JPH1040281A - Mask rom layout pattern verification device - Google Patents

Mask rom layout pattern verification device

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Publication number
JPH1040281A
JPH1040281A JP8198160A JP19816096A JPH1040281A JP H1040281 A JPH1040281 A JP H1040281A JP 8198160 A JP8198160 A JP 8198160A JP 19816096 A JP19816096 A JP 19816096A JP H1040281 A JPH1040281 A JP H1040281A
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JP
Japan
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data
rom
layout
information
coordinate value
Prior art date
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Pending
Application number
JP8198160A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshihiko Kataoka
敏彦 片岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Design Corp
Mitsubishi Electric Corp
Mitsubishi Electric Semiconductor Systems Corp
Original Assignee
Renesas Design Corp
Mitsubishi Electric Corp
Mitsubishi Electric Semiconductor Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Design Corp, Mitsubishi Electric Corp, Mitsubishi Electric Semiconductor Systems Corp filed Critical Renesas Design Corp
Priority to JP8198160A priority Critical patent/JPH1040281A/en
Publication of JPH1040281A publication Critical patent/JPH1040281A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mask ROM layout pattern verification device which visually recognize ROM truth value data and coordinate value data at once and which can reduce labor and time, which are required for verification by adding ROM data, address decoder information and coordinate value data to layout data. SOLUTION: A ROM truth value data generation means 7 generates ROM truth value data based on address decoder information 4 and ROM data 1. A layout data generation means 12 generates layout data from coordinate value data based on ROM truth value data and coordinate value information 9 where the rectangular arrangement position of ROM is mentioned. A layout data information addition means 13 adds ROM data 1, address decoder information 4 and coordinate value information 9 to layout data and generates and displays added information layout data.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、マスクROMを
内蔵した集積回路にROMデータを書き込むために作成
されるレイアウトパターンを検証するマスクROMレイ
アウトパターン検証装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mask ROM layout pattern verification apparatus for verifying a layout pattern created for writing ROM data in an integrated circuit having a built-in mask ROM.

【0002】[0002]

【従来の技術】図9は、従来のマスクROMレイアウト
パターン検証装置の構成を示すブロック図である。図に
おいて、1はROMデータ、2はROMデータ読み込み
手段、3はROMデータ記憶手段、4はアドレスデコー
ダ情報、5はアドレスデコーダ情報読み込み手段、6は
アドレスデコーダ情報記憶手段、7はROM真理値デー
タ作成手段、8はROM真理値データ記憶手段、9は座
標値情報、10は座標値情報読み込み手段、11は座標
値データ記憶手段である。
2. Description of the Related Art FIG. 9 is a block diagram showing a configuration of a conventional mask ROM layout pattern verification device. In the figure, 1 is ROM data, 2 is ROM data reading means, 3 is ROM data storage means, 4 is address decoder information, 5 is address decoder information reading means, 6 is address decoder information storage means, and 7 is ROM truth value data. Creation means, 8 is ROM truth value storage means, 9 is coordinate value information, 10 is coordinate value information reading means, and 11 is coordinate value data storage means.

【0003】なお、ROM真理値データ記憶手段8から
はROM真理値データがROM真理値リスト20として
出力される。また、21はアドレスデコーダ情報記憶手
段6のデータからROMデータを再作成するROMデー
タ再作成手段、22は再作成されたROMデータとRO
Mデータ記憶手段3のデータとの比較を行うROMデー
タ比較手段であり、これらROMデータ再作成手段21
およびROMデータ比較手段22は人手作業によって実
施する。23は座標値データ記憶手段11に記憶されて
いる座標値データの外周部(最大X座標、全Y座標と最
小X座標、全Y座標、全X座標、最大Y座標と全X座
標、最小Y座標)を読み込み、外周部レイアウトデータ
を作成する外周部レイアウトデータ作成手段であり、2
4は外周部レイアウトデータ作成手段23が出力する外
周部レイアウトデータを記憶する外周部レイアウトデー
タ記憶手段、25は外周部レイアウトデータ記憶手段2
4から出力された外周部レイアウトデータを表示するデ
ィスプレイである。
The ROM truth value storage means 8 outputs ROM truth value data as a ROM truth value list 20. 21 is a ROM data recreating means for recreating ROM data from data in the address decoder information storage means 6, and 22 is a ROM data recreating means for recreating ROM data and RO data.
ROM data comparing means for comparing the data with the data in the M data storage means 3;
The ROM data comparing means 22 is implemented manually. Reference numeral 23 denotes an outer peripheral portion of the coordinate value data stored in the coordinate value data storage means 11 (maximum X coordinate, all Y coordinates and minimum X coordinate, all Y coordinates, all X coordinates, maximum Y coordinate and all X coordinates, minimum Y coordinate). Outer peripheral portion layout data generating means for reading out the outer peripheral portion layout data.
Reference numeral 4 denotes an outer periphery layout data storage unit that stores the outer periphery layout data output by the outer periphery layout data creating unit 23, and 25 denotes an outer periphery layout data storage unit 2.
4 is a display for displaying outer peripheral portion layout data output from the display unit 4;

