JPH10506461A - 顕微鏡スライドガラスのカバーガラスを検出するための方法と装置 - Google Patents

顕微鏡スライドガラスのカバーガラスを検出するための方法と装置

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JPH10506461A
JPH10506461A JP8510932A JP51093296A JPH10506461A JP H10506461 A JPH10506461 A JP H10506461A JP 8510932 A JP8510932 A JP 8510932A JP 51093296 A JP51093296 A JP 51093296A JP H10506461 A JPH10506461 A JP H10506461A
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ローゼンロフ,ミケル,デー.
シュミット,ロバート,シー.
リー,シー−ヨン,ジェー.
クアン,チー−チャウ,エル.
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ネオパス,インク.
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Abstract

(57)【要約】 視野処理装置(568)が、下から均一な光源(508)で照明された可動フレーム(40)に設置されたスライドガラス(12)とカバーガラス(14)の画像を撮影する電荷結合素子カメラ(512)から画像データを受信する。視野処理装置は、所定の基準の組み合わせを満足するエッジの対象物を見つけることによって、カバーガラスの位置を見つける。

Description

【発明の詳細な説明】 顕微鏡スライドガラスのカバーガラスを検出するための 方法と装置 発明の分野 本発明は顕微鏡スライドガラスのカバーガラスを検出するための装置に関し、 より詳細には、カバーガラスの下の領域の画像を処理する前に顕微鏡スライドガ ラスのカバーガラスの境界を判定するための装置に関する。 発明の背景 ワシントン州ベルヴューのNeoPath Corporationから入手可能なNeoPat h Autopap 300(登録商標)自動化細胞学システムのような自動化 細胞学システムは、偏平上皮内の病変や癌細胞のような対象物の証明のために生 物学的標本の画像を分析する。生物学的標本は通常顕微鏡スライドガラスの上に 固定されており、顕微鏡スライドガラスは生物学的標本の上のカバーガラスを含 んでいる。多くの理由から、生物学的標本の分析をする前に顕微鏡スライドガラ スのカバーガラスを検出できれば有利である。標本の画像は、カバーガラスの下 に置かれる時にのみ、最も質が高く、安定した均一な光学的特性を示すものと考 えられる。取り付けられたときに、カバーガラスの位置はサンプルに対して不変 であるので、カバーガラスはサンプルの中の特定の対象物の位置を見つけるため の基準となる光学的要素として利用できる。 自動化細胞学システムでは、顕微鏡の対物レンズは一定の厚さのカバーガラス の下の標本の画像を捉えるように設計されている。従って、カバーガラスの下に ない生物学的標本から得られた画像は、高品質な画像分析のために必要な安定し た光学的特性を欠いている。従って、カバーガラスの位置は非常に高い確実さを もって検出されなければならず、さもなければスライドガラス全体が分析のため には不十分なものとして拒否される。 画像処理の適用例の中には、カバーガラスが1視野以上に広がっているものも ある。従来のエッジ検出技術では多数の視野に広がる対象カバーガラスを再構成 するために、少数の部分的なエッジの分析を行うことはできない。 先行する技術では、そのエッジによってカバーガラスの位置を見つけることは 多くの理由から困難であるとされている。例えば、カバーガラスは通常手で取り 付けられるが、その結果、使用される接着剤の量がスライドガラス毎に異なって いる。接着剤がカバーガラスのエッジに達せず、接着剤の中に隙間ができている こともある。その隙間のエッジがカバーガラスのエッジのように見えることも多 い。他の場合では、接着剤がカバーガラスの下からはみ出して、接着剤の上に汚 れを集め、エッジの周囲の光学的特性を変化させることもある。 さらに、場合によっては、標本がエッジに似た構造を持つこともある。こうし た構造はカバーガラスの位置決めの品位を落としたり、うまくいかなくしたりす る。 通常のスライドガラスでは、カバーガラスと接着剤の寸法範囲は厚さ約0.1 0mmから0.14mmである。平均的なカバーガラスと接着剤は厚さ約0.1 2mmである。スライドガラスは厚さ約1.0mmである。スライドガラスとカ バーガラスの間の厚さの違いによって、スライドガラスがより強いエッジの像を 形成するようになり、それが顕微鏡で拡大されると、カバーガラスのエッジによ って形成された像を圧倒する傾向がある。 従来のエッジ検出技術では、スライドガラスのエッジからの移行部分を区別す ることが困難である。例えば、顕微鏡の標本は通常スライドガラスの一方の端に 取り付けられた不透明なラベルを持っている。不透明なラベルと透明なスライド ガラスの間の移行部分は非常に強いエッジの画像を作り出す。従来のエッジ検出 技術では、カバーガラスのエッジの弱い画像よりも、この強いエッジの画像を検 出することが多い。 カバーガラスの位置はさまざまなので、スライドガラスの標本を分析する前に 、各スライドガラス上のカバーガラスの正確な位置を見つける必要がある。満足 できる結果を得るためには、カバーガラスのエッジから所定の距離以上離れて分 析を行わなければならない。さらに、データはカバーガラスの下の対象物から得 られた時にのみ有効と考えられる。 さらに、スライドガラスの分析にはスライドガラス上の資料のデータ平面が多 数の位置で測定される必要があるので、普通正確な焦点位置を推定するために図 が作成される。顕微鏡の対物レンズは通常ある特定のカバーガラスと接着剤の厚 さに関連する球面収差に ついて補正されているので、焦点位置は、カバーガラスと接着剤を通して焦点を 合わせた時にだけ意味がある。従って、焦点図の位置はカバーガラスを通して測 定されなければならない。 さらに、カバーガラスの角はスライドガラスの上の対象物の位置を決める座標 システムを定義するための基準マークとして使用される。エッジ・ラインの角度 を計算する際の1度程度の誤差でさえ、60mmのカバーガラスの中心から、最 大0.52mmの誤差を生じる。従って、こうした対象物の位置を正確に見つけ るために有益な座標を定めるためには高度の正確さと再現性が必要である。多く の視野に広がる顕微鏡スライドガラスのカバーガラスの位置を見つけ、カバーガ ラスの位置をより正確に判定するためのより十分な基礎を供給する装置を供給す ることが本発明の動機の1つである。 発明の概要 本発明はカバーガラスの4つのエッジすべての位置を見つけるカバーガラス検 出装置を供給する。本発明の装置は電荷結合素子カメラから画像データを受信す るために接続された視野処理装置を含む。カメラは可動フレームの上に置かれた スライドガラスとカバーガラスを撮影する。スライドガラスは均一な光源によっ て照明される。可動フレームはホスト・コンピュータに応答するコンピュータに よって制御される。ホスト・コンピュータは初めに可動フレームを動かしてスラ イドガラスの所定の範囲内でスライドガラスの一部を見ることによってカバーガ ラスの位置を見つける。その後スライドガラスは、可動フレームがスライドガラ スを選択されたエッジの方 向に動かした後再び撮影される。対象となるエッジは多数の視野から位置を見つ けられフォローされる。対象となるエッジが1組の基準を満足すれば、カバーガ ラスのエッジが見つけられたことになる。 本発明の他の目的、特徴、利点は好適な実施例、請求の範囲、図面の説明を通 じて、当業者には明らかになるであろう。ここでは類似の数字は類似のエレメン トを示している。 図面の簡単な説明 本発明を説明するために、好適な実施例が添付の図面を参照して説明される。 図1A、図1B、図1C、図1Dおよび図1Eは、本発明のスライドガラス・ イメージ装置の略図である。 図2は、2つのいちばん端の位置に設置された最小標準カバーガラスを持つ、 スライドガラス受けに入った顕微鏡スライドガラスの略図である。 図3は、視野のエッジを検出するために使用される処理の略図である。 図4は、フィルタによってエッジの像を捉えるために必要な処理の略図である 。 図5は、カバーガラス検出の流れ図を示す。 図6は、エッジを承認、または拒否するための方法を示す。 図7A、図7Bおよび図7Cは真のエッジを決定するために使用されるエッジ ・フィットの方法を示す。 図8A、図8B、図8C、図8D、図8Eおよび図8Fは、フィ ルタをかけられた投影の結果を示す。 