板が搬
入される。また、昇降手段により共通の受け渡し部が外
部装置との基板の受け渡し位置まで昇降され、外部装置
から搬出された基板が共通の受け渡し部により受け取ら
れる。そして、搬送手段により共通の受け渡し部から処
理部との基板受け渡し位置に基板が搬送され、処理部で
その基板に処理が行われる。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, the substrate processed by the processing section is transported by the transport means,
It is passed to a common delivery unit. Then, the common transfer unit is moved up and down to the transfer position of the substrate with the external device by the elevating means, and the substrate is carried into the external device from the common transfer unit. Further, the common transfer unit is moved up and down to the transfer position of the substrate with the external device by the elevating means, and the substrate carried out of the external device is received by the common transfer unit. Then, the substrate is transported from the common delivery unit to the substrate delivery position with the processing unit by the transportation unit, and the processing unit performs processing on the substrate.

【0026】特に、昇降手段により共通の受け渡し部を
上下に昇降させることにより外部装置への基板の搬入時
および外部装置からの基板の搬出時に共通の受け渡し部
が用いられるので、外部装置との間での基板の受け渡し
のために必要なスペースが小さくなり、基板処理装置の
全体のフットプリントが低減される。
In particular, by raising and lowering the common transfer unit by means of the lifting / lowering means, the common transfer unit is used when loading the substrate into and out of the external device. The space required for the transfer of the substrate in the substrate is reduced, and the overall footprint of the substrate processing apparatus is reduced.

【0027】(5)第5の発明 第5の発明に係る基板処理装置は、第4の発明に係る基
板処理装置の構成において、共通の受け渡し部が、外部
装置に搬入される基板が載置されかつ外部装置から搬出
された基板が載置される基板載置部であるものである。
(5) Fifth Invention In the substrate processing apparatus according to the fifth invention, in the configuration of the substrate processing apparatus according to the fourth invention, the common transfer unit has a substrate on which a substrate to be carried into an external device is placed. And a substrate mounting portion on which the substrate carried out from the external device is mounted.

【0028】本発明に係る基板処理装置においては、処
理部により処理された基板が搬送手段により搬送され、
基板載置部に載置される。そして、昇降手段により基板
載置部が外部装置との基板の受け渡し位置まで昇降さ
れ、基板載置部に載置された基板が外部装置の基板搬入
手段により外部装置内に搬入される。また、昇降手段に
より基板載置部が外部装置との基板の受け渡し位置まで
昇降され、外部装置の基板搬出手段により外部装置から
搬出された基板が基板載置部に載置される。そして、搬
送手段により基板載置部から処理部との基板受け渡し位
置に基板が搬送され、処理部でその基板に処理が行われ
る。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, the substrate processed by the processing section is transported by the transport means,
It is mounted on the substrate mounting part. Then, the substrate mounting portion is moved up and down by the elevating means to the position for transferring the substrate to and from the external device, and the substrate mounted on the substrate mounting portion is carried into the external device by the substrate carrying means of the external device. In addition, the substrate mounting portion is moved up and down to a transfer position of the substrate with the external device by the elevating means, and the substrate carried out of the external device is mounted on the substrate mounting portion by the substrate carrying out device of the external device. Then, the substrate is transported from the substrate mounting section to the substrate transfer position with the processing section by the transport section, and the processing section processes the substrate.

【0029】この場合にも、昇降手段により基板載置部
を上下に昇降させることにより外部装置への基板の搬入
時および外部装置からの基板の搬出時に基板載置部が共
通に用いられるので、外部装置との間での基板の受け渡
しのために必要なスペースが小さくなり、基板処理装置
の全体のフットプリントが低減される。
Also in this case, the substrate mounting portion is commonly used when the substrate mounting portion is moved up and down by the elevating means when the substrate is loaded into the external device and when the substrate is unloaded from the external device. The space required for transferring a substrate to and from an external device is reduced, and the overall footprint of the substrate processing apparatus is reduced.

【0030】(6)第6の発明 第6の発明に係る基板処理装置は、第4の発明に係る基
板処理装置の構成において、共通の受け渡し部が外部装
置内に基板を搬入しかつ外部装置内から基板を搬出する
基板搬入出手段であるものである。
(6) Sixth invention A substrate processing apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the fourth aspect of the present invention, wherein the common transfer unit loads a substrate into an external device and the external device This is a substrate loading / unloading means for transporting a substrate from the inside.

【0031】本発明に係る基板処理装置においては、処
理部により処理された基板が搬送手段により搬送され、
基板搬入出手段に渡される。そして、昇降手段により基
板搬入出手段が外部装置との基板の受け渡し位置まで昇
降され、基板搬入出手段により基板が外部装置内に搬入
される。また、昇降手段により基板搬入出手段が外部装
置との基板の受け渡し位置まで昇降され、基板搬入出手
段により外部装置内から基板が搬出されて基板処理装置
内に取り込まれる。そして、搬送手段により基板搬入出
手段から処理部との基板受け渡し位置に基板が搬送さ
れ、処理部でその基板に処理が行われる。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, the substrate processed by the processing section is transported by the transport means,
It is passed to the substrate loading / unloading means. Then, the substrate carrying-in / out means is moved up and down to the transfer position of the substrate with the external device by the elevating means, and the substrate is carried into the external device by the substrate carrying-in / out means. Further, the substrate carrying-in / out means is moved up and down to the transfer position of the substrate with the external device by the elevating means, and the substrate is carried out of the external device by the substrate carrying-in / out means and taken into the substrate processing apparatus. Then, the substrate is transported from the substrate loading / unloading unit to the substrate transfer position with the processing unit by the transport unit, and the processing unit processes the substrate.

【0032】この場合にも、昇降手段により基板搬入出
手段を上下に昇降させることにより外部装置への基板の
搬入時および外部装置からの基板の搬出時に基板搬入出
手段が共通に用いられるので、外部装置との間での基板
の受け渡しのために必要なスペースが小さくなり、基板
処理装置の全体のフットプリントが低減される。
Also in this case, the substrate loading / unloading means is moved up and down by the lifting / lowering means, so that the substrate loading / unloading means is commonly used when loading the substrate into and out of the external device. The space required for transferring a substrate to and from an external device is reduced, and the overall footprint of the substrate processing apparatus is reduced.

【0033】(7)第7の発明 第7の発明に係る基板処理装置は、基板に所定の処理を
行う処理部と、外部装置に基板を渡しかつ外部装置から
基板を受け取るための共通の受け渡し部と、処理部との
基板受け渡し位置と共通の受け渡し部との間で基板を搬
送する搬送手段とを備えたものである。
(7) Seventh Invention A substrate processing apparatus according to a seventh invention is a processing unit for performing predetermined processing on a substrate, and a common delivery for delivering the substrate to an external device and receiving the substrate from the external device. And a transport unit for transporting the substrate between a substrate transfer position and a common transfer unit with the processing unit.

【0034】本発明に係る基板処理装置においては、処
理部により処理された基板が搬送手段により搬送され、
共通の受け渡し部に渡され、共通の受け渡し部から外部
装置に基板が搬入される。また、外部装置から搬出され
た基板が共通の受け渡し部により受け取られ、搬送手段
により共通の受け渡し部から処理部との基板受け渡し位
置に基板が搬送され、処理部でその基板に処理が行われ
る。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, the substrate processed by the processing section is transported by the transport means,
The substrate is transferred to the common transfer unit, and the substrate is carried into the external device from the common transfer unit. Further, the substrate carried out from the external device is received by the common transfer unit, the substrate is transferred from the common transfer unit to the substrate transfer position with the processing unit by the transfer unit, and the processing unit processes the substrate.

【0035】特に、外部装置への基板の搬入時および外
部装置からの基板の搬出時に共通の受け渡し部が用いら
れるので、外部装置との間での基板の受け渡しのために
必要なスペースが小さくなり、基板処理装置の全体のフ
ットプリントが低減される。
In particular, since a common transfer unit is used when a substrate is carried into and out of an external device, a space required for transferring the substrate to and from the external device is reduced. In addition, the overall footprint of the substrate processing apparatus is reduced.

【0036】(8)第8の発明 第8の発明に係る基板処理装置は、第7の発明に係る基
板処理装置の構成において、共通の受け渡し部が、外部
装置に搬入される基板が載置されかつ外部装置から搬出
された基板が載置される基板載置部であるものである。
(8) Eighth Invention In a substrate processing apparatus according to an eighth aspect of the present invention, in the configuration of the substrate processing apparatus according to the seventh aspect of the present invention, the common delivery unit mounts a substrate carried into an external device. And a substrate mounting portion on which the substrate carried out from the external device is mounted.

【0037】本発明に係る基板処理装置においては、処
理部により処理された基板が搬送手段により搬送され、
基板載置部に載置される。そして、基板載置部に載置さ
れた基板が外部装置の基板搬入手段により外部装置内に
搬入される。また、外部装置の基板搬出手段により外部
装置から搬出された基板が基板載置部に載置される。そ
して、搬送手段により基板載置部から処理部との基板受
け渡し位置に基板が搬送され、処理部でその基板に処理
が行われる。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, the substrate processed by the processing section is transported by the transport means.
It is mounted on the substrate mounting part. Then, the substrate placed on the substrate placing portion is carried into the external device by the substrate carrying means of the external device. Further, the substrate carried out of the external device by the substrate carrying means of the external device is placed on the substrate placing portion. Then, the substrate is transported from the substrate mounting section to the substrate transfer position with the processing section by the transport section, and the processing section processes the substrate.

【0038】この場合にも、外部装置への基板の搬入時
および外部装置からの基板の搬出時に基板載置部が共通
に用いられるので、外部装置との間での基板の受け渡し
のために必要なスペースが小さくなり、基板処理装置の
全体のフットプリントが低減される。
Also in this case, since the substrate mounting portion is commonly used when the substrate is loaded into the external device and when the substrate is unloaded from the external device, it is necessary to transfer the substrate to and from the external device. And the overall footprint of the substrate processing apparatus is reduced.

【0039】(9)第9の発明 第9の発明に係る基板処理装置は、第7の発明に係る基
板処理装置の構成において、共通の受け渡し部が、外部
装置内に基板を搬入しかつ外部装置内から基板を搬出す
る基板搬入出手段であるものである。
(9) Ninth Invention In a substrate processing apparatus according to a ninth aspect of the present invention, in the configuration of the substrate processing apparatus according to the seventh aspect, the common transfer section loads the substrate into the external device and sets the external This is a substrate loading / unloading means for loading and unloading a substrate from the apparatus.

【0040】本発明に係る基板処理装置においては、処
理部により処理された基板が搬送手段により搬送され、
基板搬入出手段に渡される。そして、基板搬入出手段に
より基板が外部装置内に搬入される。また、基板搬入出
手段により外部装置から基板が搬出されて基板処理装置
内に取り込まれる。そして、搬送手段により基板搬入出
手段から処理部との基板受け渡し位置に基板が搬送さ
れ、処理部でその基板に処理が行われる。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, the substrate processed by the processing section is transported by the transport means,
It is passed to the substrate loading / unloading means. Then, the substrate is carried into the external device by the substrate carrying-in / out means. Further, the substrate is carried out of the external device by the substrate carrying-in / out means and taken into the substrate processing apparatus. Then, the substrate is transported from the substrate loading / unloading unit to the substrate transfer position with the processing unit by the transport unit, and the processing unit processes the substrate.

【0041】この場合にも、外部装置への基板の搬入時
および外部装置からの基板の搬出時に基板搬入出手段が
共通に用いられるので、外部装置との間での基板の受け
渡しのために必要なスペースが小さくなり、基板処理装
置の全体のフットプリントが低減される。
Also in this case, since the substrate loading / unloading means is commonly used when loading the substrate into and out of the external device, it is necessary to transfer the substrate to and from the external device. And the overall footprint of the substrate processing apparatus is reduced.

【0042】(10)第10の発明 第10の発明に係る中間受け渡し装置は、基板に所定の
処理を行う処理部と所定の外部装置との間で基板の受け
渡しを行う中間受け渡し装置であって、外部装置に基板
を渡すための第1の受け渡し部と、外部装置から基板を
受け取るための第2の受け渡し部と、処理部との基板受
け渡し位置と第1および第2の受け渡し部との間で基板
を搬送する搬送手段とを備え、第1の受け渡し部および
第2の受け渡し部が上下方向に積層されたものである。
(10) Tenth invention An intermediate delivery device according to a tenth invention is an intermediate delivery device for delivering a substrate between a processing section for performing a predetermined process on a substrate and a predetermined external device. A first transfer unit for transferring a substrate to an external device, a second transfer unit for receiving a substrate from the external device, and a substrate transfer position between the processing unit and the first and second transfer units. And a transfer means for transferring the substrate by using the first transfer part and the second transfer part, which are vertically stacked.

【0043】本発明に係る中間受け渡し装置において
は、処理部により処理された基板が搬送手段により第1
の受け渡し部に搬送され、第1の受け渡し部から外部装
置に搬入される。また、外部装置から搬出された基板が
第2の受け渡し部により受け取られ、搬送手段により処
理部との基板受け渡し位置に搬送され、処理部でその基
板に処理が行われる。
In the intermediate transfer apparatus according to the present invention, the substrate processed by the processing unit is transferred to the first by the transfer means.
And transferred from the first transfer unit to an external device. Further, the substrate carried out from the external device is received by the second transfer unit, transported to a substrate transfer position with the processing unit by the transport unit, and the processing unit performs processing on the substrate.

【0044】特に、第1の受け渡し部および第2の受け
渡し部が上下方向に積層されているので、外部装置との
間での基板の受け渡しのために必要なスペースが小さく
なり、中間受け渡し装置のフットプリントが低減され
る。
In particular, since the first transfer section and the second transfer section are vertically stacked, the space required for transferring the substrate to and from an external device is reduced, and the intermediate transfer apparatus has a small space. Footprint is reduced.

【0045】(11)第11の発明 第11の発明に係る中間受け渡し装置は、基板に所定の
処理を行う処理部と所定の外部装置との間で基板の受け
渡しを行う中間受け渡し装置であって、外部装置に基板
を渡しかつ外部装置から基板を受け取るための共通の受
け渡し部と、共通の受け渡し部を上下に昇降させるため
の昇降手段と、処理部との基板受け渡し位置と共通の受
け渡し部との間で基板を搬送する搬送手段とを備えたも
のである。
(11) Eleventh Invention An intermediate delivery device according to an eleventh invention is an intermediate delivery device for delivering a substrate between a processing section for performing a predetermined process on a substrate and a predetermined external device. A common transfer unit for transferring the substrate to the external device and receiving the substrate from the external device, an elevating unit for vertically moving the common transfer unit up and down, and a common transfer unit for the substrate transfer position with the processing unit. Transport means for transporting the substrate between them.

