JPH11514445A - 非点収差測定の装置および方法 - Google Patents
非点収差測定の装置および方法Info
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- JPH11514445A JPH11514445A JP9516681A JP51668197A JPH11514445A JP H11514445 A JPH11514445 A JP H11514445A JP 9516681 A JP9516681 A JP 9516681A JP 51668197 A JP51668197 A JP 51668197A JP H11514445 A JPH11514445 A JP H11514445A
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Abstract
(57)【要約】
コンピュータ(30)は対象平面内の星状光学ターゲット(18)から画像データを受信し、角度に依存する境界の鋭さを計算する。水平でx方向の振幅導関数と、垂直でy方向の振幅導関数とが、Zパン・シーケンスから各星状パターン画像の一部について計算される(83)。ターゲット(18)を保持する顕微鏡スライド・ステージ(16)が、対象が合焦する位置のすぐ下のレベルから、対象が合焦する位置のすぐ上のレベルまで垂直に移動する。垂直移動すなわちZパンの各微小増分について、星状パターンの画像が解析のために収集される(85、86、89)。微分された画像について計算が行われ、点像分布関数の伸長とステージZ位置に伴う円形でない点像分布関数の長軸の角度の変化との証拠が、検索される(134)。光軸に沿って変化するゆがんだ点像分布関数の存在が、非点収差を示す(136)。
Description
【発明の詳細な説明】
非点収差測定の装置および方法
本発明は、光路における非点収差を測定する方法および装置に関し、より詳細
には、非点収差の測定として焦点面の分離を測定するためにコンピュータによる
画像処理システムを使用する方法および装置に関する。
発明の背景
顕微鏡用レンズ系のような理想的な光路は、視野全体にわたって均一な解像度
で対象の形状の歪みのない拡大をもたらす。しかし、実際のレンズ、鏡およびカ
メラシステムは、収差を導入し、画像の解像度を像面の全体にわたって変化させ
る。こうした周知の収差の1つが非点収差である。非点収差は、光学系を通る異
なった回転面を移動する光線について、主軸に沿った別の焦点距離の存在として
定義される。すべての種類の光路は、欠点として非点収差を有している。
非点収差によって過度に劣化した光路を修正または調整できるように、この収
差の程度を測定する方法が必要である。従って、本発明は、光路の非点収差を測
定する自動システムを提供し、光路への影響を他のシステム構成部分に警告する
光学品位信号を供給する自動システムを提供する。
発明の概要
本発明は、光学系の状態を評価する方法を提供する。本発明の方法は、異なっ
た焦点位置のテストパターンの複数の画像を得る。本発明の方法は、その後、複
数の重心ベクトル、すなわち複数の画像の1つについて各々1つの重心ベクトル
を計算する。本発明の方法は、その後、複数の重心ベクトルから焦点面の分離を
計算し、光学系の状態を焦点面の分離に関連させる。
本発明は、光路の少なくとも1つの光学素子の非点収差を測定する装置および
方法を提供する。光学部品マウントが、光学素子を保持する。対物レンズが配置
され、光路から画像を受け取る。光学ステージが、対物レンズの視界にテストパ
ターンを保持し、対物レンズは、テストパターンの画像を受け取る。ステージ駆
動機構が取り付けられ、光学ステージを移動させるが、その際光学ステージ駆動
機構は、位置制御入力を有する。テストパターン照明器が配置され、テストパタ
ーンを照明する。ビデオカメラが、光路を通じてテストパターン画像を視認し、
ビデオ信号を発生する。画像取得電子装置が、ビデオ信号に接続される。画像取
得電子装置は、デジタル画像出力を有する。画像解析コンピュータが、接続され
、デジタル画像出力を受信し、テストパターン画像を解析し、光路の非点収差を
判定する。コンピュータ処理装置が、ステージ駆動機構を制御する。
一実施形態では、本発明の装置はさらに、計測器の品質管理のために、非点収
差による画像の劣化を示す制御信号をもたらす。
本発明の他の目的、特徴および利点は、類似の参照番号は類似の要素を示す、
以下の好適実施形態、請求項および図面の説明を通じて当業者には明らかになる
であろう。
図面の簡単な説明
本発明を説明するために、好適実施形態が、添付の図面を参照して説明される
。
図1Aおよび図1Bは、光路の近軸非点収差の例を示す。
図2は、点像分布関数に対する近軸非点収差の影響の一例を示す。
図3は、光路の光学的特性をテストする本発明の装置を示す。
図4は、光路の光学的特性をテストする本発明の一方法を示す。
図5Aは、テストパターンの中心を見出す本発明の方法を示す。
図5Bは、較正板テストパターンを示す。
図5Cは、しきい値化された画像を示す。
図5Dは、閉鎖剰余画像を示す。
図5Eは、対角浸食画像を示す。
図5Fは、最終テストパターン画像の中心を示す。
図6Aは、焦点の品位を計算する本発明の方法を示す。
図6Bは、水平フィルタの周波数応答のグラフを示す。
図6Cは、水平フィルタのインパルス応答のグラフを示す。
図6Dは、垂直フィルタの周波数応答のグラフを示す。
図6Eは、垂直フィルタのインパルス応答のグラフを示す。
図7Aは、本発明の画像取得・フィルタリング・ステップを示す。
図7Bは、X勾配テストパターンの画像を示す。
図8Aは、本発明の画像解析ステップの例を示す。
図8Bは、本発明の境界角領域解析方法の例を示す。
図8Cは、テストパターンについての境界角領域の集合の例を示す。
図9Aおよび図9Bは、本発明の焦点面分離ステップの一実施形態を示す。
図10は、平均剰余対境界角のプロットを示す。
図11は、全平均剰余対Z座標のプロットを示す。
図12は、重心の大きさ対Z座標のプロットを示す。
図13は、重心の角度対Z座標のプロットを示す。
図14は、2つの主角度に対するMAG(z,θ)のプロットを示す。
図15Aおよび図15Bは、2つの主角度に対する曲線の当て嵌めのプロット
を示す。
図16は、ステージの高さとテストパターンの境界角との関数としての平均剰
余の面マップを示す。
図17A、図17Bおよび図17Cは、本発明によって使用される非点収差測
定装置のより詳細な図である。
好適実施形態の詳細な説明
図1Aおよび図1Bは、近軸非点収差の例を示す。図1Aは、光路の上面図で
あり、レンズ40は、光線41および43を収差を有する光学素子42を通じて
焦点52に合焦する。収差を有する光学素子42は、XZ平面内に示されており
、XZ平面内に歪みを生じる。焦点52は、焦点面44上にある。図1Bは、図
1Aの光路の側面図を示しており、レンズ40は、光線45および47を収差を
有する光学素子42を通じて焦点54に合焦している。収差を有する光学素子4
2は、図1BにおいてYZ平面内に示されている。YZ平面には歪みはない。焦
点54は、焦点面48上にある。焦点面44と焦点面48との間の距離50が、
近軸非点収差として定義される。
図2は、図1Aおよび図1Bの光学系の点像分布関数に対する近軸非点収差の
影響を示す。輪郭70は、通常の光路の点像分布関数のXZ断面の上面図を示す
。輪郭72は、点像分布関数のZY断面の側面図である。断面をXY平面で取っ
