JPH1090336A - 周波数発生器の自動試験装置 - Google Patents
周波数発生器の自動試験装置Info
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- JPH1090336A JPH1090336A JP9242414A JP24241497A JPH1090336A JP H1090336 A JPH1090336 A JP H1090336A JP 9242414 A JP9242414 A JP 9242414A JP 24241497 A JP24241497 A JP 24241497A JP H1090336 A JPH1090336 A JP H1090336A
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
- G01R31/2824—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits testing of oscillators or resonators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
Abstract
(57)【要約】
【課題】 自動化及び多重化の機能を有する周波数発生
器試験装置を提供することである。 【解決手段】 周波数発生器の多様な機能試験に必要な
色々な計測器を試料（周波数発生器）に全て連結し、コ
ンピュータで測定しようとする項目を選定して測定す
る、周波数発生器の多様な機能計測器が一元化されるよ
うに形成された周波数発生器の自動試験装置である。
器試験装置を提供することである。 【解決手段】 周波数発生器の多様な機能試験に必要な
色々な計測器を試料（周波数発生器）に全て連結し、コ
ンピュータで測定しようとする項目を選定して測定す
る、周波数発生器の多様な機能計測器が一元化されるよ
うに形成された周波数発生器の自動試験装置である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば周波数発生
器の試験装置に関するもので、特に手動で遂行していた
周波数発生器の種々の機能試験を自動的に遂行するため
の周波数発生器の自動試験装置に関するものである。
器の試験装置に関するもので、特に手動で遂行していた
周波数発生器の種々の機能試験を自動的に遂行するため
の周波数発生器の自動試験装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、装置（試料）に対する種々の機能
をチェックする際には、試料を試験しようとするテスト
装置に連結し、手動で操作してテストを遂行していた。
このため、一機能に対する測定後に他の測定をするには
装備と試料との連結を切り替えなければならなかった。
をチェックする際には、試料を試験しようとするテスト
装置に連結し、手動で操作してテストを遂行していた。
このため、一機能に対する測定後に他の測定をするには
装備と試料との連結を切り替えなければならなかった。
【０００３】例えば、任意の装置Ａが正常であるか否か
を確認しようとする場合には、装置Ａの電圧レベル、電
流状態及びその装置が有する種々の機能を各機能に対応
する試験装置を用いてチェックすることになる。すなわ
ち、例えば電圧を測定するためには、電圧測定器を装置
Ａに連結した後、装置Ａと電圧測定器をオンさせて装置
Ａの電圧を測定することになる。同じ方法で装置Ａの他
の種々の機能をチェックし得る。即ち、任意の装置に対
する各機能チェック（又は測定）は各機能試験装置を任
意の装置と個別的に連結し手動で操作して遂行するもの
である。
を確認しようとする場合には、装置Ａの電圧レベル、電
流状態及びその装置が有する種々の機能を各機能に対応
する試験装置を用いてチェックすることになる。すなわ
ち、例えば電圧を測定するためには、電圧測定器を装置
Ａに連結した後、装置Ａと電圧測定器をオンさせて装置
Ａの電圧を測定することになる。同じ方法で装置Ａの他
の種々の機能をチェックし得る。即ち、任意の装置に対
する各機能チェック（又は測定）は各機能試験装置を任
意の装置と個別的に連結し手動で操作して遂行するもの
である。
【０００４】周波数発生器においても、試験しようとす
る項目一つ一つに所要装備を試料（周波数発生器）と連
結して手動で遂行し、このため、次の測定をするために
