JPH1074240A - Character position detection method - Google Patents
Character position detection methodInfo
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- JPH1074240A JPH1074240A JP8229140A JP22914096A JPH1074240A JP H1074240 A JPH1074240 A JP H1074240A JP 8229140 A JP8229140 A JP 8229140A JP 22914096 A JP22914096 A JP 22914096A JP H1074240 A JPH1074240 A JP H1074240A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の基板
材料であるウエハに表示されている識別文字、いわゆる
ウエハＩＤ等、所定物に表示されている自動読取り対象
文字の位置を検出する文字位置検出方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a character position for detecting a position of a character to be automatically read displayed on a predetermined object, such as an identification character displayed on a wafer which is a substrate material of a semiconductor device, a so-called wafer ID. It relates to the detection method.
【０００２】近年、半導体装置の製造工程においては、
自動化が進み、ウエハに表示されているウエハＩＤの自
動読取りが必要不可欠なものとなってきており、ウエハ
ＩＤが表示されている部分の傷など、ウエハＩＤを構成
する線分以外の線分の影響を受けることなく、ウエハＩ
Ｄを正確に読取ることができる文字読取り方法が要請さ
れている。In recent years, in the manufacturing process of semiconductor devices,
With the advance of automation, automatic reading of the wafer ID displayed on the wafer has become indispensable, and line segments other than the line segments constituting the wafer ID, such as scratches on the portion where the wafer ID is displayed, have been developed. Unaffected wafer I
There is a demand for a character reading method capable of accurately reading D.
【０００３】[0003]
【従来の技術】図１１は、ウエハの一例を示す概略的平
面図である。図１１中、１はウエハ、２はウエハ１を他
のウエハから識別するために表示されている数字「１４
９」からなるウエハＩＤであり、このようなウエハＩＤ
２は、一般に、レーザビームを使用して形成される。2. Description of the Related Art FIG. 11 is a schematic plan view showing an example of a wafer. In FIG. 11, 1 is a wafer, and 2 is a numeral “14” displayed to identify the wafer 1 from other wafers.
9 ", and such a wafer ID
2 is generally formed using a laser beam.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】図１２は、図１１にお
けるウエハＩＤ２の部分を拡大して示す概略的平面図で
あり、ウエハＩＤ２の部分には、たとえば、符号３〜７
で示すような傷が存在する場合がある。FIG. 12 is an enlarged schematic plan view showing the portion of wafer ID2 in FIG. 11, and the portions of wafer ID2 have, for example, reference numerals 3 to 7.
There may be a scratch as shown by.
【０００５】このように、ウエハＩＤ２の部分に傷３〜
７や、ポリイミドの残膜等、ウエハＩＤ２を構成する線
分以外の線分が存在する場合には、傷３〜７等をウエハ
ＩＤ２の一部と認識し、ウエハＩＤ２の位置を正確に検
出することができず、ウエハＩＤ２を読取る場合に誤読
してしまう場合があるという問題点があった。As described above, the scratches 3 to 3 are formed on the wafer ID2.
If there is a line segment other than the line segment constituting the wafer ID 2 such as 7 or a remaining film of polyimide, the scratches 3 to 7 are recognized as a part of the wafer ID 2 and the position of the wafer ID 2 is accurately detected. There is a problem in that when reading the wafer ID2, the reading may be erroneous.
