JPH11108841A - 蛍光測定装置 - Google Patents

蛍光測定装置

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Publication number
JPH11108841A
JPH11108841A JP9266786A JP26678697A JPH11108841A JP H11108841 A JPH11108841 A JP H11108841A JP 9266786 A JP9266786 A JP 9266786A JP 26678697 A JP26678697 A JP 26678697A JP H11108841 A JPH11108841 A JP H11108841A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lamp
light source
fluorescence
ferrite
high frequency
Prior art date
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Pending
Application number
JP9266786A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Ueda
篤 上田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP9266786A priority Critical patent/JPH11108841A/ja
Publication of JPH11108841A publication Critical patent/JPH11108841A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 Xeランプからの高周波ノイズを抑制する。 【解決手段】 Xeランプ1からなる光源、試料を励起
する励起分光器2、試料セル5(フローセル)、蛍光分
光器6、試料セル5から放射される蛍光を検出する検出
器7を備えた光学系を有する蛍光測定装置であって、上
記光源のXeランプ1をフェライト製ハウジング11
a、11b内に設置したものである。このような光源室
(フェライト製ハウジング11a、11b)内では、X
eランプ1によって空間に発生した磁界はフェライトの
磁束収集効果によりハウジング11a、11b内に集め
られ、損失の原理により高周波ノイズが磁気エネルギー
を経て熱エネルギーに変換されるので、Xeランプ1か
らの高周波ノイズを抑制することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば液体クロマ
トグラフの検出器として用いられる蛍光測定装置に関す
る。なお、蛍光測定装置は、励起光や蛍光の分光手段と
して分光器を使用するか、フィルタを使用するかによっ
て、分光蛍光光度計、蛍光分光光度計及び蛍光光度計に
分類されるが、本発明の蛍光測定装置はこれらのいずれ
をも包含するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の蛍光測定装置においては、光源と
して一般に高輝度点光源であるXeショートアークラン
プ(以下単にXeランプという。)が使用されている。
このXeランプはアルミ製ハウジングの光源室に収納さ
れているが、アークによる点灯という性質上、ランプの
電極及び電源ケーブル周辺から電磁波ノイズが放射され
ていた。このようなノイズ対策のため、通常電源からの
プラス側及びマイナス側のケーブルにフェライトコアを
巻いて高周波ノイズを抑制していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の蛍光
測定装置の光源(室)にあっては、一般に使用されてい
るデータライン用フェライトコアを単に電源ケーブルに
巻き付けていたが、データラインからの放射ノイズに比
べてXeランプからのノイズの方が著しく放射強度が強
いため、データライン用フェライトコアでは飽和磁束密
度が小さいので、高周波ノイズを十分に抑制するには電
源ケーブルに多数個(例えば10個)のコアを巻く必要
があった。このため、コアを納めるスペースが大きく必
要となり、また、ケーブルも必然的に長くなってその取
り回しにも支障をきたすという問題点があった。
【0004】本発明は、このような事情に鑑み、光源の
Xeランプから放射される高周波ノイズを効果的に抑制
した蛍光測定装置を提供することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の蛍光測定装置においては、Xeランプから
なる光源、試料を励起する励起分光部、試料セル、蛍光
分光部、試料セルから放射される蛍光を検出する検出器
を備えた光学系を有する蛍光測定装置であって、上記光
源のXeランプをフェライト製ハウジング内に設置した
ものである。
【0006】このような光源室(フェライト製ハウジン
グ)内では、Xeランプによって空間に発生した磁界は
フェライトの磁束収集効果によりハウジング内に集めら
れ、損失の原理により高周波ノイズが磁気エネルギーを
経て熱エネルギーに変換されるので、Xeランプからの
高周波ノイズを抑制することができる。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の一実施例の蛍光測定装置を説明するに、図1には液体
クロマトグラフの検出器として用いられる分光蛍光光度
計の光学系を示し、図2にその光源室の具体的構成を示
す。
【0008】図1において、1は光源のXeランプ、2
は光源からの励起光を分光して試料セルであるフローセ
ル5に入射させる励起分光器、6はフローセル5を流れ
る試料から放出される蛍光を分光して検出器7へ入射さ