は装備と試料（周波数発生器）との連結を切り替えなけ
ればならなかった。
る項目一つ一つに所要装備を試料（周波数発生器）と連
結して手動で遂行し、このため、次の測定をするために
は装備と試料（周波数発生器）との連結を切り替えなけ
ればならなかった。
【０００５】このような点に鑑みて、一つのテスト装置
で色々な機能のテストが行える装置に対する研究開発が
行なわれた。
で色々な機能のテストが行える装置に対する研究開発が
行なわれた。
【０００６】その一例として、米国特許第４，９４７，
１１０号が挙げられる。米国特許第４，９４７，１１０
号は、ネットワークの色々な構成要素の機能又は状態を
一つの装置で試験する装置に関するもので、通信状態及
びパワー状態をチェックするためのテスト装置にネット
ワークの多様な構成要素に対するテスト関数をプログラ
ミングし、スイッチングシステムによりテスト装置とネ
ットワークの多様な構成要素を接続させて、一つのテス
ト装置でスイッチングシステムを介して接続されるネッ
トワークの多様な構成要素に対して通信状態及びパワー
状態をチェックするものであった。
１１０号が挙げられる。米国特許第４，９４７，１１０
号は、ネットワークの色々な構成要素の機能又は状態を
一つの装置で試験する装置に関するもので、通信状態及
びパワー状態をチェックするためのテスト装置にネット
ワークの多様な構成要素に対するテスト関数をプログラ
ミングし、スイッチングシステムによりテスト装置とネ
ットワークの多様な構成要素を接続させて、一つのテス
ト装置でスイッチングシステムを介して接続されるネッ
トワークの多様な構成要素に対して通信状態及びパワー
状態をチェックするものであった。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、 前記米
国特許第４，９４７，１１０号は、一つのテスト装置で
相違した装置の通信状態及びパワー状態のみをチェック
し、このようなネットワークをなすために多くの構成要
素が包含されているため、構成が複雑であるという問題
点があった。
国特許第４，９４７，１１０号は、一つのテスト装置で
相違した装置の通信状態及びパワー状態のみをチェック
し、このようなネットワークをなすために多くの構成要
素が包含されているため、構成が複雑であるという問題
点があった。
【０００８】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであって、自動化・多重化の機能を有する周波数発生
器試験装置を具現するため、周波数発生器の多様な機能
試験に必要な色々な計測器を試料（周波数発生器）に全
て連結し、コンピュータで測定しようとする項目を選定
して測定する、周波数発生器の多様な機能計測器が一元
化されるように形成された周波数発生器の自動試験装置
を提供することを目的とする。
のであって、自動化・多重化の機能を有する周波数発生
器試験装置を具現するため、周波数発生器の多様な機能
試験に必要な色々な計測器を試料（周波数発生器）に全
て連結し、コンピュータで測定しようとする項目を選定
して測定する、周波数発生器の多様な機能計測器が一元
化されるように形成された周波数発生器の自動試験装置
を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、周波数発生器の自動試験装置において、
システムの制御のための制御部の役割を遂行するコンピ
ュータ（１）と、前記コンピュータ（１）と複数の計測
器（４，５，６）と周波数発生器（３）とに接続され
て、コンピュータ（１）と各計測器（４，５，６）と周
波数発生器（３）とのインターフェースを遂行するため
のインターフェース手段ブロック（２）と、前記インタ
ーフェース手段ブロック（２）に接続され、機能を試験
するため、使用者が測定しようとする標本周波数を発生
させる周波数発生器（３）と、前記インターフェース手
段ブロック（２）に接続され、周波数発生器（３）で発
生した信号のスプリアス（spurious）と２次ハーモニッ
ク（2nd harmonic）成分を測定するスペクトル分析器
（spectrum analyzer ）（４） と、前記インターフェ
ース手段ブロック（２）に接続され、周波数発生器
（３）で発生した信号の出力周波数を測定する周波数カ
ウンタ（５）と、前記インターフェース手段ブロック
