JPH11112658A - 交換機装置の試験実行制御方法及びその装置 - Google Patents

交換機装置の試験実行制御方法及びその装置

Info

Publication number
JPH11112658A
JPH11112658A JP26533897A JP26533897A JPH11112658A JP H11112658 A JPH11112658 A JP H11112658A JP 26533897 A JP26533897 A JP 26533897A JP 26533897 A JP26533897 A JP 26533897A JP H11112658 A JPH11112658 A JP H11112658A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
scenario
logical
physical
exchange
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP26533897A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3635479B2 (ja
Inventor
Kenji Seike
健志 清家
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP26533897A priority Critical patent/JP3635479B2/ja
Publication of JPH11112658A publication Critical patent/JPH11112658A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3635479B2 publication Critical patent/JP3635479B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 交換機装置の試験実行制御方法及びその装置
に関し、機種の異なる交換機装置に対して、共通の論理
試験シナリオを用い、試験シナリオの作成・確認の作業
の負担の軽減化を図る。 【解決手段】 交換機装置の試験項目毎の試験シナリオ
を、交換機装置の機種に依存しない論理試験シナリオ1
1と交換機装置の機種に依存する物理試験シナリオ14
A,14Bとの階層に分離し、論理試験シナリオ11を
被試験交換機装置名12を基に機種毎に異なる被試験交
換機装置対応の物理試験シナリオ14A,14Bに変換
し、物理試験シナリオ14A,14Bにより機種の異な
る交換機装置15A,15Bの試験動作を制御させ、交
換機装置の機種に依存しない論理試験シナリオ11によ
り、機種の異なる交換機装置15A,15Bの試験を実
行する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、外部から見た機能
又は仕様スペックは同一であるが、内部装置の物理的構
成が異なり型式又は機種を異にする交換機、例えば、既
存交換機と次期交換機又は製造業者の選定部品の相違等
により生じる異機種の交換機を、同時に並行して維持又
は開発するための交換機装置の試験実行制御方法及びそ
の装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図10は従来の交換機試験の説明図であ
る。図において、10A,10Bは機種の異なる被試験
交換機A、被試験交換機B、101A,101Bは端末
装置、102A,102Bは交換スイッチ、103A,
103Bは回線装置、104Aは中央処理プロセッサ
(CPU)、105B,106B,107Bは機能分散
処理の各プロセッサ(LNP,MCP,CSP)、10
8Aは中央処理プロセッサ(CPU)を制御するコンソ
ールA、108Bは機能分散処理の各プロセッサ(LN
P,MCP,CSP)を制御するコンソールB、109
A,109Bは保守端末装置(TYPE)である。
【0003】又、図において、110A,110Bは端
末装置101A,101Bに対し試験呼又は疑似呼の発
生等の疑似端末動作の制御を行う端末試験制御装置、1
11A,111Bは回線装置103A,103Bに対し
て試験的な疑似回線動作の制御を行う回線試験制御装
置、112Aは試験時のコンソールAの動作を制御する
コンソールA試験制御装置、112Bは試験時のコンソ
ールBの動作を制御するコンソールB試験制御装置、1
13A,113Bは試験時の保守端末装置(TYPE)
の動作を制御する保守端末装置(TYPE)試験制御装
置、114Aは被試験交換機A対応の試験シナリオ11
5Aを備え、前記各試験制御装置110A〜113Aを
