JPH11102915A - 半導体熱処理装置用ヒータユニット - Google Patents

半導体熱処理装置用ヒータユニット

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JPH11102915A
JPH11102915A JP27793897A JP27793897A JPH11102915A JP H11102915 A JPH11102915 A JP H11102915A JP 27793897 A JP27793897 A JP 27793897A JP 27793897 A JP27793897 A JP 27793897A JP H11102915 A JPH11102915 A JP H11102915A
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carbon
heater unit
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heat treatment
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栄一 外谷
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浩治 寺岡
Masaru Nakao
中尾  賢
Takanori Saito
孝規 斎藤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 均熱性及びフレキシビリティーに優れ急昇降
温が可能であって、形状設計を自在に行うことができる
半導体熱処理装置用ヒータユニットを提供する。 【解決手段】 両端にアルミナ製のワイヤ支持部11,
21,31,41を配置し、カーボンファイバーを束ね
たカーボンファイバー束を複数本用いてワイヤー形状に
編み込んだカーボンワイヤ15,25,35,45をヒ
ータ体として使用し、このカーボンワイヤ15,25,
35,45を両ワイヤ支持部11,21,31,41の
間で往復させて張り渡し、全体的に筒状の加熱空間1
6,26,36,46を形成したことを特徴とする半導
体熱処理装置用ヒータユニット。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体熱処理装
置用ヒータユニットに関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体製造装置では、例えばシリコンウ
エハの種々の加熱処理が行われるが、当該処理では厳密
な温度管理が求められる。また、加熱処理雰囲気をクリ
ーンに保つことも重要である。
【0003】このため、均熱性及び昇温・降温性に優
れ、汚染物質を放出しない高性能の半導体製造装置用ヒ
ータの開発、製品化が強く望まれている。
【0004】特開平7−161725号公報は、ウエハ
加熱装置において黒鉛−炭素繊維複合材(以下C/Cと
記す)をヒーター部材に用いた電極構造を開示してい
る。
【0005】また、従来より同装置において平板状渦巻
き型のSiCヒータ部材もしくは溶接処理を行なった複
雑形状のMo−Siヒータ部材などが用いられてきた。
【0006】一方、半導体熱処理装置用ヒータとして、
金属ヒータが用いられることもあった。しかし、金属ヒ
ータは金属汚染を生じ易く、また、品質が不安定になり
易い問題があった。
【0007】半導体の熱処理効率を向上するためには、
急速昇降温の可能なヒータが必要となる。しかし、金属
ヒータは熱容量が大きいため、昇降温特性の向上には限
界があった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】前記C/Cヒーター部
材においては、その構造上薄肉でも2次元各々の長さが
充分に採れる形状であれば、極めて高い機械的強度を有
するが、例えば1次元の長さつまり幅が5mm以下の縦
長形状とした場合には、充分な機械的強度が得られず、
また、半導体製造装置用のヒータとして用いた場合には
長さ方向の両端を端子に固定すると、C/Cの熱膨張に
伴い、特にこの端子固定部近傍において、熱的負荷が生
じ破損し易いといった問題があった。
【0009】そこで、前記幅を広くとると、今度は抵抗