た3つの断面の例が示される。平面74で取った断面71は、ZY平面の最良焦
点面を示す。平面78で取った断面75は、ZX平面の最良焦点面を示す。ある
軸の最良焦点面は、点像分布関数が最小になる平面として定義される。光路の非
点収差は、軸によって最良焦点面が異なる原因の1つである。その結果、各軸に
ついての点像分布関数が、たとえいずれの軸についても最小でなくても、「最小
混乱平面」76を生じる平面が存在する。最小混乱平面は、点像分布関数73が
ZXおよびZY平面の両方について同じである平面として定義される。
図3は、本発明の非点収差測定装置の一例の概略図である。測定される光路に
は、複合光路24と対物レンズ22が含まれる。実施形態の一例では、対物レン
ズは4×対物レンズを含む。駆動システム20は、ステージ16に接続される。
ステージ16は、集光レンズ14を通じて光源12によって照明されるテストパ
ターン18を保持する。対物レンズ22は、テストパターン18を視認し、複合
光路24を通じて光線を送る。画像取得電子装置28に接続されたビデオカメラ
26は、光線を受け取り、それを画像解析コンピュータ30によって処理するた
めの電子信号に変換する。画像解析コンピュータ30は、画像取得電子装置28
に接続されている。ホスト処理装置32は、駆動システム20を制御する電動機
制御電子装置34を制御する。
ここで非点収差を測定する本発明の一方法の処理流れ図を示す図4を参照され
たい。システム10は、ステップ82で起動される。Z軸内でパンするための限
度が、ステップ83で確立される。テストパターンの中心が、ステップ84で見
出され、ステップ85、ステップ86、ステップ87およびステップ89では、
テストパターンの画像が、ホスト処理装置32によって解析される。ステップ8
7でチェックが行われ、所定の必要な数の画像が収集・解析されたかどうか決定
される。ステップ87の条件が満足されると、処理はステップ88に進み、焦点
面の分離が見出される。そうでない場合、処理はステップ89に進み、ステージ
を移動させる。ステップ88では、焦点面の分離、従って光学系の非点収差が、
見出される。
システムを起動するステップ83の間、4×対物レンズを自動顕微鏡502の
光軸と整合させるべく、図17Cに示されているレンズターレット23が回転す
る。テストパターン18も光路内に移動する。ステージ521は、以下に説明さ
れる方法によってシステムの較正の際に前もって決定されたX、YおよびZの初
期位置に移動する。初期位置は、視野のほぼ中心に位置するテストパターン18
の焦点の合った画像を提供する。
ここで、システムの較正の際にX、YおよびZのデカルト座標におけるテスト
パターン18の中心を初めに見出す本発明の方法を示す図5A〜図5Fを参照さ
れたい。これらのステップは、テストパターン18の中心をより正確に見出すス
テップ84に先立つものである。テストパターン18は、図5Bで星状パターン
として示されているが、当業者は、他のパターンも使用できることを理解するで
あろう。図5Bに示す、原グレースケール画像170が、ステップ140で画像
取得電子装置28によって取得される。ステップ142では、図5Cに示すよう
な二進法しきい値化画像172を生成すべく、原グレースケール画像170がし
きい値化される。ステップ144では、この二進法しきい値化画像172に対し
て、形態学的閉鎖剰余演算が行われる。閉鎖剰余演算は、図5Dに示すような閉
鎖剰余画像174を発生する。しきい値化された画像172の閉鎖剰余画像17
4は、星の腕が中心に収束するところの生じ得る範囲を識別する。閉鎖剰余画像
174は、その後、ステップ146で下向きに傾斜する対角線のバーによって浸
食され、ステップ148で上向きに傾斜する対角線のバーによって浸食される。
2つの画像は、ステップ150で共に排他的論理和演算される。その結果得られ
る画像は、生じ得る星の中心の周囲の範囲を表す。上記のステップを使用して、
本発明は、水平または垂直交差画像といった誤って星状パターンと解釈され得る
他の画像をフィルタリングして除去した。対角浸食画像は、図5Eで画像176
として示されている。画像176は、その後、ステップ152で形態学的に閉じ
られる。ステップ152の結果として生じる画像は、ステップ154で開かれ、
ステップ154の結果として生じる画像は、ステップ156で再び閉じられ、星
状エレメントの周囲の画像エレメントを1つの対象に併合する一方、他のノイズ
をフィルタリングして除去する。結果として生じる最終的な画像が、図5Fで画
像178として示されている。経験的に決定された限度の範囲内に適合する画像
178に残された中心領域179がある場合、中心領域179は、星の中心を表
し、ステップ158でテストパターンの中心として定義される。
再び図3および図4を参照するに、テストパターン画像を保持する較正板の最
適合焦位置が決定される。Z軸パン・シーケンスについて移動限界を確立するた
めに、テストパターン18の一連の画像が取得され、全解像度について検討され
る。最良の全解像度を生じる位置が、Z軸パン範囲の中央として選択される。そ
の後、ステージ16の高さの下限に始まりステージ16の高さの上限に至る一連
の画像が収集される。Z軸パン範囲の大きさは、使用される光路の被写界深度の
約2倍となる。ステージ16はZ方向に較正Z座標より下の位置から較正Z座標
より上の位置まで移動するので、較正スライド18上のパターンは、最適合焦を
通過する。このパン・シーケンスにおける各画像について合焦の品位が測定され
、解像度がもっとも高い画像のZ座標が記録される。
Zパン・シーケンスの各Z位置で使用される合焦の品位の測定が、図6Aに示
されている。ステップ202では、各原グレースケール画像170において所定
のピクセルの値をすぐ右隣のピクセルの値から引き算することによって差分画像
が発生する。ステップ204では、各原グレースケール画像170で所定のピク
セルの値を所定のピクセルのすぐ下のピクセルの値から引き算することによって
差分画像が発生する。これらの差分は「勾配」と呼ばれる。これらの演算は、以
下の式によって記述される。水平変位差分画像は、次式によって記述される。
GradX[i][j] = ABS{A[i+1][j] - A[i][j]}
垂直変位差分画像は、次式によって記述される。
GradY[i][j] = ABS{A[i][j+1] - A[i][j]}
式中、ABSは絶対値演算子であり、
i=X方向の画像座標、
j=Y方向の画像座標、
A=画像振幅(整数ピクセル値)である。
その後、ステップ206およびステップ208として示される、各差分画像に対
するヒストグラムが計算される。各ヒストグラムは、生じ得る整数ピクセル値の
各々について1つのビンである、256のビンを含む。各ビンに対するヒストグ
ラムの値は、そのビンに割り当てられた振幅を有するピクセルの数に等しい。従
って2つの従属変数NX(A)およびNY(A)は、「A」が0〜255の任意の
整数値を取り得る差分画像ヒストグラムによって記述される。画像全体にわたっ
て得られる水平および垂直方向の解像度の値は、ステップ210およびステップ
212で、あるしきい値NTを超えるNX(A)およびNY(A)の値を識別し、
振
幅の二乗とそれらの対応するピクセル数の積の合計を累算することによって以下
のように得られる。すなわち、
および
である。
ステップ214では、画像解像度の単一の全解像度Rtotが、2つの項を加算す