試験シナリオ115Aに従って制御する自動試験制御装
置、114Bは被試験交換機B対応の試験シナリオ11
5Bを備え、前記各試験制御装置110B〜113Bを
試験シナリオ115Bに従って制御する自動試験制御装
置である。
【0004】被試験交換機A(10A)と被試験交換機
B(10B)は、外部から見た機能又は仕様スペックは
一致していても、プロセッサ等の装置の型式又は種類が
異なると、システムの立ち上げやプログラムロードの手
順等が異なり、プロセッサを制御するためのコンソール
及びそのインタフェースはそれぞれ被試験交換機毎に異
なるものとなる。
【0005】そのため、被試験交換機A(10A)と被
試験交換機B(10B)の試験に際し、被試験交換機の
装置の相違に依存しない部分の試験制御装置、例えば、
前記端末試験制御装置110A,110B及び回線試験
制御装置111A,111B等は各被試験交換機A(1
0A)及び被試験交換機B(10B)に対して共通のも
のとすることができるが、被試験交換機の装置の相違に
依存する部分の試験制御装置、例えば、前記コンソール
A試験制御装置112A、コンソールB試験制御装置1
12B等は各被試験交換機A(10A)及び被試験交換
機B(10B)毎に対応したものを用意しておかなけれ
ばならない。
【0006】従って、前記自動試験制御装置114A及
び自動試験制御装置114Bにおける各試験項目対応の
手順をしるした試験シナリオ115A及び試験シナリオ
115Bは、プロセッサ等の装置の型式又は種類の異な
る被試験交換機毎に個々別々に作成し、それぞれ異なる
試験シナリオ115A及び試験シナリオ115Bにより
それぞれの交換機の試験を行っていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】前述したように内部装
置の物理的構成が相違し、機種の異なる交換機装置を試
験する場合、同じ試験項目及び同じ内容の試験であって
も、交換機装置の機種毎にそれぞれ異なる試験手順によ
り作成した試験シナリオを複数セット用意しなければな
らなかった。
【0008】又、試験シナリオは機種の異なる交換機装
置毎の別個のものであり、該試験シナリオによる試験の
結果も各交換機装置毎の別個のものとなるため、一方の
交換機装置で行った試験シナリオ及び試験結果のログ情
報を、他方の交換機装置の試験シナリオ及び試験結果の
ログ情報に活用することはできなかった。
【0009】本発明は、機種の異なる交換機装置に対し
て、共通の試験シナリオを用い、該共通の試験シナリオ
から機種毎の試験シナリオを生成し、又、異なる交換機
装置間の試験シナリオ及び試験結果のログ情報を相互に
比較照合可能とすることにより、試験シナリオの作成及
びその確認修正の作業の負担の軽減化を図ることを目的
とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の交換機装置の試
験実行制御方法は、(1)交換機装置の各試験項目毎の
実行手順である試験シナリオを、機種の異なる交換機装
置の物理的構成の差異に依存しない論理試験シナリオと
機種の異なる交換機装置の物理的構成の差異に依存する
物理試験シナリオとの階層に分離し、前記論理試験シナ
リオを機種毎に異なる被試験交換機装置対応の物理試験
シナリオに変換し、前記物理試験シナリオにより機種の
異なる交換機装置の試験動作を制御させ、前記交換機装
置の物理的構成の差異に依存しない論理試験シナリオに
より、機種の異なる交換機装置の試験を実行する過程を
含むものである。
【0011】又(2)同一の論理試験シナリオにより機
種の異なる複数の交換機装置の試験を実行し、前記機種
の異なる複数の交換機装置の試験の実行により収集され
る論理試験ログ情報から、試験結果を相互に比較照合
し、試験結果が異なる論理試験ログ情報を抽出し、表示
する過程を含むものである。
【0012】又(3)前記論理シナリオを、各試験項目
毎の論理試験シナリオ群と汎用的に使用される論理マク
ロシナリオ群とから構成する過程を含むものである。
【0013】又(4)前記物理試験シナリオを中継し、
遠隔地にある複数の被試験交換機装置の試験を一つの論
理試験シナリオにより実行制御する過程を含むものであ
る。
【0014】又(5)本発明の交換機装置の試験実行制
御装置は、交換機装置の各試験項目毎の実行手順であっ
て機種の異なる交換機装置の物理的構成の差異に依存し
ない論理試験シナリオと、前記論理試験シナリオを読出
し、読出した論理試験シナリオを論理・物理試験シナリ
オ変換部へ渡す論理試験シナリオ実行制御部と、前記論
理試験シナリオを機種毎に異なる被試験交換機装置対応
の物理試験シナリオに変換する論理・物理試験シナリオ
変換部と、前記物理試験シナリオにより機種の異なる交