せる蛍光分光器である。
【0009】なお、励起分光器2からフローセル5への
光路中にはビームスプリッタ3が設けられ、分光された
励起光の一部が取り出され、レンズ8、拡散板及びアッ
テネータ9を通ってモニタ用検出器4へ導かれている。
【0010】上記光源のXeランプ1は図2に示す光源
室に納められる。図2において、上下2分割されたフェ
ライト製ハウジング11a、11bがシャーシ10上に
断熱材19を介して固定され、光源室を形成している。
【0011】ハウジング内には、Xeランプ1をランプ
固定ネジ16によって垂直に固定し保持することができ
るランプホルダ15が設けられ、このランプホルダ15
はマイナス電極17からの電流を伝え、ケーブル20を
介して電源(図示せず)に接続されている。同様にXe
ランプのプラス電極18側はケーブル21を介して電源
(図示せず)に接続されている。また、ハウジング内に
は、集光ミラー14が設置され、Xeランプ1からの光
を集光し、その光束はハウジング前面の開口12から励
起分光器2(図1参照)へ導かれる。
【0012】なお、ハウジング11a上部には、Xeラ
ンプ1の交換のために穴が開けられ、同穴を塞ぐ蓋13
が取り付けられている。
【0013】このようなフェライト製ハウジング11
a、11bで形成された光源室に納められたXeランプ
1は、ハウジング内の空間に磁界を発生させるが、フェ
ライトの磁束収集効果により外部に漏洩することなくハ
ウジング内に集められ、損失の原理により高周波ノイズ
は磁気エネルギーを経て熱エネルギーに変換され、これ
によりXeランプ1の高周波ノイズを効果的に抑制する
ことができる。
【0014】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、光源室の周囲にフェライトコアを設置する
スペースを必要とせず、また、電源ケーブルもフェライ
トコア取り付けのために延長する必要がなく、Xeラン
プからの高周波ノイズを効果的に抑制することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明実施例の蛍光測定装置の光学系を示す図
である。
【図2】本発明実施例の蛍光測定装置における光源室の
具体的構成を示す図である。
【符号の説明】
1…Xeランプ 2…励起分光器 5…フローセル 6
…蛍光分光器 7…検出器 11a、11b…フェライト製ハウジング
12…開口 14…集光ミラー 15…ランプホルダ 20、21…
電源ケーブル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 Xeショートアークランプからなる光
    源、試料を励起する励起分光部、試料セル、蛍光分光
    部、試料セルから放射される蛍光を検出する検出器を備
    えた光学系を有する蛍光測定装置において、 前記光源をフェライト製ハウジング内に設置したことを
    特徴とする蛍光測定装置。
JP9266786A 1997-09-30 1997-09-30 蛍光測定装置 Pending JPH11108841A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9266786A JPH11108841A (ja) 1997-09-30 1997-09-30 蛍光測定装置

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JP9266786A JPH11108841A (ja) 1997-09-30 1997-09-30 蛍光測定装置

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Publication Number Publication Date
JPH11108841A true JPH11108841A (ja) 1999-04-23

Family

ID=17435681

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9266786A Pending JPH11108841A (ja) 1997-09-30 1997-09-30 蛍光測定装置

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JP (1) JPH11108841A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009236568A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Ushio Inc 検査装置
US7800078B2 (en) 2003-04-15 2010-09-21 Sensors For Medicine And Science, Inc. Printed circuit board with integrated antenna and implantable sensor processing system with integrated printed circuit board antenna

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7800078B2 (en) 2003-04-15 2010-09-21 Sensors For Medicine And Science, Inc. Printed circuit board with integrated antenna and implantable sensor processing system with integrated printed circuit board antenna
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