【0004】次に動作について説明する。図10はマス
クROMレイアウトパターン検証動作の流れを示すフロ
ーチャートである。まずステップST1で検証を行うた
めのROMデータ1を作成し、ステップST2で開発す
る製品(マスクROM内蔵型集積回路)のROMアドレ
ス情報から、エディタを用いてアドレスデコーダ情報4
を作成する。次にステップST3においてアドレスデコ
ーダ情報4を読み込んで記憶し、ステップST4にてR
OMデータ1を読み込んで記憶する。次にステップST
5に進んで、それらのアドレスデコーダ情報4およびR
OMデータ1よりROM真理値データを作成、記憶し
て、ステップST6にてそのROM真理値データをRO
M真理値リスト20として出力する。
Next, the operation will be described. FIG. 10 is a flowchart showing the flow of the mask ROM layout pattern verification operation. First, in step ST1, ROM data 1 for verification is created, and in step ST2, address decoder information 4 is read from the ROM address information of the product (integrated circuit with a built-in mask ROM) to be developed using an editor.
Create Next, in step ST3, the address decoder information 4 is read and stored.
The OM data 1 is read and stored. Next, step ST
5 and their address decoder information 4 and R
ROM truth value data is created and stored from the OM data 1, and the ROM truth value data is stored in the RO in step ST6.
Output as M truth value list 20.

【0005】次にステップST7において、出力された
ROM真理値リスト20を検証者が参照し、アドレスデ
コーダ情報記憶手段6に記憶されているアドレスデコー
ダ情報4をもとに、ROMデータを人手で再作成して、
ステップST8でその再作成されたROMデータと、R
OMデータ記憶手段3に記憶されている元のROMデー
タ1とを目視で比較してチエックする。その結果、異常
があればステップST2の処理に戻ってアドレスデコー
ダ情報4を作成し直す。
Next, in step ST7, the verifier refers to the output ROM truth value list 20 and manually rewrites the ROM data based on the address decoder information 4 stored in the address decoder information storage means 6. Create and
The ROM data recreated in step ST8 and R
The original ROM data 1 stored in the OM data storage means 3 is visually compared and checked. As a result, if there is an abnormality, the process returns to step ST2 and the address decoder information 4 is created again.

【0006】一方、異常がなければステップST9に分
岐して、開発するマスクROM内蔵型集積回路のレイア
ウトデータからROM矩形を発生させる位置の座標値を
読み取り、エディタを用いて座標値情報9の作成を行
う。次にステップST10に進み、座標値情報読み込み
手段10がその座標値情報9を読み込んで座標値データ
を作成し、それを座標値データ記憶手段11に記憶す
る。次に外周部レイアウトデータ作成手段23がステッ
プST11において、この座標値データ記憶手段11に
記憶されている座標値データより、ROM部分の外周部
(最大X座標、全Y座標と最小X座標、全Y座標、全X
座標、最大Y座標と全X座標、最小Y座標)のレイアウ
トデータを作成し、その外周部レイアウトデータを外周
部レイアウトデータ記憶手段24に記憶する。
On the other hand, if there is no abnormality, the process branches to step ST9 to read the coordinate value of the position where the ROM rectangle is generated from the layout data of the integrated circuit with a built-in mask ROM, and to create the coordinate value information 9 using an editor. I do. Next, in step ST10, the coordinate value information reading means 10 reads the coordinate value information 9 to create coordinate value data, and stores it in the coordinate value data storage means 11. Next, in step ST11, the outer peripheral portion layout data creating means 23 uses the coordinate value data stored in the coordinate value data storage means 11 to read the outer peripheral portion of the ROM portion (maximum X coordinate, all Y coordinates, minimum X coordinate, Y coordinate, all X
Coordinates, maximum Y coordinates, all X coordinates, minimum Y coordinates) are created, and the outer peripheral layout data is stored in the outer peripheral layout data storage means 24.