【0046】本発明に係る中間受け渡し装置において
は、処理部により処理された基板が搬送手段により搬送
され、共通の受け渡し部に渡される。そして、昇降手段
により共通の受け渡し部が外部装置との基板の受け渡し
位置まで昇降され、共通の受け渡し部から外部装置に基
板が搬入される。また、昇降手段により共通の受け渡し
部が外部装置との基板の受け渡し位置まで昇降され、外
部装置から搬出された基板が共通の受け渡し部により受
け取られる。そして、搬送手段により共通の受け渡し部
から処理部との基板受け渡し位置に基板が搬送され、処
理部でその基板に処理が行われる。
In the intermediate transfer device according to the present invention, the substrate processed by the processing unit is transferred by the transfer unit and transferred to the common transfer unit. Then, the common transfer unit is moved up and down to the transfer position of the substrate with the external device by the elevating means, and the substrate is carried into the external device from the common transfer unit. Further, the common transfer unit is moved up and down to the transfer position of the substrate with the external device by the elevating means, and the substrate carried out of the external device is received by the common transfer unit. Then, the substrate is transported from the common delivery unit to the substrate delivery position with the processing unit by the transportation unit, and the processing unit performs processing on the substrate.

【0047】特に、昇降手段により共通の受け渡し部を
上下に昇降させることにより外部装置への基板の搬入時
および外部装置からの基板の搬出時に共通の受け渡し部
が用いられるので、外部装置との間での基板の受け渡し
のために必要なスペースが小さくなり、中間受け渡し装
置のフットプリントが低減される。
In particular, by raising and lowering the common transfer unit by the lifting / lowering means, the common transfer unit is used when the substrate is carried into and out of the external device, so that the common transfer unit is used. The space required for the transfer of the substrate at the same time is reduced, and the footprint of the intermediate transfer device is reduced.

【0048】(12)第12の発明 第12の発明に係る中間受け渡し装置は、基板に所定の
処理を行う処理部と所定の外部装置との間で基板の受け
渡しを行う中間受け渡し装置であって、外部装置に基板
を渡しかつ外部装置から基板を受け取るための共通の受
け渡し部と、処理部との基板受け渡し位置と共通の受け
渡し部との間で基板を搬送する搬送手段とを備えたもの
である。
(12) Twelfth Invention An intermediate delivery device according to a twelfth invention is an intermediate delivery device for delivering a substrate between a processing unit for performing a predetermined process on a substrate and a predetermined external device. A common transfer unit for transferring the substrate to the external device and receiving the substrate from the external device, and a transfer unit for transferring the substrate between a substrate transfer position with the processing unit and the common transfer unit. is there.

【0049】本発明に係る中間受け渡し装置において
は、処理部により処理された基板が搬送手段により搬送
され、共通の受け渡し部に渡され、共通の受け渡し部か
ら外部装置に基板が搬入される。また、外部装置から搬
出された基板が共通の受け渡し部により受け取られ、搬
送手段により共通の受け渡し部から処理部との基板受け
渡し位置に基板が搬送され、処理部でその基板に処理が
行われる。
In the intermediate transfer device according to the present invention, the substrate processed by the processing section is transferred by the transfer means, transferred to the common transfer section, and the substrate is carried into the external device from the common transfer section. Further, the substrate carried out from the external device is received by the common transfer unit, the substrate is transferred from the common transfer unit to the substrate transfer position with the processing unit by the transfer unit, and the processing unit processes the substrate.

【0050】特に、外部装置への基板の搬入時および外
部装置からの基板の搬出時に共通の受け渡し部が用いら
れるので、外部装置との間での基板の受け渡しのために
必要なスペースが小さくなり、中間受け渡し装置のフッ
トプリントが低減される。
In particular, since a common transfer section is used when a substrate is carried into and out of an external device, the space required for transferring the substrate to and from the external device is reduced. , The footprint of the intermediate transfer device is reduced.

【0051】[0051]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

(1)第1の実施例 図1は本発明の第1の実施例における基板処理装置の全
体の構成を示す平面図である。図2は図1の基板処理装
置を露光ユニット側から見た正面図である。図3は図1
の基板処理装置におけるバッファ部付近の概略構成を示
す斜視図である。図1以降の各図には、位置関係を明確
にするためにXYZ直交座標系を付している。
(1) First Embodiment FIG. 1 is a plan view showing the overall configuration of a substrate processing apparatus according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a front view of the substrate processing apparatus of FIG. 1 as viewed from the exposure unit side. FIG. 3 is FIG.
FIG. 4 is a perspective view showing a schematic configuration near a buffer unit in the substrate processing apparatus of FIG. 1 and subsequent figures are provided with an XYZ orthogonal coordinate system in order to clarify the positional relationship.

【0052】図1の基板処理装置100aは、インデク
サ1、処理ユニット2、およびインタフェースユニット
(中間受け渡し装置;以下、IFユニットと略記する)
3を備える。IFユニット3に隣接するように外部装置
として露光ユニット4が配置されている。
The substrate processing apparatus 100a shown in FIG. 1 includes an indexer 1, a processing unit 2, and an interface unit (intermediate transfer device; hereinafter, abbreviated as IF unit).
3 is provided. An exposure unit 4 is disposed as an external device adjacent to the IF unit 3.

【0053】インデクサ1は、キャリアの自動搬送車
(Auto Guided Vehicle ; 以下、AGVと呼ぶ)5との
間でキャリアCの受け渡しを行うための搬入出テーブル
11、およびその搬入出テーブル11に載置されている
キャリアCと後述する処理ユニット2内の基板搬送ロボ
ット23との間で基板Wの受け渡しを行う基板搬入出ロ
ボット12を備える。
The indexer 1 has a loading / unloading table 11 for transferring a carrier C to and from an automatic guided vehicle (hereinafter referred to as AGV) 5 for a carrier, and is mounted on the loading / unloading table 11. A substrate loading / unloading robot 12 for transferring a substrate W between a carrier C and a substrate transport robot 23 in the processing unit 2 described below.

【0054】処理ユニット2は、第1の装置配置部21
と、第2の装置配置部22と、基板搬送ロボット23用
の搬送経路24とを備える。第1の装置配置部21に
は、図1のX軸方向に沿って、レジスト塗布を行うため
のスピンコータ(回転式塗布装置)SC、および現像を
行うためのスピンディベロッパ(回転式現像装置)SD
がそれぞれ複数台配設されている。また、第2の装置配
置部22には、プリベーク、ポストベーク等を行うため
のベークユニットBUおよび複数台のエッジ露光部EE
Wが配設されている。
The processing unit 2 includes a first device placement unit 21
, A second apparatus arrangement unit 22, and a transfer path 24 for the substrate transfer robot 23. A first coater (rotary coating device) SC for performing resist coating and a spin developer (rotary developing device) SD for performing development are provided along the X-axis direction in FIG.
Are arranged in plurals. Further, the second apparatus arrangement unit 22 includes a bake unit BU for performing pre-bake, post-bake, and the like, and a plurality of edge exposure units EE.
W is provided.

【0055】基板搬送ロボット23用の搬送経路24
は、第1の装置配置部21と第2の装置配置部22との
間に設けられている。基板搬送ロボット23は、基板W
を支持する複数の突起部23aを備えた馬蹄形のハンド
23bと、そのハンド23bを水平方向(X−Y平面)
に伸縮させる伸縮部23cとを備える。伸縮部23c
は、図示しないねじ軸およびモータ等からなる1軸方向
移動機構により構成され、図示しない所定のモータによ
りZ軸周りに回転する。
Transfer path 24 for substrate transfer robot 23
Is provided between the first device placement unit 21 and the second device placement unit 22. The substrate transfer robot 23 moves the substrate W
Hand 23b provided with a plurality of projections 23a for supporting the hand, and the hand 23b is moved in the horizontal direction (XY plane).
And an expansion / contraction part 23c that expands and contracts. Telescopic part 23c
Is configured by a one-axis direction moving mechanism including a screw shaft and a motor (not shown), and is rotated around the Z axis by a predetermined motor (not shown).

【0056】この基板搬送ロボット23は、ハンド23
bのZ軸(鉛直軸)周りの回転、X軸およびY軸方向の
移動および伸縮動作を適宜に組み合わせて、スピンコー
タSC、スピンディベロッパSD、ベークユニットB
U、エッジ露光部EEW等の処理装置に対するアクセス
(基板Wの搬入および搬出動作)、後述するIFユニッ
ト3内のバッファ部32の任意の収納棚32aに対する
基板Wの収納(載置)および取り出し、処理ユニット2
内の各処理装置との間での基板Wの搬送等を行う。
The substrate transfer robot 23 includes a hand 23
b, the rotation about the Z-axis (vertical axis), the movement in the X-axis and the Y-axis directions, and the expansion and contraction operations are appropriately combined to form a spin coater SC, a spin developer SD, and a bake unit B
U, access to the processing apparatus such as the edge exposure unit EEW (loading and unloading operations of the substrate W), storage (loading) and removal of the substrate W to and from an optional storage shelf 32a of the buffer unit 32 in the IF unit 3, which will be described later. Processing unit 2
The transfer of the substrate W to / from each of the processing apparatuses is performed.

【0057】例えば、スピンコータSCに基板Wを搬入
する場合には、まず、基板Wを支持するハンド23bを
X軸方向およびZ軸方向に適宜移動させてスピンコータ
SCの前方に位置させ、ハンド23bのZ軸周りの回転
によりハンド23bをそのスピンコータSCの方向に伸
縮できるようにする。次に、ハンド23bをスピンコー
タSCの基板搬入出口からスピンコータSC内に挿入
し、基板Wの受け渡し後、ハンド23bをスピンコータ
SCから退出させる。スピンコータSCからの基板Wの
搬出は、上記搬入時と逆の動作で行う。その他の処理装
置に対するアクセスの際の基板搬送ロボット23の動作
も、上記の動作とほぼ同様である。
For example, when carrying the substrate W into the spin coater SC, first, the hand 23b supporting the substrate W is moved appropriately in the X-axis direction and the Z-axis direction to be positioned in front of the spin coater SC, and The rotation around the Z axis allows the hand 23b to expand and contract in the direction of the spin coater SC. Next, the hand 23b is inserted into the spin coater SC from the substrate loading / unloading port of the spin coater SC, and after the transfer of the substrate W, the hand 23b is withdrawn from the spin coater SC. The unloading of the substrate W from the spin coater SC is performed in a reverse operation to the above-described loading. The operation of the substrate transfer robot 23 when accessing other processing apparatuses is almost the same as the above operation.

【0058】IFユニット3は、図1および図2に示す
ように、バッファ部32、基板搬送ロボット33、基板
搬入台34および基板搬出台35を一体的にユニット化
することにより構成されている。基板搬入台34および
基板搬出台35は上下に積層されている(図2参照)。
また、本実施例では、IFユニット3内に、第1および
第2のカセット36a,36bをそれぞれセットしてお
くための2個のテーブル台37a,37bも設けられて
いる。
As shown in FIGS. 1 and 2, the IF unit 3 is configured by integrally integrating a buffer section 32, a substrate transport robot 33, a substrate loading table 34, and a substrate discharging table 35. The substrate loading table 34 and the substrate loading table 35 are vertically stacked (see FIG. 2).
In this embodiment, two table tables 37a and 37b for setting the first and second cassettes 36a and 36b are also provided in the IF unit 3.

【0059】バッファ部32は、上記処理ユニット2内
の基板搬送ロボット23のX軸方向の移動経路の延長線
と、後述するIFユニット3内の基板搬送ロボット33
のX軸方向の移動経路の延長線との交差する位置に配置
され、IFユニット3の内側面に支持されている。
The buffer unit 32 is provided with an extension of the moving path of the substrate transfer robot 23 in the X-axis direction in the processing unit 2 and a substrate transfer robot 33 in the IF unit 3 described later.
And is supported on the inner surface of the IF unit 3 at a position intersecting with the extension of the movement path in the X-axis direction.

【0060】図3に示すように、バッファ部32には、
複数個の収納棚32aがZ軸方向に多段に積層されてい
る。各収納棚32aは、露光ユニット4側の側壁32b
に処理ユニット2側に向けて張り出すように設けられた
1対の支持腕32cに複数個の基板支持ピン32dが鉛
直方向に立設されてなり、基板支持ピン32dに基板W
が載置される。また、各収納棚32aにおいて、上記処
理ユニット2内の基板搬送ロボット23およびIFユニ
ット3内の基板搬送ロボット33に対向する面が開口さ
れている。これにより、各基板搬送ロボット23,33
による基板Wの収納および取り出しが行われる。
As shown in FIG. 3, the buffer unit 32 includes
A plurality of storage shelves 32a are stacked in multiple stages in the Z-axis direction. Each storage shelf 32a has a side wall 32b on the side of the exposure unit 4.
A plurality of substrate support pins 32d are vertically provided on a pair of support arms 32c provided to protrude toward the processing unit 2 side, and the substrate W is mounted on the substrate support pins 32d.
Is placed. In each of the storage shelves 32a, a surface facing the substrate transfer robot 23 in the processing unit 2 and the substrate transfer robot 33 in the IF unit 3 is opened. Thereby, each substrate transfer robot 23, 33
Of the substrate W is taken out and taken out.

