JPH11118775A - Ultrasonic inspection device - Google Patents

Ultrasonic inspection device

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Publication number
JPH11118775A
JPH11118775A JP9291813A JP29181397A JPH11118775A JP H11118775 A JPH11118775 A JP H11118775A JP 9291813 A JP9291813 A JP 9291813A JP 29181397 A JP29181397 A JP 29181397A JP H11118775 A JPH11118775 A JP H11118775A
Authority
JP
Japan
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test object
defect
ultrasonic
displayed
area
Prior art date
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Pending
Application number
JP9291813A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaki Kobayashi
小林正基
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
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Publication of JPH11118775A publication Critical patent/JPH11118775A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To automate an inspection process by extracting the shape of an object with the internal reflection echoes of an object to be inspected and calculating an area, calculating the ratio of a defective area in the object to the area of the object, and automatically judging whether the object is defective or not. SOLUTION: An ultrasonic transducer 2 that places an object 5 to be inspected in a water bath and transmits and receives ultrasonic pulses to and from the object 5, scans the object 5 by a scanner 6. Ultrasonic beams 3 control the Z position of the scanner 6 by a control signal 1 from a system controller 10 so that a focusing point 4 is located at the part of a defect 15 to be inspected in the object 5. A signal within the set time by a control signal 11 is outputted by a gate circuit 7 and is inputted to a peak holder 9 for detecting signal intensity and a time counter 8 for detecting depth. In the controller 10, the depth of a reflection point is calculated from a sound speed being set to the counter 8 and an input device 14 with the signal of the holder 9 as a signal intensity, information on the signal intensity, the depth, and a position can be displayed, thus automatically judging a defect and hence automating an ultrasonic non- destructive inspection process.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、集束超音波ビーム
を用いて物体内の欠陥等、内部状態を非破壊で観察・検
査する超音波検査装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ultrasonic inspection apparatus for non-destructively observing and inspecting internal states such as defects in an object using a focused ultrasonic beam.

【0002】[0002]

【従来の技術】超音波非破壊検査特に超音波映像装置を
用いた検査では、一般にパルスエコー方と呼ばれる1波
長から2波長程度の超音波パルスを被検物体に照射しな
がら被検物体上を走査し、被検物体の表面および内部か
ら反射した超音波エコー信号の時間情報や強度情報ある
いは位相情報を位置情報とともに映像化し、該映像化さ
れたCモード画像(平面表示画像)やBモード画像(断
面表示画像)を見て、人間が欠陥品か否かを判断してい
る。
2. Description of the Related Art In an ultrasonic nondestructive inspection, particularly in an inspection using an ultrasonic imaging apparatus, an ultrasonic pulse of about 1 to 2 wavelengths, which is generally called a pulse echo method, is irradiated onto an object while it is irradiated on the object. It scans and visualizes the time information, intensity information or phase information of the ultrasonic echo signal reflected from the surface and inside of the test object together with the position information, and converts the imaged C-mode image (flat display image) or B-mode image Looking at the (cross-section display image), it is determined whether or not a human is defective.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例には以下のような問題があった。すなわち、欠陥品
か否かの判断を人間が行なうため、判断する人の個人差
が生ずる。また、同じ人であっても体調等によって判断
が変化する場合がある。人間が映像から判断するため定
量的な判断基準がない。
However, the above-mentioned prior art has the following problems. That is, since a human determines whether or not a product is defective, there is an individual difference in the person who makes the determination. Also, even in the same person, the judgment may change depending on the physical condition and the like. There is no quantitative criterion because humans judge from video.

【0004】本発明は、被検物体が欠陥品か否かを自動
的・定量的に判断することによって、超音波非破壊検査
工程を自動化することを第1の目的としている。また、
上記判断結果を視覚的・直感的に表示することによっ
て、超音波非破壊検査工程の検査データとして適切な表
示方式を提供することを第2の目的としている。
A first object of the present invention is to automate the ultrasonic nondestructive inspection process by automatically and quantitatively determining whether or not a test object is defective. Also,
A second object of the present invention is to provide an appropriate display method as inspection data in an ultrasonic nondestructive inspection process by visually and intuitively displaying the judgment result.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記第1の目的を達成す
るため本発明の第1の局面では、超音波ビームを走査し
つつ被検物体に照射し、該被検物体からの超音波エコー
信号を受信して映像化しCモード画像として表示する超
音波映像装置を備えた超音波検査装置において、前記C
モード画像上に被検物体の内部反射エコーの情報を表示
する手段と、該Cモード画像から被検物体の形状を抽出
する手段と、該抽出された被検物体の面積を算出する手
段と、該抽出された被検物体内に含まれる欠陥の面積を
算出する手段と、前記被検物体の面積に対する欠陥面積
の割合から、被検物体が欠陥であるか否かを自動的に判
断する手段とを有することを特徴とする。ここで、内部
反射エコーの情報としては、例えば被検物体の内部欠陥
の深さ情報、またはその内部反射エコーの強度および位
相情報が表示される。
In order to achieve the first object, according to a first aspect of the present invention, an ultrasonic beam is irradiated on a test object while scanning the same, and an ultrasonic echo from the test object is emitted. An ultrasonic inspection apparatus including an ultrasonic imaging device that receives a signal, visualizes the signal, and displays the image as a C-mode image.
Means for displaying information on the internal reflection echo of the test object on the mode image, means for extracting the shape of the test object from the C-mode image, means for calculating the area of the extracted test object, Means for calculating the area of a defect contained in the extracted test object; and means for automatically determining whether or not the test object is a defect based on a ratio of the defect area to the area of the test object. And characterized in that: Here, as the information of the internal reflection echo, for example, depth information of an internal defect of the test object, or intensity and phase information of the internal reflection echo is displayed.