好適な実施例の詳細な説明 本発明の好適な実施例の場合には、ここに開示したシステムは、1992年2月18 日出願のアラン C.ネルソンの「通常の生物医学標本の識別方法」という名称 の米国特許出願第07/838,064号;1992年2月18日出願のエス・ジェー ムズ・リー他の「データ処理技術を使用して対象物を識別するための方法」とい う名称の米国特許出願第07/838,395号の一部継続出願である1994年1 月10日出願の米国特許出願第08/179,812号;1992年2月18日 出願のリチャード S.ジョンストンらの「データ・シーケンスを迅速に処理す るための方法および装置」という名称の現在は米国特許第5,315,700号 となっている、米国特許出願第07/838,070号;1992年2月18日 出願のジョン W.ハイエンガ他の「顕微鏡画像信号の動的修正のための方法お よび装置」という名称の米国特許出願第07/838,065号;および199 2年2月18日出願の第07/838,063号の一部継続出願であるハイエン ガ他の「焦点が合っている顕微鏡画像を迅速に捕捉するための方法および装置」 という名称の1994年9月7日出願の米国特許出願第08/302,355号 に開示されている子宮頸部パップ・スメア(cervical papsmea rs)を分析するためのシステムで使用されている。これら特許および特許出願 の全文は、ここに引用したことにより本明細書に組み込まれている。 本発明は、また本発明の出願人に譲渡されている、他に別段の指定のない限り 、1994年9月20日出願の下記特許出願に開示されている、生物学的および 細胞学的システムにも関連している。この特許出願は、ここに引用したことによ りすべて参考文献として本明細書に組み込まれている。この特許出願とは、クア ン他の「視野優先順準装置および方法」という名称の米国特許出願第08/30 9,118号;ウイルヘルム他の「生物学的標本上の細胞グループの自動識別用 の装置」という名称の米国特許出願第08/309,061号;メイヤ他の「生 物学的標本上の厚い細胞グループの自動識別用の装置」という名称の米国特許出 願第08/309,116号;リー他の「生物学的分析システムの自己較正装置 」という名称の米国特許出願第08/309,115号、リー他の「多重細胞パ ターンの識別および統合のための装置」という名称の米国特許出願第08/30 8,992号;リー他の「細胞学的システムの動的正規化用の方法」という名称 の米国特許出願第08/309,063号;ローゼンロフ他の「カバー・ガラス の接着剤の気泡を検出するための装置」という名称の米国特許出願第08/30 9,077号;リー他の「細胞学的スライドガラス評点装置」という名称の米国 特許出願第08/309,931号;リー他の「画像面変調パターンを認識する ための方法および装置」という名称の米国特許出願第08/309,148号; リー他の「自由に動ける細胞を識別するための装置」という名称の米国特許出願 第08/309,250号;オー他の「頑丈な生物学的標本を分類するための方 法および装置」という米国特許出願第08/309,209 号;およびウイルヘルム他の「自動細胞学的検査のための不適当な条件を検出す るための方法および装置」という名称の米国特許出願第08/309,117号 である。 ここで説明されるさまざまな処理はディジタル・処理装置で操作するのに適し たソフトウェアにおいて実行されることを理解されたい。ソフトウェアは例えば 、中央処理装置540に組み込まれる。 図1A、図1Bおよび図1Cについて説明すると、これらの図は、視野の優先 化に関する本発明の一実施例の略図である。本発明の装置は、画像システム50 2、移動制御システム504、画像処理シテム536、中央処理システム540 、およびワークステーション542からなる。画像化システム502は、照明装 置508、画像化光学装置510、CCDカメラ512、照明センサ514およ び画像捕捉/焦点システム516からなる。画像捕捉/焦点システム516は、 CCDカメラ512にビデオ・タイミング・データを供給し、CCDカメラ51 2は、画像捕捉/焦点システム516に走査線からなる画像を供給する。照明セ ンサの輝度は、画像捕捉/焦点システム516に送られ、そこで照明センサ51 4は、光学装置510から画像のサンプルを受ける。本発明のある実施例の場合 には、上記光学装置は、さらに自動顕微鏡511を含む。照明装置508は、ス ライドガラスを照明する。画像捕捉/焦点システム516は、VMEバス538 にデータを供給する。VMEバスは、画像処理システム536にデータを分配す る。画像処理システム536は、視野処理装置568からなる。画像は、画像バ ス564を通して、画像捕捉/焦点システム516から送られる。中央処理 装置540は、VMEバス538を通して本発明の動作を制御する。本発明の一 実施例の場合には、中央処理装置562は、モトローラ社の68030(登録商 標)CPUを使用している。移動制御装置504は、トレイ・操作器518、顕 微鏡ステージコントローラ520、顕微鏡トレイ・コントローラ522、および 較正スライドガラス524からなる。モータ駆動装置526が、スライドガラス を光学装置の下に位置させる。バー・コード・リーダ528は、スライドガラス 524上のバー・コードを読む。タッチセンサ530は、スライドガラスが顕微 鏡の対物レンズの下にあるかどうかを判断し、ドアが開いている場合には、ドア ・インターロック532が動作を禁止する。移動コントローラ534は、中央処 理装置540の指示に従って、モータ駆動装置526を制御する。イーサネット (登録商標)通信システム560が、システムを制御するために、ワークステー ション542と通信する。ハード・ディスク544は、ワークステーション55 0により制御される。本発明の一実施例の場合には、ワークステーション550 は、サン・スパーク・クラシック(登録商標)ワークステーションを使用してい る。テープ・ドライブ546は、ワークステーション550およびモデム548 、モニタ552、キーボード554およびマウス・位置決め装置556に接続し ている。プリンタ558は、イーサネット(登録商標)通信システム560に接 続している。 カバーガラス検出の間、中央コンピュータ540は、リアル・タイム・オペレ ーティング・システムを操作しながら、顕微鏡511と処理装置を制御して、顕 微鏡511から画像を得てそれをディジ タル化する。例えば、コンピュータ制御タッチ・センサを使用してスライドガラ スの4つの角に接触することによってスライドガラスの平面度がチェックされる 。コンピュータ540はまた、顕微鏡の対物レンズの下の標本の位置を決める顕 微鏡511のステージと、コンピュータ540の制御下で画像を受信する1から 15の視野(FOV)処理装置568を制御する。 ここで本発明のカバーガラス検出装置の概略を示す図1Dおよび図1Eを参照 する。カバーガラス検出装置はホスト・コンピュータ568を含むコンピュータ と画像収集システムを含む。ホスト・コンピュータ568は、照明のためのキセ ノン・ストロボ508を持つ顕微鏡26、顕微鏡26からの画像を収集しディジ タル化するための処理装置536、顕微鏡の対物レンズ30の下で標本を位置決 めするためのコンピュータ制御された顕微鏡のステージ40、ホスト・コンピュ ータの制御のもとで画像収集処理装置536から画像を受信する1から15の視 野(FOV)処理装置568を含む残りのシステムの動作を制御するリアル・タ イム・オペレーティング・システムを操作する。FOV処理装置568は、画像 処理と画像の対象物の分類操作を行い、その結果をホスト・コンピュータに送る 。 図1Eは、カバーガラス14によって覆われた顕微鏡スライドガラス12の一 角の拡大図を示す。接着剤11がカバーガラス14をスライドガラスに接着して いる。 図2は、スライドガラス受け20の中のスライドガラス12の例を示す。スラ イドガラス12は、例えば、不透明なラベルによって広く覆われたすりガラスか らなるラベル部分18と、透明な標本部 分19の、概して2つの部分を持つ通常の標本スライドガラスである。ガラス製 のカバーガラス14は、ここでは、点線のカバーガラス14aおよび14bによ って表示される2つの位置に示される。第1のスライドガラスの上の位置15a と第2のスライドガラスの上の位置15bは、スライドガラス12の光を透過す る部分19の上に置かれたことを示すカバーガラスの配置の例である。スライド ガラスの位置15aは、図2で見ると上側・左側の端に寄ったカバーガラスの配 置を示す。スライドガラスの位置15bは、下側・右側の端に寄ったカバーガラ スの配置を示す。数字16で示され、線17によって輪郭を描かれた窓の部分は 、スライドガラス受け20のうち、スライドガラス・マウントの物理的制約によ って、常にカバーガラスが存在する領域である。