（２）に接続され、周波数発生器（３）で発生した信号
の出力パワーを測定するパワーメーター（power meter
）（６） と、前記インターフェース手段ブロック
（２）に接続され、システムにパワーを供給するパワー
サプライ（７）と、前記周波数発生器（３）に接続さ
れ、温度に敏感な周波数発生器（３）に温度変化を与
え、温度による機能変化を試験するため、周波数発生器
（３）に印加される温度を変化させる温度整形装置（th
ermal platform system ）（８） と、前記周波数発生
器（３）に接続され、周波数発生器（３）に印加された
温度が正常な値となるように自動的に調節するオメガ温
度制御器（omega thermal controller）（９）とから構
成される周波数発生器の自動試験装置を提供する。
め、本発明は、周波数発生器の自動試験装置において、
システムの制御のための制御部の役割を遂行するコンピ
ュータ（１）と、前記コンピュータ（１）と複数の計測
器（４，５，６）と周波数発生器（３）とに接続され
て、コンピュータ（１）と各計測器（４，５，６）と周
波数発生器（３）とのインターフェースを遂行するため
のインターフェース手段ブロック（２）と、前記インタ
ーフェース手段ブロック（２）に接続され、機能を試験
するため、使用者が測定しようとする標本周波数を発生
させる周波数発生器（３）と、前記インターフェース手
段ブロック（２）に接続され、周波数発生器（３）で発
生した信号のスプリアス（spurious）と２次ハーモニッ
ク（2nd harmonic）成分を測定するスペクトル分析器
（spectrum analyzer ）（４） と、前記インターフェ
ース手段ブロック（２）に接続され、周波数発生器
（３）で発生した信号の出力周波数を測定する周波数カ
ウンタ（５）と、前記インターフェース手段ブロック
（２）に接続され、周波数発生器（３）で発生した信号
の出力パワーを測定するパワーメーター（power meter
）（６） と、前記インターフェース手段ブロック
（２）に接続され、システムにパワーを供給するパワー
サプライ（７）と、前記周波数発生器（３）に接続さ
れ、温度に敏感な周波数発生器（３）に温度変化を与
え、温度による機能変化を試験するため、周波数発生器
（３）に印加される温度を変化させる温度整形装置（th
ermal platform system ）（８） と、前記周波数発生
器（３）に接続され、周波数発生器（３）に印加された
温度が正常な値となるように自動的に調節するオメガ温
度制御器（omega thermal controller）（９）とから構
成される周波数発生器の自動試験装置を提供する。
【００１０】また、本発明は、前記インターフェース手
段ブロック（２）は、パワーサプライ（７）と周波数発
生器（３）とに接続され、パワーサプライ（７）から周
波数発生器（３）に提供される直流電圧を制御して、周
波数発生器（３）に過電圧が印加されないようにする過
電圧保護器（over voltage protection ）（２１）と、
周波数発生器（３）で測定すべき周波数を発生させるた
めの入力信号を提供する水晶発振器（crystal oscillat
or）（２２）と、水晶発振器（２２）に接続され、水晶
発振器（２２）を駆動させるための電源を水晶発振器
（２２）に印加するリニア（linear）パワーサプライ
（２３）と、周波数発生器（３）と水晶発振器（２２）
とに接続され、周波数発生器（３）の出力高周波信号に
より水晶発振器（２２）を制御して、周波数発生器
（３）に印加される周波数発生のための信号レベルを調
節することにより、周波数発生器（３）の出力高周波信
号を制御する減衰器（２４）と、周波数発生器（３）と
各計測器とに接続され、スイッチング状態によって周波
数発生器（３）の出力高周波信号を該当計測器に提供す
る多数のスイッチからなったスイッチ部（２５）と、コ
ンピュータ（１）と水晶発振器（２２）と過電圧保護器
（２１）と周波数発生器（３）とに接続され、コンピュ
ータ（１）と水晶発振器（２２）等の出力信号を周波数
発生器（３）に入力するインターフェース装置（２６）
とからなる周波数発生器の自動試験装置をも提供する。
段ブロック（２）は、パワーサプライ（７）と周波数発
生器（３）とに接続され、パワーサプライ（７）から周
波数発生器（３）に提供される直流電圧を制御して、周
