JPH11101947A - Laser driving system and adjusting method and image forming device using the same - Google Patents

Laser driving system and adjusting method and image forming device using the same

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JPH11101947A
JPH11101947A JP26354797A JP26354797A JPH11101947A JP H11101947 A JPH11101947 A JP H11101947A JP 26354797 A JP26354797 A JP 26354797A JP 26354797 A JP26354797 A JP 26354797A JP H11101947 A JPH11101947 A JP H11101947A
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light
light emitting
semiconductor laser
photodetector
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten first printing time by fixing a current impressed to each light emitting spot of a semiconductor laser in a hold mode at the time of detecting a laser beam and individually performing automatic light quantity control in a sample mode. SOLUTION: In order to expose a photoreceptor drum by making the light emission of a laser at each light emitting spot in a specified light quantity, a current is impressed to all the light emitting spots of the laser at a first time t0. At the time of impressing the laser to all the light emitting spots, the automatic light quantity control of each laser is started in a sample mode. At the point of a time t1 when a BD signal by a reference position photodetecting means detects the laser beam, the current impressed to each light emitting spot of a semiconductor laser is fixed in a hold mode. Thereafter, the automatic light quantity control is individually performed to each light emitting spot in the sample mode at a time t2. Thus, the time when the light quantity at each light emitting point of the laser is made to a specified light quantity is shortened and the first printing time of a recorder is shortened.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は複数の発光部を持つ
マルチビームレーザを用いたレーザスキャナユニット、
レーザプリンタ等の画像記録装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser scanner unit using a multi-beam laser having a plurality of light emitting units,
The present invention relates to an image recording device such as a laser printer.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、レーザプリンタ等の画像記録装置
に用いられ、回転感光体ドラムにレーザー光を照射・露
光して画像を形成する際に主走査方向に走査するポリゴ
ンミラーを有するレーザスキャナユニットには、シング
ルの半導体レーザが用いられてきた。また、近年レーザ
プリンタの高速化、高精細化が進むにつれてレーザ発光
点を複数持つマルチビームレーザの使用が検討されつつ
ある。マルチビームレーザ方式にすることにより、一度
の走査で複数行の画像を形成できるので、ポリゴンミラ
ーの回転数が同一である場合には、その複数倍の速度で
プリント出力することができる。
2. Description of the Related Art Conventionally, a laser scanner unit having a polygon mirror which is used in an image recording apparatus such as a laser printer and scans in a main scanning direction when forming an image by irradiating and exposing a rotating photosensitive drum with a laser beam. , A single semiconductor laser has been used. In addition, in recent years, as the speed and definition of laser printers have been increased, the use of a multi-beam laser having a plurality of laser emission points has been studied. By using the multi-beam laser system, a plurality of rows of images can be formed by one scan, so that when the number of rotations of the polygon mirror is the same, it is possible to print out at a multiple of the speed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】市販されている半導体
マルチビームレーザは、複数のレーザ発光点に対し、1
つのレーザ光モニタ用のフォトダイオードを持ってい
る。従って、個々のレーザ発光点のレーザ光量を規定の
光量にするための自動光量制御(APC:Automatic Po
wer Control)においては、個々のレーザ発光点に対し
て個別に電流を増加していく必要があった。したがっ
て、1つのレーザ発光点に電流を印加し、APC動作を
行っている期間は、他のレーザ発光点はオフする必要が
あった。
A commercially available semiconductor multi-beam laser has one or more laser emission points.
It has two laser light monitoring photodiodes. Therefore, automatic light quantity control (APC: Automatic Positive
wer Control), it was necessary to increase the current individually for each laser emission point. Therefore, during the period in which a current is applied to one laser emission point and the APC operation is performed, the other laser emission points need to be turned off.

【0004】したがって、発火点の数が多いマルチビー
ムレーザにおいては、各発光点のレーザ光量を規定値に
するために多大な時間がかかっていた。その結果、マル
チビームレーザを用いたレーザプリンタにおいて、プリ
ント開始時に各発光点のレーザ光量を規定値にするAP
C動作を行うため、印字動作に移行する時間が長くな
り、ファーストプリントタイムが長くなっていた。
Therefore, in a multi-beam laser having a large number of firing points, it takes a lot of time to set the laser light amount at each light emitting point to a specified value. As a result, in a laser printer using a multi-beam laser, an AP that sets the laser light amount at each light emitting point to a specified value at the start of printing
Since the C operation is performed, the time for shifting to the printing operation is long, and the first print time is long.

【0005】また、マルチビームレーザを用いた記録装
置において、製造時にレーザ光量の規定値を決める調整
用可変抵抗(本調整用可変抵抗はレーザ光モニタ用のフ
ォトダイオードの電流を電圧に変換し、APC時の目標
電圧となる)は、一つの発光点に対してのみ調整され、
他の発光点に対しては一つの調整された結果を流用して
いた。これは、マルチビームレーザの各発光点からのフ
ロントビーム、バックビームの関係がほぼ等しく、バッ
クビームを検出するモニタ用フォトダイオードの電流電
圧変換調整は、1つの発光点でのみ行うに事足りてい
た。しかしながら、各レーザ発光点のフロントビーム、
バックビームの比率を決めるレーザ共振器の端面コーテ
ィングのばらつき等により、各レーザ発光点のフロント
ビーム、バックビームの関係が微妙に異なっており、高
精細な画像を印字する記録装置においては、画像の濃度
ムラとなる可能性があった。
Further, in a recording apparatus using a multi-beam laser, an adjusting variable resistor for determining a prescribed value of a laser light amount at the time of manufacturing (this adjusting variable resistor converts a current of a photodiode for laser light monitoring into a voltage, The target voltage at the time of APC is adjusted for only one light emitting point,
One adjusted result was used for the other light emitting points. This is because the relation between the front beam and the back beam from each light emitting point of the multi-beam laser is almost equal, and the current-voltage conversion adjustment of the monitor photodiode for detecting the back beam is sufficient to be performed only at one light emitting point. . However, the front beam at each laser emission point,
Due to variations in the end face coating of the laser resonator that determines the ratio of the back beam, the relationship between the front beam and the back beam at each laser emission point is slightly different, and in a recording device that prints high-definition images, There was a possibility of uneven density.

【0006】本発明の第1の目的とするところは、マル
チビームレーザを用いた記録装置において、各レーザ発
光点を規定光量にする時間を短縮し、ファーストプリン
ト時間の短い記録装置を提供しようとするものである。
A first object of the present invention is to provide a recording apparatus using a multi-beam laser, in which the time required to set each laser emission point to a prescribed light amount is shortened and the first print time is short. Is what you do.

