JPH1058308A - Polishing device - Google Patents

Polishing device

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Publication number
JPH1058308A
JPH1058308A JP15594697A JP15594697A JPH1058308A JP H1058308 A JPH1058308 A JP H1058308A JP 15594697 A JP15594697 A JP 15594697A JP 15594697 A JP15594697 A JP 15594697A JP H1058308 A JPH1058308 A JP H1058308A
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JP
Japan
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polished
polishing
top ring
turntable
bearing
Prior art date
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Application number
JP15594697A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazuhide Watanabe
和英 渡辺
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Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
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Publication date
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Publication of JPH1058308A publication Critical patent/JPH1058308A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a polishing device capable of performing a polishing process, with the distribution of bearing pressure kept in an optimum state over polished surface, by controlling the posture of a top ring for holding a workpiece. SOLUTION: A polishing device is equipped with a turntable 2 having polishing surface 1 and a top ring 3 to hold a workpiece W, and polishes the workpiece W, with both of the turntable 2 and the top ring 3 rotated for causing the sliding motion of the polishing surface 1 and the polished surface of the workpiece W. Regarding the polishing device so formed, a magnetic bearing device 10 for holding the rotary shaft 12 of the top ring 3 on a thrust bearing 13 and radial bearings 14 and 15 is provided, together with a posture control means to control the posture of the top ring 3 relative to the turntable 2 via the control of a magnetic bearing.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はポリッシング装置に
関し、特にトップリングの回転軸を磁気軸受で支持する
ポリッシング装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a polishing apparatus, and more particularly, to a polishing apparatus that supports a rotating shaft of a top ring with a magnetic bearing.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体デバイスの高集積化が進む
につれて回路の配線が微細化し、配線間距離もより狭く
なりつつあり、特に0.5μm以下の光リソグラフィの
場合は、焦点深度が浅くなるためにステッパの結像面の
平坦度を必要とする。また、基板上に配線間距離より大
きなパーティクルが存在すると、配線がショートするな
どの不具合が生じるので、基板の処理においては、平坦
化とともに清浄化を図ることが重要となる。このような
事情は、マスク等に用いるガラス基板、或いは液晶パネ
ル等の基板のプロセス処理においても同様である。
2. Description of the Related Art In recent years, as the degree of integration of semiconductor devices has increased, circuit wiring has become finer and the distance between wirings has become smaller. Especially in the case of optical lithography of 0.5 μm or less, the depth of focus becomes shallower. Therefore, the flatness of the image forming surface of the stepper is required. Further, if particles larger than the distance between the wirings exist on the substrate, problems such as short-circuiting of the wirings occur. Therefore, in the processing of the substrate, it is important to clean the substrate together with the flattening. Such a situation is the same in the process of processing a glass substrate used as a mask or the like or a substrate such as a liquid crystal panel.

【0003】従来のポリッシング装置として、図10に
示すように、上面にクロス(研磨布)1を貼り付けたター
ンテーブル2と、被研磨物(半導体ウエハ)Wを保持する
トップリング3とを具備している。ターンテーブル2と
トップリング3はそれぞれを独立に回転させる駆動装置
を備え、また、両者を互いに押し付けるためのエアシリ
ンダのような付勢装置が設けられている。
As a conventional polishing apparatus, as shown in FIG. 10, a turntable 2 having a cloth (polishing cloth) 1 attached to an upper surface thereof, and a top ring 3 for holding a workpiece (semiconductor wafer) W are provided. doing. The turntable 2 and the top ring 3 are provided with a driving device for rotating each of them independently, and a biasing device such as an air cylinder for pressing the two together is provided.

【0004】このようなポリッシング装置においては、
トップリング3を被研磨物Wの縁部がターンテーブル2
の中心及び縁部から所定距離離れた位置に来るように位
置させて押しつけた状態で、ノズル4より研磨液Qを供
給しつつターンテーブル2とトップリング3をそれぞれ
独立に回転させ、ウエハWの全面を均一に研磨する。
[0004] In such a polishing apparatus,
The edge of the workpiece W is the turntable 2
The turntable 2 and the top ring 3 are independently rotated while the polishing liquid Q is supplied from the nozzles 4 while the polishing liquid Q is being supplied so as to be located at a predetermined distance from the center and the edge of the wafer W. Polish the entire surface uniformly.

【0005】トップリング3は、下側に被研磨物Wを吸
着等により保持する保持面を有する円盤状部材で、その
支持軸5との接続部分は球6を用いた自在継手構造にな
っている。これにより、研磨中にトップリング3がター
ンテーブル2側からの力に応じて傾動し、ターンテーブ
ル2とトップリング3とのアラインメント誤差や研磨ク
ロスの局所的変動による影響を吸収して安定な研磨を行
なうことができるようになっている。
The top ring 3 is a disc-shaped member having a holding surface on the lower side for holding an object to be polished W by suction or the like, and its connecting portion with the support shaft 5 has a universal joint structure using balls 6. I have. Thereby, the top ring 3 tilts in accordance with the force from the turntable 2 side during polishing, and absorbs the influence of the alignment error between the turntable 2 and the top ring 3 and the local fluctuation of the polishing cloth, thereby achieving stable polishing. Can be performed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の技術においては、球6の作用により不必要
にトップリング3が研磨面に対して傾動し、ターンテー
ブル2の研磨面(クロス表面)と被研磨物Wの被研磨面と
の間の面圧が不均一になり、均一な研磨量が得られない
という課題があった。この点を、トップリング3に保持
された被研磨物Wとターンテーブル2の研磨クロス1の
間の作用との関係でさらに詳しく検討する。
However, in the above-mentioned prior art, the top ring 3 is unnecessarily tilted with respect to the polishing surface by the action of the ball 6, and the polishing surface (cross surface of the turntable 2) is turned. ) And the surface to be polished of the object W to be polished become non-uniform, and there is a problem that a uniform polishing amount cannot be obtained. This point will be discussed in more detail in relation to the operation between the workpiece W held by the top ring 3 and the polishing cloth 1 of the turntable 2.