【０００６】本発明は、かかる点に鑑み、自動読取り対
象文字の部分に傷など、自動読取り対象文字を構成する
線分以外の線分が存在する場合であっても、自動読取り
対象文字の位置を正確に検出することができるように
し、自動読取り対象文字を誤読することなく正確に読取
ることができるようにした文字位置検出方法を提供する
ことを目的とする。In view of the foregoing, the present invention provides a method for automatically reading a character to be automatically read even if there is a line segment other than the line constituting the character to be automatically read, such as a scratch in the character to be automatically read. It is an object of the present invention to provide a character position detecting method capable of accurately detecting a character and automatically reading the character to be automatically read without erroneous reading.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明中、第１の発明
（請求項１記載の文字位置検出方法）は、所定物に表示
されている自動読取り対象文字の位置を検出する文字位
置検出方法において、自動読取り対象文字として使用さ
れる文字を重ね合わせたものを登録文字として登録する
工程と、自動読取り対象文字を含む一定の領域を文字位
置検出領域とし、登録文字で文字位置検出領域内を順に
走査し、登録文字の各走査位置における文字位置検出領
域内の線分と登録文字との重なり合いの度合を検出する
工程と、文字位置検出領域内の線分と登録文字との重な
り合いの度合が最も大きい登録文字の走査位置を自動読
取り対象文字の位置として検出する工程とを含んでいる
というものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided a character position detecting method for detecting a position of a character to be automatically read displayed on a predetermined object. In the step of registering a superimposed character used as a character to be automatically read as a registered character, and a fixed area including the character to be automatically read as a character position detection area, the registered character in the character position detection area Scanning in order to detect the degree of overlap between the line segment in the character position detection area and the registered character at each scanning position of the registered character, and the degree of overlap between the line segment in the character position detection area and the registered character. Detecting the scanning position of the largest registered character as the position of the character to be automatically read.
【０００８】この第１の発明で使用する登録文字で文字
位置検出領域内を順に走査した場合において、自動読取
り対象文字の部分に傷など、自動読取り対象文字を構成
する線分以外の線分が存在する場合であっても、文字位
置検出領域内の線分と登録文字との重なり合いの度合が
最も大きくなるのは、登録文字が自動読取り対象文字に
重なった場合である。In the case where the registered characters used in the first invention are sequentially scanned in the character position detection area, lines other than the lines constituting the characters to be automatically read, such as scratches on the characters to be automatically read, may be removed. Even if it exists, the degree of overlap between the line segment in the character position detection area and the registered character is greatest when the registered character overlaps the character to be automatically read.
【０００９】したがって、第１の発明によれば、自動読
取り対象文字の部分に傷など、自動読取り対象文字を構
成する線分以外の線分が存在する場合であっても、自動
読取り対象文字の位置を正確に検出することができ、し
かも、登録文字として１個の登録文字を登録しておくだ
けで足りる。Therefore, according to the first aspect of the invention, even if a line segment other than the line segment constituting the character to be automatically read exists, such as a scratch in the portion of the character to be automatically read, the character to be automatically read cannot be read. The position can be accurately detected, and it is sufficient to register one registered character as a registered character.
【００１０】本発明中、第２の発明（請求項２記載の文
字位置検出方法）は、所定物に表示されている自動読取
り対象文字の位置を検出する文字位置検出方法におい
て、自動読取り対象文字として使用される文字をそれぞ
れ個別に登録文字として登録する工程と、自動読取り対
象文字を含む一定の領域を文字位置検出領域とし、登録
文字で文字位置検出領域内を順に走査し、登録文字の各
走査位置における文字位置検出領域内の線分と登録文字
との重なり合いの度合を検出する工程と、文字位置検出
領域内の線分と登録文字との重なり合いの度合が最も大
きい登録文字の走査位置を自動読取り対象文字の位置と
して検出する工程とを含んでいるというものである。According to a second aspect of the present invention, there is provided a character position detecting method for detecting a position of a character to be automatically read displayed on a predetermined object. A step of individually registering the characters used as registered characters as a registered character, and setting a fixed area including the character to be automatically read as a character position detection area, sequentially scanning the character position detection area with the registered character, and Detecting the degree of overlap between the line segment in the character position detection area and the registered character at the scanning position, and determining the scanning position of the registered character having the greatest degree of overlap between the line segment in the character position detection area and the registered character. Detecting the position of the character to be automatically read.
【００１１】この第２の発明で使用する登録文字で文字
位置検出領域内を順に走査した場合において、自動読取
り対象文字の部分に傷など、自動読取り対象文字を構成
する線分以外の線分が存在する場合であっても、文字位
置検出領域内の線分と登録文字との重なり合いの度合が
最も大きくなるのは、自動読取り対象文字と同一の登録
文字が自動読取り対象文字に重なった場合である。In the case where the registered characters used in the second invention are sequentially scanned in the character position detection area, lines other than the lines constituting the characters to be automatically read, such as scratches on the characters to be automatically read, may be removed. Even if it exists, the degree of overlap between the line segment in the character position detection area and the registered character is greatest when the same registered character as the character to be automatically read overlaps the character to be automatically read. is there.