【0006】上記第2の目的を達成するため本発明の第
2の局面では、上記第1または第2の局面の構成に加え
て、Cモード画像から抽出した被検物体の形状と位置情
報をCモード画像とは別の画面上にグラフィック表示す
る手段を有し、該被検物体が欠陥か否かの情報を前記グ
ラフィック表示されている被検物体上に重ねて表示する
ことを特徴としている。また、本発明の第3の局面で
は、グラフィック表示する際に、Cモード画像から抽出
された被検物体の大きさが予め指定された予測される被
検物体の大きさの50%未満の場合は除去し、該抽出さ
れた被検物体の大きさが予め指定された予測される被検
物体の大きさの150%より大きい場合は、複数の被検
物体が分離できなかったものとして表示する。
In order to achieve the second object, according to a second aspect of the present invention, in addition to the configuration of the first or second aspect, the shape and position information of a test object extracted from a C-mode image are stored. Means for graphic display on a screen separate from the C-mode image, wherein information as to whether the test object is a defect is superimposed and displayed on the test object graphically displayed. . Further, according to a third aspect of the present invention, when displaying a graphic, the size of the test object extracted from the C-mode image is less than 50% of the predicted size of the test object specified in advance. Is removed, and when the size of the extracted test object is larger than 150% of the size of the predicted test object specified in advance, it is displayed that a plurality of test objects cannot be separated. .

【0007】[0007]

【作用】上記の第1の局面による構成によれば、被検物
体が欠陥であるか否かを自動的に判断するため、人間の
判断が介在せず、被検物体の面積に対する欠陥面積の割
合という定量的でかつ常に一定の判断基準によって、検
査することができるという効果がある。また、超音波非
破壊検査工程における自動化のボトルネックとなってい
る欠陥か否かの判断を自動化することができるという効
果がある。上記の第2および第3の局面による構成によ
れば、検査結果を視覚的・直感的に表示することができ
るため、超音波非破壊検査工程の検査データとして適切
な表示方式を提供できるという効果がある。
According to the configuration of the first aspect, it is automatically determined whether or not the test object is a defect. Therefore, the judgment of the defect area with respect to the area of the test object does not involve human judgment. There is an effect that the inspection can be performed based on the quantitative and always constant criterion of the ratio. Further, there is an effect that it is possible to automatically determine whether or not the defect is a bottleneck of automation in the ultrasonic nondestructive inspection process. According to the configuration according to the second and third aspects, the inspection result can be displayed visually and intuitively, so that an appropriate display method can be provided as inspection data in the ultrasonic nondestructive inspection process. There is.

【0008】[0008]

【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。 (第1の実施例)図1は、本発明の一実施例に係る超音
波映像装置の構成を示すブロック図である。同図におい
て、1はパルサーレシーバ、2は超音波トランスデュー
サ、3は超音波ビーム、4は超音波ビームの集束点、5
は被検物体、6はX,Y,Z方向に走査可能なスキャ
ナ、7はゲート回路、8は時間カウンタ、9はピークホ
ルダ、10はシステムコントローラ、11はシステムコ
ントローラからの制御信号、12は表示装置、13はプ
リンタ、14は入力装置である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. (First Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an ultrasonic imaging apparatus according to one embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a pulser receiver, 2 is an ultrasonic transducer, 3 is an ultrasonic beam, 4 is a focal point of the ultrasonic beam, 5
, A scanner capable of scanning in the X, Y, and Z directions, 7 a gate circuit, 8 a time counter, 9 a peak holder, 10 a system controller, 11 a control signal from the system controller, and 12 a control signal from the system controller. A display device, 13 is a printer, and 14 is an input device.

【0009】図2は被検物体に対する超音波ビームの走
査状態、および各走査状態におけるパルサーレシーバに
よる受信信号(RF)とゲート回路7のゲート信号(S
Gate,FGate)との関係を示す図である。ま
た、同図において、15は欠陥である。
FIG. 2 shows the scanning state of the ultrasonic beam on the object to be inspected, the reception signal (RF) by the pulser receiver and the gate signal (S) of the gate circuit 7 in each scanning state.
FIG. 6 is a diagram showing a relationship between the data (Gate, FGate). Also, in the figure, 15 is a defect.

【0010】図1の構成において、被検物体5は水浸法
により検査を行なうように水槽内に置かれ、被検物体5
に対して超音波パルスの送受信を行なう超音波トランス
デューサ2は、スキャナ6により被検物体5上を走査す
る。超音波トランスデューサ2には、超音波を発信する
ための高電圧パルスを印加し、また、受信信号を増幅す
るパルサーレシーバ1が接続されている。超音波トラン
スデューサ2から発信される超音波ビーム3は、被検物
体5内部の検査したい欠陥15部分に集束点4が位置す
るように、システムコントローラ10からの制御信号1
1によりスキャナ6のΖ位置が制御される。
In the configuration shown in FIG. 1, a test object 5 is placed in a water tank so as to be inspected by a water immersion method.
The ultrasonic transducer 2 that transmits and receives ultrasonic pulses to and from the object scans the object 5 with the scanner 6. The ultrasonic transducer 2 is connected to a pulser receiver 1 that applies a high-voltage pulse for transmitting an ultrasonic wave and amplifies a received signal. The ultrasonic beam 3 transmitted from the ultrasonic transducer 2 is applied to a control signal 1 from the system controller 10 so that the focal point 4 is located at a defect 15 to be inspected inside the object 5 to be inspected.
1 controls the Ζ position of the scanner 6.