スライドガラス12は、スライ ドガラス受け20の上・左側角から下・右側角までの、スライドガラス受け20 の範囲内のどこかに位置する。スライドガラス受け20に対するスライドガラス 12の位置に関わらず、窓の領域16は、カバーガラスが常に見られる窓を供給 する。本発明は、窓の領域16の中からカバーガラスのエッジのサーチを開始す ることによって、この条件を利用する。 以下の説明では、スライドガラスを、図2のように上から見る時、幅とは従来 のデカルト座標システムでのX方向の寸法、高さとはY方向の寸法のことである 。 スライドガラス受け20の上で、スライドガラス12の位置は、「ステージ幅 」対「ステージ高さ」の寸法の矩形の範囲内で変化する。この時「ステージ幅」 とは受け20の中のスライドガラスのた めの空間の寸法を表し、「ステージ高さ」とは受け20の中のスライドガラスの ための空間の高さの同様の空間的寸法を表す。スライドガラス12の一部は、カ バーガラス14aおよび14bの部分によって覆われることのないラベル部分1 8に使われている。ラベル部分はスライドガラス12の上部に広がり、スライド ガラス12の左端から、「ラベル幅」として定義される幅を持っている。カバー ガラス14aおよび14bは、「カバーガラス幅」対「カバーガラス高さ」の最 小の寸法を持っており、スライドガラス12の上の任意の場所に接着されるので 、カバーガラスの一部がスライドガラスからはみ出すことはなく、カバーガラス の一部がラベル部分に入ることもない。すなわち、「カバーガラス幅」はカバー ガラスの幅を測定するパラメータであり、「カバーガラス高さ」はカバーガラス の高さを測定するパラメータである。 ステージの限度とカバーガラスの最小寸法が与えられると、カバーガラスによ って覆われなければならない領域16の位置が計算される。左側のエッジの一番 右寄りの位置「最大左」は以下のように計算される。 「最大左」=「ステージ幅」−「カバーガラス幅」 右側のエッジの一番左寄りの位置「最小右」は以下のように計算される。 「最小右」=「ラベル幅」+「カバーガラス幅」 カバーガラスの下側のエッジの上限の値「最小上」とカバーガラスの上側のエッ ジの下限の値「最大下」は同様に以下のように計算される。 「最大下」=「ステージ高さ」−「カバーガラス高さ」 「最小上」=「カバーガラス高さ」 X軸上で「最大左」と「最小右」を境界とする範囲と、Y軸上で「最大下」と「 最小上」を境界とする範囲がカバーガラスの下にならなければならない。同様に 、カバーガラスの範囲の外側の境界は、以下の等式によって定義されるパラメー タ「最小左」、「最大右」、「最小下」、「最大上」によって定義される。 「最小左」=「ラベル幅」 「最大右」=「ステージ幅」 「最小下」=0 「最大上」=「ステージ高さ」 従って、カバーガラスのある特定のエッジを探すためには、サーチは必ずカバ ーガラスに覆われているはずの領域16の内側から始め、1つの実施例でサーチ の対象となっているエッジと直交する方向に進み、カバーガラスの外側の境界範 囲の外側で終了する。 本発明の装置は、少なくとも1つ、好適には多数のスライドガラスを保持する トレー24を含む。本発明の例の1つでは、トレー24は、顕微鏡のレンズ30 の下で動かせるような位置に8枚までのスライドガラスを保持する。トレー24 は受け20を含み、受け20は普通の範囲の寸法のスライドガラスを受け入れる のに適した寸法の開口部を含み、その開口部は容易にスライドガラスの挿入・取 り外しができるような十分な広さを持っているので有利である。発明の例の1つ では、受けは、スライドガラスの位置が受け20に対してX軸、Y軸について2 ミリメートルまで変化してもよい寸法 になっている。また、スライドガラス12に取り付けられるカバーガラス14は スライドガラス12より小さいので、スライドガラスのエッジ22に対するカバ ーガラスの位置は変化する。この変化はスライドガラスの寸法とカバーガラスの 寸法の両方に依存する。カバーガラスの位置の全体的な変化は、スライドガラス 12の上のカバーガラスの位置の変化とトレー24の中のスライドガラスの位置 の変化の合計である。 この全体的な変化は、ある適用例では、標本を照明する光学システム28が、 照明される範囲は、レンズで見る視野の端から0.318mmは障害物がないこ とを要求しているため重要である。カバーガラスのエッジは、その照明に対する 影響のため、障害物とみなされる。当業者には、カバーガラスの厚さとスライド ガラスの厚さが変化すれば、障害物を取り除かなければならない範囲の大きさも 変化することを理解できるだろう。 カバーガラス14はスライドガラス12に永続的に取り付けられているので、 カバーガラス14の角は各スライドガラスの座標システムを定義するための基準 マークとして使用される。カバーガラスの角に基づく座標システムはスライドガ ラスの移動や回転に対して不変である。従って、カバーガラスの角に基づく座標 システムの中に位置する物体は、スライドガラスがスライドガラスのトレーから 取り外されて置き換えられたり、トレーの中で動かされたりしても見つけること ができる。スライドガラスは、違う種類の顕微鏡が同じカバーガラスの角を正確 に見つけることができ、カバーガラスがスライドガラスに対して動かないものだ とすれば、違う種類の顕微 鏡に移動することさえできる。 本発明によって考慮されるようなカバーガラスのエッジを検出するプロセスの 実施例の1つは、2つのサブプロセスを含む。エッジ検出FOV処理と呼ばれる 第1のサブプロセスは、画像処理コンピュータで行われ、顕微鏡から得られたF OV毎に1つの画像を分析して、エッジがあるかないかを判断する。FOV処理 結果収集・分析と呼ばれる第2のサブプロセスは、サーチ・パターンを指示し、 画像処理コンピュータから得られた個々の画像を収集し、収集されたデータを分 析してエッジの位置を判断し、サーチの追加を指示する。 ここで図3を参照すると、視野の中のエッジを検出するために使用される処理 の略図が示されている。FOV処理装置568の1つであるエッジ検出FOV処 理装置は、4倍の対物レンズといった低倍率対物レンズを持つ顕微鏡から得られ た1つの画像を受信する。本発明の一実施例では、画像は512×512ピクセ ルからなり、各ピクセルが2.75ミクロン角の寸法を持っているので、画像の 寸法は1.408ミリメートル角となる。画像の寸法は使用される装置の種類に よって異なり、本発明はこの説明される例の特定のパラメータに制限されるもの でないことを理解されたい。 画像の前処理は、待ち行列の位置、エッジ・サーチの方向(すなわち、水平ま たは垂直方向)、左右のエッジの位置の優先順位付けを含む、ホスト・コンピュ ータ568から送られた多数の入力パラメータを使用し、画像33を標準化する 。標準化は、垂直方向のみにサーチするために画像33を方向づけするステップ と、画像処理 ステップのために画像を所定の画像バッファの中に位置づけるステップからなる 。水平のエッジは、画像を90度回転させて、垂直方向にサーチすることによっ て探し出される。 図3のステップに関して以下より詳細に説明されるように、画像処理操作は、 グレースケールの元の画像を受け取り、縦方向のエッジを強調し、画像33の中 の誤って検出された人為構造を除去することによって、対象となるエッジの信号 対雑音比を改善する。 垂直方向の長さとユニットの幅が徐々に大きくなる構造要素を使用して順次開 放84を行う。実質的な隣接する垂直エネルギーを持たない物体をフィルタで除 去する。 元のグレースケールの画像33は、ステップ52で水平に膨張変換される。こ れはステップ54で垂直にも膨張変換され、ステップ56で水平に閉鎖される。 水平膨張変換ステップ52の出力は、ステップ58で元のグレースケールの画像 から引き算され、35×1水平膨張変換残余画像64を供給する。垂直膨張変換 ステップ54の出力は、ステップ60で元の画像から引き算され、ステップ66 で画像の1×65垂直膨張変換残余を作り出す。13×1水平閉鎖ステップ56 の出力は、ステップ62で元の画像から引き算され、13×1閉鎖残余画像68 を作り出す。ステップ72では、13×1閉鎖残余画像68が1×65垂直膨張 変換残余画像から引き算されて細いエッジの画像76を作り出す。ステップ70 で、35×1水平膨張変換残余画像64は1×65垂直膨張変換残余画像66か ら引き算されて太いエッジの画像74を作り出す。ステップ80で、細いエッジ の画像76は2倍され、ステップ78で太い エッジの画像に加算されて、複合エッジ画像82を作り出す。複合エッジ画像は 図4で概説される処理によってフィルタをかけられ、フィルタをかけられたエッ ジの画像86を作り出す。 本発明の投影法はフィルタをかけられたエッジの画像86から得られた画像に エッジがあるかどうかを判定する。画像は多数の異なった画像に分割される。1 つの例では画像は4つの水平の領域に分割される。