【００１２】したがって、第２の発明によれば、登録文
字として複数の登録文字を登録しておく必要があるが、
自動読取り対象文字の部分に傷など、自動読取り対象文
字を構成する線分以外の線分が存在する場合であって
も、自動読取り対象文字の位置を正確に検出することが
できると同時に、自動読取り対象文字を認識することが
できる。Therefore, according to the second invention, it is necessary to register a plurality of registered characters as registered characters.
Even if there is a line segment other than the line segment that constitutes the character to be automatically read such as a scratch in the part of the character to be automatically read, the position of the character to be automatically read can be accurately detected, and The character to be read can be recognized.
【００１３】本発明中、第３の発明（請求項３記載の文
字位置検出方法）は、第１又は第２の発明において、登
録文字の登録は、文字の数、文字の大きさ、文字間のピ
ッチ、文字フォントを登録することにより行われるとい
うものである。According to a third aspect of the present invention, in the character position detecting method according to the third aspect, the registration of the registered character is performed based on the number of characters, the size of the character, and the space between the characters. The pitch and character font are registered.
【００１４】この第３の発明によれば、登録文字の各走
査位置における文字位置検出領域内の線分と登録文字と
の重なり合いの度合の検出を合理的に行うことができ
る。According to the third aspect, it is possible to rationally detect the degree of overlap between the registered character and the line segment in the character position detection area at each scanning position of the registered character.
【００１５】[0015]
【発明の実施の形態】以下、図１〜図１０を参照して、
本発明の実施の第１形態及び第２形態について、自動読
取り対象文字をウエハＩＤとする場合を例にして説明す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Referring to FIGS.
The first and second embodiments of the present invention will be described by taking as an example a case where a character to be automatically read is a wafer ID.
【００１６】第１形態・・図１〜図７ 本発明の実施の第１形態においては、ウエハＩＤを構成
する文字として、文字の幅をＷ、文字の高さをＨ、文字
フォントを図１に示すものとする数字「０、１、２、
３、４、５、６、７、８、９」を使用し、ウエハＩＤ
を、例えば、図２に示すように、数字間のピッチをＰと
する３桁の数字で表示するものとする。FIG. 1 to FIG. 7 In the first embodiment of the present invention, as the characters constituting the wafer ID, the character width is W, the character height is H, and the character font is FIG. "0, 1, 2,
3, 4, 5, 6, 7, 8, 9 "and the wafer ID
Is represented by, for example, a three-digit number where P is a pitch between the numbers as shown in FIG.
【００１７】そして、図３に示すように、図１に示す数
字「０、１、２、３、４、５、６、７、８、９」を重ね
合わせてなる文字の幅をＷ、文字の高さをＨとする文字
８を登録文字を構成する文字とし、図４に示すように、
文字８、８、８からなる文字を登録文字１２として登録
する。As shown in FIG. 3, the width of a character obtained by superimposing the numbers "0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9" shown in FIG. The character 8 whose height is H is a character constituting a registered character, and as shown in FIG.
A character consisting of characters 8, 8, and 8 is registered as a registered character 12.
【００１８】この場合、登録文字１２の登録は、文字の
数（３）、文字の大きさ（Ｗ×Ｈ）、文字間のピッチ
（Ｐ）、文字フォント（文字８）を登録することにより
行うようにする。In this case, the registration character 12 is registered by registering the number of characters (3), the character size (W × H), the pitch between characters (P), and the character font (character 8). To do.
【００１９】図５はウエハに表示されているウエハＩＤ
の部分を示す概略的平面図であり、図５中、１３はウエ
ハ面、１４は図１に示す数字を使用してなる数字「１４
９」からなるウエハＩＤ、１５〜１９はウエハ１３面上
の傷である。FIG. 5 shows the wafer ID displayed on the wafer.
FIG. 5 is a schematic plan view showing a portion of FIG.
Wafer IDs 15 to 19 consisting of “9” are scratches on the surface of the wafer 13.