ることによって得られる、すなわちRtot=RX+RYである。もっとも高いRtot
を有する画像のZ座標が、最適合焦を有するZ座標として定義される。
テストパターンの最適合焦のZ座標が見出されれば、非点収差試験の際にパン
するZ座標の始点と終点は、一実施形態ではそれぞれ最適合焦の50ミクロン下
と最適合焦の50ミクロン上に配置される。例えば、4×対物レンズの被写界深
度の約2倍に等しいこの距離のために、非点収差試験によって対物レンズの被写
界深度と同じ大きさの焦点面の分離を正確に測定することができる。本発明の非
点収差試験の目的で、被写界深度は有利にも、対物レンズの点像分布関数の直径
が焦点面の点像分布関数の直径の2倍未満である、Z軸に沿った距離として定義
される。
再び図4を参照するに、ステップ84では、較正スライド18からの星状パタ
ーンが精密に中心決めされる。本発明の非点収差試験のために画像を収集する前
に、テストパターン170の一連の画像が収集され、画像視野の中でテストパタ
ーンをより正確に中心決めする。顕微鏡ステージ20は、例えば星状パターンで
ある検索パターンがカメラ26の画像視野の中心とほぼ整合するまで、星状パタ
ーンの上を移動する。画像解析が画像解析コンピュータ30によって行われ、デ
ジタル化画像の中でテストパターン18のより正確な中心を見出す。より正確に
計算された中心は、本発明の非点収差測定方法で使用される。
本発明の方法の一実施形態では、星状パターンのより正確に計算された中心は
、
上記で図5A〜図5Fを参照して説明されたように、まず画像処理システムの視
野の中心に星状パターン18を含む較正板を検出することによって見出される。
はじめに中心決めされたテストパターン18の画像が得られ、二進画像に変換さ
れるが、そこでは、例えば、0〜255の範囲のうちのピクセル値128のよう
な、あるしきい値未満の値を有するすべてのピクセルが、黒色ピクセルとみなさ
れる。リニアーアレーが画像の周辺ピクセルから形成されるが、そこでは、画像
の上、右、下および左の周辺ピクセルが、リニアーアレーに組み込まれる。その
後、白から黒への遷移についてリニアーアレーが走査されるが、一実施形態では
黒の遷移は5つの連続する黒色ピクセルとして定義される。これは遷移の検出を
汚染するノイズを避けるためである。遷移のピクセルアレーに対する真の位置が
、画像のX、Y座標中で検出される。これらのX、Y座標は、各遷移について個
別のアレーX、Yに保存される。この処理は、遷移についてリニアーアレー全体
が走査されるまで継続される。32より多いかまたは少ない遷移が検出される場
合、テストパターンの中心の検出は失敗したと考えられる。テストパターンの中
心の検出は、画像の汚れ、テストパターンの不正確な初期中心決めまたは他の光
学的問題によって失敗し、遷移の検出を妨害する。
テストパターン18のより正確な中心が、勾配切片法を使用して計算され、そ
こでは、Y差分はピクセルと16番目の隣接するピクセルとの差であり、X差分
はピクセルと16番目の隣接するピクセルとの差として計算される場合、各ピク
セルに関する勾配は、X差分に対するY差分として計算される。遷移が32ある
場合、16番目のピクセルが同じ線の上または近くにあるので、16が選択され
る。従って、
i=1,...,16について、
となる。
次に画像の中心が、次の式により各直線と8番目の隣接するピクセルとに基づい
て計算されるが、ここでi+8番目のピクセルは、次の関係によってi番目のピ
クセルに垂直な直線の上にある。
i=1,...,8について、
Yの中心が勾配切片を使用して計算される。本発明の次のステップでは次の式に
よって中心の平均が計算される。
i=1,...,8について、
center.y[i]=(slope[i]*(center.x[i]-x[i]))+y[i]
中心が正しく検出される場合、テストパターンの中心が較正の際検出されている
ので、512×512ピクセルの画像アレーの場合、中心は256×256の点
の10ピクセル内にある。
次に計算された中心が、その標準偏差によって評価される。計算された中心の
標準偏差が5ピクセルより多い場合、中心はまだ見出されていないと考えられる
。5ピクセルより少ないかまたは等しい場合、中心が見出されたと考えられる。
通常、本発明の方法は、一実施形態では、1ピクセルの標準偏差を有する中心を
検出する。当業者は、テストパターンが32を超える線を有することがあり、そ
の場合共線ピクセルは16のエレメント遷移ではなく、2で割った試験用線セグ
メントの数であるということを理解しよう。当業者にはまた、直交線は4で割っ
た試験用線セグメントの数であるということを理解しよう。当業者はまた、正確
な中心の計算は、より少ない数も使用され得るが、通常試験用セグメントの数の
少なくとも最初の4分の1を使用するということを理解しよう。
ここで本発明の画像取得・フィルタリング・ステップ85をより詳細に示す図
7Aを参照されたい。ステップ90では、ステージがZ軸に沿って移動する。本
発明の一実施形態では、ステージ移動のステップサイズは、4×対物レンズの被
写界深度の約5%という小さな単位が選択され、焦点面の分離が高い精度で測定
できるようにする。それに限定されないが、例えば、51の画像を使用して10
0ミクロンの範囲のステージ高さにわたる2ミクロンのステップサイズが使用さ
れる。ステップ91では、テストパターン18の画像がビデオカメラ26から画
像取得電子装置28によって取得され、画像解析コンピュータ30のメモリに処
理のために転送される。
NTSCビデオ・フォーマット仕様に対応するよう設計されたビデオカメラ2
6は、画像の水平解像度が垂直解像度より悪くなるようにビデオ信号の帯域幅を
制限する。高い周波数の損失を補償するために、保存された画像の各水平線には
、ステップ92でエッジ強調フィルタ・カーネルが重畳される。エッジ強調フィ
ルタ・ステップ92の目的は、水平方向の帯域幅を拡大して垂直方向の帯域幅と
一致させることである。理想的には、フィルタはカメラのローパス・フィルタの
効果を正確に逆転させ、そして、カメラのフィルタの利得および位相対周波数の
測定が、エッジ強調フィルタの設計の基礎を提供する。カメラのローパス・フィ
ルタのフーリエ変換の複素数計算の逆が、仮想逆フィルタの周波数特性として得
られる。しかし、仮想逆フィルタの利得は、周波数が画像ピクセルの間隔によっ
て課されるナイキスト限界に近づくに連れて急激に上昇する。従って、第1の修
正は、0.8*f(ナイキスト)の4次極を加算することによってナイキスト限
界のごく近くの利得を低減することである。これでフィルタは実現可能になる。
しかし、この帯域フィルタの適用により、ナイキスト限界に不連続性がもたらさ
れる。その結果、画像をフィルタリングするために使用される重畳演算のカーネ
ルとなるフィルタのインパルス応答が、拡大する。計算速度を犠牲にしてこのフ
ィルタを適用するには、非常に多数のカーネルの点が必要になる。一実施形態で
は、必要な点の数が、カーネルを切り捨てることによって低減されるが、これは
フィルタリング・ステップの応答にリンギングを生じるので、試行錯誤によって
係数を調整してリンギングを許容可能なレベルに低減させる。
最終的な水平フィルタの周波数応答とインパルス応答が、それぞれ図6Bおよ
び図6Cに示される。図6Bでは、破線61がフィルタの位相シフトをラジアン
で表示する。実線63はフィルタの利得を表示する。
エッジ強調フィルタが、ステップ92で画像解析コンピュータ30によって実