【0007】このようにして作成され、外周部レイアウ
トデータ記憶手段24に記憶された外周部レイアウトデ
ータは、ステップST12においてディスプレイ25上
に表示される。検証者がステップST13において、こ
のディスプレイ25に表示された外周部レイアウトデー
タを目視でチェックし、異常があれば処理をステップS
T9に戻して座標値情報9を作成し直す。一方、異常が
なければこの一連のレイアウトパターン検証の動作は終
了となる。
The outer periphery layout data created in this way and stored in the outer periphery layout data storage means 24 is displayed on the display 25 in step ST12. In step ST13, the verifier visually checks the outer peripheral portion layout data displayed on the display 25. If there is an abnormality, the process proceeds to step S13.
Returning to T9, the coordinate value information 9 is created again. On the other hand, if there is no abnormality, the series of layout pattern verification operations ends.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】従来のマスクROMレ
イアウトパターン検証装置は以上のように構成されてい
るので、ROMコードがレイアウトに正しく配列されて
いるかというROM真理値データの確認、およびレイア
ウトデータが開発するマスクROM内蔵型集積回路内の
正しい位置に配置されているかという座標値データの確
認を、検証者が目視で行う必要があり、ROM真理値デ
ータの確認と座標値データの確認を一度に行うことがで
きないばかりか、手作業で検証データを作成する部分、
すなわちROMデータの再作成があるため、その確認に
多くの労力と時間を要するという課題があった。
Since the conventional mask ROM layout pattern verifying apparatus is constructed as described above, it is necessary to confirm the ROM truth value data as to whether the ROM code is correctly arranged in the layout, and to check the layout data. The verifier must visually check the coordinate value data to determine whether it is located at the correct position in the integrated circuit with the built-in mask ROM, and check the ROM truth value data and the coordinate value data at once. Not only cannot do it, but also create validation data manually,
That is, since the ROM data is re-created, there has been a problem that much labor and time are required for the confirmation.

【0009】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、レイアウトデータにROMデー
タ、アドレスデコーダ情報、座標値データを付加するこ
とで、ROM真理値データの確認と座標値データの確認
を一度に、しかも視覚的に行えるとともに、検証に要す
る労力と時間を削減できるマスクROMレイアウトパタ
ーン検証装置を得ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem. By adding ROM data, address decoder information, and coordinate value data to layout data, it is possible to confirm ROM truth value data and to read coordinate value data. It is an object of the present invention to obtain a mask ROM layout pattern verifying apparatus that can perform the verification at once and visually, and can reduce the labor and time required for verification.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
るマスクROMレイアウトパターン検証装置は、アドレ
スデコーダ情報とROMデータに基づいてROM真理値
データ作成手段の作成したROM真理値データとROM
矩形の配置位置を記述した座標値情報による座標値デー
タより、レイアウトデータの作成を行うレイアウトデー
タ作成手段、および、そのレイアウトデータにROMデ
ータ、アドレスデコーダ情報、座標値データを付加して
付加情報レイアウトデータの作成を行うレイアウトデー
タ情報付加手段を備えたものである。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a mask ROM layout pattern verifying apparatus, comprising: a ROM truth value data created by a ROM truth value creating means based on address decoder information and ROM data;
Layout data creating means for creating layout data from coordinate value data based on coordinate value information describing a rectangular arrangement position, and additional information layout by adding ROM data, address decoder information, and coordinate value data to the layout data. It is provided with layout data information adding means for creating data.