値が小さくなり、所定の発熱を行うためには、電流値を
大幅にアップしなければならず、また、熱容量が大きく
なり急速加熱が困難であった。
【0010】また、前記特開平7−161725号公報
図3の如き略渦巻き形状のような複雑形状を得ようとす
ると、均熱構造とするためのスリット加工が難しく、ま
た上述のように高抵抗とするためには、同部材の幅を狭
くする必要があるが、このような加工が難しく、コスト
の増大をまねき、もしくはコストにみあう加工を行う
と、均熱性がけっして充分なものとはなっていないのが
現状であった。
【0011】また、前記SiCヒーター部材やMo−S
iヒーター部材においては昇華に伴う劣化を抑制するた
めに電気負荷密度を約10W/cm2 程度とすることし
かできず、その結果、昇温速度の短縮化に限界があっ
た。また、これらのヒーター部材においても、屈曲部を
要するような複雑形状においては充分な耐熱強度が得ら
れていなかった。
【0012】このような技術的課題に鑑み、本発明は、
均熱性及びフレキシビリティーに優れ、急昇降温が可能
であって、低コストで製造できる半導体製造装置用カー
ボンヒータユニットを提供することを目的としている。
【0013】
【課題を解決するための手段】本願発明は、両端付近に
アルミナ製のワイヤ支持部(11,21,31,41)
を設け、カーボンファイバーを束ねたカーボンファイバ
ー束を複数本用いてワイヤー形状に編み込んだカーボン
ワイヤ(15,25,35,45)をヒータ体として使
用し、このカーボンワイヤ(15,25,35,45)
を両ワイヤ支持部(11,21,31,41)の間で往
復させて張り渡し、全体的に筒状の加熱空間(16,2
6,36,46)を形成したことを特徴とする半導体熱
処理装置用ヒータユニットを第1の解決手段としてい
る。
【0014】本願発明は、ワイヤ支持部(11,21)
が多数の小穴(12,22)を有し、小穴(12,2
2)を通してカーボンワイヤ(15,25)を案内する
構成になっていることを特徴とする前記構成の半導体熱
処理装置用ヒータユニットを別の解決手段としている。
【0015】本願発明は、カーボンワイヤ(15,2
5)とワイヤ支持部(11,21)の間に、カーボン製
ピース(17)を配置することを特徴とする前記構成の
半導体熱処理装置用ヒータユニットをさらに別の解決手
段としている。
【0016】本願発明は、ワイヤ支持部(11,21)
がリング形、馬蹄形、楕円形のような平板もしくは略同
形状を形成する分割された平板であることを特徴とする
前記構成の半導体熱処理装置用ヒータユニットをさらに
別の解決手段としている。本発明は、ワイヤ支持部(1
1,21)の鉄不純物濃度が100ppm以下であるこ
とを特徴とする前記構成の半導体熱処理装置用ヒータユ
ニットをさらに別の解決手段としている。
【0017】本発明は、上記カーボンワイヤ(15,2
5)が、5〜15μmのカーボンファイバーを束ねたカ
ーボンファイバー束を3本以上用いてワイヤ形状やテー
プ形状のような縦長形状に編み込まれたものであること
を特徴とする前記構成の半導体製造装置用カーボンヒー
タユニットをさらに別の解決手段としている。
【0018】本発明は、上記カーボンワイヤ(15,2
5)を密閉形の石英ガラスまたは透光性アルミナ容器に
封入したことを特徴とする前記構成の半導体熱処理装置
用ヒータユニットをさらに別の解決手段としている。
【0019】本発明は、上記容器が二重管形状であり、
複数個組み合わせて所定形状のヒーティングゾーンを形
成することを特徴とする前記構成の半導体熱処理装置用
ヒータユニットをさらに別の解決手段としている。
【0020】本発明は、上記容器内に窒素、水素または
不活性ガスを流入することを特徴とする前記構成の半導
体熱処理装置用ヒータユニットをさらに別の解決手段と
している。
【0021】本発明は、上記容器内が200torr以
下に減圧されていることを特徴とする前記構成の半導体
熱処理装置用ヒータユニットをさらに別の解決手段とし
ている。
【0022】本発明は、上記小穴に貫通穴を有する透光
性アルミナピンを挿入し、その貫通穴にカーボンやワイ
ヤを通す構成にしたことを特徴とする構成の半導体熱処
理装置用ヒータユニットをさらに別の解決手段としてい
る。
【0023】
【発明の実施の形態】本発明の半導体熱処理装置用ヒー