【0061】処理ユニット2内の基板搬送ロボット23
によりバッファ部32へ基板Wを収納する際には、ま
ず、基板Wを支持するハンド23bのX軸方向およびZ
軸方向の移動ならびにZ軸周りの回転を適宜行い、ハン
ド23bをバッファ部32の方向に伸縮できるようにす
る。次に、ハンド23bをバッファ部32の方向に伸長
させ、支持している基板Wを収納棚32aに挿入し、Z
軸方向に下降させて基板Wをその収納棚32aの基板支
持ピン32dに載置し、さらにハンド23bを若干下降
させて退出させる。バッファ部32の任意の収納棚32
aからの基板Wの取り出しは、上記基板Wの収納と逆の
動作でハンド23bが収納されている基板Wを下方から
持ち上げるようにして行う。
The substrate transfer robot 23 in the processing unit 2
When the substrate W is stored in the buffer unit 32 by the operator, first, the hand 23b supporting the substrate W is
The movement in the axial direction and the rotation around the Z axis are appropriately performed so that the hand 23b can expand and contract in the direction of the buffer unit 32. Next, the hand 23b is extended in the direction of the buffer section 32, and the supporting substrate W is inserted into the storage shelf 32a.
The substrate W is lowered in the axial direction to place the substrate W on the substrate support pins 32d of the storage shelf 32a, and the hand 23b is further lowered slightly to be retreated. Optional storage shelf 32 in buffer section 32
The removal of the substrate W from a is performed in such a manner that the substrate W in which the hand 23b is stored is lifted from below by the reverse operation of the storage of the substrate W.

【0062】図2に示すように、IFユニット3内の基
板搬送ロボット33は、Y方向駆動部33a、第1の連
結部材33b、Z方向駆動部33c、第2の連結部材3
3d、回転駆動部33e、伸縮駆動部33fおよび基板
支持部33gにより構成される。
As shown in FIG. 2, the substrate transfer robot 33 in the IF unit 3 includes a Y-direction drive unit 33a, a first connection member 33b, a Z-direction drive unit 33c, and a second connection member 3c.
3d, a rotation drive unit 33e, a telescopic drive unit 33f, and a substrate support unit 33g.

【0063】Y方向駆動部33aはIFユニット3の内
側面に固定されている。このY方向駆動部33aには、
ねじ軸33aaがY軸周りに回動自在に内設され、ねじ
軸33aaに平行にガイド軸33abが内設され、また
ねじ軸33aaを正逆方向に回転させるモータ33ac
も内設されている。このY方向駆動部33aは、基板搬
送ロボット33の伸縮駆動部33fおよび基板支持部3
3gを、バッファ部32のY軸方向の正面と、後述する
基板搬入台34および基板搬出台35のX軸方向の正面
との間で移動可能に配置されている。
The Y-direction driving section 33a is fixed to the inner surface of the IF unit 3. The Y-direction driving unit 33a includes:
A screw shaft 33aa is rotatably provided around the Y axis, a guide shaft 33ab is provided in parallel with the screw shaft 33aa, and a motor 33ac for rotating the screw shaft 33aa in the forward and reverse directions.
Is also installed inside. The Y-direction driving unit 33a includes a telescopic driving unit 33f of the substrate transfer robot 33 and the substrate supporting unit 3
3g is movably arranged between the front surface of the buffer unit 32 in the Y-axis direction and the front surfaces of the substrate loading table 34 and the substrate discharging table 35 described later in the X-axis direction.

【0064】第1の連結部材33bの基端部は、上記Y
方向駆動部33a内のねじ軸33aaに螺合され、ガイ
ド軸33abに摺動自在に嵌め込まれており、ねじ軸3
3aaを正逆方向に回転させることにより第1の連結部
材33bをY軸方向に移動させることができる。また、
第1の連結部材33bの先端部にはZ方向駆動部33c
が固定されている。
The base end of the first connecting member 33b is
The screw shaft 3aa is screwed to the screw shaft 33aa in the direction drive unit 33a, and is slidably fitted to the guide shaft 33ab.
By rotating 3aa in the forward and reverse directions, the first connecting member 33b can be moved in the Y-axis direction. Also,
The Z-direction driving unit 33c is provided at the tip of the first connecting member 33b.
Has been fixed.

【0065】Z方向駆動部33cには、ねじ軸33ca
がZ軸周りに回動自在に内設され、ねじ軸33caに平
行にガイド軸(図示せず)が内設され、またねじ軸33
caを正逆方向に回転させるモータ33cbも内設され
ている。
The Z-axis driving section 33c has a screw shaft 33ca
Is provided rotatably around the Z axis, a guide shaft (not shown) is provided in parallel with the screw shaft 33ca, and the screw shaft 33
A motor 33cb for rotating ca in the forward and reverse directions is also provided inside.

【0066】第2の連結部材33dの基端部は、上記Z
方向駆動部33c内のねじ軸33caに螺合され、ガイ
ド軸に摺動自在に嵌め込まれており、ねじ軸33caを
正逆方向に回転させることにより第2の連結部材33d
をZ軸方向に移動させることができる。また、第2の連
結部材33dの先端部には回転駆動部33eが固定され
ている。
The base end of the second connecting member 33d is
The second connecting member 33d is screwed into the screw shaft 33ca in the direction driving unit 33c and slidably fitted on the guide shaft, and is rotated in the forward and reverse directions by rotating the screw shaft 33ca.
Can be moved in the Z-axis direction. In addition, a rotation drive unit 33e is fixed to a distal end of the second connection member 33d.

【0067】回転駆動部33eには、上方に回転軸33
eaがZ軸周りに回動自在に立設され、この回転軸33
eaを正逆方向に回転させるモータ33ebが内設され
ている。
The rotation drive unit 33e has a rotation shaft 33
ea is provided so as to be rotatable around the Z axis.
A motor 33eb for rotating ea in the forward and reverse directions is provided therein.

【0068】上記回転軸33eaの先端部には、伸縮駆
動部33fが固定されている。この伸縮駆動部33fに
は、モータ33faで駆動されるタイミングベルト33
fbが内設されている。このタイミングベルト33fb
の一部に基板支持部33gの基端部が連結されており、
タイミングベルト33fbを駆動することにより伸縮駆
動部33fに対して基板支持部33gを伸縮させること
ができる。
A telescopic drive section 33f is fixed to the tip of the rotary shaft 33ea. A timing belt 33 driven by a motor 33fa is attached to the telescopic drive unit 33f.
fb is provided internally. This timing belt 33fb
The base end of the substrate supporting portion 33g is connected to a part of
By driving the timing belt 33fb, the substrate supporting portion 33g can be expanded and contracted with respect to the expansion and contraction driving portion 33f.

【0069】上記回転駆動部33eの回転軸33eaを
正逆方向に回転させることにより、伸縮駆動部33fお
よび基板支持部33gをZ軸周りに回転させ、X−Y平
面(水平面)内の任意の方向に基板支持部33gを伸縮
させることができる。
By rotating the rotation shaft 33ea of the rotation drive unit 33e in the forward and reverse directions, the expansion / contraction drive unit 33f and the substrate support unit 33g are rotated around the Z-axis, and the arbitrary rotation in the XY plane (horizontal plane) is performed. The substrate support 33g can be expanded and contracted in the direction.

【0070】さらに、上記Z方向駆動部33cのねじ軸
33caを正逆方向に回転させることにより、第2の連
結部材33d、回転駆動部33eおよび伸縮駆動部33
fを介して基板支持部33gを伸縮させるZ軸方向の高
さを調整することが可能となる。
Further, by rotating the screw shaft 33ca of the Z-direction drive unit 33c in the forward and reverse directions, the second connection member 33d, the rotation drive unit 33e, and the extension drive unit 33c are rotated.
It is possible to adjust the height in the Z-axis direction for expanding and contracting the substrate support 33g via f.

【0071】また、Y方向駆動部33aのねじ軸33a
aを正逆方向に回転させることにより、第1の連結部材
33b、Z方向駆動部33c、第2の連結部材33dお
よび回転駆動部33eを介して伸縮駆動部33fおよび
基板支持部33gをY軸方向に変位させることが可能と
なる。
The screw shaft 33a of the Y-direction drive unit 33a
is rotated in the forward and reverse directions, the first extension member 33b, the Z-direction drive section 33c, the second extension member 33d, and the rotation drive section 33e move the expansion / contraction drive section 33f and the substrate support section 33g along the Y axis. In the direction.

【0072】なお、伸縮駆動部33fがZ軸方向に下降
した状態でも伸縮駆動部33fがZ軸周りに回転できる
ように、Z方向駆動部33cは、第2の連結部材33d
を介して伸縮駆動部33fおよび回転駆動部33eの下
方からずれた位置に配置されている。
It should be noted that the Z-direction drive unit 33c is connected to the second connecting member 33d so that the extension / contraction drive unit 33f can rotate around the Z-axis even when the extension / contraction drive unit 33f is lowered in the Z-axis direction.
Are disposed at positions deviated from below the expansion / contraction drive unit 33f and the rotation drive unit 33e.

【0073】上記構成により、基板搬送ロボット33
は、バッファ部32の任意の収納棚32aに対する基板
Wの収納および取り出し、基板搬入台34への基板Wの
載置、基板搬出台35からの基板Wの取り出し、および
後述するカセット36a,36bに対する基板Wの収納
および取り出しを行う。
With the above configuration, the substrate transfer robot 33
Are stored in and taken out of the substrate W from / to an arbitrary storage shelf 32a of the buffer unit 32, placed on the substrate carrying table 34, taken out of the substrate W from the substrate carrying table 35, and loaded into cassettes 36a and 36b described later. The substrate W is stored and taken out.

【0074】バッファ部32の任意の収納棚32aに対
する基板Wの収納および取り出しの際には、基板支持部
33gの伸縮方向をバッファ部32の方向にし、収納ま
たは取り出しの対象となる収納棚32aの高さに合わせ
て伸縮駆動部33fおよび基板支持部33gのZ軸方向
の高さを調節する。この場合の基板Wの収納および取り
出しも、上述した処理ユニット2内の基板搬送ロボット
23によるバッファ部32の任意の収納棚32aに対す
る基板Wの収納および取り出しと同様の動作で行う。
When the substrate W is stored in or taken out of any storage shelf 32a of the buffer section 32, the direction of expansion and contraction of the substrate support section 33g is set to the direction of the buffer section 32, and the storage shelf 32a to be stored or taken out is set. The height in the Z-axis direction of the telescopic drive unit 33f and the substrate support unit 33g is adjusted according to the height. The storage and removal of the substrate W in this case are also performed by the same operation as the storage and removal of the substrate W from the optional storage shelf 32a of the buffer unit 32 by the substrate transfer robot 23 in the processing unit 2 described above.

【0075】基板搬入台34および基板搬出台35は、
支持台142上に上下方向に2段に積層されている。本
実施例では、支持部材143により基板搬出台35上に
基板搬入台34が配置されている。基板搬入台34およ
び基板搬出台35には、それぞれ3本以上(本実施例で
は4本)の基板支持ピン34a,35aが鉛直方向に立
設されている。これらの基板支持ピン34a,35aに
基板Wが載置されて露光ユニット4内の基板搬送ロボッ
ト(図示せず)との間で基板Wの受け渡しが行われる。
The substrate loading table 34 and the substrate loading table 35 are
It is stacked on the support table 142 in two stages vertically. In this embodiment, the substrate loading table 34 is disposed on the substrate loading table 35 by the support member 143. Three or more (four in this embodiment) substrate support pins 34a and 35a are respectively provided on the substrate carry-in table 34 and the substrate carry-out table 35 in the vertical direction. The substrate W is placed on the substrate support pins 34a and 35a, and the substrate W is transferred to and from a substrate transport robot (not shown) in the exposure unit 4.

【0076】なお、図示していないが、露光ユニット4
とIFユニット3との間で基板Wを受け渡すときに基板
Wを支持した露光ユニット4内の基板搬送ロボットが通
過するための開口が、露光ユニット4とIFユニット3
との間に設けられている。
Although not shown, the exposure unit 4
The opening through which the substrate transport robot in the exposure unit 4 supporting the substrate W passes when the substrate W is transferred between the exposure unit 4 and the IF unit 3 is provided between the exposure unit 4 and the IF unit 3.
And is provided between them.

【0077】IFユニット3内の基板搬送ロボット33
による基板搬入台34への基板Wの載置は、図4に示す
ように行う。まず、図2のY方向駆動部33aにより伸
縮駆動部33fおよび基板支持部33gをY軸方向に移
動させて基板搬入台34のX軸方向の正面に位置させる
とともに、回転駆動部33eにより伸縮駆動部33fを
Z軸周りで回転させて基板支持部33gを基板搬入台3
4の方向に伸縮できるようにする。そして、基板搬入台
34のZ軸方向の高さに合わせてZ方向駆動部33cに
より基板支持部33gの高さを調節する。
The substrate transfer robot 33 in the IF unit 3
The mounting of the substrate W on the substrate loading table 34 by the above is performed as shown in FIG. First, the expansion / contraction driving unit 33f and the substrate support unit 33g are moved in the Y-axis direction by the Y-direction driving unit 33a in FIG. 2 to be positioned in front of the substrate loading table 34 in the X-axis direction, and are also driven by the rotation driving unit 33e. The part 33f is rotated about the Z-axis, and the substrate supporting part 33g is moved to the substrate loading table 3
4 so that it can expand and contract. Then, the height of the substrate supporting portion 33g is adjusted by the Z-direction driving portion 33c in accordance with the height of the substrate loading table 34 in the Z-axis direction.

【0078】なお、基板支持部33gのY軸方向の移
動、Z軸周りの回転およびZ軸方向の移動はいずれを先
に行ってもよい。
The movement of the substrate support 33g in the Y-axis direction, the rotation about the Z-axis, and the movement in the Z-axis direction may be performed first.

【0079】次に、基板支持部33gを伸長させて支持
している基板Wを基板搬入台34の基板支持ピン34a
の若干上方に位置させ、Z軸方向駆動部33cにより基
板支持部33gをZ軸方向に下降させて基板Wを基板搬
入台34の基板支持ピン34a上に載置し、載置した基
板Wの裏面と基板支持部33gとが接触しない位置で基
板支持部33gの下降を停止する。その後、基板支持部
33gを退出させる。
Next, the substrate W supporting the substrate supporting portion 33 g by extending it is supported by the substrate supporting pins 34 a of the substrate loading table 34.
The substrate W is placed on the substrate support pins 34a of the substrate loading table 34 by lowering the substrate support 33g in the Z-axis direction by the Z-axis drive unit 33c. The lowering of the substrate support 33g is stopped at a position where the back surface does not contact the substrate support 33g. After that, the substrate support 33g is withdrawn.