【0007】本発明の第2の目的とするところは、マル
チビームを用いた記録装置において、各レーザ発光点の
レーザ光量を精度良く、安全に調整する手段を提供しよ
うとするものである。
A second object of the present invention is to provide a means for accurately and safely adjusting the amount of laser light at each laser emission point in a recording apparatus using a multi-beam.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記第1の目的を達成す
るために、本発明のレーザ駆動方式は、複数の発光個所
を有する半導体レーザと、前記半導体レーザの個々のバ
ックビームを検出する1つの光検出装置と、前記半導体
レーザと光検出装置が一体化された半導体レーザユニッ
トと、光検出装置の出力を規定値にするためのサンプル
ホールド方式の自動光量制御を有するレーザ駆動回路
と、レーザ光をラスタースキャンニングする回転多面鏡
と、走査されたレーザ光の位置を検出する基準位置光検
出手段とを有するレーザスキャナユニットにおいて、各
発光個所のレーザ発光を規定光量にするために最初にす
べてのレーザ発光個所に対して電流を印加し、本印加時
にサンプルモードで自動光量制御を開始し、前記基準位
置光検出手段がレーザ光を検知した時点で前記半導体レ
ーザの各発光個所に対して印加する電流をホールドモー
ドで固定し、その後個々の発光個所に対して個別にサン
プルモードで自動光量制御を行うことによって、各レー
ザ発光点の光量を規定光量にする時間を短縮し、記録装
置のファーストプリント時間を短くすることを特徴とす
る。
In order to achieve the first object, a laser driving method according to the present invention comprises a semiconductor laser having a plurality of light-emitting portions and an individual back beam of the semiconductor laser. A laser drive circuit having an automatic light intensity control of a sample-and-hold method for setting the output of the photodetector to a specified value; In a laser scanner unit having a rotating polygon mirror that performs raster scanning of light and a reference position light detecting unit that detects the position of the scanned laser light, first, in order to make the laser light emission at each light emitting point to a specified light amount, A current is applied to the laser emission point of the laser beam, automatic light quantity control is started in the sample mode at the time of the application, and the reference position light detecting means At the time when light is detected, the current applied to each light emitting point of the semiconductor laser is fixed in the hold mode, and then the individual light emitting points are individually subjected to the automatic light intensity control in the sample mode, whereby each laser light is emitted. A feature of the present invention is to shorten the time for setting the light quantity at a point to the specified light quantity and shorten the first print time of the recording apparatus.

【0009】上記第1の目的を達成するために、本発明
のレーザ駆動方式は、複数の発光個所を有する半導体レ
ーザと、前記半導体レーザの個々のバックビームを検出
する1つの光検出装置と、前記半導体レーザと光検出装
置が一体化された半導体レーザユニットと、光検出装置
の出力を規定値にするためのサンプルホールド方式の自
動光量制御を有するレーザ駆動回路と、レーザ光をラス
タースキャンニングする回転多面鏡と、走査されたレー
ザ光の位置を検出する基準位置光検出手段とを有するレ
ーザスキャナユニットにおいて、各発光個所のレーザ発
光を規定光量にするために、最初にすべてのレーザ発光
個所に対して電流を印加し、本印加時にサンプルモード
で自動光量制御を開始し、前記光検出装置の検出量情報
を前記自動光量制御にフィードバックしない状態にし、
前記基準位置光検出手段がレーザ光を検知した時点で前
記半導体レーザの各発光個所に対して印加する電流をホ
ールドモードで固定し、その後前記検出装置の検出量情
報を前記自動光量制御にフィードバックし、個々の発光
個所に対して個別にサンプルモードで自動光量制御を行
うことによって、各レーザ発光点の光量を規定光量にす
る時間を短縮し、記録装置のファーストプリント時間を
短くすることを特徴とする。
In order to achieve the first object, a laser driving method according to the present invention comprises a semiconductor laser having a plurality of light-emitting portions, one photodetector for detecting individual back beams of the semiconductor laser, A semiconductor laser unit in which the semiconductor laser and the photodetector are integrated, a laser driving circuit having a sample-and-hold type automatic light intensity control for setting the output of the photodetector to a specified value, and raster-scanning the laser light In a laser scanner unit having a rotating polygon mirror and reference position light detecting means for detecting the position of the scanned laser light, first, in order to set the laser light emission at each light emission point to a specified amount, all laser light emission points An automatic light amount control is started in a sample mode at the time of the main application, and the detected light amount information of the photodetector is transmitted to the automatic light amount control. In a state that does not feedback to,
At the time when the reference position light detecting means detects the laser light, the current applied to each light emitting portion of the semiconductor laser is fixed in the hold mode, and thereafter, the detection amount information of the detection device is fed back to the automatic light amount control. By automatically controlling the amount of light at each laser emission point in the sample mode individually, the time required to set the amount of light at each laser emission point to the specified amount is shortened, and the first print time of the recording apparatus is shortened. I do.

【0010】上記第2の目的を達成するために、本発明
のレーザ光量調整方法は、第1のレーザ発光個所と第2
のレーザ発光個所を有する半導体マルチビームレーザ
と、前記光検出装置であるフォトダイオードの検出電流
を電圧に変換する第1の調整用可変抵抗とを有し、前記
第1の調整用可変抵抗で変換された電圧と基準電圧を比
較する比較手段を有し、前記基準電圧を調整するための
第2の調整用可変抵抗を有し、前記第1の発光個所のレ
ーザ光量を前記第1の調整用可変抵抗で調整し、前記第
2の発光個所のレーザ光量を前記第2の調整用可変抵抗
で調整することを特徴とする。
In order to achieve the second object, a method for adjusting the amount of laser light according to the present invention comprises the steps of:
A semiconductor multi-beam laser having a laser emission point, and a first adjusting variable resistor for converting a detection current of a photodiode as the photodetector into a voltage, and converting the voltage by the first adjusting variable resistor. And a second adjusting variable resistor for adjusting the reference voltage, and adjusting the laser light amount at the first light emitting portion to the first adjusting value. The adjustment is performed by a variable resistor, and the laser light amount at the second light emitting point is adjusted by the second adjustment variable resistor.

【0011】さらに、本発明は、複数の発光個所を有す
る半導体レーザと、前記半導体レーザの個々のバックビ
ームを検出する1つの光検出装置と、前記半導体レーザ
と前記光検出装置が一体化された半導体レーザユニット
と、前記光検出装置の出力を規定値にするためのサンプ
ルホールド方式の自動光量制御を有するレーザ駆動回路
と、レーザ光をラスタースキャンニングする回転多面鏡
と、該回転多面鏡で走査されたレーザ光の同期信号を検
出する基準同期検出手段とを有する画像形成装置におい
て、前記各発光個所のレーザ発光を規定光量にするため
に、前記各半導体レーザ毎に該発光光量を安定化するA
PC回路を備え、最初にすべての前記APC回路を動作
させ、前記光検出装置が前記レーザ発光を検出したとき
から、前記APC回路毎にサンプルモードとしてAPC
動作させ且つ他のAPC回路がホールドモードとして動
作させることを特徴とする。
Further, according to the present invention, there is provided a semiconductor laser having a plurality of light emitting portions, one photodetector for detecting individual back beams of the semiconductor laser, and the semiconductor laser and the photodetector integrated. A semiconductor laser unit, a laser driving circuit having automatic light intensity control of a sample hold system for setting the output of the photodetector to a specified value, a rotating polygon mirror for raster-scanning laser light, and scanning with the rotating polygon mirror In the image forming apparatus having reference synchronization detecting means for detecting a synchronization signal of the laser light, the amount of emitted light is stabilized for each of the semiconductor lasers in order to make the amount of laser emission at each of the light emitting portions a prescribed amount. A
A PC circuit is provided, and all the APC circuits are first operated, and when the photodetection device detects the laser emission, the APC circuit is set as a sample mode for each of the APC circuits.
Operating the other APC circuit in the hold mode.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

(第1の実施形態)図1に本発明の第1の実施形態を表
わすマルチビームレーザの駆動回路機能の説明図を示
す。マルチビームレーザとして、本実施形態では2個の
発光点を持った半導体マルチレーザを記しているが、3
個以上の発光点を持つマルチビームレーザについては、
本図1から類推できるので説明を省略する。
(First Embodiment) FIG. 1 is an explanatory diagram of a drive circuit function of a multi-beam laser according to a first embodiment of the present invention. In this embodiment, a semiconductor multi-laser having two light-emitting points is described as a multi-beam laser.
For multi-beam lasers with more than two emission points,
The description can be omitted because it can be inferred from FIG.