タユニットは、両端にアルミナ製のワイヤ支持部を配置
し、カーボンファイバーを束ねたカーボンファイバー束
を複数本用いてワイヤー形状に編み込んだカーボンワイ
ヤをヒータ体として使用し、このカーボンワイヤを両ワ
イヤ支持部の間で往復させて張り渡し、全体的に筒状の
加熱空間を形成したことを特徴としている。
【0024】ワイヤ支持部をアルミナ製にしたのは、カ
ーボンワイヤが高温(例えば1300℃以下)で石英ガ
ラスや金属と接触すると反応して強度劣化を起こすため
である。アルミナ製の支持部材であっても、カーボンワ
イヤの劣化を防止するため、高純度のアルミナ材料を使
用することが好ましい。
【0025】特に、鉄不純物を低濃度とすることが重要
である。すなわち、アルミナ製ワイヤ支持部の鉄不純物
濃度は、100ppm以下が好ましい。鉄不純物のより
好ましい濃度は、10ppm以下である。
【0026】ワイヤ支持部に多数の小穴を設け、小穴を
通してカーボンワイヤを案内する構成にすることができ
る。
【0027】ワイヤ支持部はリング形、馬蹄形、楕円形
のような平板で構成することができる。
【0028】カーボンヒータの不純物を灰分で10pp
m以下にするのが好ましいのは、不純物が10ppmを
超えると、微量の酸素でも酸化され易くなり、このため
に異常発熱を起こし易くなるからである。
【0029】実際、不純物が灰分で10ppmを超える
場合には、800℃の大気中で10分間で異常発熱を起
こし、窒素中に100ppmの酸素が存在する雰囲気に
おいては800℃で10時間使用すると異常発熱を起こ
すことが確認されている。
【0030】一方、不純物が灰分で10ppm以下の場
合には、窒素中に100ppmの酸素が存在する雰囲気
において800℃で50時間以上使用しても異常発熱を
起こさないこと、及び、800℃の大気中においては1
0分未満であれば異常発熱を起こさないことが確認され
ている。
【0031】不純物は灰分で5ppm以下であることが
より好ましい。この場合には、特に異常発熱を抑える効
果が大きくなり、より長寿命化を達成できる。
【0032】ヒータ部材の抵抗値は、好ましくは100
0℃で2〜10Ω/mである。その理由は、一般的な半
導体製造用加熱装置において、従来からのトランス容量
にマッチングさせる必要があるからである。
【0033】すなわち、抵抗値が10Ω/mを超える場
合には、抵抗が大きいためヒータ長を長くとることがで
きず、端子間で熱が奪われて温度むらが生じ易くなる。
【0034】一方、抵抗値が2Ω/m未満の場合には、
反対に抵抗が低いためヒータ長を必要以上に長くとらな
ければならず、カーボンワイヤーやカーボンテープのよ
うな細長のヒータ部材の組織むらや雰囲気のむらにより
温度のばらつきが生じる恐れが大きくなる。従って、カ
ーボンワイヤーを複数本束ねることが有効であり、並列
結線することがより好ましい。
【0035】ヒーター部材は、5〜15μmのカーボン
ファイバーを例えば300〜800本束ねて、撚りを形
成したカーボンファイバー束を3本以上用いてワイヤ形
状やテープ形状のような縦長形状に編み込んだものであ
ることが好ましい。これによって、ヒーター部材として
の高温時の引張強度が確保され、またカーボンファイバ
ーの密着性がその長さ方向において均一になり、よって
長さ方向での発熱ムラが低減される。
【0036】ヒータ部材を密閉形の石英ガラス容器また
は透光性アルミナ容器に封入し、半導体製造装置用カー
ボンヒータを構成することができる。
【0037】前記容器の形状は、例えば二重管形状とす
ることができる。
【0038】このような形状の複数個の石英ガラスまた
は透光性アルミナ容器を組み合わせて所定形状のヒーテ
ィングゾーンを形成することにより、その形状に合致し
た被処理物を均一に加熱することができる。
【0039】また、上記容器内に窒素、水素または不活
性ガスを流入したり、容器内を20torr以下の真空
にすることが好ましい。これによって、上記カーボンヒ
ータの劣化を防止でき、長寿命化及び均熱性の長時間の
持続が可能となる。
【0040】以上のようなカーボンヒータユニットは、
適宜半導体製造用縦型炉のカーボンヒータとして用いる
ことができる。
【0041】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。