これによって本方法に局所画 像コントラストを適用することが可能になる。各領域は異なったフィルタをかけ られたしきい値を持っている。何重にも見ることによって本発明は傾いたエッジ を処理することが可能になる。例えば、4つの視野を通る傾いたエッジがあると すれば、エッジの1/4は各視野にわたるので、対象物のヒットになる。この対 象物のヒットは本発明の投影プロセスの最後のステップで1つの傾いたエッジと 相関され、非常に確実な方法である。相関ステップは壊れたエッジの画像も処理 する。 ここでフィルタをかけられたエッジの画像の処理を示す図8A、図8B、図8 C、図8D、図8Eおよび図8Fを参照する。図8Aはフィルタをかけられたエ ッジの画像を示す。図8Bは各領域でピクセルの垂直投影が行われた、4つの均 等な水平の領域に分割された画像を示す。各柱状の領域のピクセルの値の合計が 計算された。図8Cは各領域の投影の結果を示す。数値が高いほど垂直なエッジ のエネルギーが高いことが示される。各投影結果の曲線にローパス・フィルタが かけられる。図8Dはローパス・フィルタをかけた曲線を示す。この曲線は各領 域に対象物があるかどうかを判定するしきい値として機能する。図8Eは発見さ れた対象物を検出されたと おりに示す。それらは低い画像の質、不適切な照準や、不完全な画像処理のため 連続的でないことがある。図8Fは対象物のヒットが最小の誤差基準と一致する ように検出されたエッジを示す。 ここで、フィルタを使ってエッジを描くために必要な処理の概略を示す図4を 参照する。複合エッジの画像82は、1×5垂直侵食ステップ94で垂直に侵食 され、その後1×9垂直膨張変換ステップ96で垂直に膨張変換される。その後 画像は、1×13垂直侵食ステップ104で再び垂直に侵食され、1×17垂直 膨張変換ステップ102で再び垂直に膨張変換される。それは次いで1×26垂 直侵食ステップ98で再び垂直に侵食され、1×36垂直膨張変換ステップ10 6で垂直に膨張変換される。1×51垂直侵食ステップ108における次の垂直 侵食にはやはり、1×67垂直膨張変換ステップ110における垂直侵食ステッ プが続く。画像はその後、より大きな構造要素によって、1×101垂直侵食ス テップ112で再び垂直に侵食され、1×134垂直膨張変換ステップ114で 垂直に膨張変換される。処理された出力はフィルタをかけられたエッジの画像8 6である。 残りの画像にあるのが実質上垂直のエネルギーを持つ対象物だけになるように 、一度画像が上記で説明した処理によって強調されると、画像は4つの領域に水 平に実質上等しく分割され、検出されたエッジの明暗度はこれらの領域に投影さ れる。各領域は画像の幅と等しく、エッジの明暗度の4分の1の投影を表す。エ ッジの明暗度の投影は、領域の中の垂直方向のピクセルの合計からなる。より大 きな垂直エネルギーを持つ対象物の合計は、小さい垂直エネルギー を持つ対象物より大きい数になる。対象物の投影の値は1つの方向でローパス・ フィルタにかけられ、しきい値でカットされる。フィルタをかけられ、しきい値 でカットされた投影を超える領域の投影が発生することをその都度対象物のヒッ トと呼ぶ。 本発明は、正確に取り付けられたカバーガラスを持つスライドガラスは一切拒 否しないという目標を持ってエッジの位置を見つける。実際に使用するためには 誤って拒否する率が2〜3パーセントであることが要求される。図8A、図8B 、図8C、図8D、図8Eおよび図8Fは対象物のヒットとして検出されたエッ ジの例を示す。 各グループからの対象物のヒットは、それらを相関させて完全な垂直の線にす るために分析される。予想されるエッジは各領域からの1つの対象物のヒットか ら作られる。エッジとしてみとめられるには最低3つの領域での発見が含まれる 。すなわち、エッジとして予想されるには、3つの領域または画像の3分の1に わたっていなければならない。それは連続した領域を含む必要はない。 対象物の傾き(回転)は垂直の線から10度以上あってはならない。線分の相 関は好適にも最小の誤差基準と一致する。検討された点が上記の基準と一致する 場合、エッジは検出されたとみなされ、エッジのある画像のピクセル位置はセー ブされ復帰される。 本発明の有益な実施例の1つでは、相関条件を満たす3つのエッジのうち最大 のものはホストに戻される。3つ以上のエッジがある場合、FOV処理に入力さ れる1つの追加される方向が、復帰される3つのエッジの位置(一番左か一番右 )を決定する。 スライドガラス座標システムは、スライドガラスの長いエッジを X軸、短いエッジをY軸として規定される。通常すりガラスである、スライドガ ラスのラベル部分は左側に位置するので、正X軸はラベルから離れた方向に向か い、正Y軸は上方に向かう。 4つのエッジはそれぞれ、左側のエッジが小さいXの値を持つ垂直のエッジ、 右側のエッジが大きいXの値を持つ垂直のエッジ、下側のエッジが小さいYの値 を持つ水平のエッジ、上側のエッジが大きいYの値を持つ水平のエッジと呼ばれ る。スライドガラスの下側と左側のエッジの交点が座標システムの基準である。 ここで、ある特定のカバーガラスのエッジのサーチが一連の走査に分割されて いることを表す図5および図6を合わせて参照する。簡単に要約すると、走査は 開始点、方向、自動化顕微鏡画像収集と処理システムへの間隔、収集する画像の 数を特定するステップを含む。サーチされるエッジの種類が水平か垂直かも特定 される。画像収集・処理システムは画像を収集し、各画像の中で検出されたエッ ジの位置を送り返す。 エッジは左(ステップ124)、下(ステップ126)、上(ステップ128 )、右(ステップ130)の順でサーチされる。その後ステップ132のリスト で、どれか1つのエッジでも見つけられなければ、エッジの位置を見つけるすべ ての試みは中止される。 ある特定のエッジのサーチは、問題のエッジと直交する走査から始まる。この 走査はクロス・サーチ・ステップ154と呼ばれる。クロス・サーチは、顕微鏡 から得られた1つの画像の幅の75パーセントに及ぶカバーガラスによって覆わ れているはずの部分16の内側から始まる。下側、または上側のエッジがサーチ の目標である 場合、水平のエッジが予想され、左側、または右側のエッジがサーチされる場合 、垂直のエッジが予想される。 クロス・スキャン154で処理された1つかそれ以上の領域からエッジが検出 された場合、フォロー・サーチが行われる。フォロー・サーチ156はエッジが 検出された点を中心として開始され、方向は問題のエッジと平行で、間隔と回数 はエッジを特定するのに十分なエッジが検出でき、カバーガラスの中にあると計 算される範囲の外側をサーチしないように選択される。 ここで本発明のカバーガラス検出法の1つの例を示す図5を参照する。カバー ガラス検出プロセスはステップ122から始まる。このプロセスは最初にステッ プ124でカバーガラスの左側のエッジを見つけようとする。左側のエッジが見 つかった場合、このプロセスはステップ126で下側のエッジを見つけるステッ プに進む。左側のエッジが見つからない場合、プロセスは拒否ステップ132に 進み、標本は拒否される。ステップ126で下側のエッジが見つかると、プロセ スは上側のエッジを探すステップ128に進む。上側のエッジが見つかった場合 、プロセスは右側のエッジを探すステップ130に進む。下、上、または右どれ かのエッジが見つからない場合、プロセスはすべてステップ132に進む。ステ ップ130で右側のエッジが見つかった場合、プロセスはカバーガラスの角を投 影するステップ136に進む。プロセスは、角が直角であるかどうかを判定する ステップ134に進む。ステップ134で、エッジが検出された後、検出された エッジは本当のエッジが見つけられたことを保証するために確認される。カバー ガラスの角は隣り合うエッ ジの組み合わせの交差を計算することによって投影される。この交差点は以下の いくつかの評価の中でも使用される。カバーガラスは90度の角を持つ矩形であ るので、隣り合うエッジの角度は所定の基準と比較される。角の角度がこの基準 から外れていると、スライドガラス12は、カバーガラスの位置を見つけること ができないものとして、分析を拒否される。ステップ134で角が直角でないと 判定されると、スライドガラスはステップ132で拒否される。 角が直角であると判定されると、プロセスは長さが10mmの倍数であるかを 判定するステップ138に進む。 カバーガラスは通常幅が10mmの倍数であるように製造される。検出された カバーガラスの幅は、ステップ140で、所定の公差の範囲内で40、50、6 0mmと比較される。幅がこれらの3つの幅の公差の範囲外にある場合、本当の エッジを探すためもう一度サーチが行われる。 経験によれば、スライドガラスのラベル部分の近くにある左側のエッジがこの プロセスによってもっとも見落とされたり、このプロセスによってエッジとして 検出されやすいエッジである。