【0011】一方、受信信号はパルサーレシーバ1で増
幅され、ゲート回路7でシステムコントローラ10から
の制御信号11で設定される時間ゲート内の信号が出力
される。該ゲート回路7の出力は、信号強度検出のため
のピークホルダ9と深さ検出のための時間カウンタ8に
入力される。システムコントローラ10ではピークホル
ダ9の出力を信号強度とし、時間カウンタ8の出力と入
力装置14によって設定されている超音波の被検物体5
内での音速から超音波反射点の深さ(以下、信号深さと
いう)を算出し、該信号強度および信号深さとスキャナ
6の位置情報とをあわせて、表示装置12またはプリン
タ13へ出力する。
On the other hand, the received signal is amplified by the pulser receiver 1, and the gate circuit 7 outputs a signal within the time gate set by the control signal 11 from the system controller 10. The output of the gate circuit 7 is input to a peak holder 9 for detecting signal strength and a time counter 8 for detecting depth. The system controller 10 uses the output of the peak holder 9 as the signal strength, and sets the output of the time counter 8 and the ultrasonic test object 5 set by the input device 14.
The depth of the ultrasonic reflection point (hereinafter, referred to as signal depth) is calculated from the sound speed in the inside, and is output to the display device 12 or the printer 13 together with the signal strength and the signal depth and the position information of the scanner 6. .

【0012】以下に本発明の第1の実施例を詳細に説明
する。超音波の一般的な性質として、音波であることか
ら媒質中を伝播し、媒質の境界面で反射・屈折・透過
し、その比率は媒質間の音響インピーダンスによって異
なる。また、例えば金属やセラミック等の内部にクラッ
クや剥離等の欠陥による空気層が存在する場合は、超音
波は空気層の境界面でほぼ全反射し、位相が反転するこ
とが知られている。
Hereinafter, the first embodiment of the present invention will be described in detail. As a general property of an ultrasonic wave, since it is a sound wave, it propagates through a medium and is reflected, refracted, and transmitted at a boundary surface of the medium, and the ratio varies depending on the acoustic impedance between the media. It is also known that, for example, when an air layer due to a defect such as a crack or separation exists inside a metal, ceramic, or the like, ultrasonic waves are almost totally reflected at a boundary surface of the air layer, and the phase is inverted.

【0013】被検物体5の内部に欠陥15が存在する場
合の超音波トランスデューサ2の受信信号(以下、RF
信号という)の例は、図2(A)に示されるように、被
検物体5の表面からの反射信号(以下SSigという)
と内部欠陥15からの反射信号(以下FSigという)
が検出できる。
A signal received by the ultrasonic transducer 2 (hereinafter referred to as RF) when a defect 15 exists inside the test object 5
As shown in FIG. 2A, an example of the signal is a signal reflected from the surface of the test object 5 (hereinafter referred to as SSig).
And the reflected signal from the internal defect 15 (hereinafter referred to as FSig)
Can be detected.

【0014】これらの反射信号の検出方法は、まずシス
テムコントローラ10からの制御信号11によって、予
め時間ゲート7にSSig検出用のゲート(以下SGa
teという)を設定しておく。同時に、システムコント
ローラ10は制御信号11を介してピークホルダ9にピ
ーク検知用のコンパレートレベルを設定しておく。SG
ate内のRF信号でコンパレートレベルを超えた信号
はピークホルダ9で検知される。ここで、ピークホルダ
9では、信号の強度とともにその極性(+/−)を同時
に検知する。ピークホルダ9でSSigが検知される
と、システムコントローラ10は制御信号11を介して
時間ゲート7をFSig検出用のゲート(以下FGat
eという)に切り替える。FGate内のRF信号でコ
ンパレートレベルを超えた信号はピークホルダ9で検知
され、その極性と最大値がホールドされる。
In the method of detecting these reflection signals, first, an SSig detection gate (hereinafter referred to as SGa) is added to the time gate 7 in advance by a control signal 11 from the system controller 10.
te). At the same time, the system controller 10 sets a peak detection comparator level in the peak holder 9 via the control signal 11. SG
The signal exceeding the comparison level among the RF signals in the ate is detected by the peak holder 9. Here, the peak holder 9 simultaneously detects the signal intensity and the polarity (+/−) thereof. When SSig is detected by the peak holder 9, the system controller 10 sets the time gate 7 via the control signal 11 to a gate for detecting FSig (hereinafter, FGat).
e). A signal exceeding the comparison level among the RF signals in the FGate is detected by the peak holder 9, and its polarity and the maximum value are held.