【0007】ポリッシング装置においては、研磨量は、
次式で表すことができる。 Qp=η×P×V×T 研磨量 :Qp 比例係数 :η 面圧 :P 相対速度 :V(ウエハ研磨面とターンテーブルと
の相対速度) 研磨時間 :T 従って、上記の要素の1つとして、面内における圧力を
均一にすることも、研磨量を均一にするための主要な条
件の1つである。
In the polishing apparatus, the polishing amount is
It can be expressed by the following equation. Qp = η × P × V × T Polishing amount: Qp Proportional coefficient: η Surface pressure: P Relative speed: V (Relative speed between wafer polishing surface and turntable) Polishing time: T Therefore, as one of the above elements, Uniform pressure in the plane is also one of the main conditions for making the polishing amount uniform.

【0008】しかしながら、図11(a)に模式的に示す
ように、各々独立に回転するターンテーブル上の研磨面
とトップリング下面の被研磨面の間に摩擦力fが生じて
おり(f=μN)、これが球6の回りのモーメント力Mを
発生させる。その結果、同図(b)に示すようにトップリ
ング3が傾き、同図(c)で示す研磨方向の前側の部分で
被研磨物が研磨クロス1の表層に「突っ込む」現象が発
生する。この傾斜角度θは、同図(a)に示すように、加
圧力Nと摩擦力fとの関係で球6の作用によって自然に
決められる。
However, as schematically shown in FIG. 11A, a frictional force f is generated between the polishing surface on the independently rotating turntable and the surface to be polished on the lower surface of the top ring (f = μN), which generates a moment force M around the sphere 6. As a result, the top ring 3 is tilted as shown in FIG. 2B, and a phenomenon that the object to be polished "pushes" into the surface layer of the polishing cloth 1 occurs in the front portion in the polishing direction shown in FIG. The inclination angle θ is naturally determined by the action of the ball 6 according to the relationship between the pressing force N and the frictional force f, as shown in FIG.

【0009】そして、この傾斜θによって同図(d)に示
すようにこの部分の圧力が高くなるような不均一な面圧
分布が生じ、被研磨物Wも回転させるので、研磨量は、
同図(e)に示すような分布となる。均一な研磨量を得る
ための適切な面圧分布は、研磨クロスの弾性や研磨液の
流入状態等の条件も関係するので、この角度θが0であ
れば良いというものではない。しかしながら、上記の場
合のようにトップリングに働く種々の力の作用の結果と
して球6の作用に任せて決められる角度θも、必ずしも
均一な研磨量を得るための適切な面圧分布をもたらす角
度ではない。
Then, as shown in FIG. 1D, the inclination θ causes an uneven surface pressure distribution such that the pressure in this portion is increased, and the workpiece W is also rotated.
The distribution is as shown in FIG. An appropriate surface pressure distribution for obtaining a uniform polishing amount also depends on conditions such as the elasticity of the polishing cloth and the inflow state of the polishing liquid. Therefore, it is not sufficient that the angle θ is 0. However, as in the above case, the angle θ determined by the action of the ball 6 as a result of the action of the various forces acting on the top ring is also not necessarily the angle that provides an appropriate surface pressure distribution for obtaining a uniform polishing amount. is not.

【0010】また、従来の方法では、トップリングに働
く種々の力の作用の結果として球6の作用に任せて角度
が決まるので、研磨面の局所的条件によってこれが変動
し、安定した研磨条件が得られない可能性があり、さら
には振動を生じてより一層の不安定さを生じる可能性も
ある。この結果、図11(e)に示すように、外縁側が中
心側より研磨量が多くなってしまい、均一な研磨量が得
られない。
In the conventional method, since the angle is determined by the action of the ball 6 as a result of the action of various forces acting on the top ring, the angle fluctuates depending on local conditions of the polishing surface, and stable polishing conditions are obtained. It may not be possible, and may even cause vibrations and further instability. As a result, as shown in FIG. 11E, the polishing amount is larger on the outer edge side than on the center side, and a uniform polishing amount cannot be obtained.

【0011】本発明は上述の事情に鑑みてなされたもの
で、被研磨物を保持するトップリングの姿勢を制御する
ことにより、被研磨面の面圧分布を最適の状態にして研
磨を行なうことができるポリッシング装置を提供するこ
とを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and is intended to perform polishing by controlling the attitude of a top ring holding an object to be polished so that the surface pressure distribution on the surface to be polished is in an optimum state. It is an object of the present invention to provide a polishing apparatus which can perform polishing.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、研磨面を有するターンテーブルと、被研磨物を保持
するトップリングを具備し、両者を回転させながら研磨
面と被研磨物の被研磨面を摺動させて研磨するポリッシ
ング装置において、前記トップリングの回転軸をスラス
ト軸受とラジアル軸受により支持する磁気軸受装置と、
該磁気軸受を制御することにより前記トップリングの前
記ターンテーブルに対する姿勢を制御する姿勢制御手段
を設けたことを特徴とするポリッシング装置である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a turntable having a polished surface, and a top ring for holding a polished object. In a polishing device for polishing by sliding the surface to be polished, a magnetic bearing device that supports the rotation axis of the top ring by a thrust bearing and a radial bearing,
A polishing apparatus, further comprising: attitude control means for controlling the attitude of the top ring with respect to the turntable by controlling the magnetic bearing.