【0080】IFユニット3内の基板搬送ロボット33
による基板搬出台35からの基板Wの取り出しは、上記
基板搬入台34への基板Wの載置と逆の動作で基板支持
部33gが基板搬出台35の基板支持ピン35a上に載
置されている基板Wを下方から持ち上げるようにして行
う。
The substrate transfer robot 33 in the IF unit 3
When the substrate W is taken out of the substrate carrying-out table 35 by the above operation, the substrate supporting portion 33g is placed on the substrate supporting pins 35a of the substrate carrying-out table 35 in an operation reverse to the operation of placing the substrate W on the substrate carrying-in table 34. The substrate W is lifted from below.

【0081】第1のカセット36aをセットするテーブ
ル台37aは、IFユニット3内の基板搬送ロボット3
3のY方向駆動部33aの一端部(バッファ部32と反
対側の端部)側にバッファ部32と向き合うようにIF
ユニット3の内側面に固定されている。また、第2のカ
セット36bをセットするテーブル台37bは、上記テ
ーブル台37aよりもY軸方向にバッファ部32に近
く、かつテーブル台37aよりも高い位置にIFユニッ
ト3の内側面に固定されている。また、テーブル台37
aの高さは、図2に想像線で示すように、IFユニット
3内の基板搬送ロボット33が基板搬入台34および基
板搬出台35の側に位置しているときにZ方向駆動部3
3cの上端が干渉しないように位置決めされている。
The table table 37a on which the first cassette 36a is set is mounted on the substrate transfer robot 3 in the IF unit 3.
3 at one end (the end opposite to the buffer unit 32) of the Y-direction driving unit 33a so as to face the buffer unit 32.
It is fixed to the inner surface of the unit 3. The table base 37b for setting the second cassette 36b is fixed to the inner surface of the IF unit 3 at a position closer to the buffer unit 32 in the Y-axis direction than the table base 37a and higher than the table base 37a. I have. In addition, the table table 37
The height of the Z-direction drive unit 3 when the substrate transfer robot 33 in the IF unit 3 is located on the substrate loading table 34 and the substrate loading table 35 as shown by the imaginary line in FIG.
The upper end of 3c is positioned so as not to interfere.

【0082】第1および第2のカセット36a,36b
には、複数の基板Wを水平姿勢で収納するための複数個
の収納棚(図示せず)が設けられている。これらのカセ
ット36a,36bは、例えば、パイロット基板(露光
テスト用の基板)を収納して露光テストを行う場合に用
いられたり、IFユニット3をインデクサ1として使用
する場合に用いられる。
First and second cassettes 36a and 36b
Is provided with a plurality of storage shelves (not shown) for storing a plurality of substrates W in a horizontal posture. These cassettes 36a and 36b are used, for example, when a pilot board (substrate for exposure test) is stored and an exposure test is performed, or when the IF unit 3 is used as the indexer 1.

【0083】テーブル台37a,37bに対するカセッ
ト36a,36bのセットまたは取り出しは、作業者が
IFユニット3の一側面に設けられた扉38(図1参
照)を開いて行う。
The setting or taking out of the cassettes 36a, 36b with respect to the table bases 37a, 37b is performed by an operator opening a door 38 (see FIG. 1) provided on one side of the IF unit 3.

【0084】露光ユニット4は、露光を行うための例え
ば縮小投影露光機(ステッパ)等の露光機、露光機での
露光パターンの焼き付けのための位置決めを行うアライ
メント機構、露光ユニット4内で基板Wの搬送等を行う
基板搬送ロボット(いずれも図示せず)を一体的にユニ
ット化することにより構成される。
The exposure unit 4 includes an exposure machine such as a reduction projection exposure machine (stepper) for performing exposure, an alignment mechanism for performing positioning for printing an exposure pattern by the exposure machine, and a substrate W in the exposure unit 4. It is configured by integrally integrating a substrate transfer robot (both not shown) for performing transfer and the like.

【0085】露光ユニット4内の基板搬送ロボットは、
IFユニット3内の基板搬入台34に載置された露光前
の基板Wを露光ユニット4内に取り込むとともに、露光
ユニット4での露光処理が終了した露光済の基板Wを露
光ユニット4から搬出してIFユニット3内の基板搬出
台35に載置する。
The substrate transport robot in the exposure unit 4
The substrate W before exposure placed on the substrate loading table 34 in the IF unit 3 is taken into the exposure unit 4, and the exposed substrate W after the exposure processing in the exposure unit 4 is unloaded from the exposure unit 4. And placed on the substrate carrying table 35 in the IF unit 3.

【0086】本実施例では、露光ユニット4への基板W
の搬入時における露光ユニット4内の基板搬送ロボット
との基板受け渡し位置が上部に配置され、露光ユニット
4からの基板Wの搬出時における露光ユニット4内の基
板搬送ロボットとの基板受け渡し位置が下部に配置され
ているものとする。
In the present embodiment, the substrate W
The substrate transfer position with the substrate transfer robot in the exposure unit 4 at the time of loading of the substrate W is arranged at the upper part, and the substrate transfer position with the substrate transfer robot within the exposure unit 4 at the time of unloading the substrate W from the exposure unit 4 is at the lower part. It is assumed that they are arranged.

【0087】この露光ユニット4内の基板搬送ロボット
による基板搬入台34からの基板Wの取り出しおよび基
板搬出台35への基板Wの載置は、図4を用いて説明し
たIFユニット3内の基板搬送ロボット33による基板
搬入台34への基板Wの載置および基板搬出台35から
の基板Wの取り出しの動作と同様に行われる。
The removal of the substrate W from the substrate carry-in table 34 and the placement of the substrate W on the substrate carry-out table 35 by the substrate transfer robot in the exposure unit 4 are performed by using the substrate in the IF unit 3 described with reference to FIG. The operation of placing the substrate W on the substrate carry-in table 34 and taking out the substrate W from the substrate carry-out table 35 by the transfer robot 33 is performed.

【0088】本実施例では、処理ユニット2が処理部に
相当し、基板搬入台34が第1の受け渡し部および第1
の基板載置部に相当し、基板搬出台35が第2の受け渡
し部および第2の基板載置部に相当し、バッファ部32
の各収納棚32aが処理部としての処理ユニット2との
基板受け渡し位置に相当し、基板搬送ロボット33が搬
送手段に相当する。
In the present embodiment, the processing unit 2 corresponds to a processing section, and the substrate carrying table 34 is connected to the first transfer section and the first transfer section.
The substrate unloading table 35 corresponds to the second transfer unit and the second substrate mounting unit, and the buffer unit 32
Each of the storage shelves 32a corresponds to a substrate transfer position with the processing unit 2 as a processing unit, and the substrate transfer robot 33 corresponds to a transfer unit.

【0089】次に、図1の基板処理装置100aの動作
を説明する。まず、AGV5により搬入出テーブル11
へキャリアCが載置され、基板搬入出ロボット12によ
りキャリアCから処理前の基板搬送ロボットWが取り出
され、その基板Wが処理ユニット2内の基板搬送ロボッ
ト23に渡される。そして、基板搬送ロボット23によ
り処理前の基板WがスピンコータSC、ベークユニット
BU、エッジ露光部EEW等に順次搬送され、スピンコ
ータSCによるレジスト塗布、ベークユニットBUによ
るベーク、エッジ露光部EEWによるエッジ露光等の各
種処理が行われる。
Next, the operation of the substrate processing apparatus 100a of FIG. 1 will be described. First, the loading / unloading table 11 is operated by the AGV 5.
The substrate transport robot W before processing is taken out of the carrier C by the substrate loading / unloading robot 12, and the substrate W is transferred to the substrate transport robot 23 in the processing unit 2. Then, the substrate W before processing is sequentially transported by the substrate transport robot 23 to the spin coater SC, the bake unit BU, the edge exposure unit EEW, and the like, and resist coating by the spin coater SC, baking by the bake unit BU, edge exposure by the edge exposure unit EEW, and the like. Are performed.

【0090】処理後の基板Wは、基板搬送ロボット23
によりIFユニット3のバッファ部32の任意の収納棚
32aに収納される。そして、収納棚32aに収納され
た露光前の基板Wが基板搬送ロボット33により取り出
され、基板搬入台34の基板支持ピン34a上に載置さ
れる。
The processed substrate W is transferred to the substrate transfer robot 23
Is stored in an optional storage shelf 32a of the buffer unit 32 of the IF unit 3. Then, the substrate W before exposure stored in the storage shelf 32a is taken out by the substrate transfer robot 33 and placed on the substrate support pins 34a of the substrate loading table 34.

【0091】その後、露光ユニット4内の基板搬送ロボ
ット(図示せず)により基板搬入台34から露光前の基
板Wが露光ユニット4内に取り込まれる。露光ユニット
4内では、基板Wがアライメント機構に引き渡されて位
置決め処理が行われ、位置決めされた状態で露光機に渡
され、所定の露光パターンが焼き付けられる。
Thereafter, the substrate W before exposure is taken into the exposure unit 4 from the substrate carry-in table 34 by the substrate transfer robot (not shown) in the exposure unit 4. In the exposure unit 4, the substrate W is transferred to the alignment mechanism to perform a positioning process. The substrate W is transferred to the exposure device in a positioned state, and a predetermined exposure pattern is printed.

【0092】露光処理が終了した露光済の基板Wは、露
光ユニット4内の基板搬送ロボットにより露光ユニット
4から搬出され、基板搬出台35の基板支持ピン35a
上に載置される。
The exposed substrate W having been subjected to the exposure processing is carried out of the exposure unit 4 by the substrate transfer robot in the exposure unit 4, and the substrate support pins 35 a of the substrate carrying table 35 are provided.
Placed on top.

【0093】その後、IFユニット3の基板搬送ロボッ
ト33により基板搬出台35から露光済の基板Wが取り
出され、バッファ部32の任意の収納棚32aに収納さ
れる。
After that, the exposed substrate W is taken out from the substrate carry-out stand 35 by the substrate transfer robot 33 of the IF unit 3 and stored in an optional storage shelf 32 a of the buffer unit 32.

【0094】そして、処理ユニット2内の基板搬送ロボ
ット23によりバッファ部32の収納棚32aから露光
済の基板Wが取り出され、ベークユニットBU、スピン
ディベロッパSD等に順次搬送され、ベークユニットB
Uによるベーク、スピンディベロッパSDによる現像等
の各種処理が行われる。処理後の基板Wは、基板搬送ロ
ボット23によりインデクサ1の基板搬入出ロボット1
2に渡され、基板搬入出ロボット12により搬入出テー
ブル11上のキャリアCに収納される。
Then, the exposed substrate W is taken out from the storage shelf 32a of the buffer unit 32 by the substrate transfer robot 23 in the processing unit 2, and is sequentially transferred to the bake unit BU, the spin developer SD, etc.
Various processes such as baking by U and development by the spin developer SD are performed. The processed substrate W is transferred to the substrate transfer robot 23 of the indexer 1 by the substrate transfer robot 23.
The substrate is transferred to the carrier C on the loading / unloading table 11 by the substrate loading / unloading robot 12.

【0095】本実施例の基板処理装置100aにおいて
は、IFユニット3の基板搬入台34および基板搬出台
35が上下方向に積層されているので、露光ユニット4
との基板Wの受け渡しのために必要なスペースが小さく
なり、IFユニット3のフットプリントが低減される。
本実施例の場合、基板処理装置100aと露光ユニット
4との間に余剰スペースSが生じる。この余剰スペース
Sを利用してIFユニット3および露光ユニット4の保
守を行うことができる。あるいは、この余剰スペースS
に他の処理装置等を設置することも可能となる。
In the substrate processing apparatus 100a of this embodiment, since the substrate loading table 34 and the substrate loading table 35 of the IF unit 3 are vertically stacked, the exposure unit 4
The space required for the transfer of the substrate W to the above is reduced, and the footprint of the IF unit 3 is reduced.
In the case of the present embodiment, an extra space S is generated between the substrate processing apparatus 100a and the exposure unit 4. The IF unit 3 and the exposure unit 4 can be maintained using the surplus space S. Alternatively, this surplus space S
It is also possible to install another processing device or the like in the system.

【0096】(2)第2の実施例 次に、本発明の第2の実施例における基板処理装置を説
明する。第2の実施例の基板処理装置では、第1の実施
例の基板処理装置100aの基板搬入台34および基板
搬出台35の代わりに図5に示す基板搬入出台130が
用いられる。
(2) Second Embodiment Next, a substrate processing apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described. In the substrate processing apparatus of the second embodiment, a substrate loading / unloading table 130 shown in FIG. 5 is used instead of the substrate loading table 34 and the substrate loading table 35 of the substrate processing apparatus 100a of the first embodiment.

【0097】図5に示すように、基板搬入出台130
は、昇降装置140によりZ軸方向に移動可能となって
いる。基板搬入出台130上には、3本以上の基板支持
ピン130aが立設されている。本実施例の基板処理装
置の他の部分の構成は、第1の実施例の基板処理装置1
00aの構成と同様である。
As shown in FIG. 5, the substrate loading / unloading table 130
Can be moved in the Z-axis direction by the lifting device 140. On the substrate loading / unloading table 130, three or more substrate supporting pins 130a are erected. The configuration of another part of the substrate processing apparatus of the present embodiment is the same as that of the substrate processing apparatus 1 of the first embodiment.
The configuration is the same as 00a.

【0098】本実施例では、基板搬入出台130が共通
の受け渡し部および基板載置部に相当し、昇降装置14
0が昇降手段に相当する。
In this embodiment, the substrate loading / unloading table 130 corresponds to a common transfer section and a substrate placing section,
0 corresponds to the elevating means.

【0099】露光前の基板Wを露光ユニット4に搬入す
る際には、IFユニット3内の基板搬送ロボット33に
より基板搬入出台130の基板支持ピン130a上に露
光前の基板Wが載置される。そして、昇降装置140に
より基板搬入出台130が露光ユニット4内の基板搬送
ロボットの受け渡し位置にまで昇降される。その後、露
光ユニット4内の基板搬送ロボットにより基板搬入出台
130から露光前の基板Wが露光ユニット4内に取り込
まれる。
When the substrate W before exposure is carried into the exposure unit 4, the substrate W before exposure is placed on the substrate support pins 130 a of the substrate loading / unloading table 130 by the substrate transfer robot 33 in the IF unit 3. . Then, the substrate loading / unloading table 130 is raised / lowered by the lifting / lowering device 140 to the transfer position of the substrate transfer robot in the exposure unit 4. Thereafter, the substrate W before exposure is taken into the exposure unit 4 from the substrate loading / unloading table 130 by the substrate transfer robot in the exposure unit 4.

