JPH11121844A - レーザダイオード駆動回路 - Google Patents
レーザダイオード駆動回路Info
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- JPH11121844A JPH11121844A JP27830797A JP27830797A JPH11121844A JP H11121844 A JPH11121844 A JP H11121844A JP 27830797 A JP27830797 A JP 27830797A JP 27830797 A JP27830797 A JP 27830797A JP H11121844 A JPH11121844 A JP H11121844A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 送信データがパルス幅変動回路を通過するこ
とで、レーザダイオードの発振遅れ時間の影響を小さく
すること。 【解決手段】 送信データのパルス幅を変動させるパル
ス幅変動回路２と、レーザダイオード５をパルス変調す
るパルス変調回路３と、直流バイアス電流を印加するバ
イアス回路４とを有する。さらに、前記レーザダイオー
ド５の出力をモニタするモニタ用フォトダイオード１１
と、その出力を増幅する増幅回路１０と、前記レーザダ
イオード５のパルス変調出力のデューティ比を測定する
デューティ比測定回路９と、可変パルス幅変動回路１２
を有する。
とで、レーザダイオードの発振遅れ時間の影響を小さく
すること。 【解決手段】 送信データのパルス幅を変動させるパル
ス幅変動回路２と、レーザダイオード５をパルス変調す
るパルス変調回路３と、直流バイアス電流を印加するバ
イアス回路４とを有する。さらに、前記レーザダイオー
ド５の出力をモニタするモニタ用フォトダイオード１１
と、その出力を増幅する増幅回路１０と、前記レーザダ
イオード５のパルス変調出力のデューティ比を測定する
デューティ比測定回路９と、可変パルス幅変動回路１２
を有する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバを伝送
媒体とする光通信システムの中の光送信器等に用いられ
るレーザダイオード駆動回路に関する。
媒体とする光通信システムの中の光送信器等に用いられ
るレーザダイオード駆動回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】図８は、従来のレーザダイオード駆動回
路のブロック図を示している。図９は電流−光出力特性
図を示している。レーザダイオード駆動回路１は、パル
ス変調回路３と、バイアス回路４と、レーザダイオード
５とを備えている。
路のブロック図を示している。図９は電流−光出力特性
図を示している。レーザダイオード駆動回路１は、パル
ス変調回路３と、バイアス回路４と、レーザダイオード
５とを備えている。
【０００３】図８及び図９に示すように、パルス変調回
路３によってパルス変調を行う場合は、直流バイアス電
流Ｉｂを印加し、さらに信号成分としてパルス変調電流
Ｉｐを重畳させ直接変調する方式が一般的に行われてい
る。
路３によってパルス変調を行う場合は、直流バイアス電
流Ｉｂを印加し、さらに信号成分としてパルス変調電流
Ｉｐを重畳させ直接変調する方式が一般的に行われてい
る。
【０００４】レーザダイオードはパルス変調電流が印加
されてから発振するまでに一定の時間を要する。図１０
に示すように、これは一般に発振遅れ時間と呼ばれる。
具体的には、入力信号が“１”→“０”に変化する場合
（ｔ ｄＬＤＨＬ）に比べ、“０”→“１”に変化する
方（ｔ ｄＬＤＬＨ）が長い。
されてから発振するまでに一定の時間を要する。図１０
に示すように、これは一般に発振遅れ時間と呼ばれる。
具体的には、入力信号が“１”→“０”に変化する場合
（ｔ ｄＬＤＨＬ）に比べ、“０”→“１”に変化する
方（ｔ ｄＬＤＬＨ）が長い。
【０００５】ｔ ｄＬＤＬＨ＞ｔ ｄＬＤＨＬ の関係が成り立つ。上述の関係は直流バイアス電流が小
さいほど顕著になる。
さいほど顕著になる。
【０００６】発振遅れ時間の影響を押さえる方法とし
て、図９に示したように、しきい値電流Ｉｔｈ以上の直
流バイアス電流Ｉｂを印加する方法がある。
て、図９に示したように、しきい値電流Ｉｔｈ以上の直