【0015】一方、システムコントローラ10はSSi
gが検知されたときの時間を時間カウンタ8から読み、
同様にFSigが検知されたときの時間を時間カウンタ
8から読み、その差を算出しておく。被検物体5中の音
速は入力装置14を介して予め設定されているため、該
算出された時間をΔt、被検物体5中の音速をvとする
と、被検物体5の表面からの欠陥15までの深さ距離d
は、
On the other hand, the system controller 10
The time when g is detected is read from the time counter 8,
Similarly, the time when FSig is detected is read from the time counter 8 and the difference is calculated in advance. Since the speed of sound in the test object 5 is set in advance via the input device 14, if the calculated time is Δt and the sound speed in the test object 5 is v, a defect from the surface of the test object 5 Depth distance d up to 15
Is

【0016】[0016]

【数1】 で算出される。また、検出されたSSigとFSigの
極性(±符号)を比較することによって、超音波の位相
情報が得られる。したがって、図2(A)では、SSi
gおよびFSigがともに検出され、FSigの強度・
位相・深さ情報が得られることになる。
(Equation 1) Is calculated. Further, by comparing the detected SSig and the polarity (± sign) of FSig, phase information of the ultrasonic wave can be obtained. Therefore, in FIG.
g and FSig are both detected, and the strength of FSig
Phase / depth information can be obtained.

【0017】さて、図2(B)は被検物体5の内部に欠
陥が存在しない場合の例を示してある。この場合は、前
記図2(A)に詳細に説明した通りSSigは検出され
るが、FGate内にコンパレータレベルを超えるRF
信号が存在しないためFSigは検出されない。また、
図2(C)は被検物体5上に超音波トランスデューサ2
がない場合を示しており、当然ではあるが、SGate
内にコンパレータレベルを超えるRF信号が存在しない
ためSSigは検出されない。
FIG. 2B shows an example in which no defect exists inside the test object 5. In this case, SSig is detected as described in detail in FIG.
FSig is not detected because there is no signal. Also,
FIG. 2C shows an ultrasonic transducer 2 on a test object 5.
Is shown, and of course, SGate
SSig is not detected because there is no RF signal exceeding the comparator level.

【0018】システムコントローラ10は、制御信号1
1を介しスキャナ6をX−Y方向に走査しながら上記S
SigおよびFSigのデータを収集する。該収集され
たデータは、スキャナの位置情報と合わせて表示装置1
2に表示される。
The system controller 10 controls the control signal 1
1 while scanning the scanner 6 in the XY directions
Collect Sig and FSig data. The collected data is displayed on the display device 1 together with the position information of the scanner.
2 is displayed.

【0019】図3はCモード画像の表示例を示してお
り、スキャナのX−Y位置座標上でSSigが検出され
なかった部分を灰色で示し、SSigは検出されたがF
Sigは検出されない部分を白で示し、SSigおよび
FSigともに検出された部分を黒で示してある。これ
まで説明してきたように、図3において白または黒の部
分は被検物体5であり、黒の部分は欠陥15である。こ
こで、各々の面積は該検出された部分のドット数を数え
ることによって算出される。
FIG. 3 shows a display example of a C-mode image, in which a portion where SSig is not detected on the XY position coordinates of the scanner is shown in gray, and SSig is detected but Fs is detected.
In Sig, portions not detected are shown in white, and portions detected in both SSig and FSig are shown in black. As described above, in FIG. 3, the white or black portion is the test object 5 and the black portion is the defect 15. Here, each area is calculated by counting the number of dots in the detected portion.

【0020】また、システムコントローラ10には予め
欠陥を判断するための面積の割合(スライスレベル)が
設定されており、該スライスレベルをkとした場合、図
3のCモード画像における
Further, the system controller 10 is preset with an area ratio (slice level) for judging a defect. When the slice level is set to k, the C-mode image shown in FIG.

【0021】[0021]

【数2】 の場合に欠陥と判断する。(Equation 2) Is determined to be defective.

【0022】さて、本実施例は本発明を特に電子部品の
検査工程で使用される場合を鑑みて適用した例を示す。
例えば、積層セラミックコンデンサの超音波非破壊検査
工程において、本発明は特に有用であると考えられる。
積層セラミックコンデンサは一般に数ミリ角以下の直方
体をしており、多層のセラミックス誘電体および電極が
貼り合わされた構造をしている。該積層セラミックコン
デンサのポピュラーな欠陥は上記層間の剥離およびクラ
ック、異物混入である。
The present embodiment shows an example in which the present invention is applied particularly in consideration of a case where the present invention is used in an electronic component inspection process.
For example, the present invention is considered to be particularly useful in an ultrasonic nondestructive inspection process of a multilayer ceramic capacitor.
A multilayer ceramic capacitor generally has a rectangular parallelepiped of several millimeters or less, and has a structure in which a multilayer ceramic dielectric and electrodes are bonded. Popular defects of the multilayer ceramic capacitor are delamination, cracks, and inclusion of foreign matter between the layers.

【0023】積層セラミックコンデンサのような小さな
被検物体5を検査する場合は、検査効率を上げるため一
度に複数個の被検物体5を並べて走査する。図4は、上
記のように複数個の被検物体5を走査した場合のCモー
ド画像例であり、AからJまで10個の被検物体5とノ
イズKを示している。図4のCモード画像から欠陥を判
断する場合は、該Cモード画像からAからJまでの10
個の被検物体5を抽出する必要がある。本実施例では、
8連結のラベリング処理により各々に番号付けを行なう
ことによって形状抽出している。また、ラベリングの番
号付けのときに黒の部分(FSigが検出された欠陥部
分)に負の番号を、白の部分(FSigが検出されてい
ない部分)に正の番号を割り振るようにし、各々の欠陥
面積の比率を
When inspecting a small test object 5 such as a multilayer ceramic capacitor, a plurality of test objects 5 are scanned side by side at a time in order to increase the test efficiency. FIG. 4 is an example of a C-mode image when a plurality of test objects 5 are scanned as described above, and shows 10 test objects 5 from A to J and noise K. When determining a defect from the C-mode image of FIG.
It is necessary to extract the number of the test objects 5. In this embodiment,
Shapes are extracted by numbering each of them by an 8-connection labeling process. Further, at the time of labeling numbering, a negative number is assigned to a black portion (a defective portion where FSig is detected), and a positive number is assigned to a white portion (a portion where FSig is not detected). Defect area ratio

