JPH1092184A - 強誘電体メモリの制御方法および制御回路 - Google Patents

強誘電体メモリの制御方法および制御回路

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JPH1092184A
JPH1092184A JP8242763A JP24276396A JPH1092184A JP H1092184 A JPH1092184 A JP H1092184A JP 8242763 A JP8242763 A JP 8242763A JP 24276396 A JP24276396 A JP 24276396A JP H1092184 A JPH1092184 A JP H1092184A
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JP
Japan
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level
power supply
circuit
fixed
line
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Application number
JP8242763A
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English (en)
Inventor
Tetsuyuki Fukushima
哲之 福島
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電源投入時に強誘電体メモリの内容を破壊し
ないような制御方法および制御回路を提供することを目
的とする。 【解決手段】 電位安定化回路30は、電源が安定する
までの間、ワード線の電位を”L”に固定することによ
り、強誘電体記憶素子に記憶されたデータを破壊しない
ようにするものである。これにより、ワード線を”L”
に固定しN型MOSトランジスタがオフされるため、強
誘電体記憶素子の一端をハイインピーダンスに固定する
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電源投入時に強誘
電体メモリの内容を破壊しないような制御方法、制御回
路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、強誘電体からなる記憶素子を用い
た強誘電体メモリが注目されている。
【0003】この強誘電体メモリの大きな特徴は、RA
M(ランダム・アクセス・メモリ)として使用した場
合、書き換え・読みだし可能であり、かつ電源をオフに
しても記憶内容を保持できることにある。
【0004】以下、従来の強誘電体メモリの制御方法に
ついて説明する。図4は強誘電体メモリの回路図であ
り、1、2は強誘電体記憶素子、3、4は強誘電体記憶
素子1、2と接続されたN型MOSトランジスタ、5、
6は強誘電体記憶素子1、2に記憶するデータを入力す
るビット線、7はMOS型トランジスタ3、4を制御し
強誘電体記憶素子1、2にデータを書き込むためのワー
ド線、8は強誘電体記憶素子1、2にデータを入力する
とき基準電位を決定するセルプレート電極である。
【0005】図5は強誘電体メモリの制御回路であり、
20はチップイネーブル線、21はチップイネーブル線
20の信号を反転して出力する反転回路、22は反転回
路21の出力と接続されているOR回路、23は反転回
路21の出力と接続されているAND回路である。
【0006】従来、図4の強誘電体メモリのワード線7
は図5の強誘電体メモリの制御回路のOR回路22の出
力によって制御され、図4のセルプレート電極8は図5
のAND回路23の出力によって制御されていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の強誘電体メモリの制御方法では、電源投入時に電源
が不安定なため強誘電体記憶素子に逆バイアスが印加さ
れ、記憶内容が破壊されてしまうことがあった。
【0008】具体的には、半導体の構造を考えた場合、
図5に示す各論理回路の入力信号線は供給電源または接
地電源と容量により接続されてしまう。このため、図6
に示すようにt0〜t1までの電源投入時等の電源電圧が
不安定な状態では、入力信号線が供給電源または接地電
源のいずれかにより大きな容量を介して接続されている
かによって、その入力信号線の電位が決定されてしま
う。この結果、ビット線5を”H”、セルプレート電極
8を”L”として強誘電体記憶素子1、2にデータを記
憶していたにも関わらず、ビット線5が”L”、セルプ
レート電極8が”H”となってしまい、データが破壊さ
れてしまうことがあった。
【0009】本発明は、電源投入時等の電源が不安定な
状態においても、記憶データが破壊されないような強誘
電体記憶装置の制御方法および制御回路を提供すること
を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明は、電源投入時にメモリセルの両端電極の内少
なくとも一方の電極をハイインピーダンスに制御するよ
うに構成したものである。
【0011】
【発明の実施の形態】本願発明は、電源が安定するまで
の間、強誘電体からなる記憶素子の少なくとも一端をハ
イインピーダンスに制御することを特徴とする強誘電体
メモリの制御方法および制御回路であり、強誘電体記憶
素子のハイインピーダンスに制御された一端の電位が、
他端の電位に追従するという作用を有する。
【0012】以下、本発明の実施の形態について、図面
を用いて説明する。 (実施の形態1)図1は、本発明の一実施の形態を示す
回路図である。同図において、30は電位安定化回路で
あり、32は供給電源、33は接地電源、34はMOS
トランジスタ、35は供給電源32とMOSトランジス
タ34のゲートとの間に接続されたコンデンサ、36は
MOSトランジスタ34のゲートと接地電源33との間
に接続された抵抗であり、電位安定化回路30は図4に
示すワード線7の電位を安定にするものである。なお、
図5に示す従来の強誘電体メモリの制御回路と同一の回
路については、図5と同一の符号を付してある。
【0013】本発明の一実施の形態における電位安定化
回路30は、電源が安定するまでの間、それぞれワード
線7の電位を”L”に固定することにより、強誘電体記
憶素子1、2に記憶されたデータを破壊しないようにす
るものである。
【0014】すなわち、ワード線7を”L”に固定する
ことによりN型MOSトランジスタ3、4がオフされる
ため、強誘電体記憶素子1、2の一端をハイインピーダ
ンスに固定することができる。
【0015】具体的には、電源投入時から電源が安定す
るまでの間、供給電源32は交流的な変化を示すためコ
ンデンサ35は短絡と考えることができ、N型MOSト
ランジスタ34はオンし、ワード線7は接地電源33に
より”L”に固定される。
【0016】その後、電源が安定すると供給電源32は
ある一定の値をとり直流とみなせるため、コンデンサ3
5は開放と考えることができ、コンデンサ35に蓄積さ
れた電荷は抵抗36により接地電源33に放電される。
これにより、電源が安定した後は、ワード線7の電位に
影響を与えることはなくなる。
【0017】但し、以上のような動作を実現するために
は、コンデンサ35、抵抗36の値を適切に設定する必
要がある。
【0018】つまり、コンデンサ35は、N型MOSト
ランジスタ34のゲートに寄生する容量よりも大きくな
ければならない。また、コンデンサ35の容量値と抵抗
36の抵抗値との積である時定数は、電源投入時からN
型MOSトランジスタ34がオンし、ワード線7を”
L”に固定するのに必要な時間を決定するものであるた
め、ある程度大きくする必要がある。
【0019】次に、具体的な動作を図1、2を用いて説
明する。図1に示す回路は遅延素子D1〜D4を用い
て、ワード線7とセルプレート電極8のタイミングを保
証(例えば、遅延時間D1のうちにアドレスを確定す
る)するものである。
【0020】t0〜t1までの電源が安定するまでの間、
電位安定化回路30により、ワード線7は”L”に固定
される(図2参照)。
【0021】t2においてチップイネーブル線20が”
L”になると、遅延時間D1経過後のt3にOR回路2
2によってワード線7は”H”となる。さらに、遅延時
間D3経過後のt4にAND回路23によってセルプレ
ート電極8は”H”となる。
【0022】次に、t5においてチップイネーブル線2
0が”H”になると、遅延時間D4経過後のt6にセル
プレート電極8は”L”、遅延時間(D1+D2)経過
後のt7にワード線7が”L”になる。
【0023】(実施の形態2)図3は、本発明の他の実
施の形態を示す回路図である。同図において、40はプ
ルアップ回路であり、供給電源41が抵抗42を介して
チップイネーブル線20に接続されている。
【0024】プルアップ回路40はチップイネーブル線
20を”H”に固定し、ワード線7を”L”に固定する
ものである。
【0025】すなわち、プルアップ回路40は、電源が
安定するまでの間、チップイネーブル線を弱い”H”に
固定する。その後、電源が安定すると、プルアップ回路
40が出力する”H”は弱いため、これに妨げられるこ
となくチップイネーブル線20のレベルは前段の出力に
より決定される。
【0026】このため、抵抗42の抵抗値は、大きめに
設定しプルアップ回路40の駆動能力を小さくしておく
必要がある。
【0027】なお、具体的な動作は、図2に示す図1の
強誘電体メモリの制御回路と同一である。
【0028】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、電源投入
時にメモリセルの両電極間に電位差は生じないのでメモ
リセルのデータ破壊を防止できるという効果が得られ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における強誘電体メモリ
の制御回路の回路図
【図2】本発明の一実施の形態における強誘電体メモリ
の制御回路のタイミングチャート
【図3】本発明の他の実施の形態における強誘電体メモ
リの制御回路の回路図
【図4】強誘電体メモリの回路図
【図5】従来の強誘電体メモリの制御回路の回路図
【図6】従来の強誘電体メモリの制御回路のタイミング
チャート
【符号の説明】
20 チップイネーブル線 21 反転回路 22 OR回路 23 AND回路 30 電位安定化回路 32 供給電源 33 接地電源 34 MOSトランジスタ 35 コンデンサ 36 抵抗 40 プルアップ回路 41 供給電源 42 抵抗