【0013】図1において、LD1、LD2はマルチビ
ームレーザの各発光点を表わすレーザダイオード(以
下、LDとも称する)であり、そのアノードを電源V1
に接続されている。PDは各レーザダイオードLD1,
LD2のバックビームレーザ光を検出するフォトダイオ
ード(以下、PDとも称する)である。1,2はフォト
ダイオードPDの検出電流を調整用可変抵抗VR1,V
R2に流す、流さないを制御するアナログスィッチで信
号9,10で制御されている。3,4は画像データに基
づいてレーザダイオードLD1,LD2を点灯するのか
どうかのスイッチングを行うトランジスタで、画像デー
タは信号5,6から印加される。7,8は可変定電流源
で、サンプルホールドコンデンサ15,16の電圧情報
で、レーザダイオードLD1,LD2に流す電流を決定
する。また、11,12はPDの電流に応じた電圧を検
出して比較するエラー検出アンプで、フォトダイオード
PDの検出電流を調整用可変抵抗VR1,VR2で電圧
に変換した値と、基準電圧Vref との差でサンプルホー
ルドコンデンサ15,16をチャージ、ディスチャージ
する。13,14はサンプルホールドコンデンサ15,
16のサンプル、ホールド状態をコントロールするスイ
ッチ回路で、不図示の制御信号によってその状態が制御
されている。
In FIG. 1, LD1 and LD2 are laser diodes (hereinafter, also referred to as LDs) representing respective light emitting points of a multi-beam laser, and the anodes thereof are connected to a power supply V1.
It is connected to the. PD is each laser diode LD1,
A photodiode (hereinafter, also referred to as PD) for detecting the back beam laser light of the LD 2. Reference numerals 1 and 2 denote variable resistances VR1 and V for adjusting the detection current of the photodiode PD.
An analog switch for controlling whether or not to flow into R2 is controlled by signals 9 and 10. Reference numerals 3 and 4 denote transistors for switching whether or not to turn on the laser diodes LD1 and LD2 based on the image data. The image data is applied from signals 5 and 6. Reference numerals 7 and 8 denote variable constant current sources, which determine voltage flowing through the laser diodes LD1 and LD2 based on voltage information of the sample and hold capacitors 15 and 16. Reference numerals 11 and 12 denote error detection amplifiers for detecting and comparing voltages according to the currents of the PDs. The error detection amplifiers convert the detection currents of the photodiodes PD into voltages by the variable resistors VR1 and VR2 for adjustment, and the reference voltage Vref. The sample and hold capacitors 15 and 16 are charged and discharged according to the difference. 13 and 14 are sample and hold capacitors 15,
A switch circuit for controlling the 16 sample and hold states, the state of which is controlled by a control signal (not shown).

【0014】図2は各レーザダイオードLD1,LD2
とフォトダイオードPDとを一体化した場合の概念的斜
視図である。ステム33の一方の面にはステム33の台
に垂直に基台34が設けられ、基台34上に発光点35
a,35bを有するレーザーチップ35とフォトダイオ
ード36とが固定されている。これらレーザーチップ3
5とフォトダイオード36を載置した基台34をカバー
するようにしてキャップ37がステム33に取り付けら
れ、キャップ37の先端面にはレーザフロントビームL
a,Lbを通過する窓38が設けられている。また、そ
のバックビームLa’,Lb’をフォトダイオードPD
36が受光している。一方、ステム33の逆側の面に
は、レーザーチップ35とフォトダイオード36を図示
しないレーザー駆動制御系に接続するための通電端子3
9が設けられている。なお、レーザーチップ35とフォ
トダイオード36の光送受信部30を1チップで構成し
てもよいことは勿論である。
FIG. 2 shows each of the laser diodes LD1 and LD2.
FIG. 4 is a conceptual perspective view in a case where a photodiode PD and a photodiode PD are integrated. On one surface of the stem 33, a base 34 is provided perpendicular to the base of the stem 33.
A laser chip 35 having a and 35b and a photodiode 36 are fixed. These laser chips 3
A cap 37 is attached to the stem 33 so as to cover the base 34 on which the photodiode 5 and the photodiode 36 are mounted.
A window 38 passing through a and Lb is provided. Further, the back beams La ′ and Lb ′ are transferred to the photodiode PD.
36 is receiving light. On the other hand, on the surface on the opposite side of the stem 33, there are energized terminals 3 for connecting the laser chip 35 and the photodiode 36 to a laser drive control system (not shown).
9 are provided. It is needless to say that the laser transceiver 35 and the light transmitting / receiving unit 30 of the photodiode 36 may be configured as one chip.

【0015】図3に本発明による第1の実施形態を示
す、レーザスキャナユニットの機能説明図を示してい
る。LDはマルチビームレーザダイオードを表わす。マ
ルチビームレーザダイオードLDからのレーザ放射光
は、コリメータレンズ17で平行光に変換され、シリン
ドリカルレンズ18に入射される。19はポリゴンミラ
ーで、不図示のスピンドルモータで矢印Mの方向に回転
している。20はfθレンズと倒れ補正レンズを組み合
わせた複合レンズで、感光体ドラム24上のレーザスポ
ット径、走査速度を決めている。また、21は折り返し
ミラー、22は結像レンズである。23は画像形成の主
走査方向の走査開始前のレーザー光を検出してポリゴン
ミラー19の回転速度と同期する同期信号を検出して、
基準位置検出とする光検出センサ(以後BDセンサーと
称す)である。ここで、折り返しミラー21、結像レン
ズ22を介して入射されたレーザ光を検出し、主走査方
向の画像書き出し信号を発生する。
FIG. 3 is a functional explanatory view of a laser scanner unit according to a first embodiment of the present invention. LD represents a multi-beam laser diode. Laser radiation light from the multi-beam laser diode LD is converted into parallel light by a collimator lens 17 and is incident on a cylindrical lens 18. A polygon mirror 19 is rotated by a spindle motor (not shown) in the direction of arrow M. Reference numeral 20 denotes a compound lens combining an fθ lens and a tilt correction lens, which determines the laser spot diameter and the scanning speed on the photosensitive drum 24. Reference numeral 21 denotes a folding mirror, and reference numeral 22 denotes an imaging lens. 23 detects a laser beam before the start of scanning in the main scanning direction of image formation, detects a synchronization signal synchronized with the rotation speed of the polygon mirror 19,
It is a light detection sensor (hereinafter referred to as a BD sensor) for detecting a reference position. Here, the laser beam incident through the folding mirror 21 and the imaging lens 22 is detected, and an image writing signal in the main scanning direction is generated.

