JPH11120655A - ディスククランプ装置及びこれを有するディスク特性試験装置 - Google Patents

ディスククランプ装置及びこれを有するディスク特性試験装置

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JPH11120655A
JPH11120655A JP9279073A JP27907397A JPH11120655A JP H11120655 A JPH11120655 A JP H11120655A JP 9279073 A JP9279073 A JP 9279073A JP 27907397 A JP27907397 A JP 27907397A JP H11120655 A JPH11120655 A JP H11120655A
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JP
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disk
disc
turntable
rotary table
head
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JP9279073A
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Naotaka Nakamura
直隆 中村
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明はディスククランプ装置に関し、様々な
径のディスクに対して回転テーブル上の同一平面上に簡
便に精度よくクランプすることを課題とする。 【解決手段】ディスククランプ装置2Bは、係止部36
a、36b、36c及びディスクの中心孔の縁を押止す
るディスク固定つめ34a、34b、34cを有し、一
端を回転テーブル16B上に周方向等間隔で軸支された
3つの同形状のアーム30a、30b、30cと、回転
テーブル16Bの外周と嵌合し、中央開口窓24及び周
方向等間隔で形成され係止部36a、36b、36cに
係合する長孔22a、22b、22cを有する回転操作
蓋20Bと、回転操作蓋20Bを回転テーブル16Bに
固定する固定ねじ28とからなる。回転操作蓋20Bを
回転して、ディスク固定つめ34a、34b、34cを
外周方向に移動させ、ディスク固定つめ34a、34
b、34cがディスクの中心孔の縁を押止した状態で、
固定ねじ28によって回転操作蓋20Bを回転テーブル
16Bに固定して、ディスクを回転テーブル16B上に
クランプすることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はディスククランプ装
置及びこれを有するディスク特性試験装置に係り、特に
様々な径のディスクに対して回転テーブル上の同一平面
上に簡便に精度良くクランプすることを可能とした、デ
ィスク特性試験装置に適用されるディスククランプ装置
及びこれを有するディスク特性試験装置に関する。
【0002】近年、磁気ディスク、光磁気ディスク等の
ディスクの多様化、高性能化、汎用化に伴い、製造され
た多種多量のディスクに対して磁性膜や表面形状等、多
岐の項目にわたる詳細な特性試験を行うようになってい
る。そこで、多様な径のディスクを同一のディスククラ
ンプ装置で、ディスクを載置する回転テーブルの同一平
面内に簡便に精度良く固定し、ディスク特性試験装置の
ディスクに対する位置合わせのための手間を可能な限り
少なくし、効率の良いディスククランプ特性試験を実現
することが望まれている。
【0003】
【従来の技術】図8乃至図10を用いて従来の一例であ
る、ディスク特性試験装置に適用されるディスククラン
プ装置を説明する。先ず、説明の便宜上、ディスク特性
試験装置100Aを図8を用いて説明する。
【0004】図8のディスク特性試験装置100Aは、
ディスククランプ装置2A、ヘッド4、キャリッジ6
A、測定器8、除振台10等から構成されている。ま
た、ディスク1aは、ディスククランプ装置2Aの回転
テーブル16A上にクランプされ、ディスク特性試験装
置100Aによって特性試験を受けるディスクである。
ヘッド4は、回転するディスク1aに接近し、ディスク
1aの特性を調査する部分である。
【0005】キャリッジ6Aは、図8に示すように互い
に垂直なX軸、Y軸、Z軸方向に移動可能で且つ、ヘッ
ド4を積載した台車であり、ディスク特性試験のために
ディスク1aに対してヘッド4を適正な位置に配置させ
るための装置である。測定器8は、ヘッド4から送られ
てくるディスク1aの特性データを解析、記憶及び表示
するための機器である。
【0006】除振台10は、上面にディスククランプ装