【0013】これにより、磁気軸受の制御機構を応用し
て被研磨物を保持するトップリングの姿勢を制御するこ
とにより、被研磨面の面圧分布を最適の状態にして研磨
を行ない、平坦度の高い研磨を行なうことができる。
[0013] By controlling the attitude of the top ring holding the object to be polished by applying the control mechanism of the magnetic bearing, the surface pressure distribution on the surface to be polished is optimized and the polishing is performed. High polishing can be performed.

【0014】請求項2に記載の発明は、前記姿勢制御手
段が前記ターンテーブルの走行方向に沿った研磨面と被
研磨面の傾斜角度を制御することを特徴とする請求項1
に記載のポリッシング装置である。研磨面が砥石のよう
に全く弾性の無いものである場合は、研磨中に研磨面と
被研磨面が完全に平行であれば良い結果が得られる。ま
た、研磨クロスのようにある程度弾性のある素材により
研磨面が形成されている場合は、面圧や相対研磨速度等
種々の要因によって最適な傾斜角度も異なる。
According to a second aspect of the present invention, the attitude control means controls an inclination angle of the polished surface and the polished surface along the traveling direction of the turntable.
A polishing apparatus according to (1). If the polished surface has no elasticity like a grindstone, good results can be obtained if the polished surface and the polished surface are completely parallel during polishing. When the polished surface is formed of a material having a certain degree of elasticity, such as a polishing cloth, the optimum inclination angle varies depending on various factors such as surface pressure and relative polishing speed.

【0015】通常、前記ターンテーブルの走行方向に沿
った研磨面と被研磨面の傾斜角度を制御する。角度設定
は、「突っ込み」を回避するような角度もしくは「突っ
込み」によって受ける力を相殺して、結果としてトップ
リングの下面の面圧が均一になるような角度に設定す
る。トップリングの傾斜角度は、事前に研磨試験に基づ
いて磁気軸受制御系の位置指令値を設定することによ
り、容易に制御が行える。すなわち、前記傾斜角度は、
前記磁気軸受装置のスラスト軸受とラジアル軸受の変位
センサからの変位信号に基づいて制御することができ
る。
Usually, the inclination angle between the polished surface and the polished surface along the traveling direction of the turntable is controlled. The angle setting is set to an angle that avoids the “thrust” or an angle that cancels out the force received by the “thrust” so that the surface pressure of the lower surface of the top ring becomes uniform as a result. The inclination angle of the top ring can be easily controlled by setting a position command value of the magnetic bearing control system based on a polishing test in advance. That is, the inclination angle is
Control can be performed based on displacement signals from displacement sensors of the thrust bearing and the radial bearing of the magnetic bearing device.

【0016】前記傾斜角度を、事前に研磨試験に基づい
て設定するようにしてもよい。また、前記傾斜角度を、
前記磁気軸受装置のスラスト軸受とラジアル軸受の変位
センサからの変位信号に基づいて制御するようにしても
よい。
The inclination angle may be set in advance based on a polishing test. In addition, the inclination angle,
The control may be performed based on displacement signals from displacement sensors of the thrust bearing and the radial bearing of the magnetic bearing device.

【0017】請求項3に記載の発明は、さらに、前記研
磨面と被研磨面の間の面圧を制御することを特徴とする
請求項1に記載のポリッシング装置である。これによ
り、面圧分布に加えて面圧の値自体を磁気軸受を利用し
て適切な値に維持しつつ研磨を行なうことができる。面
圧は、それぞれの負荷電流から推定することができる。
また、スラスト軸受の励磁電流を制御することにより前
記面圧を制御してもよい。さらに、磁気軸受装置を上下
させる昇降機構を制御することにより前記面圧を制御し
てもよい。面圧は、事前に研磨試験に基づいて設定する
ことにより、比較的容易な制御が行える。
The invention according to claim 3 is the polishing apparatus according to claim 1, further comprising controlling a surface pressure between the polishing surface and the surface to be polished. Thus, the polishing can be performed while maintaining the surface pressure value itself in addition to the surface pressure distribution at an appropriate value using the magnetic bearing. The surface pressure can be estimated from each load current.
Further, the surface pressure may be controlled by controlling the exciting current of the thrust bearing. Further, the surface pressure may be controlled by controlling an elevating mechanism for moving the magnetic bearing device up and down. By setting the surface pressure in advance based on a polishing test, relatively easy control can be performed.

【0018】請求項4に記載の発明は、研磨面を有する
ターンテーブルと、被研磨物を保持するトップリングを
用い、両者を回転させながら前記研磨面と前記被研磨物
の被研磨面を摺動させて研磨するポリッシング方法にお
いて、前記トップリングの回転軸をスラスト軸受とラジ
アル軸受を有する磁気軸受装置により支持し、該磁気軸
受を制御することにより前記トップリングの前記ターン
テーブルに対する姿勢を制御することを特徴とするポリ
ッシング方法である。
According to a fourth aspect of the present invention, a turntable having a polished surface and a top ring for holding the object to be polished are used to slide the polished surface and the polished surface of the object to be polished while rotating them. In the polishing method of moving and polishing, the rotating shaft of the top ring is supported by a magnetic bearing device having a thrust bearing and a radial bearing, and the attitude of the top ring with respect to the turntable is controlled by controlling the magnetic bearing. The polishing method is characterized in that:

【0019】請求項5に記載の発明は、研磨面を有する
ターンテーブルと、被研磨物を保持するトップリングを
具備し、両者を回転させながら研磨面と被研磨物の被研
磨面を摺動させて研磨するポリッシング装置において、
前記トップリングの回転軸をスラスト軸受とラジアル軸
受により支持する磁気軸受装置と、該磁気軸受を制御す
ることにより前記研磨面と前記被研磨面の間の面圧を制
御する面圧制御手段を設けたことを特徴とするポリッシ
ング装置である。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a turntable having a polished surface, and a top ring for holding the object to be polished, and sliding between the polished surface and the surface to be polished while rotating both. In a polishing apparatus for polishing by
A magnetic bearing device that supports a rotation shaft of the top ring with a thrust bearing and a radial bearing, and a surface pressure control unit that controls a surface pressure between the polished surface and the polished surface by controlling the magnetic bearing is provided. A polishing apparatus.