【0016】以下、図4のタイミングチャートに沿っ
て、本発明の第1の実施形態の動作について説明する。
時刻t0で、アナログスイッチ1,2を信号9,10で
オン状態にする。レーザオン信号5,6でトランジスタ
3,4をオン状態にする。スイッチ回路13,14をサ
ンプルモード(S)を示すハイレベルとしてオンし、エ
ラー検出アンプ11,12の出力電圧をサンプルホール
ドコンデンサ15,16に蓄積してサンプル状態にす
る。この時点でポリゴンミラー19は規定回転数になっ
ている。レーザダイオードLD1,LD2の電流が徐々
に増加し、発光光量が増加してゆき、フォトダイオード
PDの電流が増加していく。この際、レーザダイオード
LD1,LD2のバックビームをフォトダイオードPD
が検出して、レーザ光量が判る。しかし、フォトダイオ
ードPDの応答速度が遅いため、例えばせいぜい数百K
Hzの応答で、レーザ電流を急激に上昇させると、レー
ザが、レーザが過大発光しても、フォトダイオードPD
はまだ応答していない状態が生じてしまう。これは、レ
ーザ破壊の一因になる。従って、APCにおいては、レ
ーザダイオードLDに流す電流を徐々に上昇させていく
必要がある。本実施形態では、サンプルホールドコンデ
ンサ回路がレーザダイオードLDの電流上昇を抑えてい
ます。なお、印字時の高速スイッチング時は、定電流モ
ード(ホールドモード)になっているので問題はない。
Hereinafter, the operation of the first embodiment of the present invention will be described with reference to the timing chart of FIG.
At time t0, the analog switches 1 and 2 are turned on by the signals 9 and 10. The transistors 3 and 4 are turned on by the laser-on signals 5 and 6. The switch circuits 13 and 14 are turned on at a high level indicating the sample mode (S), and the output voltages of the error detection amplifiers 11 and 12 are accumulated in the sample and hold capacitors 15 and 16 to enter a sample state. At this point, the polygon mirror 19 has reached the specified rotation speed. The currents of the laser diodes LD1 and LD2 gradually increase, the amount of emitted light increases, and the current of the photodiode PD increases. At this time, the back beam of the laser diodes LD1 and LD2 is
To detect the amount of laser light. However, since the response speed of the photodiode PD is slow, for example, at most several hundred K
When the laser current is sharply increased in response to the Hz, even if the laser emits excessive light, the photodiode PD
Will not respond yet. This contributes to laser destruction. Therefore, in APC, it is necessary to gradually increase the current flowing through the laser diode LD. In this embodiment, the sample and hold capacitor circuit suppresses a rise in the current of the laser diode LD. At the time of high-speed switching at the time of printing, there is no problem because the mode is the constant current mode (hold mode).

【0017】このサンプルモードにおいては、LD1,
2の光量が増加し、フォトダイオードPDの電流が増加
してゆけば、調整用抵抗VR1,VR2の端子電圧が増
加し、エラー検出アンプ11,12の反転端子の電圧が
増加し、基準電圧Vref近傍でエラー検出アンプ11,
12の出力が減少し、そのエラー検出アンプ11,12
の出力に応じて可変定電流源7,8の電流値が減少し、
LD1,LD2の電流が減少し、LD1,LD2の発光
光量が減少してゆき、かかるAPC回路のループ回路に
よって、LD1,LD2の発光光量が一定に保持され
る。
In this sample mode, LD1,
2, the current of the photodiode PD increases, the terminal voltages of the adjustment resistors VR1 and VR2 increase, the voltages of the inverting terminals of the error detection amplifiers 11 and 12 increase, and the reference voltage Vref Near the error detection amplifier 11,
12 decreases, the error detection amplifiers 11, 12
The current values of the variable constant current sources 7 and 8 decrease according to the output of
The currents of LD1 and LD2 decrease, and the light emission amounts of LD1 and LD2 decrease, and the light emission amounts of LD1 and LD2 are kept constant by the loop circuit of the APC circuit.

【0018】時刻t1でBDセンサー23がLD1のレ
ーザ光を検出する。レーザ光を利用した記録装置におい
て、通常、記録時のレーザ光量>BD検出可能なレーザ
光量の関係式が成立している。本実施形態ではBDセン
サー23にはLD1のレーザ光を検出する部分と、LD
2のレーザ光を検出する部分と2箇所存在する構成にな
っている。また、本実施形態ではLD1のレーザ光の方
が早く基準のBDセンサー検出レベルになっている。な
お、図4から、LD2のレーザ光が先にBDセンサーに
検出される例は容易に類推できる。また、LD1,LD
2のレーザ光をBDセンサー23の1つの光検出部が同
時に検出する構成も容易に類推できる。
At time t1, the BD sensor 23 detects the laser beam from the LD1. In a recording apparatus using laser light, a relational expression of laser light quantity at the time of recording> laser light quantity capable of BD detection is normally established. In this embodiment, the BD sensor 23 includes a portion for detecting the laser beam of the LD 1,
There are two laser beam detecting portions and two portions. Further, in this embodiment, the laser beam of the LD 1 has the reference BD sensor detection level earlier. From FIG. 4, an example in which the laser beam of the LD 2 is detected by the BD sensor first can be easily analogized. LD1, LD
A configuration in which two light beams are simultaneously detected by one light detection unit of the BD sensor 23 can be easily analogized.

【0019】時刻t1でレーザダイオードLD2の印加
電流をホールドモードにするために、スイッチ回路14
がホールドモード(H)を示すローレベルとしてオフす
るとともに、LD2オンの信号6でトランジスタ4を非
導通として、レーザダイオードLD2をオフする。規定
時間経過後の時刻t2で、レーザダイオードLD1の印
加電流をホールドモードにするため、スイッチ回路13
をオフし、LD1オン信号5をオフしてトランジスタ3
を非導通としレーザLD1をオフにすると同時に、LD
2オン信号6をオンしスイッチ回路14をオンとして、
レーザダイオードLD2をオンし、サンプルモードにす
る。そうして、LD2のレーザ光が増し、BDセンサー
検出レベルに到達すると、時刻t3でレーザダイオード
LD2をオフし、レーザダイオードLD2をホールドモ
ードにする。
At time t1, the switch circuit 14 is used to set the current applied to the laser diode LD2 to the hold mode.
Turns off at a low level indicating the hold mode (H), and turns off the laser diode LD2 by turning off the transistor 4 by the signal 6 for turning on the LD2. At time t2 after the lapse of the specified time, the switch circuit 13 is switched to set the applied current of the laser diode LD1 to the hold mode.
Is turned off, the LD1 on signal 5 is turned off, and the transistor 3
Is turned off and the laser LD1 is turned off,
2 ON signal 6 is turned on and switch circuit 14 is turned on,
The laser diode LD2 is turned on to enter the sample mode. Then, when the laser light of LD2 increases and reaches the BD sensor detection level, at time t3, the laser diode LD2 is turned off and the laser diode LD2 is set to the hold mode.