現される。ステップ93では、ローパス・フィルタが垂直方向に適用される。エ
ッジ強調フィルタに設定された上端カットオフのために、画像はフィルタリング
されて、最終的な水平対垂直帯域幅の一致を達成する。垂直フィルタは時定数が
0.718ピクセル増分の簡単なガウス・フィルタである。インパルス応答の式
は以下の通りである。
垂直フィルタの周波数応答とインパルス応答は、それぞれ図6Dおよび図6Eに
示される。当業者には、テストパターン画像のデジタル表示を得る他の方法も本
発明の精神と範囲の中にあることが、理解されるであろう。
ここで、本発明の方法の画像解析ステップ86をより詳細に示す図8Aを参照
されたい。ステップ102では、テストパターン画像のフィルタリングされた画
像が処理のために表示される。本発明の方法は、その後ステップ104で、上記
で図6Aに関して示された勾配式によって画像のX勾配とY勾配を計算する。勾
配の演算子は、各軸に沿った2ピクセル構造の差である。フィルタリングされた
各テストパターン画像について、X勾配とY勾配の画像が作成される。X勾配画
像の例が、図7Bに示されている。
本発明の方法で使用される境界角領域の例を示す図8Bおよび図8Cも参照さ
れたい。各テストパターンの中心は、上記で説明した方法によって精密に検出で
きるので、本発明は、テストパターン画像を所定の境界角領域に分割できる。こ
れらの境界角領域には、今後の解析に適したピクセルが含まれる。図8Bは結合
されたX勾配とY勾配のテストパターン勾配画像の4分の1をを示し、図8Cは
完全な結合されたテストパターン勾配を示す。図8Bでは、各ピクセルは、境界
角領域290と呼ばれる特定の領域に別れ、水平な領域292からの中心角に基
づいて角度の指定を前もって割り当てられる。例えば、中心280は、ラジアン
252、254、256および258を定義し、それらが境界角262、264
および268を定義する。ラジアン252と254の間にあり、中心280を有
する外側の円278と中心280を有する内側の円276とに境界を接する境界
角領域φn262には、境界角ピクセル270が含まれる。ラジアン254と2
56の間にあり、中心280を有する外側の円278と中心280を有する内側
の円276とに境界を接する境界角領域264φn+1には、境界角ピクセル27
2が含まれる。同様に、ラジアン256と258の間にあり、外側の円278と
内側の円276とに境界を接する境界角領域268φn+2には、境界角ピクセル
274が含まれる。ステップ106では、ピクセルは境界角によってビンに分類
される。内側の円276と外側の円278によって定義される、あらかじめ決定
された環の外側にあるピクセルはステップ108で廃棄される。画像の中心にご
く近いピクセルは無視されることに留意されたいが、これは星状パターンのこの
領域は非常に小さい寸法に収束しているため、ピクセルアレーによって正しく表
示できないためである。
図8Cには、完全なテストパターンの勾配画像が示されている。テストパター
ンの境界角領域290には、0ラジアン角282、π/2ラジアン角284およ
びπラジアン角286が含まれる。ステップ110では、勾配画像のピクセルが
しきい値に対して試験される。ある境界角の振幅導関数は、境界角の余弦によっ
てX勾配に、また境界角の正弦によってY勾配に投影されるので、勾配の大きさ
は、XおよびY勾配のベクトル和である。このベクトル和は、普通X勾配とY勾
配の平方の和の平方根として計算される。しかし、平方根演算は、
GradX[i][j]2+GradY[i][j]2<しきい値2ならば、
GradX[i][j]=0かつGradY[i][j]=0
という関係に従う所定のしきい値の平方である値と平方の合計を比較することに
よって回避される。低い勾配の値は、剰余計算の際に信号対雑音比を増大するた
めに抑制される。
ステップ112では、各境界角領域について、その角の認定されたピクセルの
集合にわたって合計が行われ、境界角領域に寄与するピクセルの数Nで割り算す
ることによって正規化される。境界角領域における角ピクセルの勾配の値は、ス
テップ112で平方および合計され、ピクセルの数で割り算される。この合計(
SUM)は次のように表される。
SUMX(φ)=(Σ GradX(i,j)2)/N
SUMY(φ)=(Σ GradY(i,j)2)/N
ここで、ピクセル「i,j」は角度φの境界角領域にある。Nは境界領域に寄与
する認定されたピクセルの平均数に等しいが、この平均は、テストパターン画像
中のすべての境界領域について得られる。Nによる割り算はSUMX(φ)とS
UMY(φ)をスケーリングする働きをするので、これに続く計算から得られる
剰余の値は、原画像の振幅スケールと同じオーダーの大きさのものである。
ステップ114では、各境界角領域の平均剰余が、以下のような求積法で2つ
の合計を結合することによって計算される。
式中、MAG(φ)は各境界角領域φの剰余の大きさである。MAG(φ)はま
た、剰余値とも呼ばれる。
ステップ115では、各境界角について1つの剰余の値の集合が、現在の画像
について後で焦点面の分離の計算で使用するため保存される。
剰余値MAG(φ)は、星状パターンの境界の角度を対象にする境界角ビンに
分割される境界の鋭さの表現である。ステップ116では、全画像解像度の読み
取りが、次のようにこのアレー全体を平均することによって得られる。
Mが境界角領域の数であるとき、
ステップ117では、現行画像の平均剰余値が、重心ベクトルを正規化する際
に使用するために保存される。この平均解像度の推定meanRESは、Zパン
画像シーケンスをチェックしてそれが較正板の最良合焦付近の領域を包含するこ
とを確実にするために使用される。全平均剰余対Z位置のプロットが、光学系の
一例に関して図11に示されている。
光路の実際の点像分布関数は、直接には測定されないが、その形状は、境界角
に依存する解像度測定から推定される。剰余値が高くなればなるほど、解像度は
高くなる。解像度が境界角に無関係であれば、点像分布関数は円形である。水平
境界が垂直境界より鋭ければ、点像分布関数は細長くなり、その長軸が水平線に
沿って置かれる。所定の画像に作用する点像分布関数の長軸は、もっとも鋭い境
界の角の方向を向く。
ステップ118では、重心(COG)ベクトルは、COGベクトルの大きさに
よって桁上げされる点像分布関数の形状の偏心と、COGベクトルの角度によっ
て桁上げされる点像分布関数の主軸の角度とを表す機構である。
重心ベクトルは、円を取り巻く星状パターンの180度の境界角を拡大し、こ
の新しい円のX軸とY軸の平均剰余のモーメントを取ることによって見出される
。円形の点像分布関数の場合、各軸の剰余は均衡するので、COGベクトルはゼ
ロである。しかし、他より鋭いいくつかの境界がある場合、それらはモーメント
を支配し、COGベクトルは、ゼロでない大きさと一定の角度を有する。
COGベクトルは、ステージのZ位置が変化する際、その回転の有無とピーク
の位置を見るために観察される。モーメントは次のように計算される。
モーメントの計算によって、重心ベクトルのデカルト表示が生じる。COGの
大きさr_COGは、次のように2つのモーメントの求積合計として求められる
。
この重心の大きさは、点像分布関数の偏心の表現である。r_COGが大きい
ことは、光学系の歪みが大きく、境界の鋭さの角依存がより多く表現されること
を示している。r_COG対Z位置のプロットが、光学系の一例について図12