【0024】[0024]

【数3】 で算出する。(Equation 3) Is calculated by

【0025】以下に、ラベリング処理について詳細に説
明する。原画像におけるバックグラウンド(本実施例に
おいてはCモード画像の灰色部分)を0、すでにΧに番
号付けされた点をΧ、それ以外の未確認部分をRとす
る。ラベル番号N=0とし、画像を左から右へ、下から
上へ走査する。走査点(以下、下線を付して表わす)が
Rの場合、次の3通りに場合分けし処理する。 外周境界追跡:走査点の左隣・左下・真下が0の場
合、すなわち
Hereinafter, the labeling process will be described in detail. The background in the original image (the gray part of the C-mode image in the present embodiment) is 0, points already numbered as Χ are R, and other unconfirmed parts are R. With the label number N = 0, the image is scanned from left to right and from bottom to top. When the scanning point (hereinafter, underlined) is R, the following three cases are classified and processed. Perimeter boundary tracking: When the left side, lower left and right below the scanning point are 0,

【0026】[0026]

【数4】 のような場合、後述する境界追跡を行ない、左隣が0に
なっている点に番号を付ける。該番号は境界追跡によっ
てすでにΧに番号付けされた点に出会った場合はΧと
し、それ以外はN=N+1としたNとする。ただし、孤
立点は無視する。 ラスタ走査:左隣がΧの場合、すなわち
(Equation 4) In such a case, boundary tracking, which will be described later, is performed, and a number is assigned to a point where the left neighbor is 0. The number is set to N when a point already numbered as に よ っ て is encountered by the boundary tracking, and set to N where N = N + 1 otherwise. However, isolated points are ignored. Raster scanning: When the left neighbor is Χ, that is,

【0027】[0027]

【数5】 のような場合、走査点をΧに番号付けし、そこから連な
っているRをすべてΧにする。 内周境界追跡:左隣が0で左下がXの場合、または、
左隣が0で真下がXの場合、すなわち
(Equation 5) In such a case, the scanning points are numbered as Χ, and all the Rs following the scanning points are set as Χ. Inner boundary tracking: when the left neighbor is 0 and the lower left is X, or
If the left neighbor is 0 and the right below is X,

【0028】[0028]

【数6】 のような場合、境界追跡を行ない左隣が0になっている
点をΧにする。上記の走査を右上まで繰り返すことによ
って、画像上の全領域にlからNまでの通し番号が付け
られる。
(Equation 6) In such a case, a point where the boundary is traced and the left neighbor is 0 is indicated by a triangle. By repeating the above scanning to the upper right, serial numbers from 1 to N are assigned to all areas on the image.

【0029】以下に境界追跡について説明する。画像上
の走査は左から右に行われるため、開始点は左隣から入
ってきたことになる。すなわち、着目点をΧとした場合
に周囲8連結時の移動方向番号を
The following describes the boundary tracking. Since the scanning on the image is performed from left to right, the starting point comes from the left side. That is, when the point of interest is represented by Χ, the moving direction number when eight surroundings are connected is

【0030】[0030]

【数7】 とすると、開始点は(4) の点となる。(Equation 7) Then, the starting point is point (4).

【0031】ここで、 着目点に入ってきた方向の番号(入口番号)より大き
い方向(ただし、(7)の次は(0) )の点を順に検査し、
0(バックグラウンド)以外ならそこへ移動する。 移動した点を着目点とし、移動した方向から入口番号
を求める。例えば、(1) へ移動した場合は入口番号は
(5)となる。 上記処理を開始点(着目点Xの境界追跡開始時点におけ
る入口番号(ここでは(4) )で示される点)に戻るまで
繰り返す。
Here, points in the direction larger than the number (entrance number) of the direction entering the point of interest (however, (0) after (7)) are examined in order,
Move to there if it is not 0 (background). The moved point is set as a point of interest, and the entrance number is obtained from the moved direction. For example, if you move to (1), the entry number will be (5). The above processing is repeated until the processing returns to the start point (the point indicated by the entrance number (here, (4)) at the start of the boundary tracking of the point of interest X).

【0032】さて、上記説明したように、ラベリング処
理により複数個の被検物体5が抽出される。なお、前述
したように、ラベリング中に欠陥部分は負数を番号付け
し、それ以外の部分は正数を番号付けしておく。
As described above, a plurality of test objects 5 are extracted by the labeling process. As described above, a defective portion is numbered with a negative number during labeling, and the other portions are numbered with a positive number.

【0033】次に、該算出された結果をCモード画像と
は別の画面にグラフィック表示する。そのために、複数
の被検物体5の各々について、面積・重心位置・x方向
に対する傾き角を算出する。これらの形状特徴を算出す
るために、ラベリングされた絶対値の等しい番号を1つ
の集合として、ラベルの数だけ以下の処理を行なう。
Next, the calculated result is graphically displayed on a screen different from the C-mode image. For this purpose, for each of the plurality of test objects 5, the area, the center of gravity position, and the inclination angle with respect to the x direction are calculated. In order to calculate these shape features, the following processes are performed for the number of labels, with the numbers having the same labeled absolute value as one set.