【0020】この後、各レーザダイオードLD1,LD
2を交互にオン、オフを繰り返し、レーザダイオードL
D1,LD2の発光光量が規定光量に達する。その際、
アナログスイッチ1,2はそれぞれ、LD1がオンして
いる時にはアナログスイッチ1だけがオン、LD2がオ
ンしている時にはアナログスイッチ2だけがオンしてい
る。この際、レーザダイオードの供給電流と光量との関
係は、供給電流ILがしきい値電流Ith迄は発光せず、
しきい値電流IthからBD検出光量PBのときの供給電
流IBまで急激に電流増加と共に光量も増加し、供給電
流IBから規定光量PSのときの供給電流ISまでも電流
に応じて急激に光量も増加するが、供給電流が零からI
Bまでと、IBからISまでの電流値は明らかに前者が直
線性的に大きい。よって、複数のレーザを個別にAPC
を行った場合は、一般には、供給電流が零からISまで
の時間にレーザ数を乗算した時間が必要となるが、本実
施形態では、供給電流が零からIBまでの時間に、IBか
らISまでの時間にレーザ数を乗算した時間となって、
明らかに時間短縮が可能となり、ファーストプリント時
間短縮に寄与することは明らかである。
Thereafter, each of the laser diodes LD1, LD
2 is alternately turned on and off, and the laser diode L
The amount of light emitted from D1 and LD2 reaches the specified amount. that time,
When the LD1 is on, only the analog switch 1 is on, and when the LD2 is on, only the analog switch 2 is on. At this time, the relationship between the supply current and the light amount of the laser diode is such that the supply current IL does not emit light until the threshold current Ith,
From the threshold current Ith to the supply current IB when the BD detection light amount PB, the light amount also increases with the current sharply, and also from the supply current IB to the supply current IS when the specified light amount PS, the light amount also increases rapidly according to the current. Increase but the supply current from zero to I
The current values from B to IB and from B to IS are obviously linearly larger in the former. Therefore, multiple lasers can be individually
Is performed, it is generally necessary to multiply the time when the supply current is from zero to IS by the number of lasers. In the present embodiment, however, the time from when the supply current is zero to IB, the time from when IB to IS The number of lasers multiplied by the time until
Obviously, the time can be reduced, which contributes to the reduction of the first print time.

【0021】このように動作において、各発光個所のレ
ーザ発光を規定光量で感光体ドラム24を露光するため
に、最初の時刻t0に、すべてのレーザ発光個所に対し
て電流を印加し、全発光個所のレーザの印加時に、各レ
ーザをサンプルモードで自動光量制御を開始し、基準位
置光検出手段によるBD信号がレーザ光を検知した時点
t1で、半導体レーザの各発光個所に対して印加する電
流をホールドモードで固定し、その後時刻t2で、個々
の発光個所に対して、個別にサンプルモードで自動光量
制御を行うことによって、各レーザ発光点の光量を規定
光量にする時間を短縮することが可能となり、記録装置
のファーストプリント時間を短くすることができる。
In the above operation, in order to expose the photosensitive drum 24 with the specified amount of laser light at each light emitting point, a current is applied to all the laser light emitting points at the first time t0, and the total light emission is performed. At the time of application of the laser at each point, the automatic light intensity control of each laser is started in the sample mode, and the current applied to each light emitting point of the semiconductor laser at the time t1 when the BD signal is detected by the reference position light detecting means. Is fixed in the hold mode, and then at time t2, the individual light emitting points are individually subjected to automatic light amount control in the sample mode, thereby shortening the time required for setting the light amount of each laser light emitting point to the specified light amount. This makes it possible to shorten the first print time of the recording apparatus.

【0022】また、言い換えれば、各発光個所のレーザ
発光を感光体ドラムの露光に必要な規定光量にするため
に、最初の時刻t0に、すべてのレーザ発光個所に対し
て電流を印加し、全発光個所のレーザの印加時に、サン
プルモードで自動光量制御を開始し、光検出装置の検出
量情報を自動光量制御にフィードバックしない状態に
し、基準位置光検出手段がレーザ光を検知した時点で、
半導体レーザの各発光個所に対して印加する電流をホー
ルドモードで固定し、その後、検出装置の検出量情報を
自動光量制御にフィードバックし、個々の発光個所に対
して個別にサンプルモードで自動光量制御を行うことに
よって、各レーザ発光点の光量を規定光量にする時間を
短縮し、記録装置のファーストプリント時間を短くする
ことができる。
In other words, at the first time t0, a current is applied to all the laser light emitting points so that the laser light emitted from each light emitting point has a prescribed light amount necessary for exposing the photosensitive drum. At the time of application of the laser at the light emitting point, the automatic light amount control is started in the sample mode, the detection amount information of the photodetector is not fed back to the automatic light amount control, and when the reference position light detecting means detects the laser light,
The current applied to each light emitting point of the semiconductor laser is fixed in the hold mode, and then the detected amount information of the detector is fed back to the automatic light amount control, and the individual light emitting points are individually controlled in the sample mode for the automatic light amount control. By performing the above, it is possible to shorten the time for setting the light amount of each laser emission point to the specified light amount, and to shorten the first print time of the recording apparatus.

【0023】(第2の実施形態)図5に本発明による第
2の実施形態を示すタイミングチャートを記す。画像形
成装置の構成は第1の実施形態で説明した図1、図3と
同じである。
(Second Embodiment) FIG. 5 is a timing chart showing a second embodiment according to the present invention. The configuration of the image forming apparatus is the same as in FIGS. 1 and 3 described in the first embodiment.

【0024】図5において、時刻t0でアナログスイッ
チ1,2をオフ状態にし、その後は上記第1の実施形態
と同様に、レーザオン信号5,6でオン状態にする。ス
イッチ回路13,14をオンして、サンプルモード状態
にする。この時点でポリゴンミラー19は規定回転数に
なっている。レーザダイオードLD1,LD2の電流が
徐々に増加し、レーザダイオードLD1,LD2の光量
が増大してゆき、フォトダイオードPDの電流が増加し
ていく。
In FIG. 5, the analog switches 1 and 2 are turned off at time t0, and thereafter turned on by the laser on signals 5 and 6, as in the first embodiment. The switch circuits 13 and 14 are turned on to enter the sample mode state. At this point, the polygon mirror 19 has reached the specified rotation speed. The current of the laser diodes LD1 and LD2 gradually increases, the light amount of the laser diodes LD1 and LD2 increases, and the current of the photodiode PD increases.

【0025】時刻t1でBDセンサー23がLD1のレ
ーザ光を検出する。BDセンサー23がLD1のレーザ
光検出レベルになった時刻t1で、レーザダイオードL
D2の印加電流をホールドモードにするために、スイッ
チ回路14をオフするとともに、信号6でレーザダイオ
ードLD2をオフする。さらに、レーザダイオードLD
1は続けてサンプルモードであり、アナログスイッチ1
のオン信号9でアナログスイッチ1をオンし、フォトダ
イオードPDの検出電流を電流−電圧変換用調整抵抗V
R1に流し、レーザダイオードLD1のレーザ光量情報
をエラー検出アンプ11に伝える。エラー検出アンプ1
1は基準電圧Vrefと比較され、調整抵抗VR1の電圧
が大きくなったときにエラー検出アンプ11の出力はロ
ーレベルとなる。一方、フォトダイオードPDの検出電
流が小さいときは、調整抵抗VR1の電圧が小さく、エ
ラー検出アンプ11の出力は高いレベルであり、可変定
電流源7の電流吸収が最大であっても、LD1は即座に
高出力光量とはならず、フォトダイオードPDの検出電
流が徐々に大きくなる。
At time t1, the BD sensor 23 detects the laser beam of the LD1. At time t1 when the BD sensor 23 reaches the laser beam detection level of the LD1, the laser diode L
In order to set the applied current of D2 to the hold mode, the switch circuit 14 is turned off and the laser diode LD2 is turned off by the signal 6. Furthermore, a laser diode LD
1 is the sample mode continuously, and the analog switch 1
The analog switch 1 is turned on by the ON signal 9 of, and the detection current of the photodiode PD is adjusted by the current-voltage conversion adjusting resistor V.
Then, the laser beam is supplied to the error detection amplifier 11. Error detection amplifier 1
1 is compared with the reference voltage Vref, and when the voltage of the adjustment resistor VR1 increases, the output of the error detection amplifier 11 becomes low level. On the other hand, when the detection current of the photodiode PD is small, the voltage of the adjustment resistor VR1 is small, the output of the error detection amplifier 11 is at a high level, and even if the current absorption of the variable constant current source 7 is maximum, LD1 is The output light quantity does not immediately become high, and the detection current of the photodiode PD gradually increases.

