JPH1069857A - Shadow mask inspection device - Google Patents

Shadow mask inspection device

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Publication number
JPH1069857A
JPH1069857A JP22827696A JP22827696A JPH1069857A JP H1069857 A JPH1069857 A JP H1069857A JP 22827696 A JP22827696 A JP 22827696A JP 22827696 A JP22827696 A JP 22827696A JP H1069857 A JPH1069857 A JP H1069857A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
line sensor
mirror
mask surface
sensor camera
Prior art date
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Pending
Application number
JP22827696A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideji Ueda
秀司 植田
Seiji Hamano
誠司 濱野
Shoichi Ishii
彰一 石井
Takeshi Nomura
剛 野村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPH1069857A publication Critical patent/JPH1069857A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To examine an overall mask face for defects by scanning the mask behind the frame of a shadow mask on which an incident optical path has already been formed. SOLUTION: A line sensor camera 5 is disposed so that it can photograph a mask face 2 as sharply as possible with a linear viewing field stretching over the entire width of the mask face, and that an incident optical path scans the entire mask face 2 in X direction via a mirror 3. A control means 22 controls a linear servo motor 20 so that an optical path incident on the line sensor camera 5 from the mask face 2 holds constant an optical path length between the mask face 2 and the line sensor camera 5, on the centerline of the mask face in the cross direction Y. This constitution enables the entire mask face 2 to be photographed and examined for defects.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、CRT等の成形済
シャドーマスクのマスク面を撮像し、マスク面の欠陥検
査を行うシャドーマスク検査装置に関するものである。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a shadow mask inspection apparatus which images a mask surface of a formed shadow mask such as a CRT and inspects the mask surface for defects.

【0002】[0002]

【従来の技術】CRT等のシャドーマスクは、そのマス
ク面の孔詰まりや孔径異常等の欠陥を自動検査装置によ
り検査されるようになってきた。そして、特にCRTの
ガラスに組み込む直前の、図4に示すような、マスク面
2の周囲にフレーム4が形成された成形済シャドーマス
ク1のマスク面2の欠陥検査の重要性が増してきた。
2. Description of the Related Art Shadow masks such as CRTs have come to be inspected for defects such as clogging or abnormal hole diameter on the mask surface by an automatic inspection device. In particular, the importance of defect inspection of the mask surface 2 of the formed shadow mask 1 in which the frame 4 is formed around the mask surface 2 as shown in FIG.

【0003】従来のシャドーマスク検査装置は、図4〜
図6に示すように、2台のラインセンサカメラ5、5
と、成形済シャドーマスク1を載せそのマスク面2の長
手方向Xへ一定速度で搬送する搬送ステージ31と、マ
スク面2の撮像部を下方から透過光を照射するバックラ
イト32と、画像処理手段33とを有する。
A conventional shadow mask inspection apparatus is shown in FIGS.
As shown in FIG. 6, two line sensor cameras 5, 5
A transport stage 31 on which the formed shadow mask 1 is placed and transported at a constant speed in the longitudinal direction X of the mask surface 2, a backlight 32 for irradiating transmitted light from below to an imaging unit on the mask surface 2, and image processing means 33.