換機装置の試験動作を制御させる物理試験シナリオ実行
制御部と、前記物理試験シナリオによる被試験装置指示
命令を被試験交換機装置に中継するアダプタ部とを備え
たものである。
【0015】又(6)同一の論理試験シナリオにより機
種の異なる複数の交換機装置の試験に際し、前記論理試
験シナリオ実行制御部におけるログ情報を収集する論理
試験ログ収集部と、前記物理試験シナリオ実行制御部に
おけるログ情報を収集する物理試験ログ収集部と、前記
論理試験ログ情報から、試験結果を相互に比較照合し、
試験結果が異なる論理試験ログ情報を抽出し、表示する
試験結果評価部とを備えたものである。
【0016】又(7)前記論理シナリオを、各試験項目
毎の論理試験シナリオ群と汎用的に使用される論理マク
ロシナリオ群とから構成したものである。
【0017】又(8)前記アダプタ部は、前記物理試験
シナリオを遠隔地にある複数の被試験交換機装置に中継
するものである。
【0018】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態の要部
説明図である。11は論理試験シナリオ、12は被試験
交換機装置名、13は論理・物理試験シナリオ変換部、
14Aは被試験交換機Aの物理試験シナリオ、14Bは
被試験交換機Bの物理試験シナリオ、15Aは被試験交
換機装置A、15Bは被試験交換機装置Bである。
【0019】機種の異なる被試験交換機装置A(15
A)及び被試験交換機装置B(15B)に対して、プロ
セッサ等のハード装置の違いを吸収するために、試験シ
ナリオを、交換機装置の違いに依存しない論理試験シナ
リオ11と、交換機装置の違いに依存する物理試験シナ
リオ14A,14Bとの2つの階層に分離する。
【0020】前記論理試験シナリオ11は論理・物理試
験シナリオ変換部13により、個々の被試験交換機装置
例えば交換機装置Aの物理的構成に対応した物理試験シ
ナリオ14A又は交換機装置Bの物理的構成に対応した
物理試験シナリオ14Bに変換される。論理・物理試験
シナリオ変換部13により、機種の異なる被試験交換機
に対して共通の論理試験シナリオを用いて交換機装置の
試験を実行することができる。
【0021】前記論理・物理試験シナリオ変換部13
は、前記論理試験シナリオ11及び被試験交換機装置名
12が入力されると、それらを基に被試験交換機装置A
対応の試験制御装置命令群である物理試験シナリオ14
A又は被試験交換機装置B対応の試験制御装置命令群で
ある物理試験シナリオ14Bを生成する。
【0022】次に、図2を参照して本発明の実施の形態
の交換機装置の試験実行制御部を説明する。図2の一点
鎖線で囲った部分2が交換機装置の試験実行制御部であ
る。交換機装置の試験実行制御部2は、論理試験シナリ
オ実行制御部4と、論理・物理試験シナリオ変換部5
と、物理試験シナリオ実行制御部6と、アダプタ部7
と、試験結果評価部8とから構成される。
【0023】図2において、論理試験シナリオ実行制御
部4は、論理試験シナリオ群11−1及び論理マクロシ
ナリオ群11−2から成る論理試験シナリオ11を読出
し、シナリオの命令を実行し、被試験交換装置名12を
基に論理試験シナリオ11を論理装置指示命令4−1に
変換して論理・物理試験シナリオ変換部5に渡す。又論
理試験シナリオの命令の実行中に、必要なログ情報を論
理試験ログ4−2として収集する。
【0024】論理・物理試験シナリオ変換部5は、前記
論理装置指示命令4−1から論理⇔物理シナリオ変換テ
ーブル50を検索することにより、被試験交換装置に対
応した物理試験シナリオ5−1を生成し、該物理試験シ
ナリオ5−1を物理試験シナリオ実行制御部6に渡す。
【0025】物理試験シナリオ実行制御部6は前記物理
試験シナリオ5−1の命令を実行し、該当する被試験装
置対応の被試験装置指示命令6−1をアダプタ部7に渡
す。又、物理試験シナリオ実行制御部6は前記物理試験
シナリオ5−1の命令の実行中に必要なログ情報を物理
試験ログ6−2として収集する。
【0026】アダプタ部7は、前記被試験装置指示命令
6−1を遠隔にある被試験交換機装置8に中継し、被試
験交換機装置8は中継された被試験装置指示命令6−1
により、交換機装置を試験動作させる。
【0027】更に、試験結果評価部8は、前記論理試験
ログ4−2及び物理試験ログ6−2により、機種の異な
る交換機装置の試験結果を比較照合し、評価結果を試験
結果レポート8−1として表示、出力する。
【0028】以上が本発明の実施の形態の交換機装置の
試験実行制御部の機能であるが、前記各部の構成につい
て以下に詳しく説明する。
【0029】図3は本発明の実施の形態の論理試験シナ
リオの説明図である。論理試験シナリオ11は個々の試
験項目毎の手順により構成される論理試験シナリオ群1