【0042】図1は、半導体熱処理装置用ヒータユニッ
トの実施例を示す斜視図である。図2は、図1のヒータ
ユニットの一部分を拡大して示す斜視図である。
【0043】半導体熱処理装置用ヒータユニット10
は、頂部と底部に配置されたワイヤ支持部材11と、そ
のワイヤ支持部11を連結する8本の縦枠部材13と、
縦枠部材13を相互に連結する横枠部材14をフレーム
としている。頂部と底部のワイヤ支持部11の間には、
ヒータ体としてのカーボンワイヤ15が所定間隔で平行
に張り渡されている。
【0044】この実施例では、カーボンワイヤ15は、
両ワイヤ支持部11の間に円筒型に配置される。そし
て、ヒータユニット10の内側には、円筒状の加熱空間
16が形成される。
【0045】支持部材11はアルミナ製であり、リング
型の平板形状になっている。支持部材11の内周に沿っ
た部分には、貫通穴12が所定間隔をおいて一列に設け
られている。カーボンワイヤ15は、この貫通穴12を
通って方向転換され、両支持部材11の間で往復して張
り渡されている。
【0046】支持部材11の形状はリング型に限らず、
馬蹄形、楕円形、多角形等の形状でも良い。支持部材1
1は複数片に分割することもできる。また、貫通穴12
は一列ばかりでなく、千鳥足状に配置することもでき
る。
【0047】縦枠部材13と横枠部材14は、石英ガラ
ス、炭素、金属等によって形成することができる。
【0048】枠部材13,14は本来ならアルミナ製が
良いが、アルミナは成形が難しく高価になるため、前述
の材料で形成する。その中では、石英ガラスが最良であ
ると考えられる。
【0049】カーボンワイヤ15は、抵抗調整のため、
途中で電極部を複数本取り出して分割回路にした方が良
い。
【0050】カーボンワイヤ15は、複数のカーボンフ
ァイバーを束ねたカーボンファイバー束を複数本用いて
ワイヤー形状に編み込んだものである。
【0051】カーボンワイヤ15の含有不純物量は、灰
分で10ppm以下、より好ましくは5ppm以下にす
ることが好ましい。含有不純物が10ppmを超える
と、異常発熱を起こし易くなる。
【0052】カーボンワイヤは異常発熱を起こし易いの
で、酸化雰囲気下での使用には適さない。このため、半
導体熱処理装置用ヒータユニット10は、石英ガラス容
器や金属ドーム内で使用することが好ましい。それゆ
え、ヒータユニット10は厚さを薄くして、コンパクト
な構成にすることが望ましい。
【0053】カーボンワイヤは、好ましくは1000℃
の抵抗値で2〜10Ω/mに設定する。その理由は、一
般的な半導体用加熱装置において、従来からのトランス
容量にマッチングさせる必要があるからである。
【0054】カーボンワイヤーを円周方向に巻く配線方
式では、ワイヤを支えるための碍子の構造が複雑になっ
てしまう。このため、前述の実施例では往復させて配線
する方式を採用している。
【0055】図1に示すヒータユニット10を上下に2
個以上積み重ねて縦長の加熱空間を構成すれば、電力パ
ワーを制御して温度制御を細かく行うことができる。
【0056】また、カーボンワイヤ15と石英ガラス製
の枠部材13,14との間に、ガラス状カーボン製反射
板を配置することもできる。このような反射板を設ける
ことによって、カーボンワイヤの熱効率を高めると共
に、枠部材13,14付近の熱逃げによる温度のばらつ
きを抑制することが可能である。
【0057】図5のように、カーボンワイヤ15支持部
材11の間に、カーボン製ピース17を配置すると有利
である。カーボン製ピース17を配置することによっ
て、カーボンワイヤ15と支持部材11の接触部分を低
減して、熱衝撃が支持部材11に及ぶことを防止でき
る。
【0058】図3は、本発明の他の実施例を示してい
る。
【0059】この実施例では、カーボンワイヤ25を支
える支持部材21が、筒状容器29に取り付けられてい
る。
【0060】支持部材21は複数の片に分割されてお
り、全体としてリング状に配置される。支持部材21を
分割せずに、筒状容器29を縦方向に2分割しても良
い。
【0061】筒状容器29は二重管形状になっている
が、図面では内管は省略されている。また、上下のフタ
と排管系も省略されている。
【0062】排管系を用いて容器内に不活性ガスを導入
