JPH1082754A - 流体の導電度測定方法 - Google Patents
流体の導電度測定方法Info
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- JPH1082754A JPH1082754A JP10781997A JP10781997A JPH1082754A JP H1082754 A JPH1082754 A JP H1082754A JP 10781997 A JP10781997 A JP 10781997A JP 10781997 A JP10781997 A JP 10781997A JP H1082754 A JPH1082754 A JP H1082754A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、包装された密閉パッケージ中に含
まれる流体食品等の流体のインピーダンスを非侵入的に
測定する方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 第１の比較的小さい電極17をパッケージ
10の壁12の内部表面に配置し、この第１の電極17と、パ
ッケージ10の外部の端子22との間に導電接続21を設け、
第２の電極18をパッケージ10の壁11の外部表面に隣接し
て配置し、インピーダンス測定および解析回路20を第１
の電極17の端子22と第２の電極18とに接続して２つの電
極17, 18間のインピーダンスを測定し、測定されたイン
ピーダンス特性を基準特性と比較するステップを有する
ことを特徴とする。
まれる流体食品等の流体のインピーダンスを非侵入的に
測定する方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 第１の比較的小さい電極17をパッケージ
10の壁12の内部表面に配置し、この第１の電極17と、パ
ッケージ10の外部の端子22との間に導電接続21を設け、
第２の電極18をパッケージ10の壁11の外部表面に隣接し
て配置し、インピーダンス測定および解析回路20を第１
の電極17の端子22と第２の電極18とに接続して２つの電
極17, 18間のインピーダンスを測定し、測定されたイン
ピーダンス特性を基準特性と比較するステップを有する
ことを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は流体、特に流体食品
の導電度を測定する方法に関する。
の導電度を測定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】流体、特に流体食品中の微生物の成長が
流体の導電度に変化を生じさせることが知られている。
換言すると、食品の汚染は流体の導電度を測定し、測定
値を汚染のない流体に関する基準値と比較することによ
りチェックされることができる。
流体の導電度に変化を生じさせることが知られている。
換言すると、食品の汚染は流体の導電度を測定し、測定
値を汚染のない流体に関する基準値と比較することによ
りチェックされることができる。
【０００３】例えばミルク、ビール、フルーツジュース
等の液体食品をチェックする従来技術の回路および方法
は米国特許第4626833 号明細書に記載されている。この
方法にしたがって、２つの電極を具備する導電度測定用
プローブが、チェックされる流体の流動通路に挿入され
る。プローブはインピーダンス測定回路に接続され、こ
こで予め定められた基準値が測定値から減算され、その
後、残留する信号の変化が予め定められた限界内である
か否かのチェックを行うためにこれらの変化が監視され
る。
等の液体食品をチェックする従来技術の回路および方法
は米国特許第4626833 号明細書に記載されている。この
方法にしたがって、２つの電極を具備する導電度測定用
プローブが、チェックされる流体の流動通路に挿入され
る。プローブはインピーダンス測定回路に接続され、こ
こで予め定められた基準値が測定値から減算され、その
後、残留する信号の変化が予め定められた限界内である
か否かのチェックを行うためにこれらの変化が監視され
る。
【０００４】特にミルクの導電度について変更したパタ
ーンに基いて、乳牛の臨床的および準臨床的乳腺炎の両
者の伝染病を診察することを意図する類似の方法が米国
特許第5302903 号明細書およびNL8301231 号明細書に記
載されている。
ーンに基いて、乳牛の臨床的および準臨床的乳腺炎の両
者の伝染病を診察することを意図する類似の方法が米国
特許第5302903 号明細書およびNL8301231 号明細書に記
載されている。
【０００５】前述の方法は、例えば流体を伝送する導管
中に挿入される２つの電極を有するプローブによって測
定される流体と接触することができる応用に限定されて
いる。米国特許第4626833 号明細書では、プローブは適
切なパッケージを流体で充填するため充填機械の供給ラ
インに挿入される。米国特許第5302903 号明細書および
NL8301231 号明細書では、プローブはミルク管中に挿入