1−1と各試験項目に共通に使用される手順により構成
した論理マクロシナリオ群11−2とから成る。図示の
論理試験シナリオ群11−1は自局の発信者が自局の着
信者に発呼し、通話後発信者が先に送受話器をオンフッ
クして終話した場合の課金データを確認する試験のシナ
リオの例である。
【0030】この試験シナリオは、まず、試験前準備と
して、交換機空転を指示し、発信者側(番号:777−
1000)の課金データと着信者側(番号:777−1
001)の課金データを保守端末装置(TYPE)に出
力し、次に擬似的に自局発信者(番号:777−100
0)から自局着信者(番号:777−1001)に発呼
し、通話後発信者が先に送受話器をオンフックする動作
を行わせ、次にこの疑似呼による課金データを確認する
ために、発信者側(番号:777−1000)の課金デ
ータと着信者側(番号:777−1001)の課金デー
タを保守端末装置(TYPE)にダンプするという試験
手順により構成されている。
【0031】又、交換機空転指示のような汎用的な試験
手順は、論理マクロシナリオ群11−2に記述され、他
の試験項目の手順においても共通に使用される。この論
理試験シナリオ群11−1と論理マクロシナリオ群11
−2とは論理試験シナリオ実行制御部4に渡される。
【0032】図4は本発明の実施の形態の論理試験シナ
リオ実行制御部の説明図である。論理試験シナリオ実行
制御部4は、論理シナリオ読出部41と論理シナリオ実
行部42と論理マクロシナリオ読出部43と論理マクロ
シナリオ実行部44と論理試験シナリオログ収集部45
とから構成され、前記論理試験シナリオ11と被試験交
換機装置名12とを基に論理装置指示命令4−1を生成
しするとともに論理試験ログ4−2を収集する。
【0033】論理シナリオ読出部41は、前記論理試験
シナリオ群11−1を読出し、該論理試験シナリオ群1
1−1を論理シナリオ実行部42に渡す。論理シナリオ
実行部42は、前記論理試験シナリオ群11−1を解釈
し、それぞれのシナリオを実行し、後述する論理マクロ
シナリオ実行部44と協働して論理装置指示命令4−1
を生成し、後述する論理・物理試験シナリオ変換部に渡
す。論理装置指示命令4−1は論理装置名と論理指示の
パラメータとから構成されている。
【0034】論理シナリオ実行部42の機能には、制御
命令、演算命令、文字列処理命令、変数、マクロ命令、
例外処理命令等一般的なプログラム記述命令の処理、シ
ナリオ上にコメントを記述するためのコメント命令の処
理、論理試験シナリオログ収集部45に意図的に必要情
報を登録するためのプリント命令の処理、シナリオ毎の
論理試験項目名を宣言するための論理試験項目宣言命令
の処理及び論理装置名で各装置に対する処理要求を行う
ための論理装置指示命令の処理並びに前記論理試験シナ
リオ群11−1の命令毎に必要ログ情報を収集する機能
を有する。(具体的には後述する論理試験シナリオログ
収集部45で実行する。)
【0035】論理マクロシナリオ読出部43は、論理シ
ナリオ実行部42でマクロ命令を認識すると論理マクロ
シナリオ群11−2を読出し、論理マクロシナリオ実行
部に制御を渡す。
【0036】論理マクロシナリオ実行部44は、論理マ
クロシナリオ読出部43から渡された論理マクロシナリ
オ群11−2を解釈し、それぞれのシナリオを実行す
る。論理マクロシナリオ実行部44の機能には、制御命
令、演算命令、文字列処理命令、変数、例外処理命令等
一般的なプログラム記述命令の処理、シナリオ上にコメ
ントを記述するためのコメント命令の処理、論理試験シ
ナリオログ収集部に意図的に必要情報を登録するための
プリント命令の処理、シナリオ毎の論理試験項目名を宣
言するための論理試験項目宣言命令の処理及び論理装置
名で各装置に対する処理要求を行うための論理装置指示
命令の処理並びに前記論理試験シナリオ命令毎に必要ロ
グ情報を収集する機能を有する。(具体的には後述する
論理試験シナリオログ収集部45で実行する。)
【0037】論理試験シナリオログ収集部45は、論理
シナリオ実行部42及び論理マクロシナリオ実行部44
による論理試験シナリオ群11−1又は論理マクロシナ
リオ群11−2の実行時のログ情報を収集する。収集単
位は、被試験交換機装置名12毎及び論理試験シナリオ
群11−1内の論理試験項目宣言命令毎に行う。ログ情
報収集の対象となる命令は、コメント命令、論理試験項
目宣言命令、論理装置指示命令、プリント命令である。
図4において4−2は収集した論理試験ログの例であ
る。
【0038】図5は本発明の実施の形態の論理・物理試
験シナリオ変換部及び論理⇔物理シナリオ変換テーブル
の説明図である。論理・物理試験シナリオ変換部5は、
前記論理試験シナリオ実行制御部4により生成された論