【００２０】ここに、本発明の実施の第１形態において
は、ウエハＩＤ１４の位置を検出する場合、図６Ａに示
すように、ウエハＩＤ１４を含む一定の領域をウエハＩ
Ｄ検出領域２０と設定した後、図６Ｂに示すように、ウ
エハＩＤ検出領域２０の左上に登録文字１２の像を位置
させる。Here, in the first embodiment of the present invention, when the position of the wafer ID 14 is detected, as shown in FIG.
After setting the D detection area 20, the image of the registered character 12 is positioned at the upper left of the wafer ID detection area 20, as shown in FIG. 6B.
【００２１】そして、図６Ｃに矢印付き二点鎖線２１で
概略的に示すように、登録文字１２の像でウエハＩＤ検
出領域２０内を順に走査し、登録文字１２の像の各走査
位置におけるウエハＩＤ検出領域２０内の線分と登録文
字１２との重なり合いの度合を検出して記憶し、ウエハ
ＩＤ検出領域２０内の線分と登録文字１２との重なり合
いの度合が最も大きい登録文字１２の走査位置をウエハ
ＩＤ１４の位置として検出するようにする。Then, as schematically shown by a two-dot chain line 21 with an arrow in FIG. 6C, the image of the registered character 12 is sequentially scanned in the wafer ID detection area 20, and the wafer at each scanning position of the image of the registered character 12 is scanned. The degree of overlap between the line segment in the ID detection area 20 and the registered character 12 is detected and stored, and scanning of the registered character 12 having the highest degree of overlap between the line segment in the wafer ID detection area 20 and the registered character 12 is performed. The position is detected as the position of the wafer ID 14.
【００２２】ここに、ウエハＩＤ１４の部分に傷１５〜
１９等、ウエハＩＤ１４を構成する線分以外の線分が存
在する場合であっても、ウエハＩＤ検出領域２０内の線
分と登録文字１２との重なり合いの度合が最も大きくな
るのは、図７に示すように、登録文字１２がウエハＩＤ
１４に重なった場合である。Here, the scratches 15 to
Even if there is a line segment other than the line segment constituting the wafer ID 14, such as 19, the degree of overlap between the line segment in the wafer ID detection area 20 and the registered character 12 is the highest in FIG. As shown in FIG.
14.
【００２３】したがって、本発明の実施の第１形態によ
れば、ウエハＩＤ１４の部分に傷１５〜１９等、ウエハ
ＩＤ１４を構成する線分以外の線分が存在する場合であ
っても、ウエハＩＤ１４の位置を正確に検出することが
できるので、その後、ウエハＩＤ１４を切り出して読取
る場合、誤読することなく正確に読取ることができ、し
かも、登録文字として１個の登録文字１２を登録してお
くだけで足りる。Therefore, according to the first embodiment of the present invention, even if a line segment other than the line segment constituting the wafer ID 14 such as a scratch 15 to 19 exists in the portion of the wafer ID 14, the wafer ID 14 Can be accurately detected, and thereafter, when the wafer ID 14 is cut out and read, it can be read accurately without misreading, and only one registered character 12 is registered as a registered character. Is enough.
【００２４】第２形態・・図８〜図１０ 本発明の実施の第２形態においては、図８に示すよう
に、図１に示す数字「０、１、２、３、４、５、６、
７、８、９」を使用してなる文字間のピッチをＰとする
３桁の数字「００１」、「００２」・・・「１４９」・
・・「９９９」をそれぞれ個別に登録文字２２−００
１、２２−００２、・・・、２２−１４９、・・・、２
２−９９９として登録しておく。FIG. 8 to FIG. 10 In the second embodiment of the present invention, as shown in FIG. 8, the numerals “0, 1, 2, 3, 4, 5, 6” shown in FIG. ,
A three-digit number “001”, “002”,..., “149”, where P is the pitch between characters using “7, 8, 9”
..Registered characters 22-00 for "999" individually
1, 22-002, ..., 22-149, ..., 2
It is registered as 2-999.
【００２５】そして、図５に示すウエハＩＤ１４の位置
を検出する場合、図９Ａに示すように、図６Ａと同様に
ウエハＩＤ１４を含む一定の領域をウエハＩＤ検出領域
２０と設定した後、図９Ｂに示すように、ウエハＩＤ検
出領域２０の左上に登録文字２２−００１を位置させ
る。When the position of the wafer ID 14 shown in FIG. 5 is detected, as shown in FIG. 9A, a fixed area including the wafer ID 14 is set as the wafer ID detection area 20 as in FIG. As shown in (2), the registration character 22-001 is positioned at the upper left of the wafer ID detection area 20.