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源が安定するまでの間、強誘電体から
    なる記憶素子の少なくとも一端をハイインピーダンスに
    制御することを特徴とする強誘電体メモリの制御方法。
  2. 【請求項2】 電源が安定するまでの間、強誘電体から
    なる記憶素子の少なくとも一端をハイインピーダンスに
    制御することを特徴とする強誘電体メモリの制御回路。
  3. 【請求項3】 強誘電体からなる記憶素子の少なくとも
    一端がMOS型トランジスタを介して入力端子に接続さ
    れている強誘電体メモリに対して、 電源が安定するまでの間、前記MOS型トランジスタを
    オフすることにより前記強誘電体からなる記憶素子の少
    なくとも一端をハイインピーダンスに制御することを特
    徴とする強誘電体メモリの制御方法。
  4. 【請求項4】 強誘電体からなる記憶素子の少なくとも
    一端がMOS型トランジスタを介して入力端子に接続さ
    れている強誘電体メモリに対して、 電源が安定するまでの間、前記MOS型トランジスタを
    オフすることにより前記強誘電体からなる記憶素子の少
    なくとも一端をハイインピーダンスに制御することを特
    徴とする強誘電体メモリの制御回路。
JP8242763A 1996-09-13 1996-09-13 強誘電体メモリの制御方法および制御回路 Pending JPH1092184A (ja)

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