理装置指示命令4−1と、論理⇔物理シナリオ変換テー
ブル50と、被試験交換機装置名12とに基づいて、物
理試験シナリオ5−1を算出し、前記論理試験シナリオ
11は物理試験シナリオ5−1に変換されることとな
る。
【0039】物理試験シナリオの具体的な算出手法は、
論理⇔物理シナリオ変換テーブル50内の被試験交換機
テーブル50−1を被試験交換機装置名12で検索し、
被試験交換機対応の被試験論理装置テーブル50−2を
抽出する。論理試験シナリオ実行制御部4から渡された
論理装置指示命令4−1の論理装置名により該被試験論
理装置テーブル50−2を検索して被試験論理装置対応
の論理物理試験シナリオ50−3を抽出し、抽出した被
試験論理装置対応の論理物理試験シナリオ50−3がノ
ンダイレクト送出型かダイレクト送出型かを判断する。
【0040】抽出した被試験論理装置対応の論理物理試
験シナリオ50−3がノンダイレクト送出型の場合、論
理装置指示命令4−1の論理指示により論理指示テーブ
ル50−4を検索し、論理装置及び論理指示に対応した
物理試験シナリオ50−5を抽出する。この物理試験シ
ナリオは複数の物理装置対応の試験シナリオから構成さ
れている。シナリオ変換テーブル50から抽出した物理
試験シナリオ50−5は論理・物理シナリオ変換部5に
送られ、論理・物理シナリオ変換部5から物理試験シナ
リオ5−1として、物理試験シナリオ実行制御部6に渡
される。
【0041】前記被試験論理装置テーブル50−2を検
索して抽出した被試験論理装置対応の論理物理試験シナ
リオ50−3がダイレクト送出型の場合、該論理物理試
験シナリオ50−3は論理装置名のみが物理装置名に変
換された物理試験シナリオ50−6が抽出される。この
物理試験シナリオ50−6は前述の物理試験シナリオ5
0−5と同様に論理・物理シナリオ変換部5に送られ、
論理・物理シナリオ変換部5は該物理試験シナリオ50
−6を物理試験シナリオ5−11として物理試験シナリ
オ実行制御部6に渡す。
【0042】ダイレクト送出型の物理試験シナリオ50
−6は、装置の違いに依存しない試験シナリオで、論理
試験シナリオと物理試験シナリオの命令が一致する試験
シナリオである。保守端末装置(TYPE)の試験シナ
リオ等がダイレクト送出型の物理試験シナリオに該当す
る。
【0043】図6は本発明の実施の形態の物理試験シナ
リオ実行制御部の説明図である。物理試験シナリオ実行
制御部6は前記物理試験シナリオ5−1に基づいて、被
試験装置指示命令6−1を交換機の機種毎の専用のアダ
プタ部7に渡し、又、物理試験ログ6−2を収集する。
物理試験シナリオ実行制御部6は物理シナリオ読出部6
1、物理シナリオ実行部62、物理シナリオログ収集部
63とから構成される。物理シナリオ読出部61は、物
理試験シナリオ5−1を読出し、読出した物理試験シナ
リオ5−1を物理シナリオ実行部62に渡す。
【0044】物理シナリオ実行部62は、物理シナリオ
読出部61から渡された物理試験シナリオ5−1を解釈
し、それぞれのシナリオを実行する。物理シナリオ実行
部62の機能には、制御命令、演算命令、文字列処理命
令、変数、例外処理命令等一般的なプログラム記述命令
の処理、シナリオ上にコメントを記述するためのコメン
ト命令の処理、物理試験シナリオログ収集部に意図的に
必要情報を登録するためのプリント命令の処理、シナリ
オ毎の論理試験項目名を宣言するための物理試験項目宣
言命令の処理及び被試験装置名で各装置に対する処理要
求を行う(アダプタ経由で被試験装置に処理要求を出
す)ための被試験装置指示命令の処理並びに前記物理試
験シナリオの命令毎に必要ログ情報を収集する機能があ
る。(具体的には物理シナリオログ収集部63で実行す
る。)
【0045】物理シナリオログ収集部63は、物理シナ
リオ実行部62による物理試験シナリオ命令の実行時の
ログ情報を収集する。収集単位は被試験交換機装置名毎
及び物理試験シナリオ5−1内の物理試験項目宣言命令
毎に行う。対象となるログ収集命令は、コメント命令、
物理試験項目宣言命令、被試験装置指示命令及びプリン
ト命令である。
【0046】図7は本発明の実施の形態のアダプタ部及
び被試験交換機の説明図である。アダプタ部7は各交換
機の機種毎に異なる被試験装置対応の送受信アダプタ、
例えば、A交換機用アダプタの回線制御送受信アダプタ
71、端末制御送受信アダプタ72、TYPE制御送受
信アダプタ73、CPU制御送受信アダプタ74により
構成され、物理シナリオ実行制御部6から送られた被試
験装置指示命令6−1を、LAN又はWAN経由で被試
験装置であるA交換機装置8の回線制御送受信アダプタ
81、端末制御送受信アダプタ82、TYPE制御送受
信アダプタ83、CPU制御送受信アダプタ84に送出
する。