したり、容器内を例えば200torr以下に減圧する
ことができる。
【0063】筒状容器29は、上部と下部に環状の設定
部を有し、そこに支持部材21を保持する構成になって
いる。設定部と支持部材21の間には、図4に示すカー
ボン製スプリングワッシャ28が複数個配置され、支持
部材21を固定している。
【0064】図6は、本発明の別の実施例を示してい
る。
【0065】半導体熱処理用ヒータユニット30の全体
的構成は、図3の実施例と同じである。
【0066】本実施例では、ワイヤ支持部31の小穴3
2がやや大きめに形成され、その中に透光性アルミナピ
ン51を挿入する構成になっている。
【0067】透光性アルミナピン51は、少なくともカ
ーボンワイヤ35が通過する内壁52が透光性アルミナ
から構成されている。ピン51の高さは、ワイヤ支持部
31の肉厚と同等又はそれ以上になっている。ピン51
は、図7(A)〜(C)に示すように様々な形状にする
ことができる。
【0068】ピン51を用いることによって、石英製ワ
イヤ支持部31とカーボンワイヤ35との高温時の反応
を防止することができる。
【0069】ピン51の頭部には、図7(A)に示すカ
ーボン製リング状部材53を配置することができる。カ
ーボン製リング状部材53は、急速昇降温時におけるピ
ン51の割れを防止する。
【0070】図7(B)に示すカーボン製リング状部材
55は、リングに切り欠き56が形成されている。この
切り欠き56は、ワイヤが通過できる幅を有する。リン
グ状部材55が劣化した場合には、切り欠き56を利用
してリング状部材55のみを交換することができる。ま
た、切り欠き56は耐熱衝撃性の向上にも役立つ。
【0071】図6の下側の支持部31の左端の小穴32
aは、切欠部32bを有している。切欠部32bは、カ
ーボンワイヤ35が通過できる幅を有している。このよ
うに支持部31に切欠部32bを設けた場合には、すべ
てのピン51をワイヤ35に通した後で、1つ1つのピ
ン51を順次支持部31の小穴32にセットすることが
できるので、ユニットの組立てを簡略化できる。
【0072】図8は、さらに別の実施例を示している。
【0073】このヒータユニット40では、筒状容器4
9の外側にワイヤ支持部41が配置され、容器49の外
側にカーボンワイヤ45が張り渡されている。
【0074】この実施例では、容器内の加熱空間46に
カーボンワイヤ45がないため、よりクリーンな雰囲気
での加熱が可能である。
【0075】
【発明の効果】本発明の半導体熱処理装置用ヒータユニ
ットは、均熱性及びフレキシビリティーに優れ、急昇降
温が可能であって、形状設計を自在に行うことができ
る。
【0076】なお、本発明は前述の実施例に限定されな
い。例えば、支持部材に穴ではなく溝や突起を形成し
て、ワイヤを案内することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体熱処理装置用ヒータユニットの
実施例を示す斜視図。
【図2】図1の半導体熱処理装置用ヒータユニットの一
部分を拡大して示す斜視図。
【図3】本発明の半導体熱処理装置用ヒータユニットの
他の実施例を示す斜視図。
【図4】図3の実施例におけるカーボン製スプリングワ
ッシャを示す図。
【図5】カーボン製ピースを用いた状態を示す斜視図。
【図6】本発明の半導体熱処理装置用ヒータユニットの
別の実施例を示す斜視図。
【図7】図6の半導体熱処理装置用ヒータユニットに用
いる透過性アルミナピンを示す斜視図。
【図8】半導体熱処理装置用ヒータユニットのさらに別
の実施例示す斜視図。
【符号の説明】
10,20,30,40 半導体熱処理装置用ヒータ
ユニット 11,21,31,41 ワイヤ支持部 12,22,32,42 貫通穴 13 縦枠部材 14 横枠部材 15,25,35,45 カーボンワイヤ 16,26,36,46 熱空間 17 カーボン製ピース 28 カーボン製スプリングワッシャ 29,39,49 筒状容器 51,54,57 透過性アルミナピン 53,55 カーボン製リング状部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI // H01L 21/205 H01L 21/205 (72)発明者 中尾 賢 神奈川県津久井郡城山町町屋1−2−41 東京エレクトロン東北株式会社相模事業所 内 (72)発明者 斎藤 孝規 神奈川県津久井郡城山町町屋1−2−41 東京エレクトロン東北株式会社相模事業所 内