従って、右側のエッジが正確であると考えられ、 フォロー・サーチ156は、右側のエッジから40、50、60mmの位置で行 われる。このエッジが見つかった場合、カバーガラスの角の角度が次の基準によ って再び評価される。この再トライ・サーチは一度だけ行われる。1つのエッジ 位置が正しいと仮定して、一定の距離の位置に反対側のエッジを探す技術は、4 つすべてのエッジに適用できるが、これまでの経験からここでそれを行う必要は 示されない。エッジが10 mmの倍数でない場合、プロセスはステップ140で右から40mm、50mm 、60mmの位置に左側のエッジをサーチする。左側のエッジが見つかった場合 、プロセスは、ステップ140で得られた新しいデータを使用して、もう一度角 を投影するためにステップ136に戻る。ステップ134、ステップ138で、 プロセスはもう一度繰り返され、ステップ138で長さが10mmの倍数であれ ば、ステップ142でカバーガラスの幅が許容できるかどうかを判定する。ステ ップ138でプロセスが繰り返された後で、長さが10mmまたはその倍数でな かった場合、プロセスはステップ132に進む。ステップ142で幅が許容でき た場合、プロセスは、傾きの角度が許容できるかどうかを判定するステップ14 4に進み、ステップ144で傾きの角度が許容できた場合、プロセスはステップ 148に進み、カバーガラスが承認されたことを報告する。ステップ142で幅 が許容されなかった場合、プロセスはステップ146でスライドガラスを拒否す る。ステップ140で右から40mm、50mm、60mmの位置での左側のエ ッジのサーチが成功しなかった場合、プロセスはスライドガラスを拒否するステ ップ146に進む。 ここで、左、下、上または右のエッジを探しながらエッジがどこにあるかを判 定するためのプロセスの流れの詳細を示す図6を参照する。プロセスはエッジを 見つけるプロセスを開始するステップ152から始まる。プロセスはクロス・サ ーチを行うステップ154に進む。ステップ154でエッジが見つかった場合プ ロセスはフォロー・サーチ156に進み、エッジが見つからなかった場合、 プロセスはエッジが見つかるまで、5回までサーチを行う。5回のサーチの後プ ロセスによってエッジが見つからないことが報告された場合、ステップ154で フォロー・サーチが行われる。フォロー・サーチでは、プロセスはエッジと見ら れる候補者を等級付けするステップ158に進む。その後プロセスは最良の候補 者を選択するステップ172に進む。プロセスは、その最良の候補者が所定の一 連の基準に対して資格を持っているかどうかを判定するステップ174に進む。 候補者が資格を持っている場合、プロセスはエッジが承認されたことを報告する ステップ176に進む。候補者が資格を持っていない場合、プロセスは次の最良 の候補者を選択するステップ178に進む。次の最良の候補者が資格を持ってい た場合、プロセスは再びステップ176に進む。すべての候補者が失格した場合 、プロセスはエッジを拒否するステップ180に進む。 ここで本発明の装置の走査の1つの断面図を示す図7Aを参照する。スライド ガラスのエッジ208、カバーガラスのエッジ206と共に、泡のエッジ202 と接着剤の小滴204が示される。図7Aは、通常見られるものを示すが、スラ イドガラスの上の画像構造はカバーガラスのエッジ206に続くスライドガラス のエッジ208と、カバーガラスを超えて広がる接着剤の小滴を含んでいる。 図7Bは、菱形Dによって示される検出されたエッジの位置を示す。画像f1 〜f7はフォロー・サーチを示す。画像c1〜c5はクロス・サーチを示す。図 7Bは5つの画像のクロス・サーチと、クロス・サーチによって最初に検出され たエッジの位置を示す。それはまた、7つの画像のフォロー・サーチの画像の位 置と各画像が 菱形の符号で示された検出されたエッジも示す。クロス・サーチのために示され た部分はわかりやすくするためわずかにオフセットされている。 図7Cは、検出されたエッジの組み合わせからフィットした4つのライン18 2、184、186、188を本発明のプロセスがどのように決定したかの概略 を示す。エッジが検出された位置は、ラインが描かれるデカルト平面上に点の集 合を形成する。トライアル・ラインは各画像から最大1つのエッジを使ってフィ ットする。ラインのフィットは、通常の最小二乗法の直線のフィットの中のライ ンからの使われた点の合計を最小にする。各フォロー・サーチ156について、 これらの基準を満足する多数のラインがフィットする。予想されるエッジの線は 、ラインを定義するために少なくとも4つの点を使うプロセスによって推定され る。フィットの際に使われる、点の数(ポイントカウントと呼ばれる)によって 標準化される、「計算された」位置と測定された位置の差の誤差の合計は所定の 値を超えてはならない。 合計(abs(測定されたi−計算されたi))/ポイントカウント上記の等式で 定義されるように、より小さい総誤差を持つラインが好ましい。カバーガラスの 中心により近いラインが好ましい。 1回のフォロー・スキャンで最大8の画像が処理され、3つまでのエッジのヒ ットがFOV処理から戻される。予想されるエッジをすべて描くように点を結び 付けると、描きうるラインは38すなわち6,561あるが、現実的な使用条件 では、充分な組み合わせのサーチが妥当な時間内に行われるように、実際の数は 普通はるかに 少ない。 図6に関して上記で列挙したエッジのフィットの基準は優先順である。サーチ の間、ステップ158および172で見つけられたエッジが最上のエッジとされ 、新しい候補者が見つかると、各アイテムをリストに入れる。候補者とみなされ るためには、最初の2つがステップ174で合致すべき絶対的な基準である。第 3のアイテムは総誤差の最も低いラインを選択するために使われる。カバーガラ スの中心に最も近いラインを選択するステップは、タイ・ブレーカー・ステップ 178として使われる。 カバーガラスは通常所定の公差内の高さを持って製造される。検出されたカバ ーガラスの高さがこの公差を超えている場合、そのスライドガラスはカバーガラ スの位置を見つけることができないため拒否される。経験によれば、高さの誤差 による失格は幅による失格よりはるかに少ないので、再トライ・サーチは実行さ れない。 カバーガラスは、カバーガラスのエッジがスライドガラスのエッジと正確に平 行ではないように顕微鏡スライドガラスに固定されることがある。スライドガラ スはまた、スライドガラスのエッジがステージの座標システムと正確に整合しな いようにトレーに取り付けられることもある。こうした配置上の変化の合計は、 カバーガラスがステージの座標システムに対して回転する最大角度を生じる。検 出されたカバーガラスの方向は、下左側から下右側の角の投影点からのラインの 角度を計算することによって判定される。この角度が所定の範囲外にある場合、 そのスライドガラスはカバーガラスの傾きが大きすぎるために拒否される。 本発明は4つのカバーガラスのエッジすべての位置を見つけるが、検出された エッジはカバーガラスのエッジの内側の所定の距離にあるので、カバーガラスの 下の充分な割合のサンプルが分析される。 本発明の方法はまた、できるだけ短い時間でエッジの位置を見つける。実際の 使用条件で、本発明の実施例の1つでは、実行に要する時間は約30秒である。 本発明はここで、特許法に適合し、当業者に、新しい原理を適用し、必要に応 じてこれらの専門的な部品を設計・使用するために必要な情報を提供するために かなり詳細に説明された。しかし、本発明は特にさまざまな装置やデバイスによ って実行されるものであり、さまざまな変更が、装置の詳細と操作手順の両方に 関して、本発明それ自体の範囲から離れることなく達成されることを理解された い。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 シュミット,ロバート,シー. アメリカ合衆国.98052 ワシントン,レ ッドモンド,ワンハンドレッドアンドシッ クスティファースト プレイス ノースイ ースト 10014 (72)発明者 リー,シー−ヨン,ジェー. アメリカ合衆国.98006 ワシントン,ベ レヴュー,フォーティシックスス ストリ ート 14116 サウスイースト (72)発明者 クアン,チー−チャウ,エル. アメリカ合衆国.98052 ワシントン,レ ッドモンド,ハンドレッドス コート 18217 ノースイースト