【００２６】そして、図９Ｃに矢印付き二点鎖線２３で
概略的に示すように、登録文字２２−００１の像でウエ
ハＩＤ検出領域２０内を順に走査し、登録文字２２−０
０１の像の各走査位置におけるウエハＩＤ検出領域２０
内の線分と登録文字１２との重なり合いの度合を検出し
て記憶する。Then, as schematically indicated by a two-dot chain line 23 with an arrow in FIG. 9C, the image of the registered character 22-001 is sequentially scanned within the wafer ID detection area 20, and the registered character 22-0 is scanned.
01 wafer ID detection area 20 at each scanning position of image 01
The degree of overlap between the line segment inside and the registered character 12 is detected and stored.
【００２７】以後、同様の動作を登録文字２２−００
２、・・・、２２−１４９、・・・、２２−９９９につ
いて行い、ウエハＩＤ検出領域２０内の線分と登録文字
２２−００１、２２−００２、・・・、２２−１４９、
・・・、２２−９９９との重なり合いの度合が最も大き
い登録文字の走査位置をウエハＩＤ１４の位置として検
出するようにする。Thereafter, the same operation is performed by the registered characters 22-00.
, 22-149,..., 22-999, and the line segments in the wafer ID detection area 20 and the registered characters 22-001, 22-002,.
... The scanning position of the registered character having the highest degree of overlap with 22-999 is detected as the position of the wafer ID 14.
【００２８】ここに、ウエハＩＤ検出領域２０の線分と
登録文字１２との重なり合いの度合が最も大きくなるの
は、図１０に示すように、ウエハＩＤ１４と登録文字２
２−１４９とが重なり合う場合であり、この場合には、
同時に、ウエハＩＤ１４が数字「１４９」であることを
認識することができる。Here, the degree of overlap between the line segment of the wafer ID detection area 20 and the registered character 12 is greatest, as shown in FIG.
2-149 overlaps. In this case,
At the same time, it can be recognized that the wafer ID 14 is the number “149”.
【００２９】したがって、本発明の実施の第１形態によ
れば、登録文字として複数の登録文字２２−００１、２
２−００２、・・・、２２−１４９、・・・、２２−９
９９を登録しておく必要があるが、ウエハＩＤ１４の部
分に傷１５〜１９等、ウエハＩＤ１４を構成する線分以
外の線分が存在する場合であっても、ウエハＩＤ１４の
位置を正確に検出することができると同時に、ウエハＩ
Ｄ１４を正確に読取ることができる。Therefore, according to the first embodiment of the present invention, a plurality of registered characters 22-001, 2
2-002, ..., 22-149, ..., 22-9
99 must be registered, but even if there is a line segment other than the line segment constituting the wafer ID 14 such as a scratch 15 to 19 in the portion of the wafer ID 14, the position of the wafer ID 14 can be accurately detected. At the same time as wafer I
D14 can be read accurately.
【００３０】なお、本発明の実施の第１形態及び第２形
態においては、ウエハＩＤを数字で構成した場合につい
て説明したが、本発明は、ウエハＩＤを英文字のみ、又
は、数字及び英文字で構成する場合等にも適用すること
ができる。In the first and second embodiments of the present invention, a case has been described in which the wafer ID is composed of numbers. However, the present invention is directed to a case in which the wafer ID is composed of only English characters or a combination of numerals and English characters. It can also be applied to the case where it is configured with.
【００３１】[0031]
【発明の効果】以上のように、本発明中、第１の発明
（請求項１記載の文字位置検出方法）によれば、登録文
字として１個の登録文字を登録しておくだけで、自動読
取り対象文字の部分に傷など、自動読取り対象文字を構
成する線分以外の線分が存在する場合であっても、自動
読取り対象文字の位置を正確に検出することができるの
で、その後、自動読取り対象文字を切り出して読取る場
合、誤読することなく正確に読取ることができる。As described above, according to the first aspect of the present invention (the character position detecting method according to the first aspect), automatic registration can be performed simply by registering one registered character as a registered character. Even when there is a line segment other than the line segment constituting the character to be automatically read such as a scratch in the portion of the character to be read, the position of the character to be automatically read can be accurately detected. When a character to be read is cut out and read, accurate reading can be performed without erroneous reading.