されている。
中に挿入される２つの電極を有するプローブによって測
定される流体と接触することができる応用に限定されて
いる。米国特許第4626833 号明細書では、プローブは適
切なパッケージを流体で充填するため充填機械の供給ラ
インに挿入される。米国特許第5302903 号明細書および
NL8301231 号明細書では、プローブはミルク管中に挿入
されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】適切なパッケージへ流
体が注入され蓄積され密封された後に、流体の導電度の
測定を行う方法が必要とされる。流体食品は長方形のカ
ートンまたは円筒形のカートンなどの異なった形態およ
び寸法のカートンパッケージに通常包装される。パッケ
ージが貯蔵庫から出され顧客または小売り業者へ配達さ
れる時のパッケージの中身の無菌状態に関するデータを
与えるのに適した方法は従来技術に存在しない。それ
故、サンプルパッケージが開口されるか別の方法で侵入
測定が行われないならば、包装された食品の品質および
無菌状態を保証することは困難である。
体が注入され蓄積され密封された後に、流体の導電度の
測定を行う方法が必要とされる。流体食品は長方形のカ
ートンまたは円筒形のカートンなどの異なった形態およ
び寸法のカートンパッケージに通常包装される。パッケ
ージが貯蔵庫から出され顧客または小売り業者へ配達さ
れる時のパッケージの中身の無菌状態に関するデータを
与えるのに適した方法は従来技術に存在しない。それ
故、サンプルパッケージが開口されるか別の方法で侵入
測定が行われないならば、包装された食品の品質および
無菌状態を保証することは困難である。
【０００７】本発明の目的は、包装された流体、特に包
装された流体食品のインピーダンスを非侵入測定する方
法を提供することである。
装された流体食品のインピーダンスを非侵入測定する方
法を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記目的にしたがって、
本発明は流体、特に閉じられたパッケージに含まれる流
体食品を測定する方法を提供する。本発明は、以下のス
テップを行うことを特徴とする。すなわち、 ａ）前記パッケージの壁の内部表面に比較的小さい第１
の電極を配置し、 ｂ）前記第１の電極とパッケージ外部の端子間に導電接
続を設け、 ｃ）第２の電極を前記パッケージの外部表面に隣接して
配置し、 ｄ）インピーダンス測定および解析回路を第１の電極の
端子と前記第２の電極に接続し、 ｅ）前記２つの電極間のインピーダンスを測定する。
本発明は流体、特に閉じられたパッケージに含まれる流
体食品を測定する方法を提供する。本発明は、以下のス
テップを行うことを特徴とする。すなわち、 ａ）前記パッケージの壁の内部表面に比較的小さい第１
の電極を配置し、 ｂ）前記第１の電極とパッケージ外部の端子間に導電接
続を設け、 ｃ）第２の電極を前記パッケージの外部表面に隣接して
配置し、 ｄ）インピーダンス測定および解析回路を第１の電極の
端子と前記第２の電極に接続し、 ｅ）前記２つの電極間のインピーダンスを測定する。
【０００９】第１の電極が比較的小さい寸法であるため
に、両電極間の電界力線は前記第１の電極付近に集中す
る。結果として、第１の電極付近の流体は測定されるイ
ンピーダンスに比較的大きな影響を与える。この効果は
第２の電極を比較的大きくすることにより増加されるこ
とができる。実際の測定は第１の電極周辺の比較的少容
積に限定されているので、より多くの電界力線が第１の
電極近辺に集中する程、パッケージの寸法の影響は重要
ではなくなる。
に、両電極間の電界力線は前記第１の電極付近に集中す
る。結果として、第１の電極付近の流体は測定されるイ
ンピーダンスに比較的大きな影響を与える。この効果は
第２の電極を比較的大きくすることにより増加されるこ
とができる。実際の測定は第１の電極周辺の比較的少容
積に限定されているので、より多くの電界力線が第１の
電極近辺に集中する程、パッケージの寸法の影響は重要
ではなくなる。
【００１０】層状材料から作られているこのようなパッ
ケージは種々の実施形態で知られており、しばしば予め
選択された部分を屈折し、折畳み、接着剤で接続するこ
とにより層状材料の細長い条帯で作られている。本発明
の技術的範囲内では、パッケージが層状構造を有する材
料から作られており、前記層の１つが導電材料からなる
ならば、特別の利点を有する。
ケージは種々の実施形態で知られており、しばしば予め
選択された部分を屈折し、折畳み、接着剤で接続するこ
とにより層状材料の細長い条帯で作られている。本発明
の技術的範囲内では、パッケージが層状構造を有する材
料から作られており、前記層の１つが導電材料からなる
ならば、特別の利点を有する。
【００１１】１つの利点は導電層が等電位面として作用
し、このことによってさらに第１の電極近辺に電界力線
の集中を生じさせることである。さらに驚異的な利点
は、第１の電極と導電層との間の付加的なインピーダン
スが流体のインピーダンスと同じ方向で変化し、測定感