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.顕微鏡スライドガラスのカバーガラスを検出する装置であって、 (a)顕微鏡スライドガラスのカバーガラス(14)が顕微鏡スライドガラ スのカバーガラスのエッジ(206)を持つ、顕微鏡スライドガラスのカバーガ ラス(14)を持つ顕微鏡スライドガラス(12)を設置するための可動ステー ジ(520)と、 (b)顕微鏡スライドガラスのカバーガラス(14)の画像を得るための画 像手段(502)と、 (c)画像を受信・処理し、顕微鏡スライドガラスのカバーガラスのエッジ (206)の位置を見つけるための画像処理装置(536)と、 (d)顕微鏡スライドガラスのカバーガラス(14)を照明するために置か れた光源(508)と、を含む装置。 2.画像処理装置(536)が、 (a)画像処理装置(536)からの画像を処理するために画像処理装置( 536)に接続された視野処理装置(568)と、 (b)視野処理装置(568)を制御するためのホスト・コンピュータ(5 62)と、を含む、請求項1に記載の装置。 3.画像処理装置(536)が顕微鏡スライドガラスのカバーガラス(14)の 所定の範囲をサーチする、請求項1に記載の装置。 4.画像処理装置(536)がエッジの画像を得るために少なくとも1回の形態 学的操作を行う、請求項1に記載の装置。 5.視野処理装置(568)が、太いエッジの画像(74)、細い エッジの画像(76)、複合されたエッジの画像(82)を生じるために、35 ×1水平膨張変換(52)、1×65垂直膨張変換(54)、および13×1水 平閉鎖(56)を行う、請求項2に記載の装置。 6.複合されたエッジの画像(82)がフィルタをかけられたエッジの画像(8 6)に処理される、請求項1に記載の装置。 7.顕微鏡スライドガラス(12)がさらに、パパニコロー法によって準備され た標本を含む、請求項1に記載の装置。 8.画像手段(502)がCCDカメラ(512)を含む、請求項1に記載の装 置。 9.光源(508)がアーク・ランプである、請求項1に記載の装置。 10.光源(508)がストロボ・アーク・ランプである、請求項1に記載の装置 。 11.関心のある対象物のために少なくとも1組の点座標を収集するための手段を さらに含み、少なくとも1組の点座標が所定のフィットでライン(182、18 4、186、188)にフィットする(図7C)、請求項1に記載の装置。 12.所定のフィットが最小二乗法の誤差フィットである(図7C)、請求項11 に記載の装置。 13.点座標の複数の集合が所定のフィットでフィットし(図7C)、複数の点座 標の集合の1つが所定の基準(174)を満たすものとして選択される、請求項 11に記載の装置。 14.所定のフィットが多数の点からなり(図7C)、所定の基準 (174)が、所定のフィットで使用される点の数によって標準化される点の複 数の集合(図7C)の各々の計算された位置から引き算された測定された位置に 実質上等しい差によって定義される総誤差からなり、それが所定の値を超えない 、請求項13に記載の装置。 15.さらに、顕微鏡スライドガラスのカバーガラスのエッジ(206)がお互い に所定の公差内で実質上垂直か(134)どうかをチェックするための手段を含 む、請求項1に記載の装置。 16.画像処理装置(536)がさらに、多数の視野を処理するための複数の視野 処理装置(568)を含む、請求項1に記載の装置。 17.スライドガラスの上のカバーガラスを検出するための方法であって、 (a)左側のエッジを見つけるステップ(124)と、 (b)下側のエッジを見つけるステップ(126)と、 (c)上側のエッジを見つけるステップ(128)と、 (d)右側のエッジを見つけるステップ(130)と、 (e)各交差する組み合わせのエッジの角を投影するステップ(136)と 、 (f)各角が直角であることを判定するステップ(134)と、 (g)各角が直角でない場合スライドガラスを拒否し(132)、各角が直 角である場合、カバーガラスの長さが第1の長さの倍数であるかどうかを判定し (138)、各長さが第1の長さの倍数でない場合、スライドガラスの右側のエ ッジから第2の距離、第3の距離、第4の距離に左側のエッジをサーチする(1 40)ス テップと、 (h)カバーガラスの幅が適切かどうかを判定し(142)、適切でない場 合、スライドガラスを拒否し(146)、適切な場合、カバーガラスの傾きの角 度が適切かどうかを判定し(144)、適切な場合、スライドガラスを受け入れ (148)、適切でない場合、スライドガラスを拒否する(146)ステップと 、を含む方法。 18.第1の距離が10mm(138)であり、第2の距離が40mm、第3の距 離が50mm、第4の距離が60mm(140)である、請求項17に記載の方 法。 19.カバーガラスのスライドガラスを等級付けする方法であって、 (a)エッジを見つけるためにクロス・サーチを行うステップ(154)と 、 (b)複数のエッジの候補を得るためにフォロー・サーチを行うステップ( 156)と、 (c)所定の基準の組み合わせに従って、複数のエッジの候補を1つずつ等 級付けするステップ(158)と、 (d)少なくとも1つのエッジの候補を選択するステップ(172)と、 (e)少なくとも1つのエッジの候補が資格を有するかどうかを判定し(1 74)、少なくとも1つのエッジの候補が資格を有する場合、少なくとも1つの エッジの候補を受け入れ(176)、さもなければ次の最上のエッジを選択する (178)ステップと、 (f)資格を有するエッジだけを選択するステップ(180) と、を含む方法。 20.カバーガラスの下の対象物を位置合わせする方法であって、 (a)顕微鏡スライドガラス(12)に対する顕微鏡カバーガラス(14) の位置を見つけるステップと、 (b)カバーガラス(14)に対して関心のある少なくとも1つの対象物の 位置を見つけるステップと、 (c)顕微鏡スライドガラス(12)を設置し直して、カバーガラス(14 )を少なくとも1つの関心のある対象物の位置を見つけるための座標システムの 基礎として利用するステップと、を含む方法。 21.スライドガラス(12)の上のカバーガラス(14)を検出する方法であっ て、 (a)コンピュータ制御に応答して、スライドガラス(12)の何らかの部 分の画像を得るステップ(562)と、 (b)均一な光源で下からスライドガラス(12)を照明するステップ(5 08)と、 (c)スライドガラス(12)の所定の範囲(17)内でスライドガラス( 12)の一部分(16)が見られるようにスライドガラス(12)を位置決めす るステップと、 (d)スライドガラス(12)が選ばれたエッジの方向に動いた後で再びス ライドガラス(12)の画像を得るステップと、 (e)エッジの対象物の位置を見つけるステップ(154)と、 (f)多数の視野についてエッジの対象物をフォローするステップ(156 )と、 (g)エッジの対象物が所定の基準の組み合わせを満足するかどうかを判定 し(174)、満足する場合、カバーガラスのエッジ(206)が発見されたと 判断するステップと、を含む方法。 22.所定の基準の組み合わせがさらに、エッジの対象物がお互いに所定の公差内 で実質上垂直かどうかをチェックする(134)ステップを含む、請求項21に 記載の方法。 23.フォーカス・マップを作成するためのデータ面の測定が完全にカバーガラス (14)の下のデータだけから行われるように、検出されたエッジ(206)が 物理的なエッジから第1の距離(138)だけしか離れていない、請求項21に 記載の方法。 24.顕微鏡スライドガラスのカバーガラスの画像のディジタル表現を投影する方 法であって、画像(33)が一視野以上に広がっており、 (a)複数の固有の画像(74、76)の各1つがスライドガラスのカバー ガラスのエッジ(206)のデータの要素を含むように、画像(33)を視野の 複数の固有の画像(74、76)に分割するステップと、 (b)エッジの要素(図7B)からなる各データの要素について、対象物が ヒットしたかを判定するステップと、 (c)各下位画像中のエッジの要素(図7C)を顕微鏡のエッジの画像(8 2)と相関させるステップと、を含む方法。 25.複数の固有の画像がフィルタをかけられたエッジの画像(86)からなる、 請求項24に記載の方法。 26.ロー・パス・フィルタの演算子がフィルタをかけられたエッジ の画像(86)に対して操作される、請求項24に記載の方法。 27.エッジを表すデータの要素が対象物のヒットを判定するためのしきい値にか けられる(図8D)、請求項24に記載の方法。 28.さらに、フィルタをかけられたエッジの画像(86)を生じるために、少な くとも1つの形態学的な演算子によって、複数の固有の画像(74、76)にフ ィルタをかけるステップを含む、請求項24に記載の方法。 29.少なくとも1つの形態学的演算子(52、54、56、64、66、68) が、侵食、膨張変換、垂直侵食、垂直膨張変換からなるグループから選択される 、請求項28に記載の方法。 30.複数の固有の画像(74、76)を下位画像がエッジの画像のエネルギーの 一部を含むように複数の下位画像に分割するステップを含む、請求項29に記載 の方法。 31.フィルタをかけられたエッジの画像(86)がしきい値にかけられた結果、 フィルタをかけられ、しきい値を超える領域の投影の発生が各々対象物のヒット と判定される(図8D)、請求項30に記載の方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010204051A (ja) * 2009-03-05 2010-09-16 Mutual Corp 検査装置および検査方法