【0020】面圧を、それぞれの負荷電流から推定する
ようにしてもよい。また、前記スラスト軸受の励磁電流
を制御することにより前記面圧を制御するようにしても
よい。この場合も、前記面圧を、事前に試験に基づいて
設定するようにしてもよい。
The surface pressure may be estimated from each load current. Further, the surface pressure may be controlled by controlling an exciting current of the thrust bearing. Also in this case, the surface pressure may be set in advance based on a test.

【0021】請求項6に記載の発明は、研磨面を有する
ターンテーブルと、被研磨物を保持するトップリングを
用い、両者を回転させながら前記研磨面と前記被研磨物
の被研磨面を摺動させて研磨するポリッシング方法にお
いて、前記トップリングの回転軸をスラスト軸受とラジ
アル軸受を有する磁気軸受装置により支持し、該磁気軸
受を制御することにより前記研磨面と前記被研磨面の間
の面圧を制御することを特徴とするポリッシング方法で
ある。
According to a sixth aspect of the present invention, a turntable having a polished surface and a top ring for holding an object to be polished are used to slide the polished surface and the polished surface of the object to be polished while rotating both. In the polishing method of moving and polishing, the rotating shaft of the top ring is supported by a magnetic bearing device having a thrust bearing and a radial bearing, and the surface between the polished surface and the polished surface is controlled by controlling the magnetic bearing. This is a polishing method characterized by controlling the pressure.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図1は、本発明に係るポリッシン
グ装置を示すもので、上面にクロス(研磨布)1又は、砥
石を貼り付けたターンテーブル2と、被研磨物(半導体
ウエハ)Wを保持するトップリング3とを具備してい
る。ターンテーブル2にはこれをトップリング3と独立
に回転させる図示しない駆動装置が設けられている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a polishing apparatus according to the present invention, in which a cloth (polishing cloth) 1 or a turntable 2 on which a grindstone is stuck on a top surface, and a top ring 3 for holding a workpiece (semiconductor wafer) W. Is provided. The turntable 2 is provided with a drive device (not shown) for rotating the turntable 2 independently of the top ring 3.

【0023】トップリング3は、磁気軸受機構10によ
り支持されている。すなわち、磁気軸受機構10のケー
シング11の内部にトップリング3の回転軸12が配置
されており、それを非接触で支持し、回転させるため
に、上側から、スラスト軸受13、上部ラジアル軸受1
4、下部ラジアル軸受15が設けられている。また、回
転軸12のスラスト方向の変位を検出するスラスト変位
センサ17とラジアル方向の変位を検出するラジアル変
位センサ18,19が設けられている。駆動モータ20
は上部ラジアル軸受14、下部ラジアル軸受15の間に
配置され、駆動モータ20を含む磁気軸受機構10はケ
ーシング11に設けられた支持腕16により外部の昇降
機構36に取り付けられている。このような昇降機構と
しては、送りねじのような位置を精密に制御できる機構
やエアシリンダが好適である。
The top ring 3 is supported by a magnetic bearing mechanism 10. That is, the rotating shaft 12 of the top ring 3 is disposed inside the casing 11 of the magnetic bearing mechanism 10, and the thrust bearing 13 and the upper radial bearing 1
4. A lower radial bearing 15 is provided. Further, a thrust displacement sensor 17 for detecting a displacement of the rotating shaft 12 in the thrust direction and radial displacement sensors 18 and 19 for detecting a displacement in the radial direction are provided. Drive motor 20
Is disposed between the upper radial bearing 14 and the lower radial bearing 15, and the magnetic bearing mechanism 10 including the drive motor 20 is attached to an external lifting mechanism 36 by a support arm 16 provided on the casing 11. As such an elevating mechanism, a mechanism such as a feed screw capable of precisely controlling a position or an air cylinder is preferable.

【0024】図2は図1のトップリング部の拡大図であ
り、スラスト磁気軸受13は回転軸12に固定されたス
ラストディスク13aと、ケーシング11に固定された
上下一対のコイル21a,21bを有する電磁石コア1
3b,13cから構成されている。また、上下のラジア
ル磁気軸受14,15はケーシング11の内側に電磁石
コア14a,15aが配置され、これには回転軸12に
向けて突出する8つの磁極14c,15cが設けられ、
それぞれX又はY軸を挟んで隣接する一対の磁極に共通
するコイル22,23が巻かれている。また、回転軸1
2の対応する位置には、ロータ磁極14b,15bが設
けられている。
FIG. 2 is an enlarged view of the top ring portion of FIG. 1. The thrust magnetic bearing 13 has a thrust disk 13a fixed to the rotating shaft 12, and a pair of upper and lower coils 21a and 21b fixed to the casing 11. Electromagnet core 1
3b and 13c. The upper and lower radial magnetic bearings 14 and 15 have electromagnet cores 14 a and 15 a disposed inside the casing 11, and are provided with eight magnetic poles 14 c and 15 c protruding toward the rotating shaft 12.
Coils 22, 23 common to a pair of magnetic poles adjacent to each other across the X or Y axis are wound. Also, the rotating shaft 1
2, rotor magnetic poles 14b and 15b are provided at corresponding positions.