【0026】規定時間経過後、時刻t2で、レーザダイ
オードLD1をスイッチ13をオフしてホールドモード
とし、レーザLD1のオン信号5をオフし、アナログス
イッチ1をオフにすると同時に、トランジスタ4をオン
してレーザダイオードLD2をオンし、アナログスイッ
チ2をオンし、サンプルモードにする。LD2のレーザ
光が増し、基準電圧VrefであるBDセンサー検出レベ
ルに到達すると、時刻t3でレーザダイオードLD2を
オフし、ホールドモードにする。この後、各レーザダイ
オードLD1,LD2を交互にオン、オフを繰り返し、
規定光量に達する。その際、アナログスイッチ1,2は
それぞれ、LD1がオンしている時には、アナログスイ
ッチ1だけがオンし、LD2がオンしている時にはアナ
ログスイッチ2だけがオンしている。
At the time t2 after the lapse of the prescribed time, the switch 13 of the laser diode LD1 is turned off to be in the hold mode, the ON signal 5 of the laser LD1 is turned off, the analog switch 1 is turned off, and at the same time, the transistor 4 is turned on. To turn on the laser diode LD2, turn on the analog switch 2, and enter the sample mode. When the laser beam of LD2 increases and reaches the BD sensor detection level, which is the reference voltage Vref, at time t3, the laser diode LD2 is turned off and enters the hold mode. Thereafter, the laser diodes LD1 and LD2 are alternately turned on and off alternately,
The specified amount of light is reached. At this time, when the LD1 is on, only the analog switch 1 is on, and when the LD2 is on, only the analog switch 2 is on.

【0027】本第2の実施形態では、初期にアナログス
イッチ1,2をオフし、レーザダイオードLD1,LD
2の光量情報をエラー検出アンプ11,12に伝えない
ため、エラー検出アンプ11,12のゲインが最大で維
持され、初期の電流の立ち上がりが早く、第1の実施形
態よりも、LD1,LD2のレーザ光量が速く規定値に
到達する。
In the second embodiment, the analog switches 1 and 2 are initially turned off, and the laser diodes LD1 and LD1 are turned off.
2 is not transmitted to the error detection amplifiers 11 and 12, the gains of the error detection amplifiers 11 and 12 are maintained at the maximum, the initial current rises faster, and the LD1 and LD2 of the LD1 and LD2 are faster than in the first embodiment. The laser light amount reaches the specified value quickly.

【0028】(第3の実施形態)図6に本発明の第3の
実施形態による画像形成装置の複数の半導体レーザを駆
動する駆動回路図を示す。図1と同一の部材には同一の
符号を付し、重複する説明を省略する。
(Third Embodiment) FIG. 6 shows a drive circuit diagram for driving a plurality of semiconductor lasers of an image forming apparatus according to a third embodiment of the present invention. The same members as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.

【0029】通常、画像形成装置において、感光体ドラ
ムの感度特性に応じて、レーザ光量の値を規定光量に設
定する必要がある。レーザスキャナユニットのレーザ光
量を、この規定光量に設定するために、まず基準となる
光センサーを感光体ドラム位置、又はレーザスポットが
焦点を結ばない感光体ドラム位置よりも少し手前に置い
てレーザ光を検出する。この基準となる光センサーで、
レーザ光が規定光量になった時点で、レーザ光を一定に
する制御を行う。
Normally, in the image forming apparatus, it is necessary to set the value of the laser light amount to a specified light amount according to the sensitivity characteristics of the photosensitive drum. In order to set the laser light amount of the laser scanner unit to this specified light amount, first place the reference optical sensor a little before the photosensitive drum position or the photosensitive drum position where the laser spot does not focus. Is detected. With this standard light sensor,
At the time when the laser light reaches the specified light amount, control is performed to make the laser light constant.

【0030】レーザ光が規定光量の時、内蔵のフォトダ
イオードの光電流を規定の電圧に変換すべく、調整用可
変抵抗の値を決める。その後、画像形成装置では、上記
内蔵のフォトダイオードの光電流を変換した規定電圧で
APC動作が行われ、レーザ光量が規定光量で一定に保
たれる。
When the laser beam has a specified light amount, the value of the adjusting variable resistor is determined so as to convert the photocurrent of the built-in photodiode into a specified voltage. Thereafter, in the image forming apparatus, the APC operation is performed at the specified voltage obtained by converting the photocurrent of the built-in photodiode, and the laser light amount is kept constant at the specified light amount.

【0031】複数の発光個所を有する半導体マルチビー
ムレーザに関して、以下に調整用可変抵抗の調整方法を
説明する。
A method for adjusting the adjusting variable resistor will be described below with respect to a semiconductor multi-beam laser having a plurality of light emitting points.

【0032】図6において、抵抗25、可変抵抗VR3
で基準電圧Vref 2の電圧を分圧し、エラー検出アンプ
12の基準電圧としている。まず、レーザLD1のオン
信号5によりトランジスタ3をオンして、レーザダイオ
ードLD1だけをオンする。レーザダイオードLD1の
レーザ光量を不図示の光センサーで検出し、規定光量に
なった時点で可変抵抗VR1を調整し、エラー検出アン
プ11の基準電圧Vref と等しくする。次にレーザダイ
オードLD1をオフし、レーザダイオードLD2をオン
する。レーザダイオードLD2のレーザ光量を不図示の
光センサーで検出し、規定光量となった時点で可変抵抗
VR3を調整してエラー検出アンプ12の2つの入力を
等しくする。
In FIG. 6, a resistor 25 and a variable resistor VR3
Divides the voltage of the reference voltage Vref 2 and uses it as the reference voltage of the error detection amplifier 12. First, the transistor 3 is turned on by the on signal 5 of the laser LD1, and only the laser diode LD1 is turned on. The laser light amount of the laser diode LD1 is detected by an optical sensor (not shown), and when the light amount reaches a specified value, the variable resistor VR1 is adjusted to be equal to the reference voltage Vref of the error detection amplifier 11. Next, the laser diode LD1 is turned off, and the laser diode LD2 is turned on. The amount of laser light from the laser diode LD2 is detected by an optical sensor (not shown), and when the amount of light reaches the specified amount, the variable resistor VR3 is adjusted to equalize the two inputs of the error detection amplifier 12.

【0033】別の調整方法としては、可変抵抗VR1を
最大値付近に設定し、レーザダイオードLD1だけをオ
ンする。スイッチ回路13をオンし、APCを開始す
る。徐々に可変抵抗VR1の抵抗値を減少させていき、
不図示の光センサーのレーザ光量検出値が規定値になっ
た時点で可変抵抗VR1の調整を止める。
As another adjustment method, the variable resistor VR1 is set near the maximum value, and only the laser diode LD1 is turned on. The switch circuit 13 is turned on to start APC. The resistance value of the variable resistor VR1 is gradually reduced,
The adjustment of the variable resistor VR1 is stopped when the laser light amount detection value of the optical sensor (not shown) reaches a specified value.