【0047】被試験装置であるA交換機装置8の各送受
信アダプタ81〜84は、アダプタ部7の各送受信アダ
プタ71〜74から送出された被試験装置指示命令6−
1を、A交換機装置8の回線試験制御装置81−1、端
末試験制御装置82−1、TYPE試験制御装置83−
1、CPU試験制御装置84−1へ中継する機能を有す
る。
【0048】A交換機装置8の各試験制御装置81−1
〜84−1は、各送受信アダプタ81〜84から送られ
てきた被試験装置指示命令6−1を解釈して被試験交換
機装置である回線装置81−2、端末装置82−2、T
YPE装置83−2、CPU84−2を動作させること
によりA交換機装置8の動作を試験することができる。
【0049】図8及び図9は本発明の実施の形態の試験
結果評価部の説明図である。図8及び図9に示した試験
結果評価部9は、論理試験結果比較部91と物理試験ロ
グ解析部92とから構成されている。図8は論理試験結
果比較部91の説明図であり、図9は物理試験ログ解析
部92の説明図である。
【0050】図8において、論理試験結果比較部91
は、前記論理試験シナリオ実行制御部4から出力される
論理試験ログ4−2のA交換機試験ログ4−2AとB交
換機試験ログ4−2Bとを試験項目毎に試験結果に差異
があるか否かを算出し、その試験結果評価を試験結果評
価レポート9−1として一覧表形式で出力する。
【0051】図8のA交換機試験ログ4−2AとB交換
機試験ログ4−2Bでは、自局発信者(番号:777−
1000)から自局着信者(番号:777−1001)
に発呼し、通話後発信者が先に送受話器をオンフックす
る試験動作を行わせたところ、A交換機試験ログ4−2
Aでは、確認事項の発側課金データダンプ情報として発
信者番号:777−1000、発側課金=1、着信者番
号:777−1001、着側課金=0の試験結果が得ら
れたが、B交換機試験ログ4−2Bでは、着側課金=1
となり、A交換機試験ログとは異なる試験結果が得られ
た場合を示している。
【0052】論理試験結果比較部91は、A交換機試験
ログ4−2AとB交換機試験ログ4−2Bとを比較照合
し、その結果を試験結果評価レポート8−1の「A交換
機とB交換機の論理試験結果」の表の試験結果評価欄に
“NG”又は“OK”として出力する。
【0053】図9において、物理試験ログ解析部92
は、前記物理試験シナリオ実行制御部6により収集され
た物理試験ログ6−2のA交換機ログ6−2A及びB交
換機ログ6−2Bを、前記試験結果評価レポート8−1
に問題箇所の解析用に表示する。
【0054】前述の論理試験結果比較により、試験シナ
リオに不具合があった場合に、論理試験シナリオに11
に不良箇所があったのか、各交換機装置毎の物理試験シ
ナリオに不良箇所があったのか、被疑不良箇所を容易に
狭めることができ、試験シナリオの確認・修正作業の負
担を軽減することができる。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
試験シナリオを、機種の異なる交換機装置の物理的構成
の差異に依存しない論理試験シナリオと機種の異なる交
換機装置の物理的構成の差異に依存する物理試験シナリ
オとの階層に分離したことにより、交換機装置の物理的
構成の差異に依存しない論理試験シナリオを用いて、機
種の異なる交換機装置の試験を実行することができるの
で、試験シナリオが共用化されるとともに、一方の機種
の試験シナリオ及び試験結果ログと他方の機種の試験シ
ナリオ及び試験結果ログとの比較照合結果が得られるの
で、不良箇所の探索が容易となり、試験シナリオの作
成、確認、修正の作業の負担を軽減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の要部説明図である。
【図2】本発明の実施の形態の交換機装置の試験実行制
御部の説明図である。
【図3】本発明の実施の形態の論理試験シナリオの説明
図である。
【図4】本発明の実施の形態の論理試験シナリオ実行制
御部の説明図である。
【図5】本発明の実施の形態の論理・物理試験シナリオ
変換部及び論理⇔物理シナリオ変換テーブルの説明図で
ある。
【図6】本発明の実施の形態の物理試験シナリオ実行制
御部の説明図である。
【図7】本発明の実施の形態のアダプタ部及び被試験交
換機の説明図である。
【図8】本発明の実施の形態の試験結果評価部の説明図
である。
【図9】本発明の実施の形態の試験結果評価部の説明図
である。
【図10】従来の交換機試験の説明図である。
【符号の説明】
11 論理試験シナリオ 12 被試験交換機装置名 13 論理・物理試験シナリオ変換部 14A 被試験交換機Aの物理試験シナリオ 14B 被試験交換機Bの物理試験シナリオ 15A 被試験交換機装置A 15B 被試験交換機装置B