流バイアス電流Ｉｂを印加する方法がある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】第１の問題点は、従来
技術において発振遅れ時間により、光出力波形のジッタ
が増加しアイパターンが劣化することである。特に数１
００ＭＨｚ以上の高速パルス変調時にはこの影響が大き
い。この結果、ビット誤り率（ＢＥＲ）が悪化しデータ
通信の信頼性が低下する。
技術において発振遅れ時間により、光出力波形のジッタ
が増加しアイパターンが劣化することである。特に数１
００ＭＨｚ以上の高速パルス変調時にはこの影響が大き
い。この結果、ビット誤り率（ＢＥＲ）が悪化しデータ
通信の信頼性が低下する。
【０００８】第２の問題点として、第１の問題点を回避
するために直流バイアス電流を増加させることにより信
号“０”を送信時でもレーザ光が出力され消光比が小さ
くなるため、第１の問題点と同様にビット誤り率（ＢＥ
Ｒ）が悪化するということである。消光比とは２値信号
に対応した光出力強度の比である。
するために直流バイアス電流を増加させることにより信
号“０”を送信時でもレーザ光が出力され消光比が小さ
くなるため、第１の問題点と同様にビット誤り率（ＢＥ
Ｒ）が悪化するということである。消光比とは２値信号
に対応した光出力強度の比である。
【０００９】第３の問題点は、直流バイアス電流Ｉｂを
増加させることにより、光出力強度が増加しレーザダイ
オード５の寿命が短くなるということである。一般にレ
ーザダイオード５の寿命は光出力強度の２乗から４乗に
反比例することが知られている。
増加させることにより、光出力強度が増加しレーザダイ
オード５の寿命が短くなるということである。一般にレ
ーザダイオード５の寿命は光出力強度の２乗から４乗に
反比例することが知られている。
【００１０】本発明の課題は、前記のような問題点を解
決するもので、送信データをバルス幅変動回路に入力し
レーザダイオードの発振遅れ時間の影響を相殺すること
により、良好なアイパターンを得ることによって、デー
タ通信の信頼性を向上させることができるレーザダイオ
ード駆動回路を提供することにある。
決するもので、送信データをバルス幅変動回路に入力し
レーザダイオードの発振遅れ時間の影響を相殺すること
により、良好なアイパターンを得ることによって、デー
タ通信の信頼性を向上させることができるレーザダイオ
ード駆動回路を提供することにある。
【００１１】本発明の他の課題は、直流バイアス電流を
抑え、レーザダイオードの光出力強度を小さくすること
によりレーザダイオードの寿命を長期化することができ
るレーザダイオード駆動回路を提供することにある。
抑え、レーザダイオードの光出力強度を小さくすること
によりレーザダイオードの寿命を長期化することができ
るレーザダイオード駆動回路を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、直流バ
イアス電流にパルス変調電流を重畳させる方式のレーザ
ダイオード駆動回路において、送信データのパルス幅を
変動させるパルス幅変動回路と、レーザダイオードをパ
ルス変調するパルス変調回路と、直流バイアス電流を印
加するバイアス回路とを有することを特徴とするレーザ
ダイオード駆動回路が得られる。
イアス電流にパルス変調電流を重畳させる方式のレーザ
ダイオード駆動回路において、送信データのパルス幅を
変動させるパルス幅変動回路と、レーザダイオードをパ
ルス変調するパルス変調回路と、直流バイアス電流を印
加するバイアス回路とを有することを特徴とするレーザ
ダイオード駆動回路が得られる。
【００１３】また、本発明によれば、直流バイアス電流
にパルス変調電流を重畳させる方式のレーザダイオード
駆動回路において、レーザダイオードをパルス変調する
パルス変調回路と、直流バイアス電流を印加するバイア
ス回路と、前記レーザダイオードのパルス変調出力のデ
ューティ比を測定するデューティ比測定回路と、パルス
幅変動値を変化させられる可変パルス幅変動回路とを有
し、前記レーザダイオードの発信遅れ時間をモニタして
前記パルス幅変動値を制御することを特徴とするレーザ
ダイオード駆動回路が得られる。
にパルス変調電流を重畳させる方式のレーザダイオード
駆動回路において、レーザダイオードをパルス変調する
パルス変調回路と、直流バイアス電流を印加するバイア
ス回路と、前記レーザダイオードのパルス変調出力のデ