【0025】以下、ラジアル磁気軸受の構成を回転軸に
直交する断面図である図3(a)を参照して説明する。上
部ラジアル磁気軸受14の固定子は、X軸正方向側の電
磁コイル22aと、これに対向してX軸負側に配置され
た一対の電磁コイル22bとを備えており、これらは個
別に励磁されてこれらの吸引力の釣り合いで回転軸12
のX方向の位置が制御される。同様にY方向には一対の
電磁コイル22cと電磁コイル22dが配置されてい
る。ロータ12の軸受部には、ロータ磁極14bが設け
られている。下部ラジアル軸受15も同様に、8つの磁
極15cからなる電磁石コア15aと、それぞれの電磁
コイル23a,23b,23c,23dを備えている。
又、ロータ12の軸受部には、ロータ磁極15bが設け
られている。
Hereinafter, the configuration of the radial magnetic bearing will be described with reference to FIG. The stator of the upper radial magnetic bearing 14 includes an electromagnetic coil 22a on the positive side of the X-axis and a pair of electromagnetic coils 22b disposed on the negative side of the X-axis opposite thereto, and these are individually excited. The balance of these suction forces makes the rotating shaft 12
Is controlled in the X direction. Similarly, a pair of electromagnetic coils 22c and 22d are arranged in the Y direction. A rotor magnetic pole 14 b is provided in a bearing portion of the rotor 12. Similarly, the lower radial bearing 15 includes an electromagnet core 15a including eight magnetic poles 15c, and respective electromagnetic coils 23a, 23b, 23c, and 23d.
Further, a rotor magnetic pole 15b is provided in a bearing portion of the rotor 12.

【0026】なお、17は回転軸12のスラスト方向の
変位を検出するスラスト変位センサ、18,19はラジ
アル方向の変位を検出するラジアル変位センサである。
ラジアル変位センサ18はX方向に対向して配置された
一対のラジアル変位センサ18x、Y方向に対向して配
置された一対のラジアル変位センサ18yを具備する。
また、駆動モータ20はモータコア20a及びコイル2
0b,モータロータコア20cを有する。
Reference numeral 17 denotes a thrust displacement sensor for detecting displacement of the rotating shaft 12 in the thrust direction, and reference numerals 18 and 19 denote radial displacement sensors for detecting displacement in the radial direction.
The radial displacement sensor 18 includes a pair of radial displacement sensors 18x arranged opposite to each other in the X direction, and a pair of radial displacement sensors 18y arranged opposite to each other in the Y direction.
The drive motor 20 includes a motor core 20a and a coil 2
0b and a motor rotor core 20c.

【0027】図4は、この実施の形態のポリッシング装
置を制御する制御部の機能構成を示すブロック図であ
る。図示するように、制御部は、減算器30及びコント
ローラ31を具備し、該減算器30には浮上位置目標値
と、センサ(ラジアル変位センサ18,19、スラスト
変位センサ17)34で検出され、座標変換部35で変
換された制御対象(回転軸12等)の変位値x,y,z,
α,βとが入力され、その差が誤差信号ex,ey
z,eα,eβとしてコントローラ31に入力され
る。ここでx,y,zはそれぞれ図5に示すように,X
軸方向、Y軸方向、Z軸方向の変位を示し、αはX軸の
傾き、βはY軸の傾きを示す。
FIG. 4 is a block diagram showing a functional configuration of a control unit for controlling the polishing apparatus according to this embodiment. As shown in the drawing, the control unit includes a subtractor 30 and a controller 31. The subtractor 30 detects a floating position target value and a sensor (radial displacement sensors 18, 19, thrust displacement sensor 17) 34, The displacement values x, y, z, of the control target (the rotation axis 12 and the like) converted by the coordinate
alpha, and β is inputted, the difference is the error signal e x, e y,
e z, eα, it is input to the controller 31 as Ibeta. Here, x, y, and z are, as shown in FIG.
The displacements in the axial direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction are shown, α represents the inclination of the X-axis, and β represents the inclination of the Y-axis.

【0028】誤差信号ex,ey,ez,eα,eβ はP
ID+局部位相進み処理部31−1で傾き・位置制御及
び減衰処理を受け、さらに振動除去のためノッチフィル
タ31−2を通って電圧指令信号vx,vy,vz,v
α,vβ に変換される。そして座標変換部31−3で
上下のラジアル磁気軸受14,15及びスラスト磁気軸
受13の制御信号vxu,vyu,vxl,vyl,vz に変換
されて磁気軸受駆動部32に供給されると共に、信号v
zは面圧コントローラ23に供給される。
[0028] The error signal e x, e y, e z , eα, eβ is P
ID + receiving the inclination and position control and attenuation processing in a local phase-lead processing section 31-1 further voltage through a notch filter 31-2 for vibration rejection command signal v x, v y, v z , v
is converted to α, vβ. The coordinates are converted into control signals v xu , v yu , v xl , v yl , v z of the upper and lower radial magnetic bearings 14, 15 and the thrust magnetic bearing 13 by the coordinate conversion unit 31-3 and supplied to the magnetic bearing drive unit 32. And the signal v
z is supplied to the surface pressure controller 23.