波数発生器（３）に過電圧が印加されないようにする過
電圧保護器（over voltage protection ）（２１）と、
周波数発生器（３）で測定すべき周波数を発生させるた
めの入力信号を提供する水晶発振器（crystal oscillat
or）（２２）と、水晶発振器（２２）に接続され、水晶
発振器（２２）を駆動させるための電源を水晶発振器
（２２）に印加するリニア（linear）パワーサプライ
（２３）と、周波数発生器（３）と水晶発振器（２２）
とに接続され、周波数発生器（３）の出力高周波信号に
より水晶発振器（２２）を制御して、周波数発生器
（３）に印加される周波数発生のための信号レベルを調
節することにより、周波数発生器（３）の出力高周波信
号を制御する減衰器（２４）と、周波数発生器（３）と
各計測器とに接続され、スイッチング状態によって周波
数発生器（３）の出力高周波信号を該当計測器に提供す
る多数のスイッチからなったスイッチ部（２５）と、コ
ンピュータ（１）と水晶発振器（２２）と過電圧保護器
（２１）と周波数発生器（３）とに接続され、コンピュ
ータ（１）と水晶発振器（２２）等の出力信号を周波数
発生器（３）に入力するインターフェース装置（２６）
とからなる周波数発生器の自動試験装置をも提供する。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明を詳
細に説明すると次のようである。
細に説明すると次のようである。
【００１２】図１は本発明の構成を示すブロック図で、
本発明にかかる周波数発生器の自動試験装置は、システ
ムの制御のための制御部の役割を遂行するコンピュータ
１と、前記コンピュータ１と各計測器４，５，６と周波
数発生器３とに接続されて、コンピュータ１と各計測器
４，５，６と周波数発生器３とのインターフェースを遂
行するインターフェース手段ブロック２と、前記インタ
ーフェース手段ブロック２に接続され、機能を試験する
ため、使用者が測定しようとする標本周波数を発生させ
る周波数発生器３と、前記インターフェース手段ブロッ
ク２に接続され、周波数発生器３で発生した信号のスプ
リアス（spurious）と２次ハーモニック（2nd harmoni
c）成分を測定するスペクトル分析器（spectrum analyz
er ）４と、前記インターフェース手段ブロック２に接
続され、周波数発生器３で発生した信号の出力周波数を
測定する周波数カウンタ５と、前記インターフェース手
段ブロック２に接続され、周波数発生器３で発生した信
号の出力パワーを測定するパワーメーター（power mete
r ）６ と、前記インターフェース手段ブロック２に接
続され、システムにパワーを供給するパワーサプライ７
と、前記周波数発生器３に接続され、温度に敏感な周波
数発生器３に温度変化を与え、温度による機能変化を試
験するため、周波数発生器３に印加される温度を変化さ
せる温度整形装置（thermal platform system ）８
と、前記周波数発生器３に接続され、周波数発生器３に
印加された温度を正常な値となるように自動的に調節す
るオメガ温度制御器（omega thermal controller）９と
から構成される。
本発明にかかる周波数発生器の自動試験装置は、システ
ムの制御のための制御部の役割を遂行するコンピュータ
１と、前記コンピュータ１と各計測器４，５，６と周波
数発生器３とに接続されて、コンピュータ１と各計測器
４，５，６と周波数発生器３とのインターフェースを遂
行するインターフェース手段ブロック２と、前記インタ
ーフェース手段ブロック２に接続され、機能を試験する
ため、使用者が測定しようとする標本周波数を発生させ
る周波数発生器３と、前記インターフェース手段ブロッ
ク２に接続され、周波数発生器３で発生した信号のスプ
リアス（spurious）と２次ハーモニック（2nd harmoni
c）成分を測定するスペクトル分析器（spectrum analyz
er ）４と、前記インターフェース手段ブロック２に接
続され、周波数発生器３で発生した信号の出力周波数を
測定する周波数カウンタ５と、前記インターフェース手
段ブロック２に接続され、周波数発生器３で発生した信
号の出力パワーを測定するパワーメーター（power mete
r ）６ と、前記インターフェース手段ブロック２に接
続され、システムにパワーを供給するパワーサプライ７
と、前記周波数発生器３に接続され、温度に敏感な周波