【0100】露光済の基板Wを露光ユニット4から搬出
する際には、昇降装置140により基板搬入出台130
が露光ユニット4内の基板搬送ロボットの受け渡し位置
まで昇降される。そして、露光ユニット4内の基板搬送
ロボットにより露光済の基板Wが基板搬入出台130の
基板支持ピン130a上に載置される。その後、IFユ
ニット3内の基板搬送ロボット33により基板搬入出台
130から露光済の基板Wが取り出される。
When the exposed substrate W is carried out of the exposure unit 4, the substrate loading / unloading table 130 is
Is moved up and down to the transfer position of the substrate transfer robot in the exposure unit 4. Then, the exposed substrate W is placed on the substrate support pins 130 a of the substrate loading / unloading table 130 by the substrate transport robot in the exposure unit 4. After that, the exposed substrate W is taken out from the substrate loading / unloading table 130 by the substrate transfer robot 33 in the IF unit 3.

【0101】本実施例の基板処理装置においては、露光
ユニット4への基板Wの搬入時および露光ユニット4か
らの基板Wの搬出時に共通に用いられる基板搬入出台1
30が昇降装置140により上下方向に昇降可能に設け
られているので、露光ユニット4との基板Wの受け渡し
のために必要なスペースが小さくなり、IFユニット3
のフットプリントが低減される。
In the substrate processing apparatus of the present embodiment, the substrate loading / unloading table 1 commonly used when loading / unloading the substrate W into / from the exposure unit 4 is used.
Since the lifting / lowering device 140 is provided so as to be able to move up and down in the vertical direction, the space required for transferring the substrate W to and from the exposure unit 4 is reduced, and
Footprint is reduced.

【0102】(3)第3の実施例 次に、本発明の第3の実施例における基板処理装置を説
明する。第3の実施例の基板処理装置では、第1の実施
例の基板処理装置100aの基板搬入台34および基板
搬出台35の代わりに図6に示す基板搬入出台132が
用いられる。
(3) Third Embodiment Next, a substrate processing apparatus according to a third embodiment of the present invention will be described. In the substrate processing apparatus of the third embodiment, a substrate loading / unloading table 132 shown in FIG. 6 is used instead of the substrate loading table 34 and the substrate loading table 35 of the substrate processing apparatus 100a of the first example.

【0103】図6に示すように、基板搬入出台132は
支持台142により所定の高さに固定されている。基板
搬入出台132上には、3本以上の基板支持ピン132
aが立設されている。本実施例の基板処理装置の他の部
分の構成は、第1の実施例の基板処理装置100aの構
成と同様である。
As shown in FIG. 6, the substrate loading / unloading table 132 is fixed at a predetermined height by a support table 142. On the substrate loading / unloading table 132, three or more substrate supporting pins 132
a is erected. The configuration of the other parts of the substrate processing apparatus of the present embodiment is the same as the configuration of the substrate processing apparatus 100a of the first embodiment.

【0104】本実施例では、基板搬入出台132が共通
の受け渡し部および基板載置部に相当する。
In this embodiment, the board loading / unloading table 132 corresponds to a common transfer section and a board mounting section.

【0105】本実施例の基板処理装置は、露光ユニット
4内の基板搬送ロボットがZ軸方向に移動可能に設けら
れている場合に適用することができる。
The substrate processing apparatus of this embodiment can be applied to a case where the substrate transfer robot in the exposure unit 4 is provided so as to be movable in the Z-axis direction.

【0106】露光前の基板Wを露光ユニット4に搬入す
る際には、IFユニット3内の基板搬送ロボット33に
より露光前の基板Wが基板搬入出台132の基板支持ピ
ン132a上に載置される。露光ユニット4内の基板搬
送ロボットは、基板搬入出台132の高さまで昇降し、
基板搬入出台132から露光ユニット4内に露光前の基
板Wを取り込む。
When the substrate W before exposure is carried into the exposure unit 4, the substrate W before exposure is placed on the substrate support pins 132 a of the substrate loading / unloading table 132 by the substrate transport robot 33 in the IF unit 3. . The substrate transfer robot in the exposure unit 4 moves up and down to the height of the substrate loading / unloading table 132,
The substrate W before exposure is taken into the exposure unit 4 from the substrate loading / unloading table 132.

【0107】露光済の基板Wを露光ユニット4から搬出
する際には、露光ユニット4内の基板搬送ロボットが基
板搬入出台132の高さまで昇降し、露光済の基板Wを
基板搬入出台132の基板支持ピン132a上に載置す
る。その後、IFユニット3内の基板搬送ロボット33
により基板搬入出台132から露光済の基板Wが取り出
される。
When unloading the exposed substrate W from the exposure unit 4, the substrate transfer robot in the exposure unit 4 moves up and down to the height of the substrate loading / unloading table 132, and removes the exposed substrate W from the substrate loading / unloading table 132. It is placed on the support pins 132a. After that, the substrate transfer robot 33 in the IF unit 3
As a result, the exposed substrate W is taken out of the substrate loading / unloading table 132.

【0108】本実施例の基板処理装置においては、露光
ユニット4への基板Wの搬入時および露光ユニット4か
らの基板Wの搬出時に共通に用いられる基板搬入出台1
32が設けられているので、露光ユニット4との基板W
の受け渡しのために必要なスペースが小さくなり、IF
ユニット3のフットプリントが低減される。
In the substrate processing apparatus of this embodiment, the substrate loading / unloading table 1 commonly used when loading the substrate W into and out of the exposure unit 4 is used.
32, the substrate W with the exposure unit 4
Space required for delivery of
The footprint of the unit 3 is reduced.

【0109】(4)第4の実施例 図7は本発明の第4の実施例における基板処理装置の全
体の構成を示す平面図である。図8は図7の基板処理装
置を露光ユニット側から見た正面図である。
(4) Fourth Embodiment FIG. 7 is a plan view showing the overall configuration of a substrate processing apparatus according to a fourth embodiment of the present invention. FIG. 8 is a front view of the substrate processing apparatus of FIG. 7 as viewed from the exposure unit side.

【0110】図7の基板処理装置100bは、インデク
サ1、処理ユニット2およびIFユニット3を備える。
IFユニット3に隣接するように露光ユニット40が配
置されている。
The substrate processing apparatus 100b of FIG. 7 includes an indexer 1, a processing unit 2, and an IF unit 3.
An exposure unit 40 is arranged adjacent to the IF unit 3.

【0111】インデクサ1の構成は、図1のインデクサ
1の構成と同様である。本実施例の処理ユニット2にお
いては、第2の装置配置部22のIFユニット3側の端
部付近に、後述するIFユニット3内の基板搬送ロボッ
ト31と基板Wの受け渡しを行うための基板受け渡し台
25が設けられている。基板受け渡し台25には、3本
以上の基板支持ピン25aが鉛直方向に立設されてお
り、これらの基板支持ピン25aに基板Wが載置されて
基板Wの受け渡しが行われる。なお、処理ユニット2の
他の部分の構成は、図1に示した処理ユニット2の構成
と同様である。
The configuration of the indexer 1 is the same as the configuration of the indexer 1 in FIG. In the processing unit 2 of the present embodiment, a substrate transfer for transferring a substrate W to and from a substrate transfer robot 31 in the IF unit 3 described later is provided near the end of the second apparatus arrangement unit 22 on the IF unit 3 side. A table 25 is provided. Three or more substrate support pins 25a are provided upright on the substrate transfer table 25, and the substrate W is placed on the substrate support pins 25a to transfer the substrate W. The configuration of the other parts of the processing unit 2 is the same as the configuration of the processing unit 2 shown in FIG.

【0112】処理ユニット2内の基板搬送ロボット23
は、ハンド23bのZ軸周りの回転、X軸およびY軸方
向の移動および伸縮動作を適宜に組み合わせて、スピン
コータSC、スピンディベロッパSD、ベークユニット
BU、エッジ露光部EEW等の処理装置に対するアクセ
ス、基板受け渡し台25に対する基板Wの載置および取
り出し、処理ユニット2内の各処理装置の間での基板W
の搬送等を行う。
The substrate transfer robot 23 in the processing unit 2
Access to processing devices such as the spin coater SC, the spin developer SD, the bake unit BU, and the edge exposure unit EEW by appropriately combining the rotation of the hand 23b around the Z axis, the movement of the hand 23b in the X and Y directions, and the expansion and contraction operations. Placement and removal of the substrate W to and from the substrate transfer table 25, and the substrate W between the respective processing apparatuses in the processing unit 2.
Is carried out.

【0113】例えば、基板受け渡し台25に基板Wを載
置する場合には、まず、基板Wを支持するハンド23b
をX軸方向およびZ軸方向に適宜移動させるとともにZ
軸周りに回転させることにより、ハンド23bを基板受
け渡し台25の上方に伸縮できるようにする。次に、ハ
ンド23bを基板受け渡し台25の方向に伸長させ、支
持している基板Wを基板受け渡し台25の基板支持ピン
25aの若干上方に位置させる。そして、ハンド23b
をZ軸方向に下降させ、基板Wを基板支持ピン25a上
に載置し、さらに若干下降させた位置でハンド23bを
退出させる。基板受け渡し台25に載置された基板Wの
取り出しは、上記と逆の動作でハンド23bが基板受け
渡し台25に載置された基板Wを下方から持ち上げるよ
うにして行う。
For example, when placing the substrate W on the substrate delivery table 25, first, the hand 23b supporting the substrate W
Is appropriately moved in the X-axis direction and the Z-axis direction.
By rotating around the axis, the hand 23b can be expanded and contracted above the substrate transfer table 25. Next, the hand 23b is extended in the direction of the substrate transfer table 25, and the supporting substrate W is positioned slightly above the substrate support pins 25a of the substrate transfer table 25. And hand 23b
Is lowered in the Z-axis direction, the substrate W is placed on the substrate support pins 25a, and the hand 23b is retreated at a position slightly lowered further. The removal of the substrate W placed on the substrate delivery table 25 is performed in such a manner that the hand 23b lifts the substrate W placed on the substrate delivery table 25 from below by the reverse operation.

【0114】IFユニット3は、図7および図8に示す
ように、基板搬送ロボット31、バッファ部32、基板
搬送ロボット33、基板搬入装置134および基板搬出
装置135を一体的にユニット化することにより構成さ
れている。基板搬入装置134および基板搬出装置13
5は、上下方向に積層されている。また、本実施例にお
いても、IFユニット3内に、第1および第2のカセッ
ト36a,36bをそれぞれセットしておくための2個
のテーブル台37a,37bも設けられている。
As shown in FIGS. 7 and 8, the IF unit 3 integrates the substrate transfer robot 31, the buffer section 32, the substrate transfer robot 33, the substrate carry-in device 134, and the substrate carry-out device 135 into a unit. It is configured. Substrate carry-in device 134 and substrate carry-out device 13
5 is laminated in the up-down direction. Also in this embodiment, two table bases 37a and 37b for setting the first and second cassettes 36a and 36b, respectively, are provided in the IF unit 3.

【0115】基板搬送ロボット31は、処理ユニット2
内の基板受け渡し台25に対する基板Wの載置および取
り出し、ならびにバッファ部32の任意の収納棚32a
に対する基板Wの収納および取り出しを行う。この基板
搬送ロボット31は、図8に示すように、Z軸方向駆動
部31a、連結部材31b、回転駆動部31c、伸縮駆
動部31dおよび基板支持部31eにより構成される。
The substrate transfer robot 31 is provided with the processing unit 2
Loading and unloading of the substrate W to and from the substrate transfer table 25 in the inside, and an optional storage shelf 32a of the buffer unit 32
The substrate W is stored and taken out. As shown in FIG. 8, the substrate transfer robot 31 includes a Z-axis direction drive unit 31a, a connecting member 31b, a rotation drive unit 31c, a telescopic drive unit 31d, and a substrate support unit 31e.

【0116】Z軸方向駆動部31aはIFユニット3の
下面に固定されている。このZ軸方向駆動部31aに
は、ねじ軸31aaがZ軸周りに回動自在に内設され、
ねじ軸31aaに平行にガイド軸(図示せず)が内設さ
れ、ねじ軸31aaを正逆方向に回転させるモータ31
abも内設されている。
The Z-axis direction drive section 31a is fixed to the lower surface of the IF unit 3. A screw shaft 31aa is provided inside the Z-axis direction driving unit 31a so as to be rotatable around the Z-axis.
A guide shaft (not shown) is provided in parallel with the screw shaft 31aa, and the motor 31 rotates the screw shaft 31aa in the forward and reverse directions.
ab is also provided internally.

【0117】連結部材31bの基端部は、上記Z軸方向
駆動部31a内のねじ軸31aaに螺合され、ガイド軸
に摺動自在に嵌め込まれており、ねじ軸31aaを正逆
方向に回転させることにより連結部材31bをZ軸方向
に移動(鉛直方向に昇降移動)させることができる。ま
た、連結部材31bの先端部には回転駆動部31cが固
定されている。
The base end of the connecting member 31b is screwed to the screw shaft 31aa in the Z-axis direction driving unit 31a and is slidably fitted on the guide shaft, and rotates the screw shaft 31aa in the forward and reverse directions. By doing so, the connecting member 31b can be moved in the Z-axis direction (moved up and down in the vertical direction). In addition, a rotation drive unit 31c is fixed to a distal end of the connection member 31b.

【0118】回転駆動部31cには、上方に回転軸31
caがZ軸周りに回動自在に立設され、この回転軸31
caを正逆方向に回転させるモータ31cbが内設され
ている。
The rotation drive unit 31c has the rotation shaft 31
ca is rotatably set up around the Z-axis.
A motor 31cb for rotating ca in forward and reverse directions is provided therein.

【0119】上記回転軸31caの先端部には、伸縮駆
動部31dが固定されている。この伸縮駆動部31dに
は、モータ31daで駆動されるタイミングベルト31
dbが内設されている。このタイミングベルト31db
の一部に基板支持部31eの基端部が連結されており、
タイミングベルト31dbを駆動することにより伸縮駆
動部31dに対して基板支持部31eを伸縮させること
ができる。
A telescopic drive unit 31d is fixed to the tip of the rotation shaft 31ca. The expansion / contraction drive unit 31d includes a timing belt 31 driven by a motor 31da.
db is provided internally. This timing belt 31db
The base end of the substrate support portion 31e is connected to a part of
By driving the timing belt 31db, the substrate supporting portion 31e can be expanded and contracted with respect to the expansion and contraction driving portion 31d.

