JPH1055762A - マグネトロン - Google Patents
マグネトロンInfo
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- JPH1055762A JPH1055762A JP20845596A JP20845596A JPH1055762A JP H1055762 A JPH1055762 A JP H1055762A JP 20845596 A JP20845596 A JP 20845596A JP 20845596 A JP20845596 A JP 20845596A JP H1055762 A JPH1055762 A JP H1055762A
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- magnetron
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ゲッタの劣化によるマグネトロン内の真空度
の低下を抑え、長期に亘り安定した発振を行うマグネト
ロンを提供する。 【解決手段】 陰極4に第1ゲッタ19を配設し、陽極
円筒1内で且つマグネトロンの動作持に陰極4よりも低
温になる位置に第2ゲッタ20を配設する。
の低下を抑え、長期に亘り安定した発振を行うマグネト
ロンを提供する。 【解決手段】 陰極4に第1ゲッタ19を配設し、陽極
円筒1内で且つマグネトロンの動作持に陰極4よりも低
温になる位置に第2ゲッタ20を配設する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、電子レンジなど
のマイクロ波加熱器などに用いられるマグネトロンに関
する。
のマイクロ波加熱器などに用いられるマグネトロンに関
する。
【0002】
【従来の技術】図4に、従来の一般的なマグネトロンに
関する構造を示す。1は無酸素銅などからなり真空壁
(真空容器の壁面、以下同じ)の一部となる陽極円筒
で、その内周に複数個のベイン2が放射状に設けられて
いる。各ベイン2は1個おきに大径及び小径のストラッ
プリング3により接続され、πモード発振の安定化が図
られている。陽極円筒1の両端には、ベイン2の先端と
陽極円筒1の中心部に設けられる陰極4との間の作用空
間に磁界を集中させるための磁極片5がそれぞれ設けら
れている。
関する構造を示す。1は無酸素銅などからなり真空壁
(真空容器の壁面、以下同じ)の一部となる陽極円筒
で、その内周に複数個のベイン2が放射状に設けられて
いる。各ベイン2は1個おきに大径及び小径のストラッ
プリング3により接続され、πモード発振の安定化が図
られている。陽極円筒1の両端には、ベイン2の先端と
陽極円筒1の中心部に設けられる陰極4との間の作用空
間に磁界を集中させるための磁極片5がそれぞれ設けら
れている。
【0003】陰極4は、例えばトリウムタングステン線
などがコイル状に巻かれたフィラメント6からなり、各
ベイン2の先端で囲まれた空間で、陽極円筒1の中心部
に設けられている。そしてその両端にはトップハット7
及びエンドハット8が固着され、トップハット7及びエ
ンドハット8はそれぞれ陰極リード9に接続されてい
る。陰極リード9はセラミックなどの絶縁体からなる陰
極ステム10を経て外部リード11に接続され、これら
により陰極部が形成されている。陰極ステム10は陰極
側金属筒12を介して陽極円筒1に固定される。なお、
陰極側金属筒12及び陰極ステム10が入力側の真空壁
を構成している。
などがコイル状に巻かれたフィラメント6からなり、各
ベイン2の先端で囲まれた空間で、陽極円筒1の中心部
に設けられている。そしてその両端にはトップハット7
及びエンドハット8が固着され、トップハット7及びエ
ンドハット8はそれぞれ陰極リード9に接続されてい
る。陰極リード9はセラミックなどの絶縁体からなる陰
極ステム10を経て外部リード11に接続され、これら
により陰極部が形成されている。陰極ステム10は陰極
側金属筒12を介して陽極円筒1に固定される。なお、
陰極側金属筒12及び陰極ステム10が入力側の真空壁
を構成している。
【0004】ベイン2の1つには出力アンテナリード1
3の一端が電気的に接続され、その他端は磁極片5の貫
通孔14、出力側金属筒15及びセラミック円筒などか
らなる絶縁筒16の中心部を貫通して排気管17の封止
部で固定されている。この封止部には図示しないキャッ
プが被せられる。出力側金属筒15は陽極円筒1と直接
電気的に接続されており、陽極部発振したマイクロ波電
力は、出力側金属筒15の中心軸上を延びる出力アンテ