度の大きな増加につながることである。さらに導電層の
存在は漏洩が生じる可能性のある層状構造のピンホール
を検出する可能性を与える。導電層は外界から測定環境
を分離する遮蔽体として作用する。
し、このことによってさらに第１の電極近辺に電界力線
の集中を生じさせることである。さらに驚異的な利点
は、第１の電極と導電層との間の付加的なインピーダン
スが流体のインピーダンスと同じ方向で変化し、測定感
度の大きな増加につながることである。さらに導電層の
存在は漏洩が生じる可能性のある層状構造のピンホール
を検出する可能性を与える。導電層は外界から測定環境
を分離する遮蔽体として作用する。
【００１２】ある場合、特にパッケージの構造が導電層
に容易にアクセスすることを可能にする場合、第２の電
極として導電層を使用することが好ましい。その場合、
本発明の方法はさらに以下のことを特徴とする。
に容易にアクセスすることを可能にする場合、第２の電
極として導電層を使用することが好ましい。その場合、
本発明の方法はさらに以下のことを特徴とする。
【００１３】ａ）導電材料の前記層とパッケージ外部の
端子の間に導電接続を設け、 ｂ）第２の電極として導電材料の前記層を使用する。
端子の間に導電接続を設け、 ｂ）第２の電極として導電材料の前記層を使用する。
【００１４】導電層の存在は、パッケージの内部層中の
ピンホールまたはパッケージの壁全体にわたる漏洩の検
出を可能にする。この方法の各実施形態は本発明に従
い、 ａ）第１の測定は第１の値を与える比較的高い周波数で
行われ、 ｂ）第２の測定は第２の値を与える比較的低い周波数で
行われ、 ｃ）両者の値の比が計算され、その比はパッケージの内
部層にピンホールが存在する場合およびパッケージに漏
洩があるより深刻な場合に、強い増加示すことを特徴と
する。
ピンホールまたはパッケージの壁全体にわたる漏洩の検
出を可能にする。この方法の各実施形態は本発明に従
い、 ａ）第１の測定は第１の値を与える比較的高い周波数で
行われ、 ｂ）第２の測定は第２の値を与える比較的低い周波数で
行われ、 ｃ）両者の値の比が計算され、その比はパッケージの内
部層にピンホールが存在する場合およびパッケージに漏
洩があるより深刻な場合に、強い増加示すことを特徴と
する。
【００１５】導電層の存在はさらに別の方法により漏洩
または容積の変化の検出を可能にする。その方法の各実
施形態は本発明に従い、第２の電極がパッケージの対向
する壁の外部表面に隣接して位置される２つの電極本体
の組合わせとして構成され、少なくとも測定が行われ、
それによってインピーダンス測定および解析回路が、導
電層と第２の電極本体との間のパッケージ層のインピー
ダンスを決定するため前記２つの電極本体に接続され、
前記インピーダンス値は漏洩および／または容積の変化
を示すことを特徴とする。
または容積の変化の検出を可能にする。その方法の各実
施形態は本発明に従い、第２の電極がパッケージの対向
する壁の外部表面に隣接して位置される２つの電極本体
の組合わせとして構成され、少なくとも測定が行われ、
それによってインピーダンス測定および解析回路が、導
電層と第２の電極本体との間のパッケージ層のインピー
ダンスを決定するため前記２つの電極本体に接続され、
前記インピーダンス値は漏洩および／または容積の変化
を示すことを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】本発明を図面を参照してより詳細
に説明する。図１のＡは前部壁11、後部壁12、下部壁1
3、上部壁14、２つの側面壁15、16を有する長方形パッ
ケージ10を概略的に示している。図１のＣは前記パッケ
ージの断面を示している。第１の電極17は後部壁15の内
部表面に隣接して位置され、第２の電極18は前部壁11の
外部表面に隣接して位置されている。電極18はライン24
を通じてインピーダンス測定および解析回路20に接続さ
れている。電極17は第１に前記壁12を通って流体密封に
導入される導電素子21によって後部壁12の外部表面上の
端子22に接続されている。さらにライン25は前記端子22
とインピーダンス測定および解析回路20との間に接続さ
れる。このような回路は市場で入手可能であり（例えば
Hewlett Packard 社製造の機器モデルHP4194A ）、それ
故、これらの機器についての詳細な説明は不必要とす
る。
に説明する。図１のＡは前部壁11、後部壁12、下部壁1
3、上部壁14、２つの側面壁15、16を有する長方形パッ
ケージ10を概略的に示している。図１のＣは前記パッケ
ージの断面を示している。第１の電極17は後部壁15の内
部表面に隣接して位置され、第２の電極18は前部壁11の
外部表面に隣接して位置されている。電極18はライン24
を通じてインピーダンス測定および解析回路20に接続さ
れている。電極17は第１に前記壁12を通って流体密封に
導入される導電素子21によって後部壁12の外部表面上の
端子22に接続されている。さらにライン25は前記端子22
とインピーダンス測定および解析回路20との間に接続さ