【0120】上記回転駆動部31cの回転軸31caを
正逆方向に回転させることにより、伸縮駆動部31dお
よび基板支持部31eをZ軸周りに回転させ、X−Y平
面(水平面)の任意の方向に基板支持部31eを伸縮さ
せることができる。
By rotating the rotation shaft 31ca of the rotation drive unit 31c in the forward and reverse directions, the expansion / contraction drive unit 31d and the substrate support unit 31e are rotated around the Z-axis, and in any direction on the XY plane (horizontal plane). The substrate supporting portion 31e can be expanded and contracted.

【0121】さらに、上記Z軸方向駆動部31aのねじ
軸31aaを正逆方向に回転させることにより、連結部
材31b、回転駆動部31cおよび伸縮駆動部31dを
介して基板支持部31eを伸縮させるZ軸方向の高さを
調節することが可能となる。
Further, by rotating the screw shaft 31aa of the Z-axis direction drive section 31a in the forward and reverse directions, the Z-axis of the substrate support section 31e is expanded and contracted via the connecting member 31b, the rotation drive section 31c and the expansion and contraction drive section 31d. The height in the axial direction can be adjusted.

【0122】なお、図8中の符号2aは、処理ユニット
2とIFユニット3との間で基板Wを受け渡すときに基
板Wを支持した基板搬送ロボット31が通過するための
開口を示している。
Reference numeral 2a in FIG. 8 denotes an opening through which the substrate transport robot 31 supporting the substrate W passes when the substrate W is transferred between the processing unit 2 and the IF unit 3. .

【0123】また、基板支持部31eを処理ユニット2
内の基板受け渡し台25およびバッファ部32に対して
伸縮できるように、伸縮駆動部31dは基板受け渡し台
25のX軸方向の正面でかつバッファ部32のY軸方向
の正面に配置されている。さらに、伸縮駆動部31dが
Z軸方向に下降した状態でも伸縮駆動部31dがZ軸周
りに回転できるように、Z軸方向駆動部31aは、連結
部材31bを介して伸縮駆動部31dおよび回転駆動部
31cの下方からずれた位置に配置されている。
The substrate support 31e is connected to the processing unit 2
The expansion / contraction drive unit 31d is arranged on the front surface of the substrate transfer table 25 in the X-axis direction and on the front surface of the buffer unit 32 in the Y-axis direction so that the substrate transfer table 25 and the buffer unit 32 can expand and contract. Further, the Z-axis direction drive unit 31a is connected to the extension / contraction drive unit 31d via the connecting member 31b so that the extension / contraction drive unit 31d can rotate around the Z-axis even when the extension / contraction drive unit 31d is lowered in the Z-axis direction. It is arranged at a position shifted from below the portion 31c.

【0124】バッファ部32は、基板搬送ロボット31
と基板搬送ロボット33とに挟まれた位置に配置され、
IFユニット3の内側面に支持されている。バッファ部
32の構成は、図1、図2および図3に示したバッファ
32の構成と同様である。このバッファ部32では、各
収納棚32aが、基板搬送ロボット31および基板搬送
ロボット33に対向する面が開口されている。これによ
り、基板搬送ロボット31,33による基板Wの収納お
よび取り出しが行われる。
The buffer unit 32 is provided with the substrate transfer robot 31
Is disposed at a position sandwiched between the substrate transfer robot 33 and
It is supported on the inner surface of the IF unit 3. The configuration of the buffer unit 32 is the same as the configuration of the buffer 32 shown in FIGS. 1, 2, and 3. In the buffer section 32, the surfaces of the storage shelves 32a facing the substrate transport robot 31 and the substrate transport robot 33 are opened. Thus, the substrate W is stored and taken out by the substrate transfer robots 31 and 33.

【0125】基板搬送ロボット33は、バッファ部32
の任意の収納棚32aに対する基板Wの収納および取り
出し、基板搬入装置134への基板Wの載置、基板搬出
装置135からの基板Wの取り出し、ならびにカセット
36a,36bに対する基板Wの収納および取り出しを
行う。この基板搬送ロボット33の構成は、図1および
図2に示した基板搬送ロボット33の構成と同様であ
る。
The substrate transfer robot 33 includes a buffer unit 32
Of the substrate W into and out of the optional storage shelf 32a, placement of the substrate W in the substrate carry-in device 134, removal of the substrate W from the substrate carry-out device 135, and storage and removal of the substrate W in the cassettes 36a and 36b. Do. The configuration of the substrate transport robot 33 is the same as the configuration of the substrate transport robot 33 shown in FIGS.

【0126】基板搬入装置134は、露光前の基板Wを
露光ユニット40の基板受け渡し部40aに搬入し、基
板搬出装置135は、露光ユニット40で露光処理が終
了した露光済みの基板Wを露光ユニット4の基板受け渡
し部40bからIFユニット3内に取り込む。
The substrate carry-in device 134 carries the substrate W before exposure into the substrate transfer section 40a of the exposure unit 40, and the substrate carry-out device 135 removes the exposed substrate W that has been subjected to the exposure processing in the exposure unit 40. 4 from the substrate transfer unit 40b.

【0127】露光ユニット40の基板受け渡し部40
a,40bは上下方向に積層されている。本実施例で
は、露光ユニット40への基板Wの搬入時における露光
ユニット40内の基板受け渡し部40aが上部に配置さ
れ、露光ユニット40からの基板の搬出時における基板
受け渡し部40bが下部に配置されているものとする。
The substrate transfer section 40 of the exposure unit 40
a and 40b are vertically stacked. In the present embodiment, the substrate transfer unit 40a in the exposure unit 40 when the substrate W is loaded into the exposure unit 40 is arranged at the upper part, and the substrate transfer unit 40b when the substrate W is unloaded from the exposure unit 40 is arranged at the lower part. It is assumed that

【0128】図9は基板搬入装置134の斜視図、図1
0は基板搬入装置134の平面図である。また、図11
は図9および図10の基板搬入装置134の動力伝達機
構の斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view of the substrate loading device 134, and FIG.
0 is a plan view of the substrate loading device 134. FIG.
FIG. 11 is a perspective view of a power transmission mechanism of the substrate carrying-in device 134 of FIGS. 9 and 10.

【0129】図9および図10に示すように、基板搬入
装置134は、第1のアーム(搬送アーム)41、第2
のアーム42、第3のアーム43、回動手段(電動モー
タ)44、アーム台45、および動力伝達機構46(図
11)を備える。
As shown in FIGS. 9 and 10, the substrate carrying-in device 134 includes a first arm (transfer arm) 41,
Arm 42, a third arm 43, a rotating means (electric motor) 44, an arm base 45, and a power transmission mechanism 46 (FIG. 11).

【0130】第1のアーム41には基板Wが載置され
る。第2のアーム42は、第1のアーム41を水平面内
で回動自在に支持する。第3のアーム43は、第2のア
ーム42を水平面内で回動自在に支持する。回動手段4
4は、第3のアーム43を水平面内で回動させる。アー
ム台45は、第3のアーム43を上方に支持する。図1
1の動力伝達機構46は、回動手段44により第3のア
ーム43を回動させたときに第2のアーム42および第
1のアーム41に動力を伝達し、第2のアーム42およ
び第1のアーム41の姿勢および移動方向を制御する。
A substrate W is mounted on the first arm 41. The second arm 42 supports the first arm 41 rotatably in a horizontal plane. The third arm 43 supports the second arm 42 rotatably in a horizontal plane. Rotating means 4
4 rotates the third arm 43 in a horizontal plane. The arm base 45 supports the third arm 43 upward. FIG.
The first power transmission mechanism 46 transmits power to the second arm 42 and the first arm 41 when the third arm 43 is rotated by the rotation means 44, and the second arm 42 and the first Of the arm 41 is controlled.

【0131】アーム台45は、昇降シリンダ(図示せ
ず)により支持プレート87に対して昇降自在に取り付
けられている。また、支持プレート87の処理ユニット
2側の位置に、2本の位置決めガイドピン88がガイド
移動用シリンダ89により第1のアーム41と同じ進退
方向に移動可能に設けられている。
The arm stand 45 is attached to the support plate 87 by a lifting cylinder (not shown) so as to be able to move up and down. Further, two positioning guide pins 88 are provided at positions on the processing unit 2 side of the support plate 87 so as to be movable in the same advancing and retreating direction as the first arm 41 by a guide moving cylinder 89.

【0132】支持プレート87は、固定ねじ76により
1対のY軸レール73に固定されている。Y軸レール7
3は、4本のZ軸レール81に固定され、1対のY軸レ
ール73およびZ軸レール81は支持部材85により互
いに連結されている。
The support plate 87 is fixed to the pair of Y-axis rails 73 by fixing screws 76. Y-axis rail 7
3 is fixed to four Z-axis rails 81, and a pair of Y-axis rails 73 and Z-axis rails 81 are connected to each other by support members 85.

【0133】第1のアーム41は、平行に配置された短
冊状の2個の載置片51とこれらの載置片51の基端部
どうしを連結する1個の短冊状の連結部52とにより逆
コ字形に形成されている。各載置片51の基端部および
先端部には、基板Wに当接して位置ずれを防止するため
のストッパ54がピン等により固着されている。また、
連結部52の一部には、後方から位置決めガイドピン8
8が嵌合して第1のアーム41上での基板Wの位置決め
を行うための位置決め用切欠き54aが形成されてい
る。さらに、連結部52の中央部には、第1の回転軸5
5が下方に垂直に固定されている。
The first arm 41 has two strip-shaped mounting pieces 51 arranged in parallel, and one strip-shaped connecting portion 52 connecting the base ends of these mounting pieces 51 to each other. To form an inverted U-shape. A stopper 54 is fixed to the base end and the distal end of each mounting piece 51 by a pin or the like to abut on the substrate W to prevent a displacement. Also,
A part of the connecting portion 52 includes positioning guide pins 8 from behind.
A positioning notch 54a is formed for positioning the substrate W on the first arm 41 by fitting with the positioning arm 8. Further, the first rotating shaft 5 is provided at the center of the connecting portion 52.
5 is fixed vertically downward.

【0134】図11に示すように、第2のアーム42の
先端部には、第1の回転軸55を回動自在に軸受けする
第1の軸受け孔56が設けられている。また、第2のア
ーム42の基端部には、第2の回動軸57が下方に垂直
に固定されている。
As shown in FIG. 11, a first bearing hole 56 for rotatably bearing the first rotary shaft 55 is provided at the distal end of the second arm 42. A second pivot shaft 57 is vertically fixed to the base end of the second arm 42.

【0135】第3のアーム43は、第2のアーム42と
同じ長さに設定されており、その先端部には、第2の回
動軸57を回動自在に軸受けする第2の軸受け孔58が
設けられている。また、第3のアーム43の基端部に
は、回動手段44の回動力を伝達する第3の回動軸59
が下方に垂直に固定されている。
The third arm 43 is set to the same length as the second arm 42, and has a second bearing hole at its tip end for rotatably bearing the second rotating shaft 57. 58 are provided. A third rotating shaft 59 for transmitting the rotating power of the rotating means 44 is provided at the base end of the third arm 43.
Are fixed vertically downward.

【0136】第1の回転軸55と第2の回転軸57との
間の距離と、第2の回転軸57と第3の回転軸59との
間の距離とは同じに設定されている。
The distance between the first rotating shaft 55 and the second rotating shaft 57 and the distance between the second rotating shaft 57 and the third rotating shaft 59 are set to be the same.

【0137】図11に示す動力伝達機構46は、前述し
た回動手段44の第3の回動軸59と、第1の回動軸5
5の下端に固定された第1のプーリ61と、第3のアー
ム43の第2の軸受け孔58の上面側に固定された第2
のプーリ62と、第1のプーリ61および第2のプーリ
62の間に架け渡された第1のベルト63と、第3のア
ーム43の第2の軸受け孔58の下面側に固定された第
3のプーリ64と、アーム台45に対して固定されて第
3の回動軸59を遊嵌する第4のプーリ65と、第3の
プーリ64および第4のプーリ65の間に架け渡された
第2のベルト66とを備える。第2のプーリ62および
第3のプーリ64の径は、それぞれ第1のプーリ61お
よび第4のプーリ65の1/2倍に設定されている。な
お、回動手段44の回動角度の制御は、図示しない制御
装置により行われる。
The power transmission mechanism 46 shown in FIG. 11 includes the third rotation shaft 59 of the rotation means 44 and the first rotation shaft 5.
5 and a second pulley 61 fixed to the upper surface side of the second bearing hole 58 of the third arm 43.
Pulley 62, a first belt 63 bridged between the first pulley 61 and the second pulley 62, and a second belt 63 fixed to the lower surface side of the second bearing hole 58 of the third arm 43. A third pulley 64, a fourth pulley 65 fixed to the arm base 45 and loosely fitted with the third rotation shaft 59, and bridged between the third pulley 64 and the fourth pulley 65. And a second belt 66. The diameters of the second pulley 62 and the third pulley 64 are set to 倍 times the diameters of the first pulley 61 and the fourth pulley 65, respectively. The rotation angle of the rotation means 44 is controlled by a control device (not shown).

【0138】上記の構成では、回動手段44が第3の回
動軸59を通じて第3のアーム43を図11のAωの方
向(左周り)に回動させると、第2の軸受け孔58で軸
受けされた第2の回動軸57は、第2のベルト66およ
び第3のプーリ64を通じて第3の回動軸59の2倍の
速度で図11のBωの方向(右周り)に回動する。これ
により、第2のアーム42の先端部に軸受けされた第1
の回動軸55および第1のアーム41は、図11のx1
の方向(X軸方向)に直進する。
In the above configuration, when the rotation means 44 rotates the third arm 43 in the direction of Aω (leftward rotation) in FIG. 11 through the third rotation shaft 59, the second bearing hole 58 The supported second rotating shaft 57 rotates through the second belt 66 and the third pulley 64 at twice the speed of the third rotating shaft 59 in the direction of Bω (clockwise) in FIG. I do. As a result, the first arm bearing on the distal end of the second arm 42
The rotation shaft 55 and the first arm 41 of FIG.
(X-axis direction).