【0029】磁気軸受駆動部32は電磁コイル22a,
22b,22c,22d,23a,23b,23c,2
3d,21a,21bとこれらを励磁する駆動回路24
で構成されている。上記信号vxu,vyu,vxl,vyl
z のそれぞれは各駆動回路24に供給され、該各駆動
回路24でラジアル軸受14,15においては正負の方
向へ変位させるための励磁電流Ixu+,Ixu−,I
yu+,Iyu−、Ixl+,Ixl−,Iyl+,Iyl−、スラ
スト軸受13においては、上下方向に変位させるI
z+,Iz− に変換され、電磁コイル22a,22b,
22c,22d,23a,23b,23c,23d,2
1a,21bに供給され、制御対象物(回転軸12等)の
姿勢を制御する。
The magnetic bearing drive unit 32 includes an electromagnetic coil 22a,
22b, 22c, 22d, 23a, 23b, 23c, 2
3d, 21a, 21b and drive circuit 24 for exciting them
It is composed of The signals v xu , v yu , v xl , v yl ,
v z is supplied to each drive circuit 24, and in each of the drive circuits 24, the exciting currents I xu +, I xu −, and I xu − for displacing in the positive and negative directions in the radial bearings 14 and 15.
yu +, I yu −, I xl +, I xl −, I yl +, I yl −, and in the thrust bearing 13, I
z +, I z −, and the electromagnetic coils 22a, 22b,
22c, 22d, 23a, 23b, 23c, 23d, 2
It is supplied to 1a and 21b to control the attitude of the control object (the rotary shaft 12 and the like).

【0030】また、面圧コントローラ23は、トップリ
ング3をターンテーブル2に対して押し付ける力を微調
整するもので、磁気軸受駆動部32におけるZ方向の電
流値信号と、センサ34のZ方向変位信号とが入力され
る。面圧コントローラ23の出力信号は、後述するよう
にZ方向の押しつけ力の補正信号として出力され、コン
トローラ31の後にある加算器22で信号Vzに加算さ
れる。
The surface pressure controller 23 finely adjusts the force of pressing the top ring 3 against the turntable 2. The Z-direction current value signal of the magnetic bearing drive unit 32 and the Z-direction displacement of the sensor 34 are adjusted. And a signal. The output signal of the surface pressure controller 23 is output as a correction signal for the pressing force in the Z direction, as described later, and is added to the signal Vz by the adder 22 provided after the controller 31.

【0031】次に、上記のように構成されたポリッシン
グ装置の制御の方法を、フロー図をもとに説明する。ま
ず、トップリングの姿勢を制御する姿勢制御の工程を図
6により説明する。ここでは、まず初期値として経験的
に得られた適当な値を設定し(st1)、研磨を行なう
(st2)。次に、研磨面の均一性を適当な方法で評価し
て、それが所定の均一性の条件を満たすかを判定する
(st3)。これが得られない場合は再設定を行い(st
4)、再度研磨試験を行なう。トップリングのある角度
において均一性の条件を満たす角度が得られたら、それ
を用いて本研磨を行なう(st5)。
Next, a method of controlling the polishing apparatus configured as described above will be described with reference to a flowchart. First, the process of the attitude control for controlling the attitude of the top ring will be described with reference to FIG. Here, first, an appropriate value empirically obtained is set as an initial value (st1), and polishing is performed.
(st2). Next, the uniformity of the polished surface is evaluated by an appropriate method, and it is determined whether or not it satisfies a predetermined uniformity condition.
(st3). If this cannot be obtained, reset the settings (st
4) Perform the polishing test again. When an angle satisfying the uniformity condition is obtained at a certain angle of the top ring, main polishing is performed using the angle (st5).

【0032】被研磨面の凹凸を測定して平坦度を評価し
た結果の例を図9に示す。この例では、(a)が傾斜角度
設定前の場合、(b)が角度最適設定後に研磨した場合の
研磨量の面内均一性を示し、設定後の場合が平坦度が高
いことが分かる。測定点は、同図(c)に示している。こ
の場合の設定は、実際の研磨条件で設定する。これに
は、研磨対象の種類、研磨液の種類、ターンテーブルや
トップリングの回転速度、後述する面圧等が挙げられ
る。
FIG. 9 shows an example of the result of measuring the unevenness of the surface to be polished and evaluating the flatness. In this example, (a) shows the in-plane uniformity of the polishing amount when polishing is performed after setting the optimum angle, and (b) shows the in-plane uniformity of the polishing amount when polishing is performed after setting the angle. The measurement points are shown in FIG. The setting in this case is set under actual polishing conditions. This includes the type of polishing object, the type of polishing liquid, the rotation speed of the turntable and the top ring, the surface pressure described below, and the like.

【0033】上記のように回転軸12の傾きをラジアル
変位センサ18,19の出力を処理して検知し、回転軸
12の傾きを任意の角度に制御することにより、被研磨
面への押し付け圧力を面内均一に制御することができ
る。
As described above, the inclination of the rotating shaft 12 is detected by processing the outputs of the radial displacement sensors 18 and 19, and by controlling the inclination of the rotating shaft 12 to an arbitrary angle, the pressing force against the surface to be polished is adjusted. Can be controlled in-plane uniformly.

【0034】次に、面圧の値を制御する面圧制御工程を
説明する。面圧は、やはり事前に試験により適正な値を
求めておき、これを設定値として入力する。被研磨物の
押しつけ圧力は、図1に示すように、この例では、昇降
機構によって磁気軸受のケーシングに加えられ、これは
スラスト軸受、回転軸、トップリングを介して研磨面に
加える構成となっている。ここで、スラスト軸受は研磨
面押しつけ圧力の反力を受けているので、研磨中に研磨
面の圧力変動が生じた場合、これはスラスト磁気軸受の
電流値より検出できる。
Next, a surface pressure control step for controlling the value of the surface pressure will be described. As for the surface pressure, an appropriate value is obtained in advance by a test, and this is input as a set value. As shown in FIG. 1, in this example, the pressing pressure of the object to be polished is applied to the casing of the magnetic bearing by a lifting mechanism, which is applied to the polishing surface via a thrust bearing, a rotating shaft, and a top ring. ing. Here, since the thrust bearing receives the reaction force of the pressing pressure against the polished surface, when the pressure on the polished surface fluctuates during polishing, this can be detected from the current value of the thrust magnetic bearing.