れる。このような回路は市場で入手可能であり（例えば
Hewlett Packard 社製造の機器モデルHP4194A ）、それ
故、これらの機器についての詳細な説明は不必要とす
る。
【００１７】図１のＢは図１のＡの測定されたインピー
ダンス全体の等価電気回路を示している。
ダンス全体の等価電気回路を示している。
【００１８】Ｚ１は第２の電極18と壁11の内部表面との
間のインピーダンスである。
間のインピーダンスである。
【００１９】Ｚｘはパッケージ10内の流体食品のインピ
ーダンスである。
ーダンスである。
【００２０】各インピーダンスは例えば図１のＢでＲ
１、Ｃ１；Ｒｘ、Ｃｘで示されているように抵抗とキャ
パシタの組み合わせにより表示されることができる。
１、Ｃ１；Ｒｘ、Ｃｘで示されているように抵抗とキャ
パシタの組み合わせにより表示されることができる。
【００２１】図１のＣは比較的小さい第１の電極17と比
較的大きい第２の電極18との間の電界力線の状態を概略
的に示している。示されているように、電界力線は第１
の電極17周辺で非常に集中されている。
較的大きい第２の電極18との間の電界力線の状態を概略
的に示している。示されているように、電界力線は第１
の電極17周辺で非常に集中されている。
【００２２】システムは１以上の予め選択された測定周
波数で汚染のない流体に対して１以上の測定を行うこと
によって較正される。種々のインピーダンスが多かれ少
かれ周波数に依存しているので、慎重に周波数を選択す
ることが重要である。微生物汚染のためにＺｘの値が汚
染のない基準状態から変化するならば、解析装置20は変
化値を基準値と比較し、このような変化を指示する。比
較的簡単な装置20が使用される場合、“汚染されていな
い”基準値と“汚染された”値との比較は勿論、マニュ
アルで行われることができる。
波数で汚染のない流体に対して１以上の測定を行うこと
によって較正される。種々のインピーダンスが多かれ少
かれ周波数に依存しているので、慎重に周波数を選択す
ることが重要である。微生物汚染のためにＺｘの値が汚
染のない基準状態から変化するならば、解析装置20は変
化値を基準値と比較し、このような変化を指示する。比
較的簡単な装置20が使用される場合、“汚染されていな
い”基準値と“汚染された”値との比較は勿論、マニュ
アルで行われることができる。
【００２３】壁12の内部表面に隣接する第１の電極の代
わりに、第１の電極を前記壁12の外部表面に取付けるこ
とが可能である。その場合、端子22と導電素子21は省略
されることができる。この場合、図１のＢの等価電気回
路はＺｘと直列の別のＺ１を付加することにより変更さ
れなければならない（パッケージの壁が全て一様の特性
を有するものと仮定する）。
わりに、第１の電極を前記壁12の外部表面に取付けるこ
とが可能である。その場合、端子22と導電素子21は省略
されることができる。この場合、図１のＢの等価電気回
路はＺｘと直列の別のＺ１を付加することにより変更さ
れなければならない（パッケージの壁が全て一様の特性
を有するものと仮定する）。
【００２４】図２のＡはパッケージ30を有する本発明に
したがった方法の応用を示しており、パッケージ30の壁
は絶縁材料の外部層31と、好ましくはアルミニウムなど
の金属の導電度層32と、内部絶縁層33とからなる層状構
造を具備する。パッケージは折り曲げることにより層状
材料の細長い条帯から作られ、結果として生じた上部層
の綴目は図２のＡで明白に示されている。このタイプの
パッケージの構造はこの分野の専門家によく知られてい
ると考えられ、それ故詳細に説明しない。
したがった方法の応用を示しており、パッケージ30の壁
は絶縁材料の外部層31と、好ましくはアルミニウムなど
の金属の導電度層32と、内部絶縁層33とからなる層状構
造を具備する。パッケージは折り曲げることにより層状
材料の細長い条帯から作られ、結果として生じた上部層
の綴目は図２のＡで明白に示されている。このタイプの
パッケージの構造はこの分野の専門家によく知られてい
ると考えられ、それ故詳細に説明しない。
【００２５】第１の電極37はパッケージの右側の壁40の
内部表面に隣接して位置されている。第２の電極38は上
部の壁41の外部表面に隣接して位置されている。導電層
32は外界から内部空間を遮蔽する等電位面を形成するの
で、第２の電極の実際位置とサイズは重要ではない。パ
ッケージの外部表面に隣接している任意の寸法の第２の
電極は十分である。
内部表面に隣接して位置されている。第２の電極38は上
部の壁41の外部表面に隣接して位置されている。導電層
32は外界から内部空間を遮蔽する等電位面を形成するの
で、第２の電極の実際位置とサイズは重要ではない。パ
ッケージの外部表面に隣接している任意の寸法の第２の
電極は十分である。
【００２６】金属層32が存在するために、第１の電極37
は壁40の内部表面に隣接して位置されなければならな
い。第１の電極が導電層32により形成される遮蔽体の内
部にある限り、第１の電極の実際の位置は重要ではな