数発生器３に温度変化を与え、温度による機能変化を試
験するため、周波数発生器３に印加される温度を変化さ
せる温度整形装置（thermal platform system ）８
と、前記周波数発生器３に接続され、周波数発生器３に
印加された温度を正常な値となるように自動的に調節す
るオメガ温度制御器（omega thermal controller）９と
から構成される。
【００１３】前記インターフェース手段ブロック２は、
パワーサプライ７と周波数発生器３とに接続され、パワ
ーサプライ７から周波数発生器３に提供される直流電圧
を制御して、周波数発生器３に過電圧が印加されないよ
うにする過電圧保護器（overvoltage protection ）２
１ と、前記周波数発生器３で測定すべき周波数を発生
させるための入力信号を提供する水晶発振器（crystal
oscillator）２２と、前記水晶発振器２２に接続され、
水晶発振器２２を駆動させるための電源を水晶発振器２
２に印加するリニア（linear）パワーサプライ２３と、
前記周波数発生器３と水晶発振器２２とに接続され、周
波数発生器３の出力高周波信号により水晶発振器２２を
制御して、周波数発生器３に印加される周波数発生のた
めの信号レベルを調節することにより、周波数発生器３
の出力高周波信号を制御する減衰器２４と、前記周波数
発生器３と各計測器とに接続され、スイッチング状態に
よって周波数発生器３の出力高周波信号を該当計測器に
提供する多数のスイッチからなったスイッチ部２５と、
前記コンピュータ１と水晶発振器２２と過電圧保護器２
１と周波数発生器３とに接続され、コンピュータ１と水
晶発振器２２等の出力信号を周波数発生器３に入力する
インターフェース装置２６とからなる。
パワーサプライ７と周波数発生器３とに接続され、パワ
ーサプライ７から周波数発生器３に提供される直流電圧
を制御して、周波数発生器３に過電圧が印加されないよ
うにする過電圧保護器（overvoltage protection ）２
１ と、前記周波数発生器３で測定すべき周波数を発生
させるための入力信号を提供する水晶発振器（crystal
oscillator）２２と、前記水晶発振器２２に接続され、
水晶発振器２２を駆動させるための電源を水晶発振器２
２に印加するリニア（linear）パワーサプライ２３と、
前記周波数発生器３と水晶発振器２２とに接続され、周
波数発生器３の出力高周波信号により水晶発振器２２を
制御して、周波数発生器３に印加される周波数発生のた
めの信号レベルを調節することにより、周波数発生器３
の出力高周波信号を制御する減衰器２４と、前記周波数
発生器３と各計測器とに接続され、スイッチング状態に
よって周波数発生器３の出力高周波信号を該当計測器に
提供する多数のスイッチからなったスイッチ部２５と、
前記コンピュータ１と水晶発振器２２と過電圧保護器２
１と周波数発生器３とに接続され、コンピュータ１と水
晶発振器２２等の出力信号を周波数発生器３に入力する
インターフェース装置２６とからなる。
【００１４】前記各計測器４，５，６とコンピュータ１
は多目的インターフェースバス（General Purpose Inte
rface Bus ：ＧＰＩＢ） で連結され、周波数発生器３
とオメガ温度制御器９はＲＳ２３２（モデムとターミナ
ル間の接続規格）で連結されている。
は多目的インターフェースバス（General Purpose Inte
rface Bus ：ＧＰＩＢ） で連結され、周波数発生器３
とオメガ温度制御器９はＲＳ２３２（モデムとターミナ
ル間の接続規格）で連結されている。
【００１５】前記構成は、パワーサプライ７から周波数
発生器の自動試験装置に電源を供給するとシステムが動
作し、過電圧保護器２１で周波数発生器３とインターフ
ェース装置２６に入力される電源を制御し、リニアパワ
ーサプライ２３から水晶発振器２２に電源を供給する
と、水晶発振器２２からインターフェース装置２６を介
して周波数発生器３に入力信号を提供し、使用者がコン
ピュータ１により測定項目を指定すると、周波数発生器
３で水晶発生器２２から入力される信号に応じて高周波
信号を発生して出力し、周波数発生器３から出力される
高周波信号は減衰器２４の制御によりそのレベルが決定
され、周波数発生器３から出力された信号はコンピュー
タ１の制御によりスイッチ部２５で選択された項目を測