【0011】請求項2記載の発明に係るマスクROMレ
イアウトパターン検証装置は、さらに、ROMデータ、
アドレスデコーダ情報、座標値データを付加して作成さ
れた付加情報レイアウトデータの表示形態を、表示情報
にしたがって変化させて表示する付加情報レイアウトデ
ータ表示手段を設けたものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a mask ROM layout pattern verification apparatus, further comprising: ROM data;
There is provided additional information layout data display means for changing the display form of the additional information layout data created by adding address decoder information and coordinate value data in accordance with the display information.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1によるマ
スクROMレイアウトパターン検証装置の構成を示すブ
ロック図である。図において、1は検証を行うためのR
OMコードを記述したROMデータであり、2はこのR
OMデータ1の読み込みを行うROMデータ読み込み手
段、3は読み込まれたROMデータ1を記憶するROM
データ記憶手段である。4は開発される製品であるマス
クROM内蔵型集積回路に対応したROMアドレス情報
を記述したアドレスデコーダ情報であり、5はこのアド
レスデコーダ情報4の読み込みを行うアドレスデコーダ
情報読み込み手段、6は読み込まれたアドレスデコーダ
情報4を記憶するアドレスデコーダ情報記憶手段であ
る。7はROMデータ記憶手段3に記憶されたROMデ
ータと、アドレスデコーダ情報記憶手段6に記憶された
アドレスデコーダ情報4をもとに、ROM真理値データ
の作成を行うROM真理値データ作成手段であり、8は
このROM真理値データ作成手段7が出力するROM真
理値データを記憶するROM真理値データ記憶手段であ
る。9は開発されるマスクROM内蔵型集積回路に対応
したROM矩形をレイアウトパターンのどの位置に配置
するかを記述した座標値情報であり、10はこの座標値
情報9を読み込んで座標値データを作成する座標値情報
読み込み手段、11は座標値情報読み込み手段10が作
成した座標値データを記憶する座標値データ記憶手段で
ある。なお、これら各部分は、図9に同一符号を付して
示した従来のそれらに相当するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below. Embodiment 1 FIG. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a mask ROM layout pattern verification apparatus according to Embodiment 1 of the present invention. In the figure, 1 is R for verification.
ROM data describing an OM code.
ROM data reading means for reading the OM data 1; 3 a ROM for storing the read ROM data 1
Data storage means. Reference numeral 4 denotes address decoder information describing ROM address information corresponding to an integrated circuit with a built-in mask ROM, which is a product to be developed. Reference numeral 5 denotes address decoder information reading means for reading the address decoder information 4; Address decoder information storage means for storing the address decoder information 4. Reference numeral 7 denotes a ROM truth value creating means for creating ROM truth value data based on the ROM data stored in the ROM data storage means 3 and the address decoder information 4 stored in the address decoder information storage means 6. .., 8 are ROM truth data storage means for storing the ROM truth data output by the ROM truth data creation means 7. Reference numeral 9 denotes coordinate value information describing the position in the layout pattern in which the ROM rectangle corresponding to the integrated circuit with a built-in mask ROM is to be developed. Coordinate value information reading means 11 is a coordinate value data storage means for storing the coordinate value data created by the coordinate value information reading means 10. These parts correspond to those of the related art shown with the same reference numerals in FIG.

【0013】また、12はROM真理値データ記憶手段
8に記憶されているROM真理値データと、座標値デー
タ記憶手段11に記憶されている座標値データに基づい
てレイアウトデータを作成するレイアウトデータ作成手
段である。13はこのレイアウトデータ作成手段12の
作成したレイアウトデータに、ROMデータ記憶手段3
に記憶されているROMデータ1、アドレスデコーダ情
報記憶手段6に記憶されているアドレスデコーダ情報
4、および座標値データ記憶手段11に記憶されている
座標値データ等を付加して付加情報レイアウトデータを
作成するレイアウトデータ情報付加手段である。14は
このレイアウトデータ情報付加手段13が出力する付加
情報レイアウトデータを記憶する付加情報レイアウトデ
ータ記憶手段であり、15はこの付加情報レイアウトデ
ータ記憶手段14から出力された付加情報レイアウトデ
ータを表示するディスプレイである。
Reference numeral 12 denotes layout data creation for creating layout data based on the ROM truth value data stored in the ROM truth value storage means 8 and the coordinate value data stored in the coordinate value data storage means 11. Means. Reference numeral 13 denotes ROM data storage means 3 for storing the layout data created by the layout data creation means 12.
, The additional information layout data by adding the ROM data 1 stored in the address data, the address decoder information 4 stored in the address decoder information storage means 6, and the coordinate value data stored in the coordinate value data storage means 11. This is layout data information adding means to be created. Reference numeral 14 denotes additional information layout data storage means for storing the additional information layout data output from the layout data information adding means 13, and reference numeral 15 denotes a display for displaying the additional information layout data output from the additional information layout data storage means 14. It is.

【0014】次に動作について説明する。図2はマスク
ROMレイアウトパターン検証動作の流れを示すフロー
チャートである。はじめにステップST21にて、検証
を行うためのROMデータ1を作成するとともに、ステ
ップST22において、開発するマスクROM内蔵型集
積回路のROMアドレス情報から、エディタを用いてア
ドレスデコーダ情報4を作成する。次にステップST2
3において、当該マスクROM内蔵型集積回路のレイア
ウトデータからROM矩形を発生させる位置の座標値を
読み取り、エディタを用いて座標値情報9を作成してお
く。
Next, the operation will be described. FIG. 2 is a flowchart showing the flow of the mask ROM layout pattern verification operation. First, in step ST21, ROM data 1 for verification is created, and in step ST22, address decoder information 4 is created using an editor from ROM address information of the integrated circuit with a built-in mask ROM to be developed. Next, step ST2
In step 3, the coordinate value of the position where the ROM rectangle is generated is read from the layout data of the integrated circuit with a built-in mask ROM, and the coordinate value information 9 is created using an editor.