い。第１の電極37は壁40の外部表面上の端子34に電気的
に接続されている。勿論、金属層32と、電極37、端子3
4、およびその間の接続導線の組合わせが接触しないよ
うにして測定が行われる。測定および解析回路20は一方
では端子34、他方では第２の電極38に接続されている。
は壁40の内部表面に隣接して位置されなければならな
い。第１の電極が導電層32により形成される遮蔽体の内
部にある限り、第１の電極の実際の位置は重要ではな
い。第１の電極37は壁40の外部表面上の端子34に電気的
に接続されている。勿論、金属層32と、電極37、端子3
4、およびその間の接続導線の組合わせが接触しないよ
うにして測定が行われる。測定および解析回路20は一方
では端子34、他方では第２の電極38に接続されている。
【００２７】図２のＢは図２のＡの構造の等価電気回路
を示している。
を示している。
【００２８】Ｚ２は第２の電極38とアルミニウム層32と
の間のインピーダンスである。
の間のインピーダンスである。
【００２９】Ｚ３は層33の内部表面とアルミニウム層32
との間のインピーダンスである。
との間のインピーダンスである。
【００３０】Ｚｘはパッケージ内部の流体食品のインピ
ーダンスである。
ーダンスである。
【００３１】Ｚ４は電極37とアルミニウム層32との間の
寄生インピーダンスである。
寄生インピーダンスである。
【００３２】導電層32の存在は多くの利点を有する。
【００３３】インピーダンスＺ２は固定した主に容量性
のインピーダンスであり、したがってＺ３とＺ４はＺｘ
の実際に測定する役目を行う。Ｚ４は第１の電極の寸法
に依存する。驚くべきことは、インピーダンスＺ３はイ
ンピーダンスＺｘが変化したときに変化することであ
る。これを説明するため、図２のＡで図示されている電
界力線パターンに注目する。このパターンは第１の電極
37付近における電界力線の強い集中を示している。何等
かの理由でＲｘが基準値から減少するならば、第１の電
極37周辺の電界力線数が増加するように電界力線分布が
変化する。この結果として、Ｒ３が増加する。換言する
と、Ｒｘの変化は同じ意味でＲ３の変化につながり、そ
のため実際にＲｘの変化は“増幅”される。
のインピーダンスであり、したがってＺ３とＺ４はＺｘ
の実際に測定する役目を行う。Ｚ４は第１の電極の寸法
に依存する。驚くべきことは、インピーダンスＺ３はイ
ンピーダンスＺｘが変化したときに変化することであ
る。これを説明するため、図２のＡで図示されている電
界力線パターンに注目する。このパターンは第１の電極
37付近における電界力線の強い集中を示している。何等
かの理由でＲｘが基準値から減少するならば、第１の電
極37周辺の電界力線数が増加するように電界力線分布が
変化する。この結果として、Ｒ３が増加する。換言する
と、Ｒｘの変化は同じ意味でＲ３の変化につながり、そ
のため実際にＲｘの変化は“増幅”される。
【００３４】このシステムはさらに１以上の予め選択さ
れた測定周波数で汚染されていない流体に対して１以上
の測定を行うことにより較正される。微生物の汚染のた
めにＺｘの値が汚染されていない基準状態から変化する
ならば、解析装置20は変化された値を基準値と比較し、
このような変化を指示する。ある程度簡単な装置20が使
用される場合、“汚染されていない”基準値と“汚染さ
れた”値との比較は勿論マニュアルで行われることがで
きる。
れた測定周波数で汚染されていない流体に対して１以上
の測定を行うことにより較正される。微生物の汚染のた
めにＺｘの値が汚染されていない基準状態から変化する
ならば、解析装置20は変化された値を基準値と比較し、
このような変化を指示する。ある程度簡単な装置20が使
用される場合、“汚染されていない”基準値と“汚染さ
れた”値との比較は勿論マニュアルで行われることがで
きる。
【００３５】図３は測定されたインピーダンスＺｘの抵
抗部分Ｒｘが回路20により使用される測定周波数ｆの関
数として変化する態様を図示している。通常、ｆ１とｆ
２との間の（ｆａ等の）中間の周波数が使用される。図
３の曲線はｆ１とｆ２との間のある程度非線形のセクシ
ョンを示している。例えば存在する微生物数の増加によ
り生じる予め定められた測定周波数における基準値から
の偏差は明白に検出可能で測定可能である。
抗部分Ｒｘが回路20により使用される測定周波数ｆの関
数として変化する態様を図示している。通常、ｆ１とｆ
２との間の（ｆａ等の）中間の周波数が使用される。図
３の曲線はｆ１とｆ２との間のある程度非線形のセクシ
ョンを示している。例えば存在する微生物数の増加によ
り生じる予め定められた測定周波数における基準値から
の偏差は明白に検出可能で測定可能である。
【００３６】ｆ２よりも大きい周波数では、寄生キャパ
シタンスＣ４は徐々に短絡回路として動作を開始し、し
たがってｆ２よりも大きい周波数の使用はそれ程実用的
ではない。
シタンスＣ４は徐々に短絡回路として動作を開始し、し
たがってｆ２よりも大きい周波数の使用はそれ程実用的
ではない。
【００３７】ｆ１よりも低い周波数では、図３の曲線は