ューティ比を測定するデューティ比測定回路と、パルス
幅変動値を変化させられる可変パルス幅変動回路とを有
し、前記レーザダイオードの発信遅れ時間をモニタして
前記パルス幅変動値を制御することを特徴とするレーザ
ダイオード駆動回路が得られる。
【００１４】さらに、本発明んよれば、前記レーザダイ
オードの出力をモニタするモニタ用フォトダイオード
と、該モニタ用フォトダイオードの出力を増幅する増幅
回路とを有することを特徴とするレーザダイオード駆動
回路が得られる。
オードの出力をモニタするモニタ用フォトダイオード
と、該モニタ用フォトダイオードの出力を増幅する増幅
回路とを有することを特徴とするレーザダイオード駆動
回路が得られる。
【００１５】
【作用】差動送信データ（ＴＤ＋／ＴＤ−）はパルス幅
変動回路に入力される。パルス幅変動回路では、送信デ
ータの“１”のパルス幅を長くし、“０”のパルス幅を
短くする。パルス幅変動回路を通過した送信データは、
パルス変調回路に入力され直接パルス変調されレーザ発
振する。このため、パルス幅変動回路によるパルス幅変
動とレーザ発振遅れ時間によるパルス幅変動が相殺さ
れ、発振遅れ時間によるアイパターンの劣化を防ぐこと
ができる。
変動回路に入力される。パルス幅変動回路では、送信デ
ータの“１”のパルス幅を長くし、“０”のパルス幅を
短くする。パルス幅変動回路を通過した送信データは、
パルス変調回路に入力され直接パルス変調されレーザ発
振する。このため、パルス幅変動回路によるパルス幅変
動とレーザ発振遅れ時間によるパルス幅変動が相殺さ
れ、発振遅れ時間によるアイパターンの劣化を防ぐこと
ができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】本発明のレーザダイオード駆動回
路の実施の形態について図面を参照して説明する。図１
は本発明のレーザダイオード駆動回路の第１の実施の形
態を示すブロック図である。
路の実施の形態について図面を参照して説明する。図１
は本発明のレーザダイオード駆動回路の第１の実施の形
態を示すブロック図である。
【００１７】図１において、１はレーザダイオード駆動
回路であり、構成要素として送信データのパルス幅を変
動させるパルス幅変動回路２と、送信データのパルス変
調を行うパルス変調回路３と、レーザダイオード５に直
流バイアス電流Ｉｂを印加するバイアス回路４とを有す
る。レーザダイオード駆動回路１によりレーザダイオー
ド５をパルス変調する。
回路であり、構成要素として送信データのパルス幅を変
動させるパルス幅変動回路２と、送信データのパルス変
調を行うパルス変調回路３と、レーザダイオード５に直
流バイアス電流Ｉｂを印加するバイアス回路４とを有す
る。レーザダイオード駆動回路１によりレーザダイオー
ド５をパルス変調する。
【００１８】差動送信データ（ＴＤ＋／ＴＤ−）はパル
ス幅変動回路２に入力される。パルス幅変動回路２では
送信データの“１”のパルス幅を長くし、“０”のパル
ス幅を短くする。変動させる時間はレーザダイオード５
の発振遅れ時間を考慮し決定する。一般にレーザダイオ
ード５の発振遅れ時間は次式で表され、直流バイアス電
流Ｉｂが０Ａの場合発振遅れ時間は数ｎｓである。
ス幅変動回路２に入力される。パルス幅変動回路２では
送信データの“１”のパルス幅を長くし、“０”のパル
ス幅を短くする。変動させる時間はレーザダイオード５
の発振遅れ時間を考慮し決定する。一般にレーザダイオ
ード５の発振遅れ時間は次式で表され、直流バイアス電
流Ｉｂが０Ａの場合発振遅れ時間は数ｎｓである。
【００１９】 τｄ＝τｓＩｎ（Ｉｐ−Ｉｂ／Ｉｐ−Ｉｔｈ） 上式でτｄは発振遅れ時間、τｓは注入キャリアのライ
フタイムで２．５ｎｓ、Ｉｐはパルス変調電流、Ｉｂは
直流バイアス電流、Ｉｔｈはしきい値電流を表す。
フタイムで２．５ｎｓ、Ｉｐはパルス変調電流、Ｉｂは
直流バイアス電流、Ｉｔｈはしきい値電流を表す。
【００２０】パルス幅変動回路２を通過した送信データ
は、パルス変調回路３に入力され、レーザダイオード５
にパルス変調電流Ｉｐを印加し、レーザダイオード５は
レーザ発振する。この結果、パルス幅変動回路２は送信
データの“１”のパルス幅を長くし、発振遅れ時間は
“１”のパルス幅を短くするため、パルス幅変動回路２
と発振遅れ時間各々のパルス幅変動が相殺され、良好な
アイパターンを得ることができる。
は、パルス変調回路３に入力され、レーザダイオード５