【0034】面積計算: 全体の面積は絶対値の等しい
ラベルのドット数、欠陥部分の面積は負数のラベルのド
ット数として算出する。 重心位置計算:x方向、y方向の最大値と最小値をそ
れぞれxmax ,xmin,ymax ,ymin とすると、重心
位置(xg ,yg )は、対象が矩形またはそれに類する
ものと仮定すると
Area calculation: The total area is calculated as the number of dots of a label having the same absolute value, and the area of a defective portion is calculated as the number of dots of a negative label. Center-of-gravity position calculation: Assuming that the maximum value and the minimum value in the x and y directions are x max , x min , y max , and y min , respectively, the center of gravity (x g , y g ) is defined as a rectangular or similar object. Assuming

【0035】[0035]

【数8】 で算出される。 角度計算:から計算できるx方向とy方向の長さが
違う場合は、モーメント特徴により角度を算出する。デ
ィジタル図形をf(x,y)、その重心座標を(xg
g )とすると(p+q)次の重心回りのセントラルモ
ーメントは
(Equation 8) Is calculated. Angle calculation: When the lengths in the x direction and the y direction that can be calculated from are different, the angle is calculated based on the moment feature. The digital figure is represented by f (x, y), and its barycentric coordinates are represented by (x g ,
y g ), the central moment around the (p + q) -order center of gravity is

【0036】[0036]

【数9】 となり、特に細長い図形に対しその主軸とx軸とのなす
角θは
(Equation 9) In particular, for an elongated figure, the angle θ between its main axis and the x-axis is

【0037】[0037]

【数10】 で算出される。一方、x方向とy方向の長さがほぼ同じ
場合は、x軸に一番近い点列を最小2乗法により直線近
似し、該直線の傾きの逆正接を計算する。近似する直線
の式をf(x)=ax+bとし、点列の数をn個とする
と最小2乗法の評価関数Jは
(Equation 10) Is calculated. On the other hand, when the lengths in the x direction and the y direction are substantially the same, the point sequence closest to the x axis is linearly approximated by the least squares method, and the arc tangent of the slope of the straight line is calculated. Assuming that an equation of a straight line to be approximated is f (x) = ax + b and the number of point sequences is n, the evaluation function J of the least squares method is

【0038】[0038]

【数11】 となり、評価関数の最小値を得るため、Jの多項式の係
数による偏導関数を0にする。すなわち
[Equation 11] In order to obtain the minimum value of the evaluation function, the partial derivative by the coefficient of the polynomial of J is set to 0. Ie

【0039】[0039]

【数12】 となり、この2式から直線の傾きaは(Equation 12) From these two equations, the slope a of the straight line is

【0040】[0040]

【数13】 となる。したがって、求める角度θは(Equation 13) Becomes Therefore, the required angle θ is

【0041】[0041]

【数14】 で算出される。[Equation 14] Is calculated.

【0042】図5は、上記算出された抽出図形の特徴か
らグラフィック表示した例を示している。ここで、求め
られた各々の重心座標と角度および予め設定されている
予測される被検物体5の大きさから、グラフィック画面
上に形状を表示している。同図において、DおよびFは
欠陥の面積の比率が予め設定されている欠陥と判断する
スライスレベルを超えている例を示している。また、A
は該スライスレベルを超えていないため欠陥と判断して
いない例を示している。
FIG. 5 shows an example of a graphic display based on the calculated features of the extracted figure. Here, the shape is displayed on the graphic screen based on the obtained coordinates and angles of the center of gravity and the size of the predicted test object 5 which is set in advance. In the drawing, D and F show examples in which the ratio of the area of the defect exceeds the preset slice level for determining a defect. Also, A
Indicates an example in which the defect is not judged because it does not exceed the slice level.

【0043】図4のKは、形状抽出された図形の面積が
予め設定されている予測される被検物体5の大きさの5
0%未満であるため、図5のグラフィック画面上には表
示されない。また、図4のBおよびCは被検物体5がC
モード画面上で重なっており分離できない例を示してい
る。この場合は、前記ラベリング処理において1つの集
合としてラベリングされるため、算出した図形の面積が
予め設定されている予測される被検物体5の大きさの1
50%を超えており、図5では網掛けをして他の被検物
体5とは区別して表示している。
K in FIG. 4 is a predicted size 5 of the test object 5 in which the area of the figure whose shape has been extracted is set in advance.
Since it is less than 0%, it is not displayed on the graphic screen of FIG. Also, B and C in FIG.
An example is shown in which the mode screens overlap and cannot be separated. In this case, since the labeling is performed as one set in the labeling process, the area of the calculated figure is set to one of the predicted size of the test object 5 set in advance.
It exceeds 50%, and is shaded in FIG. 5 to distinguish it from other test objects 5.

【0044】上記説明した、グラフィック表示は一例で
あり、欠陥と判断した場合や複数の対象物体5を分離で
きなかった場合に、色を変えて表示したり大きさを変え
て表示しても良いことは言うまでもない。
The graphic display described above is an example, and when a defect is determined or when a plurality of target objects 5 cannot be separated, the display may be performed by changing the color or the size. Needless to say.