に示されている。
COGベクトルの角度θ_COGも、次のようにXおよびYのモーメントから
計算される。
2で割り算することは、モーメントを計算するために作成された円から、0か
らπまでの境界角をアンラップする演算であることに留意されたい。
ステップ119では、r_COGとθ_COGの値が、後で光学系の非点収差
の程度と方向を計量する際に使用するために保存される。
ステップ120では、Zパン・シーケンスの次の画像がアクセスされ、ステッ
プ104〜ステップ119が繰り返される。このサイクルは、Zパン・シーケン
スのすべての画像が処理されるまで続く。ステップ115、ステップ117およ
びステップ119で保存された値は、Z軸のステージ高さを指標とし、その後の
ステップで点像分布関数のZ軸に依存する挙動を解析する際に使用される表を形
成する。
この計算のため、4つの角度に関するビンは抑制されてゼロになり、以後のす
べての計算で無視される。これらの角度とは0、π/4、π/2および3π/4
であり、テストパターンの垂直、水平および対角線の境界である。例えば、星状
パターンの水平境界の場合、X勾配は理想的にはゼロの値を取るが、これは有益
な結果である。しかし、実際の画像では、水平境界は散発的に隣接するピクセル
行と交差したりそれたりして、X勾配に関してゼロでない、ノイズ値を生じる。
同じ現象は、同様に隣接するピクセルの中心を通って引かれる直線と平行な垂直
および対角線の境界についても発生する。
当業者には、XとYの勾配の平方であるSUMX(φ)、SUMY(φ)の積分
が、次の4つの特徴、すなわち(1)ステップ形境界の鋭さの変化に対する感度
、(2)画像の無限精密サンプリングの限度内の回転不変性、(3)画像のサン
プリング密度に対する不変性および(4)照明レベルに対する2次依存性、を提
供する演算子の1つのクラスであることが理解されるであろう。当業者にはまた
、本発明の範囲から逸脱することなく、上記の積分の代わりに他の演算子も使用
されることも理解されよう。
GradX(i,j)およびGradY(i,j)演算子は、画像の1次導関数
であり、その対応する経路に沿った何らかのゼロでない振幅シフトに対して正の
値を取る。境界の鋭さが低下すると、導関数も低下するが、境界内のピクセルの
数は増大する。従って1次勾配の積分は境界の鋭さの変化に影響されないのに対
し、平方された勾配の積分は鋭さを表す。
回転不変性は、2つの勾配の直交性によってもたらされる。任意の境界角につ
いて、SUMX(φ)とSUMY(φ)は、cos2(φ)とsin2(φ)を通じ
て関連する。2つの項の合計の平方根は、角度に依存しない解像度測定をもたら
す。
演算子におけるスケール不変性の測定は、結果に長さの単位がない状態で見出
されるが、これは、導関数における1/長さの単位が2次元積分の長さの単位に
よって相殺されるためである。
最後に、画像の輝度に対する演算子の2次依存性は、照明依存性を確保する。
演算子は次のように表される一般的なクラスに拡大される。
但し、Iは画像である。
演算子のこのクラスのすべての成員は、はじめの3つの限界条件に合致するが、
第4の条件には合致しない。
図9Aおよび図9Bは、焦点面の分離を計算する本発明の方法を示す。本発明
の方法は、重心ベクトルの大きさによって示されるように、点像分布関数がZパ
ン・シーケンスにわたって持続的に偏心しているということを仮定している。こ
の持続的偏心に対して、ステップ124で初期試験が行われる。ステップ124
の方法は図9Bに詳述されている。
ステップ125では、重心の正規化された大きさr_COG_norm(Z)
が、Zパン・シーケンスの各画像について計算される。これは、各画像の重心の
大きさをその画像の平均剰余で割り算することによって計算される。Zの各数値
について、Zパン・シーケンス中の各画像に関するr_COG_norm(Z)
が次式によって計算される。
r_COG_norm(Z)は点像分布関数の偏心の表現であるが、それは重心
の計算の際にモーメントの計算によってゼロにされないすべての境界角領域につ
いて積分された剰余の小数部と等しいからである。従って、これは、Zが変化す
る際の全画像解像度の変化と無関係である。
非点収差の存在は、点像分布関数の持続的偏心の不在によって排除される。従
って、r_COG_norm(Z)のZに対する積分は、ステップ127で次の
ように計算される。
但し、nは、zパン・シーケンスにおける画像の数である。
ステップ129では、Sum_r_COG_normがしきい値と比較される
。Sum_r_COG_normがしきい値未満の場合、非点収差の可能性は排
除され、ステップ126で、機器は非点収差試験について「合格」という結果を
与えられる。Sum_r_COG_normがしきい値を超える場合、プログラ
ムは焦点面分離の計算に進む。
Sum_r_COG_normに対するしきい値の値は、焦点面分離に対する
関係に関する経験的な証拠から求められる。さまざまな程度の非点収差を有する
複数の光学系から、特性データが集められる。最大許容焦点面分離に関する基準
が設定されるが、これは通常システムの対物レンズの被写界深度の25%を超え
ない。しきい値Sum_r_COG_normの値は、確立された焦点面分離し
きい値の交差の近傍の補間によって求められる。
大きな値のr_COG_normを有する画像は、どれも偏心した点像分布関
数の所産であり、点像分布関数の長軸は、θ_COG(Z)である。r_COG
_norm(Z)の値は、長軸と短軸の縦横比として、点像分布関数の偏心を表
す。図12を参照されたいが、非点収差が存在する際、Zパンの限度が最良合焦
のZ位置を括弧に入れる場合、r_COG_norm(Z)は、点像分布関数が
円形である、最小混乱平面として知られる位置で、Zパンの中央に近い最小値を
通過する。最小混乱平面の両側で、r_COG_norm(Z)の値は、点像分
布関数が偏心性になるに連れて上昇する。さらに、図13を参照されたいが、非
点収差が存在する場合、重心ベクトルの角度θ_COG(Z)は、Zパンの開始
時には第1の角度にあり、最小混乱平面で不定となり、Zパンの終わり近くで第
1の角度から約90度離れた第2の角度に落ち着く。これらの第1および第2の
角度は主角度と呼ばれる。
ステップ128では、保存されたr_COG_norm(Z)の曲線中ゼロに
なる第1の位置を検出することにより、2つの主角度が見出される。ゼロは数値
が軌跡の最小値にあり、両側で上昇している位置である。画像の第1集合が、r
_COG_norm(Z)曲線中ゼロにもっとも近い画像がゼロ以下の5つの画
像に属する5つの隣接する画像の集合として、第1主角度の計算のために指定さ
れる。同様に、画像の第2集合が、r_COG_norm(Z)曲線中ゼロにも
っとも近い画像がゼロ以上の5つの画像に属する5つの隣接する画像の集合とし
て、第2主角度の計算のために指定される。各主角度は、その指定された画像集
合における5つの画像に関するθ_COGの平均として計算される。
ステップ130では、2つの主角度の値は、それらの対応する星状パターン境
界角についてMAG(φ,Z)曲線を検索するために使用される。これらの計算
は、ステップ114およびステップ115を繰り返し実行することによって計算
および保存される。各主角度について、対応する境界角領域が、主角度にもっと
も近い排除されない境界角領域として取られる。排除される境界は、星状パター
ンの垂直、水平および対角線の境界である。