にパルス変調電流Ｉｐを印加し、レーザダイオード５は
レーザ発振する。この結果、パルス幅変動回路２は送信
データの“１”のパルス幅を長くし、発振遅れ時間は
“１”のパルス幅を短くするため、パルス幅変動回路２
と発振遅れ時間各々のパルス幅変動が相殺され、良好な
アイパターンを得ることができる。
【００２１】パルス幅変動回路の具体例として図２に反
転回路を用いた場合の構成図を示す。反転回路Ａ６と反
転回路Ｂ７はそれぞれ遅延時間の異なる２種類の反転回
路である。反転回路はトランジスタのゲート幅を調整す
ることにより遅延時間（ｔｄＩＮＶ）を制御できる。反
転回路Ａ６の遅延時間は入力信号の“０”→“１”に変
化する時間（ｔｄ ＩＮＶ６ＬＨ）に対し“１”→
“０”に変化する時間（ｔｄ ＩＮＶ６ＨＬ）を遅くす
る。
転回路を用いた場合の構成図を示す。反転回路Ａ６と反
転回路Ｂ７はそれぞれ遅延時間の異なる２種類の反転回
路である。反転回路はトランジスタのゲート幅を調整す
ることにより遅延時間（ｔｄＩＮＶ）を制御できる。反
転回路Ａ６の遅延時間は入力信号の“０”→“１”に変
化する時間（ｔｄ ＩＮＶ６ＬＨ）に対し“１”→
“０”に変化する時間（ｔｄ ＩＮＶ６ＨＬ）を遅くす
る。
【００２２】ｔｄ ＩＮＶ６ＬＨ＜ｔｄ ＩＮＶ６ＨＬ 逆に反転回路Ｂ７の遅延時間は、入力信号が“０”→
“１”に変化する時間（ｔｄ ＩＮＶ７ＬＨ）に対し
“１”→“０”に変化する時間（ｔｄ ＩＮＶ７ＨＬ）
を速くする。
“１”に変化する時間（ｔｄ ＩＮＶ７ＬＨ）に対し
“１”→“０”に変化する時間（ｔｄ ＩＮＶ７ＨＬ）
を速くする。
【００２３】ｔｄ ＩＮＶ７ＨＬ＜ｔｄ ＩＮＶ７ＬＨ よって送信データは反転回路Ａ６を通過すると“０”の
パルス幅が長くなり、反転回路Ｂ７を通過すると“１”
のパルス幅が長くなる。この様子を図３に示す。
パルス幅が長くなり、反転回路Ｂ７を通過すると“１”
のパルス幅が長くなる。この様子を図３に示す。
【００２４】図２に示す様にパルス幅変動回路では送信
データ＋（ＴＤ＋）を反転回路Ａ６に入力し、その出力
をパルス変調回路３内の差動入力バッファ８の−入力に
入力し、送信データ−（ＴＤ−）を反転回路Ｂ７に入力
しその出力を差動入力バッファ８の＋入力に入力する。
これによりレーザ発振遅れ時間の影響が無くなり良好な
アイパターンを得ることができる。
データ＋（ＴＤ＋）を反転回路Ａ６に入力し、その出力
をパルス変調回路３内の差動入力バッファ８の−入力に
入力し、送信データ−（ＴＤ−）を反転回路Ｂ７に入力
しその出力を差動入力バッファ８の＋入力に入力する。
これによりレーザ発振遅れ時間の影響が無くなり良好な
アイパターンを得ることができる。
【００２５】図４は本発明の電流−光出力特性図であ
る。信号“１”送信時の光出力をＰ１１、“０”送信時
の光出力をＰ０１、平均光出力はＰａｖｅ１とする。ま
た消光比Ｅｒは信号“１”送信時と“０”送信時の光出
力の比でありＥｒ１＝Ｐ１１／Ｐ０１で求められる。
る。信号“１”送信時の光出力をＰ１１、“０”送信時
の光出力をＰ０１、平均光出力はＰａｖｅ１とする。ま
た消光比Ｅｒは信号“１”送信時と“０”送信時の光出
力の比でありＥｒ１＝Ｐ１１／Ｐ０１で求められる。
【００２６】上述のように発振遅れ時間の影響を受けな
いため直流バイアス電流Ｉｂ１はしきい値電流Ｉｔｈ以
下にでき、光出力Ｐ０１小さくできる。同様に図９に示
した従来の電流−光出力特性図についても光出力をＰ１
２、Ｐ２２、Ｐａｖｅ２、消光比をＥｒ２で表すと、図
４と比較して消光比Ｅｒは小さくなり、平均光出力Ｐａ
ｖｅは大きくなる。すなわち、Ｅｒ１＞Ｅｒ２、Ｐａｖ
ｅ１＜Ｐａｖｅ２の関係が成り立つ。この結果従来技術
に対しデータ通信の信頼性は向上し、レーザダイオード
の寿命が長くなる。
いため直流バイアス電流Ｉｂ１はしきい値電流Ｉｔｈ以
下にでき、光出力Ｐ０１小さくできる。同様に図９に示
した従来の電流−光出力特性図についても光出力をＰ１
２、Ｐ２２、Ｐａｖｅ２、消光比をＥｒ２で表すと、図
４と比較して消光比Ｅｒは小さくなり、平均光出力Ｐａ
ｖｅは大きくなる。すなわち、Ｅｒ１＞Ｅｒ２、Ｐａｖ
ｅ１＜Ｐａｖｅ２の関係が成り立つ。この結果従来技術
に対しデータ通信の信頼性は向上し、レーザダイオード
の寿命が長くなる。
【００２７】次に、本発明の第２の実施の形態について
説明する。図５は第２の実施の形態を示すブロック図で