【0035】力と電流の関係は、概ね線形として近似で
きる。すなわち、Kを係数、Iを電流値、Fを力とする
と、 F=KI 上記式より力を算出し、設定した力(圧力)との比較を行
い、増減量を算出し、補正量を昇降機構に送り、昇降機
構を上下駆動させることにより磁気軸受全体の位置を制
御し、研磨面への圧力を制御する。なお、補正する力
を、磁気軸受の電流の増減により生成することも可能で
あり、この場合は、面圧をスラスト軸受の制御電流をパ
ラメータとして制御する。
The relationship between force and current can be approximated as substantially linear. That is, assuming that K is a coefficient, I is a current value, and F is a force, F = KI, a force is calculated from the above equation, a comparison is made with the set force (pressure), an increase / decrease amount is calculated, and a correction amount is raised / lowered. The position of the entire magnetic bearing is controlled by driving the lifting mechanism up and down to control the pressure on the polished surface. The force to be corrected can be generated by increasing or decreasing the current of the magnetic bearing. In this case, the surface pressure is controlled using the control current of the thrust bearing as a parameter.

【0036】図7は上記の過程をフロー図として説明す
るもので、面圧コントローラ23では、駆動回路24の
スラスト軸受13の制御電流を検知し(st1)、この制
御電流値と変位センサ34からの変位信号の値から面間
に作用する力を計算する(st2)。この時、浮上位置が
一定であれば、図中st2でのKの値は変わらない。こ
れにより計算された面圧を設定値と比較し(st3)、許
容範囲内でないときは補正圧力を計算する(st4)。計
算された補正圧力に基づいて昇降機構を駆動し、磁気軸
受全体の位置制御を行なう(st5)。そして、再びst
1に戻り、同一の工程を繰り返し、設定値と計算圧力の
差が許容範囲内になるまでこれを繰り返す。このような
制御により、所定の適正面圧で研磨が行われる。このプ
ロセスを図8において図示している。
FIG. 7 explains the above process as a flow chart. The surface pressure controller 23 detects the control current of the thrust bearing 13 of the drive circuit 24 (st1), and the control current value and the displacement sensor 34 The force acting between the surfaces is calculated from the value of the displacement signal (st2). At this time, if the flying position is constant, the value of K at st2 in the drawing does not change. The calculated surface pressure is compared with a set value (st3), and when it is not within the allowable range, a corrected pressure is calculated (st4). The lifting mechanism is driven based on the calculated correction pressure to control the position of the entire magnetic bearing (st5). And again st
Returning to step 1, the same process is repeated until the difference between the set value and the calculated pressure is within the allowable range. By such control, polishing is performed at a predetermined appropriate surface pressure. This process is illustrated in FIG.

【0037】この場合、制御応答性能は昇降機構の駆動
機構に依存する。昇降機構が、例えば、ステッピングモ
ータで駆動されるボールねじである場合、機械的に駆動
し、間接的に圧力を制御するため、応答性がそれ程速く
ないが、遅い面圧変動には対応できる。上記のような昇
降機構に変えて、計算された補正圧力を出力するための
電流値をスラスト軸受へ送り、直接軸受の電流値すなわ
ち、力を制御することによってトップリング軸の押し付
け力を制御してもよい。磁気軸受の電流値を変え、研磨
面の押し付け圧力を変えるのは、機械的な駆動なしに直
接面圧力を制御することになり、応答性の優れた制御が
可能となる。
In this case, the control response performance depends on the driving mechanism of the lifting mechanism. When the elevating mechanism is, for example, a ball screw driven by a stepping motor, it is mechanically driven and indirectly controls the pressure. Therefore, the response is not so fast, but it can cope with a slow fluctuation in surface pressure. Instead of the elevating mechanism as described above, the current value for outputting the calculated correction pressure is sent to the thrust bearing, and the current value of the bearing, that is, the pressing force of the top ring shaft is controlled by controlling the force. You may. Changing the current value of the magnetic bearing and changing the pressing pressure on the polished surface means directly controlling the surface pressure without mechanical driving, thereby enabling control with excellent responsiveness.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上説明したように、この発明のポリッ
シング装置によれば、磁気軸受の制御機構を応用して被
研磨物を保持するトップリングの姿勢を制御することに
より、被研磨面の面圧分布を最適の状態にして研磨を行
ない、平坦度の高い研磨を行なうことができる。
As described above, according to the polishing apparatus of the present invention, the position of the top ring for holding the object to be polished is controlled by applying the control mechanism of the magnetic bearing, whereby the surface of the surface to be polished is controlled. Polishing is performed with the pressure distribution in an optimum state, and polishing with high flatness can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るポリッシング装置の全体の構成を
示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a polishing apparatus according to the present invention.

【図2】図1のポリッシング装置のトップリング部の構
成を示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a top ring unit of the polishing apparatus of FIG. 1;

【図3】(a)は図2のA−A断面、(b)は図2のB−B
断面を示す図である。
3A is a sectional view taken along line AA of FIG. 2, and FIG. 3B is a sectional view taken along line BB of FIG.
It is a figure showing a section.

【図4】トップリング機構を制御する制御部の機能構成
を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram illustrating a functional configuration of a control unit that controls a top ring mechanism.

【図5】X軸、Y軸、Z軸、傾きα、傾きβの関係を説
明する図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a relationship among an X axis, a Y axis, a Z axis, an inclination α, and an inclination β.