【0015】その後、ステップST24に進んで、開発
するマスクROM内蔵型集積回路のアドレスデコーダ情
報4をアドレスデコーダ情報読み込み手段5によって読
み込み、それをアドレスデコーダ情報記憶手段6に記憶
する。次にステップST25において、ROMデータ読
み込み手段2によって検証を行うためのROMデータ1
を読み込み、それをROMデータ記憶手段3に記憶す
る。次にステップST26に進み、ROM真理値データ
作成手段7が、アドレスデコーダ情報記憶手段6の記憶
しているアドレスデコーダ情報4をもとに、ROMデー
タ記憶手段3の記憶しているROMデータ1からROM
真理値データを作成して、それをROM真理値データ記
憶手段8に記憶する。なお、これまでの動作は、座標値
情報9の作成以外、従来のマスクROMレイアウトパタ
ーン検証装置の場合と同様である。
Thereafter, the process proceeds to step ST24, in which the address decoder information reading means 5 of the integrated circuit with the built-in mask ROM to be developed is read by the address decoder information reading means 5, and is stored in the address decoder information storage means 6. Next, in step ST25, the ROM data 1 to be verified by the ROM data reading means 2 is read.
Is read and stored in the ROM data storage means 3. Next, the process proceeds to step ST26, where the ROM truth value generating means 7 reads the ROM data 1 stored in the ROM data storage means 3 based on the address decoder information 4 stored in the address decoder information storage means 6. ROM
The truth data is created and stored in the ROM truth data storage means 8. The operation so far is the same as that of the conventional mask ROM layout pattern verification device except for the creation of the coordinate value information 9.

【0016】次にステップST27において、座標値情
報読み込み手段10が座標値情報9を読み込んで座標値
データを作成し、それを座標値データ記憶手段11に記
憶する。なお、この座標値データは、座標値情報9より
読み込んだ値をそのまま用いるようにしてもよい。次い
でレイアウトデータ作成手段12がステップST28に
おいて、この座標値データ記憶手段11に記憶されてい
る座標値データをもとに、ROM真理値データ記憶手段
8に記憶されているROM真理値データからレイアウト
データを作成する。図3にこのレイアウトデータのイメ
ージ図を示す。このレイアウトデータは、図示のよう
に、各ROM矩形がROMメモリ内のそれぞれの座標値
情報に応じた位置に配列されたものである。
Next, in step ST27, the coordinate value information reading means 10 reads the coordinate value information 9 to create coordinate value data and stores it in the coordinate value data storage means 11. As the coordinate value data, the value read from the coordinate value information 9 may be used as it is. Next, in step ST28, the layout data creating means 12 calculates the layout data from the ROM truth value data stored in the ROM truth value storage means 8 based on the coordinate value data stored in the coordinate value data storage means 11. Create FIG. 3 shows an image diagram of the layout data. As shown in the drawing, the layout data is obtained by arranging the ROM rectangles at positions corresponding to the respective coordinate value information in the ROM memory.

【0017】次にステップST29に進んで、レイアウ
トデータ情報付加手段13がこのレイアウトデータ作成
手段12の作成したレイアウトデータに対して、ROM
データ記憶手段3に記憶されているROMデータ1、ア
ドレスデコーダ情報記憶手段6に記憶されているアドレ
スデコーダ情報4、および座標値データ記憶手段11に
記憶されている座標値データ等を付加して付加情報レイ
アウトデータを作成し、それを付加情報レイアウトデー
タ記憶手段14に記憶する。図4にこの付加情報レイア
ウトデータのイメージ図を示す。図示のように、ROM
メモリ内に配列された各ROM矩形ごとに、それぞれの
アドレスデコーダ情報4、ROMデータ1および座標値
データが付加されている。
Next, in step ST29, the layout data information adding means 13 stores the layout data created by the layout data creating means 12 in the ROM.
ROM data 1 stored in data storage means 3, address decoder information 4 stored in address decoder information storage means 6, and coordinate value data stored in coordinate value data storage means 11 are added. Information layout data is created and stored in the additional information layout data storage unit 14. FIG. 4 shows an image diagram of the additional information layout data. ROM as shown
Address decoder information 4, ROM data 1, and coordinate value data are added to each ROM rectangle arranged in the memory.