ある。第２の実施の形態においては、第１の実施の形態
の構成要素でパルス幅変動回路２に替わり可変パルス幅
変動回路１２を有している。さらにレーザダイオード５
のパルス変調出力をモニタするモニタ用フォトダイオー
ド１１と、モニタ用フォトダイオード１１の出力を増幅
する増幅回路１０と、パルス変調出力のデューティ比を
測定するデューティ比測定回路９とを有する。
説明する。図５は第２の実施の形態を示すブロック図で
ある。第２の実施の形態においては、第１の実施の形態
の構成要素でパルス幅変動回路２に替わり可変パルス幅
変動回路１２を有している。さらにレーザダイオード５
のパルス変調出力をモニタするモニタ用フォトダイオー
ド１１と、モニタ用フォトダイオード１１の出力を増幅
する増幅回路１０と、パルス変調出力のデューティ比を
測定するデューティ比測定回路９とを有する。
【００２８】レーザダイオード５の発振遅れ時間は直流
バイアス電流、パルス変調電流、レーザダイオード５の
違い等により異なる。この発振遅れ時間を測定し最適な
パルス幅変動の値を設定するために、通常動作を始める
前にデューティ比５０％の繰り返し信号を送信データと
して入力する。可変パルス幅変調回路１２の初期状態は
変動をゼロにしておく。送信データＴＤはパルス変調さ
れレーザ発振する。
バイアス電流、パルス変調電流、レーザダイオード５の
違い等により異なる。この発振遅れ時間を測定し最適な
パルス幅変動の値を設定するために、通常動作を始める
前にデューティ比５０％の繰り返し信号を送信データと
して入力する。可変パルス幅変調回路１２の初期状態は
変動をゼロにしておく。送信データＴＤはパルス変調さ
れレーザ発振する。
【００２９】モニタ用フォトダイオード１１はパルス変
調されたレーザダイオード５の出力を電気信号に変換す
る。モニタ用フォトダイオード１１の出力は非常に小さ
いため増幅回路１０で増幅されデューティ比測定回路９
に入力される。デューティ比測定回路９に入力される信
号は発振遅れ時間の影響により信号“１”のパルス幅が
短くなりデューティ比が変動する。
調されたレーザダイオード５の出力を電気信号に変換す
る。モニタ用フォトダイオード１１の出力は非常に小さ
いため増幅回路１０で増幅されデューティ比測定回路９
に入力される。デューティ比測定回路９に入力される信
号は発振遅れ時間の影響により信号“１”のパルス幅が
短くなりデューティ比が変動する。
【００３０】デューティ比測定回路９でデューティ比を
測定し５０％以下であれば可変パルス幅変動回路１２に
制御信号を出力し、“１”のパルス幅を長くする。デュ
ーティ比が５０％になるまで以上の動作を繰り返し可変
パルス幅変動回路１２のパルス変動値を設定する。
測定し５０％以下であれば可変パルス幅変動回路１２に
制御信号を出力し、“１”のパルス幅を長くする。デュ
ーティ比が５０％になるまで以上の動作を繰り返し可変
パルス幅変動回路１２のパルス変動値を設定する。
【００３１】図６は、可変パルス幅変動回路内の反転回
路のブロック図を示している。図７は、可変パルス幅変
動回路１２のブロック図を示している。可変パルス幅変
動回路１２は、図６に示す反転回路ブロックＡ１３と反
転回路ブロックＢ１４と選択回路１５から構成される。
反転回路ブロックＡ１３は前段に立ち下がり遅延時間の
速い反転回路Ａ６を、後段に立ち上がり遅延時間の速い
反転回路Ｂ７を配置し信号“１”のパルス幅を長くす
る。逆に反転回路ブロックＢ１４は前段に反転回路Ｂ７
を、後段に反転回路Ａ６を配置し信号“０”のパルス幅
を長くする。
路のブロック図を示している。図７は、可変パルス幅変
動回路１２のブロック図を示している。可変パルス幅変
動回路１２は、図６に示す反転回路ブロックＡ１３と反
転回路ブロックＢ１４と選択回路１５から構成される。
反転回路ブロックＡ１３は前段に立ち下がり遅延時間の
速い反転回路Ａ６を、後段に立ち上がり遅延時間の速い
反転回路Ｂ７を配置し信号“１”のパルス幅を長くす
る。逆に反転回路ブロックＢ１４は前段に反転回路Ｂ７
を、後段に反転回路Ａ６を配置し信号“０”のパルス幅
を長くする。
【００３２】可変パルス幅変動回路１２はデューティ比
測定回路９の制御信号によって、これら反転回路ブロッ
クＡ１３、反転回路ブロックＢ１４の通過する段数を選
択回路１５で通変化させることにより、実際のレーザダ
イオードの発振遅れ時間に合ったパルス幅変動値を設定
することができる。