【0034】次に可変抵抗VR3を最小値付近に設定、
レーザダイオードLD1をオフし、レーザダイオードL
D2をオンする。スイッチ回路14をオンし、APCを
開始する。徐々に可変抵抗VR3の抵抗値を増加させて
いき、不図示の光センサーのレーザ光量検出値が規定値
になった時点で、可変抵抗VR3の調整を止める。
Next, the variable resistor VR3 is set near the minimum value,
The laser diode LD1 is turned off, and the laser diode L
Turn on D2. The switch circuit 14 is turned on to start APC. The resistance of the variable resistor VR3 is gradually increased, and the adjustment of the variable resistor VR3 is stopped when the laser light amount detection value of the optical sensor (not shown) reaches a specified value.

【0035】本調整を行うことにより、レーザダイオー
ドLD1,LD2のレーザ光量を精度良く安全に規定光
量に調整することができる。
By performing this adjustment, the laser light amount of the laser diodes LD1 and LD2 can be accurately and safely adjusted to the specified light amount.

【0036】こうして、第1のレーザ発光個所LD1
と、第2のレーザ発光個所LD2を有する半導体マルチ
ビームレーザによって、光検出装置であるフォトダイオ
ードPDの検出電流を電圧に変換する第1の調整用可変
抵抗VR1を有し、第1の調整用可変抵抗VR1で変換
された電圧と基準電圧Vrefを比較する比較手段を有
し、基準電圧を調整するための第2の調整用可変抵抗V
R3を有し、前記第1の発光個所のレーザ光量を前記第
1の調整用可変抵抗VR1で調整し、前記第2の発光個
所のレーザ光量を前記第2の調整用可変抵抗VR3で調
整することにより、その後レーザダイオードLD1,L
D2のレーザ光量を精度良く、安全に規定光量に調整す
ることができるとともに、APC動作時に各レーザダイ
オードの光量安定性を増加することができる。
Thus, the first laser emission point LD1
And a first adjusting variable resistor VR1 for converting a detection current of a photodiode PD as a photodetector into a voltage by a semiconductor multi-beam laser having a second laser emission point LD2. A second adjusting variable resistor for adjusting the reference voltage, comprising comparing means for comparing the voltage converted by the variable resistor VR1 with the reference voltage Vref;
R3, the amount of laser light at the first light emitting point is adjusted by the first adjusting variable resistor VR1, and the amount of laser light at the second light emitting point is adjusted by the second adjusting variable resistor VR3. Then, the laser diodes LD1, L
The laser light amount of D2 can be accurately and safely adjusted to the specified light amount, and the light amount stability of each laser diode during the APC operation can be increased.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のレーザ駆
動方式によれば、マルチビームを用いた記録装置におい
て、各レーザ発光点を規定光量にする時間を短縮、ファ
ーストプリント時間の短い記録装置を提供することが可
能となる。
As described above, according to the laser driving method of the present invention, in a recording apparatus using a multi-beam, the time required to set each laser emission point to a specified light amount is reduced, and the recording apparatus having a short first print time is used. Can be provided.

【0038】また、本発明のレーザ光調整方法によれ
ば、マルチビームレーザを用いた記録装置において、各
レーザ発光点のレーザ光量を精度良く、安全に調整する
ことが可能となる。
Further, according to the laser beam adjusting method of the present invention, in a recording apparatus using a multi-beam laser, it is possible to accurately and safely adjust the amount of laser light at each laser emission point.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態に係るレーザ駆動回路
の機能説明図である。
FIG. 1 is a functional explanatory diagram of a laser drive circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施形態に係るレーザ部の外観
図である。
FIG. 2 is an external view of a laser unit according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1の実施形態に係るレーザスキャナ
ユニットの機能説明図である。
FIG. 3 is a functional explanatory diagram of the laser scanner unit according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1の実施形態に係るタイミングチャ
ートである。
FIG. 4 is a timing chart according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第2の実施形態に係るタイミングチャ
ートである。
FIG. 5 is a timing chart according to a second embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第3の実施形態に係るレーザ駆動回路
の機能説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of functions of a laser drive circuit according to a third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1D1 レーザダイオード LD2 レーザダイオード PD フォトダイオード VR1 調整用可変抵抗 VR2 調整用可変抵抗 VR3 調整用可変抵抗 Vref 基準電圧 Vref 2 基準電圧 1 アナログスイッチ 2 アナログスイッチ 3 スイッチングトランジスタ 4 スイッチングトランジスタ 7 電流源 8 電流源 11 エラー検出アンプ 12 エラー検出アンプ 13 スイッチ回路 14 スイッチ回路 15 サンプルホールドコンデンサ 16 サンプルホールドコンデンサ 17 コリメータレンズ 18 シリンドリカルレンズ 19 ポリゴンミラー 20 複合レンズ 21 折り返しミラー 22 結像レンズ 23 BDセンサー 24 感光体ドラム 35 レーザチップ 36 フォトダイオード 38 照射窓 39 入出力ピン 1D1 Laser diode LD2 Laser diode PD Photodiode VR1 Adjustable variable resistor VR2 Adjustable variable resistor VR3 Adjustable variable resistor Vref Reference voltage Vref 2 Reference voltage 1 Analog switch 2 Analog switch 3 Switching transistor 4 Switching transistor 7 Current source 8 Current source 11 Error detection amplifier 12 Error detection amplifier 13 Switch circuit 14 Switch circuit 15 Sample hold capacitor 16 Sample hold capacitor 17 Collimator lens 18 Cylindrical lens 19 Polygon mirror 20 Composite lens 21 Folding mirror 22 Imaging lens 23 BD sensor 24 Photoconductor drum 35 Laser chip 36 Photodiode 38 Irradiation window 39 I / O pin

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H04N 1/23 103 H04N 1/04 104A ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI H04N 1/23 103 H04N 1/04 104A

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の発光個所を有する半導体レーザ
と、前記半導体レーザの個々のバックビームを検出する
1つの光検出装置と、前記半導体レーザと光検出装置が
一体化された半導体レーザユニットと、前記光検出装置
の出力を規定値にするためのサンプルホールド方式の自
動光量制御を有するレーザ駆動回路と、レーザ光をラス
タースキャンニングする回転多面鏡と、走査されたレー
ザ光の位置を検出する基準位置光検出手段とを有するレ
ーザスキャナユニットにおいて、 前記各発光個所のレーザ発光を規定光量にするために、
最初にすべてのレーザ発光個所に対して電流を印加し、
本印加時にサンプルモードで自動光量制御を開始し、前
記基準位置光検出手段がレーザ光を検知した時点で、前
記半導体レーザの内1つの発光個所を除いて前記各発光
個所に対して印加する電流を前記ホールドモードで固定
し、その後個々の発光個所に対して個別に前記サンプル
モードで自動光量制御を行うことを特徴とするレーザ駆
動方式。
A semiconductor laser having a plurality of light-emitting portions; one photodetector for detecting individual back beams of the semiconductor laser; a semiconductor laser unit in which the semiconductor laser and the photodetector are integrated; A laser driving circuit having a sample-and-hold type automatic light amount control for setting the output of the light detection device to a specified value, a rotary polygon mirror for raster-scanning the laser light, and a reference for detecting the position of the scanned laser light In a laser scanner unit having position light detection means, in order to make the laser light emission at each of the light emission locations a prescribed light amount,
First, current is applied to all laser emission points,
Automatic light quantity control is started in the sample mode at the time of this application, and when the reference position light detecting means detects the laser light, the current applied to each of the light emitting points except for one light emitting point of the semiconductor laser. Is fixed in the hold mode, and thereafter, automatic light intensity control is individually performed in the sample mode for each light emitting portion.
【請求項2】 請求項1記載のレーザ駆動方式におい
て、前記レーザスキャナニットについて、前記各発光個
所のレーザ発光を前記規定光量にするために、最初にす
べてのレーザ発光個所に対して電流を印加し、本印加時
にサンプルモードで自動光量制御を開始し、前記光検出
装置の検出量情報を前記自動光量制御にフィードバック
しない状態にし、前記基準位置光検出手段がレーザ光を
検知した時点で、前記半導体レーザの内1つの発光個所
を除いて各発光個所に対して印加する電流をホールドモ
ードで固定し、その後前記検出装置の検出量情報を前記
自動光量制御にフィードバックし、前記個々の発光個所
に対して個別に前記サンプルモードで自動光量制御を行
うことを特徴とするレーザ駆動方式。
2. The laser driving method according to claim 1, wherein a current is first applied to all the laser light emitting portions of the laser scanner unit so that the laser light emitted from each of the light emitting portions has the specified light amount. Then, the automatic light amount control is started in the sample mode at the time of the main application, and the detection amount information of the photodetector is set not to be fed back to the automatic light amount control, and at the time when the reference position light detection unit detects the laser light, The current applied to each light emitting point is fixed in a hold mode except for one light emitting point of the semiconductor laser, and thereafter, the detection amount information of the detection device is fed back to the automatic light amount control, and the individual light emitting points A laser driving method wherein automatic light amount control is individually performed in the sample mode.
【請求項3】 複数の発光個所を有する半導体レーザ
と、前記半導体レーザの個々のバックビームを検出する
1つの光検出装置と、前記半導体レーザと光検出装置が
一体化された半導体レーザユニットと、前記光検出装置
の出力を規定値にするためのサンプルホールド方式の自
動光量制御を有するレーザ駆動回路と、レーザ光をラス
タースキャンニングする回転多面鏡と、走査されたレー
ザ光の位置を検出する基準位置光検出手段とを有するレ
ーザスキャナユニットにおいて、 第1のレーザ発光個所と、第2のレーザ発光個所を有す
る半導体マルチビームレーザと、前記光検出装置である
フォトダイオードの検出電流を電圧に変換する第1の調
整用可変抵抗とを有し、前記第1の調整用可変抵抗で変
換された電圧と基準電圧を比較する比較手段を有し、前
記基準電圧を調整するための第2の調整用可変抵抗を有
し、前記第1の発光個所のレーザ光量を前記第1の調整
用可変抵抗で調整し、前記第2の発光個所のレーザ光量
を前記第2の調整用可変抵抗で調整することを特徴とし
たレーザ光量調整方法。
3. A semiconductor laser having a plurality of light emitting portions, one photodetector for detecting individual back beams of the semiconductor laser, a semiconductor laser unit in which the semiconductor laser and the photodetector are integrated, A laser driving circuit having a sample-and-hold type automatic light amount control for setting the output of the light detection device to a specified value, a rotary polygon mirror for raster-scanning the laser light, and a reference for detecting the position of the scanned laser light In a laser scanner unit having position light detecting means, a detection current of a semiconductor multi-beam laser having a first laser light emission point, a second laser light emission point, and a photodiode serving as the light detection device is converted into a voltage. A first adjusting variable resistor, and a comparator for comparing a voltage converted by the first adjusting variable resistor with a reference voltage; A second adjusting variable resistor for adjusting the reference voltage; adjusting a laser light amount at the first light emitting point by the first adjusting variable resistor; A method for adjusting the amount of laser light, wherein the amount of laser light at a location is adjusted by the second variable resistor for adjustment.
【請求項4】 複数の発光個所を有する半導体レーザ
と、前記半導体レーザの個々のバックビームを検出する
1つの光検出装置と、前記半導体レーザと前記光検出装
置が一体化された半導体レーザユニットと、前記光検出
装置の出力を規定値にするためのサンプルホールド方式
の自動光量制御を有するレーザ駆動回路と、レーザ光を
ラスタースキャンニングする回転多面鏡と、該回転多面
鏡で走査されたレーザ光の同期信号を検出する基準同期
検出手段とを有する画像形成装置において、 前記各発光個所のレーザ発光を規定光量にするために、
前記各半導体レーザ毎に該発光光量を安定化するAPC
回路を備え、最初にすべての前記APC回路を動作さ
せ、前記光検出装置が前記レーザ発光を検出したときか
ら、最初に検出した前記APC回路毎にサンプルモード
としてAPC動作させ且つ他のAPC回路がホールドモ
ードとして動作させることを特徴とする画像形成装置。
4. A semiconductor laser having a plurality of light-emitting portions, one photodetector for detecting individual back beams of the semiconductor laser, and a semiconductor laser unit in which the semiconductor laser and the photodetector are integrated. A laser drive circuit having a sample-and-hold type automatic light amount control for setting the output of the photodetector to a specified value, a rotary polygon mirror for raster-scanning the laser beam, and a laser beam scanned by the rotary polygon mirror In the image forming apparatus having a reference synchronization detecting means for detecting the synchronization signal of, in order to make the laser emission of each light emitting location to a specified light amount,
APC for stabilizing the amount of emitted light for each of the semiconductor lasers
A circuit, and first operate all the APC circuits, and from the time when the photodetector detects the laser emission, perform the APC operation as a sample mode for each of the first detected APC circuits, and perform the other APC circuits. An image forming apparatus that operates in a hold mode.
【請求項5】 複数の発光個所を有する半導体レーザ
と、前記半導体レーザの個々のバックビームを検出する
1つの光検出装置と、前記半導体レーザと光検出装置が
一体化された半導体レーザユニットと、前記光検出装置
の出力を規定値にするためのサンプルホールド方式の自
動光量制御を有するレーザ駆動回路と、レーザ光をラス
タースキャンニングする回転多面鏡と、走査されたレー
ザ光の同期信号を検出する基準同期検出手段とを有する
画像形成装置において、 前記各半導体レーザ毎に該発光光量を安定化し基準電圧
を調整する可変抵抗を具備するAPC回路を備え、最初
にすべての前記APC回路を動作させ、前記光検出装置
が前記レーザ発光を検出したときから、最初に検出した
前記APC回路毎にサンプルモードとしてAPC動作さ
せて前記可変抵抗を調節し且つ他のAPC回路がホール
ドモードとして動作させることを特徴とする画像形成装
置。
5. A semiconductor laser having a plurality of light emitting portions, one photodetector for detecting individual back beams of the semiconductor laser, a semiconductor laser unit in which the semiconductor laser and the photodetector are integrated, A laser driving circuit having a sample-and-hold type automatic light quantity control for setting the output of the photodetector to a specified value, a rotary polygon mirror for raster-scanning the laser light, and detecting a synchronization signal of the scanned laser light An image forming apparatus having a reference synchronization detecting means, comprising: an APC circuit having a variable resistor that stabilizes the amount of emitted light and adjusts a reference voltage for each of the semiconductor lasers; first, all the APC circuits are operated; The APC operation is performed as a sample mode for each of the first detected APC circuits from when the light detection device detects the laser emission. And then adjusting the variable resistor by the image forming apparatus other APC circuit is characterized in that to operate as a hold mode.
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US7738005B2 (en) 2005-05-12 2010-06-15 Canon Kabushiki Kaisha Image forming apparatus

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