【0018】このようにして作成され、付加情報レイア
ウトデータ記憶手段14に記憶された付加情報レイアウ
トデータは、ステップST30においてディスプレイ1
5上に表示される。検証者はステップST31におい
て、このディスプレイ15に表示された付加情報レイア
ウトデータの異常の有無を目視にてチェックする。その
結果、異常があれば、再度アドレスデコーダ情報4の作
成を行うために処理をステップST22に戻す。一方、
異常がなければこの一連のレイアウトパターン検証の動
作は終了となる。
The additional information layout data created in this way and stored in the additional information layout data storage means 14 is stored in the display 1 in step ST30.
5 is displayed. In step ST31, the verifier visually checks whether or not the additional information layout data displayed on the display 15 is abnormal. As a result, if there is an abnormality, the process returns to step ST22 to create the address decoder information 4 again. on the other hand,
If there is no abnormality, the series of layout pattern verification operations ends.

【0019】このように、この実施の形態1によれば、
レイアウトデータのROM矩形ごとに付加情報としてR
OMデータ1、アドレスデコーダ情報4、座標値データ
が表示されるため、ROM真理値データの確認と座標値
データの確認が一度に短時間で検証できる効果があり、
さらに、ROMデータ1、アドレスデコーダ情報4が一
度に確認できるようになるため、手作業で行っていたR
OMデータの再作成も不要となる効果がある。
As described above, according to the first embodiment,
R as additional information for each ROM rectangle in the layout data
Since the OM data 1, the address decoder information 4, and the coordinate value data are displayed, the ROM truth value data and the coordinate value data can be verified at once in a short time.
Further, since the ROM data 1 and the address decoder information 4 can be checked at once, the R
There is an effect that it is not necessary to re-create the OM data.

【0020】実施の形態2.上記実施の形態1において
は、付加情報レイアウトデータをそのまま画面表示する
場合について説明したが、この付加情報レイアウトデー
タを画面表示する際に、視覚的に分かりやすくするた
め、ROM矩形をその表示輝度を変えたり、表示色を変
えて表示するようにしてもよい。
Embodiment 2 In the first embodiment, the case where the additional information layout data is displayed on the screen as it is has been described. However, when the additional information layout data is displayed on the screen, the ROM rectangle is displayed with its display brightness set to be visually easy to understand. The display may be changed or the display color may be changed.

【0021】図5はこの発明の実施の形態2によるマス
クROMレイアウトパターン検証装置の構成を示すブロ
ック図である。図において、16は付加情報レイアウト
データの表示に際して、ROM矩形の表示輝度や表示色
などの表示形態を変えるための表示情報、17はその表
示情報16の読み込みを行う表示情報読み込み手段であ
り、18はこの表示情報読み込み手段17が読み込んだ
表示情報16に基づいて、付加情報レイアウトデータ記
憶手段14に記憶されている付加情報レイアウトデータ
を、その表示形態を変えてディスプレイ15に表示する
付加情報レイアウトデータ表示手段である。なお、他の
部分には、図1に示した実施の形態1の相当部分と同一
符号を付してその説明を省略する。
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a mask ROM layout pattern verification device according to a second embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 16 denotes display information for changing the display mode such as display brightness and display color of a ROM rectangle when displaying additional information layout data, and 17 denotes display information reading means for reading the display information 16. Based on the display information 16 read by the display information reading means 17, additional information layout data stored in the additional information layout data storage means 14 is displayed on the display 15 by changing its display form. Display means. The other portions are denoted by the same reference numerals as those of the corresponding portions of the first embodiment shown in FIG. 1, and description thereof will be omitted.

【0022】また、図6はROMデータ1の内容によっ
てROM矩形の表示形態を変えるようにした場合の表示
例を示す説明図であり、ROMデータ1が“1”のRO
M矩形をハイライト、または所定の色で表示している。
図7はROMデータビットごとにROM矩形の表示形態
を変えるようにした場合の表示例を示す説明図であり、
ROMデータビット“0”および“2”のROM矩形を
ハイライト、または所定の色で表示している。なお、こ
れら図6および図7においては、ハッチングによってそ
のハイライト、または所定の色での表示を示している。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a display example in which the display form of the ROM rectangle is changed according to the contents of the ROM data 1, and the RO data in which the ROM data 1 is "1" is displayed.
The M rectangle is highlighted or displayed in a predetermined color.
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a display example when the display form of the ROM rectangle is changed for each ROM data bit.
The ROM rectangle of the ROM data bits “0” and “2” is highlighted or displayed in a predetermined color. In FIGS. 6 and 7, the highlight or the display in a predetermined color is indicated by hatching.