【0004】2台のラインセンサカメラ5、5は、搬送
ステージ31の上方に固定され、受光部を下方に向け、
搬送ステージ31で搬送される成形済シャドーマスク1
のマスク面2をそのマスク面2の全幅(Y方向)に渡る
ライン状の視野で撮像するように調整されている。この
とき画像処理手段33は、搬送ステージ31の搬送位置
と2台のラインセンサカメラ5、5の撮像信号とから得
られた画像を処理して、マスク面2の欠陥検査を行う。
[0004] The two line sensor cameras 5 and 5 are fixed above the transport stage 31 with the light receiving part facing downward.
Shaped shadow mask 1 conveyed on the conveyance stage 31
Is adjusted so as to capture an image of the mask surface 2 with a line-shaped visual field over the entire width (Y direction) of the mask surface 2. At this time, the image processing means 33 processes the images obtained from the transfer position of the transfer stage 31 and the image pickup signals of the two line sensor cameras 5 and 5, and performs a defect inspection of the mask surface 2.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のシャドーマスク検査装置では、図5に示すように、
ラインセンサカメラ5、5が固定され成形済シャドーマ
スク1の移動が直線的であるので、ラインセンサカメラ
5、5から見たときの成形済シャドーマスク1のフレー
ム4に隠れたマスク面2の長手方向Xの両端部6、6の
撮像ができないという問題があった。又、成形済シャド
ーマスク1のマスク面2は球面の一部であるのに、ライ
ンセンサカメラ5が固定されているため、マスク面2の
撮像部位によりラインセンサカメラ5との間の光路長が
変化して特にマスク面2の長手方向Xの両端部6、6近
傍のピントがボケ易いという問題があった。
However, in the above-described conventional shadow mask inspection apparatus, as shown in FIG.
Since the line sensor cameras 5 and 5 are fixed and the movement of the formed shadow mask 1 is linear, the length of the mask surface 2 hidden in the frame 4 of the formed shadow mask 1 as viewed from the line sensor cameras 5 and 5 There is a problem that the imaging of both ends 6, 6 in the direction X cannot be performed. Further, although the mask surface 2 of the formed shadow mask 1 is a part of a spherical surface, the line sensor camera 5 is fixed, so that the optical path length between the shadow mask 1 and the line sensor camera 5 depends on the imaging site of the mask surface 2. In particular, there is a problem that the focus is easily blurred at both ends 6, 6 in the longitudinal direction X of the mask surface 2.

【0006】本発明は、かかる問題に鑑み、成形済シャ
ドーマスクのフレームの影響を受けず、マスク面全面の
欠陥検査をすることができるシャドーマスク検査装置を
提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a shadow mask inspection apparatus capable of inspecting a defect on the entire mask surface without being affected by a frame of a formed shadow mask.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、成形済シャドーマスクのマスク面の欠陥検
査を行うシャドーマスク検査装置において、前記マスク
面に対向する位置に配設されたミラーと、前記マスク面
から前記ミラーを介してラインセンサカメラに入射する
光の光路がマスク面全面を走査するように前記ミラーを
回動させる回動手段とを有することを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a shadow mask inspection apparatus for inspecting a mask surface of a molded shadow mask for defects, which is disposed at a position facing the mask surface. A mirror, and turning means for turning the mirror so that an optical path of light incident on the line sensor camera from the mask surface via the mirror scans the entire mask surface.

【0008】本発明によれば、マスク面からラインセン
サカメラに入射する光の光路が成形済シャドーマスクの
フレームの背後に位置するマスク面をも走査するように
前記ミラーを回動させるので、マスク面全面を撮像する
ことができる。
According to the present invention, the mirror is rotated so that the optical path of light incident on the line sensor camera from the mask surface also scans the mask surface located behind the frame of the shaped shadow mask. The entire surface can be imaged.

【0009】本発明において、マスク面とラインセンサ
カメラ間の光路長を一定に保つようにミラーの回動に同
期して前記ラインセンサカメラをその光軸方向に駆動す
る駆動手段を有するように構成すると、前記駆動手段に
よりマスク面全面とラインセンサカメラ間の光路長がほ
ぼ一定に保たれるので、マスク面全面に渡ってシャープ
に撮像することができる。
In the present invention, a driving means for driving the line sensor camera in the optical axis direction in synchronization with the rotation of the mirror so as to keep the optical path length between the mask surface and the line sensor camera constant is provided. Then, the optical path length between the entire mask surface and the line sensor camera is kept substantially constant by the driving means, so that a sharp image can be taken over the entire mask surface.

【0010】本発明において、駆動手段を、ミラーと共
に回動するカムと、このカム面に導かれてラインセンサ
カメラをその光軸方向に駆動する連結手段とを有するよ
うに構成すると、ミラーを回動させる動力手段一つでラ
インセンサカメラを駆動することができ、部品コストを
抑えることができる。
In the present invention, if the driving means is configured to include a cam that rotates together with the mirror and a coupling means that is guided by the cam surface and drives the line sensor camera in the optical axis direction, the mirror can be rotated. The line sensor camera can be driven by a single powering means, and the cost of parts can be reduced.