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 両端付近にアルミナ製のワイヤ支持部
    (11,21,31,41)を設け、カーボンファイバ
    ーを束ねたカーボンファイバー束を複数本用いてワイヤ
    ー形状に編み込んだカーボンワイヤ(15,25,3
    5,45)をヒータ体として使用し、このカーボンワイ
    ヤ(15,25,35,45)を両ワイヤ支持部(1
    1,21,31,41)の間で往復させて張り渡し、全
    体的に筒状の加熱空間(16,26,36,46)を形
    成したことを特徴とする半導体熱処理装置用ヒータユニ
    ット。
  2. 【請求項2】 ワイヤ支持部(11,21,31,4
    1)が多数の小穴(12,22,32,42)を有し、
    小穴(12,22,32,42)を通してカーボンワイ
    ヤ(15,25,35,45)を案内する構成になって
    いることを特徴とする請求項1に記載の半導体熱処理装
    置用ヒータユニット。
  3. 【請求項3】 カーボンワイヤ(15,25,35,4
    5)とワイヤ支持部(11,21,31,41)の間
    に、カーボン製ピース(17)を配置することを特徴と
    する請求項2に記載の半導体熱処理装置用ヒータユニッ
    ト。
  4. 【請求項4】 ワイヤ支持部(11,21,31,4
    1)がリング形、馬蹄形、楕円形のような平板もしくは
    略同形状を形成する分割された平板であることを特徴と
    する請求項1〜3のいずれか1項に記載の半導体熱処理
    装置用ヒータユニット。
  5. 【請求項5】 ワイヤ支持部(11,21,31,4
    1)の鉄不純物濃度が100ppm以下であることを特
    徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体熱
    処理装置用ヒータユニット。
  6. 【請求項6】 上記カーボンワイヤ(15,25,3
    5,45)が、5〜15μmのカーボンファイバーを束
    ねたカーボンファイバー束を3本以上用いてワイヤ形状
    やテープ形状のような縦長形状に編み込まれたものであ
    ることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載
    の半導体製造装置用カーボンヒータユニット。
  7. 【請求項7】 上記カーボンワイヤ(15,25,3
    5,45)を密閉形の石英ガラスまたは透光性アルミナ
    容器に封入したことを特徴とする請求項1〜6のいずれ
    か1項に記載の半導体熱処理装置用ヒータユニット。
  8. 【請求項8】 上記容器が二重管形状であり、複数個組
    み合わせて所定形状のヒーティングゾーンを形成するこ
    とを特徴とする請求項7に記載の半導体熱処理装置用ヒ
    ータユニット。
  9. 【請求項9】 上記容器内に窒素、水素または不活性ガ
    スを流入することを特徴とする請求項7又は8に記載の
    半導体熱処理装置用ヒータユニット。
  10. 【請求項10】 上記容器内が200torr以下に減
    圧されていることを特徴とする請求項7又は8に記載の
    半導体熱処理装置用ヒータユニット。
  11. 【請求項11】 上記小穴(32)に貫通穴を有する透
    光性アルミナピン(51,54,57)を挿入し、その
    貫通穴にカーボンワイヤ(35)に通す構成にしたこと
    を特徴とする請求項2に記載の半導体熱処理装置用ヒー
    タユニット。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6444940B1 (en) 1999-11-30 2002-09-03 Tokyo Electron Limited Heat treating device and heat treating method
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