JP2012014078A (ja) * 2010-07-02 2012-01-19 Sony Corp 顕微鏡及び領域判定方法

Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5266495A (en) 1990-03-02 1993-11-30 Cytyc Corporation Method and apparatus for controlled instrumentation of particles with a filter device
US5835620A (en) * 1995-12-19 1998-11-10 Neuromedical Systems, Inc. Boundary mapping system and method
US6130967A (en) * 1997-07-03 2000-10-10 Tri Path Imaging, Inc. Method and apparatus for a reduced instruction set architecture for multidimensional image processing
US6148099A (en) * 1997-07-03 2000-11-14 Neopath, Inc. Method and apparatus for incremental concurrent learning in automatic semiconductor wafer and liquid crystal display defect classification
US6122397A (en) * 1997-07-03 2000-09-19 Tri Path Imaging, Inc. Method and apparatus for maskless semiconductor and liquid crystal display inspection
US6130956A (en) * 1998-02-17 2000-10-10 Butterworth; Francis M. Continuous microbiotal recognition method
US6558623B1 (en) * 2000-07-06 2003-05-06 Robodesign International, Inc. Microarray dispensing with real-time verification and inspection
US7006674B1 (en) 1999-10-29 2006-02-28 Cytyc Corporation Apparatus and methods for verifying the location of areas of interest within a sample in an imaging system
US7369304B2 (en) * 1999-10-29 2008-05-06 Cytyc Corporation Cytological autofocusing imaging systems and methods
ATE357703T1 (de) * 1999-10-29 2007-04-15 Cytyc Corp Vorrichtung und verfahren zur überprüfung die ortung aussagefähiger bildbereiche innerhalb einer probe in einem abbildungssystem
US6759011B1 (en) 1999-11-22 2004-07-06 Ventana Medical Systems, Inc. Stackable non-stick coverslip
GB2356063B (en) * 1999-11-22 2001-10-24 Genpak Ltd Adhesive label with grid for microscope slide
DE60017599T2 (de) * 1999-11-22 2005-12-29 Ventana Medical Systems, Inc., Tucson Stapelbares nichthaftendes deckglas
US7025933B2 (en) * 2000-07-06 2006-04-11 Robodesign International, Inc. Microarray dispensing with real-time verification and inspection
AU2883702A (en) * 2000-11-03 2002-05-15 Cytyc Corp Cytological imaging systems and methods
US6740530B1 (en) * 2000-11-22 2004-05-25 Xerox Corporation Testing method and configurations for multi-ejector system
US6993169B2 (en) * 2001-01-11 2006-01-31 Trestle Corporation System and method for finding regions of interest for microscopic digital montage imaging
US7155049B2 (en) * 2001-01-11 2006-12-26 Trestle Acquisition Corp. System for creating microscopic digital montage images
US7062079B2 (en) * 2003-02-14 2006-06-13 Ikonisys, Inc. Method and system for image segmentation
US6993187B2 (en) * 2003-02-14 2006-01-31 Ikonisys, Inc. Method and system for object recognition using fractal maps
US20050094263A1 (en) * 2003-10-31 2005-05-05 Vincent Vaccarelli Microscope slide designed for educational purposes
US20060180489A1 (en) * 2005-02-02 2006-08-17 Cytyc Corporation Slide tray
US20100073766A1 (en) * 2005-10-26 2010-03-25 Angros Lee H Microscope slide testing and identification assembly
US20100072272A1 (en) * 2005-10-26 2010-03-25 Angros Lee H Microscope slide coverslip and uses thereof
AU2006306396B2 (en) * 2005-10-26 2011-12-08 Lee H. Angros Microscope coverslip and uses thereof
GB2474611B (en) * 2006-09-08 2011-09-07 Thermo Shandon Ltd Image based detector for slides or baskets for use in a slide processing apparatus
WO2008137667A1 (en) 2007-05-04 2008-11-13 Aperio Technologies, Inc. System and method for quality assurance in pathology
EP2037407B1 (de) * 2007-09-13 2014-07-23 Delphi Technologies, Inc. Verfahren zur Objekterfassung
US8064678B2 (en) * 2007-10-22 2011-11-22 Genetix Corporation Automated detection of cell colonies and coverslip detection using hough transforms