【0011】本発明において、駆動手段を、ミラーの回
動位置を読み取るセンサと、このセンサで読み取った回
動位置に対応した距離だけ前記ラインセンサカメラをそ
の光軸方向に駆動するカメラ移動手段とを有するように
構成すると、回動手段と駆動手段とを機械的に連結する
連結手段を必要としないので、組立と調整とを容易にす
ることができる。
In the present invention, the driving means includes a sensor for reading the rotational position of the mirror, and a camera moving means for driving the line sensor camera in the optical axis direction by a distance corresponding to the rotational position read by the sensor. In this configuration, there is no need for a connecting means for mechanically connecting the rotating means and the driving means, so that assembly and adjustment can be facilitated.

【0012】本発明において、回動手段を、マスク面上
の光路が一定速度で走査されるようにミラーを回動させ
るように構成すると、マスク面全面に渡ってほぼ同じ感
度で撮像することができ、好適である。
In the present invention, if the rotation means is configured to rotate the mirror so that the optical path on the mask surface is scanned at a constant speed, it is possible to capture an image with substantially the same sensitivity over the entire mask surface. Yes, it is.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】本発明の実施形態を図面に基づい
て以下に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0014】本発明の第1の実施形態は、図1、図2に
示すように、成形済シャドーマスク1のマスク面2をラ
イン状の視野で撮像するラインセンサカメラ5と、マス
ク面2全面を下方から透過照射するバックライト12を
備え成形済シャドーマスク1を固定するステージ11
と、マスク面2に対向する位置に配設されたミラー3
と、ラインセンサカメラ5をマスク面2の長手方向Xに
平行な光軸A方向に移動可能に搭載するカメラステージ
13と、ラインセンサカメラ5を光軸A方向へ移動させ
るカム7と、ミラー3とカム7とを回転させるステップ
モータ9と、ステップモータ9の回転位置とラインセン
サカメラ5の撮像動作とを制御する制御手段8と、得ら
れた画像を処理してマスク面2の欠陥検査を行う画像処
理手段10とを有する。
In the first embodiment of the present invention, as shown in FIGS. 1 and 2, a line sensor camera 5 for capturing an image of a mask surface 2 of a molded shadow mask 1 with a line-shaped visual field, and an entire mask surface 2 11 provided with a backlight 12 for transmitting and irradiating the shadow mask 1 from below to fix the formed shadow mask 1
And a mirror 3 disposed at a position facing the mask surface 2
A camera stage 13 on which the line sensor camera 5 is mounted so as to be movable in an optical axis A direction parallel to the longitudinal direction X of the mask surface 2; a cam 7 for moving the line sensor camera 5 in the optical axis A direction; And a control unit 8 for controlling the rotational position of the step motor 9 and the imaging operation of the line sensor camera 5, and processing the obtained image to inspect the mask surface 2 for defects. And an image processing unit 10 for performing the processing.

【0015】ラインセンサカメラ5は、図2に示すよう
に、マスク面2をそのマスク面2の全幅(Y方向)に渡
るライン状の視野でできる限りシャープに撮像できるよ
うに配置し調整されている。
As shown in FIG. 2, the line sensor camera 5 is arranged and adjusted so as to capture an image of the mask surface 2 as sharply as possible in a line-shaped visual field over the entire width (Y direction) of the mask surface 2. I have.

【0016】ミラー3は、ベルト19を介してステップ
モータ9の回転軸9aに連結され、回動軸3a回りに回
動し、このマスク面2からこのミラー3を介してライン
センサカメラ5に入射する光の光路がマスク面2全面を
X方向に走査するように配置される。
The mirror 3 is connected to a rotation shaft 9a of the step motor 9 via a belt 19, rotates around a rotation shaft 3a, and enters the line sensor camera 5 from the mask surface 2 via the mirror 3. The optical path of the light is arranged so as to scan the entire mask surface 2 in the X direction.