【００３２】また、第２の発明（請求項２記載の文字位
置検出方法）によれば、登録文字として複数の登録文字
を登録しておく必要があるが、自動読取り対象文字の部
分に傷など、自動読取り対象文字を構成する線分以外の
線分が存在する場合であっても、自動読取り対象文字の
位置を正確に検出することができると同時に、自動読取
り対象文字を認識することができる。According to the second invention (character position detecting method according to claim 2), it is necessary to register a plurality of registered characters as registered characters. Even if a line segment other than the line segment constituting the character to be automatically read exists, the position of the character to be automatically read can be accurately detected and the character to be automatically read can be recognized. .
【００３３】また、第３の発明（請求項３記載の文字位
置検出方法）によれば、第１又は第２の発明と同様の効
果を得ることができると共に、登録文字の各走査位置に
おける文字位置検出領域内の線分と登録文字との重なり
合いの度合の検出を合理的に行うことができる。According to the third invention (the character position detecting method according to the third aspect), the same effect as in the first or second invention can be obtained, and the character at each scanning position of the registered character can be obtained. The degree of overlap between the line segment in the position detection area and the registered character can be reasonably detected.
【図１】本発明の実施の第１形態が対象とするウエハＩ
Ｄを構成する数字の文字フォントを示す図である。FIG. 1 shows a wafer I to which a first embodiment of the present invention is applied.
It is a figure showing the character font of the number which comprises D.
【図２】本発明の実施の第１形態が対象とするウエハＩ
Ｄの構成例を示す図である。FIG. 2 shows a wafer I to which the first embodiment of the present invention is applied.
FIG. 4 is a diagram illustrating a configuration example of D.
【図３】本発明の実施の第１形態において使用する登録
文字を構成する文字を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing characters constituting registered characters used in the first embodiment of the present invention.
【図４】本発明の実施の第１形態において使用する登録
文字を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing registered characters used in the first embodiment of the present invention.
【図５】ウエハに表示されているウエハＩＤの部分を示
す概略的平面図である。FIG. 5 is a schematic plan view showing a wafer ID portion displayed on the wafer.
【図６】ウエハＩＤの位置を検出する方法を説明するた
めの図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a method of detecting a position of a wafer ID.
【図７】ウエハＩＤの位置を検出する方法を説明するた
めの図である。FIG. 7 is a diagram for explaining a method of detecting a position of a wafer ID.
【図８】本発明の実施の第２形態において使用する登録
文字の一部を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a part of registered characters used in the second embodiment of the present invention.
【図９】ウエハＩＤの位置を検出する方法を説明するた
めの図である。FIG. 9 is a diagram for explaining a method of detecting the position of a wafer ID.
【図１０】ウエハＩＤの位置を検出する方法を説明する
ための図である。FIG. 10 is a diagram for explaining a method of detecting the position of a wafer ID.
【図１１】ウエハの一例を示す概略的平面図である。FIG. 11 is a schematic plan view showing an example of a wafer.
【図１２】ウエハＩＤの部分を拡大して示す概略的平面
図である。FIG. 12 is a schematic plan view showing a wafer ID portion in an enlarged manner.
１２ 登録文字 １４ ウエハＩＤ ２２−００１、２２−００２、２２−１４９、２２−９
９９ 登録文字12 Registered character 14 Wafer ID 22-001, 22-002, 22-149, 22-9
99 registered characters
Claims (3)
字の位置を検出する文字位置検出方法において、 前記自動読取り対象文字として使用される文字を重ね合
わせたものを登録文字として登録する工程と、 前記自動読取り対象文字を含む一定の領域を文字位置検
出領域とし、前記登録文字で前記文字位置検出領域内を
順に走査し、前記登録文字の各走査位置における前記文
字位置検出領域内の線分と前記登録文字との重なり合い
の度合を検出する工程と、 前記文字位置検出領域内の線分と前記登録文字との重な
り合いの度合が最も大きい前記登録文字の走査位置を前
記自動読取り対象文字の位置として検出する工程とを含
むことを特徴とする文字位置検出方法。1. A character position detecting method for detecting a position of a character to be automatically read displayed on a predetermined object, wherein a step of registering, as a registered character, a superimposed character used as the character to be automatically read. A fixed area including the character to be automatically read is set as a character position detection area, the character is sequentially scanned in the character position detection area with the registered character, and a line segment in the character position detection area at each scanning position of the registered character. Detecting the degree of overlap between the registered character and the registered character; and determining the scanning position of the registered character having the greatest degree of overlap between the line segment in the character position detection area and the registered character. And detecting the character position.