WO2010080131A1 (en) * 2008-12-19 2010-07-15 Abbott Labortories Method and apparatus for detecting microscope slide coverslips
CN102341810B (zh) * 2009-01-06 2018-08-10 西门子医疗保健诊断公司 用于小瓶和容器上的帽体的存在和类型的自动化探测的方法和设备
US20110115896A1 (en) * 2009-11-19 2011-05-19 Drexel University High-speed and large-scale microscope imaging
DE102012101377B4 (de) 2012-02-21 2017-02-09 Leica Biosystems Nussloch Gmbh Verfahren bei der Vorbereitung von Proben zum Mikroskopieren und Vorrichtung zum Überprüfen der Eindeckqualität von Proben
JP6019798B2 (ja) 2012-06-22 2016-11-02 ソニー株式会社 情報処理装置、情報処理システム及び情報処理方法
US10156503B2 (en) * 2013-03-05 2018-12-18 Ventana Medical Systems, Inc. Methods and apparatuses for detecting microscope slide coverslips
US9581800B2 (en) * 2014-11-21 2017-02-28 General Electric Company Slide holder for detection of slide placement on microscope
EP3542204B1 (en) * 2016-11-18 2021-02-17 Ventana Medical Systems, Inc. Method and system to detect substrate placement accuracy
US20210334514A1 (en) * 2018-12-20 2021-10-28 Bd Kiestra B.V. System and method for monitoring bacterial growth of bacterial colonies and predicting colony biomass
EP3839596B1 (de) * 2019-12-20 2023-08-23 Euroimmun Medizinische Labordiagnostika AG Vorrichtung und verfahren zur identifikation von deckglasbereichen eines objektträgers

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3824393A (en) * 1971-08-25 1974-07-16 American Express Invest System for differential particle counting
US4175860A (en) * 1977-05-31 1979-11-27 Rush-Presbyterian-St. Luke's Medical Center Dual resolution method and apparatus for use in automated classification of pap smear and other samples
US4538299A (en) * 1981-12-04 1985-08-27 International Remote Imaging Systems, Inc. Method and apparatus for locating the boundary of an object
US4965725B1 (en) * 1988-04-08 1996-05-07 Neuromedical Systems Inc Neural network based automated cytological specimen classification system and method
US5058181A (en) * 1989-01-25 1991-10-15 Omron Tateisi Electronics Co. Hardware and software image processing system
CH679990A5 (ja) * 1989-06-08 1992-05-29 Bobst Sa
US5072382A (en) * 1989-10-02 1991-12-10 Kamentsky Louis A Methods and apparatus for measuring multiple optical properties of biological specimens
US5129014A (en) * 1989-12-08 1992-07-07 Xerox Corporation Image registration
JP2531013B2 (ja) * 1990-11-22 1996-09-04 株式会社村田製作所 セラミック積層体のカット用位置決めマ―ク検出装置及びカット用位置決めマ―ク検出方法
US5086478A (en) * 1990-12-27 1992-02-04 International Business Machines Corporation Finding fiducials on printed circuit boards to sub pixel accuracy
US5257182B1 (en) * 1991-01-29 1996-05-07 Neuromedical Systems Inc Morphological classification system and method
US5196350A (en) * 1991-05-29 1993-03-23 Omnigene, Inc. Ligand assay using interference modulation
US5173946A (en) * 1991-05-31 1992-12-22 Texas Instruments Incorporated Corner-based image matching
US5267325A (en) * 1991-09-06 1993-11-30 Unisys Corporation Locating characters for character recognition
US5361140A (en) * 1992-02-18 1994-11-01 Neopath, Inc. Method and apparatus for dynamic correction of microscopic image signals
US5315700A (en) * 1992-02-18 1994-05-24 Neopath, Inc. Method and apparatus for rapidly processing data sequences

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010204051A (ja) * 2009-03-05 2010-09-16 Mutual Corp 検査装置および検査方法
JP2012014078A (ja) * 2010-07-02 2012-01-19 Sony Corp 顕微鏡及び領域判定方法
US9013570B2 (en) 2010-07-02 2015-04-21 Sony Corporation Microscope and area determination method

Also Published As

Publication number Publication date
AU3508395A (en) 1996-04-09
WO1996009610A1 (en) 1996-03-28
CA2200445C (en) 2002-05-28
US5812692A (en) 1998-09-22
AU709029B2 (en) 1999-08-19
CA2200445A1 (en) 1996-03-28
GR980300049T1 (en) 1998-07-31
EP0782738A1 (en) 1997-07-09
ES2122949T1 (es) 1999-01-01
DE782738T1 (de) 1998-11-12
US5638459A (en) 1997-06-10
EP0782738A4 (en) 1998-05-06

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