【0017】カム7は、ベルト18を介してステップモ
ータ9の回転軸9aに連結され、ミラー3と連動して回
動軸7a回りに回動し、常にカメラステージ13の当接
部15を押動し、マスク面2からラインセンサカメラ5
に入射する光の光路がマスク面2全面を走査する間、マ
スク面2の幅方向Yの中心線上におけるマスク面2とラ
インセンサカメラ5との間の光路長を一定に保つように
調整されている。
The cam 7 is connected to a rotation shaft 9a of the step motor 9 via a belt 18, and rotates around the rotation shaft 7a in conjunction with the mirror 3 to always push the contact portion 15 of the camera stage 13. Moving from the mask surface 2 to the line sensor camera 5
Is adjusted so that the optical path length between the mask surface 2 and the line sensor camera 5 on the center line in the width direction Y of the mask surface 2 is kept constant while the optical path of the light incident on the mask surface 2 scans the entire surface of the mask surface 2. I have.

【0018】カメラステージ13は、カム7に当接する
当接部15を有しラインセンサカメラ5を取り付けた可
動ステージ14と、この可動ステージ14を常にカム7
側へ押し付けるバネ17と、バネ17を内蔵し可動ステ
ージ14を光軸A方向移動可能に嵌合した固定ステージ
16とからなる。
The camera stage 13 has a contact portion 15 for contacting the cam 7 and has a movable stage 14 on which the line sensor camera 5 is mounted.
The movable stage 14 includes a spring 17 for pressing the movable stage 14 in the optical axis A direction.

【0019】本実施形態のシャドーマスク検査装置によ
れば、図1、図2に示すように、マスク面2からライン
センサカメラ5に入射する光の光路が成形済シャドーマ
スク1のフレーム4の背後に位置するマスク面2をも走
査するように前記ミラー3を回動させるので、成形済シ
ャドーマスク1のフレーム4の影響を受けず、マスク面
2の両端部6、6を検査することができる。又、ライン
センサカメラ5がマスク面2を走査するとき、マスク面
2とラインセンサカメラ5間の光路長がほぼ一定に保た
れるので、マスク面2全面に渡ってシャープに撮像する
ことができる。
According to the shadow mask inspection apparatus of this embodiment, as shown in FIGS. 1 and 2, the optical path of light incident on the line sensor camera 5 from the mask surface 2 is behind the frame 4 of the shaped shadow mask 1. Since the mirror 3 is rotated so as to scan also the mask surface 2 located at the position 2, the both ends 6, 6 of the mask surface 2 can be inspected without being affected by the frame 4 of the formed shadow mask 1. . Further, when the line sensor camera 5 scans the mask surface 2, the optical path length between the mask surface 2 and the line sensor camera 5 is kept almost constant, so that a sharp image can be taken over the entire mask surface 2. .

【0020】本発明によれば、マスク面からラインセン
サカメラに入射する光の光路が成形済シャドーマスクの
フレームの背後に位置するマスク面をも走査するように
前記ミラーを回動させるので、マスク面全面を撮像する
ことができる。
According to the present invention, the mirror is rotated so that the optical path of the light incident on the line sensor camera from the mask surface also scans the mask surface located behind the frame of the formed shadow mask. The entire surface can be imaged.

【0021】本発明の第2の実施形態は、図3に示すよ
うに、成形済シャドーマスク1のマスク面2をライン状
の視野で撮像するラインセンサカメラ5と、マスク面2
全面を下方から透過照射するバックライト12を備え成
形済シャドーマスク1を固定するステージ11と、マス
ク面2に対向する位置に配設されたミラー3と、ミラー
3を回転させるステップモータ9と、ラインセンサカメ
ラ5を光軸A方向移動可能に搭載するリニアサーボモー
タ20と、ステップモータ9の回転とリニアサーボモー
タ20の駆動とラインセンサカメラ5の撮像動作とを制
御する制御手段22と、得られた画像を処理してマスク
面2の欠陥検査を行う画像処理手段10とを有する。
In the second embodiment of the present invention, as shown in FIG. 3, a line sensor camera 5 for picking up an image of a mask surface 2 of a molded shadow mask 1 in a line-shaped visual field,
A stage 11 having a backlight 12 for irradiating the entire surface from below and fixing the shaped shadow mask 1, a mirror 3 disposed at a position facing the mask surface 2, a step motor 9 for rotating the mirror 3, A linear servomotor 20 for mounting the line sensor camera 5 so as to be movable in the direction of the optical axis A, control means 22 for controlling the rotation of the step motor 9, the driving of the linear servomotor 20, and the imaging operation of the line sensor camera 5; Image processing means 10 for processing the obtained image to inspect the mask surface 2 for defects.