【0023】次に動作について説明する。図8はマスク
ROMレイアウトパターン検証動作の流れを示すフロー
チャートである。なお、はじめにステップST41でR
OMデータ1を作成してから、ステップST49にてレ
イアウトデータ情報付加手段13が、レイアウトデータ
にROMデータ1、アドレスデコーダ情報4、座標値デ
ータ等を付加して付加情報レイアウトデータを作成し、
それを付加情報レイアウトデータ記憶手段14に記憶す
るまでの動作は、図2のステップST21からステップ
ST29までに示した実施の形態1の動作と同様である
ため、ここではその説明は省略する。
Next, the operation will be described. FIG. 8 is a flowchart showing the flow of the mask ROM layout pattern verification operation. Note that first, at step ST41, R
After creating the OM data 1, in step ST49, the layout data information adding unit 13 creates the additional information layout data by adding the ROM data 1, the address decoder information 4, the coordinate value data, and the like to the layout data.
The operation up to the storage of this in the additional information layout data storage means 14 is the same as the operation of the first embodiment shown in steps ST21 to ST29 in FIG. 2, and therefore the description thereof is omitted here.

【0024】レイアウトデータ情報付加手段13によっ
て作成された付加情報レイアウトデータが付加情報レイ
アウトデータ記憶手段14に記憶されると、処理はステ
ップST50に進んで、表示情報読み込み手段17がR
OM矩形の表示輝度や表示色などの表示形態を変えるた
めの表示情報16の読み込みを行う。次にステップST
51において、付加情報レイアウトデータ表示手段18
がこの表示情報読み込み手段17の読み込んだ表示情報
16にしたがって、付加情報レイアウトデータ記憶手段
14に記憶されている付加情報レイアウトデータの表示
形態を、図6あるいは図7に示すように変えてディスプ
レイ15に表示する。検証者はステップST52におい
て、この表示形態を変えてディスプレイ15に表示され
た付加情報レイアウトデータの異常の有無を目視でチェ
ックする。その結果、異常があれば、再度アドレスデコ
ーダ情報4の作成を行うために処理をステップST42
に戻し、異常がなければこの一連のレイアウトパターン
検証の動作を終了する。
When the additional information layout data created by the layout data information adding means 13 is stored in the additional information layout data storage means 14, the process proceeds to step ST50, where the display information reading means 17 sets
The display information 16 for changing the display mode such as the display brightness and the display color of the OM rectangle is read. Next, step ST
At 51, the additional information layout data display means 18
According to the display information 16 read by the display information reading means 17, the display form of the additional information layout data stored in the additional information layout data storage means 14 is changed as shown in FIG. To be displayed. In step ST52, the verifier changes this display mode and visually checks whether or not the additional information layout data displayed on the display 15 is abnormal. As a result, if there is an abnormality, the processing is performed to create the address decoder information 4 again in step ST42.
And if there is no abnormality, the series of layout pattern verification operations ends.

【0025】このように、この実施の形態2によれば、
実施の形態1の効果に加えて、付加情報レイアウトデー
タが表示形態を変えて表示されるようになるため、付加
情報レイアウトデータの目視によるチェックを視覚的に
行うことが可能となり、異常箇所の発見がより容易にな
る効果がある。
As described above, according to the second embodiment,
In addition to the effects of the first embodiment, since the additional information layout data is displayed in a different display form, it is possible to visually check the additional information layout data visually, and find an abnormal part. Has the effect of becoming easier.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上のように、請求項1記載の発明によ
れば、レイアウトデータ作成手段の作成したレイアウト
データに、レイアウトデータ情報付加手段でROMデー
タ、アドレスデコーダ情報および座標値データを付加
し、その付加情報レイアウトデータを表示するように構
成したので、ROM真理値データと座標値データの確認
が一度にできるようになり、さらに手作業で行われてい
たROMデータの再作成も不要となるため、マスクRO
Mレイアウトパターン検証の簡単化が図れ、検証に要す
る労力を軽減することができて、検証時間も短縮できる
効果がある。
As described above, according to the first aspect of the invention, the layout data adding means adds ROM data, address decoder information and coordinate value data to the layout data created by the layout data creating means. Since the additional information layout data is configured to be displayed, the ROM truth value data and the coordinate value data can be checked at once, and the manual re-creation of the ROM data is not required. Therefore, the mask RO
The M layout pattern verification can be simplified, the labor required for the verification can be reduced, and the verification time can be shortened.

【0027】請求項2記載の発明によれば、表示情報に
したがって付加情報レイアウトデータの表示形態を変え
るように構成したので、マスクROMレイアウトパター
ン検証を視覚化することができ、異常箇所をより容易に
発見することができる効果がある。
According to the second aspect of the present invention, since the display form of the additional information layout data is changed according to the display information, the mask ROM layout pattern verification can be visualized, and the abnormal portion can be more easily identified. There is an effect that can be found.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1によるマスクROM
レイアウトパターン検証装置の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 1 is a mask ROM according to a first embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of a layout pattern verification device.