字の位置を検出する文字位置検出方法において、 前記自動読取り対象文字として使用される文字をそれぞ
れ個別に登録文字として登録する工程と、 前記自動読取り対象文字を含む一定の領域を文字位置検
出領域とし、前記登録文字で前記文字位置検出領域内を
順に走査し、前記登録文字の各走査位置における前記文
字位置検出領域内の線分と前記登録文字との重なり合い
の度合を検出する工程と、 前記文字位置検出領域内の線分と前記登録文字との重な
り合いの度合が最も大きい前記登録文字の走査位置を前
記自動読取り対象文字の位置として検出する工程とを含
むことを特徴とする文字位置検出方法。2. A character position detecting method for detecting a position of a character to be automatically read displayed on a predetermined object, wherein the character used as the character to be automatically read is individually registered as a registered character. A fixed area including the character to be automatically read is set as a character position detection area, the character is sequentially scanned in the character position detection area with the registered character, and a line segment in the character position detection area at each scanning position of the registered character and the Detecting the degree of overlap with the registered character; and detecting the scanning position of the registered character having the greatest degree of overlap between the line segment in the character position detection area and the registered character as the position of the character to be automatically read. A character position detecting method.
大きさ、文字間のピッチ、文字フォントを登録すること
により行われることを特徴とする請求項１又は２記載の
文字位置検出方法。3. The character position detection according to claim 1, wherein the registration of the registered character is performed by registering the number of characters, the character size, the pitch between characters, and the character font. Method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8229140A JPH1074240A (en) | 1996-08-30 | 1996-08-30 | Character position detection method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8229140A JPH1074240A (en) | 1996-08-30 | 1996-08-30 | Character position detection method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1074240A true JPH1074240A (en) | 1998-03-17 |
Family
ID=16887398
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8229140A Pending JPH1074240A (en) | 1996-08-30 | 1996-08-30 | Character position detection method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1074240A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7474787B2 (en) | 1999-12-28 | 2009-01-06 | Minolta Co., Ltd. | Apparatus and method of detecting specified pattern |
| WO2019159414A1 (en) * | 2018-02-16 | 2019-08-22 | 株式会社 東芝 | Reading system, reading method, and storage medium |
| JP2019145182A (en) * | 2019-06-11 | 2019-08-29 | 株式会社東芝 | Reading system, reading method, program, and storage medium |
| US11694451B2 (en) | 2019-05-27 | 2023-07-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Reading system, reading method, storage medium, and moving body |
-
1996
- 1996-08-30 JP JP8229140A patent/JPH1074240A/en active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7474787B2 (en) | 1999-12-28 | 2009-01-06 | Minolta Co., Ltd. | Apparatus and method of detecting specified pattern |
| WO2019159414A1 (en) * | 2018-02-16 | 2019-08-22 | 株式会社 東芝 | Reading system, reading method, and storage medium |
| JP2019144703A (en) * | 2018-02-16 | 2019-08-29 | 株式会社東芝 | Reading system, reading method, program, and storage medium |
| US11455787B2 (en) | 2018-02-16 | 2022-09-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Reading system, reading device, reading method, and storage medium |
| US11900664B2 (en) | 2018-02-16 | 2024-02-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Reading system, reading device, reading method, and storage medium |
| US11694451B2 (en) | 2019-05-27 | 2023-07-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Reading system, reading method, storage medium, and moving body |
| JP2019145182A (en) * | 2019-06-11 | 2019-08-29 | 株式会社東芝 | Reading system, reading method, program, and storage medium |
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