通常の汚染されていない状況下で、48により示されてい
るような僅かな増加を示す。曲線のこの範囲では、内部
層33にピンホールが存在し、流体と導電層32との間に直
接的接触が存在する効果を有するならば、比較的強い増
加が観察される。このような状況が生じたならば、Ｒ
５、Ｃ５により表される付加的なインピーダンスＺ５が
実際にＺ４と並列に接続される。さらに低い周波数で
は、Ｒ５の影響が優勢になり、図３で50により示されて
いる急激な増加を生じる。
通常の汚染されていない状況下で、48により示されてい
るような僅かな増加を示す。曲線のこの範囲では、内部
層33にピンホールが存在し、流体と導電層32との間に直
接的接触が存在する効果を有するならば、比較的強い増
加が観察される。このような状況が生じたならば、Ｒ
５、Ｃ５により表される付加的なインピーダンスＺ５が
実際にＺ４と並列に接続される。さらに低い周波数で
は、Ｒ５の影響が優勢になり、図３で50により示されて
いる急激な増加を生じる。
【００３８】ピンホールまたは漏洩の存在は以下のステ
ップを実行することにより検出されることができる。 ａ）第１の測定が、全インピーダンスの抵抗部分の第１
の値（Ｒａ）を与える比較的高い周波数（ｆａ）で行わ
れ、 ｂ）第２の測定が、全インピーダンスの抵抗部分の第２
の値（Ｒｂ１またはＲｂ２）を与える比較的低い周波数
（ｆｂ）で行われ、 ｃ）両者の値の比が計算され、この比はパッケージの内
部層にピンホールが存在する場合およびパッケージに漏
洩があるより深刻な場合に強い増加示す。（漏洩がない
場合に見られるＺｂ１／Ｚａは漏洩が存在する場合に見
られるＺｂ２／Ｚａよりも非常に小さい。） 図４は図２のＡで示されている構造の変形30' を示して
いる。両図の相違点は第２の電極の形態と、種々の電極
が測定および解析回路20に接続されることができる方法
である。
ップを実行することにより検出されることができる。 ａ）第１の測定が、全インピーダンスの抵抗部分の第１
の値（Ｒａ）を与える比較的高い周波数（ｆａ）で行わ
れ、 ｂ）第２の測定が、全インピーダンスの抵抗部分の第２
の値（Ｒｂ１またはＲｂ２）を与える比較的低い周波数
（ｆｂ）で行われ、 ｃ）両者の値の比が計算され、この比はパッケージの内
部層にピンホールが存在する場合およびパッケージに漏
洩があるより深刻な場合に強い増加示す。（漏洩がない
場合に見られるＺｂ１／Ｚａは漏洩が存在する場合に見
られるＺｂ２／Ｚａよりも非常に小さい。） 図４は図２のＡで示されている構造の変形30' を示して
いる。両図の相違点は第２の電極の形態と、種々の電極
が測定および解析回路20に接続されることができる方法
である。
【００３９】第２の電極38は２つの電極本体38ａと38ｂ
に分割され、それぞれ同一形状で同一寸法であることが
好ましい。さらに、前記寸法は、各電極本体がパッケー
ジ30' の下部および上部壁のほぼ表面全体をカバーする
ように予め選択されることが好ましい。
に分割され、それぞれ同一形状で同一寸法であることが
好ましい。さらに、前記寸法は、各電極本体がパッケー
ジ30' の下部および上部壁のほぼ表面全体をカバーする
ように予め選択されることが好ましい。
【００４０】ダブルスイッチＳａとＳｂが回路20に付加
されている。示されている状態（実線）では、回路20は
２つの電極本体38ａと38ｂに接続されている。他の状態
（破線）では、回路20は第１の電極と２つの並列した電
極本体38ａと38ｂに接続されている。この後の状態で
は、構造全体は丁度図２のＡを参照して説明されている
ように機能する。
されている。示されている状態（実線）では、回路20は
２つの電極本体38ａと38ｂに接続されている。他の状態
（破線）では、回路20は第１の電極と２つの並列した電
極本体38ａと38ｂに接続されている。この後の状態で
は、構造全体は丁度図２のＡを参照して説明されている
ように機能する。
【００４１】しかしながら、図示された状態（スイッチ
の実線の位置）は、異なった測定が行われることができ
る。その場合２つの電極本体38ａと38ｂは、その間のイ
ンピーダンスが測定される手段により別々の電極として
扱われる。導電層32が等電位面を形成し、実際に外部層
31のインピーダンスが測定されることを考慮する。漏洩
が存在しそれによって層が濡れたならば、測定された値
は非常に変化する。その場合、抵抗Ｒ２がより小さくな
り、キャパシタＣ２がより大きくなり、それによって全
インピーダンスＺ２は非常に小さくなる。
の実線の位置）は、異なった測定が行われることができ
る。その場合２つの電極本体38ａと38ｂは、その間のイ
ンピーダンスが測定される手段により別々の電極として
扱われる。導電層32が等電位面を形成し、実際に外部層
31のインピーダンスが測定されることを考慮する。漏洩
が存在しそれによって層が濡れたならば、測定された値
は非常に変化する。その場合、抵抗Ｒ２がより小さくな
り、キャパシタＣ２がより大きくなり、それによって全
インピーダンスＺ２は非常に小さくなる。
【００４２】さらにこの測定は容積の変化を示す。汚染