置2Aとキャリッジ6Aとが載置されている台であり、
ディスク特性試験装置100Aが配置されている建物や
ディスククランプ装置2A等の振動を吸収し、ディスク
特性試験中にヘッド4とディスク1aの位置関係が変化
し、ディスク特性試験に不具合が起こらないようにして
いる。
【0007】図9にディスククランプ装置2Aを取り出
し、拡大して示す。ディスククランプ装置2Aは、モー
タ12のスピンドル14上に固定された回転テーブル1
6Aとストッパー18等から構成されている。モータ1
2は、回転テーブル16Aと回転テーブル16A上に載
置されてストッパー18によってクランプされているデ
ィスク1aとを回転駆動させる。
【0008】回転テーブル16Aは、後述する三種類の
ディスクに対応できるように直径の異なる複数の同心円
盤を上側に行くほど直径が小さい円盤が位置するように
積み重ねた段付き構造になっている。前記複数の円盤の
それぞれの直径は、数種のディスクの中心孔の直径にそ
れぞれ同一になるような構成になっていて、数種のディ
スクを回転テーブル16A上に載置できるようになって
いる。
【0009】ディスク1aは、中心孔を持った薄い円盤
状のものであり、主に外径65mm、内径20mmの
2.5インチディスクと外径95mm、内径25mmの
3.5インチディスクと外径130mm、内径40mm
の5.25インチディスクの三種類がある。ディスク1
aの中心孔の直径(内径)とディスク1aの中心孔から
上方に突出する円盤の直径が同一になるようにディスク
1aを回転テーブル16Aの最適な円盤上に載置した
後、ストッパー18にてディスク1aを回転テーブル1
6A上にクランプする。 ここで、3枚のディスク、
2.5インチディスク、3.5インチディスク、5.2
5インチディスクをそれぞれ回転テーブル16A上に載
置してクランプした状態の断面図を図10にそれぞれ
(A)、(B)、(C)として示す。
【0010】図10に示すように、互いに外径及び内径
の異なる2.5インチディスクと3.5インチディスク
と5.25インチディスクとでは、回転テーブル16A
上に載置される高さが違う。これは回転テーブル16A
が直径の異なる複数の同心円盤を上側に行くほど小さい
直径の円盤が位置するように積み重ねた段付き構造にな
っているためである。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
なディスククランプ装置を用いてディスク特性試験を行
う場合、次のような課題があった。即ち、上記のディス
ククランプ装置によれば、径の異なるディスクでは回転
テーブル上に載置される高さが違うので、回転テーブル
上にクランプするディスクの種類が前回クランプしたも
のと異なる場合には、ディスク特性試験装置で特性試験
を行う際にディスク特性試験装置に具備されるキャリッ
ジでヘッドの位置調整をやり直さなければならない。
【0012】更にストッパーの種類をディスクの中心孔
から上方に突出する回転テーブルの円盤の直径に合わせ
て変える必要がある。また、ディスク特性試験中はディ
スクが偏心無く回転する必要があるが、従来のディスク
クランプ装置はディスクの位置決めをディスクの中心孔
から上方に突出する円盤とディスクの中心孔との嵌合に
よって行うので、ディスクの中心孔の直径と該円盤の直
径が微妙に異なる場合は、ディスクが偏心を起こしてし
まい、ディスク特性試験が正しく行われない恐れがあ
る。更に偏心を防ぐために該円盤の直径をディスクの中
心孔の直径に合うように高精度に加工するには多大な時
間とコストがかかる。
【0013】以上のことを整理すれば、上記のように従
来のディスククランプ装置を構成する回転テーブルの上
にディスクをクランプし、ディスク特性試験装置でディ
スクの特性を試験する場合、次のような課題があった。
第一に径の異なるディスクを回転テーブルに載置する度
にディスクの取り付け高が違うのでディスク特性試験装
置のヘッドの高さを調整し直す必要があるという問題が
あった。
【0014】第二に径の異なるディスクを回転テーブル
上に載置する度にディスクの中心孔から上方に突出する
回転テーブルの円盤の直径も異なるので前記円盤の直径
に応じたストッパーでディスクを回転テーブル上にクラ
ンプしなければならないという問題点があった。第三に
ディスクの中心孔は、回転テーブルの段部と嵌合した関
係にあり、回転テーブル上にクランプされて回転するデ
ィスクの偏心の精度は、回転テーブルの各段円盤部の直
径の寸法で決まる。回転するディスクの偏心の精度を良
くするには、回転テーブルの各段円盤部の直径寸法の精
度を上げる必要があり、この分、回転テーブルに対して
高精度加工が要求され、回転テーブルの製造に手間がか
かり、且つ製造コストが高くなってしまうという問題が
あった。