定する計測器に入力され、各計測器４，５，６では入力
される信号により該当項目を測定する。
発生器の自動試験装置に電源を供給するとシステムが動
作し、過電圧保護器２１で周波数発生器３とインターフ
ェース装置２６に入力される電源を制御し、リニアパワ
ーサプライ２３から水晶発振器２２に電源を供給する
と、水晶発振器２２からインターフェース装置２６を介
して周波数発生器３に入力信号を提供し、使用者がコン
ピュータ１により測定項目を指定すると、周波数発生器
３で水晶発生器２２から入力される信号に応じて高周波
信号を発生して出力し、周波数発生器３から出力される
高周波信号は減衰器２４の制御によりそのレベルが決定
され、周波数発生器３から出力された信号はコンピュー
タ１の制御によりスイッチ部２５で選択された項目を測
定する計測器に入力され、各計測器４，５，６では入力
される信号により該当項目を測定する。
【００１６】例えば、周波数発生器から発生される信号
の周波数をチェックしようとする場合には、使用者がコ
ンピュータ１により周波数測定を選択すると、インター
フェース手段ブロック２内のスイッチ部２５が周波数カ
ウンタ５側とオン状態となって、周波数発生器３の出力
信号が周波数カウンタ５に入力され、周波数カウンタ５
で周波数発生器３の出力信号の周波数を測定し結果を使
用者に知らせる。この際に、温度整形装置とオメガ温度
制御器で周波数発生器に温度変化を与えると、温度変化
による周波数発生器の出力信号に対する周波数の変化を
測定し得る。
の周波数をチェックしようとする場合には、使用者がコ
ンピュータ１により周波数測定を選択すると、インター
フェース手段ブロック２内のスイッチ部２５が周波数カ
ウンタ５側とオン状態となって、周波数発生器３の出力
信号が周波数カウンタ５に入力され、周波数カウンタ５
で周波数発生器３の出力信号の周波数を測定し結果を使
用者に知らせる。この際に、温度整形装置とオメガ温度
制御器で周波数発生器に温度変化を与えると、温度変化
による周波数発生器の出力信号に対する周波数の変化を
測定し得る。
【００１７】このように、本発明は、各計測器４，５，
６をスイッチングシステムを介して試料（周波数発生
器）に全て連結し、コンピュータ１の制御により自動的
に周波数発生器３を試験する。
６をスイッチングシステムを介して試料（周波数発生
器）に全て連結し、コンピュータ１の制御により自動的
に周波数発生器３を試験する。
【００１８】参考として、本発明は試料として周波数発
生器でない他の装置を使用して構成することもでき、ス
イッチングシステムにより計測器を多様に連結して多様
な機能を測定することもできる。
生器でない他の装置を使用して構成することもでき、ス
イッチングシステムにより計測器を多様に連結して多様
な機能を測定することもできる。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は前記のよ
うな周波数発生器の自動試験装置を構成して周波数発生
器の試験をコンピュータの制御により自動的に遂行し得
るようにした。
うな周波数発生器の自動試験装置を構成して周波数発生
器の試験をコンピュータの制御により自動的に遂行し得
るようにした。
【図１】本発明の構成を示すブロック図である。
１ コンピュータ ２ インターフェース手段ブロック ３ 周波数発生器 ４、５、６ 計測器 ７ パワーサプライ ８ 温度整形装置 ９ オメガ温度制御器 ２１ 過電圧保護器 ２２ 水晶発振器 ２３ リニアパワーサプライ ２４ 減衰器 ２５ スイッチ部 ２６ インターフェース装置
Claims (2)
- 【請求項１】 システムの制御のための制御部の役割を
遂行するコンピュータと、前記コンピュータと複数の計
測器と周波数発生器とに接続されてコンピュータと各計
測器と周波数発生器とのインターフェースを遂行するた
めのインターフェース手段ブロックと、前記インターフ
ェース手段ブロックに接続され機能を試験するため使用
者が測定しようとする標本周波数を発生させる周波数発
生器と、前記インターフェース手段ブロックに接続され
周波数発生器で発生した信号のスプリアスと２次ハーモ
ニック成分を測定するスペクトル分析器と、前記インタ
ーフェース手段ブロックに接続され周波数発生器で発生
した信号の出力周波数を測定する周波数カウンタと、前
記インターフェース手段ブロックに接続され前記周波数