ガスがパッケージ内部で形成され総容積の増加を生じる
ため、測定が常に電極本体38ａと38ｂ間で同一距離によ
り行われるならば、容積の増加はパッケージの壁でより
高い圧力を生じる。前記高い圧力は、明白に検出可能な
Ｚ２の変化を起こす。
ガスがパッケージ内部で形成され総容積の増加を生じる
ため、測定が常に電極本体38ａと38ｂ間で同一距離によ
り行われるならば、容積の増加はパッケージの壁でより
高い圧力を生じる。前記高い圧力は、明白に検出可能な
Ｚ２の変化を起こす。
【００４３】勿論全ての可能性が考慮されるやり方で、
この方法を実行することが好ましい。換言すると、第１
の時間期間中に請求項４に記載された方法が行われ、そ
れに続く第２の時間期間中に請求項５に記載された方法
が行われ、またはその逆に行われることが好ましい。
この方法を実行することが好ましい。換言すると、第１
の時間期間中に請求項４に記載された方法が行われ、そ
れに続く第２の時間期間中に請求項５に記載された方法
が行われ、またはその逆に行われることが好ましい。
【００４４】分割した第２の電極を使用する代わりに、
第２の電極として導電層32を使用することも好ましい。
対応する実施形態30''が図４で概略して図示されてい
る。導電層は適切な方法で上部壁41の表面上の端子44に
接続され、端子44は測定装置20に接続されている。等価
電気回路は図２のＢでＺ２＝０にすることにより得られ
る。
第２の電極として導電層32を使用することも好ましい。
対応する実施形態30''が図４で概略して図示されてい
る。導電層は適切な方法で上部壁41の表面上の端子44に
接続され、端子44は測定装置20に接続されている。等価
電気回路は図２のＢでＺ２＝０にすることにより得られ
る。
【００４５】別の実施形態では、円筒形パッケージは円
筒形壁と後部終端壁と前部終端壁とを有する。第１の電
極は前部終端壁に隣接して位置され、２つの電極本体は
第２の電極を伴って相互に対向し第１の電極と対称的な
関係で円筒形壁に隣接して位置される。両方の電極本体
は導電測定および解析回路20に並列して接続されてい
る。回路20はまた第１の電極にも接続されている。
筒形壁と後部終端壁と前部終端壁とを有する。第１の電
極は前部終端壁に隣接して位置され、２つの電極本体は
第２の電極を伴って相互に対向し第１の電極と対称的な
関係で円筒形壁に隣接して位置される。両方の電極本体
は導電測定および解析回路20に並列して接続されてい
る。回路20はまた第１の電極にも接続されている。
【図１】後部壁に取付けられた第１の電極と前部壁に取
付けられた第２の電極を有する長方形パッケージの概略
図と、測定された総インピーダンスの等価回路と、第１
と第２の電極間の電界力線の概略図。
付けられた第２の電極を有する長方形パッケージの概略
図と、測定された総インピーダンスの等価回路と、第１
と第２の電極間の電界力線の概略図。
【図２】１つの層が導電度である層状材料から作られて
いる長方形パッケージの概略図と、測定されたインピー
ダンス全体の等価回路図。
いる長方形パッケージの概略図と、測定されたインピー
ダンス全体の等価回路図。
【図３】測定されたインピーダンスの抵抗部分と周波数
との関係の特性図。
との関係の特性図。
【図４】別の実施形態の測定装置の概略図。
Claims (6)
- 【請求項１】 密閉されたパッケージ中に含まれる流体
食品等の流体のインピーダンスを測定する方法におい
て、 ａ）第１の比較的小さい電極を前記パッケージの壁の内
部表面に配置し、 ｂ）前記第１の電極と、パッケージ外部の端子との間に
導電接続を設け、 ｃ）第２の電極を前記パッケージの壁の外部表面に隣接
して配置し、 ｄ）インピーダンス測定および解析回路を第１の電極の
端子と前記第２の電極とに接続し、 ｅ）前記２つの電極間のインピーダンスを測定し、 ｆ）測定されたインピーダンス特性を基準特性と比較す
るステップを含む流体の導電度測定方法。 - 【請求項２】 パッケージが層状構造を有する材料から
作られ、前記層の１つが導電材料から構成されている請
求項１記載の方法。 - 【請求項３】 ａ）導電材料の前記層とパッケージ外部
の端子との間に導電接続を設け、 ｂ）第２の電極として導電材料の前記層を使用する請求
項２記載の方法。 - 【請求項４】 ａ）第１の測定が第１の値を与える比較
的高い周波数で行われ、 ｂ）第２の測定が第２の値を与える比較的低い周波数で
行われ、 ｃ）両者の値の比が計算され、その比はパッケージの内
部層にピンホールが存在する場合およびパッケージに漏
洩があるより深刻な場合に強い増加を示す請求項２また
は３記載の方法。 - 【請求項５】 第２の電極はパッケージの対向する壁の
外部表面に隣接して位置される２つの電極本体の組合わ
せとして形成され、少なくとも測定が行われ、それによ
ってインピーダンス測定および解析回路が前記２つの電
極本体に接続され、それによって導電層と第２の電極本
体との間のパッケージ層のインピーダンスを決定し、前
記インピーダンスの値は漏洩および／または容積変化を