【0015】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、回転テーブル上にクランプされたディスクの特性
試験を行う際のディスク特性試験装置のヘッドの調整の
問題と異なる径のディスクを取り付ける際の回転テーブ
ル上へのクランプの問題とを解消することの可能なディ
スククランプ装置及びこれを有するディスク特性試験装
置を提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明では、次に述べる各手段を講じたことを特徴と
するものである。請求項1記載の発明では、モータによ
って回転される回転テーブル上にディスクをクランプす
るディスククランプ装置において、それぞれが係止部及
び前記ディスクの中心孔の縁を押止するつめ部を有し、
一端を前記回転テーブル上に周方向等間隔で軸支された
複数の同形状のアームと、前記回転テーブルの外周と嵌
合し、中央開口窓及び周方向等間隔で形成され前記係止
部に係合する長孔を有する回転操作蓋と、前記回転操作
蓋を前記回転テーブルに固定する固定部材からなり、前
記回転蓋を回転して、前記各つめ部を外周方向に移動さ
せ、前記各つめ部が前記ディスクの中心孔の縁を押止し
た状態で、前記固定部材によって前記回転操作蓋を前記
回転テーブルに固定して、前記ディスクを前記回転テー
ブル上にクランプすることを特徴とするものである。
【0017】また、請求項2記載の発明では、前記請求
項1記載のディスククランプ装置と、該ディスククラン
プ装置にクランプされた前記ディスクの特性を調べるヘ
ッドと、前記ヘッドをディスク特性試験に最適な位置に
移動させるキャリッジと、前記ヘッドから送られてくる
ディスク特性データを解析、記録及び表示するための測
定器とからなる構成としたことを特徴とするものであ
る。
【0018】上記の各手段は、次のように作用する。請
求項1記載の発明によれば、ディスクの中心孔の内側か
らディスククランプ装置に具備される同心円上に等間隔
で配されたディスク固定つめによりディスクは押止され
るので、偏心無く、且つ常に同一の高さにディスクをク
ランプすることが可能となる。このため多様の回転テー
ブル及びディスクを回転テーブル上にクランプしておく
ためのストッパーが不必要となる。
【0019】また、請求項2記載の発明によれば、前記
ディスククランプ装置を有するディスク特性試験装置に
具備されるキャリッジが垂直方向にヘッドを大きく移動
させる機構を持つ必要が無く、キャリッジの製造コスト
を抑制し、キャリッジを用いてヘッドをディスクに対し
て垂直方向に適正に位置させる手間を省くことが可能と
なる。
【0020】
【発明の実施の形態】続いて、本発明の実施の形態につ
いて図面と共に説明する。図1乃至図3は本発明の一実
施例であるディスククランプ装置2Bを示す構成図であ
る。ディスククランプ装置2Bは、大略するとモータ1
2、スピンドル14、回転テーブル16B、アーム30
a、30b、30c、回転操作部材としての回転操作蓋
20B等により構成されている。
【0021】尚、モータ12、スピンドル14は従来例
と同様のものなので説明を省略する。回転テーブル16
Bは、スピンドル14の上端に固定されていて、上面に
は3つのアーム30a、30b、30cを具備してい
る。図2に示すようにアーム30aは、アーム軸32a
とディスク固定つめ34aと係止部36aとを具備する
弓形状の薄い板である。
【0022】アーム軸32aは、アーム30aの一端に
固定してあり、アーム30aを回転テーブル16B上に
軸支するものである。係止部36aは、アーム軸32a
に対してアーム30a上の他端に位置するピン状の部材
であり、この係止部36aが後述の長孔22aに嵌合す
る。ディスク固定つめ34aは、アーム30aの中程に
取り付けてある部材であり、図3に示すように台部34
a1とピン部34a2とからなる。この台部34a1上
にはディスクが載置され、ディスク固定つめ34aのピ
ン部34a2がディスクをクランプする機能を持つ。
【0023】ここでアーム30b、30cの構成につい
てはアーム30aと同様なので説明を省略するが、アー
ム軸32a、32b、32cは回転テーブル16B上の
周縁近傍(回転テーブル16Bの回転中心O1を中心と
する円の円周上)に周方向等間隔に配置され、且つアー
ム30a、30b、30cは図1に示すように互いに回
転テーブル16B上で立体交差して配置されている。
【0024】回転操作蓋20Bは長孔22a、22b、
22c、中央開口窓24、嵌合部26、固定ねじ28等
を具備する。長孔22a、22b、22cは、回転操作
蓋20Bの中心O2を中心とする円周上を三等分した位
置にあり、且つ放射状の形状のものである。固定操作蓋
20Bの嵌合部26は、回転テーブル16Bに嵌合し、