【図6】本発明のポリッシング装置の姿勢制御工程を説
明するフロー図である。
FIG. 6 is a flowchart illustrating an attitude control step of the polishing apparatus of the present invention.

【図7】本発明のポリッシング装置の面圧制御工程を説
明するフロー図である。
FIG. 7 is a flowchart illustrating a surface pressure control step of the polishing apparatus of the present invention.

【図8】本発明のポリッシング装置の面圧の推移を示す
グラフである。
FIG. 8 is a graph showing changes in surface pressure of the polishing apparatus of the present invention.

【図9】本発明のポリッシング装置の効果を示すグラフ
である。
FIG. 9 is a graph showing the effect of the polishing apparatus of the present invention.

【図10】従来のポリッシング装置の全体の構成を示す
図である。
FIG. 10 is a diagram showing the overall configuration of a conventional polishing apparatus.

【図11】(a)から(e)は従来のポリッシング装置の作
用を説明する図である。
FIGS. 11A to 11E are diagrams for explaining the operation of a conventional polishing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 研磨クロス 2 ターンテーブル 3 トップリング 10 磁気軸受機構 12 回転軸 13 スラスト軸受 14,15 ラジアル軸受 31 コントローラ 32 磁気軸受駆動部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Polishing cloth 2 Turntable 3 Top ring 10 Magnetic bearing mechanism 12 Rotary shaft 13 Thrust bearing 14,15 Radial bearing 31 Controller 32 Magnetic bearing drive

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 研磨面を有するターンテーブルと、被研
磨物を保持するトップリングを具備し、両者を回転させ
ながら研磨面と被研磨物の被研磨面を摺動させて研磨す
るポリッシング装置において、 前記トップリングの回転軸をスラスト軸受とラジアル軸
受により支持する磁気軸受装置と、該磁気軸受を制御す
ることにより前記トップリングの前記ターンテーブルに
対する姿勢を制御する姿勢制御手段を設けたことを特徴
とするポリッシング装置。
1. A polishing apparatus comprising: a turntable having a polished surface; and a top ring for holding an object to be polished, wherein the polishing device slides the polished surface and the surface to be polished while rotating the both to polish. A magnetic bearing device that supports a rotating shaft of the top ring with a thrust bearing and a radial bearing; and attitude control means that controls the attitude of the top ring with respect to the turntable by controlling the magnetic bearing. Polishing equipment.
【請求項2】 前記姿勢制御手段は、前記ターンテーブ
ルの走行方向に沿った研磨面と被研磨面の傾斜角度を制
御することを特徴とする請求項1に記載のポリッシング
装置。
2. The polishing apparatus according to claim 1, wherein the attitude control means controls an inclination angle between the polished surface and the polished surface along the traveling direction of the turntable.
【請求項3】 さらに、前記研磨面と被研磨面の間の面
圧の値を制御する面圧制御部を有することを特徴とする
請求項1に記載のポリッシング装置。
3. The polishing apparatus according to claim 1, further comprising a surface pressure control unit that controls a value of a surface pressure between the polishing surface and the surface to be polished.
【請求項4】 研磨面を有するターンテーブルと、被研
磨物を保持するトップリングを用い、両者を回転させな
がら前記研磨面と前記被研磨物の被研磨面を摺動させて
研磨するポリッシング方法において、 前記トップリングの回転軸をスラスト軸受とラジアル軸
受を有する磁気軸受装置により支持し、該磁気軸受を制
御することにより前記トップリングの前記ターンテーブ
ルに対する姿勢を制御することを特徴とするポリッシン
グ方法。
4. A polishing method in which a turntable having a polished surface and a top ring for holding an object to be polished are polished by sliding the polished surface and the surface to be polished while rotating both. The polishing method according to claim 1, wherein a rotating shaft of the top ring is supported by a magnetic bearing device having a thrust bearing and a radial bearing, and the attitude of the top ring with respect to the turntable is controlled by controlling the magnetic bearing. .
【請求項5】 研磨面を有するターンテーブルと、被研
磨物を保持するトップリングを具備し、両者を回転させ
ながら研磨面と被研磨物の被研磨面を摺動させて研磨す
るポリッシング装置において、 前記トップリングの回転軸をスラスト軸受とラジアル軸
受により支持する磁気軸受装置と、該磁気軸受を制御す
ることにより前記研磨面と前記被研磨面の間の面圧を制
御する面圧制御手段を設けたことを特徴とするポリッシ
ング装置。
5. A polishing apparatus, comprising: a turntable having a polishing surface; and a top ring for holding an object to be polished, wherein the polishing device slides the surface to be polished and the surface to be polished while rotating both members. A magnetic bearing device that supports a rotating shaft of the top ring with a thrust bearing and a radial bearing, and a surface pressure control unit that controls a surface pressure between the polishing surface and the surface to be polished by controlling the magnetic bearing. A polishing apparatus characterized by being provided.
【請求項6】 研磨面を有するターンテーブルと、被研
磨物を保持するトップリングを用い、両者を回転させな
がら前記研磨面と前記被研磨物の被研磨面を摺動させて
研磨するポリッシング方法において、 前記トップリングの回転軸をスラスト軸受とラジアル軸
受を有する磁気軸受装置により支持し、該磁気軸受を制
御することにより前記研磨面と前記被研磨面の間の面圧
を制御することを特徴とするポリッシング方法。
6. A polishing method in which a turntable having a polished surface and a top ring holding an object to be polished are polished by sliding the polished surface and the surface to be polished while rotating the both. In the above, the rotating shaft of the top ring is supported by a magnetic bearing device having a thrust bearing and a radial bearing, and the surface pressure between the polished surface and the polished surface is controlled by controlling the magnetic bearing. Polishing method.
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