【0022】ミラー3の回動軸3aには、ミラー3の回
動位置を読み取り、制御手段22へその信号を送るエン
コーダ24が取り付けられている。
An encoder 24 for reading the rotation position of the mirror 3 and transmitting the signal to the control means 22 is attached to the rotation shaft 3a of the mirror 3.

【0023】制御手段22は、ミラー3の回動位置とリ
ニアサーボモータ20の可動ステータ20aの駆動位置
とが対応したデータ表を記憶した記憶手段23を有し、
エンコーダ24から送られて来るミラー3の回動位置を
引数として前記のデータ表からリニアサーボモータ20
の駆動位置を検索し、その検索結果に基づいてリニアサ
ーボモータ20を制御することにより、マスク面からラ
インセンサカメラに入射する光の光路がマスク面2全面
を走査する間、マスク面2の幅方向Yの中心線上におけ
るマスク面2とラインセンサカメラ5との間の光路長を
一定に保つよう構成されている。
The control means 22 has a storage means 23 for storing a data table in which the rotation position of the mirror 3 and the drive position of the movable stator 20a of the linear servomotor 20 are stored.
Using the rotation position of the mirror 3 sent from the encoder 24 as an argument, the linear servo motor 20
Is driven, and the linear servo motor 20 is controlled based on the search result, so that the optical path of light incident on the line sensor camera from the mask surface scans the entire mask surface 2 while the width of the mask surface 2 is being scanned. The optical path length between the mask surface 2 and the line sensor camera 5 on the center line in the direction Y is configured to be kept constant.

【0024】上記実施形態においては、1台のラインセ
ンサカメラを配設したが、本発明はこれに限定されず、
マスク面の全面をシャープに撮像できればよく、従来例
で示したように2台以上のラインセンサカメラを配設し
てもよい。
In the above embodiment, one line sensor camera is provided, but the present invention is not limited to this.
It is sufficient that the entire surface of the mask can be imaged sharply, and two or more line sensor cameras may be provided as shown in the conventional example.

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明によれば、マスク面からラインセ
ンサカメラに入射する光の光路が成形済シャドーマスク
のフレームの背後に位置するマスク面をも走査するよう
に前記ミラーを回動させるので、マスク面全面を撮像す
ることができる。従って、成形済シャドーマスクのフレ
ームの影響を受けず、マスク面全面の欠陥検査をするこ
とができる。
According to the present invention, the mirror is rotated so that the optical path of light incident on the line sensor camera from the mask surface also scans the mask surface located behind the frame of the formed shadow mask. Thus, an image of the entire mask surface can be taken. Therefore, the defect inspection of the entire mask surface can be performed without being affected by the frame of the formed shadow mask.

【0026】又、本発明において、マスク面とラインセ
ンサカメラ間の光路長を一定に保つようにミラーの回動
に同期して前記ラインセンサカメラをその光軸方向に駆
動する駆動手段を有するように構成すると、前記駆動手
段によりマスク面全面とラインセンサカメラ間の光路長
がほぼ一定に保たれるので、マスク面全面に渡ってシャ
ープに撮像することができる。従って、マスク面全面に
渡ってほぼ同じ感度で欠陥検査をすることができる。
In the present invention, there is provided driving means for driving the line sensor camera in the direction of its optical axis in synchronization with the rotation of the mirror so as to keep the optical path length between the mask surface and the line sensor camera constant. In this configuration, since the optical path length between the entire mask surface and the line sensor camera is kept substantially constant by the driving means, it is possible to capture a sharp image over the entire mask surface. Therefore, the defect inspection can be performed with substantially the same sensitivity over the entire mask surface.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態を示す長手方向断面概
略図。
FIG. 1 is a schematic longitudinal sectional view showing a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施形態を示す幅方向断面概略
図。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view in the width direction showing the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第2の実施形態を示す長手方向断面概
略図。
FIG. 3 is a schematic longitudinal sectional view showing a second embodiment of the present invention.