ステップ132では、2つの選択されたMAG(θ,Z)曲線が、それらのピ
ークを見出す、曲線の当て嵌めを使用して評価される。
図14は、2つの主角度π/8および7π/8に関する平均剰余の値対Zの位
置のプロットの例を示す。平均剰余のピークの間に、約9マイクロメーターの分
離1401が認められる。
図15Aおよび図15Bは、2つの主角度に関する平均剰余に対する最小二乗
法多項式曲線の当て嵌めの例を示す。ピーク以下の10サンプル、ピーク以上の
10サンプル、当て嵌められる点jの軌跡としてのピーク自体が名目上使用され
、2次式が各曲線1501、1502に当て嵌められる。ピークがパン範囲の終
端にごく近いために21の点のすべてが使用できる場合、見つからない点は無視
され、集合中の残りの点を使用して当て嵌めが行われる。これは、この例の第1
主角度に関するプロット1501の場合であり、17の点1503だけが曲線の
当て嵌めに利用される。
2つの2次式の係数が計算されると、2次式の第1導関数がゼロに等しい位置
を見出すことにより、新しいピークが各曲線について見出される。この方法で計
算されたピーク間の差が、焦点面の分離として報告される。点の集合に対する最
適フィッティングに基づくこの計算は、もとの曲線のピークだけを使用して与え
られる1つのZパン増分の精度よりはるかに高い精度を有する。2つの主角度に
関する2次式は以下の通りである。
MagZFl=a1*Z2+b1*Z+c1および
MagZF2=a2*Z2+b2*Z+c2
曲線の当て嵌めからの2つのピークの位置は以下の通りである。
および
式中、a1、b1およびc1は、主角度1に対する最良当て嵌め2次式の係数であ
り、
a2、b2およびc2は、主角度2に対する最良当て嵌め2次式の係数である。焦
点面分離は、次の関係を使用してミクロン単位で報告される。
FPS = Kz*(Zpk2-Zpk1)
但し、Kzは、zパン増分のミクロン単位の基準化因数である。
ステップ136では、焦点面の分離がしきい値と比較される。分離がしきい値
以下の場合、システムは「合格」という結果を与えられ、そして、分離がしきい
値を超える場合、「不合格」という結果を与えられる。しきい値は、システムの
使用目的を考慮した、光学系の性能に対する非点収差の影響に関する経験的な証
拠から確立される。通常、焦点面分離が光学系の対物レンズの被写界深度の25
%を超えることは許容されない。
図16は、平均剰余対境界角対ステージのZ位置の面プロットの例である。第
1主角度θ_d1はゼロ・ラジアンにあるが、これはπラジアンと同一なので、
ステージのZ位置が増大するに連れて、剰余は、境界角の軸の両端の第1ピーク
をたどる。第2主角度θ_d2はπ/2にあるので、ステージのZ位置がさらに
増大するに連れて、剰余は、境界角軸の中央のピークをたどる。焦点面分離は、
2つの主角度に対するピーク間のステージのZ位置の差に等しい。
ここで、コンピュータ駆動顕微鏡と統合された画像解釈システムにおける非点
収差を測定する本発明の装置の一実施形態のより詳細な図を示す図17A、図1
7Bおよび図17Cを参照されたい。本発明の装置は、画像処理システム502
、運動制御システム504、画像処理システム536、中央処理システム540
およびワークステーション542を含む。画像処理システム502は、照明器5
08、画像処理光学装置510、CCDカメラ512、照明センサ514および
画像捕獲・合焦システム516からなる。画像捕獲・合焦システム516は、ビ
デオ・タイミング・データをCCDカメラ512に供給し、CCDカメラ512
は走査線を含む画像を画像捕獲・合焦システム516に供給する。照明センサの
強度が、画像捕獲・合焦システム516に供給され、照明センサ514は、光学
装置510から画像のサンプルを受け取る。本発明の一実施形態では、光学装置
は、自動顕微鏡をさらに含む。照明器508は、スライドの照明を提供する。画
像捕獲・合焦システム516は、データをVMEバス538に供給する。VME
バスは、データを画像処理システム536に供給する。画像処理システム536
は、視野処理装置568からなる。画像は、画像バス564に沿って画像捕獲・
合焦システム516から送信される。中央処理装置540は、VMEバス538
を通じて本発明の動作を制御する。一実施形態では、中央処理装置562は、M
otorola 68030 CPUを備えている。運動制御装置504は、ト
レー・ハンドラ518、顕微鏡ステージ制御装置520、顕微鏡ターレット制御
装置522および較正スライド524からなる。電動機駆動装置526は、光学
装置下のスライドを位置決めする。バーコード読み取り器528は、スライド5
24に配置されたバーコードを読み取る。タッチセンサ530は、スライドが顕
微鏡対物レンズの下にあるかどうかを判断し、ドア・インタロック532は、ド
アが開いている場合に動作することを防止する。運動制御装置534は、中央処
理装置540に反応して電動機駆動装置526を制御する。イーサネット(TM
)通信システム560は、ワークステーション542と通信し、システムの制御
をもたらす。ハードディスク544は、ワークステーション550によって制御
され
る。一実施形態では、ワークステーション550は、SUN SPARC CL
ASSIC(TM)ワークステーションを備えることがある。テープ駆動機構5
46は、モデム548、モニタ552、キーボード554およびマウス位置決め
装置556と共にワークステーション処理装置550に接続される。プリンタ5
58は、イーサネット(TM)ネットワーク560に接続される。
非点収差試験の際、中央コンピュータ540は、実時間オペレーティングシス
テムを動作させて自動顕微鏡と処理装置を制御し、顕微鏡から画像を取得してデ
ジタル化する。例えば、コンピュータ制御タッチセンサを使用してスライドの4
つの角に接触することにより、スライドの平面度が確認される。コンピュータ5
40はまた、顕微鏡対物レンズ下の標本を位置決めする顕微鏡ステージを制御し
、1〜15の視野(FOV)処理装置568は、コンピュータ540の制御の下
で画像を受け取る。
ここで図17Cを参照するに、図17Cは、ターレット23を有する自動顕微
鏡3の光路への較正スライド1の配置を示す。スライドは、光路と交差する水平
X、Y平面に実質的にあるステージ521に設置される。ステージ21は、X、
Y平面に垂直で自動顕微鏡の光路と平行なZ軸に沿うと共にX、Y平面内でも移
動可能である。ターレット22は、当業技術分野で周知のように、多数の対物レ
ンズを含む。顕微鏡ターレット制御装置522は、例えば選択された対物レンズ
をスライドを望む臨む位置に配置する信号を当業技術分野で周知の方法で供給す
る。
本明細書中で説明されたさまざまな処理は、デジタル処理装置上での動作に適
したソフトウェアにおいて実現されることが理解されるだろう。ソフトウェアは
、例えば中央処理装置540に組み込まれる。
本発明は、特許法に準拠し、当業者が新しい原理を適用し、必要に応じて専用
部品を構成および使用するに必要な情報を提供するために、本明細書中でかなり
詳細に説明された。しかし、本発明が、異なった機器および装置によって実行可
能であることと、機器の詳細と動作の手続きの両方に関して様々な変更が、本発
明自体の範囲から離れることなく達成可能であることが理解されるであろう。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 フロスト,キース,エル.