【0045】(第2の実施例)第1の実施例において
は、FSigが検出された場合を欠陥としていたが、欠
陥の判定についてはこれに限定しない。例えば、FGa
teを被検物体5の裏面からの信号を含むように設定す
ると、図2において(B)の位置に超音波トランスデュ
ーサ2がいる場合は、(B’)となり、FSigが検出
される。しかしながら、第1の実施例において説明した
ように、被検物体5の表面からFSigを検出した部分
までの距離dが算出されているため、Cモード画像上に
該距離を表示し、かつ該距離が予め指定された範囲内の
場合のみ欠陥として判定すれば良い。また同様に、被検
物体内部にクラックや剥離等の欠陥によって空気層が存
在する場合は、FSigの位相が反転していることか
ら、Cモード画像上に該位相情報と強度情報を表示し、
該位相が反転しかつ強度が予め指定された範囲内の場合
のみを欠陥として判定しても良い。
(Second Embodiment) In the first embodiment, the case where FSig is detected is regarded as a defect, but the judgment of the defect is not limited to this. For example, FGa
When te is set to include a signal from the back surface of the test object 5, if the ultrasonic transducer 2 is located at the position (B) in FIG. 2, it becomes (B '), and FSig is detected. However, as described in the first embodiment, since the distance d from the surface of the test object 5 to the portion where FSig is detected is calculated, the distance is displayed on the C-mode image, and the distance d is displayed. May be determined as a defect only when is within a predetermined range. Similarly, when an air layer exists due to a defect such as a crack or separation inside the test object, the phase information and the intensity information are displayed on the C-mode image because the phase of FSig is inverted.
Only the case where the phase is inverted and the intensity is within a predetermined range may be determined as a defect.

【0046】(第3の実施例)第1の実施例において
は、時間ゲート7に対しSGateとFGateの両方
の設定を行なっていたが、時間ゲートとピークホルダを
2つずつ並列に構成して、SGateとFGateを独
立に設定し、SSigとFSigを検知するようにして
も良い。
(Third Embodiment) In the first embodiment, both the SGate and the FGate are set for the time gate 7, but two time gates and two peak holders are configured in parallel. , SGate and FGate may be set independently to detect SSig and FSig.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検物体からの超音波エコー信号を受信して映像化する
超音波映像装置において、Cモード画像から被検物体の
形状を抽出する手段と該抽出された被検物体の面積と該
抽出された被検物体内に含まれる欠陥の面積の割合を算
出する手段とを有し、該面積の割合から被検物体が欠陥
であるか否かを自動的に判断することができるため、超
音波非破壊検査工程において、定量的な検査が行なえる
といった効果がある。同様に、検査結果と被検物体の重
心座標や大きさ等のデータも定量的に収集されているた
め、例えば検査後に欠陥品のみをロボットハンドで抜き
取るためのデータを出力することができるので、超音波
非破壊検査工程の自動化が行なえるといった効果があ
る。
As described above, according to the present invention,
In an ultrasonic imaging apparatus that receives and echoes an ultrasonic echo signal from a test object, a means for extracting a shape of the test object from a C-mode image, an area of the extracted test object, and the extracted Means for calculating the ratio of the area of the defect included in the test object, and it is possible to automatically determine whether or not the test object is a defect from the ratio of the area. In the destructive inspection process, there is an effect that a quantitative inspection can be performed. Similarly, since the inspection result and data such as the coordinates of the center of gravity and the size of the object to be inspected are also quantitatively collected, for example, data for extracting only a defective product by a robot hand after the inspection can be output. There is an effect that the ultrasonic nondestructive inspection process can be automated.

【0048】また、被検物体の形状および位置情報と欠
陥であるか否かの情報をCモードが像とは別の画面上に
グラフィック表示することにより、検査結果が視覚的・
直感的に分かり、検査後の欠陥品を人手によって抜き取
る場合でも、効率的に作業が行なえるといった効果があ
る。
In addition, the C-mode graphically displays the shape and position information of the object to be inspected and information as to whether or not the object is defective on a screen different from the image, so that the inspection result can be visually and visually confirmed.
It is intuitively understood that there is an effect that work can be performed efficiently even when a defective product after inspection is manually extracted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施例に係る装置構成のブロック
図である。
FIG. 1 is a block diagram of an apparatus configuration according to an embodiment of the present invention.

【図2】 図1の装置におけるRF信号とGateの関
係を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a relationship between an RF signal and Gate in the device of FIG.

【図3】 図1の装置におけるCモード画像の説明図で
ある。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a C-mode image in the apparatus of FIG.

【図4】 図1の装置におけるCモード画像の説明図で
ある。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a C-mode image in the apparatus of FIG.

【図5】 図1の装置におけるグラフィック表示画面の
説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of a graphic display screen in the device of FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:パルサーレシーバ、2:超音波トランスデューサ、
3:超音波ビーム、4:集束点、5:被検物体、6:ス
キャナ、7:ゲート回路、8:時間カウンタ、9:ピー
クホルダ、10:システムコントローラ、11:制御信
号、12:表示装置、13:プリンタ、14:入力装
置、15:欠陥。
1: pulser receiver, 2: ultrasonic transducer,
3: Ultrasonic beam, 4: Focusing point, 5: Object to be inspected, 6: Scanner, 7: Gate circuit, 8: Time counter, 9: Peak holder, 10: System controller, 11: Control signal, 12: Display device , 13: printer, 14: input device, 15: defect.