【図4】従来例を示す概略斜視図。FIG. 4 is a schematic perspective view showing a conventional example.

【図5】従来例を示す長手方向断面概略図。FIG. 5 is a schematic longitudinal sectional view showing a conventional example.

【図6】従来例を示す幅方向断面概略図。FIG. 6 is a schematic cross-sectional view in the width direction showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 成形済シャドーマスク 2 マスク面 3 ミラー 5 ラインセンサカメラ 7 カム 9 ステップモータ 13 カメラステージ A 光軸方向 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Molded shadow mask 2 Mask surface 3 Mirror 5 Line sensor camera 7 Cam 9 Step motor 13 Camera stage A Optical axis direction

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野村 剛 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Tsuyoshi Nomura 1006 Kazuma Kadoma, Kadoma City, Osaka Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 成形済シャドーマスクのマスク面の欠陥
検査を行うシャドーマスク検査装置において、前記マス
ク面に対向する位置に配設されたミラーと、前記マスク
面から前記ミラーを介してラインセンサカメラに入射す
る光の光路がマスク面全面を走査するように前記ミラー
を回動させる回動手段とを有することを特徴とするシャ
ドーマスク検査装置。
1. A shadow mask inspection apparatus for inspecting a mask surface of a molded shadow mask for defects, a mirror disposed at a position facing the mask surface, and a line sensor camera from the mask surface via the mirror. And a rotating means for rotating the mirror so that an optical path of light incident on the mirror scans the entire mask surface.
【請求項2】 マスク面とラインセンサカメラ間の光路
長を一定に保つようにミラーの回動に同期して前記ライ
ンセンサカメラをその光軸方向に駆動する駆動手段を有
する請求項1記載のシャドーマスク検査装置。
2. A driving means for driving the line sensor camera in the optical axis direction in synchronization with the rotation of a mirror so as to keep the optical path length between the mask surface and the line sensor camera constant. Shadow mask inspection equipment.
【請求項3】 駆動手段が、ミラーと共に回動するカム
と、このカム面に導かれてラインセンサカメラをその光
軸方向に駆動する連結手段とを有する請求項2記載のシ
ャドーマスク検査装置。
3. The shadow mask inspection apparatus according to claim 2, wherein the driving means has a cam which rotates together with the mirror, and a connecting means which is guided by the cam surface and drives the line sensor camera in the optical axis direction.
【請求項4】 駆動手段が、ミラーの回動位置を読み取
るセンサと、このセンサで読み取った回動位置に対応し
た距離だけ前記ラインセンサカメラをその光軸方向に駆
動するカメラ移動手段とを有する請求項2記載のシャド
ーマスク検査装置。
4. The driving means has a sensor for reading the turning position of the mirror, and a camera moving means for driving the line sensor camera in the optical axis direction by a distance corresponding to the turning position read by the sensor. The shadow mask inspection apparatus according to claim 2.
【請求項5】 回動手段が、マスク面上の光路が一定速
度で走査されるようにミラーを回動させるように構成さ
れたものである請求項1、2、3又は4記載のシャドー
マスク検査装置。
5. The shadow mask according to claim 1, wherein the rotating means is configured to rotate the mirror so that an optical path on the mask surface is scanned at a constant speed. Inspection equipment.
JP22827696A 1996-08-29 1996-08-29 Shadow mask inspection device Pending JPH1069857A (en)

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JP22827696A JPH1069857A (en) 1996-08-29 1996-08-29 Shadow mask inspection device

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JP22827696A JPH1069857A (en) 1996-08-29 1996-08-29 Shadow mask inspection device

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JP (1) JPH1069857A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007093428A (en) * 2005-09-29 2007-04-12 Toyo Glass Kikai Kk Noncircular container inspection device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007093428A (en) * 2005-09-29 2007-04-12 Toyo Glass Kikai Kk Noncircular container inspection device

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