ナリード13を同軸線路として進み、その先端から放射
される。この出力側金属筒15、絶縁筒16、及び排気
管17が出力側の真空壁を構成している。
3の一端が電気的に接続され、その他端は磁極片5の貫
通孔14、出力側金属筒15及びセラミック円筒などか
らなる絶縁筒16の中心部を貫通して排気管17の封止
部で固定されている。この封止部には図示しないキャッ
プが被せられる。出力側金属筒15は陽極円筒1と直接
電気的に接続されており、陽極部発振したマイクロ波電
力は、出力側金属筒15の中心軸上を延びる出力アンテ
ナリード13を同軸線路として進み、その先端から放射
される。この出力側金属筒15、絶縁筒16、及び排気
管17が出力側の真空壁を構成している。
【0005】フィラメント6のトップハット7の上面に
はゲッタ18が接合されており、管内に発生する微量気
体を吸着する。ゲッタ18はチタンやジルコニウムなど
によって構成されている。このゲッタ18によって、マ
グネトロンの発振部を高真空にし、安定した発振を維持
させてる。
はゲッタ18が接合されており、管内に発生する微量気
体を吸着する。ゲッタ18はチタンやジルコニウムなど
によって構成されている。このゲッタ18によって、マ
グネトロンの発振部を高真空にし、安定した発振を維持
させてる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、マグネ
トロンの動作時はフィラメントが高温になり、それにと
もないトップハットやエンドハットも高温になる。この
ときフェラメントは約1700℃になり、トップハット
に接合されるゲッタも加熱され約1100℃の高温にな
る。このときゲッタはよくガスを吸収するが、その反
面、高温で動作するために劣化が早く、電子レンジを長
期間使用するとゲッタがマグネトロン内のガスを完全に
吸収しきれなくなる。こうしてマグネトロン内の真空度
が低下すると発振効率が下がり、更に真空度が低下する
と発振停止になる恐れがあった。
トロンの動作時はフィラメントが高温になり、それにと
もないトップハットやエンドハットも高温になる。この
ときフェラメントは約1700℃になり、トップハット
に接合されるゲッタも加熱され約1100℃の高温にな
る。このときゲッタはよくガスを吸収するが、その反
面、高温で動作するために劣化が早く、電子レンジを長
期間使用するとゲッタがマグネトロン内のガスを完全に
吸収しきれなくなる。こうしてマグネトロン内の真空度
が低下すると発振効率が下がり、更に真空度が低下する
と発振停止になる恐れがあった。
【0007】そこで本発明は、真空度の低下を抑え、安
定した発振を行うマグネトロンを提供する。
定した発振を行うマグネトロンを提供する。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項1の発明は、陽極円筒と、陽極円筒の中心軸線
上に配置される陰極と、陽極円筒の内周面に放射状に配
置された複数枚のベインと、陽極円筒の両開口端部に配
設された一対の磁極片とを備えたマグネトロンである。
そして陰極に第1ゲッタを配置し、陽極円筒内で且つマ
グネトロンの動作時に陰極より低温になる位置に第2ゲ
ッタを配置している。この第2ゲッタは第1ゲッタより
も低温で動作するため、第1ゲッタよりも劣化し難い。
そしてマグネトロンの製造後に発生するガスを主に第1
ゲッタで吸収し、第1ゲッタが劣化すると第2ゲッタで
吸収する。
に請求項1の発明は、陽極円筒と、陽極円筒の中心軸線
上に配置される陰極と、陽極円筒の内周面に放射状に配
置された複数枚のベインと、陽極円筒の両開口端部に配
設された一対の磁極片とを備えたマグネトロンである。
そして陰極に第1ゲッタを配置し、陽極円筒内で且つマ
グネトロンの動作時に陰極より低温になる位置に第2ゲ
ッタを配置している。この第2ゲッタは第1ゲッタより
も低温で動作するため、第1ゲッタよりも劣化し難い。
そしてマグネトロンの製造後に発生するガスを主に第1
ゲッタで吸収し、第1ゲッタが劣化すると第2ゲッタで
吸収する。
【0009】また請求項2の発明は、第2ゲッタを磁極
片に配設している。そしてマグネトロンの動作中は、陰
極が約1700℃に、磁極片が約300℃になる。その
ため第2ゲッタは第1ゲッタよりも低温で動作するの
で、長期に亘りガスを吸収することができる。
片に配設している。そしてマグネトロンの動作中は、陰
極が約1700℃に、磁極片が約300℃になる。その
ため第2ゲッタは第1ゲッタよりも低温で動作するの
で、長期に亘りガスを吸収することができる。
【0010】また請求項3の発明は、第2ゲッタを陽極
円筒に配設している。そしてマグネトロンの動作中は、
陰極が約1700℃に、陽極円筒が約300℃になる。
そのため第2ゲッタは第1ゲッタよりも低温で動作する
ので、長期に亘りガスを吸収することができる。
円筒に配設している。そしてマグネトロンの動作中は、
陰極が約1700℃に、陽極円筒が約300℃になる。
そのため第2ゲッタは第1ゲッタよりも低温で動作する
ので、長期に亘りガスを吸収することができる。
【0011】また請求項4の発明は、第2ゲッタをベイ
ンに配設している。そしてマグネトロンの動作中は、陰
極が約1700℃に、ベインが約300℃になる。その
ため第2ゲッタは第1ゲッタよりも低温で動作するの
で、長期に亘りガスを吸収することができる。
ンに配設している。そしてマグネトロンの動作中は、陰
極が約1700℃に、ベインが約300℃になる。その
ため第2ゲッタは第1ゲッタよりも低温で動作するの
で、長期に亘りガスを吸収することができる。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図1に基づ
き説明する。なお、従来技術と同一の部品は同一符号を
付して説明を省略する。
き説明する。なお、従来技術と同一の部品は同一符号を
付して説明を省略する。
【0013】図1において、19はトップハット7の上
面に配設した第1ゲッタであり、チタンやジルコニウム
などから構成されている。トップハット7は円盤状であ
り、第1ゲッタ19はトップハット7と同じ大きさの円
盤状である。この第1ゲッタ19は1100℃程度に加
熱するとよくガスを吸収し、低温になるとガス吸収速度
が遅くなる。マグネトロンの動作中はフェラメント6の
温度が約1700℃になり、第1ゲッタ19もトップハ
ット7を介して加熱されて約1100℃になる。そのた
め第1ゲッタ19はマグネトロンの動作中は真空部内の
ガスをよく吸収し、マグネトロン内の真空状態を保持し
ている。
面に配設した第1ゲッタであり、チタンやジルコニウム
などから構成されている。トップハット7は円盤状であ
り、第1ゲッタ19はトップハット7と同じ大きさの円
盤状である。この第1ゲッタ19は1100℃程度に加
熱するとよくガスを吸収し、低温になるとガス吸収速度
が遅くなる。マグネトロンの動作中はフェラメント6の
温度が約1700℃になり、第1ゲッタ19もトップハ
ット7を介して加熱されて約1100℃になる。そのた
め第1ゲッタ19はマグネトロンの動作中は真空部内の
ガスをよく吸収し、マグネトロン内の真空状態を保持し
ている。
【0014】20は磁極片5に配設された第2ゲッタで
あり、第1ゲッタ19と同様にチタンやジルコニウムな
どから構成されている。磁極片5はトップハット7の上
方に当たる位置が開口しており、第2ゲッタ20はこの
開口部の周辺に配設されている。このとき第2ゲッタ2
0は作用空間の付近に配置されるので、作用空間のガス
を効果的に吸収することができる。また実施の形態で
は、1つの第2ゲッタ20を磁極片5に配設したが、複
数の第2ゲッタ20を配設しても構わない。
あり、第1ゲッタ19と同様にチタンやジルコニウムな
どから構成されている。磁極片5はトップハット7の上
方に当たる位置が開口しており、第2ゲッタ20はこの
開口部の周辺に配設されている。このとき第2ゲッタ2
0は作用空間の付近に配置されるので、作用空間のガス
を効果的に吸収することができる。また実施の形態で
は、1つの第2ゲッタ20を磁極片5に配設したが、複
数の第2ゲッタ20を配設しても構わない。
【0015】マグネトロンの動作中は磁極片5が約30
0℃になり、第2ゲッタ20も磁極片5に加熱されて約
300℃になる。第2ゲッタ20は第1ゲッタ19より
も動作温度が低いため、第1ゲッタ19よりもガス吸収
速度は遅くなるが、第1ゲッタ19よりも長期間ガスを
吸収することができる。
0℃になり、第2ゲッタ20も磁極片5に加熱されて約
300℃になる。第2ゲッタ20は第1ゲッタ19より
も動作温度が低いため、第1ゲッタ19よりもガス吸収
速度は遅くなるが、第1ゲッタ19よりも長期間ガスを
吸収することができる。
【0016】マグネトロンを製造するときに、真空部内
にガスが残留する。さらに製造してまもないマグネトロ
ンは動作中にガスが発生し易く、真空部内に多くのガス
が残留する。このとき第1ゲッタ19が劣化していない
ので、第1ゲッタ19によって残留するガスを完全に吸
収でき、真空部内の真空状態を保持する。
にガスが残留する。さらに製造してまもないマグネトロ
ンは動作中にガスが発生し易く、真空部内に多くのガス
が残留する。このとき第1ゲッタ19が劣化していない
ので、第1ゲッタ19によって残留するガスを完全に吸
収でき、真空部内の真空状態を保持する。
【0017】マグネトロンを長期間使用すると、第1ゲ
ッタ19が劣化してガスをあまり吸収しなくなる。それ
まで発生したガスは第1ゲッタ19によって吸収される
ので、真空部内にガスは残留していない。さらにマグネ
トロン内のガスは、製造直後に多く発生し、長期間使用
していくと余り発生しなくなる。そのため第1ゲッタ1
9が劣化する頃は、真空管構成部品からの放出ガスは微
量になる。このとき第2ゲッタ20はまだガスを吸収す
ることができ、またガス吸収速度は遅いがマグネトロン
内のガスが微量であるので、第2ゲッタでガスを吸収す
る。このため発振部の真空状態を長期間維持することが
でき、安定した発振を実現できる。
ッタ19が劣化してガスをあまり吸収しなくなる。それ
まで発生したガスは第1ゲッタ19によって吸収される
ので、真空部内にガスは残留していない。さらにマグネ
トロン内のガスは、製造直後に多く発生し、長期間使用
していくと余り発生しなくなる。そのため第1ゲッタ1
9が劣化する頃は、真空管構成部品からの放出ガスは微
量になる。このとき第2ゲッタ20はまだガスを吸収す
ることができ、またガス吸収速度は遅いがマグネトロン
内のガスが微量であるので、第2ゲッタでガスを吸収す
る。このため発振部の真空状態を長期間維持することが
でき、安定した発振を実現できる。
【0018】図2は、他の実施の形態である。なお、図
1の実施の形態と同一の部分は同一符号を付して、説明
を省略する。
1の実施の形態と同一の部分は同一符号を付して、説明
を省略する。
【0019】21は第2ゲッタであり、陽極円筒1に配
設されている。陽極円筒1にはトップハット7よりもゲ
ッタを配設する場所が多くあるので、第2ゲッタ21を
様々な大きさにすることができる。陽極円筒1の内面は
曲面になっており、第2ゲッタ21はその陽極円筒1の
内面に接合されている。第2ゲッタ21は図1の第2ゲ
ッタ20と同様に、チタンやジルコニウム等から構成さ
れている。そしてマグネトロンが動作するとき陽極円筒
1は約300℃になるので、第2ゲッタ21も約300
℃に加熱された状態で動作する。
設されている。陽極円筒1にはトップハット7よりもゲ
ッタを配設する場所が多くあるので、第2ゲッタ21を
様々な大きさにすることができる。陽極円筒1の内面は
曲面になっており、第2ゲッタ21はその陽極円筒1の
内面に接合されている。第2ゲッタ21は図1の第2ゲ
ッタ20と同様に、チタンやジルコニウム等から構成さ
れている。そしてマグネトロンが動作するとき陽極円筒
1は約300℃になるので、第2ゲッタ21も約300
℃に加熱された状態で動作する。
【0020】第2ゲッタ21は第1ゲッタ19よりも低
温で動作するので、長期間ガスを吸収することができ
る。したがって、マグネトロンを製造してまもない頃に
発生するガスは約1100℃で動作する第1ゲッタ19
によって吸収され、第1ゲッタ19が劣化したときに
は、第2ゲッタ21によって僅かに発生するガスを吸収
する。こうしてマグネトロン内を長期に亘り真空状態に
維持することができ、安定した発振をすることができ
る。
温で動作するので、長期間ガスを吸収することができ
る。したがって、マグネトロンを製造してまもない頃に
発生するガスは約1100℃で動作する第1ゲッタ19
によって吸収され、第1ゲッタ19が劣化したときに
は、第2ゲッタ21によって僅かに発生するガスを吸収
する。こうしてマグネトロン内を長期に亘り真空状態に
維持することができ、安定した発振をすることができ
る。
【0021】図3は、他の実施の形態である。なお、図
1の実施の形態と同一の部分は同一の符号を付して、説
明を省略する。
1の実施の形態と同一の部分は同一の符号を付して、説
明を省略する。
【0022】22は第2ゲッタであり、ベイン2の上面
に配設されている。なお、この第2ゲッタ22はベイン
2に配設できればよく、ベイン2の上面に限定されるも
のではない。第2ゲッタ22は図1の第2ゲッタ20と
同様にチタンやジルコニウムによって構成されており、
ストラップリング3と陽極円筒1の間に配設されてい
る。ベイン2に第2ゲッタ22を配設する場合、第2ゲ
ッタ22を陽極円筒1からベイン2の先端までの間に配
設することができる。そのため第2ゲッタ22をガスが
発生し易い部分に配設することができ、効率よくガスを
吸収できる。
に配設されている。なお、この第2ゲッタ22はベイン
2に配設できればよく、ベイン2の上面に限定されるも
のではない。第2ゲッタ22は図1の第2ゲッタ20と
同様にチタンやジルコニウムによって構成されており、
ストラップリング3と陽極円筒1の間に配設されてい
る。ベイン2に第2ゲッタ22を配設する場合、第2ゲ
ッタ22を陽極円筒1からベイン2の先端までの間に配
設することができる。そのため第2ゲッタ22をガスが
発生し易い部分に配設することができ、効率よくガスを
吸収できる。
【0023】マグネトロンが動作するときベイン2は約
300℃になるので、第2ゲッタ22も約300℃に加
熱される。したがって、第2ゲッタ22は第1ゲッタ1
9よりも劣化し難く、長期間ガスを吸収することができ
る。そしてマグネトロンを製造してまもない頃は、真空
管構成部品から発生する大量のガスを第1ゲッタ19に
よって吸収し、第1ゲッタ19が劣化してガスを吸収し
なくなったときには、第2ゲッタ22によって発生する
ガスを吸収する。こうしてマグネトロン内を長期に亘っ
て真空状態に維持することができ、マグネトロンが安定
した発振をできる。
300℃になるので、第2ゲッタ22も約300℃に加
熱される。したがって、第2ゲッタ22は第1ゲッタ1
9よりも劣化し難く、長期間ガスを吸収することができ
る。そしてマグネトロンを製造してまもない頃は、真空
管構成部品から発生する大量のガスを第1ゲッタ19に
よって吸収し、第1ゲッタ19が劣化してガスを吸収し
なくなったときには、第2ゲッタ22によって発生する
ガスを吸収する。こうしてマグネトロン内を長期に亘っ
て真空状態に維持することができ、マグネトロンが安定
した発振をできる。
【0024】この実施の形態では、第1ゲッタ19より
も低温で動作する第2ゲッタ20、21、22を磁極片
5、陽極円筒1、ベイン2の内いずれかに配置したが、
第2ゲッタ20、21、22の配置する場所は、マグネ
トロン内のガスを吸収でき且つマグネトロンが動作中の
温度が低温の場所であれば、他の場所でも構わない。
も低温で動作する第2ゲッタ20、21、22を磁極片
5、陽極円筒1、ベイン2の内いずれかに配置したが、
第2ゲッタ20、21、22の配置する場所は、マグネ
トロン内のガスを吸収でき且つマグネトロンが動作中の
温度が低温の場所であれば、他の場所でも構わない。
【0025】また、この実施の形態では第2ゲッタ2
0、21、22を約300℃に加熱するが、第2ゲッタ
20、21、22は第1ゲッタ19よりも長期間ガスを
吸収できればよく、第1ゲッタ19の動作温度よりも低
ければ300℃でなくても良い。
0、21、22を約300℃に加熱するが、第2ゲッタ
20、21、22は第1ゲッタ19よりも長期間ガスを
吸収できればよく、第1ゲッタ19の動作温度よりも低
ければ300℃でなくても良い。
【0026】
【発明の効果】本発明は、陰極に第1ゲッタを配設し、
陽極円筒内で且つマグネトロンの動作時に陰極より低温
になる位置に第2ゲッタを配設している。そして第2ゲ
ッタは第1ゲッタよりのガス吸収速度が遅いが、長期に
亘ってガスを吸収することができる。そのため第1ゲッ
タが劣化してガスを吸収しなくなった後でも第2ゲッタ
によってマグネトロン内のガスを吸収することができ、
マグネトロン内を長期に亘り真空状態を維持して安定し
た発振を行うことができる。
陽極円筒内で且つマグネトロンの動作時に陰極より低温
になる位置に第2ゲッタを配設している。そして第2ゲ
ッタは第1ゲッタよりのガス吸収速度が遅いが、長期に
亘ってガスを吸収することができる。そのため第1ゲッ
タが劣化してガスを吸収しなくなった後でも第2ゲッタ
によってマグネトロン内のガスを吸収することができ、
マグネトロン内を長期に亘り真空状態を維持して安定し
た発振を行うことができる。
【0027】また、請求項2の発明は、第2ゲッタを磁
極片に配設している。そのため、第2ゲッタを作用空間
付近に配設することができ、作用空間のガスを効率よく
吸収することができる。そのため、作用空間内を効率よ
く真空状態に保つことができる。
極片に配設している。そのため、第2ゲッタを作用空間
付近に配設することができ、作用空間のガスを効率よく
吸収することができる。そのため、作用空間内を効率よ
く真空状態に保つことができる。
【0028】また、請求項3の発明は、第2ゲッタを陽
極円筒に配設している。そのため、第2ゲッタを様々な
大きさにすることができ、第2ゲッタの取付作業が容易
にできる。
極円筒に配設している。そのため、第2ゲッタを様々な
大きさにすることができ、第2ゲッタの取付作業が容易
にできる。
【0029】また、請求項4の発明は、第2ゲッタをベ
インに配設している。そのため、第2ゲッタをガスの発
生部の付近に配設することができ、発生するガスを効率
よく吸収することができる。
インに配設している。そのため、第2ゲッタをガスの発
生部の付近に配設することができ、発生するガスを効率
よく吸収することができる。
【図1】 本発明の実施の形態を示す本体部の断面図で
ある。
ある。
【図2】 本発明の他の実施の形態を示す本体部の断面
図である。
図である。
【図3】 本発明の他の実施の形態を示す本体部の断面
図である。
図である。
【図4】 従来のマグネトロンの本体部の断面図であ
る。
る。
1 陽極円筒 2 ベイン 4 陰極 5 磁極片 7 トップハット 8 エンドハット 19 第1ゲッタ 20 第2ゲッタ 21 第2ゲッタ 22 第2ゲッタ
Claims (4)
- 【請求項1】 陽極円筒と、前記陽極円筒の中心軸線上
に配置される陰極と、前記陽極円筒の内周面に放射状に
配置された複数枚のベインと、前記陽極円筒の両開口端
部に配設された一対の磁極片とを備え、前記陰極に配置
された第1ゲッタと、前記陽極円筒内で且つマグネトロ
ンの動作時に前記陰極より低温になる位置に配置された
第2ゲッタとを備えたことを特徴とするマグンネトロ
ン。 - 【請求項2】 陽極円筒と、前記陽極円筒の中心軸線上
に配置される陰極と、前記陽極円筒の内周面に放射状に
配置された複数枚のベインと、前記陽極円筒の両開口端
部に配設された一対の磁極片とを備え、前記陰極に配置
された第1ゲッタと、前記磁極片に配置された第2ゲッ
タとを備えたことを特徴とするマグネトロン。 - 【請求項3】 陽極円筒と、前記陽極円筒の中心軸線上
に配置される陰極と、前記陽極円筒の内周面に放射状に
配置された複数枚のベインと、前記陽極円筒の両開口端
部に配設された一対の磁極片とを備え、前記陰極に配置
された第1ゲッタと、前記陽極円筒に配置された第2ゲ
ッタとを備えたことを特徴とするマグネトロン。 - 【請求項4】 陽極円筒と、前記陽極円筒の中心軸線上
に配置される陰極と、前記陽極円筒の内周面に放射状に
配置された複数枚のベインと、前記陽極円筒の両開口端
部に配設された一対の磁極片とを備え、前記陰極に配置
された第1ゲッタと、前記ベインに配置された第2ゲッ
タとを備えたことを特徴とするマグネトロン。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20845596A JPH1055762A (ja) | 1996-08-07 | 1996-08-07 | マグネトロン |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20845596A JPH1055762A (ja) | 1996-08-07 | 1996-08-07 | マグネトロン |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1055762A true JPH1055762A (ja) | 1998-02-24 |
Family
ID=16556485
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20845596A Withdrawn JPH1055762A (ja) | 1996-08-07 | 1996-08-07 | マグネトロン |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1055762A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2104130A3 (en) * | 2008-03-19 | 2010-04-14 | Panasonic Corporation | Magnetron |
-
1996
- 1996-08-07 JP JP20845596A patent/JPH1055762A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2104130A3 (en) * | 2008-03-19 | 2010-04-14 | Panasonic Corporation | Magnetron |
US8314556B2 (en) | 2008-03-19 | 2012-11-20 | Panasonic Corporation | Magnetron |
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---|---|---|---|
A761 | Written withdrawal of application |
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