【0139】この際、第1のプーリ61が第2のプーリ
62および第1のベルト63を通じて回動下向制御され
ている。
At this time, the first pulley 61 is controlled to rotate downward through the second pulley 62 and the first belt 63.

【0140】ここで、第1のプーリ61の径は第2のプ
ーリ62の径の2倍であるため、かりに第2のアーム4
2を基準とすると、第2のプーリ62の1/2倍の回動
速度で左周りに回動することになるが、第2のアーム4
2自体が回動しており、また第4のプーリ65がアーム
台45に対して不動であるため、第1のプーリ61は、
アーム台45に対して回動することなく、図11のx1
の方向(X軸方向)に直進することになる。したがっ
て、第1のアーム41は、アーム台45に対してx1の
方向(露光ユニット40に向かう方向)に向いた姿勢を
維持しながら前進することになる。
Here, since the diameter of the first pulley 61 is twice the diameter of the second pulley 62, the second arm 4
When the second arm 4 is used as a reference, the second arm 4 rotates counterclockwise at a rotation speed that is half the rotation speed of the second pulley 62.
2 itself is rotating, and since the fourth pulley 65 is immovable with respect to the arm base 45, the first pulley 61
Without rotating with respect to the arm stand 45, x1 in FIG.
(X-axis direction). Therefore, the first arm 41 moves forward with respect to the arm stand 45 while maintaining a posture in the x1 direction (direction toward the exposure unit 40).

【0141】なお、回動手段44が方向Aωと逆の方向
に回動する場合は、各部の運動は上記とは逆の方向に向
かうため、第1のアーム41は露光ユニット44に対向
した姿勢を維持しながら方向x1とは逆の方向に後退す
る。
When the rotating means 44 is rotated in the direction opposite to the direction Aω, the movement of each part is directed in the opposite direction, so that the first arm 41 faces the exposure unit 44. , While retreating in the direction opposite to the direction x1.

【0142】本実施例では、基板搬入装置134の下部
に基板搬出装置135が配置されている。基板搬出装置
135の構成も、基板搬入装置134の構成と同様であ
る。
In this embodiment, a substrate unloading device 135 is provided below the substrate loading device 134. The configuration of the substrate unloading device 135 is the same as the configuration of the substrate unloading device 134.

【0143】本実施例では、処理ユニット2が処理部に
相当し、基板搬入装置134が第1の受け渡し部および
基板搬入手段に相当し、基板搬出装置135が第2の受
け渡し部および基板搬出手段に相当し、基板受け渡し台
25が処理部としての処理ユニット2との基板受け渡し
位置に相当し、基板搬送ロボット31,33が搬送手段
に相当する。
In this embodiment, the processing unit 2 corresponds to a processing section, the substrate carry-in device 134 corresponds to a first transfer section and a substrate carry-in means, and the substrate carry-out device 135 corresponds to a second transfer section and a substrate carry-out means. The substrate transfer table 25 corresponds to a substrate transfer position with the processing unit 2 as a processing unit, and the substrate transfer robots 31 and 33 correspond to transfer means.

【0144】次に、図7の基板処理装置100bの動作
を説明する。まず、AGV5により搬入出テーブル11
へキャリアCが載置され、基板搬入出ロボット12によ
りキャリアCから処理前の基板Wが取り出され、その基
板Wが処理ユニット2内の基板搬送ロボット23に渡さ
れる。そして、基板搬送ロボット23により処理前の基
板WがスピンコータSC、ベークユニットBU、エッジ
露光部EEW等に順次搬送され、スピンコータSCによ
るレジスト塗布、ベークユニットBUによるベーク、エ
ッジ露光部EEWによるエッジ露光等の各種処理が行わ
れる。
Next, the operation of the substrate processing apparatus 100b shown in FIG. 7 will be described. First, the loading / unloading table 11 is operated by the AGV 5.
The substrate C is placed on the substrate C, the substrate W before processing is taken out of the carrier C by the substrate loading / unloading robot 12, and the substrate W is transferred to the substrate transport robot 23 in the processing unit 2. Then, the substrate W before processing is sequentially transported by the substrate transport robot 23 to the spin coater SC, the bake unit BU, the edge exposure unit EEW, and the like, and resist coating by the spin coater SC, baking by the bake unit BU, edge exposure by the edge exposure unit EEW, and the like. Are performed.

【0145】処理後の基板Wは、基板搬送ロボット23
により基板受け渡し台25に載置される。そして、基板
受け渡し台25に載置された露光前の基板WがIFユニ
ット3の基板搬送ロボット31により取り出され、バッ
ファ部32の任意の収納棚32aに収納される。さら
に、収納棚32aに収納された露光前の基板Wが基板搬
送ロボット33により取り出され、基板搬入装置134
の第1のアーム41上に載置される。
The substrate W after processing is transferred to the substrate transfer robot 23.
Is placed on the substrate delivery table 25. Then, the substrate W before exposure placed on the substrate delivery table 25 is taken out by the substrate transfer robot 31 of the IF unit 3 and stored in an arbitrary storage shelf 32a of the buffer unit 32. Further, the substrate W before exposure stored in the storage shelf 32a is taken out by the substrate transport robot 33, and the substrate loading device 134
Is mounted on the first arm 41.

【0146】基板搬入装置134により露光前の基板W
が露光ユニット40内に取り込まれ、基板受け渡し部4
0aに載置される。露光ユニット4内では、基板Wがア
ライメント機構に引き渡されて位置決め処理が行われ、
位置決めされた状態で露光機に渡され、所定の露光パタ
ーンが焼き付けられる。
The substrate W before exposure by the substrate carry-in device 134
Is taken into the exposure unit 40 and the substrate transfer section 4
0a. In the exposure unit 4, the substrate W is delivered to the alignment mechanism to perform a positioning process.
In a positioned state, it is transferred to an exposure machine, and a predetermined exposure pattern is printed.

【0147】露光処理が終了した露光済みの基板Wは、
露光ユニット40内の基板受け渡し部40bに載置され
る。その後、IFユニット3の基板搬出装置135によ
り露光ユニット40内の基板受け渡し部40bから露光
済みの基板Wが取り出され、IFユニット3内に取り込
まれる。そして、IFユニット3の基板搬送ロボット3
3により基板搬出装置135から露光済みの基板Wが取
り出され、バッファ部32の任意の収納棚32aに収納
される。
The exposed substrate W after the exposure processing is
It is placed on the substrate transfer section 40 b in the exposure unit 40. After that, the exposed substrate W is taken out from the substrate transfer unit 40b in the exposure unit 40 by the substrate unloading device 135 of the IF unit 3, and is taken into the IF unit 3. Then, the substrate transfer robot 3 of the IF unit 3
By 3, the exposed substrate W is taken out of the substrate unloading device 135 and stored in an arbitrary storage shelf 32 a of the buffer unit 32.

【0148】さらに、収納棚32aに収納された露光済
みの基板Wが基板搬送ロボット31により取り出され、
基板受け渡し台25に載置される。その後、基板受け渡
し台25に載置された基板Wが、処理ユニット2内の基
板搬送ロボット23によりベークユニットBU、スピン
ディベロッパSD等に順次搬送され、ベークユニットB
Uによるベーク、スピンディベロッパSDによる現像等
の各種処理が行われる。処理後の基板Wは、基板搬送ロ
ボット23によりインデクサ1の基板搬入出ロボット1
2に渡され、基板搬入出ロボット12により搬入出テー
ブル11上のキャリアCに収納される。
Further, the exposed substrate W stored in the storage shelf 32a is taken out by the substrate transfer robot 31, and
The substrate is placed on the substrate delivery table 25. Thereafter, the substrate W placed on the substrate delivery table 25 is sequentially transferred to the bake unit BU, the spin developer SD, and the like by the substrate transfer robot 23 in the processing unit 2, and the bake unit B
Various processes such as baking by U and development by the spin developer SD are performed. The processed substrate W is transferred to the substrate transfer robot 23 of the indexer 1 by the substrate transfer robot 23.
The substrate is transferred to the carrier C on the loading / unloading table 11 by the substrate loading / unloading robot 12.

【0149】本実施例の基板処理装置100bにおいて
は、IFユニット3の基板搬入装置134および基板搬
出装置135が上下方向に積層されているので、露光ユ
ニット40との基板Wの受け渡しのために必要なスペー
スが小さくなり、IFユニット3のフットプリントが低
減される。本実施例の場合、基板処理装置100bと露
光ユニット40との間に余剰のスペースSが生じる。こ
の余剰スペースSを利用してIFユニット3および露光
ユニット40の保守を行うことができる。あるいは、こ
の余剰スペースSに他の処理装置等を設置することも可
能となる。
In the substrate processing apparatus 100b of this embodiment, since the substrate carry-in device 134 and the substrate carry-out device 135 of the IF unit 3 are vertically stacked, it is necessary to transfer the substrate W to the exposure unit 40. The required space is reduced, and the footprint of the IF unit 3 is reduced. In the case of the present embodiment, an extra space S is generated between the substrate processing apparatus 100b and the exposure unit 40. The maintenance of the IF unit 3 and the exposure unit 40 can be performed using the surplus space S. Alternatively, another processing device or the like can be installed in the surplus space S.

【0150】(5)第5の実施例 次に、本発明の第5の実施例における基板処理装置を説
明する。第5の実施例の基板処理装置では、第4の実施
例の基板処理装置100bの基板搬入装置134および
基板搬出装置135の代わりに図12に示す基板搬入出
装置150が用いられる。
(5) Fifth Embodiment Next, a substrate processing apparatus according to a fifth embodiment of the present invention will be described. In the substrate processing apparatus of the fifth embodiment, a substrate loading / unloading apparatus 150 shown in FIG. 12 is used instead of the substrate loading / unloading apparatus 134 and the substrate unloading apparatus 135 of the substrate processing apparatus 100b of the fourth embodiment.

【0151】図5に示すように、基板搬入出装置150
は、昇降装置160によりZ軸方向に移動可能となって
いる。基板搬入出装置150の構成は、図9〜図11に
示した基板搬入装置134の構成と同様である。本実施
例の基板処理装置の他の部分の構成は、第4の実施例の
基板処理装置の構成と同様である。
As shown in FIG. 5, the substrate loading / unloading device 150
Can be moved in the Z-axis direction by the lifting device 160. The configuration of the substrate loading / unloading device 150 is the same as the configuration of the substrate loading / unloading device 134 shown in FIGS. The configuration of the other parts of the substrate processing apparatus of the present embodiment is the same as the configuration of the substrate processing apparatus of the fourth embodiment.

【0152】本実施例では、基板搬入出装置150が共
通の受け渡し部および基板搬入出手段に相当し、昇降装
置160が昇降手段に相当する。
In this embodiment, the substrate loading / unloading device 150 corresponds to a common transfer unit and a substrate loading / unloading unit, and the lifting / lowering device 160 corresponds to a lifting / lowering unit.

【0153】露光前の基板Wを露光ユニット40に搬入
する際には、IFユニット3内の基板搬送ロボット33
により基板搬入出装置150の第1のアーム41上に露
光前の基板Wが載置される。そして、昇降装置160に
より基板搬入出装置150が露光ユニット40内の基板
受け渡し部40aの位置まで昇降される。その後、露光
前の基板Wが基板搬入出装置150により露光ユニット
40内に取り込まれ、基板受け渡し部40a上に載置さ
れる。
When the substrate W before exposure is carried into the exposure unit 40, the substrate transport robot 33 in the IF unit 3
Thus, the substrate W before exposure is placed on the first arm 41 of the substrate loading / unloading device 150. Then, the substrate loading / unloading device 150 is moved up and down by the elevating device 160 to the position of the substrate transfer section 40 a in the exposure unit 40. Thereafter, the substrate W before exposure is taken into the exposure unit 40 by the substrate carry-in / out device 150, and is placed on the substrate transfer section 40a.

【0154】露光済みの基板Wを露光ユニット40から
搬出する際には、昇降装置160により基板搬入出装置
150が露光ユニット40内の基板受け渡し部40bの
位置まで昇降される。そして、基板搬入出装置150に
より基板受け渡し部40b上の基板Wが取り出され、I
Fユニット3内に取り込まれる。その後、IFユニット
3内の基板搬送ロボット33により基板搬入出装置15
0から露光済みの基板Wが取り出される。
When carrying out the exposed substrate W from the exposure unit 40, the substrate loading / unloading device 150 is moved up and down by the elevating device 160 to the position of the substrate transfer section 40b in the exposure unit 40. Then, the substrate W on the substrate transfer section 40b is taken out by the substrate carry-in / out device 150, and
It is taken into the F unit 3. Thereafter, the substrate transfer robot 33 in the IF unit 3 controls the substrate loading / unloading device 15.
From 0, the exposed substrate W is taken out.

【0155】本実施例の基板処理装置においては、露光
ユニット40への基板Wの搬入時および露光ユニット4
0からの基板Wの搬出時に共通に用いられる基板搬入出
装置150が昇降装置160により上下方向に昇降可能
に設けられているので、露光ユニット40との基板Wの
受け渡しのために必要なスペースが小さくなり、IFユ
ニット3のフットプリントが軽減される。
In the substrate processing apparatus of this embodiment, when the substrate W is loaded into the exposure unit 40 and when the exposure unit 4
Since the substrate loading / unloading device 150 that is commonly used when unloading the substrate W from 0 is provided so as to be vertically movable by the lifting / lowering device 160, a space required for transferring the substrate W to and from the exposure unit 40 is reduced. As a result, the footprint of the IF unit 3 is reduced.

【0156】(6)第6の実施例 次に、本発明の第6の実施例における基板処理装置を説
明する。第6の実施例の基板処理装置では、第4の実施
例の基板処理装置100bの基板搬入装置134および
基板搬出装置135の代わりに図13に示す基板搬入出
装置152が用いられる。
(6) Sixth Embodiment Next, a description will be given of a substrate processing apparatus according to a sixth embodiment of the present invention. In the substrate processing apparatus of the sixth embodiment, a substrate carry-in / out apparatus 152 shown in FIG. 13 is used instead of the substrate carry-in apparatus 134 and the substrate carry-out apparatus 135 of the substrate processing apparatus 100b of the fourth embodiment.