示している請求項２乃至４のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項６】 第１の時間期間中に請求項４記載の方法
が行われ、それに続く第２の時間期間中に請求項５の記
載の方法が行われ、またはその逆の順序で測定が行われ
ることを特徴とする請求項４および５記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP96201096A EP0803728A1 (en) | 1996-04-24 | 1996-04-24 | Method for measuring the conductivity of fluids |
| NL96201096.3 | 1996-04-24 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1082754A true JPH1082754A (ja) | 1998-03-31 |
Family
ID=8223909
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10781997A Pending JPH1082754A (ja) | 1996-04-24 | 1997-04-24 | 流体の導電度測定方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0803728A1 (ja) |
| JP (1) | JPH1082754A (ja) |
| AU (1) | AU1909597A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021101178A (ja) * | 2019-12-24 | 2021-07-08 | 日置電機株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1633849B1 (de) * | 2003-05-02 | 2007-07-11 | LMB Technologie GmbH | Verfahren und vorrichtung zur schnellen bestimmung einer bakteriellen belastung in blut und blutprodukten |
| EP1999446A4 (en) * | 2006-03-22 | 2011-12-14 | Atmi Packaging Inc | APPARATUS AND METHODS FOR DETECTING LEAKAGE IN POCKETS FOR BIOTRAITEMENT |
| US11397159B1 (en) | 2018-08-31 | 2022-07-26 | Byte Nutrition Science Incorporated | Systems, devices and methods for analyzing constituents of a material under test |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1070833A (en) * | 1964-09-24 | 1967-06-07 | George Kent Stroud Ltd | Improvements in or relating to electrode assemblies |
| EP0036274B1 (en) * | 1980-03-08 | 1986-11-05 | Japan Tectron Instruments Corporation | Methods of monitoring micro-organisms and media for culture |
| JP2946842B2 (ja) * | 1991-07-08 | 1999-09-06 | 東陶機器株式会社 | 密封内容物の腐敗判定方法及び腐敗判定センサ |
-
1996
- 1996-04-24 EP EP96201096A patent/EP0803728A1/en not_active Withdrawn
-
1997
- 1997-04-23 AU AU19095/97A patent/AU1909597A/en not_active Abandoned
- 1997-04-24 JP JP10781997A patent/JPH1082754A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021101178A (ja) * | 2019-12-24 | 2021-07-08 | 日置電機株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU1909597A (en) | 1997-10-30 |
| EP0803728A1 (en) | 1997-10-29 |
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