測定回路９の制御信号によって、これら反転回路ブロッ
クＡ１３、反転回路ブロックＢ１４の通過する段数を選
択回路１５で通変化させることにより、実際のレーザダ
イオードの発振遅れ時間に合ったパルス幅変動値を設定
することができる。
【００３３】
【発明の効果】以上、実施の形態によって説明したよう
に、本発明のレーザダイオード駆動回路によると、送信
データがパルス幅変動回路を通過することにより、
“１”のパルス幅が長くなり、発振遅れ時間によるパル
ス幅変動と相殺されることから、第１の効果として、レ
ーザダイオードの発振遅れ時間の影響を受けずに良好な
アイパターンを得ることができる。
に、本発明のレーザダイオード駆動回路によると、送信
データがパルス幅変動回路を通過することにより、
“１”のパルス幅が長くなり、発振遅れ時間によるパル
ス幅変動と相殺されることから、第１の効果として、レ
ーザダイオードの発振遅れ時間の影響を受けずに良好な
アイパターンを得ることができる。
【００３４】第２の効果としては、発振遅れ時間の影響
を受けないため直流バイアス電流を小さくできるため、
消光比が大きくなることによりデータ通信の信頼性が向
上する。
を受けないため直流バイアス電流を小さくできるため、
消光比が大きくなることによりデータ通信の信頼性が向
上する。
【００３５】第３の効果としては、直流バイアス電流を
小さくすることによりレーザダイオードの光出力強度を
小さくできるため、レーザダイオードの寿命が長くな
る。
小さくすることによりレーザダイオードの光出力強度を
小さくできるため、レーザダイオードの寿命が長くな
る。
【００３６】第４の効果としては、パルス変調されたレ
ーザダイオードの出力をデューティ比測定回路で測定し
可変パルス幅変動回路でデューティ比が５０％となるよ
うパルス幅変動値を設定するため、実際の使用条件に適
したパルス幅変動値を設定することによりより発振遅れ
時間の影響を抑えることができる。
ーザダイオードの出力をデューティ比測定回路で測定し
可変パルス幅変動回路でデューティ比が５０％となるよ
うパルス幅変動値を設定するため、実際の使用条件に適
したパルス幅変動値を設定することによりより発振遅れ
時間の影響を抑えることができる。
【図１】本発明のレーザダイオード駆動回路の第１の実
施の形態における全体構成を示すブロック図である。
施の形態における全体構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示したパルス幅変動回路の具体例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図３】本発明の動作を示すタイムチャートである。
【図４】本発明の効果を説明するための電流−光出力特
性図である。
性図である。
【図５】本発明のレーザダイオード駆動回路の第２の実
施の形態を示すブロック図である。
施の形態を示すブロック図である。
【図６】図５に示した可変パルス幅変動回路内の反転回
路のブロック図である。
路のブロック図である。
【図７】図５に示した可変パルス幅変動回路のブロック
図である。
図である。
【図８】従来技術のレーザダイオード駆動回路を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図９】従来技術の電流−光出力特性図である。
【図１０】発振遅れ時間を表す図である。
１ レーザダイオード駆動回路 ２ パルス幅変動回路 ３ パルス変調回路 ４ バイアス回路 ５ レーザダイオード ６ 反転回路Ａ ７ 反転回路Ｂ ８ 差動入力バッファ ９ デューティ比測定回路 １０ 増幅回路 １１ モニタ用フォトダイオード １２ 可変パルス幅変動回路 １３ 反転回路ブロックＡ １４ 反転回路ブロックＢ １５ 選択回路
Claims (3)
- 【請求項１】 直流バイアス電流にパルス変調電流を重
畳させる方式のレーザダイオード駆動回路において、送
信データのパルス幅を変動させるパルス幅変動回路と、
レーザダイオードをパルス変調するパルス変調回路と、
直流バイアス電流を印加するバイアス回路とを有するこ
とを特徴とするレーザダイオード駆動回路。 - 【請求項２】 直流バイアス電流にパルス変調電流を重
畳させる方式のレーザダイオード駆動回路において、レ
ーザダイオードをパルス変調するパルス変調回路と、直
流バイアス電流を印加するバイアス回路と、前記レーザ