【0157】図13に示すように、基板搬入出装置15
2は、支持台162により所定の高さに固定されてい
る。基板搬出入装置152の構成は、図9〜図11に示
した基板搬入装置134の構成と同様である。本実施例
の基板処理装置の他の部分の構成は、第4の実施例の基
板処理装置100bの構成と同様である。
As shown in FIG. 13, the substrate loading / unloading device 15
2 is fixed at a predetermined height by a support base 162. The configuration of the substrate loading / unloading device 152 is the same as the configuration of the substrate loading / unloading device 134 shown in FIGS. The configuration of the other parts of the substrate processing apparatus of the present embodiment is the same as the configuration of the substrate processing apparatus 100b of the fourth embodiment.

【0158】本実施例では、基板搬入出装置152が共
通の受け渡し部および基板搬入出手段に相当する。
In this embodiment, the substrate loading / unloading device 152 corresponds to a common transfer unit and a substrate loading / unloading unit.

【0159】本実施例の基板処理装置は、基板Wの搬入
時および搬出時に兼用される露光ユニット40内の基板
受け渡し部がZ軸方向に移動可能に設けられている場合
に適用することができる。
The substrate processing apparatus of the present embodiment can be applied to a case where the substrate transfer section in the exposure unit 40, which is used for loading and unloading the substrate W, is provided so as to be movable in the Z-axis direction. .

【0160】露光前の基板Wを露光ユニット40に搬入
する際には、IFユニット3内の基板搬送ロボット33
により基板搬入出装置152の第1のアーム41上に露
光前の基板Wが載置される。そして、露光ユニット4内
の基板受け渡し部が基板搬入出装置152の位置まで昇
降する。その後、露光前の基板Wが基板搬入出装置15
2により露光ユニット40内に取り込まれ、基板受け渡
し部上に載置される。
When the substrate W before exposure is carried into the exposure unit 40, the substrate transfer robot 33 in the IF unit 3
Thus, the substrate W before exposure is placed on the first arm 41 of the substrate carry-in / out device 152. Then, the substrate transfer section in the exposure unit 4 moves up and down to the position of the substrate carry-in / out device 152. Thereafter, the substrate W before exposure is transferred to the substrate loading / unloading device 15.
The wafer is taken into the exposure unit 40 by 2 and placed on the substrate transfer section.

【0161】露光済みの基板Wを露光ユニット40から
搬出する際には、露光ユニット40内の基板受け渡し部
が基板搬入出装置152の位置まで昇降する。そして、
基板搬入出装置152により基板受け渡し部上の露光済
みの基板Wが取り出され、IFユニット3内に取り込ま
れる。その後、IFユニット3内の基板搬送ロボット3
3により基板搬入出装置152から露光済みの基板Wが
取り出される。
When carrying out the exposed substrate W from the exposure unit 40, the substrate transfer section in the exposure unit 40 moves up and down to the position of the substrate carry-in / out device 152. And
The exposed substrate W on the substrate transfer section is taken out by the substrate carry-in / out device 152 and taken into the IF unit 3. Then, the substrate transfer robot 3 in the IF unit 3
By 3, the exposed substrate W is taken out of the substrate carry-in / out device 152.

【0162】本実施例の基板処理装置においては、露光
ユニット40への基板Wの搬入時および露光ユニット4
0からの基板Wの搬出時に共通に用いられる基板搬入出
装置152が設けられているので、露光ユニット40と
の基板Wとの受け渡しのために必要なスペースが小さく
なり、IFユニット3のフットプリントが低減される。
In the substrate processing apparatus of this embodiment, when the substrate W is loaded into the exposure unit 40 and when the exposure unit 4
Since the substrate carry-in / out device 152 that is commonly used when carrying out the substrate W from 0 is provided, the space required for transferring the substrate W to / from the exposure unit 40 is reduced, and the footprint of the IF unit 3 is reduced. Is reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例における基板処理装置の
全体の構成を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an overall configuration of a substrate processing apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の基板処理装置を露光ユニット側から見た
正面図である。
FIG. 2 is a front view of the substrate processing apparatus of FIG. 1 as viewed from an exposure unit side.

【図3】図1の基板処理装置におけるバッファ部付近の
概略構成を示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing a schematic configuration near a buffer unit in the substrate processing apparatus of FIG. 1;

【図4】基板搬送ロボットによる基板搬入台への基板の
載置を説明するための図である。
FIG. 4 is a view for explaining mounting of a substrate on a substrate loading table by a substrate transfer robot.

【図5】本発明の第2の実施例における基板処理装置の
基板搬入出台を示す正面図である。
FIG. 5 is a front view showing a substrate loading / unloading table of a substrate processing apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第3の実施例における基板処理装置の
基板搬入出台を示す正面図である。
FIG. 6 is a front view showing a substrate loading / unloading table of a substrate processing apparatus according to a third embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第4の実施例における基板処理装置の
全体の構成を示す平面図である。
FIG. 7 is a plan view illustrating an overall configuration of a substrate processing apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.

【図8】図7の基板処理装置を露光ユニット側から見た
正面図である。
8 is a front view of the substrate processing apparatus of FIG. 7 as viewed from an exposure unit side.

【図9】図7の基板処理装置における基板搬入装置の斜
視図である。
FIG. 9 is a perspective view of a substrate loading device in the substrate processing apparatus of FIG. 7;

【図10】図7の基板処理装置における基板搬入装置の
平面図である。
FIG. 10 is a plan view of a substrate loading device in the substrate processing apparatus of FIG. 7;

【図11】図9および図10の基板搬入装置の動力伝達
機構の斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view of a power transmission mechanism of the substrate carrying-in device of FIGS. 9 and 10;

【図12】本発明の第5の実施例における基板処理装置
の基板搬入出装置の正面図である。
FIG. 12 is a front view of a substrate loading / unloading device of a substrate processing apparatus according to a fifth embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第6の実施例における基板処理装置
の基板搬入出装置の正面図である。
FIG. 13 is a front view of a substrate loading / unloading device of a substrate processing apparatus according to a sixth embodiment of the present invention.

【図14】従来の基板処理装置の平面図である。FIG. 14 is a plan view of a conventional substrate processing apparatus.

【図15】図14の基板処理装置におけるインタフェー
スユニットの正面図である。
FIG. 15 is a front view of an interface unit in the substrate processing apparatus of FIG.

【図16】図14の基板処理装置におけるインタフェー
スユニットの側面図である。
FIG. 16 is a side view of an interface unit in the substrate processing apparatus of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 インデクサ 2 処理ユニット 3 インタフェースユニット 4,40 露光ユニット 4a,4b,40a,40b 基板受け渡し部 23,31,33 基板搬送ロボット 34 基板搬入台 35 基板搬出台 130,132 基板搬入出台 134 基板搬入装置 135 基板搬出装置 140,160 昇降装置 142,162 支持台 150,152 基板搬入出装置 W 基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Indexer 2 Processing unit 3 Interface unit 4, 40 Exposure unit 4a, 4b, 40a, 40b Substrate transfer part 23, 31, 33 Substrate transfer robot 34 Substrate carry-in 35 Substrate carry-out 130, 132 Substrate carry-in 134 134 Substrate carry-in device 135 Substrate unloading device 140, 160 Lifting device 142, 162 Support table 150, 152 Substrate loading / unloading device W Substrate

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板に所定の処理を行う処理部と、 外部装置に基板を渡すための第1の受け渡し部と、 前記外部装置から基板を受け取るための第2の受け渡し
部と、 前記処理部との基板受け渡し位置と前記第1および第2
の受け渡し部との間で基板を搬送する搬送手段とを備
え、 前記第1の受け渡し部および前記第2の受け渡し部が上
下方向に積層されたことを特徴とする基板処理装置。
A processing unit configured to perform a predetermined process on the substrate; a first transfer unit configured to transfer the substrate to an external device; a second transfer unit configured to receive the substrate from the external device; And the first and second substrate transfer positions.
And a transfer unit for transferring the substrate to and from the transfer unit, wherein the first transfer unit and the second transfer unit are vertically stacked.
【請求項2】 前記第1の受け渡し部は、前記外部装置
に搬入される基板が載置される第1の基板載置部であ
り、 前記第2の受け渡し部は、前記外部装置から搬出された
基板が載置される第2の基板載置部であることを特徴と
する請求項1記載の基板処理装置。
2. The first transfer unit is a first substrate mounting unit on which a substrate to be loaded into the external device is mounted, and the second transfer unit is unloaded from the external device. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate processing unit is a second substrate mounting unit on which the mounted substrate is mounted.
【請求項3】 前記第1の受け渡し部は、前記外部装置
内に基板を搬入する基板搬入手段であり、 前記第2の受け渡し部は、前記外部装置内から基板を搬
出する基板搬出手段であることを特徴とする請求項1記
載の基板処理装置。
3. The first transfer unit is a substrate transfer unit that transfers a substrate into the external device. The second transfer unit is a substrate transfer unit that transfers a substrate from the external device. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein:
【請求項4】 基板に所定の処理を行う処理部と、 外部装置に基板を渡しかつ前記外部装置から基板を受け
取るための共通の受け渡し部と、 前記共通の受け渡し部を上下に昇降させる昇降手段と、 前記処理部との基板受け渡し位置と前記共通の受け渡し
部との間で基板を搬送する搬送手段とを備えたことを特
徴とする基板処理装置。
4. A processing unit for performing a predetermined process on a substrate, a common delivery unit for delivering the substrate to an external device and receiving the substrate from the external device, and an elevating unit for vertically moving the common delivery unit up and down And a transfer means for transferring a substrate between a substrate transfer position with the processing unit and the common transfer unit.
【請求項5】 前記共通の受け渡し部は、前記外部装置
に搬入される基板が載置されかつ前記外部装置から搬出
された基板が載置される基板載置部であることを特徴と
する請求項4記載の基板処理装置。
5. The common transfer part is a substrate mounting part on which a substrate carried into the external device is placed and a substrate carried out from the external device is placed. Item 5. A substrate processing apparatus according to item 4.
【請求項6】 前記共通の受け渡し部は、前記外部装置
内に基板を搬入しかつ前記外部装置内から基板を搬出す
る基板搬入出手段であることを特徴とする請求項4記載
の基板処理装置。
6. The substrate processing apparatus according to claim 4, wherein the common transfer unit is a substrate loading / unloading unit that loads a substrate into the external device and unloads a substrate from the external device. .
【請求項7】 基板に所定の処理を行う処理部と、 外部装置に基板を渡しかつ前記外部装置から基板を受け
取るための共通の受け渡し部と、 前記処理部との基板受け渡し位置と前記共通の受け渡し
部との間で基板を搬送する搬送手段とを備えたことを特
徴とする基板処理装置。
7. A processing unit for performing a predetermined process on a substrate, a common transfer unit for transferring the substrate to an external device and receiving the substrate from the external device, a substrate transfer position with the processing unit, and the common unit. A substrate processing apparatus, comprising: transport means for transporting a substrate to and from a delivery unit.
【請求項8】 前記共通の受け渡し部は、前記外部装置
に搬入される基板が載置されかつ前記外部装置から搬出
された基板が載置される基板載置部であることを特徴と
する請求項7記載の基板処理装置。
8. The common transfer unit is a substrate mounting unit on which a substrate loaded into the external device is mounted and a substrate unloaded from the external device is mounted. Item 8. The substrate processing apparatus according to item 7.
【請求項9】 前記共通の受け渡し部は、前記外部装置
内に基板を搬入しかつ前記外部装置内から基板を搬出す
る基板搬入出手段であることを特徴とする請求項7記載
の基板処理装置。
9. The substrate processing apparatus according to claim 7, wherein the common transfer unit is a substrate loading / unloading unit that loads a substrate into the external device and unloads a substrate from the external device. .
【請求項10】 基板に所定の処理を行う処理部と所定
の外部装置との間で基板の受け渡しを行う中間受け渡し
装置であって、 前記外部装置に基板を渡すための第1の受け渡し部と、 前記外部装置から基板を受け取るための第2の受け渡し
部と、 前記処理部との基板受け渡し位置と前記第1および第2
の受け渡し部との間で基板を搬送する搬送手段とを備
え、 前記第1の受け渡し部および第2の受け渡し部が上下方
向に積層されたことを特徴とする中間受け渡し装置。
10. An intermediate transfer device for transferring a substrate between a processing unit for performing a predetermined process on a substrate and a predetermined external device, comprising: a first transfer unit for transferring a substrate to the external device; A second transfer unit for receiving a substrate from the external device; a substrate transfer position with the processing unit; and the first and second substrates.
And a transfer unit for transferring the substrate to and from the transfer unit, wherein the first transfer unit and the second transfer unit are vertically stacked.
【請求項11】 基板に所定の処理を行う処理部と所定
の外部装置との間で基板の受け渡しを行う中間受け渡し
装置であって、 前記外部装置に基板を渡しかつ前記外部装置から基板を
受け取るための共通の受け渡し部と、 前記共通の受け渡し部を上下に昇降させる昇降手段と、 前記処理部との基板受け渡し位置と前記共通の受け渡し
部との間で基板を搬送する搬送手段とを備えたことを特
徴とする中間受け渡し装置。
11. An intermediate transfer device for transferring a substrate between a processing unit for performing a predetermined process on a substrate and a predetermined external device, wherein the intermediate transfer device transfers the substrate to the external device and receives the substrate from the external device. A transfer unit for transferring the substrate between the substrate transfer position with the processing unit and the common transfer unit. An intermediate delivery device, characterized in that:
【請求項12】 基板に所定の処理を行う処理部と所定
の外部装置との間で基板の受け渡しを行う中間受け渡し
装置であって、 前記外部装置に基板を渡しかつ前記外部装置から基板を
受け取るための共通の受け渡し部と、 前記処理部との基板受け渡し位置と前記共通の受け渡し
部との間で基板を搬送する搬送手段とを備えたことを特
徴とする中間受け渡し装置。
12. An intermediate transfer device for transferring a substrate between a processing unit for performing a predetermined process on a substrate and a predetermined external device, wherein the intermediate transfer device transfers the substrate to the external device and receives the substrate from the external device. A transfer unit for transferring a substrate between a substrate transfer position with the processing unit and the common transfer unit.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009044172A (en) * 2004-06-21 2009-02-26 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method
JP2009154983A (en) * 2007-12-25 2009-07-16 Asyst Technologies Japan Inc Cabinet, and stocking/delivering method
JP2010511294A (en) * 2006-11-27 2010-04-08 テック・セム アーゲー Conveyor for overhead transport system

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