アメリカ合衆国.98155 ワシントン,シ
アトル,トウェンティシックスス アヴェ
ニュー ノースイースト 15310
(72)発明者 リンドウ,ウィリアム,シー.
アメリカ合衆国.98031 ワシントン,ケ
ント,サウスイースト ツーハンドレッド
アンドトウェンティサード ドライヴ
11904
(72)発明者 ハンセン,キム,ジェー.
アメリカ合衆国.98058 ワシントン,レ
ントン,ワンハンドレッドアンドフォーテ
ィセヴンス アヴェニュー サウスイース
ト 18142
(72)発明者 ファン,チュアン
アメリカ合衆国.98037 ワシントン,リ
ンウッド,フォーティファースト プレイ
ス ウエスト 16911
(72)発明者 ステファニック,ジェームズ,エー.
アメリカ合衆国.98126 ワシントン,シ
アトル,サーティシックスス アヴェニュ
ー サウスウエスト 8811
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.光学系の状態を評価する方法であって、 (a)異なった焦点位置でテストパターンの複数の画像を取得するステップ (85、89)と、 (b)複数の画像の各々に対して1つの重心ベクトルである、複数の重心ベ クトルを計算すべく複数の画像を処理するステップ(86)と、 (c)複数の重心ベクトルから焦点面の分離を計算するステップ(88)と 、 (d)光学系の状態を焦点面の分離に関連させるステップ(88)と、 を具備する方法。 2.請求項1に記載の方法であって、複数の重心ベクトルから点像分布関数の偏 心を計算するステップ(118)をさらに具備する方法。 3.請求項2に記載の方法であって、、 (a)Zパン・シーケンスにおける各画像に関する複数の重心ベクトルr_ COGの1つの値を、その画像に関する平均解像度mean_resで割り算し 、 r_COG_norm = r_COG / mean_res によって偏心の正規化された値を生じることにより、第1パラメータr_CO G_normを計算するステップ(125)と、 によってZパン・シーケンス中の全画像のr_COG_normの合計として、 第2パラメータSum_r_COG_normを計算するステップ(127)と 、 (c)Sum_r_COG_normの高い値を点像分布関数の偏心と関連さ せるステップ(129)と、 をさらに具備する方法。 4.請求項3に記載の方法であって、既知の非点収差を有するレンズ系の非点収 差を測定することにより、Sum_r_COG_normに関する合格/不合格 のしきい値を計算するステップ(129)をさらに具備する方法。 5.請求項1に記載の方法であって、 (a)複数の合焦画像を得ることにより、Zパン範囲を通じたZパン・シー ケンスの垂直運動限度を判定するステップ(83)と、 (b)複数の合焦画像の各々について解像度の測定値を計算するステップ( 83)と、 (c)Zパン範囲の中央位置について最良全解像度を生じる垂直位置を判定 するステップ(83)と、 を具備する、合焦範囲を見出すステップをさらに含む方法。 6.請求項1に記載の方法であって、光学系が、ステージを含み、複数の画像を 取得するステップが、ステージの高さの下限に始まり、最良焦点面を通過し、ス テージの高さの上限に至る(90)、複数の画像を取得するステップ(91)を さらに具備する方法。 7.請求項1に記載の方法であって、 (a)第1方向の複数の画像のエッジを強調するステップ(92)と、 (b)第2方向の複数の画像をローパス・フィルタリングするステップであ って、第1方向は、複数の画像を実質的に等化すべく、第2方向と直交している もの(93)と、 をさらに具備する方法。 8.請求項1に記載の方法であって、焦点面の分離を計算するステップが、 (a)複数の画像のうちの1つの位置と鋭さを伝える、複数の画像のうちの 1つの第1導関数を計算するステップ(132)と、 (b)複数の合計された導関数を有する境界角を指標とするアレーを作成す るように、所定の境界に属する各ピクセルに関する導関数の値を合計し、結果 として生じた合計を境界角を指標とするアレーに配置するステップ(112)と 、 (c)重心ベクトルを計算すべく、アレーから合計された導関数を使用する ステップ(118)と、 を具備する方法。 9.請求項1に記載の方法であって、複数のフィルタリングされたテストパター ン画像から焦点面の分離を計算するステップ(124)が、 (a)Zパン・シーケンスからの画像の集合について重心ベクトルの大きさ を合計するステップ(127)と、 (b)重心ベクトルの大きさの合計を、非点収差の程度の第1推定値として のしきい値と比較するステップ(129)と、 をさらに具備する方法。 10.請求項9に記載の方法であって、しきい値が、Zパン・シーケンスにおけ る複数の画像のすべての境界について積分された平均剰余の経験的に得られた小 数部である(116、117)方法。 11.請求項1に記載の方法であって、焦点面の分離を測定するステップが、 (a)第1焦点面について第1主角度を見出すステップ(128)と、 (b)第2焦点面について第2主角度を見出すステップ(128)と、 (c)焦点面の分離を生じるべく、第2焦点面からの第1焦点面の焦点面の 分離を計算するステップ(134)と、 をさらに具備する方法。 12.請求項11に記載の方法であって、第1主角度および第2主角度を見出す ステップ(128)が、 (a)Zパン・シーケンス中に重心ベクトルの大きさの最小の値を生じる画 像を見出すことによって最小混乱平面を検出するステップ(128)と、 (b)第1主角度を生じるべく、最小混乱平面以下にオフセットされた画像 について重心ベクトルの角度を読み取るステップ(128)と、 (c)第2主角度を生じるべく、最小混乱平面以上にオフセットされた画像 について重心ベクトルの角度を読み取るステップ(128)と、 を具備する方法。 13.請求項12に記載の方法であって、焦点面の分離を見出すステップ(13 4)が、 (a)第1主角度について最高の解像度を有する第1Zパン位置を見出すス テップ(134)と、 (b)第2主角度について最高の解像度を有する第2Zパン位置を見出すス テップ(134)と、 (c)第1Zパン位置と第2Zパン位置との間の差の絶対値を計算するステ ップ(134)と、 を具備する方法。 14.請求項5に記載の方法であって、複数の画像について重心ベクトルの大き さを判定するステップが、 (a)テストパターンを初期中心決めするステップ(84)と、 (b)テストパターンの対象をあらかじめ割り当てられたビンと整合させる べく、テストパターンの正確な中心を見出すステップ(84)と、 (c)複数の勾配画像ピクセルを生じるべく、フィルタリングされた各テス トパターン画像について複数のX勾配と複数のY勾配を計算するステップ(10 4)と、 (d)複数の勾配画像ピクセルを境界角によってビンに分類するステップ( 106)と、 (e)所定の領域外の複数の勾配画像ピクセルの各々を拒否するステップ( 108)と、 (f)低い勾配のスコアを有する複数の勾配画像ピクセルの各々を拒否する ステップ(110)と、 (g)複数の平方された勾配の値を生じるべく、複数の勾配画像ピクセルの 各々を平方するステップ(112)と、 (h)平方の合計を生じるべく、複数のX勾配と複数のY勾配の平方を合計 するステップ(127)と、 (i)平方の合計をしきい値に対してチェックするステップ(129)と、 (j)しきい値の要求が満たされた場合、各勾配画像ピクセルの境界角につ いて平方された勾配の値をビンに加算するステップ(129)と、 (k)結果を生じるべく、各境界角について平均剰余を計算するステップ( 114)と、 (l)ビン毎のピクセルの平均数で割り算することによって結果を正規化す るステップ(116)と、 (m)2つの勾配の2次合計を取ることによって第3アレーを計算するステ ップと、 (n)第3アレーから重心ベクトルの大きさを計算するステップ(118) と、 をさらに具備する方法。 