ダイオードのパルス変調出力のデューティ比を測定する
デューティ比測定回路と、パルス幅変動値を変化させら
れる可変パルス幅変動回路とを有し、前記レーザダイオ
ードの発信遅れ時間をモニタして前記パルス幅変動値を
制御することを特徴とするレーザダイオード駆動回路。 - 【請求項３】 請求項２記載のレーザダイオード駆動回
路において、前記レーザダイオードの出力をモニタする
モニタ用フォトダイオードと、該モニタ用フォトダイオ
ードの出力を増幅する増幅回路とを有することを特徴と
するレーザダイオード駆動回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27830797A JP3169065B2 (ja) | 1997-10-13 | 1997-10-13 | レーザダイオード駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27830797A JP3169065B2 (ja) | 1997-10-13 | 1997-10-13 | レーザダイオード駆動回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11121844A true JPH11121844A (ja) | 1999-04-30 |
| JP3169065B2 JP3169065B2 (ja) | 2001-05-21 |
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ID=17595525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27830797A Expired - Fee Related JP3169065B2 (ja) | 1997-10-13 | 1997-10-13 | レーザダイオード駆動回路 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3169065B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007114119A1 (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-11 | Eudyna Devices Inc. | レーザダイオード駆動回路、電子回路、レーザダイオード駆動回路の制御方法及びデューティ制御方法 |
| JP2008172141A (ja) * | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Mitsubishi Electric Corp | レーザダイオード素子 |
-
1997
- 1997-10-13 JP JP27830797A patent/JP3169065B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
| WO2007114119A1 (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-11 | Eudyna Devices Inc. | レーザダイオード駆動回路、電子回路、レーザダイオード駆動回路の制御方法及びデューティ制御方法 |
| US8259766B2 (en) | 2006-03-31 | 2012-09-04 | Eudyna Devices Inc. | Laser diode drive circuit, electronic circuit, method for controlling laser diode drive circuit, and method for controlling duty |
| JP2008172141A (ja) * | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Mitsubishi Electric Corp | レーザダイオード素子 |
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|---|---|
| JP3169065B2 (ja) | 2001-05-21 |
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