【図2】 この発明の実施の形態1におけるレイアウト
パターン検証動作の流れを示すフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing a flow of a layout pattern verification operation according to the first embodiment of the present invention;

【図3】 この発明の実施の形態1におけるレイアウト
データを示すイメージ図である。
FIG. 3 is an image diagram showing layout data according to the first embodiment of the present invention.

【図4】 この発明の実施の形態1における付加情報レ
イアウトデータを示すイメージ図である。
FIG. 4 is an image diagram showing additional information layout data according to the first embodiment of the present invention.

【図5】 この発明の実施の形態2によるマスクROM
レイアウトパターン検証装置の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 5 is a mask ROM according to a second embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of a layout pattern verification device.

【図6】 この発明の実施の形態2における付加情報レ
イアウトデータの表示例を示す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a display example of additional information layout data according to the second embodiment of the present invention.

【図7】 この発明の実施の形態2における付加情報レ
イアウトデータの他の表示例を示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing another display example of the additional information layout data according to the second embodiment of the present invention.

【図8】 この発明の実施の形態2におけるレイアウト
パターン検証動作の流れを示すフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart showing a flow of a layout pattern verification operation according to the second embodiment of the present invention;

【図9】 従来のマスクROMレイアウトパターン検証
装置の構成を示すブロック図である。
FIG. 9 is a block diagram showing a configuration of a conventional mask ROM layout pattern verification device.

【図10】 従来のレイアウトパターン検証動作の流れ
を示すフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart showing a flow of a conventional layout pattern verification operation.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ROMデータ、4 アドレスデコーダ情報、7 R
OM真理値データ作成手段、9 座標値情報、12 レ
イアウトデータ作成手段、13 レイアウトデータ情報
付加手段、16 表示情報、18 付加情報レイアウト
データ表示手段。
1 ROM data, 4 address decoder information, 7 R
OM truth value data creating means, 9 coordinate value information, 12 layout data creating means, 13 layout data information adding means, 16 display information, 18 additional information layout data displaying means.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 マスクROM内蔵型集積回路へのROM
データの書き込みのために作成されるレイアウトパター
ンの検証を行うマスクROMレイアウトパターン検証装
置において、 前記マスクROM内蔵型集積回路に対応したROMアド
レス情報を記述したアドレスデコーダ情報と、このマス
クROM内蔵型集積回路に対応したROMデータとを読
み込んで、ROM真理値データを作成するROM真理値
データ作成手段と、 前記マスクROM内蔵型集積回路に対応したROM矩形
の配置位置を記述した座標値情報に基づく座標値データ
と、前記ROM真理値データ作成手段の作成したROM
真理値データとからレイアウトデータを作成するレイア
ウトデータ作成手段と、 前記レイアウトデータ作成手段の作成したレイアウトデ
ータに、前記ROMデータ、アドレスデコーダ情報、お
よび座標値データを付加して付加情報レイアウトデータ
を作成するレイアウトデータ情報付加手段とを備えたこ
とを特徴とするマスクROMレイアウトパターン検証装
置。
1. A ROM for an integrated circuit with a built-in mask ROM
A mask ROM layout pattern verifying device for verifying a layout pattern created for writing data, comprising: address decoder information describing ROM address information corresponding to the integrated circuit having a built-in mask ROM; ROM truth value data creating means for reading ROM data corresponding to a circuit and creating ROM truth value data; and coordinates based on coordinate value information describing an arrangement position of a ROM rectangle corresponding to the mask ROM built-in type integrated circuit. Value data and a ROM created by the ROM truth value creating means.
Layout data creating means for creating layout data from the truth value data; and additional information layout data created by adding the ROM data, address decoder information, and coordinate value data to the layout data created by the layout data creating means. A mask ROM layout pattern verifying device, comprising:
【請求項2】 レイアウトデータ情報付加手段が作成し
た付加情報レイアウトデータを、与えられた表示情報に
応じてその表示形態を変えて表示する付加情報レイアウ
トデータ表示手段を設けたことを特徴とする請求項1記
載のマスクROMレイアウトパターン検証装置。
2. An additional information layout data display means for displaying the additional information layout data created by the layout data information addition means in a different display form according to given display information. Item 3. A mask ROM layout pattern verification device according to Item 1.
JP8198160A 1996-07-26 1996-07-26 Mask rom layout pattern verification device Pending JPH1040281A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112347723A (en) * 2020-10-31 2021-02-09 拓维电子科技(上海)有限公司 ROM code extraction verification method and device based on layout

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