発生器で発生した信号の出力パワーを測定するパワーメ
ーターと、前記インターフェース手段ブロックに接続さ
れシステムにパワーを供給するパワーサプライと、前記
周波数発生器に接続され温度に敏感な周波数発生器に温
度変化を与えて温度による機能変化を試験するため周波
数発生器に印加される温度を変化させる温度整形装置
と、前記周波数発生器に接続され周波数発生器に印加さ
れた温度が正常な値となるように自動的に調節するオメ
ガ温度制御器とから構成される周波数発生器の自動試験
装置。 - 【請求項２】 前記インターフェース手段ブロックは、
パワーサプライと周波数発生器とに接続されパワーサプ
ライから周波数発生器に提供される直流電圧を制御して
周波数発生器に過電圧が印加されないようにする過電圧
保護器と、周波数発生器で測定すべき周波数を発生させ
るための入力信号を提供する水晶発振器と、水晶発振器
に接続され水晶発振器を駆動させるための電源を水晶発
振器に印加するリニアパワーサプライと、周波数発生器
と水晶発振器とに接続され周波数発生器の出力高周波信
号により水晶発振器を制御して周波数発生器に印加され
る周波数発生のための信号レベルを調節することにより
周波数発生器の出力高周波信号を制御する減衰器と、周
波数発生器と各計測器とに接続されスイッチング状態に
よって周波数発生器の出力高周波信号を該当計測器に提
供する多数のスイッチからなったスイッチ部と、コンピ
ュータと水晶発振器と過電圧保護器と周波数発生器とに
接続されコンピュータと水晶発振器等の出力信号を周波
数発生器に入力するインターフェース装置とからなるこ
とを特徴とする請求項１に記載の周波数発生器の自動試
験装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960038924A KR0180673B1 (ko) | 1996-09-09 | 1996-09-09 | 주파수 발생기 자동 시험 장치 |
| KR96-38924 | 1996-09-09 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1090336A true JPH1090336A (ja) | 1998-04-10 |
Family
ID=19473128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9242414A Pending JPH1090336A (ja) | 1996-09-09 | 1997-09-08 | 周波数発生器の自動試験装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1090336A (ja) |
| KR (1) | KR0180673B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100353624B1 (ko) * | 2000-07-25 | 2002-09-27 | (학)창성학원 | 컴퓨터를 이용한 계측장치 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110045318A (zh) * | 2019-05-17 | 2019-07-23 | 贵州电网有限责任公司 | 评估动态谐波和温度变化对电能表误差影响的装置及方法 |
-
1996
- 1996-09-09 KR KR1019960038924A patent/KR0180673B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1997
- 1997-09-08 JP JP9242414A patent/JPH1090336A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100353624B1 (ko) * | 2000-07-25 | 2002-09-27 | (학)창성학원 | 컴퓨터를 이용한 계측장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR19980020439A (ko) | 1998-06-25 |
| KR0180673B1 (ko) | 1999-04-01 |
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