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 交換機装置の各試験項目毎の実行手順で
    ある試験シナリオを、機種の異なる交換機装置の物理的
    構成の差異に依存しない論理試験シナリオと機種の異な
    る交換機装置の物理的構成の差異に依存する物理試験シ
    ナリオとの階層に分離し、 前記論理試験シナリオを機種毎に異なる被試験交換機装
    置対応の物理試験シナリオに変換し、前記物理試験シナ
    リオにより機種の異なる交換機装置の試験動作を制御さ
    せ、 前記交換機装置の物理的構成の差異に依存しない論理試
    験シナリオにより、機種の異なる交換機装置の試験を実
    行することを特徴とする交換機装置の試験実行制御方
    法。
  2. 【請求項2】 同一の論理試験シナリオにより機種の異
    なる複数の交換機装置の試験を実行し、前記機種の異な
    る複数の交換機装置の試験の実行により収集される論理
    試験ログ情報から、試験結果を相互に比較照合し、試験
    結果が異なる論理試験ログ情報を抽出し、表示すること
    を特徴とする請求項1に記載の交換機装置の試験実行制
    御方法。
  3. 【請求項3】 前記論理シナリオを、各試験項目毎の論
    理試験シナリオ群と汎用的に使用される論理マクロシナ
    リオ群とから構成することを特徴とする請求項1又は請
    求項2に記載の交換機装置の試験実行制御方法。
  4. 【請求項4】 前記物理試験シナリオを中継し、遠隔地
    にある複数の被試験交換機装置の試験を一つの論理試験
    シナリオにより実行制御することを特徴とする請求項
    1、請求項2又は請求項3に記載の交換機装置の試験実
    行制御方法。
  5. 【請求項5】 交換機装置の各試験項目毎の実行手順で
    あって機種の異なる交換機装置の物理的構成の差異に依
    存しない論理試験シナリオと、 前記論理試験シナリオを読出し、読出した論理試験シナ
    リオを論理・物理試験シナリオ変換部へ渡す論理試験シ
    ナリオ実行制御部と、 前記論理試験シナリオを機種毎に異なる被試験交換機装
    置対応の物理試験シナリオに変換する論理・物理試験シ
    ナリオ変換部と、 前記物理試験シナリオにより機種の異なる交換機装置の
    試験動作を制御させる物理試験シナリオ実行制御部と、 前記物理試験シナリオによる被試験装置指示命令を被試
    験交換機装置に中継するアダプタ部とを備えたことを特
    徴とする交換機装置の試験実行制御装置。
  6. 【請求項6】 同一の論理試験シナリオにより機種の異
    なる複数の交換機装置の試験に際し、前記論理試験シナ
    リオ実行制御部におけるログ情報を収集する論理試験ロ
    グ収集部と、 前記物理試験シナリオ実行制御部におけるログ情報を収
    集する物理試験ログ収集部と、 前記論理試験ログ情報から、試験結果を相互に比較照合
    し、試験結果が異なる論理試験ログ情報を抽出し、表示
    する試験結果評価部とを備えたことを特徴とする請求項
    5に記載の交換機装置の試験実行制御装置。
  7. 【請求項7】 前記論理シナリオを、各試験項目毎の論
    理試験シナリオ群と汎用的に使用される論理マクロシナ
    リオ群とから構成したことを特徴とする請求項5又は請
    求項6に記載の交換機装置の試験実行制御装置。
  8. 【請求項8】 前記アダプタ部は、前記物理試験シナリ
    オを遠隔地にある複数の被試験交換機装置に中継するこ
    とを特徴とする請求項5、請求項6又は請求項7に記載
    の交換機装置の試験実行制御装置。
JP26533897A 1997-09-30 1997-09-30 交換機装置の試験実行制御方法及びその装置 Expired - Fee Related JP3635479B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26533897A JP3635479B2 (ja) 1997-09-30 1997-09-30 交換機装置の試験実行制御方法及びその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26533897A JP3635479B2 (ja) 1997-09-30 1997-09-30 交換機装置の試験実行制御方法及びその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11112658A true JPH11112658A (ja) 1999-04-23
JP3635479B2 JP3635479B2 (ja) 2005-04-06

