JPH10511529A - 通信データ・フォーマット - Google Patents
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Classifications
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- G06K7/0008—General problems related to the reading of electronic memory record carriers, independent of its reading method, e.g. power transfer
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.複数の可変データ・ビット(a,b,s)と同期ビット(82,84)とによ って構成されるデジタル・データを含む装置(9)であって、前記可変データ・ ビットの数は前記同期ビット数よりも大きく、前記装置が、前記デジタル・デー タをバイナリ位相偏位法で変調することによって被変調データを生成する変調回 路(29〜37,41〜47)を備える装置(9); 前記被変調信号から被復調信号を生成する復調回路(57);および 前記被復調信号から前記可変データ・ビットを正確に回復する(110)デコ ーダ(59)であって、前記デコーダは前記被復調信号に前記同期ビットが含ま れることを検証する手段(114,132)と、前記被復調信号の補数を形成す る手段(130)と、前記可変データ・ビットを抽出する手段(122,123 ,138)とを備えるデコーダ(59); によって構成されることを特徴とするシステム。 2.前記デジタル・データがさらにCRCデータを備える請求項1記載のシス テム。 3.前記同期ビットが複数の分配同期ビット(82)と、複数の連続同期ビッ ト(84)を有する固定された同期フィールドとを備える請求項1記載のシステ ム。 4.前記可変データ・ビットが複数のフィールド内に配列される請求項1記載 のシステム。 5.データ・フレームが有効フレーム(第2図)であるか否かを判定する方法 (110)であって、前記有効フレームが第1組の所定位置に同期ビット(82 ,84)を、第2組の所定位置に可変データ・ビット(a,b,s)を有する段階で あって: 前記データ・フレームの前記1組の所定位置を走査する段階(114); 前記第1組の所定位置に前記同期ビットが含まれる場合に、前記第2組の所定 位置にある前記可変データ・ビットを抽出する段階(123); 前記第1組の所定位置に前記同期ビットが含まれない場合に: 前記データ・フレーム内の全ビットを反転することにより相補フレームを形 成する段階(130); 前記相補フレームの前記第1組の所定位置を走査する段階(132); 前記相補フレームの前記第1組の所定位置に前記同期ビットが含まれる場合に 、前記相補フレームの前記第2組の所定位置にある前記可変データ・ビットを抽 出する段階(139);および 前記相補フレームの前記第1組の所定位置に前記同期ビットが含まれない場合 に、前記データ・フレームを廃棄す る段階(134); によって構成されることを特徴とする方法。 6.前記有効フレームがCRC値を記憶する第3組の所定位置をさらに含む段 階であって: 前記データ・フレームにおいて前記可変データ・ビットに関する第1CRC値 を計算する段階;および 前記第1CRC値が前記第3組の所定位置における前記CRC値と等しい場合 に、前記データ・フレームの前記第2組の所定位置にある前記可変データ・ビッ トを抽出する段階; によってさらに構成される請求項5記載の方法。 7.前記第2組の所定位置にある前記相補フレーム内のビットに関して第2C RC値を計算する段階;および 前記第2CRC値が前記相補フレームの前記第3組の所定位置により指定され るCRC値とは異なる場合に、前記データ・フレームを廃棄する段階(140) ; によってさらに構成される請求項6記載の方法。 8.第1組の所定位置に同期ビット(82,84)を、第2組の所定位置に可 変データ・ビット(a,b,s)を有する有効フレーム(第2図)を生成する方法( 210)であって: 前記第1組の所定位置に同期ビットを、前記第2組の所定位置に可変データ・ ビットを配置することにより、テスト・フレームを組み立てる段階(212); 前記テスト・フレーム内のビットを反転することにより相補フレームを形成す る段階(214);および 前記相補フレームの前記第1組の所定位置内のビットが前記同期ビットと同一 であると判定される(216)場合に、前記テスト・フレームを廃棄する段階( 220); によって構成されることを特徴とする方法。 9.前記テスト・フレームを一度に1ビットだけ回転させる段階(230)を さらに備える段階であって、回転のたびに: 前記被回転フレーム内のビットを反転することにより相補被回転フレームを形 成する段階;および 前記相補被回転フレームの前記第1組の所定位置におけるビットが前記同期ビ ットと同一である場合に前記テスト・フレームを廃棄する段階; を実行する請求項8記載の方法。 10.前記可変データ・ビットが複数のフィールドに配列される請求項8記載 の方法。
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