その時中央開口窓24はディスク固定つめ34a、34
b、34cと嵌合し、長孔22a、22b、22cは係
止部36a、36b、36cとそれぞれ嵌合している。
【0025】固定ねじ28は、固定操作蓋20Bの嵌合
部26の側面に取り付いている。次に上記構成とされた
ディスククランプ装置2Bの動作について説明する。先
ず、図4に示すように回転操作蓋20Bを矢印のW方向
に回転角θだけ回転させたと仮定する。この操作によっ
て、長孔22aに嵌合している係止部36aが長孔22
aによって案内され、係止部36aを具備しているアー
ム30aがアーム軸32aを中心に時計方向に回転させ
られ、アーム30aは実線で示す位置から点線で示す位
置に移動する。
【0026】尚、図4ではアーム30aの動作のみを示
したが、アーム30b及びアーム30cについてもアー
ム30aと同様の動作をする。図5(A)は、回転操作
蓋20Bを回転操作する前の状態を示し、図5(B)
は、回転操作蓋20Bを回転操作した後の状態を示す。
図5(A)と図5(B)から分かるように回転操作蓋2
0Bを回転させると、ディスク固定つめ34a、34
b、34cは互いに遠ざかりながら回転テーブル16B
の外縁方向に、回転テーブル16Bの回転中心O1を中
心とする2点鎖線で示す円の円周上の位置であって、且
つこの円周を三等分した位置に位置しつつ移動する。
【0027】ディスク固定つめ34a、34b、34c
が回転テーブル16Bの回転中心O1の近くに位置して
いる状態でディスクを回転テーブル16B上に載置し
(この時、各ディスク固定つめのピン部34a2、34
b2、34c2はディスクの中心孔内から上方に突出し
ている)、回転操作蓋20Bを図4の矢印W方向に回転
操作する。
【0028】回転操作蓋20Bを各ディスク固定つめ3
4a、34b、34cのピン部34a2、34b2、3
4c2がディスクの中心孔の円周面を内側から確実に押
止するまで回転操作を行い、更に矢印のW方向に力を加
えて回転付勢させた状態で、固定ねじ28を締めつけ
る。固定ねじ28を締めつけることによって、固定ねじ
28の先端が回転テーブル16Bの側面を押止し、回転
操作蓋20Bが回転テーブル16Bに固定され、ディス
クは各固定つめ34a、34b、34cの台部34a
1、34b1、34c1に載って支持されたままクラン
プされる。
【0029】図6にはディスクをクランプした状態を断
面図で示している。ここでアーム30a、30b、30
cは同様のものであり、アーム軸32a、32b、32
cが回転テーブル16B上の外縁付近に周方向等間隔で
配置されているため、回転操作蓋20Bを回転させた
際、ディスク固定つめ34a、34b、34cは回転テ
ーブル16B上に載置されたディスクの中心に対して同
心円状に互いに広がって行きながらディスクの中心孔を
内側から押止するので、ディスクは、偏心の無い状態で
回転するようにクランプされる。しかも、回転テーブル
16Bを回転させる前から回転テーブル上で滑ることな
く確実にクランプされ、ディスクは回転テーブル16B
の回転と同時に回転を開始する。
【0030】回転操作蓋20Bをクランプしようとする
ディスクの中心孔の径に対応した角度だけ回転させるこ
とによって、他の種類のディスクも前記と同様に偏心せ
ずに回転しうる状態で、且つ同じ高さにクランプされ
る。尚、ディスク特性試験が終了して、ディスクのクラ
ンプを解除する場合には、固定ねじ28を緩める。
【0031】本実施例では、アームの数を3個とした
が、適宜アームの数を増減してもよい。また、回転操作
蓋20Bの回転操作後に回転操作蓋20Bを回転テーブ
ル16Bに固定する手段は、上記実施例では1つの固定
ネジ28による締めつけとしたが、固定ねじを複数にし
たり、固定ねじに限らず一般的な他の締結法でもよい。
更に回転操作蓋20Bの回転操作や固定ねじ28の締め
つけは、上記実施例では手動によるものとするが、ロボ
ットアーム等による自動操作によるものとしてもよい。
【0032】次に上記実施例のディスククランプ装置2
Bを適用したディスク特性試験装置100Bを図7を用
いて説明する。ディスク特性試験装置100Bは、ディ
スククランプ装置2B、ヘッド4、キャリッジ6B、測
定器8、除振台10等から構成される。ここで、ヘッド
4、測定器8、除振台10は、従来例で説明したディス
ク特性試験装置100Aと同様のものなので説明を省略
する。
【0033】ここでディスク特性試験装置100Bは、
ディスククランプ装置2Bを具備するのでディスクの種
類によってディスクのクランプされる高さが変わらず、
常に同一平面内にディスクが偏心なくクランプされる。
よって、上記キャリッジ6Bは、ディスク特性試験の際
に垂直方向にヘッド4を余分に大きく移動させる機能を
持つ必要は無く、キャリッジ6Bの構造は従来例のキャ
リッジ6Aより簡単なものにすることができ、キャリッ
ジ6Bの製造コストを抑制できると同時にヘッド4の垂
直方向の位置調整のための手間を省くことが可能にな
る。
【0034】
【発明の効果】上記の如く、請求項1記載の発明によれ
ば、ディスクを固定するストッパーが不必要であり、デ
ィスクの種類の如何に関係なく中心孔の径が異なる全て
の種類のディスクを偏心なく回転し、且つ常に同じ高さ
で回転する状態に回転テーブル上にクランプすることが
でき、且つ回転テーブルが回転する前から確実にディス
クをクランプすることができる。
【0035】また、請求講2記載の発明によれば、機構
のより簡単なキャリッジを用いることでキャリッジの製
造コストを抑制し、キャリッジを用いてヘッドを垂直方
向に大きく位置合わせをする手間を省くことが可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のディスククランプ装置の構
成を示す図である。
【図2】図1中、1つのアームの構成を示す図である。
【図3】図1中、1つのディスク固定つめの構成を示す
図である。
【図4】本発明の一実施例であるディスククランプ装置
における1つのアームの動作を説明するための図であ
る。
【図5】本発明の一実施例であるディスククランプ装置
における3つのアームの動作を説明するための図であ
る。
【図6】本発明の一実施例であるディスククランプ装置
にディスクがクランプされた状態を示す断面図である。
【図7】図1のディスククランプ装置を適用したディス
ク特性試験装置の構成を示す図である。
【図8】従来例のディスク特性試験装置の構成を示す図
である。
【図9】従来例のディスククランプ装置の構成を示す図
である。
【図10】従来例のディスククランプ装置がディスクを
クランプしている状態を示す断面図である。
【符号の説明】
1a ディスク 2A、2B ディスククランプ装置 4 ヘッド 6A、6B キャリッジ 8 測定器 10 除振台 12 モータ 14 スピンドル 16A、16B 回転テーブル 18 ストッパー 20B 回転操作蓋 22a、22b、22c 長孔 24 中央開口窓 26 嵌合部 28 固定ねじ 30a、30b、30c アーム 32a、32b、32c アーム軸 34a、34b、34c ディスク固定つめ 36a、36b、36c 係止部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 モータによって回転される回転テーブル
    上にディスクをクランプするディスククランプ装置にお
    いて、 それぞれが係止部及び前記ディスクの中心孔の縁を押止
    するつめ部を有し、一端を前記回転テーブル上に周方向
    等間隔で軸支された複数の同形状のアームと、 前記回転テーブルの外周と嵌合し、中央開口窓及び周方
    向等間隔で形成され前記係止部に係合する長孔を有する
    回転操作蓋と、 前記回転操作蓋を前記回転テーブルに固定する固定部材
    とからなり、前記回転操作蓋を回転して、前記各つめ部
    を外周方向に移動させ、前記各つめ部が前記ディスクの
    中心孔の縁を押止した状態で、前記固定部材によって前
    記回転操作蓋を前記回転テーブルに固定して、前記ディ
    スクを前記回転テーブル上にクランプすることを特徴と
    するディスククランプ装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のディスククランプ装置
    と、 該ディスククランプ装置にクランプされた前記ディスク
    の特性を調べるヘッドと、 前記ヘッドをディスク特性試験に最適な位置に移動させ
    るキャリッジと、 前記ヘッドから送られてくるディスク特性データを解
    析、記録及び表示するための測定器とからなる構成とし
    たことを特徴とするディスク特性試験装置。
JP9279073A 1997-10-13 1997-10-13 ディスククランプ装置及びこれを有するディスク特性試験装置 Withdrawn JPH11120655A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113432507A (zh) * 2021-07-20 2021-09-24 赛孚帕斯(苏州)自动化科技有限公司 一种电子产品外壳间隙检测治具

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113432507A (zh) * 2021-07-20 2021-09-24 赛孚帕斯(苏州)自动化科技有限公司 一种电子产品外壳间隙检测治具

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