Family

ID=17415807

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26533897A Expired - Fee Related JP3635479B2 (ja) 1997-09-30 1997-09-30 交換機装置の試験実行制御方法及びその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3635479B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009267613A (ja) * 2008-04-23 2009-11-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 通信機器検査方法、通信機器検査装置、プログラム、及び記録媒体
JP2010213228A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Docomo Technology Inc 動作試験装置及び動作試験方法
JP2010252125A (ja) * 2009-04-17 2010-11-04 Anritsu Corp プロトコル試験装置
JP2011048714A (ja) * 2009-08-28 2011-03-10 Fujitsu Ltd テスト支援方法およびテスト支援装置
US8248073B2 (en) 2007-04-06 2012-08-21 Nec Corporation Semiconductor integrated circuit and testing method therefor
JP2014017768A (ja) * 2012-07-11 2014-01-30 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp 電話試験システム
CN107291062A (zh) * 2017-04-01 2017-10-24 福建福清核电有限公司 一种压水堆核电厂核级数字化仪控系统逻辑功能试验装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8248073B2 (en) 2007-04-06 2012-08-21 Nec Corporation Semiconductor integrated circuit and testing method therefor
JP2009267613A (ja) * 2008-04-23 2009-11-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 通信機器検査方法、通信機器検査装置、プログラム、及び記録媒体
JP2010213228A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Docomo Technology Inc 動作試験装置及び動作試験方法
JP2010252125A (ja) * 2009-04-17 2010-11-04 Anritsu Corp プロトコル試験装置
JP2011048714A (ja) * 2009-08-28 2011-03-10 Fujitsu Ltd テスト支援方法およびテスト支援装置
JP2014017768A (ja) * 2012-07-11 2014-01-30 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp 電話試験システム
CN107291062A (zh) * 2017-04-01 2017-10-24 福建福清核电有限公司 一种压水堆核电厂核级数字化仪控系统逻辑功能试验装置
CN107291062B (zh) * 2017-04-01 2023-10-20 福建福清核电有限公司 一种压水堆核电厂核级数字化仪控系统逻辑功能试验装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3635479B2 (ja) 2005-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2707515B2 (ja) 論理図をコンパイルし実行する方法
JP2000196705A (ja) メッセ―ジ/シ―ケンス編集機能を有する自動通信プロトコル試験システムおよび試験方法
US20030005416A1 (en) Fault search method and apparatus
CN111459800B (zh) 一种业务系统可用性验证方法、装置、设备和介质
JPH11112658A (ja) 交換機装置の試験実行制御方法及びその装置
US7095718B1 (en) Client/server scan software architecture
JPH05143570A (ja) 故障木作成方法
JP2001294157A (ja) 電子連動装置
KR960009918B1 (ko) 전전자 교환기의 프로세서간 통신(ipc)을 위한 하드웨어(h/w)경로확인 시험방법
JP3722869B2 (ja) 交換ソフトウェアの試験システムおよび試験方法
JPH0338956A (ja) 自動試験装置
CN113433922A (zh) 一种航电系统自动测试方法及装置
JPS63213039A (ja) 診断装置の障害解析方式
JPH0484301A (ja) プラント運転監視装置
JPH0916429A (ja) 自動診断装置
JPH06133344A (ja) 交換ソフトウェアの試験方法及びその装置
JPH03181260A (ja) システム可変データ供給方式
JPH03250953A (ja) 試験ターミナル指定方式
JPH10275165A (ja) データ収集機能
JPH07253839A (ja) キーボードおよびそれを用いたキーボードコントローラの試験方法
JPH07107140A (ja) プロトコルアナライザ
JPS63276137A (ja) 遠隔保守診断方式
JPS59153245A (ja) デバツグ装置
JPH0612588A (ja) 設備点検方法
JPH1063532A (ja) 検査項目生成装置

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041124

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20041220

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 3

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080114

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 5

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100114

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 6

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 7

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120114

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 8

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130114

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130114

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140114

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees