JPH1054355A - Evacuation device - Google Patents

Evacuation device

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JPH1054355A
JPH1054355A JP21364896A JP21364896A JPH1054355A JP H1054355 A JPH1054355 A JP H1054355A JP 21364896 A JP21364896 A JP 21364896A JP 21364896 A JP21364896 A JP 21364896A JP H1054355 A JPH1054355 A JP H1054355A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cryopump
gate valve
vacuum chamber
purge gas
regeneration
Prior art date
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Pending
Application number
JP21364896A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukio Sasada
幸夫 笹田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
Priority to JP21364896A priority Critical patent/JPH1054355A/en
Publication of JPH1054355A publication Critical patent/JPH1054355A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F04POSITIVE - DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS FOR LIQUIDS OR ELASTIC FLUIDS
    • F04BPOSITIVE-DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS
    • F04B37/00Pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B25/00 - F04B35/00
    • F04B37/06Pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B25/00 - F04B35/00 for evacuating by thermal means
    • F04B37/08Pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B25/00 - F04B35/00 for evacuating by thermal means by condensing or freezing, e.g. cryogenic pumps

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent contaminant generated while regeneration of a cryopump is treated from invading into a vacuum chamber by arranging the cryopump on the upper part of a vacuum chamber through a gate valve, and arranging cover member for opening/closing a circulating passage formed between the gate valve and the cryopump in the circulating passage. SOLUTION: In the case where regeneration of a cryopump 3 is treated, a gate valve 2 is closed, and also the operation of the cryopump 3 is stopped after the cover member 4a of a cover opening/closing mechanism 4 is arranged on a closing position for covering the upper part of the gate valve 2. After it is left for about 30 minutes, current-carrying of a heater is started, purge gas is led from a purge gas leading-in line into the main body of the cryopump 3, and purge gas is discharged from a purge gas discharge line. During treating of regeneration, a material returned to an ordinary temperature in the cryopump 3 drops down into a vacuum chamber 1 as water drop and oil drop. Such all drop materials 12 are received on the upper surface of the cover member 4a, and thereby, it is possible to prevent the drop materials 12 from sticking on the valve element of the gate valve 2.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造装置等
の内部を清浄に保つ必要のある装置に供される真空排気
装置に関し、特に、クライオポンプを使用した真空排気
装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an evacuation apparatus used for an apparatus such as a semiconductor manufacturing apparatus which needs to keep the inside clean, and more particularly to an evacuation apparatus using a cryopump.

【0002】[0002]

【従来の技術】イオン注入装置をはじめとする半導体製
造装置では、装置内部を清浄で高真空な状態に保持する
必要があり、従来より高真空ポンプとしてクライオポン
プを使用した真空排気装置が多用されている。その一例
として、イオン注入装置のエンドステーションについて
以下に説明する。
2. Description of the Related Art In a semiconductor manufacturing apparatus such as an ion implantation apparatus, it is necessary to maintain the inside of the apparatus in a clean and high vacuum state. Conventionally, a vacuum pumping apparatus using a cryopump has been frequently used as a high vacuum pump. ing. As one example, an end station of the ion implantation apparatus will be described below.

【0003】図5及び図6に示すように、ウエハ処理室
を形成する真空チャンバ51には、ゲートバルブ52を
介してクライオポンプ53が設置されている。円筒状の
真空チャンバ51内には、被処理物であるウエハ55を
保持する保持部材54が設けられている。また、上記ゲ
ートバルブ52は、図7に示すように、真空チャンバ5
1とクライオポンプ53との間の流通路の開閉を行う弁
体56と、この弁体56を開閉方向へ駆動するための弁
体駆動部57と、弁体56及び弁体駆動部57を揺動可
能に連結するリンク機構58と、外部に設けられた図示
しない動力源の動力を弁体駆動部57へ伝達する動力伝
達機構59とを備えている。
As shown in FIGS. 5 and 6, a cryopump 53 is provided via a gate valve 52 in a vacuum chamber 51 forming a wafer processing chamber. In the cylindrical vacuum chamber 51, a holding member 54 for holding a wafer 55 as an object to be processed is provided. The gate valve 52 is connected to the vacuum chamber 5 as shown in FIG.
A valve body 56 for opening and closing the flow passage between the cryopump 53 and the cryopump 53, a valve body driving unit 57 for driving the valve body 56 in the opening and closing direction, and a valve body 56 and a valve body driving unit 57 are swung. A link mechanism 58 operatively connected thereto and a power transmission mechanism 59 for transmitting the power of a power source (not shown) provided outside to the valve body driving unit 57 are provided.

【0004】ところで、上記クライオポンプ53は、極
低温に冷却された吸着面(コールドパネル)を有し、ポ
ンプ本体内に流入した気体分子を上記吸着面で凝縮吸着
し、真空チャンバ51内を排気するものであるが、その
吸着面への吸着量は、クライオポンプ53の運転時間と
共に増加し、長時間運転が行われるとポンプの排気性能
が低下する。このため、クライオポンプ53は、定期的
な再生を必要とする。
The cryopump 53 has an adsorption surface (cold panel) cooled to an extremely low temperature, and condenses and adsorbs gas molecules flowing into the pump body on the adsorption surface, and exhausts the inside of the vacuum chamber 51. However, the amount of adsorption on the adsorption surface increases with the operation time of the cryopump 53, and the pump performance deteriorates when the cryopump 53 is operated for a long time. Therefore, the cryopump 53 needs regular regeneration.

【0005】上記クライオポンプ53の再生処理は、ゲ
ートバルブ52を閉じた状態で行われる。この再生処理
は、クライオポンプ53の吸着面をヒータによって加熱
して常温に戻すと共に、クライオポンプ53の内部に窒
素ガス等のパージガスを導入し、吸着面に吸着されてい
た物質をパージガスと共に外部へ排出する処理である。
この再生処理が終了すれば、再びクライオポンプ53を
起動して真空チャンバ51の真空排気を行うためにゲー
トバルブ52を開く。
[0005] The regeneration process of the cryopump 53 is performed with the gate valve 52 closed. In this regeneration process, the adsorption surface of the cryopump 53 is heated by a heater to return to room temperature, and a purge gas such as nitrogen gas is introduced into the cryopump 53, and the substance adsorbed on the adsorption surface is discharged to the outside together with the purge gas. This is the process of discharging.
When the regeneration process is completed, the cryopump 53 is started again, and the gate valve 52 is opened to evacuate the vacuum chamber 51.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ゲート
バルブ52及びクライオポンプ53の設置スペースを確
保するためのレイアウト上の問題で、図5及び図6に示
すように、真空チャンバ51の上部に、ゲートバルブ5
2及びクライオポンプ53をこの順に設置しなければな
らない場合があり、この場合には上記のクライオポンプ
53の再生処理に伴って、以下のような不都合が生じる
ことがある。
However, due to the layout problem for securing the installation space for the gate valve 52 and the cryopump 53, as shown in FIGS. Valve 5
In some cases, the cryopump 53 and the cryopump 53 must be installed in this order. In this case, the following inconvenience may occur with the above-described cryopump 53 regeneration processing.

【0007】すなわち、クライオポンプ53の再生処理
中はゲートバルブ52が閉じられているが、クライオポ
ンプ53の内部で吸着されていた物質が常温に戻された
ときに当該ゲートバルブ52上に落下することがある。
クライオポンプ53からの落下物としては、水滴以外に
油状の物質も考えられる。これは、真空チャンバ51内
に設けられている数本のケーブルから、可塑剤として使
用されているフタル酸エステル等の物質が高真空中に放
出され、これがクライオポンプ53内に吸着されるため
であり、この物質はクライオポンプ53の再生処理中に
油滴となって落下する。また、油滴の要因としては、真
空チャンバ51内の粗引きを行うロータリーポンプの油
等も考えられる。
That is, the gate valve 52 is closed during the regeneration process of the cryopump 53, but the substance adsorbed inside the cryopump 53 falls onto the gate valve 52 when the temperature is returned to normal temperature. Sometimes.
As a fallen object from the cryopump 53, an oily substance may be considered in addition to water droplets. This is because a substance such as a phthalate ester used as a plasticizer is released into a high vacuum from several cables provided in the vacuum chamber 51 and is adsorbed in the cryopump 53. This substance is dropped as oil droplets during the regeneration processing of the cryopump 53. Further, as a factor of the oil droplet, oil of a rotary pump for performing rough evacuation in the vacuum chamber 51 or the like can be considered.

【0008】そして、クライオポンプ53からの落下物
(図7中の汚染物質60)がゲートバルブ52に付着す
ると、再生処理の終了後にゲートバルブ52が開かれた
際に、当該汚染物質60が端面で擦られて真空チャンバ
51内に落下することになる。真空チャンバ51内に
は、ウエハ55を保持する保持部材54が設けられてお
り、チャンバ内に落下した物質がウエハ55を汚染して
製品不良を招来し、歩留りが低下するという問題があ
る。特に、近年は、デバイスの微細化が進み、真空チャ
ンバ51内の汚染物質を低減することが重要な課題とな
っている。
When a fallen object (contaminant 60 in FIG. 7) from the cryopump 53 adheres to the gate valve 52, when the gate valve 52 is opened after the end of the regenerating process, the contaminant 60 is removed from the end face. And fall into the vacuum chamber 51. In the vacuum chamber 51, a holding member 54 for holding the wafer 55 is provided, and there is a problem that a substance dropped into the chamber contaminates the wafer 55 to cause a product defect, thereby lowering the yield. In particular, in recent years, miniaturization of devices has progressed, and reducing contaminants in the vacuum chamber 51 has become an important issue.

【0009】本発明は、上記に鑑みてなされたものであ
り、その目的は、クライオポンプの再生処理中に発生す
る汚染物質の真空チャンバ内への侵入を防止することが
できる真空排気装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide a vacuum exhaust device capable of preventing contaminants generated during regeneration processing of a cryopump from entering a vacuum chamber. Is to do.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る真
空排気装置は、真空チャンバの上部に、ゲートバルブを
介してクライオポンプが設けられているものであって、
上記の課題を解決するために、ゲートバルブとクライオ
ポンプとの間の流通路内に進入してゲートバルブの上部
を覆う閉位置と当該流通路から退避した開位置との間を
移動可能に設けられている蓋部材を備えていることを特
徴としている。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an evacuation apparatus, wherein a cryopump is provided above a vacuum chamber via a gate valve.
In order to solve the above-described problem, a movable member is provided to move between a closed position that enters the flow passage between the gate valve and the cryopump to cover an upper portion of the gate valve and an open position that is retracted from the flow passage. It is characterized by having a cover member provided.

【0011】上記の構成によれば、ゲートバルブとクラ
イオポンプとの間に開閉可能な蓋部材が設けられてい
る。この蓋部材の開閉駆動は、モータ等の駆動源を用い
て自動で行ってもよいし又は操作ハンドルをオペレータ
が手動で操作してもよい。
According to the above configuration, the lid member that can be opened and closed is provided between the gate valve and the cryopump. The opening and closing drive of the lid member may be automatically performed using a drive source such as a motor, or an operation handle may be manually operated by an operator.

【0012】そして、クライオポンプの再生処理時に
は、上記の蓋部材を閉じる(すなわち、蓋部材をゲート
バルブとクライオポンプとの間の流通路内に進入してゲ
ートバルブの上部を覆う閉位置に移動させる)ことによ
って、再生処理中にクライオポンプから落下する汚染物
質を蓋部材の上面で受け止めて、ゲートバルブに汚染物
質が付着することを確実に防止することができる。この
ため、再生処理終了後にゲートバルブを開いても、汚染
物質が真空チャンバ内へ侵入することがなく、真空チャ
ンバ内を清浄に保つことができる。
When the cryopump is regenerated, the lid member is closed (that is, the lid member is moved into the flow passage between the gate valve and the cryopump to move to the closed position covering the upper portion of the gate valve. By doing so, the contaminants falling from the cryopump during the regeneration process can be received by the upper surface of the lid member, and the contaminants can be reliably prevented from adhering to the gate valve. For this reason, even if the gate valve is opened after the end of the regeneration processing, no contaminants enter the vacuum chamber, and the inside of the vacuum chamber can be kept clean.

【0013】また、クライオポンプの真空排気運転中に
は、上記の蓋部材を開く(すなわち、蓋部材をゲートバ
ルブとクライオポンプとの間の流通路から退避した開位
置に移動させる)ことによって、真空排気時のコンダク
タンスを悪化させることがなく、クライオポンプの真空
排気能力に殆ど影響を及ぼさない。
Further, during the evacuation operation of the cryopump, the above-mentioned lid member is opened (that is, the lid member is moved to the open position retracted from the flow passage between the gate valve and the cryopump). The conductance during evacuation is not deteriorated, and the evacuation capacity of the cryopump is hardly affected.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態について図
1ないし図4に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0015】本実施の形態では、本発明の真空排気装置
を、イオン注入装置のエンドステーションに設けられる
ウエハ処理室に適用した場合について説明する。
In this embodiment, a case will be described in which the vacuum evacuation apparatus of the present invention is applied to a wafer processing chamber provided in an end station of an ion implantation apparatus.

【0016】図1及び図3に示すように、ウエハ処理室
を形成する円筒形の真空チャンバ1内には、被処理物で
あるウエハ13を保持する保持部材14が設けられてお
り、その上部には、ゲートバルブ2を介してクライオポ
ンプ3が設置されている。そして、ゲートバルブ2とク
ライオポンプ3との間には、再生処理中のクライオポン
プ3からの落下物が真空チャンバ1内へ侵入するのを防
止するための蓋開閉機構4が設けられている。
As shown in FIGS. 1 and 3, in a cylindrical vacuum chamber 1 forming a wafer processing chamber, a holding member 14 for holding a wafer 13 to be processed is provided. Is provided with a cryopump 3 via a gate valve 2. A lid opening / closing mechanism 4 is provided between the gate valve 2 and the cryopump 3 to prevent a falling object from the cryopump 3 during the regeneration process from entering the vacuum chamber 1.

【0017】図1に示すように、上記蓋開閉機構4は、
ゲートバルブ2とクライオポンプ3との間の流通路5の
径より若干小さな径を有する円盤状の蓋部材4aを備え
ている。この蓋部材4aは、クライオポンプ3の再生中
にゲートバルブ2とクライオポンプ3の間の流通路5内
に進入してゲートバルブ2の上部を覆うためのものであ
る。また、上記蓋部材4aは、クライオポンプ3の運転
中には、上記の流通路5から退避して当該流通路5と連
通して設けられた蓋用チャンバ6内で待機するようにな
っている。
As shown in FIG. 1, the lid opening / closing mechanism 4 includes
A disk-shaped lid member 4a having a diameter slightly smaller than the diameter of the flow passage 5 between the gate valve 2 and the cryopump 3 is provided. The lid member 4 a is to enter the flow passage 5 between the gate valve 2 and the cryopump 3 during the regeneration of the cryopump 3 to cover the upper part of the gate valve 2. The lid member 4 a is retracted from the flow passage 5 and stands by in a lid chamber 6 provided in communication with the flow passage 5 during operation of the cryopump 3. .

【0018】上記蓋部材4aは、蓋駆動機構7によって
駆動されて進退移動を行う。この蓋駆動機構7は、図1
及び図2に示すように、蓋部材4aに一体的に取付けら
れたラック8、及びこのラック8と歯合するピニオン9
等から構成される。尚、蓋用チャンバ6内には、蓋部材
4aの開閉方向の移動を案内する図示しないガイド機構
も設けられている。
The lid member 4a is driven by the lid drive mechanism 7 to move forward and backward. This lid drive mechanism 7 is shown in FIG.
As shown in FIG. 2, a rack 8 integrally attached to the lid member 4a, and a pinion 9 meshed with the rack 8
And so on. Note that a guide mechanism (not shown) for guiding the movement of the cover member 4a in the opening and closing direction is also provided in the cover chamber 6.

【0019】上記ピニオン9の回転軸9aは、ベアリン
グやオイルシール等を含む真空フィードスルー11を通
して蓋用チャンバ6の外部(大気側)に引き出されてい
る。外部に引き出された回転軸9aの端部には、蓋部材
4aの開閉をオペレータが手動で操作するための手動ハ
ンドル10が設けられている。尚、手動ハンドル10の
代わりに回転軸9aの端部にギヤを設け、当該ギヤをモ
ータ等の駆動源にて正・逆回転させる構成であってもよ
い。
The rotation shaft 9a of the pinion 9 is drawn out of the lid chamber 6 (atmosphere side) through a vacuum feedthrough 11 including a bearing and an oil seal. At the end of the rotating shaft 9a pulled out, a manual handle 10 for an operator to manually open and close the lid member 4a is provided. Note that a gear may be provided at the end of the rotating shaft 9a instead of the manual handle 10, and the gear may be rotated forward or backward by a drive source such as a motor.

【0020】上記蓋開閉機構4の下方に位置するゲート
バルブ2は、従来より用いられている一般的なものを使
用することができ、その一構成例を図4に示している。
このゲートバルブ2は、真空チャンバ1とクライオポン
プ3との間の流通路5の開閉を行う弁体21と、この弁
体21を開閉方向へ駆動するための弁体駆動部22と、
弁体21及び弁体駆動部22を揺動可能に連結するリン
ク機構23と、外部に設けられた図示しない動力源の動
力を弁体駆動部22へ伝達する動力伝達機構24とを備
えている。上記動力伝達機構24は、同図に示すよう
に、真空フィードスルー27を介して大気側から真空側
へ導入された回転軸25を中心として水平方向に回動
(スイング)し、その回動端部を弁体駆動部22に形成
された長溝(開閉方向と直交する方向に延びる溝)22
aに遊嵌してなるスイングアーム26によって構成する
ことができる。
As the gate valve 2 located below the lid opening / closing mechanism 4, a commonly used gate valve can be used, and an example of the configuration is shown in FIG.
The gate valve 2 includes a valve element 21 for opening and closing the flow passage 5 between the vacuum chamber 1 and the cryopump 3, a valve element driving unit 22 for driving the valve element 21 in the opening and closing direction,
A link mechanism 23 that swingably connects the valve body 21 and the valve body drive unit 22 and a power transmission mechanism 24 that transmits the power of a power source (not shown) provided outside to the valve body drive unit 22 are provided. . As shown in the figure, the power transmission mechanism 24 horizontally rotates (swings) about a rotation shaft 25 introduced from the atmosphere side to the vacuum side via a vacuum feedthrough 27, and its rotation end. A long groove (a groove extending in a direction orthogonal to the opening / closing direction) formed in the valve body driving section 22
The swing arm 26 can be constituted by loosely fitting the swing arm 26a.

【0021】上記蓋開閉機構4の蓋部材4aがゲートバ
ルブ2とクライオポンプ3の間の流通路5内に進入した
場合は、上記ゲートバルブ2の弁体21の上面全体が、
その上方に位置する蓋部材4aによって覆われる。
When the lid member 4a of the lid opening / closing mechanism 4 enters the flow passage 5 between the gate valve 2 and the cryopump 3, the entire upper surface of the valve body 21 of the gate valve 2 is
It is covered by a lid member 4a located above it.

【0022】上記の構成において、上記クライオポンプ
3の再生処理について以下に説明する。
In the above configuration, the regeneration process of the cryopump 3 will be described below.

【0023】再生処理を行うために、クライオポンプ3
の本体には、吸着面の凝縮吸着物質を加熱して気化させ
るヒータが設けられている。また、その本体には、内部
に窒素ガス等のパージガスを導入するためのパージガス
導入ライン、パージガスを排出するためのパージガス排
出ライン等が設けられている。尚、上記のヒータはクラ
イオポンプ3の再生時間を短縮することを目的として設
けられるものであり、勿論、ヒータを使用せずにパージ
ガスによる再生を行うことも可能である。
In order to perform the regeneration process, the cryopump 3
Is provided with a heater for heating and vaporizing the condensed adsorbed material on the adsorbing surface. Further, the main body is provided with a purge gas introduction line for introducing a purge gas such as a nitrogen gas, a purge gas discharge line for discharging the purge gas, and the like. The heater is provided for the purpose of shortening the regeneration time of the cryopump 3, and it is of course possible to perform regeneration using a purge gas without using a heater.

【0024】再生処理の開始に際して、先ず、ゲートバ
ルブ2を閉じると共に、図1に示すように、蓋開閉機構
4の蓋部材4aを閉方向に駆動し、ゲートバルブ2の上
方を覆う閉位置に蓋部材4aを配置する。そして、その
後クライオポンプ3の運転を停止する。
At the start of the regeneration process, first, the gate valve 2 is closed, and the lid member 4a of the lid opening / closing mechanism 4 is driven in the closing direction as shown in FIG. The lid member 4a is arranged. Then, the operation of the cryopump 3 is stopped.

【0025】その後、30分程度そのまま放置してから
ヒータへの通電を開始すると共に、パージガス導入ライ
ンよりパージガスをクライオポンプ3の本体内に導入
し、パージガス排出ラインよりパージガスを排出する。
そして、クライオポンプ3が常温に戻るまで待つ。
After that, the heater is left for about 30 minutes, and then the power supply to the heater is started. At the same time, the purge gas is introduced into the main body of the cryopump 3 from the purge gas introduction line, and the purge gas is discharged from the purge gas discharge line.
Then, it waits until the cryopump 3 returns to normal temperature.

【0026】この再生処理中に、先述のようにクライオ
ポンプ3内で常温に戻された物質が水滴や油滴となって
落下することがあるが、図1及び図4に示すように、こ
のような落下物(以下、汚染物質)12は全て蓋部材4
aの上面で受け止められ、ゲートバルブ2の弁体21に
付着することはない。
During the regenerating process, the substance returned to the normal temperature in the cryopump 3 as described above may fall as water drops or oil drops. As shown in FIGS. Such falling objects (hereinafter referred to as contaminants) 12 are all covered members 4
It is received on the upper surface of a and does not adhere to the valve body 21 of the gate valve 2.

【0027】尚、上記蓋部材4aの上面に関しては、周
端部よりも中央部の方が低くなるような受皿状の加工を
施すことが望ましい。これにより、蓋部材4aの進退移
動時の振動によって蓋部材4aに付着した物質がその周
端部からこぼれ落ちることを確実に防止できる。
The upper surface of the lid member 4a is desirably processed in a saucer shape such that the center portion is lower than the peripheral end portion. Thus, it is possible to reliably prevent the substance attached to the lid member 4a from spilling from the peripheral end due to the vibration during the movement of the lid member 4a.

【0028】上記の再生処理を所望の時間行ってクライ
オポンプ3の再生が完了すれば、パージガスの導入及び
ヒータへの通電を停止し、再生処理を終了する。
When the regeneration process is performed for a desired time and the regeneration of the cryopump 3 is completed, the introduction of the purge gas and the energization to the heater are stopped, and the regeneration process is terminated.

【0029】その後、クライオポンプ3の運転を開始す
る前に、図1に示すように、先ず、上記の汚染物質12
が付着した蓋部材4aを開方向へ駆動し、図中に仮想線
で示すように蓋用チャンバ6の内部の開位置へ退避させ
る。その後又は上記の蓋部材4aの開放動作と略同時に
ゲートバルブ2を開くが、ゲートバルブ2には汚染物質
12が付着していないので、このバルブ開放時に従来の
ように汚染物質12が真空チャンバ1内へ落下すること
はない。これにより、真空チャンバ1の内部を清浄に保
つことができる。
Thereafter, before the operation of the cryopump 3 is started, first, as shown in FIG.
Is driven in the opening direction, and is retracted to the open position inside the lid chamber 6 as shown by a virtual line in the figure. Thereafter, or substantially simultaneously with the opening operation of the lid member 4a, the gate valve 2 is opened. However, since the contaminant 12 is not attached to the gate valve 2, when the valve is opened, the contaminant 12 Will not fall into. Thereby, the inside of the vacuum chamber 1 can be kept clean.

【0030】また、上記のように、クライオポンプ3の
運転中は、蓋部材4aが、ゲートバルブ2とクライオポ
ンプ3との間の流通路5を塞がない位置に退避している
ので、排気時のコンダクタンスを悪化させることがな
く、クライオポンプ3の真空排気能力に何ら影響を及ぼ
すことはない。
Also, as described above, during operation of the cryopump 3, since the lid member 4 a is retracted to a position where the flow passage 5 between the gate valve 2 and the cryopump 3 is not blocked, exhaust is performed. The conductance at the time is not deteriorated, and the vacuum pumping capacity of the cryopump 3 is not affected at all.

【0031】尚、蓋部材4aが閉じていない状態でクラ
イオポンプ3の再生が行われることを防止するために、
蓋部材4aの閉状態を検知するセンサ(図示せず)がそ
の閉状態を検出していないときにはクライオポンプ3の
再生処理を禁止するインターロック機構を設けることが
望ましい。
Incidentally, in order to prevent the regeneration of the cryopump 3 in a state where the cover member 4a is not closed,
It is desirable to provide an interlock mechanism for inhibiting the regeneration process of the cryopump 3 when a sensor (not shown) for detecting the closed state of the lid member 4a does not detect the closed state.

【0032】また、蓋部材4aが開いていない状態でク
ライオポンプ3の運転が行われることを防止するため
に、蓋部材4aの開状態を検知するセンサ(図示せず)
がその開状態を検出していないときにはクライオポンプ
3の運転を禁止するインターロック機構を設けることが
望ましい。
In order to prevent the operation of the cryopump 3 when the cover member 4a is not open, a sensor (not shown) for detecting the open state of the cover member 4a.
It is desirable to provide an interlock mechanism for inhibiting the operation of the cryopump 3 when the open state is not detected.

【0033】尚、本実施の形態では、ラック8及びピニ
オン9を用いた蓋駆動機構7によって蓋部材4aの開閉
を行うようになっているが、これに限定されるものでは
なく、その他の駆動機構、例えば、上記ゲートバルブ2
の弁体駆動部22を開閉方向に移動させるための機構と
同様の駆動機構を用いることができる。
In this embodiment, the lid member 4a is opened and closed by the lid driving mechanism 7 using the rack 8 and the pinion 9. However, the present invention is not limited to this. Mechanism, for example, the gate valve 2
A driving mechanism similar to the mechanism for moving the valve body driving unit 22 in the opening and closing direction can be used.

【0034】また、本実施の形態では、本発明の真空排
気装置をイオン注入装置のウエハ処理室に適用した例を
示したが、これに限定されるものではない。本発明の真
空排気装置は、特に、上記のイオン注入装置をはじめと
する半導体製造装置に好適に用いることができるが、汚
染物質の侵入によって悪影響が生じるその他の装置にも
適用可能である。
Further, in this embodiment, an example is shown in which the vacuum evacuation apparatus of the present invention is applied to a wafer processing chamber of an ion implantation apparatus. However, the present invention is not limited to this. The vacuum evacuation apparatus of the present invention can be suitably used particularly for a semiconductor manufacturing apparatus such as the above-described ion implantation apparatus, but can also be applied to other apparatuses which are adversely affected by intrusion of contaminants.

【0035】[0035]

【発明の効果】請求項1の発明に係る真空排気装置は、
以上のように、ゲートバルブとクライオポンプとの間の
流通路内に進入してゲートバルブの上部を覆う閉位置と
当該流通路から退避した開位置との間を移動可能に設け
られている蓋部材を備えている構成である。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a vacuum evacuation apparatus.
As described above, the lid that is movable between the closed position that enters the flow passage between the gate valve and the cryopump and covers the upper part of the gate valve, and the open position that is retracted from the flow passage. This is a configuration including members.

【0036】それゆえ、クライオポンプの再生処理時に
は、蓋部材を閉位置に移動させることによって、再生処
理中にクライオポンプから落下する汚染物質を蓋部材の
上面で受け止め、汚染物質が真空チャンバ内へ侵入する
ことを確実に防止することができる。したがって、真空
チャンバ内を清浄に保つことができるという効果を奏す
る。また、クライオポンプの真空排気運転中には、蓋部
材を開位置に移動させることによって、真空排気時のコ
ンダクタンスを悪化させることがなく、クライオポンプ
の真空排気能力に殆ど影響を及ぼさないという効果も併
せて奏する。
Therefore, at the time of regeneration processing of the cryopump, by moving the lid member to the closed position, contaminants falling from the cryopump during the regeneration processing are received by the upper surface of the lid member, and the contaminants enter the vacuum chamber. Intrusion can be reliably prevented. Therefore, there is an effect that the inside of the vacuum chamber can be kept clean. In addition, during the evacuation operation of the cryopump, by moving the lid member to the open position, the conductance at the time of evacuation is not deteriorated, and the evacuation ability of the cryopump is hardly affected. Play together.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の一形態を示す図であり、蓋開閉
機構の構成を示す概略の縦断面図である。
FIG. 1 is a view showing one embodiment of the present invention, and is a schematic longitudinal sectional view showing a configuration of a lid opening / closing mechanism.

【図2】上記蓋開閉機構の構成を示す概略の横断面図で
ある。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a configuration of the lid opening / closing mechanism.

【図3】上記蓋開閉機構を具備したウエハ処理室(真空
排気装置)の概略正面図である。
FIG. 3 is a schematic front view of a wafer processing chamber (vacuum exhaust device) provided with the lid opening / closing mechanism.

【図4】上記ウエハ処理室のゲートバルブの構成を示す
概略の縦断面図である。
FIG. 4 is a schematic longitudinal sectional view showing a configuration of a gate valve in the wafer processing chamber.

【図5】従来のウエハ処理室の構成を示す模式図であ
る。
FIG. 5 is a schematic diagram showing a configuration of a conventional wafer processing chamber.

【図6】従来のウエハ処理室の概略正面図である。FIG. 6 is a schematic front view of a conventional wafer processing chamber.

【図7】従来のウエハ処理室のゲートバルブの構成を示
す概略の縦断面図である。
FIG. 7 is a schematic longitudinal sectional view showing a configuration of a conventional gate valve of a wafer processing chamber.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 真空チャンバ 2 ゲートバルブ 3 クライオポンプ 4 蓋開閉機構 4a 蓋部材 5 ゲートバルブとクライオポンプとの間の流通路 6 蓋用チャンバ 7 蓋駆動機構 8 ラック 9 ピニオン 12 汚染物質 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Vacuum chamber 2 Gate valve 3 Cryopump 4 Lid opening / closing mechanism 4a Lid member 5 Flow path between gate valve and cryopump 6 Lid chamber 7 Lid drive mechanism 8 Rack 9 Pinion 12 Contaminant

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】真空チャンバの上部に、ゲートバルブを介
してクライオポンプが設けられている真空排気装置にお
いて、 ゲートバルブとクライオポンプとの間の流通路内に進入
してゲートバルブの上部を覆う閉位置と当該流通路から
退避した開位置との間を移動可能に設けられている蓋部
材を備えていることを特徴とする真空排気装置。
An evacuation apparatus in which a cryopump is provided above a vacuum chamber via a gate valve, wherein the evacuator enters a flow passage between the gate valve and the cryopump to cover the upper part of the gate valve. An evacuation apparatus comprising: a lid member movably provided between a closed position and an open position retracted from the flow passage.
JP21364896A 1996-08-13 1996-08-13 Evacuation device Pending JPH1054355A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000257751A (en) * 1999-03-10 2000-09-19 Shin Meiwa Ind Co Ltd Vacuum gate valve
US6263679B1 (en) 2000-04-05 2001-07-24 Helix Technology Corporation Particulate dam for cryopump flange

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