15.請求項10に記載の方法であって、重心ベクトルの大きさを計算するステ ップ(118)が、 但し、MAG(φ)は剰余の値である という演算子をさらに具備する方法。 16.請求項10に記載の方法であって、複数のX勾配およびY勾配を計算し (104)、勾配の平方を合計し、境界角のビンに分類する(106)ステップ が、 GradX[i,j] = ABS(A[i+1][j]−A[i][j])、および GradY[i,j] = ABS(A[i][j+1]−A[i][j])、 ピクセル[i,j]が角φの境界にある場合、 ピクセル[i,j]が角φの境界にある場合、 という演算子を具備する方法。 17.請求項5に記載の方法であって、重心ベクトルの角度の計算(88)が、 という演算子を具備する方法。 18.請求項1に記載の方法であって、テストパターン画像がシステム較正中に 初期中心決めされ、かつ、テストパターンの初期中心位置が保存される(図5A 〜図5F)方法。 19.請求項17に記載の方法であって、テストパターンの正確な中心が、形態 学的な演算によってテストパターンの初期中心から見出される(158)方法。 20.低非点収差の標準に従う光学系を認定する方法であって、 (a)テストパターンの画像について最良合焦位置を見出すステップ(83 )と、 (b)テストパターンを中心決めするステップ(84)と、 (c)テストパターンの画像の集合を取得するステップ(90、91)と、 (d)テストパターンの一連の画像を得、それらを全解像度について検討す ることにより、Zパン範囲を通じてZパン・シーケンスの垂直運動限度を決定 するステップ(83)と、 (e)zパン範囲の中央について最良全解像度を生じる垂直位置を決定する ステップ(83)と、 (f)ステージ高さの下限に始まり、最良焦点面を通過して、ステージの高 さの上限に至る、画像の集合を取得するステップ(85、89)と、 (g)フィルタリングされたテストパターン画像を生じるべく、画像の集合 をフィルタリングするステップ(93)と、 (h)さまざまな角度に配置された境界の各集合の鋭さの推定値を計算する ステップ(114)と、 (i)zパン・シーケンス中の各画像について最高解像度の角度を見出すス テップ(114)と、 (j)Zパン・シーケンス中の各画像について点像分布関数の偏心の程度の 推定値を計算するステップ(118)と、 (k)最小混乱平面の上下に変位させられた、主角度と呼ばれる最良解像度 の2つの角度を見出すステップ(128)と、 (l)2つの主角度の境界に関するz依存解像度に基づいて焦点面の分離を 測定するステップ(130)と、 (m)試験基準を非点収差測定の結果に適用するステップ(136)と、 を具備する方法。 21.請求項19に記載の方法であって、試験基準を適用するステップが、 (a)zパン・シーケンスにおける画像の集合について計算された正規化さ れた重心ベクトルの大きさの合計をしきい値と比較するステップであって、しき い値がzパン・シーケンスにおける全画像中のすべての境界について積分された 平均剰余の値の小数部として経験的に決定されるもの(129)と、 (b)焦点面の分離をしきい値と比較するステップであって、しきい値は、 試験される光学系の被写界深度と光学系の用途の具体的な要求とから経験的に 決定される、もの(136)と、 を具備する方法。 22.光学系(22、24)の非点収差を測定する装置であって、 (a)合焦制御入力を有する、光学系をテストパターンに合焦する手段(2 0)と、 (b)光学系を通じてテストパターン画像(18)のデジタル表示を得る手 段(26)であって、画像収集手段が、デジタル画像出力を有する、ものと、 (c)デジタル画像出力に接続された、光学系(22、24)の非点収差を 測定する手段(30)であって、非点収差を測定する手段(30)が、合焦制御 入力に接続された合焦制御出力を有する、ものと、 を具備する装置。 23.請求項21に記載の装置であって、光学系(22、24)の非点収差を測 定する手段(30)が、デジタル・コンピュータ(30)をさらに具備する装置 。 24.請求項21に記載の装置であって、テストパターン(18)が、星状テス トパターン(図5B)をさらに具備する装置。 25.請求項21に記載の装置であって、光学系(22、24)が、顕微鏡をさ らに具備する装置。 26.請求項21に記載の装置であって、光学系(22、24)が、カメラの光 学部品をさらに具備する装置。 27.請求項21に記載の装置であって、画像収集手段(26)が、電荷結合素 子アレーをさらに具備する装置。 28.対物レンズを有する光学列の非点収差を測定する非点収差測定装置であっ て、 (a)光学列(22、24)を保持する光学マウントと、 (b)対物レンズ(22)の視野にテストパターン(18)を保持する光学 ステージ(16)であって、対物レンズ(22)がテストパターン(18)の画 像を受け取り、テストパターン画像を伝送するものと、 (c)光学ステージ(16)を移動させるべく、取り付けられたステージ駆 動機構(20)であって、光学ステージ(20)が合焦制御入力を有するものと 、 (d)ステージ駆動機構(20)を制御するべく接続されたコンピュータ処 理装置(34)と、 (e)テストパターン(18)を照明するよう配置されたテストパターン照 明器(12)と、 (f)光学列(22、24)を通じてテストパターン画像を観測し、ビデオ 信号を発生するビデオカメラ(26)と、 (g)ビデオ信号に接続され、デジタル画像出力を有する画像取得電子装置 (28)と、 (h)光学列(22、24)の非点収差を測定するべく、複数のテストパタ ーン画像を解析する手段を含む、デジタル画像出力を受信するよう接続された画 像解析コンピュータ(30)と、 を具備する装置。 29.請求項28に記載の装置であって、テストパターン照明器(12、14) が、光(12)と集光レンズ(14)とをさらに具備する装置。 30.請求項28に記載の装置であって、光学列(22、24)中の顕微鏡をさ らに具備し、顕微鏡は、電子的に保存される画像に変換される出力を含む装置。 31.請求項28に記載の装置であって、テストパターン(18)が、星状パタ ーン(図5B)である装置。 32.請求項28に記載の装置であって、画像解釈システム(30)とコンピュ ータ駆動顕微鏡との統合をさらに具備する装置。
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