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 超音波ビームを走査しつつ被検物体に照
射し、該被検物体からの超音波エコー信号を受信して映
像化しCモード画像として表示する超音波映像装置を備
えた超音波検査装置において、 前記Cモード画像上に被検物体の内部反射エコーの情報
を表示する手段と、該Cモード画像から被検物体の形状
を抽出する手段と、該抽出された被検物体の面積を算出
する手段と、該抽出された被検物体内に含まれる欠陥の
面積を算出する手段と、前記被検物体の面積に対する欠
陥面積の割合から、被検物体が欠陥であるか否かを自動
的に判断する手段とを有することを特徴とする超音波検
査装置。
1. An ultrasonic imaging apparatus comprising: an ultrasonic imaging device that irradiates an object to be inspected while scanning an ultrasonic beam, receives an ultrasonic echo signal from the object, visualizes the signal, and displays the image as a C-mode image. In the inspection apparatus, a unit for displaying information of an internal reflection echo of the test object on the C-mode image, a unit for extracting a shape of the test object from the C-mode image, and an area of the extracted test object Means for calculating the area of the defect included in the extracted test object, and from the ratio of the defect area to the area of the test object, whether or not the test object is a defect Means for automatically judging the ultrasonic inspection apparatus.
【請求項2】 前記内部反射エコーの情報が、前記被検
物体の表面に対する内部反射エコーが戻ってくるまでの
時間情報、すなわち被検物体の内部欠陥の深さ方向の位
置情報であることを特徴とする請求項1記載の超音波検
査装置。
2. The information of the internal reflection echo is time information until the internal reflection echo returns to the surface of the test object, that is, position information of the internal defect of the test object in the depth direction. The ultrasonic inspection apparatus according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記内部欠陥の深さ方向の位置情報をそ
の深さに応じ輝度を変化させて前記超音波映像装置に表
示させることを特徴とする請求項2記載の超音波検査装
置。
3. The ultrasonic inspection apparatus according to claim 2, wherein the position information in the depth direction of the internal defect is displayed on the ultrasonic imaging apparatus while changing luminance according to the depth.
【請求項4】 バックグラウンドを灰色で、前記被検物
体の表面を白で、前記内部欠陥を深さにかかわらず黒で
表示することを特徴とする請求項3記載の超音波検査装
置。
4. The ultrasonic inspection apparatus according to claim 3, wherein the background is displayed in gray, the surface of the test object is displayed in white, and the internal defect is displayed in black regardless of the depth.
【請求項5】 前記内部反射エコーの情報が、該内部反
射エコーの強度および位相情報であることを特徴とする
請求項1記載の超音波検査装置。
5. The ultrasonic inspection apparatus according to claim 1, wherein the information of the internal reflection echo is intensity and phase information of the internal reflection echo.
【請求項6】 前記欠陥の面積を算出する手段は、前記
内部反射エコーの強度が所定値より大きい点、および/
またはその位相情報が反転している点を前記被検物体内
部の欠陥を構成する点として前記欠陥の形状を抽出して
該欠陥の面積を算出することを特徴とする請求項5記載
の超音波検査装置。
6. The means for calculating the area of the defect includes a point where the intensity of the internal reflection echo is larger than a predetermined value;
6. The ultrasonic wave according to claim 5, wherein a point where the phase information is inverted is a point constituting a defect inside the test object, and a shape of the defect is extracted to calculate an area of the defect. Inspection equipment.
【請求項7】 前記被検物体の内部反射エコーの強度お
よび位相情報をその強度および位相に応じて輝度または
色調を変化させて前記超音波映像装置に表示させること
を特徴とする請求項5または6記載の超音波検査装置。
7. The ultrasonic imaging apparatus according to claim 5, wherein the intensity and phase information of the internal reflection echo of the test object is displayed on the ultrasonic imaging apparatus by changing the brightness or color tone according to the intensity and phase. 7. The ultrasonic inspection apparatus according to 6.
【請求項8】 バックグラウンドを灰色で、前記被検物
体の表面を白で、前記内部欠陥を黒で表示することを特
徴とする請求項6記載の超音波検査装置。
8. The ultrasonic inspection apparatus according to claim 6, wherein the background is displayed in gray, the surface of the test object is displayed in white, and the internal defect is displayed in black.
【請求項9】 Cモード画像から抽出した被検物体の形
状と位置情報をCモード画像とは別の画面上にグラフィ
ック表示し、該被検物体が欠陥品であるか否かを判断し
た結果を前記グラフィック表示されている被検物体上に
重ねて表示することを特徴とする請求項1〜8のいずれ
かに記載の超音波検査装置。
9. A result of displaying the shape and position information of the test object extracted from the C-mode image graphically on a screen different from the C-mode image and determining whether or not the test object is defective. The ultrasonic inspection apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein is superimposed on the object to be graphically displayed.
【請求項10】 グラフィック表示する際に、Cモード
画像から抽出された被検物体の大きさが予め指定された
予測される被検物体の大きさの50%未満の場合はノイ
ズとして除去し、Cモード画像から抽出された被検物体
の大きさが予め指定された予測される被検物体の大きさ
の150%より大きい場合は、複数の被検物体が分離で
きなかったものとして表示することを特徴とする請求項
9記載の超音波検査装置。
10. When displaying a graphic, when the size of the test object extracted from the C-mode image is less than 50% of the size of the predicted test object specified in advance, it is removed as noise; When the size of the test object extracted from the C-mode image is larger than 150% of the predicted size of the test object specified in advance, it is displayed that a plurality of test objects cannot be separated. The ultrasonic inspection apparatus according to claim 9, wherein:
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